源柜测试仪

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  • HT ITALIA来自于美丽的欧洲小镇——意大利法恩莎,公司自1983年成立以来,产品年销售额超过4000万欧元。并在2009年在中国广州建立办事处,负责中国地区的产品销售和售后服务。 HT ITALIA公司设立专业的研发团队,在1992年研制生产出HT2038,1999年研制生产了世界上第一台带电能质量分析仪功能的便携式多功能电气安全测试仪——GENUIS 5080,在2001推出具有三相电能质量分析仪功能的多功能电气安全测试——GSC系列,刷新了便携式仪器的多功能之最。2007年HT公司开始涉及太阳能光伏系统测试,以提供太阳能光伏电站的现场测试仪表,HT可提供全面的太阳能光伏电站测试仪表:并网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR300N,太阳能电池I-V特性曲线分析测试仪I-V400,离网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR I-V等。近年来,HT公司又基于自身的设计现场测试理念,推出自主品牌的全新系列红外热像仪产品,以充分满足客户的个性化需求,HT品牌的红外热像仪家族包括:THT41/42/44的经济型系列,THT49的专业级红外热像仪和THT50专家型红外热像仪。现在HT公司拥有:红外热成像仪,电气安全测试仪(含:绝缘电阻测试仪,接地电阻测试仪,漏电保护开关-RCD测试仪,耐压测试仪和多功能电气安全测试仪)、电能质量分析仪、通用测试仪表(含:数字万用表,数字电流钳表,红外测温仪,数字测温仪,数字噪声计,激光测距仪等)、GEF专业绝缘工具(含:绝缘镙丝批,各种绝缘剪钳,各种型号的工具套包,工具箱等)等系列产品。
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  • 400-860-5168转4077
    上海华龙测试仪器有限公司是智能化、数字化、自动化试验机产品专业生产企业,是经国家批准授权的“中华人民共和国进出口企业”。 1999年通过 ISO9001(1994版)国际质量体系认证,2002年通过 ISO9001(2000版)中国和美国国际质量体系认证。2000年被上海市政府认定批准为“上海市高新技术企业”。2008年被国家科学技术委员会等部委认定批准为“国家高新技术企业”。2002年起连续被上海市浦东新区质量技术监督局授予企业 “质量管理先进集体”称号。2007公司研发中心年被上海市浦东新区人民政府认定批准为“浦东新区企业技术开发机构”和2004-2006年度“浦东新区先进集体”,被上海市政府授予2004-2006年度“上海市劳模集体”, 2007年公司被浦东新区人民政府考核评定为“浦东新区科技创新基地”在全国各省区重点城市设置26个营销技术服务中心,在美国、法国、西班牙、新加坡、马来西亚、香港设立了国外营销代理机构。产品广泛应用于航空航天、国防军工、机械制造、车辆船舶、钢铁冶金、电线电缆、塑料橡胶、建筑建材、大专院校、科研院所、商检质检等国民经济各领域,对各类金属、非金属、构件、成品、新材料的各项物理力学性能测试、分析和研究。企业现有员工300余人,其中大专以上学历员工为161人,16年来,企业共研发完成79大系列800余个产品种的试验机,先后有四大系列产品荣获“上海市重点新产品”,两大系列产品荣获“国家重点新产品”,八大系列产品被市科委评定为“上海市高新技术成果转化项目”。产品遍布国内各省区,并远销美国、德国、西班牙、南非、韩国、巴基斯坦、巴布亚新几内亚、马来西亚、泰国、新加坡等国际市场。上海华龙测试仪器有限公司位于上海市浦东新区川沙经济园区,企业占地23500 m2,建筑面积16800m2,绿化面积3800 m2,企业资产总计9600余万元,具有科研办公大楼、电装调试楼、工装工艺楼、总装车间、机加车间、下料车间、冷作车间、计量室、样机室等齐全的生产和办公设施。本公司拥有大型精密镗床、微控线切割、龙门刨床、数控铣床、卧式数控车床、高精外圆磨床、平面磨床、数控氩弧焊、剪板机、折弯机等各类精密加工设备和检测设备386台套。企业年产试验机生产能力可达1500余台。我公司研发的所有产品均具独立自主知识产权,拥有38项“中华人民共和国专利”。在提高产品质量,提升品牌价值的同时,公司注重工艺、工装设计,提高标准化、系列化、规范化能力,将产品研制生产的全过程纳入ISO9001质量体系,全面进行受控管理。公司将竭诚为国内外客户,为世界计量检测工作的发展,做出新的贡献。
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  • 山东省潍坊瑞格测试仪器有限公司是一家专业从事分析检测仪器的研发、生产、销售及服务于一体的高科技企业。公司产品主要应用于农业科研、土壤分析、地质勘探、公路建设、食品、医药、化工、卫生防疫、环保检测等领域。 目前公司主要有四大系列产品,分别为粉碎系列、药残检测系列、田间信息管理系列、样前处理系列。产品获得国家17项专利,其中自主研发的“改进型土壤粉碎机”入围2011年度国家星火计划。产品在中科院、社科院、环科院、中国农业大学、山东大学等多个科研院校中得到广泛应用,并在全国多个省土肥站测土配方施肥项目仪器采购中中标。公司还积极拓展海外业务,且远销印度及东南亚等地区。 公司自创立以来,本着“质量第一,用户至上”的原则,秉承“科技服务社会”的理念,积极引进吸收国内外的先进技术,不断研制开发出优质、高效、实用的新型产品。
