薄膜在色仪

SELECTA薄膜真空泵SELECTA薄膜真空泵Vacum-Sel特点占地面积小,台式安静无振动Z高工作温度:40 °C控制面板电源开关真空计,刻度0 至-1 bar真空入口排气口作为试验室科学设备的制作商，J.P.Selecta公司在60多年的时刻里，稳固了相关产品制作出产的市场，并享有盛誉，取得了卓越的成就，产品销往100多个国家.以不同言语制作目录，并积极参加许多世界关注的展览，如:nalytica, Achema, Medica, Pittcon, Expoquimia, Shanghai, Moscow, Arablab等等，这些都是该公司努力拓宽新市场的显着例子。该公司对产品T供yong久的售后服务确保:关于使用好久的设备，许诺对其进行yong久的售后维修服务，确保这些设备的更长时刻的使用寿命。在J.P.Selecta集团，集团规划并出产包含三种类型的产品:+ J.P.Selecta:公司制作的试验室用产品和设备品牌。+ Comecta:其他进口制作商品牌的分销和引入，包含作为自有品牌的Comecta和Ivymen。+ Aquisel:制作用于一次性剖析的体外确诊医疗产品。该公司的出产工厂坐落巴塞罗那(西班牙)的Abrera，面积超过20000平方米，其间包含操控试验室、进程和环境测验区域，配备先进的自动化系列产品的区域。该公司的技术部门负责产品有必要遵循的出产计划、说明和程序开发。一切这些都受到最终质量操控的监督，在最终质量操控中，出产的每台设备都经过百分之百的验证和检查。物流区域，团队使用现代包装技术，在不同的库房预备经过恰当验证的资料，用于装运产品。一切的制作工厂和设备都具有出产高质量产品的z佳技术和生态系统，公司主要出产、出售：浴系列，用于细胞培养和生物样品、酵母和一般需求稳定和可再现温度等使用场合；搅拌器，可用于溶解、提取和均化等试验进程；恒温器系列，用于临床、生化和化学等试验进程；加热套与加热台系列产品，用于消化蒸馏、提取、蒸腾和欢腾等试验进程

原位薄膜应力测量系统，又名原位薄膜应力计或原位薄膜应力仪！MOS美国技术（US 7,391,523 B1）！曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee！ 采用非接触激光MOS技术；不但可以准确的对样品表面应力分布进行统计分析，而且还可以进行样品表面二维应力、曲率成像分析；客户可自行定义选择使用任意一个或者一组激光点进行测量；并且这种设计可以保证所有阵列的激光光点一直在同一频率运动或扫描，从而有效的避免了外界振动对测试结果的影响；同时提高测试分辨率；适合各种材质和厚度薄膜应力分析； 该设备已经广泛被各个学府（如：Harvard University 2套，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University 2套，Karlsruhe Research Center,Max Planck Institute，西安交通大学，中国计量科学院等）、半导体制和微电子造商（如IBM.，Seagate Research Center,Phillips Semiconductor,NEC，Nissan ARC,Nichia Glass Corporation）等所采用； 相关产品： 薄膜应力仪（薄膜应力测量仪）：为独立测量系统，同样采用先进的MOS技术，详细信息请与我们联系。设备名称：薄膜应力测量系统，薄膜应力测试仪，薄膜应力计，薄膜应力仪，Film Stress Tester, Film Stress Measurement System 主要特点： 1.自主专用技术：MOS 多光束传感器技术； 2.单Port(样品正上方)和双Port(对称窗口)系统设计； 3.适合MOCVD, MBE, Sputter，PLD、蒸収系统等各种真空薄膜沉积系统以及热处理设备等； 4.薄膜应力各向异性测试和分析功能； 5.生长速率和薄膜厚度测量；（选件） 6.光学常数n&k 测量；（选件） 7.多基片测量功能；（选件） 8.基片旋转追踪测量功能；（选件） 9.实时光学反馈控制技术，系统安装时可设置多个测试点； 10.专业设计免除了测量受真空系统振动影响；测试功能： 1. 实时原位薄膜应力测量 2.实时原位薄膜曲率测量 3.实时原位应力薄膜厚度曲线测量 4.实时原位薄膜生长全过程应力监控等 实时原位测量功能实例：曲率、曲率半径、薄膜应力、应力—薄膜厚度曲线、多层薄膜应力测量分析等；

总部位于德国柏林科技园区的SENTECH仪器公司，已成为光伏生产设备世界市场之 一.我们是一家快速发展的中型公司，拥有60多名员工，他们是我们有价值的资产我们団 队的每个成员都为公司的成功做出贡献，我们总是在寻找与我们志同道合的新工作伙伴，我 们诚挚期待您的加入。薄膜测量仪器反射膜厚仪RM 1000和RM 2000扩展折射率指数测量极限我们的反射仪的特点是通过样品的高度和倾斜调整进行精确的单光束反射率测量，光学布局的高光导允许对n和kffl 行重复测量，对粗糙表面进行测量以及对非常薄的薄膜进行厚度测量. 紫外-近红外光谱葩围 RM 1000 430 nm-930 nm RM 2000 200 nm - 930 nm 高分辨率自动扫描 反射仪RM 1000和RM 2000可以选配x-y自动扫描台和自动扫描软件、用于小光斑尺寸的物镜和摄像机。综合薄膜测量软件FTPadv Expert宽光谱范围和高光谱精度 SENresearch4.0光谱椭偏仪覆盖宽的光谱范围，从190 nm（深紫外）到3500 nm（近红外）。 傅立叶红外光谱仪FTIR提供了高光谱分辨率用以分析厚度高达200|jm的厚膜。 没有光学器件运动（步进扫描分析器原理） 为了获得测量结果,在数据采集过程中没有光学器件运动。步进扫描分析器（SSA）原理是SENrsearch4.0光谱椭偏仪的一个独特特性。 双补偿器2C全穆勒矩阵测量 通过创新的双补偿器2C设计扩展了步进扫描分析器SSAJ京理，允许测量全穆勒矩阵。该设计是可现场升 级和实 现成本效益的附件。 SpectraRay/4综合椭偏仪软件 SpectraRay/4是用于先进材料分析的全功能软件包,SpectraRay/4包括用于与引导图形用户界面进 行研究的交互 模式和用于常规应用的配方模式.激光椭偏仪SE400adv亚埃精度稳定的氣氤激光器保证了 0.1埃精度的超薄单层薄膜厚度测量。 扩展激光欄偏仪的极限 性能优异的多角度手动角度计和角度精度优越的激光椭偏仪允许测量单层薄膜和层叠膜的折 射率、消光系数和膜厚. 高速测量 我们的激光椭偏仪SE 400adv的高速测量速度使得用户可以监控单层薄膜的生长和终点检 测，或者做样品均匀性的自动扫描。综合薄膜测量软件FTPadvExp测量n, k,和膜厚 该软件包是为R（入）和T（入）测量的高级分析而设计的。 查层膜分析 可以测量单个薄膜和层畳膜的每一层的薄膜厚度和折射率. 大量色散模型 集成的色散模型用于描述所有常用材料的光学特性。利用快速拟合算法，通过改变模型参数 将计算得到的光谱调整到实测光谱。

薄膜耐电弧试验仪注意事项耐电弧试验仪器必须在可靠地接好地线后，方可通电运行，以确保安全。有机玻璃门开关不能以其他方式短路，以保证只有在关好玻璃门后方可接通高压。每次更换试验点或试样时，均应确定调压器退到零位，观察试验电压值指示确为零，再用接地棒接触电极，释放残余电荷。试验结束后，调压器退到零位，切断电源开关。当试验进行到420秒时，无论试样有无破坏，均应按停止按钮，使试验停止进行电压校准时一定要保证两电极有足够的安全距离不闪络，不拉弧，不放电。试品破坏形成导电通道时应快速切断高压停止试验，提升测试时间的准确性，另一方减少电极的损伤。主要技术参数：序号项目参数1电弧通断时间误差1/8段程序小于±5ms，其余小于1ms2调压器容量1kVA3额定试验电压12.5kV4高试验电压15kV5试验电压精度±1.0%6电流控制精度±10% 电流测量精度：1.5%7电极对试样压力（0.5±0.05）N8电极材料钨棒9电极距离（6.35±0.1）mm（IEC/ASTM）10使用环境温度（23±2）℃11使用环境湿度（50±5）%12电源220V±5% 50Hz 10A薄膜耐电弧试验仪状态监控灯。　　合闸：红色表示合闸，绿色表示分闸；　　零位：红色表示调压器在下限位，绿色表示不在下限位；　　上限：红色表示调压器到上限位，绿色表示不在上限位；　　门锁：红色表示门是关闭的，绿色表示门是打开的；　　升压：红色表示步进电机正转升压，绿色表示电机不在升压状态；　　降压：红色表示步进电机反转降压回零，绿色表示电机不在降压状态；　　暂停：红色表示步进电机处在暂停状态，一般电机在电压达到设定值或回到零位后会暂停，绿色表示电机在运转状态；　　急停：红色表示急停按钮处在按下去的状态，此时系统无法启动，绿色表示在解锁状态；薄膜耐电弧试验仪启动按钮。在设置好试验参数后，按清零按钮后再按此按钮可以启动升压。薄膜耐电弧试验仪是在相距 (6.35±0.1)mm的两电极上，按试验方法规定的规律（见试验程序表），由间歇到连续地施加12.5kV工作电压和(10～40)mA的电弧电流，直至试样失效。记下从试验开始到试样失效的总时间（s），即为该试样的耐电弧。其电气原理图见图1。试验电压的产生是由220V交流电压经调压器T5，再由高压试验变压器T4而产生。试验电压12.5kV由调压器T5调节获得。试验电流的大小和通断时间，由PLC控制接在调压器T5和高压试验变压器T4之间的四路固体开关和串联电阻而获得。薄膜耐电弧试验仪仪器下层为电气箱。右后部装有高压试验变压器、保护电阻及高频抑制电感等，左后前部为调压器，中部和前部为主电路控制电路及触控屏控制界面。

