旋转颗粒仪

[font=Calibri][font=宋体]仪器信息网于[/font]5[/font][font=Calibri][size=10.5pt][font=宋体]月[/font]26-29[font=宋体]日组织召开[/font][b] [size=18px][b]第九届光谱网络会议[/b][/size][/b][/size][/font][font=Calibri][size=10.5pt][font=宋体]，特邀嘉宾[url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/News/expert?id=6560]何彦(清华大学)[/url][/font][font=宋体]，带来报告[b]《[url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/News/expert?id=6560]单颗粒旋转暗场成像技术[/url]》[/b]；[/font][/size][/font][font=宋体]欢迎感兴趣的你，报名参会！[/font][b][font='Times New Roman'][color=#0563c1][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/SCIEX522/]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCS2020/[/url][/color][/font][/b]

首先要做到典型抽样。测量提取样品时，要确保使用的样品是有代表性的。如果是从瓶子或容器中提取的样品，必须保证样品时充分混匀的，如果样品时粉状，大颗粒易浮于容器表面，小颗粒易沉于底部。大多数样品都是由大小不均的颗粒组成的，所以取样的时候要避免取样误差。在容器中取样，若不混匀，结果偏差就比较大。如果那么从容器表面取样，测量的就大多是大颗粒，测量结果偏大，如果是从容器下部取样结果就偏小，从中间取样，则介于中间，所以一定要保证取样前样品要混合均匀，这样才能保证样品具有代表性。注意：混匀的时候千万不要剧烈摇晃容器，这样反而会加速大小粒子分离，要用两只手慢慢转动，不停改变方向，为了保证样品取样的代表性，也可以借助工具进行取样，采用旋转分样器等。

颗粒包装机的保养 1、颗粒包装机需要定期检查机件，每月进行一次，检查蜗轮，蜗杆，润滑块上的螺栓，轴承等活动部分是否转动灵活和磨损情况，发现缺陷应及时修复，不得勉强使用。 　　2、机器应放在干燥清洁的室内使用，不得在大气中含有酸类以及其他对机体有腐蚀性的气体流通的场所使用。 　　3、颗粒包装机使用完毕后或停止时，应取出旋转滚筒进行清洗和刷清斗内剩余粉子，然后装妥，为下次使用做好准备工作。 　　4、当滚筒在工作中发生前后窜动，请调校前轴承卒上的M10螺钉到适当位置。若齿轮轴发生窜动，请调校轴承架后面M10螺钉到适当位置，调整间隙以轴承不发生响声，手转皮带轮，松紧适当为宜，过紧或过松均能使本机发生损坏的可能。 　　5、如停用时间较长，必须将机器全身揩擦清洁，机件的光面涂上防锈油，用布蓬罩好。

HPLC前处理-过滤颗粒物来源目前，HPLC已成为不可或缺的分析仪器。为了提高数据的可靠性和延长HPLC寿命，过滤是相当必要的。下面围绕液相前处理过滤时颗粒物主要的三种来源进行说明。 一、过滤的必要性 任何颗粒物进入HPLC系统后都会在柱子入口端被筛板挡住，最后的结果是将柱子堵塞，表现出的特征是系统压力增加并使色谱峰变形。因此，要采取各种预防措施，包括操作步骤和仪器自身的各种过滤设计，尽量减少颗粒物进入HPLC系统中，从而延长仪器和色谱柱的使用寿命，并提高数据的可靠性。 二、颗粒物的主要来源 颗粒物的主要来源有三个途径：流动相、被测样品和仪器系统部件的磨损物。 1、流动相 如果流动相均由高效液相色谱级溶剂组成，流动相没有必要过滤。这是因为高效液相色谱级的有机溶剂，例如乙腈、甲醇等，在制造的工艺过程中都已经过了0.2μm微孔滤膜过滤。同样的，无论你是买的HPLC级的水还是在实验室使用超纯水净化系统制备的水，最后一步也是通过0.2μm微孔滤膜。 2、被测样品 液相系统中的第二个颗粒物来源是被测样品。一些实验室在将他们的样品放置在自动进样器盘（或手动进样）以前，所有样品都先通过一个0.45μm针筒式过滤器过滤。这是一个有效除去被测样品中颗粒物的方法。但这个过程存在的问题：使用了针筒式过滤器，通过过滤器的被测样品，总会有或多或少的损失。主要来自这样几方面：过滤器滤膜的吸附、过滤器滤出的颗粒物上的吸附、针筒式滤膜过滤器与针筒连接处的渗漏等。在实际分析中，一般检测每一组样品会带一个外标，所以，只要最终检测时得到的信噪比能满足检出限要求，可将这步视为系统误差而忽略。 3、仪器系统部件的磨损物 在HPLC系统中颗粒物的另一个主要来源是输液泵密封垫和进样阀旋转轴的磨损。当然，输液泵的密封垫和旋转轴的密封垫磨损将增加更多研磨物在流动相中，加速对这些部件的损伤。无论颗粒物源于何物，实验时都要将其除去。