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源柜测试仪相关的仪器

  • 聚合物绝缘材料介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内高的160MHz。 聚合物绝缘材料介质损耗测试仪技术参数:1.Q值测量a.Q值测量范围:2~1023。b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c.标称误差 频率范围(100kHz~10MHz): 频率范围(10MHz~160MHz): 固有误差:≤5%±满度值的2% 固有误差:≤6%±满度值的2% 工作误差:≤7%±满度值的2% 工作误差:≤8%±满度值的2%2.电感测量范围:4.5nH~7.9mH3.电容测量:1~205 主电容调节范围:18~220pF 准确度:150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1% 注:大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1~0.999999MHz, CH2: 1~9.99999MHz, CH3:10~99.9999MHz, CH1 :100~160MHz,5.Q合格指示预置功能: 预置范围:5~1000。6.B-测试仪正常工作条件a. 环境温度:0℃~+40℃;b.相对湿度:80%;c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。7.其他a.消耗功率:约25W;b.净重:约7kg;c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测试注意事项a.本仪器应水平安放;b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。影响介电性能的因素 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。1频率 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的,且被用作工程电介质材料,然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生,重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.2温度 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值,这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的,这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。3湿度 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加,其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内4电场强度 存在界面极化时,自由离子的数目随电场强度增大而增加,其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。 在较高的频率下,只要电介质中不出现局部放电,电容率和介质损耗因数与电场强度无关测量方法的选择: 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下,调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作,就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量,常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的,叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型,若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角,必要时,应给出与温度和频率的关系。特点: ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号 源输出口,所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切,是交流电被转化为热能的介电损耗(耗散的能量)的量度,一般情况下都期望耗损因子低些好概念:电介质在外电场作用下,其内部会有发热现象,这说明有部分电能已转化为热能耗散掉,电介质在电场作用下,在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率,或简称介质损耗(diclectric loss)。