kSA MOS UltraScan采用非接触MOS（多光束光学传感）激光技术；不但可以对薄膜的应力、表面曲率和翘曲进行准确的测量，而且还可二维应力 Mapping成像统计分析；同时准确测量应力、曲率随温度变化的关系。基于kSA MOS，kSA MOS Ultra Scan使用二维激光阵列扫描绘制半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等各种抛光表面的二维曲率、翘曲度和薄膜应力分布图。kSA MOS Ultra Scan适用于室温条件下测量需求，实现晶元全自动2D扫描测量，同时获得3D图。部分参考用户：中国计量科学研究院电学与量子所、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院上海技术物理研究所、北京航空材料研究院、苏州大学、中国科学院成都光电技术研究所中国科学院力学所、华南理工大学材料学院、中国空间技术研究院、阿里巴巴达摩院、清华大学、天津理工大学、上海大学、中国科学院兰州空间技术物理研究所、中国航空制造技术研究院、深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司；Harvard University ，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University ， Karlsruhe Research Center，Max Planck Institute，IBM.，Seagate Research Center, Phillips Semiconductor, NEC，Nissan ARC, Nich ia Glass Corporation等。相关产品： *实时原位薄膜应力仪（kSA MOS Film Stress Tester）：同样采用先进的MOS技术，可装在各种真空沉积设备上（如：MBE, MOCVD, sputtering, PLD, PECVD, and annealing chambers ects），对于薄膜生长过程中的应力变化进行实时原位测量和二维成像分析； *薄膜热应力测量系统（kSA MOS Thermal-Scan Film Stress Tester） 技术参数：1.XY双向程序控制扫描平台扫描范围：300mm；2m（可选）；二维应力分析2.扫描速度：可达20mm/s（x,y）；3.XY双向扫描平台扫描步进/分辨率：1 μm；4.平均曲率分辨率：20km，5×10-5 1/m (1-sigma)；5.薄膜应力测量范围：3.2×106到7.8×1010dynes/cm2（或者3.2×105Pa to7.8×109Pa）(1-sigma)；6.应力测量分辨率：优于0.32MPa或1% (1-sigma) 7.应力测量重复性：0.02MPa(1-sigma)；8.平均曲率重复性：5×10-5 1/m (1 sigma) (1-sigma)；9.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全样品扫描；10.成像功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析；11.测量功能：曲率、曲率半径、应力强度、应力和翘曲等；12.二维激光阵列测量技术：不但可以对样品表面进行二维曲率成像分析；而且这种设计能保证所有阵列的激光光点一直在同一频率运动或扫描，从而有效避免外界振动对测试结果的影响；同时提高测试分辨率；主要特点： 1.MOS多光束技术（二维激光阵列）； 2.自动光学追踪技术； 3.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、面积扫描； 4.成像扫描功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析； 5.测量功能：曲率、曲率半径、薄膜应力、薄膜应力分布和翘曲等； 6.适用于各种薄膜应力测量，及半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等表面曲率、面型测量。测试实例：

PHI 4700薄膜分析仪产品介绍产品名称：薄膜分析仪产品型号：PHI 4700品 牌：日本ULVAC-PHI产 地：日本前言在开发新材料及薄膜制程上，为了有助于了解材料组成间的相互作用及解决制程上的问题，材料组成或薄膜迭层的深度分析是非常重要的。PHI 4700使用了AES分析技术为基础，搭配高感度半球型能量分析器、10 kV LaB6扫瞄式电子枪、5 kV浮动柱状式Ar离子枪及高精密度自动样品座。针对例行性的俄歇纵深分析、微区域的故障分析，提供了全自动与及高经济效益的解决方法。PHI 4700是建基于Ulvac-Phi公司的高性能PHI 700Xi俄歇扫描纳米探针。它提供了高度自动化，成本效益的方案进行例行俄歇深度分析和微米范围的故障分析。 PHI 4700可以轻易的配备上互联网的设备，以供远程操作或监控之用。优点量化薄膜的成分 层的厚度测量检测相互扩散层 微米范围多点分析基本规格全自动多样品纵深分析: PHI 4700薄膜分析仪在微小区域之纵深分析拥有绝佳的经济效益，可在SEM上特定微米等级之微小区域快速进行深度分析。图2显示长年使用的移动电话镀金电极正常与变色两个样品之纵深分析结果，两者材质皆为镀金之锡磷合金。从电极二（变色电极）可看到金属锡扩散到镀金膜上，因为界面的腐蚀而产生氧及锡导致电极变色。高感度半球型能量分析器：PHI 4700半球形能量分析器和高传输输入镜头可提供最高的灵敏度和大幅缩短样品侦测时间。除此之外，具有全自动的量测功能，此装置可在短时间内测量多个样品。点选屏幕上软件所显示的样品座，可以记录欲量测的位置，对产品与制程管理上之数据搜集可进行个别分析。10 kV LaB6扫瞄式电子枪：PHI的06-220电子枪是基于一个以LaB6为电子源灯丝以提供稳定且长寿命电子枪的工具，主要在氩气溅射薄膜时进行深度分析。06-220电子枪还可以：产生二次电子成像，俄歇测绘和多点分析。在加速电压调节从0.2至10千伏。电子束的最小尺寸可保证小于80纳米。浮动柱状式Ar离子枪：PHI的FIG- 5B浮动柱状式Ar离子枪:提供离子由5伏到5千伏。大电流高能量离子束被用于厚膜，低能量离子束（250-500 V）用于超薄膜。浮动柱状式，确保高蚀刻率与低加速电压。物理弯曲柱会停止高能量的中性原子，从而改善了接口定义和减少对邻近地区的溅射。五轴电动样品台和Zalar方位旋转：PHI 15-680精密样品台提供5轴样品传送：X，Y，Z，旋转和倾斜。所有轴都设有摩打及软件控制，以方便就多个样品进行的自动纵深分析。样品台提供Zalar（方位角）旋转的纵深剖析，透过减少构件与溅射在一个固定样本的位置，以优化纵深分析。PHI SmartSoft用户界面：PHI SmartSoft是一个被认同为方便用者使用的操作仪器软件。软件透过任务导向和卷标横跨顶部的显示指导用户从输入样品，定义分析点，并设定分析。多个分析点的定义和最理想样品的定位是由一个强大的&ldquo 自动Z轴定位&rdquo 功能所提供。在广泛使用的软件设置，可让新手能够快速，方便地设立测量及其模板。可选用配备热/冷样品座样品真空传送付仪（Sample Transfer vessel）应用领域半导体薄膜产业微电子封装产业无机光电产业微摩擦学

塑料薄膜切样机厂家 薄膜切样机价格 塑料切样机　　中航鼎力仪器塑料薄膜切样机介绍　　本机适用于双向拉伸薄膜（BOPP、BOPC、BOPET、BOPA）、单向拉伸薄膜及其复合膜（袋）拉伸测试用样条的制备。　　符合标准　　符合GB/T1040.3-2006/ISO527-3:1995《塑料拉伸性能的测定 第3部分：薄膜和薄片的试样条件》中6.1.1条关于样条尺寸的相关规定。　　仪器特点　　该机夹持塑料薄膜样品稳固，刀具锋利、易更换；操作简便，使用安全可靠；一次可剪切多层、多个、多种样条；一次可制样数量12条，其中15mm宽5条、10mm宽7条；另外，用户可根据需要自行改变刀具配置后，一次可同时切割10mm、15mm、20mm、25mm四种样条。　　该机切样方式与冲切制样方式相比较，所切样条边缘平整、两边平行无缺陷（在20倍放大比率下观察无缺陷），所切样条可保证薄膜的力学性能不受影响。其拉伸强度及断裂伸长率数据准确、可靠、一致性好。

