霍尔测厚仪

MBT-300测厚仪CanNeed-MBT-300是一款接触式测量方法，利用霍尔效应原理对非铁性材料进行可靠且高重复性的厚度测量的便携式测厚仪。仪器的操作非常简单。测量时，在被测材料的一侧按住或移动磁探头，在材料的另一侧放上或在容器里放入一个小目标钢珠。探头的霍尔效应传感器测量探头端部到目标钢珠的距离。测出的距离即刻被作为厚度读数以容易辨读的数字形式显示在屏幕上。该设备满足多项国家和国际标准。广泛应用于航天技术制造业、塑料包装业、汽车产业、玻璃制品包装业、管道测量等范畴。新特征：l 更加坚固耐用的探头l 新增5.00mm磁珠和7.00mm磁珠l 更大的测量范围，可测厚度达25.4毫米l 更大的彩色屏幕，更大的显示字体l RS-232输出l 显示实时厚度值，并自动捕捉厚度最大值、最小值、和平均值。l 快速，达到每秒16次l 准确率可达±1%l 内部数据记录储存达到95000个厚度读数l 保存校准文件并调用所保存的校准文件l 新型机身设计l 新的扩展校准包，可测厚度达25.4毫米l 带有统计数据的带状图视图技术参数 钢珠直径 厚度范围(标准探头) 精度 （基本校准） 精度 （多点校准）1/16”(1.59mm) .0004-.0900”(0.100-2.590mm)±4%±3%1/8”(3.18mm).0004-.1800”(0.100-4.570mm) ±4%±2% 3/16”(4.76mm) .0004-.2500”(0.100-6.350mm) ±3%±1%5.00mm磁珠.0004-.7500”(4.00-19.00mm)±3%±1%7.00mm磁珠.0004-.7500”(4.00-25.4mm)±3%±1% 准确率取决于厚度范围，详细规格说明参阅操作手册扫描速率： 高达每秒16次测量最小值、最大值模式： 快速搜索并显示厚度最小值、最大值分辨率：0.01 mm 或0.001mm（0.001或0.0001英寸） 显示：液晶显示屏，可同时显示实时读数、最小值、最大值、平均值读数、报警状态和数据文件信息 数据记录器：可存储、调用、清除和传输95000个带有数字识别码的厚度读数和文件 数据输出： 带RS-232接口，现场报告：最小值、最大值、平均值、SD 校准：两点标准校准，可达5个参考点的多点校准 差值模式：显示实际厚度和预设参考厚度之差 报警模式：可编程的可发声和可见指示的高、低报警设置点 电源：100/120/220/240 VAC,48-62 Hz 电池：可充电镍镉电池，根据背景灯使用情况可使用8-16小时，充电时间2小时 公制/英制单位：可选英寸或毫米语言： 英语/中文操作温度： 0 - +50℃尺寸： 300×190×50mm重量： 4公斤 标准配置： l 标准探头l 探头支架l 探头连接线l 用户手册l 镍制可充电池l 外部电源与充电器l 钢珠及校准套件, 包括钢珠(1/16英寸，1/8英寸，3/16英寸直径)， 校准快：0.010英寸/0.25毫米, 0.04英寸/1毫米, 0.160英寸/4毫米(测量超过0.160英寸/4毫米,可选附件)

霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400用于测量非磁性材料的厚度。- 测量厚度高达24mm- 是复杂形状的瓶子、铝罐、玻璃和塑胶工件的理想测量工具- 对于复合材料，在航空或汽车行业里的形状复杂的铝或者钛部件- 用户菜单控制界面- 上下文关联的在线帮助- 统计过程控制功能- 通过数字信号处理极其准确- 探头顶端使用耐磨硬质合金- 用于重复测量的高精度的钢珠- 高达每秒20个数据的记录速度- 探头集成数字信号处理- 高达5点的多点校正- 易于读值的大屏幕霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400是便携式的厚度测量工具，可准确测量厚达10mm的材料。便携而小巧的外形使其可在生产现场和实验室进行操作。MiniTest7200FH/7400FH可简单，无损，高精度的测量非磁性材料的厚度，无论它们的大小、形状和材质如何。它还是尖角，小半径和复杂形状工件理想的测量工具。霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400技术参数MiniTest FH7200MiniTest FH7400原理静磁原理数据存储100000240000低端分辨率0.1μm（FH4）/0.2μm(FH10，FH10-M)重复性优于±(1μm+0.5%读值)记录速率1，2，5，10，20个读值每秒(可选)校准模式原厂校准，零点校准，零点+多达4点校准测量单位公制(μm，mm)，英制(mils，inch)统计图表数字数字，趋势图，柱状图接口RS232 TTL + IrDA 1.0操作温度-10℃ ~ +60℃(保存温度-20℃ ~ +80℃)尺寸/重量153mm x 89mm x 32mm / 310g供电4 x AA(LR06)电池，或可选电源(90-240V / 48-62Hz) 霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400 探头参数：型号测量范围精度使用钢球尺寸标配数量FH40-2mm±(3μm+1%读值)1.5mm100颗0-3.5mm±(5μm+1%读值)2.5mm100颗0-6mm±(10μm+1%读值)4mm50颗FH4-M0-2mm±(3μm+1%读值)1.5mm100颗0-3.5mm±(5μm+1%读值)2.5mm100颗0-5mm±(20μm+2%读值)1.5mm(磁性钢球）25颗0-6mm±(10μm+1%读值)4.0mm50颗0-9mm±(40μm+2%读值)3.0mm(磁性钢球）20颗FH100-4mm±(5μm+1%读值)2.5mm100颗0-7mm±(10μm+1%读值)4.0mm50颗0-10mm±(20μm+1%读值)6.0mm25颗0-13mm±(20μm+1%读值)9.0mm10颗FH10-M0-4mm±(5μm+1%读值)2.5mm100颗0-7mm±(10μm+1%读值)4.0mm50颗0-10mm±(20μm+1%读值)6.0mm25颗0-13mm±(20μm+1%读值)9.0mm10颗0-16mm±(40μm+2%读值)4.0mm(磁性钢球）20颗0-24mm±(60μm+2%读值)6.0mm(磁性钢球）20颗霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400结构图： 霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400配置：主机，探头，校准桶，钢球，合格证，软件，操作手册，4电池，螺丝刀，便携箱

