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辉光光谱仪

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辉光光谱仪相关的资讯

  • 辉光放电光谱、火花源原子发射光谱的新应用
    仪器信息网讯 2014年10月20-21日,由中国工程院、中国合格评定国家认可委员会、中国标准化协会、中国金属学会、国际钢铁工业分析委员会、中国钢研科技集团有限公司主办的&ldquo CCATM&rsquo 2014国际冶金及材料分析测试学术报告会&rdquo 之&ldquo 辉光光谱/表面分析/火花源原子发射光谱&rdquo 分会在北京国际会议中心举行。 会议现场   辉光放电光谱(GD-OES)由于具有固体样品直接分析、可分析非导体样品、分析速度快、气体消耗量低、分析成本低等优点,近年来,在元素分析中的应用逐渐增多。目前应用的商业化辉光放电光谱仪厂商主要有美国的Leco公司、德国的Spectro公司、法国的Horiba Jobin Yvon公司。 报告人:首钢技术研究院徐永林 报告题目:辉光放电光谱法在镀锡板检测上的应用   徐永林利用辉光放电光谱仪对镀锡板样品进行逐层剥离,根据样品由表至里的辉光放电积分图谱,分别设定公式积分计算镀锡板镀层厚度及重量、钝化层厚度及重量、基板成分、镀层中有害元素等。通过与传统方法的分析结果比对,说明采用辉光放电光谱法分析这些检测项目具有较佳的准确度及精密度,提高了检测效率,同时达到了镀锡板多个检测项目的同时测定。 报告人:首钢技术研究院梁潇 报告题目:直流辉光放电光谱法同时测定铸铁中12种元素   梁潇研究了利用辉光放电光谱法同时测定铸铁中的多种元素含量。通过分析激发电压、激发电流、光电倍增管、预燃时间和积分时间等因素对各元素光谱强度和稳定性的影响,以铁为内标建立了同时测定铸铁中碳、硅、锰、磷、硫、镍、铬、钼、铜、钒、硼等元素含量的分析方法。对不同铸铁样品进行准确度和精密度试验,均得到了很好的结果。   火花源原子发射光谱分析法是一项成熟的分析技术,具有操作简便、分析速度快和准确度高的优点。在生产实践中分析金属试样表现出的快速、准确和高精度是其他分析方法无法取代的,因而广泛的应用于钢铁和有色冶金行业炉前快速分析,也是分析各种常见固体金属材料的一种普及的标准分析方法。   在会议中,多位报告人介绍了火花源原子发射光谱的最新应用研究。江苏沙钢集团的陈熙介绍了火花源原子发射光谱快速测定钢中低含量硅 钢研纳克检测技术有限公司宋宏峰介绍了火花源原子发射光谱法分析高锰铬钢 上海宝钢工业技术服务有限公司张叶介绍了火花源发射光谱分析焊丝钢线材试样 宝山钢铁股份有限公司研究院赵涛介绍了火花源原子发射光谱法测定铁基非晶合金中的硅和硼。
  • 辉光放电光谱仪:方便快速的镀层分析手段
    研究镀层特性,有哪些常用的分析技术?   如今,大多数材料不是多层结构,如薄膜光伏电池、LED、硬盘、锂电池电极、镀层玻璃等就是表面经过特殊处理或是为改善材料性能或耐腐蚀能力采用了先进镀层。为了很好地研究和评价这些功能性镀层特性,有多种表面分析工具应运而生,如我们熟知的X射线光电子能谱XPS、二次离子质谱SIMS、扫描电镜SEM、透射电镜TEM、椭圆偏振光谱、俄歇能谱AES等。   为什么辉光放电光谱技术受青睐?   辉光放电光谱仪作为一种新型的表面分析技术,虽然近年来才崭露头角,但已受到了越来越多的关注。与上述表面分析技术相比,辉光放电光谱仪在深度剖析材料的表面和深度时具有不可替代的独特优势,它的分析速度快、操作简单、无需超高真空部件,并且维护成本低。   辉光放电光谱仪最初起源于钢铁行业,主要被用于镀锌钢板及钢铁表面钝化膜等的测定,但随着辉光放电光谱技术的逐步完善,仪器的性能也得以提升,可分析的材料越来越广泛。   其性能的提升表现在两方面:一方面随着深度分辨率的不断提升,辉光放电光谱技术已可以逐渐满足薄膜的测试需求。现在,辉光放电光谱仪的深度分辨率可达亚纳米级别,可测试的镀层厚度从几纳米到150微米,某些特殊材料可以达到200微米。   另一方面是辉光源的性能改善,以前辉光放电光谱仪主要用于钢铁行业的测试,测试的镀层样品几乎都是导体,DC直流的辉光源即可满足该类测试,但随着功能性镀层的不断发展,越来越多的非导体、半导体镀层出现,这使得射频辉光源的独特优势不断凸显。射频辉光源既可以测试导体也可以测试非导体样品,无需更换任何部件和测试方法,使用方便。如果需要测试热敏材料或是为抑制元素热扩散则需选用脉冲射频辉光源。脉冲模式下,功率不是持续性的作用到样品上,可以很好地抑制不期望的元素扩散或是造成热敏样品的损坏,确保测试结果的真实准确。   辉光放电光谱的工作原理   辉光放电腔室内充满低压氩气,当施加在放电两极的电压达到一定值,超过激发氩气所需的能量即可形成辉光放电,放电气体离解为正电荷离子和自由电子。在电场的作用下,正电荷离子加速轰击到(阴极)样品表面,产生阴极溅射。在放电区域内,溅射的元素原子与电子相互碰撞被激化而发光。 辉光放电源的结构示意图,样品作为辉光放电源的阴极   整个过程是动态的,氩气离子持续轰击样品表面并溅射出样品粒子,样品粒子持续进入等离子体进行激化发光,不断有新的层在被溅射,从而获得镀层元素含量随时间的变化曲线。   辉光放电等离子体有双重作用,一是剥蚀样品表面颗粒 二是激发剥蚀下来的样品颗粒。在空间和时间上分离剥蚀和激发对于辉光放电操作非常重要。剥蚀发生在样品表面,激发发生在等离子体中,这样的设计可以很好地抑制基体效应。   氩气是辉光放电最常用的气体,价格也相对便宜。氩气可以激发除氟元素外所有的元素,如需测试氟元素或是氩元素时需采用氖气作为激发气体。有时也会使用混合气体,如Ar+He非常适合于分析玻璃,Ar+H2可提高硅元素的检出,Ar+O2会应用到某些特殊的领域。   光谱仪的主要功能是通过收集和分光检测来自等离子体的光以实现连续不断监控样品成分的变化。光谱仪的探测器必须能够快速响应,实时高动态的观测所有元素随深度的变化。辉光放电光谱仪中多色仪是仪器的重要组成部分,是实现高动态同步深度剖析的保障。而光栅是光谱仪的核心,光栅的好坏决定了光谱仪的性能,如光谱分辨率、灵敏度、光谱仪工作范围、杂散光抑制等。辉光放电是一种较弱的信号,光通量的大小对仪器的整体性能有至关重要的影响。   如何进行定量分析?   和其他光谱仪一样,通过辉光放电光谱仪做定量分析也需要建立标准曲线。不同的是,辉光放电光谱仪的标准曲线不仅是建立信号强度和元素浓度之间的关系,还会建立时间和镀层深度间的关系。   下图是涂镀在铁合金上的TiN/Ti2N复合镀层材料的元素深度剖析,直接测试所得的信号强度(V)vs时间(s)的数据经过标准曲线计算后可获得浓度vs深度的信息,可清晰的读取各深度元素的浓度。   想建立标准曲线就会涉及到标准样品,传统钢铁领域已经有非常成熟的方法及大量的标准样品可供选择。然而一些先进材料和新物质,很难找到标准样品做常规定量分析。HORIBA研发的辉光放电光谱仪针对这类样品开发了一种定量分析方法,称为Layer Mode,该方法可以使用一个与分析样品相类似的参比样品建立简单的标准曲线,实现对待测样品的半定量分析。   辉光放电光谱的主要应用   除了传统应用领域钢铁行业,辉光放电光谱仪现在主要应用于半导体、太阳能光伏、锂电池、硬盘等的镀层分析。下面就这些新型应用阐述一下辉光放电光谱仪的独特优势。   1. 半导体-LED芯片   如上图所示,LED芯片通常是生长在蓝宝石基底上的多镀层结构,其量子阱活性镀层非常薄(仅有几纳米),而且还包埋在GaN层下。这种结构也增加了分析的难度。典型的表面技术如SIMS和XPS可以非常好表征这个活性镀层,但是在分析过程中要想剥蚀掉上表面的GaN层到达活性镀层需要耗费几个小时,分析速度慢,时效性差。   辉光放电光谱仪的整个分析过程仅需几十秒即可获得LED芯片镀层中各元素随深度的分布曲线,可快速反馈工艺生产过程中遇到的问题。   2、太阳能光伏电池   太阳能电池中各成分的梯度以及界面对于光电转换效率来说至关重要,辉光放电光谱仪可以快速表征这些成分随深度的分布,并通过这些信息优化产品结构,提高效率。分析速度快、操作简单、非常适用于实验室或工厂大量分析样品。   3、锂电池   锂离子电池的正极材料是氧化钴锂,负极是碳。   锂离子电池的工作原理就是指其充放电原理。当对电池进行充电时,电池的正极上有锂离子生成,生成的锂离子经过电解液运动到负极。而作为负极的碳呈层状结构,它有很多微孔,到达负极的锂离子就嵌入到碳层的微孔中,嵌入的锂离子越多,充电容量越高。   同理,当对电池进行放电时(即我们使用电池的过程),嵌在负极碳层中的锂离子脱出,又运动回到正极。回到正极的锂离子越多,放电容量越高。我们通常所说的电池容量指的就是放电容量。   辉光放电光谱仪可以通过测试正负电极上各种元素随深度的分布来判定其质量及使用寿命等。   辉光放电光谱仪除独立表征样品外,还可以和其他分析手段相结合多方位全面的进行表征。如辉光放电光谱仪可以与XPS、SEM、TEM、拉曼和椭偏等技术共同分析。   总体来说,辉光放电光谱仪是一种非常方便快速的镀层分析手段。它的出现极大地解决了工艺生产中质量监控、条件优化等问题,此外还开拓了新的表征方向。   关于HORIBA 脉冲射频辉光放电光谱仪   HORIBA研发的脉冲射频辉光放电光谱仪是一款用于镀层材料研究、过程加工和控制的理想分析工具。脉冲射频辉光放电光谱仪可对薄/厚膜、导体或非导体提供超快速元素深度剖析,并且对所有的元素都有高的灵敏度。   脉冲射频辉光放电光谱仪结合了脉冲射频供电的辉光放电源和高灵敏度的发射光谱仪。前者具有很高的深度分辨率,可对样品分析区域进行一层层剥蚀 后者可实时监测所有感兴趣元素。   (本文由HORIBA 科学仪器事业部提供)
  • 辉光放电光谱技术受青睐 市场前景可瞻——访HORIBA辉光放电光谱仪应用支持工程师武艳红及汕头大学王江勇教授
    p span style=" font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "   1968年,W.R.Grimm(格里姆)推出了辉光放电光源,很快发展为辉光放电光谱(GD-OES)和表面分析技术,用于材料及镀层金属的逐层分析 1978年,出现了第一台商品化仪器 20世纪90年代,GD-OES在表面分析领域上得到迅速发展...... /span /p p span style=" font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "   与其它表面分析技术相比,辉光放电光谱仪在深度剖析材料的表面和深度时具有不可替代的独特优势,它的分析速度快、操作简单、无需超高真空部件,并且维护成本低。鉴于此,辉光放电光谱仪受到了越来越多专业人士的关注,其应用领域也不仅仅限于最初的钢铁行业,可分析的材料越来越广泛。 /span /p p span style=" font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "   那么,辉光放电光谱仪目前的技术水平和市场情况怎么样?用户的实际反馈情况如何?为了深入了解辉光放电光谱仪的技术及市场概况,日前仪器信息网编辑特别采访了HORIBA辉光放电光谱仪应用支持工程师武艳红及汕头大学王江勇教授。 /span /p p    span style=" color: rgb(255, 0, 0) " strong 辉光放电光谱仪中国市场需求量逐年提升 /strong /span /p p span style=" color: rgb(255, 0, 0) " strong br/ /strong /span /p p style=" text-align: center " img title=" 1.jpg" style=" width: 177px height: 246px " src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201708/insimg/750dd2b6-0440-4ffc-8f38-83060d85a331.jpg" width=" 177" vspace=" 0" hspace=" 0" height=" 246" border=" 0" / /p p style=" text-align: center " strong HORIBA辉光放电光谱仪应用支持工程师武艳红 /strong /p p strong   仪器信息网:从行业发展角度分析,辉光放电光谱仪目前的技术水平如何?有哪些新的技术亟待推出或者有哪些技术瓶颈亟待突破? /strong /p p    strong 武艳红: /strong 目前,辉光放电光谱仪已经是一类成熟的表面分析设备,被广泛应用到各个领域的定性和定量分析中。辉光放电光谱技术是有损分析技术,在分析后会在表面留有一个溅射坑,但溅射坑使得分析更加深入,检出限更好,当然样品不可回收也是它的主要缺点。不过,如果对内部结构感兴趣的话也可以利用这个溅射坑为其他表面分析设备服务,比如样品剥蚀完后还可以用扫描电镜观测袒露出来的内部表面结构,或是与XPS联合使用获得镀层结构、元素、分子等方面的信息。此外,辉光放电光谱仪目前在定量方面仍受限于国际标准样品的种类及数量,无法为新型镀层材料做定量曲线,尤其是新型材料还处于定性分析阶段,或实验室自行制备参比样品进行定量。 /p p    strong 仪器信息网:您认为辉光放电光谱仪未来的市场需求情况怎么样? /strong /p p    strong 王江勇: /strong 目前辉光放电光谱仪主要应用于工业界,比如,钢铁及半导体等行业,相信今后随着相关理论工作进一步地跟进与完善,辉光放电光谱仪不仅会拓宽其在工业领域的应用范围,而且也将逐渐被学术界所接受,更多地应用于表面、薄膜、涂层科学研究,所以,可以肯定辉光放电光谱仪未来市场的需求会越来越大。 /p p style=" text-align: center " img title=" 2.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201708/insimg/9b4addd0-8eee-4b0b-afed-fbb63472c775.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong 汕头大学 王江勇教授 /strong /p p    strong 仪器信息网:为什么会选择购置辉光放电光谱仪?主要是基于哪方面的科研需求? /strong /p p    strong 王江勇: /strong 实验室选择购置辉光放电光谱仪主要有以下原因:深度分辨率较高,溅射速度快 较其它深度剖析设备价格低 完善现有的深度剖析定量分析理论模型 薄膜相变及功能多层膜成分的表征需求等。 /p p    strong 仪器信息网:贵实验室采购的辉光放电光谱仪的配置情况如何?目前的使用情况如何?取得了哪些研究成果? /strong /p p    strong 王江勇: /strong 我们实验室于2016年购置的HORIBA GD-Profiler 2辉光放电光谱仪, 配有47个谱线通道,并配有一个可进行扫描的单色通道,可以说是目前配置最为完备的辉光放电光谱仪,原则上可以测量所有元素的辉光激发光谱。另外,该谱仪还配备了去年开发出来的新附件-微分干涉测厚仪(DIP),可进行溅射坑深度的实时测量。 /p p   该仪器目前使用良好,几乎每天都有使用。在成果方面,从理论上定量分析了溅射坑形貌对深度分辨率的影响 实验上,对各种基底材料(包括有机材料)最佳的深度剖析条件进行了探索,以确保高分辨率深度剖析的测量。总体来说,目前已对纳米级的金属-金属、氧化物、功能多层膜等进行了高分辨率的深度剖析测量。 /p p    strong 仪器信息网:为什么会选择HORIBA的辉光放电光谱仪? /strong /p p    strong 王江勇: /strong 选择HORIBA的辉光放电光谱仪是基于多方面的考虑:产品技术比较成熟,性价比高,售后团队强大等。 /p p   从仪器技术的角度,HORIBA的辉光放电光谱仪的射频光源可以适用于导体、半导体及非导体材料,应用面广,符合实验室多类型材料分析的需求 全自动脉冲分析模式对于玻璃衬底样品、热敏感样品或脆性样品的分析至关重要,可以有效抑制元素在分析过程中的元素层间扩散或样品受热下非期望性变化 深度分辨率高,样品剥蚀坑底部更加平整,有效支撑理论计算和模型建立 此外,HORIBA的辉光放电光谱仪还有多项专利技术为仪器性能改善、实际分析带来益处。 /p p    span style=" color: rgb(255, 0, 0) " strong 多项专利技术 HORIBA辉光放电光谱仪优势明显 /strong /span /p p style=" text-align: center " img title=" 3.jpg" style=" width: 300px height: 357px " src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201708/insimg/142d7c83-5317-4315-aeb8-ffdf91597c79.jpg" width=" 300" vspace=" 0" hspace=" 0" height=" 357" border=" 0" / /p p    strong 仪器信息网:HORIBA在辉光放电光谱仪方面的研发历史?目前主推的仪器类型? /strong /p p strong   武艳红: /strong 1984年HORIBA拥有了辉光放电光谱仪产线,从此踏上了辉光放电光谱仪不断改进、创新研发之路。。在过去的三十年间,HORIBA应用了17项专利技术以提高其性能,如高动态检测器、全自动脉冲式射频源、polyscan技术、超快速溅射、微分干涉测厚系统(DIP)等。现在辉光放电光谱仪可以分析含量ppm级以上元素随镀层深度的变化,深度分辨率小于1nm,可测深度200um。目前主推的仪器型号为GD-Profiler 2,最新技术有DIP深度测试附件等。 /p p    strong 仪器信息网:HORIBA的辉光放电光谱仪器相比同类产品有哪些优势? /strong /p p strong   武艳红: /strong 相对于其它表面分析技术如SIMS、XPS、俄歇、能谱仪等,辉光放电光谱仪分析速度快、操作简单且无需超高真空(UHV),良好的深度分辨率还可为扫描电镜剥蚀制备样品。 /p p   在同类竞争产品中,HORIBA的辉光放电光谱仪在光谱分辨率相同的情况下,能减小设备的焦长,可提高仪器的稳定性和光通量 采用两个真空泵维持辉光灯的气氛的稳定性,使其深度分辨率低于1nm HDD高动态检测器的线性动态范围可达10^9,当样品浓度从无到100%变化时不会饱和溢出,且无需手动设置电压 HORIBA作为全球光栅领导者,可根据设备特性改良光栅使其光谱分辨率和光谱响应达到当前最佳水平。 /p p    strong 仪器信息网:HORIBA辉光放电光谱仪在中国的用户情况? /strong /p p strong   武艳红: /strong HORIBA辉光放电光谱仪目前主要应用于渗氮渗碳、镀锌钢板、LED芯片、太阳能光伏、金属镀层、半导体器件、彩涂板、微弧氧化陶瓷、表面处理等领域。中国对辉光放电光谱仪的接触历史比较短,客户主要集中于钢铁行业、高校研究所和半导体公司。代表客户如鞍钢、武钢、汕头大学、复旦大学、清华大学、原子能研究所、LED公司等。 /p p    strong 仪器信息网:针对辉光放电光谱仪,HORIBA在市场方面的推广重点在哪里? /strong /p p strong   武艳红: /strong 从近年来用户的关注可以看出,目前主要的问题还是如何快速的让更多科研院所、半导体公司了解该技术。HORIBA每年都会投入大量的市场费用,用于技术交流会、会议赞助、网络讲堂、线下光谱学堂等,以便越来越多的人能够熟知辉光放电技术,并通过这个技术将自己的研究推向更高。 /p p    strong span style=" font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai " 后记: /span /strong span style=" font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai " 今年8月份,由汕头大学等单位协办的“ a title=" " href=" http://www.instrument.com.cn/news/20170821/227131.shtml" target=" _blank" 2017年全国表面分析科学与技术应用学术会议 /a ”于8月10日-13日在在汕头大学召开。本届学术会议旨在推动我国表面分析科学及其应用技术的发展,促进国内外表面分析研究领域的专家学者交流,探讨表面分析技术与其它学科的共同发展,进一步拓展表面分析技术的应用领域。参加本届会议的代表约130多人,创历届之最,云集了国内外学术界的专业人士,除了来自国内的代表外,还有来自美国、德国、法国、日本、匈牙利、西班牙、新加坡及南非等的国外代表。 /span /p p span style=" font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "   大会开幕式由汕头大学王江涌教授主持,会议组织安排的六个大会报告既是各位专家对自己研究成果的精彩总结、也是对国内外近年来表面分析科学及其应用技术的高度概括,对广大年轻人的表面分析科学及其应用技术学习、成长和进一步凝练方向具有重要的指导意义,大会报告更是令大家开拓了新的视野。 /span /p
  • 专家约稿|辉光放电发射光谱仪的应用—涂层与超薄膜层的深度剖析
    摘要:本文首先简单回顾了辉光放电光谱仪(Glow Discharge Optical Emission Spectrometry,GDOES)的发展历程及特性,然后通过实例介绍了GDOES在微米涂层以及纳米超薄膜层深度剖析中的应用,并简介了深度谱定量分析的混合-粗糙度-信息深度(MRI)模型,最后对GDOES深度剖析的发展方向作了展望。1 GDOES发展历程及特性辉光放电发射光谱仪应用于表面分析及深度剖析已经有近100年的历史。辉光放电装置以及相关的光谱仪最早出现在20世纪30年代,但直到六十年代才成为化学分析的研究重点。1967年Grimm引入了“空心阳极-平面阴极”的辉光放电源[1],使得GDOES的商业化成为可能。随后射频(RF)电源的引入,GDOES的应用范围从导电材料拓展到了非导电材料,而毫秒或微秒级的脉冲辉光放电(Pulsed Glow Discharges,PGDs)模式的推出,不仅能有效地减弱轰击样品时的热效应,同时由于PGDs可以使用更高激发功率,使得激发或电离过程增强,大大提高了GDOES测量的灵敏程度,极大推动了GDOES技术的进步以及应用领域的拓展。GDOES被广泛应用于膜层结构的深度剖析,以获取元素成分随深度变化的关系。相较于其它传统的深度剖析技术,如俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)和二次离子质谱(SIMS)或二次中性质谱(SNMS),GDOES具有如下的独特性[2]:(1)分析样品材料的种类广,可对导体/非导体/无机/有机…膜层材料进行深度剖析,并可探测所有的元素(包括氢);(2)分析样品的厚度范围宽,既可对微米量级的涂层/镀层,也可对纳米量级薄膜进行深度剖析;(3)溅射速率高,可达到每分钟几微米;(4)基体效应小,由于溅射过程发生在样品表面,而激发过程在腔室的等离子体中,样品基体对被测物质的信号几乎不产生影响;(5)低能级激发,产生的谱线属原子或离子的线状光谱,因此谱线间的干扰较小;(6)低功率溅射,属层层剥离,深度分辨率高,可达亚纳米级;(7)因为采用限制式光源,样品激发时的等离子体小,所以自吸收效应小,校准曲线的线性范围较宽;(8)无高真空需求,保养与维护都非常方便。基于上述优势,GDOES被广泛应用于表征微米量级的材料表面涂层/镀层、有机膜层的涂布层、锂电池电极多层结构和用于其封装的铝塑膜层、以及纳米量级的功能多层膜中元素的成分分布[3-6],下面举几个具体的应用实例。2 GDOES深度剖析应用实例2.1 涂层的深度剖析用于材料表面保护的涂层或镀层、食品与药品包装的柔性有机基材的涂布膜层、锂电池的多层膜电极,以及用于锂电池包装的铝塑膜等等的膜层厚度一般都是微米量级,有的膜层厚度甚至达到百微米。传统的深度剖析技术,如AES,XPS和SIMS显然无法对这些厚膜层进行深度剖析,而GDOES深度剖析技术非常适合这类微米量级厚膜的深度剖析。图1给出了利用Horiba-Profiler 2(一款脉冲—射频辉光放电发射光谱仪—Pulsed-RF GDOES,以下深度谱的实例均是用此设备测量),在Ar气压700Pa和功率55w条件下,测量的表面镀镍的铁箔GODES深度谱,其中的插图给出了从表面到Ni/Fe界面各元素的深度谱,测量时间与深度的转换是通过设备自带的激光干涉仪(DIP)对溅射坑进行原位测量获得。从全谱来看,GDOES测量信号强度稳定,未出现溅射诱导粗糙度或坑道效应(信号强度随溅射深度减小的现象,见下),这主要是因为铁箔具有较大的晶粒尺寸。同时还可以看到GDOES可连续测量到~120μm,溅射速率达到4.2μm/min(70nm/s)。从插图来看, Ni的镀层约为1μm,在表面有~100nm的氧化层,Ni/Fe界面分辨清晰。图1 表面镀镍铁箔的GODES深度谱,其中的插图给出了从表面到Ni/Fe界面的各元素的深度谱图2给出了在氩-氧(4 vol%)混合气气压750Pa、功率20w、脉冲频率3000Hz、占空比0.1875条件下,测量的用于锂电池包装铝塑膜(总厚度约为120μm)的GODES深度谱,其中的插图给出了铝塑膜的层结构示意图[7]。可以看出有机聚酰胺层主要包含碳、氮和氢等元素。在其之下碳、氮和氢元素信号的强度先降后升,表明在聚酰胺膜层下存在与其不同的有机涂层—粘胶剂,所含主要元素仍为碳、氮和氢。同时还可以看出在粘胶剂层下面的无机物(如Al,Cr和P)膜层,其中Cr和P源于为提高Al箔防腐性所做的钝化处理。很明显,图2测量的GDOES深度谱明确展现了锂电池包装铝塑膜的层结构。实验中在氩气中引入4 vol%氧气有助于快速溅射有机物的膜层结构,同时降低碳、氮信号的相对强度,提高了无机物如铬信号的相对强度,非常适合于无机-有机多层复合材料的结构分析,而在脉冲模式下,选用合适的频率和占空比,能够有效地散发溅射产生的热量,从而避免了低熔点有机物的碳化。图2一款锂电池包装铝塑膜的GDOES溅射深度谱,其中的插图给出了铝塑膜的层结构示意图[7]2.2 纳米膜层及表层的深度剖析纳米膜层,特别是纳米多层膜已被广泛应用于光电功能薄膜与半导体元器件等高科技领域。虽然传统的深度剖析技术AES,XPS和SIMS也常常应用于纳米膜层的表征,但对于纳米多层膜,传统的深度剖析技术很难对多层膜整体给予全面的深度剖析表征,而GDOES不仅可以给予纳米多层膜整体全面的深度剖析表征,而且选择合适的射频参数还可以获得如AES和SIMS深度剖析的表层元素深度谱。图3给出了在氩气气压750Pa、功率20w、脉冲频率1000Hz、占空比0.0625条件下,测量的一款柔性透明隔热膜(基材为PET)的GODES深度谱,如图3a所示,其中最具特色的就是清晰地表征了该款隔热膜最核心的三层Ag与AZO(Al+ZnO)共溅射的膜层结构,如图3b Ag膜层的GDOES深度谱所示。根据获得的溅射速率及Ag的深度谱拟合(见后),前两层Ag的厚度分别约为5.5nm与4.8nm[8]。很明显,第二层Ag信号较第一层有较大的展宽,相应的强度值也随之下降,这是源于GDOES对金属膜溅射过程中产生的溅射诱导粗糙度所致。图3(a)一款柔性透明隔热膜GDOES深度谱;(b)其中Ag膜层GDOES深度谱[8]图4给出了在氩气气压650Pa、功率20w、脉冲频率10000Hz、占空比0.5的同一条件下,测量的SiO2(300nm)/Si(111)标准样品和自然生长在Si(111)基片上SiO2样品的GODES深度谱[9]。如果取测量深度谱的半高宽为膜层的厚度,由此得到标准样品SiO2层的溅射速率为6.6nm/s(=300nm/45.5s),也就可以得到自然氧化的SiO2膜层厚度约为1nm(=6.6nm/s*0.15s)。所以,GDOES完全可以实现对一个纳米超薄层的深度剖析测量,这大大拓展了GDOES的应用领域,即从传统的钢铁镀层或块体材料的成分分析拓展到了对纳米薄膜深度剖析的表征。图4 (a)SiO2(300nm)/Si(111)标准样品与(b)自然生长在Si(111)基片上SiO2样品的GDOES深度谱[9]3 深度谱的定量分析3.1 深度分辨率对测量深度谱的优与劣进行评判时,深度分辨率Δz是一个非常重要的指标。传统Δz(16%-84%)的定义为[10]:对一个理想(原子尺度)的A/B界面进行溅射深度剖析时,当所测定的归一化强度从16%上升到84%或从84%下降到16%所对应的深度,如图5所示。Δz代表了测量得到的元素成分分布和原始的成分分布间的偏差程度,Δz越小表示测量结果越接近真实的元素成分分布,测量深度谱的质量就越高。但是随着科技的发展,应用的薄膜越来越薄,探测元素100%(或0%)的平台无法实现,就无法通过Δz(16%-84%)的定义确定深度分辨率,而只能通过对测量深度谱的定量分析获得(见下)。图5深度分辨率Δz的定义[10]3.2 深度谱定量分析—MRI模型溅射深度剖析的目的是获取薄膜样品元素的成分分布,但溅射会改变样品中元素的原始成分分布,产生溅射深度剖析中的失真。溅射深度剖析的定量分析就是要考虑溅射过程中,可能导致样品元素原始成分分布失真的各种因素,提出相应的深度分辨率函数,并通过它对测量的深度谱数据进行定量分析,最终获取被测样品元素在薄膜材料中的真实分布。对于任一溅射深度剖析实验,可能导致样品原始成分分布失真的三个主要因素源于:①粒子轰击产生的原子混合(atomic Mixing);②样品表面和界面的粗糙度(Roughness);③探测器所探测信号的信息深度(Information depth)。据此Hofmann提出了深度剖析定量分析著名的MRI深度分辨率函数[11]: 其中引入的三个MRI参数:原子混合长度w、粗糙度和信息深度λ具有明确的物理意义,其值可以通过实验测量得到,也可以通过理论计算得到。确定了分辨率函数,测量深度谱信号的归一化强度I/Io可表示为如下的卷积[12]: 其中z'是积分参量,X(z’)为原始的元素成分分布,g(z-z’)为深度分辨率函数,包含了深度剖析过程中所有引起原始成分分布失真的因素。MRI模型提出后,已被广泛应用于AES,XPS,SIMS和GDOES深度谱数据的定量分析。如果假设各失真因素对深度分辨率影响是相互独立的,相应的深度分辨率就可表示为[13]:其中r为择优溅射参数,是元素A与B溅射速率之比()。3.3 MRI模型应用实例图6给出了在氩气气压550Pa、功率17w、脉冲频率5000Hz、占空比0.25条件下,测量的60 Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) GDOES深度谱[14],结果清晰地显示了Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) 膜层结构,特别是分辨了仅0.3nm的B4C膜层, B和C元素的信号其峰谷和峰顶位置完全一致,可以认为B和C元素的溅射速率相同。为了更好地展现拟合测量的实验数据,选择溅射时间在15~35s范围内测量的深度剖析数据进行定量分析[15]。图6 60×Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) GDOES深度谱[14]利用SRIM 软件[16]估算出原子混合长度w为0.6 nm,AFM测量了Mo/B4C/Si多层膜溅射至第30周期时溅射坑底部的粗糙度为0.7nm[14],对于GDOES深度剖析,由于被测量信号源于样品最外层表面,信息深度λ取为0.01nm。利用(1)与(2)式,调节各元素的溅射速率,并在各层名义厚度值附近微调膜层的厚度,Mo、Si、B(C)元素同时被拟合的最佳结果分别如图7(a)、(b)和(c)中实线所示,对应Mo、Si、B(C)元素的溅射速率分别为8.53、8.95和4.3nm/s,拟合的误差分别为5.5%、6.7%和12.5%。