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显析分析仪

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显析分析仪相关的论坛

  • 线束端子检测分析仪

    随着汽车行业的迅速发展, 汽车低压电线束横断面分析技术也变得十分重要,各行业的也慢慢地对端子技术的要求也十分地高连接器端子断面分析系统.研发的端子断面分析仪是汽车线束生产厂家连接器端子分析仪必备的用以检验端子压接形状是否合格连接器截面分析仪的器,端子压接形状的工序:横切端子、对断面进行研磨、清洗断面并腐蚀去氧化皮接头端子断面检测分析仪,照相取样、通过软件对图形成像进行分析端子断面检测显微镜。线束端子检测分析仪。主要用于线束生产过程中对线束进行抽样检测。操作基本步骤:1.切割部分 从垂直于电缆的方向切断冲压件 2.打磨部分 打磨并抛光被切断的冲压件 3.蚀化部分 为了得到清晰的截面图片,需要对截断并磨光的冲压件作泡沫蚀化处理 4.图片的摄取部分 采用进口高清晰摄像机,经显微镜放大的截面图片 5. 使用线束端子专用的测量分析软件对截面图片进行分析,可获取冲压高度,宽度,压缩比率(压缩面积)及冲压件几何形状等的参数,并可打印及存档。简单易操作!1.型号:XDT-620E2.测量精度:0。001mm3.切割轮厚:0.6 mm4.转速:2800 rpm(切割) 1400 rmp(研磨)5.腐蚀:酸液泡沫腐蚀6.图像处理:130万像素摄像头,USB2.0接口 10~45倍高清显微镜,定倍测量 带压缩比测量分析软件7.处理时间:3~5分钟8.电 源:AC220V 50Hz

  • 粗氪氙分析仪选型

    各位大神:有使用过KeXe分析仪/色谱吗?我这边需要在线连续分析,可以推荐下吗?TCD 还是DID 好点?只需要测量:氧中粗氪氙 Ke:1800-2800 ppm 左右 Xe:180-290 ppm左右

  • 【在线分析仪知识普及】说说在线分析仪三…现在的在线分析仪(收集)

    三、现在的在线分析仪(90年代的初期…现在)进入九十年代,新建装置自动化水平也越来越高,对在线分析仪的要求也越来越高,主要变化在三个方面:第一个是数据处理方面:过去的分析仪,只是将分析结果以4…20MA的信号远程传输,在中央控制仪实时显示,操作人员根据显示结果,进行流程调整。而现在,信号传输过去后,输入的是中央数据处理系统。此系统收集所有的温度、压力、流量、物位、阀门定位及分析数据,组成一个物料平衡系统。每一项数据的改变,也就意味着其它数据跟着要改变,以促成一个新的平衡产生。这也就意味着,靠过去的实验室分析的分析结果,在数据上已不能保证它的时效性,没有时效性,分析结果的准确性也就无从谈起。实验室分析结果证明的是过去,在线分析仪分析数据说明的是现在。当然这个现在也是有一定的滞后性的,一般有几分钟。我们缩短的就是滞后时间。第二个方面:分析数据的储存。上一节我说到,中期的分析数据是靠记录仪走纸书面保存的。随着CPU的出现,一些数据显示已经从走纸信号显示发展到数字显示且能储存一周左右的数据啦,可通过软盘,随时下载保存,数据显示开始由书面走进了电子文件显示。分析数据不光能显示,而且可能通过设定高低报警值,来监视数据运行,一旦超限,即可发出声和光报警。发展到如今,分析数据的保存,只要你的硬盘足够大,可无限保存,读取更是不成问题。分析结果的趋势少则查一周,多则查一月,再长,只好调硬盘啦。这对仪器运行判断和流程变化判断都提供了无可比拟的方便。第三方面 仪器更新:仪器信号线也从无屏蔽线变成有屏蔽线,大大降低了信号衰减,分析仪测量数值与中央控制系统上的显示数值基本一致。同时,分析仪器的检测器也在突飞猛进。检测器结构更加紧凑,仪器布局更加合理,小型化趋势也越来越明显。检测器核心材质也发生了很大变化,检测数据更加灵敏,仪器适应性和适应领域也逐步普及。过去一台仪器所占有的空间,现在可以放2台,甚至4台仪器。仪器无论从重量还是体积,都在大幅缩水,而检测性能却呈现数量级式的上升。仪器常规维护量也在大幅下降。例如:过去的电解式微量氧,一个银电极有近30克重,拉直啦,有近十米长,蒸馏水和电解液消耗量大,两到三天就要加液一次,中期的这类仪器,其检测器核心部件…银电极,只有3克左右,网状布局,接触面大,外形只有过去的三分之一,维护保养量不及前者的五分之一;后期的同类仪器,则采用多对电极平衡,仪器测量反应速度快速,偏差小。后期的在线分析仪重在发展仪器的准确、快速、稳定上下了不少功夫。各类仪器都有显著进步,后面咱们分门别类再稍加叙述吧。现在的在线分析仪,广泛应用于石化、化工、炼油、天然气、热电、冶金、化纤、轻工、城市公用工程、环境监测、分析仪器制造、电子、医药生产等多种领域。四、在线分析仪分类

