校准发射仪

ICP3200全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪是天瑞仪器继ICP3000成功推出后，推出的又一款全新概念、具创新的双向观测ICP-OES，融合新变频电源技术、智能光路切换技术、谱线深度处理技术，可实现基于双向观测的定量与定性分析处理。性能特点强大的软件分析功能逐步向导式，轻松建立分析方法，轻松完成测量，易学易懂。智能光学校准算法，可自动校准二维光谱位置，无需重复谱峰校准即可进行测量，保证准确测量的同时节约大量的溶液和时间。多样品结果集管理，方便用户对样品归类集合，便于结果查询和离线处理。多峰拟合技术，在处理复杂基体时，可将分析信号从测量光谱中提取出来，消除干扰元素影响，增加测量的准确度。双向观测光路智能定位开机后可根据需要选择调节模式，智能定位垂直炬双向观测位置。并且在方法开发中无需针对未知样中的元素选择分析模式，在选择测量元素和波长后，软件根据大数据库对信息将仪器自动切换到较佳测量模式，大大减少测量时间，提高测量效率。自动校正特征谱线位置全谱直读ICP3200分析软件采用天瑞团队自主研发的自动校峰算法，方法基于三坐标映射可快速标定二维光谱波长，无需重复校峰操作。定性分析算法全谱直读ICP3200分析软件采用天瑞仪器独特定性分析专利技术，方法中针对复杂基体，依次甄别主含量元素、次主含量元素，以此为判断先验条件来判断未知元素是否存在。同时采用多元高斯拟合算法大大减少干扰对待定元素谱线的误判。软件采用概率显示分析结果，大幅提高了定性分析准确度。应用领域环保行业、石化行业、冶金行业、玩具行业、地矿行业、贵金属行业、稀土行业

TIR 100-2发射率快速测定仪德国原装进口！简要描述： TIR100-2 是一款紧密型手持式测定仪，用于测量无损的表面的发射率。测量元件,操作界面,控制设备还有输出电路全部集于该手持式测量设备中。该设备的运行只需要一个电源供电，通过一个触摸屏对设备进行操作。 TIR100-2 可以用于涂料的质量控制，也可以用于协助实验室中的多种研发试验。用于玻璃的测量，测量结果与EN 12898的结果相同。涂层材料的发射率测量符合prEN 15976标准。具体功能： 被测目标表面接收100℃半球形黑体辐射出的红外辐射，目标表面反射的红外辐射被接收测出反射率并根据校准值得到发射率。校准值由校准标准得到。测量结果直接显示在触摸屏上。 该设备配套有一个详细的手册，关于设备的原理、测量步骤和精密的测量方法。 典型应用:&bull 镀膜玻璃的质量检测&bull 太阳能集热器涂层的质量检测&bull 箔片涂层的质量检测 &bull 卫星的热涂层的质量检测 技术参数：测量范围发射率 0,020 … 0,980重复精度 (精度): +- 0,005 (lowE)..+-0,01(hiE)波段2,5 µ m - 40 µ m能量最强波段8 µ m黑黑体温度100 °C测量时间5 sec测量光斑ca. 5 mm功率 最大. 130 W at 230 V~/115 V~接口RS232 (可选的输出接口) 尺寸230 mm x 140 mm x 120 mm 重量2,0 kg 校准标准低发射端: 抛光铝高发射端: 黑色遮光罩 参考发射率低发射端标准值 ~ 0,012高发射端标准值 0,96个别校准可参考国家物理实验室校准标注

RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪，采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，实现对材料红外波段（2-22um）发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计，具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪，可广泛应用于各种工业材料发射率的测量，是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；&bull 测量波段：2-22um；&bull 重复性：±0.02；&bull 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；&bull OELD单色屏：一目了然，一键测量，操作简便；&bull 数据记录：最近32条测量记录，方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”，OLED点阵屏，单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录，EEPROM存储，关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃，非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃，非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm（包装箱含电源适配器，标定片等）整体重量 2.5Kg产品外形 注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。

