波长能量仪

氘灯地波长能量检查不过，在这种时候得出的哪些方面的结果是有偏差的？使用的是agilent的氘灯，理论寿命1000h现在用了4000多了，但是与另一台刚换了没有多久的相比没有注意到很多不一样的地方，但是前天做一个东西的时候发现同浓度的样品，一边峰高一边峰低，正在找原因

一直没有很明白波长色散和能量色散区别，波长对应的一样是能量吧

前几天（这边连续下雨湿度大）出现过一次在谱线处需找能量失败，通过空调除湿后，波长能找到了，可是今天，湿度60%，波长还是找不到，不是全波段，cu、cr的波长改小0.2，能找到波长，可是zn和ni还是出现对话框。。。什么原因？

请教各位高手。学校寒假回来，因前一段极度潮湿，一台热电M6全是水珠，不能对光路，烤机两天，外加把抽湿机、空调全开上，m6终于能通过自检。插上灯却发现一个奇怪的问题，Cd、Pb等工作波长在250nm以下的元素能顺利检测了，但Cu、Tl 等波长在250nm以上的，仪器却报告检查不到能量，不能继续下去。能通过的元素，灯电流都不用开得大，4、5mA左右就行，而负高压也就400左右，很正常。不能通过的，灯电流开到10mA以上都检测不到能量。Cd等顺利检测，说明仪器光路系统没有问题了，而工作波长大于250nm的元素就反复调试都过不了，令人百思不得其解。

用的是岛津10ATVP检测器，氘灯标示为岛津氘灯（未做真伪鉴别），已使用时间400多小时。波长范围：190nm——390nm；波长间隔1nm。附表中数据从左到右依次为序号、对应波长、参比池能量、样品池能量；样品池中液体为超纯水；温度：室温（有暖气）；泵的状态：运行。

如题:实验室一台液相的氘灯在低波长220时能量很高,稍高些的波长280时能量很低,这是怎么回事啊?是灯的问题,还是光栅,流通池?怎么解决阿?

很多[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/5p][color=#3333ff]液相色谱[/color][/url]的紫外检测器都标示检测波长可达190-600nm，但实际超过350nm时能量往往不足导致灵敏度不够而无法使用，请教安捷伦的G1314A VWD实际的适用波长能达到多少？

铜灯的324.7和327.4波长能量0.12多，汞灯，铅灯也是不高于0.12，请问老师这是什么情况

x能量色散荧光仪和波长色散荧光仪的区别

如何稳定[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]最佳测试波长时的能量值我们的机型有点老是WFX-YC型的，目前放置在靠墙的一张水泥刨花板材质的试验桌上（就是那种黑色桌面的实验桌），还在上面安装了一台抽风机现在我们测试的时候，是通过在T档下调节波长和负高压找到最佳测试波长（能量最大处），但是只要我们打开空压机输入空气点燃乙炔，刚调好的最佳波长处的能量值就开始跳动，如果我们再打开抽风机，能量值就跳动的幅度更大了，有20~30甚至更大幅度的跳动！请问各位大侠，如何才能使调好的能量值稳定，或者跳动的原因可能是什么如何排除。。你们找到波长后开风机能量值是否也会跳动？会不会对测试结果产生大的影响？求解！谢谢！！

