荼明光学仪

进入光学测量的世界ZEISSO-DETECT直观的操作、高质量的相机和灵活的照明，瞬间实现精确测量。适合各类不同部件，特别适用于那些最好不轻易触碰的部件。探索新一代光学测量技术：ZEISSO-DETECT。您将得益于：出色的光学元件应用广泛，易于升级部件导航简单，且可视化稳定的精度软件界面直观且易于使用专业和可指导行动的报告特点入门级高端相机全景相机：快速、精确、直观蓝色和白色LED顶灯适合各种任务的照明光源易于使用和设置：ZEISSZAPHIRE软件ZEISSO-DETECT的一个关键部件是高质量相机。先进的软件和新的自动对焦功能，相机拍摄的图像可以转换为精确的测量结果。ZEISSO-DETECT的另一个重要组件是同类产品中的首创：内置5百万像素相机传感器的全景相机。该设备自动定位待测量部件，无需用户干预。这样就可节省时间，提高测量机的工作效率。与其他应用一样，本测量机的控制也非常简单和直观。高质量照明对实现精确测量结果起着关键作用。通用型且易更换的ZEISSO-DETECT顶灯为此提供了良好条件。顶灯根据用户定义的设置自动工作。针对某些需测量的部件，您可能会面对各种挑战，ZEISSO-DETECT提供了不同照明光源。环形光适用于普通零件的顶部照明，并可用于光亮工件的照明，对于具有挑战性的边缘，也可优化照明效果。ZEISSZAPHIRE是一款全3D软件包，工作流程简单，通过2天培训，即可轻松掌握。结合全彩全景相机，ZEISSO-DETECT上的ZEISSZAPHIRE使得工件导航等任务更加符合人体工学且更直观。

日本SIGMA KOKI柱面平凸透镜圆柱面平凸透镜（柱面平凸透镜）是在垂直方向具有凸透镜的曲率，在水平方向没有曲率的透镜。用于将激光聚光成细线形状的实验中，或用于流体测量等需要的较宽的线状光束。 有从可见光到近红外用的BK7材料的透镜，和可用于350nm以下紫外光的高激光损伤阈值的合成石英透镜这两种类型。 BK7材料的透镜中，备有可见光近红外红外三种类型的防反射膜的透镜。 光学系统中使用柱面透镜时，可以改变光束形状或照明光的纵横比。柱面平凸透镜共同指标注意：?柱面平凸透镜有色差，焦距随波长变化。各波长的焦距请参考网页上的“焦距随波长变化特性数据”确认。?射入柱面平凸透镜的光线有方向性。请务必从凸面一侧射入平行光。否则球差会变大，聚光线条会变宽。?由于无镀膜透镜的正面和反面都存在反射损失，所以透过率为90%左右。功能说明图柱面平凸透镜外形图 柱面平凸透镜透过率波长特性（参考数据）

DLP/DMD光刻照明光源昊量光电新推出LumiDLP光刻照明光源通过大面积提供高度均匀的通量密度为紫外DLP应用提供前所未有的速度和分辨率。模块化设备结合了密集封装的UV-LED阵列成为一种高效、非成像采集光学设备，集成了远心成像光学优化DLP芯片组。这款DMD光刻光源为基于DLP技术的具有挑战性的曝光应用提供出色的UV-LED照明。特别是要求蕞高强度和多波长光谱的设置非常适合。数值孔径为0.2（光束角度±12°）和非常高的照明均匀性、这些构成DLP-芯片曝光的完美解决方案。DLP/DMD照明器提供高达30W的光辐射功率。单波长和多波长设置可供选择（365nm、385nm、395nm、405nm）。这款DLP/DMD光刻照明光源提供的辐射功率与汞放电灯相当、但具有LED技术的寿命和总成本优势。此外、DLP/DMD光刻照明光源还可以很好地替代基于单色激光二极管（例如、LD405nm）的照明器。LumiDLP光刻照明光源是专为DLP9000和DLP9500芯片设计的、可以轻松集成到基于DMD的系统中。DLP/DMD光刻照明光源产品亮点：专为DLP9000和DLP9500设计包括高性能LED驱动器、便于控制和编程高强度性能能够缩短/减少处理时间由于频谱宽广、可以使用多种类型的抗蚀剂不会过时的无汞光源DLP/DMD光刻照明光源产品规格：辐射输出功率DLP9500蕞高30WDLP7000蕞高20W波长配置365nm、385nm、395nm、405nmSingle and multi-wavelength setups available光出口角±12°匹配DLP微镜倾斜角度照明均匀性和DMD芯片溢位90%均匀性10%溢位热管理液体冷却设置快速连接、无泄漏耦合所需入口温度≤25℃ 25°使用寿命3000h模块化、易于更换系统、蕞大限度减少停机时间LED-驱动器每个通道0-3A、每个LED阵列18个通道恒流、可调光、脉宽调制外部接口USB 2.010/100Mbps以太网RS-232 (TIA-232-F)程序串行（USB）和远程登录（以太网）通信命令集尺寸和重量照明器：27.5cm×8cm×8.5cm驱动器：23cm×29cm×4.5cm重量照明器：~1.5kg驱动器：~2kg更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。您可以通过我们昊量光电的网站了解更多的产品信息，或直接来电。

Leica 各种 LED 照明光源为你提供各种均匀、高对比度、同轴、高度分散，或几乎无阴影的照明系统照明为各种入射光应用提供了冷调、自然的色光。与传统的卤素灯相比，LED技术耗电更低，持续时间更长，从而节省了能源和金钱。如果你正在寻找均匀、高对比度、同轴、高度分散，或几乎无阴影的照明系统，徕卡为您的应用和任务提供广谱LED照明灯。 明亮，均匀的照明：环形灯照明最适合于明亮，均匀的照明。Leica LED3000 RL, Leica LED5000 RL 高对比度光照： 高对比度照明提供高灵活性，可移动的鹅颈聚光灯照明。固定多对比照明提供了相同的结果，但他们的设计使得重复性的照明设置。聚光灯照明: Leica LED3000 SLI, Leica LED5000 SLI 多对比照明: Leica LED3000 MCI, Leica LED5000 MCI同轴照明，光束通过光学系统的指导和对样本中反映出来。这要求样品是光滑的反光。同轴照明可以用常规以及高性能的立体显微镜。Leica LED5000 CXI高度分散的照明：闪亮的样品往往是非常困难记录为文件。下或曝光过度区域收购数码显微镜摄像头，并不能得到进一步的评估。为了改善这个问题，一个特殊的圆顶照明开发与徕卡FlexDome™ 。Leica LED5000 HDI近无阴影照明：影无照明使用被称为“近垂直照明。”在这里，有两个 LED射灯是非常接近的光轴和样品上大放异彩。Leica LED3000 NVI

multiLight PROFESSIONAL多光源照明光源 规格参数 multiLight PROFESSIONA多光源照明光源具备多种功能，可为您提供五种不同的照明情况从而能够在所有相关的标准光源情况下实现专业的观察。另外，光源具有多种实用功能，比如调节光度或者可储存光序列。灯光对于你来说不够大吗? 那么使用”master-slave principle“可连续连接多个颜色灯因此扩大来了观察范围。并且，光源可通过APP连接Wi-Fi进行远程控制，既简单又方便。 非常适用于工业行业上的观察，比如塑料，油漆，纺织，装饰以及各种五种光源下的彩色涂料 非常适用于经常性的颜色对比 5种光源：D65, A, TL84, D50, UV 可通过副用灯光扩大从而增加可视范围的大小 电子控制面板，操作简单方便，可在电脑或者移动设备通过网络浏览器进行操作 可通过可调光灯进行亮度的调整 所有光源的操作计时表以便能及时更换灯光 轻易生成详细的颜色匹配报告 LAN连接，可在智能手机、手提电脑、平板电脑使用远程APP可实现观察范围的远程控制 混合光功能 可储存10种光序 光源种类： 午照光（D50，5000K） 北部天空的平均日照光（D65，6500K） 白炽光/家用灯光（A,2700K） 商场照明用灯（TL84，4000K） UV 少量反射光 对称性光源 光源特点： 可调光度 所有光源的数字操作计时表 LAN接口连接网络 可同时选择多种光源 可编程各种不同的光源序列 自动生成报告 通过手提电脑，平板电脑和智能手机进行远程控制 应用： 二维观察样品，比如纸张、纤维和涂料 三维观察由不同材料组成的样品 利用多种光源可很好地检测出同色异谱 型号：multiLight L PROFESSIONAL Master 200686 照明范围: 125 x 54 cm 外形尺寸 (W x H x D cm): 132 x 12 x 60 换灯工具 CVL L / MULTILIGHT PROF. L, 5种光源 multiLight L PROFESSIONAL Slave200723 照明范围: 125 x 54 cm 外形尺寸 (W x H x D cm): 132 x 12 x 60 仅适用于型号MASTER (#200686) 换灯工具 CVL L / MULTILIGHT PROF. L, 5种光源 multiLight XL PROFESSIONAL Master 200722 照明范围: 155 x 54 cm 外形尺寸 (W x H x D cm): 162 x 12 x 60 换灯工具 CVL XL / MULTILIGHT XL, 5种光源 multiLight XL PROFESSIONAL Slave 200724 照明范围: 155 x 54 cm 外形尺寸 (W x H x D cm): 162 x 12 x 60 仅适用于型号MASTER (#200722) 换灯工具 CVL XL / MULTILIGHT XL, 5种光源

