测量高度仪

[b][font=等线]水准仪测量翼安板高度如何计算?[/font][/b]

我是一台仪器做Hg和As，原子化器高度为8，看网上写测量Hg调到10，如果这样我每次都要调原子化器高度，高度对测量影响大不大？如果大的话 ，那我不是每次调了后都要从新做标准曲线！

一家饭店在五楼，测量时直接在五楼测量还是应该在大楼的边界去测量？或找到他声源测量在附近居民楼平等高度测量看有没有影响

JJG (铁道) 150-1994 接触导线高度和离中值光学测量仪检定规程[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=50801]JJG (铁道) 150-1994 接触导线高度和离中值光学测量仪检定规程[/url]

请问，平时在测量罐体高度时，用作基准平面的花岗岩平板，也需要检定或是校准吗？谢谢

请问发动机实验室测量CO2气体浓度检测仪安装高度是多少?谢谢各位指点

求助，企业排气筒高度用什么测距仪能够很好的测出，求推荐

这次公司方法条件优化，整了一大堆的条件，刚开始觉得人家是没事找事干，做完才发现其实人家还是有根据的，不是瞎胡闹。就拿读数高度来说吧，以前我们用10mm，现在改成8mm，扫描矩管的时候强度明显上来了，样品测试过程中发现，精密度也好了很多，看来有些细微的东西还是不容忽视呀，一点改变对结果的影响还是蛮大的。你们认为呢？

在XRD中使用高度计时将高度计的指针指向1MM处就可以测量样件的物象、表面残余应力和薄膜物象，这样的高度（高度计指针1MM）测量的XRD图谱准确吗？XRD图谱中峰值对应的2Theta角正确吗？XRD图谱中峰值的强度会有变化吗？

最近我们需要测量产品的凹坑深度（很多凹坑相联，坑长宽约200~500um，深在几十到一百多微米），了解到三维体视显微镜可以测量。我也联系过keynece等厂家，感觉做是可以做，视野有点小，不能多看一些坑。估计方法倍数在20×左右就能看到很多的坑了，而且能测量坑的深度。请各位帮忙介绍下。我的联系方式dogxiong@163.com

请教各位,做EDS分析时,样品是不是一定要正焦,样品位置过低或过高会有什么影响,是不是会使测量不准. 小量的欠焦影响大不大.谢谢

ε2，则当液位升高时，两电极间总的介电常数值随之加大因而电容量增大。反之当液位下降，ε值减小，电容量也减小。 所以，可通过两电极间的电容量的变化来测量液位的高低。电容液位计的灵敏度主要取决于两种介电常数的差值，而且，只有ε1和ε2的恒定才能保证液位测量准确，因被测介质具有导电性，所以金属棒电极都有绝缘层覆盖。电容液位计体积小，容易实现远传和调节，适用于具有腐蚀性和高压的介质的液位测量。 2、放射形物位计原理是利用物位的高低对放射形同位素的射线吸收程度不同来测量物位高低的，它的测量范围宽，可用于低温、高温、高压容器中的高粘度、高腐蚀、易燃易爆介质物位的测量。但此类仪表成本高，使用维护不方便，射线对人体危害性大 。 3、超声波物位计原理是利用超声波在气体、液体或固体中的衰减、穿透能力和声阻抗不同的性质来测量两种介质的界面。此类仪表精度高、反应快，但成本高、维护维修困难，都用于要求测量精度较高的场合。 4、玻璃管液位计和玻璃板液位计统称为连通器式液位计。连通器式液位计原理就是应用最普通的玻璃液位计，它的特点是结构简单、价廉、直观，适于现场使用，但易破损，内表面沾污，造成读数困难，不便于远传和调节。