1.中瑞祥霍尔效应测厚仪 瓶罐厚度仪型号:ZRX-18000 测厚仪是采用磁性测量原理：在被测的瓶罐内放入粒钢珠，当被测瓶罐内的钢珠靠近仪器上的测量头时，测量头上磁场的引力就把钢珠吸在瓶罐的内壁上。这时钢珠与测量头之间的距离就是被测的厚度，该厚度与该磁场的作用强度成反比关系，通过测量该磁场强度就测出了有关的厚度。仪器能沿圆周或轴向连续测量瓶子的壁厚或底厚。仪器采用彩色触摸屏液晶显示，字体清晰明亮，具有自动捕捉小值能及数据保存能。 霍尔效应测厚仪 瓶罐厚度仪 型号:ZRX-18000 主要术标： 1、 测量范围：0～8mm 2、 测量误差： = ±0.01mm。分辨率：0.001mm 3、 环境温度：0～40℃ 4、 率：15W 5、 电压：220V/50HZ 外形尺寸：长*宽*300*200*1702.便携式彩屏过氧化氢检测仪 气体检测仪 型号17921 ZRX-17921 产品特点 便携式彩屏过氧化氢检测仪配备电化学传感器，是款专注于检测空气中过氧化氢气体的便携式检测报警设备。它具有清晰的液晶显示屏及声、光、震动报警提示等能，可保证在恶劣的作环境下检测出过氧化氢的含量，并及时提示操作人员行预防。ZRX-17921 产品特点 采用外口传感器，检测灵敏度小巧、轻便、坚固，三防包胶外壳，人体学设计分辨率彩屏，数值实时显示中文菜单，操作简单方便26条大容量数据存储空间,专业数据分析处理电脑软件。开机时可以对显示、电池、传感器、声光报警能行自检出众的声、光报警提示能可带数据存储（选配）： 1、大容量可存储数据空间，可存储26条数据 2、方便的连续、分段存储切换操作 3、专业的可视化数据分析上位软件维护费用低 术参数 Ø检测气体：过氧化氢Ø量 程：0-200PPMØ基本误差：＜±3%（F.S）Ø小读数：1PPMØ响应时间：≤30秒Ø传感器寿命：24个月Ø传感器类型：电化学Ø显示方式：彩色液晶屏显示Ø报警方式：声、光、震动报警Ø防标志：Ex ibdIICT3Ø检测方式：扩散式Ø电池：3.7V锂离子充电电池Ø直接读数：实时值、报警状态、电池电压Ø作温度：10~55°CØ作湿度：5~90%RHØ尺寸：55mm×25mm×15mmØ重量：200g （净重） 3.动作稳定器 手臂稳定能力仪 动作能检测仪 动作稳定性测定仪 型号 BD-II-304 动作稳定性是动作能的个重要标。本仪器是为测验保持手臂稳定 能力之用，也可以间接测定情绪的稳定程度。 主要术标： 1. 九洞：直径分别为：12，8，6，5，4.5，4，3.5，3，2.5mm。 2. 曲线槽：中央宽处宽度为 10mm, 边缘宽度为 2.2mm。 3. 楔形槽：宽度为 10mm, 宽度为 1.6mm。 4. 测试面：45°倾斜。 5. 个带缘棒的金属测试针，测试针直径为 1.5mm。 6. 测试针碰边蜂鸣器报警，与中隔板接触发光管亮。 7. 内置记时计数器，记录碰边次数与测试时间。 （1）记录碰边次数：999 次； （2）记录时间：0.001～9999 秒，4 位有效数字显示； 8. 电源适配器：直流+5V，1A； 9. 仪器尺寸：235×180×120mm 4.麦氏浊度仪 细菌比浊仪 便携式浊度计 细菌浊度检测仪 型号：ZRX-17923 1.用途概述:Summary of functionsZRX-17923 型麦氏细菌浊度仪是种通过检测悬浮液中的微生物散射光来反映微生物数量的仪器。它主要应用于药敏评价、微生物发酵和微生物检测域的细菌浊度检测。2.术标:Specifications型号Model ZRX-17923 型细菌浊度计示值Minimum readout（MCF） 0.001 MCF测量范围Measuring range（MCF） 0～6 MCF（麦氏浊度单位）量程: （0-1；1-6 ） MCF线性误差（准确度）Basic error F.S ≤2.0％F.S重复性Repeatability ≤1.0%特点 Characteristics 便携式，内置锂电池、经济型、稳定性好 外型尺寸External dimension 172×100×48 mm试样管尺寸要求 试管规格：直径16 mm、度50～100mm (其他尺寸试管可定制)样品量 不少于3mL 5.透皮扩散仪 药物透皮扩散仪 透皮吸收试验仪 型号：ZRX-17924 ZRX-17924 智能透皮扩散仪是我公司借鉴外透皮扩散实验装置推出的产品。该仪器能客观的将药物制剂通过动物活体皮肤在规定的溶剂中渗透的速度和程度反应出来，以科学的方法筛选具有透皮吸收条件的有效药物，是药物透皮释放度的标准检测方法之。 ZRX-17924 智能透皮扩散仪采用微电脑测控，数字化电路，度温度传感器及水浴恒温系统。操作简便，性能可靠，数据确。术标符合家药行业相关标准。是药厂、学校、科研单位及化妆品行业检验透皮释度的仪器。 术参数 （1）透皮杯数： 6 （2）接受池容积： 5ml(卧式)/10ml（立式）/15ml(立式) 三选，出厂标配15ml立式 （3）控温范围： 30—40℃ （4）控温度： ±0.1℃ （5）搅拌调速范围： 100—800r/min （6）转速度： ± 5% （7）电源及率： 220V± 10% 50HZ 360W2.便携式彩屏过氧化氢检测仪 气体检测仪 型号17921 ZRX-17921 产品特点 便携式彩屏过氧化氢检测仪配备电化学传感器，是款专注于检测空气中过氧化氢气体的便携式检测报警设备。它具有清晰的液晶显示屏及声、光、震动报警提示等能，可保证在恶劣的作环境下检测出过氧化氢的含量，并及时提示操作人员行预防。ZRX-17921 产品特点 采用外口传感器，检测灵敏度小巧、轻便、坚固，三防包胶外壳，人体学设计分辨率彩屏，数值实时显示中文菜单，操作简单方便26条大容量数据存储空间,专业数据分析处理电脑软件。开机时可以对显示、电池、传感器、声光报警能行自检出众的声、光报警提示能可带数据存储（选配）： 1、大容量可存储数据空间，可存储26条数据 2、方便的连续、分段存储切换操作 3、专业的可视化数据分析上位软件维护费用低 术参数 Ø检测气体：过氧化氢Ø量 程：0-200PPMØ基本误差：＜±3%（F.S）Ø小读数：1PPMØ响应时间：≤30秒Ø传感器寿命：24个月Ø传感器类型：电化学Ø显示方式：彩色液晶屏显示Ø报警方式：声、光、震动报警Ø防标志：Ex ibdIICT3Ø检测方式：扩散式Ø电池：3.7V锂离子充电电池Ø直接读数：实时值、报警状态、电池电压Ø作温度：10~55°CØ作湿度：5~90%RHØ尺寸：55mm×25mm×15mmØ重量：200g （净重） 3.动作稳定器 手臂稳定能力仪 动作能检测仪 动作稳定性测定仪 型号 BD-II-304 动作稳定性是动作能的个重要标。本仪器是为测验保持手臂稳定 能力之用，也可以间接测定情绪的稳定程度。 主要术标： 1. 九洞：直径分别为：12，8，6，5，4.5，4，3.5，3，2.5mm。 2. 曲线槽：中央宽处宽度为 10mm, 边缘宽度为 2.2mm。 3. 楔形槽：宽度为 10mm, 宽度为 1.6mm。 4. 测试面：45°倾斜。 5. 个带缘棒的金属测试针，测试针直径为 1.5mm。 6. 测试针碰边蜂鸣器报警，与中隔板接触发光管亮。 7. 内置记时计数器，记录碰边次数与测试时间。 （1）记录碰边次数：999 次； （2）记录时间：0.001～9999 秒，4 位有效数字显示； 8. 电源适配器：直流+5V，1A； 9. 仪器尺寸：235×180×120mm 4.麦氏浊度仪 细菌比浊仪 便携式浊度计 细菌浊度检测仪 型号：ZRX-17923 1.用途概述:Summary of functionsZRX-17923 型麦氏细菌浊度仪是种通过检测悬浮液中的微生物散射光来反映微生物数量的仪器。它主要应用于药敏评价、微生物发酵和微生物检测域的细菌浊度检测。2.术标:Specifications型号Model ZRX-17923 型细菌浊度计示值Minimum readout（MCF） 0.001 MCF测量范围Measuring range（MCF） 0～6 MCF（麦氏浊度单位）量程: （0-1；1-6 ） MCF线性误差（准确度）Basic error F.S ≤2.0％F.S重复性Repeatability ≤1.0%特点 Characteristics 便携式，内置锂电池、经济型、稳定性好 外型尺寸External dimension 172×100×48 mm试样管尺寸要求 试管规格：直径16 mm、度50～100mm (其他尺寸试管可定制)样品量 不少于3mL 5.透皮扩散仪 药物透皮扩散仪 透皮吸收试验仪 型号：ZRX-17924 ZRX-17924 智能透皮扩散仪是我公司借鉴外透皮扩散实验装置推出的产品。该仪器能客观的将药物制剂通过动物活体皮肤在规定的溶剂中渗透的速度和程度反应出来，以科学的方法筛选具有透皮吸收条件的有效药物，是药物透皮释放度的标准检测方法之。 ZRX-17924 智能透皮扩散仪采用微电脑测控，数字化电路，度温度传感器及水浴恒温系统。操作简便，性能可靠，数据确。术标符合家药行业相关标准。是药厂、学校、科研单位及化妆品行业检验透皮释度的仪器。 术参数 （1）透皮杯数： 6 （2）接受池容积： 5ml(卧式)/10ml（立式）/15ml(立式) 三选，出厂标配15ml立式 （3）控温范围： 30—40℃ （4）控温度： ±0.1℃ （5）搅拌调速范围： 100—800r/min （6）转速度： ± 5% （7）电源及率： 220V± 10% 50HZ 360W 6.测厚仪 薄膜测厚仪 度测厚仪 型号：ZRX-29982 适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度确测量 接触式测量原理 口测厚传感器，度重现性好 触摸屏操作 ，操作均在个平面内成，无须入退出操作 TFT真彩色液晶显示试验数据、结果 嵌入式系统，远程维护、升级 手动、循环、预约定时多种测量模式可选 测试过程自动成 内嵌大值、小值、平均值、标准差等数据统计分析能 本机内置历史数据查询能 配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告 可采用标准厚度计量具标定、检验 多种测试量程可选 配置标准通信接口，可支持专业计算机作站软件 可支持DSM实验室数据管理系统，实现数据统管理（选购） 测量范围：0～2mm（标准） 0～10mm （可选） 分 辨 率：0.1μm 测量速度：1~25次/min（可调） 测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张） 接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张选种；非标可定制 电 源：AC 220V 50Hz 外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H) 净 重：38kg 7.硬质泡沫吸水率测定仪 电子静水力学天平 型号：ZRX-29983 ZRX-29983术参数： 电子静水力学天平是专门为土方程设计的电子天平，外形新颖美观， 配有水缸、盘托，装有向轮，操作方便。 具有密电子天平的术性能 ZRX-29983特点：用于固体样品密度、体积的测量。加上人性化设计、结构新颖、操作方便， 由电子天平与静水力学装置组合而 成，密电子天平的性能，使其拥有较的 性价比。提了称量的安性，满足室内与野外不同场合的需要。 ZRX-29983能：具有自动校准、去皮、零位跟踪、单位转换、计件、百 分比等能。 交直电流两用、输出接口。 ZRX-29983术参数 称量范围(g) 5000 读数 0.1g输出接口：RS232C净重：6.82kg外型尺寸：310*330*390mm交直流两用 8.制冷压缩机性能实验台 型号：ZRX-29984 、ZRX-29984 实验目的 1.熟悉蒸汽压缩式制冷循环系统的基本结构和作原理2.了解际标准GB/T5773—2004容积式制冷压缩机性能使用方法3.利用蒸发器液体载冷剂循环法（主测法）求制冷压缩机制冷量4.利用水冷冷凝器热平衡法（辅测法）求制冷压缩机制冷量5.主、辅测制冷量相对误差的计算与分析6.制冷机组能效比的计算与分析 二、ZRX-29984 产品特点 1、实验台为立式,整体组装,带脚轮,易移动,带水箱,用户接上电源即可使用。2、实验台采用匹封闭制冷压缩机,质为F22（R11）(充灌量为2Kg),实验台主试验为蒸发器液体载冷剂循环法,辅助试验为水冷冷凝器热平衡法,其制冷循环系统和水循环系统。实验台蒸发器和冷凝器均为水换热器。 三、ZRX-29984 术参数 电压等级 AC220V额定率 3KW制冷量 632Kcal/n 循环水量 流量18L/min，扬程15m 转子流量计流量范围16～100L/h，度2.5级；封闭制冷压缩机：质R22，制冷量632Kcal/h 9.数字声波声强测量仪 型号：ZRX-29985 声强测量量程(W/cm2) 00-125声强显示分辨率(W/cm2) 00.01频率测量范围 1 10KHz-200KHz频率显示分辨率 00.01KHz操作环境温度 0 0℃-75℃待机耗 110-5W显示方式 33.2寸TFT(320*240)供电方式 两两节3.7V可充电锂电池操作方式 按薄膜按键外形尺寸(mm) 216*100*34重量(g) 365 10石油产品倾点测定仪 型号：ZRX-29986 用途及适用范围 本仪器是按照中华人民共和标准GB/T3535《石油倾点测定法》要求设计制的，适用于按上述标准规定的方法测定石油产品的倾点。 主要术规格及参数1、作电源： AC220V±10%；50Hz。2、控温类型： 室温～-40℃，或 室温～-70℃ 3、控温度： ±0.5℃ 3、制冷系统： 新型致冷压缩机。4、机 型： 槽两孔； 5、相对湿度： ≤85%。6、耗： 不大于1000W。