专利的双模开尔文探头和光发射光谱系统，用于通过空气中的光发射测量材料的绝对功函数。我们独特的系统提供的开尔文探头系统范围和功函数分辨率的准确性是任何其他开尔文探头供应商都无法比拟的。APS型光电子发射光谱仪特点：1， 大气环境下使用2， 功能：光电子发射光谱+开尔文探针3， 测试能级：费米能级，导带底能量，价带顶能量，HOMO-LUMO，禁带宽度，功函数等4， 局域态密度 （Local Density of States, LDOS）5， 3分钟得到：费米能级，功函数，局域态密度6， 非接触无损测试，测试安装简单，操作容易7， 低能量的光子激发8， 提供校准用的标样9， 手动和全自动操作，稳定可靠APS04-N2-RH型光电子发射光谱仪：样品由氮气保护，相对湿度控制箱内测试 此光电子发射光谱仪使用可调波长的深紫外光源，能量输出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下数据：绝对功函数 HOMO ： highest occupied molecular orbital 表面光电压谱(SPS)模块输出 400 - 1000 nm波长，用于测试 Voc 和 禁带宽度, 结合 50 x 50 mm扫描面积得到平面相对功函数测试(费米能级). 氮气保护，相对湿度控制箱内测试绝对功函数 软件测试可得到： 能级扫描范围针尖标样势能, 信号增益 信号整合时间及平均立方根或平方根拟合光电子发射数据 归一化光强基线校正局域态密度LDOS对于光子能量的曲线

半球发射率测量仪AE1/RD1产品介绍： 半球发射率测量仪AE1/RD1用于测量发射率的专用仪器。低温加热被测样品，仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量后换算出发射率，根据设定的标准体发射率准参数，计算并读出被测样品发射率。符合《ASTM C1371》、《JG_T 235-2014 建筑反射隔热涂料》、《GBT 25261-2010 建筑用反射隔热涂料》等国家标准，是建筑涂料行业，新能源材料研究，航空航天材料研发检测的必须品。发射率通过两个步骤获取：（1）把辐射计放在高发射率标准体上，设定 RD1 来表示发射率； （2）把辐射计放在待测样品上并直接读出 RD1 上的发射率。 产品特点：重复性高，重复精度达到±0.01发射单位；易于操作：仪器的检测器部分已电加热，因此不必额外加热样品，也无需温度测量。根据高发射率标准体提前设定发射率标准参数，测量仪仅对辐射热传输响应并输出电压，和发射率成线性关系，通过可调旋钮设定发射率读数与标准体的发射率一致，通过校准后，当测量被测样品时，检测仪便可直接读出发射率。快速测量：在大约30分钟的初始预热器。期后，可以每隔半分钟读取一次发射率读数，使得测量结果变得实时可观。高性价比：该仪器简便小巧，性价比高，比同期其他方法的测量设备成本更低，维护更简单。 技术参数：读数 器: D&S 微型数字伏特计，型号RD1。输 出: 材料温度为25℃时，2.4 毫伏通常对应材料发射率为0.9线 性: 检测器输出和发射率成线性关系，精度为±0.01发射单位。测量时间： 10s加热装置：加热被测样品，使其在与标准体温度相同的情况下被测量样品温度：最大130华氏度，约为55℃漂移：输出可能会随着环境而变化，但是在短时间测量内可以忽略不计。标准体：提供两个高发射率标准体和两个地发射率标准体，其中一套标准可用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参比。电源：100-240V/50-60Hz，12V直流输出测量波长：3——30μm测量范围：0——1测量精度：±0.01被测样品尺寸：Min Φ5.7cm (可选配Φ2.54cm样品探测器)测量温度：10℃——55℃ 外形尺寸：探测头Φ57X107mm，测量台 H46mm×宽105mm×D152mm标准配置：AE1探测头，高发射率标定块和低发射率标定块各2个，发射率测量仪，电源线，CD教学视频、校准证书、操作手册、手提箱。 选配：AE-AD3测量模块 : 测量直径Min 2.54cmAE-ADP: 测量适配器，可测量小至Φ3.8cm的扁平材料以及低导热、大曲率圆柱表面或者粗糙结构表面的样品材料。 订货指南： AE1/RD1 辐射率仪套装: 包括 AE1 辐射率仪，RD1 微型数字伏特计，2 个高发射率标准体，2 个低发射率标准体，黑体 槽，100/240V 通用电源，便携箱 AE1/RD1-12V 辐射率仪套装: 包括 AE1 辐射率仪，RD1 微型数字伏特计，2 个高发射率标准体，2 个低发射率标准体，黑 体槽，可连续使用 12 小时的 12V 电池和充电器，100/240V 通用电源，便携箱 可选项: RD1-10X – 10 倍增益选项，RD1 发射率精确到 0.001 Model AE-AD1 - 测量直径小于 3.8cm（1.5 inch）的平滑样品 Model AE-AD3 - 测量直径小于 2.54cm（0.75 inch 测量区域）的平滑样品 AE-ADP –测量适配器，端口内直径为 1 3/8 inch，用来测量较小尺寸、低导热性、大曲率(2 inches)圆柱表面或者粗糙结 构表面的样品材料