很明显,Mo与Si元素的溅射速率相差不大,但是B4C溅射速率的两倍,这一明显的择优溅射效应是能分辨0.3nm-B4C膜层的原因。根据拟合得到的MRI参数值,由(3)式计算出深度分辨率为1.75 nm,拟合可以获得Mo/B4C/Si多层薄膜中各个层的准确厚度,与HR-TEM测定的单层厚度基本一致[15]。图7 测量的GDOES深度谱数据(空心圆)与MRI最佳拟合结果(实线):(a) Mo层,(b) Si层,(c) B层;相应的MRI拟合参数列在图中[15]。4 总结与展望从以上深度谱测量实例可以清楚地看到,GDOES深度剖析的应用非常广泛,可测量从小于1nm的超薄薄膜到上百微米的厚膜;从元素H到Lv周期表中的所有元素;从表层到体层;从无机到有机;从导体到非导体等各种材料涂层与薄膜中元素成分随深度的分布,深度分辨率可以达到~1nm。通过对测量深度谱的定量分析,不仅可以获得膜层结构中原始的元素成分分布,而且还可以获得元素的溅射速率、膜层间的界面粗糙度等信息。虽然GDOES深度剖析技术日趋完善,但也存在着一些问题,比如在GDOES深度剖析中常见的溅射坑底部凸凹不平的“溅射坑道效应”(溅射诱导的粗糙度),特别是对多晶金属薄膜的深度剖析尤为明显,这一效应会大大降低GDOES深度谱的深度分辨率。消除溅射坑道效应影响一个有效的方法就是引入溅射过程样品旋转技术,使得各个方向的溅射均等。此外,缩小溅射(分析)面积也是提高溅射深度分辨率的一种方法,但需要考虑提高探测信号的强度,以免降低信号的灵敏度。另外,GDOES深度剖析的应用软件有进一步提升的空间,比如测量深度谱定量分析算法的植入,将信号强度转换为浓度以及溅射时间转换为溅射深度算法的进一步完善。作者简介汕头大学物理系教授 王江涌王江涌,博士,汕头大学物理系教授。现任广东省分析测试协会表面分析专业委员会副主任委员、中国机械工程学会高级会员、中国机械工程学会表面工程分会常务委员;《功能材料》、《材料科学研究与应用》与《表面技术》编委、评委。研究兴趣主要是薄膜材料中的扩散、偏析、相变及深度剖析定量分析。发表英文专著2部,专利十余件,论文150余篇,其中SCI论文110余篇。代表性成果在《Physical Review Letters》,《Nature Communications》,《Advanced Materials》,《Applied Physics Letters》等国际重要期刊上发表。主持国家自然基金、科技部政府间国际合作、广东省科技计划及横向合作项目十余项。获2021年广东省科技进步一等奖、2021年广东省高校科研成果转化路演赛“新材料”小组赛一等奖、2021年粤港澳高价值大湾区专利培育布局大赛优胜奖、2020年广东省高校科研成果转化路演赛“新材料”小组赛一等奖、总决赛一等奖。昆山书豪仪器科技有限公司总经理 徐荣网徐荣网,昆山书豪仪器科技有限公司总经理,昆山市第十六届政协委员;曾就职于美国艾默生电气任职Labview设计工程师、江苏天瑞仪器股份公司任职光谱产品经理。2012年3月,作为公司创始人于创立昆山书豪仪器科技有限公司,2019年购买工业用地,出资建造12300平方米集办公、研发、生产于一体的书豪产业化大楼,现已投入使用。曾获2020年朱良漪分析仪器创新奖青年创新入围奖;2019年昆山市实用产业化人才;2019年江苏省科技技术进步奖获提名;2017年《原子发射光谱仪》“中国苏州”大学生创新创业大赛二等奖;2014年度昆山市科学技术进步奖三等奖;2017年度昆山市科学技术进步奖三等奖;多次获得昆山市级人才津贴及各类奖励项目等。主持研发产品申请的已授权专利47项专利,其中发明专利 4 项,实用新型专利 25项,外观专利7项,计算机软件著作权 11项。论文2篇《空心阴极光谱光电法用于测定高温合金痕量杂质元素》,《Application of Adaptive Iteratively Reweighted Penalized Least Squares Baseline Correction in Oil Spectrometer 》第一编著人;主持编著的企业标准4篇;承担项目包括3项省级项目、1项苏州市级项目、4项昆山市级项目;其中:旋转盘电极油料光谱仪获江苏省工业与信息产业转型升级专项资金--重大攻关项目(现已成功验收,获政府补助660万元)、江苏省首台(套)重大装备认定、江苏省工业与信息产业转型升级专项资金项目、苏州市姑苏天使计划项目等;主持研发并总体设计的《HCD100空心阴极直读光谱仪》、《AES998火花直读光谱仪》、《FS500全谱直读光谱仪》《旋转盘电极油料光谱仪OIL8000、OIL8000H、PO100》均研发成功通过江苏省新产品新技术鉴定,实现了产业化。参考文献:[1] GRIMM, W. Eine neue glimmentladungslampe für die optische emissionsspektralanalyse[J]. Spectrochimica Acta, Atomic Spectroscopy, Part B, 1968, 23 (7): 443-454.[2] 杨浩,马泽钦,蒋洁,李镇舟,宋一兵,王江涌,徐从康,辉光放电发射光谱高分辨率深度谱的定量分析[J],材料研究与应用, 2021, 15: 474-485.[3] Hughes H. Application of optical emission source developments in metallurgical analysis[J]. Analyst, 1983, 108(1283): 286-292.[4] Lodhi Z F, Tichelaar F D, Kwakernaak C, et al., A combined composition and morphology study of electrodeposited Zn–Co and Zn–Co–Fe alloy coatings[J]. Surface and Coatings Technology, 2008, 202(12): 2755-2764.[5] Sánchez P, Fernández B, Menéndez A, et al., Pulsed radiofrequency glow discharge optical emission spectrometry for the direct characterisation of photovoltaic thin film silicon solar cells[J]. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 2010, 25(3): 370-377.[6] Zhang X, Huang X, Jiang L, et al. Surface microstructures and antimicrobial properties of copper plasma alloyed stainless steel[J]. Applied surface science, 2011, 258(4): 1399-1404.[7] 胡立泓,张锦桐,王丽云,周刚,王江涌,徐从康,高阻隔铝塑膜辉光放电发射光谱深度谱测量参数的优化[J],光谱学与光谱分析,2022,42:954-960.[8] 吕凯, 周刚, 余云鹏, 刘远鹏, 王江涌, 徐从康,利用ToF-SIMS 和 Rf-GDOES 深度剖析技术研究柔性衬底上的隔热多层膜[J], 材料科学,2019,9:45-53.[9] 周刚, 吕凯, 刘远鹏, 余云鹏, 徐从康, 王江涌,柔性功能薄膜辉光光谱深度分辨率分析[J], 真空, 2020,57:1-5.[10] ASTM E-42, Standard terminology relating to surface analysis [S]. Philadelphia: American Society for Testing and Materials, 1992.[11] Hofmann S. Atomic mixing, surface roughness and information depth in high‐resolution AES depth profiling of a GaAs/AlAs superlattice structure[J]. Surface and interface analysis, 1994, 21(9): 673-678.[12] Ho P S, Lewis J E. Deconvolution method for composition profiling by Auger sputtering technique[J]. Surface Science, 1976, 55(1): 335-348.[13] Wang J Y, Hofmann S, Zalar A, et al. Quantitative evaluation of sputtering induced surface roughness in depth profiling of polycrystalline multilayers using Auger electron spectroscopy[J]. Thin Solid Films, 2003, 444(1-2): 120-124.[14] Ber B, Bábor P, Brunkov P N, et al. Sputter depth profiling of Mo/B4C/Si and Mo/Si multilayer nanostructures: A round-robin characterization by different techniques[J]. Thin Solid Films, 2013, 540: 96-105.[15] Hao Yang, SongYou Lian, Patrick Chapon, Yibing Song, JiangYong Wang, Congkang Xu, Quantification of high resolution Pulsed RF GDOES depth profiles for Mo/B4C/Si nano-multilayers[J], Coatings, 2021, 11: 612.[16] Ziegler J F, Ziegler M D, Biersack J P. SRIM–The stopping and range of ions in matter[J]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2010, 268(11-12): 1818-1823.
  • 700万!山东大学计划采购辉光放电质谱仪
    项目概况一、项目基本情况项目编号:SDLR-SDU-2022-009(SDJDHF20220253-Z099)项目名称:山东大学辉光放电质谱仪采购项目预算金额:700.0000000 万元(人民币)采购需求:标包货物名称数量简要技术要求1辉光放电质谱仪 1台详见公告附件 合同履行期限:详见招标文件要求本项目( 不接受 )联合体投标。二、申请人的资格要求:1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定;2.落实政府采购政策需满足的资格要求:本项目不属于专门面向中小企业、监狱企业、残疾人福利性单位采购的项目;3.本项目的特定资格要求:无三、获取招标文件时间:2022年10月12日 至 2022年10月18日,每天上午9:00至11:30,下午13:30至17:00。(北京时间,法定节假日除外)地点:济南市历下区经十路12111号中润世纪锋1号楼21层方式:因疫情防控期间人员聚集易产生交叉感染,报名方式采用发送邮件报名,将营业执照副本、法定授权委托书或法定代表人证明、标书费汇款底单,将以上材料扫描为一个PDF文件,发至山东龙融招投标代理有限公司邮箱:sdlongrong@126.com,邮件名称命名为:投标人名称-项目名称,在邮件正文中注明所报公司全称、所报项目名称、项目编号、授权人姓名及联系方式,并电话通知招标代理查收(提交标书费须标明项目编号及公司名称,我公司开户银行:中国民生银行股份有限公司济南明湖支行,开户名:山东龙融招投标代理有限公司第一分公司,银行账号:157102632) 本项目实行资格后审,获取招标文件成功不代表资格后审通过。售价:¥300.0 元,本公告包含的招标文件售价总和四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点提交投标文件截止时间:2022年11月02日 09点00分(北京时间)开标时间:2022年11月02日 09点00分(北京时间)地点:济南市历城区二环东路3966号东环国际广场A座20层会议室五、公告期限自本公告发布之日起5个工作日。六、其他补充事宜1、本项目允许原装进口产品参加投标;2、 在“信用中国”(www.creditchina.gov.cn)、中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)等网站中被列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单的投标人,不得参加本次政府采购活动;3、单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同投标人,不得参加同一合同项下的政府采购活动;4、上传的技术指标附件仅作为参考,最终以招标文件中的技术指标为准。七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:山东大学     地址:0531-88369797        联系方式:王老师      2.采购代理机构信息名 称:山东龙融招投标代理有限公司            地 址:0531-58562236 17753351990            联系方式:宫小寒 单长芹            3.项目联系方式项目联系人:宫小寒 单长芹电 话:  0531-58562236 17753351990
  • 新型辉光放电质谱仪(Element GD)演示及讨论会通知
    在春光明媚的三月底,国内第一台新型辉光放电质谱仪(Thermo Scientific Element GD)在短短十天内顺利地完成了安装,调试和初步的培训,交付用户使用。 在金川镍钴研究设计院的领导的大力支持下,我们拟定在六月五号到六号两天借用研究设计院的设施和仪器,向广大关心辉光放电质谱仪的现状和发展的老师演示Thermo Scientific的新型辉光放电质谱仪(Element GD)。届时Element GD的设计者Dr. Rottman 和应用专家Dr. Hinrichs都会到场为大家介绍Element GD的研发,现状和应用,并演示仪器的操作。 金川镍钴研究设计院位于兰州市榆中和平开发区,离兰州市中心车程30分钟左右。欢迎各位老师踊跃参加。(会议交通费,食宿自理) 有意参加的老师请联系: 赛默飞世尔科技(上海)有限公司 尹松 电话:021-68654588(分机2183) 传真:021-64281793 手机:13816109156 Email: song.yin@thermofisher.com 期待着在兰州与各位老师再会。 祝好! 赛默飞世尔科技(上海)有限公司
  • 850万!昆明理工大学双聚焦辉光放电质谱仪设备采购项目
    项目编号:YNGH[2022]-291项目名称:昆明理工大学真空冶金国家工程实验室双聚焦辉光放电质谱仪设备购置(双一流23)预算金额(万元):850最高限价(万元):850采购需求:拟采购双聚焦辉光放电质谱仪1套合同履行期限:合同签订之日起180日历天(供应商在此期限内自报最短交货期)本项目(否)接受联合体投标。
  • 众星联恒中标上海硅酸盐研究所《辉光放电质谱仪》招标项目
    2014年6月,经过努力,北京众星联恒科技有限公司在中国科学院上海硅酸盐研究所辉光放电质谱仪采购项目招标中一举中标。过硬的产品品质,合理的价格,完善的服务体系是我们胜出的理由。 感谢大家对我公司的大力支持,这次中标将又是我公司一个新的起点,我们将会在此起点上,付出更多的努力,提供更好的产品,服务更多的客户!