离心沉降法测纳米级颗粒时，普通的CH3OH—H2O的缓冲液—旋转液已不能满足要求，请高手帮帮忙，介绍一两种。

现在先进的激光颗粒测试仪（激光颗粒分析仪）　　不管国内国外的能测试颗粒粒径 最小　１0nm　左右的麻烦清楚的告诉下　型号　规格　厂家　　最好有联系方式

颗粒包装机的维修保养对于长时间使用是必不可少的。 1、颗粒包装机的箱体部分装有油表，开车前应全部加油一次，中途可按各轴承的温升情况和运转情况添加之。 2、蜗轮箱体必须长期存储机油，其油面高度为蜗轮全部侵入油中，如经常使用，须每隔三月换新油一次，臬底部有油塞，可放油用。 3、在颗粒包装机加油时，不要使油溢出杯之外，更不要流到机器的周围和地上。因为油类容易使物料污染，影响产品质量。 4、定期检查机件，每月进行一次，检查蜗轮，蜗杆，润滑块上的螺栓，轴承等活动部分是否转动灵活和磨损情况，发现缺陷应及时修复，不得勉强使用。 5、颗粒包装机应放在干燥清洁的室内使用，不得在大气中含有酸类以及其他对机体有腐蚀性的气体流通的场所使用。 6、颗粒包装机使用完毕后或停止时，应取出旋转滚筒进行清洗和刷清斗内剩余粉子，然后装妥，为下次使用做好准备工作。 7、当滚筒在工作中发生前后窜动，请调校前轴承卒上的M10螺钉到适当位置。若齿轮轴发生窜动，请调校轴承架后面M10螺钉到适当位置，调整间隙以轴承不发生响声，手转皮带轮，松紧适当为宜，过紧或过松均能使本机发生损坏的可能。 8、如停用时间较长，必须将机器全身揩擦清洁，机件的光面涂上防锈油，用布蓬罩好。相关资料：http://www.shqindian.com/shqdjx111-Article-43482/

固体颗粒放在烘箱里直接烘干就会不均匀.现在他们做法是,烘一会拿出来抖一抖,让我找个能不能替代的设备或装置.大的当然有,比如转筒干燥机,炒栗子机,还有像手动摇的炸爆米花似的,但是实验室用只要处理几十克,不知道有没类似的仪器我推荐了旋转蒸发仪,其实就是利用了旋转和加热,但是毕竟不是这个用途,所以有些不合适的地方,比如多余的是抽真空\冷凝管和升降台,遗憾的是加热热量利用率不高所以想大家给我看看有没什么适合实验室用的比较好的设备能够实现这个功能?

给大家推荐一款美国进口的液体中颗粒物测定仪，希望对大家有帮助PC-2200激光颗粒计数器用于测定水及各种液体中颗粒物的数量及粒径大小,粒径范围0.5-100µm.既可测定流动液体也可测定容器内的静止液体.特点:* 易于用户自行校准* SuperCount软件* 结构紧凑,便于携带* 快速测定颗粒数量及粒径* 对流动液体无交叉污染* 无需样品冲洗http://www.morechina.com.cn/Spectrex/images/pc-2200_1.jpg工作原理:采用"近前向光散射"原理,旋转激光束通过流通池的玻璃器壁,当光束通过中心"感测区"时,PC-2200同时测出悬浮颗粒的的数量和粒径大小.光脉冲产生的模拟信号输入计算机并进行数字化.http://www.morechina.com.cn/Spectrex/images/pc-2200_2.jpghttp://www.morechina.com.cn/Spectrex/images/pc-2200_3.jpg校准:每套仪器提供3个密封的校准标准.每个校准标准含有精确数量和已知粒径的聚苯乙烯球体颗粒,可进行NIST溯源,采用惰性氩气密封.该标准的稳定性经证实超过10年,10分钟内即可提供有效的校准.应用:* 水处理厂* 大学实验室* 制药厂* 炼油厂和钻井现场* 装瓶和饮料操作* 海洋学研究* 液压机液体和石油质量控制* 液相色谱法溶剂质量控制* 冷却塔和废水过滤器效率* 颗粒凝聚研究* 泥沙和沉淀物粒径筛分* 颗粒沉淀特性研究* 腐蚀性化学品和溶剂粒径筛分* 小瓶和安瓿针剂检查* 去离子水和酸性试验* 细胞计数SuperCount 软件显示以下测定数据:* 颗粒数量* 平均直径* 质量分布* 百分比分布* 标准偏差* 总悬浮固体技术参数:* 仪器尺寸:120×355×114mm* 测量瓶尺寸:15-60mm内径* 测量瓶材料:透明,无划痕玻璃瓶* 重量:2.7Kg* 电源:230VAC/50Hz* 可测粒径范围:0.5-100µm选配附件:http://www.morechina.com.cn/Spectrex/images/pc-2200_4.jpghttp://www.morechina.com.cn/Spectrex/images/pc-2200_5.jpghttp://www.morechina.com.cn/Spectrex/images/pc-2200_6.jpg不透明度指示计5ml小瓶附件流通池