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简介Online 5100 MP多参数重金属在线分析仪使用发射光谱来分析溶液中的元素含量。高温状态下，处于基态的原子或离子跃迁到激发态，处于激发态的原子回到基态时又发射出不同波长的光，发射谱线的波长与特定元素有关，而谱线的强度与浓度有关，Online 5100 MP就是基于这一原理进行分析的。功能特点 ▲ 原子发射光谱原理，方法成熟▲ 分析元素包括金属和非金属▲ 多元素同时分析，可扩展应用，多达70多种元素▲ 宽线性范围：ppb~ppm▲ 宽波长范围：176nm~780nm▲ 检测限低：与实验室ICP-AES相当▲ 耐盐高：可耐受高达3%TDS▲ 工业电脑控制，人性化操作界面▲ CCD固态检测器：可同时进行背景及干扰校正▲ 低运行成本：从空气中提取氮气，不使用昂贵气体▲ 安全：无需易燃或氧化气体，消除安全隐患▲ 快速：只需数分钟即可分析多个元素▲ 整体式矩管：省略了矩管调整和气体管路的繁琐连接▲ 氮气等离子体：温度控制在5000K技术参数 分析元素：用户选择 (多达70多种元素可选)测量原理：原子发射光谱准 确 度：优于±2% (标准样品)重 复 性：优于2%线 性：优于0.9999分析时间：约1min/单元素（不含预处理）仪器校准：自动电 源：220V±10% VAC，50±1Hz预 处 理：根据用户情况配置

半球发射率是指热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体（黑体）的辐射出射度的比值，体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。PM-E2半球发射率测定仪测量半球放射率，适合太阳能电池组件，建筑隔热涂料，热控涂层等材料开发，工厂热能有效利用和节能设计。PM-E2半球发射率测定仪测量原理PM-E2半球发射率测量举例PM-E2半球发射率测定仪技术规格系统组成仪器包含积分球测量单元，光源，数据显示的操作单元。校正低辐射参考样板使用镀金玻璃镜面 (εL=0.05@293K/Edmund),高辐射标准样板使用黑体 (εH=0.85@293K/Sheldahl).测定方法 半球发射率εH半球发射率测定范围 0.05～0.95检测器波长范围 0.6～42μm（300K理论黑体总放射能量的95%）测定的不确定性 半球发射率值±0.03测定时间 1～3分基准样品 低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)高半球发射率εH=0.85@293K（Sheldahl制）电源 DC12V1A尺寸规格 操作部分：W145×D82×H32 (mm)测定部分：W125×D60×高74 (mm)重量 操作部分：约200g测定部分：约700g储存环境 温度：10～45℃湿度：50%RH附件 使用手册CD（驱动程序）USB数据线 (Type A－Type B)电源线

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超宽谱太赫兹发射器自旋电子太赫兹（THz）发射器基于一个优化的金属薄膜堆栈包括自旋电子材料。在飞秒泵浦脉冲的照射下，太赫兹脉冲产生。太赫兹带宽覆盖0.1到30太赫兹的频率，没有任何谱段间隙。发射器是完全被动的，包括集成的磁铁设计，允许简单且完全控制线性太赫兹极化。 超宽谱太赫兹发射器主要特点： ■ 无光谱间隙的超宽带太赫兹辐射 ■ 高太赫兹产生效率，被动式器件 ■ 集成磁铁，可完全轻松360°控制线性太赫兹极化 ■ 稳定性好，可长期使用 ■ 与许多光学装置兼容 ■ 太赫兹光束参数继承泵浦光束 ■ 泵浦光适用波段宽，从中红外到X射线 ■ 泵浦光和太赫兹光束的共线性使太赫兹光谱仪易于实现和直接校准超宽谱太赫兹发射器应用领域： ■ 超宽带线性太赫兹光谱■ 非线性太赫兹光谱■ 太赫兹近场显微镜■ 太赫兹扫描隧道显微镜■ X射线束层析成像■ 超快光电探测器（由泵浦脉冲包络确定的太赫兹脉冲）超宽谱太赫兹发射器指标参数：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