1. 产品概述SpectraRay/4 是 SENTECH 有的光谱椭圆偏振仪软件，包括椭圆、反射和透射数据的数据采集、建模、拟合和扩展报告。它支持可变角度、多实验和组合光度测量。 包括一个基于 SENTECH 厚度测量和文献数据的庞大而全面的材料数据库。大量的色散模型允许对几乎任何类型的材料进行建模。2. 映射我们的光谱椭圆偏振仪的映射选项具有预定义或用户定义的模式、广泛的统计数据以及以 2D 颜色、灰色、等高线、+/- 与平均值的偏差和 3D 绘图等图形显示数据。3. 模拟测量参数可以模拟为波长、光子能量、倒数厘米、入射角、时间、温度、薄膜厚度测量和其他参数的函数。4. 交互模式设置测量参数并开始薄膜厚度测量通过从材料库拖放或从现有的色散模型中拖放来构建模型定义和改变参数，使计算出的光谱与测量的光谱拟合以交互方式改进模型，实现佳品质因数通过从预定义或自定义的模板中进行选择，将结果报告为 word 文档将所有实验数据、实验方案和注释保存在一个实验文件中5. 配方模式SpectraRay/4 配方模式的优点是两步操作：选择和从库中执行预定义的配方。配方包括厚度测量参数、模型、拟合参数和报告模板。 6. 灵活性和模块化SpectraRay/4 具有单轴和双轴各向异性材料测量、薄膜厚度测量和层测量功能。该软件可处理去化、不均匀性、散射（Mueller 矩阵）和背面反射等样品效应。该软件包括通用光谱椭圆偏振法软件包的所有实用程序，用于数据导入和导出（包括 ASCII）、文件管理、光谱的算术操作、显示、打印和报告（Word 文件格式 *.doc）。脚本编写功能使其非常灵活，可以自动执行常规测量，为要求苛刻的应用进行定制，并控制第三方硬件，如传感器、加热台、样品池或低温恒温器。

产品名称：氮化铝(AlN)薄膜产品简介：AllN Epitxial范本saphhire提出了氢化物气相外延（HVPE）的方法。氮化铝薄膜又是成本效益的方法，用来取代氮化铝单晶衬底。科晶真诚欢迎您的垂询！技术参数：尺寸 dia50.8mm±1mm蓝宝石衬底取向 c轴（0001)±1.0deg衬底： Al2O3 SiC GaN薄膜厚度：10-5000nm导电类型： 半绝缘型位错密度：XRD FWHM of 0002500arcsec XRD FWHM of 10-121500arcsec 有效面积：80%抛光：单抛光 产品规格： 氮化铝(蓝宝石衬底)：dia2"*1500nm±10% 注：可根据客户需求定制特殊的方向和尺寸。标准包装：1000级超净室，100级超净袋或单片盒封装 相关产品： SapphireGaNOther AlN templateZnO金刚石刀真空吸笔系列基片包装盒系列旋转涂层机

PVC薄膜热缩试验仪_包装薄膜热缩仪_薄膜热缩测定仪适用于各种薄膜、热缩管、药用PVC硬片、背板等材料在多种温度下的液体介质中进行热收缩性能及尺寸稳定性的测试。Labthink兰光，致力于通过包装检测技术提升和检测仪器研发帮助客户应对包装难题，助力包装相关产业的品质安全。了解关于更多相关信息，您可以登陆济南兰光公司网站查看具体信息或致电咨询。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。PVC薄膜热缩试验仪_包装薄膜热缩仪_薄膜热缩测定仪特　　征微电脑控制、液晶显示数据菜单式界面、PVC操作面板液体介质加热P.I.D温度监控自动计时试样夹持薄膜网架PVC薄膜热缩试验仪_包装薄膜热缩仪_薄膜热缩测定仪技术指标试样尺寸：≤140mm×140mm温度范围：室温～200℃控温精度：±0.3℃电　　源：AC 220V 50Hz外形尺寸：440mm(L)×370mm(B)×310mm (H)净　　重：24kgPVC薄膜热缩试验仪_包装薄膜热缩仪_薄膜热缩测定仪标　　准ASTM D2732塑料薄膜和薄板的自由线性热收缩率的标准试验方法GB 13519-1992聚乙烯热收缩薄膜PVC薄膜热缩试验仪_包装薄膜热缩仪_薄膜热缩测定仪配　　置标准配置：主机、夹持网5套、夹持网托架3件选 购 件：夹持网、夹持网托架

仪器简介：kSA MOS ThermalScan 薄膜热应力测量系统（薄膜应力仪，薄膜应力计，薄膜应力测试仪），测量光学设计MOS传感器，同时kSA公司荣获2008 Innovation of the Year Awardee！系统采用非接触MOS激光技术；不但可以对薄膜的应力、表面曲率和翘曲进行准确的测量，而且还可二维应力Mapping成像统计分析；同时可准确测量应力、曲率随温度变化的关系；部分参考用户：中国计量科学研究院电学与量子所、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院上海技术物理研究所、北京航空材料研究院、苏州大学、中国科学院成都光电技术研究所中国科学院力学所、华南理工大学材料学院、中国空间技术研究院、阿里巴巴达摩院、清华大学、天津理工大学、上海大学、中国科学院兰州空间技术物理研究所、中国航空制造技术研究院、深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司；Harvard University ，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University ， Karlsruhe Research Center，Max Planck Institute，IBM.，Seagate Research Center, Phillips Semiconductor, NEC，Nissan ARC, Nich ia Glass Corporation等。同类设备：*薄膜应力测试仪（薄膜应力测量系统，薄膜应力计）；*薄膜残余应力测试仪；*实时原位薄膜应力测量系统；技术参数： Film Stress Tester, Film Stress Measurement System，Film Stress Mapping System 1.变温设计：采用真空和低压气体保护，温度范围RT~1000°C； 2.曲率分辨率：100km； 3.XY双向程序控制扫描平台扫描范围：up to 300mm（可选）； 4.XY双向扫描速度：可达20mm/s； 5.XY双向扫描平台扫描步进分辨率：2 μm ； 6.样品holder兼容：50mm, 75mm, 100mm, 150mm, 200mm, and 300mm直径样品； 7.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描； 8.成像功能：样品表面2D曲率、应力成像，及3D成像分析； 9.测量功能：曲率、曲率半径、应力强度、应力、Bow和翘曲等； 10.温度均匀度：优于±2摄氏度； 主要特点： 1.MOS多光束技术（二维激光阵列）； 2.变温设计：采用真空和低压气体保护，温度范围RT~1000°C； 3.样品快速热处理功能； 4.样品快速冷却处理功能； 5.温度闭环控制功能，保证优异的温度均匀性和精度 6.实时应力VS.温度曲线； 7.实时曲率VS.温度曲线； 8.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描； 9.成像功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析； 10.测量功能：曲率、曲率半径、薄膜应力、薄膜应力分布和翘曲等； 11.气体（氮气、氩气和氧气等）Delivery系统；实际应用：

1. 产品概述FTPadv是一种经济高效的台式光谱反射解决方案，具有快速厚度测量功能。测量时间不到 100 ms，精度低于 0.3 nm，膜厚范围为 50 nm – 25 μm。包括一系列预定义的配方，便于光谱反射仪操作。2. 主要功能与优势获得薄膜厚度的短方法通过选择并开始适当的配方，SENTECH FTPadv 反射仪可在不到 100 ms 的时间内完成厚度测量，精度小于 0.3 nm，厚度范围为 30 nm – 25 μm。AutoModel 功能和基于 SE 的材料库通过比较测得的反射光谱和光谱库，可以将操作员的误差降低。基于SENTECH的椭圆偏振光谱仪测量的大型材料库，为新材料的光学常数测量提供了方法。应用业知识30 多年来，SENTECH 已成功销售用于各种应用的 FTPadv 膜厚探头。这款台式反射仪可在工业或研究环境中，通过远程或直接控制，在低温或高温下，原位或在线测量小样品到大窗玻璃的厚度。 3. 灵活性和模块化SENTECH FTPadv的一个关键特性是可以测量多层样品中任何层的厚度，这使得FTPadv成为膜厚测量的理想、经济高效的解决方案。用于过程控制的FTPadv包括一个带有柱子和样品架的光纤束、一个带卤素灯的稳定光源以及FTP光学器件和控制器站。通过LAN连接到PC，可以在恶劣的工业应用环境、受到特殊保护的房间或大型机械中远程控制工具。反射仪 FTPadv 带有大量预定义的配方，例如半导体上的电介质、半导体上的半导体、硅上的聚合物、透明基板上的薄膜、金属基板上的薄膜等。自动建模功能允许通过与光谱库进行比较来快速检测样品类型。该反射仪将操作员错误降低。通过光学反射测量薄膜厚度从未如此简单。FTPadv菜单驱动的操作软件允许在出色的操作员指导下对单层和多层结构进行厚度测量。此外，它还具有强大的分析工具和出色的报告功能。额外的映射软件可用于控制电动样品台。将软件升到软件包FTPadv EXPERT，用于反射测量的高分析，通过应用具有未知或不同光学特性的材料，扩展了标准软件包。因此，可以进行厚度测量以及单片薄膜的折射率和消光系数分析。

