圆度率量仪

仪器简介：能简便、快捷、准确、经济地测量水或废水样品的余氯含量。技术参数：9770BNWP 余氯电极技术参数 电极型号 9770BNWP 测量范围 0.01 to 20 ppm as Cl2 3 x 10-7 to 10-4 M pH范围 0 ～ 14pH 温度范围 0 ～ 50℃连续测量；50 ～ 100℃间隔测量 重现性 ± 2% 斜率 28 ± 2 mV/十倍浓度 电极尺寸 电极长度：110mm 电极体直径：12mm 电极帽直径：16mm 电缆线长度：1m Dual Star双通道pH/离子浓度测量仪主机技术参数： 离子浓度 测量范围：0 &ndash 19999 分辨率：1，2，3 位有效数字 相对精度：± 0.1 mV 或0.05%（取较大者） 单位：ppm，mg/L，M，% 或无单位 测量方法:单已知加量/ 减量法；双已知加量/ 减量法 校正点：2- 6 点 pH 测量范围：-2.000 - 19.999 分辨率：0.1 / 0.01 / 0.001 pH 相对精度：± 0.001 pH 校正点：1 - 6 点 自动缓冲液识别：US，NIST，DIN 和用户自定义 氧化还原电位 （ORP） 测量范围：± 1999.9（mV/RmV/EH） 分辨率：0.1 mV 相对精度：± 0.1 mV 或0.05%（取较大者） 温度 测量范围：-5 - 105℃ 分辨率：-5 - 99.9℃为0.1℃，99.9℃以上为1.0℃ 相对精度：± 0.1℃ 仪表功能 LCD ：双通道显示 输入：两个BNC 接口，两个参比电极接口，两个MiniDIN 接口（温度探头） 方法存储：20 个 密码保护：是 数据存储：1000 组 符合GLP 标准：是 数据传输：双向RS232 接口，可选USB 电缆 IP 等级：IP54 防尘防溅 质量安全认证：CE，CSA，UL，TÜ A，FCC Class A 操作环境：适宜操作温度5 - 45℃ 相对湿度5 - 85%（无冷凝） 电源：4× AA 电池，通用的电源适配器 外形尺寸：9.4 cm（高）× 17.0 cm（宽）× 22.4 cm（长） D10P-70 Dual Star余氯测量仪 &bull Dual Star双通道pH/离子浓度测量仪 &bull 9770BNWP余氯电极 &bull 927007MD温度电极 &bull 余氯标准液 &bull 碘试剂 &bull 酸试剂 &bull 搅拌器 &bull RS232数据线 &bull 电极支架 配件及耗材9770BNWP 氯气电极 977007 余氯标准液（KIO3），100ppm Cl2，475mL 977010 碘试剂，5 x 50mL 977011 酸试剂，475mL 948201 抛光条，24 x 6&rdquo 主要特点：Dual Star余氯测量仪 &bull 双通道结构具备双BNC接口，双参比接口，双ATC接口，可同时接入两支离子选择性电极或pH电极，对样品中的离子浓度或pH同时测量，同时显示。 &bull 可与余氯、氨氮、氟、钠、钾、溴、硝酸根等离子选择性电极（ISE）或pH电极搭配使用，测量溶液中的离子浓度或pH值。 &bull 数字按键便于操作仪表。 &bull 可同时显示被测离子的名称，浓度值，mV值，温度。 &bull 包含针对复杂样品测量的已知加量/减量法，样品加量/减量法。 &bull 自动空白校准功能。 &bull 升级的GLP性能，可设置仪表密码并为每种方法单独设置密码。 &bull 每通道可设置10个测量方法-不同电极的校准数据。 &bull 可存储1000组带日期、时间的数据。 &bull 可通过USB接口更新软件。 &bull 以图形方式显示校准曲线。 &bull 可与自动换样器连用。 &bull 可设置等温点以及温度校准。

MX 102-6 102-8 高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 100-150nm 及150–200mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪系列。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX102-6/8 非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：100mm, 125mm, 150mm, 200mm测量准确度：±0.1 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：4次软件：MXNT

MX 1012 高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 200–300mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX1012 非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：200mm, 300mm测量准确度：±0.1 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：最多8次软件：MXNT

MX 1018高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 300–450mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX1018非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：200mm, 450mm测量准确度：±0.3 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：最多8次软件：MXNT

ZY-1007真圆度测量仪，球类真圆度测量仪，球类真圆度量测机用途：本机适用于测试足球、篮球、排球、手球外缘圆度之精度。原理：使用测量试验机对球进行立体检测,多点采样:8片型球32点,18片型球40点,32片型球30点.采样的数据由PLC进行数据处理,计算出球的平均圆周长和最大半径差,以试样的最大半径差表示圆度.符合标准：GB/T 14625.1控制方式: PLC触摸屏控制探测头重复精度: 0.02mm示值精度: 0.001mm夹球夹持力:5±2N量程: 直径160~260mm体积（约）：460 ′ 420′ 660mm重量: 约30kg电源: 1∮,AC220V, 5A

中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3DMapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。可兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确，可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。 WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据SEMI/ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm； （2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分参数测量速度：最快15s测量范围：100μm~2000μm 测量精度：0.5um 重复性（σ）：0.2um探头分辨率：23nm 扫描方式：Fullmap 面扫、米字、 自由多点测量参数：厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料：砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

手动晶圆厚度测量仪 MX203系列产品简介：MX203系列手动晶圆厚度测量仪，用于测量直径为2寸、3寸、4寸、5寸、6寸、8寸、12寸晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。测量原理：MX203系列采用电容测量原理，晶圆上下各有若干对平行的电容测厚传感器，通过测量电容器电容变化计算晶圆厚度，及晶圆上下表面距离电容器的距离，进而得到晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。主要技术参数1）晶圆直径：50mm, 75mm, 100mm, 150mm, 200mm，300mm, 450mm2）厚度精度：±0.5 µ m3）分辨率：50 nm4）厚度范围：100-1000 µ m5）自动晶圆：手动应用： SIC, Si, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的高分辨率厚度，TTV，弯曲度和翘曲度，平整度，以及应力的测量。

半自动晶圆厚度测量仪 MX204系列产品简介：MX204系列半自动晶圆厚度测量仪，用于测量直径为2寸、3寸、4寸、5寸、6寸、8寸、12寸晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。测量原理：MX204系列采用电容测量原理，晶圆上下各有若干对平行的电容测厚传感器，通过测量电容器电容变化计算晶圆厚度，及晶圆上下表面距离电容器的距离，进而得到晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。主要技术参数1）晶圆直径：100mm, 125mm, 150mm, 200mm2）厚度精度：±0.5 µ m ~ ±1 µ m±1 µ m3）分辨率：75 nm ~ 1.0µ m4）厚度范围：100-1000 µ m5）自动晶圆：半自动应用： SIC, Si, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的高分辨率厚度，TTV，弯曲度和翘曲度，平整度，以及应力的测量。