阴极发射体 Kimball Physics设计和制造各种高性能电子发射器，以满足客户的各种需求。这些发射器专为高亮度、长寿命或坚固的可靠性而设计，用于Kimball Physics电子枪以及我们客户的高性能仪器和工具。阴极/发射器既有标准产品，也有定制设计，应用包括电子显微镜、光刻、X射线生成、自由电子激光器、电子加速器等。阴极发射体阴极类型： 阴极发射体基座类型：● 六硼化镧（LaB6）高亮度单晶 ● 带有Kovar或钼引脚的高公差陶瓷 LaB6高亮度单晶——标准和保护环 ● 标准陶瓷AEI底座 LaB6用于电子显微镜-适用于大多数系统 ● Compact Kimball Physics CB-104基座● 圆盘阴极 ● 各种显微镜底座 钽（Ta）标准耐火圆盘 ● 阴极也可以安装在客户提供的底座上 用于低温操作的氧化钡（BaO）涂层圆盘 钇（Y2O3）涂层铱盘，可承受较差的真空度阴极发射体选型参考表* electron microscope Bases Available: Zeiss, VG-AEI replacement, VG, Philips, Perkin Elmer/ ETEC, Leica-AEI, JEOL-K, JEOL-GC (JSM, JEOL-E, ISI 2-pin, Hitachi S, ETEC, Electroscan-AEI, Camscan-AEI, Cameca-AEI, BioRad-AEI, Amray, AEI* Configurations Available: Code (Cone angle – microflat size(microns): 60-06, 90-15, 90-20Note- not all combinations are available (Cone angle, microflat dimension, with/without GR and base style, or Disc dimension and base). However, custom options are often available.** Richardson constant (A/m2K2 ) LaB6 = 29, Other materials for reference CeB6 = 3.6★★★ 更多电镜方面产品信息，比如，磁透镜、真空腔等，可咨询上海昊量光电设备有限公司。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

场发射扫描电镜 MIRA MIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 概述分析潜力 XM样品室配备有5轴马达驱动的全计算机化优中心样品台，完美的几何设计更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD） 优化几何设计的许多接口，更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD）和其他探头 一流YAG闪烁器式探头 可选各种探头和配件 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下，几分钟就可以达到仪器工作需要的真空，电子枪的真空度由离子泵保持 在低真空模式下可以观测不导电的样品，观测磁性样品的效果非常好 可选样品室大小与镜筒防振方式MIRA3配置MIRA3 XMH大样品室高真空式电镜，配备有可选的马达驱动样品台，适合观测导电的样品。MIRA3 XMU可变真空式SEM，体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品，不需要喷金。软件：标配： 测量 图象处理 3维扫描 硬度测量 多图像校准 对象区域 自动关机时间 公差 编程软件 定位 投影面积 EasySEMTM 选配：根据实际配置和需求 配件 二次电子探头（SE），ET型二次电子探头（YAG 闪烁体） 可移动式背散射电子探头（RBSE）*，可移动环行闪烁体类（YAG）具有高灵敏度和原子序数分辨率（0.1Z） 低真空二次电子探头 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头等，各种配件可供选择

