车身校正仪

三十年前，第一个硫化镉光电阻在客车上得到了应用，用于通过检测环境光自动打开及关闭车大灯。当今，用于检测光线的主流技术已变成硅光电二极管和光电晶体管，从而使车身电子应用得到了极大扩展。　　在大多数情况下，汽车应用中采用光电二极管，因为在-40°C～+85°C的典型车身电子温度范围内，这些器件的光电流及波长敏感度呈线性。与光电二极管相比，光电晶体管的直流电流增益及暗电流具有更高的温度依赖性。光电晶体管与光电二极管相比的优势是，光线量相同时，前者的输出电流远高于后者，从而可能无需进行放大。　　雨水检测　　安装在挡风玻璃上并成为后视镜装置一部分的Valeo雨水传感器，该传感器由红外线发射二极管与光电二极管组成，光电二极管用于检测玻璃反射的已发射光线量。红外线通过该传感器装置以精确角度发射出去，在挡风玻璃内部进行反射，然后返回到光电二极管。当天开始下雨时，雨滴落在挡风玻璃上，一些光线将发生折射，从而使反射回光电二极管的光线量减少。当降雨量增加时，反射回检测器表面的光线量将减少。　　最终，输出电流会降到定义的阈值以下，该传感器会指示“下雨”。通过这种到微控制器的输入，该传感器会打开刮水器，并调整刮水器的速度。　　环境光检测　　在车身电子应用中，环境光传感器用于调节仪表盘的背光强度，以及导航系统(GPS)、温度控制及DVD屏幕中的LCD背光强度。这对于像BMW的iDrive及 Prius的Multi-Info等显示屏而言尤其重要。例如，当日光变得昏暗并且漆黑一片时，仪表盘背光将进行不同程度地调节，以达到最佳可见度，并降低可能对驾驶者造成的强光。使用这些传感器可消除在白天打开车大灯时烦人的显示屏自动亮度调节等程序，环境光传感器的关键功能是利用 380nm～780nm的敏感度可见波长，复制了人眼的敏感度。　　温度控制　　通过确定日光的角度并连同热敏电阻调整风扇速度和温度，光电二极管在温度控制中发挥了重要作用。确定日光的角度是光电二极管上的照明功能，在光电二极管中，峰值照明可转变成处于最高点的日光。具有集成NTC热敏电阻的光电二极管最适合这种类型的应用。　　隧道检测　　隧道检测需要两个传感器的输入。第一个传感器具有“向上看”的较宽视野，以及相对较长的平均移动时间段，长时间段可防止车灯打开和关闭。第二个传感器具有“向前看”的较窄视野，以及相对较短的平均移动时间段。这可使隧道传感器对突然的日光变化做出快速反应，并打开车大灯，以及在进入隧道时可调节显示屏的背光亮度。前向传感器消除了在进入桥下或遮天蔽日的大树下时打开及关闭车灯。在这些情况下，该传感器仍将“看到”前方的光线。　　当进入隧道时，隧道传感器信号将下降，而宽视野传感器的信号将仍保持高强度；车大灯将打开。当出了隧道时，隧道传感器信号将加强，而宽视野传感器信号将下降；车大灯将关闭。凭借不同的平均移动时间段，控制器可做出明确的区别。

GB+23254-2009+货车及挂车车身反光标识

本人用的是帕纳科荧光，我认为漂移校正就是对仪器状态先后两个时间段的校正，比如，修理前和修理后。但是最近遇到一个维修专家解释，漂移校正是对曲线的校正，而仪器校正需要单独建立一个程序，大家谈谈各自的看法吧？

如果溶出仪每天都在用，多长时间校正一次较好呢，有人建议每月校正一次，会不会太频繁了；请厂家工程师校正一次大概多少费用呢？

电阻、电容、电感是电子线路中必定使用的零部件。在进行电子线路的设计的基础上，准确地测量这些零部件的值是极其重要的。测量这些零部件的值，一般使用LCR测试仪。LCR测试仪不仅能自动判断元件性质，而且能将符号图形显示出来，并显示出其值，还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数，且显示出等效电路图形。用LCR测试仪来测量零部件时，误差是难免的，一般我们有两种校正。 其一就是，零点校正。当LCR测试仪的零点漂移对于测量值不能忽略时，就需要进行零点校正。因为零点漂移会随着电缆和电极的物理配置不同而变化，所以进行开路和闭路的零点校正时，必须与连接零部件时的电缆布线、电极间隔等相同。 其二就是，负荷校正。为了进行负荷校正，首先需要准备好标准器具或者已知准确值的零部件。在进行了零点校正之后，再测量已知准确值的标准阻抗Zstd，如果得到的测量值为Zms，那么就按照以下公式来求出校正系数。LCR测试仪除了测量夹具等不同所引起的零点漂移以外，如果还有不能够忽略的测量误差，那么可以进行负荷校正，以提高测量精确度。即使对于没有负荷校正功能的LCR测试仪 ，也能够对各个阻抗量程和频率求取校正系数，自己进行校正。

