测量射率仪

SGRM-200反射率测量仪--代理西格玛产品

RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪，采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，实现对材料红外波段（2-22um）发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计，具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪，可广泛应用于各种工业材料发射率的测量，是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；&bull 测量波段：2-22um；&bull 重复性：±0.02；&bull 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；&bull OELD单色屏：一目了然，一键测量，操作简便；&bull 数据记录：最近32条测量记录，方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”，OLED点阵屏，单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录，EEPROM存储，关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃，非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃，非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm（包装箱含电源适配器，标定片等）整体重量 2.5Kg产品外形 注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。

1. 测量原理：定向半球反射（DHR） , 20°±1°入射2. 测量波段:双波段，3-5卩m & 8-12pm3. 重复性：＜ 0.014. 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好5.彩色触摸屏：汉字界面、触摸操作、一目了然，一键测量，操作简便6.数据存储：Micro SD卡，最大2048条记录，分8组，TXT文件格式，方便在PC机上后续数据分析国内商用化产品产品经过工程化考验隐身涂覆材料红外特性硏究飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估RLK650便携式红外发射率测量仪，是采用先进的光电检测技 术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，新型 的光电检测仪器。其基于定向半球反射比（DHR）测量原理，完成双波段 （3-5um和8-12um）发射率的贴近测量。产品针对野外、移动试验条件设 计，集公司多项技术积累，吸收国际先进产品的技术与特点，具有携带方便、 操作简单、等优点，测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估、红外隐身涂 覆材料的研究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司联系方式：029-81870090型号ModelRLK650原理 Principle定向半球反射（DHR）, 20° ±1°入射测量波段 Spectral Response双波段3-5pm & 8-12pm工作模式Work Mode发射率/反射率重复性 repeatabilityW 0.01显示分辨率 Display Resolution0.001显示屏 Screen Type3.5” TFT LCD 触摸屏测量时间Measurement Time1。秒（每次测量进行2次数据采集）预热时间Stanby Time 90秒数据存储Data StoreMicro SD卡（8Gbyte）,最大2048条记录，分8组数据下载Data Download下载操作后，2048条记录，分8个TXT文件格式，保存在MicroSD卡中供电方式Power SupplyLi电池，18V3AH,持续工作时间＞3小时，可更换工作温度Working Temperature0P~+45P,非冷凝储存温度 Store Temperature-30P~+65P,非冷凝外形尺寸Dimension246mm * 290mm * 108mm（测量头）重量Weight2.3Kg（测量头）整体外形尺寸 Total Dimension480mm *410mm* 200mm（包装箱含电池、充电器、标准片等）整体重量Total Weight6.4Kg（包装箱含电池、充电器、标准片等）销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司 联系方式：029-818700902\

20240701 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪规格书一份V1.0-立鼎光电.pdfRLK650 pro 是便携式红外发射率测量仪 RLK650 的升级产品，采 用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术， 以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反 射比（DHR）测量原理，完成双波段（3-5um 和 8-14um）发射 率的贴近测量，产品针对野外、移动试验条件设计，集公司多 项技术积累，吸收国际先进产品技术与特点，具有携带方便、 操作简单等优点，测量结果保存在 SD 卡中。可广泛应用于飞机、 舰船、车辆的红外隐身性能现场评估，红外隐身涂覆材料的研 究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。详见附件。

本系统根据最小保护角度法(散荷法)，在采用棱镜形状的样本中使用任波长为(1~14微米)的中色光，通过测量透过入射光的角度来测量样品的透射率的的装置。能够测定在以往的测定法的折射率精度为0.0001。用于红外窗口及红外镜头的Ge, Si, ZnSe, KRS-5。最适合评估玻璃和红外光学薄膜。特点：可以在波长范围1~14um中测量折射率，可以达到(0.0001)的高精度；配备温度调控功能，可以测量不同温度下的折射率的差异。

本系统根据最小保护角度法(散荷法)，在采用棱镜形状的样本中使用任波长为(1~14微米)的中色光，通过测量透过入射光的角度来测量样品的透射率的的装置。能够测定在以往的测定法的折射率精度为0.0001。用于红外窗口及红外镜头的Ge, Si, ZnSe, KRS-5。最适合评估玻璃和红外光学薄膜。特点：可以在波长范围1~14um中测量折射率，可以达到(0.0001)的高精度；配备温度调控功能，可以测量不同温度下的折射率的差异。

