当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

衍射成像仪

仪器信息网衍射成像仪专题为您提供2024年最新衍射成像仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括衍射成像仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的衍射成像仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合衍射成像仪相关的耗材配件、试剂标物,还有衍射成像仪相关的最新资讯、资料,以及衍射成像仪相关的解决方案。

衍射成像仪相关的资讯

  • X射线衍射成像技术的相关应用
    X射线衍射成像技术(XRD)是一种重要的材料分析技术,它通过测量材料内原子平面对X射线的衍射来研究和量化材料的结晶性质。以下是X射线衍射成像技术的相关应用:1. 材料科学晶体结构分析:XRD是分析材料晶体结构的主要手段之一,能够确定晶体的晶格常数、晶胞参数、晶体缺陷等。相鉴定与定量分析:可以识别材料中存在的不同相(如固溶体、化合物等),并对各相进行定量分析。应力与应变测量:通过测量材料在特定条件下的XRD图谱变化,可以评估材料内部的应力和应变状态。2. 制药业药物分析:XRD是固态药物分析的关键技术,可用于确定药物的晶体结构、晶型转变、纯度等,对药物开发、测试和生产的各个阶段都大有裨益。药物专利保护:在分离出活性药物后,索引X射线粉末衍射图样可用于确定晶体结构,从而帮助获得专利和保护公司投资。3. 法医学接触者追踪分析:XRD在法医学中主要用于接触者追踪分析,如通过油漆薄片、头发、玻璃碎片等材料的XRD图谱,帮助鉴定和比较物证,有助于对涉嫌犯罪的人定罪或开脱罪责。4. 地质应用矿物勘探:XRD是矿物勘探的关键工具,能够快速识别矿物样本中的矿物种类,并量化不同矿物的存在比例。岩石学研究:通过XRD分析,可以了解岩石的矿物组成、晶体结构等信息,对岩石成因、地质构造等研究具有重要意义。5. 工业领域无损检测:X射线成像技术可用于无损检测材料和产品的缺陷,如金属零件中的裂纹、焊接接口质量等,确保质量控制。质量控制:在制造过程中,XRD可用于检查产品的尺寸、形状和结构特征,及时发现偏差和不符合要求的情况,从而进行调整和改进。6. 半导体行业晶体结构表征:X射线衍射技术可用于分析和表征半导体材料的晶体结构,对研究半导体材料的质量和性能至关重要。缺陷检测:结合X射线显微成像技术,可以检测半导体器件中的缺陷,如晶体管、集成电路和微芯片中的金属连接问题、曝露问题和局部结构缺陷等。7. 玻璃工业缺陷识别:虽然玻璃是X射线无定形物,但XRD可用于识别造成块状玻璃微小缺陷的结晶颗粒。涂层分析:测量结晶涂层的质地、晶粒尺寸和结晶度,以优化涂层性能。综上所述,X射线衍射成像技术在多个领域具有广泛的应用价值,是材料分析、质量控制、法医学、地质勘探等领域不可或缺的重要工具。
  • Science:透射电镜新突破!电子叠层衍射成像实现晶格振动原子分辨率极限
    透射电子显微镜(TEM)在物理、化学、结构生物学和材料科学等领域的微纳结构研究中发挥着重要作用。电子显微镜像差校正光学的进展极大地提高了成像系统的质量,将空间分辨率提高到了低于50pm的水平。然而,在实际样品中,只有在极端条件下才能达到这个分辨率极限,其中一个主要的障碍是,在比单层更厚的样品中,多电子散射是不可避免的(由于电子束与原子静电势之间的强库仑相互作用)。多次散射改变了样品内部的光束形状,并导致探测器平面上复杂的光强分布。当对厚度超过几十个原子的样品进行成像时,样品的对比度与厚度之间存在非线性甚至非单调的依赖关系,这阻碍了通过相位对比成像方式直接确定样品的结构。定量结构图像解释通常依赖于密集的图像模拟和建模。直接修正样品势需要解决多重散射的非线性反函数问题。尽管已经通过不同的方法对晶体样品的不同布拉格光束进行相位调整(其中大部分是基于布洛赫波理论),但对于具有大晶胞或非周期结构的一般样品来说,这些方法变得极其困难,因为需要确定大量未知的结构因子。Ptychography(叠层衍射成像)是另一种相位修正方法,可以追溯到20世纪60年代Hoppe的工作。现代成熟的装置使用多重强度测量——通常是通过小探针扫描广大的样品收集的一系列衍射图案。这种方法已广泛应用于可见光成像和X射线成像领域。直到最近,电子叠层衍射成像技术还受到样品厚度和电子显微镜中探测器性能的限制。二维(2D)材料和直接电子探测器的发展引起了更广泛的新兴趣。用于薄样品(如2D材料)的电子叠层衍射成像已达到透镜衍射极限的2.5倍的成像分辨率,降至39μm阿贝分辨率。然而,这种超分辨率方法只能可靠地应用于小于几纳米的样品,而较厚样品的分辨率与传统方法的分辨率没有实质性差异。对于许多大块材料来说,这样的薄样品实际上很难实现,这使得目前的应用局限于类2D系统(例如扭曲的双层)。对于比探针聚焦深度更厚的样品,多层叠层衍射成像方法提出了使用多个切片来表示样品的多层成像。所有切片的结构可以分别恢复。目前,利用可见光成像或X射线成像都成功地演示了多层叠层衍射成像。然而,由于实验上的挑战,只有少数的多层电子叠层衍射成像证据的报道,并且这些报道在分辨率或稳定性方面受到限制。透射电子显微镜使用波长为几皮米的电子,有可能以原子的固有尺寸最终确定的固体中的单个原子成像。然而,由于透镜像差和电子在样品中的多次散射,图像分辨率降低了3到10倍。康奈尔大学研究人员通过逆向解决多次散射问题,并利用电子叠层衍射成像技术克服电子探针像差,证明了厚样品中不到20皮米的仪器(图像)模糊以及线性相位响应;原子柱的测量宽度受到原子热涨落的限制,新的研究方法也能够在所有三维亚纳米尺度的精度从单一的投影测量定位嵌入原子的掺杂原子。相关研究工作以“Electron ptychography achieves atomic-resolution limits set by lattice vibrations”为题发表在《Science》上。图1 多层电子叠层衍射成像原理图2 PrScO3的多层电子叠层衍射重建图3 多层电子叠层衍射成像的空间分辨率和测量精度图4 多层电子叠层衍射的深度切片
  • 高通量、多信息通道、高分辨电子衍射成像技术获江苏省物理学会科学技术一等奖
    p   近日,第二届江苏省物理学会公布了江苏省物理杰出青年奖、获江苏省物理教育贡献奖、江苏省物理学会科学技术奖获奖名单。共有2人获江苏省物理杰出青年奖,4人获江苏省物理教育贡献奖,2项成果分获江苏省物理学会科学技术奖一等奖和二等奖。南京大学王鹏教授团队的《高通量、多信息通道、高分辨电子衍射成像技术》项目获江苏省物理学会科学技术奖一等奖,项目完成人为王鹏,丁致远,高斯,宋苾莹。 /p p    strong 王鹏教授简介 /strong : /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/d85fa0aa-54ab-4149-8421-31c1ec66e601.jpg" title=" 南京大学教授 王鹏.jpg" alt=" 南京大学教授 王鹏.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong 南京大学教授 王鹏 /strong /p p   王鹏,现为南京大学现代工程与应用科学学院教授,博士导师,首批国家海外高层次人才计划入选者。2006年英国利物浦大学博士学位,先后在英国国家超高分辨率电镜室SuperSTEM和牛津大学电镜中心作博士后研究。2012年回国到南京大学任教, 组建南京大学亚原子分辨透射电镜中心,具有国际领先水平两台高分辨透射电镜(球差校正TITAN G2 60-300 Cubed和TF20)。 /p p   主要从事以球差校正电子显微学和电子能量损失能谱学的研究,以及其在信息和能源存储等低维功能材料高分辨表征上的应用。已在SCI期刊上发表论文100余篇,包括Nature Electronics、Nature Catalysis、Nature Communications、Physical Review Letters、Advanced Materials、Nano Letter 和Nano Energy等。获得多项发明专利,包括10件中国专利,其中7件授权。主持科技部“973“项目和多项国家自然科学基金,参与国际合作项目以及其他国家和省部级项目的研究。 /p p    strong 研究方向 /strong : /p p   高分辨成像与智能算法、信息和能源存储材料表征、二维材料原子结构研究 /p p    strong 电子衍射成像研究部分成果 /strong : /p p   Song, Biying and Ding, Zhiyuan and Allen, Christopher S. and Sawada, Hidetaka and Zhang, Fucai and Pan, Xiaoqing and Warner, Jamie and Kirkland, Angus I. and Wang, Peng.(2018). Hollow Electron Ptychographic Diffractive Imaging .Phys. Rev. Lett., 121(14),146101.doi :10.1103/PhysRevLett.121.146101   /p p   Gao, S., Ding, Z., Pan, X., Kirkland, A., & amp Wang, P. (2019). 3D Electron Ptychography. Microscopy and Microanalysis, 25(S2), 1802-1803. doi:10.1017/S1431927619009747 /p p   Song, B., Ding, Z., Allen, C., Sawada, H., Pan, X., Kirkland, A., & amp Wang, P. (2019). Electron ptychography using an ultrafast direct electron detector. Microscopy and Microanalysis, 25(S2), 20-21. doi:10.1017/S1431927619000837 /p p    /p p br/ /p
  • 国家X射线数字化成像仪器中心在绵落成
