稀土分析仪

K-7000稀土元素分析仪主要用途: 手持式矿石分析仪秉承科迈斯多年的手持式X荧光光谱仪研发经验，科迈斯K-7000手持矿石分析仪引入数字多道技术，使检出限更低、稳定性更高、适用面更广，性能媲美台式机；小巧便携的体积在探矿、找矿以及各类地址矿样多种元素的检测和分析、矿渣精炼分析中充分发挥作用，使探矿工作变得简单、轻松。K-7000手持矿石分析仪可以用来对各种不同类型的矿石进行现场分析。测试过程对样品要求低，但是测试结果准确 能准确分析高浓度样品，避免了验证性的实验室测试。科迈斯KMX-RAY手持式光谱分析仪可实时提供含有稀土元素(REE)的地质样品的数据。这17种稀土元素对绿色能源和几乎所有行业的生产都至关重要，促进了在国内生产更多这些金属的需求。因此，实时识别这些材料具有很大的市场价值。K-7000手持式光谱分析仪具有出色的检出限，可检测许多可量化的稀土元素，可在现场有效地勘探和识别稀土元素。K-7000手持式XRF软件可以检测一些稀土元素:镧(La)、铈(Ce)、镨(Pr)、钕(Nd)、钪(Sc)、钇(Y) ，以及一些靠近稀土元素的元素:钍(Th)、铀(U)、铯(Cs)和钡(Ba)。K-7000在检测各种矿石样品(包括氟碳酸盐和次生磷酸盐)时，表现出非常高的性能。氟碳酸盐通常是氟碳铈矿石，可提供钇、铈和镧 而磷酸盐通常是独居石，不仅含有镧、铈、错和钕，还含有较重的稀土元素钐和钆，以及放射性较弱的钍。K-7000对关键元素的稳定性及检测极限变得更低，特别是稀土元素。因为传统40KV电压的XRF用L线可以完成大多数稀土元素的检测L线会受到很多普通元素严重干扰，而50千伏仪器则可以直接测试稀土元素的K线，测试结果更加可靠准确。K-7000规格表主要配置1矿石分析仪主机1套:2标准样品1个 3原装可充电锂电池2块 4充电座及电源线 5U盘(32G)1个 6加强型聚丙烯膜5片 7标准手提防潮防震箱一只。标配模式矿石模式 选配模式:合金分析模式、土壤分析模式自诊断功能仪器可自动对硬件、软件、网络、电池等进行诊断，并会生成日志，便于快速排查出故障操作系统Window CE 6.0操作系统，安全、放心测试方法基本参数法，支持经验系数法修正点触或扣动扳机控制测试开始，测试过程无需长扣扳机。根据客户需求，也可以一直按着扳机测试样品。滤光片配置8个滤光片，可根据测试元素自动切换:激发源大功率微型直板X射线管，W靶材，4W大功率X射线管，管电压50KV，电流最大可达100μA 采用KMX技术，更高X射线计数率，超低电子噪声设计。每次测试前，不需要外部标样，自动能量校准核查 探测器美国Moxtek Si-pin (6 mm2)180ev检测元素38个标准元素:La,Ce, Pr，Nd, Sm， Eu, Gd，Y，Ti，V，Cr，Mn, Fe，Co, Ni，Cu，Zn，As, Se, Sr，Rb, Zr，Nb，Mo，Te, Ag，Cd，Sn，Sb，Ba， Ta，W，Au， Hg，TI，Pb，Bi，U。根据用户需求添加其它元素。K-7000性能优势1、X射线管光源、多光束过滤技术、以及惠普个人数位助理技术(惠普掌上型电脑)，从而使其采测范围、检测速度、检测精度都非常出色，并具有极好的升级潜力。2、使用了先进的和多用途的x射线资料模式采用康普顿常态化校正方法，可以利用“内部标准”来进行定量分析，而不需要进行专门的校正。3、基本参数分析:采用半定量分析方式，适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。4、实验校正法:利用“校正曲线”进行校正，允许使用用户产生的校正曲线。5、配备了光谱高点识别软体，可在显示幕查看光谱6、对比光谱，参考内置标准完成比较分析。

SciAps X系列 XRF 是专为现场金属材料分析，野外矿物元素分析及土壤重金属分析而研发的一款手持元素分析设备，采用的X射线荧光技术，分析速度快，结果准确，操作简单，整体设计适用野外高温，雨淋，多尘等多变的作业环境。具有以下特点：分析速度快且精度高X系列XRF 分析仪是美国Don Sackett 博士所带领的团队继 XT, Alpha, Omega, Delta系列XRF元素分析之后的研发第5代手持XRF分析仪器；采用了新进的硬件及软件.体积小，轻便便于携带便携X射线分析仪器的使用者希望新一代的X射线分析仪器更小更轻。将用户的需求和我们数10年积累的XRF知识结合，轻，，分析速度更快，分析效率更高的手持式X射线分析仪器X系列问世了。重约1.34斤。高清显示技术采用术显示屏，结果在所有光照条件下都清晰可见质量好，耐用 独特不锈钢防护罩，SciAps X 分析仪采用工业级双层探测器保护技术，极大的降低了X分析仪损坏的风险，降低了后期拥有成本。操作简单，兼容性好的操作平台SciAps X 系列分析仪与手机一样运行安卓系统，操作简单，兼容性好，可以通过蓝牙或无线与电脑及打印机连接，分享与打印测试结果。SciAps XRF X-555 软件特点及应用软件特点：与X 系列的其它仪器相比，SciAps X-550 采用一种新的X射线管及全新的分析方法，该方法将现场材料分析的速度又提高了一个档次，且一步降低了贵金属元素的检测限值。卓越的性能始于的手持式XRF技术，由55千伏X射线管引领，可对银、镉、锡、锑和钡等关键元素实现超低检测限。