激光椭偏仪

[em06] 这几种光谱型椭偏仪优势差异在哪？？？？？SENTECH椭偏仪，HJY椭偏仪，Sopra S.A.，AQUILA公司

各位好，请问哪里有椭偏仪可以提供测试？最好是在广州的

椭偏仪结构原理与发展[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=63165]椭偏仪结构原理与发展[/url]

我们实验室有一台德国进口的椭偏仪，型号为：SpecEI-2000-VIS，测量时发现同一个点测量时结果都会有偏差。几次图谱的拟合曲线不一致。有谁知道的告诉小弟一声。非常感谢。

最近工作上涉及到椭偏仪，想知道椭偏仪测量的优点与缺点都有什么？我看了一些资料，说椭偏仪测量存在如下缺点：1、薄膜基片如果是透明的，那么对样品的前处理会很麻烦，很费钱2、如果样品是有机物薄膜，椭偏仪很难测出结果来3、椭偏仪测量得到的数据需要手工处理，很复杂，非专业人员无法处理，暂时没有软件可以直接得薄膜的厚度、折射率、吸收系数值4、测量吸收系数时不能同时测量透射光与反射光，所以得到的吸收系数是有误差的不知道以上观点是不是正确？ 为什么薄膜的基片不能是透明的？透明的基片对薄膜厚度测量有什么影响？为什么很难得到有机物薄膜的厚度？请指教，谢谢!不知道是否还有其他缺点？

要做毕业设计，有关椭偏仪和椭偏算法的，不知道在哪里可以找到相关的资料，望大家指教指教！~

求教大神，这是老师给的任务 用椭偏仪测薄膜反射率 求教一下 怎么测？

供大家参考！[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=55565]椭偏仪测试聚合物膜厚[/url]

在si片上镀一层纳米碳膜，碳膜表面光洁如镜面，采用椭偏仪测量薄膜的厚度，测量时选择基底材料为si，将k设为0（透明薄膜，不知是否准确或透明薄膜如何定义？），根据SEM测量得到的薄膜厚度拟合得到一个n值(2.0921），采用此n值对类似情况下制备的薄膜进行厚度测量，测量得到的结果还行，基本与肉眼看到的薄膜厚度差别相当。不知此方法是否正确？1.是否能采用透明膜的测量方法测量碳膜？2.采用同一n值测量厚度是否合适？希望高手指点，谢谢！

检测薄板上油膜厚度的仪器，我们目前使用的是日本岛津公司生产的AEP-300椭圆仪（非椭偏仪），但已经停止生产。仪器使用多年故障逐渐增多。美国DONART公司有类似仪器，但是单片检测，不适合用于大生产。请问专家，还有没有同类仪器可供选择？

科研故事：常被轻视的方法研究2012-04-22 22:14 来源：科学网 作者：徐 耀 科研浮躁的一个重要表现是，只重视实验结果（或者数据），而对获得这些结果（或者数据）的方法重视不够，所以经常对别人发表的好结果望洋兴叹，而不去下辛苦掌握些方法论。举个例子，给定一层厚度在100-200纳米的有支撑透明光学薄膜，如何准确测量其厚度和光学参数（比如最根本的折射率和消光系数）？猛一看，这似乎根本不是个问题，甚至相关的商用仪器都有很多，但深入分析一下，事情就没有那么简单。原则上，厚度和折射率、消光系数等参数均可通过椭圆偏振仪（椭偏仪）一次性获得，如果是光谱扫描型椭偏仪，则薄膜的色散曲线都可以获得。但是椭偏仪测量基于物理模型，这些模型因物质而不同，对于实际工作中千变万化的薄膜材料和结构，要么物质特殊，要么结构特殊，只要不符合仪器的模型库，测量就无法进行，当然也可以自己建立物理模型，但这个就不是购买仪器的初衷了。所以，不能指望商用仪器解决一切，还是要自己掌握其中的方法论。还是这个光学薄膜，我们建立了自己的方法论。首先，通过X射线反射谱准确测量薄膜的绝对物理厚度，这是不依赖于任何物理模型的，是由薄膜上下表面反射光干涉引起的，只要量出反射率曲线中相邻震荡峰的间隔就可以获得薄膜厚度。然后，以这个厚度为初始参数，对薄膜的透射谱进行拟合，以获得薄膜的光学参数。基于分光法的透射谱很准确，而透明基底会给椭偏仪测量带来额外误差，因此我认为对透射谱进行拟合要比依靠椭偏仪靠谱。利用透射谱拟合也要涉及几种色散模型，但这些模型是通用模型，与薄膜结构无关，经过对比研究后应该可以确定最适合的模型。在此基础上，我们可以对不同类型的薄膜区别对待，建立各自的测量方法。我们以前认为只要有了椭偏仪，薄膜测量就没问题了，没想到有了仪器，问题更多更让人烦恼，因为得到的数据常常超出正常。我们做的这些工作，不具备太多创新性，按理说不符合现在对科研的期待，但是我们掌握了方法，我认为这样的工作很有意义，一旦方法建立，就像给火车铺设了轨道。因此，仪器重要，方法论是发挥仪器作用的保障。回过头来，我们为什么经常轻视甚至忽视方法论的研究呢？我认为原因有三。第一，科研考核注重结果的显示度，科研管理偏于目标管理，而非过程管理，科研人员只盯着最终数据。第二，科研人员眼界狭窄，方法论研究往往要深入理论，而理论是很多实验研究人员不愿意碰的。第三，谁都不是哪吒三头六臂，但科研合作不足使方法论研究难以开展。我国目前花大量外汇购买的高精尖仪器很多了，但用得足、用得好的并不多，以至于功能闲置，造成极大浪费，其中对方法论的掌握不足大概是主要原因。因此，科研人员应该多关注方法论研究。

