涡流膜厚仪

电涡流位移传感器（以下简称传感器）能测量被测体（必须是金属导体）与探头端面的相对位置。由于其非接触测量、长期工作可靠性高、灵敏度高、抗干扰能力强、响应速度快、不受油水等介质的影响，常被用于对大型旋转机械的轴位移、轴振动、轴转速等参数进行长期实时监测，可以分析出设备的工作状况和故障原因，有效地对设备进行保护及进行预测性维修。可测量位移、振幅、转速、尺寸、厚度、表面不平度等。从转子动力学、轴承学的理论上分析，大型旋转机械的运行状态主要取决于其核心&mdash &mdash 转轴，而电涡流位移传感器能直接测量转轴的状态，测量结果可靠、可信。 第一节 简介 JX20系列电涡流位移传感器的领先科技： 1、&ldquo 线圈最佳温度稳定性参数匹配&rdquo 技术保证良好的探头温度稳定性； 2、采用新型PPS工程塑料通过&ldquo 二次注塑&rdquo 工艺，保证良好的探头密封性、尺寸稳定性和互换性，工作温度范围扩展到-50℃～+175℃； 3、&ldquo 变形联接&rdquo 工艺组合，更高探头强度、可靠性； 4、&ldquo 深度负反馈稳定谐振回路&rdquo 技术，使前置器稳定性达到(0.05%/℃,0.02%/年)； 5、按美国军用规范设计生产，前置器可在-50～+105℃环境下长期连续工作； 6、前置器电路采用容错设计，保证任意接线错误不会损坏； 7、前置器采用最新电子技术，功耗低于12mA； 8、前置器壳体采用压铸工艺、高频插座内凹及接线端子镶嵌保护、工程塑料隔离绝缘等结构，使前置器更加坚固、安装使用更加方便； 9、先进的电涡流位移传感器相频特性的测试和控制方法，使JX20系列产品在动态特性方面处于国际领先水平。 应用领域： 正广泛应用于电力、石油化工、冶金等行业的汽轮机、水轮机、发电机、鼓风机、压缩机、齿轮箱等设备的位移、振动、转速、油膜厚度等参数的在线监测与故障诊断。

特制涡流传感器经常需要对标准的涡流传感器进行修改，特别是修改小型和大型系列。因此，我们将根据您的具体要求修改测量系统，例如：修改电缆，传感器材料和设计，和修改控制器。比如，系统集成商经常要求带内有集成电子的微型箱的传感器，或是特殊的传感器设计。请联系我们，我们很高兴为您提供建议。特制涡流传感器可用选项修改底座距离和测量范围 传感器和控制器的外壳和安装选项 传感器耐压力高达2000bar 单独的电缆长度 微型设计的传感器 具有集成或独立电子元件的传感器 线圈、外壳和电路板的各种制造材料 与用户目的专门协调

涡流传感器eddyNCDT-3010的温度范围为-50℃至150℃，涡流传感器eddyNCDT-3010在环境温度波动情况下，稳定的输出信号对得到可靠的测量至关重要。 涡流传感器eddyNCDT-3010采用专利温度补偿法，可以提供一种独特的热稳定性。 涡流传感器eddyNCDT-3010规格 测量范围（mm）：0.5 | 1 | 2 | 3 | 6 | 15 最高分辨率0.025μm 最大线性0.00125mm 主动温度补偿 极高可重复性 OEMs的理想传感器 高分辨率

涡流传感器eddyNCDT-3700是多功能涡流传感系统，涡流传感器eddyNCDT-3700非常适合工厂工业生产中机器监视和检修，测量和测试等高分辨率位置检测应用。涡流传感器eddyNCDT-3700规格 测量范围（mm）：0.5 | 1 | 1.5 | 3 | 6 最高分辨率 0.09nm 最大线性0.0025mm 小型化设计 OEMs的理想传感器 可定制

涡流传感器eddyNCDT-3300是一个多功能涡流传感器系统，涡流传感器用于工厂自动化工业用，机器监测，检验以及测量和检验。一个影响传感器信号的新型现代化控制器已经出现，用户可以选购。 涡流传感器eddyNCDT-3300规格 测量范围Measuring ranges (mm):0.4 | 0.5 | 0.8 | 1 | 2 | 3 | 4 | 6 | 8 | 15 | 22 | 40 | 80 最高分辨率Resolution max. 0.02μm 最大线性Linearity max. 0.008mm 具有液晶图形显示器的多功能控制器 IP67 的强大的传感器 可存储配置多达3个 带宽高达100kHz 传感器适用于几乎所有应用