红外折射率测量仪 完美融和创新设计及尖端技术，Prism Pro - IR是艺术级红外折射率测量仪，用于测量中波红外成像组件/系统及光材料均匀性的理想仪器。规格参数*精确度 (已校准)*重复性波长范围温度范围（可选）波长精度波长分辨率仪器测试孔径 旋转平台分辨率 双RTD(电阻热装置) 探测器DSP锁相放大器 +- 0.00005 +- 0.00002350nm- 14um77-373K+- 0.05%1nm25 mm 直径.008 角秒+-0.3 摄氏度MCT SRS 830 源类型：150 W石英卤素灯(0.25 - 3.5 um)、陶瓷发光体 (2.0 - 30 um) 单色仪：自动三光栅塔轮、自动11位二级截止滤光片转轮、变速光学斩波器 (10 – 350Hz)、(6) 套用户可切换狭缝 尺寸： 6ft x 4ft x 3ft重量： 1100lbs (包括桌子)分析软件/ M3自动化、折射率索引包准确性和重复性通过60度CaF2棱镜@3.39um验证dn/dT：折射率系数随温度变化色散：折射率系数随波长变化色散方程拟合: Sellmeier、Herzberger、Cauchy等 色散曲线 dndT温度变化曲线

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数 ET100 便携式红外发射率测量仪 符合标准 ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比 波段 6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 IR源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

针对高反射率（R99.7%）的光学样品，德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法（Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS）反射率测量测量系统, 它通过对指数型腔内衰荡信号的检测，去掉了传统检测方法中激光能量起伏所引起的误差, 大大提高了测量精度。测量原理当一束脉冲激光沿着光轴入射到光腔内，忽略衍射及散射损耗，单色脉冲光在两个腔镜之间往返振荡，每经过一次循环透射出部分光，探测器通过接收光脉冲信号得到其以单指数形式衰减。τ为衰荡时间，指光子出射脉冲光强衰减为初始光强的1/e时经历的时间。C代表光速，L是代表腔长，RM是两个腔镜的几何平均反射率，散射V和吸收系数α忽略不计。则，衰荡时间τ表示为从公式上可知:1)腔内损耗越小，反射率越高，衰荡时间越长。2)在已知参考片的反射率Rref 前提下，可求得要待测样品的反射率R。一、 德国IPHT CRD高反射率测量系统1. CRD系统介绍系统包含1. 激光光源2. 光学零部件3. A/D转换器4. 探测系统系统要求详细说明激光器波长范围400nm-1064nm内常见激光波长激光器工作模式脉冲测量角度范围标准0°；45°选配反射率测量范围99.9%-99.995%测量精度反射率精度取决于待测样品反射率，精度为（1-R）*10%样品类型平平/平凹镜(凹面的曲率半径≥500mm),平面抛光，凹面镀高反，反射率R在99.9%...99.995%范围内样品尺寸要求标准即1英寸；半英寸/50mm可选（直径要求可根据客户需求定制）标准厚度：1/4英寸（5-7mm可选）应用：准确检测高反射率激光腔镜的反射率，尤其对于反射率大于99.9%的腔镜测量具有更好的效果。

光谱反射率及颜色测量 描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值通过积分球采样，还可进一步测量材料的表面颜色典型测试数据不同颜色纸张的光谱反射率光纤型光谱反射测量套件应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱反射率。配置清单积分球型光谱反射率测量套件应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量，系统经过相对强度定标后，还可进一步测量材料的表面颜色。配置清单更多精彩内容，请关注下方！

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便应 用 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪 测量参数 定向半球反射比 (DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 发射率 波段 2个波段：3~5、8~12μm 入射角 20°法线入射 样品表面： 任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 IR 源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境： -25~70℃； 操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