从Mg到U，多达三个自动光束设置在整个周期表中提供性能。所有这些都在一个坚固的仪器中，配备的软件和出色的散热性能。主要应用：采矿一流的轻元素性能，可实现镁、铝、硅、磷和硫等元素的超低检测限，同时还具有足够的功率，可在探路者Ag、Sn、Sb和稀土元素等重元素上实现令人印象深刻的精度，再加上稀土元素检测功能，构成采矿的工具。 可以立即对露天矿场的爆破孔样本进行即时筛查，从而减少了对矿场实验室的依赖。 实验室测试分析前对样本进行预筛选，以最大程度地提高实验室检测效率。 辨别矿化趋向及异常现象，定义钻孔位置，扩展土壤样本的勘察边界。 采用适当抽样方法，提高对地下矿石品位的控制能力。 矿石品位和过程控制 及时分析矿样元素及含量，对矿石交易价格提供理论依据 对储矿堆材料的分析有助于制造厂的配料和给料操作。 对进料、沉淀物、精矿及尾料进行实时分析。 分析精矿和金条中的杂质元素。 在铜厂和贵金属厂中，作为液体比重测定过程的一部分，对废液进行检测环境土壤XRF质量保证与质量控制（QA/QC）在金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制（QA/QC）是必不可少的，混料或使用不合格材料必给企业带来损失。SciAps 便携式XRF 合金分析仪被广泛用于从小型金属材料加工厂到大型的机械制造商的各种制造业，已成为质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的首选仪器。稀土地质调查，矿产普查与勘探SciAps X系列分析仪的机身设计坚固耐用，性能稳定，精度高，可以在各种艰苦条件下正常操作，是野外探矿及矿区现场品位分析不可或缺的设备。 支持野外目标区域现场，大范围，大量采样测样，获取该区域岩石、碎片、土壤、沉积物等定性化学成份及定量性数据结果，结合GPS 功能和专业软件，绘制目标区域元素含量分布图，为目标区域矿产资源预测、勘查、评价及开发利用提供第一手的地化信息。 为矿权交易，分配勘探的预算经费提供第一手的地化信息。油气勘探现场检测钻机取出的各类样品，即时给出样品种元素的种类及含量，帮助地质专家及工程师及时判断需钻孔的位置，深度，在泥浆录井，高级勘探与钻井等等领域应用广泛环境治理和治理可以使用X系列分析仪，分析仍在使用和已经关闭的矿场（山）或附近场地的土壤、沉积物、灰尘、尾矿中的元素及含量，为环境监控治理提供数据依据。各环监部门可使用X系列分析仪快速检测目前区域法规规定需控制的金属元素重量及含量，收集并归档环境监控的量化记录。地矿相关专业学术科研与教育X系列分析有助于完成大学校园内实验室中进行的实验，支持本科生和研究生完成科研项目，并在日常的教学活动中，帮助地矿相关专业教师完成教学任务。由于X系列分析XRF分析仪可以迅速提供结果，因此不仅可以帮助学生们了解现代分析方式，辨别各种样本，而且还可以加深学生们对矿物沉积以及与矿床研究相关的矿石成因等知识的了解。 X555系列分析的优势2018年X系列分析经过多品牌性能评估，多层级筛选比较, 成功入围美国各大石油公司及其检测单位采购名录，产品具有以下优势：1. X系列发布时间2018年3月，是目前市面上新款手持XRF分析仪，拥有的运算方法和技术的元器件，体积更小，重量更轻2. 2秒就可以出测试结果，目前市面上畅销的仪器均为10年左右研发的产品，速度相对比较慢，需10-15秒才能完成一个样品测试；因此一台X系列分析仪的效率约等于5-7台畅销仪器效率3. 在检测量一定的情况下，因X射线管理论寿命已固定，X系列分析仪单个样品分析时间缩短，所以X射线管使用时间延长，X分析仪后期拥有成本变低。关键元素的稳定性及检测极限变得更低，特别是稀土元素。因为传统40KV电压的XRF用L线可以完成大多数稀土元素的检测L线会受到很多普通元素严重干扰，而55千伏仪器则可以直接测试稀土元素的K线，测试结果更加可靠准确。SciAps X-555分析仪技术规格尺寸与重量外形尺寸：184x114x267mm；重量=1.35KG（带电池2.98磅）环境要求-12℃到55℃★激发源★探测器25mm2SDD探测器（有效面积）应用矿石成分分析X射线过滤多位置滤波器， 优化光束分析范围38个标准元素: La, Ce, Pr, Nd, Sm Eu, Gd, Y, Ti, V, Cr, Mn,Fe, Co, Ni,Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, Te, Ag, Cd, Sn,Sb, Ba, Ta, W, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, U。可根据用户需求添加其它元素。可根据用户要求添加。★显示器2.7英寸彩色电容触摸屏- 400MHz高通Adreno 3062D/3D图形加速器★通讯/数据传输同过Wifi，蓝牙，USB连接到打印机，手机，PC电脑等 设备。处理器CPU1.2GHz Quad ARM Cortex A53 64/32-bit, 随机存储：2GB LPDDR3,存储16GB eMMC脉冲处理器数字化率在80 MSPS 8K通道MCA USB 2.0，用于高速传输数据到主机处理器。数字滤波在FPGA中实现的高通量脉冲处理20ns - 24us的峰值时间。电源可内置充电锂离子电池，换电池时不需要关机；客户可根据需要直接连外接交流电源供电。校准和牌号基本参数法。支持经验系数法修正校准检验外置316不锈钢用于校准验证和能量验证安全双重密码保护，使用时输入密码（用户级）和仪器内部设置密码（管理员）法规CE, RoHS, USFDA 注册, 加拿大 RED 法规