Novator中图激光扫描3D光学影像测量仪将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，实现2.5D和3D复合测量。其线激光3D扫描功能，可实现3D扫描成像和空间测量；点激光线扫描功能，可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。还支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。 2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。软件测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。 2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。测量界面Novator中图激光扫描3D光学影像测量仪具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。高度测量Novator中图激光扫描3D光学影像测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量3D形貌测量Novator二次元影像测量仪搭载高精度线扫激光测头，无接触扫描3D轮廓成像，抑制多重反射，能够快速实现尺寸的精准批量测量。通过3D成像视图，可观察到产品形貌的微小特征，可实时输出2D、3D图像保存，支持2D、3D产品尺寸测量。部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

由于紫外光学技术的发展，对玻璃的紫外光学性能提出了各种要求，有的要透过一定波长范围的紫外光，有的要吸收一定波长范围的紫外光，并对玻璃的化学稳定型和热稳定性提出一定要求。从图表可以看出，它们全部透过可见光，在紫外光部分有不同的截止波长和透过界限波长，是截止型玻璃，有色光学玻璃中，只有这类玻璃是无色的，称为无色紫外截止型玻璃，以无色玻璃WB命名：WB220、WB240、WB260、WB280、WB300、WB320、WB340、WB360、WB380南通振华光电有限公司供应光学玻璃，无色光学玻璃，有色光学玻璃、石英玻璃（JGS1、JGS2、JGS3）、乳白玻璃、红色玻璃（HB600、HB610、HB630、HB640、HB650、HB670、HB685、HB700、HB720）、绿色玻璃(LB1、LB2、LB3、LB4、LB5、LB6、LB7、LB8、LB9、LB10、LB11、LB12、LB13、LB14、LB15、LB16、LB17、LB18、LB19)、橙色玻璃（CB535、CB550、CB565、CB580） 、 金黄色玻璃（JB400、JB420、JB450、JB470、JB490、JB510）、青蓝色玻璃（QB1、QB2、QB2、QB4 、QB9、QB10、QB11、QB1、QB12、QB13、QB16、QB17、QB18、QB19、QB21、QB23、QB24、QB26、QB29、QB38、QB39、QB40）、紫色玻璃ZB系列（ZB1、ZB2、ZB3） 、氧化钬玻璃(HOB445)、高硼硅玻璃、耐热玻璃、耐高压玻璃、钢化玻璃、紫外玻璃（ZWB1、ZWB2、ZWB3）耐辐射玻璃、中性暗色玻璃（AB00、AB02、AB2、AB5、AB10、AB25、AB30、AB50、AB65、AB70） 、隔热玻璃（GRB1、GRB2、GRB3、KG5）、偏光镜、透镜（凹透镜、凸透镜）、棱镜、柱面镜、平面镜、滤光片、防护玻璃（FB1、FB3）、光学滤光片、有所光学玻璃滤光片、光学元件、升色温玻璃（SSB40、 SSB130 、SSB145、 SSB165、 SSB200）、降色温玻璃（SJB20、SJB80、SJB100、SJB130、SJB140）、偏光片、镨钕玻璃(PNB586)、选择吸收型玻璃、截止型光学玻璃、带通滤光玻璃、分光片、荧光分光光度计，玻璃镜片、镀膜片、光学镀膜片、多层镀膜光学玻璃、UV镜、浮法玻璃、重火石玻璃，K9、B270、超白玻璃等等。

中图仪器W系列微纳米超精密3D光学形貌轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。应用领域对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。工作原理利用光学干涉原理，照明光束经半反半透分光镜分成两束光，分别投射到样品表面和参考镜表面。从两个表面反射的两束光再次通过分光镜后合成一束光，并由成像系统在CCD相机感光面形成两个叠加的像。由于两束光相互干涉，在CCD相机感光面会观察到明暗相间的干涉条纹。干涉条纹的亮度取决于两束光的光程差，根据白光干涉条纹明暗度以及干涉条文出现的位置解析出被测样品的相对高度。中图仪器W系列微纳米超精密3D光学形貌轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。中图仪器W系列微纳米超精密3D光学形貌轮廓仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

ProSource 10 使光学系统设计人员能够充分利用光源和照明系统的 Radiant 光源模型 (RSM)。RSM 是在光学和照明设计软件中描述真实光源近场输出的最准确方法，因为它们包含完整的测量信息，包括来自光源或照明系统所有视角的亮度图像。在光源分析和光线集生成过程中提供全面的灵活性。 产品应用：光源设计和性能分析照明系统设计和性能分析生成光度和光谱光线集以导出到照明光学设计软件，如 Zemax、ASAP、LightTools、TracePro 等生成 IES 文件、EULUMDAT 文件和 UGR 值主要特色：丰富的分析功能，包括二维和三维数据图、横截面图等生成光度和光谱光线集，最多可生成二十亿条光线支持原有文件格式和压缩的 RSM 文件格式Type-C IES 和 EULUMDAT 文件导出

