当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

衍射光谱仪

仪器信息网衍射光谱仪专题为您提供2024年最新衍射光谱仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括衍射光谱仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的衍射光谱仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合衍射光谱仪相关的耗材配件、试剂标物,还有衍射光谱仪相关的最新资讯、资料,以及衍射光谱仪相关的解决方案。

衍射光谱仪相关的论坛

  • X射线衍射仪和光谱仪概念上区别?

    如题,学业不精啊,在这求知识了。一个朋友最近在烦到底要买直读光谱还是衍射仪,我也搞不懂,但听他说要测晶格结构,也只能买衍射仪,是这样的吗?除了这个还有其他概念上的区别吗?

  • x射线衍射、x荧光、直读光谱3种仪器检测领域

    一、直读光谱仪采用原子发射光谱学的分析原理,样品经过电弧或火花放电激发成原子蒸汽,蒸汽中原子或离子被激发后产生发射光谱,发射光谱经光导纤维进入光谱仪分光室色散成各光谱波段,根据每个元素发射波长范围,通过光电管测量每个元素的最佳谱线,每种元素发射光谱谱线强度正比于样品中该元素含量,通过内部预制校正曲线可以测定含量,直接以百分比浓度显示.己被广泛使用于几乎所有的光谱测量,分析及研 究工作中,特别适应于对微弱信号,瞬变信号的检测.二、X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成.X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品.受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性.探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量.然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量.广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域三、X射线衍射仪"可分为"X射线粉末衍射仪"和"X射线单晶衍射仪器".由于物质要形成比较大的单晶颗粒很困难.所以目前X射线粉末衍射技术是主流的X射线衍射分析技术.单晶衍射可以分析出物质分子内部的原子的空间结构.粉末衍射也可以分析出空间结构.但是大分子(比如蛋白质等)等复杂的很难分析.X射线粉末衍射可以1,判断物质是否为晶体.2,判断是何种晶体物质.3,判断物质的晶型.4,计算物质结构的应力.5,定量计算混合物质的比例.6,计算物质晶体结构数据.7,和其他专业相结合会有更广泛的用途.比如可以通过晶体结构来判断物质变形,变性,反应程度等

  • 激光粒度分析中的二次衍射

    激光粒度分析中的二次衍射

    激光粒度分析中的二次衍射任中京(山东建材学院,济南,250022) 摘要本文计论了双层颗粒群产生的二次衍射,并给出了二次衍射复场分布的表达式,同时讨论了二次衍射与颗粒浓度之间的关系,找到了抑制二次衍射的最佳浓度。本文结论对于提高激光粒度仪的测量准确度具有重要意义。关键词激光:粒度分析;二次衍射引言各种激光粒度分析仅均是通过检测颗粒群的衍射谱来分析颗粒大小及其分布的。为获得正确的衍射谱。需要颗粒群散布在同一平面上。而事实上,颗粒群在检测区内很难呈二维分布。对于动态颗粒群更是如此。只要颗粒群不满足二维分布的要求,那么经颗粒衍射的光,就有可能再次发生衍射.我们把此种衍射称为二次衍射。在激光粒度分析中,二次衍射是测量误差的主要来源。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441910_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441911_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441912_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441913_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441914_388_3.jpg我们注意到衍射谱归一化总能量恰好等于入射光强度I0,这是物空间与频谱空间能量守恒的结果。 (18)式定量地给出了衍射谱中各种成分之间的比例关系,为我们研究抑制二次衍射的途径提供了依据。3 抑制二次衍射的最佳浓度从(18)式可见,在衍射谱中有三种成分同时共存,它们对粒度分析的作用各不相同:透射项对粒度分析没有贡献,应尽量减少;一次衍射谱是粒度分析的依据,要尽可能增强;二次衍射谱的作为一种宽带噪声叠加在之上,应尽力抑制。此三者在谱面上的分布如图 4所示。为了找到一个抑制二次衍射的最佳比例,我们把各项强度随 K值变化的规律及典型值列于表2,取I0=I,并绘出曲线。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281101_441915_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281101_441916_388_3.jpg4 结论综上所述,二次衍射谱是一次衍射谱的卷积,是叠加在一次衍射谱上的宽带噪声。二次衍射强度正等于颗粒在光轴方向重叠的几率。理论分析表明:当颗粒在分散介质中的体积浓度C0=0.17时,二次衍射可以得到有效地抑。本文讨论仅限于二次衍射,对于三维分布题粒产生的高次衍射,有待进一步研究。参考文献l J.W.顾德门.付立叶光学导论。北京:科学出版社,19792 REN,Z.J.eta1.PARTICUOIAJGY,1988

  • XRD衍射仪X光管产生X射线检测样品的深度

    在XRD衍射仪中X光管产生的X射线检测样品的深度一般是多少,与测样光束的宽度有没有直接关系?与待测样品的材质有没有关系?与衍射光路的接收器(探测器)有没有关系?X射线对测样的深度能否根据需求进行调节?待测样品的高度对X射线检测有何影响,待测样品越高检测的2Theta的起始角越大?

