波前测量仪

仪器简介：能简便、快捷、准确、经济地测量水溶液中的铅离子。技术参数：9682BNWP铅离子复合电极技术参数 电极型号 9682BNWP 测量范围 0.2 ～ 20700 ppm pH范围 4 ～ 7pH 温度范围 0 ～ 80℃连续测量， 80 ～ 100℃间隔测量 重现性 ± 4% 样品 水溶液 电极尺寸 电极长度：110mm 电极体直径：13mm 电极帽直径：16mm 电缆线长度：1m Dual Star双通道pH/离子浓度测量仪主机技术参数： 离子浓度 测量范围：0 &ndash 19999 分辨率：1，2，3 位有效数字 相对精度：± 0.1 mV 或0.05%（取较大者） 单位：ppm，mg/L，M，% 或无单位 测量方法:单已知加量/ 减量法；双已知加量/ 减量法 校正点：2- 6 点 pH 测量范围：-2.000 - 19.999 分辨率：0.1 / 0.01 / 0.001 pH 相对精度：± 0.001 pH 校正点：1 - 6 点 自动缓冲液识别：US，NIST，DIN 和用户自定义 氧化还原电位 （ORP） 测量范围：± 1999.9（mV/RmV/EH） 分辨率：0.1 mV 相对精度：± 0.1 mV 或0.05%（取较大者） 温度 测量范围：-5 - 105℃ 分辨率：-5 - 99.9℃为0.1℃，99.9℃以上为1.0℃ 相对精度：± 0.1℃ 仪表功能 LCD ：双通道显示 输入：两个BNC 接口，两个参比电极接口，两个MiniDIN 接口（温度探头） 方法存储：20 个 密码保护：是 数据存储：1000 组 符合GLP 标准：是 数据传输：双向RS232 接口，可选USB 电缆 IP 等级：IP54 防尘防溅 质量安全认证：CE，CSA，UL，TÜ A，FCC Class A 操作环境：适宜操作温度5 - 45℃ 相对湿度5 - 85%（无冷凝） 电源：4× AA 电池，通用的电源适配器 外形尺寸：9.4 cm（高）× 17.0 cm（宽）× 22.4 cm（长） D10P-82 Dual Star铅离子测量仪 &bull Dual Star双通道pH/离子浓度测量仪 &bull 9682BNWP铅离子复合电极 &bull 927007MD温度电极 &bull 铅离子标准液，0.1M Pb(ClO4)2 &bull 电极填充液 &bull 搅拌器 &bull RS232数据线 &bull 电极支架 配件及耗材9682BNWP 铅离子复合电极 900062 电极填充液Optimum ResultsTM B，5x60mL瓶 948206 铅离子标准液，0.1M Pb(ClO4)2，475mL 948207 硫酸钠溶液，0.1M，475mL 948201 抛光条，24 x 6&rdquo 主要特点：Dual Star铅离子测量仪 &bull 双通道结构具备双BNC接口，双参比接口，双ATC接口，可同时接入两支离子选择性电极或pH电极，对样品中的离子浓度或pH同时测量，同时显示。 &bull 可与铅、氯、氨氮、氟、钠、钾、溴、硝酸根等离子选择性电极（ISE）或pH电极搭配使用，测量溶液中的离子浓度或pH值。 &bull 数字按键便于操作仪表。 &bull 可同时显示被测离子的名称，浓度值，mV值，温度。 &bull 包含针对复杂样品测量的已知加量/减量法，样品加量/减量法。 &bull 自动空白校准功能。 &bull 升级的GLP性能，可设置仪表密码并为每种方法单独设置密码。 &bull 每通道可设置10个测量方法-不同电极的校准数据。 &bull 可存储1000组带日期、时间的数据。 &bull 可通过USB接口更新软件。 &bull 以图形方式显示校准曲线。 &bull 可与自动换样器连用。 &bull 可设置等温点以及温度校准。

天津瑞利光电科技有限公司优势经销美国LUMETRICS波前测量仪ClearWave Plus产品型号：ClearWave Plus关键字：LUMETRICS波前测量仪ClearWave Plus关键字描述：这为隐形眼镜制造商提供了中心厚度（CT），矢状高度（SAG），直径，曲率半径以及所有当前需要三个独立系统才能获得的所有波阵面测量值。产品介绍：ClearWave Plus是隐形眼镜制造商的计量解决方案，可同时测量以下各项：球体，圆柱体，轴Zernike WaveFront像差直径，CT，凹陷标签功率所有这些操作都只需一个按钮即可实现。ClearWave Plus将改良的ClearWave与行业标准OptiGauge厚度测量系统结合使用。这为隐形眼镜制造商提供了中心厚度（CT），矢状高度（SAG），直径，曲率半径以及所有当前需要三个独立系统才能获得的所有波阵面测量值。由于ClearWave和OptiGauge系统已在全球的隐形眼镜制造商的研发实验室和生产设施中实施，因此Lumetrics是眼科相关测量解决方案的提供商。 ClearWave Plus在单一的操作员友好型解决方案中提供了这些产品中更好的产品，从而减少了对隐形眼镜的处理。ClearWave Plus设计用于快速，准确地检查隐形眼镜。参数：高分辨率ClearWave波前传感器（标准）：101x101小透镜阵列网格视野：10.4 x 10.4毫米空间分辨率：0.104毫米球面范围：-74至+37 D（典型湿镜）干球范围为+8至-16屈光度圆柱体范围：典型湿镜±27 D干圆柱范围为6（+/- 3）屈光度球面像差精度0.004（干）球差重复精度0.002 um（干）棱镜测量：棱镜测量0至3棱镜屈光度，适用于干镜棱镜精度0.1棱镜屈光度棱镜重复性0.05棱镜屈光度尺寸测量：直径max.20mm，±25μm厚度和CT-方法论-低相干干涉法-精度0.1μm-重复性0.1μm-测量波长1310nm天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国家原装进口的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

Thorlabs WFS20-K1波前传感器 光学测量仪特性三种小型传感头选项：通用型*大孔径，11.26 mm方形区域*高速度，帧率高达1120 fps包含高质量光刻微透镜阵列(MLA)安装在可更换的磁性支架中针对传感头单独校准套件包含传感头组件和额外的300 µ m微透镜阵列实时测量波前和强度分布适用于连续或脉冲光源USB连接便于PC操作通过TCP/IP实时数据读取灵活的软件选项GUI软件仪器驱动程序包，用于C编译器LabWindows&trade /CVILabVIEW&trade DataSocket实时数据传输.Net用于波前传感器的光学调整架，单独提供Thorlabs的快速Shack-Hartmann波前传感器能够精确测量入射光束的波前形状和强度分布。这些波前传感器包含CMOS传感头和微透镜阵列(MLA)，封装在便于存储和携带的外壳中。波前传感器的性能由传感头和MLA的组合共同确定。我们提供三种传感头：通用型、大孔径和高速度版本。同样，也提供三种不同微透镜间距和焦距的MLA选项，以便根据应用实现最佳准确度和波前动态范围。这些波前传感器的型号包含前缀和后缀，前缀表示传感头类型(WFS30*、WFS40*或WFS20)，后缀表示MLA类型(-5C、-7A或-14AR)或套件类型(-K1或-K2)。套件包含一个传感头和两个MLA。每种传感头用的触发电缆单独出售，使用TTL触发信号时可以另外购买。发货清单标签里面列出了每种型号中所含元件的清单。

PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器关键词：分析仪，PHASICS波前分析仪，波前传感器，波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简单等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！PHASICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。图1 波前校正前与校正后对比 PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉专利技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。 第一部 产品介绍 SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测等）。特点：u 高分辨率（250x250）u 通光孔径大（8.0mmx8.0mm）u 覆盖紫外光谱u 灵敏度高（0.5um）u 优化信噪比 图2 SID4-UV波前分析仪 SID4 波前传感器可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布，波前像差，激光的M2，泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。特点：? 波长范围：400-1100nm? 分辨率高（160x120） ? 消色差 ? 测量稳定性高 ? 对震动不敏感 ? 操作简单 ? 结构紧凑，体积小 ? 可用笔记本电脑控制 图3 SID4位相检测 SID4-HR 波前相差仪可用于检测各种透镜，光学系统的检测，可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像：传函仪、干涉仪，具有操作简便，测量精度高，参数输出方便等优点，正在被越来越多的客户推崇。特点：u 波长范围：400-1100nmu 高性能的相机，信噪比高u 实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）u 曝光时间极短,保证动态物体测量u 操作简单 图4 SID4-HR图5 SID4-HR传递函数检测 SID4 NIR 波前分析仪主要针对1550 nm（1.5um-1.6um）激光的检测，具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。特点：2 高分辨率（160x120） 2 快速测量 2 性价比高 2 绝对测量 2 对振动不敏感 图6 SID4 NIR激光波前检测 SID4 DWIR 波前仪具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um 和8-14um的波前位相，强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。特点：u 光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。 u 光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等u 高分辨率（96x72） u 可实现绝对测量u 可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量，无需额外中转透镜 u 快速测量 对振动不敏感 u 可实现离轴测量 u 性价比高 图7 SID4 DWIR SID4产品型号参数汇总型号SID4SID4-HRSID4 UV-HRSID4 NIRSID4 DWIRSID4-SWIR孔径尺寸（mm2）3.6 x4.88.9 x11.88.0 x8.03.6x4.813.44x10.089.6x7.68空间分辨率(um)29.629.63229.6140120测量点数160x120300x400250x250160x12096x7280X64波长范围350-1100 nm350-1100 nm190-400 nm1.5-1.6μm3-5μm 8-14μm0.9- 1.7μm精准度10nm RMS10nm RMS10nm RMS15nm RMS75nm RMS10nm RMS动态范围100μm500μm200um100μm/~100μm采样速度60 fps10 fps30 fps60 fps50 fps60fps处理速度10fps3 fps1fps10fps20 Hz10Hz 第二部 SID4波前分析仪控制软件 SID4波前分析仪控制软件SID4波前分析仪控制软件与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图，测量光强分布和波前信息。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。Adaptive Optics Loops将SID4 Wavefront Sensor结合您的应用，选配合适的可变形镜或相位调制器，提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠，高精度的解决方案。图8 SID4控制界面SID4光学测量软件KaleoPhasics基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合，可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟，我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系数，曲率半径，PSF等。 第三部 SID4波前分析仪与传统哈特曼波前分析仪比较 与传统哈特曼波前传感器测量结果对比： 技术参数对比：PHASICSShack-Hartmann区别技术剪切干涉微透镜阵列PHASICS投放市场时，已经申请技术专利，是对夏克-哈特曼技术的升级重建方式傅里叶变换分区或模式法夏克-哈特曼波前探测器，局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似，误差大强度对强度变化不敏感对强度变化灵敏PHASICS测量精度高，波前测量不依赖于强度水平校准用针孔校准、方便快捷安装困难，需要精密的调节台PHASICS使用方便取样点SID4-HR达300X400测量点128X128测量点（多个微透镜）PHASICS具有更高的分辨率数值孔径NA：0.5NA：0.1PHASICS动态范围更高分辨率29.6μm115μmPHASICS具有更高的空间分辨率测量精度2nm RMS5nm RMSPHASICS更好的测量精度获取频率60fps30fpsPHASICS获取速度快处理频率10Hz30HzPHASICS可满足大部分处理要求消色差无需对每个波长进行校准需要在每个波长处校正PHASICS更灵活，可以测试宽波段，而不需要校准 第四部 应用领域 ? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域OKO 可变形镜数字波前分析仪XY系列向列液晶空间光调制器XY系列铁电液晶空间光调制器

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

哈特曼波前测试仪 　　WFS150系列Shack-Hartmann波前测试仪，提供了精确、快速的波前测量和光束的强度分布。该仪器是通过分析经微透镜阵列成像于CCD的光斑场的位置和强度进行测量的。使用Thorlabs提供的Shack-Hartmann波前测试仪，可以动态的优化激光波前、测量光学元件波前差，为自适应光学控制提供实时的反馈。 　　Shack-Hartmann波前测试仪由前端带微透镜阵列的高精度的USB2.0（1.3M 像素）CCD相机和软件包组成。全功能的控制和分析软件具有良好的用户界面，菜单包括相机设置、标定、分析和显示项等。CCD相机SM1螺口可方便固定ND滤光片以防CCD像素饱和，及透镜套管以减少散射光，并可用于其他元件的固定。 WFS150系列特点： 实时照射和相位测量 CW或脉冲光源 CCD相机指标： 型号：DCU224M 分辨率：1280× 1024 快门速度：83-1460ms 最大帧率：15帧/秒 尺寸：34× 32× 48.3mm 接口：USB2.0 软件特点： 计算参量 照射和相位分布 模式或区域的重建波前 波前RMS 斜度、聚焦、像散，慧差、球差及高阶像差等Zernike和傅立叶表示 显示/输出： 初始点场成像 强度分布 重建3D波前 表列高度输出 微透镜阵列特征 型号 微透镜阵列有效焦距 特点 WPS150 MLA150-7AR .7mm AR膜（400-900nm） WPS150C MLA150-5C 5.2mm 铬掩模（200-1100nm） 　　Thorlabs提供两种型号的Shack-Hartmann波前分析仪。WPS150，带400-900nm增透膜微透镜阵列，适合对反射敏感的应用领域。WPS150C，由铬掩模微透镜阵列组成，阻止透镜间光传输，具有很宽的光谱范围（200-1100nm），但表现出较强的光反射。

别名：弱吸收测量仪，强激光材料性能测试仪，高功率激光薄膜光热弱吸收测量仪，光学薄膜微弱吸收测量仪，光学材料光热效应测量仪主要特点： 光热效应测量 激光诱导波前形变测量（Hartmann‐Shack）传感器 测量分辨率10pm (~ λ/10,000) 实时吸收测量：ppm级灵敏度 Relaxation of wavefront deformation after heating pulse Thermal lens in fused silica @193nm 主要应用： 光学材料测试 透镜热分析 复杂光学瞬态畸变（如：F‐Theta平场聚焦镜头） 质量控制 高功率激光器（固体激光器、准分子激光器、CO2激光器等）光束测试软件 测试基于ISO标准ParameterStandardBeam diameter光束直径ISO 11146DivergenceISO 11146Beam profile光束剖面ISO 13694Pointing 指向/ pos. Stability位置稳定性ISO 11670M2 质量因子/ Focusability聚焦性ISO 11146Wavefront 波前 / Phase distribution相位分布ISO 15367Coherence 相干-Around 20 various camera types are supported