英飞思科学Compass200-便携式 XRF土壤元素光谱分析仪随身携带的便携式元素分析仪具有快速、简单的报告和证书生成的无损元素分析坚固的工业设计，适用于几乎任何天气条件、现场环境实时、精确的土壤和矿物质现场元素分析背景介绍在具有潜在铅污染的住宅区收集的土壤样品通常使用火焰原子吸收光谱法 (FAAS) 或其他实验室方法进行分析。以前的工作表明，现场便携式 X 射线荧光 (XRF) 分析能够检测土壤铅含量，与 FAAS 在实验室中筛选到小于 125 μm 的样品中检测到的含量相当。如果可以开发一种不需要实验室消解和分析的实用现场方法，将会节省大量的经济和实验室报告时间。 XRF 方法还将提供即时结果，与传统实验室方法相比，这将有助于更快地向居民和其他相关方提供信息在风险表征、评估和管理中，通常需要现场便携式方法来快速确定环境样品中的金属浓度。示例用于确定：土壤污染的“热点”、擦拭灰尘的铅含量是否符合住房入住标准以及工人呼吸防护等级。 30 多年来，便携式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪一直可用于原位无损测量涂料中的铅。最近的进展使其可用于分析空气中的灰尘过滤器样品、土壤和灰尘擦拭物XRF 方法可以通过最少的样品制备对土壤进行有效的定量元素分析。特征：最少的样品制备：非常适合原位测试快速定性和定量分析与其他分析技术（ICP、WDXRF）相比，获取成本更低多功能解决方案：许多系统以最高的精度执行各种地质测试可实现微量元素分析先进的数据管理系统，具有灵活的多种数据传输方式，包括USB线连接、存储卡、Wi-Fi和蓝牙。Compass 200能量色散X射线荧光（EDXRF）光谱仪实现了快速、准确分析土壤中的有害金属元素Pb（铅），As（砷），Cd（镉），Hg（汞），Cu（铜），Ni（镍），Zn（锌），Cr（铬）等，能够实时现场对厂区、矿区、重工业区周边的环境进行监测，从而进行控制排放和污染治理。Compass 200光谱仪能同时检测钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、锆、铌、钼、钯、银、铟、锡、锑、钨 、铂、金、铅、 铋、硫等元素，基本涵盖了土壤样品测试的无机元素项目，并且可以根据客户需求进行定制再增加元素。操作人员可以直接用Compass 200来分析现场的土壤样品，可通过采样，以袋装样品或者装入仪器标配的样品杯进行测试，在短时间内就可以取得和实验室同样的分析效果。特点和优势&bull 便携，坚固，紧凑的设计，轻松实现现场高精度样品无损检测&bull 友好的软件界面和一键式启动测试&bull 常规分析培训只需几分钟&bull 大型8英寸触摸屏上显示的直观界面&bull 可选配大容量电池，无需外部供电情况下可实现长时间工作应用领域土壤重金属普查，筛查可对含铅涂料进行检测可对过滤介质进行金属检测可用于检测经过铬化砷酸铜处理的木材、其他建筑材料、以及它们的碎层环境重金属污染分析矿产矿石分析：铜矿，铬矿，钼矿，钨矿，钽矿，铁矿，铅锌矿，稀土，锰矿，镍矿，贵金属矿产等食品，化妆品和药品重金属测试催化剂中贵金属元素铂钯铑分析技术参数探测器高分辨率SDD检测器激发源4瓦微型一体化光管50kv Max，200uA Max工作温度-20 to 50°C测量时间30-200秒（用户可自定义测试时间）样品类型液体，固体和粉末仪器校准开机自动校准元素分析范围Mg12-U92镁到铀可分析含量范围1ppm- 99.99%标定曲线环境土壤仪器尺寸270mm*320mm*230mm(长*宽*高)仪器重量9.4kg显示屏(分辨率1280*800)8英寸 Win10操作系统数据传输USB Port, 蓝牙, Wi-Fi, GPS安全防护辐射指示灯内置射线保护装置(自动切断)软件警示报告格式Excel, PDF配件及耗材样品杯测试薄膜土壤专用测试杯取样勺测试窗口专用薄膜可选配件电池：连续工作八小时压片机干燥箱磨样机150目筛子无需每日校准即可获得高精度结果。自带工厂标定曲线，客户可直接测量样品Compass 200土壤重复性测试含量单位:mg/kg测试时间:200秒样品类型：土壤国家标样测量次数标定曲线V钒Cr铬Co钴Ni镍Cu铜Zn锌As砷Pb铅Cd镉1Soil96.264.616.020.526.0695.154.3116.35.02Soil96.067.516.325.428.1688.852.1118.44.43Soil99.069.316.323.629.2683.755.5116.74.94Soil96.163.616.421.728.1692.154.5119.14.75Soil98.666.416.328.025.2689.851.5118.84.56Soil93.866.116.329.022.5683.655.1117.43.77Soil96.070.416.723.730.5692.556.6120.04