  • 上硅所完成GD90辉光放电质谱验收并提供对外测试服务
    p img title=" W020150714386651658960.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201508/uepic/7a52471d-7484-417f-9937-1a291320d621.jpg" / /p p 北京众星联恒科技有限公司于6月底完成了Autoconcept& nbsp GD90-RF辉光放电质谱仪在中科院上海硅酸盐研究所的安装调试验收工作,目前该设备已正式投入使用并提供对外测试服务。( a title=" 上硅所辉光放电质谱对外测试" href=" http://sic.cas.cn/xwzx/gdxx/201507/t20150714_4393048.html" target=" _blank" 点击查看详情 /a a title=" 上硅所辉光放电质谱对外测试" href=" http://sic.cas.cn/xwzx/gdxx/201507/t20150714_4393048.html" target=" _blank" http://sic.cas.cn/xwzx/gdxx/201507/t20150714_4393048.html /a ) /p p br/ /p
  • 国家重点研发计划“高分辨辉光放电质谱仪研制与应用”项目启动暨实施方案论证会召开
    5月7日,西安交通大学主持召开国家重点研发计划“基础科研条件与重大科学仪器设备研发”重点专项“高分辨辉光放电质谱仪研制与应用”项目启动暨实施方案论证会。会议采用线上线下结合的方式进行,科技部中国21世纪议程管理中心张望主管,项目咨询专家钱绍钧院士、陈洪渊院士、王海舟院士、李得天院士,以及特邀专家年夫顺研究员,项目专家组中国核学会李金英研究员,中国质谱学会理事长、中国计量科学研究院院长方向研究员,中科院生物物理研究所韩玉刚研究员,中国科学院大学束继年教授,中国仪器仪表学会分析仪器分会吴爱华秘书长等17位专家参会指导。西安交通大学副校长别朝红、科研院常务副院长黄忠德、电气工程学院副院长郝治国,科研院专项与科技开发处副处长李小虎、综合处副处长王庆琳,项目参与单位北方工业大学、广州禾信仪器股份有限公司、中国科学院上海硅酸盐研究所、钢研纳克检测技术股份有限公司、国合通用测试评价认证股份公司、中国计量科学研究院和西北核技术研究院相关负责人及研究骨干等50余人参加会议。科研院常务副院长黄忠德主持项目启动仪式。西安交通大学副校长别朝红代表学校感谢科技部长期以来对学校发展给予的支持,强调目前我国高端科学仪器受制于人,重大科学仪器的自主研发、国产化替代已十分紧迫,高分辨辉光放电质谱仪是关键材料领域所需的重要仪器设备,学校将全方位支持项目开展、保障项目顺利实施并取得突出成果,同时勉励项目组做好实施方案的论证和执行工作。科技部中国21世纪议程管理中心张望主管针对重点专项相关过程管理规范和流程、项目管理和实施、经费使用、变更事项报备及进展成果报送等提出了建议,希望项目组与各级主管部门高度重视,做好统筹协作,高标准完成项目目标。特邀专家年夫顺研究员希望项目组在加强科学研究的同时,重视仪器产品的成果转化工作,重视科研及技术指标的要求,同时作为总体专家组的成员,将做好项目的咨询服务和管理工作。科研院副处长王庆琳从技术、财务和档案管理三个方面介绍了项目综合绩效评价的管理政策及要求。中国核学会李金英研究员主持项目实施方案论证环节。项目负责人李志明教授对项目总体情况及实施方案进行汇报,主要包括项目概况及目标、项目主要研究内容、项目实施方案及进度安排、项目组织管理制度、项目成果呈现形式等,并向与会专家介绍了团队近期在磁质谱研发方面的进展和系列磁质谱国产化自主可控路线图。西北核技术研究院沈小攀副研究员、北方工业大学陈吉文教授、广州禾信仪器股份有限公司谭国斌高工、中国科学院上海硅酸盐研究所钱荣研究员、钢研纳克检测技术股份有限公司胡净宇教授依次对课题任务分解及实施方案进行了汇报。在听取了项目和课题实施方案汇报后,项目咨询专家陈洪渊院士、王海舟院士和李得天院士指出,该项目面向国家重大需求,聚焦高分辨磁质谱仪器研制的瓶颈问题,时间紧、任务重、难度大,尤其是高分辨双聚焦磁质谱带来的诸多技术挑战,项目组要充分预估项目实施的难度,合理规划时间安排。各课题组需做好任务衔接、紧密围绕项目目标开展工作,注重整机集成调试和工程化能力,加强产业化建设和国际专利标准布局,形成与国外仪器“扳手腕”的硬实力。专家组各位专家分别从不同角度对项目实施方案做了点评,充分肯定了项目关键科学问题定位的准确性、研究目标及方法的创新性与科学性、技术方案的可行性以及任务分工与研究进度安排的合理性,并针对项目技术方案的重难点、成果落地的部署方案、参与单位间协作、知识产权布局等角度提出了一系列具体建议。“高分辨辉光放电质谱仪研制与应用”项目面向国家在半导体、高纯稀土、深空探测晶体、航空航天用高温合金、高纯金属溅射靶材、特种涂层等领域杂质元素检测的重大需求,解决重点领域固体材料中痕量杂质元素准确分析的“卡脖子”问题。旨在研发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的高分辨辉光放电质谱仪,开发相关软件和数据库,开展工程化和产业化推广,在半导体、高纯稀土、高温合金、高纯金属、绝缘体等材料领域中形成应用示范,为先进材料的设计、性能优化、高质量研发与高安全应用提供重要保障,将推动我国仪器科学技术发展,符合国家重大科学技术应用需求,具有里程碑意义。
  • 中关村材料试验技术联盟立项《辉光放电质谱仪校准规范》等25项CSTM标准
    经中国材料与试验标准化委员会(以下简称:CSTM标准化委员会)审查,CSTM标准化委员会批准CSTM标准立项(详情见下表),特此公告。如有单位或个人愿意参与该标准项目的工作,请与项目牵头单位联系。立项公告详情请跳转至CSTM官网查看http://www.cstm.com.cn/channel/details/3-2-CSTMgonggao序号标准名称标准立项号1辉光放电质谱仪校准规范CSTM LX 0000 01319—20232止血材料用高岭土CSTM LX 0312 01320—20233石墨矿浮选柱CSTM LX 0312 01321—20234微晶玻璃生产用垃圾焚烧炉渣技术要求CSTM LX 0324 01322—20235空间材料原子氧、紫外辐照和热循环综合环境模拟试验方法CSTM LX 0404 01323—20236金属材料蠕变性能数据处理方法CSTM LX 5500 01324—20237锅炉热交换器用中温双牌号不锈钢无缝钢管CSTM LX 5500 01325—20238流体输送用中温双牌号不锈钢无缝钢管CSTM LX 5500 01326—20239承压设备用中温双牌号不锈钢钢板和钢带CSTM LX 5500 01327—202310承压设备用中温用双牌号不锈钢锻件CSTM LX 5500 01328—202311承压设备材料圆片氢脆试验方法 第1部分:通用要求CSTM LX 5500 01329.1—202312涂覆材料派瑞林C技术标准CSTM LX 5700 01330—202313航天器用均苯型聚酰亚胺薄膜技术要求CSTM LX 5700 01331—202314水泥生产企业碳排放数据信息化存证规范CSTM LX 9500 01332—202315高温合金 合金贫化层定量检测方法 能谱法和波谱法CSTM LX 9802 01333—202316内氧化深度或晶间腐蚀深度测定 金相法CSTM LX 9802 01334—202317锂电池正极材料 磁性异物含量测定 电感耦合等离子体发射光谱法CSTM LX 9803 01335—202318基于走航在线实时监测的大气重金属污染源解析技术指南CSTM LX 9803 01336—202319生物基塑料中PEF树脂含量的测定 核磁共振波谱法CSTM LX 9803 01337—202320海水电解制氢阳极 法拉第效率测定 在线-气相色谱法CSTM LX 9803 01338—202321碳材料 不同物相的含量测定 X射线粉末衍射法CSTM LX 9803 01339—202322石墨烯膜 导热系数的测定 激光闪射法CSTM LX 9803 01340—202323单晶高温合金 结构取向测试 电子背散射衍射法CSTM LX 9803 01341—202324钛铝合金 铝含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法CSTM LX 9803 01342—202325高温合金 铋含量的测定 电感耦合等离子体质谱法CSTM LX 9803 01343—2023
  • 江西省钨与稀土质检中心利用辉光放电质谱法“一对一”提供优质技术服务
    辉光放电质谱法(GD-MS)被认为是目前唯一具有足够灵敏度和准确度,对固体高纯材料(可达7N)中的杂质元素直接分析的方法。由于辉光放电质谱的优点,尤其是在无机材料中痕量元素的检测方面具有独特的优势,使其成为材料研发和生产领域不可或缺的高端仪器设备。经过对仪器开发和研究,中心技术人员利用GD-MS开展了“一对一”检测技术方法研究,避免了其它检测方法前处理过程繁琐,易在处理过程中带入杂质元素,检出下限局限等不足,快速准确地对样品进行分析,解决了企业和科研院校高纯新材料检测难题。目前,中心已获得GD-MS相关标准的CNAS资质共有16项,包括利用GD-MS对高纯稀土金属、高纯铜、高纯钨、高纯钴等物质中痕量杂质元素含量的分析。
  • 用户培训班预告——HORIBA射频辉光放电光谱仪(GD-OES)的应用(上海)
    尊敬的用户: 您好!感谢您一直以来对HORIBA的支持和关注。 射频辉光放光谱仪(GD-OES)是一款适用于材料表面分析和镀层界面元素分析的工具,它正被广泛应用于半导体、陶瓷/玻璃、镀膜钢铁、薄膜和粉末等样品的测试。 为了帮助HORIBA各系列GD-OES的用户提高仪器操作水平以及理论水平,以充分发挥仪器的性能,我公司将举办为期三天的GD-OES应用技术培训班。欢迎有培训需要的用户积报名。 主 办:HORIBA Scientific(Jobin Yvon光谱技术) 培训时间:2013年11月20 日-22日 培训地点:HORIBA Scientific上海应用中心 (上海市天山西路1068号联强国际广场A栋1层D单元,近2号线淞虹路地铁站) 培训对象:HORIBA射频辉光放电光谱仪用户 主 讲:Celia Olivero(法国应用实验室经理)、余卫华、武艳红(应用工程师) 培训安排: 培训费用: 1、1600元/人(保修期内可提供2人/次免费培训),请于11月12日前将费用转至HORIBA公司账户并予以确认。 2、培训期间,我们将为您免费提供午餐,住宿、差旅等费用需贵单位自理。 报名联系: 联 系 人:Ms. Shen (沈小姐) 电 话:021-62896060-161 邮 箱:yilei.shen@horiba.com 报名截止:2013年11月12日 账户信息: 公司名称:堀场(中国)贸易有限公司 开户行:三菱东京日联银行(中国)有限公司上海分行 账号:404029-00000308854(人民币) 关注我们: 邮箱:info-sci.cn@horiba.com 新浪官方微博:HORIBA Scientific 微信二维码:
  • 成果:大气常压磁约束微型直流辉光放电质谱离子源
    p style=" text-align: justify "   近日,中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点实验室与四川大学开展联合研究,发现在大气常压环境中磁场有效约束离子传播特性,并基于此研发出一种大气常压高效痕量检测磁约束微型质谱离子源。相关研究工作以通讯的形式发表在国际期刊Chemical Communications上。 /p p style=" text-align: justify "   直流辉光放电微型等离子体源,凭借其放电的稳定性和等离子体的非平衡特性,在化学分析和环境监测等领域有着独特的技术优势和广阔的应用前景。具有高灵敏度、高选择性和快速响应等特点的质谱法,已成为分析化学领域的核心技术之一,在痕量物种定性和定量检测中发挥着巨大作用。长期以来人们一直致力于提高质谱仪的分析性能。常压离子源,作为质谱仪的核心部件,主要作用是将样品解吸和电离,产生气态样品离子。能否有效将样品离子化和把离子化的待测物传输到检测入口,在很大程度上决定了整个质谱仪分析的灵敏度。 /p p style=" text-align: justify "   在大气环境中,一般通过气流将离子化的待测物输运到质谱仪检测入口。该种传输方式使得很大一部分离子逃逸到环境大气中损失掉,导致传输效率低下。为提高离子传输效率,该研究团队基于常压磁约束离子传播特性,提出一种大气环境中纵向磁场约束离子传输的新方法,研发出一种用于痕量物种检测与分析的大气常压磁约束微型直流辉光放电质谱离子源。该方法关键在于:1)在弱电场中,气流和洛伦兹力共同作用离子,使之做螺旋运动,降低逃逸概率 2)利用离子与环境氮气和氧气等分子的集体碰撞效应,进一步减少约束半径,使得更多的离子传输到检测入口,增加离子传输效率。通过质谱分析,该方法成功地将样品质谱信号强度提高到原来的10倍,检测限可降低到原有的1/10,使得部分有机物待测样品的检测限达到几十PPt的水平。该项工作为化学分析和环境监测等领域提供了更为可靠的检测手段,为低温等离子体的应用拓展了新的研究方向。该工作受到科技部、国家自然科学基金委和中科院“西部青年学者”项目的资助。 /p p style=" text-align: justify "   近几年来,瞬态光学与光子技术国家重点实验室在等离子体基础研究领域实现了一次又一次原理上的创新和技术上的突破,取得了一系列原创科研成果。研究团队曾首次将“透镜扩束”概念引入低温等离子体领域,提出“电场透镜模型”,构建大气压均匀弥散放电新的基础理论,该项工作以封面和亮点文章发表于国际应用物理类学术期刊JAP (2017)。此外,在低温等离子体领域已连续8篇论文发表于国际学术期刊APL。上述成果为西安光机所等离子体学科的发展奠定了坚实的基础。 /p p style=" text-align: center " img title=" 大气常压质谱离子源.webp.jpg" alt=" 大气常压质谱离子源.webp.jpg" src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201812/uepic/7631dd7f-9436-45d8-b144-ba3c9e5173cc.jpg" / /p p style=" text-align: center "   大气常压磁场约束离子运动轨迹及样品阿司匹林溶液质谱检测 /p p style=" text-align: justify "  文章链接: a href=" https://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2018/cc/c8cc05360j#!divAbstract" target=" _blank" https://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2018/cc/c8cc05360j#!divAbstract /a /p p style=" text-align: justify " & nbsp /p
  • 北京第三代半导体产业技术创新战略联盟对《碳化硅单晶生长用等静压石墨构件纯度测定 辉光放电质谱法》等2项团体标准征求意见
    各CASA成员单位:由赛迈科先进材料股份有限公司牵头起草的标准T/CASAS 036—202X《碳化硅单晶生长用等静压石墨构件纯度测定 辉光放电质谱法》、T/CASAS 048—202X《碳化硅单晶生长用等静压石墨》已形成征求意见稿,为保证标准的科学性、先进性和适用性,现面向CASA成员单位征求意见。 T/CASAS 036—202X《碳化硅单晶生长用等静压石墨构件纯度测定 辉光放电质谱法》规定了采用辉光放电质谱法测定等静压石墨构件纯度的方法,包括术语和定义、试验原理、试验环境、仪器设备、试剂与材料、试样、试验步骤、试验结果及试验报告。本文件适用于单个杂质元素含量范围为0.01mg/kg~5mg/kg的碳化硅单晶生长用等静压石墨构件纯度的测定,所述构件包括碳化硅单晶生长炉中的加热器、坩埚、籽晶托等内部构件。碳化硅粉体合成用加热器、坩埚等石墨热场部件,以及碳化硅外延生长用石墨基材的纯度测定可参考本文件。 T/CASAS 048—202X《碳化硅单晶生长用等静压石墨》描述了碳化硅单晶生长用等静压石墨的技术要求、试验方法、检验规则、标识、包装、运输和贮存等。本文件适用于纯度要求达到5N5(质量分数99.9995%)以上的碳化硅单晶生长用或碳化硅粉体合成用等静压石墨,包括碳化硅单晶生长用加热器、坩埚、籽晶托等内部构件,以及碳化硅粉体合成用加热器、坩埚等石墨热场部件。 请于2024年8月24日前填写《CASA标准文件征求意见表》反馈至联盟秘书处。TCASAS 036 碳化硅单晶生长用等静压石墨构件纯度测定方法 辉光放电质谱法-征求意见稿.pdfCASA标准征求意见表 .docxTCASAS 048碳化硅单晶生长用等静压石墨-征求意见稿.pdf
  • ASMS研究成果:辉光放电源为元素质谱提供超高分辨率
    p style=" text-align: justify "   strong  仪器信息网讯 /strong & nbsp 近期,美国克莱姆森大学化学系和法国环境与材料分析物理化学研究所以及西北太平洋国家实验室的研究者发表了其最新的研究成果。 /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201904/uepic/c1798ad6-602b-4621-bf3d-3104f4475dcd.jpg" title=" cover.JPG" alt=" cover.JPG" width=" 600" height=" 349" border=" 0" vspace=" 0" style=" width: 600px height: 349px " / br/ /p p style=" text-align: justify "   研究者利用了结合原子和分子电离源的Orbitrap质谱分析仪对元素和有机金属进行质谱分析,且分辨率超过100万。(J. Am. Soc. Mass Spectrom. 2019, DOI: 10.1007/s13361-019-02183-w) /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201904/uepic/06ff3f13-adc2-4c00-a402-daa13467b67d.jpg" title=" 111111111111111.JPG" alt=" 111111111111111.JPG" / /p p style=" text-align: justify "   其研究中使用了被称为 strong 液体采样-常压辉光放电源的组合装置 /strong ,并用 strong 微等离子体进行电离 /strong 。利用该系统,研究人员能够解决一些一直以来都很难研究的无机化合物。 /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201904/uepic/7e408ace-3e95-4ea3-925a-a14a1ce37c4e.jpg" title=" 222222222.jpg" alt=" 222222222.jpg" width=" 300" height=" 400" border=" 0" vspace=" 0" style=" width: 300px height: 400px " / /p p style=" text-align: center " 组合电离源使用在金属对电极和石英毛细管的液体样品之间形成的微等离子体 /p p span style=" text-align: justify "   研究人员首次使用同位素方法解析了一种 /span strong style=" text-align: justify " 双金属氨基酸复合物( /strong strong style=" text-align: justify " Hg:Se-cysteine /strong strong style=" text-align: justify " ), /strong span style=" text-align: justify " 这种复合物被认为与汞的解毒有关。 /span span style=" text-align: justify " 研究人员还利用该系统解析了87Rb和87Sr,其质量差异反映了放射性87Rb对稳定同位素87Sr的β衰变,且其比值可应用于地质年代测定研究。 /span /p p style=" text-align: justify " & nbsp & nbsp 详情请点击文献原文: /p p style=" line-height: 16px text-align: center " img style=" vertical-align: middle margin-right: 2px " src=" /admincms/ueditor1/dialogs/attachment/fileTypeImages/icon_pdf.gif" / a href=" https://img1.17img.cn/17img/files/201904/attachment/bcfb3e4f-28aa-493d-8c03-735968527540.pdf" target=" _blank" title=" 10.1007@s13361-019-02183-w.pdf" textvalue=" Ultra-High Resolution Elemental/Isotopic Mass Spectrometry" style=" color: rgb(0, 112, 192) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " strong Ultra-High Resolution Elemental/Isotopic Mass Spectrometry /strong /span /a /p p style=" text-align: justify " br/ /p