光弹性系数测量仪姓名：田工(Allen)电话：（微信同号）邮箱：光弹性系数是材料的特性常数 主要是透明材料在受力后，会出现各项异性产生双折射现象。通过光弹性系数以及双折射测量，可以获得材料内部残余应力(Mpa)的值昊量光电提供的设备通过高精密应力双折射测量，可以实现对设备实时应力双折射值（nm）观测采集。于此同时，光弹性系数测量仪 通过高精度加压加力装置，同时获得外部压力（Mpa), 从而获得材料在一定压力下，对应光程差转换常数(nm/Mpa）光弹性系数测量仪产品通过共径干涉仪和基于傅立叶分析法，实现以速度快，精度高，不受振动和空气波动等干扰等特点的双折射测量，系统采用高稳定激光光源（2mw），实现优化化光学元件配置，实现长期几乎免维护时间光弹性系数测量仪参数:变形方式：拉伸/压缩测量样品尺寸：用于拉伸试验：10 x 80 mm用于压缩测试：Φ20mm，薄15mm厚度：0.3 至 15 毫米驱动系统：步进电机左右螺杆同时驱动拉伸压缩距离：100 毫米称重传感器：额定 50 N（可更换为 200 N、1000 N）恒温层控温：室温-200℃温控精度：±1℃光弹性系数测量仪可测量内容：光学特性 光弹性常数、双折射机械性能弹性模量（杨氏模量）、断裂强度通过这些测量，可以进行弹性区域的形态分析以及拉伸特性和取向特性的分析。 光弹性系数测量仪补充基本原理:让具有双折射的样品通过两频正交线偏振光（STZL 振荡光），使其主轴与偏振面重合。每个偏振分量通过样品的速度在样品的“双折射快轴”和“慢相”方向之间不同。因此，通过样品后，会出现“相位差”。通过使用光学外差干涉法检测相位差，可以高精度地定量测量样品的双折射量。外差干涉法测量双折射：通过叠加两个频率略有不同的波，可以观察到等于频率差异的“拍频”。从这个拍品中提取必要的信息称为外差法。由于光也是一种波，它自然会产生“频率“从“光学节拍”中提取信息称为光学外差干涉法。在调音中，我们经常使用音叉。考虑用它来调整你的吉他。一开始，如果在琴弦松动的情况下拨动琴弦同时使音叉发出声音，将分别听到琴弦的声音和音叉的声音。当琴弦逐渐拉紧时，整体听起来像是一个声音，但如果仔细聆听，您会发现声音以非常快的周期重复强弱（状态 1）。随着琴弦进一步拉紧，声音强度的周期逐渐变长（状态 2），最终声音的强度完全消失（状态 3）。这种声音的强度称为“节拍”。当两种声音（波）的频率不同时，感觉节拍就是不同的频率。当音叉音与弦音的频差较大时（状态1），节拍周期快（节拍频率大）。随着两个声音之间的频率差变小（状态 2），节拍周期变慢（节拍频率变小）。这样，两波重叠就产生了“拍”，拍的频率就等于两波的频率差。在这种情况下，音叉的频率是恒定的，因此如果将其视为参考信号，则可以通过拍频来区分（=检测）琴弦的频率，即声音的周期强度。在光的情况下，会发生与声音相同的现象。也就是说，当两种频率略有不同的光叠加时，就会产生与不同频率相等的光拍。这种称为“光节拍”，而光节拍的频率有时简称为“节拍频率”。光节拍被检测为光强度的周期性变化（明暗变化）。如果您向两个光之一提供一些信息，该信息将相应地出现在光学节拍中。这里的信息意味着为光的振幅、相位和频率提供某种信号。换句话说，当一个光具有某些信息时，可以在该光上叠加另一个“参考”光（这称为参考光）并从光拍频信号中提取信息。这种信号检测方法称为“光外差干涉法”。光学外差干涉测量具有以下特点。通过使用锁定放大器等检测信号，可以进行高精度、高灵敏度的测量。当信号信息仅为相位信息时，不受干扰引起的信号光强度波动的影响。它不受不同频率的信号分量（一般是噪声）的影响。通过增加参考光的强度，可以检测到微弱的信号。等等通过相关计算公式最终可以获得待测双折射：主轴方向的同时测量：但是，在上述方法中，（1）必须事先获得样品的双折射主轴方向，（2）主轴方向必须与振荡STZL 的偏振面... 因此，在围绕光轴旋转STZL振荡光的偏振面的同时检测相位差，同时获得双折射量及其主轴方向。为了使偏振面绕光轴旋转，我们利用了半波片的“将发射偏振面旋转了入射偏振面与波片主轴夹角的两倍”的特性。该图显示了使用光学外差法同时测量双折射量及其主轴方向的光学系统。在这种光学外差干涉仪中，STZL 振荡光的两个偏振分量通过完全相同的光路，从光源到光电探测器。因此，扰动的影响——例如振动和空气波动——将影响完全相同的两个极化分量。结果，由这些干扰引起的所有噪声分量都被抵消了，而光差拍信号根本不受影响。一般的光学干涉仪都需要实验设备来去除振动和空气波动，但根据这种测量方法，这种设备是不需要的。这是进行光学测量的一大优势。辅助信息：双折射当光从空气进入透明材料时，光在边界处发生弯曲。换句话说，行进方向发生了变化。这是由于空气和透明材料的不同特性。在我们周围的环境中，当我们进入浴缸或游泳池时，我们可以通过让我们的手臂看起来弯曲在水面上来体验它，水中的东西看起来比实际更近或更大。当光以这种方式进入不同的物质（例如，从空气到水）时，光传播的方向发生弯曲，称为“光的折射”。那么光为什么会折射呢？原因是光通过材料时，其通过的速度不同。从感官上来说，我们可以理解，在水中行走和在陆地上行走，在陆地上的速度要快得多。由于水的密度比空气大，阻力相应增加，所以你不能走得快。粗略地说，你可以用同样的方式来思考光。“当光线穿过致密的材料时，通过的速度会变慢。”如下图A所示，尝试将手腕浸入水中。然后，如果像 b 一样将手移向黄色箭头，由于水的阻力，手会自然弯曲。那时，手背会略微朝下。其实光行进的方向可以用这种方向来表示。在光的情况下，手背的方向称为“波前”。换句话说，当光线进入折射率高的地方时，光线的波阵面由于其电阻而弯曲，结果光线的行进方向发生弯曲。这就是光的折射。折射度因物质而异，每一种都有唯yi的值。

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

美国LUMETRICS公司自主研发的CLAS-2DTM系列波前分析仪（CLAS-2D™ , CLAS-XP™ , CLAS-HP™ , CLAS- NearIR-320™ , CLAS-NearIR-640™ ）能够快速、简单、准确的测量激光光束的波前相位参数，例如波前倾斜，峰谷误差，均方根波前误差，像散，球差，聚焦误差/准直。LUMETRICS公司的波前分析仪是集四波横向剪切干涉仪，光束质量分析仪，自准直仪和四象限探测器为一体的快速、紧凑型波前分析仪器。运用独特的算法能够精确测量三个波段的波前参数：300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。另外, 美国LUMETRICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。波前分析仪产品特点：CLAS-2DTM系列波前分析仪具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！LUMETRICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。波前分析仪应用范围：? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域 CLAS-2DTM产品型号汇总 COMPLETE CLAS-XP System型号81000-0081000-4681000-4781000-4881000-4981000-50焦距（mm）2.02.0474.758.1915.4825.08灵敏度λ/30λ/30λ/50λ/100λ/150λ/200动态范围120λ120λ80λ60λ40λ30λ透镜尺寸（mm）0.0720.0720.1080.1440.1980.252透镜阵列102*102102*10268*6851*5137*3729*29 COMPLETE CLAS-HP System型号81000-2081000-2181000-2381000-24焦距（mm）4.987.7819.9229.62灵敏度λ/100λ/150λ/200λ/250动态范围211λ169λ105λ115λ透镜尺寸（mm）0.1120.1400.2240.280透镜阵列128*128102*10264*6451*51 COMPLETE CLAS-Near IR 320 System型号81000-3281000-3381000-3481000-3581000-3681000-27焦距（mm）25.6936.9911.4417.8725.749.3灵敏度λ/83λ/100λ/46λ/58λ/70λ/50动态范围44λ37λ78λ63λ53λ55λ透镜尺寸（mm）0.4000.4800.3200.4000.4800.225透镜阵列24*1920*1630*2424*1920*1671*56

