红外测厚仪

TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

PosiTector 200型 测厚仪,适用于木材、混凝土、塑料等基材 用于测量木材、混凝土、塑料等基材上涂层厚度。 高级型：最多测量3层并带有图形显示 应用成熟的超声波技术在许多行业无损测量涂层厚度，如混凝土、木材、复合材料等 价格低廉 使用简单 非破坏性 PosiTector 200 超声波测厚仪使用简单，价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材，混凝土及其它基材上涂层厚度。 简 单 直接测量，测量大多数涂层时无需调校 菜单操作 双色指示灯，适于嘈杂环境 重置功能可以即时恢复出厂设置 耐 用 耐溶剂、酸、油、水和灰尘，防护等级满足或超出IP5X 显示屏耐划伤/溶剂，适用于恶劣环境 防震保护橡胶皮套，带皮带夹 主机与探头两年保修 精 确 灵敏传感器，使测量迅速且准确（最多40个读数/分钟) 成熟的无损超声波技术，符合ASTM D6132与ISO 2808标准 校准证书可追溯NIST 多种功能 连续显示/更新平均值、标准偏差和测量次数 内部存储最多10000个数据，最多可分1000组 内置时钟可对存储的结果标注时间、日期 输出提供USB、红外和串行接口，可与打印机和电脑进行简单通讯 背光显示，可用于阴暗环境 英制/公制两种单位，可相互转换 多种显示语文选择 可选配件 - 标准片&mdash &mdash 符合 ISO 和其它质量标准 - PosiSoft 分析软件: 可以输入注释 可以打印和显示基本的数据分布图和直方图 可以输出到一个文件或试算表中 提供连接打印机和计算机的数据线 红外打印机 - 使用电池和红外线接收数据 整套包括 耐用的携带，3节AAA电池、说明书、具有NIST可追朔性的校准证书，保修一年。 尺寸: 146 x 64 x 31mm 重量: 105g（不含电池） 1. 阅读容易，防划花，液晶显示 2. 指示灯在噪音环境中，方便确认读数 3. 红外线接口用于无线打印 4. RS232 接口用于下载 5. 坚固外壳，耐溶剂、酸、油、水和灰尘 6. 压力恒定，探头测量面为塑料，不会划伤测量面 7. 舒适把手，减少操作人员的疲劳 8. 柔软连接线 技术参数 B/标准 B/高级 C/标准 C/高级 量 程 13-1000um 0.5-40mils 25-1000um 分辨率 0.1mils 2um 精度 ± 0.1mils + 3% 读数 ± 2um +3% 读数 测量速度 45 读数 / 分钟

