深度规

德国JBO公司是欧洲最大的螺纹测量及加工设备生产商，产品包括螺纹诵止规，螺纹深度规，电动螺纹深度规，目前为世界知名机械制造企业提供螺纹检测量具。 产品特点可快速更换螺纹塞规测头，用于测量不同螺纹规格通端的深度。 注：本体可选无线传输深度校准器为选配购买套装有额外优惠套装产品包括∶本体1个测量套筒1个螺纹通端快换测头4个，M5、M6、M8、M10测量保护套4个，M5、M6、M8、M10螺纹止端快换测头4个，M5、M6、M8、M10装配扳手1个

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德国JBO公司是欧洲最大的螺纹测量及加工设备生产商，产品包括螺纹诵止规，螺纹深度规，电动螺纹深度规，目前为世界知名机械制造企业提供螺纹检测量具。 产品特点单一螺纹量规同时检测螺纹直径和深度螺纹检测周期缩短50%恒定扭矩，通过设定，操作简便，可设定：左旋/右旋，力矩，设置锁定，通孔（到达测量深度后自动停止）恒定力矩检测效率是手动测量的5倍螺纹深度测量范围达4倍螺纹大径，最深可达50mm（特殊要求可定制）通过数显装置自动读取和上传螺纹深度数据测头和套筒可快速更换，适合测量多种螺纹尺寸测头硬化处理带DLC镀层的长寿命标准螺纹测头，表面硬度Hv 0.05 5000支持无线发射（eMCW）数据可无线输出到电脑系统（无线接收器i-stick另购）