总铅分析仪/总铅在线检测仪/总铅测量仪总铅在线自动监测仪介绍（一）概 述 在线总铅分析仪运用国家标准砷钼蓝比色法测定，由计算机控制自动完成水样的现场采集、加药、恒温消解、光电比色，直至结果显示全过程。快速连续地实现污水中总铅的全自动分析。适用于企业的污水排放口或装置的进出水口的在线总铜含量的测定。本仪器由采样系统、加药系统、反应系统和控制系统组成，主要功能部件均采用美国和德国公司产品，可靠性高，故障率低，维护工作量少，可实现无人值守，全自动在线连续运行。可根据被测污水总铅值变化，改变测量量程，以保证整个仪器精度。采用大触摸屏进行交互式人机界面，操作简单，具有标准仪器接口，信号输出和通讯接口，可与其它微机系统联接。（二）基本功能1、可设定、校对和显示时间，包括年、月、日和时、分。2、具有设备断电，仪器漏液、试样无法导入反应器等系统异常情况的报警并显示故障内容。同时，停止运行直至系统被重新启动。3、每次测量结束后,自动清洗前处理装置、仪器管路、阀门等部件。4、在仪器最短测定周期至24h内，可任意设定采样监测频次。5、断电、断水的自动保护和来电、来水自动恢复的功能。6、定时清洗、定时做样功能。总铅分析仪/总铅在线检测仪/总铅测量仪7、7英寸动画真彩触摸屏，查看更直观，操作更方便。支持中、英、繁多种语言，可扩展。8、（0 -0.5）mg/l,（0-2）mg/l,（0 -5）mg/l,三档量程可选。9、配备自动采样系统，可定时自动采样，独立于仪器安装，更方便。10、RS232数字接口,4～20mA模拟信号输出，便于和监控中心联网。20mA对应量程可调。（三）性能参数测量方法：二硫腙分光光度比色法测试量程：（0 -0.5）mg/l,（0-2）mg/l,（0 -5）mg/l三档量程可选，可扩展检测下线： 0.05mg/l分辨率： 0.002mg/l准确度： 标准溶液 5%；水样10%重现度： 5%测量周期：45min，可设定无故障运行时间：≧720h/次量程漂移：±5%F.S.总铅分析仪/总铅在线检测仪/总铅测量仪做样间隔：连续、1小时、2小时。。。24小时、触发、指定时间点校正间隔：手动进行或按选定间隔和时间自动进行（1-7天）清洗间隔：手动进行或按选定间隔和时间自动进行（1-7天）保养间隔：〉1个月，每次约1小时试剂消耗：每套试剂约720个样左右人机界面：7寸、7万色、800*480分辨率、TFT真彩色触摸屏打印：预留打印机接口，可外接工业微型打印机(选配)存储：2万条数据，掉电不丢失，存满自动覆盖最早数据（可增配4万条数据）通信接口：1路RS232数字接口或RS485，支持MODBUS通信协议或自定义协议1路模拟量4～20mA（20mA对应量程可调） 预处理系统：自清洗、反吹、精密过滤功能，保证样品具有良好代表性的同时，也避免了大型悬浮颗粒堵塞管路(选配)外型尺寸900×600× 450(mm)重量50kg电源AC 220V ± 20%, 50Hz ± 1%功率300W环境温度5～40℃环境湿度≤85% （四）特点优势1、采用国际先的光电定量系统，用样更精更准。2、采用国际先的切阀采样系统，摒弃了原始的电磁阀方式。切阀采样系统采用转动取样的方法，管路没有了电磁阀压力的老化。故障率极低。维护费用少。3、采用了美国MasterFlex的蠕动泵新技术，故障率极低，蠕动泵管每分钟连续转动50万次，寿命达1万小时。 4、采用了世界先的电源保护技术，能够适应电网不稳定的环境。5、具有掉电保护功能，掉电时仪器能停止一切工作，上电可自动复位。6、支持掉电存储功能，掉电数据不丢失。7、进样管路完全采用了3氟、4氟材料。耐酸、耐高温、耐腐蚀。仪器内部管路内径1.5mm，无堵漏现象。8、水样采样系统双重过滤，可以适用水质极端情况（如高悬浮物、杂质、漂浮物）。总铅分析仪/总铅在线检测仪/总铅测量仪/在线总铅分析仪/在线总铅测量仪/在线总铅检测仪/在线总铅监测仪/在线重金属分析仪/在线重金属检测仪/在线重金属监测仪/总铅分析仪/总铅在线检测仪/总铅测量仪/在线总铅分析仪/在线总铅测量仪/在线总铅检测仪/在线总铅监测仪/在线重金属分析仪/在线重金属检测仪/在线重金属监测仪/

Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR【Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要特点160 × 120 高相位取样分辨率1550 nm 高性价比解决方案体积轻小便于光学系统内集成二、SID4-NIR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。 三、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR应用领域激光 |自适应光学及等离子体检测 |光学计量及光学系统对准四、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要规格波长范围1.5-1.6 μm靶面尺寸4.73 x 3.55 mm2空间分辨率29.6 μm取样分辨率160 x 120相位分辨率 11 nm RMS绝对精度15 nm RMS取样速度 60 fps实时处理速度 10 fps (全分辨率下)*接口种类FireWire IEEE1394B五、更多参数选型

法国Phasics公司波前分析仪 公司成立于2003年，从法国科学研究中心LULI实验室分拆出来，技术源于法国国家航天实验室。其独特四波横向剪切干涉技术，克服了夏克-哈特曼技术的限制，具有高分辨率、高动态范围、高稳定性、易使用、零色差等特点。 Phasics公司的波前分析仪结构紧凑，在没有中继光学器件的情况下可对激光进行直接测量：位相、泽尼克/勒让德系数、斯特列尔比、PSF、光斑直径、束腰位置、M2等全方位的激光参数信息。Phasics以客户为中心，关心满足所有需求：其强大的研发团队不断开发创新功能和探索新应用，并根据客户要求定制标准配置。 1、主要应用 激光 自适应光学及等离子体检测 光学元件及光学系统计量 微观材料检测 2、技术参数型号波段口径空间分辨率相位分辨率取样分辨率绝对精度采样速率实时处理速率SID4-UV-HR190-400nm13.8×10.88mm38.88um1nmRMS355x28010nmRMS30fps＞3fpsSID4-UV250-400nm7.4×7.4mm29.6um2nmRMS250x25010nmRMS30fps＞2fpsSID4-sC8400-1050nm16.61×14.04mm19.5um＜1nmRMS852x720NA40fps10fpsSID4-Bio400-1100nm11.84×8.88mm取决显微镜放大倍率＜1nmRMS400x300NANANAfpsSID4-HR400-1100nm11.84×8.88mm29.6um2nmRMS400x30015nmRMS10fps3fpsSID4400-1100nm4.73×3.55mm29.6um＜2nmRMS160x12010nmRMS40fps＞10fpsSID4-UHR400-1100nm15.16×15.16mm29.6um（可拓展至22.2um）2nmRMS512x512 (可拓展至666x666）15nmRMS8fps1fpsSID4-V400-11004.73×3.55mm29.6um＜2nmRMS160x12010nmRMS60fps＞10fpsSID4-SWIR900-1700nm9.6×7.68mm120um＜2nmRMS80x6415nmRMS30fps7fpsSID4-eSWIR900-2350nm9.6×7.68mm120um＜6nmRMS80x64＜40nmRMSNA10fpsSID4-SWIR-HR900-1700nm9.6×7.68mm60um2nmRMS160x12815nmRMS30fps7fpsSID4-DWIR3-5um 8-14um10.88×8.16mm68um25nmRMS160x12075nmRMS50fps＞10fpsSID4-LWIR8-14um16×12mm100um25nmRMS160x12075nmRMS24fps10fps3、Phasics还可以基于现有的波前分析仪根据客户要求定制各种测量系统。1）多色动态干涉仪Kaleo MultiWAVE主要特点：最高可以集成8个波长波长可以覆盖紫外到中远红外透射波前误差和反射波前误差均可测量纳米级相位分辨率＞500条纹数超高的动态范围 最高130mm的有效口径RMS重复精度＜0.7nm(＜λ/900)精度80nm PV动态范围500条纹数可测反射率范围4%-100%光学结构双通道波长数量1-2，最高至8波长范围193-14um有效口径130mm视场角对准±2°可调对角范围±2.5m2）全自动镜头质量检测工作站Kaleo MTF主要特点：同轴（＜1%）和离轴（＜2%）MTF精确测量大视场角测量（广角镜头、鱼眼… … ）汽车/移动物镜的轻松镜头定位适应生产环境全自动测量，一次采集可以得到完整的测试参数共轴OPD精度＜20nmRMS共轴重复精度＜0.5%离轴重复精度＜1%MTF最大截止频率1000lp/mmEFL重复精度0.5%共轴OPD重复精度＜5nmRMS光学设置有限到无限配置波长405-940nm,最高8波长入射直径最高8.8mmf#＞1.7焦距5-40mm法兰焦距8-33mmFOV可至±90°主射线角可至50°更多信息，请与我们联系！