PosiTector 6000型 测厚仪,适用于金属基材 大型易读液晶显示,菜单式使用者界面 即时自动设定 3键式操作 自动关机，连体探头式，还可自动开机 平均置零，利于在粗糙面上置零 重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态 仪器背面有简要说明 耐 用 耐磨的蓝宝石探头 耐酸、耐油、耐溶剂、 防尘、防水 读数不受振动影响 一年保修期 精 确 每台仪器都有校准证书，符合NIST标准 可达到极高的精度（请参阅背页的订货指面） 可提供校准程序和标准板 符合美国和国际标准 性能卓越 密耳/微米/毫米(Mils/Microns/mm)单位转换 易于调整到任意已知厚度 多种探头 多国显示语文: 英文、西班牙文、法文、德文、葡萄牙文、意大利文、日文、中文背景发亮的显示屏,在黑暗的环境使用更觉方便 灯光提示： 便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果。 反转显示：独有的反转显示，无论手持测厚仪还是放置在工作台上，阅读都很方便。 连体探头： 便于单手操作 标准型（1）具有左边所列的所有特点。 统计型（2）具有标准型所有功能，且读数超出设定范围时有声光提示。 测量时不断更新和显示平均值、标准偏差、最大/最小厚度值及测量次数 HI-RES模式：高精度测量时可增加读数分辨率 可设定内部自动关机时间 储存多至250个读数 内置红外线界面，可打印至廉价的无线红外打印机 分离探头 各款探头可互，提供更多样化的测试。 标准版 可在多种不同厚度上验证仪器 出自NIST的标准 包含有校准证书 配备安全、方便的贮存袋 记 忆 远红外打印机和PosiSoft软件只在记忆型中可用。 建立／注释／编辑分组、零件、操作者、应用名称等可存入仪器记忆中。 存贮达16000个数据，可分为最多1000组 配备RS-232连线可将数据输入Windows平台的电脑，串行打印机或数据收集仪等。 奉送PosiSoft分析软件，在Windows平台的电脑上运行。 内置式远红外打印接口接打印机。 PosiSoft 软件－在 Windows 上运行，功能强大，易学易用。当选择记忆型时，软件无需额外费用，随机奉送。 从PosiTector 100型读取数据容易。 用该仪器及可修改电脑用户、零件分组及建立说明、解释等。 显示、资料、图形数据等可达5层膜厚。 图表可表示单个涂层也可显示总厚度。 可打印基本图表及柱形图。 提供数据和时间资料。 使用一般格式如ASCⅡ可将数据存入电脑。 理想的涂层厚度监控及分析应用软件。 记忆型 (3) 具有 (1) 和 (2) 型功能，且 储存10000个读数，可分成200组 SSPC PA-2功能，计算一组平均读数的平均值 读数可即时输出,也可先行储存待日后处理 提供用于Windows环境的PosiSoft统计分析软件 提供RS-232串行线，用于向个人电脑、串行打印机或数据采集器输送数据 可储存多种不同较准数据以配合测量各款不同基材 储存在记忆里的各组读数，可再分细组、查阅、更新或删除 ] 内置时钟，每个储存的读数均加上日期和时间标签 PosiSoft for Windows 功能强大 使用简单 订购记忆型（3）随机附送 易于从仪器收集数据 可输入提示说明 显示和打印图表 使用通用格式储存数据如ASCII码 方便监视和分析膜层厚度支援多种语文 分离探头 各款分离探头可互换 每个分离探头均附可追溯至NIST的证书 镀金的耐用带锁接头适用于工业环境 优质柔性防破损连线 加长线(可达75米)便于远程测量 所有标准探头均可在水下使用 所有恒压探头均采用V型槽和倒角定位便于测量管子里外 微型探头（铁性基材或有色金属）用于细小及难到达的表面，有0o 、45° o、90° o三种配置各种不同的探头可适用极广的应用范围° 可拆卸的辅助器 微型探头转换为恒压° 可将0 探头，测量细小的平面或曲面 无线打印机 (2) 型或 (3) 型机无须接头或连线便可将数据传递给红外线打印机 ( 电池驱动 / 谦价的选购件 ) 独特的复合型（FN）探头 不须更换探头可测量所有金属表面 自动识别铁/有色金属表面 减少误操作影响 可测量钢上的镀锌层，铝上的氧化膜，金属上的涂层、钢上的铬层等等。 特有的&ldquo N-LOCK&rdquo 功能可测量略带磁性基材，如镀镍的铜基材镀金层上的透明涂层 提供连体探头和分离探头配置 测量粉末涂层的理想之选 记忆型（3）仪器,在分组模式下的显示样本 测量读数可分 ( 至 200) 组 Batch1 Cal n50 21.00x 3.61 &sigma 42.0x 20.1 &darr F 20.1 显示 铁/有色金属基材 多用途: 从微小元件的薄镀层、、、、到大尺寸的厚涂膜 探头/ 部件固定基座、、、确保测试零部件时，可准确的重覆定位 双重用途探头盖 连体探头型号的探头保护盖带有 V 型槽 , 在敞开时使仪器测量时更为稳定。 &larr 多个基材较准资料 &larr 即时统计资料 &larr 字体大,醒目的测量读数 订货指南 探头（每个仪器仅带一个探头，需要额外探头需另行购买） 大量程 NHS 大量程 FHS 所有仪器包括 : 有皮带扣的、标准塑料片、3节AAA电池、使用说明书、手带（只限连体探头型号）、证书（NIST）、一年期保修。 记忆型( 3) 还包括 : 用于Windows平台的统计及分析软件PosiSoft，RS-232接线及携带箱。 加长线（可达 75m/250ft ）适于水下或远程测量，请在订货时注明。 尺寸 : 147x61x5mm（5.8x2.4x1寸） 重量 (不带电池): 170g(6盎士) 符合以下标准 : ISO 2178 /2360 / 2808 prEN ISO 19840, ASTM B499 /D1186 /D1400 BS3900 Part C5 SSPC-PA2及其他.