  • 【求助】x射线衍射仪光管(国产)哪家的好用

    请教各位老师,由于实验室有台老x射线衍射仪的光管坏了,原装的贼贵,好几万,想买个国产的,上网查了一下,丹东有好几个厂有卖,玻璃管的Cu靶大概几千一个。不知道大家有买过国产的光管没,都是哪些厂家的,性能怎么样。谢谢大家先!

  • 多晶电子衍射谱

    请问多晶电子衍射谱标定时,只要是不消光的面就一定会出现吗?衍射环强度会按照PDF卡片的强度吗?

  • 网络讲堂:9月30日 X射线衍射中的光谱问题的新探讨

    http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gifX射线衍射中的光谱问题的新探讨讲座时间:2014年09月30日 09:30主讲人:鲍朝晖博士帕纳科荷兰总部应用支持中心XRD应用专家http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif【简介】 这个研讨会将包含两个部分。第一部分除了介绍Bragg-BrentanoHD外还将通过一些具体测量数据介绍它在粉末衍射,小2Θ角度方面的性能提升度, 以及在透射式衍射,薄膜衍射,应力和纳米颗粒的分析方面的应用效果。第二部分进一步介绍SAXS技术以及ScatterX78的特性,并解释如何在Empyrean 锐影X射线衍射仪平台上进行SAXS/ WAXS器件配置。最后我们会给它在测量如胶态分散体,表面活性剂体系,聚合物,纳米粉末和纤维的数据质量以及相关分析。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间:2014年09月30日 9:004、报名参会:http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg

  • 【求助】什么叫光衍射?

    在材料评价的高分辨电子显微方法中,97页上,提到光衍射花样和电子衍射吻合。是不是指高分辨FFT得到的变换后的图样?谢谢!

  • 大气中光的传播==光在大气中的衍射

    光波在传播过程中,遇到小尺度的障碍物时(指光波波长比障碍物尺度大得多),光波具有的绕过障碍物而形成明暗相间光环的本领称光的衍射。例如光波可绕过小孔产生衍射,在纸屏上生成明暗相间的衍射光环。  在大气中传播的日光或月光遇到小云滴(小雨滴或小冰晶)等障碍物时,会绕过这些障碍物而产生衍射。当天空中存在由均匀小云滴组成的透光高层云或透光高积云时,月光在透过云层时遇云滴而产生衍射,由于云滴大小均匀,形成的衍射环能迭加,从而出现以月亮为中心的一圈圈明暗相间彩色光环,这就是华。

  • X射线衍射仪

    想知道X射线衍射仪高压开启但不使用光管,会对X射线衍射仪的光管寿命产生影响吗?