1. 测量原理：定向半球反射（DHR） , 20°±1°入射2. 测量波段:双波段，3-5卩m & 8-12pm3. 重复性：＜ 0.014. 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好5.彩色触摸屏：汉字界面、触摸操作、一目了然，一键测量，操作简便6.数据存储：Micro SD卡，最大2048条记录，分8组，TXT文件格式，方便在PC机上后续数据分析国内商用化产品产品经过工程化考验隐身涂覆材料红外特性硏究飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估RLK650便携式红外发射率测量仪，是采用先进的光电检测技 术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，新型 的光电检测仪器。其基于定向半球反射比（DHR）测量原理，完成双波段 （3-5um和8-12um）发射率的贴近测量。产品针对野外、移动试验条件设 计，集公司多项技术积累，吸收国际先进产品的技术与特点，具有携带方便、 操作简单、等优点，测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估、红外隐身涂 覆材料的研究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司联系方式：029-81870090型号ModelRLK650原理 Principle定向半球反射（DHR）, 20° ±1°入射测量波段 Spectral Response双波段3-5pm & 8-12pm工作模式Work Mode发射率/反射率重复性 repeatabilityW 0.01显示分辨率 Display Resolution0.001显示屏 Screen Type3.5” TFT LCD 触摸屏测量时间Measurement Time1。秒（每次测量进行2次数据采集）预热时间Stanby Time 90秒数据存储Data StoreMicro SD卡（8Gbyte）,最大2048条记录，分8组数据下载Data Download下载操作后，2048条记录，分8个TXT文件格式，保存在MicroSD卡中供电方式Power SupplyLi电池，18V3AH,持续工作时间＞3小时，可更换工作温度Working Temperature0P~+45P,非冷凝储存温度 Store Temperature-30P~+65P,非冷凝外形尺寸Dimension246mm * 290mm * 108mm（测量头）重量Weight2.3Kg（测量头）整体外形尺寸 Total Dimension480mm *410mm* 200mm（包装箱含电池、充电器、标准片等）整体重量Total Weight6.4Kg（包装箱含电池、充电器、标准片等）销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司 联系方式：029-818700902\

产品详情 Optosol Absorber Control K1 太阳能平板集热器膜层吸收与发射率快速测量仪一、测量原理说明Alphameter 吸收 测量了相当精确的太阳能吸收的测试结果。Alphameter是基于一个具有光谱性窄带光源的积分球。这些参考标准或样本进行测量 是在一个球面上孔的位置。对面是两个平行样品检测器。当其中一个光源照亮球体， 探测器测量样本光的反射。从这个反射信号，检测反射或吸收率值。为了获得必要的光谱信息，4 个发光二极管，蓝色，绿色，红色和红外波长照亮球体。 反射发光二极管信号使用硅探测器测量。钨卤素超亮电灯结合一个最大灵敏度在1.3μm 的过滤锗探测器使用。 5个不同的光源，alphameter是一种非常稳定但分辨率底的光谱仪类型。它非常适合测 出缓坡谱线，比如典型的太阳能选择性吸收层谱线。Emissiometer K1 发射 emissiometer包括一个积分球，作为热源的发热条和 敏感度在波长范围8μm到14μm的 探测器。从发热条发射出来的辐射是单一分布的积分球，作为一个散辐射源。探测器安 装在一个度角为10°的样品表面。辐射是样本反射测量。2个样本被测信号进行测量校准 在已知的发射率值波长范围内：：一个如玻璃的高发射率样本与一个低发射率样本或接 近样品的发射率进行测量。此仪器为目前全球具有权威测量仪

20240701 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪规格书一份V1.0-立鼎光电.pdfRLK650 pro 是便携式红外发射率测量仪 RLK650 的升级产品，采 用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术， 以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反 射比（DHR）测量原理，完成双波段（3-5um 和 8-14um）发射 率的贴近测量，产品针对野外、移动试验条件设计，集公司多 项技术积累，吸收国际先进产品技术与特点，具有携带方便、 操作简单等优点，测量结果保存在 SD 卡中。可广泛应用于飞机、 舰船、车辆的红外隐身性能现场评估，红外隐身涂覆材料的研 究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。详见附件。