RSY-R2 薄膜热收缩试验仪_薄膜热缩仪技术特征微电脑控制、液晶显示、PVC操作面板、菜单式界面，方便用户快速操作数字P.I.D控温监控技术既可快速达到设定温度，且有效地避免温度波动液体介质加热提供了稳定的测试环境系统自动计时，有效地保证了测试数据的准确性配备标准的试样夹持薄膜网架，确保试验顺利进行测试原理仪器精确控制加热槽中载热油温度，将试样裁取一定尺寸，放入加热槽中一定之间，达到时间后取出试样，冷却到室温后量取试样的尺寸，计算热收缩率。该仪器符合多项国家和国标标准：GB/T 13519、ASTM D2732测试应用适用于各种薄膜在多种温度下的液体介质中进行热收缩性能的测试，如酒类、易拉罐类、矿泉水类、各种饮料类的整体集合包装用PE热收缩膜，以及PVC、POF、OPS、PET等适合各种包装的收缩膜薄膜热收缩试验仪_薄膜热缩仪

薄膜透湿仪_薄膜透湿性测试仪W301B水蒸气透过率测试仪又叫透湿性测试仪。基于杯式法测试原理，是一款专业用于薄膜试样的水蒸气透过率测试仪，适用于塑料薄膜、复合膜等膜、片状材料与医疗、建材领域等多种材料的水蒸气透过率的测定。通过水蒸气透过率的测定，达到控制与调节材料的技术指标的目的，满足产品应用的不同需求。产品特点◎ 称重法测试原理，符合标准要求的间歇式称量，每次测量前系统自动清零，保证数据的统一性和准确性◎ 高清液晶触摸屏，内容更直观，操作更简便◎ 单次试验测试1个试样，过程全自动化，透湿杯升降称量由气缸控制，数据准确可靠◎ 创新循环除湿系统，内置真空泵，有效防止透湿杯上方湿度梯度的形成，保证测试的准确性◎ 宽范围、高精度、自动化温湿度控制，满足各种试验条件下的测试◎ 试验结果支持多格式存储和数据输出，包括实验报告 Excel、云端共享◎ 提供标准砝码快速校准模式，称量系统保证检测数据的准确性◎ 产品符合GMP用户三级权限◎ 可进行试验结果的单次、成组的统计分析◎ 具备 ISP 在线控制、升级功能，可按照要求远程更改试验功能◎ 专门的计算机通信软件，可进行试验的实时显示及数据的分析处理 、数据保存 测试原理W301B水蒸气透过率测试仪采用透湿杯称重法测试原理，在一定的温度下，使试样的两侧形成一特定的湿度差，水蒸气透过透湿杯中的试样进入干燥的一侧，通过测定透湿杯重量随时间的变化量，从而求出试样的水蒸气透过率等参数。 应用领域薄膜：适用于各种塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、土工膜、共挤膜、防水透气膜、 镀铝膜、铝箔、铝箔复合膜等膜状材料的水蒸气透过率测试片材：适用于各种工程塑料、橡胶、建材（建筑用防水材料）、保温材料等片状材料的 水蒸气透过率测试。如PP片材PVC片材、PVDC片材、尼龙片材等纸张、纸板：适用于纸张、纸板的水蒸气透过率测试纺织品、非纺织布：适用于纺织品、非纺织布等材料的水蒸气透过率测试薄膜透湿仪_薄膜透湿性测试仪技术指标测试范围：0.01 ~ 100 g/m224h0.1MPa（常规）测试精度：0.01 g/m224h0.1MPa系统分辨率：0.001 g/m224h0.1MPa试样数量：1 ~ 3件（数据各自独立）试验温度：室温 ~ 55°C（常规）控温精度：±0.5°C试验湿度：10%RH ~ 98%RH（标准90%RH）控湿精度：±2%RH测试面积：50 cm2试样厚度：≤ 3 mm （其他厚度要求可定做）载气流量：0 ~ 200 ml/min试验压力：≥0.20 MPa接口尺寸：1/8英寸金属管外形尺寸：440 mm (L) × 450 mm (W) × 450 mm (H)电 源：AC 220V 50Hz净 重：42 kg测试标准该仪器符合多项国家和国际标准：ISO 15106-2、ASTM F1249、GB/T 26253-2010、TAPPI T557、JIS K7129、YBB 00092003-2015 产品配置标准配置：主机、专业软件、通信电缆、取样器、手套选购件：标准膜、空压机备注：本机气源进口为1/8英寸金属管；气源、蒸馏水用户自备

产品名称： 石墨烯薄膜 产品数据： 产品尺寸： dia100mm生长方法：CVD法薄膜厚度：1-10单分子层厚度Ni层厚度：300nm氧化层厚度：500nmSi片厚度：500umResearch Grade , about 90 % useful area 详细参数请点击 数据图表： Graphene film structure Optical microstructure picture Ramam Spectrum 标准包装： 1000级超净室100级超净袋真空包装或者单片盒装

苏州锂影科技有限公司 薄膜X射线衍射仪苏州锂影科技有限公司衍射仪高端个性化定制服01 产品说明 Product Instructions薄膜X射线衍射仪是在浩元DX2700BH衍射仪粉末版仪器的基础上专门针对薄膜样品研发的。薄膜样品一般指通过刮涂、喷涂、旋涂等方法在玻璃、硅片等基底上制备的纳米或微米级膜以及通过吹塑、压片等方法直接得到的微米或毫米级膜。由于厚度较薄，因此在测试前需要对样品的水平性（ω和χ方向）和高度（Z）进行严格的校准，以保证样品恰好处于光路中且与直通光平行，否则将测不到样品的衍射信号。02 技术参数 Technical Parameter 该款仪器配备了锂影科技开发的chi/Z两轴薄膜样品台。配合仪器原有的θs（亦称θ轴或ω轴）、θd轴（亦称2θ轴），可以进行薄膜水平与高度位置的对准，之后进行准确的X射线衍射（XRD）、X射线反射率（XRR）和面外掠入射X射线衍射仪（GIXRD）的测试，得到样品的结晶结构、晶相、微晶尺寸、取向、厚度、密度、粗糙度等信息。同时该仪器还配套了锂影科技二次开发的测试软件，采用中文界面，操作简单易学易用。 03 售后服务 After-sale Service1、免费上门安装：是 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费上门指导5、报修承诺：24小时线上服务6、免费仪器保养：1年1次7、免费培训：工程师技术培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：