台湾UPRtek PG200N LED植物照明光谱检测仪手持式植物照明检测计PG200N植物生长光量测仪, PAR Meter,照度光量子计,光合有效辐射计 UPRtek PG200N手持式LED植物照明光谱检测仪光合仪PG200N是一款符合JIS AA及 DIN B级照度计要求的手持式植物生长灯检测仪器。研发动机，主要突破传统光量子计/植物检测仪只提供光合作用光子通量密度(PPFD, Photosynthetic Photon Flux Density）、光合作用光子通量（PFD, Photon Flux Density）、照度（Lux）等基本数值。本次，PG200N PAR Meter感测头内建重力传感器（G-sensor）功能，协助用户动态水平调整量测位置。感测头升级至防水防尘等级-IP66，确保不因受潮而影响量测精度。另外，内建PAR参考光谱，用户可实时确认植物对光的吸收量并调整合适的光源。PG200N智能补光帮手，推荐给LED植物工厂设备商、集成商、植物灯具设计商、科技农夫、科研单位使用。PG200N手持式LED植物照明光谱检测仪光合仪符合JIS AA及 DIN B级照度计要求植物灯量测角度校正功能G SENSOR用户透过重力感测模式（G sensor），了解目前PG200N摆放的角度，反复修正得到zui佳水平位置。室内/室外植物量测均适用。应用1: 植物工场的布点测试，类似水平”位置传感器”功能应用2: 感测头与自拍神器/摄相机脚架结合，用户可轻易量测较远的范围及水平调整量测点。 用户瞭透过PG200N角度校正功能G Sensor，优化定位角度状态，降低人为量测误差手持式植物检测仪感测头具耐用防泼水功能PG200N感测头具有IP66等级防水、防尘设计，非常适合野外、潮湿环境量测。内建连续量测模式，用户可长时间侦测、数据收集及记录；亦可搭配uSpectrum计算机软件进阶分析，自建植物灯配方数据库，让植物生产更稳定，生长效率更高。推荐给LED植物工厂、温室农场使用。手持式植物检测仪感测头具IP66防泼水等级植物生长参考光谱比对植物利用体内不同光合色素（photosynthetic pigment），如叶绿素a、叶绿素b、β-胡萝卜素、光敏素等对不同波长的光进行光合作用。PG200N专业植物灯检测仪，内建PAR参考光谱，供用户检视当下的植物生长灯光谱配置是否满足植物光照吸收需求并实时补偿，有效地帮助植物健康生长。(1) 叶绿素a-主要吸收波峰:418 nm、660 nm。光合作用中，主要进行光反应的色素，又称主色素。广泛存在于高等植物中。(2) 叶绿素b-主要吸收波峰为454 nm、643 nm。属光合作用辅助色素。广泛存在于高等植物中。(3) β-胡萝卜素-主要吸收蓝紫光（400 nm -500 nm）。与叶绿素b同属光合作用辅助色素，将吸收的光能传给叶绿素a进行光合作用。广泛存在绿色和黄色蔬果内，如胡萝卜、芒果、木瓜、甘藷、柑橘等(4) 光敏素(phytochrome)-植物体内的一种蛋白色素。分为二种型式:钝化型（Pr），吸收波峰为673nm、活化型(Pfr)，吸收波峰为732nm。光敏色素主要透过光信号吸收红光和远红光，调节植物生长和发育。【1】【1】 Whitelam G C, Devlin P F. Light signaling in arabidopsis plant[J]. Plant Physiology and Biochemistry, 1998, 36(2): 125－133.植物生长参考光谱比对，供用户比对、补偿LED植物灯所需光照波段自定义植物光合作用光子通量密度PPFD/PFD量测区间量测波段扩增350~800nm (UVA-FR)，用户可依需求自选定波长范围来了解不同波段的PPFD/PFD。PG200N自定义植物光合作用光子通量密度PPFD /PFD光接收器符合CIE照度计余弦修正规范优化余弦接收面，用户能够正确地测量来自不同角度的光源并取得精确数值。PG200N光接收器符合CIE照度计余弦修正规范 植物照明量测多元性选择用户依情境需求，选择最适方案进行量测，大幅提升量测灵活性与应用性。(1) 单机（可拆卸式探头）/Sensor head双面皆可量测(2) 远距量测-USB Type C有线量测、APP蓝牙无线遥控-iOS & Android二大模式(3) uSpectrum 计算机分析软件，供用户对光源作进阶分析比对、储存及汇出报告档案。植物照明量测解决方案:单机量测、无线蓝芽远距量测及uSpectrum计算机分析平台 PG200N Handheld Spectral PAR MeterSpectrum 传感器CMOS 线性传感器照度计分级符合JIS C 1609-1:2006 一般型 AA级 符合DIN 5032 Part7 B级光谱波长范围350nm to 800 nm波长数据间隔1 nm　光谱波宽约12nm（半波宽）波长再现性± 1 nm *1量测范围1. 70 ~ 150,000 lx2. 0.5~1,000 W/m2 (Irradiance)3. 1~3,000 μmol/(m2*s) (PPFD) 照度精度标准光源A @ 2,856 K at 20,000 lx *2± 5%照度重复性(2σ)0,2%色坐标± 0.0025 in CIE 1931 x,y色重复性 (2σ)0.0005 in CIE 1931 x,y 相关色温± 2%显色性 @ Ra± 1.5%离散光-25 dB max. *3积分时间2ms ~ 2000 ms数字分辨率16 bits　Feature量测功能单次/连续黑暗模式自动暗校正操作模式单机模式/蓝牙模式/USB模式（MSC模式+PC连接）积分时间自动/手动显示模式PPFD 模式PPFD 光谱模式(Including reference spectrum - Chlorophyll A, Chlorophyll B, Beta-carotene, Phytochrome A red, Phytochrome A far red)基本模式光谱模式CIE 1931/1976 色度坐标模式Logging 模式Accumulation Mode档案浏览模式选项模式量测项目Photosynthetically Active Radiation (PAR) (μmol/(m2*s)) PPFD (400nm~700nm) PFD-R (600nm~700nm) PFD-G (500nm~600nm) PFD-B (400nm~500nm) PFD (350nm~800nm) PFD-UV (350nm~400nm) PFD-FR (700 - 800nm) B:G Ratio formula R:FR Ratio formula照度 (LUX) / 呎烛光 (fc)相关色温 (CCT)CIE 色度坐标图 (CIE 1931 x,y / CIE 1976 u' ,v' )△x , △y , △u' , △v' Delta uv (Duv)主波长(λd)色纯度 演色指数(CRI, Ra)/R1 to R15光谱功率分布 (SPD) (mW/m2)峰值波长 (λp)峰值强度 (λpV)积分时间 (I-Time)辐射通量密度 (350nm~800nm) (W/m2)System Configurations显示4.3" 800x480 Capacitive Touch LCD防护等级IP66*6档案储存数约 68,000 档案 @ 8GB SD Card (Excel + JPG)电池操作时间最长可达 5 小时 / 充饱电电池变压器 2500 mAh (3.7V 可充电式锂电池)数据输出接口Micro SD card / Type C / 蓝牙数据格式Compatible Excel/JPG 尺寸190 x 81.7 x 29.5 mm (H x W x D)重量 ( 含电池 )280 g ± 10 g操作温度 / 湿度0 to 35 ℃，相对湿度70％或以下，无冷凝储存温度 / 湿度-10 to 40 ℃，相对湿度70％或以下，无冷凝语言显示英文 / 繁体中文 / 简体中文 / 日文 / 西班牙文 / 德文 / 法文 / 意大利文 / 俄文

Zeta&trade -20HR高分辨率光学轮廓仪（专用于太阳能电池）KLA Instruments&trade 推出 Zeta&trade -20HR 高分辨率 光学轮廓仪，专为满足新型太阳能电池的结构表 征和下一代生产工艺的量测需求而设计。 Zeta-20HR提高了光学轮廓仪的分辨率，将对太阳能电 池结构的表征能力拓展至 1μm 以下。这款新型的 Zeta 设备，基于具有 ZDot&trade 技术的 Zeta-20 设计，最高可 配备 230mm x 230mm 尺寸的样品载台，并具备所有 标准化且易用的多模测量能力。Zeta 光学轮廓仪是太 阳能电池工艺开发和控制的理想量测工具。概览1、横向分辨率相较于 Zeta-20 标准版提升 30%样品台拓展至 230mm x 230mm，支持先进的太阳能电池生产工艺 2、用于下一代太阳能电池生产工艺的结构形貌表征 3、改进的数据可视化方式应用1、太阳能电池金字塔结构的形貌测量2、特征结构的形貌和粗糙度测量 太阳能细栅、主栅测量3、晶圆翘曲和应力测量4、 金刚石切割线测量5、激光开槽测量 30nm至100μm的透明薄膜厚度测量，并生成厚度分布图6、横向尺寸灵敏度＞1μm的自动化缺陷检测太阳能应用 Zeta 光学轮廓仪可对太阳能电池的研发、生产过程中的关键步骤进行量测，包括：（1）金刚石切割线测量，用于监控金刚石切割线 的使用寿命；（2）晶片翘曲和线痕测量；（3）金字塔结构形貌测量，用于监测光能的吸收和转化效率；（4）太阳能电池片的细栅 和主栅的测量，用于监测载流子的传导能力；（5）背电极的测量，用于监测电子流向逆变器的传导能力。Zeta-20HR 具有比标准版 Zeta-20 更高的横向分辨率；如右图轮廓线所示，在同一个测量点位上对比了Zeta-20HR、 AFM和SEM的测量结果；Zeta 测量时间小于30秒。硅基太阳能电池表面形貌可对已镀膜或未镀膜的电池表面金字塔结构进行量测。更强的金字塔结构表征 能力，可测量特征尺寸小至 1μm 的金字塔结构。太阳能电池金属栅线太阳能金属细栅和主栅的自动化测量。Zeta-20HR 使用 HDR 技术调整光强， 在单张图像中同时捕捉低反射率减反层和高反射率表面的形貌信息，并结合 自动化检测算法，快速报告测量值。光刻工艺制备金属栅线光刻工艺制备金属栅线测量。透明光刻胶对于光学轮廓仪来说是一个挑战，ZDot点阵技术可自动采集透明光刻胶的上下表面信息和金属表面信息，从而为 先进金属连线导线工艺提供解决方案。大型样品台采用 230mm x 230mm 的 XY 测量台，适配新一代太阳能电池的工艺规格， 并兼容传统工艺的尺寸要求。