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能,而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大,甚至会引起介质的过热而绝缘破坏,所以从这种意义上讲,介质损耗越小越好。主要技术特性:介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1.测试注意事项a.本仪器应水平安放;b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)介电常数介质损耗测试仪 VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器,在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单,操作提示各种警告信息,直观明了,不需查阅说明书即可操作。打印 仪器附有微型打印机,以中文方式打印输出测量结果及状态。RS232 仪器具有RS232接口,与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。可选购与计算机通信应用程序。硫化橡胶介电常数介质损耗测试仪 电介质的用途 电介质一般被用在两个不同的方面:用作电气回路元件的支撑,并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘 用作电容器介质。 低频电桥 一般为高压电桥,这不仅是由于灵敏度的缘故,也因为在低频下正是高电压技术特别对电介质损耗关注的问题。电容臂和测量臂两者的阻抗大小在数量级上相差很多,结果,绝大部分电压都施加在电容Cx和 C}上,使电压分配不平衡 上面给出的电桥平衡条件只是当低压元件对高压元件屏蔽时才成立。同时,屏蔽必须接地,以保证平衡稳定。如图A. 2所示。屏蔽与使用被保护的电容 C、和 C、是一致的,这个保护对于Ch来说是必不可少的。 由于选择不同的接地方法,实际上形成了两类电桥。电极系统 1 加到试样上的电极 电极可选用 5.1.3中任意一种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电极难以对齐时,其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间,这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出. 对于介质损耗因数的测量,这种类型的电极在高频下不能满足要求,除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电极系统也要求试样厚度均匀2 试样上不加电极 表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量,在这个电极系统中,试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。 平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表 3给出。 下面两种型式的电极装置特别合适2.1 空气填充测微计电极 当试样插人和不插人时,电容都能调节到同一个值 ,不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极.2.2 流体排出法 在电容率近似等于试样的电容率,而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量,这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时,试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去 试样为与试验池电极直径相同的圆片,或对测微计电极来说,试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中,为了忽略边缘效应,试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。 原始包装:请保留所有的原始包装材料,如果机器必须回厂维修,请用原来的包装材料包装。并请先与制造厂的维修中心联络。送修时,请务必将全部的附件一起送回,请注明故障现象和原因。另外,请在包装上注明“易碎品”请小心搬运。安全注意事项:开机之前,敬请仔细阅读本 使用指南,以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前,请阅读“安装与设置”,保证对仪器各部件的正确安装与连接。在*次操作前,务必请有操作经验的人员进行指导,防止误操作造成意外事件的发生。