D and S AERD半球发射率测定仪Emissometer可快速测量各种固体表面的发射率。 半球发射率(hemispherical emittance): 热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全幅射体(黑体)的辐射出射度之比值。 原理: 加热探测器内的热电堆，使探测器和试板之间产生温差。该温差与试板的发射率呈线性关系，通过比较高、低发射率标准板与试板表面温差的大小，得出试板的发射率。ASTM C1371-15(2022) Standard Test Method for Determination of Emittance of Materials Near Room Temperature Using Portable Emissometers.(便携式反射率测定仪常温下材料半球发射率的测定)。GB/T 25261-2018 建筑用反射隔热涂料(半球发射率)。GB/T 31389-2015 建筑外墙及屋面用热反射材料技术条件及评价方法(半球发射率的测定-辐射计法)。GJB 2502.3-2015 航天器热控涂层试验方法 第3部分: 发射率测试(辐射计法(方法2031))。HG/T 4341-2012 金属表面用热反射隔热涂料(半球发射率)。JG/T 235-2014 建筑反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。JG/T 375-2012 金属屋面丙烯酸高弹防水涂料(半球发射率的测定)。JC/T 1040-2020 建筑外表面用热反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。便携式半球反射率测定仪 D and S AERD 主要特点：1. 发射率数字显示，从0.01～1.00，重复性±0.01。2. 测量时间短(约15秒)。3. 低价格，且操作容易。便携式半球反射率测定仪 D and S AERD 技术参数： 检测器部份:测定波长: 3～30μm。 重复性: ±0.01发射度単位。 输出: 约2.5mV。 响应时间: 约10秒。 电源: AC100～240V。 主机部份:精度: 显示値±0.3%。 环境温度: -10?40℃。 尺寸: 80(W)x152(D)X51(H)mm。 电源: DC9V。 重量: 约370克。京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数 ET100 便携式红外发射率测量仪 符合标准 ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比 波段 6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 IR源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

高精度黑体恒温槽（双工位）产品名称:高精度额温枪检测恒温槽（双工位）商品报价:25000商品型号:YMGDH-0515商品简述:-5~100℃商品品牌:豫明品牌 额温枪校准水浴槽(黑体辐射源)产品说明:豫明品牌高精度额温枪标定恒温槽是自带制冷和加热的高精度恒温源，供计量部门用于一、二等标准水银温度计，贝克曼温度计，工业铂热电阻等的检测校准。配黑体可以用来检测校准额温枪，耳温枪等红外温度计。主要特征:●隐藏推拉式排水管路，方便排液。●全封闭压缩机组制冷,制冷系统具有过热、过电流多重保护装置。●内置搅拌电机，确保稳定高度均匀。●采用XMT模拟数字PID自动控制系统，温度数字显示。●内胆、台面均为全不锈钢，清洁卫生，美观耐腐蚀。技术参数:◆标定方式：水浴式黑体辐射源◆黑体腔测试孔： 2个◆设计理论发射率：≥0.99◆可设温度范围:-5--100℃◆37℃稳定时间：≤15min◆温度波动度: ±0.005~0.02℃◆温度均匀度: ±0.005~0.02℃◆分辨率：0.001℃◆工作槽开口: 235×180mm◆工作槽尺寸: 280×250×200mm◆排水阀：底部隐藏式排水◆定时范围：1-999min或常开◆电源要求：220V 50HZ

远红外发射率测试仪 纺织品发射率红外性能测试仪用途:用于各类纺织产品，包括纤维、纱线、织物、非织造布及其制品等采用远红外发射率的方法测定其远红外性能。测试原理:将标准黑体板与试样先后置于热板上，依次调节热板表面温度使之达到规定温度，用光谱响应范覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到稳定后的幅射强度，通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比，从而求出试样的远红外发射率符合标准:GB/T3012741远红外发射率的测定仪器特性:1、采用触摸屏控制和显示，菜单式操作模式，方便程度堪比智能手机2、核心控制部件采用自主研发组成多功能主板3、仪器表面喷涂采用优质静电喷塑工艺，整洁美观。4、采用光学调制技术，测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响5、为了确保仪器的测量精度，在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，系统自带修补功能和自定义窗口设置6、在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测进一步提高了仪器性能7、在测量过程不会损伤被测样品，操作简便，灵活性高；8、配USB接口和联机接口及操作Windows软件9、配套温自主研发测控系统