新技术，带来了新发现专用物镜呈现高品质的图像专为DSX110设计制造的1X、3.6X和10X专用物镜，集合了高数值孔径、长工作距离、优异的像差校正和前所未有照明均匀性等诸多优点。 安装基板 金属断口表面变焦光学系统可涵盖大范围的放大倍率宽变焦放大范围： 样品看得更清楚DSX110可提供达16X的光学变焦和30X的数码变焦。在16X光学变焦的范围内，DSX110的总放大倍率从7X到1071X（使用10X专用物镜）。 样品的变焦放大自由角度观察功能： 无需触碰样品便可实现多角度观察借助于DSX110的自由角度观察功能，仅需倾斜变焦头而无需触碰样品便可改变观察角度。倾斜变焦头时，稳固的低重心机身确保了图像的稳定性。 左侧45度 正上方 右侧45度宏观地图: 总是能发现目标当变焦放大倍率提高时，一次所能看到的视野范围就会变小---宏观地图功能会在一个单独的宏观窗口中记录下整个的全视野图像。 各种各样的观察方法，可自由使用灵活的LED环形照明光源使得划伤和缺陷更易于发现DSX110的LED环形照明光源分为四部分，可实现灵活的照明控制，使得划伤和缺陷更易于发现和鉴别。防反射光的LED照明光源偏振镜附件当观察高反射的样品时，DSX110的偏振镜附件可以控制LED环形灯的反射光，确保清晰的观察。 无偏振镜附件 有偏振镜附件灵活的配置实现了性能的最大化DSX110在保持卓越性能的同时，在配置组合的设计上，还实现了操作的灵活性。 DSX110可以组装在透射光照明底座上，也可以组装在可对应大样品的万能支架上。先进的图像处理HDR高动态范围成像：超越人眼观察效果的高品质视觉呈现样品的成像效果依据材料的性质、表面状况或照明方法会有所不同。DSX510先进的数码图像技术产生的多种观察方法，呈现出超越人眼观察效果的高品质图像。高动态范围成像功能（HDR）将不同曝光度下获取的合成影像与微分干涉（DIC）观察法下获得的样品表面精细的高度差影像结合起来，可呈现更加精确的样品表面状况。 印刷电路板WiDER: 可实时观察同时存在高光区和低光区的样品DSX110通过WiDER功能解决了此问题，仅需点击一下鼠标，这个专门的影像处理功能便可处理这种高对比度差的问题。没有暗部细节的缺失。没有高光区的眩光。仅需点击一下鼠标便可解决材料高光区和低光区的高对比度差引起的问题 色彩增强: 仅看见需要看见的DSX110的色彩增强功能可实现仅呈现样品上特定部分所需呈现的颜色，并同时将剩余部分的颜色变成黑白色，使得对样品缺陷的显示更为简单。通过突出显示样品的缺陷或玷污部分，使得检查更为简单。 任何人均可在最佳条件下进行观察优化图像功能确保了任何操作者都可获得最佳的操作结果DSX110将会自动设置必要的参数来获取图像。无论是缺陷、凹凸的表面、还是异物，图像优化功能都确保能获得最佳的影像。通过图像优化功能，任何人均可操作该系统——无论是新手，还是专家——并且还可为每位操作者进行用户化定制。-END-

中图仪器Novator系列cnc全自动光学影像测量仪采用高精度光学成像技术和计算机数字处理技术，能够快速、准确地获取三维物体表面形态信息，并进行精密的尺寸、角度等多项测量数据的分析和处理。Novator将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，实现2.5D和3D复合测量，还支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。 2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。 2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。测量界面高度测量Novator系列cnc全自动光学影像测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量应用领域Novator系列cnc全自动光学影像测量仪可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、钟表、刀具、计量检测等领域。部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

北京韦林意威特工业内窥镜有限公司销售的韦林光学硬杆内窥镜，也称光学直杆内窥镜，属于工业内窥镜中的光学产品。该系列产品是航空发动机孔探等检测任务常用的内窥检测设备，其主要特点是成像清晰，轻巧灵活，擅长孔缝检测。韦林光学直杆内窥镜产品包括：轴向旋转直杆镜和迷你直杆镜，其中后者也称超细工业硬杆镜，是本文要介绍的重点。韦林光学硬杆内窥镜的系统组成韦林光学直杆内窥镜由这样几个部分组成：由目镜、光学透镜组和末端透镜组的成像系统，提供前端照明光的照明系统，光学直杆镜镜体（即：手持部分，有调焦、放大等控制旋钮），光学直杆镜镜身（即：工作长度，指导入被检测物体内部的那部分），以及用来得到清晰图像的末端组件（包括照明光缆的输出终端和成像透镜组）。这几部分协同工作、默契配合，共同实现对难以触及区域的远程目视检测。韦林迷你直杆镜的特点1. 直径非常细，有 1.7mm、1.9mm和2.7mm三种类型；2. 新颖的镜片设计，耐弯曲能力好，能承受意外弯曲而不影响图像清晰；3. 不锈钢探头外层，适应工业检测的严苛条件；4. 前端环形照明使光照增加30%，明亮照明是清晰成像的前提；5. 32mm标准目镜。韦林超细光学硬杆内窥镜的主要参数：（更多信息，欢迎访问韦林工业内窥镜的网站）韦林光学硬杆内窥镜的应用擅长检测空间比较狭小或复杂的孔缝，用于铸件、齿轮箱、螺栓孔、生产组装等狭小孔洞或缝隙检测。以铸件检测为例，能轻松观察到内部的深孔、盲孔、交错孔、铸造中加沙、毛刺等，使内部检测情况一目了然，可以帮助企业做好清洁度检测以及质量控制等检测任务。北京韦林意威特工业内窥镜有限公司是贝克休斯集团检测科技业务旗下韦林工业内窥镜的经销商，如果您对本文介绍的“光学硬杆内窥镜-超细工业硬杆镜”感兴趣，需要能够检查狭小缝隙并承受意外弯曲的直杆镜，或者是其他类型的工业内窥镜产品（例如：工业视频内窥镜、管道爬行机器人、远程视频遥摄监控PTZ摄像机、光纤内窥镜等），欢迎与我们联系。

3nh三恩时YT1020多光源光学透过率雾度仪是3nh研发的一款高精度手持式光学透过率仪，专为快速、准确地测量透明物质的透过率而设计。采用四种光源类型，可测量可见光380nm-760nm，红外峰值波长940nm、1400nm、红外全波段，搭载高灵敏度快速响应的硅光电二极管作为感应器，配合专业算法调校保证了仪器测量速度、准确性、稳定性和一致性。 光学透过率仪YT1020测量快速便捷，开机自动校准，将测试材料放入测试槽，0.5秒即可获得测试数据。广泛应用于玻璃、薄膜等行业，用于透明物质的透过率、遮阳系数等参数的测量。 光学透过率仪YT1020特点 1、高精度分辨率高达0.10%，测量精度优于±1.5%（无色均匀透光物质），出厂时经标准样板检测，精度更可达±1%，保证测量结果的可靠性。2、多光源 配备紫外，可见光，红外940nm，红外1400nm，红外全波段，SHGC和TSER四种光源，满足多样化测量需求，确保对各种透明物质的准确分析。3、快速测量测量时间仅需约0.5秒，大幅提升工作效率，适合快节奏的生产和研发环境。4、良好的操作体验采用3.5英寸TFT真彩显示屏，大屏操作直观简便。5、测量波长范围广 覆盖可见光380nm-760nm，红外峰值波长940nm、1400nm、红外全波段，适应不同材料的光学特性测量。6、超薄设计，样品适应广样品厚度限制小于47mm，能够轻松应对各种厚度的透明物质测量需求，无论是薄片还是较厚的样品都能准确测量。7、自动校准开机自动校准，一键即测，方便使用。8、持久耐用采用5V DC电源供电（Type-C接口），照明光源寿命长达5年，支持超过300万次测量，大大降低了长期使用成本。光学透过率仪YT1020技术参数产品型号YT1020特性四种光源类型,用于透明物质，如玻璃、薄膜等物质的透过率、遮阳系数等参数的测量照明光源紫外，可见光，红外940nm，红外1400nm，红外全波段，SHGC和TSER感应器硅光电二极管测量波长范围可见光380nm-760nm；红外峰值波长940nm、1400nm、红外全波段分辨率0.10%测量时间约0.5s测量精度优于±1.5%（无色均匀透光物质），出厂用标准样板检测优于±1%样品厚度小于47mm尺寸长X宽X高=203*120*29mm重量515g供电方式5V DC电源供电(Type-C)照明光源寿命5年大于300万次测量显示屏TFT 真彩 3.5inch接口USB语言简体中文/English操作温度范围0~40℃，0~85%RH（无凝露），海拔：低于2000m存储温度范围 -20~50℃，0~85%RH（无凝露）标准附件电源适配器、数据线、说明书注：技术参数仅为参考，以实际销售产品为准