我们公司想买一台液体颗粒度和气体颗粒度的测试仪，可一直没有选好那个牌子的，颗粒的粒径最少要能测到0.05um，而且可以测HF。麻烦各位前辈高手给推荐下了，不怕贵，就怕不好。[em0808]

请问颗粒分析仪可以用来分析气溶胶颗粒吗？能在线观察到气溶胶颗粒的变化情况吗？[em06]

动态颗粒图像分析仪的研制摘要:本文论证了研制动态颗粒图像分析仪的必要性与背景, 介绍了winner100实现动态颗粒测试的方法以及技术特征。评价了动态颗粒图像分析仪的实用价值与科学意义。关键词.. 动态颗粒, 图像分析, 粒度与形状,3 维一、问题的提出颗粒是组成材料的基本单元, 影响材料的性能的不仅是颗粒的化学组成, 颗粒的大小与颗粒的形态对材料的性能影响巨大, 因此颗粒粒度与形态的检测越来越受到各行业的重视。目前检测颗粒大小和颗粒形态的方法有多种,激光粒度分析仪、沉降粒度仪、电阻法粒度亦、颗粒图像分析技术是最常用的技术。激光粒度分析仪、沉降粒度仪、电阻法粒度仪, 只能检测颗粒大小, 不能检测颗粒形状；颗粒图像分析技术是一种不仅可以检测颗粒大小也可以检测颗粒形状对唯一方法, 但是由于此种技术有几个致命的缺点限制了它的进一步发展:1.样品制备困难。颗粒在载玻片上很难得到充分的分散, 由于颗粒粘连使得颗粒分析的准确性大受影响； 2.颗粒处于静态, 非球形颗粒的取向会对测试结果造成偏离；3.由于显微镜的视场有限, 被测得颗粒数目受到很大限制, 因此取样的代表性差, 重复性不好。由于以上问题, 颗粒测试中急需一种性能更加优越的测试装置, 能够获得颗粒的准确图像, 操作简便, 满足颗粒形状和颗粒粒度分析的更高要求。国际上荷兰安米德公司、德国新帕泰克公司、德国莱驰公司均推出了同时测定颗粒粒与形状的图像分析仪。国内尚无此种产品, 济南微纳公司通过3年的攻关研制的winner100 颗粒图像分析仪填补了此项空白。二、动态颗粒测试的方法与技术特征Winner100突破了传统的颗粒图像仪的工作模式, 采用超声样品分散系统分散颗粒, 高速摄像头对动态颗粒图像进行采集, 1微秒可以采集一幅颗粒图像, 用计算机对图像进行分析处理, 达到对颗粒粒度与形态进行三维同时测试的目的。其主要技术特征有：1.彻底改变了手工制样操作繁琐的局面, 样品制备操作非常简单, 分散效果好； 2.采用功能强大的动态颗粒图像分析软件, 具有高速采样、自动颗粒图像处理, 实时显示当前图像、实时分析粒度分布、连续统计分析结果, 处理策略自行编程, 多种粒径定义选择, 粒度统计、形状分析等多种功能。打印报告允许自行编辑。3.动态测试使颗粒采样数量无限增加, 统计结果真实可靠, 代表性好、重复性高；4.动态测试使颗粒不同侧面得到采样, 实现了三维测试, 彻底消除了二维测试的颗粒取向误差；粒度测试结果可以与激光粒度分析仪比美。5.winner100动态图像分析专用软件具有强大的图像处理功能；6.支持多种粒径选择和多种粒度分布, 具有多种图像处理功能及其集成处理, 支持图像采集间隔设定与实时显示颗粒形貌与当时粒度分布和累计粒度分布, 记录并显示粒度波动图, 可以输出多种分析图表, 高性能的软件使使用者的颗粒分析工作变得十分轻松方便。7.本成果不仅可用于实验室颗粒分析, 也适用于颗粒在线粒度与粒形监测。对杜会经济发展和科学进步的意义本项目突破了显微静态图像分析的局限, 在国内率先提出动态颗粒图像分析的概念；由于颗粒运动中测试, 克服了二维颗粒图像分析的弊病, 大大提高了采样代表性, 消除了颗粒取向误差, 使颗粒粘连问题彻底解决。本项成果克服了静态颗粒图像仪的缺陷, 提供了一种对运动颗粒同时进行粒度与形状分析的先进手段, 具有操作简单, 测试范围广, 代表性好, 准确可靠, 直观可视, 适用于1-6000微米的各种固体颗粒。可以广泛应用于建材、化工、石油、金属与非金属、环保、轻工、国防等众多领域的实验室和在线颗粒粒度与形状分析。无疑, 对于提高我国各行业颗粒测试水平和经济发展具有重要的实用价值。颗粒测试的基础是颗粒的表征, 本项成果提供了一种颗粒动态测试的实用手段, 因此颗粒的三维表征问题就提到了议事日程上来, 颗粒的三维表征对颗粒学的进步与发展具有重要的意义。[color=blac