一、MC012-DY系列圆柱度测量仪应用范围：主要用于测量各种规则、不规则的环形工件的圆度、圆柱度、直线度、同心度、同轴度、平面度、平行度、垂直度、表面波纹度，间断表面等的测量，并可对工件进行频谱分析、波高分析、偏心、轴弯曲度分析、跳动量分析等。二、MC012-DY系列圆柱度测量仪主要特点：1.高精度的回转测量转台采用空气静压轴承结构，仪器主轴精度高不磨损，使用寿命长；2.数据采集采用德国HEIDENHAIN公司进口精密圆光栅及相关技术，定位精确，稳定性好；3.仪器采用WINDOWS系统操作平台，专业测量软件，测量界面简洁直观，操作便捷；可以实时显示图形数据、存盘留档、随时打印，图形分析报告，直观清晰；4.仪器配置各种规格、长度的红宝石测针，并可根据用户的测量需求，设计专用的测头及工装夹具；5.具有强大的分析功能，如：直线度、圆柱度、平面度、平行度、同轴度、同心度、波纹度分析、波高分析等。可对零件表面状态进行频谱分析，能够给出任一波的幅值；6.测量操作设置鼠标和键盘快捷操作，用户可根据操作习惯自由选择。三、MC012-DY系列圆柱度测量仪主要参数1.测量系统分辨率：0.01μm2.示值误差：±6%3.仪器径向误差：(0.03+0.0004H)μm4.仪器轴向误差：0.06μm5.传感器沿Z轴导轨移动时的直线度：0.30μm/100mm6.基准回转轴线与Z轴导轨平行度：0.45μm/100mm7.R轴导轨移动时直线度：0.5μm/100mm8.测量最大外径：Φ300mm9.测量最小内径：Φ2.5mm （最小可测Φ1.5mm需选配小测针）10.测量最大高度: 500mm11.承载重量：70Kg12.工作台台面直径：300mm13.传感器水平位移量：220mm14.主轴转速：5转/分

PLC01草原植被覆盖度测量仪1、多种颜色或一种颜色的同时分析，分析精度100%，稳定性100%。对草原、森林及水保等行业植被覆盖度的精准采集。2、图片裁剪、缩小、放大、平移、全副居中等功能。加入自定义剪裁功能可分析任何不规则图片，更有利于样方选取。3、单图计算覆盖度和批量处理计算两种模式，并自动求平均数，可以任意时间添加参考色进行计算。4、生成黑白二色图和彩色对比图，使计算精度更高，操作性更强，更直观。5、保存计算结果（Excel格式）及二值图，原图，容差，颜色值在一个文件夹中，方便数据传送和保存，分析结果更具依据性。6、数据导入功能，方便数据重现及进一步的分析。7、自定义选择计算功能（折线，曲线方式），选出不规则的植被进行计算。8、先拍照，后分析，内外业分开。9、测量固定仪:采用专业三脚架和优质加厚铝合金伸缩铝制杆，捏壳/螺旋锁紧，同轴旋转。10、多光谱相机是搭配16MP 41度HFOV F3.0 长焦低畸变 多光谱镜头（红色+绿色+近红外），可以捕捉近红外850nm,绿色550nm和红色650nm的光。相机用于拍摄NDVI图像来分析植被情况。

小型圆度测量仪，具备出色的性价比，可全面进行圆度评价。●易于操作。控制面板上的按键大且布局直观，便于操作。●人性化操作。配有大型号液晶面板显示器，测量结果与所记录数据图表易于查看。本设备机体小巧，内置热敏打印机，适用于狭小的检测空间。型号RA-10旋转工作台旋辑精度(JISB7451-1997)径向(0.04+6H/10000)umH:为测量高度(mm)轴向（0.04+6X/10000）umX:到旋转工作台轴的距离（mm）最大测量直径0100mm台面最大承重10kg垂直移动垂直移动

WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。应用领域可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。 （3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

KT‐20 磁化率电导率和密度组合测量仪产品介绍： KT‐20 磁化率电导率和密度组合测量仪是一款手持式仪器，能够测量样品的磁化率、电导率或密度。模块化设计可使用户选择不同的传感器，模块化设计可使用户选择不同的传感器，用于测量磁化率或电导率。传感器有圆形和矩形两种设计，可轻松互换，从而使KT-20可以测量较小或较大尺寸的样品或岩心。还可以测量密度值，提供有关样品的更多信息。图片、音频注释、文本注释和GPS坐标也可以添加到测量中，增加每条记录的附加信息量，从而改善归档效果。KT‐20 型号分析：KT‐20 磁化率仪&bull 最大灵敏度: 10‐7 (使用不带探针的10 kHz单频传感器)&bull 最大测量范围: 2 SI units&bull 可搭配任意的一个KT‐20 传感器&bull “Plus" 是针对铁矿石的升级版本 (选配): 将测量范围提升至 10 SI units 根据磁铁矿的校准曲线，可直接从显示中估算铁矿石浓度 (%)KT‐20C电导率仪&bull 最大灵敏度: 0.1 S/m (使用不带探针的 100 kHz双频传感器 )&bull 测量范围: 0.1 to 15,000 S/m (使用 100 kHz 双频传感器) 1.0 to 100,000 S/m (使用 10 kHz 频率)&bull 绝对电导率仪，使用多点算法校准&bull 可选择传感器为 1/10 kHz 或 10/100 kHz 双频传感器 (圆形或者矩形设计).&bull “Cx" 为升级版本，将测量范围扩大到 200,000 S/m (选配)注意: Cx 仅能在 1 kHz 和 10 kHz 频率下使用KT‐20 S/C 磁化率/电导率仪&bull 最大灵敏度:磁化率 : 10‐7 (使用不带探针的10 kHz单频传感器 )电导率: 0.1 S/m (使用100 kHz双频传感器)&bull 测量范围: 磁化率: 2 SI units 电导率: 0.1 to 15,000 S/m (使用100 kHz 双频传感器) 1.0 to 100,000 S/m (使用10 kHz 频率)&bull 绝对电导率仪，使用多点算法校准&bull 可搭配任意一个 KT‐20 传感器&bull “Plus" 是针对铁矿石的升级版本 (选配):将测量范围提升至 10 SI units根据磁铁矿的校准曲线，可直接从显示中估算铁矿石浓度 (%) “Cx" 为升级版本，将测量范围扩大到 200,000 S/m (选配)注意: Cx 仅能在1 kHz 和 10 kHz 频率下使用主要特点：&bull 三种模式可供选择：专用磁化率仪，专用电导率仪或磁化率/电导率组合仪表。&bull 可互换的双频和单频传感器 圆形和矩形设计。&bull 高磁化率灵敏度 (1 x 10‐7 SI) 和电导率 (0.1 S/m).&bull 密度测量 使用KT‐20 和系统附件进行密度测量。&bull IP/Resistivity 传感器 将在以后提供。&bull 数据配置文件 在扫描时，实时显示。&bull 内置高分辨率数码相机 用来拍摄样品图片。&bull 集成GPS以记录位置坐标。&bull 可直接在显示屏上查看数据记录。&bull 标准岩芯直径（AQ、BQ、HQ、NQ和PQ）和非标准尺寸（2.4至12 cm）的岩心段和全芯校正。&bull 输入芯盒信息，将测量结果与其深度关联起来。&bull 在单独测量期间显示数据运行平均值和标准偏差值。&bull 内置麦克风和扬声器。&bull 通过互联网升级和支持。技术参数：1/10 kHz 双频传感器磁化率电导率密度灵敏度1 x 10‐6 SI Units with 10 kHz1 S/m (10 kHz)1.0 g测量范围标准0.001x10‐3 to 1,999.99 X 10‐31.0 to 100,000 S/m (10 kHz)扩展 (Plus 或 Cx)0.001x10 ‐3 to 9999.999 x10‐31.0 to 200,000 S/m (10 kHz)10/100 kHz 双频传感器磁化率电导率密度灵敏度1 x 10‐6 SI Units with 10 kHz0.1 S/m (100 kHz)1.0 g测量范围标准0.001x10‐3 to 1,999.99 X 10‐3 (10 kHz)0.1 to 15,000 S/m (100 kHz)扩展 (Plus 或 Cx)0.001x10‐3 to 9999.999 x10‐3 (10 kHz)1.0 to 200,000 S/m (10 kHz)10 kHz 单频传感器磁化率电导率密度灵敏度1 x 10‐7 SI Units (不带探针)1 S/m (不带探针)1.0 g 测量范围标准0.0001x10‐3 to 1,999.99 X 10‐31.0 to 100,000 S/m扩展(Plus 或Cx)0.0001x10‐3 to 9999.999 x10‐31.0 to 200,000 S/m硬件规格内存:4 GB数据输入/输出:USB 和 蓝牙电源:2 x Li‐Ion 充电电池工作温度:‐20°C to 60°C显示屏尺寸:76 x 47 mm显示屏分辨率:400 x 240 pixels圆形传感器直径:66 mm矩形传感器尺寸:66 (L) x 40 (W) mm防护等级:IP65密度测量的最大样品重量:1.0 kg尺寸:260 x 72 x 60 mm重量:0.60 kg内置GPS 精度:2.0m内置 GPS 接收器卫星辅助功能:SBAS (WAAS, EGNOS, MSAS)内置摄像头像素:2 Mega Pixels应用领域:● 矿物勘探● 岩心分析● 石油天然气勘探● 环境调查● 农业研究● 考古学