我怀疑我们的旋光仪不太准，想自己校正，准备购买一套石英校正管，但想不通如何校正仪器，哪位大侠校正过，帮忙介绍下，该如何操作。我们仪器型号为：WZZ-2S

电子天平的校正？是否要天天进行仪器设备的校正（比如[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]）要多长时间进行校正，怎样进行校正

各位： 请问如何判定哪些仪器设备是需要校正的哪些是不需要校正的？是根据何种依据来规定的？当然这些仪器设备包括：自制的设备夹具、客户提供的仪器设备、还有就是本分司购买的。主要是对本公司PIE部自制的设备夹具不知哪些是需要校正的哪些是不需要校正的。谢谢帮助~~~交流~~

本人刚接触热分析，还不是特别了解原理等等。在公司里编写校正说明，老大也不懂就问我各种问题，为搜罗一下问问有经验的老师。1、Q2000 DSC校正的Tzero TM校正的部分包括baseline校正和蓝宝石校正，这部分的意义是什么呢？做热流校正吗？那怎么判断是否通过校正呢？系统接受即使通过校正吗？所谓的异常峰时什么意思？2、炉子常数的范围一般是0.95~1.3之间，那依据是什么？我是直接copy台湾总公司的，但是具体的原因还是不太懂的。3、Q500 TGA的校正中的重量校正包括两个部分，100mg和1g两个质量的校正，因为我们测量中大部分都是做20mg一下的，那其实100mg也是蛮大的了，有没有必要把100mg改成较小的值呢？目前问题就是这些，还望各位老师不吝赐教，我也打算直接问问800了。有答案也会和大家分享的。

你们的GCMS和ICP是请哪一家机构来校正检定的，还有其它的一些要用到的精密仪器和玻璃仪器是请哪一家来校正的。是不是有国家强制检定的这一说法，具体是什么意思？请问要怎么样才能有资质对自己实验室的一些仪器简单校正的资格，比如容量瓶，移液管，电子天平。要考什么试，或者拿个什么证吗？？

谁有移液管的校正及校正系数方法

热分析仪器买来以后，是不是都要用标样进行温度校正和灵敏度校正啊，如果不校正，对结果有什么影响啊？

老式电导率仪用前需校正,怎么校正

(1)离峰校正法：是一种经典的校正方法，主要用于简单光谱背景干扰情况和简单元素谱线干扰的校正，常用的有离峰单点，两点，多点等校正方法。当波长漂移比较大、背景分布不均匀时，测量得到的背景值有时与谱线位置的数值不一致，此时采用离峰校正法将会引起比较大的误差，因此如果存在上述情况，建议不应使用此法校正。由于背景的存在，使分拆线信号测量值产生正的偏离，对于发射法而言，设Ix为分析线发射强度，Ib为背景发射强度，则谱线的表观强度(Ix+b)为 Ix+b＝Ix+Ib （1）或 Ix＝Ix+b-Ib（注意我们用ICP分析时就用Ix做标准曲线的）一般用谱线与背景的强度比的对数表示： Log(Ix/Ib)=Log[(Ix+b/Ib)-1] （2）可见，只要测出Ix+b／Ib并减去1，然后取对数即可得到Log(Ix/Ib)。由于Ib是不随分析物浓度变化的常数，故Log(Ix/Ib)一般可以代替IogIx使用。无论光电法或摄谱法，背景强度Ib均在离峰位置(Ix+b为峰值位置表观强度)进行测量。对于光电法，离峰位置可由置于光路中的往复振荡的石英折射板来控制(现代商业仪器多采用计算机控制)。而对于摄谱法，背景强度Ib系通过照相参量Pb来度量，离峰位置视背景轮廓而定，对于均匀背景，背景值可选谱线任一边的数值来提供，而对于不均匀的背景轮廓，则应预先了解背景分布情况，而后确定测量位置并以谱线两边背景平均值作为背景值加以扣除，式(2)中Ix+b/Ib值可以方便的由乳剂校正曲线读出的Log（Ix+b/Ib）得到。

热重分析仪器TGA ，仪器标配的重量校正砝码分别是100mg和1000mg两个，但是我们平时的样品量只需几十毫克，即使加上样品盘的重量也不会超过200mg，用这么大的砝码来校正会不会不合理？能不能用百万分之一天平校正用的砝码（小质量的）来校正TGA？

[url=http://www.xrite.cn/][color=#000000]色差仪[/color][/url]对于颜色测量工作者来说已必不可少。通过它的客观数据分析可以减少因主观判断而出现的失误。但是没有任何一款仪器能够任劳任怨地保证持续稳定的读数，必须进行定期地校正方可。因此用户必须具备基本的维护保养常识。例如每日测量前测量白板校正，每次更换基材时需要重新测量白场，每年需要专门送第三方进行检验。此外对于外表、光学元件的专业清洁手法也必须掌握。