电击危险: 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电,防止在带电情况下,对人员或设备造成伤害。注意事项: 1、该仪器初始的包装材料需小心保存,安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修,必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前,操作者要首先熟悉操作方法。电性能检测仪器:介电强度测试仪、体积表面电阻率测试仪、介电常数介质损耗测试仪、漏电起痕试验仪、耐电弧试验仪;塑料橡胶性能检测仪器:无转子硫化仪、门尼粘度试验机、热变形维卡温度测定仪、简支梁冲击试验机、毛细管流变仪、橡胶塑料滑动摩擦试验机物理性能检测仪器:氧指数测定仪、水平垂直燃烧试验机、熔体流动速率测定仪、低温脆性测试仪力学性能试验机:试验机北广其他检测海绵仪器:海绵泡沫压陷硬度测试仪、海绵泡沫落球回弹测试仪、海绵泡沫压缩变形试验仪另外我公司其他产品有:环境测试仪器、生物制药测试仪器、动物行为测试仪、环境监测试验仪
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  • 绝缘材料介电常数测试仪测量方法相对介电常数εr可以用静电场按以下方法测量:首先,在两极板间有真空的情况下,测试电容器的电容C0。然后,通过使用电容器极板之间的相同距离,但是在极板之间添加电介质,来测量电容Cx。那么相对介电常数可以通过下面的公式计算εr=Cx/C0在标准大气压下,不含二氧化碳的干燥空气的相对介电常数ε r为1.00053。因此,当在空气中使用这种电极配置的电容Ca代替C0来测量相对介电常数εr时,有足够的精度。(参考GB/T 1409-2006)对于时变电磁场,物质的介电常数与频率有关,通常称为介电系数。介电常数的定义“介电常数”(绝对介电常数ε)的定义:当电容器极板填充有电介质时,电容增加的倍数称为电介质的介电常数,用ε表示。并明确其单位为F. M-1(定义)。介电常数的单位是什么?介电常数又称介电常数、介电系数或介电常数,是代表绝缘容量特性的系数,用字母ε表示,单位为F/m。它是电位移和电场强度之间的比例常数。这个常数在自由空间(真空)中是8.85×10法拉第/米(F/m)的-12次方。在其他材料中,介电系数可能相差很大,往往比真空中的值大得多,其符号为eo。在工程应用中,介电常数往往以相对介电常数的形式表示,而不是绝对值。如果eo表示自由空间的介电系数(8.85×10的-12次方F/m),E是材料中的介电系数,那么这种材料的相对介电系数(也叫介电常数)由下式给出:ε 1 = ε/ε o = ε× 1.13× 10的11次方。 绝缘材料介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪信号源DDS信号频率范围10KHz-70MHz10KHz-100MHz100KHz-160MHzQ值测量范围2~1023Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档电感测量范围4.5nH-10mH 160M:1nH-140mH电容直接测量范围1~460pF 160M:1pF-25uF主电容调节范围30~540pF 160M:17-240pF电容准确度150pF以下±1.5pF;150pF以上±1% 型号频率指示误差1*10-6 ±1 Q值合格指示预置功能范围5~1000
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  • 工作电压220V/50Hz,1KVA引弧电流33A±5%A引弧速率40次/分钟。电极分离速度254±25㎜/S引弧次数0-9999可预置电极材料静电极—铜,直径Ф3.5,*斜角30°动电极—不锈钢,直径Ф3.0, 端部圆锥角60°电极夹角与水平成45°,电极头部曲率半径0.1mm绝缘耐起弧性能测试仪试验软件简介:  此设备软件外观由专业的美工设计:  绝缘耐起弧性能测试仪人员管理:可添加多人同时使用此软件 不同人员设定不同密码 交叉使用互不干扰 (如一人使用可删除设定密码 直接进入软件  参数管理:高压保护可选、 耐压时间可选、 梯度步进可选 、漏电流和过压可选、灵敏的漏电压可选、漏电流可选 、升压速度可自由设定(0-50kv 自由环入)试验结果可选 异地操作选定 、人机分离选定等等  绝缘耐起弧性能测试仪结果调取:试验结果保存调取 、人员选定调去 、试验结果可根据客户要求操作整理 、支持5次以上彩线对比、自动整取添加试验数据。