外平整量仪

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外平整量仪相关的厂商

  • 以色列Ofil紫外成像仪是光学和数字紫外线检测和成像技术的世JIE领XIAN制造商。成立于1993年,总部在以色利。Ofil紫外成像仪开发和销售创新解决方案,这些解决方案正在全球范围内用于监测电气装置和环境危害。我们的数字检测系统对于电气故障的诊断、预防和预测是不可或缺的。我们的紫外线偏振系统有助于绘制海上溢油扩散图并控制其清洁效果。Ofil紫外成像仪利用其紫外线光学专有技术,不断开发紫外线增强成像解决方案,以应对全球电网不断变化的需求。多年来,Ofil以其创新、高质量和快速响应的方法赢得了全球的认可。DayCor?系列产品提供以下解决方案:电力设施的维修操作电动列车的预测性维修操作以色列Ofil紫外成像仪介绍石油化工电网部件制造商高压实验室和研究所用于国土安全的紫外线信号检测环境组织的漏油监测
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  • 山西新晟科学仪器有限公司是一家专业从事实验室智能仪器生产销售的公司。注册地位于革命英雄老区,红色沃土的山西省吕梁市。公司自主研发生产的ZHXS-01型全自动智慧称量仪可针对粉末样品及XRF熔片法专用进行高精度自动称量。ZHXS-01型全自动智慧称量仪在个实验室应用中大大降低了人员工作强度,大幅提高了工作效率。独创的高精度自动称量技术在用户处反复使用与验证,得到一致认可与好评。称量精度与速度均达到国内外一流领先水平。公司有一支强大的科研技术队伍和先进的生产设备,保证了产品始终走在同行的前列!公司以科技创新,用户至上为宗旨,时刻关注市场发展趋势和用户需求,不断创新、提升产品品质,以更优质的产品和服务回报用户!
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  • 三丰精密量仪(上海)有限公司(简称“上海三丰”)是日本排名前列的精密测量仪器生产商MITUTOYO在上海的销售子公司。日本MITUTOYO拥有80多年的历史,从小型测量工具到大型测量仪器,共5500多种产品,是世界上为数不多的全方位生产精密测量仪器的企业。在全世界共47家子公司: 日本9家, 美洲11家, 欧洲15家, 亚洲12家。上海三丰于2001年注册在上海外高桥保税区企业,总部设于上海,在全国有12家分公司及事务所,负责MITUTOYO产品在中国华东、华北及中部地区的销售。华南地区由合资公司负责销售。销售产品有:三座标测量仪、画像测量仪、测量投影仪、工具及测量显微镜、硬度计、卡尺、千分尺等。
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外平整量仪相关的仪器

  • 概述烟用纸张平整度测量仪 SN-PZD300是一种用于检测 卷烟条盒包装纸平整度, 反映条盒纸上机适应性的 设备。 烟用纸张平整度测量仪给出与纸张平 整度相关的多个测量指标。测量速度快,可对纸张的平整度进行整体评 估。为企业检测烟用纸张的平整及翘边的程度,进而评估卷烟条盒包装时纸张的上机适应性提供有效的测试工具。技术参数 测量范围:500×500×300毫米 分辨率:0.01毫米 精度:0.1毫米
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  • 一、大规格陶瓷砖平整度测量仪简介:大规格陶瓷板表面平整度测量仪适用于大规格陶瓷板中心弯曲度、边弯曲度的自动测量。根据国家标准GB/T39156-2020 6.4 大规格陶瓷板技术要求及试验方法设计制造。计算机控制,配置高精度激光位移传感器。可以自动测量,自动保存并能打印结果报告。二、大规格陶瓷砖平整度测量仪技术参数:1、测量试样尺寸范围:600×600(mm)~1800×1200(mm)2、位移精度:±0.1mm3、基准平台规格: 2000×1400×800(mm)带水平尺4、基准平台精度:1 级5、轴滑台精度:1 级6、测量速度: 1~100mm/s; 7、移动方向:XY 轴移动控制8、驱动方式:步进电机9、仪器尺寸:2500mmx1400mmx880mm10、电源电压:220V 50Hz
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  • 一、大规格陶瓷板表面平整度测量仪简介:大规格陶瓷板表面平整度测量仪适用于大规格陶瓷板中心弯曲度、边弯曲度的自动测量。根据国家标准GB/T39156-2020 6.4 大规格陶瓷板技术要求及试验方法设计制造。计算机控制,配置高精度激光位移传感器。可以自动测量,自动保存并能打印结果报告。二、大规格陶瓷板表面平整度测量仪技术参数:1、测量试样尺寸范围:600×600(mm)~1800×1200(mm)2、位移精度:±0.1mm3、基准平台规格: 2000×1400×800(mm)带水平尺4、基准平台精度:1 级5、轴滑台精度:1 级6、测量速度: 1~100mm/s; 7、移动方向:XY 轴移动控制8、驱动方式:步进电机9、仪器尺寸:2500mmx1400mmx880mm10、电源电压:220V 50Hz
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外平整量仪相关的资讯