  • 中山大学1.36亿元采购切片机,透射电镜,辉光放电光谱,电镜制样
    html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 详细信息 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目公开招标公告 广东省-广州市 状态:公告 更新时间: 2023-10-15 招标文件: 附件1 附件2 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目公开招标公告 2023年10月13日 17:36 公告概要: 公告信息: 采购项目名称 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目 品目 货物/设备/仪器仪表/试验仪器及装置/生物、医学样品制备设备,货物/设备/仪器仪表/光学仪器/显微镜 采购单位 中山大学 行政区域 广州市 公告时间 2023年10月13日 17:36 获取招标文件时间 2023年10月14日至2023年10月20日每日上午:9:00 至 12:00 下午:12:00 至 17:30(北京时间,法定节假日除外) 招标文件售价 ¥0 获取招标文件的地点 中山大学智能电子采购系统(https://www.zhizhengyun.com) 开标时间 2023年11月03日 09:30 开标地点 在线开标。 预算金额 ¥13580.000000万元(人民币) 联系人及联系方式: 项目联系人 梁群燕/成思/夏芷莹 项目联系电话 020-87651688-162/139 采购单位 中山大学 采购单位地址 广州市新港西路135号 采购单位联系方式 郑老师 020-84115088 代理机构名称 采联国际招标采购集团有限公司 代理机构地址 广州市环市东路472号粤海大厦7、23楼 代理机构联系方式 成思/夏芷莹 020-87651688-162/139 附件: 附件1 中大招(货)[2023]201号_中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目(分项二).pdf 附件2 中大招(货)[2023]201号_中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目(分项一).pdf 项目概况 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目 招标项目的潜在投标人应在中山大学智能电子采购系统(https://www.zhizhengyun.com)获取招标文件,并于2023年11月03日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:中大招(货)[2023]201号/CLF0123GZ09ZC12 项目名称:中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目 预算金额:13580.000000 万元(人民币) 采购需求: 中山大学根据国家招投标法律法规和学校管理要求,拟以公开招标方式采购下列货物及其相关服务。1、招标采购项目内容及数量:分项一:生物制样设备,具体包含高压冷冻仪1台;自动投入冷冻仪1台;冷冻替代仪1台;冷冻超薄切片机1台,镀金镀碳仪1套;辉光放电仪2台;(本项目允许产自中华人民共和国关境外的进口货物投标;本项目不属于专门面向中小企业采购项目。本项目所属行业为工业。具体内容及要求详见公告附件招标文件)。分项二:冷冻电镜系统,具体包含冷冻双束系统1台;200 kV冷冻电镜系统1套;300kV冷冻电子断层成像系统1套;300kV高分辨冷冻电镜系统1套;120kV生物透射电镜系统1套(本项目允许产自中华人民共和国关境外的进口货物投标;本项目不属于专门面向中小企业采购项目。本项目所属行业为工业。具体内容及要求详见公告附件招标文件)。2、项目预算及经费 3.本项目的特定资格要求:(1)具备投标条件的中华人民共和国的法人或其它组织;(2)符合《中华人民共和国政府采购法》第二十二条相关规定;(3)投标人未被列入“信用中国”网站(www.creditchina.gov.cn)“失信被执行人”、“重大税收违法失信主体” 、“政府采购严重违法失信名单”;不处于中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)“政府采购严重违法失信行为信息记录”中的禁止参加政府采购活动期间;(以代理机构于评标当天在“信用中国”网站(www.creditchina.gov.cn)及中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)查询结果为准,同时对信用信息查询记录进行存档。如相关失信记录已失效或查询不到,则必须出具其信用良好的承诺书原件扫描件);(4)本项目不允许联合体投标。不接受中标备选方案。 三、获取招标文件 时间:2023年10月14日 至 2023年10月20日,每天上午9:00至12:00,下午12:00至17:30。(北京时间,法定节假日除外) 地点:中山大学智能电子采购系统(https://www.zhizhengyun.com) 方式:详见“其他补充事宜”。 售价:¥0.0 元,本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2023年11月03日 09点30分(北京时间) 开标时间:2023年11月03日 09点30分(北京时间) 地点:在线开标。 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1、招标文件获取方式:本项目以电子招投标形式进行,投标人可于中山大学智能电子采购系统(https://www.zhizhengyun.com)、中国政府采购网(http://www.ccgp.gov.cn)及代理机构网站(http://www.chinapsp.cn/)浏览招标公告,确认参与项目的合格投标人应登录中山大学智能电子采购系统,缴纳系统技术服务费400元/包组,在网上获取采购文件及其它招标资料。2、报名方式及时间:2023年10月14日 09:00:00至2023年10月20日 17:30:00;登录中山大学智能电子采购系统,在网上报名获取招标文件及资料,否则不能参与本项目的投标。本项目不需要现场报名确认,若报名期限届满后,获取招标文件的潜在投标人不足三家的,采购人将可能顺延报名期限并予公告。请各投标人留意网上公告,采购人不再另行通知。3、电子投标文件的递交:投标人须凭企业数字证书(GDCA)在提交投标文件截止时间前完成电子投标文件的上传,递交网址:https://www.zhizhengyun.com。无中山大学智能电子采购系统企业数字证书(CA)的投标人需按该平台电子认证的要求,提前办理企业数字证书(GDCA)。如果投标文件于递交投标文件截止时间未能上传完毕,该投标文件将视为无效投标文件。投标截止时间前未完成投标文件传输的,视为撤回投标文件。在递交投标文件截止时间前,投标人可以替换投标文件。4、提交投标文件截止时间、开标时间和地点(1)提交投标文件截止时间和开标时间:2023年11月03日 09:30:00 (北京时间)。(2)投标文件解密时间:2023年11月03日 09:30:00 至 2023年11月03日 10:00:00(如因系统原因无法正常解密,采购人可延长解密时间)。(3)解密完成后及时公布开标结果,投标人可登录中山大学智能电子采购系统查看开标情况。(4)开标地点:在线开标。5、招标公告期限为自发布公告之日起5个工作日, 2023年10月14日 09:00:00 至 2023年10月20日 17:30:00 止。6、本项目的发布、修改、澄清和补充通知将在中山大学智能电子采购系统(https://www.zhizhengyun.com)、中国政府采购网(http://www.ccgp.gov.cn)及代理机构网站(http://www.chinapsp.cn/)发布,敬请各投标人留意,采购人不再另行通知。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称:中山大学 地址:广州市新港西路135号 联系方式:郑老师 020-84115088 2.采购代理机构信息 名 称:采联国际招标采购集团有限公司 地 址:广州市环市东路472号粤海大厦7、23楼 联系方式:成思/夏芷莹 020-87651688-162/139 3.项目联系方式 项目联系人:梁群燕/成思/夏芷莹 电 话: 020-87651688-162/139 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 $('.clickModel').click(function () { $('.modelDiv').show() }) $('.closeModel').click(function () { $('.modelDiv').hide() }) 基本信息 关键内容:切片机,透射电镜,辉光放电光谱,电镜制样 开标时间:2023-11-03 09:30 预算金额:1.36亿元 采购单位:中山大学 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:采联国际招标采购集团有限公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目公开招标公告 广东省-广州市 状态:公告 更新时间: 2023-10-15 招标文件: 附件1 附件2 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目公开招标公告 2023年10月13日 17:36 公告概要: 公告信息: 采购项目名称 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目 品目 货物/设备/仪器仪表/试验仪器及装置/生物、医学样品制备设备,货物/设备/仪器仪表/光学仪器/显微镜 采购单位 中山大学 行政区域 广州市 公告时间 2023年10月13日 17:36 获取招标文件时间 2023年10月14日至2023年10月20日每日上午:9:00 至 12:00 下午:12:00 至 17:30(北京时间,法定节假日除外) 招标文件售价 ¥0获取招标文件的地点 中山大学智能电子采购系统(https://www.zhizhengyun.com) 开标时间 2023年11月03日 09:30 开标地点 在线开标。 预算金额 ¥13580.000000万元(人民币) 联系人及联系方式: 项目联系人 梁群燕/成思/夏芷莹 项目联系电话 020-87651688-162/139 采购单位 中山大学 采购单位地址 广州市新港西路135号 采购单位联系方式 郑老师 020-84115088 代理机构名称 采联国际招标采购集团有限公司 代理机构地址 广州市环市东路472号粤海大厦7、23楼 代理机构联系方式 成思/夏芷莹 020-87651688-162/139 附件: 附件1 中大招(货)[2023]201号_中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目(分项二).pdf 附件2 中大招(货)[2023]201号_中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目(分项一).pdf 项目概况 中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目 招标项目的潜在投标人应在中山大学智能电子采购系统(https://www.zhizhengyun.com)获取招标文件,并于2023年11月03日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:中大招(货)[2023]201号/CLF0123GZ09ZC12 项目名称:中山大学分析测试中心冷冻电镜系统及生物制样设备采购项目 预算金额:13580.000000 万元(人民币) 采购需求: 中山大学根据国家招投标法律法规和学校管理要求,拟以公开招标方式采购下列货物及其相关服务。1、招标采购项目内容及数量:分项一:生物制样设备,具体包含高压冷冻仪1台;自动投入冷冻仪1台;冷冻替代仪1台;冷冻超薄切片机1台,镀金镀碳仪1套;辉光放电仪2台;(本项目允许产自中华人民共和国关境外的进口货物投标;本项目不属于专门面向中小企业采购项目。本项目所属行业为工业。具体内容及要求详见公告附件招标文件)。分项二:冷冻电镜系统,具体包含冷冻双束系统1台;200 kV冷冻电镜系统1套;300kV冷冻电子断层成像系统1套;300kV高分辨冷冻电镜系统1套;120kV生物透射电镜系统1套(本项目允许产自中华人民共和国关境外的进口货物投标;本项目不属于专门面向中小企业采购项目。本项目所属行业为工业。具体内容及要求详见公告附件招标文件)。2、项目预算及经费 3.本项目的特定资格要求:(1)具备投标条件的中华人民共和国的法人或其它组织;(2)符合《中华人民共和国政府采购法》第二十二条相关规定;(3)投标人未被列入“信用中国”网站(www.creditchina.gov.cn)“失信被执行人”、“重大税收违法失信主体” 、“政府采购严重违法失信名单”;不处于中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)“政府采购严重违法失信行为信息记录”中的禁止参加政府采购活动期间;(以代理机构于评标当天在“信用中国”网站(www.creditchina.gov.cn)及中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)查询结果为准,同时对信用信息查询记录进行存档。如相关失信记录已失效或查询不到,则必须出具其信用良好的承诺书原件扫描件);(4)本项目不允许联合体投标。不接受中标备选方案。 三、获取招标文件 时间:2023年10月14日 至 2023年10月20日,每天上午9:00至12:00,下午12:00至17:30。(北京时间,法定节假日除外) 地点:中山大学智能电子采购系统(https://www.zhizhengyun.com) 方式:详见“其他补充事宜”。 售价:¥0.0 元,本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2023年11月03日 09点30分(北京时间) 开标时间:2023年11月03日 09点30分(北京时间) 地点:在线开标。 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1、招标文件获取方式:本项目以电子招投标形式进行,投标人可于中山大学智能电子采购系统(https://www.zhizhengyun.com)、中国政府采购网(http://www.ccgp.gov.cn)及代理机构网站(http://www.chinapsp.cn/)浏览招标公告,确认参与项目的合格投标人应登录中山大学智能电子采购系统,缴纳系统技术服务费400元/包组,在网上获取采购文件及其它招标资料。2、报名方式及时间:2023年10月14日 09:00:00至2023年10月20日 17:30:00;登录中山大学智能电子采购系统,在网上报名获取招标文件及资料,否则不能参与本项目的投标。本项目不需要现场报名确认,若报名期限届满后,获取招标文件的潜在投标人不足三家的,采购人将可能顺延报名期限并予公告。请各投标人留意网上公告,采购人不再另行通知。3、电子投标文件的递交:投标人须凭企业数字证书(GDCA)在提交投标文件截止时间前完成电子投标文件的上传,递交网址:https://www.zhizhengyun.com。无中山大学智能电子采购系统企业数字证书(CA)的投标人需按该平台电子认证的要求,提前办理企业数字证书(GDCA)。如果投标文件于递交投标文件截止时间未能上传完毕,该投标文件将视为无效投标文件。投标截止时间前未完成投标文件传输的,视为撤回投标文件。在递交投标文件截止时间前,投标人可以替换投标文件。4、提交投标文件截止时间、开标时间和地点(1)提交投标文件截止时间和开标时间:2023年11月03日 09:30:00 (北京时间)。(2)投标文件解密时间:2023年11月03日 09:30:00 至 2023年11月03日 10:00:00(如因系统原因无法正常解密,采购人可延长解密时间)。(3)解密完成后及时公布开标结果,投标人可登录中山大学智能电子采购系统查看开标情况。(4)开标地点:在线开标。5、招标公告期限为自发布公告之日起5个工作日, 2023年10月14日 09:00:00 至 2023年10月20日 17:30:00 止。6、本项目的发布、修改、澄清和补充通知将在中山大学智能电子采购系统(https://www.zhizhengyun.com)、中国政府采购网(http://www.ccgp.gov.cn)及代理机构网站(http://www.chinapsp.cn/)发布,敬请各投标人留意,采购人不再另行通知。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称:中山大学 地址:广州市新港西路135号 联系方式:郑老师 020-84115088 2.采购代理机构信息 名 称:采联国际招标采购集团有限公司 地 址:广州市环市东路472号粤海大厦7、23楼 联系方式:成思/夏芷莹 020-87651688-162/139 3.项目联系方式 项目联系人:梁群燕/成思/夏芷莹 电 话: 020-87651688-162/139
  • HORIBA荧光光谱2014年首届用户交流会: 新产品、跨领域交流成主旋律
    自HORIBA Scientific于2013年下半年开始全面负责荧光光谱仪的销售、售后及应用支持后,加强用户培训成为了2014年的首要任务。为此,HORIBA Scientific在3月24-25日、27-28日分别在北京、上海两地举办了2014年的首届荧光光谱仪用户交流会。本次会议得到了广泛的关注,共吸引了80余位荧光光谱仪用户的参与。值得一提的是,我们很荣幸地邀请到来自不同领域的17位专家教授、杰出青年学者与大家分享各自在荧光研究领域的新进展、成果、经验及见解。 我们希望通过这种方式让所有的用户都积地参与到荧光光谱大家庭里,彼此分享、学习先进的荧光光谱技术。从活动反馈来看,大家的热情也远远超出了我们的预期。荧光新品、新技术受追捧 这些来自国内院校的研究者们对于新产品及技术相当关注,也迫切地想知道它们是否可用于自己的课题研究中。为此,我们专程从国外邀请了资深的工程师Adam GILMORE博士与Graham Hungerford博士,由他们给大家介绍国外新的荧光寿命与稳态技术,涉及到生物、纳米材料、环境及水质等领域。荧光工程师周磊博士则结合国内外市场,就HORIBA的新款荧光光谱仪及各自的优势给大家做了详细的分析。 通过这个环节,大家对整个荧光市场前景有了清晰的认识,也更清楚自己未来的研究、主攻方向,可谓事半功倍。跨领域交流拓宽思路 这次会议探讨的研究方向有环境、碳纳米管、纳米发光材料(碳纳米管、稀土掺杂)、生物、半导体发光及荧光光谱仪溯源及标准品的制备等,由此也可以看出荧光光谱仪的应用范围之广泛。 现场激烈的讨论氛围让Adam GILMORE博士与Graham Hungerford博士非常欣喜,“这是一个深入了解中国研究者的机会,大家对环境等领域的兴趣将会促使我们不断地投入研发。” 来自南京工业大学的倪亚茹教授很喜欢这种横向的交流形式,她认为:“虽然大家的学习背景、研究方向都不同,但这种跨领域间的交流却有助于我们拓宽思路,大家用的又都是同一品牌仪器,就更有话题了。”使用困惑得以圆满解决 3月24日,大家在关妍博士的带领下参观了北京大学的中级仪器实验室,听她分享了在荧光样品上的测定心得。来到上海的应用中心后,我们安排大家参观了拉曼、ICP、辉光放电、光学光谱、粒度等一系列光谱仪,用户们也得以对不同的光谱仪及其应用有了全新的认识,在今后的仪器选择上有了方向。 当然荧光光谱仪依然受关注,这次周磊博士就样品的测试技巧、仪器的硬件配置和大家做了透彻的分析,不少人也借机提出了日常研究工作中的困惑,均得到了很好的解答。 至于大家担心的仪器售后问题,HORIBA Scientific也专门安排了日常维护的讲解环节,相信大家未来在仪器的使用上将会更得心应手。2014年,我们的光谱学院也将会推出一系列的荧光培训课程,涉及到稳态、寿命的理论知识和上机操作,敬请留意。 后,我们也由衷地感谢此次给我们会议大力支持的众多院校及学者们。关注我们邮箱:info-sci.cn@horiba.com新浪官方微博:HORIBA Scientific微信二维码:
  • 众星联恒MSI辉光放电质谱仪成功中标《锦州市产品质量监督检验所国家光伏材料产品质量监督检验中心建设进口专用分析仪器设备招标》
    2014年7月24日,凭借独特的技术优势和过硬的市场能力,北京众星联恒科技有限公司MSI辉光放电质谱仪GD90成功中标《锦州市产品质量监督检验所国家光伏材料产品质量监督检验中心建设进口专用分析仪器设备招标》项目。 再次感谢客户对我们的信任和支持,公司将继续秉承优秀的产品性能、完善的服务体系和合理的价格为客户提供高性价比的高端科研仪器设备,为客户的研究和工作带来更理想的成绩!