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

PosiTest DFT 测厚仪 以下行业使用效果理想 粉末涂料 涂装员 涂层检测员 涂装承包商 汽车修补行业 2种型号&hellip Ferrous (F型针对铁性基材) Combo(复合型针对所有金属基材) 就是测量 PosiTest DFT 涂层测厚仪 两款型号 PosiTest DFT Ferrous: 测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层 PosiTest DFT Combo: 测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层和有色金属(铜，铝等)上绝缘涂层。测量时自动分辩底材。 仪器特点 测量快速，重复性好 大部分材料上无需校准 调零功能可应用在粗糙不平的表面及曲面上 无法调零时可使用方便的重启功能 坚固耐磨损的红宝石探头 测量时听觉和视觉的双重指示 探头上的 V 型槽方便测量圆柱型表面 密尔 / 微米单位转换 每个仪器的背面都有基本的操作说明 仪器规格 测量范围 0 - 40 mils 0 - 1000 um 精 度 ± ( 0.1mils + 3%) ± ( 2um + 3%) 尺 寸 4 × 1.5 × 0.9 in 100 × 38 × 23mm 重 量 2.5 oz 70 g 仪器包括 内置探头，标准塑料片，坚固的存放盒，1 x AAA 电池，说明书 和 一年质保 符合以下标准： ISO2178 / 2360 / 2308 prEN ISO19840 ASTM B244 / B499 / B659 / D1186 / D1400 / E376 / G12 S3900-C5 SSPC-PA2 及其他。

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

超声波测厚仪DM4 Krautkramer超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4测厚仪和DM4DL测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 基本型-DM4E超声波测厚仪 - 可配标准、超厚、超薄和高温探头 - 自动探头识别、V声程校正、零位校正 - 带最小读数显示和存储的最小测量模式 标准型-DM4超声波测厚仪 在DM4E测厚仪基础上附加以下功能 - 穿过涂层测量厚度的操作模式 - 在不同模式的壁厚测量 - 极值LED报警 存储型-DM4DL超声波测厚仪 在DM4测厚仪基础上附加以下功能 - 数据记录仪可存储5390个数据 - RS232接口可接打印机和计算机 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL技术参数 测量范围 分辨率 声速 测量刷新速率 显示 存储 接口 电源 操作温度 尺寸 重量 0.6～300mm(铁) 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 1000～9999m/s 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 4位LCD背光数显 5390个读数(只适用于DM4DL) RS232接口(只适用于DM4DL) 两节5号电池，无背光时可使用200小时 -10～50℃ 146x76x34mm 255g 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL常用探头技术数据 名称 型号 测量范围 频率 探头接 触直径 工作温度 测量最小 钢管直径 探头线型号 标准探头 DA301 1.2～200mm 5MHz 12.1mm -20～60℃ 25mm DA231 超厚探头 DA303 5.0～300mm 2MHz 16.2mm -20～60℃ 127mm DA231 超薄探头 DA312 0.6～50mm 10MHz 7.5mm -20～60℃ 20mm DA235 超薄探头 DA312B16 0.7～12mm 10MHz 3.0mm -20～60℃ 15mm 自带导线 高温探头 DA305 4.0～60mm 5MHz 16.2mm 10～600℃ DA235 高温探头 HT400 1.0～254mm 5MHz 12.7mm 10～540℃ 50mm KBA535 注： 所示温度为厂家理想状态试验所得，实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。 测试高温表面时需用高温耦合剂。 标准配置 主机 DA301探头 DA231导线 耦合剂 两节5号电池 仪器软包 中英文说明书 仪器箱

铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围：0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率：0.1/1 5、测量面积不小于：6mm 6、基底不小于：0.3mm 7、自动关机 8、使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH 9、准确度：±(1～3%n)或±2um 10、电源：4节5号电池 11、电池电压指示：低电压提示 12、外形尺寸：161×69×32mm 13、重量：210g（不含电池） 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器）可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822