  • 【转帖】线束端子断面分析仪

    随着汽车行业的迅速发展, 汽车低压电线束横断面分析技术也变得十分重要,各行业的也慢慢地对端子技术的要求也十分地高连接器端子断面分析系统. 上海天省仪器厂研发的端子断面分析仪是汽车线束生产厂家连接器端子分析仪必备的用以检验端子压接形状是否合格连接器截面分析仪的器,端子压接形状的工序:横切端子、对断面进行研磨、清洗断面并腐蚀去氧化皮接头端子断面检测分析仪,照相取样、通过软件对图形成像进行分析端子断面检测显微镜。 TXD-660C,TXD-770C是上海天省研发的一种线束端子快速检测分析仪。主要用于线束生产过程中对线束进行抽样检测。在电缆线束生产线上,品质的可靠性及生产速度非常重要,可以说在生产过程中采用连续的质量分析已成为市场竞争的重要因素。该系统可在短时间内完成精确的质量分析,为您的生产保驾护航!操作基本步骤:1.切割部分 从垂直于电缆的方向切断冲压件 2.打磨部分 打磨并抛光被切断的冲压件 3.蚀化部分 为了得到清晰的截面图片,需要对截断并磨光的冲压件作泡沫蚀化处理 4.图片的摄取部分 采用进口高清晰摄像机,经显微镜放大的截面图片 5. 使用线束端子专用的测量分析软件对截面图片进行分析,可获取冲压高度,宽度,压缩比率(压缩面积)及冲压件几何形状等的参数,并可打印及存档。简单易操作!技术参数 上海天省仪器厂1.型号:TXD-660C TXD-770C2.测量精度:0.001mm3.切割轮厚:0.6 mm4.转速:2800 rpm(切割) 1800 rmp(研磨)5.腐蚀:酸液泡沫腐蚀6.图像处理:130万像素摄像头,USB2.0接口10~45倍高清显微镜,定倍测量带压缩比测量分析软件7.处理时间:3~5分钟8.电 源:AC220V 50Hz

  • 荧光X射线分析仪

    应对ROHS指令的利剑 ——岛津EDX900HS荧光X射线分析仪 关于“ROHS指令”相信大家并不陌生,“自2006年7月1日起,所有在欧盟市场上出售的电子设备必须禁止或限量使用铅(Pb)、镉(Cd)、水银、汞(Hg)、六价铬(Cr6+ )等重金属有害物质,以及聚溴二苯醚(PBDE)和聚溴联苯(PBB)等燃剂。”简称为“ROHS指令”换句话说也就是:自2006年7月1日起有害元素超标的产品禁止在欧洲市场上销售。 从有关方面了解到,国内很多企业对自已产品中到底含不含“ROHS”指令中涉及的几种有害物质,到底含多少,并不清楚,对欧盟的指令还不够重视,但实事上,国家发改委、信息产业部等相关政府部门也正着手制定“ROHS”相应的我国自已的法规,预期应该和欧盟指令在2006年同步实施。这样一来就会使得中国企业,无论其产品是否出口欧盟,都将面临一个同样的市场准入问题。 全球经济市场正全面提高环保法规标准,各国际大厂已先后投入绿色环保标准的长期计划。欧盟(EU)即将实施二大新环保法令(WEEE及RoHS)。面临严格的环保法规,相信您已有所准备,提升更高的竞争优势。 不够绿(环保),将错失商机。 绿色行动 迫在眉睫!!岛津 EDX900HS X射线荧光分析仪是你最好的选择!台式小型主机,配备全自动开关的大样品室。适应固体、液体、粉体、光盘、薄膜等各种类型的样品。扩展性优越,16/8样品交换、真空/He气氛、4种准直仪、使用CCD摄像头观察样品等。 →分析元素:11Na~92U(EDX-900HS)→检测器:硅半导体检测器,电子冷却无需液态氮成本,操作更方便。→滤波器:5种自动切换,减少背景和元素间的干扰。 →软件:定性、定量分析、FP法、薄膜FP法、BG-FP法→选购件:真空/He测定组件、16/8试样转台、试样容器等丰富的选购件。→可对物质进行快速,准确,方便的定性,定量分析和膜厚测量功能。 采用能最小限度减少试样形状、厚度、材质、位置所带来影响的自动补正软件,可以简单进行测量。对有害元素具有高灵敏度的分析仪国际各大厂商为了树立其绿色产品、环境友好产品的市场形象,提高其绿色产品供应链的品质和综合竞争力,对其所有原料及产品中的纯度和有害物质含量要求进行严密的监测。他们大都采用荧光X射线分析仪(XRF)进行品质控制。例如:索尼公司采购岛津公司EDX系列60多台荧光X射线分析仪。XRF使用简单,不但可以节约时间,精确控制品质,检测范围广,而且无需毁坏样品。 欧盟WEEE/RoHS规则已经出台,贵公司的绿色贸易进程已经开始了吗?我公司可以提供应对WEEE/RoHS规则的检测仪器XRF和ICP。若有任何问题或者产品需求欢迎与我们联络!沈阳兴岛科学仪器有限公司联系人:白晓秋电话:024-23226342 手机:13889251040邮葙:rrrjatto@163.com

  • 【原创】线束端子压接剖面分析仪-端子分析显微镜

    【原创】线束端子压接剖面分析仪-端子分析显微镜

    线束端子压接剖面分析仪-端子分析显微镜线束端子快速检测分析仪,主要用于线束生产过程中对线束进行抽样检测。在电缆线束生产线上,品质的可靠性及生产速度非常重要,可以说在生产过程中采用连续的质量分析已成为市场竞争的重要因素。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/03/201103030830_280482_2232901_3.jpg端子压接剖面分析仪,可以对压接工序端子内部质量进行分析,对端子进行剖面,检查端子剖面后压接密度:线芯是否变形、压接毛刺是否合格,导体中所有单线的断面应呈不规则多边形,导体与端子相接部位、单线与单线之间应无明显缝隙,端子压接部位应包住全部导体。端子压接的卷曲部分必须相接,且对称。端子压接卷曲部分端部距底部的距离不小于单线标称直径的1/2横断面底部两侧的毛刺高应不超过端子压接后的厚度g,毛刺宽度应不超过g的1/2。整车线束应符合:QC/T29106-2004 汽车低压电线束技术条件。 (1)规定了检验线束尺寸的标准。 (2)规定了电线束中所用材料和零部件所符合的性能要求。(3)规定了端子与线束的连接方法及连接后应符合的要求。 (4) 规定了端子与线束连接点应符合的要求。 (5)密封塞在压接时不应损伤。电线与密封塞之间、密封塞与护套之间不应有目视可见的间隙。 (6)电线束包扎时,应紧密、均匀,不应松散。采用保护套管时,无位移和影响电线束弯曲现象。 (7)电线束中电线及零部件应正确装配,不应有错位现象,端子在护套中不应脱出。(8)电线束中线路导通率为100%,无短路、错路现象。 (9)电线束需要进行耐高、低温、湿度循环变化性能试验;耐振动性能试验;耐盐雾性能试验;耐工业溶剂性能试验等。