.48Soil97.763.516.527.326.0685.952.5116.43.99Soil97.465.916.624.931.3697.754.3118.73.410Soil99.874.416.622.126.6686.855.3118.23.611Soil97.366.916.522.026.5682.256.4116.95.7平均值97.167.216.424.427.3688.954.4117.94.4标准偏差Sn1.613.070.182.672.394.791.621.180.64相对标准偏差RSD1.655%4.567%1.082%10.961%8.754%0.695%2.972%0.997%14.655%我们提供全方位的技术支持，帮助您保持仪器正常运行我们的服务包括工厂工程师的现场安装和服务进行深入的培训和技术支持远程诊断通过互联网提供在线支持，以快速响应您的问题预防性维护确保分析仪长期稳定正常工作终身免费软件升级保证用户始终使用最新版本程序耗材和配件从样品制备到校准标样典型应用：土壤测试/环境分析 有害物质鉴定，EPA 方法 6200矿石分析和采矿应用 贵金属检测、稀土分析地质样品中的氧化物分析矿物和矿物产品应用什么是 XRF能量色散荧光光谱仪？X 射线荧光光谱使用高能光子（X 射线）轰击原子并激发围绕原子运行的电子。其中一些光子有足够的能量射出一个与原子核结合的电子。当内轨道电子从原子中射出，来自更高能量轨道的电子将转移到低能轨道。在这个转变过程中，光子（X 射线）可能从原子发射。这个过程被称为荧光，发射的 X 射线从原子将是该特定元素的特征。能量（因此光子的波长）将是电子的两个轨道之间的差异进行过渡。由于两个特定轨道之间的能量差异，在一个给定的元素，总是相同的，那么从特定元素发出的光子（X 射线）元素将始终具有相同的能量。Compass200-Porable XRF Soil AnalyzerSimply theBest Your Portable Element Analyzer that goes anywhereNon-destructiveelement analysis with fast, simple reporting and certificate generationRobust industrial design for nearly any weather condition, field environment Real-time and precise on-site element analysis in soils and mineralsBackground and IntroductionSoil samples collected in housing areas with potential lead contamination generally are analyzed with flame atomic absorption spectrometry (FAAS) or other laboratory methods. Previous work indicates that field-portable X-ray fluorescence (XRF) analysis is capable of detecting soil lead levels comparable to those detected by FAAS in samples sieved to less than 125 μm in a laboratory. A considerable savings, both economical and in laboratory reporting time, would occur if a practical field method could be developed that does not require laboratory digestion and analysis. The XRF method also would provide immediate results that would facilitate the provision of information to residents and other interested parties more quickly than is possible with conventional laboratory methodsField portable methods are often needed in risk characterization, assessment and management to rapidly determine metal concentrations in environmental samples. Examples are for determining: "hot spots" of soil contamination, whether dust wipe lead levels meet housing occupancy standards, and worker respiratory