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济量射线仪
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济量射线仪相关的方案
全反射X射线荧光(TXRF)前处理方式的考量
全反射X射线荧光(TXRF)是一种微量分析方法,特别适用于样品量小的样品,一次分析所需样品量,固体材料可达μg级,液体样品则通常少于100μL。
如何用X荧光射线硫分析仪检测煤炭硫含量?
X荧光射线硫分析仪是一种利用X射线荧光光谱原理进行元素分析的设备。它通过激发样品产生X射线荧光,然后通过检测荧光的能量和波长,来确定样品中各种元素的含量。 在煤炭行业中,主要用于测定煤炭中的全硫和硫酸盐硫。全硫是指煤炭中所有的硫元素,包括有机硫和无机硫;硫酸盐硫则是指煤炭中以硫酸盐形式存在的硫。这两种硫的含量直接影响到煤炭的燃烧效果和环境影响。
GNR X射线衍射仪(XRD)对石棉的测试
APD 2000 PRO 为定性和定量的粉末X射线衍射仪。精确电路控制反馈系统,保证X射线发生器更加稳定;预设高压和激发电流,并可实现自动斜坡程度上升;细焦点的陶瓷X射线管具有优良的重现性和稳定性;创新的多样品旋转进样台和多种低背景样品台;采用高聚焦单毛细管准直器,高分辨多探测类型探测器。环境适应性强,可以适合在不同范围下温、湿度下工作,双重安全电路保护设计。
X射线荧光光谱仪测定浮法玻璃渗锡量
将熔窑中流出的玻璃液引流到锡槽中,理想的情况是玻璃经平面成型抛光,从而制得高质量低成本的浮法玻璃。然而在生产过程中锡离子也进入玻璃下表面即玻璃渗锡,成为浮法玻璃的固有缺陷。渗锡后玻璃的光散射及渗锡层和玻璃块体的折射率差异增大,且玻璃透光率也降低。经热处理后的玻璃表面2价锡被氧化成4价锡从而引起区域体积变化,形成玻璃缺陷。所以渗锡量是浮法玻璃渗锡过程的一个重要控制参数,通过波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)建立校准曲线可以测定不同规格类型的浮法工艺玻璃,X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃表面的锡层并得到对应的强度信息,进而算出较为通俗的厚度计量单位(ug/cm2),适用于玻璃表面的锡层厚度分析,从而达到快速控制生产的目的。
奥龙集团:利用X射线衍射仪进行多相物质的相分析
一、实验目的1.概括了解X射线衍射仪的结构及使用。2.练习用PDF(ASTM)卡片及索引对多相物质进行相分析。二、X射线衍射仪简介传统的衍射仪由X射线发生器、测角仪、记录仪等几部分组成。自动化衍射仪是近年才面世的新产品,它采用微计算机进行程序的自动控制。图实2-1为日本理光光学电机公司生产的D/max-B型自动化衍射仪工作原理方框图。入射X射线经狭缝照射到多晶试样上,衍射线的单色化可借助于滤波片或单色器。衍射线被探测器所接收,电脉冲经放大后进入脉冲高度分析器。操作者在必要时可利用该设备自动画出脉冲高度分布曲线,以便正确选择基线电压与上限电压。信号脉冲可送至计数率仪,并在记录仪上画出衍射图。脉冲亦可送至计数器(以往称为定标器),经微处理机进行寻峰、计算峰积分强度或宽度、扣除背底等处理,并在屏幕上显示或通过打印机将所需的图形或数据输出。控制衍射仪的专用微机可通过带编码器的步进电机控制试样( )及探测器(2 )进行连续扫描、阶梯扫描,连动或分别动作等等。目前,衍射仪都配备计算机数据处理系统,使衍射仪的功能进一步扩展,自动化水平更加提高。衍射仪目前已具有采集衍射资料,处理图形数据,查找管理文件以及自动进行物相定性分析等功能。
X射线荧光光谱法测试催化剂中贵金属含量