SOC-100 半球定向反射率测量仪（HDR）及其应用软件具有独特的材料光学性能的表征和利用能力，是一套功能强大的半球定向反射率测量工具。配备Nicolet FTIR， SOC-100可提供FTIR所涵盖光谱区域10°到80°入射角的偏振反射和角漫反射测量。使用标准FTIR，所测量光谱区域为2-25μm，也可通过客户定制的FTIR扩展到50μm。同时还具备样品加热功能。测量材料漫反射率的传统技术是利用积分球捕捉漫散射的能量。但由于积分球的固有能量限制，有价值的数据被限制在18μm内。而SOC-100利用2π半椭球以700°C黑体照射样品。一个可移动的顶部反射镜捕获反射能量并准直到FTIR。SOC-100软件使用MS Windows® 界面，驱动FTIR并控制各种数据采集、进程管理、数据归档和报表生成。它与OMNIC软件兼容，还具有附加软件包，可进行光学常数的测定、漫反射涂层的设计、热量分析和红外场景模拟。测量数据：n 10°~80°之间的用户设定角度的平行、垂直及非偏振光束反射率n 测量漫反射和镜面反射，及0°入射的透射率n 温度达500℃和10°~80°角度下，定向发射率的角度-波长-温度函数n 总半球发射率的温度函数应用：n 支持红外图像模拟和红外材料的开发n 鉴定和测量表面污染n 散射和镜面反射检测n 测量散装和粉状物料的偏振反射数据，以计算其光学常数（n，k） n 提供热分析和热传导的温度-波长函数发射率数据n 提供角度至2π球面度的半球完全散射透射率数据软件功能：n 标准软件提供：仪器控制、项目和数据的基础管理；控制Nicolet FTIR的OMNIC软件n 可选的应用软件：光学常数测定、涂层设计分析、红外场景模拟、热分析用途： n 热量传导 n 特征分析 n 涂料研发 n 质量控制 n 定量分析 n 光学测试

优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯，或者卤钨灯，作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一：布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求，计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源，光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球，3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050，波长范围350-1050nm，分辨率最小0.6nm，美国产进口600线光栅4. 搭配电脑，数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置1000ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率应用举例二：高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（下面一条曲线），350-1000nm范围反射率72%， 样品2（上面一条曲线），350-1000nm范围反射率 82%，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率测试二过程，相对于黑板1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置黑板，采集参比光谱3. 移除黑板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（上面一条曲线），350-1000nm范围相对于黑板的反射率， 样品2（下面一条曲线）相对于黑板的反射率，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三：薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物薄膜的光谱

ATR1000自动透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，可给出光谱曲线，用于实时测试样品的紫外到近红外波段（最宽可达200-2500nm）的透过率和反射率。ATR1000采用一体化设计，采用内置固定光纤，光路稳定，样品仓可以完全封闭，把外界光的影响降到最低。软件操作简单，可通过设置阈值自动判断测试结果是否合格，广泛应用于光学玻璃、半导体等行业，测试毛糙样品时，可按照客户要求配备积分球。产品特点◆能对多点进行全自动定位测量，实时数据采集◆ 可以测量整段光谱，能选取六个光谱的透过率或反射率，设置阈值自动判定检测结果◆ 可根据样品要求配备积分球◆ 灵活搭配的透/反射测量方案◆ 操作简单，容易更换样品◆ 采用内置固定光纤，光路稳定应用领域半导体激光器腔面高反射涂层 太阳能电池 硅片、晶圆光学玻璃、薄膜 屏幕面板 涂料珠宝玉石 纺织品技术参数

自动绝对反射率测量系统可以测量绝对反射率和透射率，也可同时改变样品的入射角。 适用于测量太阳能电池元件、半导体、薄膜、光学元件、光学器件等各种固态样品的光谱特性和膜厚。 通过旋转样品台来设置入射角，通过滑动积分球来控制光接收角。 此外，入射角和接收角可以在异步模式下单独设置。 此外，还可以通过指定 P 和 S 偏振并任意设置偏振片的角度来研究样品的偏振特性。&bull 样品室及内部结构图中显示了自动绝对反射率测量单元的内部图 1 和图 2。 通过旋转样品台和检测器，可以改变入射角和光接收角， 样品台和检测部分由PC控制，透射率和绝对反射率可以在同一系统中进行评估。&bull 防窥视膜的视角测量随着在智能手机或其他设备屏幕上的防窥膜具有盲人状结构，其中透明层和遮光层交替排列，因此无法从左右、顶部和底部等看到屏幕。 由于这种结构，视角会随着着色层的高度和间距而变化。 评估此类结构的视角和透射率的最佳方法是使用绝对反射率测量单元，该单元可以将样品旋转到指定角度并测量光谱。在这里，我们介绍了测量智能手机防窥视膜透射光谱的角度依赖性的结果（产品规格：65度视角）。 图 4 显示了以 60 度间隔对入射角 &minus 60~20度进行光谱测量获得的间隔数据，图 5 显示了 550 nm 处透射率的角度依赖性。 从图4可以看出，在±32.5度左右的薄膜标称视角下，透光率约为5%，几乎没有透光

