吸收荧光仪

关于举办《紫外可见分光光度计、原子吸收光谱仪、X射线荧光分析仪》 学术交流会邀请函 随着加入WTO与国际接轨，新的要求、新的标准给仪器应用带来了更广泛的领域，同时，随着科技的发展、市场的繁荣给分析工作带来了新的仪器、新的技术。为更进一步了解仪器的原理性能，使现有的资金——购置最适用的设备；使现有的设备——发挥最出色的作用，北京普析通用仪器有限责任公司特举办此交流会，并邀请专家授课。现将有关事宜通知如下： 一、日期：2006年4月26日 二、讲课内容及时间安排： l 上午8：45－11：45介绍讲解 李昌厚教授专程主讲 紫外可见分光光度计部分 1． 目前国内、外紫外可见分光光度计仪器及应用的最新进展。 2． 紫外可见分光光度计的主要性能指标（定义、测试方法、对分析误差的影响、应用上的重要性）。 3． 如何评价（挑选）紫外可见分光光度计使之适用于本职的分析工作。 4． 如何使用好紫外可见分光光度计的关键问题。 l 下午1：00－2：30介绍讲解 李昌厚教授专程主讲 原子吸收分光光度计部分 1． 目前国内、外原子吸收分光光度计仪器及应用的最新进展。 2． 原子吸收光谱仪的主要性能指标（定义、测试方法、对分析误差的影响、应用上的重要性。） 3． 如何比较一台原子吸收光谱仪的功能，它给分析工作带来的优越性是什么？ 4． 如何选择原子吸收光谱仪的最佳分析条件，及提高灵敏度的方法。 l 下午2：30－4：00介绍讲解 田宇纮教授专程主讲 X射线荧光分析仪部分 全反射X射线荧光(TXRF)分析技术是近年才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF可以大大提高能量分辨率和灵敏度。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段、在原子谱仪领域内处于领先地位。本讲座将要介绍的就是X射线荧光分析仪在材料分析中的应用技术与最新的发展情况。 三、 原吸紫外主讲人： 李昌厚教授 中国分析仪器学会副理事长 中国光学仪器学会　物理光学仪器专业委员会　副主任 中国国家技术监督局　国家级计量认证评审员 中国科学院上海生物工程研究中心 仪器分析室主任、研究员、博士生导师：李昌厚教授专程主讲 X射线荧光分析仪主讲人： 田宇纮教授 中国科学院近代物理研究所 教授 X射线荧光分析仪设计与制造 专家 四、 会议地点： 唐山饭店 多功能厅 唐山市建设南路46号(唐山市百货大楼对面) 报名联系人：孟令红 田凤 电话：13383059598 0311-86050158 五、 本次研讨会免费听取，并提供中午工作餐。 六、 到场请认真填写《会议信息反馈表》，及时交到会务组，凭此领取礼品。 七、 为提高听课质量，敬请与会者在主讲人授课时间保持手机安静。 八、 乘车路线：唐山市火车站汽车站坐车到唐山市百货大楼对面。车程十五分钟。 注：具体讲课时间以4月26日当天的研讨会现场安排为准，如有变动不另行通知。 北京普析通用仪器有限责任公司河北联络处 2006年4月12日 参　会　回　执 单位全称： 部门（科、室）： 通讯地址： 邮　　　　编： 参会人数： 电　　　　话： 参会人员姓名： 联 系 电 话： 其他要求： 注：因会场空间有限，名额仅限150人。请参会人员及时准确填写回执。并请传真至0311-86050158-810。凭此回执参加研讨会。 另：如不方便发传真，也可电话及邮件报名 报名联系人：田凤 联系电话：0311-86050158 E-mail:hebeioffice@pgeneral.com

