旋度精量仪

细胞悬液浑浊度测量仪 浊度计产品介绍：测量范围：0.00 ~ 15.00 Mcf单位测量精度: ±3%测量时间: 1s3.00McF单位标准偏差：±0.1McF紧凑型设计，节约空间，适合小工作区间使用3节AA电池供电(DEN-1B)或外接电源适配器适用于外径18mm的样品管，也可选适配器D16, 用于外径16mm的样品管厂家校准，也支持用户校准光源发光二极管发光二极管波长 nm565 ± 15565 ± 15范围 McFarland units0.3 to 15.00 to 15.0McFarland 单位标准偏差 0.0 McF－± 0.10.5 McF± 0.1± 0.13.0 McF± 0.1± 0.16.0 McF± 0.2± 0.2≥ 7.5 McF± 0.2± 0.2精度± 3%±3%测量时间 sec11管径 外径, mm1818带D16适配器 mm1616样品容量 ml≥ 2≥ 2显示LED/0.1 McFLCD/0.01 McF电源12V12V或3xAA电池使用环境温度 °C4 to 404 to 40尺寸 w x d x h mm165 x 115 x 75165 x 115 x 75重量 KG0.90.9

便携式流速仪是一种专为水文监测、江河流量监测、农业灌溉、市政给排水、工业污水、水政水资源等行业流速流量测量的一种便携式测量仪表，它采用了特殊的超微功耗设计方案，全数字信号处理技术，使得仪表测量更加稳定可靠，测量精度高，可广泛用于水文、水利、农灌、给排水等需要经常移动测量而且现场又无电源的场合自记式旋浆流速流量仪价格功能介绍1、迷你型手持主机便于用户携带和测量观测 2、大屏幕液晶显示具有连续背景光功能 3、内置完整时钟，方便用户校准和查询时间 4、配有数据读取软件，实现数据存储、打印和输出功能 5、实时显示瞬时流速和平均流速 6、测量模式分自动测量和手动测量，满足不同场合的用途。自记式旋浆流速流量仪价格测量原理流速测量：流速仪在水力推动下，其内置信号装置产生转数信号。从而，可根据某个单位时段内流速仪产生的信号总数，由以下公式计算出流速：（m/s）式中： v—测流时段内平均流速（m/s）b—旋桨（或旋杯）水力螺距（m）a—流速仪常数（m/s）T—测流历时（s）R—T时段内流速仪转子的总转数对某个个体流速仪来说，b 和a为定值。因此，测流时，只要测出T和R值，即可计算出流速。流量测量：输入被测断面类型，并手工输入（或者通过辅助传感器测量）规则断面的水位、宽度计算断面面积，仪表更具Q=V*S测算流速Q值

优云谱旋光度测量仪仪器介绍：旋光仪是测定物质旋光度的仪器。通过旋光度的测定，可以分析确定物质的浓度，含量及纯度等，广泛地应用于医药、石油、食品、化工、香精、香料、制糖等行业及相关的高校和科研院所。 软件功能：审计追踪：完整版审计追踪和用户分级权限管理， 超级管理员可以修改所有人密码和用户名并可追溯，超级管理员可以修改所有操作员权限，用户帐号有禁用和启用两个功能，人员更替暂时不用删除账户，可以锁定，使用时可以解封，U盘导出PDF和Excel数据防篡改功能。比较完善的审计追踪，登录、退出、修改数据、时间、操作步骤、导出U盘等应有相关记录。用户管理：分级管理，超级管理员分配权限，管理员可以建立多个用户，每个使用者可以使用各自的用户名，登录时输入用户名和密码，用户帐号有禁用和启用两个功能最高权限可修改他人用户名和密码，并可追踪。数据检索功能：方便用户在大量数据库中快速找到想要的数据图谱功能：测试过程中可实时显示图谱，方便做分析内存：可扩展至64G软件升级：支持U盘自动升级，无需返厂优云谱旋光度测量仪器特点：1: 内置帕尔贴控温，提高精度和稳定性；2：有旋光度/比旋度/浓度/糖度及自定义模式；3：LED冷光源代替传统钠光灯和卤钨灯；4：符合21CFR Part 11审计追踪，药典及电子签名；5：支持网络打印，支持数据统计检索；6：多级权限管理，权限可自由配置；7：8寸触摸彩屏，人性化操作界面；8：系统自带自动校准系统。

PolyPen Aqua手持式溶液/悬液光谱测量仪是一款用于测量溶液/悬液的手持式便携光谱仪，广泛用于生物技术、湖沼生物学、生态学、分子生物学、化学和法医学等，可以在实验室或野外工作。内置氙气白炽灯，可测量溶液/悬液透射和吸收光谱。PolyPen Aqua PA210使用可充电锂电池供电，配有数据采集器和触控屏，不需要使用电脑即可独立进行测量。完整的光谱图及每个波长的光强读数都可以即时显示在触控屏上。PolyPen Aqua PA210还专门内置了测定反射率和透过率的功能。测量数据和光谱图都能够通过USB接口导出到电脑上。 应用领域：? 溶液/悬液的定性和定量分析? 自养和异养微生物（绿藻、蓝藻、酵母等）的生长监测? 细胞悬液的生长光谱? 色素组成分析? 蛋白分析PolyPen Aqua手持式溶液/悬液光谱测量仪技术特点：? 功能最全面的溶液/悬液高光谱测量仪? 可测量并计算生成透射率和吸收率谱图，同时测量样品的光密度，用于校准生物量? 手持式仪器，电池供电，无需外部电脑，便于野外测量。? 内置GPS，USB/蓝牙双通讯模式测量与计算参数：? 吸收和透射全光谱图? 光密度（OD）：600nm、680nm、720nm、750nm? 吸收率? 透射率? 用户自定义参数