技术介绍：系统采用双传感器设计，可在石墨盘旋转同时进行整个石墨盘的漫反射率、镜面反射率及发射率二维分布Mapping 测量；原理用途：物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度、面形以及表面氧化层、涂层、缺陷、残留物、表面杂质等)有关。所以，通过对石墨盘各个点发射率的测量可以直接反映出石墨盘表面肉眼难以观测到的表面细节，同时基于黑体辐射原理进一步评估石墨盘表面温度的分布情况。这对有效控制器件的质量，以及优化生长工艺有帮助。技术指标及特点：1. 扫描尺寸：700mm；2. 适配石墨盘：大部分商用石墨盘；3. 扫描分辨率：径向分辨率0.05mm，角度分辨率0.1°，用户可自定义；4. 扫描时间：10 分钟（465mm 尺寸的石墨盘，以径向1mm，角度0.1°测量）；5. 测量光点尺寸：2mm6. 光源波长：940nm 或660nm（可选）；7. 镜漫反射率分辨率：±0.005；镜漫反射率准确度：±0.01；发射率分辨率：±0.01；发射率准确度：±0.02；8. 系统为离线测量设备，便于石墨盘的装卸。软件操作简单，专为操作员及工程师设计；

RT100透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，给出光谱曲线，可用于测试样品的紫外到近红外波段（最宽可达200-2500nm）的透过率及反射率。采用一体式设计，样品仓可以完全闭合，把外界光的影响减到最低。软件简单易用，自动判断测量结果是否合格。RT100广泛地用于光学玻璃、薄膜、显示、触摸屏、手机盖板等行业。配备积分球，可用于具有毛糙表面的样品反射光谱和透射光谱测试，如聚光玻璃、毛玻璃等。仪器特点●灵活搭配的透/反射测量方案●极宽的光谱测量范围：200nm-2500nm； ●简单、易操作、易更换样品做测试●可以支持带积分球测量模式和不带积分球测量模式● 采用高精度光谱测量技术，精度高、测量速度快、稳定性好；● 自带校正及标定功能，方便用户自行校零和定标；●软件 可以测量整段光谱曲线，自动获取6个光谱位置透过率反射率数值，可设阈值自动判定结果。应用领域●固态样品 ●液态样品 ●汽车零部件 ●光学元件 ●镀膜 ●滤光片 ●珠宝 ●涂料 ●特种玻璃 ●各类薄膜 ●手机、平板各类型玻璃 ●聚光玻璃、毛玻璃、镜片主要参数●电源及插头：能在220V±10%，50Hz供电条件下连续工作。仪器设备的插头应符合中国国家标准，否则应提供适合仪器插头的插座。●工作环境：10-35℃、相对湿度10-80%（无结露）●光谱范围：380-1050nm（最宽可达200-2500nm，可以根据客户的要求定制范围）。●样品台尺寸：195 x 160 mm (W x D)。●带封闭样品仓，减少外界光线对测量结果的影响。●光源：高性能卤素灯（可根据光谱范围和样品特性定制光源）。●RT100软件：可以测量整段光谱曲线，可以自动获取6个光谱位置的透过率、反射率数值，设定阈值自动判断测量合格与否。