    11月26日,我国第一家X射线数字化成像仪器中心在绵阳市科创园区落成揭牌,标志着我国在X射线数字化成像领域实现了打破国际垄断、提升科技水平的又一突破。科技部副部长王伟中,副省长李成云,中物院院长赵宪庚,副市长王琦安、易林等出席揭牌仪式。仪式上,王伟中、李成云、赵宪庚等共同为中心揭牌。   国家X射线数字化成像仪器中心是科技部、财政部、省政府和中物院共同出资建设的以大型精密仪器设备为核心,强化自主研发和资源配套,坚持军民融合、共建共享,构建信息化、网络化、专业化的国家综合性技术支撑基地。中心的建设,对具有自主知识产权的X射线数字化成像技术的可持续发展,提升我国相关大型仪器设备的自主创新能力和产业化水平等都具有重要意义。   王伟中代表科技部对中心落成揭牌表示祝贺。他希望中心按照军民共建、开放共享的原则,盘活资源、创新机制,发挥中物院学科齐全及人才优势,加强自主创新和科技攻关,加快科技成果转化,更好地满足国内外市场需求、促进地方经济发展、服务广大百姓生活,真正把中心建成寓军于民的典范。   李成云感谢科技部对四川科技事业发展给予的支持。他说,国家X射线数字化成像仪器中心的建设,是国家、四川省、中物院、绵阳市推进绵阳科技城建设的一件大事。省政府将一如既往为中心建设营造良好环境,希望中物院和建设单位切实做好中心建设和科技创新的组织管理工作,将其打造为绵阳科技城建设的领军企业。   赵宪庚表示,将在科技部等国家部委和地方政府的帮助下,院、所、中心三方联动,努力把中心建成中物院军民融合的示范项目、支持绵阳科技城建设的示范项目、国家级技术研发中心的示范项目。   王琦安表示,绵阳市将对中心的建设与发展继续给予最大的支持和服务,为打造一流的国家X射线基地和促进我国辐射成像技术发展作出应有贡献。
  • 中国散裂中子源工程材料中子衍射谱仪成功出束
    记者从中国科学院获悉,2022年12月29日下午,中国散裂中子源(CSNS)工程材料中子衍射谱仪成功出束,开始带束调试,标志着谱仪设备研制与安装的成功。工程材料中子衍射谱仪是散裂中子源科学中心与东莞材料基因高等理工研究院共同建设的国内唯一的飞行时间工程材料谱仪,也是中国散裂中子源继多物理谱仪和大气中子辐照谱仪后完成建设的第三台合作谱仪。为确保工程材料中子衍射谱仪的建设,工程材料中子衍射谱仪项目组、中子科学部相关专业组、散裂中子源科学中心与东莞材料基因高等理工研究院相关部门克服众多重大技术挑战和疫情的影响,保证了谱仪设计、研制、安装与调试的顺利进行。工程材料中子衍射谱仪具备应变、应力、织构和布拉格边透射成像等功能,尤其适合大型、复杂工程结构件的应力测量分析,能实现原位拉压力学加载和高低温加载,以及长周期疲劳加载等模拟服役条件的多种不同研究条件的需求。工程材料中子衍射谱仪将为众多领域国家重大需求的新型材料研发、关键装备无损检测、服役寿命管理等提供不可替代的研究手段,为解决我国在材料与装备制造高技术领域的一些重大科学问题,提供关键技术支撑。
  • 浅析蛋白质晶体成像仪
    蛋白质(protein)是组成人体一切细胞、组织的重要成分,是生命的物质基础,分子结构由α—氨基酸按一定顺序组合和排列形成氨基酸顺序不同的多肽链,这些多肽链进一步通过交联构成。蛋白质的复杂结构是其功能多样性的前提和基础,对其分子结构及发挥生物活性的机制进行研究具有重要意义。蛋白质空间结构(图片来源:网络)与其他有机或无机化合物晶体结构一样,蛋白质晶体结构是由相同的蛋白质分子或蛋白质分子复合物在空间中有序排列,从而构成的规则的3D阵列。根据蛋白质晶体结构排列的对称性,晶体中的所有分子相对于晶格具有有限数量的独特取向。蛋白分子通过在晶格中的有序排列,将单个分子的衍射值叠加,最终获得足以测量的衍射强度,其中晶格起到放大器的作用。结晶研究作为探究生物大分子结构及功能的重要手段,有力的推动了蛋白质分子结构的研究进程。 蛋白质晶体结构(图片来源:网络)时至今日,蛋白结晶还存在许多问题,制约着蛋白结构测定的速度。工欲善其事必先利其器,蛋白晶体成像仪作为高通量筛选蛋白质结晶的重要工具,可进行蛋白晶体研究的自动化成像和分析,为下一步进行蛋白质晶体衍射、确定结构奠定基础,最终应用于制药和生命科学领域的研究。蛋白晶体成像仪通过精确的温度控制提供稳定的蛋白质晶体培育环境,在甄别分析中,通过可见光、偏振光、紫外三种模式辨别晶体是否为蛋白晶体并观察晶体成长过程,可对晶体快速定位、自动化拍摄高质量影像。相比传统显微镜,它在蛋白晶体观察捕获的敏感度、成像质量、样本的自动定位等方面都有了很大提升,重要参数指标包括物镜倍数、附镜倍数、数值孔径、景深(mm)、视场(mm)、像素尺寸(μm)、光学分辨率(μm)等。目前市场的蛋白质晶体成像仪主流厂商有赛默飞、腾泉生物、安捷伦、Formulatrix等,不同品牌产品也各具特色。以Formulatrix的产品为例来介绍蛋白质晶体成像仪,蛋白晶体成像仪同时具备可见光和紫外荧光功能,可创造蛋白晶体的培养、成长环境,精确恒定温度和振动隔离。除此之外,仪器提供最多970个结晶板的存储和培养空间,能实现准确实验样本自动定位、智能影像捕捉拍摄等功能。在观察晶体成长过程的同时,可进行数据库数据对比和搜索,以确定蛋白晶体的存在和成长,对蛋白质晶体进行跟踪研究。蛋白液滴定局部成像(图片来源:Formulatrix)蛋白质晶体可见光及紫外成像(图片来源:Formulatrix)更多信息,点击进入仪器信息网相关仪器专场:https://www.instrument.com.cn/zc/2582.html
  • 中国散裂中子源(CSNS)工程材料中子衍射谱仪成功出束
    2022年12月29日下午,中国散裂中子源(CSNS)工程材料中子衍射谱仪成功出束,开始带束调试,标志着谱仪设备研制与安装的成功。工程材料中子衍射谱仪是散裂中子源科学中心与东莞材料基因高等理工研究院共同建设的国内唯一的飞行时间工程材料谱仪,也是CSNS继多物理谱仪和大气中子辐照谱仪后完成建设的第三台合作谱仪。为确保工程材料中子衍射谱仪的建设,工程材料中子衍射谱仪项目组、中子科学部相关专业组、散裂中子源科学中心与东莞材料基因高等理工研究院相关部门和衷共济,克服众多重大技术挑战,克服谱仪建设期间多次疫情的影响,保证了谱仪设计、研制、安装与调试的顺利进行。工程材料中子衍射谱仪具备应变、应力、织构和布拉格边透射成像等功能,尤其适合大型、复杂工程结构件的应力测量分析,能实现原位拉压力学加载和高低温加载,以及长周期疲劳加载等模拟服役条件的多种不同研究条件的需求。工程材料中子衍射谱仪将为众多领域国家重大需求的新型材料研发、关键装备无损检测、服役寿命管理等提供不可替代的研究手段,为解决我国在材料与装备制造高技术领域的一些重大科学问题,提供关键技术支撑。
  • Nat. Commun. 复旦大学季敏标教授合作研究:设计出光敏特性的拉曼探针,实现可控开关的受激拉曼散射成像 | 前沿用户报道
    供稿:敖建鹏成果简介2021年5月,复旦大学季敏标课题组与南方科技大学吴长锋课题组合作,在国际期刊 Nature Communications 发表了题为 Switchable stimulated Raman scattering microscopy with photochromic vibrational probes 的论文,通过在二芳基乙烯母体分子中引入炔基,设计出一类具有光敏特性的拉曼探针,实现了可控开关的受激拉曼散射成像。背景介绍在生命科学研究中,直接可视化细胞内大量不同的分子种类对于理解复杂的系统和过程愈渐重要。而对于荧光显微技术而言,由于荧光分子本质上的宽光谱特性,限制了其可分辨标记对象的能力,常称为“多色复用壁垒”。与荧光分子电子跃迁相对,拉曼散射表征的是振动跃迁,谱线宽度较窄,具有优越的化学特异性,目前基于炔基、氰基等拉曼信源开发出的拉曼探针已经实现了超多色复用成像,但成像分辨率依旧受到光学衍射极限的限制。在此研究背景下, 复旦大学季敏标课题组与南方科技大学吴长锋课题组合作通过赋予拉曼信号光敏活性,实现可逆光开关的拉曼振动光学成像,探索具有光敏活性的拉曼探针及其显微技术的应用可行性,为开发具备超多色复用的远场超分辨显微技术突破了关键一环。图文导读受激拉曼散射(SRS)以快速、免标记和本征三维化学组分分析的优点在显微成像领域备受青睐。为了提高成像灵敏度与特异性,基于炔基、氰基的拉曼探针被开发并用于SRS,打破了荧光显微成像中难以逾越的“多色复用壁垒”,展现了这些生物正交拉曼探针对比荧光标记分子所具备的窄峰宽、无漂白、信源尺寸小而对目标分子干扰小等优势。基于化学键振动的拉曼信号具有很好的光稳定性,早期开发的拉曼探针几乎都是“always-on”类型,意味着信号不受外界调控,失去了随机发光、光开关性等性质,直接通过外界光刺激改变拉曼信号几乎是不可能的。为了解决这一难题,课题组将炔基通过化学合成的手段连接到光异构母体分子(二芳基乙烯)上,通过光异构分子对外界光刺激的响应来调控拉曼信号,从而实现对光敏感的拉曼光谱响应。1. 通过化学合成将拉曼探针(炔基,拉曼信号强且峰位处于生物静默区,有利于后续推进至生物体系)引入二芳基乙烯母体分子中;2. 通过自发拉曼及受激拉曼散射技术对紫外与可见光照射下的分子的炔基伸缩振动模式峰位表征;左:自发拉曼;右:受激拉曼3. 将分子匀涂成膜,通过光在薄膜上自由书写/擦除文字信息并以受激拉曼散射显微读出信息;通过紫外光在薄膜上手写的“复旦”字样,并通过SRS对其成像4. 将分子进一步修饰以靶向线粒体,在细胞层面展示光开关性质的受激拉曼散射成像。光控可逆点亮/擦除喂食过光活性分子的HeLa细胞,并通过SRS对其成像受激拉曼散射作为相干模式下的拉曼散射,虽然极大的提高了拉曼信号,使得快速化学成像成为可能,但由于两束光的共振激励(ωp-ωs=Ω)局限在某一个拉曼峰位,相比于自发拉曼而言损失了全光谱信息,因此在对未知物质检测时自发拉曼光谱的测定依旧不可或缺。HORIBA LabRAM HR Evolution的1064nm激发模式很大程度上解决了常用可见光光源激发自身对光敏分子的影响,对我们的实验可靠性论证起到了极大的帮助。HORIBA LabRAM HR Evolution如果您对上述产品感兴趣,欢迎扫描二维码留言,我们的工程师将会及时为您答疑解惑。总结展望“山重水复疑无路,柳暗花明又一村。”实验过程中课题组抛开固有实验套路,另辟蹊径,最终实现了可控开关的受激拉曼散射成像,不仅为开发具有光开关性质的振动光谱探针提供了新思路,同时为光开关受激拉曼散射显微成像技术的提供可行性基础,拓展了SRS的应用范围,将有望推动超多色复用拉曼显微跨入超分辨时代。文献信息Switchable stimulated Raman scattering microscopy with photochromic vibrational probes文章署名作者:Jianpeng Ao, Xiaofeng Fang, Xianchong Miao, Jiwei Ling, Hyunchul Kang, Sungnam Park, Changfeng Wu & Minbiao Ji文章链接:https://doi.org/10.1038/s41467-021-23407-2扫码查看文献季敏标教授课题组简介季敏标教授课题组主要从事非线性光谱学和显微成像技术研发,并将它们用于生物医学光子学应用研究和新型材料的光电性质基础研究。在生物医学光子学领域主要发展用于肿瘤组织的快速无标记病理检测方法和脂质代谢等生物医学问题;在材料学领域主要研究新型二维材料的超快载流子和声子动力学问题等。