技术介绍：系统采用双传感器设计，可在石墨盘旋转同时进行整个石墨盘的漫反射率、镜面反射率及发射率二维分布Mapping 测量；原理用途：物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度、面形以及表面氧化层、涂层、缺陷、残留物、表面杂质等)有关。所以，通过对石墨盘各个点发射率的测量可以直接反映出石墨盘表面肉眼难以观测到的表面细节，同时基于黑体辐射原理进一步评估石墨盘表面温度的分布情况。这对有效控制器件的质量，以及优化生长工艺有帮助。技术指标及特点：1. 扫描尺寸：700mm；2. 适配石墨盘：大部分商用石墨盘；3. 扫描分辨率：径向分辨率0.05mm，角度分辨率0.1°，用户可自定义；4. 扫描时间：10 分钟（465mm 尺寸的石墨盘，以径向1mm，角度0.1°测量）；5. 测量光点尺寸：2mm6. 光源波长：940nm 或660nm（可选）；7. 镜漫反射率分辨率：±0.005；镜漫反射率准确度：±0.01；发射率分辨率：±0.01；发射率准确度：±0.02；8. 系统为离线测量设备，便于石墨盘的装卸。软件操作简单，专为操作员及工程师设计；

LEEM V系统非常紧凑，提供了很高的科学灵活性。主室周围的额外空间，由于90°扇形场，允许灵活安装蒸发或照明光源。晶体表面的直接实时成像使生长、分解、熔化、相变过程和表面扩散的动态研究成为可能。该系统使用简单，具有先进的计算机控制，易于校准。这使用户能够充分利用他们的研究时间。LEEM V还可以使用几个组件进行升级，甚至扩展其功能。热离子LaB6电子枪是标准的电子源。或者，可以安装肖特基场发射极。自旋极化电子枪可用于高横向分辨率的快速磁畴成像。可以添加成像动能分析仪来解析光发射电子的动能，例如使用he等离子体放电光源(hv≈21 eV)或聚焦的实验室x射线源。亮点:最高分辨率( 8nm)，最佳分辨率:4.6 nmLeem, leed, mem, uv - peek, teem快速样品交换特高压原位晶体生长观察宽样品温度范围(~ 100k至1800k)先进的计算机控制

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪 符合标准 ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射 波段区间 335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm IR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间10秒/次；90秒预热 光源 VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便应 用 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪 测量参数 定向半球反射比 (DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 发射率 波段 2个波段：3~5、8~12μm 入射角 20°法线入射 样品表面： 任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 IR 源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境： -25~70℃； 操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

SHAW SDT-Ex是一种紧凑的、3线、4-20mA的露点发射器，设计用来满足严格工业应用的要求。SDT-Ex 本质安全认证，符合 ATEX II I GD Ex ia IICT4 Ex ia D20 T135 °C (-20 °C ≤Ta+60 °C) 使用信号隔离器用于危险区域。结合了先进的电子设备，SDT-Ex供电为7-28V直流非隔离电源，配置输出一个线性、 隔离的,4 - 20 mA 信号，最大传输距离达1000米。利用超高电容SHAW露点传感器，不同露点范围覆盖从 -100 °C to +20°C ，4-20mA输出，可配置以 °C , °F , ppm(v), g/m3 and lbs/MMscf 为单位。这个样品单元包含坚固的外壳，提供 IP66/NEMA 4X级的防风雨保护。SDT-Ex随机提供了校准证书，可追溯到国家和国际湿度标准，说明手册，2米线缆。特点：3 线, 24 V, 4 - 20 mA 露点发射器本质安全： ATEX II I GD Ex ia IIC T4多测量范围: 覆盖 -100 °C to +20 °C 露点输出配置单位 ：°C 露点, °F 露点,ppm(v), g/m3和 lbs/MMscf精度： ±2 °C 露点 (±3.6 °F)防风雨等级： IP66/NEMA 4X开路/短路检测4 - 20 mA 线性信号输出自带包装, 坚固 、可靠提供校准证书可追溯至国家和国际湿度标准

SOC410 VIS-IR便携式发射率和太阳能反射率仪 　　SOC410VIS-IR可见-红外发射率/反射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量包括13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335 nm至2500 nm，红外测量头测量范围为1.5&mu m至远红外。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20° 和60° 两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。该光谱仪还配备了NIST可溯源校准标样。 产品特点：　　&diams 　在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率　　&diams 　半球热辐射的预测　　&diams 　测量太阳能吸收/反射　　&diams 　在335至2500 nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量　　&diams 　可测量光谱范围：从紫外到远红外　　&diams 　NIST可溯源标准　　&diams 　快速和便携式使用产地：美国SOC

