椭圆偏光仪

产品特点： ? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 自动变更反射测量角度，可得到更详细的薄膜解析数据。? 采用正弦杆自动驱动方式，展现测量角度变更时优异的移动精度。? 搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。? 可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格： 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45～90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300～800nm分光元件Poly-chrometer尺寸650（H）×400（D）×560（W）mm重量约50kg

产品特点： ? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 自动变更反射测量角度，可得到更详细的薄膜解析数据。? 采用正弦杆自动驱动方式，展现测量角度变更时优异的移动精度。? 搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。? 可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格： 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45～90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300～800nm分光元件Poly-chrometer尺寸650（H）×400（D）×560（W）mm重量约50kg

产品特点： ? 椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。? 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。? 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格： 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm（可选择350～1000nm）感光元件光电二极管阵列512ch（电子制冷）入射/反射角度范围45～90o电源规格AC1500VA（全自动型)尺寸1300（H）×900（D）×1750（W）mm重量约350kg（全自动型） 应用范围： ■半导体晶圆?电晶体闸极(Gate)氧化薄膜、氮化膜，电极材料等?SiO 2、SixOy、SiN、SiON、SiNx、Al 2 O 2、SiNxOy、poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN?光阻剂光学常数(波长色散)■化合物半导体?AlxGa (1-x) As多层膜、非结晶矽■平面显示器?配向膜?电浆显示器用ITO、MgO等■新材料?类钻碳薄膜(DLC膜)、超传导性薄膜、磁头薄膜■光学薄膜?TiO 2、SiO 2、多层膜、抗反射膜、反射膜■平版印刷领域?g线(436nm)、h线(405nm)、i线(365nm)、KrF(248nm)等于各波长的n、k值评价 应用范例： 非线性最小平方法比对NIST标准样品(SiO 2)膜厚精度确认

产品特点： ? 椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。? 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。? 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格： 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm（可选择350～1000nm）感光元件光电二极管阵列512ch（电子制冷）入射/反射角度范围45～90o电源规格AC1500VA（全自动型)尺寸1300（H）×900（D）×1750（W）mm重量约350kg（全自动型） 应用范围： ■半导体晶圆?电晶体闸极(Gate)氧化薄膜、氮化膜，电极材料等?SiO 2、SixOy、SiN、SiON、SiNx、Al 2 O 2、SiNxOy、poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN?光阻剂光学常数(波长色散)■化合物半导体?AlxGa (1-x) As多层膜、非结晶矽■平面显示器?配向膜?电浆显示器用ITO、MgO等■新材料?类钻碳薄膜(DLC膜)、超传导性薄膜、磁头薄膜■光学薄膜?TiO 2、SiO 2、多层膜、抗反射膜、反射膜■平版印刷领域?g线(436nm)、h线(405nm)、i线(365nm)、KrF(248nm)等于各波长的n、k值评价 应用范例： 非线性最小平方法比对NIST标准样品(SiO 2)膜厚精度确认

全自动化&高集成度&可视化光斑一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。1主要特点1. 液晶调制技术，无机械转动部件，重复性，信噪比高2. 技术成像系技术，所有样品均可成像，对于透明样品,自动去除样品的背反射信号,使得数据分析更简单.3. 反射式微光斑，覆盖全谱段，利于非均匀样品图案化样品测试4. 全自动集成度高，安装维护简便5. 一键式操作软件，快速简单6. 自动MAPPING扫描，分析样品镀膜均匀性2技术参数1. 光谱范围：450-1000 nm2. 多种微光斑自动选择3. 光斑可视技术，可观测任何样品表面4. 自动样品台尺寸：200mmX200mm；XYZ方向自动调节 Z轴高度35mm5. 70度角入射6. CCD探测器相关推荐椭圆偏振光谱入门手册——测量膜厚、光学常数的强大工具您可了解：1. 椭圆偏振光谱的概念及应用领域2. 适用的样品及可获取的信息3. 常见的椭偏仪类型及优势分析4. 测量、数据分析时的常见问题

总览我们的椭圆芯PME1300-10光纤提供了高偏振消光和对弯曲和扭转应力不敏感。与传统的PM光纤不同，椭圆波导的双折射具有较低的热依赖性(比Panda低10倍)。由于椭圆芯的几何形状，与传统的圆芯光纤(SMF、Panda)之间的耦合是有损耗的，圆形-全椭圆光纤耦合的拼接损耗是-0.5dB，椭圆到圆形的损耗为2.5 dB。低双折射旋转光纤 600-900nm,低双折射旋转光纤 600-900nm通用参数产品特点：高消光比低耦合损耗低温依赖性产品应用：光纤陀螺仪.光学电流传感器.光纤放大器技术参数：型号LB650LB1060LB1300LB1300RCPME1300-10工作波长600 - 900 nm900 - 1100 nm1300 - 1600 nm 11300 - 1600 nm1300 - 1600 nm截止波长 580 nm 915 nm 1280 nm 1280 nm 1280 nmBeatlength 拍长4 mm7 mm13 mm13 mm9 mm自旋周期3 mm3 mm3 mm3mm-衰减6 dB/km6 dB/km4 dB/km5 dB/km8 dB/km模场直径6 um8 um9 um9 um13 x 8 um包层直径125 um125 um125 um80 um125 um涂层直径250 um250 um250 um200 um250 um芯包同心度 0.5 um 0.5 um 0.5 um 0.5 um 0.5 um包层偏移量 5 um 5 um 5 um 5 um 5 um涂层材料丙烯酸脂丙烯酸脂丙烯酸脂丙烯酸脂丙烯酸脂拉力测试100 kpsi100 kpsi100 kpsi100 kpsi100 kpsi弯曲半径 20 mm 20 mm 20 mm 12 mm 20 mm

仪器简介：在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数，如：布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点，因而，椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。技术参数：规格与主要技术指标： 测量范围：薄膜厚度范围：1nm-300nm； 折射率范围：1-10 测量最小示值：&le 1nm 入射光波长：632.8nm 光学中心高：80mm 允许样品尺寸：&phi 10-&phi 140mm，厚度&le 16mm 偏振器方位角范围：0° - 180° 读取分辨率为0.05° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为：± 1nm和± 0.01 主机重量：25kg 入射角连续调节范围：20° - 90° 精度为0.05° 主要特点：仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及方便测量等特点； 光源采用氦氖激光器，功率稳定、波长精度高； 仪器配有生成表、查表以及精确计算等软件，方便用户使用。