  • 钢化玻璃表面平整度测试仪研制
    table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" width="600"tbodytrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "成果名称/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "钢化玻璃表面平整度测试仪/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "单位名称/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "中国建材检验认证集团股份有限公司/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "联系人/p/tdtd width="177"p style="line-height: 1.75em "艾福强/p/tdtd width="161"p style="line-height: 1.75em "联系邮箱/p/tdtd width="187"p style="line-height: 1.75em "afq@ctc.ac.cn/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "成果成熟度/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "□正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √可以量产/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "合作方式/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "□技术转让□技术入股□合作开发 √其他/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong成果简介: /strongbr//pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/5680075d-08c7-437e-89ed-292a629e2e36.jpg" title="平整度仪.jpg"//pp style="line-height: 1.75em " 钢化玻璃表面平整度测试仪采用精度为2um的位移传感器可以精确的测量出钢化玻璃表面平整度,仪器表面安装有一液晶显示器与位移传感器通过内部电路相连接,可以实时显示所测得的各个位置的位移差,仪器内部还设有报警提出功能,用户可以根据自身需要设置不同的上下限报警,当仪器测得的数值超过用户所设置的上下限时,仪器内部的蜂鸣器会发出报警声,如果用户有对产品的上下限要求,则可以通过设置上下限报警来代替人为实时观测。仪器设置有零点标定功能,当需要将仪器更换位置或者更换待测物时,可以根据需要选择零点位置,同时也避免了仪器本身的误差。该仪器携带方便,测试结果准确、直观,操作简单方便,非常适合现场检测和快速检测。 br/ 性能指标: br/ 测定单位: 微米 br/ 测量范围:0-3mmbr/ A/D 变换: 16bit 逐次变换方式 br/ 测试精度: ± 0.2%F.S.以下 br/ 再现精度: ± 0.1%F.S.以下 br/ 连续使用时间: 约5小时(使用温度25 ℃) br/ 显示屏 : 16位数字液晶显示屏(模块化LCD) br/ 使用温度: 0~+40 ℃ br/ 计测方式: 最大值.瞬间值 br/ 电源: 4.8V充电电池 br/ 采样频率: 50次/秒 br/ 机体重量:约1Kg/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong应用前景: /strongbr/ 该检测仪特别适用于工厂、建筑工程质量检测站、产品质量检测站、科研院校等钢化玻璃的生产检测、和开发研究等领域。该仪器不仅适用于钢化玻璃表面平整度的检测,还可以用来检测任何可以适用的平整度检测或者位移差检测。/p/td/tr/tbody/tablepbr//p