颗粒粒度仪抽真空时没有达到要求，开关查了哪都不漏，是不是电磁阀有问题了？

全能型颗粒图像测试设备——WINNER219全自动颗粒图像仪产品图片 济南微纳科技有限公司独家推出全自动颗粒图像仪——WINNER219。可以采用动态、静态两种测试模式针对1——5000微米范围内的颗粒进行粒径分布、形貌分布等参数检测。是颗粒测试领域的全能型设备。功能特点file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21AC.tmp.png 颗粒形貌的分析：对于球形度、圆形度、磨圆度、长径比、球度等行业专用的颗粒形貌参数的分析是其他颗粒测试设备所不具备的。值得一提的是，本产品软件中新增了对于颗粒圆形度（磨圆度）的计算模块，对颗粒圆形度的分析符合美国石油天然气标准：API_RP58。并且适合应用此图版的地质、磨料、石油天然气等行业规范，此计算模块为国内唯一，对于以上行业具有重要意义。file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21AD.tmp.png 动态、静态双模式测试：1. 静态模式时，可以获得最佳观测效果，清晰地看到样品的状态表面等。2. 动态模式时，颗粒样品不断快速通过样品窗，持续采集可获得大量样品数据，解决了以往图像仪测试代表性差的问题。如果选配我们的样品窗自清洗配件和在线版软件，甚至可以实现简易的在线检测。file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21AE.tmp.png 全自动控制系统：本设备采用高精度三轴控制机构，可自动控制平台移动和焦距调节，通过软件的人性化设置，可以实现：自定义路线采集、记忆多点采集、自动对焦、记忆对焦等功能。file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21AF.tmp.png 主机系统内置：富士康微型主机内置，独立操作环境避免冲突易维护。设备参数file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21B0.tmp.png 外形尺寸file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21B1.tmp.png 重量：20KGfile:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21B2.tmp.png 光学组件1. 物镜组：韩国产4X、10X、40X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组，可选：奥林巴斯组件2. 目镜组：1X、10X大视野摄像目镜3. 场镜：带抗畸变场镜以减轻边缘畸变并加大景深4. 倍率范围：4倍——16000倍（含数码放大倍率）5. 光学照明：可调式LED照明器。可选工业高亮度LED点式照明器file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21C3.tmp.png 运动组件1. 移动平台：二维电动平移台，有效行程60MM×60MM。带霍尔磁性感应器。可选：有效行程100mm×100mm2. 对焦机构：电动对焦系统，有效行程50mm。3. 电机参数：高精密式步进电机，微动细分最高可达1微米。4. 驱动模块：内置式RS232驱动端口，可用USB控制。file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21C4.tmp.png 图像设备1. 成像元件：1/1.8英寸 progress scan CMOS 可选：1英寸或1/2英寸CCD芯片2. 像素数：310万 可选：最高可选800万像素3. 最高分辨率：2048×1536 可选：最高可获得3264*24484. 帧率：6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21C5.tmp.png 内置系统1. CPU：AMD低功耗CPU2. 内存：4G3. 硬盘：500G4. 操作系统：WIN7file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21C6.tmp.png 软件功能1. 任务管理机制：按照任务进行管理，保证资料管理井井有条。2. 视像采集：随时进行视频和图片的采集，保留需要的视像资料。3. 测量：可以进行长度、圆周、多边形、角度等多种测量操作。4. 图片拼接模式：采用此模式，可将采集的图片拼接为一整副大图。5. 图片批处理模式：采用此模式，可边采集边处理，不受内存限制，通过处理海量图片获得更加准确的数据。6. 颗粒自动处理工具集：自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具7. 静态处理模式：选择此模式，适用于处理静态样品。8. 动态处理模式：选择此模式，适用于处理动态流动的样品。9. 平台自由运动模式：选择此模式，可使用按钮自由控制平台移动10. 平台编程运动模式：选择此模式，可预设平台的移动轨迹，一般适用于定点扫描或者蛇形扫描等特定模式。11. 平台记忆模式：可设置10个记忆点，可随时回到记忆点。12. 自动对焦：软件可根据焦平面的清晰程度自动选择合适的对焦点。13. 记忆对焦：如果每次都观察高度相同的样品，则可记忆上次的对焦位置，最简便快捷的对焦方式（例如每次都观察静态玻片）file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21C7.tmp.png 输出参数1. 单个颗粒数据：面积等效直径、周长等效直径、马丁径、周长、投影面积、颗粒长、颗粒宽、表面积估算值、体积估算值、X切线、Y切线、切线径、球型度长径比2. 统计平均径：Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用统计平均径3. 粒径分布：颗粒粒径的分布图表4. 球形度分布：颗粒球形度分布的图表5. 长径比分布：颗粒长径比分布的图表。6. 圆度分布：颗粒圆度（磨圆度）分布的图表7. 原始图片/缩略图：可以将带有测量数据信息的图片保存，便于发表论文等。file:///C:\Users\ADMINI~1\AppData\Local\Temp\ksohtml\wps21C8.tmp.png 备选配件1. 动态测试组件：拆下运动平台后可安装动态测试组件，自带循环水路，形成一个简易的动态颗粒图像分析系统，可以实现对样品的动态测试。2. 自清洗样品窗：选配动态测试组件时可以选择此备件3. 在线软件系统：选配动态测试组件时可以选择此备件，能够自动生成阶段性的分布规律图表并可设定超标报警等功能。测试实例1. 静态测试示例2. 动态测试实例：在附件中，请登录网站或致电获取更多测试视频。售后承诺1， 一月内达不到用户使用要求可退换货。2， 一年内免费上门保修，维修或更换零件均不收任何费用。3， 提供10年内上门保修、维护、调试、培训等服务。4， 同型号产品软件终生免费升级。

本文简介：[B]颗粒图像处理仪[/B]是用显微镜放大颗粒，然后通过数字摄像机和计算机数字图像处理技术分析颗粒大小和形貌的仪器，能给出不同等效原理（如等面积圆、等效短径等）的粒度分布，能直接观察颗粒分散状况、粉体样品的大致粒度范围、是否存在低含量的大颗粒或小颗粒情况等等，并增加了详细的圆度分析功能，是其他粒度测试方法的非常有用的辅助工具，是我国现行金刚石微粉粒度测量标准的推荐仪器。适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、填料等各种末颗粒的粒度测量、形貌观察粉和分析。 [B]电阻法（库尔特）颗粒计数器[/B]是根据小孔电阻原理，又称库尔特原理，测量颗粒大小的。由于原理上它是先逐个测量每个颗粒的大小，然后再统计出粒度分布的，因而分辨率很高，并能给出颗粒的绝对数目。其最高分辨率（通道数）取决于仪器的电子系统对脉冲高度的测量精度。此文为专业普及文档，PDF文档，请用Acrobat Reader浏览相关链接：http://www.omec-tech.com/products-01-gs.html[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=66309]其他常见粒度测量仪器的原理和性能特点[/url]

颗粒粒度仪型号ElzoneII5390型出现了问题，是这样的出现背景计数太高。以48um测孔管为例要求140左右，可是实际超过1000，大家说说那出问题了讨论一下