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EPS防爆片刻痕深度测量仪1、 仪器介绍：EPS防爆片刻痕深度测量仪是一款微观测厚领域的颠覆性产品，采用白光光谱技术精准定位获得样品表面信息，通过上下同心镜头对被测点的绝对位置，最终获得精准测量数据；设备同时还具备宏观成像导航功能，根据实时图像任意选择被测量，为光谱镜头提供导航及坐标定位。产品能力：可实现对样品的多点扫描或线扫描及阵列扫描，一次性数据采集后通过专业光谱影像复合软件计算， 实时对厚度测量判定；本光谱测头系统, 完全非接触式测量，保护工件免受划痕；全花岗石结构设计，高精度花岗石底座，立柱，保证机器的长期稳定性；精密丝杠传动，高速，无间隙，灵敏可靠，定位准确，运动精度高；海康 高分辨率 CCD，高清晰度的影像效果，保证测量时高品质的画面；伺服闭环控制,鼠标或摇杆操控，全自动 CNC 功能： 自动对焦， 自动量测， 自动寻边，自动灯光调整，保证测量高效率。专利多重空间灯光照明系统：在面对某些特殊被测量物时，利用不同光线效果，能更精准地抓取产品尺寸，达到上光源精准测量时的高重复精度.二、技术参数：型 号EPS行 程 (mm)300 *200*200外形尺寸(mm)825*977*1680工作台大小 mm460*360重 量(kg)380 kg承 重(kg)25 kgZ 轴升降距离200MM工作距离90 mm测量 精度 UMXY (2 + L / 200) um，激光精度2 UM最大速度300mm/s光栅尺分辨率0.1um 解析度CCD 分辩率 500万 高分辨率海康相机变焦物镜倍率0.58-7.5X带同轴光 物方视场18-1.1MMStil光谱MG70*2 光斑11.9μm 测量范围1.4mm 运动控制器PMC-X4光源表面光、轮廓光： 白色 LED ，亮度连续可调电 源220 V ± 10% ，50 Hz 用电设备要求接地可靠：接地电阻小于 4 欧姆工作环境温度 20℃±5℃ 温度变化 ﹤ 2℃/hr 湿度 30-80% 振动 ﹤ 0.002g 低于 15Hz三、测试原理：EPS防爆片刻痕深度测量仪，采用亚纳米级白光光谱对焦原理，对被测样品进行上下面同心高精度对焦，来获取精确的样品厚度。测试方法：EPS防爆片刻痕深度测量仪通过光学图像导航系统进行光学成像、图像导航、坐标定位、软件编程、设定测试点位/数量。白光双镜头通过定位进行快速自动化测量形成厚度数据。4、 仪器结构： 5、 仪器测量方法机器结构介绍结构介绍：设备主体结构平台、Z轴支架均有大理石制成，是实现设备高精度/重复性的保证。设备主题有一组配置上下LED光源及同轴光光源的光学自动变倍镜头、上下同心双光谱镜头组成，XY自动扫描台、Z自动变焦、高清CCD集合而成的一套高精度光学系统。测试方法：光学镜头A进行图像识别、设定测试点位、编程被测点的坐标。白光光谱镜头B/B1双镜头，通过光学镜头导航点位进行全自动测量！测试方法： 方法一、导入防爆片产品图纸，确定测试位置坐标，光谱镜头根据坐标定位找点，上下镜头对接，自动测量、通过XY轴自动移动，实现批量测。 方法二、无图纸测量：对治具上的防爆片进行图像实时成像，选取需要测试的点群，上下镜头对接，自动测量、通过XY轴自动移动，实现批量测。产品优势说明：行业痛点：防爆片测量受限于目前传统测量设备的精度、效率、人为干扰等因素影响，无法对单一刻痕深度进行多点测量（一般只选择10-40个点之间）。所以这些很微观的点代表整个样品的刻痕深度并不科学。更无法对多个样品进行快速批量检测。最终导致:抽样量数量不够科学。单样测试数据不够科学。特点：其是一个微观厚度测量领域的颠覆性产品。已经广泛应用在半导体晶圆的纳米测量以及电池防爆片领域；设备能够快速定位、智能编程、快速测量；在刻痕一圈取尽量多任意数量的点，进行快速自动化测量。数据更具科学性。编程后可最多一次放在15个样品进行批量自动化测量，获取更多批量样品的平均值，数据额更具代表性。 六、仪器的维护与保养：EPS防爆片刻痕深度测量仪是一种光、电、机一体化的精密测量仪器，需要有经常和良好的维护与保养，以保 持仪器良好的使用状态，这样才可以保持仪器原有的精度和延长仪器的使和寿命。1、仪器应放在清洁干燥的室内 (室温 20℃±5℃，湿度低于 60%) ，避免光学零件表面污损，金 属零件生锈，尘埃杂物落入运动导轨，影响仪器机能。2、仪器使用完毕，工作面应随时擦拭干净，最好再罩上防尘套。3、仪器的传动机构及运动导轨，应定期加润滑油，使机构运动顺畅，保持良好的使用状态。4、工作台玻璃及油漆表面脏了，可以用中性清洁剂与清水擦拭干净，绝不能用有机溶剂擦拭油漆 表面，否则，会使油漆表面失去光泽。5、仪器 LED 光源使用寿命很长，但当有灯泡烧坏时，仍请通知厂商，由专业人员为您更换。6、光谱镜头在工作过程中均为静态，非人为/外力因素不会损坏。6、仪器精密部件，如影像系统、工作台、光学尺以及 Z 轴传动机构等均需精密调校，所有调节螺 丝与紧固螺丝均已固定，客户请勿自拆卸，如有问题请通知厂商解决， 自行拆卸造成仪器故障或 精度降低，不在保修范围内。7、计算机上测量软件，已对工作台与光学尺的误差进行了精确补偿，请勿自行更改，否则，会产 生错误的测量结果。8、仪器所有电气接插件、一般不要拔下，如已拔掉，则必须按标记正确插回并拧紧螺丝，不正确 的接插，轻则影响仪器功能，重则可能损坏系统。9、仪器要接地，机座后面电源接口板有标识，且要求仪器使用方，电源插座要有地线七、仪器成品图：八、产品验收流程1仪器交货期：10天2验收条款：外观良好、仪器正常运行、按原厂技术标准验收九、安装调试和培训安装调试：客户指定地点到货后，三日内安排工程师现场拆箱，按照相应程序验收和安装调试产品。设备安装调试后三日内，根据确定的人数在客户所在单位对所供产品设备提供详细的培训课程，内容包括相应试验标准、设备原理、设备要点、设备操作和设备日常维护。十、质量保证和售后服务质量保证：提供的是原厂生产的产品，符合国家、行业的质量检测标准，具有正规的质量保证书或者合格证。免费质保期：我司对售后产品提供一年保质期（易损坏件和消耗性用品除外，自安装验收合格之日起一年内），在保质期内如非人为因素损坏，我司将提供免费维修或免费更换配件。 响应：我方在接到用户故障通知后8小时内响应，在用户不能自行维修的情况下，48小时内我方维修工程师到用户现场维修。保修期满之后，卖方对设备的维修仅收取工时和交通费用，涉及设备相关配件的更换和购买，卖 方仅收取成本费用。维修站点：FLIR厂家上海办事处负责保修和维修服务。