  • 推荐X射线粉末衍射仪等招标

    X射线粉末衍射仪等招标公告 (权限申请中)1 自动X射线粉末衍射仪 X射线粉末衍射仪主要用于研究物质晶体结构、物相分析、测定点阵参数等。主要技术规格1.高稳定X射线发生器1.1 额定功率:3KW, 最大管电压:60KV, 最大管电流:50mA1.2 稳定度:≤±0.01%(电源电压浮动10%)1.3 管电压和电流升降由计算机自动控制1.4 高压电缆:100KV介电强度,长度2米1.5 保护及报警装置KV过高,KV过低保护 整机过电流保护:20AX射线管功率超限保护 冷却水断水保护整机机柜全部安全防辐射保护,带窗口连锁,在防辐射外罩外射线剂量低于2.5μSv/小时2.X射线管2.1Cu 靶(国产),2.0KW,1×10mm焦点3.测角仪测角仪方式:卧式,水平扫描扫描半径:180mm准确度:±0.01° 狭缝:发散狭缝,接收狭缝,防散射狭缝 滤片:Ni、Fe4.X射线强度测量系统检测器:闪烁计数器 计算机自动控制 线性脉冲放大幅度分析器高压稳压电源5操作控制系统5.1 微型计算机:品牌PC机,17’彩显。5.2 打印机: A4 HP激光打印机5.3 前级控制机,计算机串行接口,RS485通讯6.操作分析系统及应用分析软件(Windows版本)BD2000衍射仪操作系统 BD2000衍射图谱分析系统图谱分析 数据查询6.1 粉末衍射分析应用软件定性物相分析及PDF卡片库(1—89集) 定量物相分析未知衍射图指标化 晶胞参数精密修正6.1.1 多重峰分离(峰形分析)衍射峰Kα2扣除7.冷却水循环系统分体式结构:压缩机壁挂室外 制冷量每小时3200W 1 台 2 光斑分析仪 1. M2因子测量系统光谱范围:250-2400nm • 分析激光束的传输特性,预测激光束的聚焦能力• 可测量脉冲或连续激光• 高精确度、高稳定性、全自动快速测量• 可直观地目视检测不同位置光束外形变化• 直接得到M2因子、光束发散角、束腰半径和位置、光斑分布、对称性等参数• M2-200-ACC-BB2. LBA-710PC-D 光束分析系统• 含图像采集板卡和测试分析软件,齐全的软件功能和强大的数据处理能力• 可测量连续和脉冲激光• 二维/三维显示光束横模(光束轮廓和能量分布)• 峰值功率及峰值位置 光斑大小及光斑椭圆度• 光束发射稳定性和均匀性 与高斯光束匹配情况分析• 光束发散角测量• LBA-710PC-D 附件:1)数字硅CCD-6612摄像仪及数据线光谱范围:190-1100nm 像素数:650×494 像素大小:9.9×9.9μm2)光束采样/分析系统 10位数字采集卡及光束质量分析测试软件3)光采集与可调光束衰减器 石英分束衰减器及不同衰减程度的中性密度滤波片组 工作波长:400-2400nm 1 台 3 单光子计数实验系统 主要技术指标 光谱采集范围: 360-650 nm积分时间:0-30 min(1ms/档,可调) 最大计数:≥107域值电压:0-2.56 V(10mV/档,可调)暗 计 数:≤30CPS/S (探测器CR125 -20℃) 2 套顺祝 商棋刘飞------------------------------------------------------------北京智诚风信网络科技有限公司地址:北京海淀区五道口华清商务会馆1606室邮编:100084电话:86-010-82863476-25 13521383769传真:86-010-82863479Email: liufei@bidchance.com网址: http://www.bidchance.com

  • 用于激光颗粒测试技术的非球形颗粒的椭圆衍射模型

    用于激光颗粒测试技术的非球形颗粒的椭圆衍射模型

    用于激光颗粒测试技术的非球形颗粒的椭圆衍射模型任中京 王少清( 山东建材学院科研处 济南250022)提要:激光颗粒大小测试的结果与颗粒形状密切相关。通过对椭圆衍射谱的研究, 提出在激光粒度分析中以椭圆谱代替球形颗粒谱。计算机模拟计算与对金刚砂实测的结果表明椭圆衍射模型可以有效地抑制粒度反演结果的展宽, 更准确地获得非球形颗粒群的粒度分布。关键词 激光衍射, 椭圆模型, 颗粒大小分析, 颗粒形状, 反演1 引言  由于颗粒大小对粉末材料的重要影响, 颗粒粒度测试在建材、化工、石油等许多领域已经成为一种不可缺少的检测技术。由于颗粒形状的多样性, 无论何种测量方法, 均需要颗粒模型。通常假定颗粒为球体, 与被测颗粒等体积的球体直径称为粒径, 或称等效粒径 。然而球体模型在激光衍射(散射) 粒度分析技术中却遇到严重困难—对非球形颗粒测试常常产生较大误差, 表现为所测得的粒度分布较真实分布有展宽且偏小。来自日本和美国的颗粒测试报告也有相同的倾向 。从光学原理上看,激光粒度分析技术是通过检测颗粒群的衍射谱来反演颗粒群的尺寸分布的。非球形颗粒的衍射谱与球体有很大不同: 前者是非圆对称的, 而后者是圆对称的。欲使二者具有可比性需要新的物理模型, 新的模型应满足: 1) 更加逼近真实颗粒;2)对一系列颗粒有普遍的适用性;3)可给出衍射谱解析式;4)在激光测粒技术中能校正颗粒形状引起的测量误差;5)能函盖球体模型。本文将证明椭圆衍射模型是满足以上条件的最佳选择。2 非球形颗粒衍射模型的椭圆屏逼近颗粒虽然是三维物体, 但是在激光测粒技术中其横截面是使光波发生衍射的主要几何因素, 因此只需研究与入射光垂直的颗粒横截面。球体衍射模型即是取颗粒的体积等效球的投影圆作为该颗粒的衍射模型。如图1 所示, 将形状任意颗粒的横截面视为一衍射屏。可分别做出其轮廓的最大内接圆和最小外接圆。设外圆直径为2b, 内圆直径为2a。分别以2a, 2b 为长短轴做椭圆。下面将证明该椭圆屏即为与图1 所示的颗粒横截面等效的非圆屏的最佳解析逼近。2. 1非圆屏与椭圆屏的几何关系由图1 可见,与非球颗粒相对应的椭圆屏的面积S e 恰好为其横截面外接圆与内接圆面积的几何中值,而与该椭圆屏面积相等的圆( 面积等效圆) 的直径Do 恰好为其长短轴2a 与2b 的几何中值。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281105_441929_388_3.jpg此颗粒对球体的偏离可用形状系数K 表示, K 定义为:K=b/a[fon

