透射测定仪

光谱仪的透射率或它的效率可用辅助单色仪装置来测定。在可见和近紫外实现这些测量没有任何困难。测量通过第一个单色仪的光通量，紧接着测量通过两个单色仪的光通量，以这种方式来确定第二个单色仪的透射率。　　　　绝对测量需要知道单色仪的绝对透射率：对于相对测量，以各种波长处的相对单位可以测量透射率。真空紫外线的这些测量有相当大的实验困难，因此通常使用辅助单色仪。在各种入射角的情况下分别测量衍射光栅的效率。在许多实验步骤中已成功地避免了校准上的困难。　　　　曾经研究过光栅效率与波长、入射角、镀层厚度、镀层材料以及其它因素的关系。所有这些测量都指出，在许多情况下能量损失是非常显著的，并且光栅的效率低于1%，光栅的不同部分可能有明显不同的效率。

公司一直使用紫外-可见光分光光度计可以测定玻璃的光透射(light transmittance)现在急需测定太阳光透射(solar transmittance),请教高手,如何测定?

2005年版药典增补版中对注射剂的渗透压测定进行了强制规定检测，不知道哪家的测定仪器好些？另外就是标签是不是也要跟着更改呢？

最近发现用TU-1800SPC在800-1100nm做近红外透射分析很好用。只要对样品室稍加改动，就可以测定固体样品的近红外透射光谱。这类仪器价格非常低，且又有紫外-可见光谱的功能。希望有这方面经验和兴趣的朋友一起交流交流，提高仪器使用的效率。

如题分光光度计可以测试薄膜反射率和透射率吗？要光谱反射和透射的，其中透射需要可以测试漫透射材料，求推荐仪器，波长范围为400到1100

如题，预购渗透压摩尔测定仪，用以注射液滴眼液的渗透压测定，各位老大有什么好品牌推荐啊，联系方式啊，大概价位啊，不胜感激。

大家好。单位考虑买一台场发射的透射电镜。要带stem和eels，最好还带能量过滤。请朋友们推荐。基本在jeol和fei之间选。由于没有用过场发射的透射。请大家提供参考意见。还有就是要买哪些附件。比如等离子清洗。低温双倾台。特别请用过的朋友发表高见。因为看厂家的广告不太好判别。如果可能的话，我们可能会到贵单位调研一下。谢谢大家了！

哪位大侠知道?物体的反射与透射到底是什么关系呢能不能从透射计算出反射呢

碰到一个客户要求测试布料的UV光还有近红外光反射和透射能力测试，有谁知道哪里可以做这个测试？谢谢！

测试薄膜的透射率是怎么测量的？用分光光度计测试的透射率包含基体的透射率吗？我在不同的实验室做薄膜透射率时，有的老师告诉我可以在参比池放一个空白的基板作参考，这样可以测出透射率为薄膜的透射率，有的老师告诉我不可以这样做，因为对于高反膜这样的后果是薄膜的透射率将高于1。我想问一下大家是怎么测试薄膜的透射率的！

某人误将参比溶液的透射比调至98%,而不是100%, 在此条件下测得有色溶液的透射比为36%,则该有色溶液的正确透射比应为？

请问一下各位行家，场发射透射电镜和普通源透射电镜有什么区别？含有生物样品一般用什么电镜比较合适，要求能够比较清楚地分辨清楚细胞器。

这个可是国内第一家哦，耗时2年，终于下来了 单晶硅红外透射比标准物 GBW(E)130413、 标准值 不确定度单位波长（cm-1）(4000)0.537 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(3500)0.538 0.007 红外透射比值波长（cm-1）(3000)0.540 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(2500)0.541 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(2000)0.542 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(1300)0.519 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(1000)0.500 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(500)0.456 0.008 红外透射比值以前还有红外透射比标准物质 GBW(E)130391、不过那是10%的

如题，X射线衍射仪通常我们都是用反射模式下做的，不知道透射模式的哪些型号可以做呢？另外，我不太理解反射模式和透射模式在本质上有什么区别？透射模式是否可以有一些独特的优势，比如说测什么透射模式能做，而反射模式不能做呢？请高手给解释一下，最好能推荐一些介绍透射模式的参考资料，多谢啦

透射样品掉进样品室（整个样品和铜环），请问高手这个需要开镜筒吗？开镜筒是不是很复杂，一般请透射公司来开镜筒的费用是多少？电镜的型号是Philips CM200 。