德国K.K超声波测厚仪DM4的具体介绍： 德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4和DDSM4DL特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 DM4E基本型29000元 德国产品，质量保证 可配标准、超厚、超薄和高温探头自动探头识别、V声程校正、零位校正带最小读数显示和存储的最小测量模式 DM4标准型附加功能31000元 测量穿过涂层厚度的操作模式在不同模式的壁厚测量极值LED报警 DM4DL存储型附加功能39000元 数据记录仪可存储5390个数据RS232接口可接打印机和计算机 德国K.K超声波测厚仪DM4系列技术参数： 　 测量范围 0.6～300mm(铁) 分辨率 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 声速 1000～9999m/s 声速 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 显示 4位LCD背光数显 存储 5390个读数(只适用于DM4DL) 接口 RS232接口(只适用于DM4DL) 电源 两节5号电池，无背光时可使用200小时 操作温度 -10～50℃ 尺寸 146× 76× 34mm 重量 255g 德国K.KDM4超声波测厚仪系列探头参数 名称 型号 测量范围 频率 探头接触直径 工作温度 使用探头导线型号 标准探头 DA301 1.2-200mm 5MHz 12.1mm 60℃ DA231 超厚探头 DA303 5.0-300mm 2MHz 16.2mm 60℃ DA231 超薄探头 DA312 0.6-50mm 10MHz 7.5mm 60℃ DA235 超薄探头 DA312B16 0.7-12mm 10MHz 3.0mm 60℃ 自带导线 高温探头 DA305 4.0-60mm 5MHz 16.2mm 600℃* DA235 高温探头 HT400 1.0-254mm 5MHz 12.7mm 540℃* KBA535

SKCH-1（A）精密测厚仪是一种结构简单、价格低廉、高精度的测量装置，主要用于各类材料厚度的精密测量，也可用于其它物品的高度与厚度测量。主要特点 1、采用精密花岗岩工作平台，精度等级为“00”级。2、千分表精度等级为一级。技术参数测量精度：0.001mm 产品规格尺寸：200mm×150mm×320mm

Thermo Fisher瑞美RM300EC/瑞美RM310EC 涂层测厚仪专用X射线总成，西安威思曼高压电源有限公司推出，欢迎垂询。“冷”端涂层重量测量仪（是安装在镀锌线的出口处）能够对钢带的金属涂层（涂层成分：锌，锌/镍，锌/铝，铝，锡，铅）重量进行精准、快速及无接触式地凸度测量。这类型的重量仪也可与“热”端涂层重量仪配合起来一起使用构成一个综合的自动控制系统。 有关威思曼及其更多高压产品的信息，请致电 086-029-33693480或访问其网站： www.wismanhv.com　　威思曼高压电源有限公司,通过ISO9000:2008质量体系认证，公司拥有出色的高压电源研发团队，完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术，完善的零电流谐振技术，使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小，损耗小，效率高，长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力，是OEM应用的理想选择。 　　威思曼高压电源有限公司是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商，同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器，实验室以及海底光纤等设备。集设计，生产和服务为一体的工厂分布于美国，英国，及中国等地，并且我们销售中心遍布于欧洲，北美洲以及亚洲，我们将竭诚为您服务!