弹簧试验机的试验方法有通过变形测力值，通过高度测力值，通过力值测变形，通过力值测高度，每种试验方法的操作方法是有区别的，今天我们就专门来介绍一下通过高度测力值的操作步骤，对于其他的操作步骤我们会在以后的章节中介绍到，请大家定期关注我们的网站。1.新建试验记录2.输入试验以及试样的参数:a)填写基本参数主要包括送检单位、检测单位、批号、日期、试验环境温度、规格等b)选择试验方法和方式：即选择压缩试验方式中的指定 高度 求对应点 力值c)对于螺旋弹簧的试验时还应填写材质、旋绕方向、线径、中经等参数，而对于碟簧、板簧等材料这些参数可不用填写3.将试样放置在弹簧试验机压盘的中心位置4.设置试验参数：a)高度设置：测量两个压盘之间的距离，电机位移显示板上的设置位移按钮输入压盘间距b)速度设置：依据标准：JB/T 8064-1996，不同弹簧的试验速度基本如下：压缩弹簧:200mm/min；可锁定弹簧:200mm/min；刚性锁定:2mm/min；弹性锁定:8mm/min，纵观上面的速度来看弹簧试验机的速度并不是很大，用户在设置时一定要遵循相应的标准要求，不要设置较大的速度，不然会导致试验结果不准确。5.开始试验机，试验介绍后用户可以分析试验结构，将结果保存到数据库，可打印报表及查看试验数据。注意：做“指定高度测力值”和“指定力值测高度”两个试验时：每次打开软件都要重新设置位移，以保证位移的准确。而像拉力试验机、电子万能试验机在进行其他材料的检测时，因为其试验方法不同，因此不用对此步骤进行操作。

烟囱的高度，是直接问被测单位吗？还是目测估算？还是有其他的什么方法来测量？

请问Cary 100型UV-Vis透过比色皿的光束直径和高度是多少？因为要自己设计一个特殊的样品池，需要确定透光的窗口开多大，开在什么位置合适。或者这个参数该怎么测量。还有，如果光程长度不是标准的10mm，20mm，而是12mm，14mm这样的可不可以呢？谢谢。

随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

本公司专门供应各种精密测量仪器： 工量具包括：进口/国产游标卡尺、数显/带表卡尺、高度尺、千分尺、标准量块。 光学测量仪器包括：投影仪、影像二维、三坐标测量设备、显微镜等。 各种硬度计：进口/国产洛氏硬度计、维氏硬度计、邵氏硬度计。可测量各种材料的硬度值，可打印测量数据。 另有各种进口测高仪、其它各类仪器。 联系人：柴小姐 13916024531 cdyoyh@sina.com

基本概念： 物位是指物料相对于某一基准的位量，是液位、料位和相界而的总称。 (1)液位。储存在各种容器中的液体液面的相对高度或自然界的江、河、湖、海以及水库中液体表面的相对高度。 (2)料位。容器、堆场、仓库等所储存的固体颗粒、粉料等的相对高度或表面位置o (3)相界面位置。同一容器中储存的两种密度不同旦互不相溶的介质之间的分界面位置。通常指液—液相界面、液—固相界面。物位的测量即是指以上三种位置的测量，其结果常用绝对长度单位或百分数表示。测量固体料位的仪表称为料位计，测量液位的仪表称为液位计，测量相界面位置的仪表称界面计。根据我国生产的物位测量仪表系列和工厂实际应用情况，液位测量占有相当大的比例，故在此主要介绍工厂常用的液位测量仪表，其原理也适应其他物位测量。物位测量仪表的分类：物位测量方法很多，测量范围较广，可从儿毫米到几十米，甚至更高，且生产I艺对物位测量的要求也各不相同。因此，工业上所采用的物位测量仪友种类繁多，技其工作原理可分为：(1)直读式物位测量仪表。它利用连通器原理，通过与被测容器连通的玻璃管或玻璃板来直接显示容器中的液位高度，是最原始但仍应用较多的液位计。(2)静压式物仪测量仪表。它是利用液校或物料堆积对某定点产生压力，测量该点压力或测量该点与另一参考点的压差而间接测量物位的仪表。这类仪表共有压力计式物位计、差压式液位计和吹气式液位计3种。(3)浮力式物位测量仪表。这是一种依据力平衡原理，利用浮于一类悬浮物的位置随液面的变化而变化来反映液他的仪表。它又分为浮子式、浮筒式和杠杆浮球式3种。它们均可测量液位，且后两种还可测量液—液相界面。 (4)电气式物位测量仪表。它是将物位的变化转换为电量的变化，进行间接测量物位的仪表。根据电量参数的不同，可分为电容式、电阻式和电感式3种，其中电感式只能测量液位。(5)声学式物位测量仪表。利用超声波在介质中的传播速度及在不同相界面之间的反射特性来检测物位。它可分为气介式、液介式和固介式3种，其中气介式可测液位和料位；液介式可测液位和液—液相界面；固介式只能测液位，比如：防爆型超声波液位计(6)光学式物位测量仪表。它是利用物位对光波的遮断和反射原理来测量物位的。有激光式物位计，可测液位和料位，： (7)核辐射式物位测量仪表。放射性同位素所放出的射线穿过被测介质时．被吸收而减弱，其衰减的程度与被测介质的厚度(物位)有关。利用这种方法可实现液位和料位的非接触式检测。 除此以外，还有重锤式、音叉式和旋翼式3种机械式物位测量仪表，以及微波式、热电式、称重式、防爆型超声波液位计、射流式等多种类型，且新原理、新品种仍在不断发展之中。物位测量仪表按仪表的功能不同又可分为连续测量和位式测量两种．前者可实现物位连续测量、控制、指示、记录、远传、调节等，后者比较简单价廉，主要用于定点报警和自动进出物料的自动化系统。 返回——仪器仪表网