随着科技发展，二次元测量仪对各种工件和零件的测量精度越来越高，对测量仪器的要求也是越来越苛刻，二次元影像测量仪是对传统的测量技术的飞跃性发展，是将传统的光学投影和计算机完美结合的产物。接下来和妙机专业人士一起探讨二次元测量仪的技术奥秘。　　二次元影像测量仪是当今工业检测与计量技术领域中的一个新名词，它代表的是数字化科技溶入工业检测与计量，进行空间几何运算的先进测量技术。　　二次元影像测量仪能快速读取光学尺的位移数值，通过建立在空间几何基础上的软件模块运算，瞬间得出所要的结果；并在屏幕上产生图形，供操作员进行图影对照，从而能够直观地分辨测量结果可能存在的偏差。这一切，在今天强大的计算机运算能力面前都是实时完成的，操作者本人无法察觉。妙机二次元测量仪生产商认为这种能够利用CCD数位图像，通过电脑软件运算，满足复杂测量需要的精密仪器才是真正意义上的二次元影像测量仪。　　希望影像测量仪厂家小编说的能够帮得上广大朋友们，有需要购买的可以随时联系妙机科技客服人员，我们妙机精密科技有限公司提供定制化服务，我们的自动化测量仪器能大大提高工作效率，节省人力成本，保质期长达18个月，远超同行的12个月。

瞬态(近红外)激光波前畸变检测干涉仪是将空间位相调制的共路剪切干涉技术与数字化波面高新计算技术相结合研制的新颖干涉系统，是浙江大学光电系现代光学仪器重点实验室、杨甬英等教授集多年基础、数年攻关完成的目前国内首台利用干涉方法仅需单幅干涉图就可以高分辨率检测各类高、低功率的脉冲激光、连续光波前畸变、检测各类高精度大口径精密表面的面形、动态检测各种流体的变化等。仪器抗噪、抗干扰性好特别适合于现场的实时检测。波前及面形的检测分辨率高，可高精度测量较大的波前畸变量，可以用于瞬态图象高速采集及检测。波前检测软件输出信息量丰富、可适用于不同波段的可见光、红外波段的检测。经权威单位与ZYGO干涉仪比对测试，近红外脉冲激光波前畸变检测的波前均方根已优于1/15波长。瞬态激光波前畸变检测干涉仪已达到国际先进、国内领先的先进水平。仪器技术指标：1、应用波长：从紫外、可见光至中远红外波段（波长可根据用户不同要求确定）；2、光束接收口径：F10mm ～用户任定口径；3、仪器精度及重复性：波前均方根优于1/15波长；4、测量范围：波前畸变检测量可达50 mm；5、可用于脉冲光、连续光、各类精密表面面形测量：测量脉冲激光的脉宽可达1ns；6、光学系统具有高激光损伤阈值；7、高分辨率数据采集系统:科学级CCD相机，空间分辨率至1024× 1024以上或用户定；8、仪器利用共路剪切干涉技术，抗振动性好,可放于任何工作台现场使用；9、光束波前诊断软件包：给出检测波前位相（可以是光束波前、面形或流体的形变等）的三维图形、等高图、波前畸变的PV 值、均方根值、波面梯度值等；给出表征光束能量分散度的Streh1比；光学系统象差的评价参数OTF和PSF；软件具有友好的图形工作界面，工作于Windows 2000以上平台，软件有各类数据图象及数据输出功能。应用范围：本仪器是动、静态皆可检测的系统，可应用于航空、航天、航海及国民经济诸多领域：1. 配备高速的CCD与图象转换系统，可以检测具有较大畸变、快速变化的气体折射率密度场、高速绕流流场，获取高速飞行体在各个瞬间状态的三维流场的相关参数。并且可以应用于流体显示技术、空气动力学方面的研究。2. 良好的抗振性特别适合于在车间、现场进行各类精密表面面形的分析测量、不同尺寸的光学元件、硅片、金属表面面形、非球面等各类元件的精密检测。3. 可以检测各类高能激光系统的静态、动态波前畸变，特别为1053nm的近红外脉冲波前检测提供一个高精度、高分辨率的检测结果。系统配备标准近红外光源，可以检测1053nm 波段的各类光学材料的透射特性参数。图2是系统软件输出界面。图3是已实际用于纳秒级高能脉冲波前检测的干涉图。图4是纳秒级高能脉冲波前重构的三维图。

玻璃瓶轴偏差测量仪 圆跳动测量仪ZPY-G电子轴偏差测试仪适用于安瓿瓶检测，西林瓶等药品，食品，化妆品等行业瓶类容器的垂直轴偏差的测定。依据标准YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》等标准进行创新设计，全自动化测试过程大大提高了测试的精度。是制药企业、药检机构不可或缺仪器。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 支持垂直度轴偏差和圆跳动两种模式切换，一机两用。◎ 360°全角度补偿测量偏差，确保测量数值更准。◎ 系统自带微型打印机，上位机数据无限储存。◎ 专业电脑测控软件，曲线图显示，数据保存，EXCEL统计，打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。 测试原理将瓶底加持固定在水平板的旋转盘上，使瓶口与千分表接触，旋转360°读取Z大值和Z小值，二者之差的1/2即为垂直轴偏差数值。仪器巧妙利用了四爪自定心卡盘同心度高的特点，配合一套可以自由调节高度和方位的高自由度的支架，可以满足各类玻璃瓶检测。 应用领域适用于安瓿瓶圆跳动、西林瓶垂直轴偏差检测。依据YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》等国家药监 局标准设计。是制药企业、药监机构不可或缺仪器。化妆品瓶：适用于测量化妆品瓶塑料瓶及玻璃瓶的垂直轴偏差，啤酒瓶用电子轴偏差测量仪酒瓶：适用于瓶装酒，用玻璃瓶的垂直度偏差的测定；塑料瓶用电子轴偏差测量仪塑料瓶：适用于各种碳酸饮料瓶、无汽矿泉水瓶、食用油桶等塑料瓶的垂直度轴偏差的测定玻璃瓶轴偏差测量仪 圆跳动测量仪测试标准该仪器符合多项国家和国标标准： YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB/T 84522008、GB-2639、QB 2357、QB/T 1868。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

测量器具（也称计量器具）是测量仪器和测量工具的总称。通常把没有传动放大系统的测量工具成为量具，如游标卡尺、直角尺和量规等；把具有传动放大系统的测量器具成为量仪，如机械式比较仪、测量仪、投影仪和影像测量仪。接下来妙机小编就和大家浅谈一下量具、量仪和三次元测量仪的相关知识。　　按照结构和工作原理划分，计量器具又分为机械式、光学式、气动式、电动式、光电式计量器具。　　光电式计量器具是利用光学方法放大或瞄准，通过光电元件再转换为电量急性检测，以实现几何量测量的计量器具，如光电显微镜、光电测长仪等，三次元测量仪器也是属于这一类。　　三次元测量仪是现代光电技术发展的结晶，在量具量仪等诸多计量器具的种类之中，三次元测量仪因为自动化的坐标测量方式使得综合测量在精益制造领域得以施展。配合ＯＧＰ的SmartPorfile综合测量评价软件,更可以跨越不同量仪的测量方式的限制而达到产品尺寸的全方位评价。　　综合上三次元测量仪厂家小编给大家讲的知识，相信大家对这方面的资讯已经非常了解，如有疑惑可以关注我们妙机科技的咨询了解，我们将竭诚为您服务。妙机科技采用创新性的SIC（SysteminCase）设计理念，将全自动测量仪常用的各种电路模块整合在一个盒子里，解决了过去板卡组件的系统繁杂，接线复杂，性能低下，故障率高的问题，使得全自动测量仪功能强大，结构简洁，高效可靠，易于接线和维护，从而率先推出龙门式全自动影像测量仪、一体式影像测量仪等高端重磅级测量设备，在全国乃至全球处于领先水平。