面铜测厚仪校准专用，CMI165 MM615 T60都适用

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

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红外测油仪LT-21A，LT21ALT-21ALT-21A型红外分光测油仪，办事处，中文操作说明书，售后服务维修，介绍定性分析： 一定频率的红外线经过分子时，如果分子中某一个键的振动频率和它一样，这个键就吸收红外线而增加能量，振动就会加强；如果分子中没有同样频率的键,红外线就不会被吸收。若连续改变红外线的频率照射样品时，则通过样品吸收池的红外线，有些区域较强，有些区域较弱，从而产生了红外吸收光谱。定量分析：当某单色光通过被测溶液时，其能量就会被吸收。光强被吸收的强弱与被测物质的浓度成比例。即符合比尔定律A=log(1/T)=log(I0/I)=a*b*c红外测油仪LT-21A，LT21ALT-21ALT-21A型红外分光测油仪，办事处，中文操作说明书，售后服务维修，性能指标 基线漂移小于0.005AU/60min检出极限小于0.2μg/mL（萃取溶剂中）相对标准偏差RSD2%(浓度为20～80μg/mL的标准油样品) 线性相关系数r0.999红外测油仪LT-21A，LT21ALT-21ALT-21A型红外分光测油仪，办事处，中文操作说明书，售后服务维修，规格参数波数范围： 85000px-1～60000px-1（即2940nm～4167nm）吸光度范围： 0.0000～ 3.0000（即透过率100～ 10%T）基本测量范围： 0.2~160μg/mL(100px石英比色皿池）最低检出浓度： 0.002μg/mL(100px石英比色皿池,萃取浓缩100倍)最大测量浓度： 64000μg/mL(12.5px石英比色皿池,稀释100倍)样品分析时间： 全谱单点扫描：20多秒定点多次扫描： 10秒钟非分散红外法： 2秒钟空白萃取溶剂调零： 自动主机外型尺寸： 470mm（长）×330mm（宽）×150mm（高） 主机重量： 10kg主机电源功率： 220V、50Hz红外测油仪LT-21A，LT21ALT-21ALT-21A型红外分光测油仪，办事处，中文操作说明书，售后服务维修，符合标准中华人民共和国国家标准“GB/T16488-1996水质石油类和动植物油的测定红外光度法”红外测油仪LT-21A，LT21ALT-21ALT-21A型红外分光测油仪，办事处，中文操作说明书，售后服务维修，应用领域环境监测站:地表水,地下水,生活污水,工业废水中油类物质测定环境监测站:饮食业油烟排放测定执行标准:GB18483-2001饮食业油烟排放标准2002年01月01日实施市政排水监测站水质净化中心以及污水处理厂执行标准:GB18918-2002,城镇污水处理厂污染物排放标准,2003年07月01日实施城镇供水公司或者自来水公司执行标准:GB3838-2002地表水环境质量标准2002年06月01日实施石油石化行业外排水执行标准:石油炼制工业水污染物排放标准GB3551－83以及污水综合排放标准GB8978-1996铁路环境监测站铁路货车洗刷废水排放标准GB5469-85钢铁企业环境监测站钢铁工业水污染物排放标准GB13456--921992年5月18日国家环境保护总局批准1992年7月1日实施）水文站执行标准:GB3838-2002地表水环境质量标准2002年06月01日实施火力发电厂环境监测站汽车制造厂环境监测站海洋环境监测站科研教学

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

消防监督装备配备： 秒表、数字照度计、数字测距仪、卷尺、数字风速计、数字微压计、消火栓测压接头、压力表、超声波流量计、防火涂料测厚仪、喷水末端试水接头、点型感烟探测器功能试验器、点型感温探测器功能试验器、线型光束感烟探测器滤光片、火焰探测器功能试验器、漏电电流检测仪、红外测温仪、红外热像仪、防爆静电电压表、接地电阻测量仪、绝缘电阻测量仪、数字万用表、泡沫称重电子秤、消防设施检测专用车、建筑消防设施检测箱、消防电气检测箱。

校正片又称标准箔、膜厚片，通用于所有x射线镀层测厚仪，本公司标准片规格齐全，可送检第三方出具CNAS证书，为仪器精准测试保驾护航

红外热像仪配件是在第三代热成像相机的基础上采用一流的红外技术制造而成的红外热成像仪，是具有高灵敏度，采用人体工程学设计的手持式红外热像仪,非常适合各种红外成像应用。 红外热像仪配件特色 * 优异的热成像性能，高精度温度测量； * 折叠设计，270度旋转显示； * 自动/电动聚焦，单手即可操作； * 宽广的温度测量范围 * 激光指示器； * 高亮度LED灯； * 内置数字相机； * 宽视场IR镜头； * 自动热/冷/平均温度探测； * 实时热成像视频，可转存到电脑中； * 引导性操作提示，方便操作使用； * 新一代分析软件。 红外热像仪配件参数： 探测器类型：非制冷型FPA， 384x288像素 光谱范围：8-14微米 IFOV视场/最小焦距： 21x16度/0.4m （标准镜头）， 38x28度/0.3m (宽广镜头，选配，非标配）， 11x8.5度/1.2m (telephoto 镜头，选配，非标配） 空间分辨率IFOV: 1.2mrad 温度灵敏度：0.065摄氏度@ +30摄氏度 图像显示屏：3.2' ' , 270度可转LCD屏； 成像模式：热图像，可见图像等 像仪聚焦：自动/电动； 电子变焦：4X 数字变焦： 连续1-8X 测量温度范围：-20到250摄氏度（工业）， -20到600摄氏度（可选）， -20到1200摄氏度（可选）；