SE 401adv 通过映射高达 200 毫米的液体单元、用于原位测量的液体单元、摄像机、自动对焦、模拟软件和经过认证的标准晶圆，可根据您的需求进行调整。主要功能与优势亚埃精度稳定的氦氖激光器保证了 0.1 &angst 的精度，用于超薄单层的薄膜厚度测量。高速SENTECH SE 401adv 激光椭偏仪的测量速度使用户能够监测单片生长和终点检测，或绘制样品的均匀性图谱。测量的椭圆角具有高稳定性和再现性原位椭偏仪 SE 401adv 可用于监测反射样品表面不同环境因素的生长和蚀刻过程。它测量椭圆角度 Ψ 和 Δ 的时间依赖性，并实时计算厚度和折射率灵活性和模块化SENTECH SE 401adv 原位激光椭偏仪可用于从可选的、特定于应用的入射角表征单个薄膜和基板。自动准直望远镜可确保在大多数具有平坦反射表面的吸收性或透明基材上进行精确测量。集成的多角度测量支持（40° – 90°，步长为 5°）可用于确定层堆叠的厚度、折射率和消光系数。SENTECH SE 401adv是用于超薄单膜厚度测量的激光椭偏仪。SENTECH SE 401adv 原位激光椭偏仪的选件支持微电子、光伏、数据存储、显示技术、生命科学、金属加工以及更多前沿技术中的应用。SENTECH SE 401adv 通过映射高达 200 毫米的液体单元、用于原位测量的液体单元、摄像机、自动对焦、模拟软件和经过认证的标准晶圆，可根据您的需求进行调整。

J.A.Woollam椭圆仪M-2000产品型号：M-2000产品介绍：M-2000系列椭圆偏振仪专为满足薄膜表征的各种需求而设计。先进的光学设计、宽光谱范围和快速数据采集结合在一个 强大和多功能的工具中。M-2000 兼具速度和准确性。我们获得专利的 RCE 技术将旋转补偿器椭圆偏光仪与高速 CCD 检测相结合，可在几分之一秒内通过各种配置收集整个光谱（数百个波长）。M-2000 是一款擅长从现场监测和过程控制到大面积均匀性映射和通用薄膜表征的所有方面的椭圆仪。没有其他椭圆仪技术能够更快地获取全光谱。性能特点：◆先进的椭圆仪技术M-2000 利用我们获得专利的 RCE（旋转补偿器椭偏仪）技术来实现高精度。◆快速光谱检测RCE 设计与先进的、经过验证的 CCD 检测兼容，可同时测量所有波长。◆宽光谱范围收集从紫外线到近红外的 700 多种波长——全部同时进行。◆灵活的系统集成M-2000 采用模块化光学设计，适合直接连接到您的处理室或配置在我们的任何桌面底座上。◆准确性先进的设计可确保对任何样品进行准确的椭圆偏光测量。参数：◆光谱范围D：193-1000 nmX-210：210-1000 nmX：245-1000 nmU：245-1000 nmV：370-1000 nm+I：增加 1000-1690 nm◆波长数D：500个波长X-210：485个波长X：470个波长U：470个波长V：390个波长+I：增加190个波长◆探测器：感光元件◆入射角45°-90°（自动角度底座）20°-90°（立式自动角度底座）65°（固定角度底座）65°（测试底座）◆数据采集率（完整频谱）：0.05 秒（典型值为 2-5 秒）◆max基材厚度：18mm◆电源要求：100/240 伏交流电，47-63 赫兹，1 安培◆产地：美国应用：M-2000是一款多功能的光谱椭偏仪，适用于多种不同的样品类型。涂层可以是电介质、有机物、半导体，甚至是薄金属。◆光学镀膜◆化学/生物学◆导电有机物◆半导体◆光伏◆原位

日本分光制的椭圆计配有日本分光专利产的PEM双重锁定方式和光伺服?光参考方式，实现高速性和高安定性。由于偏光素子的轴配置适合特别薄的膜和微小的偏光测量，所以主要用于向高集积化和高精细化发展的半导体及高机能光学薄膜等材料的评价。◆规格型号M-210M-220M-230M-240M-550ELC-300测量方法PEM双重锁定方式、光伺服/光参照控制方式分光器-双单色器 自动波长驱动装置双单色器（260～900nm） 单单色器（900～1700nm） 自动波长 驱动装置单单色器 自动波长 驱动装置双单色器 自动波长 驱动装置测量波长He-Ne激光 (632.8nm)He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (260～860nm)He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源(240～700nm)He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源(26～900nm) 卤素灯(900～1700nm)Xe光源 (350～800nm)He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (260～860nm)入射 　角范围40゜～ 90゜ 连续自动设定 （0.01゜间隔）45゜～ 90゜ 连续自动设定 （0.01゜间隔）40゜～ 90゜ 连续自动设定 （0.01゜间隔）膜厚测量范围0～99999?测量时间1msec以上20μsec～16sec测量准确度*屈折率　±0.01膜厚　±1?消衰係数　±0.01*准确度是指测量时间100msec以上。另外、根据表面状态、膜质不同准确度也不同。样品室样品垂直放样品水平放样品垂直放检测器检光子（Glan-Taylor棱镜） 紫外可见区域：光电子倍増管　近红外区域：InGaAs-PIN光电二极管（M-240）

SENTECH SE 500adv结合了椭圆偏振法和反射法，消除了测量透明薄膜层厚的模糊性。它将可测量的厚度扩展到 25 μm。因此，SE 500adv 扩展了标准激光椭偏仪 SE 400adv 的功能，特别适用于分析较厚的电介质、有机材料、光刻胶、硅和多晶硅薄膜。主要功能与优势明确的厚度测定椭圆偏振法和反射法的结合允许通过自动识别循环厚度周期来快速、明确地确定透明薄膜的厚度。最大的测量范围激光椭偏仪和反射仪的结合将透明薄膜的厚度范围扩展到 25 μm 或更多，具体取决于所选的光度计选项。突破激光椭圆偏振仪的极限多角度手动测角仪具有优秀的性能和角度精度，可以测量单片和层叠的折射率、消光系数和膜厚。灵活性和模块化SENTECH SE 500adv 可用作激光椭偏仪、膜厚探头和 CER 椭偏仪。因此，它提供了标准激光椭偏仪无法达到的最大灵活性。作为椭圆仪操作，可以执行单角度和多角度测量。当作为膜厚探头操作时，透明或弱吸收膜的厚度是在正常入射下测量的。SE 500adv 中的椭圆偏振法和反射仪 （CER） 组合包括椭偏仪光学元件、测角仪、组合反射测量头和自动准直望远镜、样品平台、氦氖激光源、激光检测单元和光度计。