中图仪器Novator全自动光学影像仪产品零部件全检测量仪将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，实现无缝连接2D/3D混合测量。仪器具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。 3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。测量界面测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。高度测量Novator全自动光学影像仪产品零部件全检测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量3D形貌测量搭载高精度线扫激光测头，无接触扫描3D轮廓成像，抑制多重反射，能够快速实现尺寸的精准批量测量。通过3D成像视图，可观察到产品形貌的微小特征，可实时输出2D、3D图像保存，支持2D、3D产品尺寸测量。 Novator全自动光学影像仪产品零部件全检测量仪可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。部分技术规格型号 Novator432 行程范围X(mm) 400Y(mm) 300Z(mm) 200图像传感器高清彩色工业摄像机 显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）镜头13.3X电动连续变倍放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X 3D扫描成像测量 Z向测量范围5mm扫描宽度30mm扫描速度10~80mm/s支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(kg)650承重(kg)25恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

医用电子内窥镜光学性能检测系统是Delta仪器针对YY系列标准与FDA认证文件要求创新研发的医用电子内窥镜全自动检测系统。系统配备自动化程控切台、多功能的电子内窥镜夹持器（专利夹具）、程控亮度源、背景光源和前漫射光源、多功能图卡（正弦星形图卡、MTF调制传递函图卡、亮度测试组合测试图卡（亮度响应、静态图像宽容度）、光谱辐射分析仪和专用自动化图像质量分析软件等。系统可测量FOV视场角、照明镜体光效、SNR信噪比、亮度响应特性、空间频率效应、静态图像宽容度、光辐射安全测试、DOV视向角、几何畸变、IIU图像光强均匀性、焦距测试功能、显示还原颜色性能、照明光源性能等。集成化程度高，根据用户需求可定制功能模块，极大提升测试效率。并可根据客户认证标准差异进行个性化配置。符合标准要求：1) YY/T 1587-2018《医用内窥镜 电子内窥镜》2) ISO 8600-3: 2019 ISO 15739:2017 ISO 12233:2017 ISO 8600-3:20193) FDA Guidance Document系统优势特点：1) 系统符合 ISO 最新版对电子内窥镜的测试要求（较国内YY系列标准存在显著差异）2) 全自动一体化的测试架构设计，操作便捷；自动切换平台，搭配多功能图卡实现一键式测量3) 创新型一体化夹具设计，可兼容多种软性内窥镜的快速装夹4) 程控亮度源，实现背光亮度调节5) 系统适用数字接口：DVI接口、HDMI接口、DP（需定制）；模拟接口：CVBS、S端子、SDI、VGA6) 研发智能图像处理算法，可对百余张高清图像无损采集和自动分析运算7) 定制版专用分析软件，自动生成测试报告

产品介绍标准型光学仪器架是常用的平台配套产品，用来放置各种仪器设备以节省空间，并且不影响平台抗震性；配置双排五孔插座及照明光源，满足实验需要；配置漏电保护模块，安全系数高；底部带底轮及地脚，可移动可固定。谱量光电自主硏发的标准型光学仪器架优于市场上常规仪器架，产品结构合理，稳定性高，可根据用户需求尺寸等。技术优势标准型光学仪器架配有漏电保护模块 充分利用光学平台上方空间，独立放置，不影响平台隔振性能配置双排五孔插座及照明电源，使用方便底部带底轮地脚，可移动可固定示意图选型表标准型光学仪器架_Sheet1.jpg" alt="标准型光学仪器架_Sheet1.jpg" style="max-width:800px max-height:300% width:533px height:714px " width="533" height="714"各种需求均可定制。产品应用可以独立放置，可以充分利用光学平台上方空间，放置示波器、各种控制器，实验装置等；搭配暗室遮光罩，可为光学平台提供暗室遮光功能。交付案例

中图仪器Novator光学全自动影像测量仪具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。由于不同行业和领域的测量需求各不相同，中图影像仪功能的研发和应用也可以根据具体情况进行定制和改进。Novator光学全自动影像测量仪线激光3D扫描功能，可实现3D扫描成像和空间测量；点激光线扫描功能，可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。Novator还支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面。 产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。 2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。 软件测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。 VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。还有特殊化应用功能以及SPC分析功能，以及单视野闪测功能等，在保证精度的前提下，测量效率更高。测量界面高度测量Novator光学全自动影像测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量3D形貌测量Novator二次元影像测量仪搭载高精度线扫激光测头，无接触扫描3D轮廓成像，抑制多重反射，能够快速实现尺寸的精准批量测量。通过3D成像视图，可观察到产品形貌的微小特征，可实时输出2D、3D图像保存，支持2D、3D产品尺寸测量。 部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

OpenStand 电动光学支架制造厂商： 英国 Prior适用于光遗传学，生理学，电生理学，神经科学等学科的应用OpenStand是一个完全可配置的电动电生理光学支架，适用于光遗传学，生理学，电生理学，神经科学等学科的应用。这款开放式电生理显微镜载物台采用紧凑的模块化设计，具有100mm的电动Z行程和通用的照明光源。主要型号包括：OSM-TL-VD20，OS-TL-ZD，OSM-TL-3P20，OS-TL-3P12M。作为Prior完整系列生理产品的核心组件之一，OpenStand具有以下特点：• 模块化开放式设计，兼容Prior的完整系列，生理产品• 设计紧凑的，预留了足够空间，可用于体内实验、体内成像• 电动聚焦控制高达100mm，可覆盖从稀薄的样品到整个动物• 大焦距行程简化了浸渍物镜的使用模块化透射光可轻松移除 - 最大限度地提高了物镜的空间• 喉部深度大200mm，35mm的冷凝器调节• 用于超精细Z和可选XY定位的数字电位器• 零电流模式可消除录音噪音• 快速上/下模式，可快速调焦

频闪测试仪频闪性能是评价LED等光源的重要参数体系，直接反应照明光源对人眼舒适度的影响。能源之星和IESNA等相关标准都明确规定了对频闪的测试方法和测试设备的要求。蓝菲光学的频闪测试仪根据能源之星和IESNA等标准的要求设计，可以非常快捷的测量频闪指数、频闪百分比和频闪频率等一系列标准要求的参数。系统配置的探测器响应符合CIE 1931 V(λ)曲线，配合高速数据采集系统，实现对光度量的快速测量。基于FFT的算法使得系统具有极强的抗干扰能力，能够快速而精准的找出被测光源的频闪频率。 强大的软件能够自动的调节硬件系统的增益和软件界面显示，使输出始终处于最佳的模式，大大缩减了人工介入的必要性，极大的提高了测量效率。产品特点： 满足能源之星和IESNA标准的相关条款满足CIE 1931 V(λ)曲线的探测器响应曲线精确快速的数据采集模块FFT算法快速精准的找到频闪频率高效易用的软件系统可与蓝菲光学LFC光度色度测量系统集成使用硬件参数探测器类型硅探测器光谱响应特性CIE 1931 V(λ)最高采样频率100kHz最大采样点数32768有效测量照度范围0.1~100000lx可选连接示波器其他需要与光测量积分球系统LFC集成使用软件功能系统校正暗校正频闪频率快速FFT频闪指数按照能源之星要求频闪百分比按照IESNA标准软件定制可提供二次开发接口通讯接口USB COM测量精度频闪频率±1Hz频闪指数±0.02频闪百分比±2%外形尺寸探测器φ30mm X 30.2mm主机箱280mm(L)X230mm(W)X75mm(H)

Optical Coating System/光学涂覆系统NANO-MASTER(那诺-马斯特)NOC-4000光学涂覆系统提供最先进的技术，系统的设计也可以支持其中任一个腔体的单独使用，同时具备各自的自动上/下载片功能。在一个腔体中实现原子级清洗和光学样片抛光，然后把样片传送到第二级腔体中对同一样片进行表面涂覆，整个过程不间断真空。产品应用：光学涂层溅射IBAD离子束辅助沉积离子束刻蚀清洗离子束辅助反应刻蚀红外涂层表面处理产品特点：RF射频偏压样品台膜厚监测仪极限真空5x10-7Torr高精度及高重复性高品质膜层原子级的洁净表面原子级清洗和抛光通过LabView软件实现PC计算机全自动控制自动上下载片两个腔体之间自动传送菜单驱动，4级密码访问保护完整的安全联锁占地面积46”D x 44”W选配项：向下/向上溅射共溅射DC，RF以及脉冲电源离子束辅助沉积电子束源等离子源