涡流传感器eddyNCDT-ECT的制造采用了ECT技术，使用时带来许多便利。由于涡流传感器eddyNCDT-ECT设计微型化，并且采用无机材料构造，所以传感器的外部设计和的形状可以是各种各样的。因此，电容（ECT）传感器可以很容易地调整，以适应特定的安装要求。涡流传感器eddyNCDT-ECT特点使用特殊材料，传感器具有高温稳定性和长使用寿命。可以根据需求将完整的评估电子装置集成在传感器。ECT传感器适用于非常恶劣的工作环境。在有强烈的振动或冲击，高温度高达350℃，在电磁场或在真空条件下的应用中使用。涡流传感器eddyNCDT-ECT应用巨型望远镜上的镜段对准 超高真空环境下制造半导体 测量造纸厂炼油机上的研磨间隙涡流传感器eddyNCDT-ECT可用选项超长期稳定性 温度过程再现性好 机械强度超高 高达350°C的高温 用于超高真空和洁净室 可以调节以满足客户的特殊要求

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MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围：0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率：0.1/1 5、测量面积不小于：6mm 6、基底不小于：0.3mm 7、自动关机 8、使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH 9、准确度：±(1～3%n)或±2um 10、电源：4节5号电池 11、电池电压指示：低电压提示 12、外形尺寸：161×69×32mm 13、重量：210g（不含电池） 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器）可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

产品介绍LG 流挂实验仪涂料在垂直面及窗孔、边缘和角落部施工时若超过一个临界厚度，在它未完全固化成膜时会由于本身重力而产生流挂成滴。不同体系配方设计有不同临界厚度，我公司提供的流挂测试仪按GB/T 9264《色漆流挂性的测定》有关规定设计，用于色漆相对流挂性的测定。主要技术参数由三个多凹槽刮涂器、底座、试板置放架组成；刮涂器能将待测试样刮成10条厚度的平行湿膜，湿膜宽度为6mm，条膜间距为1.5mm，相邻条膜厚度差25 μm；也可单独选择多凹槽刮涂器，一共有五种规格可供选择： 订购信息LGLGLGLGLG测量范围 50-275μm250-475μm450-675μm650-875μm450-1000μm

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

硫化仪、门尼和自动进样硫化仪 130mm 宽600mm长 23µ m厚 卷状尼龙薄膜硫化仪、门尼和自动进样硫化仪 130mm 宽600mm长 25µ m厚 卷状尼龙薄膜

WondaSil C8 Superb产品特点：● 适合常规分析使用● 均一粒径，低涡流扩散● 高性价比，高性能● 高理论塔板数 技尔（上海）商贸有限公司是由日本色谱耗材、分析仪器生产厂商GL Sciences在中国设立的全资子公司。我们秉承“以用户需求为先”的理念，将GL Sciences在色谱行业积累的经验与不断发展的进步科技相结合，为中国色谱行业用户提供解决方案与优质服务，让您的色谱分析工作更便捷、更高效。 GL Sciences扎根分析领域五十余年，旗下产品覆盖环境、医药、材料、食品、化工、生命科学等多个领域，可为客户提供分析中所需的各类仪器及耗材。

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

铜网厚碳支持膜主要用于在200kV或300kV的电镜下,观察纳米材料的形貌像。由于200kV以上电镜的电子束对样品的穿透能力强，同时对样品和支持膜的损伤程度也较大。碳支持膜的厚度需要更厚一些，以避免高强电子束对样品的损伤。同时，对于一些具有化学腐蚀的样品，推荐使用该产品。因此，厚碳支持膜在这个方面的应用具有明显优势。膜总厚度：15-30 nm 大包装100枚/盒。 中镜科仪200目、230目、300目、400目铜载网，中镜科仪生产，支持膜厚度15-30nm 。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度（nm)Thickness包装UnitBZ31022a铜200目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ310223a铜230目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ31023a铜300目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ31024a铜400目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒中包装50枚/盒。 中镜科仪200目、230目、300目、400目铜载网，中镜科仪生产，支持膜厚度15-30nm 。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度（nm)Thickness包装UnitBZ31022b铜200目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ310223b铜230目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ31023b铜300目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ31024b铜400目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒【存储】：室温避光干燥保存(建议放干燥器或者干燥箱内)、防污染、防震荡，存贮条件良好正常可保存1年左右。【使用注意】：取用时采用高精尖镊子小心操作，防止产生弯折等破坏。存在有机膜，不能与有机溶剂接触。面向样品盒有字母的一面是铺膜的一面。