SENTECH SENresearch 4.0 使用快速 FTIR 椭圆偏振法分别测量高达 2,500 nm 或 3,500 nm 的近红外光谱。它提供最宽的光谱范围、最佳的信噪比和最高的可选光谱分辨率。可以测量厚度达 200 μm 的硅膜。FTIR椭圆偏振仪的测量速度与二极管阵列配置相比，二极管阵列配置也可选择高达1,700 nm。主要功能与优势最宽的光谱范围和最高的光谱分辨率SENTECH SENresearch 4.0 椭圆偏振光谱仪覆盖从 190 nm（深紫外）到 3,500 nm（NIR）的最宽光谱范围。该器件具有高光谱分辨率，可使用 FTIR 椭圆偏振法分析厚度达 200 μm 的厚膜。无运动部件，符合 SSA 原理在数据采集过程中没有移动的光学部件，以获得最佳测量结果。步进扫描分析仪 （SSA） 原理是 SENresearch 4.0 光谱椭偏仪的一个功能。通过创新的 2C 设计实现全 Mueller 矩阵通过创新的 2C 设计扩展了 SSA 原理，可以测量完整的 Mueller 矩阵。2C 设计是一种可现场升级且经济高效的配件。灵活性和模块化电动金字塔测角仪的角度范围为 20 度至 100 度。光学编码器确保了最高精度和角度设置的长期稳定性。光谱椭圆仪臂可以独立移动，以进行散射测量和角度分辨透射测量。该工具根据步进扫描分析仪 （SSA） 原理运行。SSA将强度测量与机械运动分离，从而可以分析粗糙的样品。在数据采集过程中，所有光学部件都处于静止状态。此外，SENTECH SENresearch 4.0 包括用于映射和原位应用的快速测量模式。SENresearch 4.0 的定制椭圆仪可以针对标准和高级应用进行配置。例如介电层堆栈、纹理表面以及光学和结构 （3D） 各向异性样品。为各种应用提供了预定义的配方。SpectraRay/4 是该工具的综合光谱椭偏仪软件。它包括两种操作模式：配方模式和交互模式。配方模式允许轻松执行常规应用程序。交互模式通过交互式图形用户界面引导椭圆测量。

SENTECH SENpro 椭圆偏振光谱仪具有操作简单、测量速度快、不同入射角椭偏振测量的组合数据分析等特点。它的测量光谱范围为 370 nm 至 1,050 nm。该工具的光谱范围与先进的软件 SpectraRay/4 相结合，可以轻松确定单片薄膜和复杂层叠的厚度和折射率。主要功能与优势离散入射角SENTECH SENpro 光谱椭圆仪包括一个角测角仪，其入射角以 5° 步长 （40° – 90°） 进行，以优化椭圆测量。步进扫描分析仪原理SENpro具有的步进扫描分析仪原理。在数据采集过程中，偏振器和补偿器是固定的，以提供最高精度的椭圆测量。速度和准确性该工具专注于测量薄膜的速度和准确性，无论它们应用于何处。应用范围从 1 nm 的极薄层到高达 15 μm 的厚层。可重复且准确的结果经济高效的台式 SENTECH SENpro 包括 VIS-NIR 椭圆仪光学元件、5° 步进测角仪、样品平台、激光对准、光纤耦合稳定光源和检测单元。SENpro 配备光谱椭圆仪软件 SpectraRay/4，用于系统控制和数据分析，包括建模、模拟、拟合和数据呈现。即用型应用程序文件使操作变得非常容易，即使对于初学者也是如此。SpectraRay/4 支持计算机控制的均匀性测量映射。

SENTECH SENDIRA 专为红外 （FTIR） 而设计。这款紧凑的台式仪器包括吹扫椭偏仪光学元件、计算机控制的测角仪、水平样品平台、自动准直望远镜、商用 FTIR 和 DTGS 或 MCT 检测器。FTIR 在 400 cm-1 至 6,000 cm-1 （1.7 μm – 25 μm） 的光谱范围内提供出色的精度和高分辨率。主要功能与优势测量灵活性SENTECH SENDIRA 椭圆偏振光谱仪可测量散装材料、单层和多层堆叠的薄膜厚度、折射率、消光系数和相关特性。该工具可用于覆盖在可见范围内不透明的层下方的层，使其可用于测量。可以分析材料的组成以及较大分子基团和链的取向。椭圆振动光谱利用红外光谱中分子振动模式的吸收带分析了薄层的组成。此外，载流子浓度可以用这种FTIR光谱椭偏仪测量。适用的傅里叶变换红外对于 Thermo Fisher Scientific 光谱仪的商用 FTIR iS50，安装了红外椭偏仪光学元件。它也可用于一般振动光谱法。精确的测量和准确的结果SENTECH SENDIRA专注于薄层的振动光谱分析。应用范围从介电薄膜、TCO 和半导体到有机层。SENDIRA 由 SpectraRay/4 软件操作。另外还提供FTIR软件。

Horiba 相位调制型椭圆偏振光谱仪 UVISEL Plus基于最新的电子设备，数据处理和高速单色仪，FastAcqTM技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集，双单色仪系统可达到0.1-2 nm。AutoSoft软件界面以工作流程直观为特点，使得数据采集分析更加简便，易于非专业人员上手操作。速度提升1.5倍UVISEL Plus集成了最新的FastAcqTM快速采集技术，可在3分钟以内实现高分辨的样品测试（190-2100 nm），校准仅需几分钟。灵敏度提升2倍基于25年经验，UVISEL Plus相位调制椭偏仪提供纯正有效的偏振调制，可用于各种样品的精确测量，最新的FastAcqTM速采集技术使得测试灵敏度提高至原有的两倍，从而能获得面薄膜和纳米级低衬度衬底样品的更多信息。灵活拓展UVISEL Plus椭偏仪模块化设计，可灵活拓展，以适应的应用及预算需求。相较于其他供应商，UVISEL Plus统的可升级性能将更好的满足您未来的应用需求。卓越的性能UVISEL Plus基于相位调制技术，相位调制与高质量消色差光学设计的特有结合提供了无可匹的膜厚测试效果。• 信号采集过程无移动部件• 光路中无增加元件• 高频调制 50 kHz• 测试全范围的椭偏角，Ψ (0-90，Δ (0-360)规格项目内容光谱范围UVISEL Plus：190 - 885 nmUVISEL Plus NIR：190 - 2100 nm光源75 W 氙灯标准光斑尺寸 3 mm (90º)手动平台150 mm, 手动调节高度 (20 mm) 和倾斜角入射角手动：55º - 90º，步长5ºFUV-VIS范围高灵敏度光电倍增管检测器&低杂散光NIR范围InGaAs检测器