日本SIGMA KOKI柱面平凸透镜圆柱面平凸透镜（柱面平凸透镜）是在垂直方向具有凸透镜的曲率，在水平方向没有曲率的透镜。用于将激光聚光成细线形状的实验中，或用于流体测量等需要的较宽的线状光束。 有从可见光到近红外用的BK7材料的透镜，和可用于350nm以下紫外光的高激光损伤阈值的合成石英透镜这两种类型。 BK7材料的透镜中，备有可见光近红外红外三种类型的防反射膜的透镜。 光学系统中使用柱面透镜时，可以改变光束形状或照明光的纵横比。柱面平凸透镜共同指标注意：?柱面平凸透镜有色差，焦距随波长变化。各波长的焦距请参考网页上的“焦距随波长变化特性数据”确认。?射入柱面平凸透镜的光线有方向性。请务必从凸面一侧射入平行光。否则球差会变大，聚光线条会变宽。?由于无镀膜透镜的正面和反面都存在反射损失，所以透过率为90%左右。功能说明图柱面平凸透镜外形图 柱面平凸透镜透过率波长特性（参考数据）

长春金泰恒光电子科技有限公司是精密光学元件和光学镜头镜片的专业生产加工商。 长春金泰恒光电子科技有限公司，坐落于有着中国光学基地之称的长春。公司的专业技术力量雄厚、工艺精湛、开发新产品的综合能力强。技术方面，得力于长春光机所、长春理工大学等中坚力量的支持与指导。 我公司目前的主打产品有：球面镜、柱面镜（圆柱镜、半柱镜、平凸柱面、平凹柱面等）、平面镜、平面窗口片、棒镜、透镜、棱镜、非球面镜、反射镜、滤光片以及各种规格的异形镜片等，按要求专业镀膜。电.话.微.信. 可加工的材料有：各种成都光明光学玻璃、熔石英（JGS1/JGS2/JGS3/康宁石英）、有色玻璃、国内各种伏法玻璃、光学晶体、红外晶体（硒化锌、硅、锗、氟化钙、氟化钡、氟化锂、氟化镁等）、其它材料等等。 我们的优势是高精度加工，质量好，价格低，工期短，技术过硬，产品完美，价格实惠。

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BRDF/BTDF材料和物质光学特性测试可见红外双向反射/透射分布函数测量仪测量方案根据双向反射/透射分布函数的定义，BRDF测量方法是分别测出入射光谱辐照度和反射/透射光谱辐亮度，两者之比即为BRDF/BTDF。双向反射分布函数的测量平台如图3所示。照明光纤探头和接收光纤探头分别固定在带滑轨的悬臂梁上，测试材料样片放置在样品台上，通过悬臂梁的圆周运动以及照明和接收光纤探头在悬臂梁上的滑动获得不同的光照与观测条件。整个过程在计算机的控制下实现数据的自动采集与处理。整个测量设备包括照明系统、探测系统、测量机械系统和数据处理系统。在测量过程中，通过接口软件将辐射测量软件和测量机械系统的控制软件整合在一起，通过计算机自动控制实验的整个测量过程，使得实验操作起来简便、快速、省时。同时，研制数据采集软件，实时进行数据采集并输出结果。BRDF/BTDF材料和物质光学特性测试服务1、 系统整体结构支架采用铝合金型材搭建，外表美观，结构稳定。2、 光源及探测器支架采用弧形导轨，探测器以导轨做导向实现角度范围的测量；探头部分光纤连接，光纤有*小弯折半径要求，所以要求光纤在弧形导轨上并随弧形导轨一起移动。3、 三个独立的嵌套导轨系统满足各个探测器和光源能独自做旋转调整，光源调整轨道安装在300mm直径转台上，可沿Z轴做水平转动，满足各方向精确角度的检测需求，二个独立导轨系统交于同一圆心（旋台中心），位于转台旋转轴线上，同轴误差0.5-1mm。4、样品台跟随旋转台一起转动，以实现探测方位角相对于样品能360度调整，而照明方位角相对于样品固定。5、 电脑软件操作控制系统电机移动（在一台电脑上的一个软件中，调节方便），实现精确的点位控制，*小角度分辨率0.1°，角度调节速度可控。参数测量光谱参数光谱范围可见光近红外：400-1100nm/400-2500nm光谱分辨率可见光通道分辨率为1nm，近红外通道的分辨率为10nm照明光源调整照明范围自动调整：天顶角：θ=[00；850]方位角相对于样品固定。角解析度天顶角0.50定位精度天顶角±0.50光源光谱范围λ=300-2500nm光谱解析度宽光谱输出, 可配置滤光片调节输出照明光源型号150W卤素灯(Halogen)物体上被照明区域的大小自动调整，10 mm 直径反射观测调整观测范围自动调整：天顶角：θ=[00；300] （90°附近有10°左右观测死角）；方位角：φ=[00；3600]。角解析度0.50定位精度±0.50透射观测调整观测范围自动调整：天顶角：θ=[00；300]；方位角：φ=[00；3600]。透射观测0.50定位精度±0.50探测器及光谱仪光谱仪380-1100nm /380-2500nm光谱仪附件见附表探测器光谱范围λ=200-2500nm光谱解析度1nm@400-1100nm10nm@1000-2500nm杂散光≤1% 操作软件1. 该软件主要功能包括运动平台控制、光谱仪控制、手动/全自动测量、数据采集保存。2、运动平台共有四个旋转自由度：旋转台（方位0~360°）、照明臂（俯仰0~90°）、反射测量臂（俯仰0~90°）和透射测量臂（60°~90°），对应1~4 轴号。通过该软件能控制这四个轴的运动参数，如移动到目标角度、置零、回原点、停止等，并能显示当前状态，如当前角度等。3. 光谱仪控制：（1）显示已连接的光谱仪通道，可设置测量光谱间隔。（2）选择测量模式为幅度模式或反射/透射模式。在选择反射/透射模式前需进行存白、存黑操作。（3）显示光谱仪默认的测量参数，并可对“平滑像素”、“平均次数”、“积分时间”等参数进行更改。（4）在幅度模式下，在点击“开始测量”按钮得到光谱后，通过点击“存白”按钮保存参考， 点击“存黑”按钮保存暗背景。4. 手动采集：通过软件设置运动平台的角度位置和光谱仪参数，点击“手动测量”可采集一次反射/投射数据。5. 全自动采集：该软件能控制运动平台和光谱仪协同工作，以实现全自动反射/投射数据采集。(1) 设定平台运动方案①、设定旋转台调整角度范围（起始角度和终止角度）、步进角度；②、设定照明臂调整角度范围（起始角度和终止角度）、步进角度；③、设定反射/透射臂调整角度范围（起始角度和终止角度）、步进角度；注：调整角度范围应是步进角度的整数倍；在一个测量方案中，旋转台、照明臂、反射/透射臂的角度可以是固定在某个角度，将该轴的起始角度和终止角度设成某一相同值即可。(2) 设定光谱仪参数(3) 点击“全自动测量”，运动平台各轴跑到起始角度，然后按照先进行三级扫描——反射/透射臂（探测臂俯仰角）扫描，再进行二级扫描——旋转台（探测方位角）扫描，*后进行*扫描——照明臂扫描的顺序运动。(4) 运动平台每跑到一个位置，需稳定一段时间，然后光谱仪再进行测量采集。6. 数据保存光谱仪的每一次测量都输出的一组数据，该数据为两列，*列是波长，第二列是与波长对应的反射/透射比。该数据保存为txt文件，文件名中包含测量序号以及三个角度信息如：“2.12.128_照明臂角度_探测臂方位角度_探测臂俯仰角度.txt”。其中，测量序号的格式为“*扫描序号.二级扫描序号.三级扫描序号”，例如“2.12.128”的含义为照明臂第2个扫描位置. 旋转台第12个扫描位置. 探测臂第128个扫描位置。功能与配置1. 功能各种材料可见光*近红外双向反射分布函数与双向透射分布函数的自动测量。2. 配置(1) 光谱仪：双通道(2) 测量平台：四个旋转自由度(3) 测量仪与转台的接口软件；(4) 光谱测量软件；(5) 控制/测量计算机（为了便于测量，需配置1台高性能笔记本电脑，用于测量数据的采集与存储应用:航天遥感地质测量精密制导目标仿真光学设计VRLED设计化妆品效果测试隐形眼镜缺陷测试