随着欧盟ROHS指令实施日期的日益临近，国内越来越多的相关企业在积极的思考和寻找应对的方案；X荧光分析技术（XRF）作为一种方便有效的快速分析手段，正迅速被业内人士所了解和应用。目前在中国市场上，应用于ROSH指令的X荧光分析仪均为能量色散类型；一般情况下，波长色散类型的X荧光分析仪器的准确度比能量色散类型的仪器要高很多；但应用于ROHS指令的场合时，波长色散和能量色散则各有优缺点，测量对象各有侧重；以下将从几个方面对两种类型的仪器进行比较和说明： 波长色散 能量色散 （Si-Pin）型 （SDD）型测量精度 20~50ppm 200~300ppm 100~200ppm测量时间 1~2分钟 4~6分钟 3~5分钟被测样品要求 规则形状需要制样 可以不规则形状 可以不规则形状 最佳应用范围 原料半成品成品电子元器件原料半成品成品电子元器件能量分辨率高，约15eV较低，约160eV较低，约160eV荧光强度高低较高技术复杂程度复杂简单较复杂使用寿命＞10年＞5年＞5年仪器价格46万（国产）25万左右（国产）60万左右（进口）50万（国产）1、测量精度：尽管目前各家能量色散仪器（均为Si-Pin类型）生产商和销售商都给出了很高的技术指标，但在实际应用中（特别在被测样品不进行处理的情况下），真正可以期待的准确度都在200~300ppm之间（测量塑料中有害元素时，准确度会好一些；对不规则样品，则精度会更差）；同时，对于同类型的仪器，进口仪器的指标和国产仪器之间并没有本质差别（基本配置），但进口仪器的价格却昂贵很多。波长色散X荧光分析仪的测量准确度比能量色散类型高一个数量级，基本在20~50ppm左右。2、测量时间：由于波长色散配备较大功率的X光管，荧光强度高；因此，波长色散仪器占用较短的测量时间，便能达到较高的测量精度。3、被测量样品的要求：由于技术特点的差异，波长色散X荧光分析仪需要对被测量样品进行简单的处理；对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑，对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理，相应的设备市场上很容易找到。能量色散型仪器最大的优势在于：可以对样品不作处理直接进行测量，对样品也没有任何损坏，直接用于生产的过程控制中；但需要强调指出的是：从荧光理论上讲，被测量样品的预先处理是必须的，对于能量色散仪器来说，我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要，但即使采用了技术校正的手段，对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。4、最佳应用范围：由于波长色散和能量色散类型X荧光分析仪各自的技术特点，两种类型仪器所侧重的应用方案也不尽相同；波长色散X荧光分析仪具有较高的测量精度，但同时需要对被测量样品进行简单处理，更适用于进厂原材料、半成品、成品的精确检测和质量控制；能量色散X荧光分析仪虽然测量精度稍差，但具有快速、直接测量各种形状样品的优点，因此可直接在生产线上用于各种部件、电子元器件的检测。5、能量分辨率：能量分辨率是X荧光分析仪器的主要指标，分辨率数值越小，分辨率越高，仪器性能越好。6、荧光强度：对于X荧光分析仪器来说，各元素含量与该元素的荧光强度成正比关系；荧光强度越高，则统计误差越小，测量的准确度越高，仪器性能越好。7、使用寿命：波长色散类型仪器的使用寿命一般为10年以上；能量色散类型仪器的使用寿命一般也大于5年，影响能量色散型仪器寿命的主要因素是探测器部分的老化导致其性能指标变差。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=48263]波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪[/url]

现需要将一束某一波长光的分为两束能量相同的光。半透镜是否可以做到？如果可以推荐一款。如果不可以那有什么体积小、安装方便、效果又很好的材料或者器械可以达到要求。谢谢。

请问下，有哪位大侠了解，能量型荧光和波长型荧光两者的各自优缺点，能量型可以替代波长型的功能嘛

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=56814]不同能量光的波长[/url]

请大家在附件中查看:波长色散型x荧光仪和能量色散型x荧光仪的区别!

新手问一个问题:请问波长散射型荧光光谱仪和能量散射型荧光光谱仪的区别？

能量型与波长型相比各有什么优缺点，望高手解答

谁知道波长色散型XRF,怎么去测试仪器的实际能量分辨率?

请问波长散射型荧光光谱和能量散射型荧光光谱仪的区别是多少？

做石灰石组分用能量型还是波长型，赛默飞和布鲁克型号那款比较实用

出来接触XRF，做rohs时应该选择能量型还是波长型，这二者在检测时有何不同？不太明白请各位老师指教！谢谢喽！

用Hg灯校正波长时，中途会提示“能量不足负高压下限......”，然后终止波长校正，请问下是怎么回事？

我最近想买一台荧光光谱仪，不知道能量色散的好还是波长色散的好，主要是用来分析高炉的炉渣用

AA320N[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]各位有没有遇到这种状况？我在前一天做石墨炉时仪器状态良好，第二天用火焰法测锌时，波长、能量都调至最大.点火后，能量又回复到0。这是为什么？关机后重新启动仪器，此时的能量值一直跳动，直至到100。这是什么地方出了问题？请各位高手谈谈，能不能给我指点一下。谢谢了哈