  • 上海光机所在智算散射成像方面取得新进展
    近日,中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学与光电技术实验室司徒国海研究员团队提出了基于深度学习的可拓展散斑相关成像方法,可在不同散射介质干扰下实现对不同类型物体的恢复,突破了传统深度学习方法因泛化性问题而难以同时应对成像系统及成像场景变化的瓶颈。相关论文近期以“DeepSCI: Scalable speckle correlation imaging using physics-enhanced deep learning”为题发表在Optics Letters上。   散射成像技术突破了传统成像方法的成像视距,大幅提升了光学成像系统的环境适应性。近年来发展的基于深度学习的散射成像方法在提升成像深度和速度、降低成像装置复杂度等方面具有独特优势。但是,这种数据驱动的方法存在训练数据获取困难、泛化性及可解释性差等问题,难以对不同散射环境下的不同结构类型物体进行成像。课题组此前提出融合成像系统物理模型的方法为解决上述问题提供了新思路,但因难以对散射成像系统进行正向建模而无法将其直接应用到散射成像中。   研究团队基于光学记忆效应,将散斑相关成像中建立的物体与散斑图之间的联系视为正向物理模型(图1a),并融入深度学习算法中(图1b-c)。当散射介质和物体类型变化引起数据漂移时,利用物体图像与散斑图由上述物理模型建立的等式关系,对预训练网络进行微调,使得网络输出的物体图像估计满足物理模型的约束(图1c)。尽管从散斑图重建物体图像是一个典型的病态逆问题,但由于预训练模型蕴含了训练数据中丰富的隐式先验信息,网络输出结果可在物理模型的约束下逼近真实物体图像(图1d)。仿真和实验结果表明,这种模型与数据联合驱动的方法,可使用由一类散射介质和目标物体获得的数据预训练网络,实现透过不同散射介质对不同结构类型物体进行成像(图2)。图1 所提方法示意图。(a)散射成像系统;(b)数据驱动预训练;(c)模型驱动微调;(d)微调过程,网络直接输出结果经微调后逼近真实物体图像。图2 散斑相关成像实验装置及实验结果。(a)物体真值;(b)散斑自相关;(c)预训练网络直接输出;(d)模型驱动非训练网络结果;(e)HIO结果;(f)对预训练网络进行微调结果。
  • 上海光机所在超分辨散射成像和定位研究方面取得进展
    近日,中国科学院上海光学精密机械研究所量子光学重点实验室刘红林副研究员课题组在散射定位和成像研究方面取得重要进展。相关成果以“Imaging and positioning through scattering media with double helix point spread function engineering”为题发表于Journal of Biomedical Optics期刊上。散射现象对依靠弹道光传递信息的传统成像技术造成了极大的阻碍。很多领域对透过散射介质实现高分辨成像都有迫切的需求,这促使大量的资源投入到相关研究中,也促进了散射成像技术的发展。目前,主流散射成像技术仅能实现目标的二维成像和相对位置信息的获取,难以三维定位和成像。双螺旋点扩散函数(DH-PSF)可用于超分辨显微成像,并实现三维定位,但应用场景通常是无散射或弱散射环境。迄今为止,尚未有其在散射环境中成像和定位的相关报道。   本研究工作系统分析了双螺旋点扩散函数在散射环境下的定位能力,搭建了含有DH-PSF调制模块的显微实验系统,并选用鸡蛋壳膜和洋葱表皮组织作为散射介质进行演示验证。利用DH-PSF的特殊调制图案,通过双高斯拟合定位算法,实现了对两种生物组织中荧光微球进行超分辨成像和定位,定位精度达到十纳米级别。将平台扫描和焦点DH-PSF解卷积相结合可以起到光学切片的作用,不仅实现了荧光微球的超分辨成像,还实现了周围散射介质膜结构的清晰成像。相比于传统的显微技术和DH-PSF超分辨显微技术,改进的DH-PSF 显微可以对散射介质中的目标进行超分辨成像和定位。   所提出的方法可为散射介质中或通过散射介质进行更深入、更清晰的可视化提供了一种简单的解决方案,结合荧光染料、纳米粒子、量子点以及其他荧光探针,散射介质内的原位超分辨率显微成像将成为可能。
  • 综述:太赫兹近场超分辨成像,不断突破衍射极限
    太赫兹(THz)辐射频率处于电子学和光学频率之间,因此具备多种光电子特性。THz成像作为THz辐射最重要的应用方面,在国防、通信、生物、医学和材料有着巨大应用潜力。THz 时域光谱系统(THz-TDS)被广泛用于角膜含水量测量、角膜瘢痕成像、蛋白浓度检测和细胞标志物检测等。然而受限于衍射极限存在,THz成像分辨率一般被限制在毫米量级。近场光学成像技术使用空间尺度极小探针直接探测样品表面亚波长尺度细节,可有效突破衍射极限,是实现THz超分辨成像的重要路径。目前,根据探针工作方式的区别,THz近场成像技术可分为孔径探针THz近场成像和散射探针THz近场成像。孔径探针THz近场成像方案需要平衡空间分辨率、截至频率和近场耦合效率之间关系,其成像分辨率仍无法突破至nm量级。散射探针THz近场成像分辨率与探针几何结构和探针-样品表面距离有关,截至目前其成像分辨率可以突破至0.3 nm。本文综述了THz超分辨成像的基本原理及最新进展,围绕孔径探针和散射探针两种主流的THz近场成像技术,详述其在成像原理、成像质量与成像分辨率等方面的突破,并对THz超分辨成像做出总结与展望。图1 THz近场成像及其应用场景孔径探针孔径探针THz近场成像主要利用亚波长结构形成THz辐射源或THz探测器在近场范围内扫描样品表面提升成像空间分辨率。依据孔径类型分类,孔径探针THz近场成像共有四种技术路线,分别是物理孔径、动态孔径、人工表面等离子激元和近场天线。物理孔径探针通常为锥形波导,可以将THz辐射局域成亚波长THz辐射源并扫描样品,提升空间分辨率。其优势在于:结构简单制备容易,可根据THz源设计波导几何结构提升THz耦合效率。图2 锥形物理孔径THz近场成像示意图动态孔径THz成像系统主要有两种实现方式。一种是基于光泵浦方案,该方案激发半导体材料形成特定分布的载流子,进而调制THz空间分布。另一种是基于飞秒激光成丝方案,该方案应用光丝对THz辐射强束缚作用,或是应用交叉光丝,形成动态微孔调制THz空间分布。动态孔径技术优势在于,一方面可以和压缩感知技术结合在保证空间分辨率情况下极大提升成像速度,另一方面基于飞秒激光光丝可以进一步提升成像分辨率至20 μm。图3 交叉光丝形成动态孔径实现THz近场成像人工表面等离子激元器件表面具有周期结构,通过改变材料表面等效介电常数实现THz波近场聚焦。常规调制方案包括金属锥形结构聚焦探针、金属周期结构THz超透镜和石墨烯THz超透镜等;其适用波长范围广、聚焦效率高具有一定的应用前景,尽管目前还处于实验室阶段,但是随着THz器件加工技术逐渐发展,相信在不久的将来其实用性会得到提升。图4 人工表面等离子激元器件实现THz近场成像近场THz天线这是一种微型近场THz探测器,优势为在提升空间分辨率同时能够保证时间分辨率,另一方面THz近场天线可以被集成至片上,拓宽了其使用场景。 图5 近场天线实现THz近场成像散射探针散射探针THz近场成像系统,是通过测量探针与样品表面在外场作用下的近场耦合效应反映样品表面信息。其适用于宽谱THz光源,成像空间分辨率与探针几何结构和探针-样品表面间距有关最高可以达到0.3 nm量级。由于背景散射信号强度远大于近场散射信号强度,散射探针THz近场成像系统主要技术难点在于信号收集与提取。目前,较为成熟的近场散射信号提取技术包括:自零差方案、正交零差方案、伪外差方案和合成光学全息方案等。在保障扫描时间的前提下,伪外差方案成像对比度高且具备相位分辨能力,因此被广泛采用。散射探针THz近场成像系统通常使用扫描隧道显微镜或者原子力显微镜作为提供近场条件的媒介,可将探针针尖与样品表面间距精确控制在20 nm范围内。基于扫描隧道显微镜的散射THz近场成像系统优势:1)其空间分辨率最高可以提升至0.3 nm;2)基于扫描隧道显微镜增强隧穿电流原理,可以增强近场散射信号。缺点:扫描隧道显微镜是通过测量针尖与样品表面隧穿电流实时反馈控制针尖与样品表面间距,故此种方案不适用于不导电样品。图6 基于扫描隧道显微镜搭建的近场成像系统及其一维扫描结果图基于原子力显微镜的散射THz近场成像系统原子力显微镜,因其和扫描隧道显微镜类似,具有卓越的空间分辨能力,是搭建散射探针THz近场成像系统的主力设备,同时能够通过检测针尖与样品之间相互作用反馈控制针尖和样品间距,故该系统可以适用于多种样品。图7 基于原子力显微镜搭建的近场成像系统及其扫描结果图散射探针THz近场成像不仅可以将THz成像分辨率提升至nm量级,还可以被应用于检测样品表面载流子运动。与光学波段和红外波段成像技术相比,有掺杂的半导体或者半金属材料对THz波段更加敏感,因此散射探针THz近场成像技术还被应用在nm量级表征载流子数目和分布情况。 总结与展望随着强THz产生技术和高灵敏THz探测技术的不断发展,超分辨THz成像技术得到了长足发展。孔径探针和散射探针THz成像方案各有侧重,在不同领域得到广泛应用。根据以上总结,从应用角度出发对近场THz成像技术作出展望:(1)成像速度。目前大多数超分辨THz成像方案都是采用逐点扫描模式,尽管成像分辨率得到很大提升,但是成像速度较慢。(2)装置集成化与轻量化。高效的桌面式近场THz成像系统能够助力此项技术得以推广。(3)样品多样性。目前,nm量级THz近场成像技术主要被应用于材料学研究,未来可以充分发挥THz辐射优势,将检测样品扩展至生物大分子甚至活体。(4)大范围成像。未来可以在平衡成像质量与成像速度前提下,实现nm量级大范围样品成像。综上所述,本文概括了超分辨近场成像技术的多个技术指标,分别是空间分辨率、时间分辨率、相位分辨能力、成像速度、成像对比度和装置复杂性。在保证空间分辨率的前提下,提升其他技术指标仍然任重而道远。
  • 新品上市| FLIR Si124工业声波成像仪,“听声辨位”找故障!