一、产品介绍1、产品原理旋桨式流速仪的工作原理是：当水流作用到仪器的感应元件旋桨时，旋桨既产生回转运动，其回转率“n”与流速“V”之间存在着一定的函数关系V=f（n）。 2、产品用途JC-HS-2便携式水文流速流量仪，符合国家明渠测量标准，专为水文测量和农田灌溉工作者做流速流量测量研制的。可作为各类明渠流速、流量和泵站流量的测量计算。全套仪器由高灵敏度的LS1206B旋浆流速仪、长4ⅹ0.4m测杆和TYJ-2水文流速测算仪组成,置于尺寸47ⅹ37ⅹ12cm的铝合金仪器箱内。 二、产品参数1、流速范围：0.05～8m/s2、精度：＜1.5%3、显示：汉字液晶显示，4行32位，带有声光信号4、存储：可存储100个断面数据 三、产品特点1、耐腐性强、可靠性高2、自动测量、数字显示结果3、组装使用方便（有详细安装说明书；将配件进行简单连接即可安装好仪器，进行测量）4、单人可完成测量5、标配标准RS232通讯功能，可实现数据传输功能，测量过程中的所有数据保存和传输方便简单

全自动螺纹旋盖扭矩测量仪 化妆品瓶盖开启力试验机 扭矩仪全自动螺纹旋盖扭矩测量仪 化妆品瓶盖开启力试验机 扭矩仪是一种高精密的自动化测试设备，主要用于测量和评估螺纹瓶盖的旋紧和开启扭矩。这种设备在食品、饮料、医药、化妆品等行业中至关重要，因为它们确保了产品包装的密封性和安全性。以下是对全自动螺纹旋盖扭矩测量仪的详细介绍：全自动螺纹旋盖扭矩测量仪 化妆品瓶盖开启力试验机 扭矩仪主要功能扭矩测量：精确测量瓶盖旋紧和开启所需的扭矩，确保符合生产标准。自动旋紧与松开：设备能够自动旋紧和松开瓶盖，无需人工干预。数据记录：自动记录测试数据，便于后续分析和报告生成。多模式测试：支持多种测试模式，如峰值保持、自动判断等，适应不同测试需求。全自动螺纹旋盖扭矩测量仪 化妆品瓶盖开启力试验机 扭矩仪技术特点高精度传感器：采用高精度扭矩传感器，确保测量结果的准确性。自动化操作：全自动机械手操作，减少人为误差，提高测试效率。用户友好界面：配备智能触摸屏，简化操作流程，易于编程和控制。数据管理：具备数据存储、查询、打印等功能，方便数据管理和追溯。操作步骤设备校准：根据制造商的指导进行设备校准，确保测量精度。样品准备：将待测瓶盖安装到测试夹具上。参数设置：在触摸屏上设置测试参数，如扭矩范围、旋转速度等。启动测试：启动设备，自动完成旋紧和开启扭矩的测量。结果分析：查看并分析测试结果，判断瓶盖扭矩是否符合标准。应用领域食品和饮料行业：用于测试瓶装饮料、酱料等产品的瓶盖扭矩。医药行业：确保药品包装的密封性和安全性。化妆品行业：测试化妆品瓶盖的旋紧和开启扭矩。质量控制：在生产线上进行实时质量监控，确保产品质量。符合标准该设备通常符合多项国家和国际标准，如GB/T 17876、ASTM D2063等。

中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3DMapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。可兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确，可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。 WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据SEMI/ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm； （2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分参数测量速度：最快15s测量范围：100μm~2000μm 测量精度：0.5um 重复性（σ）：0.2um探头分辨率：23nm 扫描方式：Fullmap 面扫、米字、 自由多点测量参数：厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料：砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

小型圆度测量仪，具备出色的性价比，可全面进行圆度评价。●易于操作。控制面板上的按键大且布局直观，便于操作。●人性化操作。配有大型号液晶面板显示器，测量结果与所记录数据图表易于查看。本设备机体小巧，内置热敏打印机，适用于狭小的检测空间。型号RA-10旋转工作台旋辑精度(JISB7451-1997)径向(0.04+6H/10000)umH:为测量高度(mm)轴向（0.04+6X/10000）umX:到旋转工作台轴的距离（mm）最大测量直径0100mm台面最大承重10kg垂直移动垂直移动

手动晶圆厚度测量仪 MX203系列产品简介：MX203系列手动晶圆厚度测量仪，用于测量直径为2寸、3寸、4寸、5寸、6寸、8寸、12寸晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。测量原理：MX203系列采用电容测量原理，晶圆上下各有若干对平行的电容测厚传感器，通过测量电容器电容变化计算晶圆厚度，及晶圆上下表面距离电容器的距离，进而得到晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。主要技术参数1）晶圆直径：50mm, 75mm, 100mm, 150mm, 200mm，300mm, 450mm2）厚度精度：±0.5 µ m3）分辨率：50 nm4）厚度范围：100-1000 µ m5）自动晶圆：手动应用： SIC, Si, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的高分辨率厚度，TTV，弯曲度和翘曲度，平整度，以及应力的测量。