  • 光谱分析仪与元素分析仪对比情况

    一般客户在选购任何检测仪器首先考虑的是检测的精度,性价比和售后服务。机械工业快速发展的今天,只有准确测量钢铁中元素的百分含量。才能使产品达到国家标准。目前钢铁中五大元素已达到读秒水准,称样取样也由原来的定量分析升级成不定量分析,终点颜色由原来的调节换成自动识别。一般钢的五大元素检验整个过程可在几分钟之内完成。可对于有色金属(铜合金、铝合金)的炉前控制非光谱莫属,它的多通道瞬间多点采集的特点保持着光谱分析仪快速的检测出顾客所要检测的元素。仪器的种类很多根据自己企业的需求选择合理的分析仪,华欣元素分析仪广泛的应用于冶炼、铸造、机械、车辆、泵阀、矿石、环保、质检等行业和领域,可以方便快捷的进行原料验收、炉前分析、成品检验等阶段的产品测试。现整理光谱分析仪和ND系列分析仪的对比供客户选择。元素分析仪的优点1.化学分析法是国家实验室所使用的仲裁分析方法,准确度高。2.对于各元素之间的干扰可以用化学试剂屏蔽,做到元素之间互不干扰,曲线可进行非线性回归,确保了检测的准确性。3.取样过程是深入样品中心和多点采集,更具有代表性,特别是对于不均匀性样品和表面处理后的样品可准确检测。4.应用领域广泛,局限性小,可建立标准曲线进行测定,仪器可进行曲线自我检测。5.购买和维护成本低,维护比较简单。碳硫分析仪的缺点1.流程比光谱分析法较多,工作量较大。2.不适用于炉前快速分析。3.对于检测样品会因为取样过程遭到破坏光谱分析仪的优点1.采样方式灵活,对于稀有和贵重金属的检测和分析可以节约取样带来的损耗。2.测试速率高,可设定多通道瞬间多点采集,并通过计算器实时输出。3.对于一些机械零件可以做到无损检测,而不破坏样品,便于进行无损检测。4.分析速度较快,比较适用做炉前分析或现场分析,从而达到快速检测。5.分析结果的准确性是建立在化学分析标样的基础上。光谱分析仪的缺点1.对于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到准确检测。2.不是原始方法,不能作为仲裁分析方法,检测结果不能做为国家认证依据。3.受各企业产品相对垄断的因素,购买和维护成本都比较高,性价比较低。4.需要大量代表性样品进行化学分析建模,对于小批量样品检测显然不切实际。5.模型需要不断更新,在仪器发生变化或者标准样品发生变化时,模型也要变化。6.建模成本很高,测试成本也就比较大了,当然对于大量样品检测时,测试成本会下降。7.易受光学系统参数等外部或内部因素影响,经常出现曲线非线性问题,对检测结果的准确度影响较大。(选自网络)

  • 【转帖】便携全反射X射线荧光分析仪

    转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL 级以下)、用样量少(Μl、ng级)、准确高度(可用内标法)、简便、快速,而且要进行无损分析,成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内,能谱仪(XRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差。在表面分析领域内,尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中,TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理:TXRF利用全反射技术,会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏率,避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应,大大缩减了定量分析的工作量和工作时间,同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限(MDL)可由公式计算: (2)这里, 是木底计数率,t为测量计数时间,M为被测量元素质量,l代表被测量元素产生的特征峰净计数率,S=I/M就是系统灵敏度,由公式可以看出,提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处,因而MDL很低。

  • 【在线分析仪知识普及】说说在线分析仪二早期和中期的在线分析仪(收集)

    说说在线仪器《二》…早期的在线分析仪(空分)(不清楚的慢慢看,精通的请补充或另开贴发表想法)一、早期的在线分析仪(70年代…80年代末期)八十年代中期,刚踏上工作岗位,企业正在创建,就进入中心实验室。去武汉培训大半年。老厂的分析就分为实验室分析和在线分析。早期的化分在线已经被电化学在线和仪器在线所取代。由此可见,在线分析仪器的发展很快。早期进的在线分析仪,以电解池、红外、热磁检测器,水分则是由电容和电阻两类分析仪负责。至今在原理上也无多大变化,只是仪器电路有所改变。(其仪器检测原理和检测器图,后期将逐步发出。)仪器的信号输出是以电压输出为多,输出到远端控制室的走纸记录仪上,含量的连续变化可以通过走纸记录仪的记录水笔描绘下来。仪表工只要定期更换记录墨水和记录纸,工艺操作人员从定期巡视中检查这些记录,根据趋势变化来调整他的操作态势,以保证其稳定生产,确保合格产品的产出。二、中期的在线分析仪(80年代末期…90年代的初期)短短几年,随着中国的改革开放步代的加大,国外的先进仪器大量涌入,严重冲击了国产的在线分析仪,国产分析仪也逐渐从我的视线中消失。分析仪检测器原理变化不大,但更加精致、稳定。数据输出也有了记忆功能。也可以从记录仪中读取过去的数据记录,部分分析数据已经具备了警告和报警功能,关键分析数据一旦发现异常,可以通过外接的声、光报警功能,来提醒工艺操作人员的注意。部分分析数据也可参与简单的阀动作。