最近要去做一个透射电镜，但我是第一次做，什么也不懂，看书也看得糊里糊涂的，希望有人帮我分析一下应该注意一些什么，谢谢了下面我介绍一下我的样品情况。 样品是粉末，有两相，其中含有铁相，通过XRD计算两相晶粒大小为5nm左右，我做透射电镜就是为了观察晶粒的形貌。我把粉末压成薄片然后进行了离子减薄。 我这里想问的是：1、5nm左右透射电镜能看清楚形貌吗？2、含铁的薄片透射会不会不好做3、透射电镜中可以做能谱分析来确定相的成分吗？急，在线等。

请问红外光谱仪，吸收光谱很容易理解透射， 反射 呢？他们各自的原理是什么？谢谢

本作品围绕透射电镜的衍射原理和转谱技巧展开。以透射电镜的衍射相关原理发展时间为主讲线，讲述衍射是如何一步一步发展进而应用在透射电子显微镜中，并结合实际电镜操作经验，总结了转谱过程中的技巧。

我单位讲要买一台透射电镜，主要分析对象是一些金属材料和无机材料，本人对生产透射电镜的企业了解不多，还请各位兄弟介绍一下，或者给些资料。

近红外透射技术测定糙米和精米的直链淀粉，在育种选育中具有很好的应用并为国际水稻中心IRRI所采用。近红外透射技术具有省时，完全不需样品研磨的优点，因而避免了样品研磨时所产生的灰尘和噪音，实验过程不需任何化学试剂和人工的数据计算等因素，在育种研究中具有很好的应用。

1、透光率(%T)转化为吸光度：吸光度=2-log(%T)2、常用吸光度(A)表示物质对光的吸收程度，其定义为: A=lg(1/T)=lg(I0/It) 则A值越大，表明物质对光吸收越强。T及A都是表示物质对光吸收程度的一种量度，透射比常以百分率表示，称为百分透射比，T％；吸光度A为一个无因次的量，两者可通过上式互相换算。 标准滤光片的透光率转化为吸光度的计算方法如1，但是在以前化学分析的课本中学到的吸光度与透射比的转化方式如2，我想问的是透光率与透射比不是同一个概念吗？怎么计算方法会不一样，已经被弄晕了，希望大家能够多多指教。

某同学进行吸光光度分析时，误将参比溶液调至90%而不是100%，在此条件下，测得有色溶液的透射比为35%，该有色溶液的正确透射比是多少？A 36.0% B. 34.5% C.38.9% D. 32.1%答案是C，请问这是怎么算出来的？

厦门大学材料学院电镜实验室因工作需要，招聘透射电子显微镜工程师1人。岗位职责：1. 透射电子显微镜的操作使用、故障诊断与日常维护；2. 用户管理、操作培训和技术服务；3. 承担或协助实验室安排的电镜样品制备和测试分析等工作；4. 完成实验室负责人交办的其它工作。任职条件：1. 熟悉透射电镜的操作与原理，具备透射电镜样品的制备经验；2. 材料科学或凝聚态物理等相关专业背景，硕士以上学历，良好的英语读写和交流能力；3. 有透射电镜操作和维护工作经历，或具备丰富的电镜制样经验者优先考虑；4. 年龄一般不超过35岁。相关待遇： 此为编制内工程师岗位，相关待遇按厦门大学有关规定执行。应聘者请发送个人简历至王老师 mswang@xmu.edu.cn，邮件主题注明“应聘电镜工程师“

我是个菜鸟，对于这个很不明白，我们学校有透射电镜和场发射透射电镜，查资料上都是HRTEM，不明白场发射的是不是就是高分辨率的。

厦门大学材料学院电镜实验室因工作需要，招聘透射电子显微镜工程师1人。岗位职责：1. 透射电子显微镜的操作使用、故障诊断与日常维护；2. 用户管理、操作培训和技术服务；3. 承担或协助实验室安排的电镜样品制备和测试分析等工作；4. 完成实验室负责人交办的其它工作。任职条件：1. 熟悉透射电镜的操作与原理，具备透射电镜样品的制备经验；2. 材料科学或凝聚态物理等相关专业背景，硕士以上学历，良好的英语读写和交流能力；3. 有透射电镜操作和维护工作经历，或具备丰富的电镜制样经验者优先考虑；4. 年龄一般不超过35岁。相关待遇： 此为编制内工程师岗位，相关待遇按厦门大学有关规定执行。应聘者请发送个人简历至王老师 mswang@xmu.edu.cn，邮件主题注明“应聘电镜工程师“