扫描电镜可以测反射率？还是椭偏仪可以？

磁旋光功能材料Faraday Rotator / Magneto-Optical Materials西安奥法光电技术有限公司研制和生产高费尔德常数的磁旋光玻璃Faraday Rotator Glass/ Magneto Optical Glass，耐高温玻璃 低温封装玻璃粉和导电银桨用玻璃粉和其它特殊光学玻璃；拥有全部材料配方、制造工艺和生产装备的自主知识产权和专有技术，二硅化钼MoSi2电热元件及耐高温结构件已获国家发明专利（2003101058656）同时，生产和加工各种精密光学产品。法拉第磁旋光棒，是一种新颖的磁光高科技领域中重要的透明光学功能材料，具有很强的法拉第磁光效应，它能使一束平行于磁场方向的线偏振光的偏振面发生旋转。主要产品:* 逆磁性的法拉第磁旋光玻璃元件（Diamagnetic Faraday Rotators Glass牌号MR1），其灵敏度高，旋光特性（Verdet Constant费尔德常数）几乎不受环境温度（-55—+135摄氏度）变化的影响，高Verdet常数0.071-0.075（min/Oe.cm）@632.8nm, 达国际先进水平 是根据法拉第“磁旋光效应”原理制作新型电子式电流互感器Magnet Optic Current Transform(MOCT)、磁光传感器、高稳定度旋光仪、偏光仪等高科技产品的核心部件。是目前国内外市场上灵敏度较高的与温度变化无关的磁旋光玻璃。* 顺磁性的法拉第磁光玻璃（Faraday Rotators Glass）及旋转元件(Faraday Rotators), 牌号MR3-2，MR3，MR4，其费尔德常数（Verdet Constant）分别为-0.33，-0.34，-0.38(min/Oe-cm@632.8nm)；是旋光性能最高的工业化生产的磁光玻璃材料，光谱透过范围宽400nm-1600nm、透过率高、非线性指数n2低、高消光比、质量因数M等其它技术指标稳定可靠 各向同性、易加工。是大功率及大孔径光隔离器的最佳选择，避免激光系统的自聚焦和反射光而影响激光器稳定性和使用寿命，广泛用于磁光光纤隔离器、磁光衰减器、磁光开关、磁光调制器、各种高精度旋光仪，椭偏仪等磁光器件。* 电子工业和玻璃器皿专用的各种高、中、低温封装、熔接玻璃粉及银桨用玻璃粉。* 磁光电流传感器MOCT和其它光电产品的传感元件。* 各种旋光仪/偏振计使用的高灵敏度、高稳定性的精密旋光元件。Faraday Rotator used for polarimeters.联系人：成波 西安奥法光电技术有限公司地址：西安金花北路126号邮编：710032电话: +86 29 83217659 传真: +86 29 83222377 网址: www.xaot.com 电邮: xaot@21cn.com