  • 仪器新应用,科学家首次实现4英寸、超平整单晶六方氮化硼的外延生长!
    【研究背景】六方氮化硼(hBN)作为一种具有原子级平整性和无悬挂键的二维材料,因其优异的介电性能和化学稳定性,成为了下一代大规模集成电子设备中介电材料集成的研究热点。然而,尽管大量研究致力于生长单晶hBN薄膜,晶圆级超平整hBN仍然未能实现,主要挑战在于其表面褶皱和底层金属台阶堆积的问题,这会显著影响hBN的性能及其在高质量2D材料集成中的应用。为解决这一问题,北京大学彭海琳教授和深圳理工大学丁峰教授等人提出了一种新颖的外延生长方法,通过在Cu0.8Ni0.2(111)/蓝宝石晶圆上生长hBN。该方法利用hBN与Cu0.8Ni0.2(111)之间的强耦合,成功地抑制了褶皱和台阶堆积的形成,实现了晶圆级的超平整单晶hBN薄膜。相关成果在“Nature Materials”期刊上发表了题为“Ultraflat single-crystal hexagonal boron nitride for wafer-scale integration of a 2D-compatible high-κ metal gate”的最新论文。基于这一超平整hBN作为保护层,研究者们进一步将超薄高κ介电材料集成到二维材料上,形成了无损伤的界面。所得到的hBN/HfO2复合介电体展示了超低的漏电流(2.36×10&minus 6 A cm&minus 2)和0.52 nm的超薄等效氧化层厚度,满足了国际器件与系统路线图的目标。这一研究不仅解决了超平整hBN的生长难题,还为未来2D电子设备的集成提供了有效的策略。 【科学亮点】1. 实验首次在Cu0.8Ni0.2(111)/蓝宝石晶圆上成功外延生长了4英寸超平整单晶hBN薄膜。 通过利用hBN与Cu0.8Ni0.2(111)之间的强耦合,显著抑制了褶皱的形成,并确保了平行对齐的hBN领域的无缝拼接,从而在晶圆级别上实现了超平整的单晶hBN薄膜。这一方法突破了晶圆级超平整hBN的生长难题。2. 实验通过在超平整hBN上集成超薄高κ介电材料(如HfO2),实现了高质量的2D材料保护层。 所得到的hBN/HfO2复合介电体展示了超低漏电流(2.36×10&minus 6 A cm&minus 2)和0.52 nm的超薄等效氧化层厚度,符合国际器件与系统路线图的目标。此结果表明,通过这种集成方法,可以在2D电子器件中实现高性能的介电保护层。【科学图文】图1: Cu0.8Ni0.2(111)晶圆上,超平六方氮化硼Hexagonal boron nitride,hBN单晶设计。图2. 超平六方氮化硼hBN薄膜的表征。图3. 在Cu0.8Ni0.2(111)衬底上,褶皱抑制机制。图4. 在二维2D材料上,高介电常数/金属栅极high-κ/metal gate,HKMG集成。【科学结论】本文的研究揭示了超平整单晶hBN在二维材料集成中的重要性及其潜力。通过在Cu0.8Ni0.2(111)/蓝宝石晶圆上外延生长4英寸超平整单晶hBN,展示了强耦合效应在抑制褶皱和确保平行对齐领域无缝拼接中的关键作用。这种超平整的hBN薄膜不仅为高质量二维材料的合成提供了新的平台,还为未来高性能电子器件的制造奠定了基础。通过将超平整的hBN作为保护层,成功集成了晶圆级超薄高κ介电材料,形成了无损伤的界面,达到了超低漏电流(2.36×10&minus 6 A cm&minus 2)和超薄等效氧化层厚度(0.52 nm)的优异性能。这一成果不仅满足了国际器件与系统路线图的要求,还推动了二维材料的研究进展。未来的研究可以在此基础上进一步探索超平整二维材料的合成方法,以及其在先进电子器件中的应用潜力,从而促进新一代电子技术的发展。参考文献:Wang, Y., Zhao, C., Gao, X. et al. Ultraflat single-crystal hexagonal boron nitride for wafer-scale integration of a 2D-compatible high-κ metal gate. Nat. Mater. (2024). https://doi.org/10.1038/s41563-024-01968-z