  • 【求助】关于X射线荧光分析仪的购买问题

    我们工厂原来对铝土矿和高铝矾土熟料的检测都是采用人工的方法,现在准备用X射线荧光分析仪进行检测,不知道要采用什么品牌和型号的X射线荧光分析仪?请各位指教(国内品牌不考虑)。分析项目含量范围%Al2O3≤97SiO2≤90Fe2O3≤15TiO2≤10MnO2≤70CaO≤20MgO≤2K2O≤4Na2O≤8

  • 【原创】全铝X-射线分析仪分析铝电解质

    摘要:本文叙述全铝X-射线分析仪分析铝电解质中的Al、F、Na、Ca、Mg含量,进一步计算分子比、CaF2、MgF2、Al2O3、过剩AlF3的方法,以及每个元素及化合物谱线的选择与修正、分析参数的建立、工作曲线的绘制、样品的制备方法等。实践证明:分析结果准确可靠,精密度良好,实现了准确快速测定的目的。一 前言铝槽电解质的分子比是铝电解生产控制的重要参数之一,正确分析电解质的各项指标,直接影响铝电解的工艺控制和经济效益。目前,在国内铝工业生产中铝电解质的分析方法有热滴定法、化学法、结晶光学法和X-射线衍射法,在这些方法中,热滴定法和化学法是基础,但其分析速度慢,分析结果严重滞后;结晶光学法对于有多种添加剂和低分子比的电解质分析时误差太大。X-射线衍射法只有国内少数铝厂采用,其分析的项目较少。本文介绍全铝X-射线分析仪(X荧光+X衍射综合性仪器)分析铝电解质的方法。这是国内从瑞士ARL公司引进的最先进的仪器,经过近一年的实践,证明仪器所分析的数据准确、精密度高、速度快。为青铜峡铝厂三期13万吨200千安预焙电解槽在短时间内达产达标提供了有力的技术支持。使其在4个月内电流效率提高到92%,创造了可观的经济效益。二 实验部分1 实验原理根据邱竹贤、K. Grjotheim等人铝电解质的酸度理论,固态酸性电解质的基体是由冰晶石(Na3AlF6)、亚冰晶石(Na5Al3F14)和Al2O3组成。当加入CaF2时,增加了NaCaAlF6相,液态中增加了CaF2相;加入MgF2时,增加了Na2MgAlF7相,液态中增加了NaMgF3相;加入LiF时,增加了Na2LiAlF6相,液态中增加了Li3AlF6相。因预焙槽工艺中不加LiF,其含量可忽略。根据以上理论,用仪器的荧光部分测定电解质的Al、F、Na、Ca、Mg含量, 再用数学模型计算NaF,AlF3,CaF2,MgF2,Al2O3,过剩AlF3及分子比。2 标样的研制这种标样在实际生产电解槽中直接采取。保证基体相同及每个元素和化合物有足够的梯度。我们在实际生产的640台槽中取样,先用仪器分析其强度,发现单元素有异常的样品,立即大量取样,选取17个单元素有一定梯度的样品,经本厂化验室、郑州轻金属研究所、北京有色金属研究院、包头铝厂、中宁铝厂多家单位化学定值。综合评定,最后选取10个作为标样。3 样品制备为保证分析结果的重复性,从电解槽取样必须严格遵守取样的操作规程。新型全铝分析仪使用慢冷样品,样品中基本上没有非晶质物质存在。各标准样品的冷却条件要和实际取样时尽量保持一致。试样制备过程如下;(1) 粉碎:取电解厂房送来的铝电解质冷却试料块约30g,放入破碎机的试料容器中进行破碎。为了避免破碎时试料粘在容器壁上及压片时易于成型,破碎前滴上1-2滴无水乙醇。经实验在转速1550转/分条件下破碎20秒,可使试料达到300目以上。(2) 压片:将料环放在样托上,称取5克试样粉末倒入料环内,放入压样机,选用30吨压力静压15秒,取出压成的试样片,即可上仪器分析。注意:正常分析样品的取样冷却条件、试样的破碎程度、压样时的压力、静压时间对测量结果均有影响,尽量和标样制备时保持一致。4 选择谱线X-射线荧光是激发原子的最内层K层电子,所以每种元素的特征谱线有好几条,首选Ka谱线,理论Ka谱线与实际生产工艺中元素的谱线并不吻合,必须多做实验加以调整,衍射的谱线也应做调整,无需扣背景,具体谱线见表1。5 确定激发条件对某一种元素,其谱线、晶体、探测器、计数时间、准直器、X-光管电压、电流选择搭配不同,其分析效果也不同。必须做大量实验,总结经验,选择适合生产工艺并能准确反映元素真实含量的分析参数

  • 【求助】碳氢氮分析仪的问题

    想买一台能分析碳氢氮的分析仪,查看市场发现或者是碳氢分析仪,或者是碳氢氮氧硫分析仪。没有三种的碳氢氮分析仪吗?有人知道哪家的好吗?