产品名称：晶圆厚度/电阻率测试仪品牌：E+H Metrology型号：MX604-ST关键词：电阻率，厚度 一、简介德国 E+H Metrology，简称E+H，成立于1968年，位于德国卡尔斯鲁厄。E+H专注于半导体行业、微电子、机械工程等领域表面量测设备定制化开发。厚度和电阻率测量仪组合，MX604-ST配置了同时测量厚度和电阻率的传感器，用于2“ 至 200mm 的晶圆电阻率和厚度测量。 二、技术规格晶圆尺寸：2" 至 8" （方形或近方形）厚度范围：60 - 300µ m 或 250 - 750µ m厚度精度：±1μm传感器直径：20 毫米有效区域直径：8 毫米距边缘的距离：10 毫米测量时间：0.3秒软件：EHMaster方块电阻：10-2000Ω/sq电阻率范围：0.25 – 50 Ohm&bull cm (thk.= 250μm)0.75 – 150 Ohm&bull cm (thk. = 750μm)三、应用用于硅片及SiC等晶圆的厚度和电阻率测量。

高低温绝缘电阻率测试仪GEST-121T产品概述：本仪器是一台通用高绝缘电阻率测试仪器，可以适用于不同试样类型（片材/棒材/块体等）的绝缘材料电阻率测试。同时可以配套不同的试验套装，可以实现对不同高低温、真空及气氛环境下测试，满足客户多种测试需求，方便用户进行后期的拓展和延伸。本测量系统操作使用方便，电阻测量精度高，温度采集准确。适用客户：适用于计量院、第三方检测机构、科研院所、生产企业研发、质量品管检测等用户。本仪器全套试验测控系统主要由以下四部分组成：★高低温试验台★全自动绝缘电阻率测量仪★配套专用测试电极★电阻率试验控制系统一、高低温试验台-GDW-250高低温试验台是通用试验设备，可以独立加热，也可以根据用户的需求，配备不同的测试工装和夹具，通过和不同的测试主机配套使用，可以用于高低温绝缘电阻率、高低温导体电阻率、高低温介电性能测试。二、全自动绝缘电阻率测量仪-GEST-121A： 产品概述本仪器主要用于测试绝缘材料的绝缘电阻、体积电阻及表面电阻值，本仪器是一台通用试验仪器，通过选配不同的测试电极，可以满足和测试所有不同类型的绝缘材料，如：粉末、片材、薄膜和液体溶液等。本仪器测试量程比较款，最高可以到1018Ω，几乎可以满足于市场上所有的绝缘材料的测试。材料类型：适用于橡胶、塑料、薄膜、块体等绝缘材料及粉体、液体、固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。技术参数1 电阻测量范围 0.01×104Ω ～1×1018Ω2 电流测量范围为 2×10-4A～1×10-16A3 显 示 方 式 触摸屏显示4 内置测试电压 10V 、50V、100V、250、500、1000V5 测量精度 ≥1×1010，精度：5%-10%≤1×1010，精度：1%6 供电电压 220V/50HZ7 仪器功率 100W8 外形尺寸 长宽高=300mm*300mm*150mm9 仪器重量 约30KG三、售后服务1.质保一年终身维护，软件免费升级2.提供全套操作培训使用视频，包括：如何连线、放置试样、设置参数、试验流程等全套操作培训视频。3.提供远程视频指导和电话指导服务4.客户反馈问题在24小时内给予反馈，48小时给予解决，解决不了负责提供上门服务。5.设备到货后，按照装箱单与技术协议规定的供货明细，清点设备和随机提供的技术资料 按装调试完成后对操作人员做系统的操作维护及保养等注意事项。

Hommel霍梅尔 德国业纳 JENOPTIK 圆度测量仪 F355/F455 使用 F435 和 F455 形状测量仪，您可以精确测定工件的圆度、圆柱度和平整度。测量系统会使用 CNC 控制的三个测量轴自动对准部件并检查形状和位置公差。因此，所需的工作量比传统设备少得多。该软件支持直观操作您的测量系统。 探臂是以磁力连接的，因此您可以简单快捷地更换它。此连接还可防止探头和探臂遭到冲击损坏。借助新一代的 FT1.1 探头，您不仅可以测量形状，而且还可以在单个周期中测量 扭纹和粗糙度，从而节省您的时间和资金。 借助可选的电动旋转和倾斜模块 (MDS) 模块，可在不中断 CNC 运行的情况下进入最难接近的探测位置。形状测量仪以紧凑型台式仪器的形式提供，或集成在符合人体工学的测量站中。 优点最少工作量：自动对准和测量工件。灵活：可选的粗糙度、波度和扭纹检查。新式的探头：安全快捷地更换探臂。功能强大的软件：测定所有形状和位置公差。 应用汽车工业：测量工件的形状、粗糙度、扭纹和波度。

一、仪器名称：晶圆表面颗粒度测量仪二、品牌型号：荷兰Fastmicro公司FM-PS-PRS-V01型三、产品简介荷兰Fastmicro公司的晶圆表面颗粒度测量仪采用专利的米氏散射原理可直接检测晶圆表面的颗粒污染程度，测量速度快，操作简单，可测量大于500nm的颗粒并进行分析统计。主要应用于半导体行业（晶圆裸片颗粒度检测，掩膜版表面颗粒度检测，CMP及清洗后晶圆表面颗粒度检测）与显示行业（玻璃面板）。由于其模块化和可扩展的设计，该测量仪具有无限的扫描区域。该系统可以根据需要测试产品的表面形状和位置进行定制。四、原理简介 采用专利技术米氏散射原理检测表面微观颗粒，光源发出的平行光照射待测表面，遇到表面的突起颗粒发生米氏散射，摄像头传感器以一定角度接收到散射信号，根据散射信号可获取关于待测表面颗粒尺寸信息。五、主要参数测量速度任何尺寸产品表面秒级成像；整个流程1分钟内完成（取样+测试）；数据输出颗粒数量；颗粒位置；颗粒尺寸；带有粒子标记的图像；可导出KLARF和Excel文件；数据通过USB或以太网输出；操作操作简单；可升级全自动设备；测量范围最小可检测0.5μm大小PSL颗粒；可重复性更换采样器后, 90%的颗粒被统计，PSL颗粒大于500nm；尺寸和定位精度PSL颗粒的尺寸精度＜20%；位置精度80μm，位置重复性30μm；无接触、无污染与检测区域不接触；待测产品粗糙度要求粗糙度Ra＜50nm；六、应用案例