上海新诺 红外制样模具 红外退模模具 红外不退膜模具 压片机配件一、模具概述：红外退膜模具是指样品压制成型后需从模具中脱出，放到磁性样品架上检测，然后放到红外光谱仪的样品仓内进行测试，压片尺寸：直径Ф13mm，压片厚度：0.5-1mm。特殊模具尺寸、规格、形状、材质等可根据客户需求定做。二、技术参数：模具名称MJH-A型 不退膜红外模具（Ф13mm）成型样品实图可压制样品形状圆形薄片模具组成结构底座，样品架，压杆模具材质硬质合金 YT15模具压头硬度HRC85-HRC90样品尺寸Ф13mm模具腔体深度10mm模具外形尺寸76×50×70mm模具重量0.75kg模具压强计算公式油缸的面积/模具的面积×压力表读数=模具的实际承受压强（Mpa）模具备注以上指标仅供参考，可根据客户需求定制各种规格、形状、材质的模具 模具名称MJH-B型 退膜红外模具（Ф13mm）成型样品实图可压制样品形状圆形薄片模具组成结构底座，模具套，压杆，垫片，样品架模具材质硬质合金 YT15模具压头硬度HRC85-HRC90样品尺寸Ф13mm模具腔体深度20mm模具外形尺寸Ф43×78mm模具重量0.76kg模具压强计算公式油缸的面积/模具的面积×压力表读数=模具的实际承受压强（Mpa） 模具备注以上指标仅供参考，可根据客户需求定制各种规格、形状、材质的模具 模具名称MJH-C型 不退膜红外模具（Ф7mm）成型样品实图可压制样品形状圆形薄片模具组成结构底座，样品架，压杆模具材质硬质合金 YT15模具压头硬度HRC85-HRC90样品尺寸Ф7mm模具腔体深度5mm模具外形尺寸76×30×70mm模具重量0.35kg模具压强计算公式油缸的面积/模具的面积×压力表读数=模具的实际承受压强（Mpa）模具备注以上指标仅供参考，可根据客户需求定制各种规格、形状、材质的模具本公司商品信息均来自于厂商提供资料、网页、宣传册等，质量可靠，保证正品！但由于新广告法规定不得出现绝对化和功能性描述用词，以及写有没写号或已过期等情况，我司已在逐步排查和修改完善。也欢迎用户协助反馈，我司将赠送精美小礼品一份。并在此郑重表态：我司所有页面存在的极限词或违禁词全部失效，不接受不妥协以任何形式的“打假名义”进行网络欺诈，请为真正的消费者让路，也请各位职业“打假高手”高抬贵手。

用途：i5小型红外热像仪堪称目前市场上最为轻盈、性价比最高的红外热像仪。该款产品红外图像分辨率达80×80像素，集便捷灵活、操作简便等优势于一身，无需任何使用经验即可轻松掌握操作要领。“瞄-拍-测”操作一气呵成，高质量红外图像即刻呈现，高效获取所需红外信息。技术规格：图像和光学数据视场角（FOV）17°×17°最小调焦距离0.6 m空间分辨率（IFOV）3.71 mrad热灵敏度/NETD0.1℃帧频9 Hz调焦免调焦探测器探测器类型非制冷微热量焦平面阵列（FPA）波长范围7.5 ~ 13 μm红外图像分辨率80 ×80像素图像显示显示2.8英寸彩色液晶显示屏图像调整自动调整/图像锁定测量测温范围0~+250℃精度±2℃或读数±2%测量分析点测温中心点温度发射率校正变化范围：0.1~1.0发射率表预先设定材质的发射率表反射温度校正基于输入的反射温度自动校正设置调色板黑白、铁红和彩虹设置命令可设置为本国单位、语言、日期和时间格式图像存储图像存储类型迷你SD卡文件格式标准JPEG，包含14位测量数据数据通讯接口接口迷你USB，与电脑互相进行数据通讯电源系统电池类型可充电锂离子电池电池电压3.6 V电池工作时间大约5小时充电系统电池壳随机充电充电时间充至90%电量需要3小时电源管理自动关机交流电源交流适配器，90~260 VAC输入，5V输出至热像仪环境参数操作温度0~+50 ℃存储温度-40~+70 ℃湿度（工作和存储）IEC 60068-2-30/24h 95%相对湿度EMCEN61000-6-2:2005(抗干扰)；EN61000-6-3:2007(抗辐射)；FCC 47 CFR Part 15 class B(抗辐射)封装热像仪外壳和镜头：IP43(IEC 60529)冲击25 g (IEC 60068-2-29)震动2 g (IEC 60068-2-6)物理特性热像仪重量（含电池）0.34 kg尺寸（长×宽×高）223×79×83mm产地：美国