FSD-200 型薄膜表面在线检测仪 用途Application Summary▲实时检测薄膜的表面疵点，如鱼眼、污点、杂质、破洞、斑块、条纹等。Detect and analyze defects on film surfaces in real-time. Examples include fisheye,stain, impurity, hole, spots, plaque, strip,etc.▲薄膜材质可以是PP、PE、PVC 或其它树酯膜。Applicable film material include PP,PE,PVC or any other resin based film.▲对透明薄膜的检测，是本系统的特点所在，但也可以检测其它不透明膜。The unique system is designed for transparent film detection, but it can also beused to detect defects in opaque film. 适用标准Applicable StandardsGB6595-86、ASTM 3351-93、GB/T 4611-2008、GB/T 11115-2009，or anystandard, depending on film or resin material.Model FSD-200 Film Surface Detector 技术指标Technical Specifications1. 适用薄膜宽度： 210mm 及以下.Applicable film width : 210mm or lower2. 最小检测目标：0.1mm， 需更小时可选用不同的CCDMin. target radius：0.1mm. Also available in smaller target radius with different CCD.3. 检测精度：最大分辩 30μm，需更小时可选用不同的CCDResolution: Max 0.03mm. Also available in smaller resolution with different CCD.4. 检测元件：面阵CCDSensor: area-scan CCD.5. 薄膜移动速度： 18m/min 以下。Film moving speed: less then 18m/min.6. 通讯接口： RS232/RS485/Ethernet/USBCommunication interface: RS232/RS485/Ethernet/USB7. 光源：LED 冷光源30WLight assembly: LED cold light, 30watt.8. 电源： 220VAC 50HzPower supplier: 220VAC 50Hz9. 外形尺寸(长ⅹ宽ⅹ高)： upper unit: 230mmⅹ131mmⅹ108mmAssembly Dimension( LⅹWⅹH): lower unit: 272mmⅹ160mmⅹ252mm 仪器功能特点 Application Highlights1. 实时检测薄膜的疵点大小、数量和分类统计Real-time detection of defects size , quantity and classification.2. 可以检测薄膜的边界尺寸Can detect film size.3. 界面显示薄膜面的实测状况及图像Displays image of of detected film surface in real time.4. 界面图像可放大缩小以便于观测目标点的细节Displayed detection area can be zoomed in and out for detail observation of target.5. 检测结果可储存，可打印Detection result can be saved and printed.6. 按要求的检测表格输出，并包含产品的生产信息Inspection Report can be customized based on user requirements to include production information.7. 检测表格的项目可编辑修改，以确定合格的标准设定Inspection Report can be updated to match new acceptance criteria.8. 历史数据和图表可分类显示及趋势Historical data or chart can be displayed for classification.9. 精巧的设计结构。小型化现场安装，外形结实美观Minimal footprint, elegant exterior, professionally designed for industrial and commercial applications.

薄膜电压击穿试验仪此设备软件外观由专业的美工设计：人员管理：可添加多人同时使用此软件 不同人员设定不同密码 交叉使用互不干扰 （如一人使用可删除设定密码 直接进入软件）参数管理：高压保护可选、 耐压时间可选、 梯度步进可选 、漏电流和过压可选、灵敏的漏电压可选、漏电可选 、升压速度可自由设定（0-5kv 无极环入）试验结果可选 异地操作选定 、人机分离选定等结果调取：试验结果保存调取 、人员选定调去 、试验结果可根据客户要求操作整理 、支持5次以上彩线对比、自动整取添加试验数据。01、输入电压： 交流 220 V02、输出电压： 交流 0--50KV 直流 0—50kv03、电器容量：3KVA04、高压分级：0—50KV，（全程可调）05、升压速率：0.1KV/s-5kv/s 可调薄膜电压击穿试验仪安全保护：本机具有完善的安全防护措施：本实验仪电路保护控制：跳闸后电压自动回零1、超压保护2、试验过流保护3、试验短路保护4、安全试验门保护5、软件误操作保护中华人民共和国国家标准电容器纸工频击穿电压测定法GB 12656-90Determination of electric strength at powerfrequence for capacitor paper本标准参照采用IEC243-1(1988)《固体绝缘材料电气强度测试方法)。1主题内容与适用范围本标准规定了工频下测定电容器纸击穿电压的方法。本标准适用于未浸渍电容器纸页或其他类似的材料。2引用标准GB 450纸和纸板试样的采取GB1408固体绝缘材料工频电气强度的试验方法3定义孓1击穿电压breakdown voltage在规定的试验条件下,用连续均匀升压的方法对电容器纸施加工频电压,使纸样发生击穿时的电压值。3.2 电气强度electric strength在规定的试验条件下,电容器纸试样发生击穿的电压值除以施加电压的两电极之间纸样的平均厚度。薄膜电压击穿试验仪尺寸:上电极25 mm,边缘倒圆半径r-2.5mm 下电极025mm,边缘倒圆半径r=2.5 mm 或430~40 mm 975 mm 4.2.3电极表面加工精度及其它要求按GB1408 第4章电极的规定。4.2.4若上,下电极直径相同时,则必须同轴使其上,下准确成一直线。4.3烘箱:可保持105±5℃自动调节恒温烘箱，5试样处理按GB450的规定,从纸卷上取下纸样,横向裁出宽80mm的纸条16~20条,注意试验纸条上不应有裙子、皱纹、针孔等纸病,将取得试样纸条垂直挂于烘籍内,在105±5℃温度下烘干1h，经烘干处理薄膜电压击穿试验仪国家技术监督局1990-12-28批准1991-10-01实施GB 12656-90后的试样置于干燥器内,立即在室温下进行击穿试验,试验过程中,必须保证不使试样重新吸湿而明显影响击穿电压值。在有争议的情况下,试验应在90±2℃条件下进行仲裁。6试验步骤取双层试样置于上下两电极之间,并以电极自重压在试样上,连续均匀地对试样施加工频电压,在10~20s之间使电压由零升至击穿发生,记录击穿电压值.移动纸条,每隔50~60mm,按上述步骤测定一点击穿电压,起始瞬时个别击穿点应略去不计,直至测得20点有效电压值。每进行300~500次击穿后,对电极应用细金刚砂(或No:02金相砂纸)研磨清净一次，7结果计算以试样的20点击穿电压值的算术平均值除以2表示试验结果(V/层),并报告结果的变异系数和最低击穿电压值(V/层)。8试验报告2.本国家标准的编号:b.全面鉴别试样的标志 薄膜电压击穿试验仪d.测定结果击穿电压平均值,最小值和变异系数 如有要求可按试样实测厚度报告电气强度(kV/mm)。附加说明:本标准由中华人民共和国轻工业部提出。本标准由轻工业部造纸工业科学研究所归口、起草。本标准的主要起草人张少玲、何锁琴。主要功能：1、试验过程中可动态绘制出试验曲线，试验的曲线可以多种颜色叠加对比。2、可对试验数据进行编辑修改，灵活适用；3、试验条件及测试结果等数据可自动存储；4、试验报告格式灵活可变，适用于不同用户的不同需求；5、可对一组试验中曲线数据的有效与否进行人为选定；6、试验结果数据可导入EXECL,WORD文档编辑；7、过电流保护装置有足够的灵敏度，能够保证试样击穿时在0.1S内切断电源；8、仪器运行的持久性: 仪器可连续运行使用，不需为保护仪器而定期停机。9、软件可以设置管理员与各个使用人员自己的参数和报告存储权限.

厂家正式授权代理商：岱美有限公司联系电话：，（贾先生）联系地址：北京市房山区启航国际3期5号楼801公司网址：ThetaMetrisis是一家私有公司，成立于2008年12月，位于希腊雅典，是NCSR' Demokritos' 的微电子研究所的第一家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技术是白光反射光谱（WLRS），它可以在几埃到几毫米的超宽范围内，准确而同时地测量堆叠的薄膜和厚膜的厚度和折射率。 FR-Mic: 微米级薄膜表征-厚度，反射率，折射率及消光系数测量仪一、产品简介： FR-Mic 是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台专用计算机控制的 XY 工作台，使其快速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。o 实时光谱测量o 薄膜厚度，光学特性，非均匀性测量，厚度映射o 使用集成的， USB 连接高品质彩色摄像机（CCD）进行成像 二、应用领域 o 大学 & 科研院所o 半导体（氧化物、氮化物、硅、电阻等）o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求，请与我们取得联系) 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数 FR-Scanner 自动化超高速精准薄膜厚度测量仪 一、产品简介： FR-Scanner 是一种紧凑的台式工具，适用于自动测绘晶圆片上的涂层厚度。FR-Scanner 可以快速和准确测量薄膜特性:厚度，折射率，均匀性，颜色等。真空吸盘可应用于任何直径或其他形状的样片。 独特的光学模块可容纳所有光学部件:分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此，在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。FR-Scanner 通过高速旋转平台和光学探头直线移动扫描晶圆片(极坐标扫描)。通过这种方法，可以在很短的时间内记录具有高重复性的精确反射率数据，这使得FR-Scanner 成为测绘晶圆涂层或其他基片涂层的理想工具。测量 8” 样片 625 点数据60 秒 二、应用领域o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 半导体生产制造：(光刻胶, 电介质,光子多层结构， poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数FR-Scanner: 自动化超高速薄膜厚度测量仪 FR-pOrtable:一款USB驱动的薄膜表征工具 一、产品简介： FR-pOrtable 是 一 款独 特 的 便 携 式 测 量 仪器 ， 可 对 透 明 和 半 透明 的 单 层 或 多 层 堆 叠薄 膜 进 行 精 确 的 无 损（非接触式）表征。使用 FR-pOrtable，用户可以在 380-1020nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量及薄膜厚度测量。二、应用领域o 大学 & 科研院所o 半导体（氧化物、氮化物、硅、电阻等）o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求，请与我们取得联系) 三、应用领域 FR-pOrtable的紧凑尺寸以及定制设计的反射探头以及宽带长寿命光源确保了高精度和可重复的便携式测量。 FR-Portable既可以安装在提供的载物台上，也可以轻松转换为手持式厚度测量工具。放置在待表征的样品上方即可进行测量。 FR-Portable是用于工业环境（如R2R、带式输送机等）中涂层实时表征的可靠而精确的测厚仪。四、产品特点o 一键分析 (无需初始化操作)o 动态测量o 测量光学参数(n & k, 颜色)，膜厚o 自动保存演示视频o 可测量 600 多种不同材料o 用于离线分析的多个设置o 免费软件更新服务 五、技术参数FR-pRo: 按需可灵活搭建的薄膜特性表征工具一、产品简介： FR-pRo 是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备，用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层.FR-pRo 是为客户量身定制的，并广泛应用于各种不同的应用 。 FR-pRo 可由用户按需选择装配模块，核心部件包括光源，光谱仪（适用于 200nm-2500nm 内的任何光谱系统）和控制单元，电子通讯模块此外，还有各种各种配件，比如:? 用于测量吸收率/透射率和化学浓度的薄膜/试管架,? 用于表征涂层特性的薄膜厚度工具,? 用于控制温度或液体环境下测量的加热装置或液体试剂盒,? 漫反射和全反射积分球通过不同模块组合，最终的配置可以满足任何终端用户的需求 二、应用领域o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )O 半导体生产制造：(光刻胶, 电介质,光子多层结构， poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数