Magna-Mike 8600 Magna-Mike 8600是一款利用简单的磁法对非铁性材料进行可靠且重复性极高的厚度测量的便携式测厚仪。Magna-Mike仪器的操作十分简单。测量时，在被测材料的一侧按住或移动磁探头，在材料的另一侧放上或在容器里放入一个小目标钢珠（或目标圆盘、目标钢线）。探头的霍尔效应传感器测量探头端部到目标钢珠的距离。测出的距离即刻被作为厚度读数以彩色大字体形式显示在屏幕上。 新添特性 l 两种坚固耐用的新型探头设计：--平直型和直角型l 可更换防磨帽--标准型、凿尖型及加强型防磨帽l 更多的目标选择--3/16和1/4英寸的目标磁珠--目标钢线l 更大的厚度测量范围，可达25.4毫米l 更大的彩色VGA显示l RS-232、USB和VGA输出l 快速测量更新率：60 Hzl 可编辑的密码式仪器锁定方式l 设计符合IP67标准l 容量扩充了的字母数字式数据记录器l 保存校准文件，并可调用所存储的校准文件l 新型台式机身结构，带有改进的仪器支架l 可将文件以.txt和CSV格式导出到MicroSD卡中l 新附件盒（校准盒）--标准试块，厚度可达9.1毫米--扩展的范围，可达25.4毫米--目标圆盘盒--目标钢线盒l 带状图视图 带有统计数据的带状图视图两种新型探头设计，带有可替换防磨帽 Magna-Mike提供平直型和直角型两种磁探头。这两种探头都配有可替换防磨帽，从而加强了探头的耐久性，降低了更换探头的费用。 可拆卸标准防磨86PR1-WC 可拆卸加强型防磨帽86PR1-EWC 可拆卸凿尖型防磨帽86PR1-CWC 测量的厚度范围在0.001毫米到25.4毫米之间 Magna-Mike为用户提供了更多的目标选项（6个不同的目标钢珠、2个目标圆盘以及1个目标钢线），以加强仪器的测量性能。 目标最小厚度最大厚度带有标准防磨帽时的精度基本校准多点校准1/16英寸（1.58毫米）钢珠（80TB1）0.0001英寸（0.001毫米）0.080英寸（2.03毫米）4%3%1/8英寸（3.17毫米）钢珠（80TB2）0.0001英寸（0.001毫米）0.240英寸（6.1毫米）4%2%3/16英寸（4.76毫米）钢珠（80TB3）0.0001英寸（0.001毫米）0.360英寸（9.1毫米）3%1%1/4英寸（6.35毫米）钢珠（80TB4）0.0001英寸（0.001毫米）0.360英寸（9.1毫米）3%1%新添3/16英寸（4.76毫米）磁珠（86TBM3）0.160英寸（4.06毫米）0.750英寸（19.05毫米）3%1%新添1/4英寸（6.35毫米）磁珠（86TBM4）0.160英寸（4.06毫米）1.00英寸（25.4毫米）3%1%0.500英寸（12.7毫米）平沿圆盘（80TD1）0.0001英寸（0.001毫米）0.360英寸（9.1毫米）3%2%0.250英寸（6.35毫米）V型沿圆盘（80TD2）0.0001英寸（0.001毫米）0.240英寸（6.0毫米）3%2%新添直径为0.045英寸（1.14毫米）的钢线（86TW1）0.160英寸（4.06毫米）0.500英寸（12.7毫米）3%2% 注释：测量误差 = ± [（精度× 厚度） + 0.0001英寸]测量误差 = ± [（精度× 厚度） + 0.003毫米]内置字母数字式数据记录器 Magna-Mike装有一个基于文件的扩展型字母数字式数据记录器，用于方便地存储和传输厚度读数。 数据记录器可以下述4种标准文件格式存储厚度读数：增量型、序列型、带自定义点的序列型，及两维栅格型。 l 可使用WINXL直接将数据以单独发送形式或文件发送形式传送到Excel电子数据表中l 将数据发送到其它SPC程序中l USB和RS-232两个输出l 将文件以.txt格式或CSV格式导出到可插拔MicroSD卡中l 创建机载报告直接与Excel电子数据表连接 Magna-Mike 8600带有RS-232和USB输出，可使仪器将数据直接传送到Excel电子数据表中。内置WINXL接口程序可以单独发送形式或文件发送形式传送厚度读数。 WINXL接口程序

华中区销售工程师 周钟平电话：邮箱： 霍尔效应测试系统依据范德堡法测量材料的电运输性能参数：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。霍尔效应测试系统产品特点自主知识产权产品。采用高精密度恒流源和电压表，确保仪器测试的良好准确度和高稳定性，性能优越。自动控制磁场方向的改变，更加方便准确。样品装夹方式快速方便，且使用能够解决欧姆接触的样品芯片。产品工业外观采用一体化、精密化设计，融入人性化的设计理念，不仅赏心悦目而且操作方便。智能化的用户界面操作简单，功能齐全的软件平台带给客户友好的操作体验，使测试过程更加方便快捷。霍尔效应测试系统测试实例山东大学钛酸锶陶瓷样品测试结果太原理工硅化镁样品测试结果霍尔效应测试系统技术参数型号HET-RTHET-HT磁场强度6800Gs5000Gs磁场稳定性±2％/每年温度范围RT100K~600K（可连续变温）温控精度\±0.5K输出电流100pA-100mA迁移率1-107cm2/Volt-sec阻抗10-6 -107?CM载流子浓度107 -1021cm-3样品测量板样品边长5-20mm，厚度10nm-3mm样品边长5-15mm，厚度10nm-1mm主机尺寸570x545x380，单位mm\重量50kg80kg霍尔效应测试系统技术原理　　采用范德堡法测量材料的霍尔系数和电阻率。范德堡法可测量任意形状、厚度（d）均匀的薄片样品的霍尔系数和电阻率，样品和四个电极联接，相邻的电极通入电流，在另一对电极之间测量电位差，利用电极1、2和2、3通入电流分别做两次测量，测得电阻RA和RB，然后根据范德堡公式推导出样品的电阻率ρ和R构成如下关系：　　在垂直样品的磁场（感应强度B）作用下，电流通过样品的一对不相邻电极，如由电极1到电极3，测得电极2、4之间的电位差V2,4 （VH），可计算出霍尔系数。

一、产品概述：霍尔效应测试仪是一种用于测量材料霍尔效应的仪器，主要用于评估半导体和导体的电学特性。该设备能够准确测量材料在外部磁场下的电导率、霍尔电压和载流子浓度等参数，广泛应用于材料科学和电子工程领域。二、设备用途/原理：设备用途霍尔效应测试仪主要用于半导体材料的研究与开发、电气元件的性能测试以及材料的电学特性评估。它帮助研究人员了解材料的载流子类型、浓度及迁移率，为新材料的设计和应用提供重要数据支持。工作原理霍尔效应测试仪的工作原理基于霍尔效应现象。当电流通过材料时，施加垂直于电流方向的磁场会在材料中产生霍尔电压。通过测量霍尔电压和已知的电流及磁场强度，仪器能够计算出材料的霍尔系数、载流子浓度和迁移率等电学参数。这一过程通常涉及精密的电流和磁场控制，以确保测量的准确性和重复性。三、主要技术指标：1. 系统功能：用于测量半导体材料的电阻率/电导率、流动性、散装/片状载体浓度、掺杂类型、霍尔系数、磁阻、垂直/水平阻力比的半导体高性能霍尔系统。模块化设计理念，允许轻松升，该系统适用于各种材料，包括硅和化合物半导体和金属氧化物膜等2. 该系统具有低电阻率和高电阻率测量功能，具有双重温度功能和一个可选的低温恒温器，可扩展该系统温度范围从90K到500K3. 方块电阻量程：10-4 Ω/sq ~ 106Ω/sq4. 载流子浓度量程：106 ~ 1021 cm-35. 载流子迁移率量程：1 ~ 107 cm6. 四个微调探针座，探针直接形成ohm接触，无需焊线或制作PCB板7. 大样品测量直径：25mm

霍尔效应测试仪　　霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 Hall8800霍尔效应测试仪介绍　　该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。　　主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则　　仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。　　除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。　　Hall8800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。　　目前广泛应有于半导体厂商。　　主要特点　　1、高精密度电流源　　输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。　　2、高精密度电表　　使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。　　3、外型精简、操作简单　　外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。　　4、I-V曲线　　采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。　　5、单纯好用之操作画面　　使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。　　6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。　　技术参数　　磁场强度：0.65T/1T 　　常温和液氮温度(77K)下测量 　　输出电流：2nA-100mA 　　迁移率(cm2/Volt-sec):1-107　　阻抗:10-6 to 107　　载流子浓度(cm-3):107 - 1021　　样品夹具：　　Hall8800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)；　　测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)　　仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm　　仪器重量：6kg