众所周知，激光的应用领域在人们生活中可谓是无处不在，你知或不知，激光应用就在那里，用它那精湛的激光加工技术丰富着您的生活。 今天我们就来探讨一下这样一个具有历史代表性的产业链，是怎样逆袭曾经的风貌。 目前随着激光技术的发展，已广泛用于单晶硅、多 晶硅、非晶硅太阳能电池的划片以及硅、锗、砷化镓和其他半导体衬底材料的划片与切割。那么说到这里肯定很多人会问，激光加工技术是利用什么原理来完成划片和切割的这样一个步骤的呢？ 从科学的角度上来讲，激光加工技术是利用激光束与物质相互作用的特性对材料（包括金属与非金属）进行切割、焊接、表面处理、打孔、微加工以及做为光源，识别物体等的一门技术，传统应用最大的领域为激光加工技术。激光技术是涉及到光、机、电、材料及检测等多门学科的一门综合技术，传统上看，它的研究范围一般可分为两大类： 一、激光加工系统； 二、激光加工工艺。 激光加工系统主要包括激光器、导光系统、加工机床、控制系统及检测系统这些配件。而激光加工工艺的范围就略广泛一些，主要应用在切割、焊接、表面处理、打孔、打标、划线、微雕等各种加工工艺。 从功能上来讲，激光加工工艺在激光焊接、激光切割、激光笔、激光治疗、激光打孔、激光快速成型、激光涂敷、激光成像上都有很成熟的一个应用。 另外激光在医学上的应用主要分为三类：激光生命科学研究、激光诊断、激光治疗，其中激光治疗又分为：激光手术治疗、弱激光生物刺激作用的非手术治疗和激光的光动力治疗。激光美容、激光去除面部黑痣、激光治疗近视、激光除皱、都是激光领域是医学行业内伟大的成就。 在军事方面，激光成就了战术激光武器、战略激光武器、激光动力推动器等，此外激光武器的关键技术已取得突破，2013年低能激光武器已经投入使用。 在通信方面，激光通过大气空间传输达到通信目的，激光大气通信的发送设备主要由激光器（光源）、光调制器、光学发射天线（透镜）等组成；接收设备主要由光学接收天线、光检测器等组成。 目前激光已广泛应用到激光焊接、激光切割、激光打孔（包括斜孔、异孔、膏药打孔、水松纸打孔、钢板打孔、包装印刷打孔等）、激光淬火、激光热处理、激光打标、玻璃内雕、激光微调、激光光刻、激光制膜、激光薄膜加工、激光封装、激光修复电路、激光布线技术、激光清洗等 发展前景 由此可见激光的空间控制性和时间控制性很好，对加工对象的材质、形状、尺寸和加工环境的自由度都很大，特别适用于自动化加工，激光加工系统与计算机数控技术相结合可构成高效自动化加工设备，已成为企业实行适时生产的关键技术，为优质、高效和低成本的加工生产开辟了广阔的前景。 激光划片机现状 激光划片机又称为陶瓷激光切割机或激光划线机，采用连续泵浦声光调Q的 Nd: YAG 激光器或绿激光作为工作光源，由计算机控制二维工作台，能按输入的图形做各种运动。输出功率大，划片精度高，速度快，可进行曲线及直线图形切割；无污染，噪音低，性能稳定可靠等优点。 目前，常见的硅晶体划片工艺分接触划片和非接角划片（激光划片工艺）两种： 接触划片工艺： 接触划片工艺主要有锯片切割等多种方法，是过去硅晶体、太阳能电池的切割方法，缺点是精度差，废品率高，速度慢。 非接触划片工艺： 非接触划片工艺主要是激光划片，由于是非接触方式，划线细，精度高，速度快，目前是太阳能电池等划片的主要方法。 江苏启澜激光科技有限公司开发研制的晶圆激光划片机具有国际先进水平，主要适用于表面玻璃钝化硅晶圆的划片机切割加工。激光加工技术已广泛应用于制造、表面处理和材料加工领域。晶圆紫外激光划片机，其无接触式加工对晶圆片不产生应力、具有较高的加工效率、极高的加工成品率，可有效的解决困扰晶圆切割划片的难题。同时，图像识别、高精度控制、自动化技术的发展，使得能实现图像自动识别、高精度自动对位、自动切割融为一体的晶圆切割划片机成为可能。国内激光晶圆切割划片系统的需求正以每年70％的速度增长，2010年的保有量将会达到500台左右，约合3亿元人民币。 国内激光晶圆切割划片系统的需求正以每年70％的速度增长，2010年的保有量将会达到500台左右，约合3亿元人民币。 调查显示，瑞士、美国和日本主要的激光晶圆切割机生产商每年在中国市场约销售近100台，国外设备售价在40～42万美元左右，为了提高我国激光精密加工装备的国产化水平，降低设备的采购及使用成本，提高行业的生产效率。晶圆紫外激光划片技术代表了当今世界晶圆切割加工技术前沿的发展方向，对国家未来新兴的晶圆制造产业的形成和发展具有引领作用，有利于晶圆制造技术的更新换代，实现跨越发展。