PKSAIR 1121T便携式高灵敏度x、γ辐射剂量率测量仪是一款集多种技术于一体的多功能辐射安全监测设备，主要用于环境中x、γ剂量率检测、辐射场所辐射防护水平监测、应急场合查找隐藏的放射源等，设备总体性能可靠、使用灵活方便，是环保、卫生、出入境以及其他涉及到电离辐安全监测企事业单位理想的现场快速检测产品。PKSAIR 1121T整体由大规格有机塑料闪烁体（2X2英寸）、光电倍增管（滨松）、信号处理电路和微电脑、大尺寸彩色液晶显示器（3.5英寸，支持触屏操作）构成，大规格的塑料闪烁体探测器响应灵敏、快速，配合高性能的光电倍增管及信号处理单元，可以有效的针对环境中x、γ射线剂量进行快速、准确的检测，符合GB/T14583-1993《环境地表γ辐射剂量率测定规范》及JJG521-2006规定的环境监测用X、γ辐射空气比释动能(吸收剂量)率仪要求，保证设备既可用来做常规环境级χ、γ剂量率仪、防护级х、γ泄漏巡检仪，亦可用来做突发性放射性事故等现场应急监测设备。快速信号处理模块和大尺寸显示屏可实时显示多种检测信息（剂量率、累计剂量、电量显示），清晰明了，具备良好的人体工程原理。PKSAIR 1121T整体性能可靠、携带方便、可操作性强，可广泛适用于环保部门、疾控中心、地质矿山、医疗卫生、核电站、公共安全与核应急、国土安全、军事海关与出入境检验检疫、民航、铁路、公路与航运、核退役及去污等部门。特点：l 内置高速嵌入式微处理器，强大的信息处理及计算能力，有效保证监测数据与状态的实时性l 3.5寸彩色触摸液晶显示屏，全中文操作界面，可同时显示剂量率、累计剂量等信息l 2英寸空气等效塑料闪烁探头具有高灵敏度、高稳定性和极好的能量响应。 l 可扩展内置大量程GM传感器，使设备兼具高灵敏度和大量程特性，满足高剂量率环境监测要求。l 支持自定义报警功能（可设置实时剂量率报警、累积剂量报警）l 自动保存累积剂量、掉电不丢失、并可手动查看报警记录；数据储存可达4000条以上。l 带专用握把（可卸式结构），方便手持操作及不同环境更换特殊手柄的需求l 实时时钟功能，可实时显示年月日，掉电不影响时钟的运行l 可选配蓝牙通讯模块，支持手机端app实时同步测量数据 技术指标： 探测器：2x2英寸塑料闪烁体+滨松光电倍增管。辐射检测量程：剂量率，10nSv/h-10mSv/h 累积剂量，0-9999mSv能量响应：30keV-7.0MeV（偏差＜20%）。响应时间：30ms。相对固有误差：＜±10%（137Cs&100µ Sv/h）。灵敏度：130 CPM/mR/hr referenced to Cs-137显示：3.5寸彩色触摸液晶显示屏,触屏操作工作环境温度：-25-50℃；工作环境相对湿度：＜95%（不结露和霜）供电：7.4V锂离子，充满电可持续工作8小时以上外壳：金属，整体结构坚固耐用尺寸&重量：265×210×134(mm)，约1106克

完美融和创新设计及先进技术，Prism Pro - IR是艺术级红外折射率测量仪，用于测量中波红外成像组件/系统及光材料均匀性的理想仪器。规格参数*精确度 (已校准)+- 0.00005*重复性+- 0.00002波长范围350nm- 14um温度范围（可选）77-373K波长精度+- 0.05%波长分辨率1nm仪器测试孔径25 mm 直径旋转平台分辨率.008 角秒双RTD(电阻热装置)+-0.3 摄氏度探测器MCTDSP锁相放大器SRS 830源类型：150 W石英卤素灯(0.25 - 3.5 um)、陶瓷发光体 (2.0 - 30 um)单色仪：自动三光栅塔轮、自动11位二级截止滤光片转轮、变速光学斩波器 (10 – 350Hz)、(6) 套用户可切换狭缝尺寸： 6ft x 4ft x 3ft重量： 1100lbs (包括桌子)分析软件/ M3自动化、折射率索引包&bull 准确性和重复性通过60度CaF2棱镜@3.39um验证&bull dn/dT：折射率系数随温度变化&bull 色散：折射率系数随波长变化色散方程拟合: Sellmeier、Cauchy等样品制备色散曲线dn/dT曲线