便携式电导率仪/盐度测量仪innoCon 50C技术参数：测量范围：0~5.000/50.00/500.0/5000uS/cm0~50.00/500.0mS/cmTDS：0~500ppt ；盐度：0~325ppt电阻率：0~18.30M*cm分辨率：0.001/0.01/0.1/1uS/cm（ppm）0.01/0.1mS/cm（ppt）0.01M*cm精确度：±1%F.S.温度测量范围：-5.0~120.0°C/ 23.0~248.0°F温度精确度：±0.3°C/ ±0.5°F温度补偿：自动温度补偿 参考温度：15.0~30.0°C (默认25.0°C)温度系数：0.00~9.99% (默认2.00%)TDS系数：0.40~1.00 (默认0.50)盐度系数：0.65电极常数：0.01/0.1/1/10电源电池： AA x 2防护等级：IP67尺寸/重量：73x152x42mm/250g便携式电导率仪/盐度测量仪innoCon 50CJensprima Instruments Limited公司创建于英国，是一家专注水测量领域的创新型公司。自成立以来，始终致力于光学分析、传感器技术和测量试剂的研究，专业为客户提供在线水质测量解决方案，亦可为客户提供量身定制的解决方案。其产品已销往全球多个国家和地区，主要客户类型包括污水厂、自来水厂、制药厂及环境与工业过程控制装备制造商等。杰普仪器（上海）有限公司隶属于Jensprima Instruments Limited旗下子公司，于2017年10月依法在上海设立，注册资金500万。杰普公司全权负责JENSPRIMA产品在中国的销售及技术的支持，公司已通过ISO 9001质量体系认证。

镀铝膜厚度测量仪镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。本产品适用于各种镀铝薄膜、镀铝纸测试电阻值、均匀度、厚度值的测试。 技术特征 微电脑控制、LCD液晶显示、PVC操作面板，方便用户快速、直观的查看检测数据和结果 配置微型打印机，快速打印方块电阻值、厚度值、均匀度 数据实时显示电阻值、厚度值 试验结果记忆功能,方便用户查询 温度显示功能 高精度接触式测量 试验步骤1.将金属镀层测量仪与试样放置在GB2918规定的23±2℃.，45%-55%RH环境中放置4h后测量。2.每次测量前用无水乙醇擦拭仪器的测量头。3.将试样平放在测量仪的橡胶板上，使测量头与金属镀层接触良好。 4.每次测量前仪器必须校零。5.测量试样的电阻值。测试的实验结果自动显示打印金属镀层的方块电阻、金属镀层厚度和均匀度。 技术参数 厚度测量范围 厚度50-570&angst 方块电阻测量范围 0.5-5Ω 方块电阻测量误差 ±1% 样品尺寸 100×100mm 夹样精度 ±0.1mm 测温范围 0～50℃，精度±1℃ 外形尺寸 370mm×330mm×450mm （长宽高） 重 量 19kg 工作温度 23℃±2℃ 相对湿度 高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T 15717 产品配置 主机、微型打印机镀铝膜厚度测量仪此为广告

圆跳动测量仪_轴偏差测量仪ZPY-A圆跳动测量仪，也叫垂直轴偏差测定仪，适用于安瓿瓶圆跳动数值、西林瓶垂直轴偏差检测.依据标准 YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》等国家药监局标准设计制造。是制药企业、药检机构不可或缺仪器。产品特点◎ 千分显示精度，高于标准要求◎ 测量范围广，适用范围宽◎ 三爪自定心卡盘准确定位，测试更加准确◎ 测试支架灵活，高度可自由调整圆跳动测量仪_轴偏差测量仪测试原理 将瓶底加持固定在水平板的旋转盘上，使瓶口与千分表接触，旋转360°读取Z大值和Z小值，二者之差的1/2即为垂直轴偏差数值。仪器巧妙利用了四爪自定心卡盘同心度高的特点，配合一套可以自由调节高度和方位的高自由度的支架，可以满足各类玻璃瓶检测。 应用领域圆跳动测试：适用于玻璃安瓿瓶圆跳动测试。垂直轴偏差测试：适用于玻璃管制药瓶、玻璃模制药瓶、玻璃管制注射剂瓶、玻璃模制注射剂瓶、口服液体瓶、化妆品用玻璃瓶等垂直轴偏差测试。适用于玻璃输液瓶、啤酒瓶、白酒瓶、红酒瓶等玻璃容器垂直轴偏差测试。适用于矿泉水塑料瓶、碳酸饮料塑料瓶等塑料容器瓶垂直轴偏差测试。技术参数样品直径：5mm -190mm仪器量程：0-12.7mm/0.5″分 度 值：0.001mm/0.00005″可测高度：≤350mm尺 寸：230mmX170mmX400mm（长宽高）重 量：7.5KG 测试标准该仪器符合标准：YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》、YBB00332003-2015 《钠钙玻璃管制注射剂瓶》、YBB00032004-2015 《钠钙玻璃管制口服液体瓶》、GB/T 8452-2008《玻璃瓶罐垂直轴偏差试验方法》 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

二次元影像坐标测量仪也称二次元量测仪爱思达二次元影像测量仪主要有三款型号：ASIDA6050A,ASIDA7060A,ASIDA8070A我司所生产的影像测量仪包括：二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪也可称为平面度测量仪，二次元影像测量仪主要适用于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形、等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等，增加探针可实现三维测量。全自动影像测量仪都具备3D影像测高功能。二次元影像测量仪特征：1、采用天然花岗石底坐和立柱，稳定性强，硬度高，不易变形2、X/Y向采用空气轴承、花岗石导向，可长时间工作也保证了机械系统的精确稳定3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动4、环形LED冷光源，使用寿命长，测量时不会产生热变形5、光学系统品质优良，影像明亮清晰，图像还原性好6、三轴采用日本松下伺服电机传动二次元测量仪技数参数项目规格型号ASIDA6050 ASIDA7060A ASIDA8070A测量行程600x500x200700x600x200800x600x200玻璃载物台尺寸650x550mm750x650mm850x750mm玻璃载物台称重30Kg物镜工作距离82mm物镜放大倍率0.75X~5X总放大倍率30X~230X光栅尺分辨率≤0.001mmX/Y线性精度≤3+L/200(L为被测长度)重复测量精度≤±0.003mm整机尺寸1300x1400x18001500x1400x18001550x1650x1800整机重量1800KG 2000KG 2400KG应用软件AISDA MEASURE VMA 3.00.01测量软件（简体、繁体、英文）数据输出格式DXF、EXCEL、WORD系统平台Windows XP Pro,WIN7PC要求CPU:双核处理器，≥2G内存，≥320G硬盘电源要求220伏特/50HZ电源工作环境温度：20+/-2OC；湿度：45%-75%；振动0.002g,15Hz选配件美国NAVITAR测量专用镜头；英国Renishaw触发探头组；日本基恩仕激光位移感应系统。备注可根据客户需求定制行程大小