半自动晶圆厚度测量仪 MX204系列产品简介：MX204系列半自动晶圆厚度测量仪，用于测量直径为2寸、3寸、4寸、5寸、6寸、8寸、12寸晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。测量原理：MX204系列采用电容测量原理，晶圆上下各有若干对平行的电容测厚传感器，通过测量电容器电容变化计算晶圆厚度，及晶圆上下表面距离电容器的距离，进而得到晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。主要技术参数1）晶圆直径：100mm, 125mm, 150mm, 200mm2）厚度精度：±0.5 µ m ~ ±1 µ m±1 µ m3）分辨率：75 nm ~ 1.0µ m4）厚度范围：100-1000 µ m5）自动晶圆：半自动应用： SIC, Si, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的高分辨率厚度，TTV，弯曲度和翘曲度，平整度，以及应力的测量。

仪器简介：产地：美国YSI公司。技术参数：技术参数及订购指南请咨询：。主要特点：准确、坚固、耐用、防水 人体工学设计： 手提式操作，亦可肩挂或腰悬；内置探头存储室，方便携带 系统完整：已预接电导和温度探头，备有多种电缆长度可供选择 四纯镍电极探头：准确度高、维护量小，无需镀铂黑 无需校准：仪器出厂前已经预校妥当，开机即可读数 自动量程选择：确保任何高低读数均一致准确，省却了往返调拨之苦 自动温度补偿：可选择显示电导系数,参考温度和温度补偿系数可按需调整 特大液晶显示屏：另有背景加光功能，即使在昏暗的环境下仍能清晰读数 应力舒缓电缆接头：减少接线处的物料疲劳，有效延长电缆的使用寿命 坚固防水外壳：适用于野外的严峻环境，仪器即使掉入水中亦可自动浮起；探头外置不锈钢套，坚固耐用更易于沉入水中 全电池操作：工作寿命长达100小时（碱性电池）；另有低电量显示 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪 不带内存 备有3米、7.5米和15米三种电缆长度可供选择 YSI 30M型 盐度、电导、温度测量仪 带内存，可储存50组数据 使用非散失性存储器，读数不会因断电而丢失 备有3米、7.5米、15米和30米四种电缆长度可供选择

旋光仪，用于测量旋光性物质旋光度，通过对测量样品旋光度，帮助分析确定物质的浓度、含量和纯度等物性特征，如：糖溶液、抗坏血酸、谷氨酸钠等，广泛应用于制药、药检、制糖、食品、香料、味精、各类调味品、饲料以化工石油等行业，用于生产、科研、检测、教学等各部门化验化析、过程质量控制、教学实验提供检测方案。ATAGO（爱拓）全自动旋光仪 AP-300（制药行业） C套装（带温控），操作简易，配备恒温水浴夹套和ATAGO（爱拓）循环恒温水浴箱 60-C5，对被测样品进行恒温处理，提高测量准确性，测量快速，可设置重复测量次数并显示平均值，存储30组测量记录。ATAGO（爱拓）全自动旋光仪 AP-300（制药行业） D套装（不带温控），操作简易，测量快速，可设置重复测量次数并显示平均值，存储30组测量记录，配备ATAGO（爱拓）专用打印机，测量结果直接打印。ATAGO（爱拓）全自动旋光仪 AP-300，可测量：旋光度，国际标准糖度，比旋光度，浓度，纯度ATAGO（爱拓）全自动旋光仪 AP-300，符合 FDA 21 CFR Part 11 & ICUMSA 标准。ATAGO爱拓源自日本 ，专注折光仪超过80年！专业生产折光率分析仪、糖度分析仪、盐度分析仪、阿贝折光仪、BRIX分析仪、麦芽浓度分析仪、旋光仪、尿比重计、葡萄酒酸度检测仪、切削油测量仪、冷冻液冰点测量、碱液浓度传感器、DMF浓度传感器、双氧水浓度传感器等产品。更多产品详情，敬请来电咨询。

CHY-02测厚仪_机械接触式薄膜厚度测量仪CHY-02测厚仪_机械接触式薄膜厚度测量仪采用机械接触式测量原理，严格执行机械接触式测厚相关标准要求，专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。本品采用高精度的位移传感器，通过科学的结构设计及高精测控控制技术，实现了接触式厚度测试的稳定性、重复性。 CHY-02测厚仪_机械接触式薄膜厚度测量仪应用领域基础应用薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料（如尿不湿、卫生巾片材）等扩展应用量程扩展至6-12mm以及曲面测量头，满足特殊场合的厚度测试（需订制）CHY-02测厚仪_机械接触式薄膜厚度测量仪试验原理本品不同于超声波，电涡流等原理，采用机械接触式厚度测量方式进行厚度的高精度测量，完全符合标准要求 将厚度测量头复位后置零(测厚头与测厚仪测试台接触归零)，启动试验，测厚头达到最高位，将平整试样置于测厚仪测试平台上，测量头下落后接触试样，对试样施压标准规定的压力后通过位移传感器记录材料厚度。CHY-02测厚仪_机械接触式薄膜厚度测量仪产品特征7寸大触控屏，操作简便，人机交互友好；采用国际品牌高精度位移传感器，精密机床二次加工，高成本以保证高精度；一体式悬臂设计，减少传感器的固定部件， 0.1um分辨率，进一步获得超高测试精度；基准零点反复多次同点测试，零点飘动小，基准零点稳定；标准量块单点重复测试，数据稳定，可靠度高；可进行测试面积，测量压力，测试速度以及自动进行的软硬件订制；具有手动、自动测试功能；开机密码登陆，防止无关人员任意操作仪器造成损失或参数变更；支持四级用户权限管理，测试数据历史记录可查询；最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断；专业计GMP计算机软件可选； CHY-02测厚仪_机械接触式薄膜厚度测量仪技术参数指标参数测试范围0～2 mm（标准量程）（0-6mm，0-12mm可选，其它行程可订制）分辨率0.1 μm （标准量程）测试压力17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）（选其一，非标可订制）接触面积50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）（选其一，非标可订制）电源AC 220V 50Hz外形尺寸350mm(L)× 340mm(W)× 470mm(H)净重35kg执行标准该仪器参考多项国家、国际标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817、GB/T 24218.2注：不同标准需要订制不同夹具或试验程序开展相关试验。 配置标准配置：主机(含微型打印机、触摸屏)、标准量块(一组)选购件：计算机、非标订制、专业软件、通信电缆