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ASC系列光谱校准灯组合完备的光谱线光源 ASC系列光谱校准灯和灯管系列组成了完备的光谱线光源。有5种不同的校准灯：汞，氖，氙，氩，氪。汞灯有很强的光谱线从紫外到可见光范围。氖灯有许多谱线位于800nm到3400nm，并有高亮度，这个特性使它们在近红外范围进行分辨率测试很有效。超过这个波长范围也有一些近似空间线谱，强度相类似的光谱线。 氙灯管的光谱线组成是一些中等强度的，波长范围在800nm到3500nm的谱线，应用在红外光的校准。这些发射谱线的波长多使用在光纤通信系统中用于传输数据。如果用标准灯来测试用于光纤通信系统的光纤和探测器可以很有效而且不需要使用昂贵的激光作为光源。 氩谱线灯的光谱集中在700nm到1000nm，强度高。是这一光谱区域极好的校准谱线。氩灯的分散谱线，间隔小于1nm，可用于分辨率测试。 各种灯具体的光谱线请来电咨询。 特点： 提供紧凑型笔状光谱校准灯，包含各种灯型号 提供的灯具有高重复性的波长和线宽，强度校准。 可以加装快速开关机械装置，放置光具座的支架 5种基本的发射元素&mdash &mdash 汞，氖，氙，氩，氪。参数： 外形： 密封双重孔径熔融石英管. 准备时间： 2-4 分钟 灯寿命： 5000 小时 (500 氖灯) 电源： 110 to 230 VAC, 50/60 Hz 电源软线： 6 ft. (1.83m), 3-wire ground type SJ 输出连接： 16" (40.6 cm)线缆，极化母头连接器 输出电压： 1600V rms, +10%, -0% 输出电流： 0.018 Amp, +10%, -0% 最大环境温度： 35oC 最低环境温度： 15o C 附件： AF2 系列光纤连接器 ASC-DC便携式波长校准光源 ASC系列灯的原子发射光包含了离散的光谱线，光谱线有详细定义的波长，光谱宽度和相对强度。灯的稳定性使它们能非常好的用于校准，对线和光谱设备&mdash &mdash 包括单色仪，分光光度计，光谱摄谱仪和探测器&mdash &mdash 的分辨率测试。便携电池使它在野外或不方便使用电源时也可以操作。 特点：便携式标准氩增强汞灯 高重复性的波长，线宽和强度标准 简单实用的连接架连接SP的单色仪和摄谱仪 匹配SP的AF系列光纤输出 便利的电池组带AC转换器用于无电源工作 参数：灯 应用 汞 强线遍布紫外到可见。 氩 谱线分布在700-1000nm 谱线间隔1nm可用于分辨率测试特点 描述 灯 原子发射灯，外形是双重腔熔融石英管 外壁 黑色阳极电镀 尺寸 4.125" x 1.25" x 0.875" (HxWxD) 交流功率 变压器转化120 VAC,50/60 Hz to 9 VDC 电池 9 V 电池寿命 一次25-45分钟 附件 AF 系列光纤连接器 校准灯光谱数据

场发射扫描电镜 MIRA MIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。配件： 二次电子探头（SE），ET型二次电子探头（YAG 闪烁体） 可移动式背散射电子探头（RBSE）*，可移动环行闪烁体类（YAG）具有高灵敏度和原子序数分辨率（0.1Z） 低真空二次电子探头 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头等，各种配件可供选择 概述：分析潜力 GM样品室配备有5轴马达驱动的全计算机化优中心样品台，完美的几何设计更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD） 优化几何设计的许多接口，更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD）和其他探头 一流YAG闪烁器式探头 可选各种探头和配件 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下，几分钟就可以达到仪器工作需要的真空，电子枪的真空度由离子泵保持 在低真空模式下可以观测不导电的样品，观测磁性样品的效果非常好 可选样品室大小与镜筒防振方式MIRA3配置MIRA3 GMH大样品室高真空式电镜，配备有可选的马达驱动样品台，适合观测导电的样品。MIRA3 GMU可变真空式SEM，体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品，不需要喷金。 软件：标配： 测量 图象处理 3维扫描 硬度测量 多图像校准 对象区域 自动关机时间 公差 编程软件 定位 投影面积 EasySEMTM选配：根据实际配置和需求