绝缘耐起弧性能测试仪 主要技术要求:  1、输入电压:交流 220 V  2、输出电压:交流 0--20 KV   3、电器容量:2 KVA  4、试验方式:间歇电弧,连续电弧  5、试验电流:10MA-20MA-30MA-40MA可选  6、试验电压控制误差: 优于2%  7、电弧通断时间误差: 5ms  8、试验电压连续可调: 0--20 KV  9、电流控制精度:优于±10%  10、电流测试精度:优于±1.5%  11、电流对试验压力:0.5±0.05N  12、电极规格: 不锈钢板状电极 25.4mm*12.7mm*0.15mm  钨钢电极 ¢2.4mm*70mm  电极配置角110度  电极重量:50G  13、电极距离:6.35±0.1mm(可调)  14、安全防护措施:(1)超压保护  (2)过流保护  (3)短路保护  (4)安全门开启保护  (5)软件误操作保护绝缘耐起弧性能测试仪试验过程描述:  过程  弧电流/mA  通断时间/秒  持续时间/秒  试验所经时间/秒  1/8-10  10  1/4s通 7/4s断  60  60  1/4-10  10  1/4s通 7/4s断  60  120  1/2-10  10  1/4s通 7/4s断  60  180  10  10  导通  60  240  20  20  导通  60  300  30  30  导通  60  360  40  40  导通  60  420
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  • 国产高端测试仪器市场困局何解?产学研模式新探索
    当今时代,科技迅猛发展、芯片量呈几何倍数增长,芯片已经进入融合的时代。从无人驾驶到虚拟现实、从人工智能到云计算、从5G到物联网,一颗芯片上承载的功能越来越多,芯片工艺越来越复杂,新器件类型层出不穷,众多驱动因素的推动对半导体测试技术不断提出新的要求。行业需要更加面向未来需求的测试系统和方案,来打破传统仪器固有的不足和局限。以半导体器件测试来看,在先进器件研究过程中,新材料、新结构与新工艺的应用都可能带来未知的变化。研究者不但要关注精确的静态电流电压特性,更希望观察到细微快速的动态行为。同时随着半导体尺寸不断减小,一些现象需要在极短的时间内才能观察到,例如MOS器件的BTI效应,因此,对包括短脉冲测试(PIV)在内的新技术提出了要求。前不久,概伦电子与北京大学集成电路学院及上海交通大学电子信息与电气工程学院联合研发的新一代高精度快速波形发生与测量套件FS-Pro HP-FWGMK正式发布,填补了其半导体参数测试系统FS-Pro在短脉冲测试的空缺,同时也填补了国内短脉冲测试技术的空缺。高端测试仪器FS-Pro“如虎添翼”据了解,此次发布的最新一代高精度快速波形发生与测量套件FS-Pro HP-FWGMK由黄如院士在北京大学和上海交通大学的团队与概伦电子联合研发。作为短脉冲测试技术的先行者,黄如院士团队经过了十余年的努力,在实践过程中掌握了一整套短脉冲产生、测量以及分析技术。概伦电子基于其提供的包括测试方法、电路原型、方案框架、版图设计及PIV应用在内的指导意见继续精细开发,满足高增益与高带宽的同时,有效抑制放大电路的非线性失真,最终实现了最小脉宽130ns的高精度测量。概伦电子FS-Pro半导体参数测试系统(图源:概伦电子)概伦电子的半导体参数测试系统FS-Pro是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备,在一个系统中实现了电流电压(IV)测试、电容电压(CV)测试、脉冲式IV测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。此次增加短脉冲IV(PIV)技术后,FS-Pro更是如虎添翼,几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在FS-Pro测试系统中完成,可广泛应用于各种半导体器件、LED材料、二维材料器件、金属材料、新型先进材料与器件测试等。其全面而强大的参数测试分析能力极大地加速了半导体器件与工艺的研发和评估进程,并可无缝的与概伦电子低频噪声测试系统9812系列集成。据了解,概伦电子噪声测试系统9812系列是全球半导体行业业内低频噪声测试的“ 黄金标准”,为半导体行业先进工艺研发、器件建模和高端电路设计提供了更加完整而又高效的低频噪声测试及分析解决方案,可以满足各种不同工艺平台下半导体器件和集成电路低频噪声测试的需求。FS-Pro快速的DC测试能力进一步提升了9812系列产品的噪声测试效率和吞吐量,性能相较同类型产品获得大幅度提升,并将在噪声测试的业内领先技术扩展到通用半导体参数测试。基于在产线测试与科研应用方面的优异表现,FS-Pro全面的测试能力在科研学术界受到了广泛关注和认可,已被数十所国内外高校及科研机构所选用,同时也被众多芯片设计公司、代工厂和IDM公司所釆用。国产高端测试仪器新突破纵观行业现状,测试测量仪器属于高端科研仪器设备,需要长时间积累,特别考验一个国家基础技术的厚度。由于国内本土测量仪器行业起步较晚,主营电子测试测量仪器的企业数量少,发展情况也不尽相同,目前我国的产品结构主要集中在中低端,大部分企业仍处于仿制研发的阶段,仅有小部分企业走向应用研发的转型之路。根据数据显示,中国电子测量仪器的市场规模由2016年的28.72亿美元增至2021年的50.39亿美元,预计2022年将进一步达到53.14亿美元。面对国内如此巨大的市场需求,以及受国外隐形技术壁垒等因素制约,国内市场仍被掌握在国外仪器仪表厂商手中,高端产品依赖进口,行业类第一梯队公司主要为是德科技(Keysight)、泰克(Tektronix)、罗德与施瓦茨(R&S)等欧美企业。