技术参数：YSI 30 技术指标 参　数 测量范围 分辨率 准确度* 电导率 0至499.9微西门子/厘米 0.1微西门子/厘米 量程之±0.5％*+ 0至4999微西门子/厘米 1.0微西门子/厘米 量程之±0.5％* 0至49.99毫西门子/厘米 0.01毫西门子/厘米 量程之±0.5％* 0-200.0毫西门子/厘米 0.1毫西门子/厘米 量程之±0.5％* 盐　度 0至80ppt 0.1ppt ±2％或±0.1ppt* 温　度 -5至+95℃ 0.1℃ ±0.1℃（±1 lsd）* 注：* 仪器规格包括仪表及探头的总误差 + 若电缆长度超过15米，样本的比电导度需大于0.1毫西门子/厘米 仪器规格 导管常数 5.0/厘米±4％ 参考温度 15℃至25℃（可调节） 温度补偿系数 0至4％（可调节） 适用水体 淡水、海水、污水或绝大部分其它溶液 工作温度 -5至+95℃ 防水性能 超过IP65标准 电　　源 9伏 直流 （6节5号碱性电池） 尺　　寸 24.1厘米（长）×8.9厘米（宽）×5.6厘米（厚） 重　　量 0.77公斤 订购指南 仪 器 30-10 30型 电导、盐度、温度测量仪，3米电缆 30-25 30型 电导、盐度、温度测量仪，7.5米电缆 30-50 30型 电导、盐度、温度测量仪，15米电缆 30M-10 30M型 电导、盐度、温度测量仪，3米电缆（带内存） 30M-25 30M型 电导、盐度、温度测量仪，7.5米电缆（带内存） 30M-50 30M型 电导、盐度、温度测量仪，15米电缆（带内存） 30M-100 30M型 电导、盐度、温度测量仪，15米电缆（带内存） 配 件 5050 携带箱，硬体 5520 塑料便携箱（能容纳7.5米电缆） 电导标准液 3167-1 电导标准液，1毫西门子/厘米（475毫升） 3168-1 电导标准液，10毫西门子/厘米（475毫升） 3168-1 电导标准液，50毫西门子/厘米（475毫升） 主要特点：YSI 30型/30M型　盐度、电导、温度测量仪 准确、坚固、耐用、防水 ● 人体工学设计：手提式操作，亦可肩挂或腰悬；内置探头存储室，方便携带 ● 系统完整：已预接电导和温度探头，备有多种电缆长度可供选择 ● 四纯镍电极探头:准确度高、维护量小,无需镀铂黑 ● 无需校准:仪器出厂前已经预校妥当,开机即可读数 ● 自动量程选择：确保任何高低读数均一致准确，省却了往返调拨之苦 ● 自动温度补偿：可选择显示电导系数，参考温度和温度补偿系数可按需调整 ● 特大液晶显示屏：另有背景加光功能，即使在昏暗的环境下仍能清晰读数 ● 应力舒缓电缆接头：减少接线处的物料疲劳，有效延长电缆的使用寿命 ● 坚固防水外壳：适用于野外的严峻环境，仪器即使掉入水中亦可自动浮起；探头外置不锈钢套，坚固耐用更易于沉入水中 ● 全电池操作：工作寿命长达100小时（碱性电池）；另有低电量显示 YSI 30型　盐度、电导、温度测量仪 ● 不带内存 ● 备有3.5米、7.5米和15米三种电缆长度可供选择 YSI 30M型　盐度、电导、温度测量仪 ● 带内存，可储存50组数据 ● 使用非散失性存储器，读数不会因断电而丢失 ● 备有3.5米、7.5米、15米和30米四种电缆长度可供选择

显微镜双目平行差测量仪具体按GB/T19863-2005（体视显微镜试验方法）中4.5操作，注：完成GB/T19863-2005操作需按照该标准另配十字分化板，10倍十字分化目镜等1.用途及主要特点显微镜双目平行差测量仪主要用于检测双目显微镜左右光学系统出射光束方向偏差。2．主要技术指标1左右光轴不平行，当左右光轴夹角微调鼓轮处于中间零位时，夹角为12°2左分划板：十字分划板3右分划板：十字刻度分划板，格值3′4左右光轴夹角微调鼓轮调整范围：12°±4°鼓轮格值：1′5分划倾斜测微鼓轮测量范围：±4°鼓轮格值：1′6物镜焦距：f′=120mm7物镜有效口径：d=φ30mm8目镜焦距：f′=20mm