1. 产品概述SENTECH SE 500adv结合了椭圆偏振法和反射法，消除了测量透明薄膜层厚的模糊性。它将可测量的厚度扩展到 25 μm。因此，SE 500adv 扩展了标准激光椭偏仪 SE 400adv 的功能，特别适用于分析较厚的电介质、有机材料、光刻胶、硅和多晶硅薄膜。2. 主要功能与优势明确的厚度测定椭圆偏振法和反射法的结合允许通过自动识别循环厚度周期来快速、明确地确定透明薄膜的厚度。大的测量范围激光椭偏仪和反射仪的结合将透明薄膜的厚度范围扩展到 25 μm 或更多，具体取决于所选的光度计选项。突破激光椭圆偏振仪的限多角度手动测角仪具有优秀的性能和角度精度，可以测量单片和层叠的折射率、消光系数和膜厚。 3. 灵活性和模块化SENTECH SE 500adv 可用作激光椭偏仪、膜厚探头和 CER 椭偏仪。因此，它提供了标准激光椭偏仪无法达到的大灵活性。作为椭圆仪操作，可以执行单角度和多角度测量。当作为膜厚探头操作时，透明或弱吸收膜的厚度是在正常入射下测量的。SE 500adv 中的椭圆偏振法和反射仪 （CER） 组合包括椭偏仪光学元件、测角仪、组合反射测量头和自动准直望远镜、样品平台、氦氖激光源、激光检测单元和光度计。

1、适用于热敏物料的高效，快速浓缩；2、实验室替代旋转蒸发仪的新型浓缩设备，连续进料和出料，效率更高，适应范围更广；3、结构简单、稳定、可靠，实验室操作人员可单手轻松操作；4、浓缩时间短，低于30S，物料受热时间短，更适合热敏性物料 雅程YC-210薄膜浓缩仪与旋转蒸发仪的差别是，刮膜式快速浓缩仪能实现连续进料，不需要让物料长时间的停留在受热容器里；雅程薄膜浓缩仪可用于医药，化工和生物制药行业的快速浓缩，结晶，干燥和有机溶剂的快速回收；雅程YC-210薄膜浓缩仪是利用降膜和刮膜技术优势，使物料液体在刮板的作用下，沿加热管壁呈膜状向下流动而进行传热和蒸发，传热效率高，蒸发速度快，物料停留时间短，再根据液体气化的速度与温度、压力和表面积的关系，在真空状态下将各种因素达到很好的配合，从而形成了真空直流、连续进液、瞬间蒸发的新一代中草药提取液的快速浓缩设备；因此，雅程薄膜浓缩仪特别适用于高温状态下容易分解变性的生物制品，即使你的物料在浓缩过程容易发泡，或者你用于高粘度的物料，高效快速浓缩也没有任何问题；薄膜浓缩仪采用特制加工成型玻璃，易于清洗，耐腐蚀；雅程薄膜浓缩仪因为是连续进料，尤其适用于大量溶液的浓缩任务，整个过程有进液控制、蒸发分离及浓缩液和溶剂回收来完成；雅程薄膜浓缩仪被浓缩液体从进入系统到完成浓缩离开热源仅需30秒，从而大限度的避免了因长时间受热对有效成分的破坏；雅程薄膜浓缩仪适用于易热变的物质及易发泡、粘稠度高的物质的浓缩、提纯、脱色、除臭、脱气；每一台薄膜浓缩仪出厂前我们都经过了严格的测试，确保整机性能稳定，符合我们苛刻的出厂标准，每一台刮膜式快速浓缩仪出厂前都经过了72小时不间断的运行测试。雅程薄膜浓缩仪常用于制药、食品、化工等行业稀溶液的蒸馏、浓缩、分离的任务。我们为薄膜浓缩仪录制了教学视频，所以你收到了薄膜浓缩仪就能快速的学会操作，即使完全是新手，也不行担心设备的使用问题。

目的和应用薄膜测厚仪用于以下两个领域：它可用于测量金属箔片、塑料薄膜、纸板、纸张和其它薄片的厚度。第二个也是更重要的应用为测量薄基材上的涂层材料厚度。如果基材为非金属那么磁性或电子测量方法便不能应用。对于非破坏测量，此仪器是唯一可能的测量差异方法。此仪器的一个特别重要的应用领域为：它可用于&ldquo Leneta&rdquo 薄膜的耐擦洗测试。符合德国标准DIN 53 778第二部分和用于颜色测量与遮盖力的黑白对照卡。适用的仪器为：微处理控制涂膜和干燥时间计509/MC，仪力信耐擦洗仪494#，涂膜器288#、358#、360#、411#、421#，测试卡451#，亮度计517#。 测试原理薄膜的厚度可通过一个刚性表面和一个可提升弹簧压力的冲头之间测出，可直接从表盘上读出读数。 设计和功用497型薄膜测厚仪为一小型、便携、高精度的测量范围。它由带支撑面的测量托架、冲头，带零位设置的表盘、把手和拇指压力杆组成，托架刚度很高，把手和表盘之间绝热。仪器装在一个塑料保护盒中。测试程序压下拇指杠杆，测试头将抬起，样品放在支持面和冲头之间，冲头慢慢放下，结果从刻度上读出。 技术数据净重：约100 g测量范围： 0~1000mm0~200mm带1mm的分刻度读数精度：± 1mm颈部深度： 30 mm支持面尺寸：约f6 mm，面积＝约30 mm2测量压力：约1.2 N＝约0.04 N/mm2 订货信息订货号概述0014.01.31 497型薄膜测厚仪

kSA MOS US采用非接触MOS（多光束光学传感）激光技术；不但可以对薄膜的应力、表面曲率和翘曲进行准确的测量，而且还可二维应力 Mapping成像统计分析；同时准确测量应力、曲率随温度变化的关系。基于kSA MOS ，kSA MOS Ultra Scan使用二维激光阵列扫描绘制半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等各种抛光表面的二维曲率、翘曲度和薄膜应力分布图。kSA MOS Ultra Scan适用于室温条件下测量需求，实现晶元全自动2D扫描测量，同时获得3D图。部分参考用户：中国计量科学研究院电学与量子所、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院上海技术物理研究所、北京航空材料研究院、苏州大学、中国科学院成都光电技术研究所中国科学院力学所、华南理工大学材料学院、中国空间技术研究院、阿里巴巴达摩院、清华大学、天津理工大学、上海大学、中国科学院兰州空间技术物理研究所、中国航空制造技术研究院、深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司；Harvard University ，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University ， Karlsruhe Research Center，Max Planck Institute，IBM.，Seagate Research Center, Phillips Semiconductor, NEC，Nissan ARC, Nich ia Glass Corporation等。 相关产品： *实时原位薄膜应力仪（kSA MOS Film Stress Tester）：同样采用先进的MOS技术，可装在各种真空沉积设备上（如：MBE, MOCVD, sputtering, PLD, PECVD, and annealing chambers ects），对于薄膜生长过程中的应力变化进行实时原位测量和二维成像分析； *薄膜热应力测量系统（kSA MOS Thermal-Scan Film Stress Tester） 技术参数：1.XY双向程序控制扫描平台扫描范围：300mm；2m（可选）；二维应力分析2.扫描速度：可达20mm/s（x,y）；3.XY双向扫描平台扫描小步进/分辨率：1 μm；4.平均曲率分辨率：20km，5×10-5 1/m (1-sigma)；5.薄膜应力测量范围：3.2×106到7.8×1010dynes/cm2（或者3.2×105Pa to7.8×109Pa）(1-sigma)；6.应力测量分辨率：优于0.32MPa或1% (1-sigma) 7.应力测量重复性：0.02MPa(1-sigma)；8.平均曲率重复性：5×10-5 1/m (1 sigma) (1-sigma)；9.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全样品扫描；10.成像功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析；11.测量功能：曲率、曲率半径、应力强度、应力和翘曲等；12.二维激光阵列测量技术：不但可以对样品表面进行二维曲率成像分析；而且这种设计能保证所有阵列的激光光点一直在同一频率运动或扫描，从而有效的避免了外界振动对测试结果的影响；同时提高了测试的分辨率；主要特点： 1.MOS多光束技术（二维激光阵列）； 2.自动光学追踪技术； 3.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描； 4.成像扫描功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析； 5.测量功能：曲率、曲率半径、薄膜应力、薄膜应力分布和翘曲等； 6.适用于各种薄膜应力测量，及半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等表面曲率、面型测量。实际应用：