  • 科众仪器-接触角测量仪测试方法实例
    实验内容:主要测定水、乙二醇的接触角。 实验目的:通过测定水在石墨、绢云母、石英的接触角,以表征石墨、绢云母、石英的疏水亲水性;通过测定水、乙二醇、二碘甲烷在石墨、石英、绢云母、柴油上的接触角,可以用来石墨、石英、绢云母的表面能的计算和隐石墨浮选体系中矿物与水、捕收剂与水、矿物与气泡、矿物与捕收剂之间等一系列界面相互作用自由能的计算,进而对各界面之间的范德华力、疏水引力、水化斥力等界面热力学行为进行研究。 样品加工:采用压片机对样品进行压片,制各样品。压片时样品质量为10g,压片压力为2.45×104kPa,压片直径为20mm,压片表面平整光滑。采用“浸渍法”制备捕收剂表面膜,剪取尺寸为20mmx20mm的空白铜板纸,浸入捕收剂纯液中,浸渍时间1min,置于硅胶干燥器内干燥24h,备用。采用GBX润湿角测量仪测量液体在崮体表面上的接触角。测量时,按照测量接触角的步骤、小心地滴加在固体表面,形成液滴,取10次读数的接触角平均值作为该座滴的接触角。所有测量均在室温(25℃)进行。 实验方法测量接触角步骤( 自动滴管, 自动平台)1. 打开计算机 2. 打开接触角仪器的开关 3. 在计算机“桌面” 上, 点选GBX digidrop 的快捷方式, 打开接触角的测量与分析软件 4. 选择新的测试选单 5. 选择 “Surface Energy Menu” 6. 将滴管针头申到镜头所能看到的范围之内 7. 利用仪器上左下角的旋钮, 将镜头聚焦在滴管之上(通常是滴管最清析, 最大的位置) 8. 在操作软件上的右上角, 点选MVT, 叫出操作选单 9. 选择液滴的大小(VOL) 10. 选择连续摄影模式 11. 将开始拍照录像的时间改成0ms 12. 请点选使用自动成滴系统 13. 请点选“single”, 开始一次的测试 14. 等待仪器自动滴水, 桌面自动升降, 自动在桌面上形成液滴15. 选择左方的分析功能, 得到你的接触角角度(一共有七种方法, 根据需要选择)16. 得到你所需要的接触角值 分析表面/界面自由能步骤( 在进行本实验之前¸ Zisman 至少必需准备两种以上的液体, 其它公式必需准备三种以上的液体, 需要极性还是非极性的液体, 请参考 ) 1. 打开计算机 2. 打开接触角仪器的开关 3. 在计算机“ 桌面” 上, 点选GBX digidrop 的快捷方式, 打开接触角的测量与分析软件 4. 选择新的测试选单5. 选择 “Surface Energy Menu” 6. 将滴管针头申到镜头所能看到的范围之内 7. 利用仪器上左下角的旋钮, 将镜头聚焦在滴管之上(通常是滴管最清析, 最大的位置)8. 利用方法1 到方法3( 使用那一种方法得看你是用那一种滴管), 使用不同的液体, 重复2~3 次9. 在 “Equation of States” 选单中, 选择你所要用的方程式10. 屏幕上就会显示出计算之后的结果 分析表面/界面张力步骤1. 打开计算机 2. 打开接触角仪器的开关 3. 在计算机“ 桌面” 上, 点选GBX digidrop 的快捷方式, 打开接触角的测量与分析软件 4. 选择新的测试选单5. 选择 “Surface tension Menu” 6. 将滴管针头申到镜头所能看到的范围之内 7. 利用仪器上左下角的旋钮, 将镜头聚焦在滴管之上(通常是滴管最清析, 最大的位置)8. 将液滴尽可能的转大, 但是并没有掉下来, 并把框拉大到能包含整个液滴9. 按下开始录像功能10. 开始加大液滴, 自动滴管的方式为将一边选为 Forma( “Forma”代表不断加水, “Draw back”代表吸水),然后按下“ON”液滴就会不断流出,手动滴管则请自行用手转动.11. 一直持续上述动作, 直到液滴离开滴管, 再将录像关闭12. 使用看录像结果的功能, 以1 张, 10 张, 100 张的速度搜寻影片13. 直到找到液滴离开滴管的前一张14. 在Liquid 输入液体名称, Density 输入液体密度, Calibrate 输入滴管直径, 按下 “TENSION”, 就可以得到液体的表面张力了