MX 102-6 102-8 高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 100-150nm 及150–200mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪系列。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX102-6/8 非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：100mm, 125mm, 150mm, 200mm测量准确度：±0.1 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：4次软件：MXNT

MX 1012 高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 200–300mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX1012 非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：200mm, 300mm测量准确度：±0.1 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：最多8次软件：MXNT

MX 1018高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 300–450mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX1018非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：200mm, 450mm测量准确度：±0.3 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：最多8次软件：MXNT

LS300-A型便携式流速流量仪（简称便携式流速仪）是专门为水文站、厂矿、环保监测站、农田排灌、水文地质调查等部门在野外进行明渠流速流量测量而研制的。LS300-A型智能流量流速仪可配套新型流速旋浆传感器, 该传感器是采用的技术于2004年底研制成功，旋浆螺旋角、螺距、制作工艺和材料等都进行了重新设计，旋浆直径分别为Φ15mm和Φ12mm(旋浆反光面采用电镀工艺，耐磨损，信号强)，起动流速≤1cm／s，起动流速、测速范围、线性度、同心度、率定系数和均方差等指标均较以往传感器有很大的改进和提高。 流速测量范围：1～400cm／s。 采样时间：1～99秒任选 该仪器结构简易、轻巧方便、耗电省、功能齐全、自动化程度高、稳定可靠，符合明渠流量测量标准，配置80度高温旋桨，是国内目前新型的便携式流速测量仪器。一．仪器的技术要求： KN测速公式：V ＝ ——————— ＋ C(m/s)(自动计算) T测速范围：0.01-4.00 m/s (可到5.00m/s)测流误差：≤1.5%显示屏：4×16位液晶显示测量方式：测杆定位测量温度范围：－20℃- 50℃电源：DC8.4V锂离子充电电池,充满后可连续工作40小时以上.二．测量原理：本仪器依据明渠测流的流速面积法原理设计，测出流速即可得流量 Q＝VS（S为断面面积）1. 流速测定：测流速时，由水力推动旋桨式转子流速仪旋转，内置信号装置产生转数信号，由下面公式计算流速： KN V＝———————— ＋ C（m/s） T式中：V：测流时段内平均流速（m/s） K：桨叶水力螺距 C：流速仪常数 T：测流历时（单位为S）N：T时段内信号数 本仪器使用时，K 、C均为常数，测流时，只要测出T和N，即可算出流速。2. 流量的计算：流量测定根据明渠流量测量的流速面积法，先测出流速再乘以断面面积即得流量。三．仪器的维护：测算仪的维护，短期不用时，必须拨掉插头（断开电源）保存。长期不用时，三个月须充电一次。每次使用后，用清水冲洗流速仪、测杆，并用毛巾擦干，存放。四．仪器的全套设备：LS300-A速测算仪 一个LS300-A仪旋桨 一架信号联线 一付*通讯电缆（选配） 一付充电器 一只附件：LS300-A型便携式流速测算仪使用说明书 一本

无锡市华科仪器仪表有限公司HD-4型水分活度测量仪HD-4型特点HD系列水分活度测定仪产品特点：产品符合GB/T17626、GB/T6587、GB2423等国家标准采用防水键盘，杜绝了触摸键沾染上油渍、灰尘等污染时会产生仪器不稳定的问题智能化软件，自动补偿环境参数仪器经过严格标定进口美国霍尼韦尔传感器测量不同样品时可以连续测量被测物无限制，固体、液体，块状物、粉末均可测量采用自密封结构，避免旋转密封导致的侧翻问题液晶汉字显示，使操作过程更加直观中文菜单，操作方便打印机输出，利于保存数据，保证测量结果不会丢失精美手提式铝合金仪表箱提供三个月包换期，主机保修5年HD-4型水分活度测量仪主要技术指标工作环境：温度 0℃～50℃湿度: 0～95%RH输出方式：针式微型打印机显示方式：大屏幕液晶显示 128×64 DOTS测量范围: 温度 0～50℃活度 0～0.980（无结露）测量精度：温度±0.5℃ 活度 ±0.015(@23℃±5℃)活度重复性：≤0.008温度系数: ≤0.0002/℃测量点数： 1～4点轮显速度：3秒/点系统平均无故障时间：18000小时打印功能：① 测量结束打印 ② 实时打印供电电压：220VAC±10%功 耗：小于15W外形尺寸：320mm×120mm×340mm包 装：手提式铝合金包装箱HD-4型水分活度仪使用方法：1.安装 按图安装好仪器（插头是一一对应的无法接错） 将被测物弄碎放入塑料器皿内，放入传感器中，盖好传感器。 由于数据已智能化处理，所以只需按下确认键，仪器自动进行测量，结束后显示并打印测量结果(由于采用了防水键盘即使有水、油渍仪器也可稳定、可靠的工作）由于使用了新型高稳定传感器，且出厂前已经利用校正设备进行校正，故新仪器可直接使用无需校正。