晶圆级磁光克尔测量仪利用极向磁光克尔效应(MOKE)，快速全局检测晶圆膜堆的磁性。非接触式测量，避免了传统磁性表征对晶圆的破坏，可应用于图形化前后的样品检测。晶圆级垂直磁光克尔测量仪样品尺寸:最大支持12 英寸及以下晶圆碎片测试:磁场:最大垂直磁场优于2.5T,磁场分辨率1 μT 磁性检测灵敏度:克尔转角检出度优于0.3mdeg(RMS)，适用多层膜堆的磁性表征 样品重复定位精度:优于1um,静态抖动0.25 um。晶圆级面内磁光克尔测量仪样品尺寸:最大支持12 英寸及以下晶圆碎片测试，磁场:最大面内磁场优于1.4T,磁场分辨率1 μT 磁性检测灵敏度:克尔转角检出度优于0.3mdeg(RMS),适用多层膜堆的磁性表征 样品重复定位精度:优于1 um,静态抖动0.25 um 样品360°任意角度旋转。功能及应用场景垂直/面内MRAM磁性存储器、磁传感器膜堆的磁滞回线测量 自动提取磁滞回线信息,，如自由层和钉扎层Hc、Hex、Ms等 可自动进行连续逐点扫描，生成晶圆磁特性分布图 系统预置多点扫描模式:单点、阵列、径向分布,自定义位置列表 系统提供手动加载或全自动操作方式,满足研发/生产需求。

镀铝层厚度测量仪金属镀层测厚仪是一种用于精确测量金属镀层厚度的仪器，它对于镀铝膜、真空镀膜、镀铝纸等材料的质量控制具有重要意义。该仪器采用电阻法作为检测原理，通过测量电阻值的变化来推算金属镀层的厚度。 金属镀层测厚仪主要由测量探头、测量电路和数据处理系统三部分组成。测量探头通过与被测样品表面接触来获取电阻值，其内部结构通常包括一对电极和测量线路，用于测量样品的电阻值。测量电路则将探头测得的电阻值转化为可读的数据，并将其传输到数据处理系统进行处理。 在测量镀铝膜、真空镀膜和镀铝纸等材料时，金属镀层测厚仪能够对其表面和底层的电阻值进行精确测量。由于不同金属材料的电阻率不同，因此可以通过测量电阻值的变化来推算金属镀层的厚度。具体来说，金属镀层测厚仪会根据样品的电阻值变化来计算出金属镀层的厚度，并将结果以数字或图表的形式显示出来。 金属镀层测厚仪具有高精度、高分辨率和高灵敏度的优点，能够准确地测量出金属镀层的厚度，从而为生产厂家提供可靠的质量保证。同时，该仪器还具有操作简单、使用方便的特点，能够满足工业生产中对快速、简便测量的需求。 金属镀层测厚仪的优点还包括其非破坏性测量方式，即不会对被测样品造成损害。这使得生产厂家可以在生产过程中进行在线测量，及时发现并解决问题，大大提高了生产效率和产品质量。此外，金属镀层测厚仪还可以通过计算机接口实现数据共享和远程控制，提高了测量的自动化程度和便捷性。 金属镀层测厚仪是一种高精度、高分辨率、高灵敏度的仪器，采用电阻法检测原理，能够准确地测量出镀铝膜、真空镀膜、镀铝纸等材料金属镀层的厚度。它具有操作简单、使用方便和非破坏性测量等优点，适用于工业生产中的在线测量，能够提高生产效率和产品质量。 技术参数 厚度测量范围 厚度50-570&angst 方块电阻测量范围 0.5-5Ω 方块电阻测量误差 ±1% 样品尺寸 100×100mm 夹样精度 ±0.1mm 测温范围 0～50℃，精度±1℃ 外形尺寸 370mm×330mm×450mm （长宽高） 重 量 19kg 工作温度 23℃±2℃ 相对湿度 80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 镀铝层厚度测量仪此为广告

MX 2012 晶圆几何测量仪应用：适用于 300mm 晶圆的高精度几何测量仪。MX2012 作为手动装载的独立站运行，每小时至少可处理 50 片晶圆。共具有 69 个测量点，以高分辨率控制厚度、弓形和翘曲。可选择进行晶圆应力评估。直立位置测量可避免重力引起的下垂。系统可转换为 200mm 晶圆测量。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：300mm测量准确度：±0.5 µ m分辨率：50nm厚度范围：500-1000 µ m自动晶圆测量：自动软件：MXNT测量原理：MX2012系列的晶圆几何台由上下两个探头组成。每个探头都基于一块1英寸厚的扁平铝板，69个电容式距离传感器嵌入其中，且两个传感器板互相垂直相对安装，避免了重力引起的晶圆额外下垂。由压缩空气活塞驱动的偏心系统可以操纵上探头的提升和降低上探头。在升高的位置，测量对象被装载和卸载。在降低的位置，上探头由三个硬金属螺栓承载，球形端安装在下板中。这确保了在0.1 µ m定位后的可重复性。下板由塑料片覆盖，塑料片包含空气通道并提供真空吸盘的吸入口。真空吸盘系统具有三个独立的电路，可以依次启动。塑料片的电介质通常会影响电容测量。然而，它的影响作为系统校准的结果之一可以忽略不计。

玻璃瓶轴偏差测量仪 圆跳动测量仪ZPY-G电子轴偏差测试仪适用于安瓿瓶检测，西林瓶等药品，食品，化妆品等行业瓶类容器的垂直轴偏差的测定。依据标准YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》等标准进行创新设计，全自动化测试过程大大提高了测试的精度。是制药企业、药检机构不可或缺仪器。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 支持垂直度轴偏差和圆跳动两种模式切换，一机两用。◎ 360°全角度补偿测量偏差，确保测量数值更准。◎ 系统自带微型打印机，上位机数据无限储存。◎ 专业电脑测控软件，曲线图显示，数据保存，EXCEL统计，打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。 测试原理将瓶底加持固定在水平板的旋转盘上，使瓶口与千分表接触，旋转360°读取Z大值和Z小值，二者之差的1/2即为垂直轴偏差数值。仪器巧妙利用了四爪自定心卡盘同心度高的特点，配合一套可以自由调节高度和方位的高自由度的支架，可以满足各类玻璃瓶检测。 应用领域适用于安瓿瓶圆跳动、西林瓶垂直轴偏差检测。依据YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》等国家药监 局标准设计。是制药企业、药监机构不可或缺仪器。化妆品瓶：适用于测量化妆品瓶塑料瓶及玻璃瓶的垂直轴偏差，啤酒瓶用电子轴偏差测量仪酒瓶：适用于瓶装酒，用玻璃瓶的垂直度偏差的测定；塑料瓶用电子轴偏差测量仪塑料瓶：适用于各种碳酸饮料瓶、无汽矿泉水瓶、食用油桶等塑料瓶的垂直度轴偏差的测定玻璃瓶轴偏差测量仪 圆跳动测量仪测试标准该仪器符合多项国家和国标标准： YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB/T 84522008、GB-2639、QB 2357、QB/T 1868。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