protection levels. For over 30 years portable X-Ray Fluorescence (XRF) analyzers have been available for the in situ, non-destructive, measurement of lead in paint. Recent advances made possible their use for analysis of airborne dust filter samples, soil, and dust wipesThe XRF method makes it possible to perform efficient quantitative element analysis of soils with a minimum of sample preparationFeatures:Minimal Sample Preparation: great for in-situ testingFast Qualitative and Quantitative AnalysisLower Cost of Acquisition when compared to other analytic techniques (ICP, WDXRF)Versatile Solution: many systems perform a variety of geologic tests with top precisionTrace Elements Analysis is achievableAdvanced data management system with flexible multiple data transport methods including USB cable connection, storage card, Wi-Fi and Bluetooth.Extensive, Editable grade library for accurate alloy identificationTypical Applications:Soil Testing / Environmental Analysishazardous substance identification, EPA Method 6200Ore Analysis and Mining Applicationsprecious metal testing, rare earth analysisOxide Analysis in Geological SamplesMineral and Mineral Product ApplicationsWhat is XRF?X-ray fluorescence spectroscopy uses high energy photons (x-rays) to bombard an atomand excite electrons orbiting the atom. Some of these photons have sufficient energy toeject an electron which is bound to the nucleus of the atom. When an inner orbitalelectron is ejected from an atom, an electron from a higher energy orbital will betransferred to the lower energy orbital. During this transition, photons (x-rays) may beemitted from the atom. This process is known as fluorescence, and the x-rays emittedfrom the atom will be characteristic of that particular element. The energy (and thereforewavelength) of the photon will be the difference between the two orbitals of the electronmaking the transition. Because the energy difference between two specific orbitals, in agiven element, is always the same then the photon (x-ray) emitted from a particularelement will always have the same energy. Thus by measuring the energy of the photonsemitted, the XRF can determine the element that is emitting the photons, and theconcentration of element in the soil.