中图仪器SuperViewW白光干涉轮廓形貌粗糙度测量仪以白光干涉技术为原理，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。SuperViewW白光干涉轮廓形貌粗糙度测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量（见附录一）；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能； 7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperViewW白光干涉轮廓形貌粗糙度测量仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。应用领域案例

HD-5型水分活度测量仪HD-5型特点 仪器通过认证机构检测，获中国合格评定国家认可委员会（CNAS）、CMA计量认证（中国计量认证）、国际互认联合协定（ilac-MRA）的认可。中国认可，国际互认。采用防水键盘，杜绝了触摸键沾染上油渍、灰尘等污染时会产生仪器不稳定的问题新型进口传感器的应用，保证了全量程都可稳定、可靠仪器经过校正设备标定(基准经过计量局检测），确保仪器测量准确性。多点联合校正方式，提高了仪器全量程的测量精度专用软件可显示、保存测量的过程数据、测量曲线、样品名称、测量结果、测量时间等等数据，也可对仪器进行参数设置、读取等操作。专用软件使操作变得更为方便，数据积累和分析也更容易。可记录5000组测量数据，并可传输到计算机保存。配置RS232数据接口、USB接口及微型打印机。合理的中文界面，操作简便被测物无限制，固体、液体，块状物、粉末均可测量针式打印机记录，可长期保存数据。测量时间5-40分钟测量和校正结束后有蜂鸣提示主机保修6年 HD-5型水分活度测量仪主要技术指标 1． 工作环境：温度 -10℃～50℃ 湿度 0～95%RH2． 显示方式：大屏幕液晶显示 128×64 DOTS3．测量范围: 温度 -10～50℃ 水分活度 0～1.000aw4． 测量精度：温度 ±0.3℃ 水分活度 ±0.012aw(@23℃±5℃) 5． 活度重复性：±0.005aw6． 测量时间：①定时：5～40分钟 ②自动测量7． 分辨率： 水分活度：0.001aw 温度：0.1℃8．数据处理：①专用软件可连接电脑进行操作，适合Windows操作系统 ②计算机控制测量可以显示测量数据、曲线，并保存数据 ③计算机控制测量自动根据设定品名保存结果数据9． 可记录5000组测量数据10. 校正方式：多点联合校正（自动）、单点校正（自动）11. 测量点数：1点12． 接口： RS232接口或USB接口13． 配置：微型打印机 14． 打印功能：①测量结束打印 ②实时打印 15． 供电电压：100～230VAC 50Hz/60Hz 16. 功耗：小于10W 17. 外观尺寸：280*110*300 水分活度仪使用方法：1.安装 按图安装好仪器（插头是一一对应的无法接错）2.直接用仪器测量将被测物弄碎放入塑料器皿内，放入传感器中，盖好传感器。 由于数据已智能化处理，所以只需按下确认键，仪器自动进行测量，结束后显示并打印测量结果(由于采用了防水键盘即使有水、油渍仪器也可稳定、可靠的工作）由于使用了新型高稳定传感器，且出厂前已经利用校正设备进行校正，故新仪器可直接使用无需校正。 3.利用计算机进行测量 将数据线插入计算机USB口，打开测量软件，点击测量按钮，仪器自动进行测量，显示界面上将显示测量的过程数据、测量曲线、样品名称、测量结果、环境参数、测量时间等等数据，测量结束后，将自动将上面的数据保存在Excel文件中

一、产品简介　　流速流量测算仪(简称便携式流速仪)是一种在水文测验中进行流速测量的通用型仪器，用于江河、湖泊、水库、水渠等过水断面中预定测点的时段平均流速的测量。　　该流速仪符合GB/T 11826-2019(转子式流速仪)等相关国家标准。　　该流速仪广泛适用于水文测验、水利调查、农田灌溉、径流实验等，亦可适用于水电、环保、矿山、交通、地质、科研院所、市政等行业进行相关流速或流量的监测。　　便携式流速仪主要由LS1206B型旋桨式流速传感器、流速测算仪、0.4m×4Ф16测杆组成。全套仪器置于高级铝合金密码箱内。接通信号线，即可进行各明渠中流速的测量，并自动显示流速。　　该仪器结构简易、轻巧方便、耗电省、功能齐全、自动化程度高、稳定可靠，符合国家明渠流量测量标准，配置60度高温旋桨，是国内目前新型的便携式流速测量仪器。　　二、技术参数：　　测速公式：V=KV/T+C(m/s)(自动计算)　　旋桨回转直径：Ф70mm　　旋桨水力螺距b：120mm(理论值)　　起转速度V0:0.05m/s　　测速范围：0.06-8.00 m/s　　测流误差：≤1.5%　　输出信号：磁激式开关接点通断信号　　信号数/转子转数：2/1(每转2个信号)　　显示屏：4×16位液晶显示　　测量方式：测杆定位测量(亦可缆绳悬挂定位测量)　　温度范围：-25℃-55℃，湿度≤90%RH　　电源：DC8.4V(充电电池),充满后可连续工作40小时以上　　三、测量原理：　　本仪器依据明渠测流的流速面积法原理设计，测出流速即可得流量Q=VS(S为断面面积)　　1.流速测定：　　测流速时，由水力推动旋桨式转子流速仪旋转，内置信号装置产生转数信号，由下面公式计算流速：V=KN/T+C(m/s)(自动计算)　　V：测流时段内平均流速(m/s)　　K：桨叶水力螺距　　C：流速仪常数　　T：测流历时(单位为S)　　N：T时段内信号数　　本仪器使用时，K、C均为常数，测流时，只要测出T和N，即可算出流速。　　2.流量的计算：　　流量测定根据明渠流量测量的流速面积法，先测出流速再乘以断面面积即得流量。