Zeta&trade -300光学轮廓仪Zeta&trade -300 可提供3D 量测和成像功能，与集成式防震台和灵活的配置相结合，可以处理更大的样品。该系统采用ZDot&trade 技术，可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-300 支持研发和生产环境，具有多模光学组件、易于使用的软件和低拥有成本。产品描述Zeta-300 光学轮廓仪是一款非接触式3D表面形貌测量系统。Zeta-300 以 Zeta-20 3D 轮廓仪的功能为基础，具有额外的防震选项和灵活的配置，可处理更大的样品。该 3D 光学量测系统由已获得专利的 ZDot 技术及多模式光学组件提供支持，可支持各种样品测量：透明和不透明、低反射率和高反射率、光滑表面和粗糙表面，以及从纳米到厘米范围的台阶高度。Zeta-300台式光学轮廓仪将六种不同的光学量测技术集成到一个可灵活配置且易于使用的系统中。ZDot测量模式同时收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量法、诺马斯基光干涉对比显微法和剪切干涉测量法，膜厚测量包含使用ZDot模式测量和光谱反射的测量方法。Zeta-300 也是一款高端显微镜，可用于抽样检查或缺陷自动检测。Zeta-300 3D 轮廓仪通过提供全面的台阶高度、粗糙度及薄膜厚度测量以及缺陷检测功能，来支持研发 (R&D) 和生产环境。 特征配合ZDot及多模式光学组件，光学轮廓仪可以容易地实现各种各样的应用用于抽样检查和缺陷检测的高质量显微镜ZDot：同时收集高分辨率的3D扫描扫描信息和样品表面真彩色图像ZXI：采用z方向高分辨率的广域测量白光干涉仪ZIC：图像对比度增强，可实现亚纳米级粗糙度表面的定量分析ZSI：z方向高分辨率图像的剪切干涉测量法ZFT：通过集成式宽频反射测量法测量薄膜厚度和反射率AOI：自动光学检测，可量化样品缺陷生产能力：具有多点量测和图形识别功能的全自动测量 应用台阶高度：从纳米级到毫米级的3D 台阶高度表面：光滑表面到粗糙表面上的粗糙度和波纹度测试翘曲：2D或3D翘曲应力：2D或3D薄膜应力薄膜厚度：透明薄膜厚度由 30nm 至 100µ m 不等缺陷检测：捕获大于 1µ m 的缺陷缺陷表征：KLARF 文件可用于寻找缺陷，以确定划痕缺陷位置，测量缺陷3D表面形貌 行业 发光二极管 (LED)：发光二极管和 PSS（图形化的蓝宝石衬底）半导体和化合物半导体半导体 WLCSP（晶圆级芯片封装）半导体 FOWLP（扇出晶圆级封装）PCB（印刷电路板）和柔性印刷电路板MEMS：微机电系统医疗器械和微流体器件数据存储大学、研究实验室和研究所主要应用台阶高度Zeta-300 能够非接触式测量从纳米级到毫米级的3D台阶高度。ZDot和多模式光学组件可提供一系列方法来测量台阶高度。ZDot是主要测量的技术，可以快速测量从几十纳米到毫米级的台阶。ZXI干涉测量可用于在大范围内测量从纳米级到毫米级的台阶。ZSI剪切干涉测量可用于测量不到80nm的台阶。薄膜厚度Zeta-300 能够使用 ZDot 或 ZFT 测量技术测量透明薄膜的薄膜厚度。ZDot用于测量大于10µ m的透明薄膜，例如覆盖在高折射率的衬底上的光刻胶或微流体器件层。ZFT使用集成宽频反射仪测量30nm至100µ m的薄膜。这既可以运用于单层，也可以运用于多层薄膜堆叠，用户可以输入薄膜的性质或使用模型来拟合光谱。纹理：粗糙度和波纹度Zeta-300 测量3D 纹理、量化样品的粗糙度和波纹度。ZDot可以测量从几十纳米到非常粗糙的表面的粗糙度。ZSI和干涉测量可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件中的过滤器将测量结果分为粗糙度和波纹度两部分，并计算出均方根粗糙度等参数。诺马斯基光干涉对比显微法可以通过揭示斜率的微小变化来可视化非常精细的表面细节。翘曲：翘曲形状Zeta-300可以测量表面的2D和3D形状或翘曲。这包括半导体或化合物半导体器件生产过程中层间不匹配导致的晶圆翘曲的测量。Zeta-300 还可以量化结构（例如透镜）的3D 高度和曲率半径。应力：薄膜应力Zeta-300 能够测量具有多个工艺层的器件（例如半导体或化合物半导体器件）在生产过程中的应力。精确测量表面的翘曲度需要使用应力载台将样品支撑在中间位置。然后运用Stoney公式的原理根据工艺（诸如薄膜沉积）带来的形貌变化来计算应力。Zeta-300 通过在整个样品直径上以用户定义的间隔测量样品表面的高度，然后把数据合成样品形状的轮廓来测量2D应力。自动缺陷检测Zeta-300 能够通过自动光学检测 (AOI) 快速检测样品，区分不同的缺陷类型，并绘制整个样品的缺陷分布图。当与3D 量测功能结合使用时，Zeta-300 可以提供2D检测系统无法提供的缺陷高度信息，从而更快地分析缺陷来源。缺陷表征Zeta-300缺陷表征使用检查工具KLARF文件将样品台移动到缺陷位置。用户可以使用Zeta-300检测缺陷或测量缺陷的表面形貌，例如高度、厚度或纹理。这提供了更多无法从2D缺陷检测系统获得的缺陷细节。Zeta-300 还可以使用划线标记缺陷，从而使视场有限的工具（例如SEM）更容易找到缺陷。LED 图形蓝宝石衬底 (PSS)Zeta-300 光学轮廓仪支持图形化的蓝宝石衬底的量测和检测。该系统结合ZDot、背光源照明系统和自定义算法，可快速量化PSS圆锥的高度、宽度和间距。Zeta-300 还可用于测量图形化前后的光刻胶，从而使样品在蓝宝石蚀刻之前返工成为可能。PSS衬底的自动缺陷检测能够快速识别关键缺陷，例如PSS圆锥的缺失、圆锥的桥接、撕裂和污染。半导体和化合物半导体封装Zeta-300 支持晶圆级芯片封装 (WLCSP) 和扇出晶圆级封装 (FOWLP) 量测要求。一个主要的赋能技术是在干光刻胶膜完好无损的情况下测量镀铜的高度。这是通过从透明光刻胶到种子层测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括重布线(RDL)、凸点下金属化(UBM)高度和纹理、光刻胶开口临界尺寸(CD)、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。还可以测量金属凸点的共面性，以确定凸点高度是否满足最终器件封装连接性要求。印刷电路板 (PCB) 和柔性 PCBZeta-300 的高动态范围功能可实现从纳米级到毫米级的表面粗糙度和台阶高度测量，无需更改配置。它可以处理高反射率薄膜（例如铜）以及 PCB 上常见的透明薄膜。Zeta-300 支持盲孔、线痕和热压焊的关键尺寸 (CD) 测量（高度和宽度）以及表面粗糙度。激光烧蚀Zeta-300 可以测量半导体、LED、微流体器件、PCB 等的激光表面处理引起的表面形貌变化。激光已被用于半导体、LED和生物医学设备等行业的精密微观尺度加工和表面处理。对于半导体行业，晶圆ID标记的深度和宽度的测量对于确保它可以在众多加工步骤中成功读取至关重要。微流体Zeta-300 能够测量由硅、玻璃和聚合物等材料制成的微流体器件。该系统量化了通道、孔和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理。Zeta-300 可进行折射率补偿，测量用透明顶盖板密封后的最终器件，从而监测腔道的深度。生物技术Zeta-300 非常适合生物技术应用，可对具有从纳米级到毫米级特征的各种样品表面进行非接触式测量。Zeta-300 可以测量高深宽比台阶，例如生物技术器件的深孔深度。借助高数值孔径物镜和对反射能力极弱的样品的分辨能力，可以测量用于药物输送的微针阵列结构。