使用X射线荧光光谱进行催化剂中贵金属含量的检测,是一种低成本短周期的测试方法。XRF贵金属检测的难点在两个方面:一个是贵金属含量较低,在50-5000ppm间,光谱强度低稳定性较差;另一方面产品的生产过程步骤较多(至少两次的涂层涂覆,传统方法涂覆量差异较大),产品的一致性较差(产品最终的元素组成差异较大),有着显著的基体效应。使用采用超短距光学耦合技术的Perform’X 能够帮助贵金属元素激发更高的谱线强度。本方案就以陶瓷催化剂为例,对使用X射线荧光光谱法测试催化剂中贵金属含量进行讨论。
岛津X射线衍射内标法测定烧结矿中FeO含量
X射线衍射仪(XRD)是一种应用广泛的结构分析手段,除了能够对烧结矿样品进行物相定性分析,还可以利用内标法对FeO含量进行定量;相较于常规的看火法和化学分析法,X射线衍射法操作简便、定量准确度较高。
压片制样-能量色散X射线荧光光谱仪 测定焦炭中钙元素含量
氧化钙是焦炭中的一种常见氧化物,其含量对焦炭的质量具有重要影响。首先,氧化钙含量高会导致焦炭的灰分增加,降低焦炭的热值;其次,氧化钙会降低焦炭的机械强度和耐磨性,使焦炭易碎,不利于运输和使用。钙元素的测定方法有滴定法、ICP光谱法、ICP质谱法、原子吸收光谱法、X射线荧光光谱法等分析方法,前4种分析方法都需要将焦炭样品进行酸解成液体再进行分析,整个过程需要使用危险试剂且处理过程复杂;而X射线荧光光谱法具有制样过程简单和测试过程快速等优点,用于测定焦炭中的钙元素含量具有非常大的优势。本方案采用压片制样-X射线荧光光谱法对焦炭中钙含量进行测试。
奥龙集团:Y-2000型X射线衍射仪测定钛铁矿中金红石含量的一种方法
99.5%),配制成一定比便的混合样品,使加入的纯金红石型二氧化钛在混合样品中所占一定的比例R′。3 试验条件本试验使用的钛铁矿样品为广西某矿。试验在国产X射线衍射仪上进行,试验参数:扫描方式:连续扫描 波长:1.54178KX滤光片:Ni 驱动方式:双轴联动扫描速度:0.01度/秒 单色器:石墨弯晶单色器 X光管:Cu靶 发散狭缝:1° 探测器:正比探测器 管电压:30KV 防散射狭缝:1° 起始角度:22° 管电流:20mA 接收狭缝:0.2° 终止角度:30°4 试验结果 本试验所配的混合样品R′为2%,对钛矿粉和混和样品分别有X射线衍射仪进行检测,得出X射线衍射图谱。由峰型处理软件得出IR,I R′,代入公式中,计算出钛矿中的金红石含量,结果如下:R′IRI R′金红石含量(R)2%1 9501 9551.9%2%1 9231 9401.9%2%1 9641 9731.9%5 结论 随着钛白行业的日益发展,钛铁矿资源日趋紧张,矿的质量也参差不齐,结生产带来了不稳定因素,尤其是某些矿中含量不定的少量金红石,对生产的收率和操作难度都带来了较大的影响。 本方法是作者从事质检工作的过程中发现的,试验在丹东射线仪器有限责任公司生产的Y-2000型X射线衍射仪上进行,虽然检测的为微含量物质,系统误差影响较大,但本试验采用净积分强度计算的方法,有效地降低了杂峰的影响,使测定的准确度有了进一步的提高,并且结果且有较高的可信度,在我厂的生产实践中也证明了这一点。目前,已用这种方法进行了多次检测,取得了较好的效果。
X射线照射导致有机物的表面老化
介绍了在X 射线照射后受到损伤的两种有机物的测定事例。该损伤导致的化学状态或者成分变化对XPS 测定数据的分析带来重大影响。因此,建议在尽可能低的X 射线功率下进行测定,但需要注意的是,照射X 射线强度和得到的信号强度成正比
如何选择燃料用X射线荧光测硫仪
本文通过解读燃料硫浓度的强制性国家标准,比较了尽可能多的各国燃料中硫测定的X射线荧光光谱法标准,主要是比较标准中的重要指标,如:重复性r、再现性R、合并定量限(PLOD)等,及不同标准所采用的各种不同的X射线荧光光谱法,结合具体应用和市场上大部分的X射线荧光测硫仪,给出了选择X射线荧光测硫仪的方法。特别是结合本公司的X射线荧光测硫仪,给出了选择本公司的各种不同的X射线荧光测硫仪的方法。