本公司专门供应各种精密测量仪器：工量具包括：进口/国产游标卡尺、数显/带表卡尺、高度尺、千分尺、标准量块。光学测量仪器包括：投影仪、二维影像式测量仪器、三坐标测量设备、显微镜等。各种硬度计：进口/国产洛氏硬度计、维氏硬度计、邵氏硬度计。可测量各种材料的硬度值，可打印测量数据。 另有各种进口测高仪、其它各类仪器。欢迎来电垂询，索取资料。 柴小姐13916024531cdyoyh@sina.com

目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

实验室准备安装Milestone DMA-80测汞仪，我想了解一下设备上面的抽风罩高度有没有要求，如果没有的话，各位觉得多高合适？谢谢。

2011年第15号公告关于发布《JJG31-2011高度卡尺计量检定规程》等8个国家计量技术法规的公告根据《中华人民共和国计量法》有关规定，现批准《JJG31-2011高度卡尺计量检定规程》等8个国家计量技术法规发布实施。 编号名称批准日期实施日期备注JJG31-2011高度卡尺检定规程2011-01-212011-07-21代替JJG31-1999JJG784-2010深沟球轴承跳动量测量仪检定规程2011-01-212011-07-21代替JJG784-1999JJG1064-2010氨基酸分析仪检定规程2011-01-212011-04-21JJF1272-2010阻容法露点湿度计校准规范2011-01-212011-04-21JJF1273-2010磁粉探伤机校准规范2011-01-212011-04-211JJF1274-2010运动黏度测定仪校准规范2011-01-212011-04-21JJF1275-2010X射线安全检查仪校准规范2011-01-212011-04-21JJF1070.1-2010定量包装商品净含量检验规则（肥皂）技术规范2011-01-212012-02-01 二〇一一年一月二十五日

物位测量仪表是测量液态和粉粒状材料的液面和装载高度的工业自动化仪表。测量块状、颗粒状和粉料等固体物料堆积高度，或表面位置的仪表称为料位计；测量罐、塔和槽等容器内液体高度，或液面位置的仪表称为液位计，又称液面计；测量容器中两种互不溶解液体或固体与液体相界面位置的仪表称为相界面计。　电容物位计是利用电容量的变化来测量容器内介质物位的测量仪表，在容器内，由电极和导电材料制造的容器壁构成了一个电容。对于一个给定的电极，被测介质的介电常数不变时，给电极加一个固定频率的测量电压，则流过电容的电流取决于电容电极间介质的高度，并与之成比例。电容物位计是基于电容量的改变，来进行物位测量的，用电容物位计测量物位的一个基本要求是：被测介质的相对介电常数(被测介质与空气的介电常数之比)在测量过程中不应变化。　电容物位计适应于容器中导电或非导电液体、固体（块状、粉状、细粒状或卵石状）的物位测量。