    超声波超声波是一种频率高于20000赫兹的声波,它的方向性好,穿透能力强,易于获得较集中的声能。利用声波反射、衍射、多普勒效应,工业上制造出了超声波物位计、超声波液位计、超声波流量计等。今天,小菲就给大家介绍一款FLIR新品——FLIR Si124工业声波成像仪,它是如何利用声波在工业检测中“如鱼得水”的呢?FLIR Si124简介FLIR Si124是一款简单易用的智能声波成像系统,能够可视化显示空气压缩系统的加压泄漏和高压电气设备的局部放电问题。借助这款轻便的单手操作声波成像仪设备,公共事业、制造业和工程类专业从业人员可以轻松发现效能损失问题和潜在故障,其速度比传统方法快10倍。过滤杂音,准确定位借助FLIR Si124开展日常维护工作,相关专业人士可以快速发现问题,确保电力设施持续供电、生产运营正常运行。• FLIR Si124内置124个麦克风和1个高清可见光摄像头,接收频率范围(2kHz至31kHz)涵盖了可听声和超声波,可过滤工业环境中常见的背景噪声,生产精确的声像;• 有效检测距离达100米,可以让工作人员在安全距离内检测。迅速查找,单手操作FLIR Si124工业声波成像仪检测的声像可实时叠加在可见光数码图像上,使用户可以准确地查明声音来源、区分问题。FLIR Si124主要有两个用途,包括检测压缩空气泄漏和局部放电,例如电晕、电弧、表面放电等。• 对于高压电气系统,局部放电可能导致灾难性故障,FLIR Si124可以在安全距离内区分局部放电类型(包括表面放电、漂浮放电和空气放电),提高电气系统的可靠性;• 即使在白天也能识别电晕放电,可在发生灾难性故障之前快速更换有缺陷的组件,避免停机危险;• 压缩空气因为无色无味的特性,泄漏现象非常隐形,导致压缩空气泄漏几乎是工厂里最常见的一种能源浪费,使用FLIR Si124可以快速准确找到泄漏点,其速度比传统的机械、电气、真空和压缩机系统检测方法快10倍;• 压缩空气通常是工厂中最昂贵的能源,使用FLIR Si124可以快速估算由压缩空气/真空泄漏引起的年度能耗费用;• FLIR Si124重量仅微超980克,非常轻便,支持单手操作,其连续使用时间长达7个小时。云端分析,存储共享FLIR Si124搭载了FLIR Acoustic Camera Viewer云服务,可自动将捕获的图像保存到云端。用户稍后可以访问存储在云端的图像并进行深入的人工智能分析。• 通过Wi-Fi将捕捉到的图像上载至云端,可存储和备份数据,还可以使用FLIR Acoustic Camera Viewer云端分析工具进行深入分析,创建报告;• 用户可以获得额外的8GB的外部USB存储空间和无线数据传输功能,简单、高效地共享照片和数据。科学技术的发展让我们不仅能看到温度这下连声音都可以看到啦~局部放电是高压电气设备经常遇到的问题压缩空气泄漏在工厂中也很难避免快用FLIR高科技新产品FLIR Si124 工业声波成像仪在安全距离检测一下既能保证安全,又可避免损失哦~
  • 基于16 × 4阵元的CMUT面阵,实现高效率、高质量三维超声反射成像
    与传统工艺制作的压电块体型超声换能器相比,电容式微机械超声换能器(CMUT)具有阻抗匹配特性良好、带宽大、体积小等优势,在医学超声成像和无损检测方面得到了广泛应用。三维超声反射成像通常需要利用CMUT线阵的机械移动实现对被测物的多维度扫描,但这一方法往往难以实现较小距离的移动,并且存在一定的误差。利用CMUT面阵对被测物进行扫描可以同时获取多维度的超声反射信号,从而减少测试工作量,并且能够准确获取被测物的三维信息。然而,目前国内关于利用CMUT面阵进行非接触式三维超声反射成像的研究鲜有报道。据麦姆斯咨询报道,为了解决上述挑战,来自中北大学的研究人员提出了利用基于16 × 4阵元的CMUT面阵进行B模式及二次谐波三维成像测试的方法,以得到伪影水平更低、重建偏差更小的超声反射图像。相关研究成果以“基于16 × 4阵元CMUT面阵的三维超声反射成像”为题发表在《微纳电子技术》期刊上。CMUT面阵的制备及工作原理研究人员分别利用绝缘体上硅(SOI)和二氧化硅(SiO₂)晶圆制备了CMUT振动薄膜和真空腔,并且在真空环境中通过晶圆键合形成CMUT面阵。图1 CMUT剖面图及阵元图图2 基于16 × 4阵元的CMUT面阵实物图CMUT的工作原理是通过在上、下电极之间施加直流偏压,从而产生感应静电力将顶部薄膜拉向底部电极。当CMUT处于发射模式时,将交流电压信号叠加在直流偏压上会激励薄膜振动,实现电能和机械能的转换,产生超声信号;当CMUT处于接收模式时,在上、下电极之间施加直流偏压,在超声波的作用下,薄膜会产生振动,从而使得电容值发生改变,通过检测这一变化即可实现超声信号的接收。图3 CMUT工作原理仿真及实验平台搭建该研究利用基于Matlab的k-Wave光声仿真工具箱对基于16 × 4阵元的CMUT面阵进行超声反射成像仿真。整个仿真区域介质为硅油,被测物为一块长和宽均为3 cm、厚1 cm的铝块,铝块与CMUT的距离为3 cm,CMUT阵元间的距离为1 mm。此外,采用单个阵元发射、所有阵元接收,即一发多收的扫描方式对铝块进行扫描。图4 基于16 × 4阵元的CMUT面阵及被测铝块仿真模型随后,研究人员在仿真的基础上搭建了基于16 × 4阵元的CMUT面阵的超声反射成像测试系统。采用面阵上第二条线阵的单个阵元发射、所有阵元接收的方式进行实验测试。实验使用信号发生器和功率放大器驱动CMUT面阵发射超声波,并且利用示波器观察超声反射信号波形。图5 基于16 × 4阵元的CMUT面阵超声反射成像测试系统示意图及超声反射成像实测图仿真及实验结果研究人员采用B模式及二次谐波两种成像算法分别对被测铝块的超声反射信号进行处理,以获取其三维图像及对应的二维切面。结果显示,基于16 × 4阵元的CMUT面阵的反射成像系统能够确定铝块的位置。此外,基于B模式成像算法和二次谐波成像算法所获取的成像结果中,铝块与CMUT面阵的距离重建偏差分别为3.63%及1.47%。图6 被测铝块二维反射成像结果图7 被测铝块三维反射成像结果综上所述,该研究搭建了基于16 × 4阵元的CMUT面阵的三维超声反射成像系统,以获得误差小、信噪比高的超声反射图像。采用单个阵元发射、所有阵元接收的收发方式对铝块进行了相关测试与仿真,利用B模式及二次谐波成像算法对超声回波信号进行处理,获取了被测物的二维切面及三维图像。仿真和实验结果均可以较清晰地确定铝块的位置,与实际情况相符。为了对比两种算法的成像效果,研究人员计算了铝块与CMUT面阵的距离重建偏差。计算结果显示,B模式及二次谐波成像算法的仿真距离重建偏差分别为0.63%和0.4%,实验重建偏差分别为3.63%和1.47%,二次谐波图像的距离重建偏差均小于B模式图像的距离重建偏差。总之,该研究证明了所提出的基于16 × 4阵元的CMUT面阵的三维超声反射系统可实现对被测物的三维成像。论文信息:DOI:10.13250/j.cnki.wndz.2023.03.010
  • 突破传统光学衍射极限:新一代Nanoimager可轻松实现超分辨荧光成像
    近年来,随着活细胞体系单分子荧光成像技术的发展,膜蛋白单分子研究,特别是受体动力学的研究,已成为目前单分子研究领域中活跃的研究方向之一。近几年发展起来的超分辨成像技术因其能够突破光学衍射限,而比传统光学显微镜具有更高的分辨率和更高的定位精度。英国Oxford Nanoimaging公司新推出的超分辨荧光显微镜—Nanoimager,由牛津大学Achillefs Kapanidis教授团队经过8年时间研发而成,是全球台大视野单分子FRET显微镜,将以超强的分辨率在单分子示踪、活细胞成像、蛋白互作、3D成像等研究领域发挥重要作用。Nanoimager主要技术特点? 横向分辨率20nm;纵向分辨率50nm ? 稳 定 性:1 μm/K的漂移;1 nm (1 Hz to 500 Hz)振幅 ? 支持同时双色成像和顺序四色成像 ? 采用1激光,使用安全 图1 Nanoimager 超分辨成像 Nanoimager采用PALM/dSTORM技术和光激活定位显微技术 (PALM) ,利用单分子定位算法并结合光学系统艾里斑的形状,以超高精度(纳米量)获得荧光分子的中心位置,然后用CCD将其信号进行采集转化终得到分辨率为20nm的超分辨图像。 Nanoimager主要应用案例1、单分子FRET FRET是一种两个荧光分子间非辐射性的能量转移方式,反映两者的分子间距(一般在2 – 10 nm的间距发生)。Nanoimager是台用于大视野单分子荧光共振能量转移(smFRET)的商业化仪器,其适用于smFRET的关键功能包括:同时双色成像;单分子散射光强度和总体平均的实时分析;视野中数千个单分子的高通量成像,以及用交替荧光激发 (ALEX) smFRET的功能来定量化学计量与FRET效率。图2是smFRET用于研究单个DNA霍利迪交叉的动力学。 图2 用smFRET检测霍利迪交叉(HJs)的实时构象变化 2、单分子示踪 Nanoimager可以在两个通道同时示踪细胞或者纯化物样品中的单分子 (图3),并计算扩散系数。细胞中分子的扩散系数可以被示踪,如酶或蛋白可以通过药物和抗生素的反应来示踪。低扩散率可以表示标记分子与另一分子或结构的相互作用或相结合。 Nanoimager可以直接反映纯化样品中荧光粒子的扩散率和预估大小,具有敏感性 (单荧光分子别) 和特异性 (双色标记可以显著降低检测杂质的可能性)。 图3 Nanoimager双色追踪单分子/粒子 3、更大视野的成像 Nanoimager的每个成像通道均有50 μm x 80 μm的大视野,且照明均匀,可以实现单分子或细胞的高通量成像并快速收集数据。图4显示了以10倍于其他技术的速度对突变的大肠杆菌细胞的不同表型进行成像。为了获得不同表型的可靠的结果,需要对大量细胞进行比较。使用具有大视野,能够自动对焦和自动获取数据的Nanoimager可以显著加快整个实验速度和通量。将大视野与超分辨成像结合是Nanoimager的特优势。 图4 Nanoimager的大视野可以在高分辨率下实现高通量成像 超分辨荧光显微镜以其特的优势,已成为生物医学研究的重要工具。如果您想了解更多关于Nanoimager的技术和应用详情,欢迎致电010-85120280咨询,我们会尽快给您满意的答复! 相关产品及链接 1、新一代超分辨荧光显微镜 (NEW):http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C273664.htm2、LaVision BioTec光片照明显微镜:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C132856.htm3、双光子荧光显微镜:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C132637.htm4、LVEM5 台式透射电子显微镜:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C157727.htm