高灵敏度X射线荧光光谱仪快速测定精矿各元素含量
精矿类样品具有矿物组成与元素组成复杂、元素含量范围宽、杂质与有害元素含量低等特点,对传统分析方法带来挑战。单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪结合快速基本参数法大幅提升精矿类样品元素分析精度,同时具备元素分析范围宽、分析速度快等特点,为快速筛查鉴定精矿成分提供了新的有利工具。
布鲁克X射线衍射仪石棉检测技术方案
布鲁克X射线衍射仪石棉检测技术方案
XRD应用分享 | X射线反射率
作为一种非破坏性的表面敏感技术,X 射线反射率(XRR)普遍用于薄膜厚度和粗糙度的表征。 当X射线的入射角高于临界角时,X 射线束可以部分地透射进薄膜从而在界面反射。
奥龙集团:应用X射线衍射仪分析铝基氧化铜吸附剂的硫化性能
介绍了制备DS01 型铝基氧化铜脱硫剂的方法。对脱硫剂进行了烟气循环脱硫2再生的实验 ,采用 X射线衍射分析了铝基氧化铜对硫氧化物的吸附性能。热态实验和测试分析表明 ,DS01型铝基氧化铜吸附剂硫化性能稳定 含量 6.2%CuO 的吸附剂在 X2射线衍射图谱上没有发现 CuO晶相 ,表明吸附剂表面出现单层分散 使用该脱硫剂进行烟气多次循环脱硫,CuO微晶粒并没有发生明显的团聚现象,表明吸附剂多次循环使用其活性不减。
矿物的X射线衍射测试报告
本实验中,使用浪声映SHINE型X射线衍射仪进行测试,将岩石制成150-200目的粉末样品,在给定的测试条件下,用X射线衍射仪对样品进行扫描 ,取得相应岩石的X射线衍射图谱 ,利用软件进行矿物定性解 译和半定量分析。
GNR 全反射X射线荧光光谱仪 (TXRF) 检测河水中的元素含量
水资源是人类社会发展不可或缺并且不可替代的重要资源之一,对社会经济的发展以及人们的日常生活与生产都发挥着保障的作用。本文GNR 全反射X射线荧光光谱仪对河水样品经酸化、过滤,经富集后直接检测水样。
X射线荧光光谱法分析石油焦中元素含量
依据《SH/T 0934-2016 石油焦中痕量金属元素的测定波长色散X射线荧光光谱法》规定的对生石油焦、煅烧石油焦中元素的分析要求;以及《YS/T 63.16-2019 铝用炭素材料检测方法第16部分 微量元素的测定X射线荧光光谱分析方法》规定的石油焦、煅后石油焦、预焙烧阳极中相关元素的分析要求,使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立工作条件,分析石油焦中Fe、Ca、Si、Na、Ni、V、S元素含量。实验结果表明,分析结果完全优于标准要求。该方法操作简单,分析速度快,无需化学前处理,对环境友好。
X射线荧光光谱仪测定玻璃中的着色剂
玻璃中的着色剂(氧化钴、氧化镍、氧化铁、氧化铬、氧化锰)的含量直接影响玻璃的色度和透过率。在研究高、中、低透玻璃转换过程中,其含量对及时调整配方,使高、中、低透玻璃顺利转换都有很大的指导意义,通常所应用的化学方法须要4~6小时,这些方法对于日常的检查是不适合的。因此,及时而准确地测定玻璃中着色剂显得尤为重要。X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃中的微量元素,无需复杂的样品制备,可在3~5分钟内完成测试。
IDS3010激光干涉仪在扫描荧光X射线显微镜中的应用
在搭建具有纳米分辨率的X射线显微镜时,对于系统稳定性的要求提出了更高的要求。在整个过程中实验过程中,必须确保各个组件以及组件之间的热稳定性和机械稳定性。德国attocube的IDS3010激光干涉仪具有优异的稳定性和测量亚纳米位移的能力,表现出优异的性能。IDS3010在40小时内具有优于1.25nm的稳定性,并且在100赫兹带宽的受控环境中具有优于300pm的分辨率。因此,IDS3010是对所述X射线显微镜装置中使用的所有部件进行机械控制的不二选择,使得整个X射线显微镜实现了40nm的分辨率,而在数据收集所需的整个时间内系统稳定性优于45nm。