  • 逻辑分析仪原理及应用

    一般来说,逻辑分析仪能看到比示波器更多的信号线。对于观察总线上的定时关系或数据 ——例如微处理器地址、数据或控制总线时,逻辑分析仪是特别有用的。逻辑分析仪能够解码微处理器的总线信息,并以有意义的形式显示。总之,当您通过了参数设计阶段,开始关注许多信号间的定时关系和需要在逻辑高和低电平码型上触发时,逻辑分析仪就是正确的测试工具。[b]逻辑分析仪[/b]大多数逻辑分析仪实际是合二而一的分析仪:一部分是定时分析仪,另一部分是状态分析仪。定时分析仪的信息显示形式与示波器的相同,水平轴代表时间,垂直轴代表电压幅度。由于这两种仪器上的波形都与时间相关,因此称为“时域”显示仪。[b]选择正确的采样方法[/b]定时分析仪好像是一台具有 1bit 垂直分辨率的数字示波器。由于只有 1bit 分辨率,因此只能实现两种状态 —高或低的显示。定时分析仪只关心用户定义的电压阈值。如果采样时信号高于该阈值,就以高或 1 显示,低于阈值的采样信号用低或0显示。从这些采样点得到一张由 1 和 0 组成,代表输入波形 1bit 图的表格。这张表格保存在存储器中,并可用来重建输入波形的 1bit 图,如图1所示。[align=center][url=http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278254695.jpg][img]http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278254695.jpg[/img][/url][/align][align=center][size=12px]图 1 定时分析仪的采样点[/size][/align]定时分析仪趋向于把各种信号拉成方波,这似乎会影响到它的可用性,但如果您需要同时观察几条甚至几百条信号线以验证信号间的定时关系,那么定时分析仪就是正确选择。应记住每个采样点都要使用一个存储器位置。分辨率越高(采样率越快),采集窗就越短。[b]跳变采样[/b]当我们捕获如图2 所示带有数据突发的输入线上的数据时,我们必须把采样率调到高分辨率(例如 4ns),以捕获开始处的快速脉冲。这意味着具有 4K(4096 样本)存储器的定时分析仪在 16.4ms 后将停止采集数据,使您不能捕获到第二个数据突发。[align=center][url=http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255647.jpg][img]http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255647.jpg[/img][/url][/align][align=center][size=12px]图2 高分辨率采样[/size][/align]在通常的调试工作中,我们采样和保存了长时间没有活动的数据。它们使用了逻辑分析仪存储器,却不能提供更多的信息。如果我们知道跳变何时产生,是正跳变还是负跳变,就能够解决这一问题。这一信息是有效使用存储器的跳变定时基础。为实现跳变定时,我们可在定时分析仪和计数器的输入处使用“跳变探测器”。现在定时分析仪只保存跳变前的那些样本,以及两个跳变之间的时间间隔。采用这种方法,每一跳变就只需使用两个存储器位置,输入无变动时就完全不占用存储器位置。在我们的例子中,根据每一突发中存在多少脉冲数,现在能捕获到第二、第三、第四和第五个突发。并同时保持达到 4ns 的高定时分辨率(图3)。[align=center][url=http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255224.jpg][img]http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255224.jpg[/img][/url][/align][align=center][size=12px]图3 使用跳变探测器采样[/size][/align][b]毛刺捕获[/b]毛刺脉冲因为会随机出现,造成灾难性的后果而声名狼藉。定时分析仪可采样输入数据,保持对采样间所产生任何跳变的跟踪,容易捕获毛刺。在分析仪中,把毛刺定义为相邻两次采样间穿越逻辑阈值一次以上的任何跳变。为了识别毛刺,我们要“教会”分析仪保持对所有多个异常跳变的跟踪,并将它们作为毛刺显示。毛刺显示是一种很有用的功能,能够提供毛刺触发和显示超前毛刺的数据,从而帮助我们确定毛刺产生的原因。这种能力也使得分析仪只捕获毛刺产生时所要的数据。回顾本节开始时提到的例子。我们有一个系统周期性地因毛刺出现在一条信号线上而崩溃。由于毛刺发生具有偶然性,您即使能保存整个时间上所有数据(假定有足够的存储能力),也很难在巨大的信息量中找到它。另一种方法是使用没有毛刺触发功能的分析仪,您必须坐在仪器前,按运行按钮,等待看到毛刺为止。[b]定时分析仪的触发[/b]逻辑分析仪连续捕获数据,并在找到跟踪点后停止采集。这样,逻辑分析仪就能显示出被称为负时间的跟踪点前的信息,以及跟踪点后的信息。[b]码型触发[/b]设置定时分析仪的跟踪特性与设置示波器的触发电平和斜率稍有一点区别。许多分析仪是在跨多条输入线的高和低码型上触发。为使某些用户更感方便,绝大多数分析仪的触发点不仅可用二进制( 1 和 0),而且可用十六进制、八进制、ASCII或十进制设置。在查看4、 8、16、24、32bit宽的总线时,使用十六进制的触发点会更加方便。设想如果用二进制设置24bit总线就会麻烦得多。[b]边沿触发[/b]在调节示波器的触发电平旋钮时,您知道是在设置电压比较器的电平,这个电平将告诉示波器在输入电压穿越该电平时触发。定时分析仪的边沿触发与其基本相似,但触发电平已预设置到逻辑阈值。大部分逻辑器件都与电平相关,这些器件的时钟和控制信号通常都对边沿敏感。边沿触发使您能与器件时钟同步地捕获数据。您能告诉分析仪在时钟边沿产生(上升或下降)时捕获数据,并获取移位寄存器的所有输出。当然在这种情况下,必须延迟跟踪点,以顾及通过移位寄存器的传播延迟。[b]状态分析仪基础[/b]如果您从未使用过状态分析仪,您可能认为这是一种极为复杂的仪器,需要花很多时间才能掌握使用方法。