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美国 KRI 霍尔离子源 eH 400上海伯东代理美国原装进口 KRI 霍尔离子源 eH 400 低成本设计提供高离子电流, 霍尔离子源 eH 400 尺寸和离子能量特别适合中小型的真空系统, 可以控制较低的离子能量, 通常应用于离子辅助镀膜, 预清洗和低能量离子蚀刻.尺寸: 直径= 3.7“ 高= 3”放电电压 / 电流: 50-300eV / 5a操作气体: Ar, Xe, Kr, O2, N2, 有机前体KRI 霍尔离子源 eH 400 特性• 可拆卸阳极组件 - 易于维护 维护时, 限度地减少停机时间 即插即用备用阳极• 宽波束高放电电流 - 均匀的蚀刻率 刻蚀效率高 高离子辅助镀膜 IAD 效率• 多用途 - 适用于 Load lock / 超高真空系统• 高效的等离子转换和稳定的功率控制KRI 霍尔离子源 eH 400 技术参数:型号eH 400 / eH 400 LEHO供电DC magnetic confinement - 电压40-300 V VDC - 离子源直径~ 4 cm - 阳极结构模块化电源控制eHx-3005A配置- - 阴极中和器Filament, Sidewinder Filament or Hollow Cathode - 离子束发散角度 45° (hwhm) - 阳极标准或 Grooved - 水冷前板水冷 - 底座移动或快接法兰 - 高度3.0' - 直径3.7' - 加工材料金属 电介质 半导体 - 工艺气体Ar, Xe, Kr, O2, N2, Organic Precursors - 安装距离6-30” - 自动控制控制4种气体* 可选: 可调角度的支架 SidewinderKRI 霍尔离子源 eH 400 应用领域:• 离子辅助镀膜 IAD• 预清洁 Load lock preclean• In-situ preclean• Low-energy etching• III-V Semiconductors• Polymer Substrates 1978 年 Dr. Kaufman 博士在美国创立 Kaufman & Robinson, Inc 公司, 研发生产考夫曼离子源 Gridded 和霍尔离子源 Gridless. 美国考夫曼离子源历经 40 年改良及发展已取得多项专利. 离子源广泛用于离子清洗 PC, 离子蚀刻 IBE, 辅助镀膜 IBAD, 离子溅射沉积 IBSD 领域, 上海伯东是美国考夫曼离子源 (离子枪) 中国总代理.若您需要进一步的了解 KRI 霍尔离子源, 请参考以下联络方式 上海伯东: 叶女士 台湾伯东: 王女士T: +86-21-5046-3511 ext 109 T: +886-3-567-9508 ext 161 F: +86-21-5046-1490 F: +886-3-567-0049 M: +86 1391-883-7267 M: +886-939-653-958上海伯东版权所有, 翻拷必究！

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 Hall8686可说是一套功能强大、应用广泛的系统，Hall8686是在Hall8800的基础上增加了温度控制的功能，成为部分高端科研客户的理想选择。SWIN一直秉承平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。目前广泛应有于台湾半导体厂商。主要特点1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达1nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。技术参数磁场强度：0.53T 温度测试范围：77K-423K，77K-623K可选， 温度准确度+/-0.5度；输出电流：1nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-5 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品尺寸：5-15mm，厚度1mm样品夹具：Hall8686弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：400*360*200 mm仪器重量：15kg

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 Hall8686可说是一套功能强大、应用广泛的系统，Hall8686是在Hall8800的基础上增加了温度控制的功能，成为部分高端科研客户的理想选择。SWIN一直秉承平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。目前广泛应有于台湾半导体厂商。主要特点1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达1nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。技术参数磁场强度：0.53T 温度测试范围：77K-423K，77K-623K可选， 温度准确度+/-0.5度；输出电流：1nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-5 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品尺寸：5-15mm，厚度1mm样品夹具：Hall8686弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：400*360*200 mm仪器重量：15kg

双功能测厚仪DUALSCOPE FMP150菲希尔DualScope FMP150配有彩色可触摸屏的，可无损测量几乎所有金属上涂层的型手持式仪器，Windows CE 操作系统，带有图形化操作界面以及用户自定义的文件和文件夹结构大容量内存，可存储数千个有不同校准的应用程式全面的评估和统计功能以及支持图形化显示数据，例如 FDD。提供的电脑软件 FISCHER DataCenter 具有以下功能：传输和保存测量值，全面的统计和图形化评估，简便生成并打印个人检测报告 各种探头型号可选，包括了许多为zui复杂测量应用而设计的特殊探头Fischer型手持式触屏测厚仪（配用标准探头i）：DualScope FMP100 + Probe FD10DualScope FMP150 + Probe FD10典型应用领域：电镀行业： 非磁性材料涂层的测量， 如钢铁上的锌、铬、铜、锡镀层涂料制造业： 钢或铝、铜、黄铜上的涂料、油漆、塑胶汽车工业： 使用空腔探头对汽车车身内部的涂层进行测量化学工业： 钢制容器中的瓷漆航空： 铝上的阳极氧化膜快速测量钢铁上的铜和铬涂层，例如压力辊（凹版圆筒）上的镀层测量铁上的较厚导电镀层的厚度或非铁磁金属基材上的镍镀层厚度型号：DualScope FMP150测厚仪运转灵活一台仪器具有三种测量方法（电涡流法、磁感应和霍尔效应）。 采用霍尔效应，扩展了可测量范围。 所有模块都根据 DIN EN ISO 2178、 ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 标准进行测量

巴克霍尔兹压痕仪是检测仪器，用于色漆、清漆的单层涂膜或多层涂膜的压痕试验。此压痕仪仅用于塑性变形的表面测量抗压力。当使用压痕仪在规定条件下施压涂膜时，即可形成压痕长度。以压痕长度倒数的函数表示抗压痕性试验结果。当要求涂膜的性能（抗压痕性）提高时，抗压痕性值就增大。使用前务必仔细阅读说明书。并由专业实验人员操作，以避免操作不当引起的伤害。如需了解更多资料请与我公司客服人员联系。巴克霍尔兹压痕仪由上海荣计达仪器科技有限公司提供，设备质保期一年，一年内产品如有质量问题，供方负责免费维修。如果因操作不当或者人为损坏，我公司亦应提供维修、更换服务，由此产生的费用我公司会酌情收取。巴克霍尔兹压痕仪技术参数1、 压痕仪整个装置重1000±5g；2、 压痕仪上的有效负荷重500±5g；3、 读数显微镜：a、放大倍数20倍； b、附带光源入射角大于60°； c、读数精度0.1mm。结构1、 压痕装置它是由矩形金属块、硬质工具钢制的具有尖锐刀刃金属轮、以及两个尖脚所组成。2、 测量装置是由一个20倍读数显微镜，并附有大于60°的照明，以产生在压痕长度上一个影像。1、光源 2、显微镜 3、压痕处 4、漆膜 5、测试板 6、影像巴克霍尔兹压痕仪使用方法1、通常具备的要求a 、在一个硬的平整无扭曲、表面无可见隆起的底材上；b 、在测试负荷下，底材必须不变形；c 、在测试期间，漆膜一般表现塑性变形，而不是弹性变形；d 、漆膜必须在压痕装置的负荷下，膜厚仍保持至少10um的厚度；e 、漆膜必须均匀、光滑和清洁。2、取样按GB3186规定进行。3、试板按GB9275—88中第5条的要求制做。试验步骤（1）试验环境条件除非另有规定，试验应在温度23±2°C；相对湿度（50±5）%的条件下进行。（2）压痕长度测定a 、将试板漆膜朝上，放在稳固的试验台平面上；b 、将压痕器轻轻地放在试板适当的位置上；放时应首先使装置的脚与试板接触，然后小心地放下压痕器。可先在试验压痕的位置上做记号，以便压后重新找到压痕。放置30±1s后拾起装置离开试板时，应先是压痕器，后是装置的脚。c 、除非另有规定，移去压痕器后35±5s期间内，用显微镜放在测定的位置上，测定压痕产生的影像长度以毫米表示，精确到0.1mm，记录其结果。d 、在同一试板上的不同部位进行5次试验，计算其算术平均值。巴克霍尔兹压痕仪抗压痕性的计算a 、将平均值数字修约成最近似表中某一栏的值，用该压痕长度舍入值查表来得到抗压痕性。b 、通过下式计算抗压痕性：100/L 中式：L—压痕长度mmQHY巴克霍尔兹压痕试验仪注意事项1、测量使用后应将仪器擦干净放回包装盒内。2、仪器应放在干燥处。3、螺口聚光灯泡2..2V，0.2A为易损件。4、每次使用后应将手电筒中的电池（自备）拆下