  • 【求助】x光衍射仪设备结构介绍

    我上很多的网站找都没有找到,上百度搜的多是一些公司的产品介绍,都是一些参数什么的,我想找的是x光衍射仪设备结构介绍的资料,有没有哪位仁兄能给点意见或者有该方面的资料,分享一些,不胜感激!![em61]

  • 【原创】布鲁克的D8 Advance X射线衍射仪的光管问题

    我单位的衍射仪是布鲁克的D8 Advance型粉末衍射仪,小弟刚接手不久,还在学习中。最近光管损坏,想买一只新的换上,尺寸是标准型的,Cu靶。调研时发现有几个选择:一是进口原厂的,质量可能较好,但也最贵;国产的有很多,包括陶瓷管和玻璃管,价格和寿命依次降低。不知道该如何选择。请问大家有没有这方面的经验,介绍一下,帮小弟解惑。如能推荐厂家,更好!

  • 【原创大赛】怎样用好你的衍射仪 ---- XRD的基础知识

    【原创大赛】怎样用好你的衍射仪  ----   XRD的基础知识

    怎样用好你的衍射仪 ---- XRD的基础知识Xiaodong (Tony) Wang, Curtin University不久前有版友问起要XRD的基础知识, 说实话这应该去踏踏实实的看一本介绍XRD的书. 版友们虽然可针对某具体问题回复, 但不太可能具有系统性. 但为了避免版上只有几个高手过招的局面, 我还是应该给新手们做点普及基础知识的工作. 虽然主要是写给XRD衍射仪使用者的, 但租仪器的用户看了也会有帮助, 因为你付了钱, 就要对实验结果有要求.要用好XRD衍射仪, 先要明确你想要从衍射实验中得到什么; 你能调整哪些变量; 怎样调整这些变量以获取你想要的结果; 此外还要定期检查衍射仪的性能.一般来说我们从粉晶XRD谱中能得到的结果包括:1.鉴定物相 — 那么你需要准确的衍射强度以及产生这些衍射的准确的晶面间距2.定量相分析 — 那么你需要可重复的衍射强度(强度的统计性要好, 磨细你的样品10微米)3.解晶体结构 — 那么你需要可重复的衍射峰形+峰越多越好(角度分辨率要好以防止峰重叠, 尽量测到高角)4.求晶粒尺寸(相干衍射畴尺寸) — 那么你需要尽量减小仪器峰宽以突显样品展宽5.求应力和应变 — 同上, 尽量测到高角6.求晶胞参数 — 那么你需要准确的峰位(晶面间距) (要分清是固溶体还是化合物)但实际上: 峰位能测到多准: IUCr曾经做过Round Robin世界上多个实验室的衍射仪测Znic Oxide和Calcite的峰位, 其误差能达到0.05 2θ°强度能测到多准: 世界上多个实验室的衍射仪测Znic Oxide和Calcite的强度误差分别能达到13%和50% (由于后者还有择优取向问题)此外还要考虑你的样品是什么样品:如果是多聚物, 小晶粒如催化剂: 它们的衍射峰可能很差, 需要入射X射线强度大, 还可能是馒头峰所以角度分辨率其实不重要, 注意馒头峰太宽可能和背景无法区分开了.如果是半导体, 蛭石, 药物: 它们的结晶一般很好(峰尖锐), 所以角度分辨率很重要. 注意因为机械或化学处理它们常常出现多形 (将改变晶体学对称性)如果是多相无机混合物: 则应该考虑各相的峰位是否重叠: 如果没有重叠则应尽量增大入射强度, 追求高信噪比以尽量获取痕量物相. 如果峰位有重叠则要追求好的角度分辨率和好的信噪比以尽量区分主相.对扫描速度是否有要求(你付得起多少个小时做一个样): 可根据其调整入射强度, 步长, 计数时间, 和狭缝宽度等你拿到一张XRD衍射谱, 它一般都包含以下的组成部分:粉晶XRD衍射谱实际上是"衍射强度"对"2倍衍射角"的散点图. 所谓的"衍射强度"其实包含X射线衍射信号, X射线散射信号, 和X射线荧光信号. X射线衍射信号中还有你不需要的衍射波长(Kα波长以外的其他波长)引起的信号, 需要剔除 (当然现在的全谱拟合是把Kβ也拟合进去).X射线散射信号中分样品相干散射和非相干散射, 这些会构成谱图的背景. 此外还可能来自样品架的散射也是需要避免的, 它会在低角处产生额外的高背景.X射线荧光信号需要避免, 它会造成均匀(随2θ不变)背景. 因为入射光子的能量是一定的, 荧光产率上去了, 衍射信号就少了, 记住你是在做XRD不是做XRF.目前的精修软件一般可拟合衍射信号, 但是背景里面的散射和荧光是不可拟合的(也很难区分开), 所以做实验(扫描)的时候就要尽量减小这些非衍射现象. 典型的例子: 不能用Cu靶XRD扫铁矿样品, 因为会产生荧光, 要换成用Co靶XRD来做.光源有哪些:实验室X射线光管(X射线的产生装置)基本上是靠高能电子束轰击阳极金属表面而产生X射线. 不同的阳极金属会给出不同能量(波长)的X射线. 