国内测量仪器与国际水平相比,在产品结构、高端产品的技术水平、市场占有率等方面存在较大差距,亟待国内本土企业填补高端仪器的技术和市场空白。在这种情况下,提高企业的研发力度成为了电子测量仪器行业发展的关键点之一。同时伴随着强烈的自主可控需求,国产高端测试测量仪器市场在近几年迎来高速增长。概伦电子的半导体参数测试系统FS-Pro作为高端测试仪器的代表之一,在先进器件和材料等领域的测试表现非常出色,集 IV、CV、1/f noise及PIV测试等于一体,高精度、低成本、综合的半导体器件表征分析能力灵活满足各种用户的不同测试需求,大大节省了测试设备采购开支。同时,工业标准的PXI模块化硬件结构,通用的软件平台,内置测量软件提供数百个预定义的测试模板和功能,实现即插即用体验,使FS-Pro成为了半导体器件与先进材料研究方面的得力助手,产品性能直接对标是德科技等行业巨头的高端测试仪器。近年来,随着半导体行业的快速发展,对测试测量仪器的需求在逐渐扩大。当前中国的半导体测试测量行业在飞速发展中,可以预见的是,复杂的国际关系背景和市场需求的双重驱动下,关键领域的国产化成为竞争焦点,自上而下的产业政策和企业突围将加速自主可控产业链的成长,国产半导体测量仪器迎风口。随着概伦电子在中高端产品领域取得突破,将会使其成为国内该行业的领头羊,有望引领该领域的国产化替代浪潮。概伦电子产品布局日臻完善半导体器件特性测试是对集成电路器件在不同工作状态和工作环境下的电流、电压、电容、电阻、低频噪声、可靠性等特性进行测量、数据采集和分析,以评估其是否达到设计指标。概伦电子半导体参数测试系统FS-Pro能够支持多种类型的半导体器件,具备精度高、测量速度快和可多任务并行处理等特点,能够满足晶圆厂和集成电路设计企业对测试数据多维度和高精度的要求。半导体器件特性测试仪器采集的数据是器件建模及验证EDA工具所需的数据来源,两者具有较强的协同效应。随着下游晶圆厂客户产能扩张,相关测试需求或将进一步释放。在制造类EDA工具方面,概伦电子的器件建模及验证EDA工具已经取得较高市场地位,被全球大部分领先的晶圆厂所采用和验证,主要客户包括台积电、三星电子、联电、格芯、中芯国际等,在其相关标准制造流程中占据重要地位。使用该EDA工具生成的器件模型通过国际领先的晶圆厂提供给其全球范围内的集成电路设计方客户使用,其全面性、精度和质量已得到业界的长期验证和广泛认可。在此基础上,通过半导体器件特性测试仪器与EDA工具的联动,能够打造以数据为驱动的EDA解决方案,紧密结合并形成业务链条,帮助晶圆厂客户有针对性的优化工艺平台的器件设计和制造工艺,不断拓展产品的覆盖面,进一步为概伦电子打造完整的制造EDA流程丰富了现有技术及解决方案。目前概伦电子主要产品及服务包括制造类EDA工具、设计类EDA工具、半导体器件特性测试仪器和半导体工程服务等。从其产品布局和发展历程来看,概伦电子在具备高价值的落地场景和应用需求的前提下,用相对较短的时间、较小的人员规模和投入,打造了全新的设计方法学和流程,逐渐形成了具有技术竞争力的EDA工具、测试产品和工程服务,并在国际主流市场获得产品验证机会,在多环节和维度上实现了对国际EDA巨头全流程垄断的突破。产学研模式新探索上文提到,此次FS-Pro HP-FWGMK套件的发布是概伦电子与北京大学集成电路学院及上海交通大学电子信息与电气工程学院联合研发的产物,在填补了半导体参数测试系统FS-Pro在短脉冲测试空缺的同时,也代表了国内产学研深度合作的典范。当前,在国产EDA的发展过程中,人才是关键,创新求变正在重塑新的核心竞争力。EDA核心技术的突破没有捷径可走,需要持续吸引各种人才、加强产学研合作和保持高研发投入,长期坚持技术沉淀,通过客户需求引导,才有可能形成新的突破。在当前行业背景和发展现状下,概伦电子正在探索以产教融合方式来培养项目和推动EDA技术和人才发展的新模式,携手各界通力合作,共同应对后摩尔时代技术与市场的双重挑战,构建中国EDA产业命运共同体,致力于突破困局并最终实现超越。
  • 国产高端测试仪器市场困局何解
    当今时代,科技迅猛发展、芯片量呈几何倍数增长,芯片已经进入融合的时代。从无人驾驶到虚拟现实、从人工智能到云计算、从5G到物联网,一颗芯片上承载的功能越来越多,芯片工艺越来越复杂,新器件类型层出不穷,众多驱动因素的推动对半导体测试技术不断提出新的要求。行业需要更加面向未来需求的测试系统和方案,来打破传统仪器固有的不足和局限。以半导体器件测试来看,在先进器件研究过程中,新材料、新结构与新工艺的应用都可能带来未知的变化。研究者不但要关注精确的静态电流电压特性,更希望观察到细微快速的动态行为。同时随着半导体尺寸不断减小,一些现象需要在极短的时间内才能观察到,例如MOS器件的BTI效应,因此,对包括短脉冲测试(PIV)在内的新技术提出了要求。前不久,概伦电子与北京大学集成电路学院及上海交通大学电子信息与电气工程学院联合研发的新一代高精度快速波形发生与测量套件FS-Pro HP-FWGMK正式发布,填补了其半导体参数测试系统FS-Pro在短脉冲测试的空缺,同时也填补了国内短脉冲测试技术的空缺。