SK010PA-IR偏振测量仪 ----高精度全自动保偏光纤偏振态测量系统SK010PA是一款通用型偏振分析仪，该偏振分析仪通常用于对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。可实时对四个斯托克斯参数进行测量以获取光路偏振状态（SOP），并显示在庞加莱球面上。在保偏光纤的评估和偏振对准中具有巨大优势。设备结构紧凑，即插即用，可轻松集成到现有客制系统中进行快速校准和测量，软件操作简单、功能强大。在激光束耦合到保偏光纤的偏振对准应用中，SK010PA偏振分析仪提供优化光源入射偏振方向与光纤偏振轴对齐程序，并测量该过程产生的消光比（PER）。上述过程通过连续测量出射偏振状态期间，并使光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转，保证出射偏振态尽可能接近庞加莱球面圆心。此外，SK010PA还可用于对准和量化延迟光学器件，如带有1/4波片的光纤准直器等。光纤偏振态测量仪产品特性：确定偏振状态 （SOP），包括所有四个斯托克斯参数、PER（偏振消光比）、偏振度 （DOP）、椭圆度等。USB 2.0 供电设备（控制、数据传输和电源）在庞加莱球面上显示SOP或偏振椭圆用于保偏光纤评估和偏振对准的特殊程序与用于自由光束应用的微型工作台系统、导轨或笼式系统兼容，包括兼容光纤应用的 FC APC 适配器光纤偏振态测量仪应用领域：耦合保偏光纤偏振对准 理想情况下，保偏光纤能保持耦合到光纤中的光的线性偏振态，然而在实际中，保偏光纤会在很小程度上影响偏振态，如温度、机械应力导致的弯曲和扭转等，这会使光纤出口处出现轻微的椭圆偏振。如下图所示。 SK010PA偏振测量仪提供将光源的入射偏振方向与光纤的偏振轴对齐以及测量由此产生的偏振消光比（PER） 的程序。保偏单模光纤在两种垂直的原理状态下引导耦合辐射，即光纤偏振轴（也称为慢轴和快轴）如下左图所示。 光纤耦合辐射的偏振消光比PER是耦合到光纤两个偏振轴的光功率电平之间的比值。偏振分析仪用于通过旋转光源的输入偏振轴来优化光源偏振轴与光纤偏振轴的偏振对准，见下右图。对于两个偏振轴，传播速度不同。当线偏振辐射没有精确耦合到这些状态之一时，辐射会分成两个垂直分量，分别耦合到光纤的偏振轴上。在光纤出口处，传播速度的差异会导致相移，这也取决于光纤的长度。如果该相移小于激光源的相干长度，则辐射会重新组合为椭圆偏振态。如果激光源的相干长度小于相移，则新出现的辐射部分去偏振。偏振分析仪支持两种情况的调整。SK010PA所测的SOP可在庞加莱球上可视化展示，如下图所示。在该图中，线性 SOP 位于球体的赤道上，圆极化状态位于球体的两极。偏振维持光缆输出端的预期偏振态可能会略微偏离赤道。该表示法中的倾斜角即为椭圆度 η，偏振维持光缆的偏振维持性由椭圆度 η 来表征。圆的半径表示对准的质量，对齐良好的保偏光纤状态为数据圆会收敛到一个点，即圆的中心，通常也位于庞加莱球的赤道上。测量过程分为如下两步：1、初始对准的测量 该过程首先在温度改变或小心弯曲光纤时记录出口极化状态，以引起出口极化波动。然后，一个圆圈自动拟合到数据点上，并显示平均值和PER（min）。在所示示例中，庞加莱球面上的圆具有较大的半径。2、通过反馈进行实时调整，并对优化后的对准进行测量在连续测量出射偏振态期间，光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转。当出射偏振态尽可能接近庞加莱球面的圆心时，达到接近对准。颜色编码的对数条形图有助于找到min距离。然后进行第二次测量，揭示光纤优化偏振对准的参数。自由光路测量 偏振分析仪也可以用来在自由光束的应用中设置并定义一个的明确的偏振状态。对于这类测量，激光光轴与偏振分析仪的对准是必不可少的。偏振测量仪与微工作台、使用四连杆连接的40mm笼系统或轨道系统等兼容。1/4波片调整SK0101PA偏振分析仪可用于校准和量化延迟光学器件，例如集成四分之一波片的光纤准直器。对于这些准直器，通过旋转四分之一波片来调整输出偏振。到达极值时设置圆偏振光，右旋圆偏振光位于北极，左旋偏振光位于南极。光纤偏振态测量仪技术参数：光纤偏振态测量仪配置选项：光纤偏振态测量仪交付标准：SK010PA红外线USB连接线用于 FC-APC FC-PC 光纤连接器的适配器后装式适配器 PA-AP-M4操作软件： SKPolarizationAnalyzer for WINDOWS7， WINDOWS 10， WINDOWS Vista/XP （32/64 bit）DLL更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

一、产品介绍： 椭圆标准器组\标准椭圆柱\圆度/圆柱度标准块主要用于检定、校准系列圆度仪仪器的放大倍数。我公司在生产过程中采用了特殊工艺，结构简单合理，形状为正椭圆柱，尺寸测量带稳定，表面光洁度高，只需一次调心找正后即可多次重复测量。 国家质量技术监督局在2000年8月发布的《国家计量检定规程JJG429-2000圆度、圆柱度测量仪》中，将其列为主要检定工具之一。二、产品特点：1、正椭圆柱；2、长短轴之差公称尺寸为：1μm、2μm、4μm、8μm、10μm、20μm；3、热处理HRC60-64，冷处理，时效，尺寸稳定；4、椭圆柱工作面三、结构图：标准椭圆柱别名：椭圆标准器组\标准椭圆柱\圆度/圆柱度标准块

多角度激光椭偏仪 SE 400adv PV 在 HeNe 激光波长为 632.8 nm 时，在纹理单晶和多晶硅片上提供抗反射单膜的膜厚度和折射率。可更换晶圆支架允许在多晶硅片和碱性纹理单晶硅片上进行测量。主要功能与优势粗糙表面分析高灵敏度和超低噪声检测允许在非理想的、引起杂散光的表面上进行测量，这些表面是纹理化单晶硅和多晶硅太阳能电池的典型特征。非凡的准确性由于稳定的激光光源、温度稳定的补偿器设置和超低噪声检测器，SENTECH SE 400adv PV 激光椭偏仪的主要特点是具有非凡的高稳定性和准确性。精密涂层评估SENTECH SE 400adv PV激光椭偏仪可以特别分析SiN涂层x、ITO、TiO2和SiO的薄钝化层2和 Al2O3.可以在光滑的基板上分析双层堆叠。该工具是一款紧凑的仪器，可快速启动和运行。SENTECH易于使用，以配方为导向的软件包括一个全面的预定义应用程序包，可满足生产环境中的研发和质量控制要求。