常见的阳极靶材有: Cu Co Cr Fe Mo等 显然在参见的测试范围内(5-140 2θ°), 这些波长所能测试的d值范围是不同的, 如下图所示: http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/08/201408310221_512277_1986542_3.jpg这个图的作用是让你正确选择起始角度, 曾经有版友问粘土矿物的001峰怎么没有, 给出的谱图却是从10°开始扫的- -|||基本上扫XRD谱主要是扫晶面间距d值, d值能测到多准? 你对Bragg公式做全微分就能看出来: 主要是看测角仪的角度能测到多准. 如下图. (注意全微分后θ是弧度. 我看了很多书里这个图的y轴都是画错了的, 就是没注意到这个问题) http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/08/201408310225_512278_1986542_3.jpg所以峰位测得准,你的d值才会准. y轴的负号表示:高估角度将会低估d值.那么为什么角度会有偏差呢? 主要是因为你的衍射实验可能有如下的主要偏差来源:1. 样品面高度不在仪器圆中心 (这是最常见的也是唯一可简单避免的偏差, 因为下面的偏差不容易发现与矫正)2. 光路各组件没对准 (工程师调的时候就要他对准)3. 两个转臂2:1角度关系不准 4. 2θ零点误差5. 低原子序数元素样品的穿透太深, 造成平均衍射面低于仪器圆中心6. 平板样品偏差7. 光线在测角仪轴方向上有发散, 再密的sollor狭缝也是有宽度的8. 计数器记录误差9. 由Kα2带来的峰形畸变你可控制的变量:1. 光源: 选择X射线光管阳极金属材料, 在常见的靶材 Mo, Cu, Co, Fe, Cr 的Kα能量中找出对你的样品中各物相的质量吸收系数小的, 且各相间的质量吸收系数相差不大的. 用点光源还是用线光源(目前普遍用的是线光源long fine focus). Kβ滤片根据阳极靶材的不用而不同. Mo靶用Zr滤片, Cu靶用Ni滤片, Co靶用Fe滤片, Fe靶用Mn滤片, Cr靶用V滤片. 或者考虑用不用, 用什么单色器, 是放在入射束还是反射束. 光管阳极发光区域射向各个方向的强度是不同: 基本上沿被轰击的矩形区域呈圆柱状分布: Be窗口只采用低出射角的光线主要是为了让出射X射线更细, 其实强度在垂直方向上确实最强的. (现在有人用光纤把射向其他方向X射线也利用起来.) 如果要用line-fine focus, 阳极靶上受轰击面积将非常小, 尽管光管功率开低, 减少受照射面积使能量密度W/mm^2升高的. 当面积持续减小使能量密度高于350W/mm^2以上时, 普通水冷已经不够散热了, 需要改用转靶或者液态金属阳极.光管出射的X光线既包含连续谱也包含特征谱, 但你的XRD实验只需要一种波长的X射线, 这就需要滤光: 用对应的kβ滤光片可以可以去掉大部分kβ和连续谱. 探测器本身也有一定的能量分辨率, 闪烁计数器最宽(差), 正比计数器稍微好点, 反射束单色器更窄, 最窄的还是入射束单色器. 但要注意: 越窄也意味着XRD谱图的强度更低, 你需要在强度和角度分辨率中作权衡. 总的来说, 优良的单色器可以减小半高宽, 使峰之间的重叠减小.2. 样品: 虽然大多数粉晶XRD是用的Bragg-Brentano反射几何, 但你也可以把样品装进毛细管中用Debye-Scherrer透射几何的, 粒径一定要细10微米, 如果是针状或者板状的样品要防止择优取向, 要用侧装样品架.3. 狭缝: 一般是固定宽度狭缝, 也有程控狭缝随2θ逐渐张开的, 入射狭缝和接受狭缝的宽度都决定强度和角度分辨率.4. 信号检测: 扫描程序由样品的类型而定, 主要是决定扫描角度范围, 步长, 每步驻留时间. 峰尖锐的把扫描步长设密点, 峰宽的把步长减小,适当增加驻留时间.衍射仪各光路组件对最终峰形的影响:1. 光源: 光管内钨灯丝发射电子轰击到阳极靶上是基本呈矩形(长l近似于钨灯丝长度,宽w),在常用的long-fine focus 下,从光管出来的x光线宽度为w Sinα,长近似于l. 光源峰形基本上是对称的Voigt峰形. 2. 降低轴偏差的soller狭缝: 用于防止光线偏出仪器圆所在平面: 如光源左端的光线射到样品再射入接受狭缝右端将使被记录信号的2θ偏低. 注意在高角下此误差将使峰位往高角移动: 这是因为光源左端的光线射到样品右端再射入接受狭缝的左端.3. 平板样品偏差: 大家会用AutoCAD的去画个图可知, 只要不是射向仪器圆心的光线, 都会被样品反射到接受狭缝的低角处. 所以平板样品偏差将使峰形往低角偏.4. 样品穿透等效于样品平面低于仪器圆中心, 将使峰形往低角偏.5. 发散狭缝和接收狭缝再窄也有宽度, 这会使峰形增宽.6. 各组件若对得不好也将产生一个对称的发散.所以, 除了kα2和高角轴偏差会使峰位往高角移以外, 其他都使峰位往低角移.发射狭缝有固定的也有程控的. 固定