  • 【视频分享】听专家们讲X射线衍射技术及应用
    为了满足仪器信息网用户对X射线衍射技术的知识需求,解决学习或工作中的问题,此文特整理了本网站网络讲堂栏目中X射线衍射技术相关会议报告视频。专家们讲解精准,欢迎感兴趣的用户点击回放链接进行观看。报告题目报告专家视频链接粉末XRD定量相分析技术的原理与进展贺蒙(国家纳米科学中心 正高级工程师)回放链接XRD和Rietveld精修在锂电行业的应用崔会杰(岛津 应用工程师)回放链接二维X射线衍射程国峰(中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员)回放链接PDF数据库+JADE软件,一站式分析处理粉末XRD数据徐春华(国际衍射数据中心 中国区首席代表)回放链接毛细管聚焦的微束X射线衍射方法及应用研究程琳(北京师范大学 教授)回放链接赛默飞实时XRD系统及其特色应用居威材(赛默飞 应用工程师)回放链接高分子材料的X射线衍射表征张吉东(中科院长春应化所 研究员)回放链接X射线衍射(散射)技术在材料表征中的进展陈京一(马尔文帕納科 资深XRD应用专家)回放链接
  • 2018重大仪器专项明确任务方向 高速激光共聚焦拉曼光谱成像仪名列其中
    p   2017年5月23日,科技部高新司发布“重大科学仪器设备开发专项”2018年度申报指南建议(征求意见),明确关键核心部件、高端通用科学仪器和专业重大科学仪器3个任务方向。 /p p   在高端通用仪器工程化及应用开发方面,涵盖了16大类仪器设备,包括高精度光热电位分析仪、气相分子吸收光谱仪、高精度光声光谱检测仪、高灵敏紫外成像仪、高速激光共聚焦拉曼光谱成像仪、磁共振脑图谱测量仪、有机物主元素分析仪、高速网络协议与安全检测仪、材料高温高频力学性能原位测试仪、微纳结构动态特性测试仪、大型复杂结构件力学性能检测仪、太赫兹三维层析成像仪、差分高能电子衍射仪、固态量子材料自旋信息测量仪、低场量子电阻测量仪、高精度三维螺纹综合测量仪、 /p p   其中,高速激光共聚焦拉曼光谱成像仪的研究目标:针对物理化学、生物医学、材料工程等领域微区物质化学结构空间分布探测与分析的需求,突破低波数、高分辨、高速光谱成像关键技术,开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、关键部件国产化的高速激光共聚焦拉曼光谱成像仪,实现激光拉曼光谱远场扫描探测与光谱成像。开展工程化开发、应用示范和产业化推广。 /p p   考核指标:探测光谱范围200nm~1000nm,激发波长覆盖紫外到近红外三个以上波段,拉曼光谱探测分辨率≤0.7cm-1,低波数≤50cm-1 图像横向分辨率≤200nm,轴向分辨率≤500nm,样品轴向定焦分辨率≤10nm,成像时间 a href=" mailto:≤10min@1024× 1024" ≤10min@1024× 1024 /a 平均故障间隔时间≥3000小时。 /p p   更多详细内容请查看: /p p    a title=" " href=" http://www.instrument.com.cn/news/20170523/220292.shtml" target=" _blank" strong “重大科学仪器设备开发专项”2018年度申报指南征求意见(全文) /strong /a /p p    /p p & nbsp /p
  • 世界首台数字化正电子发射断层成像仪问世
    记者12月10日从武汉光电国家实验室(筹)获悉,华中科技大学教授谢庆国带领科研团队,成功研发出世界首台数字化正电子发射断层成像仪(PET)。利用该数字PET追踪到的肿瘤,仅为目前商用PET能够发现的最小肿瘤的二十分之一,有助于更早、更灵敏地发现肿瘤、诊断癌症。   谢庆国介绍说,首台数字PET已完成了13例肺癌、肝癌、卵巢癌等癌症鼠,16例阿尔茨海默病鼠,30例正常鼠模型的研究。这些研究对仪器性能进行了全面验证,特别是证实了在空间分辨率上的重大突破。   2001年以来,谢庆国带领的医、工、理等13个学科交叉融合的团队,发明了一种“多电压阈值采样方法”,成功获得了足够信息的采集,准确得到了待测量的“信号”,实现了精确的图像重建,进而通过学、研、产的协同创新,完成了从数字PET理论发现,到关键探测器工业化生产,到商业机装配与动物成像试验的整个研发过程。   中国核学会核医学分会理事长、华中科技大学附属协和医院PET中心教授张永学称,分辨率上任何一点进步,在医学上都是革命性突破,对患者都意味着生命的延长,对医生意味着治疗的最佳时机与精准度 数字PET能使PET系统性能提升到一个新境界,可以更早检测和更准确诊断出疾病。   美国芝加哥大学终身教授、PET成像领域知名专家高建民博士认为,谢庆国开创了数字PET的先河,其中最迫切的是将技术转化为产业优势,实现中国尖端医学成像设备的产业升级和跨越式大发展。
  • 国家重大仪器专项“X射线三维分层成像仪”项目启动会在萧举行
    p   7月17日,国家重点研发计划重大科学仪器设备开发专项“X射线三维分层成像仪”项目启动会和签约仪式在萧举行,来自全国30多位行业专家参加会议,标志着该项目正式启动实施。这也是2017年重大科学仪器设备开发专项首个召开启动会的项目。 /p p   据悉,该项目成为今年科技部发文的国家重点研发专项项目之一,并在近期获得了国家“重大科学仪器设备开发”专项项目资金支持。 /p p   该项目重点开发具有自主知识产权、质量稳定可靠、核心部件国产化的X射线三维分层成像仪,以及创建相关软件和数据库,实现IC封装的高精度自动无损检测。一旦开发完成并实现产业化推广后,如要检测iPad内部结构,不用螺丝刀把硬件拆开,只需用“X射线三维分层成像仪”,通过3D图像构建就可实现无损检测。 /p p   据了解,该项目由金马控股集团有限公司和中国科学院高能物理研究所共同投资的北京高能新技术有限公司牵头,该公司在去年G20峰会时承担了高端核排查任务。 /p
  • “夸父一号”卫星载荷“硬X射线成像仪”首图发布
    2022年11月21日下午,“夸父一号”(ASO-S)载荷“硬X射线成像仪”(HXI)首图发布会在中国科学院紫金山天文台举行,会议同时向全国太阳物理同行网络直播。“夸父一号”卫星的全称为“先进天基太阳天文台”(ASO-S),于2022年10月9日在酒泉卫星中心成功发射。作为中国首颗综合性太阳探测卫星,“夸父一号”卫星的科学目标瞄准“一磁两暴”,即同时观测太阳磁场及太阳上两类最剧烈的爆发现象―耀斑和日冕物质抛射,研究它们的形成、演化、相互作用和彼此关联,同时为空间天气预报提供支持。作为卫星三大载荷之一的“硬X射线成像仪”,由中国科学院紫金山天文台牵头负责研制,承担着“一磁两暴”中观测太阳耀斑非热辐射的任务。ASO-S卫星工程首席科学家甘为群主持了发布会。在发布会上,HXI载荷主任设计师张哲首先介绍了ASO-S卫星和HXI载荷的设计、研制、发射及在轨早期梗概,然后详细展示了卫星入轨一个多月以来HXI载荷开展的各项在轨测试和定标工作,结果表明HXI载荷状态正常,各项功能性能均满足设计指标要求,已顺利投入科学观测活动,后续将继续配合科学需求,做好仪器功能性能的进一步优化。图 1. HXI观测到的一个太阳耀斑,是一个较小的C级耀斑,发生在2022年10月22日。此图为HXI分析软件测试版中的耀斑光变。图 2. 左图展示了2022年11月11日01时发生的一个耀斑图像,背景是SDO卫星拍摄的AIA 1700 Å图像,叠加的等值线为HXI两个能段的成像(25-30和30-35 keV,注意这里的图像尚未进行光栅定标,位置为平移对齐,但图像和太阳自转轴的倾角以及平台抖动带来的影响均已修正),可以看出经典的双足点源结构,且其中一个在高能具有精细的双源结构;右图显示了该耀斑在全日面图像上的位置。图 3. HXI观测到的2022年11月11日03时耀斑的光变(左)及成像(右)。左图分别展示了全开探测器、背景探测器的光变和10-300 keV的动态能谱图,右图为峰值期间AIA 1700 Å图像和叠加的HXI 25-30 keV的硬X射线源。两者的一致性充分说明HXI优异的成像性能和成像算法的正确性。随后,HXI载荷数据科学家苏杨就HXI在轨观测数据及结果进行了详细解读。首先介绍了HXI的科学目标、性能参数、数据特点,科学团队在发射前、后的一系列数据、软件、算法、模拟方面的准备工作,然后重点介绍了HXI开机以来数据的处理分析和成像结果。通过对比11月11日爆发的“双十一”系列耀斑的HXI数据和SDO/AIA图像,表明HXI各项功能指标达到预期目标,准直器性能、对齐精度、指向镜数据、探测器性能、成像算法、修正算法、能量定标算法均达到理想的效果。更重要的是,在准直器前后1.2米距离上最难对齐的36微米节距光栅子准直器(最高分辨率达到3.2角秒)在成像中也表现突出,这是很难得的一点。这说明在尚未进行光栅定标的情况下成像的优越性能已经超过HXI团队的预期,未来在进行详细的光栅子准直器定标后预计会达到更好的成像质量。卫星工程首席科学家甘为群总结,卫星发射才42天,HXI开机不足34天,其硬件团队就完成了绝大部分的在轨测试工作,证明了HXI在轨性能几乎完美地达到了预期的各项技术指标,为科学团队出成果创造了绝佳条件。HXI科学团队这段时间夜以继日,加班加点,由于准备充分,在HXI开机的第20天逮到第一个M级耀斑的当晚就获得了首幅太阳硬X射线图像。经过多方比对并经后续观测反复确认,这是我国首次获得太阳硬X射线图像,也是当下国际上地球视角唯一的太阳硬X射线像,其图像质量达到了国际先进水平。硬X射线成像原理与普通光学成像不同,除了精密的“光学系统”,还需要后端的成像算法等一系列的处理。今天的结果展示,虽然只有几张图,但却代表着0到1质的提升。尤其是HXI硬件团队与科学团队的紧密合作,堪称ASO-S卫星工程的楷模。甘为群希望,在接下来的ASO-S卫星另两个载荷FMG和LST首图发布中能有新的惊喜。ASO-S科学应用系统指挥(代理)、中科院紫金山天文台副台长范一中最后代表台领导对HXI团队取得的成就表示热烈祝贺,也衷心感谢在长达数年的HXI载荷研制过程中,团队成员的辛勤付出和忘我的工作精神,希望在接下来的在轨测试优化和科学观测中继续发扬团结协作传统,精心策划,争取早出成果、出好成果、出大成果。