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紫外-可见和紫外-可见-近红外比色池比色池材料 比色池有四种材料可供选择：根据用户测量的波长范围选择比色池材料。 如果在可见光波长范围内使用，安捷伦公司可提供低成本的光学玻璃比色池，此类比色池由超纯原材料制成。在200 nm 到2500 nm 之间的波长下，石英玻璃空比色池透光率 80%。在330 nm 到2500 nm 之间的波长下，光学玻璃空比色池透光率 80%。比色池形状矩形比色池 矩形比色池是最常见的比色池类型，它的形状根据比色池的光程从正方形到较长的矩形。我们提供：标准比色池、半微量比色池（容积为同样光程标准比色池的40%）、微量比色池（容积为标准比色池的20%）、亚微量比色池和超微量比色池（微升容积），以及一次性比色池。半微量比色池可与Cary100/300/4000/5000/6000 多池支架和所有标准的单池支架配套使用。此外，可以与温度探头附件配合使用，监控比色池内的温度。 比色池以配对的形式出售，适用于大多数常规紫外-可见和紫外-可见-近红外分析。配对的比色池确保在空比色池或充水的情况下吸光度或者透过率读数相近。 当对低浓度样品进行测量时，如需要提高灵敏度，则长光程比色池是理想的选择。这些长光程比色池必须和长光程矩形比色池支架配套使用。比色池容积大比色池 大比色池是符合DIN 58963 的方形池，池内宽度大于5 mm，已成为光度测定中的标准样品池。最常用的一种大比色池外观为45 x 12.5 mm（高x 宽）样品池的长度取决于所需的光程。大比色池或标准比色池所有侧壁的壁厚几乎相同，适用于大多数液体的紫外-可见和紫外-可见-近红外测量。对于给定的光程，它们要求以最大样品量进行测量。半微量比色池 半微量比色池池内宽度为4 mm 至2 mm，底部厚度为9 mm。半微量比色池的侧壁更厚使其容积比同样光程长度的标准比色池少40%。只有当需要测量的样品量很小时，这种比色池的作用才会比较明显。黑色自屏蔽比色池按照检测孔大小分类。检测孔位于安捷伦Cary 8453 紫外-可见分光光度计合适的Z 轴高度上，需要指出的是8453 使用不同的Z 轴高度，因此要检查其兼容性。半微量比色池可与Cary100/300 和4000/5000/6000 多池支架和所有标准的单池支架配套使用。可以和温度探头附件一起使用，监控比色池内温度。半微量比色池带有容纳磁力搅拌棒的搅拌池，它适用于所有Cary 100/300 和4000/5000/6000 系列帕尔帖多池和单池温控池架。微量比色池 微量比色池侧壁更厚，使其容积减少到同样光程标准比色池的20%。这些微量比色池非常适用于测定体积有限的样品。超微量流通池 超微量比色池专门为测试微升级样品（通常最低可达5 至135 μL ）而设计。这些比色池可以用于任何标准比色池支架上，且具有所需样品量比标准比色池少得多的优势——因此它是分析高浓度样品，高吸收率溶剂或样品量极少时的理想选择。这些石英比色池提供低容量、短光程和卓越的热传导特性。它们具有理想的温度控制功能，除1 毫米光程比色池外，其它所有比色池都可以使用温度探头。黑色自屏蔽比色池按检测孔大小分类。比色池的设计可方便用移液管尖向这种比色池装入和吸出样品。带有Eppendorf 移液管填充/排空装置的超微比色池是为了可以处理极少量样品。当只有很少量样品时，需要加入这种比色池的溶剂只要略大于测量池的体积就可以了。订货信息：