ZH-02霍尔流速计/松装密度仪ZH-02霍尔流速计是根据GB1482-2010-T金属粉末流动性的测定【标准漏斗法(霍尔流速计代替GB1479-84、 GB1482-84标准规范制作。用于测试金属粉末和非金属粉末的流速和松装密度. 漏斗材料有分黄铜和不锈钢【黄铜容易氧化,不锈钢耐磨】本方法仅适用于能自由流过孔径为2.5mm或5.0mm标准漏斗的粉末。本标准的其他部分规定了不能通过孔径为5.0mm标准漏斗的粉末松装密度测定方法。原理:粉末从漏斗孔按一定高度自由落下充满杯子。在松装状态下，以单位体积粉末的质量表示粉末的松装密度。本标准等效采用ISO 3923/1—1979《金属粉末松装密度的测定 第1部分漏斗法》。装置结构1、漏斗：标准漏斗小孔直径d有两种规格，一种是直径2.5 mm；一种是直径5.0 mm 备注：漏斗孔径2.5mm测试粉末的流速 漏斗孔径5.0mm测试粉末松装密度2、漏斗角度：60度3、圆柱杯：容积25±0.05 cm3,内经为31±1mm。4、杯子和漏斗的制作：杯子和漏斗应由非磁性耐腐蚀的金属材料制成，且具有足够的壁厚和硬度，以防变形和过度磨损，通常选用黄铜材料或是不锈钢材料制作。漏斗和杯子的内表面要仔细抛光。5、支架和底座：支架用于固定漏斗。底座必须水平、稳固，不得振动，供安装支架和杯子使用。漏斗小孔底部和杯子上部之间的距离为25mm，可用定位块来调节，漏斗和杯子必须同心。5、天平（用户自备）:要有足够的测量范围，称量试样能精确到0.01g。标准配件：①安装支架②漏斗（根据实际情况）③25ml量杯④溢出盘/接收器⑤高度定位块测试松装密度的步骤：用天平测量一下量杯的重量W1→用手堵住漏斗,倒入一定量的粉末,然后迅速放开手,让粉末自由流出,直到完全溢出量杯→用不锈钢尺子刮平溢出的粉末,然后在测量一下此时量杯和粉末的重量W2→然后通过计算可以得出松装密度等于(W2-W1)除以标准体积量杯V=25ml测试流速的步骤: 称量50g样品,精确到±0.1g→用手堵住漏斗底部小孔，把称量好的50g样品倒进漏斗中→ 瞬间放手让粉末开始自由落下并开始计时，漏斗中粉末一经流完，立即停止计时T→然后通过公式计算50/T得出流速.

因产品配置不同, 价格货期需要电议, 图片仅供参考, 一切以实际成交合同为准KRI 霍尔离子源 eH 2000上海伯东代理美国原装进口 KRI 霍尔离子源 eH 2000 是一款更强大的版本, 带有水冷方式, 他具备 eH 1000 所有的性能, 低成本设计提供高离子电流, 特别适合大中型真空系统. 通常应用于离子辅助镀膜, 预清洗和低能量离子蚀刻.尺寸: 直径= 5.7“ 高= 5.5”放电电压 / 电流: 50-300V / 10A 或 15A操作气体: Ar, Xe, Kr, O2, N2, 有机前体KRI 霍尔离子源 eH 2000 特性&bull 水冷 - 与 eh 1000 对比, 提供更高的离子输出电流&bull 可拆卸阳极组件 - 易于维护 维护时, 最大限度地减少停机时间 即插即用备用阳极&bull 宽波束高放电电流 - 高电流密度 均匀的蚀刻率 刻蚀效率高 高离子辅助镀膜 IAD 效率&bull 多用途 - 适用于 Load lock / 超高真空系统 安装方便&bull 等离子转换和稳定的功率控制KRI 霍尔离子源 eH 2000 技术参数型号eH 2000 / eH 2000L / eH 2000x02/ eH 2000 LEHO供电DC magnetic confinement - 电压40-300V VDC - 离子源直径~ 5 cm - 阳极结构模块化电源控制eHx-30010A配置- - 阴极中和器Filament, Sidewinder Filament or Hollow Cathode - 离子束发散角度 45° (hwhm) - 阳极标准或 Grooved - 水冷前板水冷 - 底座移动或快接法兰 - 高度4.0' - 直径5.7' - 加工材料金属电介质半导体 - 工艺气体Ar, Xe, Kr, O2, N2, Organic Precursors - 安装距离16-45” - 自动控制控制4种气体 * 可选: 可调角度的支架 SidewinderKRI 霍尔离子源 eH2000 应用领域&bull 离子辅助镀膜 IAD&bull 预清洗 Load lock preclean&bull 预清洗 In-situ preclean&bull Direct Deposition&bull Surface Modification&bull Low-energy etching&bull III-V Semiconductors&bull Polymer Substrates1978 年 Dr. Kaufman 博士在美国创立 Kaufman & Robinson, Inc 公司, 研发生产考夫曼离子源, 霍尔离子源和射频离子源. 美国考夫曼离子源历经 40 年改良及发展. 离子源广泛用于离子清洗 PC, 离子蚀刻 IBE, 辅助镀膜 IBAD, 离子溅射镀膜 IBSD 领域, 上海伯东是美国考夫曼离子源中国总代理.若您需要进一步的了解 KRI 霍尔离子源, 请联络上海伯东上海伯东版权所有, 翻拷必究！

霍尔效应测试系统 HET 是依据范德堡法测量材料的电运输性能参数:载流子浓度迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括 Si、ZnO、SiGe、Sic，GaAs，InGaAs，InP，GaN(N型&P型均可测量)，广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。产品特点-采用高精密度恒流源和电压表，确保仪器测试的良好准确度和高稳定性，性能优越 -自动控制磁场方向的改变，更加便捷准确 -样品装夹快速方便，且使用能够解决欧姆接触的样品芯片 -产品采用一体化、精密化设计，融入人性化的设计理念，不仅测量精确而且操作方便 -用户界面操作简单，功能齐全的软件平台带给客户友好的操作体验，使测试过程更加方便快捷应用功能-载流子类型鉴定:通过测量霍尔系数，可以确定电流携带者的类型，是正电荷的空穴还是负电荷的电子，从而获得半导体或导体的电子结构和能带特性 -载流子浓度测量:霍尔系数与载流子浓度之间存在关系，因此通过测量霍尔系数，可以估计材料中载流子的浓度 -迁移率评估:霍尔系数还可以用来计算载流子的迁移率，即电荷载流子在材料中移动的能力，从而对材料的电导率和电子迁移性等方面的深入研究 -材料电性能评估:通过了解材料的电子结构、载流子类型、浓度和迁移率等信息，可以更全面地评估材料的电性能，为电子器件和电路设计提供重要参考

1.设备名称：霍尔效应测试仪2.功能描述：测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数：3-1测试范围：Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场：3-2-1磁场强度：0.5T3-2-2磁场类型：电磁体3-2-3磁场均匀性：磁场不均匀性＜±1 %10年内磁场变化＜±0.2%3-3温 度：3-3-1温度区域：77K和300K3-4电阻率范围：1 μ Ohm*cm ~10 M Ohm*cm 3-5电阻范围：0.1 m Ohms ~10 G Ohms3-6载流子浓度：107~1021cm-33-7迁移率：10-2~107 cm2/volt*sec3-8输入电流：3-8-1电流范围：1000 pA~10mA3-8-2电流解析度：1 pA (lowest range)3-8-3电流精度：2%3-9输入电压：3-9-1电压范围：±10V3-9-2电压分辨率：1μV4.仪器特点：4-1Automatic or manual current selection自动或手动模式(电流控制磁场模式)4-2Automatic contact check自动接触检查(欧姆接触)4-3Routine and enhanced software常规和增强软件4-4Differential resistivity measurements by I/V-curvesI/V曲线测试电阻率差异4-5Electromagnet电磁体4-6Misalignment voltage compensation失调电压补偿4-7Correction of slow sample drift voltage, especially for ZnO,修正慢样品漂移电压，特别是氧化锌4-8Automatic field calibration自动现场标定4-9Large concentration and resistivity range大浓度和电阻率范围4-10Flexible, modular hardware灵活的模块化硬件4-11Support of various magnets, for example BioRad HL 5200支持多样磁场4-12Support of various temperature controllers支持各种温度控制器(支持客户自行升级变温系统)4-13Van der Pauw and bar shape (bridge-type) Hall samples支持范德堡和霍尔巴法测试霍尔5硬件5-1The standard system consists of a bench top electronic system, a small magnet and a sample stage for room temperature and LN2 measurements.标准系统包含电子测试系统、磁场和两个温度区域的测试平台（室温和液氮温度）5-2The electronics include the current source, the voltage measurement part, the contact switching module, the magnet power supply and the IEEE or RS232 interface. It is completely micro processor controlled.电子测试系统包括由单片机控制的电流源、电压测试、接触开关模块、磁场电源、IEEE或RS232接口5-3The contact switching module is designed to allow all possible measurement configurations.接触开关模块支持所有用户用于其他的配置(用户可以采用制冷机做变温霍尔测试)5-4The current source has adjustable limits for voltage and/or power. {+++}电流源具有可调电压和/或电源的限制5-5Voltage measurement provides different input amplifiers optimized for either low current or low voltage applications.电压测量提供了不同的输入放大器或低电流或低电压应用的优化。6软件界面

仪器简介：该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 VDP6800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。 目前广泛应有于大学，研究所和半导体厂商。技术参数：磁场强度：0.65T/1T 常温和液氮温度(77K)下测量 输出电流：2nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-6 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品夹具： VDP6800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm 仪器重量：6kg主要特点：1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。7、可与四点探针公用系统