Zeta&trade -388光学轮廓仪Zeta&trade -388提供3D量测和成像功能，与集成防震台和晶圆操作系统结合，可实现全自动测量。该系统采用ZDot&trade 技术，可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-388支持研发和生产环境，具有多模光学器件、易于使用的软件、低拥有成本和SECS/GEM通信。产品描述Zeta-388光学轮廓仪是一款非接触式三维(3D)表面地貌测量系统。Zeta-388基于Zeta-300的功能，增加了用于全自动测量的机械手臂操作系统。该系统由已获得专利的ZDot技术及多模式光学组件提供支持，可支持各种样品测量：透明和不透明、低至高反射率及各种粗糙程度的纹理，以及从纳米到毫米范围的台阶高度。 Zeta-388光学轮廓仪集成了六种不同的光学量测技术，构建出一款可灵活配置且易于使用的系统。ZDot测量模式同时收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量法、诺马斯基光干涉对比显微法和剪切干涉测量法，膜厚测量包含使用ZDot模式测量和光谱反射的测量方法。Zeta-388也是一款高端显微镜，可用于抽样检查或缺陷自动检测。Zeta-388通过提供全面的台阶高度、粗糙度和薄膜厚度测量、缺陷检测功能和机械手臂操作系统来支持研发和生产环境。 特征采用ZDot及多模式光学技术且便于使用的光学轮廓仪，可应对各种各样的应用程序用于抽样检查和缺陷检测的高质量显微镜ZDot：同时收集高分辨率的三维(3D)扫描及真彩色无限聚焦图像ZXI：采用纵向高分辨率的广域测量白光干涉仪ZIC：图像对比度增强，可实现亚纳米级粗糙度表面的定量分析ZSI：纵向高分辨率图像的剪切干涉术ZFT：通过集成式宽频反射测量法测量薄膜厚度和反射率AOI：自动光学检测，可量化样本缺陷生产能力：具有多点量测和图形识别功能的全自动测量机械手臂操作系统：自动加载直径为50毫米到200毫米的不透明（例如硅）和透明（例如蓝宝石）样品应用台阶高度：从纳米到毫米的3D台阶高度表面：光滑表面到粗糙表面上的粗糙度和波纹度测试翘曲：2D或3D翘曲应力：2D或3D薄膜应力薄膜厚度：透明薄膜厚度从30nm至100µ m不等缺陷检测：捕获大于1µ m的缺陷缺陷审查：KLARF文件可用于寻找缺陷，以确定划痕缺陷位置，测量缺陷3D表面形貌 工业无线通讯器件(SAW/BAW/FBAR)发光二极管(LED)：发光二极管和PSS（图形化的蓝宝石衬底）半导体和化合物半导体半导体WLCSP（晶圆级芯片封装）半导体FOWLP（扇出晶圆级封装）PCB（印刷电路板）和柔性电路板MEMS:微机电系统医疗器械和微流体元件主要应用台阶高度Zeta-388 能够非接触式测量从纳米级到毫米级的3D台阶高度。ZDot和多模式光学组件可提供一系列方法来测量台阶高度。ZDot是主要测量的技术，可以快速测量从几十纳米到毫米级的台阶。ZXI干涉测量可用于在大范围内测量从纳米级到毫米级的台阶。ZSI剪切干涉测量可用于测量不到80nm的台阶。薄膜厚度Zeta-388 能够使用 ZDot 或 ZFT 测量技术测量透明薄膜的薄膜厚度。ZDot用于测量大于10µ m的透明薄膜，例如覆盖在高折射率的衬底上的光刻胶或微流体器件层。ZFT使用集成宽频反射仪测量30nm至100µ m的薄膜。这既可以运用于单层，也可以运用于多层薄膜堆叠，用户可以输入薄膜的性质或使用模型来拟合光谱。纹理：粗糙度和波纹度Zeta-388 测量3D 纹理、量化样品的粗糙度和波纹度。ZDot可以测量从几十纳米到非常粗糙的表面的粗糙度。ZSI和干涉测量可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件中的过滤器将测量结果分为粗糙度和波纹度两部分，并计算出均方根粗糙度等参数。诺马斯基光干涉对比显微法可以通过揭示斜率的微小变化来可视化非常精细的表面细节。翘曲：翘曲形状Zeta-388可以测量表面的2D和3D形状或翘曲。这包括半导体或化合物半导体器件生产过程中层间不匹配导致的晶圆翘曲的测量。Zeta-388 还可以量化结构（例如透镜）的3D 高度和曲率半径。应力：薄膜应力Zeta-388 能够测量具有多个工艺层的器件（例如半导体或化合物半导体器件）在生产过程中的应力。精确测量表面的翘曲度需要使用应力载台将样品支撑在中间位置。然后运用Stoney公式的原理根据工艺（诸如薄膜沉积）带来的形貌变化来计算应力。Zeta-388 通过在整个样品直径上以用户定义的间隔测量样品表面的高度，然后把数据合成样品形状的轮廓来测量2D应力。自动缺陷检测Zeta-388 能够通过自动光学检测 (AOI) 快速检测样品，区分不同的缺陷类型，并绘制整个样品的缺陷分布图。当与3D 量测功能结合使用时，Zeta-388 可以提供2D检测系统无法提供的缺陷高度信息，从而更快地分析缺陷来源。缺陷表征Zeta-388缺陷表征使用检查工具KLARF文件将样品台移动到缺陷位置。用户可以使用Zeta-300检测缺陷或测量缺陷的表面形貌，例如高度、厚度或纹理。这提供了更多无法从2D缺陷检测系统获得的缺陷细节。Zeta-388 还可以使用划线标记缺陷，从而使视场有限的工具（例如SEM）更容易找到缺陷。LED 图形蓝宝石衬底 (PSS)Zeta-388 光学轮廓仪支持图形化的蓝宝石衬底的量测和检测。该系统结合ZDot、背光源照明系统和自定义算法，可快速量化PSS圆锥的高度、宽度和间距。Zeta-388 还可用于测量图形化前后的光刻胶，从而使样品在蓝宝石蚀刻之前返工成为可能。PSS衬底的自动缺陷检测能够快速识别关键缺陷，例如PSS圆锥的缺失、圆锥的桥接、撕裂和污染。半导体和化合物半导体封装Zeta-388 支持晶圆级芯片封装 (WLCSP) 和扇出晶圆级封装 (FOWLP) 量测要求。一个主要的赋能技术是在干光刻胶膜完好无损的情况下测量镀铜的高度。这是通过从透明光刻胶到种子层测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括重布线(RDL)、凸点下金属化(UBM)高度和纹理、光刻胶开口临界尺寸(CD)、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。还可以测量金属凸点的共面性，以确定凸点高度是否满足最终器件封装连接性要求。激光烧蚀Zeta-388可以测量半导体、LED、微流体器件、PCB 等的激光表面处理引起的表面形貌变化。激光已被用于半导体、LED和生物医学设备等行业的精密微观尺度加工和表面处理。对于半导体行业，晶圆ID标记的深度和宽度的测量对于确保它可以在众多加工步骤中成功读取至关重要。微流体Zeta-388 能够测量由硅、玻璃和聚合物等材料制成的微流体器件。该系统量化了通道、孔和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理。Zeta-388 可进行折射率补偿，测量用透明顶盖板密封后的最终器件，从而监测腔道的深度。生物技术Zeta-388 非常适合生物技术应用，可对具有从纳米级到毫米级特征的各种样品表面进行非接触式测量。Zeta-388 可以测量高深宽比台阶，例如生物技术器件的深孔深度。借助高数值孔径物镜和对反射能力极弱的样品的分辨能力，可以测量用于药物输送的微针阵列结构。

中图仪器SuperViewW纳米深度光学3D表面轮廓显微仪基于白光干涉原理，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。工作原理SuperViewW纳米深度光学3D表面轮廓显微仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。测量原理照明光束经半反半透分光镜分成两束光，分别投射到样品表面和参考镜表面。从两个表面反射的两束光再次通过分光镜后合成一束光，并由成像系统在CCD相机感光面形成两个叠加的像。由于两束光相互干涉，在CCD相机感光面会观察到明暗相间的干涉条纹。干涉条纹的亮度取决于两束光的光程差，根据白光干涉条纹明暗度以及干涉条文出现的位置解析出被测样品的相对高度。 SuperViewW纳米深度光学3D表面轮廓显微仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例： 部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中图仪器2.5次元测量影像仪Novator可以自动抓取数据点，测量点、线、圆、弧、椭圆、矩形等几何特征，自动分析测量特征的各种参数，如宽度、直径、位置、直线度、圆锥度、圆柱度等各种几何尺寸。仪器特点是可以自动抓取产品的边界和表面，尤其是在测量一些弱边缘特征(如过渡曲线、圆角加工等)时能完成自动抓取。结合专用测量软件对测绘要素数据进行处理、评价和输出。在保证精度的前提下，测量效率更高。中图仪器2.5次元测量影像仪Novator采用大理石主体机台和精密伺服控制系统，将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，还支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。 频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。中图仪器2.5次元测量影像仪Novator可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。高度测量Novator系列影像测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。 光学测头平面度测量部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。