一、接触角测量仪原理介绍： 接触角是指在气、液、固三相交点处所作的气-液界面的切线，此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角，符号：θ，接触角测量仪是材料表面性能检测接触角度的主要仪器。 接触角测量仪是采用光学成像的原理，设备采用图像视频轮廓分析方式测量样品表面接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等性能可满足各种常规测量需求，目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。 品牌：科众精密货期：现货供应，全国销售型号：KZS-50晶圆全自动接触角 产地：广东.东莞二、接触角测量仪应用行业介绍：半导体晶圆行业：测量光刻胶与晶圆表面润湿、测量晶圆金手指等表面亲疏水性；玻璃产品：测量玻璃清洗后的亲疏水性，测量镀膜后玻璃表面的疏水疏油性能，测量贴合前的洁净度；油墨、印刷：测量油墨表面张力、界面张力，测量油墨与基材的润湿性；新能源制造：分析电解液与石墨的润湿性，测量铝箔亲水性，测量包装膜表面的亲水性，测量极耳的亲水性；金属产品：测量表面处理后的接触角，测量焊接前的表面能，测量合成金属的表面亲疏水性；材料行业：改变原样品表面围观结构、添加各种形式的表面改性图层或材料，改性后需要用到接触角来测量；粉末材料：测量粉末材料表面亲疏水性能，评估粉体材料润湿性，极耳非极性的分布；石油、化工：分析油水界面张力，油水在岩心表面的亲疏水性；光伏产品：测量光纤、晶体、有机硅材料等润湿性，检测通讯基站部件户外防水性能；生物医疗：测量医疗试管、试纸、器械等的润湿性，测量血清与实验室管的润湿性，测量凝胶与角膜的润湿性。 三、水滴角/接触角测量仪技术参数：技术参数KZS-50图片 硬件外观接触角平台长12寸圆平台（6寸、8寸、12寸（通用）扩展升级整体扩展升级接触角设备尺寸670x690x730mm（长*宽*高）重量35KG样品台样品平台放置方式水平放置 样品平台工作方式三维移动样品平台样品承重0.1-10公斤仪器平台扩展可添加手动，自动倾斜平台，全自动旋转平台，温控平台，旋转平台，真空吸附平台调节范围Y轴手动行程400mm，精度0.1mmX轴手动，360°自动旋转，精度0.1mm测试范围0-180°测量精度高达0.01°测量面水平放置样品平台旋转全自动旋转平台仪器水平控制角位台可调，镜头可调，样品平台可调滴液滴液系统软件控制自动滴液，精度0.1微升，自动接液测试注射器高精密石英注射器，容量500ul针头直径0.51mm，1.6mm表面张力测试滴液移动范围X轴手动调节80mm，精度0.01mmZ轴自动调节100mm，精度0.01mm滴液系统软件控制自动滴液泵滴液模组金属丝杆滑台模组镜头/光源光源系统单波冷光源带聚光环保护罩，寿命60000小时以上光源调节软硬共控镜头可移动范围滑台可调100mm镜头远心变倍变焦定制镜头镜头倾斜度±10°，精度0.5°相机帧率/像素300fps（可选配更高帧率）/300万像索电源电源电压220V，功率60W，频率60HZ漏电装置带漏电装置保护软件部分软件算法分辨率拟合法、弧面法、θ/2、切线法、量角法、宽高法、L-Y法、圆法、椭圆法、斜椭圆法测量方式全自动、半自动、手动拟合方式 分辨率点位拟合，根据实际成像像素点完全贴合图像拍摄支持多种拍摄方式，可单张、可连续拍摄，支持视频拍摄，并一键测量。左右接触角区分支持分析方法座滴法、纤维法、动态润湿法、悬滴法、倒置悬滴法、附着滴法、插针法、3D形貌法、气泡捕获法分析方式 润湿性分析、静态分析、实时动态分析、拍照分析、视频分析、前进后退角分析保存模式Word、EXCEL、谱图、照片、视频总结1、晶圆接触角测量可以订制，适用于各种半导体制造中常用的6英寸、8英寸、12英寸等尺寸的晶圆。2、高精度测量：可以在非常小的范围内准确测量晶圆表面的接触角，具有高度的重复性和准确性。3、多功能性：晶圆接触角测量仪通常具有多种测试模式，可以测量不同类型的表面处理，如刻蚀、沉积、清洗等过程对接触角的影响，可以提供全面的表面质量评估。4、高效性：晶圆接触角测量仪可以在非常短的时间内完成多个晶圆的测量，提高了实验的效率。5、自动化程度高：晶圆接触角测量仪通常具有自动化控制和数据处理系统，可以自动完成晶圆的定位、测量和数据处理，减少了实验人员的工作量和误差。四、接触角测量仪软件介绍: 科众接触角测量仪的软件由本公司研发，包含静态接触角，动态接触角，滚动接触角，表面能，表面张力，粘附功。测量软件具有成像清晰度判别功能，测量接触角时能够自动寻找基线、自动拟合轮廓。对于材料表面特殊形状或结构形成的弯曲基线，可使用手动模式测量通用多功能型视频光学接触角测量仪利用液滴形状分析技术分析上千种材料表面润湿性能的测量仪器。全自动倾斜台和视频系统由软件控制，自动记录倾斜过程中液滴的形状变化，倾斜角度和位置移动，自动测 量滚动角、前进角和后退角等相关参数。 五、接触角测量仪测试方法 准备样品：将需要测试的样品放置于测量平台上，并进行必要的清洗和干燥处理，确保表面干净且无杂质。滴液：手动或自动滴液，使液滴从液滴针尖中滴落到样品表面上，注意滴液的体积应该相同，以确保测试结果的准确性。图像采集：使用高分辨率的相机，拍摄液滴与样品表面相接触的瞬间，保证光学稳定性和图像质量。数据分析：使用测量软件进行数据分析，测量液滴与样品表面接触时的接触角度、水滴半径等参数，并计算出表面自由能、界面张力等相关参数。结果处理：将测试数据进行整理和统计，并生成测试报告，可通过导出功能保存数据和结果。 除了座滴测试方法，还有其他的测试方法，如倾斜滴液法、环形法、动态法等，根据实际需要选择适合的测试方法进行测量。 通过手动或自动滴液的方式，确保每次液滴的体积相同，高分辨率相机保证光学稳定性，由测量软件实时分析测试结果 。座滴测试方法可批处理静态接触角度，创建测试数据报告并导出。