StarCore系列色谱柱StarCore 系列色谱柱为核-壳结构色谱柱，主要特点为实心核表面覆盖一定厚度的多孔层结构。通过使用基于核-壳结构的硅胶颗粒，降低了速率理论中的涡流扩散项、纵向扩散项和传质阻力项，从而在颗粒尺寸不变的情况下实现了更高的柱效，可为难分离样品提供更好的分离度；同时，实心核的结构还可以明显降低色谱柱反压，让小粒径色谱柱可以更好的兼容常规液相色谱仪器，降低对仪器系统的要求，增强普适性。 StarCore系列色谱柱—您实验室分离分析的好伙伴！? 高柱效、低背压 ? 改善分离效果? 高流速，实现快速分析? 键合相种类齐全，满足检测需求应用实例StarCore C18StarCore C8StarCore Amide

StarCore系列色谱柱StarCore 系列色谱柱为核-壳结构色谱柱，主要特点为实心核表面覆盖一定厚度的多孔层结构。通过使用基于核-壳结构的硅胶颗粒，降低了速率理论中的涡流扩散项、纵向扩散项和传质阻力项，从而在颗粒尺寸不变的情况下实现了更高的柱效，可为难分离样品提供更好的分离度；同时，实心核的结构还可以明显降低色谱柱反压，让小粒径色谱柱可以更好的兼容常规液相色谱仪器，降低对仪器系统的要求，增强普适性。 StarCore系列色谱柱—您实验室分离分析的好伙伴！? 高柱效、低背压? 改善分离效果? 高流速，实现快速分析? 键合相种类齐全，满足检测需求应用实例StarCore Amide

详情WOGAO移液涂抹棒是现有的用于环境监控的最 佳选择之一，使用WOGAO移液涂抹棒能大大降低由于不同的操作人员，或是在配置不同批次的培养基时产生的差异，从而给您带来准确，具有一致性，可比性的测试结果，让您对生产设备以及生产工艺的实际微生物含量得到更具信心的结果。同时WOGAO便携式涂抹棒使用方便，无需预先准备培养基即可直接使用大大提高了劳动生产率。在使用中无需携带玻璃器皿，使您不必担心可能给生产设备引入额外的物理污染。此外WOGAO便携式涂抹棒方便携带，是您在实验室意外区域使用的选择。特点 可翻盖滴加，方便实用 有10毫升刻度的滴管设计，方便定量移液 人造纤维涂抹头，相比棉头微生物释放率显著提高 经辐照灭菌处理，可直接使用 涂抹头面积大，提高表面采样率 棉棒柔韧性好，多角度的表面涂抹 无菌稀释液，有效修复受损细菌 即时便捷采样，易于运输 符合HACCP,可携带到生产现场使用 订购信息 产品名称型号棉棒长度灭菌方法内容液 涂抹棒（NS）SS-B-10NS8cm钴60辐射灭菌生理盐水 涂抹棒（PBS）SS-B-10PBS8cm钴60辐射灭菌磷酸盐缓冲液 涂抹棒（BPW）SS-B-10BPW8cm钴60辐射灭菌缓冲蛋白胨水 涂抹棒（SN） SS-B-10SN 8cm 钴60辐射灭菌 硫代硫酸钠

WondaSil C18 Superb产品特点：● 适合常规分析使用● 均一粒径，低涡流扩散● 高性价比，高性能● 高理论塔板数 技尔（上海）商贸有限公司是由日本色谱耗材、分析仪器生产厂商GL Sciences在中国设立的全资子公司。我们秉承“以用户需求为先”的理念，将GL Sciences在色谱行业积累的经验与不断发展的进步科技相结合，为中国色谱行业用户提供解决方案与优质服务，让您的色谱分析工作更便捷、更高效。 GL Sciences扎根分析领域五十余年，旗下产品覆盖环境、医药、材料、食品、化工、生命科学等多个领域，可为客户提供分析中所需的各类仪器及耗材。