因产品配置不同, 价格货期需要电议, 图片仅供参考, 一切以实际成交合同为准美国 KRI 霍尔离子源 Gridless eH 系列 美国 KRI 霍尔离子源 eH 系列紧凑设计, 高电流低能量宽束型离子源, 提供原子等级的细微加工能力, 霍尔离子源 eH 可以有效地以纳米精度来处理薄膜及表面, 多种型号满足科研及工业, 半导体应用. 霍尔离子源高电流提高镀膜沉积速率, 低能量减少离子轰击损伤表面, 宽束设计有效提高吞吐量和覆盖沉积区. 整体易操作, 易维护. 霍尔离子源 eH 提供一套完整的方案包含离子源, 电子中和器, 电源供应器, 流量控制器 MFC 等等可以直接整合在各类真空设备中, 例如镀膜机, load lock, 溅射系统, 卷绕镀膜机等.美国 KRI 霍尔离子源 eH 特性 无栅极 高电流低能量 发散光束 45可快速更换阳极模块 可选 Cathode / Neutralize 中和器美国 KRI 霍尔离子源 eH 主要应用 辅助镀膜 IBAD溅镀&蒸镀 PC表面改性、激活 SM沉积 (DD)离子蚀刻 LIBE光学镀膜Biased target ion beam sputter deposition (BTIBSD) Ion Beam Modification of Material Properties (IBM)例如1. 离子辅助镀膜及电子枪蒸镀2. 线上式磁控溅射及蒸镀设备预清洗3. 表面处理4. 表面硬化层镀膜5. 磁控溅射辅助镀膜7. 偏压离子束磁控溅射镀膜霍尔离子源 eH 系列在售型号:型号eH400eH1000eH2000eH3000eH Linear中和器F or HCF or HCF or HCF or HCF阳极电压50-300 V50-300 V50-300 V50-250 V50-300 V离子束流5A10A10A20A根据实际应用散射角度4545454545气体流量2-25 sccm2-50 sccm2-75 sccm5-100 sccm根据实际应用本体高度3.0“4.0“4.0“6.0“根据实际应用直径3.7“5.7“5.7“9.7“根据实际应用水冷可选可选是可选根据实际应用F = Filament HC = Hollow Cathode xO2 = Optimized for O2 current 1978 年 Dr. Kaufman 博士在美国创立 Kaufman & Robinson, Inc 公司, 研发生产考夫曼离子源, 霍尔离子源和射频离子源. 美国考夫曼离子源历经 40 年改良及发展. 离子源广泛用于离子清洗 PC, 离子蚀刻 IBE, 辅助镀膜 IBAD, 离子溅射镀膜 IBSD 领域, 上海伯东是美国考夫曼离子源中国总代理.若您需要进一步的了解 KRI 霍尔离子源, 请查看官网或咨询叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

HSPM-07RT室温永磁铁霍尔测试系统由高精度霍尔测试仪、室温永磁铁夹具平台、测试电脑及软件组成，可在固定磁场下实现霍尔效应的测量，系统结构桌面式结构设计、体积小，测试效率高，是实验室快速检测和工厂质检的不二选择。系统有77K液氮单点选件，提供样品在77K低温下完成霍尔效应测量。 系统采用科学合理的共地设计，内部电学信号线全部采用三同轴线缆，保障了高阻半导体材料的测量，可以准确测量出样品的的载流子浓度迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数。室温永磁铁夹具平台，可以轻松移动和翻转磁场，能同时满足快速霍尔和直流霍尔测试，采用PCB插拔样品卡设计，兼顾范德堡和霍尔巴样品。系统特点：&bull 磁场优于 0.7T（室温测量）；磁场优于0.5T（液氮单点选件）&bull 永磁铁通过滑轨移动，可以轻松翻转，同时兼顾快速霍尔和直流霍尔测试&bull 简单的插拔样品卡设计，可实现快速方便的样品处理，兼顾霍尔巴和范德堡样品的霍尔测试&bull 样品卡包含弹簧铍铜探针四探针样品卡、折弯钨探针四探针样品卡和焊接样品卡，满足不同样品测试需求&bull 科学合理的共地和三同轴结构设计，保障了系统高阻测试性能，电阻可至100GΩ&bull 测试腔有气路阀门，可通入氮气、氩气进行保护，也可抽取真空&bull 可增添77K低温选件，测试液氮单点温度下的霍尔参数测试材料：&bull 热电材料：碲化铋、碲化铅、硅锗合金等&bull 光伏材料/太阳能电池：A硅（单晶硅、非晶硅）、CIGS（铜铟镓硒）、碲化镉、钙钛矿等&bull 有机材料：OFET、OLED等&bull 透明导电金属氧化物TCO：ITO、AZO、ZnO、IGZO（铟镓锌氧化物）等&bull 半导体材料：SiGe、InAs、SiC、InGaAs、GaN、SiC、InP、ZnO、Ga2O3等&bull 二维材料：石墨烯、BN、MoS2等参数和指标：主机型号HSPM-07RT标准电阻范围10mΩ-100GΩ迁移率 10-2 -106 cm2/VS载流子浓度 8x102 -8x1023/cm3霍尔电压分辨率为1μV电压激励范围100nV ~ 10V电流激励范围10pA ~ 100mA测试方法范德堡或霍尔巴样品测试四探针样品卡样品尺寸：25mm*25mm焊接样品卡样品尺寸：10mm*10mm可选样品尺寸：50mm*50mm样品接触方式手动探针扎针或焊接样品温度室温，可选77K单点样品环境气氛（氮气或氩气）或真空磁场0.7T（室温）0.5T（液氮单点）永磁铁运动方式手动水平移动及翻转运动磁铁间隙20mm（室温）30mm（77K单点选件）磁场均匀区10mm*10mm*10mm优于5%

美国MMR公司，与斯坦福大学合作开发了专利的致冷器，其具有世界上最小的震动(埃米级别)、宽控温范围(70~730K)及高温度稳定性(0.1K)，并将其应用在以下测量系统，提高了系统的整体性能。 各个系统均采用模块设计，客户可根据实际要求配置系统，也方便日后升级。其主要客户有Standford Univ, University of Cambridge, AT&&Bell Labs, NASA, IBM, Intel, AMD，中科院等。霍尔效应测量系统主要用于研究光电材料的电学特性，利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。整套系统主要包括控制器、样品室、磁场三部分。主要参数：1. 样品固定方式：弹簧探针或引线治具2. 温度：70~730K；80~580K；70~580K；80~730K；室温~730K（可选）3. 磁场：5000Gauss永磁铁，5000Gauss电磁场， 1.4T电磁场（可选）4. 温度稳定度：=0.1K5. 温度响应：1K/sec 6. 致冷片：10X14 mm7. 电阻率：10-4~1013 Ohm*cm8. 载流子迁移率：1~107 cm2/volt*sec9. 载流子浓度：103~1019cm-310. 电流范围：1 pA~100mA11. 电压范围：+/-2.4V，最小可测到6X10-6 V12. 电阻范围：10 m Ohms~ 10G OhmsTel: 86 21 62083715

1.设备名称：霍尔效应测试仪2.功能描述：测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数：3-1测试范围：Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场：3-2-1磁场强度：0.45T 永磁体3-2-2磁场类型：永磁体3-2-3磁场均匀性：磁场不均匀性＜±1 %10年内磁场变化＜±0.2%3-3温 度：3-3-1温度区域：77K(液氮温度)或室温3-4电阻率范围：1 μ Ohm*cm ~10 M Ohm*cm3-5电阻范围：0.1 m Ohms ~10 G Ohms3-6载流子浓度：107~1021cm-33-7迁移率：10-2~107 cm2/volt*sec3-8输入电流：3-8-1电流范围：1000 pA~10mA3-8-2电流解析度：2.5 pA (lowest range)3-8-3电流精度：2%3-9输入电压：3-9-1电压范围：±10V3-9-2电压分辨率：1μV4.仪器特点：4-1Automatic contact check自动接触检查(欧姆接触)4-2Routine and enhanced software常规和增强软件4-3Differential resistivity measurements by I/V-curvesI/V曲线测试电阻率差异4-4Misalignment voltage compensation失调电压补偿4-5Correction of slow sample drift voltage, especially for ZnO,修正慢样品漂移电压，特别是氧化锌4-6Automatic field calibration自动现场标定4-7Large concentration and resistivity range大浓度和电阻率范围4-8Flexible, modular hardware灵活的模块化硬件4-9Support of various magnets, for example BioRad HL 5200支持多样磁场4-10Support of various temperature controllers支持各种温度控制器(支持客户自行升级变温系统)5硬件5-1The standard system consists of a bench top electronic system, a small magnet and a sample stage for room temperature and LN2 measurements.标准系统包含电子测试系统、磁场和两个温度区域的测试平台（室温和液氮温度）5-2The electronics include the current source, the voltage measurement part, the contact switching module and the IEEE or RS232 interface. It is completely micro processor controlled.电子测试系统包括由单片机控制的电流源、电压测试、接触开关模块、IEEE或RS232接口5-3The contact switching module is designed to allow all possible measurement configurations.接触开关模块支持所有用户用于其他的配置(用户可以采用制冷机做变温霍尔测试)5-4The current source has adjustable limits for voltage and/or power. {+++}电流源具有可调电压和/或电源的限制5-5Voltage measurement provides different input amplifiers optimized for either low current or low voltage applications.电压测量提供了不同的输入放大器或低电流或低电压应用的优化。6软件

XF-02霍尔流速计是根据GB1482-2010-T金属粉末流动性的测定【标准漏斗法(霍尔流速计代替GB1479-84、 GB1482-84标准规范制作。用于测试金属粉末和非金属粉末的流速和松装密度. 漏斗材料有分黄铜和不锈钢【黄铜容易氧化,不锈钢耐磨】本方法仅适用于能自由流过孔径为2.5mm或5.0mm标准漏斗的粉末。本标准的其他部分规定了不能通过孔径为5.0mm标准漏斗的粉末松装密度测定方法。原理:粉末从漏斗孔按一定高度自由落下充满杯子。在松装状态下，以单位体积粉末的质量表示粉末的松装密度。本标准等效采用ISO 3923/1—1979《金属粉末松装密度的测定 第1部分漏斗法》。霍尔流速计装置结构1、漏斗：标准漏斗小孔直径d有两种规格，一种是直径2.5 mm；一种是直径5.0 mm 备注：漏斗孔径2.5mm测试粉末的流速 漏斗孔径5.0mm测试粉末松装密度2、漏斗角度：60度3、圆柱杯：容积25±0.05 cm3,内经为31±1mm。4、杯子和漏斗的制作：杯子和漏斗应由非磁性耐腐蚀的金属材料制成，且具有足够的壁厚和硬度，以防变形和过度磨损，通常选用黄铜材料或是不锈钢材料制作。漏斗和杯子的内表面要仔细抛光。5、支架和底座：支架用于固定漏斗。底座必须水平、稳固，不得振动，供安装支架和杯子使用。漏斗小孔底部和杯子上部之间的距离为25mm，可用定位块来调节，漏斗和杯子必须同心。5、天平（用户自备）:要有足够的测量范围，称量试样能精确到0.01g。标准配件：①安装支架②漏斗（根据实际情况）③25ml量杯④溢出盘/接收器⑤高度定位块