1. 样品台专为晶圆设计，可适应6-12寸的晶圆，具备四向对中功能。2. 矩阵型多点测试，测试精准简单方便。自动定位-滴液-接液-自动测量-自动换位。3. 一次测试点位多达50+个,可在原图上直接显示数据并保存。4.测试结果可直接保存在阵列图上。5.批量方案设置功能，可保存多个测量方案，一次保存，终身无需再设定。可随时调取。货期：3天内 品牌：北斗仪器 型号：CA720产地：广东东莞 名称：全自动晶圆专用接触角测量仪接触角（Contact angle）是指在气、液、固三相交点处c作的气-液界面的切线，此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ，是润湿程度的量度。是现今表面性能检测的主要方法。采用光学成像的原理-图像轮廓分析方式测量样品表面的接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等。主要由光源、注射单元、样品台、采集系统、分析软件等组成。北斗全自动晶圆接触角测量仪CA720采用全自动进液装置，性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求，目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。 专为晶圆深度定制的一台北斗全自动晶圆接触角测量仪CA720，广泛用于晶圆的润湿性能分析与研究，是一台快速测量晶圆多点位润湿性分析测量的设备。符合标准：ASTM 5725 / 用自动接触角测试仪测试片状材料表面润湿性和吸收性的标准方法ASTM C 813 / 用接触角测量法测试玻璃疏水污物的标准方法型号CA720全自动晶圆专用接触角测量仪试验平台尺寸直径320mm前后Y移动 自动：行程160mm,精度0.1mm上下Z移动自动：行程30mm,精度0.1mm水平调整整机水平调整，摄像头水平调整（配送专业级XY水平仪）可放置样品6-12寸样品台材质铝合金带四向对中技术进液系统微量进样器X移动行程：50mm，精度0.1mm（针头对中及液滴转移）进液控制移动行程：60mm,精度：0.001mm滴液控制模式自动，精度：0.01ul加液方式自动（配送5ml玻璃烧杯自动一键加液，加满自动停止）微量进样器容量：500ul(实时显示剩余容量)针头亲水针头0.5mm不锈钢针头（可替换）20个、超疏水针头0.25mm（可替换）20个成像系统镜头Subpixel级别0.7-4.5远心轮廓深度定制镜头相机日本SONY原装进口高速工业级芯片(Onsemi行曝光)传感器类型1/1.8 英寸逐行扫描CMOS分辨率1280× 1024镜头控制仰视角度：±10度，精度：1度调焦移动行程：0-10mm，精度1mm。帧率80帧/s（可选配全局曝光高速400帧/s的相机）光源系统组合方式采用石英扩散膜与均光板使得亮度更均匀，液滴轮廓更清晰光源采用进口CCS工业级蓝色冷光源（有效避免因光源散发热量蒸发液滴），使用寿命可达5万小时以上亮度调节PWM数字调节光源波长460-465nm功率10W接触角测量接触角测量方法悬滴法、座滴法、前进角、后退角、滚动角、薄膜法等测量软件CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件软件操作系统要求windows 10(64位)接触角测量方式自动与手动接触角计算方法（static contact angle）自动拟合法（ms级别一键全自动拟合，不存在人工误差）、三点拟合、五点拟合、自动测量（包括圆拟合法/斜圆拟合法（Circle method/ Oblique Circle）、椭圆拟合法/斜椭圆拟合法(Ellipse method /Oblique Ellipse)）、凹凸面测量等动态接触角测量（Dynamic contact angle）前进角（Advancing angle），后退角（receding angle），滞后角（hysteresis angle），滚动角（选配）(可批量拟合多张图片或视频连续拟合计算Video analysis)基线拟合自动与手动角度范围0°＜θ＜180°精度0.1°分辨率0.001°表面能表面能测量方法Fowks法，OWRK法，Zisman法，EOS法，Acid-Base Theory法,Wu harmonic mean法,Extended Fowkes法（软件中预装37种液体数据库，可自行建立液体性能参数）数据可直接调入用于表面能估算，液体库数据可自行添加、删除和修改。可分别得到固体表面能、色散力、极性力、氢键力、范德华分量、路易斯酸分量、路易斯碱分量等表面能单位mN/m其他机架型材欧标160输入电源220V 50-60Hz仪器尺寸约890mm（W）*400mm(L)* 580mm(H)仪器重量约60KG表界面张力测量方法自动拟合+手动拟合精度0.01 mN/m测量范围0.1 mN/m -2000 mN/m润湿性分析粘附功一键自动分析铺展系数一键自动分析粘附张力一键自动分析精度0.001 mN/m单位mN/m众所皆知，软件是一台仪器的灵魂所在，组成系统的硬件虽为测量提供了基础，但只有在软件的支持下，才能完美地实现硬件的功能，充分发挥其潜力，使系统的总体功能和性能如虎添翼。本公司研发定制的CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件专用测控软件自2010年开始就面向客户提供使用，经过11年来各行业客户的使用反馈、使用要求、国家标准和国外标准的融合，已经达到一个很成熟稳定的状态。拥有自主知识产权的软件控制系统（行业内极少），在对以后软件升级，新标准更换的时候起到一个很大的优势。接触角测试记录LAB-TR-020一、测试信息样品名称8寸样品批号8寸样品编号液体编号测试方法LYSD测试介质蒸馏水介质密度1g/cm³ 测试环境温度：23° 湿度：55%测试日期2023-04-16 11:16:43仪器名称接触角测量仪仪器型号CA720平台直径280mm样品直径200mm间隔尺寸20mm测试个数4旋转度数40°旋转次数9测试员shibc备注二、测试数据序号时间(H.M.S)左接触角(°)右接触角(°)平均接触角(°)液滴直径(mm)位置判断结果试验方法111:10:4628.16828.21628.1923.9081-1OK自动拟合-椭圆211:10:5627.25127.75327.5023.9581-2OK自动拟合-椭圆311:11:0524.37124.17824.2744.1991-3OK自动拟合-椭圆411:11:1424.62825.04224.8354.1751-4OK自动拟合-椭圆511:11:2324.67623.98624.3314.2901-5OK自动拟合-椭圆611:11:3224.46124.81324.6374.1371-6OK自动拟合-椭圆711:11:4123.87824.06623.9724.1671-7OK自动拟合-椭圆811:11:5126.22524.68825.4564.0091-8OK自动拟合-椭圆911:12:0024.08524.41124.2484.1971-9OK自动拟合-椭圆1011:12:0929.65529.67729.6663.8881-10OK自动拟合-椭圆1111:12:1926.62326.80026.7123.9501-11OK自动拟合-椭圆1211:12:2823.85423.77123.8124.1581-12OK自动拟合-椭圆基准值上限80基准值下限4最小角度23.771最大角度29.666平均角度25.262三、实时曲线四、测试图片1. 精细机械：系统的框架选用高质量的进口高强度氧化保护铝型材并烤漆处理，所有的其它主要组件也都是由铝合金，不锈钢和铜合金通过精密制作而成。保证仪器极强的稳定性。2. 精密定位：系统所有的线性移动单元，包括三维样品台（xy-轴），(Z-轴)注射器/针头的移动调节，均是由直线铜齿条和精密燕尾槽驱动，确保传动平稳、轻松和精细。3. 配置齐全的进样器与针头选择：提供数十种不同规格的进样器供使用者选择，如不同规格（25ul/50ul/100ul/250ul/500ul/1000ul….）,不同材质（气密玻璃进样器/塑料进样器），不同品牌（Hamilton/boli….）以满足不同客户需求。提供各种规格（10-34#）以及不同材质（不锈钢/聚四氟乙烯/pp挠性针头）以及特殊针头（弯曲针头），可用于常规接触角测量，也可用于超疏水、超亲水、高粘度等特殊液体的进样、液滴转移等。4. 成像系统：采用了行曝光（Rolling Shutter）高分辨率CMOS图像传感器配合pomeas0.7-4.5远心轮廓镜头。保证最佳的成像效果。同时亮度连续数字可调的高强度背光冷光源为成像提供了均匀的背景照明。优质镜头和高分辨率相机能够以理想的尺寸和亮度在图像中显示出液滴，即使是非常小的液滴。5. 领先的软件平台：软件是整个测量系统的灵魂和大脑。CAV1.2.1软件为用户提供了范围广泛的功能和特性，而且其中的许多项目在这一领域均是出类拔萃。作为一光学方法，测量的精度取决于成像的质量和后着的处理、分析和计算方法。其中采用的亚像素（sub-pixel）液滴坐标检测，自动液/固/流-三相接触线识别，液滴全轮廓分析，和基于连续信息反馈的液滴监视功能等构成了软件的核心组件，而且这一切又都能实时完成。具备双边接触角自动测量快速拟合功能，分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况。6. 北斗全自动晶圆接触角测量仪CA720软件自动生成报告，其中涵盖word、excel、PDF图文、谱图等多种数据报告。7. 提供德国进口的接触角测量校准样，确保仪器的精准性，角度校准标准片5°、8°、30°（选配）；60°、90°、120°（选配）。8. 国内首创基线自动倾斜功能，可修正由于样品倾斜或机台倾斜时的差异。9. 分级管理系统，权限管理。分实验员与管理员。避免人为数据的改动影响测试结果。10. 北斗全自动晶圆接触角测量仪CA720具备双边接触角测量快速拟合功能，更全面量分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况；11. 动态拍摄、视频快速测试数据，可以连续性记录测试接触角的变化，再由软件自动批量拟合；12. 北斗全自动晶圆接触角测量仪CA720具备历史数据库功能，记录每一次的测试结果，可追溯历史测试结果。1.usb2.0数字CCD摄像头 1个2.连续变倍光学系统 1个3.手动加样系统 1套4.手动CCD倾斜系统 1套5.表界面分析测量系统应用软件 1套6.说明书纸质一份及说明书电子版 1份7.保修卡及合格证1份8.亲水进样针10个，疏水进样针10个9.500ul进样器1个10.电源线及数据线1条11.XY专用水平仪1个11.晶圆自动旋转系统 1套物料名称数量规格描述主机框架1高强度进口欧标航空铝合金结构搭配模块化设计相机1USB2.0接口， SONY 1/1.8" MT9M001 Rolling shutter CMOS，分辨率H1280×V1024，帧率80fps镜头1对焦距离90mm，0.7×时视场13.71～18.28mm，4.5×时视场2.13～2.84mm光源1日本CCS工业级深度定制单波长LED轮廓冷光源，120个密集光源点，配合美国进口柔光板与均光板，亮度连续可调，24V安全电压支撑脚1铝合金+减震胶垫结构，配合减震系统，可调节机台水平与防震效果俯仰调整滑台1螺杆控制，调整范围±1°滴液驱动模块1电机驱动，超细牙丝杆转动，移动行程60mm，导程0.5mm，重复定位精度±0.1μl滴液升降模块1旋钮驱动，丝杆转动，XY移动行程50mm，重复定位精度±1mm样品台升降滑台1齿轮齿条控制，移动行程40mm，分辨率0.1mm样品台平移滑台1齿轮齿条控制，移动行程X30×Y50mm，分辨率0.1mm固定件和连接件1AL6061铝合金数控加工而成，表面烤漆处理控制器1微机控制系统，发送指令控制滴液系统电气控制单元1集成了包括电路、电位器、开关、电源等测量软件1包括接触角测量、表面张力测量、表面能估算和润湿性分析微量进样器1500uL，分辨率0.001ul耗材1亲水进样针，疏水进样针,500ul进样器电脑（选配）1如下配置物料名称品牌物料名称品牌CPU英特尔i3处理器鼠标键盘力拓主板 英特尔 H61主板机箱金和田内存华硕4G DDR3 1600电源长城硬盘七彩虹 250G显示器HUYINIUDA 19寸