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

Intuvo 流路芯片是模块化的微流控组件，无需密封垫圈即可实现进样口、色谱柱和检测器间的连接，可在几分钟之内轻松完成更换。Intuvo 流路芯片包括经过第三代 Intuvo 超高惰性脱活处理的高纯硅流路通道，可确保形成惰性流路。 所有流路芯片均配有智能钥匙，可通过数字通讯自动实现系统配置，从而使 Intuvo 根据其即时配置设置方法参数。Intuvo 已掌握了整个流路的尺寸、流速和温度，因此无需复杂的流量计算器。 进样口流路芯片可实现从芯片式保护柱到色谱柱的直接连接。D1、D2 和 D2-MS 流路芯片分别实现从色谱柱到检测器 1、检测器 2 或质谱仪的连接。其余流路芯片将反吹和/或双色谱柱/检测器的分流等所有采用微板流路控制技术的复杂连接结合在一台设备中。检测器尾部流路芯片将色谱柱直接连接到特定检测器上。 产品仅适用于 Agilent Intuvo 9000 系统 高惰性熔融石英流路芯片能够快速实现您所需的连接 几分钟内即可轻松安装 消除臆测 — 通过智能钥匙实现自动系统配置 简化微板流路控制技术，如反吹或双检测器分流

其他仪器部件和备件说明部件号6890/7890 炉箱后部通风变流部件G1530-806506850 炉箱后部通风变流部件G2630-60710 6890/7890 气相色谱柱温箱插件G2646-60500

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

PosiTest DFT 测厚仪 以下行业使用效果理想 粉末涂料 涂装员 涂层检测员 涂装承包商 汽车修补行业 2种型号&hellip Ferrous (F型针对铁性基材) Combo(复合型针对所有金属基材) 就是测量 PosiTest DFT 涂层测厚仪 两款型号 PosiTest DFT Ferrous: 测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层 PosiTest DFT Combo: 测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层和有色金属(铜，铝等)上绝缘涂层。测量时自动分辩底材。 仪器特点 测量快速，重复性好 大部分材料上无需校准 调零功能可应用在粗糙不平的表面及曲面上 无法调零时可使用方便的重启功能 坚固耐磨损的红宝石探头 测量时听觉和视觉的双重指示 探头上的 V 型槽方便测量圆柱型表面 密尔 / 微米单位转换 每个仪器的背面都有基本的操作说明 仪器规格 测量范围 0 - 40 mils 0 - 1000 um 精 度 ± ( 0.1mils + 3%) ± ( 2um + 3%) 尺 寸 4 × 1.5 × 0.9 in 100 × 38 × 23mm 重 量 2.5 oz 70 g 仪器包括 内置探头，标准塑料片，坚固的存放盒，1 x AAA 电池，说明书 和 一年质保 符合以下标准： ISO2178 / 2360 / 2308 prEN ISO19840 ASTM B244 / B499 / B659 / D1186 / D1400 / E376 / G12 S3900-C5 SSPC-PA2 及其他。