我公司生产的椭圆齿轮流量计，适用于对管道中的液体流量进行连续的高精度计量。具有结构简单、使用可靠、准确度高、量程范围大、压力损失小、粘度适应性强、能测量高温高粘度液体、标定方便、安装简易、被测介质的粘度范围很宽广等特点。为容积式流量计的代表产品，特别适用于油品燃油的计量。我公司生产的椭圆齿轮流量计，装有现场指针显示、字轮累积计数器等装置。可以直接显示管道内的液体累积流量。广泛应用于石油、化工、医药、交通、船舶、食品等工业及商业部门的液体流量检测。

QXLC系列椭圆齿轮流量计是用来测量液体流量的精密仪表。系直读累积式仪表，是计量流经管道内液体流量总和的容积式流量计。椭圆齿轮流量计可选用机械显示表头和电子显示表头两种计数机构，显示表头具有显示累积流量、瞬时流量及回零功能，可实现现场显示和远传控制。对于不同的测量介质酸、碱、有机液、油品、食品等，流量计可以选用不同的材料铸钢、不锈钢和316制造，适用于化工、石油、医药、电力、冶金和食品等工业部门的流量计量工作。带发讯功能的椭圆齿轮流量计能与本公司的QX -908系列流量积算仪等仪表配套，便于集中检测，输出标准信号，作自动控制和数据处理等用，并可直接与计算机联网。产品特点：1、测量精度较高：0.2级与0.5级；2、机构简单、坚固、运行可靠；3、特别适合于测量粘度较高的介质，而且对被测量液体粘度的变化不敏感；4、安装容易。流量计前后不需直管段，即使流量计靠近阀门、弯管、缩管、扩大管，也无需加装直管段。5、QX LC-a型铸铁椭圆齿轮流量计，广泛用于各种油品及对铸铁不腐蚀液体介质的计量6、QX LC-e型铸钢椭圆齿轮流量计，用于高压、低腐蚀性介质的计量7、QX LC-b型广泛用于有较强腐蚀性液体介质，如酸、碱、盐及有机化合物等的计量8、为了防止流量计的齿轮被杂质卡死，在流量计的上游必须安装过滤器9、防爆等级：ExiaIICT6◆技术数据

保偏光纤跳线产品简介：尖丰光电保偏跳线采用一体化物料加工，工艺先进，所制作的产品消光比稳定，插损小 。特点应用低插入损耗光纤放大器EDFA高消光比和高隔离度光纤光学仪器功率监测高稳定性和可靠性光纤传感器规格参数参数数值连接头类型FC/UPC, SC/UPC,LC/UPC ,FC/APC, SC/APC, LC/APC中心波长(nm)1310,1480, 1550980, 1064,插入损耗 (dB)≤0.3≤0.5回损(dB)UPC Type≥50APC type≥60消光比 (dB)≥23≥23光纤类型PM1310,PM1550PM980连接头轴向慢轴对轴精度(deg)±3工作温度 (℃)-5~+70储存温度 (℃)-40 ~ +80封装尺寸： 订单信息：保偏光纤跳线连接头类型1连接头类型2波长　尾纤类型光纤类型光纤长度　NE=NoneFA=FC/APCFC=FC/UPCSA=SC/APCSC=SC/UPCLC=LC/UPCLA=LC/APCX=OtherNE=NoneFA=FC/APCFC=FC/UPCSA=SC/APCSC=SC/UPCLC=LC/UPCLA=LC/APCX=Other980106413101550250=250um bare fiber900=900um loose tube2000=2mm loose tube3000=3mm loose tubePM850PM980PM1310PM15501=1m2=2mX=Other 上海尖丰光电技术有限公司可以提供各种光无源器件：各种光纤准直器：单模光纤准直器，多模光纤准直器（波长：850nm/980nm/1064nm/1310nm/1550nm）光隔离器：偏振无关光隔离器，（类型：单级和双级，波长：1064nm/1310nm/1550nm）偏振控制：三环偏振控制器，挤压光纤式偏振控制器光起偏器/消偏器：光纤在线起偏器 光纤检偏器（波长：980nm/1064nm/1310nm/1550nm）光环形器：三端口/四端口光环形器（波长：1064nm/1310nm/1550nm/1625nm,C波段,C+L波段）光衰减器：机械可调光衰减器，电可调光衰减器（波长：850nm/980nm/1064nm/1310nm/1550nm）波分复用器：CWDM,DWDM(100G/200G),FWDM,PMWDM（类型：1X1,1X2波长：850/1310,980/1550,980/1064,1310/1550）光耦合器：单模/多模光纤耦合器 （类型：1X2,1X3,2X2,3X3波 长:980nm/1064nm/1310nm/1550nm分光比1:99—50:50（任意分光比）光合束器：偏振合束器/分束器，隔离型偏振合束器/分束器（波长：980nm/1064nm/1310nm/1550nm）保偏光器件：--保偏跳线、保偏尾纤--保偏隔离型WDM、保偏隔离器--隔离型偏振分束器 、隔离型偏振合束器--保偏偏振分束器 、偏振合束器--保偏隔离器、保偏环形器、保偏准直器--保偏波分复用器、保偏FWDM、保偏DWDM（100Ghz、200Ghz）--保偏可调衰减器--保偏法拉第镜 1060nm/1064nm 器件--1064nm 保偏跳线--1064nm 起偏器、消偏器--1064nm 偏振分束器、偏振合束器--1064nm 保偏隔离器、保偏环形器、保偏准直器--1064nm 高功率准直输出隔离器（5w,10w,20w) 高功率光器件--高功率保偏准直器--高功率保偏准直输出隔离器--高功率 偏振无关隔离器--高功率保偏隔离器--高功率自由空间尾纤输出隔离器