颗粒测试技术的进展与展望摘 要：本文简述了当今颗粒测试技术六个方面的进展，对颗粒测试技术的近期发展趋势作了简短的展望，提出了七个颗粒测试领域需要统一认识的基本问题，对促进颗粒测试技术发展提出了几点建议.关键词：颗粒测试；技术进展；发展趋势；基本问题；知识产权1 前 言随着颗粒技术的发展，颗粒测试技术已经受到广泛的关注与重视. 本文就目前颗粒测试领域的新进展，谈一点个人的浅见，请各位指教. 本文谈及的问题有：颗粒测试技术进展、颗粒测试技术展望、颗粒测试的基本问题和促进颗粒测试技术发展的几点建议.2 颗粒测试技术进展近年来颗粒测试技术进展很快，表现在以下几个方面：1) 激光粒度测试技术更加成熟，激光衍射/散射技术，现在已经成为颗粒测试的主流. 其主要特点：测试速度快，重复性好，分辨率高，测试范围广得到了进一步的发挥.激光粒度分析技术最近几年的主要进展在于提高分辨率和扩大测量范围. 探测器尺寸增加，附加探头的使用扩大了测量范围；多种激光光源的使用、多镜头、会聚光路、多量程、可移动样品窗的使用提高了分辨率，采样速度的提高则进一步改善了仪器的重复性. 英国马尔文公司GM2000系列激光粒度仪采用高能量蓝光辅助光源和汇聚光学系统，测量范围达到0.02?2000微米，不需更换透镜. 贝克曼库尔特公司采用多波长偏振光双镜头技术将测量范围扩展到0.04?2000微米.代表了当前的先进水平. 国产的激光粒度仪在制作工艺和自动化程度上尚有欠缺，但大多数在重复性准确度方面也达到了13320国际标准的要求. 目前激光粒度分析仪在技术上，已经达到了相当成熟的阶段.米氏理论模型可以提高仪器的分辨率，但是需要事先了解被测样品的折射率和吸收系数，才可能获得正确的结果.测试结果的优劣不仅取决于测试系统和计算模型，更加取决于样品的分散状态.激光粒度仪对样品的分散要求是，分散而不分离. 仪器厂家应更加注意样品分散系统设计. 尽量避免小颗粒团聚，大颗粒沉降，大小颗粒离析，样品输运过程的损耗，外界杂质的侵入. 对于不同样品选用不同的分散剂和不同的分散操作应该引起测试者的注意.任何原理的仪器测试范围都不是可以无限扩展的. 静态光散射原理的激光粒度分析向纳米颗粒的扩展和向毫米方向的扩展极限值得探讨. 毫米级的颗粒只需光学成像技术就可以轻易解决的测量问题采用激光散射原理则并不是优势所在.2) 图像颗粒分析技术东山再起图像颗粒分析技术是一种传统的颗粒测试技术，由于样品制备操作较繁琐、代表性差、曾经作为一种辅助手段而存在，他的直观的特点没有发挥出来.为了解决采样代表性问题，有人使用图像拼接技术或者多幅图像数据累加技术可以有效提高分析粒子数量，采用标准分析处理模式的图像仪则可以将操作误差减小，这些改进取得了一定的效果.最近几年动态图像处理技术的出现使传统度颗粒图像分析仪备受关注，大有东山再起之势. 动态图像处理的核心是采用颗粒同步频闪捕捉技术，拍摄运动颗粒图像，因此减少了载玻片上样品制备的繁琐操作，提高了采样的代表性，而且可用于运动颗粒在线测量. 这就大大扩展了图像分析技术的应用范围和可操作性. 荷兰安米德公司的粒度粒形分析仪是有代表性的产品。