霍尔效应是指当电流流动时，导体置于磁场中，导体片上会产生电压。霍尔效应传感器通过提供与磁通密度成正比的输出电压来测量或检测磁场。Lake Shore为各种应用提供一系列霍尔传感器，不仅仅局限于简单的磁场检测应用，例如编码器、非接触式开关和电子罗盘，也适用于现场测量应用。主要特征 ☛ 多种封装类型☛ 有效面积小☛ 单轴或三轴配置☛ 适用于极端环境（低温、辐射、真空）霍尔传感器是一种 4 引线装置。控制电流 (IC) 引线通常连接到一个电流源，如 Lake Shore 的121型。121型可提供多个与各种霍尔传感器兼容的固定电流值。 霍尔电压引线可直接连接到高阻抗电压表等读出仪器上，也可连接到电子电路上进行放大或调节。设备信号电平范围为微伏至数百毫伏。 霍尔传感器的输入与输出并不隔离。事实上，两个端口之间通常只存在输入电阻数量级的阻抗。为防止错误的电流路径导致较大的误差电压，电流供应必须与输出显示器或下游电子设备隔离。不同类型霍尔传感器性能对比 2DexInAs—stableInAs—sensitiveGaAs材料类型使用二维电子气（2DEG）结构的薄膜技术砷化铟块状材料，掺杂后具有高稳定性砷化铟块状材料，掺杂后具有高灵敏度砷化镓薄膜温度范围1 K* ~ 402 K (-272 °C* ~ 125 °C) * 低温版本在研发中1.5 K ~ 375 K (-271.5 °C ~ 102 °C)208 K ~ 373 K (-65 °C ~ 100 °C)233 K ~ 402 K (-40 °C ~ 125 °C)互换性好—灵敏度值范围窄、线性度优异、偏移电压小差—灵敏度范围足够大，需要了解平均灵敏度值差—灵敏度范围足够大，需要了解平均灵敏度值差—灵敏度范围足够大，需要了解平均灵敏度值坚固性好差差好Lake Shore 仪器兼容性F71 或 F41 特斯拉计选择即插即用传感器--完整的传感器校准和温度补偿功能，可提供与完整的高斯计探头相当的精度425 或 475 高斯计使用 HMCBL 电缆；仅使用单一灵敏度值完成现场转换，这意味着高斯计不进行线性和温度补偿425 或 475 高斯计使用 HMCBL 电缆；仅使用单一灵敏度值完成现场转换，这意味着高斯计不进行线性和温度补偿不兼容平面霍尔效应无，是测量未知方位场的理想选择显著，块状材料产生了足够的平面霍尔效应，因此只能精确测量已知方向的磁场显著，块状材料产生了足够的平面霍尔效应，因此只能精确测量已知方向的磁场部分，薄膜元件可能会出现少量的平面霍尔效应误差额定电流下的灵敏度50.5 ~ 52.5 mV/T5.5 ~ 11 mV/T55 ~ 125 mV/T110 ~ 280 mV/T灵敏度温度系数200 ppm/°C50 ppm/°C800 ppm/°C600 ppm/°C额定驱动电流1 mA100 mA100 mA1 mA典型输入电阻800 Ω2 Ω2 Ω750 Ω典型输入电阻温度系数0.7%/°C0.15%/°C0.18%/°C0.2%/°C最佳偏移电压（等效磁场）±25 µ V (0.5 mT)±50 µ V (4.5 mT)±75 µ V (0.6 mT)±2.8 mV (10 mT)

M91是一款全新的一体式霍尔分析仪，采用Lake Shore全新的FastHall测量专利技术（专利号：9797965和10073151），从根本上改变了霍尔效应的测量方式，在测量过程中无需翻转磁场，尤其是在使用强磁场超导磁体或测量极低迁移率材料时，可以实现更快、更精确的测量。同时，M91较短的测量窗口减少了样品因热漂移效应带来的误差，单向磁场测试模式消除了由于磁场对准引起的测量偏差，进一步提高了测量结果的准确性。M91 FastHall可以和任何类型的磁体搭配使用，尤其对于强磁场超导磁体研究平台。目前，M91已经推出了与PPMS系统联用的完整解决方案，显著提高了测量的精度、测量速度以及使用便利性，极大的拓宽了材料研究测试范围！M91主要特征 ☛ 全新的FastHall测试技术，测量过程中无需翻转磁场☛ 一体化设计☛ 可适配各种类型磁体☛ 低迁移率材料的测量速度可达传统方法的100倍☛ 通过最小化热漂移提高精度☛ 测试迁移率低至0.001 cm2/(V&bull s)☛ 标准电阻范围从0.5 mΩ~10 MΩ，可选200 GΩM91主要参数 霍尔测量FastHall方法（无需翻转磁场）范德堡法测量样品传统直流磁场测试方法范德堡法/Hall Bar法测量样品测试参数间接测试参数类型霍尔系数，霍尔迁移率，电阻率，载流子浓度迁移率范围0.001 ~ 106 cm2/Vs（FastHall方法）M91标准测试电阻范围10 mΩ ~ 10 MΩ M91+ M9-ADD-HR高阻选件10 mΩ ~ 200 GΩ 解决了传统霍尔测试中的问题 √ 对于低迁移率的材料，尤其是新型半导体材料（如光伏、热电和有机材料），传统的直流霍尔效应测试系统往往难以测量；√ 交流霍尔效应测试系统可以解决上述问题，但测量时间较长，且测试中因热漂移效应产生误差；√ FastHall技术解决了上述两个问题，可以在几秒钟内精确测量流动性极低的材料。更简单，更方便√ 所有测试模块在一个仪表内√ 自动选择最佳激励和测量量程√ 自动执行测量步骤√ 提供完整的霍尔分析√ 易于使用，易与现有实验室系统集成更好、更快的测量√ 使用FastHall测试无需反转磁场√ 低迁移率材料的测量速度可达传统方法的100倍√ 最大限度地减少热漂移，以提高测量精度更低成本√ 新搭建或快速升级现有系统√ 将先进的霍尔测量技术引进实验室√ 可与任意类型磁体一起使用

耐高压高灵敏度单极霍尔开关1. 规格说明商品名称耐高压高灵敏度单极霍尔开关（单极感应N极）感应方式磁铁感应电源电压5-24VDC检测距离有效检测距离0-10mm负载电流不超过40MA输出形式NPN三线常闭型输出状态无磁场时输出高电平，有磁场时输出低电平检测物体金属材料外接引线30cm外形规格M6×0.75，全螺纹，长度10mm接线方式红线正极，黑线负极，黄线信号，请勿接反典型应用无刷电机换向、流量传感器、位置传感器、速度传感器2. 详细参数（Ta=25℃，Vsup=5V）参数符号最小值典型值最大值单位电源电压VSUP3.8540V工作电流ISUP69mA输出电流Isink30mA输出上升时间Tr1us输出下降时间Tf1.5us工作点Bop306080Gauss释放点Brp104060Gauss回差Bhys102040Gauss工作温度Ta-40125℃3. 磁电转换特性该传感器设计用于北极响应。当磁通密度（B）大于工作点Bop时，输出以低电平，输出保持不变，直到磁通量（B）小于释放点Brp时，输出以高电平。该产品20元/只，100只起订。

台湾EMT7065霍尔效应仪 霍尔效应仪可以测量Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数。EMT7065霍尔效应仪运用先进的Keithley电子仪表，和我们在极端的条件下能够很好的整合一整套系统，我们的霍尔效应仪温度范围可以达到4K-1000K，磁场可以升级到9T。可以结合许多极端环境平台： 从4K到1000K温度不改变样品架制冷机温度可达到1000K宽泛的测量范围无需跟换腔体进行操作坚固设计并安装在冷却器的上端，换样品时不会接触到。许多标准的安装配置可用-可定制适合你的冷端或者样品架安装配置可以使用许多不同的封闭式和开放式循环制冷机提供高温系统以及温度控制器

测量包括：• 迁移率测试• DC HEMS: 10^6cm2/Vs to 10cm2/Vs• AC HEMS: 10cm2/Vs to 0.1cm2/Vs• 载流子浓度测试• 电阻率测试• 电阻测量• 低电阻范围 1uohm to 1Mohm• 宽电阻范围 1uohm to 100Gohm• 高电阻范围 1ohm to 100Gohm• 范德堡法测试范围• 霍尔巴法测试 磁帽:• 可更换帽• 标准25mm• 在0-130mm间距连续可调• 更大帽直径可选,50mm,75mm 电磁铁:• ±2.5T@100mmgapwith25mmpoleface• ±35V, ±70A电源• 磁场±IT@25mmpolegap• 线圈电阻: 0.5 ? (20°C)• 水冷温度选项:• 低温 3K-300K• 高温300K-1273K 纳米磁学高斯计:• 磁场扫描采用集成高斯计• 磁场校准采用霍尔探头• 高灵敏度的磁场测量• 所有参数可通过软件控制 样品架:• 4,6 or8范德堡或霍尔巴测试设计• 易于样品安装与弹簧连接• 5mmx5mm样品大小(提供更大选件)• 多个样品安装 控制器和软件:• 使用我们软件可逐层的进行迁移率分析• 基于C# 的全自动软件分析• 非常宽的温度测试范围,3-1,300K• 采用高斯计进行磁场的控制• 非常容易的进行范德堡霍尔巴方法样品测试• 提供软件终生升