  • X射线多层膜在静态和超快X射线衍射中的应用
    x射线多层膜在静态和超快x射线衍射中的应用x射线光学组件类型根据x射线和物质作用的不同原理和机制,目前主流的x射线光学组件可以大致分为四类:以滤片、窗片、针孔光阑为代表的吸收型组件;基于反射,全反射原理的各种镜片以及毛细管、波导等反射型器件,还有基于折射原理的各种复折射镜。而本文的主题多层膜镜片,其底层原理和晶体、光栅、波带片一样,都是基于衍射原理。吸收型反射型折射型衍射型滤片窗口针孔/光阑镜片:kb、wolter、超环面镜… … 毛细管:玻璃毛细管、金属镀层毛细管复折射镜:抛物面crl、菲涅尔crl、马赛克crl、… … 晶体光栅多层膜波带片多层膜的原理和工艺一般来说,反射型镜片存在“掠射角小、反射率低”的问题。而多层膜镜片则是通过构建多个反射界面和周期,并使反射界面等周期重复排列,相邻界面上的反射线有相同的相位差,就会发生干涉,如果相位差刚好为2pi的整数倍,则会干涉相长,得到强反射线。从布拉格公式可以看出:多层膜就是通过对d值的控制,来实现波长选择的人工晶体。而在工艺实现方面,目前制备x射线多层膜镜的主要工艺有:磁控溅射、电子束蒸镀、离子束蒸镀。一般使用较多的是磁控溅射或离子束镀膜工艺,即在基板上交替沉积金属和非金属层,通过选择材料,控制镀膜的厚度及周期的选定,实现对硬x射线到真空紫外波段的光的调制。上图为来自德国incoatec的四靶材磁控溅射镀膜系统。可实现多种膜系组合的高精度镀膜。[la/b4c]40 多层膜b-kα(183ev)用多层膜,d:10nm单层膜厚:1-10nm0.x nm的镀膜精度tem: 完美的镀层界面frank hertlein, a.e.m. 2008上图为40层la-b4c多层膜的剖面透射电镜图像和选区电子衍射,弥散的衍射环说明膜层是非晶结构。同时可以明显看到:周期为10nm的膜层界面非常清晰和规则。这套镀膜系统可获得0.x nm的镀膜精度。多层膜的特点示例—单色和塑形多层膜最显著的特点和优势在于可以通过基底的面型控制和镀层的膜厚控制,将x光的塑形和单色统一起来。当然,这是以精度极高的镀膜工艺为前提。下图的数据展示了进行梯度渐变镀膜时,从镜片一端到另一端镀膜的周期设计数值 vs. 实际工艺水平。可以看到:长度为150mm的基底上,单层镀膜膜厚需要控制在3.8-5.7nm,公差需要在1%以内。相当于在1500公里的长度上,厚度起伏要控制mm水平。这是非常惊人的原子层级的工艺水平。frank hertlein, a.e.m. 2008通过面型控制来实线x射线的塑形;通过极高精度的膜厚控制实现2d值渐变—继而实现单色;0.x nm尺度的镀膜误差——需要具备原子层级的工艺水平!多层膜的特点示例—带宽和反射率除了可以通过曲面基底和梯度镀膜实现对x光的塑形和单色,还可通过对膜层材料、膜厚、镀膜层数等参数的设计和控制,来实现带宽和反射率的灵活调整。如窄带宽的高分辨多层膜,以及宽带宽的高积分反射率多层膜。要实现高分辨:首先要选择对比度较低的镀膜材料,如be、c、b4c、或al2o3;其次减小膜的厚度,多层膜的厚度降为10~20å;最后增加镀膜层数,几百甚至上千。from c. morawe, esrf多层膜的特点示例—和现有器件的高度兼容左侧: [ru/c]100, d = 4 nm r 80% for 10 e 22 kev中间: si111 δorientation0.01°右侧: [w/si]100, d = 3 nm r 80% for 22 e 45 kevdcmm at sls, switzerland, m. stampanoni精密、灵活的膜层设计和镀膜控制镀膜材料的组合搭配;d/2d值的设计和控制;带宽和反射率的灵活调整。和现有器件的高度兼容多层膜主流应用方向目前,多层膜的主流应用方向和场景主要有:粉末、x射线荧光、单晶衍射以及同步辐射的单色、衍射、散射装置搭建。粉末衍射x射线荧光单晶衍射同步辐射基于dac的原位高压静态x射线衍射典型的静高压研究中,常利用金刚石对顶砧来获得一些极端条件。在极端的高压、高温下,利用x射线来诊断新的物相及其演化过程是重要的研究手段。x-ray probe利用金刚石对顶砧可以获得极端条件(数百gpa, 几千°c) 利用x射线探针来诊断和发现新物相;由于对x光源、探测器以及实验技术等方面的苛刻要求,尤其是需要将微束的x光,精准的穿过样品而不打到封垫上。长期以来,基于dac的x射线高压衍射实验只能在同步辐射实现。但同步辐射有限的机时根本无法满足庞大的用户需求。不能在实验室进行基于dac的x射线高压衍射实验和样品筛选,一直是广大高压科研群高压衍射实验室体的一大痛点。以多层膜镀膜工艺为技术核心,将多层膜镜片与微焦点x光源耦合,我们可以为科研用户提供单能微焦斑x射线源,使得在实验室实现高压衍射成为可能。下图是利用mo靶(左)和ag靶(右)单能微焦斑x射线源获得的dac加载下的lab6样品的衍射图。曝光时间300s,探测器为ip板,样品和ip板距离为200mm。可以看到:300s曝光获得的衍射数据质量是可接受的。特别地,对于银靶,由于其能量更高,可以压缩倒易空间,在固定的2thelta角范围内,可以获得更多的衍射信息,这对于很多基于dac的静高压应用来说非常有吸引力。dac加载下的lab6样品的衍射数据:多层膜耦合mo靶(左)和ag靶(右)曝光时间300s,探测器为ip板,样品和ip板距离为200mmbernd hasse, proc. of spie vol. 7448, 2009 (doi: 10.1117/12.824855)基于激光驱动超快x射线衍射在利用激光驱动的x射线脉冲进行超快时间分辨研究中,泵浦探针是常用的技术手段。脉宽为几十飞秒的入射激光经分束后,一路用于激发超快x射线脉冲,也就是探针光;另一路经倍频晶体倍频作为泵浦光。通过延时台的调节,控制泵浦激光和x射线探针到达样品的时间间隔,可实现亚皮秒量级时间分辨的测量。而在基于激光驱动的超快x射线衍射实验中,如何提升样品端的光通量?如何获得低发散角的单色光束?如何抑制飞秒脉冲的时间展宽?如何同时兼顾以上的实验要求?都是需要考虑的问题。很多时候还需要兼顾多个技术指标,所以我们非常有必要对各类光学组件和x射线飞秒脉冲源的耦合效果和特点有一个比较清晰的认知。四种光学组件和激光驱动x射线源的耦合效果对比首先我们先对弯晶、多层膜镜、多毛细管和单毛细管四种组件的聚焦效果有个直观的了解。以下是将四种光学组件和激光驱动飞秒x射线源耦合,然后进行了对比。四种光学组件在聚焦和离焦位置的光斑:激光参数:800nm/1khz/5mj/45fs源尺寸:10um 打靶产额:4*109 photons/s/sr这是四种组件的理论放大倍率和实测聚焦光斑的对比。可以看到:弯晶和多层膜的工艺控制精度很高,实测光斑和理论值比较接近。而毛细管的大光斑并不是工艺精度的误差,而是反射型器件的色差导致的,不同能量的光都会对聚焦光斑有贡献,导致光斑较大。而各种组件的工艺误差,导致的强度不均匀分布,则是在离焦位置处的光斑中得到较为明显的体现。ge(444)双曲弯晶多层膜镜片单毛细管多毛细管放大倍率1270.7收集立体角 (sr)+---++反射率--+++-有效立体角 (sr)---+++1维会聚角 (deg)+---++耦合输出通量(ph/s)---+++聚焦尺寸 (μm)2332155105光谱纯度好好差差时间展宽 (fs)++++--激光参数:800nm/1khz/5mj/45fs打靶产额:4*109 photons/s/sr等级: ++ + - --利用针孔+sdd,在单光子条件下,测量有无光学组件时的强度和能谱,可以推演出相应的技术参数。这里我们直接给出了核心参数的总结对比。其中,大多数用户最为关注,同时也是对于实验最为重要的,主要是有效立体角、输出光通量、光谱纯度和时间展宽。可以看到:典型的有效收集立体角在-4、-5sr的水平,而在样品上的输出光通量在5-6次方每秒这样的水平。但是需要指出的是:毛细管并不具备单色的能力,虽然有效立体角大,但输出的是复色光。对于时间展宽的比较,很难通过实验手段获得测量精度在几十到百飞秒水平的结果,所以主要通过理论分析和计算来获得。对于同为衍射型组件的ge(444)双曲弯晶和多层膜镜片,光程差引入项主要是x光在组件内的贯穿深度。对于ge(444),8kev对应的布拉格角约为70度,x光的衰减长度约为28um,对应的时间展宽约90fs。对于多层膜镜片,因为它属于掠入射型的衍射组件,x光的衰减长度在um量级,对应的时间展宽甚至可以到10fs水平,因此这里的数据相对比较保守的。而对于毛细管这种反射型器件,光程差引入项主要是毛细管的长度差。对于单毛细管,光程差在10fs水平,对于多毛细管,位于中心区域和边缘的子毛细管长度是有较大的差异的,光程差可达ps水平。小结1. 弯晶:单色性好、时间展宽较小、有效立体角小、输出通量低;2. 多层膜:单色性好、时间展宽较小、有效立体角大、kα输出通量高;3. 单毛细管:复色、时间展宽很小、有效立体角大、复色光通量高;4. 多毛细管:复色、时间展宽较大、有效立体角最大、复色光通量最高。每一种光学组件都有其适用的场景,对于非单色的超快应用,如超快荧光、吸收谱,毛细管可能更为合适,而对于追求单色的超快应用,如超快衍射,多层膜是比较好的选择,兼顾了单色性、时间展宽和有效立体角(输出通量)三个核心指标!如果您有任何问题,欢迎联系我们进行交流和探讨。北京众星联恒科技有限公司致力于为广大科研用户提供专业的x射线产品及解决方案服务!