事实上,许多硬件设计师发现状态分析仪中有许多极有价值的工具。一个逻辑电路的“状态”是数据有效时对总线或信号线的采样样本。例如,取一个简单的“D”触发器。“D”输入端的数据直到时钟正沿到来时才有效。这样,触发器的状态就是正时钟沿产生时的状态。现在,假定我们有8个这样的触发器并联。所有8个触发器都连到同样的时钟信号上。当时钟线上产生正跳变时,所有8个触发器都要捕获各自“D”输入的数据。这样,每当时钟线上正跳变时就产生一个状态,这8条线类似于微处理器总线。如果我们把状态分析仪接到这8条线上,并告诉它在时钟线正跳变时收集数据,状态分析仪将照此执行。除非时钟跳到高电平,否则输入的任何活动将不被状态分析仪捕获。定时分析仪由内部时钟控制采样,因此它是对被测系统作异步采样。而状态分析仪从系统得到采样时钟,因此它是对系统同步采样。状态分析仪通常用列表方式显示数据,而定时分析仪用波形图显示数据。[b]理解时钟[/b]在定时分析仪中,采样是沿着单一内部时钟的方向进行,从而使事情非常简单。但微处理器系统中往往会有若干个“时钟”。假定某个时刻我们要在RAM中的一个特定地址上触发,并查看所保存的数据;再假定使用的微处理器是Zilog公司的 Z80。为了用状态分析仪从Z80捕获地址,我们要在MREQ线为低时进行捕获。而为了捕获数据,需要在WR线为低(写周期)或RD线为低(读周期)时让分析仪采样。某些微处理器可在同一条线上对数据和地址进行多路转换。分析仪必须能让时钟信息来自相同的信号线,而非来自不同的时钟线。[align=center][url=http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255919.jpg][img]http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255919.jpg[/img][/url][/align][align=center][size=12px]图 4 RAM 定时波形图[/size][/align]在读写周期期间,Z80首先把一个地址放在地址总线上。接着设定MREQ线在该地址对存储器的读或写有效。最后根据现在是读还是写对RD或WR线断言。WR线只有在总线数据有效后才被设定。这样,定时分析仪就作为多路分配器在适当的时间捕获地址,然后在同一信号线上捕获产生的数据。[b]触发状态分析 [/b]像定时分析仪一样,状态分析仪也提供限定所要保存数据的功能。如果我们要寻找地址总线上由高低电平构成的特定码型,可告诉分析仪在找到该模式时开始保存,直到分析仪的存储器完全装满。这些信息可以用十六进制或二进制格式显示。但在解码至汇编码时,十六进制可能更为方便。在使用处理器时,应把这些特定的十六进制字符与处理器指令相比较。大多数分析仪制造商设计了称为反汇编器的软件包,这些软件包把十六进制代码翻译成易于阅读的汇编码。[align=center][url=http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255303.jpg][img]http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255303.jpg[/img][/url][/align][align=center][size=12px]图 5 把十六进制码翻译成汇编码[/size][/align][b]序列级和选择性保存[/b]状态分析仪具有帮助触发和存储的“序列级”数据。序列级使您能比单一触发点更精确地限定要保存的数据。也就是说可使用更精确的数据窗,而不必存储不需要的信息。选择性的保存意味着可只保存较大整体中的一部分。例如,假定我们有一个计算给定数平方的汇编例程。如果该例程不能正确计算平方,我们就告诉状态分析仪捕获这一例程。具体做法是先让状态分析仪寻找该例程的起点。当它找到起始地址时,我们再告诉它寻找终止地址,并保存两者之间的所有信息。当发现例程结束时,我们告诉分析仪停止状态保存。[b]探测解决方案[/b]为进行调试,向数字系统施加的物理连接必须方便可靠,对被调试的目标系统只有最小的侵扰,这样才能使逻辑分析仪得到精确的数据。普通的探测解决方案是每条电缆有 16 个通道的无源探头。每个通道的两端用100kΩ并联8pF 端接。您可将这种无源探头与示波器探头的电气性能作一比较。无源探测系统除了更小的尺寸和更高的可靠性外,还能把探头端接在与目标系统的连接点上。这就避免了从大的有源探头接口夹到被测电路之间大量引线所产生的附加杂散电容。因此您的被测电路就只“看到”8pF的负载电容,而不再是前述探测系统的16pF。[align=center][url=http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255595.jpg][img]http://www.elecfans.com/article/UploadPic/2008-11/200811278255595.jpg[/img][/url][/align][align=center][size=12px]图6 分析探头[/size][/align]把状态分析仪接到微处理器系统需要进行机械连接和时钟选择。某些微处理器可能需要外部电路对一些信号进行解码,才能得到用于状态分析仪的时钟。分析探头不仅能提供与目标系统快速、可靠和正确的机械连接,而且能提供必要的电气适配能力,如为正确捕获系统运行提供的时钟和多路分配器。[b]结语[/b]绝大多数逻辑分析仪都由定时分析仪和状态分析仪这两个主要部分组成。定时分析仪更适于处理多线的总线型结构或应用。它能够在信号线上的码型上,甚至在毛刺上触发。状态分析仪常被看成是一种软件工具,事实上它在硬件设定也很有用。由于它从被测系统得到时钟,因此捕获的数据也就是系统在时钟上的数据。逻辑分析仪为数字电路设计工程师提供了强大的设计工具。[table=349][tr][td][url=https://yqj.mumuxili.com/?from=YQSQ2-7/1]https://yqj.mumuxili.com/?from=YQSQ2-7/2[/url][/td][/tr][/table]