  • 【分享】计算粉末衍射谱的小软件poudrix

    免安装,很好用[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=122243]poudrix[/url]POUDRIX程序POUDRIX第2版(2001年2月)是一个运行在Windows XP上的X射线(光管或同步辐射)或中子衍射粉末衍射谱的仿真程序。它的开发自Delphi2系统(V3)。与第1版的区别:此版本可以处理所有符号赫尔曼或霍尔的GetSpec程序纳入标准或非标准的空间。计算对称算符和特殊位置,对于任何给定的空间群。2 可读取的晶体结构数据类型:CIF文件类型(cif)Poudrix文件(cry)SHELX(inp)powder cell(cel)Lazy-Pulverix (lzy).Poudrix允许:计算谱图,并绘制在屏幕或打印机上对于X-射线,这个版本可能反映电离态的原子(3Z92),4和40eV之间的反常散射能量。中子衍射中未考虑同位素。发布或打印结果。打印图表。模拟谱与实验谱对比:- 生成包含的模拟图(Diffrac-AT)的文件。网上论坛帮助注意:1 - 这是一个实验性的版本未测试结果不能保证。欢迎批评和建议2 - Poudrix的要求将屏幕分辨率1024X768以上。

  • 【求助】请教:X光衍射检测问题?

    【求助】请教:X光衍射检测问题?

    蓝宝石XRD的问题~我对表面存在其他物质的蓝宝石衬底片,进行了X光衍射(对整块片子而不是粉末),得到的图谱中,能有表面存在的这种物质的相关信息吗?另外怎么用HIGH SCORE验证出来~,大侠帮帮忙。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/10/201010172134_251987_2162613_3.jpg

Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制