定性偏光应力仪_表面偏光应力仪YLY-H智能偏光应力仪可广泛的应用于玻璃容器、塑料容器等内应力的测量。该款仪器提供定性、定量两种试验模式，利用偏振场中的干涉色序原理，可以准确的测量出玻璃内应力数值。是制药企业、玻璃制品厂、实验室作测量光学玻璃、玻璃制品及其它光学材料的应力值测试的专用仪器。产品特点◎ 定性、定量两种试验模式，试验空间可调,适用范围广。◎ 仪器可存储200组数据,每组数据 50个测量值。◎ 采用高精度式角度编码器进行测量，测量精度优于2.0Nm。◎ 触摸屏显示，可同时显示测量角度及光程差数值，用户可直观获得所需数据，使测量直观易读。◎ 暗视场无需校准，采用了式编码器，偏振场的暗视场总是处于零角度点，因此无需用户校。对零点，避免了人为校对暗视场造成的误差。◎ 绿色节能，采用了更加节能环保的LED光源，相对传统光源节能80%以上。◎ 配备微型打印机，方便打印输出试验数据。◎ 配备USB接口，可接PC软件控制仪器运行。◎ 自动保存历史试验记录，本地查询，并可导出至电脑端EXCEL格式保存。◎ 触屏端操作用户三级权限设置，完全满足GMP权限认证。◎ 测试记录审计、追踪功能。◎ 试验结果同步上传至云端服务器保存，在世界各地，有网络就可浏览。◎ 本地数据与云端数据双重备份，确保数据不会丢失。定性偏光应力仪_表面偏光应力仪测试原理YLY-H内智能偏光应力仪应用偏振光干涉原理检查玻璃内应力或晶体双折射效应的仪器。由于仪器备有灵敏色片，并应用1／4波片补偿方法，因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序，定性或半定量的测量玻璃的内应力，还可以准确定量的测量出玻璃内应力数值。 应用领域适用于玻璃输液瓶、玻璃管制（模制）药瓶、管制（模制）注射剂瓶、安瓿瓶、口服液体瓶等偏光内应力测试； 还可以应用于啤酒瓶、白酒瓶等玻璃容器内应力测试。测试标准YLY-H依据标准：JJG196-2006《常用玻璃量具检定规程》、GB/T4545 《玻璃瓶罐内应力检验方法》、GB/T12415 《药用玻璃容器内应力检验方法》 、YBB00032005-2005 《钠钙玻璃输液瓶》、YBB00332002-2015 《低硼硅玻璃安瓿》 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

偏光应力测试仪 YLY-05适用于安瓿瓶、西林瓶、输液瓶等玻璃容器玻璃制品内应力测试，是制药企业、玻璃制品厂、检测机构作测量光学玻璃、玻璃制品及其它光学材料的常备检测仪器。技术特征采用高精度角度编码器进行测量，测量精度优于2nm定性、定量两种试验模式，彩色液晶显示，光程差和角度值同时显示直读偏振场暗视场总是处于零角度点，无需校对零点，避免人为校对暗视场造成误差绿色节能，采用了更加节能环保的LED光源，相对传统光源节能80%以上暗视场无需校准，采用了编码器测试原理用于应用偏振光干涉原理检查玻璃内应力或晶体双折射效应的仪器。由于仪器备有灵敏色片，并应用1／4波片补偿方法，因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序，定性或半定量的测量玻璃的内应力，还可以准确定量的测量出玻璃内应力数值。偏光应力测试仪该仪器符合多项国家GB/T4545 《玻璃瓶罐内应力检验方法》、GB/T4545 《玻璃瓶罐内应力检验方法》、GB/T12415《药用玻璃容器内应力检验方法》YBB00162003-2015《内应力测定法》测试应用基础应用 安瓿瓶 西林瓶 口服液体瓶 制药企业 玻璃瓶生产商 质检院 药检所产品配置 标准配置 主机

徕卡偏光显微镜DM750P的介绍徕卡偏光显微镜DM750P是为了革新地质科研教学以及实现在地质和材料科学课程上有更多动手操作时间而专门开发的。通过很多非常便利的特点与高品质构造，Leica DM750P 成为激发岩相学、结晶学和材料科学学习和有效教育下一代科学家的好工具。徕卡偏光显微镜DM750P的主要特点1、基于徕卡显微镜系统的研究型显微镜系列相同的光学平台,可以享受到卓越的光学性能。2、EZStore™ 系统集成的垂直握柄便于运输,并且可与支架正面的凹槽一起发挥作用,安全的两手搬运显微镜,垂直电源线插入可以防止电源线的保存使用中部分脱离支架.附件与显微镜一起保存,防止遗失。3、AgTreat™ 使显微镜的所有触点上都使用了添加剂进行处理,可以抑制细菌生长,形成更健康的实验室环境。4、178mm大直径载物台使用激光雕刻刻度线,避免了长时间使用后被擦掉的可能。5、选装的反射光照明可用于明场,偏光和勃氏镜功能的反射光照明,适用于较高样本的专利载物台,可以观察厚度17mm的抛光材料。6、明亮的35W卤素照明,2000小时的长时间灯泡可以节省更换的成本和时间。7、Koehler视场光阑带来最佳的照明和相衬。8、使用包括LAS软件等软件,可以轻松地控制摄像头,摄取图像,添加注释,测量和归档。徕卡偏光显微镜DM750P的技术参数1、十字准线的90度和45度定位功能目镜,20mm视野2、4位可对中物镜转盘,2.5X-100X偏振物镜可选择3、机械载物台30mmX40mm4、178mm大直径圆形载物台5、35W卤素灯,灯泡寿命2000小时6、提供三目筒(50%/50%)带标准C接口7、可加装反射光照明模块8、明场,偏光,勃氏镜的各种反射块选择9、各种规格的荧光滤块选择

西林瓶偏光应力仪玻璃酒瓶偏光应力仪YLY-03，采用偏振光干涉法，能够准确检测玻璃酒瓶的应力值。这款仪器符合新版药包材要求，适用于各容量玻璃酒瓶内应力值偏光测定，广泛应用于制药企业、玻璃制品厂、质检机构。 下面，将简单介绍玻璃酒瓶偏光应力仪的使用原理，包括定性测量原理和定量测量原理。 （1）定性测量原理：玻璃酒瓶偏光应力仪采用偏振光干涉法，通过观察偏振场中的干涉色序，可以定性或半定量的测量玻璃酒瓶的内应力数值。 （2）定量测量原理：由光源发出的钠光通过起偏振镜后成为直线偏振光，再由直线偏振光通过有双折射光程差的被测试样和1/4波片后，其振动方向将旋转一定角度。角度Q的数值与被测试样的双折射光程差δ成正比，其关系式为：λ取钠光为589.3，δ为589.3Q/180=3.27Q。当Q=1°时，δ=3.27纳米（每度相当于3.27纳米）。 通过以上原理，我们可以精确地测量出玻璃酒瓶内的应力值，以便后续的再次加热灼烧以分散集中的应力。这款仪器不仅满足新版药包材要求，还可广泛应用于各个领域，为质检机构、玻璃制品厂和制药企业提供强有力的技术支持。 技术参数 仪器示值 0.1nm 测量误差 2nm 偏振场直径 150mm 检偏振片旋转角度 360° 光场边沿亮度 ＞120cd/m² 外形尺寸 220mm×370mm×480mm(长宽高) 重 量 5Kg工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 西林瓶偏光应力仪 此为广告