想采购一批透射电镜有没有大佬给解答下

请教：高分辨成像时，入射电子束穿过薄晶体形成弱衍射束与透射束，衍射束与透射束相位相差π/2，各位如何解释为什么？衍射束相位是滞后透射束π/2还是超前π/2。在欠焦位置，衍射束光程比透射束多1/4倍波长位置，其相位是否又比透射束超前（增加）π/2？在正焦点位置，教材上好像说，衍射束位相比在从样品出发时的增加π，为什么不是增加2π？好像光束从样品经过透镜聚焦到达像平面（正焦位置）相位不变（即2π的整数倍）。高分辨像最佳欠焦位置的暗点可否解释为原子列位置的透射波与邻近原子间隙位置的衍射波的合成波的强度，亮点为原子间隙位置的透射波与邻近原子位置的衍射波的合成波的强度？透射波与衍射波此时相位相同，合成波振幅大小=透射波与衍射波振幅大小之和。因为原子间隙位置的透射波强而衍射波弱，原子列位置的透射波弱而衍射波强，所以对应原子列位置的合成波强度较弱，形成暗点；而对应于原子列间隙位置的合成波强度较强，形成亮点。

[align=center][size=18px]准确测定MXene二维材料的晶胞参数--反射透射XRD数据同时精修 [/size][/align][align=center][size=16px]Precise measurement of the lattice parameters for MXene 2D materials – Simultaneous refinement to reflection and transmission XRD data[/size][/align][align=center][size=16px]Tony Wang [/size][/align][align=center][size=16px]Central Analytical Research Facility, Queensland University of Technology, Brisbane 4001, Australia [/size][/align] [size=16px]0．摘要 本文介绍了二维材料MXene的基本结构以及透射模式XRD对二维材料层内原子排列周期性的重要性，并运用TOPAS精修软件中的同模型多数据精修功能，通过对反射模式XRD数据和透射模式XRD数据的同时精修，批量准确测定了MXene样品的晶胞参数，解决了当前文献中MXene样品的层内晶胞参数普遍测量困难的问题。 1. 介绍 MXene材料是继石墨烯Graphene之后的二维材料研究热点。其在存能量储（即电池和超级电容器）、EMI屏蔽、析氢反应的催化剂、改善聚合物复合材料机械性能、及在气体和湿度中的应用传感器等许多应用中有广阔的前景。 MXene材料是化学式M[sub]n+1[/sub]X[sub]n[/sub]T或M[sub]1.33[/sub]CT的一系列材料的统称。它们已经是拥有最大成员规模的二维材料。它们主要是通过从具有化学式M[sub]n+1[/sub]AX[sub]n[/sub]的母体MAX相中溶解掉A原子层而获得，其中M代表低原子系数过渡金属，A主要是第13或14号元素，X代表C和（或）N。T表示溶解时附着到MXene表面的各种终端基团。添加-ene后缀是为了突出其二维(2D)性质。 第一个MXene材料是由Naguib和同事于2011年通过溶解纳米层状三元碳化物Ti[sub]3[/sub]AlC[sub]2[/sub]中的Al层而获得的Ti[sub]3[/sub]C[sub]2[/sub]T[sub]z[/sub][sup]1[/sup]。继这一发现之后，人们用类似的方法，使用了除HF之外的不同类型的酸腐蚀不同的三元碳化物、氮化物或碳氮化物（MAX相）的中间原子层，制得了多种MXene材料[sup]2[/sup]。 MXene材料在化学组成上具有显着的可调性。M和X位的不同原子以及空位，都会调节层内原子排列的尺寸，如六方晶胞的a轴长度。类似于其他二维材料, 如可膨胀粘土矿物等, MXene材料也具有层间离子、分子可交换特性。不同尺寸的层间离子或有机分子，乃至不同的T终端基团都会改变MXene材料的层间距，如六方晶胞的c轴长度。 X射线粉末衍射方法是准确测定晶胞参数的常用方法。然而实验室湿法制备的MXene材料经干燥后常为微米级厚度的自支撑薄膜，很难粉碎为常规意义上的粉末。文献中常见的MXene材料的XRD数据均只采用了常规的反射模式XRD数据，所得数据质量低并且全部存在严重的择优取向，从而无法准确测定面内晶胞参数[i]a[/i]。如图1所示，对完全择优取向的二维材料来说反射模式XRD对二维材料堆叠方向的层间距（[i]c[/i]轴长度）敏感，而透射模式XRD对层内的晶面间距（[i]a[/i]或[i]b[/i]轴长度）敏感。[/size] [align=center][img=,690,376]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408161521085462_2132_1986542_3.png!w690x376.jpg[/img][/align][align=center]图1. 使用XRD的(a)反射模式和(b)透射模式分别测定MXene二维材料的(a)层间距和(b)层内晶面间距[/align][align=center]Fig.1. Using XRD in (a) reflection and (b) transmission mode to measure (a) interlayer distance and (b) intralayer lattice parameters[/align] [size=16px]本文展示了XRD的批量透射工作模式，在实验室批量测定了大量MXene样品的面内XRD数据，通过TOPAS软件的同模型多数据同时精修功能准确测量了大量的MXene样品的六方晶胞参数[i]a[/i]和[i]c[/i]。[/size] [size=16px] 2. 实验： 反射模式XRD测量方法与常规XRD方法相同，下面只介绍透射模式XRD仪器及光路配置： ? 布鲁克D8 Advance ? 