高端测试仪器FS-Pro“如虎添翼”据了解,此次发布的最新一代高精度快速波形发生与测量套件FS-Pro HP-FWGMK由黄如院士在北京大学和上海交通大学的团队与概伦电子联合研发。作为短脉冲测试技术的先行者,黄如院士团队经过了十余年的努力,在实践过程中掌握了一整套短脉冲产生、测量以及分析技术。概伦电子基于其提供的包括测试方法、电路原型、方案框架、版图设计及PIV应用在内的指导意见继续精细开发,满足高增益与高带宽的同时,有效抑制放大电路的非线性失真,最终实现了最小脉宽130ns的高精度测量。概伦电子FS-Pro半导体参数测试系统(图源:概伦电子)概伦电子的半导体参数测试系统FS-Pro是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备,在一个系统中实现了电流电压(IV)测试、电容电压(CV)测试、脉冲式IV测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。此次增加短脉冲IV(PIV)技术后,FS-Pro更是如虎添翼,几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在FS-Pro测试系统中完成,可广泛应用于各种半导体器件、LED材料、二维材料器件、金属材料、新型先进材料与器件测试等。其全面而强大的参数测试分析能力极大地加速了半导体器件与工艺的研发和评估进程,并可无缝的与概伦电子低频噪声测试系统9812系列集成。据了解,概伦电子噪声测试系统9812系列是全球半导体行业业内低频噪声测试的“ 黄金标准”,为半导体行业先进工艺研发、器件建模和高端电路设计提供了更加完整而又高效的低频噪声测试及分析解决方案,可以满足各种不同工艺平台下半导体器件和集成电路低频噪声测试的需求。FS-Pro快速的DC测试能力进一步提升了9812系列产品的噪声测试效率和吞吐量,性能相较同类型产品获得大幅度提升,并将在噪声测试的业内领先技术扩展到通用半导体参数测试。基于在产线测试与科研应用方面的优异表现,FS-Pro全面的测试能力在科研学术界受到了广泛关注和认可,已被数十所国内外高校及科研机构所选用,同时也被众多芯片设计公司、代工厂和IDM公司所釆用。国产高端测试仪器新突破纵观行业现状,测试测量仪器属于高端科研仪器设备,需要长时间积累,特别考验一个国家基础技术的厚度。由于国内本土测量仪器行业起步较晚,主营电子测试测量仪器的企业数量少,发展情况也不尽相同,目前我国的产品结构主要集中在中低端,大部分企业仍处于仿制研发的阶段,仅有小部分企业走向应用研发的转型之路。根据数据显示,中国电子测量仪器的市场规模由2016年的28.72亿美元增至2021年的50.39亿美元,预计2022年将进一步达到53.14亿美元。面对国内如此巨大的市场需求,以及受国外隐形技术壁垒等因素制约,国内市场仍被掌握在国外仪器仪表厂商手中,高端产品依赖进口,行业类第一梯队公司主要为是德科技((Keysight)、泰克(Tektronix)、罗德与施瓦茨(R&S)等欧美企业。国内测量仪器与国际水平相比,在产品结构、高端产品的技术水平、市场占有率等方面存在较大差距,亟待国内本土企业填补高端仪器的技术和市场空白。在这种情况下,提高企业的研发力度成为了电子测量仪器行业发展的关键点之一。同时伴随着强烈的自主可控需求,国产高端测试测量仪器市场在近几年迎来高速增长。概伦电子的半导体参数测试系统FS-Pro作为高端测试仪器的代表之一,在先进器件和材料等领域的测试表现非常出色,集 IV、CV、1/f noise及PIV测试等于一体,高精度、低成本、综合的半导体器件表征分析能力灵活满足各种用户的不同测试需求,大大节省了测试设备采购开支。
  • 可乐瓶盖开启扭矩仪采用手动还是自动扭矩测试仪精度更高
    在选择可乐瓶盖开启扭矩仪时,用户可能会面临手动和自动扭矩测试仪之间的选择。每种类型的测试仪都有其特定的应用场景和优势,精度也因设备的设计和制造质量而异。手动扭矩测试仪优点:成本效益:通常价格较低,适合预算有限的用户。便携性:手持式设计,便于携带和现场测试。操作简单:易于使用,不需要复杂的设置或编程。缺点:一致性:依赖于操作者的技巧和力量控制,可能导致测试结果的一致性较低。疲劳因素:长时间操作可能导致操作者疲劳,影响测试精度。数据记录:需要手动记录数据,可能存在记录错误的风险。精度考量:手动扭矩测试仪的精度受限于操作者的稳定性和重复性,因此精度可能较低。自动扭矩测试仪优点:重复性:自动设备提供更高的测试一致性和重复性。精度:精密的机械设计和电子测量系统可提供更高的测试精度。自动化:自动完成测试过程,减少人为误差。数据管理:自动记录和分析数据,提高效率并减少错误。缺点:成本:价格通常高于手动测试仪。维护:可能需要专业的维护和校准。精度考量:自动扭矩测试仪通常具有更高的精度,因为它们通过精密的机械和电子系统来控制测试过程。精度比较在选择扭矩测试仪时,精度是关键考虑因素。虽然手动扭矩测试仪具有成本优势和便携性,但自动扭矩测试仪在精度、重复性和数据管理方面具有明显优势。自动设备通过减少人为干预,提供更一致的测试结果,这对于质量控制和产品一致性至关重要。结论如果预算允许,并且需要高精度和自动化程度高的测试结果,自动扭矩测试仪是更好的选择。对于需要频繁进行大量测试的生产环境,自动扭矩测试仪可以提供更高的效率和更可靠的数据。然而,如果测试需求较少,或者预算有限,手动扭矩测试仪也可以满足基本的测试需求。在选择时,应考虑具体的测试需求、预算限制和长期投资回报,以确定最适合的扭矩测试仪类型。