德国JBO公司是欧洲最大的螺纹测量及加工设备生产商，产品包括螺纹诵止规，螺纹深度规，电动螺纹深度规，目前为世界知名机械制造企业提供螺纹检测量具。 产品特点尺寸和公差按德国DIN， 英国BS，美国ASME等标准生产产品全面覆盖圆柱/圆锥螺纹，也可按需定制非标螺纹规超过8000多种不同尺寸和公差的库存满足货期要求尺寸范围0.5-300mm，满足各种需求完善的仓储物流，保证全球快速交货每个产品均独立包装，良好的防护按需提供检定证书

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主要特点可测量细槽深度尺寸测量深度尺寸测量台阶尺寸测量范围货 号分辨力允许误差a mmB mmΦmm0-150 mmDA-03-0110.02 mm±0.03 mm100820-200 mmDA-03-0210.02 mm±0.03 mm1001020-300 mmDA-03-0310.02 mm±0.04 mm100102

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多通道 淬火硬化层 深度无损测量仪产品概述表面硬化提高了动态应力部件的耐磨性和疲劳强度。这些功能特性主要由表面硬度、硬化深度和残余应力决定。表面硬化工艺的一个重要质量特征是硬化层 (SHD) 的厚度。目前，硬化层只能使用破坏性方法在随机样本中进行测试，该过程既昂贵又耗时。德国Q-Net开发了一种超声波测试仪器，可实现快速、轻松的对SHD控制。减少测试工作量和成本，有利于快速生产控制，以实现始终如一的高水平质量。该测试仪器用于优化制造参数、减少更换电感器后的停机时间、进行生产监控和质量控制。产品优势设置时间短简单、不复杂的校准快速轻松的扫描高测试灵敏度舒适的传感器操作适合复杂几何形状的传感器当前测试点的可视化可在小半径和底切处进行测试个人报告模板结果存储在数据库中测试结果的分析和重新评估线扫描和圆周扫描自动化成为可能应用领域复杂几何形状硬度深度测试仪，主要应用于风能领域和汽车行业。产品质量参数4 个超声波通道工业用途 (IP65)便于移动使用检测频率：5 – 25 MHz测量重复性：± 0.2 mm

HYLF-1裂缝宽度深度测试仪 裂缝综合测试仪 裂缝宽度深度测定仪 裂缝测宽测深仪HYLF-1混凝土裂缝宽度深度测试仪主要用于桥梁、隧道、混凝土路面等裂缝宽度、深度的精确检测。用户可以利用超声探头对裂缝深度进行测量。HYLF-1混凝土裂缝宽度深度测试仪测量宽度时程序自动扫描、捕获裂缝并在显示屏上实时显示裂缝的宽度数值，也可以对需要的裂缝进行拍照（裂缝照片中同时保存裂缝图像、宽度数据、刻度尺等图像信息），裂缝照片直接存储到PDA中，方便用户进一步的图像分析或打印存档。技术参数硬件平台：4.3寸真彩色触摸屏，wince正版系统裂缝宽度测量范围：0-8mm裂缝宽度精度：0.01mm裂缝深度测量范围：≤650mm裂缝深度精度：≤±10％存储容量大：可存储10 万个裂缝测点数据仪器供电：可充电式锂电池工作温度：-10℃～＋50℃工作湿度：≤90%RH主机尺寸：230x158x50mm主机重量：≈660g

轮胎花纹深度尺是使用深度测量杆测量沟槽深度的测量仪器， 用于测量机动车轮胎胎冠花纹深度，主要分为游标式和数显式深度尺。 轮胎花纹深度尺校准装置采用了平板、量块等高精度标准器，来综合校准深度尺的各个指标，确保数据准确有效。操作简单易学。一、简介：GZB-2A型轮胎花纹深度尺校准装置适用于JJF1477-2014《轮胎花纹深度尺》校准规程,用于校准分度值不大于0.05mm游标式轮胎花纹深度尺与分辨力不大于0.01数显式轮胎花纹深度尺的校准。 二、参数：序号标准器名称测量范围准确度等级数量1专用平板300mm×300mm1级1套2塞尺0.02-10.02mm1把3专用标准量块0-30mm3级2套4读数显微镜/MPE:10μm1台