外平整量仪相关的方案

外平整量仪相关的资料

外平整量仪相关的试剂

外平整量仪相关的论坛

  • 【分享】激光平整仪的特征及应用

    激光平整度仪又可称为路面平整度仪、平整度测量仪,是集自动计算、显示、打印全方位多功能于一体的公路平整度检测仪器。激光平整仪采用进口高精度激光传感器、加速度传感器和距离传感器,特别适用于高等级公路、机场跑道的竣工验收。 激光平整仪采用高精度激光传感器、加速度传感器和距离传感器;能够快速实时的检测高速及各等级公路路面的平整度、构造深度等技术特性,为交竣工验收、预防性养护以及路面管理系统提供综合高效的数据支持。激光平整仪具有连续测量、自动运算、显示并打印路面平整度标准差的功能,在测试过程不受仪器装载车动态性能的影响,可以在较大车速范围内变换测试车速而不影响测试结果。 激光平整仪可通过激光技术和画像处理技术,采用非接触式测绘方式应用于弯曲、倾斜、旋转、排水等的特殊路面;激光平整仪广泛应用于用于公路、城市道路、广场、机场跑道等路面的施工检查竣工验收和道路的氧护,同时也可以为教学、设计及科研单位提供可靠的路面分析资料。

  • 【分享】影像测量仪的安装常识浅谈

    影像测量仪用于各种不同的精密产业中,是有些行业中不可缺少的计量检测设备之一。  影像测量仪的简单开箱与安装,如下:  1.在拆除影像测量仪外层包装以及内层包装的时候,需要取出使用说明书,仔细阅读与查看。  2.把影像测量仪搬到一个平整以及可以定位的台面上,装上底脚螺丝,用水平仪器调平。  3.取下X、Y轴固定板、Z轴滑动块固定螺丝(在摄像机罩内滑动块上),X、Y、Z轴便能传动。  4.本机使用电源可从AC110V-220V,50-60HZ,连接显示器,接通仪器电源,影像测量仪便安装完成。

  • 一键式非接触光谱共焦测量仪

    一键式非接触光谱共焦测量仪

    如今三C行业,或者是精密仪器行业,都要求极高精度,我们人为是无法测量0.01以上的精度的,这个时候,问题就来了,我们要如何确保精度质量呢?针对这些需求,市面上推出了很多的测量仪器,有2次元,三次元这这些测量仪已经可以满足很多企业的需求了,但是有些企业的产品,他不仅仅是需要平面尺寸,他甚至还需要测量平整度。这次候就应运而生了一种五次远,这些仪器之间都有些什么区别呢?我们该如何选择适合自己的测量仪器呢?现在就将他们的区别来理一下,也给大家参考一下:现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。想要了解更多,可联系:15012834563,小周[img=,690,920]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712291417_2603_3353984_3.jpg!w690x920.jpg[/img]