BLD-200N标签剥离测试仪 层间剥离试验机 胶粘带剥离力测量仪标签剥离测试仪基于力学测试原理，通过模拟实际使用中的剥离过程，精确测量材料在剥离时的力值，从而评估其粘合强度和稳定性。适用于180度、90度、T型等多种剥离测试方法，广泛应用于包装、印刷、医药、电子等行业。BLD-200N标签剥离测试仪 层间剥离试验机 胶粘带剥离力测量仪主要参数与特点技术参数：测试范围：通常覆盖从0到几千牛顿（N），具体取决于型号，适合不同强度的材料测试。精度等级：力值测量精度高，如±0.1%FS，确保数据的准确性。速度控制：可调的剥离速度，如100-500mm/min，适应不同测试要求。位移测量：高精度位移传感器，记录剥离过程中的位移变化。显示与控制：配备彩色触摸屏或电脑软件，直观操作界面，实时显示测试数据。自动计算：能够自动计算剥离强度、最大力值、平均力值等关键指标。兼容性：支持多种测试标准，如ISO、ASTM等，满足国际测试要求。安全设计：紧急停止按钮，过载保护机制，确保操作安全。BLD-200N标签剥离测试仪 层间剥离试验机 胶粘带剥离力测量仪功能特点：多功能性：除了剥离测试，部分型号还能进行拉伸、压缩、弯曲等多类型力学性能测试。数据处理：内置或外接软件，提供数据分析、报告生成功能，便于质量控制和研究分析。样品适应性：适用于不同宽度和材质的标签，通过更换夹具适应不同测试需求。智能化：部分高端型号支持远程控制、数据云存储，便于数据管理和远程监控。自定义测试程序：允许用户根据特定产品需求设置测试程序，提高测试的针对性和效率。BLD-200N标签剥离测试仪 层间剥离试验机 胶粘带剥离力测量仪应用场景标签和不干胶生产：确保产品粘合强度符合标准。包装行业：测试包装材料的剥离性能，优化包装设计。医药领域：评估药瓶标签的稳定性，确保标签不会在使用过程中脱落。电子产品：测试电子组件上的标签和贴纸的附着力，防止在运输和使用中出现问题。

体积重量测量仪超声波传感器体积重量测量仪-上海茂宏电子科技有限公司 可以智能测量长宽高外形尺寸的仪器我们俗称为体积重量测量仪，在国外该类仪器已经有40年之久的使用经验。因为其售价非常高昂，所以早些年国内的用户基本上就是跨国企业或者国内行业里的大佬企业，但这些年该设备在国内的认识度也是越发的提高，国内行业需求也逐步提升。 国外设备原理一般采用的都是超声波、红外光栅、激光等传统传感器，其主要优点不但测量准确，而且数值稳定误差小，经过40年的不断升级完善，现如今已经属于非常成熟的产品了。这些年国内也涌现出一大批供应商，但是在测量误差精度和性能稳定性方面以及受环境色彩的局限性和进口同类仪器相比还是存在一定的差距。 我司现推荐一款同样采用超声波传感技术的国产体积测量设备，其可以快速准确的测量出纸箱等规则物体的外形尺寸，并且能将误差控制在1-2mm内，精度及性能参照进口同类仪器，但售价却是非常的国产化。 我司产品经理自2008年从事体积重量测量仪领域已有10年多的从业经验，有6年进口体积测量仪的销售经验，经历了当进口设备首次登入国内参加行业内展会上的冷清无人问津，到这两年一步步走到现如今的认知程度，对不同行业不同市场及不同客户使用案例还是比较了解。如有兴趣笔者也很乐意分享经典客户案例及使用场景介绍供大家学习参考。 随着人力成本的不断增长对企业发展的影响越来越大，经济学者认为未来中国人力成本将会持续加速的上涨。人难招、人力成本高将会是大势所趋。这种情况下企业应及时改变运作思路，企业可通过人员的调整和现代化物流仓储的实施推广，以更少的人力完成更高的效率。相应地，也就降低了员工的人力成本外，更加提高了工作的时效性和科学性。　　货物商品的体积/重量数据对于物流/商超零售/电商/医药/是非常重量的。一方面，客户和物流企业之间的物流费用结算要对重量/体积的准确计量 企业内部数据优化管理。另一方面，及时准确的获取货物的重量/体积/条码数据对于物流企业的流程优化和决策过程也是有很重量的意义。售前：1.、按照客户要求真实为客户报价，客户有特殊要求的及时记录反馈；（注：以上产品价格为参考价格，详情请咨询客服人员）2、签订规范的产品订购合同，明确责任等相关事宜；3、一年保修，终身维修服务，发货前经过严格的检验，保证您签收的产品无质量问题；售后：1. 维护人员告知客户如何进行产品保养的常识。2．所有货物安装调试完毕后，由客户查看、验收后方可离开现场。为了您的使用，我们不懈努力，上海茂宏电子科技有限公司欢迎来电选购！ 上海茂宏电子科技有限公司供应的智能体积重量测量仪已与众多用户和分销商建立了长期稳定的合作关系。上海茂宏电子科技有限公司坚持采用国外传统且稳定的传感原理，努力打造更快更准更稳定的智能仪器，在市场上也赢得了广大客户的信任。体积重量测量仪超声波传感器

消色差伽利略扩束器GBE02-A 光学测量仪特性2X，3X，5X，10X，15X或20X的扩束器或缩束器可选3种宽带增透膜可选A: 400 - 650 nmB: 650 - 1050 nmC: 1050 - 1650 nm滑动透镜调节可以使光束走离效应降到最小外壳的机械长度固定，且端部不可旋转准直调节环可用附带的六角扳手锁定将大孔径用作输入端时，可用于缩小光束尺寸螺纹孔径易于集成到光学系统中Thorlabs的镀增透膜的伽利略消色差扩束器可以将一束准直光的直径扩大或缩小2倍，3倍，5倍，10倍，15倍或20倍。这些扩束器利用低像差的消色差设计，经优化，提供小于λ/4的波前误差(即，衍射极限性能)，并将对扩大光束的M² 值的影响降到最小。扩大的光束可以聚焦成一束较窄衍射极限的光腰，具有小输入孔径的光学元件或仪器(比如我们的法布里-珀罗干涉仪)可能需要使用这种较窄的束腰。这些扩束器使用由N-BK7和N-BASF2制成的消色差透镜和透镜。为了将空气与玻璃界面处的反射率降到最小，这些扩束器中使用的光学元件具有三种增透膜中的一种，增透膜镀于集成到设计中的每个透镜的两面上：400 - 650 nm (产品型号以-A结尾)，650 - 1050 nm (产品型号以-B结尾)，或1050 - 1650 nm (产品型号以-C结尾)。对比于未镀膜光学元件4%的典型反射率，增透膜将每个表面的平均反射率在指定的波长范围内降低到小于0.5%。关于镀膜性能的更多信息请看规格和增透膜标签。滑动透镜设计允许在调节准直时将透镜调节中固有的光束走离效应降到最小。红色环用于调节输出光束准直，如上图所示；一旦达到所需准直后，可用附带的0.05英寸六角扳手拧紧锁定螺丝来锁定该环。外壳设计成在转动准直调节环时不旋转，使用户可以调节发散而不影响任何已经安装的光学元件，并保持指向稳定性。

GBT9647-5波纹管内径测量仪一、波纹管内径测量仪 波纹管环刚度内径测量仪 简介：波纹管内径测量仪用于预应力混凝土桥梁用波纹管环刚度试验内径测量。满足交通部《JT/T529-2016 预应力混凝土桥梁用塑料波纹管》和《GB/T9647-2015热塑性塑料管材环刚度的测定》的要求。二、波纹管内径测量仪 波纹管环刚度内径测量仪 主要技术指标：测量波纹管规格：Φ22mm～Φ350mm，Φ22mm～Φ750mm，Φ22mm～Φ1050mm，Φ22mm～Φ1200mm，Φ22mm～Φ1450mm，Φ22mm～Φ1700mm，Φ22mm～Φ1950mm，Φ22mm～Φ2250mm，Φ22mm～Φ2550mm。1、测量波纹管规格：Φ22mm～Φ750mm2、测量分辨率：0.1mm3、测量精度：±1%4、LED数字显示5、电源：220V×50Hz6、重量：5kg三、波纹管内径测量仪 波纹管环刚度内径测量仪 安装校对：1、仪器平放于工作台。2、接上220V电源。3、移动其中一测量标尺使其接近另一标尺，按一下数显表向右键归零初始值是22，然后用标准量具检测其准确度。4、校对完毕。