车辆识别号码检验系统配件是全球领先的车辆识别码检测仪器,VIN码检验仪器，快速鉴别伪装涂改的车辆识别号码，快速识别被盗车辆，也可用于二手车辆交易中的被盗车辆。车辆识别号码检验系统配件特点采用计算机控制，采用USB3.0的手持式相机，手持式显微镜，油漆厚度测量，涡流检测系统等组成快速的车辆号码检测识别系统。采用特制VIN检测软件采用VIN检测软件,可以即时对车辆识别号码进行解码，提供有关世界上的生产厂家，车型，发动机型号，车型和序列号信息，快速评估车辆的原产地和合法性。车辆识别号码（VIN）是一种用于汽车行业，以确定个人的机动车，挂车，摩托车和轻便摩托车的唯一序列号。VIN由17个字符字母数字代码组成。不使用字母I和O，以避免与数字1和0混淆.VIN位于车辆的不同部位，基本的检测是看号码是否合法地标记在车身，以及每个VIN车牌数目之间的比较和一致性。VIN检测软件通过比较车的型号、制造商、序列号诸如此类，能够在几秒钟内识别并解码VIN，执法人员能够立即评估车辆是否为合法车辆。软件特点：VIN解码细节；世界生产商，车型，发动机类型，车型，序列号，用户友好型界面；自动生成报告，常规更新。车辆识别号码检验系统配件采用VIN重建软件VIN重建软件用于对VIN号码相机，手持式显微镜,油漆厚度装置获取的图像进行可视化和分析，通过图像分析和重建，这个软件可以评估VIN车牌是否以任何方式修改过，最后找回原车牌号码。覆盖，清除，拆除，更换，重新粉刷，抓痕等机械或化学方法可以用来修改VIN车牌号，作非法用途，这会阻碍刑事案件的跟踪。通过使用微型相机，手持式显微镜和铁漆测量装置检测图像，该图像分析软件即使不能恢复到原车牌号，至少能探测到VIN车牌进行了非法修改。像素的均匀性（图像分析）可以反应奇怪的，不一致的字符或车牌上使用了化学试剂，而测量涂料厚度则可以识别是否有涂层（覆盖和复写字符的情况下，厚度较大）或缺口，（当字符被机械式删除，划伤，或挫掉时，厚度较少）。在大多数情况下，通过这种分析可以获得原号码。当号码被很精细地修改时，该分析技术也能识别出车牌的修改，但需要与涡流测量装置结合使用，才能还原车牌原号码。车辆识别号码检验系统配件采用 VIN检测参考指南VIN检查系统工具包还有一个非常有用的参考指南，提供有关车辆识别号码的编码的更多信息，其中，有改变车牌号码的方法和如何使用此工具包来识别和评估非法修改的实例。采用检测装置2.1. VIN 像机这是一个变焦相机（可更换60倍，100倍和150倍物镜）拍摄车辆和VIN板的照片，之后通过USB或SD存储卡连接到PC上，软件对图片进行分析。有多重功能，如内置的LED照明和自动对焦，使画面在不同的范围，提供了研究微观主体的新方法。使用“完全可调照明”（8个内置白光LED）专利，VIN相机可以快速准确对焦。规格和工具包内容VIN相机模块包括。 NB-4L锂离子电池 佳能IXUS870平台0厘米工作距离和LED环形照明提供60X，100X和150X物镜相机的NB-5L锂离子电池锂离子电池的电池充电器2 GB和32 MB的SD卡乳胶接触环校准标签（2张30标签）2.2. 手持便携式显微镜工具包内包括一个手持便携式显微镜，用于特别小的和困难的VIN车牌检查。手持便携式显微镜重量轻，体积小，便于携带，可在现场使用，获得可以放大到200倍的高品质图像。有自配的可调LED环形灯对检测区域进行照明，不需要额外光源。这种显微镜只需要通过USB连接到PC，使用非常容易。特点： 可调焦距，放大倍率：5X - 200X@17“监测全屏视图，光学格式：1/3“CMOS传感器（4：3）视场：最小：2.35mmx1.75mm@17mm工作距离（200x-2.8微米/像素）（每平方毫米0.48632MP）最大：100mmx 10076mm@ 300mm的工作距离（5×） 图像传感器：200万像素视频采集分辨率1600x1200,1280x960,640x480颜色：24位RGB或YUV或MJPG镜头：高精度显微镜镜头聚焦范围：手动8mm至300mm白平衡：自动/曝光时间：自动光源：集成可调的LED环形照明灯长度：122mm/直径：36mm输出：USB-模式：USB流媒体视频电源：USB端口的DC5V2.3. 涂料厚度测量装置（铁）和涡流分析仪它是一种手持式，电子测量仪，对所有金属上的涂层进行快速准确的非破坏性的厚度测量。操作原理是，将测量涂层厚度两个探针和涡流分析结合：F-探针使用磁原理来测量铁类金属上的无磁性涂层厚度，N-探针使用涡电流原则来测量有色金属上的非导电涂层厚度。该电子测量仪非常小型，对VIN车牌上的涂层进行手持式便携分析，无论检查材料的本性质，是磁性/非磁性，导电/非导通，铁/非铁材料的，都能分析该电子测量仪特别适用于：粉末涂层， 漆膜应用， 膜和胶贴， 金属支架上的压痕，划痕，挫痕和楔形。特点：快速，可重复的测量，最需要的应用程序无需校准，ZERO功能用于粗糙面或曲面，没有零基准可用时，有方便的RESET功能，坚固，耐磨，红宝石尖探头，独特的翻转显示，可以右侧向上观看，置于任何位置，声音和可视测量指示，探头有V型槽，对圆柱形零件定位， 密耳/微米可转换单元，每个计的背面都有基本说明，内置腕带，使用更加方便和安全，保修2年车辆识别号码检验系统配件规格： 操作系统 正版Windows® 7家庭高级版 快速开机。此版本包含所有产品更新（SP1) 显示屏 12.1“LED背光高清（HD）（1366×768）屏幕 CPU 英特尔® 凌动™ D525（双核，1.8GHz的）处理器 芯片组 英特尔® NM10高速芯片组 记忆 DDR3，1个SO-DIMM，1GB/2GB / 4GB（最大4GB） 存储 2.5“SATA250GB/320GB硬盘，500GB 无线数据网络 WLAN 802.11 b/g/n@2.4GHz*1 蓝牙V3.0（可选） 摄像机 130万像素摄像头 音频 高清晰度音频解码器，立体声扬声器，高品质麦克风 接口 1 x VGA 连接口 1 x USB 2.0 2 x USB 3.0 1 x LAN RJ-45 1 x HDMI 2个音频插孔（耳机/麦克风输入） 1个读卡器：SD / SDHC/ SDXC/ MMC 电池 6块2.6Ah（57.72Wh）锂离子电池 尺寸大小 297 x 204 x 28.67 mm （宽×深×高） 重量 1.5 Kgs（W /6块电池） 颜色 亮光；黑色；白色