土壤温度/深度传感器，　　进口土壤温度/深度传感器，　土壤温度/深度传感器供应，　土壤温度传感器，　土壤深度传感器，　进口土壤温度传感器,土壤温度/深度传感器

德国JBO公司是欧洲最大的螺纹测量及加工设备生产商，产品包括螺纹诵止规，螺纹深度规，电动螺纹深度规，目前为世界知名机械制造企业提供螺纹检测量具。 产品特点尺寸和公差按德国DIN， 英国BS，美国ASME等标准生产产品全面覆盖圆柱/圆锥螺纹，也可按需定制非标螺纹规超过8000多种不同尺寸和公差的库存满足货期要求尺寸范围0.5-300mm，满足各种需求完善的仓储物流，保证全球快速交货每个产品均独立包装，良好的防护按需提供检定证书

表面硬化提高了动态应力部件的耐磨性和疲劳强度。这些功能特性主要由表面硬度、硬化深度和残余应力决定。表面硬化工艺的一个重要质量特征是硬化层 (SHD) 的厚度。目前，硬化层只能使用破坏性方法在随机样本中进行测试，该过程既昂贵又耗时。德国Q-Net开发了一种超声波测试仪器，可实现快速、轻松的对SHD控制。减少测试工作量和成本，有利于快速生产控制，以实现始终如一的高水平质量。该测试仪器用于优化制造参数、减少更换电感器后的停机时间、进行生产监控和质量控制。产品优势设置时间短简单、不复杂的校准快速轻松的扫描 高测试灵敏度舒适的传感器操作适合复杂几何形状的传感器当前测试点的可视化可在小半径和底切处进行测试 个人报告模板结果存储在数据库中测试结果的分析和重新评估 线扫描和圆周扫描自动化成为可能 应用领域广泛应用于机械加工、材料热处理、汽车零部件、新能源、工程机械等领域，发挥着先进无损检测技术的性和可靠性。复杂几何形状硬度深度测试仪产品质量参数4 个超声波通道 工业用途 (IP65) 便于移动使用 检测频率：5 – 25 MHz 测量重复性：± 0.2 mm

德国WEP公司的ECV（型号为CVP21）在太阳能光伏行业的应用非常普及，市场占有率甚至达95%以上，是光伏行业电池技术研究和发展的必要工具之一，知名的光伏企业都有使用。 WEP公司的ECV设备：CVP21（见图）1. ECV又名扩散浓度测试仪，结深测试仪等，即电化学CV法测扩散后的载流子浓度分布（见图）；2. 相比其他方法如SRP，SIMS等，ECV具有测量使用方便，价格低的优点；WEP公司的ECV具有独特技术可应用于测试电池片的绒面样片，这也是其被广泛使用的原因之一；4. CVP21所能测量的深度范围是nm---10um 5. 测量的载流子浓度范围在10e12cm-3 N 10e21cm-3之内都无需校准；6. 测量扩散样片时，样片是保持“Dry in”和“Dry out”，并无需做特别处理；7. 其所用到的化学试剂本地就能买到，价格低且用量很少买一次可以用好几年；8. 从CVP21所测得的数据能带给研发或工艺人员三方面的信息：一是表面浓度，二是浓度变化曲线，三是结深（见图）；9. 表面浓度对于选择和使用适合的浆料很有帮助，如粘合性，接触电阻等的匹配问题；10. 浓度分布曲线对掌握和改进扩散工艺提供依据；11. 结深的信息对电池工艺的总体把握来说是必须的，也是扩散工艺时常需要抽测的项目之一；12. 参考：测试出的几种扩散浓度分布曲线（见图）；13. 广泛的客户群：Q-CELL, NREL, ISFH, SHELL,ECN,RWE,HMI,SISE尚德，天合，晶澳，英利，交大泰阳，BYD，海润，晶科，吉阳，南玻，格林保尔… 仪器简介：电化学ECV,掺杂浓度检测（C-V Profiling）PN结深测试 电化学ECV可以用于太阳能电池、LED等产业，是化合物半导体材料研究或开发的主要工具之一。电化学ECV主要用于半导体材料的研究及开发，其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。电化学ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(PEC Etching)很好的选择。 本设备适用于在半导体生产中的外延过程的性能评估和过程控制，可以测试多种不同的材料，例如：硅, 锗, III-V 族和 III-N族材料等。CVP 21的模块化系统结构让测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布变得高效、准确。选用合适的电解液与材料接触、腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制 。CVP21的系统特点： *坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立． *精确的测量电路模块 *强力的控制软件，系统操作，使用简便 *完善的售后服务体系 提供免费样品测试并提供测试报告。 保修期：2年，终身维修。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。技术参数： 我们在电化学方分布测试产品方面有超过３０年的经验和世界上较为先进的电路系统。全自动，特别适用于新材料，如氮化镓，碳化硅材料等。　 有效检测: 外延材料、扩散 、离子注入 适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 　 载流子浓度测量范围: *最大 1021/cm3； 最小 1011/cm3 深度解析度: 最大无上限；最小可至1 nm （或更低） 模块化系统结构: 拓扑型结构，实时监控腐蚀过程，适于微小样品及大尺寸的晶圆，全自动化系统。主要特点：CVP21电化学ECV是半导体载流子浓度分布完美的解决方案： 1， CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 * IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 * III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 * 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 * 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 * 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 * II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 * 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 2， CVP21可用于不同形态的样品：多层结构的薄膜材料、基底没有限制(基底导电或绝缘均可)、标准样品尺寸从4*2mm ~ 8英寸晶圆(更小尺寸样品请预先咨询我们)。 3， CVP21拥有很好的分辨率范围。 * 载流子浓度分辨率范围从 1012 cm-3 ~ 1021 cm-3 * 深度分辨率范围从1nm ~ 100um (依样品类型、样品质量决定) 4， CVP21是一套完整的电化学ECV测量系统。 * 系统可靠性高(仪器的电子、机械、光学、液体传动几个主要部分均经特殊设计) * 免校准的系统(完全自校准的电子系统，电缆电容均无须用户再次校准) * 易于使用(全用户管理软件优化，在实验室环境或生产环境均易于使用) * 照相机镜头控制(过程在线由彩色照相机镜头控制；每次测量后，镜头数据均可取出。) * 实验菜单(测量菜单预定义，优先权用户可以很容易修改或改进测量菜单) * Dry-In/Dry-Out: Auto-Load/Unload/Reload (电化学样品池自动装载/卸载/再装载，优先权用户易于修改，进行样品dry-in/dry-out处理。) 全自动电化学CV分布仪 CVP21光伏太阳能领域的优质选择! 众多科研和半导体领域用户的的心仪之选!赛伦科技（Saratoga Technology International） 为中国全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域知名代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点- 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．- 精确的测量电路模块- 强力的控制软件，系统操作，使用简便- 完善的售后服务体系 全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:- 外延材料- 扩散- 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等… III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等… 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等… 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等… 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等… II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等… 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:- 最大 1021/cm3?最小 1011/cm3深度解析度:- 最大无上限- 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:- 拓扑型结构- 实时监控腐蚀过程- 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:- 精密的电路，电子系统- 强力的软件