数显式偏光应力简介：数显式偏光应力仪厂家采用高精度角度编码器测量角度， 测量数据直接显示在显示屏上，具有测量精度高、直观易读、无需校准、绿色节能等优点，是替代传统度盘式应力仪的最佳选择。数显式偏光应力仪测试原理玻璃制品应力检查仪是应用偏振光干涉原理检查玻璃内应力或晶体双折射效应的仪器。由于仪器备有灵敏色片，并应用1/4波片补偿方法，因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序定性或半定量的测量玻璃的内应力，还可以准确的测量出玻璃的内应力数值。 数显式偏光应力仪 产品特征偏光应力仪针对传统度盘式应力仪及数显应力仪进行了针对性改进，提高了测量精度和应用体验，具有测量精度高、无需校零及绿色节能等先进特点：高精度测量： 本产品采用高精度绝对式角度编码器进行测量， 测量精度优于2nm。LED 显示屏 双数值 显示：本产品显示窗采用高清晰 LED 显示屏，可同时显示测量角度及光程差数值， 用户可直观获得所需数据， 使测量直观易读。暗视场无需校准：本产品在出厂前对暗视场进行了精确校对。由于采用了绝对式编码器，偏振场的暗视场总是处于零角度点， 因此无需用户校对零点，避免了人为校对暗视场造成的误差。绿色节能： 本产品采用了更加节能环保的 LED 光源， 相对传统光源节能80%以上。产品模块化设计,符合人体工程学操作，便于维护和维修。 数显式偏光应力仪 技术参数测量精度：≤2nm复零误差：≤2nm光程差示值：0.1nm角度示值：0.1゜偏振场直径：150mm视场光亮度：＞800lux检偏镜旋转角度：360°（±180°）偏振场间距调整范围：150-330mm光源：LED 色温 3500K功率：＜8W电压：AV 220V 50Hz体积：270 L * 290 D * 530 H(mm)重量：＜8kg数显式偏光应力仪执行标准GB/T 4545 《玻璃瓶罐内应力检验方法》GB/T 12415 《药用玻璃容器内应力检验方法》GB/T 15726 《玻璃仪器内应力检验方法》JC/T 655 《石英玻璃制品内应力检验方法》YBB00162003 《国家药品包装容器（材料）方法标准 内应力测定法》ASTM C148 (Standard Test Methods for Polariscopic Examination of Glass Containers)（玻璃容器偏振镜检查的试验方法）

Leica DM750 P准确灵活的教学Leica DM750 P显微镜是大学和其他教学机构理想的 选择。带有一个标准和先进的伯氏镜模块、可实现操作简便性。Leica DM750 P配备多种配件和保卡著名的光 学元件，不仅因其紧凑、耐用的设计，而且还具有高效率和易操作性因而与众不同。优良的光学设计和的照明寿命LED照明器提供白色冷光，平均可以使用超过20年。实验时不再需要更换灯泡，而且可以节约更换灯泡的费用。 Koehler视场光阑带来合适的亮度和反差。延时关闭功 能可以在2小时不用后自动关闭光源，节约能源。基于俅 卡显微系统研究用显微镜系列的光学平台，学生可以享受优秀的光学性能，并使用保卡显微镜产品系列的绝大部分配件。优势一目了然！可配置锥光模块LED光源带来的恒定色温技术178 mm直径旋转载物台,旋转角度360°坚固、小型化设计使得设备便于储存、 搬运 保护显微镜部件免收损坏带有位置指示的起偏镜可调中的4孔物镜转盘简单易用的控制功能人体工程学设计高精度旋转载物台,使得测里结果精确为高等教育及培训专门研发的专业偏光显微镜:Leica DM750 PLeica DM750 P 教学级偏光显微镜教学之王：Leica DM750 P在教学中，您需要一种可供学生们日常使用的耐用工具。使用简单，即插即用 — 这是成功教学的先决条件。使用 4 个物镜细致入微地了解您的样品采用 20-mm 视场，样品概览，一目了然享受仪器带来的实用细节：使用手柄就可以搬动，电缆线可隐藏在仪器中您的选择：Leica DM750 P实用、灵活、坚固耐用，令教学充满乐趣！集成手柄和电源线收集盒，轻松储存内置 2 个补偿器和物镜调中工具的储存位置，轻松存取178-mm 大旋转台，轻松查看台标记激光镌刻台标记，经久耐用4 个独立的可调中物镜位置，用于在中心旋转样品 教学偏光显微镜，适用于岩片、玻璃、陶瓷、塑料和高分子材料等偏光特性样品观察与分析 整体光路支持20mm视域 360度旋转专业偏光载物台 可进行正交偏光和锥光观察 4孔位物镜转盘，每个物镜可单独对中 LED光源照明，可实现透射、反射观察配置 独特的目镜筒360度旋转功能，为多人共览带来方便 支持多种偏光专用检偏器和丰富的偏光零部件 可配接荧光部件，实现荧光观察分析 可配接徕卡独有的一体化ICC50图像采集模块，内置数码相机可提供高品质的实时图像并采集存储，整体美观和谐，也可配接外置的数码相机采集图像植物硅酸体（plant opal） 简称植硅体，是指高等植物的根系在吸收地下水的同时，吸收了一定量的可溶性二氧化硅，这些二氧化硅经过植物的输导组织输送到了茎、叶、花、果实等处，而后在植物细胞间和细胞内沉淀下来，形成非晶质二氧化硅颗粒。植硅体体积非常小，约为2～2000微米（绝大部分为5～200微米），但数目众多而且分布广泛，1克的禾本科植物叶子中就有10万～100万个植硅体。植物的各个部位都可以产生植硅体，其中叶片中产生的数量zui大。植硅体专用显微镜正置显微镜，植硅体专用显微镜，含偏光功能徕卡DM750是理想的显微镜，适用于学院和大学高级生命科学课程和医学、兽医及牙科学校专业训练的各种需求。DM750 有学生喜爱的各种功能：如 EZStore&trade ，方便搬运、便于提升，而圆边 EZGuide允许单手滑动装载，减少滑动破片，提供安全的课堂环境。也有教师喜爱的功能：如 EZLite&trade ，提供20年以上的LED照明和延时自动关闭功能，节约时间和能源。便于共览观察 ● 各种镜筒在安全地固定在显微镜主机上的同时，可以自由旋转● 带目镜锁定螺钉的标准镜筒可以防止目镜脱落● 显微镜的所有触点上都使用了添加剂进行处理，可以抑制细菌生长● 利用显微镜表面的特殊处理有助于防止疾病传播，从而形成更健康的实验室环境超稳聚焦，对比和照明● 特殊材料的载物台加工可以更好的防止摩擦损坏● 重平衡聚焦手柄提供了惯性，可以非常精确地定位聚焦● 可以选择具有最jia照明和对比度的Koehler视场光阑● 专利的延时关闭功能可以在2小时不用后自动关闭照明，节约资源多功能 ● 提供超过20年的LED照明，节约时间和灯泡更换费用● 标准聚光镜，放大倍率4x - 100x● 明场和相衬的相衬转换聚光镜● 用于低放大倍率的摇摆式聚光镜● DM750 配备4位或5位物镜转换器EZStore&trade 设计EZStore&trade 具有手柄和绳裹，便于显微镜搬运，并保护显微镜部件免受损坏● 一体化的电源线收集盒避免了电源线包装不当对显微镜组件造成损坏● 垂直电源线插入可以防止电源线在保存或使用时部分脱离主机，并且使实验台干净整洁