  • 求气体分析仪

    大家好!我公司现打算购置一批气体分析仪,给项目配套。请生产气体分析仪的厂家能给我提供详细的仪器选型信息。分析仪主要测量烟器中的二氧化硫、一氧化氮、氧,红外的、电化学都可以。要求测量精度高、漂移小、使用寿命长。若有意向,请联系:liu-xl2002@163.com谢谢!

  • 分析仪表的配置及选型

    介绍分析仪器仪表在空分流程中的重要作用,在分析仪器仪表的配置及选型上应遵循和注意的问题,特别是仪器仪表的可靠性和使用寿命以及标准物质的定标问题,配置和选型是系统工程中的一环节要慎重和全面考虑。 1 分析仪表在空分流程中的作用   分析仪器仪表在空分设备以及气体纯化过程中占有极重要的地位,它对空分流程的调整和产品质量的检测是必不可少的。由于在空分流程的各个阶段配置有不同类型的监测不同气体介质对象的在线分析仪表,因而,可通过分析仪表的输出信号了解分馏塔内的运行工况,并能控制流程在最佳工况下生产出纯度合格的02、N2、Ar及低温液体和产量要求,也可保证高纯气体是否达到纯化后的质量标准。   因此,在空分设备的气体及低温液体产品的生产过程中,需对流程中各个阶段的气体成分的组成进行准确地定量和严格控制与此同时使用在线色谱仪对空分塔内主冷凝器等部位进行自动连续地检测碳氢化合物(饱和烃及非饱和烃)的含量,是空分设备中防爆及安全生产中必不可少的一环。   为此,在选择和分析仪器仪表,必须达到和执行如下几方面的任务:   1.监测流程中工艺气体的纯度,满足各工序段对气体纯度要求;   2.通过在线分析仪器仪表的输出数据,可以及时反映和掌握各工序工况的变化状况;   3. 可以调整流程工况在最佳状态下工作;   4.保证和控制耷安全工况下生产的气体产品及低温液体产品纯度达到质量要求符合国家标准;   5.对纯化后高纯气体杂质组分的分析能达到国家标准要求。 2 分析仪的配置与选型   综上所述,配置和选用空分设备配套的在线分析仪器仪表及高纯气体检测的仪器仪表应遵循下面几个原则:   1.商业价格上要价廉物美或质优价廉,能满足流程及纯化气的检测需要,完成对流程气的监控目的;   2.在质量上要求在线分析仪器仪表及高纯气体检测仪器仪表,在其量程、灵敏度、噪音、稳定性、可靠性、使用寿命有质量要求和保证;   3.易于操作及维护保养。   上面谈到分析仪器仪表在空分设备运行 中及高纯气体纯化中检测的重要性,它不但 能执行产品气的质量检测而且能保证气体生 产运行中的安全。因此就提出了对分析仪器 仪表的可靠性、准确性、使用寿命、易操作 易维修等的要求。分析仪表的质量问题,一 直是使用者最为关切的问题,因它直接涉及 到产品质量和经济效益。笔者多年来从事气 体的检测分析及分析仪器仪表的安装调试工 作,从以往的情况来看,可以说大都不尽人 意,如某钢厂两套1000m3/h制氧机所配置 的热磁式氧分析器都由于质量问题而不能较 长时间使用,即使用寿命短,给用户带来极 大的不便并使经济上受到损失。空分设备中 常用的分析仪表,有一部份是采用热导式分 析器,有时由于传送器里电桥元件性能不稳 或某个插件上的元件不稳定,就造成了分析 仪表不能使用或指示值不正确,有时由于元 件的性能差造成热漂移,使量程零点很大变 动。元件性能不稳定和部件上出现的故障, 在其它类型的分析仪表上·电时有发生。由于 出现分析仪表量程零点漂移,造成用户对检 测数据正确性的不信任感,从而怀疑分析仪 表如同虚设,因此引进国外可靠的先进分析 技术及仪器仪表是势在必行,特别是灵敏 度、可靠性,使用寿命都高于国内产品,要 用户接受,在其价格上要有所调整。 3 分析仪的标定   众所周知,分析仪器仪表属于量值的二 次传递仪表,本身的准确性要依靠标准物质 来调校刻度,同样色谱仪也是通过标准物质 来定标,对高纯气体的定标是技术性很强的 工作,也是十分复杂的工作,气体纯度的准 确性在于标准物质的准确性,首先标准物质 的配制工作是相当精确的,然后是如何正确 地使用标准物质。无论是纯气还是高纯气的 检测分析仪器仪表,必须带有标准物质,为 此各地应当设立经常可以提供标准物质和高 灵敏度色谱所用的高纯载气,先进的分析仪器仪表必须有准确的标准物质来定标,否则 体现不出其仪表的作用,也难以保证仪器仪 表的日常运转。笔者认为先进的高纯气体杂 质组分分析仪器仪表的引入,也必须考虑标 准物质的提供,才可保证仪器仪表的正常分 析工作的开展。 4 提高空分流程中分析仪的投表率 及展望    空分流程中分析仪表的配置是一门技术 性很强的工作,既要合理满足流程需要又不 繁杂,既要少化投资又达到检测分析目的。 因此,要提高分析仪器仪表的利用率和投表率。   深冷法空分技术近年来有了极大的提 高,监控流程的在线分析仪表及最终产品气 体和液体的检测技术也有了很大的提高,特 别对控制分析技术要求也更高,随着工业对 气体纯度要求越来越严格,待分析杂质组分 的数目不断增加,检测极限需要大大降低, 因此在技术上设法提高灵敏度、稳定性、可 靠性、增加使用寿命并合理使用色谱技术, 为降低分析仪表的投资费用,采用多色谱 柱、多鉴定器技术,对分析仪器仪表的调 校,除应用标准物质外,还采用动态校正 法,如,指数稀释法、渗透法或计量泵联用 技术,由于国外新技术的引入,计算机与在 线分析仪表联用,一方面可对分析信息的数 据处理;另一方面监督分析仪表的性能及控 制它们的动作和各项操作参数,如自动校正 基线漂移、降低噪音、自动校准刻度并能自 动控制本身的工作状态、发现故障、指标故 障源和发出报警信号等, “智能”型分析仪 表当今已成为生产工艺流程中自动控制的最 有效工具。适应日益发展的深冷法空气分离 工艺,满足高纯气体纯化工艺的检测,促进 我国的分析技术走向世界。