红外专用模具是专为红外光谱仪配套的专用模具，主要对固体样品进行制样。 产品型号红外专用模具主要特点红外光谱仪上专用模具。 技术参数1、压杆材质：硬质合金抛光2、压杆尺寸：?13mm3、样品架尺寸：50mm×70mm4、最大压力：15T5、真空：可吸真空 操作说明1、压样：按图1顺序按装模具，将研细烘干后的试样粉末均匀地放入模具中，旋转压头使粉末均匀铺平（如需抽真空，则将模具外套及O型圈放好，用胶管将真空嘴与真空泵连接即可），然后把模具放在压片机工作台中心，旋紧压片机丝杠，加压即可。模具承受的最大压力为15T。2、退模：从压片机上取下模具，拿掉压头和外套，此时模内套会和模底或压头连在一起，只要将相连的两件在平板上轻轻震动几下，即可将样品连同内套一同取下。3、测试：测试时可将样品连同内套插入样品架中，一同放进红外仪的样品室进行测试。有些红外仪可直接将样品连同内套放进红外仪的样品室进行测试。4、模具保养：清除样品后用酒精将模具擦拭干净，将整套模具放入干燥皿中保存。

硒化锌固体液体池-适用于Thermo傅里叶红外光谱仪Nicolet 系列。固体液体池用于易挥发样品红外检测，其特点是快捷、方便。1、将被测样品吸入针管（医用注射器）2、打开固定池的两个塞子，将样品注入池内，将两个塞子插好备用 3、将装好样品的池子放到Thermo傅里叶红外光谱仪Nicolet IS5上进行检测4、溴化钾窗片以及氯化钠窗片极易潮解，在测试时被测液体将绝对不能含水，检测完后取下池子，打开两个塞子，吸出北测样品，然后用四氯化碳货二硫化碳和三氯甲烷进行置换清洗。干燥后放入装有硅胶密封容器内保存。如窗片潮解，不在公司三包范围内。

红外叶表面温度传感器，红外叶表面温度传感器，试剂，操作，说 明：1、基本参数说明：（在使用本传感器前必须先了解以下参数） 1）RTD温度信号输出： Vt (Td为转换后数字量) 2）RTD环境温度： Ta (单位为℃) 3）红外信号输出电压： Vo (Vd为转换后数字量) 4）红外物体温度： To (单位为℃)2、传感器类型参数： 1）电压型红外叶表面温度传感器： 供电电压范围：5～12V（7～24V供电时需定制，另外功耗将增加4mA） 输出电压信号：0～2.5V 理论测温范围：0～100℃ 平均功耗电流：0.45mA 注意：在此，测温范围与电压信号范围不是线性对应关系！ 2）电流型红外叶表面温度传感器： 供电电压范围：7～24V 输出电流信号：0～25mA 理论测温范围：0～100℃ 平均功耗电流：4～25mA 注意：在此，测温范围与电压信号范围不是线性对应关系！ 红外叶表面温度传感器，红外叶表面温度传感器，试剂，操作，说 明，功能及特点： .具备环境温度信号采集、输出功能； .采用集成性红外热电堆温度传感器； .测量精度较高，重复性、一致性较好； .采用环氧树脂封装，防水抗震性好； .电压输出式传感器具备低功耗特点。4、适用范围： .可广泛用环境、温室、实验室等的红外温度测量。

检测用红外热像仪配件MTI395是第三代热成像仪器，具有尖端的红外技术和高灵敏度红外探测器,NETD65mK，检测用红外热像仪是设备检测热像仪和维修检查热像仪的理想工具。 检测用红外热像仪配件MTI395特点 高度清晰的热图像和高精度温度测量2. 可折叠和270°可旋转显示器 单手操作的自动/机动焦点 温度测量范围宽 4. 激光笔 5. 明亮的LED灯 6. 直观和易于操作的菜单 7. 内置数码相机 8. 内置麦克风可录制40秒语音注释 9. 广角和长焦红外镜头 10. 可扩展的子母画面（P-I-P)和热融合 11. 自动热/冷/平均温度检测 12. 通过USB接口，实时将热视频传输到PC机，并通过MSN和Skype进行远程传输 13. 新一代IRSee分析软件 检测用红外热像仪配件MTI395应用 建立诊断 电气/机械检查 研究与开发 自动化应用 预防和预测性维护

厂家直销红外碳硫仪石英燃烧管用于红外碳硫分析中高频炉专用。高频红外碳硫分析仪特制专用性能特点◆耐高温 ◆ 耐腐蚀 ◆热稳定性好 ◆透光性能好 ◆绝缘性能好