由仪器信息网主办的第三届&ldquo iCS光谱网络会议（iConference on Spectroscopy，iCS2014 ）&rdquo 今日进行了X射线荧光（XRF）专场和原子吸收光谱（AAS）专场的会议。会议报名持续火爆，两场会议的报名人数再次超越千人大关，出席人数近五成。 上午主题是X射线荧光（XRF）专场，中国科学院地球环境研究所的徐红梅博士代表曹军骥 研究员做了《能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）在测试大气气溶胶样品中的应用》的报告，中检南方邓春涛老师根据自己多年工作经验也为大家详述XRF在电子产品检测领域的应用，来自赛默飞世尔科技的吕勇老师则介绍了赛默飞世尔XRF产品在汽车尾气三元催化和板材涂层方面的最新应用和技术。 下午主题为原子吸收光谱（AAS）专场，共有3位专家为网友做精彩报告。做报告的专家依次为中国广州分析测试中心舒永红研究员、北京市环境保护监测中心徐子优 高工、中国环境监测总站梁宵老师，三位专家分别从食品、环境等角度解析了相关领域的原子吸收（AAS）进展。 今日，原子吸收光谱（AAS）专场报告人中国环境监测总站梁宵老师专程来到仪器信息网会议现场为网友做报告。 中国环境监测总站 梁宵 明天，将进行第三届&ldquo iCS光谱网络会议（iConference on Spectroscopy，iCS2014 ）&rdquo 的原子光谱技术展望专场。这个专场承载着原子光谱人对他们倾心的领域&mdash &mdash 原子光谱未来的展望，也承载我们对下一届iCS光谱网络会议的共同期待。 本次专场邀请到四川大学分析仪器研究中心段忆翔教授和复旦大学卢宏亮老师为大家讲述原子光谱领域的新技术LIBS和辉光放电光谱技术，精彩内容欢迎用户抓紧最后的机会报名参与。 报名地址：http://www.instrument.com.cn/webinar/ics2014/sche.aspx#rd 具体报告列表如下： 原子光谱的希望之星&mdash LIBS技术的现状与展望 段忆翔 教授 四川大学分析仪器研究中心 辉光放电光谱仪在半导体领域的应用 卢宏亮 复旦大学 微电子系

p 　　 strong 仪器信息网讯 /strong 2018年10月31日，第九届慕尼黑上海分析生化展(analytica China 2018)于上海新国际博览中心盛大召开。本届展会规模空前，近1,000家行业先锋企业齐聚一堂，展示尖端科技，解析热点话题，引领行业新高度。同时也吸引近30000名实验室研究和应用领域的专业观众云聚于此，共享分析生化领域两年一度的饕餮盛宴。 /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201811/uepic/dde426f5-5205-4f7e-b60f-9ef505564899.jpg" title=" 000.jpg" alt=" 000.jpg" / /p p style=" text-align: center " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 视频采访现场（从左至右：HORIBA科学仪器事业部部的全球荧光产品经理Cary Joseph Davies、中国区总经理濮玉梅、技术支持工程师周延民） /span /p p 　　作为具有世界先进水平的分析仪器系统及系列产品供应商，HORIBA集团再次亮相analytica China 2018，并在展会发布多款重磅仪器新品。仪器信息网编辑在HORIBA展位现场，有幸视频采访了HORIBA科学仪器事业部的全球荧光产品经理Cary Joseph Davies、中国区总经理濮玉梅、技术支持工程师周延民，分别请三位对发布的Duetta荧光及吸收光谱仪、X射线荧光分析仪XGT-9000等新品特点、市场定位、荧光光谱仪的技术发展趋势等进行了一一介绍。 /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201811/uepic/4060b5ee-359d-4b85-8599-14eb553f56d9.jpg" title=" 0001.png" alt=" 0001.png" / /p p style=" text-align: center " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 此次发布的新品：Duetta荧光及吸收光谱仪(左)，X射线荧光分析仪 XGT-9000(右) /span /p p 　　首先，Cary Joseph Davies介绍了新品Duetta荧光及吸收光谱仪的产品特点，该产品实现了更佳的光谱仪理念，实现荧光与吸收光谱“合二为一”，具有一台光谱同时完成荧光和吸收光谱采集、瞬间获得荧光光谱、高灵敏度、智能触屏操作等特点。至2018年年初上市以来，已经获得业内人士和用户的广泛关注和咨询。同时，还介绍了该产品的产品定位、“二合一”设计契机、应用领域等。 /p script src=" https://p.bokecc.com/player?vid=78E1F62B1D13B6A69C33DC5901307461& siteid=D9180EE599D5BD46& autoStart=false& width=600& height=490& playerid=621F7722C6B7BD4E& playertype=1" type=" text/javascript" /script p 　　接着，濮玉梅补充道，由于Duetta标配的超快先进CCD技术，大大改进了以往荧光光谱单道PMT测谱慢的弊病，一次取谱测试时间缩减至100毫秒以下。同时，CCD技术也使得近红外测试可以一次取谱，这些新的改进都极大促进了研究应用的快速、便捷。同时，HORIBA以往产品技术更加专注和擅长于高端科学研究领域，而此次Duetta更快捷测试技术、外观更小巧设计等也使该产品从科学研究领域向分析测试、工业应用市场的拓展成为可能，分析测试、工业领域等未来潜力市场也将得到HORIBA的重点关注。 /p p 　　最后，周延民还介绍了另外一款新品——X射线荧光分析仪XGT-9000，该产品延续了HORIBA产品分析微小部的优势，非常适用于胶片、食品、药品、电池隔膜等异物分析以及电子元件和电路板中包含的异物及故障分析。可同时取得清晰的光学图像， X射线荧光图像和X射线透视图像 且通过提高X射线光束的强度提高了XGT-9000的灵敏度和成像速度 另外利用图像解析功能分析异物，XGT-9000可以检测出原始数据所得不到的异物的位置。 /p