  • BCEIA 2011光谱仪器评议专家谈光谱技术新进展——访中国分析测试协会光谱仪器技术评议组
    2011年10月12-15日,由科技部批准、中国分析测试协会主办的“第十四届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2011)”在北京展览馆隆重举行。BCEIA重要内容之一“仪器评议活动”是由科技部倡导、中国分析测试协会组织、常年召开的一项重要活动。BCEIA是国内外分析仪器厂商在中国展示其最新推出的仪器和技术的窗口,也是“仪器评议活动”的一个重要汇集点。   BCEIA 2011展览会期间,中国分析测试协会光谱仪器技术评议组本着公开、公正、公平的评议原则,客观、系统、有针对性地对用户关注的、市场较大的光谱仪器及部件的创新点、特点或发展前景等进行了评述。   2011年10月14日下午,光谱仪器技术评议组在完成了本次活动之后,众位专家来到了仪器信息网(以下简称:instrument)的网络直播间接受了采访。接受采访的专家有中实国金国际实验室能力验证研究中心郑国经教授、北京矿冶研究总院高介平研究员、北京矿冶研究总院符斌研究员、地科院地质力学所计子华研究员、国家钢铁材料测试中心余兴研究员。   Instrument:本次BCEIA展览会上,国内外分析仪器厂商展出的光谱仪器给各位专家印象最深的是哪些?   郑国经教授:本次BCEIA展览会的规模比上一届大,并且展出仪器的水平也有所提高,出现了很多具有新意、性能较好的仪器。国产仪器厂家参展的规模盛大,很多国产仪器厂家推出了新技术产品,进步明显。   例如,电感耦合等离子体发射光谱仪应用中氩气消耗一直是用户所关注的问题,而PerkinElmer在最新推出的Optima 8x00系列电感耦合等离子体发射光谱仪中采用平板等离子体技术取代了传统的螺旋负载线圈,减少了三分之一的氩气消耗量,并且由于无需冷却,也就不需要使用冷却水,运行成本大大降低。另外,该仪器中还采用了电子雾化器技术,使雾化效率、进样效率获得充分提高,大大地改善了仪器的检出限,扩大了ICP光谱仪器的应用范围。   另一个亮点是安捷伦推出了微波等离子体原子发射光谱仪,使微波等离子体原子发射光谱仪真正商品化。该仪器可直接使用氮气或空气作为工作气体,无需使用易燃或昂贵气体,提高了安全性,大大降低运行成本,还适用于运输不便的边远地区。该款仪器必将在应用上取得比较好的效果。   符斌研究员:我们这次光谱仪器技术评议分别采取了参观新产品、举行座谈会的形式,足足进行了三天,主要是因为此次BCEIA展会参展的厂商多、展出的产品丰富、仪器的水平高。   我认为,这次展会上光谱仪器方面革命性的新技术主要有:微波等离子体原子发射光谱仪、平板等离子体技术的电感耦合等离子体发射光谱仪、火花直读光谱与辉光放电光谱相结合的光谱仪。另外,美国利曼公司推出的直流电弧光谱仪可以固体直接进样,北分瑞利公司也在研究此类技术。   原子吸收光谱已经很成熟了,但也有很多小的改进,例如,岛津公司的原子吸收光谱仪器上安装了震动传感器,当地震以及其它振动超过了设置值,仪器即可停止运行,保证了仪器、人员的安全。    郑国经教授 符斌研究员   Instrument:在中国市场中,进口的ICP占据了巨大部分的份额。国内虽然已经有很多仪器厂家生产ICP光谱仪,但是主要还是集中在顺序扫描性的ICP光谱仪。而令人兴奋是,在本次BCEIA展览会上,四家国产仪器厂商都推出了全谱直读的ICP光谱仪,请计子华研究员为我们介绍一下这方面的情况?   计子华研究员:这次BCEIA展览会上,北京豪威量、聚光科技、纳克公司、天瑞仪器都推出了全谱直读的ICP光谱仪。当然这几款产品各有其优劣性,还有一些需要进一步改进的地方。但我相信,不到半年的时间,这四款仪器中就会有真正商品化的产品推出。   Instrument:请余兴研究员为我们介绍一下辉光放电光谱仪的情况吧?   余兴研究员:辉光放电光谱是一个比较新的技术,在镀层分析方面有比较好的应用。但是从前几次BCEIA展览会的情况来看,因为辉光放电光谱的应用具有一定的局限性,各厂家对辉光放电光谱的重视与宣传力度不够。   而在这次BCEIA展览会上,HORIBA推出了一款3D 金属光谱仪,是基于火花直读光谱仪与传统意义上的辉光放电光谱仪基础上的一台光谱仪。与传统辉光放电光谱仪相比,该款仪器是一台快速分析的仪器,也能够进行镀层分析。该款仪器采用了直流放电的光源,降低了仪器成本,有利于该仪器的市场推广。其检测器采用了CCD,成本降低的同时也牺牲了部分分辨率,分辨率只达到了微米级水平。但对于一般客户来说,该仪器能够满足一定的需求,所以说该仪器还是一款非常好的仪器。   Instrument:请高介平研究员介绍一下原子吸收光谱仪、原子荧光光谱仪的新进展?   高介平研究员:原子吸收光谱基本上已经很成熟了。在火焰原子吸收光谱方面,国产仪器与进口仪器之间相差不多,石墨炉原子吸收光谱方面,国产仪器还稍有差距,需要进一步改进。总体来说,本次BCEIA展览会上,展出的原子吸收光谱的新技术不多,但是“小打小闹”的改进很多。例如,原来灯座更多是水平放置,现在很多家已经将灯座竖立起来。我认为,灯座竖起来更合理,好处更多,现在很多国产原子吸收光谱厂家也采用了这一技术。   至于原子荧光光谱仪技术方面,金索坤公司推出了高温原子荧光技术,将原子荧光原来只能检测11中元素扩展到了现在能够检测20多种元素。北分瑞利公司推出的新产品中改进了进样器,使得测试只需要1毫升的样品即可。还有的仪器用煤气、天然气取代乙炔气,解决了一些偏远地区没有乙炔气的问题。 计子华研究员、高介平研究员、余兴研究员   Instrument:各位专家对于国产光谱仪器未来发展有何建议?   郑国经教授:从本次展会展出的光谱仪器来看,发展趋势主要有:虽说光谱仪器已经很成熟了,但从此次展会来看,仪器技术还在不断发展,光谱仪器新产品不再一味追求极限指标,而是向着实用性、绿色、低碳等方向发展。例如,安捷伦推出的微波等离子体原子发射光谱仪可直接使用氮气或空气,无需使用氩气,节约了能源,也符合绿色环保的要求。另外,光谱仪器新产品的定位也转向了解决实际应用的方面,这一点在本次展会上表现的尤其突出。   本次展会上国产仪器厂商展出的规模中增大了,展出的仪器数量也增加了,推出的新仪器技术水平更是提高了很多,这些都说明了国产光谱仪器正向着国际先进水平发展。如,中阶梯光栅和CCD检测器技术一直为国外厂商所独有,国内仪器厂商一直以来没能掌握。而这次展会上,国内几家公司都推出了相关的产品,对于国产仪器发展来说是一个很好的开端。   采访编辑:刘丰秋
  • 稳态瞬态荧光光谱仪在力学存储/可视化行为的自充能、可持续力致发光的应用研究
    自充能、可持续力致发光力致发光是指材料在力学刺激下产生的一种发光行为。由于其独特的力学-光学响应特性,力致发光为实现力学传感及其可视化提供了新思路和新途径。目前发现的力致发光材料多数仅表现出动态力学刺激下的瞬态发射行为,极大地限制了其在力学的可视化显示和成像方面的应用。可持续力致发光材料能够在力学刺激停止后继续保持发光行为,对可持续力致发光材料的开发是应对上述问题的有效方式。此前,研究人员通过陷阱工程设计,在特定材料体系中获得了力学刺激后可持续的力致发光现象。然而,该类可持续力致发光材料在使用前必须经历预辐照,在其结构内部预先储存能量,这不仅增加了实际应用时操作的难度,也难以实现该类材料的循环稳定使用。因此,实现无需预辐照的自充能、可持续力致发光成为当前研究的热点之一。中国科学院兰州化学物理研究所王赵锋团队在国际知名期刊Advanced Science上发表的题为“Self‐charging persistent mechanoluminescence with mechanics storage and visualization activities”的研究论文。本文研制出一种自充能、可持续力致发光材料——Sr3Al2O5Cl2:Dy3+/PDMS(SAOCD/PDMS),该材料在力学的刺激下,无需预辐照即可产生明亮的长寿命力致发光,有效避免了此前材料在使用时的预辐照需求,极大提升了长寿命力致发光材料的应用便利性。本工作通过将SAOCD (SAOCD) 粉末复合到PDMS基质中,创建了一种新型的力致发光材料,即自充能、可持续力致发光材料。无需任何预辐照,所制备的SAOCD/PDMS弹性体可以直接在力学刺激下表现出强烈且持久的力致发光,这极大地促进了其在力学照明、显示、成像和可视化中的应用。通过研究基体效应以及热释光、阴极发光和摩擦电特性,界面摩擦起电诱导的电子轰击过程被证明是机械刺激下SAOCD中自充能能量的原因。基于独特的自充电过程,SAOCD/PDMS进一步展现出力学存储和可视化读取行为,为机械工程、生物工程和人工智能领域 处理力学相关问题带来了新颖的思路和方法。 自激活、长寿命力致发光材料的设计制备与性能研究 图1 SAOCD/PDMS复合弹性体的制备流程、性状及力致发光性能 当施加拉伸、摩擦、压缩等力学刺激时,复合弹性体呈现出直接的自激活力致发光,不需要额外的预辐照(图1c)。复合弹性体的力致发光性能随SAOCD颗粒中Dy的含量增加呈现出先增后减的趋势(图1d)。随着施加应变的增加,SAOCD/PDMS弹性体的ML强度随之增加,其在应力/应变传感方面表现出良好的应用价值。此外,该复合弹性体的力致发光还表现出良好的热稳定性(图1f)。图2 (a)SAOCD的力致发光和余辉示意图;(b)SAOCD/PDMS复合弹性体在拉伸、摩擦、压缩条件下的力致发光和余辉照片;(c)不同浓度Dy离子掺杂SAOCD/PDMS复合弹性体的摩擦余辉光谱图。 该材料在力学的刺激下,无需预辐照即可产生明亮的长寿命力致发光(图2),有效避免了此前材料在使用时的预辐照需求,极大提升了可持续力致发光材料的应用便利性。图3 SAOCD的自激活力致发光及余辉机理明确了SAOCD/PDMS的自激活力致发光和余辉的物理过程,即在外力刺激下SAOCD与PDMS产生界面摩擦电作用,SAOCD的电子转移到PDMS表面,SAOCD与PDMS间形成高能电场,PDMS表面电子被加速,轰击SAOCD,使得SAOCD中的电子受激从价带跃迁至导带,一部分直接和发光中心结合产生力致发光,另一部分被陷阱捕获,外力撤除后自发释放转移至发光中心产生余辉。机械力学信息的存储与可视化读取器件研究图4 (a)力致发光复合材料的应力存储和可视化读取示意图;(b)SAOCD/PDMS复合弹性体对机械力学信息的存储、读取原理及功能展示。 通过利用SAOCD/PDMS材料中特有的自充能物理过程,进一步发展出了一种力学信息的存储与可视化读取技术(图4)。在机械刺激下,力学信息将会以陷阱捕获载流子的方式在材料内部进行存储,随后,在热刺激下,所存储的力学信息将以可视化的形式得到读取,所存储和读取的力学信息主要包括力学强度、发生时间及其空间分布等。作者简介王赵锋简介:中国科学院兰州化学物理研究所研究员,博士生导师,2006年毕业于兰州大学材料化学专业,获理学学士学位,2011年毕业于兰州大学材料物理与化学专业,获工学博士学位。2011年至今,先后于中国科学院兰州化学物理研究所固体润滑国家重点实验室、美国德克萨斯州立大学化学与生物化学系、美国康涅狄格大学材料科学研究所进行科学研究。主要研究方向为摩擦/力致发光材料及应用,在Nat. Commun., Angew. Chem. Int. Ed., Adv. Funct.Mater., Nano Energy, Mater. Horiz., Adv. Sci.等期刊发表论文100余篇(被引用5000余次,h因子40),编写书籍章节两部,申请/授权国家发明**10余项,研究成果被国内外知名媒体如中国科学报、中国科普博览、人民日报、中科院之声、New Scientist、Nanowerk、Science Trends等专题报道。现为国内知名期刊《稀土学报(英文版)》、《材料导报》、《发光学报》青年编委,以及中国机械工程学会表面工程分会青年学组特邀专家。2015年获美国环境保护署P3提名奖,2017年获甘肃省自然科学二等奖,2018年获中科院高层次人才计划择优支持,2020年获甘肃省杰出青年基金支持,所带领的研究团队获2021年度甘肃省“青年安全生产示范岗”荣誉称号,2022年获中科院区域发展青年学者称号。相关产品推荐 本研究的力致发光光谱数据采用卓立汉光搭建的组合荧光系统采集,配置Omni-λ300i系列“影像谱王”光栅光谱仪对光谱进行分光。目前,该组合荧光系统已经升级为OmniFluo900 系列稳态瞬态荧光光谱仪,如需了解该产品,欢迎咨询。 免责声明 北京卓立汉光仪器有限公司公众号所发布内容(含图片)来源于原作者提供或原文授权转载。文章版权、数据及所述观点归原作者原出处所有,北京卓立汉光仪器有限公司发布及转载目的在于传递更多信息及用于网络分享。 如果您认为本文存在侵权之处,请与我们联系,会*一时间及时处理。我们力求数据严谨准确, 如有任何疑问,敬请读者不吝赐教。我们也热忱欢迎您投稿并发表您的观点和见解。
  • “光谱仪在能源、电池领域中的应用”在线讲座问题集锦(6)
    锂电池以其特有的性能优势已在便携式电子设备中得到了普遍应用,其中大容量的锂电池还被用于电动汽车,预计未来将成为其主要的动力电源之一。此外,它还可用于人造卫星、航空航天和储能等方面。 11月7日,HORIBA Scientific举办了光谱应用系列在线讲座(6)——“光谱仪在能源、电池领域中的应用”,涉及辉光光谱、拉曼光谱技术。至此,“2014探索In的光谱应用”系列活动圆满结束。本次活动涵盖了如今热门的6大应用领域及7种光谱技术,为参与者提供了一个绝好的学习光谱技术机会。现将本次讲座问题整理后供大家参考。课程一:辉光光谱Q:赵老师:请问可以分析粒径在几百纳米的粉末样品吗?A:辉光放电光谱仪可直接分析的样品呈固体块状/片状,不可以分析粉末样品。当然可以将粉末样品磨碎混合铜粉压片成均匀块体分析。Q:Lucy-SH:辉光放电光谱仪和椭圆偏振光谱仪有什么区别?A:辉光放电光谱仪是有损分析技术且专注于分析镀层元素随深度的分布,可获得镀层元素、界面污染、表面处理、层间扩散、镀层均一性,定量后还可获得镀层元素含量及镀层厚度;椭圆偏振光谱仪是无损分析技术,它专注于分析镀层样品的厚度、光学常数(n,k)、粗糙度、孔隙率、界面信息、组分、结晶度、梯度变化及各向异性等。Q:中南大学-材料院-张老师:磁控溅射后的样品可以做吗?样品要平整到什么程度?A:可以。样品仅需要看上去平整即可进行分析。Q:张老师:请简要介绍一下辉光放电谱仪与SIMS比较的优缺点?A:两种技术都为表面镀层分析技术。辉光放电光谱仪分析速度快(几分钟),可测试元素周期表中所有元素,操作简单、维护方便、价格便宜。SIMS分析速度慢(几个小时),可测试所有元素、同位素,分析化合物组分及分子结构,操作复杂含有超高真空设备、维护成本高、价格昂贵。联合使用可多方位表征样品。Q:哈尔滨工业大学-能源学院-张老师:经Ar粒子轰击过的样片,比如您粒子中的0.3nm的镀膜材料,是否测量完成就被破坏了?A:辉光放电光谱仪是一种有损分析,Ar等离子体的阳离子会持续轰击样品表面,将镀层元素剥蚀,终产生一个溅射坑。课程二:拉曼光谱Q:中科院生态中心-王老师:测量液体拉曼光谱,对装样品的玻璃器皿光面毛面状况有特别讲究吗?A:测量液体样品时根据样品量的多少可以选择不同的容器,当样品量少时,放在毛细管中即可(毛细管壁薄的情况下样品信号会相应更强)。通常使用的玻璃器皿都是光面的。如果液体挥发性不强,没有腐蚀性,也可以滴在硬币表面或者玻璃表面。这时毛面的玻璃由于利于散射,可以得到更强的信号。Q:清华大学-材料系-陈老师:锂电池的充放电中提到拉曼可以检测锂离子的扩散,拉曼也可以检测离子吗?A:可以。通常情况下拉曼光谱是不用于离子检测的。但当离子和其它物质发生作用时,可以通过其它物质信号的改变来反推离子的扩散或浓度情况。例如在锂电池中,通过对石墨D峰的检测可以对锂离子扩散进行相应判断。由于拉曼光谱可以对分子所处的微环境进行表征,在一定的实验设计下,它是可以对离子、pH值、温度等信息进行表征的。关注我们HORIBA光谱学院:www.horibaopticalschool.com邮箱:info-sci.cn@horiba.com微信二维码:
  • 7762万预算!光谱仪器2022年4-12月采购意向盘点
    仪器信息网整理了中国政府采购网上各高校院所2022年4-12月光谱类仪器采购意向。据不完全统计,共23个高校院所将于4-12月拟采购光谱类仪器,总采购预算约7762万元。从采购数量上看,中国科学院大连化学物理研究所拟采购光谱类仪器数量最多,4-12月间拟采购7台(套)光谱类高校,2个高校院所4-12月间拟采购光谱类仪器3台(套),4个高校院所4-12月间拟采购光谱类仪器2台(套),16个高校院所4-12月间拟采购光谱类仪器1台(套)。详情见下表。各高校院所2022年4-12月拟采购光谱类仪器数量(不完全统计)采购单位采购台(套)数中国科学院大连化学物理研究所7中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所3中国科学技术大学3中山大学2中国科学院青海盐湖研究所2南京航空航天大学2北京化工大学2中国科学院新疆理化技术研究所1中国科学院物理研究所1中国科学院武汉岩土力学研究所1中国科学院深圳先进技术研究院1中国科学院上海硅酸盐研究所1中国科学院山西煤炭化学研究所1中国科学院南海海洋研究所1中国科学院金属研究所1中国科学院华南植物园1中国科学院福建物质结构研究所1中国科学院地球化学研究所1西北农林科技大学1四川大学1陕西师范大学1清华大学1暨南大学1总计37从仪器类型上看,涉及的光谱类仪器类别包括X射线荧光光谱仪、光谱椭偏仪、全光纤太赫兹时域光谱仪、低温强磁场电子拉曼光谱外耦合系统、全光谱傅立叶变换红外吸收光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、高精度地物光谱仪、高精度干涉光谱仪、红外光谱、辉光放电光谱仪、激光拉曼光谱仪、激光诱导击穿光谱原位测量系统宽光谱检测系统、镜面反射吸收红外-程序升温脱附设备(原位红外吸收光谱)、宽频光谱测试系统、全光谱流式细胞仪、射频辉光放电光谱仪、水下水面光谱测量系统、微区光谱分析系统、无液氦变温光谱超导磁体系统、相干反斯托克斯拉曼光谱测温系统、原位拉曼光谱、圆偏振发光光谱仪、圆偏振荧光光谱仪、时间分辨光致荧光光谱系统、准原位光谱系统等。各高校院所2022年4-12月光谱类仪器采购意向序号采购单位采购项目名称采购品目采购需求概况预算金额(万元)预计采购日期1清华大学宽频光谱测试系统A02100404光学式分析仪器详见项目详情2202022年5月2中国科学技术大学激光拉曼光谱仪A033499其他专用仪器仪表详见项目详情1852022年5月3中国科学技术大学红外傅里叶变换光谱仪系统A033499其他专用仪器仪表详见项目详情1602022年6月4中国科学技术大学高精度干涉光谱仪A0210399其他光学仪器详见项目详情1402022年9月5中山大学电子与信息工程学院光学超材料微区光谱多维表征系统采购项目A02100304光学测试仪器详见项目详情1502022年5月6中山大学电子与信息工程学院全光谱傅立叶变换红外吸收光谱仪采购项目A02100308红外仪器详见项目详情1852022年6月7四川大学脉冲电源+数据采集系统+静电电压表+(ICCD+光谱仪)等A033499其他专用仪器仪表详见项目详情6262022年4月8北京化工大学北京化工大学数理学院物理学部光谱椭偏仪采购项目A02100304光学测试仪器详见项目详情1302022年5月9北京化工大学北京化工大学数理学院物理学部全光纤太赫兹时域光谱仪采购项目A02100406波谱仪详见项目详情1002022年5月10暨南大学暨南大学光子技术研究院宽光谱检测系统采购项目A02120105光学仪器检测器具详见项目详情99.92022年4月11陕西师范大学圆偏振发光光谱仪A02100404光学式分析仪器详见项目详情2502022年5月12西北农林科技大学高精度地物光谱仪A02100307-光谱遥感仪器详见项目详情1102022年5月13南京航空航天大学微区光谱分析系统A02100304-光学测试仪器详见项目详情1102022年6月14南京航空航天大学相干反斯托克斯拉曼光谱测温系统A02100304-光学测试仪器详见项目详情2862022年4月15中国科学院武汉岩土力学研究所傅里叶红外光谱系统A02100404-光学式分析仪器详见项目详情1002022年6月16中国科学院大连化学物理研究所红外光谱仪A02100308详见项目详情1602022年4月17中国科学院大连化学物理研究所射频辉光放电光谱仪A02100406详见项目详情1502022年8月18中国科学院大连化学物理研究所无液氦变温光谱超导磁体系统A021099详见项目详情4402022年4月19中国科学院大连化学物理研究所无液氦变温光谱超导磁体系统A021099详见项目详情3602022年4月20中国科学院大连化学物理研究所原位拉曼光谱A02100309详见项目详情1602022年6月21中国科学院大连化学物理研究所红外光谱A02100308详见项目详情1202022年6月22中国科学院大连化学物理研究所X射线荧光光谱仪A02100405详见项目详情1752022年11月23中国科学院上海硅酸盐研究所辉光放电光谱仪A02100404光学式分析仪器详见项目详情2032022年6月24中国科学院福建物质结构研究所圆偏振荧光光谱仪A02100404光学式分析仪器详见项目详情2952022年5月25中国科学院山西煤炭化学研究所激光诱导击穿光谱原位测量系统A02100309激光仪器详见项目详情2202022年6月26中国科学院青海盐湖研究所傅立叶变换红外光谱仪A02100308详见项目详情2202022年4月27中国科学院地球化学研究所数字行星平台1:行星光谱数据地面验证系统A02100304光学测试仪器详见项目详情902022年6月28中国科学院南海海洋研究所水下水面光谱测量系统海洋声光仪器设备详见项目详情1072022年4月29中国科学院华南植物园X射线荧光光谱仪采购A02100405射线式分析仪器详见项目详情1902022年6月30中国科学院金属研究所拉曼光谱仪A02100304光学测试仪器详见项目详情3002022年6月31中国科学院新疆理化技术研究所中国科学院新疆理化技术研究所时间分辨光致荧光光谱系统采购项目A02110204半导体器件参数测量仪详见项目详情1732022年5月32中国科学院深圳先进技术研究院全光谱流式细胞仪A02100404光学式分析仪器详见项目详情3902022年5月33中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所镜面反射吸收红外-程序升温脱附设备(原位红外吸收光谱)A032199-其他电工、电子专用生产设备详见项目详情2502022年12月34中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所镜面反射吸收红外-程序升温脱附设备(原位红外吸收光谱)-真空腔体A032199-其他电工、电子专用生产设备详见项目详情235.942022年12月35中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所准原位光谱系统A032199-其他电工、电子专用生产设备详见项目详情3412022年12月36中国科学院青海盐湖研究所傅立叶变换红外光谱仪A02100308详见项目详情2202022年4月37中国科学院物理研究所低温强磁场电子拉曼光谱外耦合系统(2022预算17)A02100699详见项目详情1102022年6月
  • X射线荧光光谱仪更换优惠活动
    从即日开始至2015年9月30日止,日本电子针对旧机型老客户,Elementeye将提供特殊优惠价格。优惠机型为日本电子最新X射线荧光光谱仪JSX-1000S,具有易操作、高灵敏度及高通量、解决方案丰富等特点。更多仪器详细信息,请浏览JEOL官方网站:http://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSX-1000S.html
  • 【极速报名】微信报名光谱会(原子光谱),赢电动独轮车和5000元话费!
    即日起,微信回复&ldquo 11&rdquo ,即可报名参加2014年光谱网络大会,会议当天进入会场还有机会赢取智能IPS电动独轮车和5000元话费。 微信公众号:仪器信息网 回复内容:11 "光谱网络会议(iConference on Spectroscopy,iCS2014 原子光谱) " 大会时间:2014年9月17-19日 参会要求:仪器信息网注册用户即可参与,参会当天仅需一台联网的电脑。 报名方式:微信回复数字&ldquo 11&rdquo 即可快速报名本次光谱网络会议的全部专场。 第三届&ldquo iCS网络光谱会议(iCS2014&mdash 原子光谱 )&rdquo 将于2014年9月17&mdash 19日举办,为期两天半的会议主要涉及原子荧光、ICP/ICP-MS、XRF、AAS、原子光谱技术展望等多领域的最新技术及研究进展,大会将邀请近20名业内光谱专家针对不同主题做精彩报告并与大家进行交流。会议将延续高质量专业报告和听众免费报名参会的两大特征,真诚邀请您来品鉴这次光谱领域的饕餮盛宴。 部分专家报告如下: 报告题目 报告人/单位 原子荧光光谱在农产品检测中的应用 戴礼洪 农业部环境质量监督检验测试中心 原子荧光及形态分析仪技术发展及应用 王辉 清华大学分析中心 ICP-AES仪器与应用最新进展 郑国经 中实国金 赛默飞ICP-MS 的最新进展 李晓波 赛默飞世尔科技(中国)有限公司 ICP-AES/ICP-MS 测定复杂矿物中稀土及金标准样品研制与定值方法研究 冯先进 北京矿冶研究总院 PerkinElmer ICP/ICPMS在元素及形态分析最新进展 许权辉 (PerkinElmer )IC/ICP-MS在食品检测领域的应用 林立 北京市海淀区产品质量监督检验所 能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)在测试大气气溶胶样品中的应用 曹军骥 中国科学院地球环境研究所 XRF在汽车尾气三元催化和板材涂层方面的应用 吕勇 赛默飞世尔科技(中国)有限公司 XRF在电子产品检测领域的应用 邓春涛 中检南方 AAS在食品分析中的应用 舒永红 中国广州分析测试中心 固体直接进样石墨炉原子吸收测定环境土壤中镉元素 徐子优 北京市环境保护监测中心 原子吸收在环境土壤重金属监测中的应用及进展 梁宵 中国环境监测总站 LIBS技术现状与展望(拟) 段亿翔 四川大学分析测试中心 辉光放电光谱仪在半导体领域的应用 卢宏亮 复旦大学 了解更多信息:http://ics2014.instrument.com.cn 咨询方式: QQ群:231246773 电话:010-51654077-8052
  • 金索坤SK-880火焰原子荧光光谱仪喜获展览会(BCEIA)金奖
    2017年10月10-13日,在北京国家会议中心举办的第十七届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2017)共吸引来自海内外近400家厂商参展。北京金索坤技术开发有限公司作为市面上唯一一家只专注原子荧光光谱仪的研发以及生产的高新技术企业参与此次盛会,并且其所携产品SK-880火焰原子荧光光谱仪(痕量金专用测试仪)荣获金奖。火焰原子荧光光谱仪(FAFS)的构想来自郭小伟教授,他带领他的课题组完成氢化法原子荧光光谱仪的研发之后,为了进一步拓展原子荧光法可检测元素范围开始了对火焰原子荧光光谱仪的研究并取得成功。FAFS的原理是:液态样品经高效雾化器雾化后形成气溶胶,气溶胶在预混合雾化室中与燃气充分混合均匀,再通过燃烧的热量使进入火焰的试样蒸发、熔融、分解成基态原子,基态原子被高性能空心阴极灯激发至高能态,处于高能态的原子不稳定,在去激发的过程中以光辐射的形式发射出原子荧光。原子荧光的强度与被测元素在样品中的含量成正比,从而测定样品中金的含量。金索坤的研发团队在此基础上进行改进升级,最终,SK-880火焰原子荧光光谱仪出现在BCEIA金奖的展台。SK-880火焰原子荧光光谱仪是专为地质找矿测试痕量金及常量金而研发生产的仪器,该仪器集多项专利技术于一身,测试金时检出限可小于0.05ppb,测试线性范围宽。而且应用SK-880火焰原子荧光光谱仪测试单个样品时间仅需5秒,测试费用仅需0.08元。与石墨炉原子吸收法相比,应用火焰原子荧光法测金是一个更为省钱高效的方法。表1 测试速度对比结果测试方法测试过程所需时间/s全过程总时间/s石墨炉原子吸收法干燥4063灰化10原子化3进样10火焰-原子荧光法进样(包括换样)1014积分4 表2 使用成本对比测试方法耗材耗材单价(元)单个耗材可测样品个数(个)平均每个样品所需价格(元)每个样品总成本(元)石墨炉原子吸收法石墨管进口45010000.450.59元素灯进口3500700000.05氩气18020000.09火焰原子荧光法喷雾器650200000.03250.0805元素灯900200000.045液化石油气150500000.003这是应用石墨炉原子吸收法和火焰原子荧光法检测金的检测效率和检测成本的对比表,从表中可以清晰的看出应用火焰原子荧光法测金的检测效率远超原子吸收法,而检测成本却不到其七分之一。SK-880火焰原子荧光光谱仪名为“痕量金专用测试仪”,但它不仅仅可以应用在测金上,在银、铜、铅、镉的检测上也有不俗的表现,到目前为止,SK-880火焰原子荧光光谱仪可以检测金、银、铜、铅、锌、钴、镍、铁、铟、锰、汞、镉、铬、碲等14种元素。北京金索坤技术开发有限公司三十多年如一日,潜心探索原子荧光技术的发展,倾心打造出的检测元素多,检测速度快,技术指标好,安装省事节约耗材的新一代原子荧光光谱仪得到了广大用户的认可和好评,此次BCEIA展会上SK-880荣获金奖,这对于金索坤来说既是一种肯定和鼓励,更是一种信任和鞭策,金索坤公司会一如既往的为原子荧光技术的发展探索乾坤。 金索坤SK-880火焰原子荧光光谱仪