  • 570万!同济大学X射线单晶衍射仪采购项目
    项目编号:3109-234Z20233020(项目编号:Z20230351)项目名称:同济大学X射线单晶衍射仪采购项目预算金额:570.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):570.0000000 万元(人民币)采购需求:号产品名称数量简要技术规格1X-射线单晶衍射仪 1套1. 采用全新半导体二维成像技术;2. *功率:Mo光源不小于70W;Cu光源不小于50W;3. 四轴(ω,2θ,?,Kappa)测角仪,包括测角头和准直器;(详见采购需求)合同履行期限:合同签订之日起250个工作日内完成并验收合格交付使用本项目( 不接受 )联合体投标。获取招标文件时间:2023年03月01日 至 2023年03月08日,每天上午9:00至11:00,下午13:00至16:00。(北京时间,法定节假日除外)地点:上海市静安区天目中路380号11楼方式:现场或邮件获取售价:¥500.0 元,本公告包含的招标文件售价总和对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名称:同济大学地址:中国上海四平路1239号联系方式:段老师 86-21-659826702.采购代理机构信息名称:上海政采项目管理有限公司地址:上海市静安区天目中路380号11楼联系方式:戴小军、朱逸元、王静雯、王悦 8621-620912733.项目联系方式项目联系人:戴小军电话:8621-62091273
  • 陈黎明教授团队成功研制一套飞秒时间分辨的X射线衍射系统
    在超快时间尺度上获得物质的动力学演化过程一直是人们努力的重要方向。基于激光等离子体相互作用产生的飞秒硬X射线源由于具有脉宽短、亮度高和源尺寸小等突出的优点,可广泛应用于瞬态微成像/相衬成像、时间分辨吸收谱学和X射线衍射等实验研究中。其中,激光泵浦--超快X射线衍射的手段能为我们提供飞秒级时间尺度、亚埃级空间尺度上材料的结构动力学信息。中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心光物理实验室L05组博士研究生朱常青(指导教师为原物理所陈黎明研究员、现上海交通大学物理与天文学院教授),利用L05组的高脉冲能量(100mJ)、低重频(10Hz)激光器,研制了一套飞秒时间分辨的X射线衍射系统。该装置工作在相对论的激光强度(2×1019W/cm2)下,可以有效地激发高Z金属材料的Kα射线,并且能够通过优化X射线多层膜反射镜,进一步提高X射线的聚焦强度。利用该装置对SrCoO2.5薄膜样品的瞬态结构进行了探测,结果表明该装置不仅可以用来分析样品的超快动力学行为,并且和KHz等小能量装置相比对于不同的特殊应用具有高度的灵活性。该装置有望将来在物理、化学和生物领域的超快动力学探测方面发挥重要作用。相关成果以“快速通讯”的形式发表于最近的Chinese Physics B上,并被选为该期的亮点文章。这也是该团队利用激光超快X射线源在成像和衍射应用方面,最新获得的创新成果。前序成果包括Rev. Sci. Instrum. 85 113304 (2014)、Chin. Phys. B 24 108701 (2015)等。该实验室装置的建成,也为物理所怀柔综合极端条件用户装置中的超快X射线动力学子系统(XD3)的建设,提供了有益的经验。该成果的取得也得到了XD3研制团队成员鲁欣副研究员、李毅飞博士和王进光博士的大力支持。这项工作及相关研究得到了国家重点研发计划、科学挑战计划、国家自然科学基金和中科院先导专项的支持。文章链接:http://cpb.iphy.ac.cn/EN/10.1088/1674-1056/ac0baf 图1. 超快X射线衍射装置示意图图2. 在光泵浦下超快X射线衍射信号随延时的变化:(a)泵浦光作用20ps后劳厄衍射斑的角移;(b)不同的泵浦-探针延时,所对应的光致拉伸度。
  • 475.6万元!蔡司中标中科院物理所微米X射线三维断层成像仪采购项目
    近日,中国科学院物理研究所微米X射线三维断层成像仪采购项目发布中标公告,卡尔蔡司以475.6万元中标。一、项目编号:TC220805G(招标文件编号:TC220805G)二、项目名称:中国科学院物理研究所微米X射线三维断层成像仪采购项目三、中标(成交)信息供应商名称 货物名称 货物品牌 货物型号 货物数量 货物单价(元) 卡尔蔡司(上海)管理有限公司 微米X射线三维断层成像仪(X射线显微镜) Zeiss Xradia 515 Versa X射线显微镜 1 4756000 四、招标技术规格1.1 设备用途:设备可对对各类锂电池材料(软包电池,电池极片)、金属材料、油气地质及半导体样品(失效分析)进行高分辨无损三维成像及组织表征。设备采用闭管透射式X射线源、独特的二级放大架构、独有的衬度技术、配合机器的三维数据采集、控制、重构及可视化软件以三维立体图像及二维虚拟切片的形式,清晰、准确、直观地展示各类样品内部的亚微米级及以上的组织形貌(包括样品内部组织结构、内部孔隙、微裂纹等均可清晰展示)。1.2 工作条件:(1)电源:单相 220V(±5%)、50Hz、15A(2)温度:10~25℃, 温度波动<2℃(3)环境湿度:≤70%,无凝结*2.1 分辨率2.1.1 最高空间分辨率:最高三维空间分辨率≤700nm,需提供标样的测试结果,否则视为不响应;2.1.2 最小可实现的体素(Voxel Size)≤300 nm,需提实际样品的测试切片照片,否则视为不响应;2.1.3 能够满足大样品高分辨得测试需求,须具备对锂电池材料中的软包电池实际样品局部进行高分辨率扫描成像,针对≥5cm 宽的软包电池样品的中心位置,可实现≤ 1μm 的体素分辨率的扫描成像能力,以满足采购人单位的科研需求。2.2 三维组织表征及重构2.2.1 无损伤地对样品进行三维组织表征,可获得样品的三维组织形貌及不同角度、不同位置的虚拟二维切片组织形貌信息。不需制样或只需简单制备,不需真空观察环境,不会引入人为缺陷;#2.2.2 能够自动对样品多个(20)不同区域进行 3 维成像扫描和重构;#2.2.3 具有吸收衬度和可调节相位传播衬度两种衬度模式,可以对包括高原子序数和低原子序数在内的各种材料都能获得高衬度图像。能够清楚区分样品内的不同组织;2.2.4 支持纵向拼接技术,通过纵向拼接扫描结果获得更高视野的数据;具有支持宽视场模式的物镜探测器,具备更宽的视野;*2.2.5 2000 张投影,重构 1k × 1k × 1k 图像的时间少于 5 分钟;2.2.6 支持 180°+Fan 扫描模式,从而实现快速扫描成像。2.3 光源与滤色片及支架*2.3.1 高功率微焦点 X 射线源:采用密封式透射 X射线源,功率≥10W,机器可以不间断连续扫描样品时间达 1 周以上(即 7 x 24 小时)。在用户日常使用过程中无需更换光源灯丝。最大电压≥155kV,最低电压≤30kV,连续可调;2.3.2 配备滤色片转换支架,包含不低于 10 个适用于不同能量段扫描的滤片。2.4 探测器*2.4.1 探测器规格为高对比度平板探测器或更高级的探测器系统,可实现二维有效探测面积≥200mm×200mm,需提供测试方案和样品测试结果,否则视为不响应。像素数量≥2000(长)×2000(宽);2.4.2 具备大视场≤0.4X 光学放大模式,能够实现大视野宽场模式;2.4.3 探测器可移动范围不小于 290mm。2.5 样品台及样品室#2.5.1 全电脑软件控制高精度 4 轴数控可编程马达样品台,具备超高的样品移动精度;#2.5.2 样品台 X 轴运动范围 50mm;Y 轴运动范围 100mm;Z 轴运动范围 50mm;2.5.3 样品台旋转运动范围:360 度旋转;*2.5.4 样品台最大承重≥10kg(X 射线能穿透的情况下);*2.5.5 样品台可承受样品尺寸≥100 cm2;*2.5.6 为了防止 X 射线辐射泄漏、保护仪器操作人员,设备须采用全封闭式铅房设计,样品室内配备可见光相机,确保操作人员无需通过观察玻璃窗即可监控和操作样品;*2.5.7 系统具备样品自动防撞装置,系统通过快速获取样品轮廓信息,设定硬件工作极限位置,防止因为操作不当样品和探测器、源相撞,避免损坏硬件和样品。2.6 仪器控制与数据采集、重构、可视化及分析系统*2.6.1 具备三维数据采集及控制软件,可编程软件系统,支持三维重构,具备快速抓拍功能;2.6.2 全数字化仪器控制,计算机控制工作站;2.6.3 支持原始数据查看,图像标准特征显示(如亮度、对比度、放大等)、注释、测量等;2.6.4 可以进行基本图像测量,如图像计算、滤镜等;#2.6.5 具备快速三维数据重构软件,软件界面友好,采用先进的解析算法以保证重构时间快;2.6.6 具备三维数据可视化软件,展示三维重构结果,包括虚拟断层,着色、渲染、透视等,并实现基本分析功能和注释;#2.7 数据处理工作站不低于以下配置Microsoft Windows10 Pro 操作系统Dual Eight Core CPUCUDA-enabled 3D GPU12 TB(4×3 TB)硬盘容量,RAID-532GB 内存可刻录式光驱24寸液晶显示器。2.8 样品座及标样2.8.1 对中和分辨率测试标样;2.8.2 针钳式样品座;2.8.3 夹钳式样品座;2.8.4 夹持式样品座;2.8.5 高铝基座样品座;2.8.6 高精度针钳式样品座。2.9 其他硬件2.9.1 人体工学操作台;2.9.2 四门式防辐射安全屏蔽罩,配备辐射安全连锁装置和“X-ray on”指示器;2.9.3 大移动范围、高精度花岗岩工作台。2.10 可扩展功能与双束系统、场发射电镜的数据相互关联,可将 CT 所获得的数据文件格式如 CZI, RAW,TIFF,VTK,DICOM 等格式的二维图像和 TXM 3D X-ray volumes 体量数据,导入到电镜或者双束系统的软件中,实现亚微米级到纳米级的数据关联以及数据处理。
  • 科技部副部长出席国家X射线数字化成像仪器中心揭牌仪式
    11月26日上午,我国第一家X射线数字化成像仪器中心在四川省绵阳市落成揭牌。科技部副部长王伟中、四川省副省长李成云、中国工程物理研究院院长赵宪庚以及绵阳市有关领导出席了揭牌仪式。   国家X射线数字化成像仪器中心是由科技部批准,依托中国工程物理研究院应用电子学研究所建设的国家综合性技术支撑服务基地。该中心以大型精密仪器设备为核心,强调信息化、网络化、专业化,强化自主研发和资源配套,坚持军民融合、共建共享。中心的建设,对具有自主知识产权的X射线数字化成像技术的可持续发展,提升我国相关大型仪器设备的自主创新能力和产业化水平等都具有重要意义。   王伟中副部长代表科技部对中心落成揭牌表示祝贺。他指出,建设国家大型科学仪器中心的目的是要实现科技资源共享,提升我国科学仪器的自主创新能力,为经济建设和社会发展提供技术支撑。一年多来,中心在省政府、中国工程物理研究院的领导下,广大科研人员勤奋工作、锐意进取,取得优异的成绩,创造了多个“第一”和“唯一”。他希望中心按照军民共建、开放共享的原则,盘活资源、创新机制,发挥中国工程物理研究院学科齐全及人才优势,加强自主创新和科技攻关,加快科技成果转化,更好地满足国内外市场需求、促进地方经济发展、服务广大百姓生活,真正把中心建成寓军于民的典范。
  • GE公司推出成像仪新品
    GE公司推出成像新品--- Typhoon FLA 7000 IP专业的同位素成像仪     通用电气医疗集团与富士胶片公司于2009年达成全球战略合作协议,共同开发了多款高品质的激光扫描分子成像系统。多用途和一体化设计,帮助您在科学探索的道路上顺利前行。   继推出TyphoonTM FLA9000和Typhoon FLA 7000后,TyphoonTM家族又添新成员——Typhoon FLA 7000 IP。   Typhoon FLA 7000 IP是一款专职用于磷屏成像的激光扫描成像仪,可快速而准确地进行同位素的检测和定量,是您进行同位素实验的理想选择。   Typhoon FLA 7000 IP可以用于同位素标记的凝胶电泳检测、基因阵列、氚标记的受体放射自显影、膜杂交、组织放射自显影、DNA测序胶、14C整体放射自显影、Southern、Northern、Western杂交以及膜阵列等平面自放射信号的检测。主要特点: 专职的同位素成像仪 快速扫描:保证高灵敏度的前提下,1小时内可完成10个磷屏的扫描成像 高分辨率:16bit高品质图像,最低像素可达25 μm 高准确度:线性动态范围5个数量级,保证定量的准确性。 订货信息 Product name Article number Contents Typhoon FLA 7000 IP 28-9836-18 Typhoon FLA 7000 IP 扫描仪主机 BI-Alkali PMT 650nm激光源 IP滤光片 磷屏扫描样品台 控制软件 AC 连接线 USB 连接线 操作手册 注:控制电脑、磷屏和曝光夹需另配。 技术规格: 扫描面积:40 x 20 cm 可以检测的核素种类:3H、14C、32P、33P、35S等 像素大小(分辨率):25,50,100,200um,用户可选 空间分辨率: 14C磷屏检测,2 线对/mm 数据格式:16位 (65356灰阶) 线性动态范围:5个数量级(100000:1) 激光光源:红色650nmLD激光 检测器: PMT 控制接口:USB 2.0 软件 : 扫描控制软件和 ImageQuant TL图像分析软件 电源:110/240V ± 10% 仪器尺寸(宽x长x高):主机: 94 x 56 x 36 cm 仪器重量:62kg 更多详情可联系当地销售代表或致电免费客服电话 800-810-9118 此仪器正在火热促销中,更多详情可联系当地销售代表或致电免费客服电话 800-810-9118