我现在需要测量ITO薄膜的厚度，透明的薄膜，大概200纳米左右。用椭偏仪行不行？是不是还需要薄膜的折射率？希望各位大侠指导一下[em61] [em09]

如题，就是一层薄膜，如果用椭偏仪的话是不是一定要知道基底的折射率阿，可是这个也是不知道的，请问还有其他办法吗？

[url=http://www.f-lab.cn/microscopes-system/dplsm.html][b]差分偏光激光扫描显微镜[/b][/url]differential polarization laser-scanning microscope (DPLSM)具有[b]扫描光学显微镜[/b]和[b]分光偏振计[/b]的双重优点，可提供逐像素地实施的生物样本的各向异性数据，在记录生物组织图像强度的同时，能够实时地提供高精度的生物样品的各向异性组织的逐个像素的数据。差分偏光激光扫描显微镜采用模块化设计，可以直接安装到用户现有的激光扫描显微镜上，不用担心改变原来的光路和电子。我公司提供方便安装的差分偏光激光扫描显微镜DPLSM模块,可直接安装到激光扫描显微镜上，不需要改变电路和光路就可使用差分偏光激光扫描显微镜DPLSM功能。差分偏光激光扫描显微镜：[url]http://www.f-lab.cn/microscopes-system/dplsm.html[/url]

【序号】：1【作者】：贾宏博【题名】：实验三 用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度【期刊】：【年、卷、期、起止页码】：【全文链接】：http://wenku.baidu.com/link?url=9AzjmckOe80G4AKO_wbku72TTb4gDjPAZ2aSDHxkAv3LBAes6NzQiocjgyYQIj-xHr_U6OEfxYPtwuPDL7wYESHR8go4Xqd08lOdk13G48m

我看到动态光散射纳米粒度测量的原理图，其中在激光发生器后加了起偏器，是否说明要求激光是线偏振的？什么类型的偏振对纳米颗粒的测量有什么影响吗？还有在光电倍增管前会有一组小孔光阑，这里小孔光阑的作用是什么？哪位高人知道的还请不吝指教。

如题，在PN3621型21角度激光散射检测器的基础之上，德国Postnova分析仪器公司推出了完全脱机型、脱机-在线两用型21角度激光散射仪！即日起，我们上海积利科学仪器有限公司将为国内用户提供这两款静态激光散射仪产品。并且，现有客户的已经装机了的PN3621型在线MALS检测器，也可以升级为在线-脱机两用型激光散射仪，但是需要另付费。