详细说明： 偏光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校最常用的专业实验仪器之一，近年来，随着光学技术的不断进步，作为光学仪器的偏光显微镜，其应用也越来越广泛。 偏光显微镜就是非常适用的产品，可供广大用户做单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，配置有石膏λ、云母1/4试片、石英楔子和移动尺等附件，是一组具有较完备功能和良好品质 的新型产品。部 件规 格BM-500P观察头铰链式双目头铰链式三通头●○目镜平场目镜PL10X-18mm平场目镜PL10X-20mm平场目镜PL10X-18mm带十字分划平场目镜PL10X-20mm带十字分划●○●○转换器内定位四孔转换器●物镜无限远无应力平场物镜∞4X/0.1、10X/0.25、40X/0.65（带弹簧）、60X/0.8（带弹簧）无限远无应力平场物镜∞20X/0.4●○检偏装置可360o可旋转检偏器组(模块式，可锁定)●勃氏镜内置中心可调的勃氏镜●光程补偿器λ试板（一级红），1/4λ试板，石英楔子试板（Ⅰ-Ⅳ级）●圆型旋转载物台直径ф156mm，刻度格值1°，游标格值6′，中心可调●聚光镜N.A.1.25阿贝式聚光镜（无应力）带可变光栏和滤色片架子●起偏装置可旋转、带刻度●照明系统卤素灯6V/20W, AC85－230V。灯光可调●附件2.5mm内六角扳手兰色滤色片●●可选附件偏光移动尺○

定量偏光应力仪YLY-H智能偏光应力仪可广泛的应用于玻璃容器、塑料容器等内应力的测量。该款仪器提供定性、定量两种试验模式，利用偏振场中的干涉色序原理，可以准确的测量出玻璃内应力数值。是制药企业、玻璃制品厂、实验室作测量光学玻璃、玻璃制品及其它光学材料的应力值测试的专用仪器。产品特点◎ 定性、定量两种试验模式，试验空间可调,适用范围广。◎ 仪器可存储200组数据,每组数据 50个测量值。◎ 采用高精度式角度编码器进行测量，测量精度优于2.0Nm。◎ 触摸屏显示，可同时显示测量角度及光程差数值，用户可直观获得所需数据，使测量直观易读。◎ 暗视场无需校准，采用了式编码器，偏振场的暗视场总是处于零角度点，因此无需用户校。对零点，避免了人为校对暗视场造成的误差。◎ 绿色节能，采用了更加节能环保的LED光源，相对传统光源节能80%以上。◎ 配备微型打印机，方便打印输出试验数据。◎ 配备USB接口，可接PC软件控制仪器运行。◎ 自动保存历史试验记录，本地查询，并可导出至电脑端EXCEL格式保存。◎ 触屏端操作用户三级权限设置，完全满足GMP权限认证。◎ 测试记录审计、追踪功能。◎ 试验结果同步上传至云端服务器保存，在世界各地，有网络就可浏览。◎ 本地数据与云端数据双重备份，确保数据不会丢失。 测试原理YLY-H内智能偏光应力仪应用偏振光干涉原理检查玻璃内应力或晶体双折射效应的仪器。由于仪器备有灵敏色片，并应用1／4波片补偿方法，因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序，定性或半定量的测量玻璃的内应力，还可以准确定量的测量出玻璃内应力数值。 应用领域适用于玻璃输液瓶、玻璃管制（模制）药瓶、管制（模制）注射剂瓶、安瓿瓶、口服液体瓶等偏光内应力测试； 还可以应用于啤酒瓶、白酒瓶等玻璃容器内应力测试。定量偏光应力仪测试标准YLY-H依据标准：JJG196-2006《常用玻璃量具检定规程》、GB/T4545 《玻璃瓶罐内应力检验方法》、GB/T12415 《药用玻璃容器内应力检验方法》 、YBB00032005-2005 《钠钙玻璃输液瓶》、YBB00332002-2015 《低硼硅玻璃安瓿》 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

智能偏光应力仪YLY-H智能偏光应力仪可广泛的应用于玻璃容器、塑料容器等内应力的测量。该款仪器提供定性、定量两种试验模式，利用偏振场中的干涉色序原理，可以准确的测量出玻璃内应力数值。是制药企业、玻璃制品厂、实验室作测量光学玻璃、玻璃制品及其它光学材料的应力值测试的专用仪器。产品特点◎ 定性、定量两种试验模式，试验空间可调,适用范围广。◎ 仪器可存储200组数据,每组数据 50个测量值。◎ 采用高精度式角度编码器进行测量，测量精度优于2.0Nm。◎ 触摸屏显示，可同时显示测量角度及光程差数值，用户可直观获得所需数据，使测量直观易读。◎ 暗视场无需校准，采用了式编码器，偏振场的暗视场总是处于零角度点，因此无需用户校。对零点，避免了人为校对暗视场造成的误差。◎ 绿色节能，采用了更加节能环保的LED光源，相对传统光源节能80%以上。◎ 配备微型打印机，方便打印输出试验数据。◎ 配备USB接口，可接PC软件控制仪器运行。◎ 自动保存历史试验记录，本地查询，并可导出至电脑端EXCEL格式保存。◎ 触屏端操作用户三级权限设置，完全满足GMP权限认证。◎ 测试记录审计、追踪功能。◎ 试验结果同步上传至云端服务器保存，在世界各地，有网络就可浏览。◎ 本地数据与云端数据双重备份，确保数据不会丢失。 测试原理YLY-H内智能偏光应力仪应用偏振光干涉原理检查玻璃内应力或晶体双折射效应的仪器。由于仪器备有灵敏色片，并应用1／4波片补偿方法，因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序，定性或半定量的测量玻璃的内应力，还可以准确定量的测量出玻璃内应力数值。智能偏光应力仪应用领域适用于玻璃输液瓶、玻璃管制（模制）药瓶、管制（模制）注射剂瓶、安瓿瓶、口服液体瓶等偏光内应力测试； 还可以应用于啤酒瓶、白酒瓶等玻璃容器内应力测试。测试标准YLY-H依据标准：JJG196-2006《常用玻璃量具检定规程》、GB/T4545 《玻璃瓶罐内应力检验方法》、GB/T12415 《药用玻璃容器内应力检验方法》 、YBB00032005-2005 《钠钙玻璃输液瓶》、YBB00332002-2015 《低硼硅玻璃安瓿》 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。