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  • 【原创】耐压绝缘测试仪

    耐压绝缘测试仪对各种高压电气设备、电器元件、绝缘材料进行工频或直流高压下的绝缘强度试验。 耐压绝缘测试仪是交流安全通用测试仪器,适合家用电器及低压电器的安全测试.漏电流值由粗调和细调旋钮调节。漏电流超差时自动切断测试电压,并发出声光报警信号。有外控端子。

  • 绝缘电阻测试仪的校准

    用来测试产品安全性能的主要仪器,一般有:耐压测试,漏电流测试,接地电阻测试仪,绝缘电阻测试仪,等等。为了保证安规仪测试的准确性,相应地要对高压输出、漏电流测量、接地电阻测量和绝缘电阻测量等进行校准。 校准方法 绝缘电阻测试仪是加一定的直流电压(一般为200V到1000V)进行测试。校准时,一要进行绝缘电阻测量准确度校准,二要对设定的电压准确度进行校准. 绝缘电阻测试端直接与绝缘电阻箱接线柱相连,设定测试电压(如:500V 直流电压),选择不同的绝缘电阻值进行测试,绝缘电阻的显示值与标准绝缘电阻相比较;改变测试电压(如:1000V 直流电压)做同样的测试。电压准确度的校准与高压输出准确度的校准方法相同,不再赘述了。 注意事项: 当天气较潮湿时,校准较高阻值的绝缘电阻(1GΩ以上)误差较大,绝缘电阻箱应通电加热除湿,以提高测量准确度。

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  • 菲力尔 IM75 绝缘测试仪
    FLIR IM75具有数字万用表和METERLINK® 功能的绝缘测试仪FLIR IM75是一款先进的多功能数字万用表,也是一款一流的手持式绝缘测试仪,适用于从事安装、故障检修和日常维护的专业人士。IM75包含多种专业的绝缘测试模式,如:极化指数、介质吸收比和接地电阻。绝缘测试包括瞬时检测、连续检测和限定时间段检测,便于用户获得深入透彻的评估效果。这款仪表采用METERLiNK® 技术和蓝牙® 技术,通过前者可以将电气测量值嵌入FLIR红外热像仪捕获的热图像中;通过后者可远程查看实时读数。集绝缘测试和电气测试功能于一体的工具具有数字万用表功能的绝缘测试仪一款集多种功能于一体的工具,具有各种等级绝缘测试所需的多个电阻量程,且拥有无线功能。 真有效值测量,性能可靠具备高级绝缘测试所需的特性,包括真有效值测量(1000V量程)、变频测量模式和3种绝缘测试模式。高效的照明和坚固耐用的设计配备明亮的LED照明灯(用于照亮测试区域和测试目标)和彩色LED显示屏,采用坚固耐用的双层模塑结构。
  • 菲力尔 IM75 具有数字万用表绝缘测试仪
    FLIR IM75具有数字万用表和METERLINK® 功能的绝缘测试仪FLIR IM75是一款先进的多功能数字万用表,也是一款一流的手持式绝缘测试仪,适用于从事安装、故障检修和日常维护的专业人士。IM75包含多种专业的绝缘测试模式,如:极化指数、介质吸收比和接地电阻。绝缘测试包括瞬时检测、连续检测和限定时间段检测,便于用户获得深入透彻的评估效果。这款仪表采用METERLiNK® 技术和蓝牙® 技术,通过前者可以将电气测量值嵌入FLIR红外热像仪捕获的热图像中;通过后者可远程查看实时读数。集绝缘测试和电气测试功能于一体的工具具有数字万用表功能的绝缘测试仪一款集多种功能于一体的工具,具有各种等级绝缘测试所需的多个电阻量程,且拥有无线功能。 真有效值测量,性能可靠具备高级绝缘测试所需的特性,包括真有效值测量(1000V量程)、变频测量模式和3种绝缘测试模式。高效的照明和坚固耐用的设计配备明亮的LED照明灯(用于照亮测试区域和测试目标)和彩色LED显示屏,采用坚固耐用的双层模塑结构。
  • 偏振测试仪
    偏振测试仪&bull 确定线偏振片和圆偏振片的偏振方向&bull 方便轻巧的手持式设计&bull 验证偏振片校准的理想选择&bull 在确定 LCD 的偏振方向方面表现出众产品介绍TECHSPEC® 偏振测试仪适用于确定未知偏振片的不同特性,如线性偏振片的偏振方向和圆形偏振片的旋转方向。这款易于使用的手持式紧凑型工具兼容所有已安装和未安装的偏振片,其中包含设计用于测试线性偏振光,以及左旋和右旋的圆形偏振光的区域。对于圆形偏振片,本测试仪可识别偏振旋转方向,以及延迟器和线性偏振片的位置。TECHSPEC® 偏振测试仪适用于识别正确偏振片,或验证应用中是否精确对准。为获得最佳效果,请确保在测试之前将所有保护膜从偏振片上取下。注意: 安装偏振测试仪时,建议使用#54-997.订购信息长度 (mm)厚度 (mm)透射率 (%)波长范围 (nm)宽度 (mm)产品编码200.000.7542400 - 70020.00 37-699
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