MP系列手持式短波辐射测量仪Apogee出品的MP系列手持式短波辐射测量仪连接APOGEE生产的硅光辐射表，用于测量到达地球表面的短波辐射，具备余弦修正、自标定功能，其测量单位为J/m2s或W/m2。它具备数据记录功能，能够记录99个点的数据。在自动模式下，测量仪会每30秒测量一次，并每30分钟存储一次测量数据的平均值，同时还能对每日数据进行合计。显示器可以及时显示更新实时数据。通过AC-100数据线，您能够轻松将测量仪中存储的数据导入计算机。该系列测量仪包括MP-100和MP-200两种型号。主要性能参数：型号MP-100MP-200辐射表参数余弦响应45°天顶角 ±1%； 75天顶角 ±5%绝对精度±5%重复性±1%输出/入全日光：220mv（1100 W/m2) 线形输出范围：0~350mv（0~1750w/m2） 灵敏度：客户标定 接近5w/m2/mv 输入电源：无，自充电长期漂移3%/年操作环境-40~55℃，相对湿度：0~100%，户外长期使用，防水电缆无2m线缆尺寸直径2.4cm，高2.75 cm 存储手动或自动存储，可30秒测量一次, 30分钟储存一次，最多可记录99点的数据量程：0~1999 W/m2 电源标准3V电池显示屏4.2cm×2.8cm

超声波水深测量仪SM-5A适用于航海、捕鱼、潜水、海岸测量以及科学工作。轻松发现深水区域，确保巡航人员的安全抛锚。超声波水深测量仪SM-5A仪器特点：以英尺或者米为单位进行读数，穿过坚固的外壳、膨胀的表面或者黑冰能够接近1/10的精度。读数范围为2英尺到260英尺(0.6-79米)，外置换能器头，带3米延长线。防水：达到50米频率200khz，波束角24度。任何一次读数都是可以回放，并且能够停留显示10秒钟。SM-5A技术指标频率：200khz(波束角为24度)测深范围：2-260英尺或者0.6-79米

体积重量测量仪-BOXCUBIC体积测量体积重量测量仪-上海茂宏电子科技有限公司 可以智能测量长宽高外形尺寸的仪器我们俗称为体积重量测量仪，在国外该类仪器已经有40年之久的使用经验。因为其售价非常高昂，所以早些年国内的用户基本上就是跨国企业或者国内行业里的大佬企业，但这些年该设备国内的认识度也是越发的提高，国内行业需求也逐步提升。 国外设备原理一般采用的都是超声波、红外光栅、激光等传统传感器，其主要优点不但测量准确，而且数值稳定误差小，经过40年的不断升级完善，现如今已经属于非常成熟的产品了。这些年国内也涌现出一大批供应商，但是在测量误差精度和性能稳定性方面以及受环境色彩的局限性和进口同类仪器相比还是存在一定的差距。 我司现推荐一款同样采用超声波传感技术的国产体积测量设备，其可以快速准确的测量出纸箱等规则物体的外形尺寸，并且能将误差控制在1-2mm内，精度及性能参照进口同类仪器，但售价却是非常的国产化。 我司产品经理自2008年从事体积重量测量仪领域已有10年多的从业经验，有6年进口体积测量仪的销售经验，经历了当进口设备首次登入国内参加行业内展会上的冷清无人问津，再到这两年一步步走到现如今的认知程度，对不同行业不同市场及不同客户使用案例还是比较了解。如有兴趣笔者也很乐意分享经典客户案例及使用场景介绍供大家学习参考。 传统企业往往使用普通台秤或者平台秤对货物的重量进行计量，而需要测量体积的场合则一般使用皮尺等工具手工测量。在传统的方式下，货物的计量过程由手工完成，效率比较低下 计量结果也很容易引起贸易双方的争议 在将手工所测得的数据人工输入系统的过程中，也难免会发生因人为因素而产生的数据偏差.从而对之后一系列的货物配载，运费结算等等多个环节引起不必要的麻烦。　　自20世纪90年代以来，在世界范围内，以UPS,FEDEX,DHL,TNT为代表的国际快递公司率先开始采用先进的体积测量系统来对托运货物进行快速准确的计量，并实时传送至其物流数据库中。售前：1.、按照客户要求真实为客户报价，客户有特殊要求的及时记录反馈；（注：以上产品价格为参考价格，详情请咨询客服人员）2、签订规范的产品订购合同，明确责任等相关事宜；3、提供3天包换，一年保修，终身维修服务，发货前经过严格的检验，保证您签收的产品无质量问题；售后：1. 维护人员告知客户如何进行产品保养的常识。2．所有货物安装调试完毕后，由客户查看、验收后方可离开现场。为了您的使用，我们不懈努力售前：1.、按照客户要求真实为客户报价，客户有特殊要求的及时记录反馈2、签订规范的产品订购合同，明确责任等相关事宜；3、提供3天包换，一年保修，终身维修服务，发货前经过严格的检验，保证您签收的产品无质量问题；售后：1. 维护人员告知客户如何进行产品保养的常识。 2．所有货物安装调试完毕后，由客户查看、验收后方可离开现场。为了您的使用，我们不懈努力 上海茂宏电子科技有限公司，欢迎选购！体积重量测量仪-BOXCUBIC体积测量

主要特点 压电驱动微动平台，装配CCD相机 光束方向快速移动 临近位置光束剖面/形貌分析 波前推导CCD像素级分辨 光束传播参数分析（M2、瑞利长度、束腰直径） Zernike分析畸变控制 采用自我参考法 无光束相干要求 紧凑式设计，在线检测操作原理技术规格 CCD相机USB3.0通讯 空间分辨率10um 多种传感器覆盖光谱范围：1100nm (NIR) to 1nm (soft x‐rays) 实时波前分析 测试依据ISO标准 光束测试软件测试基于ISO标准 ParameterStandardBeam diameter光束直径ISO 11146DivergenceISO 11146Beam profile光束剖面ISO 13694Pointing 指向/ pos. Stability位置稳定性ISO 11670M2 质量因子/ Focusability聚焦性ISO 11146Wavefront 波前 / Phase distribution相位分布ISO 15367Coherence 相干-Around 20 various camera types are supported

法国Phasics推出真空环境兼容波前分析仪SID4-V 为满足广大客户在真空环境中对激光光束质量，气流，等离子体密度测量分析，以及光学系统装配的需求。法国phasics推出了新型高精度波前分析仪sid4-v，是目前市场上仅有一款可应用于真空度在10-6 mbar环境中的波前分析仪，广泛应用于高功率激光测试中。产品特点：可适用于＞10-6mbar真空环境高分辨率160×120相位像素光谱范围从400 nm到1100 nm可测量发散光束热和机械真空不改变测试结果真空循环下无任何性能下降真空和常压下均可使用 产品参数：真空相容性10-6mbar波长范围400 - 1100 nm通光孔径3.6 x 4.8 mm2空间分辨率29.6 μm采样点（相位/强度）160 x 120 ( 19 000 points)相位相对灵敏度 2 nm rms相位精度10 nm rms动态范围 100 μm采样频率 100 fps实时分析频率 10 fps (full resolution)数据接口giga ethernet尺寸(w x h x l)54 x 46 x 75.3 mm重量~250 g关于phasics：法国phasics公司自主研发的波前传感器是基于其专利的四波横向剪切干涉技术。相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析等提供了全新的解决方案。 法国phasics波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统oa-sys，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求。波前分析仪主要应用领域：1. 激光光束参数测量：相位（2d/3d），m2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数2. 自适应光学：焦斑优化，光束整形3. 元器件表面质量分析：表面质量（rms，ptv，wfe），曲率半径4. 光学系统质量分析：mtf, psf, efl, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制5. 热成像分析，等离子体特征分析6. 生物应用：蛋白质等组织定量相位成像SID4 V VacuumPhasics is innovating by proposing the first off-the-shelf vacuum compatible wavefront sensor on the market. The SID4 Vis designed to perform wavefront measurements under high vacuum. the wavefront measurement is realized in-situ in the same condition as the experiment. Our new SID4 V vacuum wavefront sensor is also used to characterize laser beams after compression inside the compressor vessel. Finally, gas jet and plasma density are now measured as close to the target as possible.BENEFITS: With Phasics’s unique strategy it’s now possible to correct the aberrations of every single optical element up to the target location inside the vacuum chamber.Key FeaturesVACUUM COMPATIBLE & HIGH RESOLUTION | DESIGNED FOR VACUUM DOWN TO 10-6 mbarVacuum compatibility 10-6 mbarHigh resolution 160 x 120 phase pixelsSpectral range from 400 nm to 1100 nmDiverging beam compatibleInvariant to thermal and mechanical vacuum constraintsTolerates vacuum-cycles without any performance decreaseBoth functional under vacuum and atmospheric pressureLow outgassing SpecificationsVacuum compatibility 10-6 mbarWavelength range400 - 1100 nmAperture dimension4.73 x 3.55 mm2maximum NA (optional software necessary)0.2Spatial resolution29.6 μmPhase & intensity sampling160 x 120Accuracy15 nm RMSResolution (Phase)2 nm RMSAcquisition rate60 fpsReal-time processing frequency7 Hz (full resolution)InterfaceGiga EthernetMTBF 10 yearsDimensions (w x h x l)54 x 46 x 75.3 mmWeight~ 250 g SID4 Density softwareIntroductionSID4 DENSITY software package supports the whole process to measure gas and plasma electron density. It calculates density maps from phase acquisition. It also offers various options for acquisition and data analysis.SpecificationsWORKING CONDITIONSApplicationAny axisymmetric monoatomic gas jet/plasma for inverse-Abel transform analysisProbe sourceWhite light (halogen), LED, laser or fs-laserPressureFrom 2 to 300 barsPlasma lengthDepends on the imaging system (typically 2 mm long and diameter of 0.2 mm)SOFTWAREAcquisitionReal Time, programmed, triggerSettingsWavelength, magnification, jet direction, gas typeAnalysisDensity map & profiles, Symmetrization, filtersPerformances such as the spatial resolution or the density resolution entirely depend on both the optical set-up (imaging system, probe source) and the injected gas (molar refractivity). Please contact us for an estimation of specifications for your set-up. As an example, for an laser produced plasma using an Argon gas jet at working pressure between 2 and 300 bars, the lowest measured Argon density in a single shot is: 1017 particles/cm3 with a nozzle of 1.5 mm diameter.