  • 爱丁堡仪器激光闪光光解光谱仪用户培训会圆满成功
    为了给爱丁堡激光闪光光解光谱仪的用户提供更好的技术支持和服务,促进爱丁堡仪器的应用交流,爱丁堡仪器-天美创科于2019年3月19日—3月20日在北京举办了爱丁堡激光闪光光解光谱仪用户培训会。  本次用户培训由英国爱丁堡仪器资深产品专家Dr. Andrew Dick为用户进行培训。针对爱丁堡激光闪光光解光谱仪的设计原理,使用指导,典型应用及仪器使用维护保养等进行了详细讲解,售后维修经理尚伟伟进行维护指导。  此次培训为期两天,分为理论讲解和仪器上机讲解两部分。培训伊始,由天美创科北京分析仪器总监张海蓉女士致欢迎辞并介绍天美公司。随后由爱丁堡仪器英国专家对激光闪光光解进行详细讲解,分别介绍了激光闪光光解在动力学模式和光谱模式下的应用实例。  为了更好的解决老师们在仪器使用中的问题,接下来的培训主要在实验室进行。由Dr Andrew Dick 为大家演示爱丁堡激光闪光光解光谱仪LP980的操作流程及基本故障排除,测试了由培训用户带来的较难测定的样品,并解答了各位用户在测量中遇到的普遍问题。  本次用户培训得到了中国科学院理化技术研究所的大力支持,培训第二天特别安排了中国科学院理化技术研究所的参观及上机学习,分别学习CCD及近红外检测器的使用。  为了便于广大用户更好的使用公司的产品,天美(中国)全年针对不同产品开设各类培训,更多相关课程欢迎您关注天美公司官网和微博。关于天美:  天美集团从事表面科学、分析仪器、生命科学设备及实验室仪器的设计、开发和制造及分销;为科研、教育、检测及生产提供完整可靠的解决方案。近年来天美集团积极拓展国际市场,先后在新加坡、印度、澳门、印尼、泰国、越南、美国、英国、法国、德国、瑞士等多个国家设立分支机构。公司亦先后收购了法国Froilabo公司、瑞士Precisa公司、美国IXRF公司、英国Edinburgh Instruments公司等多家海外知名生产企业和布鲁克公司Scion气相和气质产品生产线,以及上海精科公司天平产品线, 三科等国内制造企业、加强了公司产品的多样化。
  • 视频:爱丁堡FS5荧光光谱仪新品发布会现场
    仪器信息网讯 2013年10月23日,BCEIA 2013在北京展览馆召开。展会期间,天美(中国)科学仪器有限公司在其展台举行了爱丁堡FS5荧光光谱仪的新品发布会,据悉这也是该款仪器在全球的首次亮相。   以下是新品发布会现场的视频:   第一部分:爱丁堡FS5荧光光谱仪新品发布会现场,爱丁堡仪器公司COO Roger Fenske介绍FS5的相关情况      第二部分:爱丁堡FS5荧光光谱仪新品揭幕现场,天美(中国)科学仪器有限公司总裁付世江与爱丁堡仪器公司Mark Goossens博士一起为FS5荧光光谱仪揭幕。
  • 2008年北京光谱年会通知
    为了更好的交流及促进光谱分析技术(原子光谱、分子光谱)应用及其学科的发展,北京理化分析测试技术学会光谱学会定于2009年1月9号在北科报告厅举办“2008年北京光谱学会年会”。拟就原子光谱和分子光谱分析技术动态、光谱分析仪器方面的新进展等问题进行学术交流,并邀请光谱分析方面的专家作专题报告。本次年会将做光谱新技术论文集,欢迎光谱技术人员踊跃投稿。投稿请将文章全文发到会务组,想在国家核心期刊上发表的文章,请注明期刊投稿。一、部分大会报告中实国金实验室能力验证中心   郑国经 光谱分析技术及仪器动态简况清华大学            孙素琴 分子光谱动态及其在食品营养安全中的应用北京化工大学          袁洪福 近红外光谱技术及其分析标准的进展北京大学化学院         李 娜 分子荧光光谱分析的应用动态清华大学            周 群 光谱分析技术在考古及文物研究中应用国家钢铁材料测试中心      贾云海 激光光谱技术的发展近况国家钢铁材料测试中心      陈吉文 金属原位统计分布分析技术国家钢铁材料测试中心      余 兴 辉光光谱仪器进展-辉光光源的增强方式中国科学院化学所        王建平 飞秒二维红外光谱技术及其在生物和化学领域的应用岛津公司            安国昱 X光荧光光谱微量分析的探讨注:具体“报告题目及报告顺序”以会议当天通知为准。二、时 间: 2009年1月9日 8:30-16:00 (8:30签到,会议免费提供午餐)三、地 点: 北科大厦 三层报告厅 北京海淀区西三环北路27号四、乘车路线:可乘300、323、362、394、704、708、699、836、817、944、968、特5、特8、运通103、运通110、运通201等,在万寿寺站下车路西北科大厦。五、会 务 组:北京理化分析测试技术学会 通讯地址:北京海淀区西三环北路27号 北科大厦 (100089)电 话:010-68436472 68731259 传 真:010-68471169 联 系 人:于靖琦 13521470325 电子信箱:VIP001@21cn.com咨询电话:章 燕:010-68454626 桂 三 刚:010-88417672 北京理化分析测试技术学会北京光谱学会2008年12月8日
  • 北京光谱年会召开 盘点光谱技术新进展
    2010年1月11日,北京理化分析测试技术学会光谱学会在北京天文馆二楼报告厅组织召开了“2009年北京光谱年会”。本届年会共有200余人到场,参会人员主要来自科研院所、大专院校,也有较多质检机构、食品卫生、钢铁等行业的工作人员赴会。 2009年北京光谱年会大会现场   两年一度的BCEIA刚刚于2009年11月在北京闭幕,来自国内外的各分析仪器公司在展会上展示了最新产品和技术,所以BCEIA也是分析仪器领域的一次大检阅。本次年会的特点之一是,光谱分析专家们结合BCEIA展出的新产品、新技术,详细盘点了光谱分析仪器及技术的最新进展。钢铁研究总院国家钢铁材料测试中心贾云海研究员、北京化工大学袁洪福教授分别主持上、下午的报告会。 贾云海研究员主持报告会   北京光谱学会理事长郑国经教授首先作光谱仪器整个领域的综合评述报告。 郑国经教授   郑国经教授在报告中讲到,本届BCEIA最大亮点在于国产仪器的强劲登场。BCEIA2009颁发的14项金奖项目中涉及光谱分析方面的仪器有5项:上海光谱仪器公司的原子吸收分光光度计SP-3880AA,沈阳华光精密仪器公司的原子吸收分光光度计LAB600,北京科创海光仪器公司的全自动双道注射泵原子荧光光度计AFS-9700,北京瑞利分析仪器公司的双光束紫外/可见分光光度计UV-2200,北京聚光世达科技公司的在线近红外分析仪SupNIR-4510,从技术工艺创新程度、技术指标先进程度、市场前景和市场化水平四个方面都有不错的的进步,充分反映了国内厂家在光谱分析仪器上的实力,并且光谱仪器正逐渐向高性能、实用化、小型化方向发展。   分子光谱技术进展   李昌厚研究员作“紫外可见分光光度计最新进展”报告 李昌厚研究员   目前最新的紫外可见分光光度计是PerKinElmer公司的Lambda750(s)和Varian公司的Carry6000i。Lambda750(s)是以积分球作标准检测器,在光学、附件方面都有独到之处;Carry6000i采用InCaAs固体检测器,比PbS检测器的灵敏度高10倍。中国最好的紫外可见分光光度计优于国外同类、同档次的仪器,但与国外产品在工艺、附件、软件上还有差距。   紫外可见分光光度计应用最新进展:(1)多组分分析,不经分离直接分析;(2)“高阶张量数据解析方法”问世,主要用于复杂体系成分分析。   清华大学周群教授作“拉曼图像系统与中阶梯光栅拉曼光谱仪器进展”报告 周群教授   拉曼光谱相关技术近年来发展也很迅速。拉曼图像系统与显微镜的完美结合,使得拉曼光谱对物质的空间结构分布研究成为可能,已成为化学、材料、生物、地质、文物保护及物证分析等研究领域不可或缺的结构鉴定手段之一。HORIBA Jobin Yvon公司推出的两种新技术:一种是全新的成像技术DuoScan和被称为“难以置信的快速扫描”的SWIFT技术,该技术可以保证快速获得高质量的拉曼图像。   PerKinElmer公司新推出的RamanStation400型拉曼光谱仪可以同时、快速的提供全波段、高分辨光谱,没有任何可移动的部件。中阶梯光栅拉曼光谱仪还被成功应用在联用技术中,如与差示热扫描技术的联用,可以对化合物相变前后的结构进行分析。   北京化工大学袁洪福教授作“便携式分子光谱仪器进展”报告 袁洪福教授   由于分子光谱分析具有无损测量、信息丰富和快速等优点非常适合现场质量快速测量。便携式近红外光谱仪应用的最多,其MEMS技术支持的便携式近红外光谱仪具有光明的发展前景,但MEMS芯片本身体积虽然很小,受配备外光路等附属部件体积所限,便携式近红外光谱仪的尺寸还不够理想。   便携式拉曼光谱仪的发展得益于CCD检测器和光纤技术的发展,目前市场出现了很多以光纤光栅阵列检测的便携式拉曼光谱仪,其中便携式傅里叶变换拉曼光谱仪具有光明的发展前景。   北京大学李娜教授作“荧光光谱仪仪器进展”报告 李娜教授   在荧光分析方面,目前一些稳态荧光仪采用了单光子计数,提高了对微弱信号的检测能力;同时一些厂商推出了近红外荧光光谱仪,可将检测波长范围拓展到1700nm;一些仪器更具有稳态和寿命测量的双功能。   时间分辨荧光仪技术主要有时间相关单电子计数(TCSPS)技术、频内观测技术、超高速扫描摄像、频率上转换技术以及相调制技术等,高的动态范围和优良的时域线性使得TCSPS成为普遍应用的荧光测量技术。荧光成像中的共聚焦成像技术已经越来越普遍,与荧光寿命测量技术相结合,可以实现荧光寿命成像。   原子光谱进展   有色金属研究总院的郑永章研究员作“BCEIA2009原子吸收光谱仪展出概况”报告 郑永章研究员   2009BCEIA上,原子吸收光谱仪器的参展商有20多家,国内厂商为11家,参展商都有一种或多种型号的仪器展出,并且仪器型号有所更新。新产品和新技术主要有:北京瑞利分析仪器公司新推出的便携式WFX-910原子吸收光谱仪,该仪器以锂电池为动力,一只锂电池可持续工作6小时,总重量只有18Kg,是针对环境、食品等样品中As、Cd、Pd等有害元素分析而设计。获得BCEIA2009年度金奖的沈阳华光精密仪器公司的原子吸收分光光度计LAB600,具有紫外可见分光光度计的功能,并且火焰原子化器的燃烧器与电热氢化物原子化器形成一体,方便切换。上海光谱仪器公司开发出同时完成交、直流磁场校正背景技术,这项技术的应用对于提高背景校正的正确性、准确度和精密度,以及特定背景的形态研究都有重要意义。   矿冶研究总院符斌研究员作“便携式XRF光谱仪应用动态”报告 符斌研究员   能量色散XRF近年来非常活跃,在有害物质检测、矿物质快速检测、质量控制等方面都有广泛应用。目前生产手持式XRF分析仪的厂商主要有6家,江苏天瑞仪器公司、赛默飞世尔科技-尼通、美国伊诺斯、英国牛津、德国布鲁克、美国斯派克。   目前的手持式XRF分析仪基本上都是能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)。激发源主要为小型X射线管,耗能很低,通常仅为40kv/50~80µ A,因此可以用锂电池供电,一般用于便携式XRF的锂电池可连续工作4小时。目前主要的探测器有纯硅探测器Si-PIN、硅锂漂移探测器Si(Li)、硅漂移探测器(SDD),其中SDD的性能极为优异,能量分辨本领和高计数率性能是所有半导体探测器中最好的,是Si-PIN和Si(Li)的换代产品。   清华大学辛仁轩教授作“等离子体光谱仪发展动态”报告 辛仁轩教授   ICP光谱仪器的发展正处在相对稳定时期,但在样品分析的实用性方面也出现了许多改进,例如(1)仪器稳定性有明显提高 (2)覆盖的波长范围逐渐扩大 (3)近红外区和真空紫外区检出限有很大改进 (4)高频电源采用自激发器逐渐增加,全固态高频发生器逐渐普及,仪器结构更加紧凑 (5)双向观测,互相取长补短 (6)多谱线拟合扣除光谱干扰、数据自动判别、自动波长选择等软件性能扩大 (7)多种附件可选,扩大了应用范围。   本次BCEIA上,国产ICP光谱仪器批量涌现,并且技术有许多改进。如:北京科创海光仪器公司的SPS8000和WLY100-2,北京瑞利分析仪器公司的WLD-2C,北京纳克公司的Plazma-1000,江苏天瑞仪器公司的FWS-1000等。国产ICP光谱仪的分光系统普遍采用平面光栅、凹面光栅、中阶梯交叉色散光栅这三种类型。仪器在稳定性、局部恒温、高频电源性能方面都有所提高 部分仪器配用了全固体高频电源。   钢铁研究总院国家钢铁材料测试中心余兴研究员作“辉光放电光谱仪新进展”报告 余兴研究员   在本次BCEIA上,除了传统的三家辉光放电光谱仪(GD-OES)国外仪器厂商外,国内仪器厂商也首次推出了国产的GD-OES。如:北京纳克分析仪器有限公司推出了首台国产的GDL750型辉光放电光谱仪,该仪器采用先进的辉光放电直流恒流源技术,可进行长时间稳定的样品溅射。HORIBA Jobin Yvon公司开发了一种用于热处理工艺中对场频质量评估、快速分析的辉光放电光谱仪(GD-Profiler HTP)。   清华大学孙素琴教授作“分子光谱仪器进展及复杂体系的分子光谱分析”、国家钢铁材料测试中心陈吉文研究员作“激光原位统计分布分析技术”报告。 孙素琴教授 陈吉文研究员   本光谱年会吸引了众多仪器厂商的参与,不但设置了仪器展台,还分别做了技术报告。   厂商报告如下: 阿美特克公司的刘孟刚工程师:SPECTRO ARCOS ICP紫外区域分析及应用 美国利曼公司王飞工程师:Prodigy DC ARC直流电弧光谱仪---固体材料及高纯金属分析的最佳选择 HORIBA公司的吴明祥工程师:实行“全谱分析”的HORIBA Jobin Yvon ICP/OES最新进展 岛津公司的安国玉工程师:诱导光栅法测定纳米粒径 珀金埃尔默公司王国强工程师:红外显微化学图像的应用最新进展 岛津公司的李大为工程师:光谱仪器在太阳能产业中应用
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