半球发射率测量仪AE1/RD1产品介绍： 半球发射率测量仪AE1/RD1用于测量发射率的专用仪器。低温加热被测样品，仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量后换算出发射率，根据设定的标准体发射率准参数，计算并读出被测样品发射率。符合《ASTM C1371》、《JG_T 235-2014 建筑反射隔热涂料》、《GBT 25261-2010 建筑用反射隔热涂料》等国家标准，是建筑涂料行业，新能源材料研究，航空航天材料研发检测的必须品。发射率通过两个步骤获取：（1）把辐射计放在高发射率标准体上，设定 RD1 来表示发射率； （2）把辐射计放在待测样品上并直接读出 RD1 上的发射率。 产品特点：重复性高，重复精度达到±0.01发射单位；易于操作：仪器的检测器部分已电加热，因此不必额外加热样品，也无需温度测量。根据高发射率标准体提前设定发射率标准参数，测量仪仅对辐射热传输响应并输出电压，和发射率成线性关系，通过可调旋钮设定发射率读数与标准体的发射率一致，通过校准后，当测量被测样品时，检测仪便可直接读出发射率。快速测量：在大约30分钟的初始预热器。期后，可以每隔半分钟读取一次发射率读数，使得测量结果变得实时可观。高性价比：该仪器简便小巧，性价比高，比同期其他方法的测量设备成本更低，维护更简单。 技术参数：读数 器: D&S 微型数字伏特计，型号RD1。输 出: 材料温度为25℃时，2.4 毫伏通常对应材料发射率为0.9线 性: 检测器输出和发射率成线性关系，精度为±0.01发射单位。测量时间： 10s加热装置：加热被测样品，使其在与标准体温度相同的情况下被测量样品温度：最大130华氏度，约为55℃漂移：输出可能会随着环境而变化，但是在短时间测量内可以忽略不计。标准体：提供两个高发射率标准体和两个地发射率标准体，其中一套标准可用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参比。电源：100-240V/50-60Hz，12V直流输出测量波长：3——30μm测量范围：0——1测量精度：±0.01被测样品尺寸：Min Φ5.7cm (可选配Φ2.54cm样品探测器)测量温度：10℃——55℃ 外形尺寸：探测头Φ57X107mm，测量台 H46mm×宽105mm×D152mm标准配置：AE1探测头，高发射率标定块和低发射率标定块各2个，发射率测量仪，电源线，CD教学视频、校准证书、操作手册、手提箱。 选配：AE-AD3测量模块 : 测量直径Min 2.54cmAE-ADP: 测量适配器，可测量小至Φ3.8cm的扁平材料以及低导热、大曲率圆柱表面或者粗糙结构表面的样品材料。 订货指南： AE1/RD1 辐射率仪套装: 包括 AE1 辐射率仪，RD1 微型数字伏特计，2 个高发射率标准体，2 个低发射率标准体，黑体 槽，100/240V 通用电源，便携箱 AE1/RD1-12V 辐射率仪套装: 包括 AE1 辐射率仪，RD1 微型数字伏特计，2 个高发射率标准体，2 个低发射率标准体，黑 体槽，可连续使用 12 小时的 12V 电池和充电器，100/240V 通用电源，便携箱 可选项: RD1-10X – 10 倍增益选项，RD1 发射率精确到 0.001 Model AE-AD1 - 测量直径小于 3.8cm（1.5 inch）的平滑样品 Model AE-AD3 - 测量直径小于 2.54cm（0.75 inch 测量区域）的平滑样品 AE-ADP –测量适配器，端口内直径为 1 3/8 inch，用来测量较小尺寸、低导热性、大曲率(2 inches)圆柱表面或者粗糙结 构表面的样品材料