能量色散分析仪只有一个探测器，它对测量Ｘ射线能量范围是不受限制的，而且这个探测器能同时测量到所有能量的Ｘ射线。也就是说只要激发样品的Ｘ射线的能量和强度能满足激发所测样品的条件，对一组分析的元素都能同时测量出来。一般有以下三种基本类型的探测器可用于测量Ｘ射线：密封式或流气式充气探测器、闪烁探测器、半导体探测器。 能量色散的条件是当样品被激发后产生的Ｘ射线通过窗口进入探测器探测器把Ｘ射线能量转换成电荷脉冲，每个Ｘ射线光子在探测器中生成的电荷与该光子的能量成正比。该电荷被转换成电压脉冲，当这些电压脉冲经充分放大后，被送入脉冲处理器，脉冲处理器把这些代表着各个元素的模拟信号再转换成为数字信号，由计算机进行分类，分别存入多道分析器（ＭＣＡ）的相应通道内，一般使用１０２４－２０４８道ＭＣＡ。这些通道覆盖了分析的整个能量范围。 波长色散分析仪是用多个衍射晶体分开待测样品中各元素的波长，由此对元素进行测量。晶体被安装在适当位置，以满足布拉格定律的要求。 Ｘ射线荧光分析和其它光谱分析一样，也是一种相对分析。这就是说，要有一套参考标样，这些参考标样能够在可能感兴趣的范围内覆盖所测元素。首先对这些标样进行测量，记录欲分析元素的强度，建立浓度（含量）、强度（ＣＰＳ）校准曲线，存入处理数据的计算机，供以后分析同一类型未知样品时使用。 最简单的校准线是直线，强度与浓度的依赖关系反映仪器的灵敏度。 另外由于校准线要在很长一段时间内使用，所以应对仪器的漂移作出调整，尽管这种漂移不大，但它确实存在。这可以通过对每个分析元素选用高、低两个参考点来实现。制备若干被称作ＳＵＳ（调整样）的特殊样品，它们含有适量的分析元素，有很好的长期稳定性。利用它们可以求出高、低强度值。

一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。 二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。（一）原理区别 X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。（二）结构区别 波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF）

虽然波长色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（WD-XRF）X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，最后得到的波谱或者能谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，ED-XRF（波谱）与ED-XRF（能谱）在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。　　（一）原理区别　　X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同，故仪器结构也不同。　　（二）结构区别　　波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为２～３千瓦。但X-射线管的效率极低，只有１％的电功率转化为X-射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以X-射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点，使能量色散型荧光光仪具有如下优点：　　①仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。　　②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。　　③在能量色散谱仪中，样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器，这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱（包括背景）的基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。　　④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度，而不是峰顶强度。因此，减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响，提高净计数的统计精度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，见笑了偶然错误判断某元素的可能性。（选自网络，侵删）

波长色散与能量色散XRF在测试ROHS六项时，一定是波长色散准确吗？二者有哪些优缺点？

在日前召开的Pittcon 2015上，帕纳科宣布推出一款革命性新产品——Zetium 多功能X射线荧光光谱(XRF)。Zetium测量平台同时将波长色散(WD)和能量色散(ED)整合进一台仪器；同时，Zetium还拥有一个可用于快速元素分布成像的微焦斑分析工具，以及一个水泥行业专用的创新THETA游离氧化钙通路。http://www.instrument.com.cn/news/20150311/155074.shtml同时进行波长色散和能量色散XRF分析，其实际应用价值如何？另外，之前为何没有仪器公司将波长色散和能量色散放到一起呢？是因为硬件技术难度，还是其他原因？

请问各位专家： 我们检验[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]仪器或使用仪器时，在自动寻峰后出现的波长峰形，形状不规则，向一边倒，也就是说在波长一边的能量变化很快（斜率变化），在另一边则变化缓慢，导致峰形有撇腿的现象（特别是在Hg的几个波长上现象特别明显），负高压等其它参数都正常，不知道这种现象如何解释？？？谢谢各位专家！