二次元测量仪、三次元同时作为两项光学测量仪的新型技术产品，按常理来讲，二次元影像测量仪在应用方面确实比三次元要低些。必竟，三次元是在二次元影像测量仪的基础上进行改良的。但是这样是不是意味着，二次元的市场将要被三次元取代呢？下面妙机专业人士给大家解答一下这个问题。有很多的客户在选购时，也经常问到：我们该买哪一款好呢？在这里，我们妙机二次元测量仪生产商可以很负责任的跟您讲，二次元和三次元都有各自的应用领域。并不一定是二次元能用到的地方，三次元测量仪就一定能用上。在这里我们还是再次澄清一下它们两者之间的区别和用途。通常，在测量体积不太，而且只需二维平面测量的，二次元测量仪厂家建议使用二次元影像测量仪。二次元固名思义，它能解决是二维测量问题。对三维的轮廓扫描是没有办法做得到的。因此通过二次元扫描成影的图像也只能生成CAD图纸。另外，二次元还有一显著特点：它是属于非接触型测量。这跟三次元是本质上的区别。所以二次元在测量平面的工件较适合了。例如：PCB板，手机平板，薄膜等。三次元测量仪主要是用在三维测量领域。主要针对的是立体的工件。并且扫描后的数据可以直接生成三维图纸。它可以对立体工件任何角度，任何部位进行测量。从而迷补了二次元的立体测量的空缺。它主要是用在五金模具，机械零件，自由曲面等领域。所以，我们的客户选购时，要根据他们本公司的需要，适当的选择合适他们的仪器。并不是三次元测量仪的功能多就一定要选。综合上影像测量仪厂家小编给大家讲的知识，相信大家对这方面的资讯已经非常了解，如有疑惑可以关注我们妙机科技的咨询了解，我们将竭诚为您服务。妙机科技达到高要求生产和测试标准，生产设备齐全先进，目前在国内外占有一定的市场并享有较高的品牌知名度，未来将持续朝更高速、更高精度测量产品方向发展。

一晶圆接触角测量仪概述（Summary）接触角（Contact angle）是指在气、液、固三相交点处所作的气-液界面的切线，此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ，接触角测量是现今表面性能检测的主要方法。PZ-200SD研究型接触角测量仪是采用光学成像的原理，设备采用图像轮廓分析方式测量样品表面接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等性能，设备采用全自动进液装置，性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求，目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。 二晶圆接触角测量仪（Application）接触角测量仪广泛应用于各个行业领域，在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学化工、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、Y疗生物等领域，接触角测量已经成为了一项评估表面性能的重要仪器。（部分测试功能需要选购专门附件完成）1. 液体在固体表面的铺展、渗透、吸收等润湿行为，座滴法测量静态接触角；2. 材料在固体表面的前进角、后退角、接触角滞后、滚动角、动态接触角测量；3. 吸收材料的连续实时研究及过程记录，接触角随时间变化曲线分析；4. 各种特殊材料的接触角测量，如粉末、弯曲曲面、超疏水/超亲水样品；5. 附着滴法测试材料浸没在液体中的接触角测试；6. 悬滴法测量各种液体表界面张力及其极性、色散分量；7. 计算固体表面自由能（Surface free energy），及其极性色散分量分析；8. 分析液体在固体表面的粘附功（Adhersion），评估固体表面均匀性、清洁度等。技术规格（Specifications）（一）晶圆接触角测量仪触角测量仪主机：（1）主机使用高强度航空铝合金结构搭配模块化设计理念，集成芯片电路控制，保证仪器以状态运行； （2）成像部分使用高性能工业机芯及无失真远心镜头确保的成像效果。（3）工业级可调LED单波长冷光源系统，成像更清晰（4）自动位移平台，实现Y、Z自动定位测量，定点地位更准确，测量效率更高技术规格：主机外形尺寸：1200mm（长）*600mm(宽)* 670mm(高) 主机净重：30kg工作台面尺寸：400mm*400m进样器移动：自动上下60mm（自动） 左右30mm工业镜头移动：前后30mm（微调3mm）工业镜头：0.7X *-4.5X高清远心连续变倍变焦显微镜CCD：S高速工业级芯片；镜头角度可调试：仰视、平视、俯视多视角观察光源：LED可调节蓝色基调工业级冷光源；使用寿命达贰万伍仟小时以上电源及功率：220V / 60HZ

InnoCon 50C便携式电导率仪/盐度测量仪介绍 InnoCon 50C便携式电导率仪/盐度测量仪 适合水质测试，石油化工、电厂、冷却塔水、锅炉水、池塘、污染控制、废水、工业处理系统。特点● 超大液晶显示屏幕，120°大视角● 自动关机功能● 温度偏移量调整功能● 按键具有Beep音效● 可自由开关高亮度背光● 100组资料储存记忆功能● 电极效能指示● 具有HOLD读值锁定功能。规格测量范围：0~5.000/50.00/500.0/5000uS/cm0~50.00/500.0mS/cmTDS：0~500ppt ；盐度：0~325ppt电阻率：0~18.30M*cm分辨率：0.001/0.01/0.1/1uS/cm（ppm）0.01/0.1mS/cm（ppt）0.01M*cm精确度：±1%F.S.温度测量范围：-5.0~120.0°C/ 23.0~248.0°F温度精确度：±0.3°C/ ±0.5°F温度补偿：自动温度补偿参考温度：15.0~30.0°C (默认25.0°C)温度系数：0.00~9.99% (默认2.00%)TDS系数：0.40~1.00 (默认0.50)盐度系数：0.65电极常数：0.01/0.1/1/10电源电池： AA x 2防护等级：IP67尺寸/重量：73x152x42mm/250g