外平整量仪相关的耗材

  • 薄膜溶解测量仪配件
    薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化,是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品,使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部,距离玻璃窗口非常接近,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据。另外,根据需要,我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer,提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具,以固定小尺寸的硅样品或3' ' ,4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同,如溶解速度的不同,它能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程,而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量,薄膜溶解测厚仪需要光滑,具有反射性的衬底,对于光学常数测量,平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的,衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量,已经成功应用于测量反射衬底(Si晶圆)上各种光滑,透明或轻度吸收薄膜的溶解过程,可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜,聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5% 分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:15kg 电力要求:110/230VAC薄膜溶解测量仪应用:聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。
  • 3200I 离子测量仪附件 G4396A
    3200I 离子测量仪 选择匹配的离子电极和参比电极,离子测量仪就可以测量相应的电极电位(mv)、pX 和离子浓度。 性能指标:性能指标3200I测量范围pH-2.000-20.000 pHpX0.000-14.000 pXmV-1999.9-1999.9 mV离子浓度范围0-19990浓度单位mol/L、mmol/L、g/L、mg/L、μg/L(中文版)mol/L、mg/L、%、mg/L、μg/L(英文版)温度-5.0-110.0 °C分辨率pX0.1/0.01/0.001 pH/pXmV0.1 mV离子浓度范围四位有效数字(采用科学记数法)温度0.1 °C准确度pX±0.002 pH/pX:pXII:±0.005 pXmV±0.03% FS离子浓度范围±0.3%温度±0.1 °C电源通用交流电源适配器 100 V-240 V,50/60 Hz**外型尺寸(长×宽×高)[mm]190 × 190 × 105重量(kg)1*EC Print 软件用于进行简单和直接打印**随测量仪提供订货信息:说明推荐应用部件号Agilent 3200I 台式离子测量仪基本套装包括:pH值测定和离子分析应用于诸多领域,如科学研究、过程分析、生物化学和制药行业等(不同的离子、不同的电极)G4396AAgilent 3200I 台式离子测量仪—G4386AAgilent 3200EA 电极支架—G4389AT7111 温度电极—5190-3998pH 缓冲液,4.01、7.00、10.01,NIST 可追溯,250 mL,3/包—5190-0533*pH 缓冲液,4.00、6.86、9.18,GB 可追溯,250 mL,3/包—5190-0534**P3211 pH 复合电极,包括 30 mL 参比溶液—5190-3988Agilent 3200I 台式氟离子测量仪套装包括:可用于测量高氟水、地表水、饮用水和工业废水等样品G4397AAgilent 3200I 台式离子测量仪—G4386AAgilent 3200EA 电极支架—G4389AT7111 温度电极—5190-3998I9111 氟离子复合电极,包括 30 mL 参比溶液—5190-4002*默认配置,除另有规定外**仅针对中国用户
  • 3200P pH 测量仪 附件 G4391A
    3200P pH 测量仪主要技术特点: 最新点阵式大屏幕背光液晶屏,中文显示;数字全键盘,操作易如反掌;电极反应速度更快,性能更稳定;测量仪主机三年内质量问题可换货。详细技术特点:支持测量pH值、电位值、温度值;支持自动识别校准液,支持NIST、DIN、GB等标准;支持多点标定功能,最多可以标定5点;采用点阵式液晶,显示清晰,外形美观,具有良好的人机界面,操作方便;支持GLP规范: 仪器要求设置操作者编号并记录; 记录并允许查阅、打印标定数据; 支持贮存符合GLP规范的测量数据200套。允许查阅、打印、删除贮存的测量数据;支持三种测量模式:连续测量模式、定时测量模式和平衡测量模式,可以满足用户不同测量需要;具有USB接口,配合专用的通信软件,可以实现与PC连接;具有断电保护功能,仪器使用完毕关机后或非正常断电情况下,仪器内部贮存的测量数据、标定数据以及设置的参数不会丢失;仪器支持自动关机功能;仪器支持恢复默认数据功能:支持自诊断,可以诊断仪器是否正常工作;带有背光设计,可以在阴暗的环境下使用;采用新型材料PC面板,轻触按键设计,可靠性好,寿命长;仪器具有固件升级功能,当仪器有功能性的拓展时,可以使用本功能更新。性能指标:性能指标3200P测量范围pH-2.000-20.000 pHmV-1999.9-1999.9 mV温度-5.0-110.0 °C分辨率pH0.1/0.01/0.001 pHmV0.1 mV温度0.1 °C准确度pH±0.002 pHmV±0.03% FS温度±0.1 °C温度补偿手动/自动 -5.0-110.0 °C电源通用交流电源适配器 100 V-240 V,50/60 Hz**外型尺寸(长 × 宽 × 高)[mm]190 × 190 × 105重量(kg)1*EC Print 软件用于进行简单和直接打印**随测量仪提供订货信息:多合一套装说明推荐应用部件号Agilent 3200P台式pH测量仪基本套装在科学研究、教育和化学分析等领域中,实现对有机溶液样品G4391A包括:稳定、准确的测量Agilent 3200P 台式 pH 测量仪G4383AAgilent 3200EA 电极支架G4389AP3211 pH 复合电极,包括 30 mL 参比溶液5190-3988T7111 温度电极5190-3998pH 缓冲液,4.01、7.00、10.01,NIST 可追溯,250 mL,3/包5190-0533*pH 缓冲液,4.00、6.86、9.18,GB 可追溯,250 mL,3/包5190-0534**带有一个三合一电极的Agilent 3200P 台式pH测量仪套装如常规水质监测、教育和化学分析等领域的日常理化分析G4392A包括:Agilent 3200P 台式 pH 测量仪G4383AAgilent 3200EA 电极支架G4389AP3311 pH三复合电极,包括30 mL参比溶液5190-3990pH 缓冲液,4.01、7.00、10.01,NIST 可追溯,250 mL,3/包5190-0533*pH 缓冲液,4.00、6.86、9.18,GB 可追溯,250 mL,3/包5190-0534***默认配置,除另有规定外**仅针对中国用户
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