DahoMeter『达宏美拓』新一代数显固体密度计DH-300，是目前使用群体最多的数显密度测量仪器，在橡塑胶领域中对原料颗粒与制品密度测量应用极为广泛，精度0.001 gcm3，使用水当介质，仅二个步骤即可显示密度值。显著的特点是测量精准、操作简便快捷、稳定耐用、经济实用，适合生产现场和品质监测等领域。 PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300采用一体注塑成型大容量测量配件；一体注塑成型透明水槽，耐摔耐破防腐蚀，测量时可清楚观察样品在介质中的情况；水中吊线采用0.5mm不锈钢材料，不弯不变形，与吊栏垂直不碰触水槽。数显薄膜密度测试仪------高性能、数显直读、密度精度千分之一PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300/DH-600主要针对：橡胶、塑胶、塑胶造料企业、电线电缆、复合材料、高分子、电工电器、体育器材、轮胎、玻璃制品、新材料研究实验室。PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300/DH-600依据：ASTM D792、 ASTM D297、 GB/T1033、GB/T2951、 GB/T3850、 GB/T533、 HG4-1468、 JIS K6268、 ISO 2781、ISO 1183…等标准规范。PP薄膜-PE薄膜-PVC薄膜密度测试仪DH-300/DH-600也适合：合金材料、硬质合金、粉末冶金、磁性材料、精密陶瓷、耐火材料、矿物与岩石、水泥制造、珠宝产业…等行业。技术参数：1、型号： DH-300/DH-600 2、密度解析：0.001 g/cm3 3、最大称重：300g/600g 4、最小称重：0.005g 5、测量范围：0.001—99.999g/cm3 6、同类型号：DA-300M/DE-120M及高精度DH-300M/DH-120M 主要特点：1、直读任何固体物质的密度，Quick Test快速测试，更有效率，适合生产现场和品质监测等领域2、测量精准、操作简便、稳定耐用、经济实用3、全自动零点跟踪、蜂鸣器报警、超载报警功能4、具有实际水温补偿功能5、使用水作介质，也可使用其它液体介质6、采用一体成形大容量测量配件，水槽防腐蚀、耐摔耐破7、配置专用防风防尘罩8、含RS-232C通信接口，方便连接PC与打印机，可选购DE-40打印机打印测量数据9、本产品自出售之日起免费保修一年可测量项目：1、可测定各种塑胶制品与原材料的密度，如颗粒、PVC颗粒、PE颗粒、树脂、片材、管材、线材、板材等类似产品；2、可测定各种橡胶制品与原材料的密度，如颗粒、生胶、熟胶、矽胶、O型圈、密封圈等类似产品；3、可测定各种橡塑胶发泡体、海绵、泡沫、密度小于之1之浮体等类似产品；4、可测定各种金属、合金、玻璃、木材、石材、石墨之密度；6、可测定各种黏稠体、胶状体的密度，如玻璃胶、保护胶、固化胶、护肤化妆品、牙膏等类似产品；7、磁性材料、粉末冶金、磨擦材料、精密陶瓷等类似产品之半成品、成品密度皆能测量；8、各种金属粉末、橡胶粉末、塑胶粉末、水泥粉末皆能测量。标准附件：①主机、②水槽、③测量台、④镊子、⑤温度计、⑥100G砝码、⑦防风防尘罩、⑧测颗粒配件一套、⑨测浮体配件一套、⑩电源变压器一个选购配件：①DE-40打印机测量步骤：①将产品放入测量台，测空气中重量，按ENTER键记忆。②将产品放入水中测水中重量，按ENTER键记忆，显示密度值。Daho Meter『达宏美拓』 旗下产品：经济型DH-300塑料密度计 经济型DH-300L液体密度计 经济型DH-300X固液体密度计实用型DA-300M塑料密度计 实用型DA-300W液体密度计 实用型DA-300T固液体密度计高精度DE-120M塑料密度计 高精度DE-120W液体密度计 高精度DE-120T固液体密度计日本主机实用型DH-300M塑料密度计 日本主机实用型DH-300W液体密度计 日本主机实用型DH-300T固液体密度计 日本主机高精度DH-120M塑料密度计 日本主机高精度DH-120W液体密度计 日本主机高精度DH-120T固液体密度计原材料塑料颗粒快速水份测定仪DH-610编辑：lcl 15.6

FR-pOrtable:一款精准&性价比高的薄膜表征设备 FR-pOrtable（便携式FR） 是一款独特设备，为精准测试单层或者 多层的透明和半透明的薄膜的光学特性提供了关键解决方案。使用 者可以在350nm-1000nm的特殊光谱范围内完成薄膜反射比的测试。 特征分析： FR-pOrtable是由一个微型3648像素16位分辨率的光谱仪和一个 高稳定的白炽灯和LED组成的混合光源组成的，光源的平均寿命 20000h。其紧凑型的设计和定制的反射探头保证了性能测试的高精准性以及可重复性。并且，既可以安装在台面上，又可以转化为手持式的厚度测试仪，轻松实现便携实时操作。 性能分析：1、 USB接口供电，无需电源线。2、 真正的便携，用探头检测样品。3、 采用软塑料头，适合野外应用。4、 占地小，可以在办公室内表征薄膜特性。5、 市场最低价。软件：FR-Monitor软件系统提供了多种应用和多种功能的能力。它不但能够实时的监测吸光率，透射率和反射率光谱，而且也包含了用于精准测试独立的薄膜厚度（10nm到100μm）和光学常数（n&k）的白光反射光谱法（WLRS）运算（ThetaMetrisis TM），支持（在透明或者部分透明或者全反射的衬底上）多层薄膜（10层）的测试。不需要高深的光学知识，只要有基本的电脑技巧、一台电脑，轻松实现膜厚测量！ 用户评论暂无评论发评论问商家白光干涉测厚FR-pOrtable的工作原理介绍白光干涉测厚FR-p