它采用CCD+频闪技术测颗粒形状、采用光束扫描技术测颗粒大小。可测最大粒径为6毫米。如果颗粒在光学采样过程不发生离析现象，此种仪器在微米与毫米级颗粒测量中可能会得到广泛的应用.颗粒图像分析技术需要解决的另一个问题是三维测量. 动态颗粒图像采集由于颗粒采集的各向同性因此可以解决在载波片上颗粒方位的偏析问题，但是仍然无法解决如片状颗粒厚度问题. 厚度测量对于金属颜料，云母、特种石墨都是一个急需解决的实际问题.3) 颗粒计数器不可替代颗粒本身是离散的个体，因此对颗粒分级计数是一种最好的测量方法. 库尔特电阻法在生物等领域得到广范应用已经成为磨料和某些行业的测试标准. 但是他受到导电介质的限制和小孔的约束，在某些行业推广受到阻力.最近光学计数器在市场上异军突起，他将在高精度和极低浓度颗粒测量场合发挥不可替代的作用. 美国Haic Royco 公司颗粒计数器/尘埃粒子计数器是才进中国不久的老产品；美国PSS（Particle Sizing Systems）公司采用单粒子光学传感（SPOS）技术生产的系列仪器可用于湿法、干法、油品等各种场合的颗粒计数。国内颗粒计数器的研究工作起步并不晚，但是除了欧美克的电阻法计数器外，尚未见光学计数器商业化的产品。4) 纳米颗粒测试技术有待突破纳米颗粒测试越来越受到重视.电镜是一种测试纳米颗粒粒度与形态最常用的方法.电镜样品制备对于测试结果有重要影响，北京科技大学在拍摄高质量电镜照片方面作了出色的工作. 由于电镜昂贵的价格和严格的使用条件，以及取样代表性问题,电镜在企业推广不是最佳选择.根据动态光散射原理设计的纳米级颗粒测试技术是一种新技术，近年来获得了快速发展.马尔文，布鲁克海文、贝克曼库尔特等公司提供了优秀的商品，马尔文公司已将动态光散射的测量范围扩展到亚纳米范围，HPPS高性能高浓度纳米粒度和Zeta电位分析仪测试范围0.6-6000纳米，可以测量大分子真溶液粒径。国内开展此项技术研究的单位日益增多，上海理工大学、浙江大学、北京大学、清华大学、济南大学等许多高校都有学者和研究生在做工作. 数字相关器仍然是制约国产动态光散射仪器的瓶颈技术，如果数字相关器问题得到解决，中国自己的动态光散射纳米粒度仪出现在市场上将不会太远.X射线的波长比纳米还要短，因此X射线小角散射是一种测量纳米颗粒的理想方法，(类似于激光衍射原理)国外有商品仪器. 国内，此方法已经列入国家开发计划，国家钢铁研究总院对此方法研究已经作了大量工作，但是尚未见商品问世.5) 光子相关技术独树一帜动态光散射原理纳米颗粒测试采用的技术主要是光子相关谱，光子相关技术是一种70年代兴起的超灵敏探测技术，他根据光子信号的时间序列的相关性检测被测信号的多普勒频移或时间周期性，比通常的光谱仪分辨率高一个数量级，因此此技术也被用于颗粒运动速度的测定和其他场合. 上海理工大学浙江大学利用此原理已经研制成功在线用的颗粒粒度与颗粒流速的探针. 它可用于物料管道内部检测物料的平均大小和物料的流速. 对于在线控制具有指导意义。有报道称使用光子探测技术可以对高压空气喷嘴中的颗粒计数，说明颗粒测试正在向更加精密更加灵敏的方向发展.6) 颗粒在线测试技术正在兴起