  • x射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准

    x射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准Radiological standards for X-ray diffraction and fluorescence analysis equipmentGBZ115-20021 范围 本标准规定了X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的放射防护标准和放射防护安全操作要求。 本标准适用于X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的生产和使用。2 规范性引用文件 下列标准中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版本均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB4075 密封放射源分级 GB4076 密封放射源一般规定 GB8703 辐射防护规定 ZBY226 X射线衍射仪技术条件3 术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。3.1 X射线衍射仪和X射线荧光分析仪 X-ray diffraction equipment and X-ray fluorescence analysis equipment X射线衍射仪 利用X射线轰击样品,测量所产生的衍射X射线强度的空间分布,以确定样品的微观结构的仪器。 X射线荧光分析仪 利用射线轰击样品,测量所产生的特征X射线,以确定样品中元素的种类与含量的仪器。 以下把X射线衍射仪和X射线荧光分析仪统称为分析仪。3.2 闭束型分析仪和敞束型分析仪 enclosed-beam analytic analytical equipment and open-beam analytical equipment 闭束型分析仪 以结构上能防止人体的任何部分进入有用线束区域为特征的分析仪。 敞束型分析仪 结构上不完全符合闭束型分析仪特征的分析仪,操作人员的某部分身体有可能意外地进大有用线束区域。3.3 射线源 radiation source 本标准中,射线源特指X射线管或能便样品受激后发出特征X射线的密封型放射性核素源(以下简称密封型源)。3.4 联锁装置 interlocking device 分析仪的一种安全控制装置,当其中相关的组件动作时可以发出警告信号,或能够阻止分析仪进入使用状态,或使正在工作的分析仪立即关停。3.5 有用线束 primary radiation 来自射线源并通过窗、光栏或准直器射出的待用射线束。3.6 受照射部件 exposed components 分析仪中受到有用线束照射的部件,如:源套、遮光器、准直器、连接器、样品架、测角仪、探测器等。3.7 源套 radiation source housing 套在射线源外部的具有一定防护效能的壳体,分为密封源套和X射线管套。3.8 防护罩 protective enclosure 敞束型分析仪中,用来屏蔽源套和所有受照射部件的一种防护设备。在防护罩的侧面,通常装有可以平移的防护窗,调试、校准等操作结束后,关闭防护窗,能够有效地防止人员受到有用线束和较强散射线的照射。3.9 遮光器 shutter 安装在有用线束出口处的可以屏蔽有用线束的器件。

  • X荧光分析仪产生基体效应的种类与分析

    X荧光分析仪基体效应的种类与分析 一、X荧光分析仪分析过程中误差来源分析 在使用X射线荧光检测分析中,基体效应已成为元素定量测定中分析误差的主要来源。基体效应:是指样品的基本化学组成和物理-化学状态的变化,对分析射线强度所造成的影响。样品的基本化学组成有分析元素在内的主量元素;样品的物理-化学状态,则应含有固体粉末的粒度、样品表面的光洁度或粗糙度、样品的均匀性以及元素在样品中存在的化学态等。 二、根据样品结构的组成可以将基体效应分为两大类 1、吸收与激发(增强)效应,都随着样品基体化学组成的差异而发生变化,其主要表现为: A、原级入射线进人样品时所受的吸收效应; B、荧光谱线出射时受样品的吸收或分析元素受样品中其它元素的激发效应; C、第三级的激发效应。 2、其它物理化学效应,会给分析线强度的测量带来重大误差,主要表现为: A、样品的均匀性、粒度和表面效应; B、化学态的变化对分析线强度的影响。 三、产生各种效应的基本特点介绍 1、[/font]吸收与激发效应 在使用X荧光分析仪分析测试样品时,检测过程中的所引起的吸收和激发效应,是由于原级入射线进入样品时所受到的吸收效应和不同性质特点的样品,当分析元素含量相同时,吸收和激发效应表现在对同一分析线的强度影响上,首先是由于样品对原级入射线和分析线的联合质量衰减系数的差异造成的。 2、粒度效应 经常测试的均匀样品,对于固体粉末样品来说是指粉末的粒度和化学组成完全相同的样品。经测试数据验证这种样品在给定的压紧份数下,粒度越小,荧光谱线的强度越高。对于给定的粒度来说,压力越大,即压紧份数越小,荧光谱线强度也越高。而不均匀样品则不同,在不均匀样品中,存在着各种不同的粒度或化学组成的颗粒,影响荧光谱线强度的因素会较复杂。 3、表面效应 样品表面状态和荧光谱线强度的关系至关重要。当样品是由磨料、锯料或锋料制成大小一定的块状物体时,其表面必须经过适当的磨平或抛光。荧光谱线强度不仅与样品的表面构造和纹沟的性质有关,而且也受样品位置、纹沟和进出X射线方向影响。对于后者,可以通过测量过程中同时转动样品减少或消除,如不能转动则应使纹沟的方向与入射和出射线所成的平面平行。 四、总结 当我们在选择使用X荧光分析仪,对测试样品元素含量进行测试分析测试时,应该选择将样品进行处理,特别是在生产过程中,已经造成表面受到创伤的样品,我们应该对其进行再处理操作,然后再进行分析检测,这样即可以降低分析过程中产生的不同效应影响,又可以有效的提升测试结果的准确度。

  • 【求购】关于煤质分析仪

    我们现打算购买煤炭成分分析仪器,用于分析煤炭中的碳氢硫氮氧的含量,在网上看到一些公司的产品,有鹤壁天宇、江苏姜堰市分析仪器还有德国elementar公司的产品,但是不知道哪家的性能更好,各位使用元素分析仪的兄台能否给一些建议?先行谢谢

  • 能量色散X射线荧光硫分析仪

    本人有HORIBA公司的能量色散X射线荧光硫分析仪一台,是展览用样机,全新,地价销售,原厂提供保修一年,可以联系13923763802

  • 标气样气无法进入分析仪

    五、压铸线VOCs:1.烟尘、湿度数据传输已经恢复,数据基本一致(模拟量),后续再观察一下。2.测量标气不准确,检查设备基本是好的,需要重新校准造粒线VOCs:测量标气不准确,已查明分析仪是正常的,需检查分析仪进样口至预处理一段是否有漏气、堵塞、电磁阀损坏等问题,造成标气和样气都无法正常进入分析仪。

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