产品介绍：恒流品牌超深度低温恒温槽是针对科研、生物、物理、医药、化工等部门对恒温精度要求较高而研制的低温实验仪器，并且针对温度计，温度传感器，热电阻等进行温度检定，具有使槽内温度与均匀、智能控温更准确等特点.亦可作为普通温度计及其它温度测量仪表制造中的定标用途。部分产品参数：型号温度范围（℃）温度波动度（℃）数显分辨率（℃）工作槽容积（mm3）槽深度（m）循环泵流量(L/min）工作槽开口（mm2）HL GJ01S0~100±0.020.01250×200×400400内循环180×140HL GJ02S-5~100±0.020.01250×200×400400内循环180×140HL GJ03S-10~100±0.020.01250×200×400400内循环180×140HL GJ04S-20~100±0.020.01250×200×400400内循环180×140HL GJ05S-30~100±0.020.01250×200×400400内循环180×140产品特点：【1】HL品牌高精度低温恒温槽微机智能控制系统，具有超温保护、温度传感器异常保护功能，确保试验安全，触摸按键操作可快速准确设定温度，操作方便。【2】微机系统方便修正显示温度与实际温度的误差，温度修正分辨率达0.01℃，使数显温度值准确无误。【3】特殊用户PID参数可自行重新设定，并具有PID自整定功能。【4】高效全封闭压缩机制冷，降温速度快。制冷系统具有过热、过电流等多重保护。【5】准确的温度控制，使工作槽内温度快速恒定。先进的内循环系统，内循环使温度均匀恒定。【6】可选配RS232或RS485通讯接口，实现与PC机或PLC机等上位机的数据传输，进行远距离控制。【7】 立式卧式两种可选HL J系列为卧式,便于置于操作台内。

主要特点可测量细槽深度尺寸测量台阶尺寸测量范围货 号分辨力允许误差a mm0-150 mmDA-04-0110.02 mm±0.03 mm1000-200 mmDA-04-0210.02 mm±0.03 mm1000-300 mmDA-04-0310.02 mm±0.04 mm100