简单介绍美国15R-USB便携式镜面反射率计使用660nm的LED光源，通过校准光学部件产生10mm直径光束源。反射的光束穿过3个孔中的1个，标准接收角度为15、25和46mrad，提供7mrad可选孔径。15R-USB便携式镜面反射率计基座上有两个可调节的支承点，可用来调准反射光束与接收光学系统。详细介绍美国D&S公司生产的15R-USB便携式镜面反射率计是专门针对野外或实验室内应用设计的，可以测量平面或曲面样品的镜面反射率，15R-USB便携式镜面反射率计采用可充电电池供电，每次充电完成后可连续测量15个小时。反射计设计小巧，高约15cm，直径12.7cm，重量1.0kg，测量时间约每分钟2~6次并自动记录和存储数据。具有USB接口可进行数据下载、数据维护和固件升。这些特点对于现场太阳反射镜的测量、检测、生产过程中的质量控制、热控制涂层的维护等应用域非常理想。具有如下优点： （1）电池操作，野外便携 （2）重复性：±0.002 （3）质量控制和检测的理想应用产品原理介绍15R-USB便携式镜面反射率计使用660nm的LED光源，通过校准光学部件产生10mm直径光束源。反射的光束穿过3个孔中的1个，标准接收角度为15、25和46mrad，提供7mrad可选孔径。15R-USB基座上有两个可调节的支承点，可用来调准反射光束与接收光学系统。支撑点中间具有停止位，可以根据反射镜厚度来调节；为了确认对准，可旋转检测器，通过15R-USB顶部的目镜查看光学路径和反射光束。LED光源通过电子截光并同步测量反射光束以去除杂散光误差。同时，光源通过参比检测器监测以减少热漂移。增益调节可将测量值准确到0.001。在仪器的底部，提供个封装的标准体。测量反射率时，只需将15R-USB置于待测量的反射镜上，并调节支撑点到液晶屏显示的大读数。15R主机包含：15R-USB控制软件，USB连接线，反射率标准体，镍镉电池，电池充电器，操作手册，维护手册，技术说明和运输箱。技术参数测量描述：测量15度入射角、10mm入射光源的镜面反射率，光束发散为5.0mrad。光源：高灵敏度红光LED 660nm，90HZ截光去除杂散光；可选570nm绿光LED。光学：LED光源固定于小光圈内确保提供点光源，并通过会聚透镜校准；内置光学进行过防尘处理。标准体：提供封装的镜面反射标准体，安装在仪器底部。重复性：±0.002分辨率：LCD显示反射率0.1%，增益调节旋钮可进行标准体校准。操作温度：0~50℃耗电：可充电电池提供15个小时连续测量，通用100-240VAC电源适配器。重量：1.0kg物理尺寸：如图

欢迎来到精确光谱反射率和透射率测量的前沿，我们为您提供设计用于实际分析的灵活创新套件。我们的套件结合了可靠性和易用性，为各行业的研究人员、工程师和专业人士提供强大支持。我们的套件设计灵活可靠，适用于各种应用和环境。无论您身处研究、开发还是质量控制领域，我们的解决方案都能助您实现准确、可重复的光学测量。主要特点：&bull 光纤光源：- 我们的光纤光源提供稳定的宽带和近准直照明，确保样品和参照物之间的结果一致。&bull 光谱仪：- 附带的光谱仪提供高分辨率光谱分析，允许对测试样品进行可见光-近红外（VIS-NIR）表征。&bull 积分球：从我们的反射率和透射率积分球系列中选择，以满足您特定的测量需求：- 单光束反射率积分球：适用于单光束设置下测量反射率特性，为反射分析提供简单性和准确性。- 双光束反射率测量积分球：允许在测试样品和参考标准板光谱反射率之间进行替代误差校正，使用单个参考物即可测量广泛的光谱反射率。- 双光束反射率和透射率测量积分球：专为全面分析而设计，此积分球允许从单个测试台同时测量反射率和透射率，为测试样品与光的相互作用提供完整理解。

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域n 航空工业n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制主要特点n 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数n NIST标准 n 快速、便携n 电池操作非常方便n 测量标准和60°入射角的定向热发射比n 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比 输出参数总发射比波段6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射 样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域n 航空工业 n 天文望远镜检查n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制仪器特点n 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射n NIST标准 n 快速、便携n PDA触摸屏操作，内置SD卡n 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE 0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500-°K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 n 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数n 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectancen 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能n 液晶触摸屏PDA图文操作界面n 可同时提供十种设备运行信息n NIST标准 n 快速、便携n 电池操作非常方便应 用n 为红外相机提供发射率参数 n 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数 定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段：3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面：任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境： -25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱透过率配置清单波长范围UV-VISVIS-NIR光谱仪BIM-6002A-01200-900nm，分辨率~1nmBIM-6002A-13400-1100nm，分辨率~1nm光源BIM-6203，氘钨灯光源，230-2500nm光纤SIM-6102-1015-TA/SMA，石英光纤支架BIM-6303，单双臂支架标准板SIM-6326，镜面反射标准板软件BSV光谱分析软件*需要了解各部件的详细参数，请点击表格中的链接测量案例：纸张的光谱反射率不同颜色纸张的光谱反射率