一、产品简介　　流速流量测算仪(简称便携式流速仪)是一种在水文测验中进行流速测量的通用型仪器，用于江河、湖泊、水库、水渠等过水断面中预定测点的时段平均流速的测量。　　该流速仪符合GB/T 11826-2019(转子式流速仪)等相关国家标准。　　该流速仪广泛适用于水文测验、水利调查、农田灌溉、径流实验等，亦可适用于水电、环保、矿山、交通、地质、科研院所、市政等行业进行相关流速或流量的监测。　　便携式流速仪主要由LS1206B型旋桨式流速传感器、流速测算仪、0.4m×4Ф16测杆组成。全套仪器置于高级铝合金密码箱内。接通信号线，即可进行各明渠中流速的测量，并自动显示流速。　　该仪器结构简易、轻巧方便、耗电省、功能齐全、自动化程度高、稳定可靠，符合国家明渠流量测量标准，配置60度高温旋桨，是国内目前新型的便携式流速测量仪器。　　二、技术参数：　　测速公式：V=KV/T+C(m/s)(自动计算)　　旋桨回转直径：Ф70mm　　旋桨水力螺距b：120mm(理论值)　　起转速度V0:0.05m/s　　测速范围：0.06-8.00 m/s　　测流误差：≤1.5%　　输出信号：磁激式开关接点通断信号　　信号数/转子转数：2/1(每转2个信号)　　显示屏：4×16位液晶显示　　测量方式：测杆定位测量(亦可缆绳悬挂定位测量)　　温度范围：-25℃-55℃，湿度≤90%RH　　电源：DC8.4V(充电电池),充满后可连续工作40小时以上　　三、测量原理：　　本仪器依据明渠测流的流速面积法原理设计，测出流速即可得流量Q=VS(S为断面面积)　　1.流速测定：　　测流速时，由水力推动旋桨式转子流速仪旋转，内置信号装置产生转数信号，由下面公式计算流速：V=KN/T+C(m/s)(自动计算)　　V：测流时段内平均流速(m/s)　　K：桨叶水力螺距　　C：流速仪常数　　T：测流历时(单位为S)　　N：T时段内信号数　　本仪器使用时，K、C均为常数，测流时，只要测出T和N，即可算出流速。　　2.流量的计算：　　流量测定根据明渠流量测量的流速面积法，先测出流速再乘以断面面积即得流量。

产品介绍：　　LS300-B型便携式流速流量仪（简称便携式流速仪）是专门为水文站、厂矿、环保监测站、农田排灌、水文地质调查等部门在野外进行明渠流速流量测量而研制的。　　LS300-B型便携式流速流量仪可搭配流速传感器使用，该传感器旋浆螺旋角、螺距、制作工艺和材料等分别进行了重新设计。测量明渠流速流量等参数。　　设备清单：　　①流速传感器、②信号连接器、③流速测算仪、④充电头、⑤数据线　　设备参数：流速测算仪名称参数电池6000mAh充电器5V 2.5A数据接口Type-C屏幕尺寸2.8寸TFT数据存储6MB MSC工作温度0℃-50℃流速传感器名称参数起转速度0.03m/s公式范围0.01—4.00m/s（可到5.00m/s）供电电压3.3V测算误差≤1.5%测量深度410mm　　测量原理：　　流速测量：流速仪在水力推动下，其内置信号装置产生转数信号。从而，可根据某个单位时段内流速仪产生的信号总数，由以下公式计算出流速：v=a+b*R/T（m/s）（自动计算）　　v一测流时段内平均流速（m/s）　　b一旋桨（或旋杯）水力螺距（m）　　a一流速仪常数（m/s）　　T一测流历时（s）　　R—T时段内流速仪转子的总转数　　对某个个体流速仪来说，b和a为定值。因此，测流时,只要测出T和R值，即可计算出流速。　　流量测量：输入被测断面类型，并手工输入（或者通过辅助传感器测量）规则断面的水位、宽度计算断面面积，仪表更具Q=V*S测算流速Q值

中图仪器高精度薄膜厚度台阶测量仪NS200集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，具备超高的测量精度和测量重复性。它主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。应用场景适应性强，对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位。中图仪器高精度薄膜厚度台阶测量仪NS200是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，它对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。典型应用产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。 2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。中图仪器高精度薄膜厚度台阶测量仪NS200采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，CP200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。应用领域可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。 （3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