钴靶X光管线聚焦（也可采用铜靶，但角度分辨率会有牺牲） ? 平行光抛物面聚焦镜（也可采用聚焦光双曲面聚焦镜） ? 索拉狭缝2.5度分别位于初级光路和次级光路 ? 自动进样旋转样品台及侧边防散射刀片 ? LynxEye XE-T能量分辨位敏探测器一维扫描模式 透射模式XRD扫描参数： ? Offset Coupled 2Theta/Theta扫描, Omega 90度 ? 2Theta扫描范围5 – 100度，步长0.05度 ? 驻留时间1秒/步, 全谱扫描时间30分钟 ? 样品自转15 转/分 样品制样： ? 若MXene自支撑薄膜强度足够可直接安装于透射样品架上 ? 若MXene自支撑薄膜太薄，可夹在双层Kapton膜中间，再安装再透射样品架上 ? 若使用了Kapton膜，其在透射模式和反射模式下的散射贡献需单独测定 [/size] [size=16px]3. XRD数据分析 3.1. Kapton膜背景的扣除 扣除XRD数据的非样品背景，并不是直接的数据相减，而是对背景数据进行模型拟合，并将拟合所得的背景模型带入到所有样品数据的拟合中。图2为TOPAS软件中使用Peak Phase多峰模型，对Kapton薄膜在反射模式和投射模式下的背景贡献的拟合。[/size] [align=center][img=,690,388]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408161558515996_1884_1986542_3.png!w690x388.jpg[/img][/align][align=center]图2. TOPAS中分别对Kapton膜背景在反射模式和投射模式下的背景贡献的拟合[/align][align=center]Fig. 2. Using peaks phase in TOPAS to model Kapton backgrounds in reflection and transmission mode[/align] [size=16px]3.2. MXene样品晶胞参数的精修 在TOPAS中，将两种模式所测数据下的[i]hkl_Is[/i]模型中的晶胞参数用参数名连接成为相同的精修参数。对反射模式下的[i]hkl_Is[/i]模型使用强0 0 1择优取向矫正，同理对透射模式下的[i]hkl_Is[/i]模型使用强1 1 0择优取向矫正。精修结果如图3和表1：[/size] [align=center][img=,690,387]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408161601302894_6250_1986542_3.png!w690x387.jpg[/img][/align][align=center]图3. TOPAS中精修相同的hkl_Is模型同时拟合反射模式和透射模式的XRD数据[/align][align=center]Fig. 3. Lattice parameter refinement of a single hkl_Is model from both reflection and transmission XRD data.[/align] [align=center]表1 本方法所测定的某MXene材料的晶胞参数。 Table 1. Lattice parameters of a MXene material measured using the proposed method [table][tr][td]双数据全谱精修所得的晶胞参数 Refined lattice parameters[/td][td][align=center][i]a[/i] (?)[/align][/td][td][align=center][i]c[/i] (?)[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]MXene 样品sample #13[/align][/td][td][align=center]3.0394(4)*[/align][/td][td][align=center]26.990(15)*[/align][/td][/tr][/table]*括号内数字为数据最后一位的精修误差 * The numbers in brackets stand for refinement error for the last digit place[/align] [size=16px] 4. 结论 当前文献中关于MXene的XRD数据少见全谱精修分析。其原因是常规的反射模式XRD数据无法准确获得二维材料层内原子排列的周期性。本文使用的反射模式XRD数据与透射模式XRD数据的同时精修方法解决了这一难题。本方法除对MXene二维材料有效外，几乎可用于所有二维材料的晶胞参数测定。 5．参考文献 1. Naguib, M., Kurtoglu, M., Presser, V., Lu, J., Niu, J., Heon, M., Hultman, L., Gogotsi, Y. & Barsoum, M. W. (2011). Adv. Mater. 23, 4248-4253. 2. Ghidiu, M., Lukatskaya, M. R., Zhao, M.-Q., Gogotsi, Y. & Barsoum, M. W. (2014). Nature 516, 78-81. [/size] [size=16px]本贴视频: D8 Advance最大90样品位批量透射XRD扫描模式 Video: D8 Advance running in high throughput transmission mode for max. 90 sample positions[/size]

透射样品需要喷度一层导电层吗？我从有关的资料上看到“对粉末样品来说，制样最后要度一层碳膜”，为什么呢，我认为透射样品不要求 必须导电的，只有扫描在高真空下才这样要求的。希望大家能给我一个明白的说法，谢了 ！