FT-102霍尔流速计/松装密度测定仪（不锈刚材质）FT-102霍尔流速计 流动性和松装密度测量装置升级后增加如下功能：本品除配置定位角之外，配置调节平衡之水平仪装置，减少外部环境对测量结果的影响；漏斗和量杯都有定位装置，从而保证漏斗和量杯的中心在一条直线上；还装配高度测量尺固定于支架上。本仪器根据GB 1482-2010-T 金属粉末 流动性的测定 标准漏斗法(霍尔流速计)代替GB1479-84、 GB1482-84标准规范制作的规定设计、生产。其检测方法与结果和国际上通用的检测方法具有通用性。本产品也适用于类似粉末粉体流动性和松装密度之测量。本装置适用于用标准漏斗法测定金属粉末的流动性。凡能自由流过孔径为2.5mm标准漏斗的粉末，均可采用本装置。FT-102霍尔流速计/松装密度测定仪技术要求1 漏斗(小孔直径2.5mm和5.0mm各一个)漏斗不锈钢材料制成，且具有足够的壁厚和硬度，以防变形和过度磨损。2 支架、底座和接收量筒支架用以固定漏斗。底座用于安装支架和接收量筒，请调整水平、稳固且无振动。调整支架高度并用附带的扳手固定住，将漏斗安装到支架上。接收量筒（不锈钢盘）置于底座上，用来收集粉末。3 天平（用户自备） 称量100g；精度0.05g。4 秒表测量时间能够精确到0.01s。 5 量杯本装置配备一只容积为25ml的不锈钢量杯。用户可参照国标GB 1479-84的规定完成金属粉末松装密度的测定（漏斗法）。测试步聚1 称量50g一份的样品，精确到±0.1g。2 用手堵住漏斗底部小孔，把称量好的50g样品倒进漏斗中， 注意粉末必须充满漏斗下端整个小孔。3 瞬间当启开漏斗小孔并开始计时，漏斗中粉末一经流完，立即停止计时。4 记录漏斗中全部样品流完所需时间，并重复三次，取其算术平均值，时间记录精确到0.1s。注：如果当小孔启开时，粉末不流动，则可在漏斗上轻敲一下，以使粉末开始流动。但是，即使这样做了，粉末仍不流出或在测量过程中粉末停止流动，则应认为这种粉末不具有流动性。测试结果三份样品测量结果的算术平均值乘以漏斗的校正系数，以s/50g报出数据，报告数据精确到0.5s。 FT-102霍尔流速计/松装密度测定仪基本配置：架台：1套 ；漏 斗：不锈钢（Φ2.5mm、Φ5.0mm）各1只；量 杯 不锈钢（Φ31mm、25ml）1只 秒 表1只 溢料盘不锈钢1只 毛 刷1只 钢尺375px 1把 说明书；保修卡；合格证。

Lake Shore 8400系列霍尔效应测量系统结合了先进的交流和直流磁场霍尔效应测量方法，应用领域十分广泛。交流磁场测量选件非常适合测量传统直流场霍尔方法难以测量的新兴材料（迁移率低于1 cm2/Vs，包括半导体和电子材料，如光伏（太阳能电池）和热电材料、新的显示材料和有机电子材料等。8400系列霍尔效应测量系统提供了一个强大的测试平台，可以根据用户具体需求进行配置，包括变温选件、高电阻和低电阻选件以及光学通道等，极大程度上满足用户的测量需求，并大大简化实验过程。主要特征 ☛ 标准直流磁场测试迁移率范围：1 ~ 106 cm2/Vs☛ 可选交流磁场选件测试迁移率低至0.001 cm2/Vs☛ 可选变温范围15 K ~ 1273 K☛ 磁场最达2.2 T☛ 标准电阻范围：0.5 mΩ~10 mΩ，可选200 GΩ☛ 低阻选件电阻低至~0.5 μΩ可测量参数直接测量参数间接测量参数♢ 直流/交流磁场♢ 霍尔系数♢ 霍尔电压♢ 霍尔迁移率♢ 电阻率♢ 磁阻♢ 欧姆检查♢ 载流子类型♢ 四线法电阻♢ 载流子浓度♢ I-V曲线设备参数84048407DCACDCAC测量参数迁移率1 ~ 1 × 106 cm2/Vs1 × 10-3 ~ 1 × 106 cm2/Vs1 ~ 1 × 106 cm2/Vs1 × 10-3 ~ 1 × 106 cm2/Vs载流子浓度8 × 102 ~ 8 × 1023 cm-38 × 102 ~ 8 × 1023 cm-3电阻率1 × 10-5 ~ 1 × 105 Ω cm1 × 10-5 ~ 1 × 105 Ω cm电学测试参数*标准电阻测试范围读数的±0.5% ± 量程的0.5% :范德堡/Hall Bar方法0.5 mΩ ~ 10 MΩ 读数的±0.075% ± 量程的0.05% : 最大阻值 5 MΩ 范德堡/Hall Bar方法：0.5 mΩ to 10 MΩ 样品电阻小于100 Ω 时，噪声基300 nV RMS ；样品电阻大于100 Ω 时，噪声基300 nV RMS读数的±0.5% ± 量程的0.5% :范德堡/Hall Bar方法 0.5 mΩ ~ 10 MΩ 读数的±0.075% ± 量程的0.05% : 最大阻值 5 MΩ 范德堡/Hall Bar方法：0.5 mΩ to 10 MΩ 样品电阻小于100 Ω 时，噪声基300 nV RMS ；样品电阻大于100 Ω 时，噪声基300 nV RMS高阻选件配置读数的±0.25% :范德堡/Hall Bar方法：10 kΩ ~50 GΩ 读数的±1.5% :最大阻值100 GΩ 读数的±5% :最大阻值200 GΩ 范德堡/Hall Bar方法：10 kΩ to 8 GΩ 样品电阻大于10 MΩ 时，噪声基＜1250 nV RMS读数的±0.25% :范德堡/Hall Bar方法：10 kΩ ~50 GΩ 读数的±1.5% :最大阻值100 GΩ 读数的±5% :最大阻值200 GΩ 范德堡/Hall Bar方法：10 kΩ to 8 GΩ 样品电阻大于10 MΩ 时，噪声基＜1250 nV RMS低阻选件配置电阻0.1Ω , 低电阻模式的本底电压噪声为5 nV；标准电阻模式的本底电压噪声为150 nV；本底噪声与测量中使用的电流无关NA电阻0.1Ω , 低电阻模式的本底电压噪声为5 nV；标准电阻模式的本底电压噪声为150 nV；本底噪声与测量中使用的电流无关NA电流±1 pA ~ ±100 mA±1 pA ~ ±100 mA恒流输出电压100 V100 V环境（磁场和温度）室温下磁场大小**(25 mm [1 in] 极头间隙)1.67 T使用标准50 mm直径极头1.35 T选用100 mm直径极头1.18 T使用标准50 mm直径极头0.95 T选用100 mm直径极头2.08 T 使用标准100 mm直径极头2.23 T 选用 50 mm直径极头1.19 T使用标准100 mm直径极头1.30 T选用 50 mm直径极头变温下磁场大小**(50 mm [2 in] 极头间隙)0.89 T使用标准50 mm直径极头0.88 T选用100 mm直径极头0.63 T使用标准50 mm直径极头0.62 T选用100 mm直径极头1.44 T使用标准100 mm直径极头 0.68 T使用标准100 mm直径极头运行交流磁场频率NA0.05 和 0.1 HzNA0.05 和 0.1 Hz样品尺寸标准 10 mm × 10 mm × 3 mm可选 50 mm直径 × 3 mm标准 10 mm × 10 mm × 3 mm可选 50 mm直径 × 3 mm系统标配温度 室温室温单点液氮模块温度77 K77 K闭循环恒温器模块温度标准闭循环恒温器：10 K (直流磁场)/15 K (交流磁场) ~ 400 K 光学型闭循环低温恒温器：10 K (直流磁场)/15 K (交流磁场) ~ 350 K高温炉模块温度室温~1,273 K 773 K时读数的±1% : 最大测试电阻1 MΩ 1,273 K时读数的±1% : 最大测试电阻1 kΩ 室温~1,273 K 773 K时读数的±1% : 最大测试电阻1 MΩ 1,273 K时读数的±1% : 最大测试电阻1 kΩ 磁体极柱直径4 英寸7 英寸极头直径标准：50 mm (2 英寸)可选：100 mm (4 英寸)标准：50 mm (2 英寸)可选：100 mm (4 英寸)极头间隙（室温工作时）25 mm (1 英寸)25 mm (1 英寸)极头间隙（变温工作时）50 mm (2 英寸)50 mm (2 英寸)磁场均匀性25 mm 极头间隙, 50 mm 直径极头: ±0.35% over 1 cm325 mm极头间隙, 100 mm直径极头: ±0.05% over 1 cm350 mm 极头间隙, 100 mm 直径极头: ±0.15% over 1 cm325 mm极头间隙, 50 mm直径极头: ±0.35% over 1 cm325 mm 极头间隙, 100 mm 直径极头: ±0.05% over 1 cm350 mm极头间隙, 100 mm 直径极头: ±0.15% over 1 cm3冷却（电磁铁和电源）标准7.6 L/min , 闭循环制冷机选件10.3 L/min标准19 L/min , 闭循环制冷机选件 23 L/min三相双极性电磁铁电源最大输出±35 V ±70 A (2.5 kW)±75 V ±135 A (9.1 kW)其他附件冷却水总功耗标准4.25 kW 加闭循环制冷机时7.45 kW标准13.4 kW 加闭循环制冷机时16.6 kW