便携式X射线分析仪在油品中的应用
X射线荧光光谱仪(XRF)作为一种强大的分析工具,能够对油品中污染物、磨损金属颗粒、添加剂化学组成进行分析。
废旧线路板回收中铜含量的X射线荧光分析—岛津EDX-7000能量色散型X射线荧光分析法
岛津EDX-7000能量色散型X射线荧光光谱仪对废线路板中铜含量的快速分析,方便快捷,既省时省力省成本,又无需化学前处理而减少了对环境造成的二次污染,完全可以替代传统的化学滴定分析法
使用微焦X射线检查装置观察无线耳机的案例
微焦X射线检查装置可以在短时间内无损观察无线耳机中配d备的锂离子电池、扬声器、封装电路板等。透视成像加上CT成像,可以对检查对象的形状和位置等进行详细检查。X射线检查装置今后有望应用于制造业的产品质量等的各种场合。
X射线荧光光谱仪一“眼”识铂_助力汽车催化剂回收
汽车催化剂中的铂元素,作为一种贵金属,通过奥林巴斯X射线荧光光谱仪的分类和适当处理,分拣出汽车催化剂中的铂元素,实现资源的循环利用,使得原本被废弃的铂族金属在未来还有“发光发热”的时刻。
空气颗粒物(PM)滤膜检测--- X射线驻波(XSW)及全反射X射线荧光(TXRF)法
近年来,流行病学研究表明,暴露在富含颗粒物(PM)的空气环境中会对健康产生不利影响。这些研究表明,为了了解它对人类健康的影响,不仅需要了解这些颗粒物的来源、传输媒介,而且还必须研究它们的化学组成及物理性质。本文使用X射线驻波及全反射X射线荧光法两种方法检测大气中PM2.5含量。
XRD应用分享 | 小角X射线散射
X射线小角散射(Small Angle X-ray scattering,SAXS)是通过收集X射线穿过样品之后产生的散射信号,来研究样品1~100 nm范围之内结构信息的技术。
X射线荧光分析洗漱水中的锌(Zn)含量
洗漱水作为一种口腔卫生用品,主要作用就是抑菌、固齿、清新口气。现使用岛津EDX-7000 能量色散型X射线荧光光谱仪直接对某种抗过敏的杀菌消炎洗漱水中Zn含量进行快速无损定量分析,可以有效达到生产工艺对Zn的控制要求,无需化学前处理,可以随时取样分析,操作简单而又快捷。
应用S8 TIGER X射线荧光光谱仪分析锂电池粉末样品中主次成分含量
应用S8 TIGER X射线荧光光谱仪分析锂电池粉末样品中主次成分含量
应用S8 TIGER型X射线荧光光谱仪分析镍矿石中主次成分的含量
应用S8 TIGER型X射线荧光光谱仪分析镍矿石中主次成分的含量
X射线激发的时间分辨光谱解析闪烁体能量转移过程
液体闪烁体探测器被广泛用于中微子和天体粒子检测实验。linear alkylbenzene (直链烷基苯 (LAB))这种液体闪烁体被广泛应用于大规模检测测试中。LAB 是一种极具发展潜力的闪烁体,因为它成本低、闪点高、毒性低,使其比之前常用的有毒和易燃有机闪烁体更易处理。LAB 通常与2,5-二苯基氧佐尔(2,5-diphenyloxazole,PPO) 一起使用,可提高发光效率并将发射光谱延长至到更长的波长。LAB/PPO闪烁体探测系统已用于Daya-Bay1和 RENO2中微子检测实验,也是即将推出的 SNO+3和JUNO4探测器的闪烁体。使用爱丁堡仪器 FLS1000 和 XS1 X射线样品室附件研究了 LAB/PPO 在不同 PPO 浓度下的 X 射线激发发光衰减特性。随着PPO的浓度从1g/L增加到 20 g/L,主要衰变组分的寿命从 7.1ns减少到 1.7 ns。XS1 X射线样品室附件将 FLS1000 PL光谱仪的功能扩展到 X射线领域,为开发新型闪烁体材料创造了强大的表征工具。
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