XLW(PC)薄膜拉力机 薄膜拉伸强度试验仪 包装薄膜电子拉力机用于塑料薄膜、复合材料、软质包装材料、塑料软管、胶粘剂、胶粘带、不干胶、医用贴剂、离型纸、保护膜、组合盖、金属箔、隔膜、背板材料、无纺布、橡胶、纸张纤维等产品的拉伸、剥离、变形、撕裂、热封、粘合、穿刺力、开启力、低速解卷力、拨开力等性能测试。了解详细信息，敬请致电济南兰光0531-85068566技术特征：XLW(PC)是一款专业用于测试各种软包装材料拉伸性能等力学特性的电子拉力试验机；其超高的精度（0.5级）保证了测试的准确性；七种独立试验程序、多种规格力值传感器、以及七档试验速度选择，可以满足用户的各种试验条件；智能的操作软件不仅方便用户操控设备，还提供了多种数据分析和比对等实用功能。 √ 0.5级的测试精度，有效的保证了试验结果的准确性√一台试验机集成拉伸、剥离、撕裂等七种独立的测试程序，为用户提供了多种试验项目选择√ 1000mm的超长行程可以满足超大变形率材料的测试√ 多种规格的力值传感器以及七档试验速度选择，为用户不同试验条件的测试提供了便利√ 微电脑控制、菜单式界面、PVC操作面板、以及大液晶屏显示，方便用户快速操作√ 限位保护、过载保护、自动回位、以及掉电记忆等智能配置，保证用户的操作安全√ 专业的操控软件提供了成组试样统计分析、试验曲线叠加分析、以及历史数据比对等多种实用功能√ 支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告测试原理：将试样装夹在夹具的两个夹头之间，两夹头做相对运动，通过位于动夹头上的力值传感器和机器内置的位移传感器，采集到试验过程中的力值变化和位移变化，从而计算出试样的拉伸、撕裂、变形率等性能指标。执行标准：ISO 37、GB 8808、GB/T 1040.1-2006、GB/T 1040.2-2006、GB/T 1040.3-2006、GB/T 1040.4-2006、GB/T 1040.5-2008、GB/T 4850-2002、GB/T 12914-2008、GB/T 17200、 GB/T 16578.1-2008、 GB/T 7122、 GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 17590、ASTM E4、 ASTM D882、 ASTM D1938、ASTM D3330、ASTM F88、 ASTM F904、JIS P8113、QB/T 2358、QB/T 1130XLW(PC)薄膜拉力机 薄膜拉伸强度试验仪 包装薄膜电子拉力机技术指标：规格：500N（标配）；50N、100N、250N（可选）；750N、1000N（可定制）精度：0.5级试验速度：50 100 150 200 250 300 500mm/min试样数量：1件试样宽度：30mm（标配夹具）；50mm（可选夹具）行程：1000 mm外形尺寸：450mm(L)×450mm(W)×1410mm(H)电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz净重：68kg仪器配置：标准配置：主机、通用夹具、专业软件、通信电缆选购件：计算机、标准压辊、试验板、取样刀、浮辊式夹具、非标夹具

产品名称：Si上镀Ge薄膜（进口?Ge?epi-film?on?N-type?Silicon?Wafer,?0.5?um?thickness?）技术参数：Si基片参数：N型掺P； dia 4inch x 0.5mm-0.55mm Si晶向：100 with flats 2 SEMI-STD on Axis 0 degree offSi电阻率：1-10ohm.cmParticles: 50 @ 0.20 umGe薄膜参数：0.5 um +/- 3%；100 N型；P型掺杂浓度：(1-5)E19 /ccCurrent RMS spec：表面粗糙度 2 nm 产品尺寸：dia4 inch or 10x10mm 标准包装：1000级超净室100级超净袋真空包装或单片盒

标准规范：AASHTO T240, ASTM D2872, EN 12607-1, JTG E20 T0610产品简介：CONTROLS沥青旋转薄膜烘箱专为沥青短期老化模拟试验设计，具有满足美国和欧盟试验标准（美国和欧盟标准对烘箱内部尺寸的要求不同，中国标准与美国标准一致）的两个版本。彩色触摸屏控制器CONTROLS旋转薄膜烘箱通过彩色触摸屏控制器进行控制，可以轻松设置目标温度、观察实际温度，选择全自动试验，控制风扇开关和旋转架的转动，监测空气流量。所有的参数在一个界面上即可显示和调整，极大的简化了操作流程。系统结构仪器内部具有底部空气喷嘴（带有数字式流量计），中部温度传感器和顶部风扇，可以精确的控制空气流速、均匀稳定的内部温度分布。内部使用不锈钢材质、由玻璃纤维进行隔热处理，外部采用雕刻花纹的不锈钢材质，避免了日常工作中的划伤，舱门中间带有大尺寸的双层耐热玻璃窗可以观察试验。 内部构造细节 外部不锈钢花纹人体工学设计● 主机尺寸小巧，仅为750×750×900mm（宽×深×高），适合摆在实验台上使用● 小巧的隔膜气泵提供新鲜、无尘的空气源，节省空间● 左上角的4.5寸彩色触摸屏控制器方便操作● 长杆的门把手便于开关，在繁忙的实验室中单手仍然可以操作

产品名称：氮化铝(AlN)薄膜产品简介：AllN Epitxial范本saphhire提出了氢化物气相外延（HVPE）的方法。氮化铝薄膜又是成本效益的方法，用来取代氮化铝单晶衬底。科晶真诚欢迎您的垂询！技术参数：尺寸 dia50.8mm±1mm蓝宝石衬底取向 c轴（0001)±1.0deg衬底： Al2O3 SiC GaN薄膜厚度：10-5000nm导电类型： 半绝缘型位错密度：XRD FWHM of 0002500arcsec XRD FWHM of 10-121500arcsec 有效面积：80%抛光：单抛光 产品规格： 氮化铝(蓝宝石衬底)：dia2"*1500nm±10% 注：可根据客户需求定制特殊的方向和尺寸。标准包装：1000级超净室，100级超净袋或单片盒封装 相关产品： SapphireGaNOther AlN templateZnO金刚石刀真空吸笔系列基片包装盒系列旋转涂层机

恒奥德仪器薄膜流滴仪 双口薄膜流滴试验机 薄膜初滴时间和流滴失效时间仪 配件型号HAD-D80 按照GB4455—2006农业用聚乙烯吹塑棚膜和GB/T20202—2006农业用乙烯—乙酸乙烯酯共聚物（EVA吹塑棚膜）的要求设计制，适用于测定聚乙烯吹塑棚膜和以乙烯—乙酸乙烯酯共聚物（EVA）为主要材料，乙酸乙烯酯基（VA）平均含量不低于4%的内添加型吹塑棚膜的流滴性能。主要测试薄膜的初滴时间和流滴失效时间。可应用于科研、教学、生产企业、试验室、研究所及质量监督门。 薄膜流滴仪 双口薄膜流滴试验机 薄膜初滴时间和流滴失效时间仪 型号：HAD-D80 术参数 试验容积：28L——820×320×110mm 试验口径：φ300mm 薄膜倾角：10°、15°、20° 试验温度：室温~80℃ 控温度：0.5℃ 时间设定：0~99小时59分59.99秒 时间度：0.1S 本公司主营 不锈钢采水器，弯曲测量装置，鼓风干燥箱，色度计，化学试剂沸点测试仪，提取仪，线缆探测仪，溶解氧测定仪，活性炭测定仪，磁导率仪，比浊仪，暗适应仪，旋转仪，酸度计，硅酸根测定仪，过氧化值测定仪，腐蚀率仪，电阻率测定仪，耐压测定仪，污泥比组测试仪，粉体密度测试仪，机械杂质测定仪，运动粘度测试仪，过氧化值酸价测定仪，噪声源，土壤腐蚀率仪，直流电阻测试仪，厌氧消化装置，耐压测试仪，甲醛检测仪，硅酸根测试仪，PH酸度计，测振仪，消解仪，读数仪，空气微生物采样器，，双波长扫描仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，钢化玻璃表面平整度测试仪，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，气体采样泵，自动结晶点测试仪，凝固点测试仪，干簧管测试仪，恒温水浴箱，汽油根转，气体采样泵，钢化玻璃测试仪，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，采集箱，透色比测定仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计 测振仪，二氧化碳检测仪，CO2分析仪，示波谱仪，黏泥含量测试仪，汽车启动电源，自动电位滴定仪，，干簧管测试仪，电导率仪，TOC水质分析仪，微电脑可塑性测定仪，风向站，自动点样仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，恒温水浴箱，余氯检测仪，自由膨胀率仪，离心杯，混凝土饱和蒸汽压装置，颗粒强度测试仪，斯计，自动涂膜机，，气象站，动觉方位仪，，气味采集器，雨量计，四合气体分析仪，乳化液浓度计，溶解氧仪，温度测量仪，薄层铺板器，温度记录仪，老化仪，噪音检测仪，恒温恒湿箱，分体电阻率测试仪，初粘性和持粘性测试仪，红外二氧化碳分析仪，氢灯，动觉方位仪，冷却风机，油脂酸价检测仪，粘数测定仪，菌落计数器，气象站，雨量计，凯氏定氮仪，荧光增白剂，啤酒泡沫检测仪，发气性测试仪，低频信号发生器，油液质量检测仪，计数器，漏电流测试仪，标准测力仪，毛细吸水时间测定仪，大气采样器，流速仪，继电器保护测试仪，体积电阻率测试仪，侧面光检测仪，照度计，体化蒸馏仪，涂布机，恒温加热器，老化仪，烟气分析仪 本产品价格仅为配件价格，由于检测参数不同对仪器的终要求也不同，所展示的价格并非产品终价格，如给您带来不便请谅解请您在购买前联系我们客服人员，我们会给你确认产品信息，术参数以及报价，我们会以优惠的价格，诚恳的态度为您服务，期待您的来电！ 以上参数资料与图片相对应