对同种物质的不同大小的颗粒进行粉碎，大颗粒易碎还是小颗粒易碎？粉碎条件相同。

粒度分布测量中所显示的“浓度”一般是所接收的光信号的大小，是与颗粒数目有关的量，一般称光学浓度而不是百分比浓度。对激光法来说，悬浮液中颗粒数越多，光学浓度越大（但如果颗粒太多，光被超量遮挡，光学浓度反而减小） ；对沉降法来说，悬浮液中颗粒数 越多，光学浓度越小。

我想问下大气污染综合物标准中的颗粒物是否和空气中的TSP相同，要是不同的话TSP是用大、中流量采样器采样重量法分析，那颗粒物就算包括TSP吧，标准的分析颗粒物的方法又是什么，我想问下大气污染综合物标准中无组织排放的颗粒物是怎么测的，是不是和TSP相同，请知道的解答下，谢谢！

颗粒度专用取样瓶都可以和那些颗粒测试设备配套，请各位知道的指点一下

由于工作的关系，需要了解一下有关测量纳米颗粒的粒度仪，以前在德国新帕泰克有限公司的报告会，其中介绍到他们公司的光子交叉相关光谱法来纳米颗粒的，另外好像电镜也可以，那么除此之外还有别的信息吗？我想知道的更多一些，哪位知道的还请不吝赐教，谢谢！

我单位想采购一台颗粒粒形分析仪。谁有什么好介绍？

各位前辈，晚生最近查阅关于颗粒计数测试的一些资料，发现在光学方面主要有：光阻法、激光法。理论上讲光阻法测量下限不如激光法，不过光阻法也有不少仪器。那么光阻法优势在哪里和激光法测微粒有什么区别，两者在价位上是否有很大差异？另外光阻法原理测量时根据遮光区大小来测量粒径的，那么对于不同透明度的待测液体怎么处理？比如测水和油的颗粒数，透明度不同，即使颗粒相同，测量结果也会不同吧。 本人新手，希望各位大侠不吝赐教，欢迎各位讨论。