  • 400万!华东师范大学双微焦斑X射线单晶衍射仪采购项目
    项目编号:0773-2240SHHW0149项目名称:华东师范大学双微焦斑X射线单晶衍射仪项目预算金额:400.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):400.0000000 万元(人民币)采购需求:设备名称:双微焦斑X射线单晶衍射仪;数量及单位:1套;简要技术参数:2.1、二维面探测器1)采用全新半导体二维成像技术★2)探测器有效面积不小于10cm×14cm其余内容详见本项目招标文件。合同履行期限:自合同签订之日起300天内本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 反射高能电子衍射仪
    反射高能电子衍射仪(Reflection High-Energy Electron Diffraction)是观察晶体生长最重要的实时 监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10~30KeV的单能电子掠射到晶体表面,通过衍射斑 点获得薄膜厚度,组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中 监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。   R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪,以便于操作者使用的人性化设计,稳定性和耐久性以 及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。 特长 ◆可远程控制调节电压,束流强度,聚焦位置以及光束偏转 ◆带有安全闭锁装置 ◆镍铁高导磁合金磁屏蔽罩 ◆拥有高亮度衍射斑点 ◆电子枪内表面经特殊处理,能实现极低放气率 ◆经久耐用,稳定可靠 ◆符合欧盟RoHS指令   低电流反射高能电子衍射仪(Low Emission Reflection High-Energy Electron Diffraction)是利用微通道板技 术,大幅减少对样品损伤的同时,并且保证明亮反射电子衍射图像的新一代低电流反射高能电子衍射仪。可以用于有机薄膜材料等结晶结构的分析研究。 特长 ◆大幅度减少电子束对样品的损伤 (相当于普通RHEED的1/500-1/2800) ◆带有安全闭锁装置 ◆搭载高亮度微通道板荧光屏 ◆可搭载差动抽气系统 ◆kSA400 RHEED分析系统兼容 ◆符合欧盟RoHS指令
  • 西安光机所超光谱成像仪项目获国家科学技术奖
    1月14日,中共中央、国务院在北京人民大会堂隆重举行2010年度国家科学技术奖励大会,党和国家领导人胡锦涛、温家宝、李长春、习近平、李克强等出席大会。胡锦涛等党和国家领导人向获国家科学技术奖的代表颁奖。中科院西安光学精密机械研究所“环境与灾害监测预报小卫星超光谱成像仪项目”荣获国家科学技术进步奖二等奖。   超光谱成像仪具有“图谱合一”的宽谱段(0.45~0.95mm)和精细光谱(5nm)的探测能力,其在轨获取的干涉图经滤波、相位修正、辐射度修正、光谱反演、光谱修正后,得到每一个像元的超光谱图(曲线)。把每一个像元复原光谱图中具有同一波长的相对应的光谱强度值(光谱辐射功率密度)集合在一起,并以二维空间排序,即可重构超光谱图像序列,即每个谱段的准单色图。再进一步可以合成色彩非常丰富的真彩色图像。   西安光机所研制的超光谱成像仪装载在HJ-1-A卫星上。它是国内首先采用静态干涉型成像光谱技术新原理,研制的一种新型有效载荷。超光谱成像仪在环境与灾害监测预报中发挥特有的作用。它可以监测土地的沙化、盐碱化、石漠化 探测冰雪灾害与森林、草原火灾 调查国土资源及广域土地分类 进行植被分类、植树造林及退耕还林效果评估以及发现森林砍伐与破坏 服务于农业估产、监测病虫害以及生态环境破坏等。对自然灾害、环境污染、危及人类的危险事故等的发生、定量化分析、评估等将起着重要作用。   2008年9月6日,我国在太原卫星发射中心通过一箭双星方式将首颗环境卫星(也称为环境与灾害监测预报小卫星星座)A、B卫星成功送入太空。2009年3月30日,国家国防科技工业局在京组织环境与灾害监测预报小卫星A、B星在轨交付仪式。中国航天科技集团公司和中国卫星发射测控系统部将卫星正式交付给民政部和环境保护部投入使用。
  • 高速外延片PL谱扫描成像仪研制
    table border=" 1" cellspacing=" 0" cellpadding=" 0" width=" 600" tbody tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 成果名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " 高速外延片PL谱扫描成像仪 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 单位名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " 北京中拓机械集团有限责任公司 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 联系人 /p /td td width=" 177" p style=" line-height: 1.75em " 徐杰 /p /td td width=" 161" p style=" line-height: 1.75em " 联系邮箱 /p /td td width=" 187" p style=" line-height: 1.75em " ct_kfjx@126.com /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 成果成熟度 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " □正在研发 √已有样机 □通过小试 □通过中试 □可以量产 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 1.75em " 合作方式 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " □技术转让& nbsp & nbsp □技术入股& nbsp & nbsp □合作开发& nbsp & nbsp √其他 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 成果简介: /strong & nbsp & nbsp & nbsp /p p style=" text-align:center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/599fc25d-25b2-407e-9598-71f126d093d8.jpg" title=" 高速外延片PL谱扫描成像仪- 北京中拓.jpg" width=" 350" height=" 280" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 350px height: 280px " / /p p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp 高速外延片PL谱扫描成像仪利用线激光器激发荧光光谱,利用光谱仪及面阵EMCCD对线荧光采集和光谱分析。这种荧光光谱采集方式较传统点扫描方式,采集速度快,可在短时间内获得高密度点的光谱信息,即1分钟内实现4万点的扫描采集,采集速度提高20倍,波长测量重复精度优于± 0.5nm,光强度稳定性优于± 0.75%。 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 应用前景: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该设备主要用于LED半导体晶片的荧光光谱检测及太阳能晶片的检测,其中LED半导体晶片荧光光谱检测的市场年需求量约50台,市场销售额约为4000万元人民币,针对太阳能晶片荧光光谱测量领域,目前己有设备只能测得荧光光谱强度,并不能获得荧光光谱谱线形状,及光谱波长等细信息,该设备可快速获得太阳能晶片的荧光光强及光谱信息,具有独特的技术优势,预计太阳能晶片的市场年需求量约在20台左右,市场销售额约为2000万元人民币。 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 知识产权及项目获奖情况: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该产品获得3项发明专利:半导体晶片的高速荧光光谱检测装置、半导体晶片的托起装置、半导体晶片的检测装置。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该项目获得北京市科委“2014年首都科技条件平台科学仪器开发培育项目”的专项资金资助。 /p /td /tr /tbody /table p br/ /p
  • 给太阳“拍写真”——揭秘太阳X-EUV成像仪
    日前,我国气象卫星风云三号E星首批高精度、多波段太阳图像正式发布,不仅展现出太阳不为人知的“另一面”,通过数据我们更能了解太阳,为更精准、更及时预报空间天气提供有力支撑。一颗散发着金色光晕的球体缓缓转动,沸腾翻滚的表面变幻莫测,仿佛藏着许多奥秘,这就是令人震撼的太阳“写真”。拍摄“写真”的神器,是“黎明星”风云三号E星搭载的太阳X射线-极紫外成像仪(简称X-EUV成像仪)。该成像仪是由中国科学院长春光学精密机械与物理研究所研制。项目负责人陈波介绍,X-EUV成像仪是我国第一台空间太阳望远镜,也是国际上首台具有X射线和极紫外两个波段的太阳成像仪。气象卫星为何要给太阳“拍写真”呢?陈波说,太阳不仅影响地球的天气,也是空间天气的“始作俑者”。空间天气是指日地空间环境的变化。太阳是距离我们最近的一颗恒星,当它“发脾气”时,比如耀斑爆发或日冕物质抛射,都会影响地球的磁场和电离层,可能导致卫星失控、导航失灵、通信故障,甚至影响电网、石油管道等基础设施。“今年开始太阳逐渐进入活动峰年,国家需要及时准确的空间天气预报,这台仪器上线得非常及时。”陈波说。当我们观察太阳时,只能看到可见光波段。X-EUV成像仪可以用X射线和极紫外两个波段监测太阳,并能在两个波段间切换,相比可见光波段,能看到太阳更多细节,更早预报太阳活动,提早预报灾害性空间天气事件。此外,成像仪在太空中运行不受日照、天气、大气等条件影响,可以全天候、连续监测太阳活动变化。X-EUV成像仪还可以进行在轨辐射定标。“比如太阳耀斑,一般仪器只能测得耀斑的相对亮度,就像地震时只知道地震发生但不知道具体震级。X-EUV成像仪利用自带的辐射定标装置,对X射线和极紫外图像进行定标,从而确定耀斑等级。”陈波说,“可见光波段成像仪器的辐射定标技术比较成熟,但对X射线和极紫外波段成像仪器的在轨辐射定标,我国还是第一次。”如何实现在卫星旋转的过程中“镜头”还能对准太阳,稳稳地按“快门”让照片不“虚”,陈波团队着实费了不少周折。“首先需要针对极轨卫星特点,设计成像仪的跟踪、稳像方案,研制具有我国特色的跟踪稳像系统。”陈波说,为了在地面拍摄可见光太阳图像,验证系统功能,团队成员在零下20多摄氏度的冬天进行场外测试,成宿成宿地做实验。“我们计划在风云四号卫星上搭载一个类似的成像仪,而且分辨率更高,波段范围更广。”陈波说。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制