产品详情美国 D&S 发射率测量仪 AE1/RD1• 精确• 易操作• 快速测量• 价格实惠 美国D&S公司生产的AE1/RD1辐射率仪是专门针对测量物体的辐射率设计的，具有如下优点： 重复性: ± 0.01 操作简单: 探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。 快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率。 价格实惠: 相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。 把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。 AE1测量样品最小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品最小直径为1.0英（2.54cm），可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量，可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头，请来电垂询价格！ 发射率通过两个步骤获取：1.把辐射计放在高发射率标准体上，设定RD1来表示发射率；2.把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。. 技术参数读数器: D&S 微型数字伏特计，型号RD1. 输出: 2.4 毫伏→在材料发射率为0.9，材料温度为25℃时 线性关系: 该测量仪输出和发射率成线性关系，小于±0.01 测量时间: 10 s 加热装置: 用来加热使标准体和待测样品温度一致。 样品温度: 最大130F。样品温度和标准体温度必须一致。. 漂移: 输出值可能随着外界环境的变化而改变，但是这些影响在本仪器这么短的检测时间内可以忽略。 标准体: 随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。其中一套标准体可以用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参比。电源: 通用交流电源适配器100-240V，50-60Hz，12V直流输出 AE1辐射率仪：包括辐射率仪、电源线、加热装置，两个高发射率标准体和两个低发射率标准体，技术手册及操作指南。可选配件: Model AE-AD1 - 测量直径最小可至1.5 inches(3.8 cm)的样品。 Model AE-AD3 - 测量直径最小可至1.0 inches(2.54 cm)的样品。Model AE-ADP - 测量适配器，端口内直径为1.5inches(3.8cm)，用来测量较小尺寸、低导热性、大曲率(2 inches)圆柱表面或者粗糙结构表面的样品材料Custom Adapters – 定制测量适配器，用来测量圆柱体表面或者其它形状设计表面Battery Pack – 为方便客户便携式操作，我们还提供锂电池电池版本，可给该测量仪连续供电12小时左右，有电池电量指示，可充电。 测量仪尺寸:

产品用途AE1/RD1辐射率仪是专门针对测量物体的辐射率设计的，可用于建筑反隔热涂料、纺织等行业。产品优点重复性： ± 0.01操作简单：探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率。价格实惠技术参数读数器D&S 微型数字伏特计，型号RD1输出 2.4 毫伏→在材料发射率为0.9，材料温度为25℃时线性关系 该测量仪输出和发射率成线性关系，小于±0.01测量时间10 s加热装置用来加热使标准体和待测样品温度一致。 样品温度130F。样品温度和标准体温度必须一致。漂移输出值可能随着外界环境的变化而改变，但是这些影响在本仪器这么短的检测时间内可以忽略。标准体 随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。其中一套标准体可以用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参比。电源通用交流电源适配器100-240V，50-60Hz，12V直流输出AE1辐射率仪包括辐射率仪、电源线、加热装置，两个高发射率标准体和两个低发射率标准体，技术手册及操作指南。AE1/RD1辐射率仪满足《JG_T 235-2014 建筑反射隔热涂料》JGJ/T287-2014《建筑反射隔热涂料节能检测标准》中对半球发射率的要求。AE1/RD1发射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表?RD1是AE1发射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品最小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头，能测量样?品的最小直径为1.0英寸（2.54cm）。还可以定制探头，测量圆柱形表面和几乎任何几何形状表面。对于小直径圆柱形面样品的测量，可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头，请来电垂询价格！发射率通过两个步骤获取：1、把辐射计放在高发射率标准体上，设定RD1来表示发射率；2、把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。