电子脊柱测量仪济南多博智能科技有限公司Jinan Duobo Intelligent Technology Co.,Ltd.背景：现代社会高速发展，使人类的生活方式、生产方式以及生态环境都发生了根本的变化。致使人的肉体和精神都承担了前所未有的重负，脊柱也变得异常的脆弱，有时甚至经不起轻微的扭挫。特别是中小学生发生脊柱侧弯比例呈明显上升趋势，主要与孩子沉迷于网络游戏以及长期姿势不良和身体过度负重有关。生活条件的改善使孩子体格发育比过去明显高大，部分学校的课桌板凳仍然保持原先的高度，没有及时根据孩子的身高变化做相应调整。这导致很多孩子的脊柱出现问题，进而导致驼背、假性近视等。由于最老的目测、重力角测量、CT或X光测量等方法都能从不同的角度测量人体脊柱的相关参数，传统的测量方法都有难点及屏障。新诞生的电子脊柱测量仪原理采用三维电子加速度角感应和重力倾角技术，可实现无创、实时、准确的评估及跟踪监测脊柱畸形、姿势异常、活动能力异常等。可根据该测量仪提供的测试数据决定成年人或儿童是否需要进一步诊断和治疗。电子脊柱测量仪针对终端用户使用环境和要求的不同，我公司设计了两款产品用于脊柱测量，分别是：便携式和豪华推车式。电子脊柱测量仪是一种无创的手持式电子设备，它采用三维电子加速度角感应和重力倾角技术，可实时、准确的测量脊柱畸形、姿势异常、活动能力异常的角度值，从而评估脊柱是否正常。主要特点&bull 测量多种项目多种姿态，可在运动下进行测量，动态反应；&bull 无痛、无创、无辐射&bull 手持式设备、便携移动&bull 高准确度、动态取值&bull 简单易用、自动结果&bull 低成本，适用人群广主要参数&bull 原理：三维电子加速度角感应和重力倾角技术；&bull 测量角度范围：0--179º ；&bull 准确度：已测同向角度之间的误差范围：±1.5º &bull 测量速度快，单个项目的测量时间＜15秒。&bull 数据传输：蓝牙传输，在无障碍的情况下至少接收距离为3米；躯干倾斜角测量脊柱后凸（驼背）测量颈椎侧向弯曲测量胸椎侧向弯曲测量腰椎侧向弯曲测量颈椎前屈后伸测量胸椎前屈后伸测量腰椎前屈后伸测量颈椎水平旋转测量胸椎水平旋转测量腰椎水平旋转测量头部平衡测量肩部平衡测量腰部平衡测量公司简介济南多博智能科技有限公司坐落于美丽的泉城——济南，集设计、研发、生产、销售、服务于一体，是一家从事仪器设备相关产品研发和生产的专业公司. 我公司拥有一支国内行业专家学者所组成的研发队伍，科研力量十分雄厚，引进先进的生产设备，结合精湛的生产工艺，秉承完善的质量体系，致力开发生产高、精、尖的仪器设备。服务的客户群体涉及疾控系统、医疗系统、环保系统、科研院校等等不同行业部门。我们的技术服务团队为客户提供一对一式产品咨询、调试、维护以及后期开发定制服务，和国内众多终端以及经销商达成长期战略合作关系。在今后的发展道路上，公司秉承为顾客提供优质的产品及服务的宗旨，完善自己的产品、服务，回报广大新老客户，我们不会止步于此，必定再接再厉，共成长，同发展！

Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR产品负责人：姓名：沈工(Max)电话：（微信同号）邮箱：【Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR简介】 随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics高分辨率紫外波前传感器/ 波前分析仪SID4-UV-HR主要特点 低至190nm波长感光灵敏1 nm RMS高相位灵敏度355 x 280超高相位取样分辨率二、SID4-UV-HR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，SID4-UV非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。 三、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR应用领域紫外光学测量| 光刻或半导体应用紫外激光表征| 透镜和晶圆的表面面型检测| 自适应光学四、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR主要规格波长范围190 - 400 nm靶面尺寸13.8 x 10.88 mm2空间分辨率38.88 μm取样分辨率355 x 280相位分辨率1 nm RMS绝对精度10 nm RMS取样速度30 fps实时处理速度 3 fps (全分辨率下)*接口种类CameraLink五、更多参数选型

SoLu-BLu CH4 浅水型甲烷测量仪名称：浅水型甲烷测量仪 型号：SoLu-BLu 产地：加拿大简介 ： Pro-Oceanus公司的Solu-Blu™ CH4浅水型甲烷测量仪是测量浅水区域甲烷浓度测量仪器，小巧轻便，即插即用、极少维护、快速提供长时间的高精度CH4浓度变化数据、费用低。广泛应用浅海、近海、水产养殖业以及实验室等领域。Solu-Blu™ CH4浅水型甲烷测量仪采用快速膜渗透平衡测量技术，通过一个先进的基质膜到达仪器内部的非色散型红外探测器，进行测量，无需化学试剂。仪器不受生物附着影响，即使在生物附着比较严重的河流湖泊中，也能长期保持稳定。且仪器内置自动零点校准功能，以提供长期稳定可靠的CH4测量数据。鉴于Solu-Blu™ CH4浅水型甲烷测量仪的高精度以及长期稳定性，被广泛应用于浅海、近海、海岸带、河流以及湖泊中CH4的精确测量。标准测量范围从0-30ug/L，可达0-30mg/L，为近海、湖泊及水产养殖等行业提供高性价比的解决方案。特点：可单独测量水中CH4浓度，精度高，分辨率高；可应用于近海、湖泊及水产养殖等领域；采用快速膜渗透平衡测量技术，内置非色散型红外CH4探测器，不需要化学试剂；不需要使用昂贵的校准气体；不受生物附着影响，长期稳定性好，维护费用低；耗电低，适合水下长期测量；供电后立即开始工作，不需要现场使用电脑控制；菜单式控制界面，操作简单方便；技术参数：Solu-Blu™ CH4型号SoLu-BLu CO2工作条件-2℃~40℃ 潜水深度0-50m测量范围0-30mg/L ，0-3 mg/L ，0-300 ug/L ， 0-10000uatm精度+- 3 %电源7 to 24 VDC直径5cm长度26cm传感器重量300g （不含电缆）采样速率2秒输出信号RS232, 0-5V , 4-20MA点将科技-心系点滴，致力将来！www.Dianjiangtech.comtable： (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信，获取更多服务：