旋光标准石英管,旋光仪检定标准装置、旋光糖度仪检定标准装置(旋光标准石英管)标准旋光管 标准旋光石英管主要技术指标（一）旋光标准石英管的技术规格符合国际法制计量组织的建议规定1.外形尺寸:120mm ×Φ30mm2.管长:120mm3.两支承环之间的距离:74mm 4.通光口径:10mm5.旋光片:石英晶体6.支撑管:黄铜7.规格(名义值)a.±15°Z,±50°Z ,±100°Z 六种糖度规格b.相对于钠光波长λ＝589.4400nm有±5°,±17°,±35°,±71.5°八种旋光度规格（二）XJT型机械斩波低透过率模拟器主要参数：（1）只限于与符合OIML 国际建议的标准旋光管配套使用（2）低透过率模拟值1%、10%（3）10%透过率模拟值相对偏差优于±10%；1%透过率模拟值相对偏差优于±20%。（4）供电电压：220V AC（5）高速电机转速大于5000r/min （三）XGT型光谱中性衰减低透过率模拟器 主要参数：在仪器测定波长名义值（589nm、880nm、882nm）上下10nm范围内，对于衰减比为10%、1%，其衰减相对变化不超过±20%。透过率光谱中性衰减模拟器的内应力对旋光度影响不超过仪器的小分度示值。主要用途及特点:用于校准旋光仪、旋光糖度仪的校准器具。具有性能稳定，受环境影响小、使用方便等特点。上海标卓科学仪器有限公司是仪器仪表行业的新锐企业，检测仪器设备的生产、销售、维修、计量管理于一体的综合型公司。公司生产整套完整的精密测量仪器及相关解决方案，并代理、经销国内外几百家的检测仪器和机械设备。主要涉及：机械设备检测仪器、长度类、力学类、电学类、试验类、光学类、精密量仪类、无损测试、理化分析、教学仪器、专用量仪及环境试验设备仪器等等系列，销售产品达成千上万多种，为企业质量管理及企业认证提供完善硬件设备的服务。

一晶圆接触角测量仪概述（Summary）接触角（Contact angle）是指在气、液、固三相交点处所作的气-液界面的切线，此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ，接触角测量是现今表面性能检测的主要方法。PZ-200SD研究型接触角测量仪是采用光学成像的原理，设备采用图像轮廓分析方式测量样品表面接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等性能，设备采用全自动进液装置，性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求，目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。 二晶圆接触角测量仪（Application）接触角测量仪广泛应用于各个行业领域，在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学化工、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、Y疗生物等领域，接触角测量已经成为了一项评估表面性能的重要仪器。（部分测试功能需要选购专门附件完成）1. 液体在固体表面的铺展、渗透、吸收等润湿行为，座滴法测量静态接触角；2. 材料在固体表面的前进角、后退角、接触角滞后、滚动角、动态接触角测量；3. 吸收材料的连续实时研究及过程记录，接触角随时间变化曲线分析；4. 各种特殊材料的接触角测量，如粉末、弯曲曲面、超疏水/超亲水样品；5. 附着滴法测试材料浸没在液体中的接触角测试；6. 悬滴法测量各种液体表界面张力及其极性、色散分量；7. 计算固体表面自由能（Surface free energy），及其极性色散分量分析；8. 分析液体在固体表面的粘附功（Adhersion），评估固体表面均匀性、清洁度等。技术规格（Specifications）（一）晶圆接触角测量仪触角测量仪主机：（1）主机使用高强度航空铝合金结构搭配模块化设计理念，集成芯片电路控制，保证仪器以状态运行； （2）成像部分使用高性能工业机芯及无失真远心镜头确保的成像效果。（3）工业级可调LED单波长冷光源系统，成像更清晰（4）自动位移平台，实现Y、Z自动定位测量，定点地位更准确，测量效率更高技术规格：主机外形尺寸：1200mm（长）*600mm(宽)* 670mm(高) 主机净重：30kg工作台面尺寸：400mm*400m进样器移动：自动上下60mm（自动） 左右30mm工业镜头移动：前后30mm（微调3mm）工业镜头：0.7X *-4.5X高清远心连续变倍变焦显微镜CCD：S高速工业级芯片；镜头角度可调试：仰视、平视、俯视多视角观察光源：LED可调节蓝色基调工业级冷光源；使用寿命达贰万伍仟小时以上电源及功率：220V / 60HZ

一、仪器名称：晶圆表面颗粒度测量仪二、品牌型号：荷兰Fastmicro公司FM-PS-PRS-V01型三、产品简介荷兰Fastmicro公司的晶圆表面颗粒度测量仪采用专利的米氏散射原理可直接检测晶圆表面的颗粒污染程度，测量速度快，操作简单，可测量大于500nm的颗粒并进行分析统计。主要应用于半导体行业（晶圆裸片颗粒度检测，掩膜版表面颗粒度检测，CMP及清洗后晶圆表面颗粒度检测）与显示行业（玻璃面板）。由于其模块化和可扩展的设计，该测量仪具有无限的扫描区域。该系统可以根据需要测试产品的表面形状和位置进行定制。四、原理简介 采用专利技术米氏散射原理检测表面微观颗粒，光源发出的平行光照射待测表面，遇到表面的突起颗粒发生米氏散射，摄像头传感器以一定角度接收到散射信号，根据散射信号可获取关于待测表面颗粒尺寸信息。五、主要参数测量速度任何尺寸产品表面秒级成像；整个流程1分钟内完成（取样+测试）；数据输出颗粒数量；颗粒位置；颗粒尺寸；带有粒子标记的图像；可导出KLARF和Excel文件；数据通过USB或以太网输出；操作操作简单；可升级全自动设备；测量范围最小可检测0.5μm大小PSL颗粒；可重复性更换采样器后, 90%的颗粒被统计，PSL颗粒大于500nm；尺寸和定位精度PSL颗粒的尺寸精度＜20%；位置精度80μm，位置重复性30μm；无接触、无污染与检测区域不接触；待测产品粗糙度要求粗糙度Ra＜50nm；六、应用案例