在碾压过程中，颗粒分布是影响下游工艺性能和最终片剂产品质量的最为关键的参数之一。在碾压过程中使用颗粒表征，可将工艺控制参数与产品质量直接关联在一起。 使用 FBRM 颗粒表征优化碾压工艺在碾压过程中，颗粒分布是影响下游工艺性能和产品质量的最为关键的参数之一。颗粒分布会影响下列操作单元： （图） 利用碾压工艺获得稳定的后处理压片，从而保证溶出度均一和含量均匀。一个成功的工艺能生产出粒度、密度和孔隙度控制均匀的颗粒。但是，在制粒放大生产过程中由于原材料的变化或工艺的动态变化将导致不均匀性。与 Patheon 的合作证明了 FBRM® 在线具有了解设计空间和优化一系列碾压运行单元的能力，同时具有不同的垂直/水平进料速度、碾压力和粉碎速度。确定颗粒分布特征可使用户能够直接将工艺控制参数与产品质量关联在一起。通过设计稳定可靠的工艺，即能实现从干法制粒到压片一系列稳定的工艺处理。实验设计进行了 19 批次的实验设计以了解工艺参数对下游产品质量的影响。使用 FBRM® 技术来测量和控制颗粒粒数和粒度变化。将 FBRM® 探头在线3插入 Comil 下游收集漏斗，当粉末流过探针尖端时，由于压缩颗粒系统中的内嵌4 或在线5测量，可获得具有代表性的测量结果，样品量的增加会提高细小颗粒高灵敏度。在此情况下更需要使用在线测量方法6。在下游取 10 克粉末样品，并分散于 100 克矿物油中。由于浓缩了取样量，测量具有代表性。中位数（第 50 个百分位）统计中的样品重复率小于 1%。 结果碾压和粉碎后，预混分布比分布具有更少的粗颗粒(图 1)。试验 10、12、13 和 19 具有最高数量的细颗粒、高孔隙度和密度。它们也具有 4000 磅/英寸的碾压力和 1000 rpm 的粉碎速度。细粉总数是下游流动特性和可能的溶出度不均一的早期指征。试验 6 和 11 具有最高数量的粗颗粒、低孔隙度和密度。它们亦具有 8000 磅/英寸的碾压力和 2000 rpm 的粉碎速度。 统计结果对上游碾压力和粉碎速度参数的压缩孔隙度和变化而言，颗粒分布平均值、每秒钟的细颗粒 (0-50μm) 计数和粗颗粒 (200-2000μm) 数量是高灵敏度的早期指征。平均粒度和每秒钟计数的细颗粒、粗颗粒数量亦是下游流程和溶解度或崩解时限的早期指征。通常，碾压力显著影响到粉碎密度、孔隙度挤压和粉碎挤压粒径。 平均值与孔隙度相关性的关系通过实时测量颗粒粒径，可以将碾压工艺条件控制在特定的平均粒径的目标上。由于平均粒径与颗粒孔隙度相关，实时控制就能确保均匀性。 结论碾压是一种复杂工艺，存在粉碎和聚集相互竞争的机制。采用 FBRM®，可以量化关键工艺参数的影响变化并将此与粉碎参数关联在一起。通过确定这些影响，可使用工具 (FBRM®) 来减少放大时间，充分减少扰动以及可能出现的问题。在该研究中，高碾压力和粉碎速度能获得低孔隙率、低密度的粗颗粒，而低碾压力和粉碎速度导致出现高孔隙率、高密度和高数量的细颗粒。在线颗粒表征亦用于确定过筛问题、硬件故障，从而降低制造成本。 参考文献1. Sheffield Products2. Peter Greven3. Arp, Z. et al.AAPS, Atlanta, GA, 10 November 20084. Wiesweg, S. et al.Tablet Tech Seminar, Brussels; Belgium; 25 October 20075. Hu, X. et al.International Journal of Pharmaceutics 347 (2008) 54–616. Michaels J. N. et al.Powder Technology Volume 189, Issue 2, 31 January 2009, 295-303 鸣谢Arasu Kondappan（Patheon）对碾压粉碎物物理特性的检测。Diane Lillibridge（Patheon）提供统计设计方面的指导并执行统计分析。Russ Neldham（梅特勒-托利多）进行 FBRM® 测量。