想要用Raman 仪器来测样品的光致发光谱，使用325的激光，是否需要滤波片？ 需要使用什么样的滤波片才能激发出来呀？

激光拉曼光谱仪的应用无机化合物的分析 　　化学结构的测定--无机化合物对称性强，用红外光谱法很难解决，而拉曼光谱测无机原子团的结构、以及测络合物的结构是很方便的。 　　(1)对于汞离子在水溶液中，是以Hg+或Hg2+存在的，用红外光谱是无法确定的。因这两种离子在红外光谱上都无吸收带。在拉曼光谱中可看到(Hg--Hg)2+的强偏振线在169cm-1出现。 　　(2)铊离子在水溶液中是以一价形式存在。因拉曼光谱没有二价铊离子的强偏振线。 　　(3)镓的特征价过去曾有人提出所谓二氯化镓的实验式，如果如此，它应有顺磁性。但与实际不符。后来有人推断其结构可能是Cl2Ga-GaCl2镓原子间有一键，可能有两种构型：　　① 交错式属D2i点群（如丙二烯的氢）。 　　② 平面式属C2v点群（乙烯中的氢）。 　　前者应出现九条拉曼线，有三条是偏振的，后者应出现六条拉曼线，也有三条偏振的。但实际结果表明其熔盐仅有四条拉曼线，其中只有一条是高度偏振的。其他皆为退偏振的。因此上述结构是不可能存在的。实验结果表明，其拉曼谱与水溶液中GaCl4-拉曼光谱相同：　　　　　GaCl2cm-1 　　GaCl4 cm-1　　　　　　115　　　　　　 114 　　　　　退偏振　　　　　　153 　　　　　　149 　　　　　退偏振　　　　　　346 　　　　　　346　　　　　　强偏振　　　　　　380 　　　　　　386 　　　　　退偏振因此所谓二氯化镓，其结构应为[Ca][Gacl]其中一个镓原子为三价，另一镓原子为一价。 　　无机化合物组成分析有三方面 　　⑴测定强酸的离解度 　　⑵测定溶液中络合物的稳定常数。　　⑶测定杂质和混合物的组成。　　用红外光谱测定无机离子是比较困难的。这或因为所测对象是水溶液，或因为强氢键的形成而造成的谱带变宽，总之吸收带复杂化而不利于测定。拉曼光谱则不受水的影响，也无需特殊装置，拉曼光谱对无机离子或分子，以及它们的络合物的分析都是很方便的。硝酸根、硫酸根、高氯酸根、硫氰酸根等阴离子，其特征频率不正离子的性质和它的物理状态影响。 　　对于杂质的测定，例如亚硝酸根中微量硝酸根，用其他方法测定是很难办到的。而用激光拉曼光谱法则很方便。这是因硝酸根和亚硝酸根在拉曼谱上的特征吸收带互不干扰。特别是亚硝酸根的特征拉曼带810cm-1正好作天然内标，硝酸根的拉曼特征谱带在1055 cm-1.测1055cm-1谱带强度与810cm-1谱带强度之比，由工作曲线可检出。检出极为0.2%。

激光干涉仪是以激光波长为已知长度，利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量，具有高强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点。测量长度的激光干涉仪，主要是以迈克尔逊干涉仪为主，并以稳频氦氖激光为光源，构成一个具有干涉作用的测量系统。 激光干涉仪采用一个双光束激光头和一个双通道的处理器，采用飞行采样方式，在测量过程中无须停机采样检测，节约了测量时间和编程时间；利用RENISHAW动态特性测量与评估软件，可进行机床振动测试与分析，滚珠丝杠的动态特性分析，伺服驱动系统的响应特性分析。激光干涉仪的激光头和靶标反射镜二件之间只要发生相对位移就能进行测量，测量系统中无须分光镜、所以对光极其方便。 激光干涉仪可配合各种折射镜、反射镜等来作线性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等测量工作，并可作为精密工具机或测量仪器的校正工作。激光干涉仪可用来精确测量和校准机床、三座标测量机和X-Y平台的机械精度，也测量轴的定位精度、重复定位精度及反向间隙，测量轴的角偏、直线度，测量平台的平面度。

[font=宋体]同样作为激光器，氦氖激光器稳定性比普通半导体激光器的稳定性更高，主要原因在于激光器受温度影响，激光波长会发生偏移，氦氖激光器的温度稳定度相比半导体激光器更稳定，受环境影响更小。[/font]

我是一位新手求助各位：荧光显微镜的激光与检测 滤光片是如何选取的？有没有什么原则，就是那些红色、蓝色、绿色片的选择定则？是否 跟发射波长有关？

激光粒度仪是利用颗粒对光的散射（衍射）现象测量颗粒大小的，即光在行进过程中遇到颗粒时，会有一部分偏离原来的传播方向；颗粒尺寸越小，偏离量越大；颗粒尺寸越大，偏离量越小。散射现象可用严格的电磁波理论，即Mie（米氏）散射理论描述。激光粒度仪本质上是一种光学仪器，其光学结构对仪器性能具有决定性影响。 附件中的论文详细的介绍了激光粒度仪的各种典型光学结构和一些新技术，有兴趣的可下载。增加对激光粒度仪的核心技术的了解，有利于大家选择好适合自己的仪器，并正确使用保养好设备。仪器的使用不像一般性的简单工具，使用人作为实验测试环节的一份子，如果只是单纯的指望仪器的“性能”来保证一切，很多情况下是不现实或者是非常不经济的。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=134458]激光粒度仪的光学结构[/url]

求购： x 光透视仪 1台 激光标刻、激光陶瓷打孔、激光银片切割设备若干