超声波测厚仪DM4 Krautkramer超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4测厚仪和DM4DL测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 基本型-DM4E超声波测厚仪 - 可配标准、超厚、超薄和高温探头 - 自动探头识别、V声程校正、零位校正 - 带最小读数显示和存储的最小测量模式 标准型-DM4超声波测厚仪 在DM4E测厚仪基础上附加以下功能 - 穿过涂层测量厚度的操作模式 - 在不同模式的壁厚测量 - 极值LED报警 存储型-DM4DL超声波测厚仪 在DM4测厚仪基础上附加以下功能 - 数据记录仪可存储5390个数据 - RS232接口可接打印机和计算机 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL技术参数 测量范围 分辨率 声速 测量刷新速率 显示 存储 接口 电源 操作温度 尺寸 重量 0.6～300mm(铁) 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 1000～9999m/s 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 4位LCD背光数显 5390个读数(只适用于DM4DL) RS232接口(只适用于DM4DL) 两节5号电池，无背光时可使用200小时 -10～50℃ 146x76x34mm 255g 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL常用探头技术数据 名称 型号 测量范围 频率 探头接 触直径 工作温度 测量最小 钢管直径 探头线型号 标准探头 DA301 1.2～200mm 5MHz 12.1mm -20～60℃ 25mm DA231 超厚探头 DA303 5.0～300mm 2MHz 16.2mm -20～60℃ 127mm DA231 超薄探头 DA312 0.6～50mm 10MHz 7.5mm -20～60℃ 20mm DA235 超薄探头 DA312B16 0.7～12mm 10MHz 3.0mm -20～60℃ 15mm 自带导线 高温探头 DA305 4.0～60mm 5MHz 16.2mm 10～600℃ DA235 高温探头 HT400 1.0～254mm 5MHz 12.7mm 10～540℃ 50mm KBA535 注： 所示温度为厂家理想状态试验所得，实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。 测试高温表面时需用高温耦合剂。 标准配置 主机 DA301探头 DA231导线 耦合剂 两节5号电池 仪器软包 中英文说明书 仪器箱

上海新诺 防开裂加宽模具 冷压加厚模具 粉末制样模具 压片机配件模具概述： 防开裂加厚加宽圆柱形模具，，适用于使用压力较大的用户。常用模具压片尺寸：Ф3-Ф20mm；其它特殊模具尺寸、规格、形状、材质等可根据客户需求定做。本公司商品信息均来自于厂商提供资料、网页、宣传册等，质量可靠，保证正品！但由于新广告法规定不得出现绝对化和功能性描述用词，以及写有没写号或已过期等情况，我司已在逐步排查和修改完善。也欢迎用户协助反馈，我司将赠送精美小礼品一份。并在此郑重表态：我司所有页面存在的极限词或违禁词全部失效，不接受不妥协以任何形式的“打假名义”进行网络欺诈，请为真正的消费者让路，也请各位职业“打假高手”高抬贵手。