在日常的分析中，我们发现好多测试人员只会测试，根本不会校正仪器？大家可以讨论讨论小仪器如何校正，比如pH计和电导率仪等仪器设备。

武汉有做仪器校正检测的可以联系一下我，现在有一批设备需要检测，有做校正的厂家请联系我。

各位大神，小弟XRF小白新手一枚，请教各位，漂移校正除了用一起自带的监控样品进行校正外，其他的α校正、β校正方法，都怎么做，具体操作方法如何？ 另最近在重新做标准曲线进行PHD时，钠元素的PHD校正图形很差，很杂乱，不是之前那种规律的波形的，请问该如何解决此问题？非常感谢！！！

一瓶标样A5.65g B4.32g C9.52g用面积归一发测得的结果为A39% B40% C21%，利用此试样制成校正归一发模板，各物质的量是多少。（要求C校正因子为1）

5 I角校正: 仪器调平,打开补偿器,这中是针对于有补偿器的全站及电子经纬仪的.这类仪器都是自动校正的,只需我们按步骤做就行.盘左照准目标读垂直角,再盘右位置读垂直角.然后盘左加盘右看是否是360正负15秒.如不是则需校正.方法如下: 关机然后电源加F1开机,(电源和F1同时按下,但电源只按将近不到1秒钟就行,F1不放)进入仪器校正模式,按F1垂直角校正,千万不要按F2.再过0盘左照准目标按回车, 盘右照准目标按回车,校正完毕.自己再按最先的方法再做几次看是否在允许范围内. 一台仪器如全站其校正指标共十项,但条件限制一般野外只能校正五项.

帕纳科漂移校正程序校正错误，曲线元素变化大，如何恢复到校正前？

(1)分析校正　　分析校正是为了让所测元素浓度与仪器所检测到的光强度建立起联系，就是我们常说的做标准曲线，输^事先配好的标样值，再让仪器对其进行检测，让检测值与浓度之间建立起关系曲线，未知样品浓度按照该曲线及所 刚得浓度值得出。在ICP—OES的分馓正中，检测值与浓度之间—般是线性关系。在实际工作中，存在其他元素峰对所测元素峰有干扰的情况时，可以通过调节计算方法及火焰观测方式来减小误差，提高线性相关系数。这里需要说明线性相关系数是准确度的必要不充分条件。　　(2)波长校正　　波长校正是为使实际波长同检测器检出波长相一致。大致可分为两分部：首先通调整仪器来对光谱仪进行校正，然后是通过漂移补偿的办法减少因环境的变换导致谱线产生位移。光谱校正是仪器实际测得的波长与理论波长之间出现的偏差别进行的校正，一般是通过测试一系列元素的波长来进行校正，校正后所得数据即为对光谱彼进行校正的校正数据。漂移补尝是因为光普仪光谱线位移与波长、温度、湿度、压力变化之间有非线性函数关系，这种函数关系具有普遍适用性。其中零级光谱线随波长、温度变化产生的位移最大。漂移补偿是一种常规监视过程，其原理是在进样间歇期间，监测多条氢线波长，将实际值与理论值相比较，并对误差进行补偿。

请问诸位有哪家是用PE公司2000型号的?不是此厂家的或相近的也行，只要能告我步骤是怎样的？我想请教一下:关于BEC,和检出限的校正步骤.我做出来的数值都是0.00ug/ml.我问过厂家工程师，他们说这样的数据是不对的。BEC应该小于或等于0.04,而且检出限也不应该为0.00呀.我想请问你们是如何校正的.拜托！！！

最近在做计量认证，可很多仪器都需要标样校正，而说的都是标样自备，想问下各仪器的校正标样是什么？最想了解的是XRF和GPC！如果很全的话就更好了！xian谢谢！

我们化验室的近红外仪主要是在线检测半成品和成品的。（对象是面粉）作为一个在线检测设备，对它进行校正的频率应该定为多少呢？怎样做好校正记录呢？还有是，近红外仪结果的准确性不如化学值那么准确的话，有必要把它作为生产的关键设备呢？请各位高人指点！

请教，OBLF光谱仪如何校正，可以使仪器稳定性好，C的波动小于0.03

我们实验室用的有两种水分仪，一种是国产的，每天都校正，另一种是进口的，有的实验室每天都校正，有的不是，请问大家，水分仪需要每天都校正吗？

[url=http://www.huaketiancheng.com/][b]ICP光谱仪[/b][/url]有时也会有偏差，应该如何矫正?今天小编就来为您介绍ICP光谱仪的校正方法，ICP光谱仪一般为分析校正和波长校正。　　(1)分析校正　　分析校正是为了让所测元素浓度与仪器所检测到的光强度建立起联系，就是我们常说的做标准曲线，输^事先配好的标样值，再让仪器对其进行检测，让检测值与浓度之间建立起关系曲线，未知样品浓度按照该曲线及所 刚得浓度值得出。在ICP—OES的分馓正中，检测值与浓度之间—般是线性关系。在实际工作中，存在其他元素峰对所测元素峰有干扰的情况时，可以通过调节计算方法及火焰观测方式来减小误差，提高线性相关系数。这里需要说明线性相关系数是准确度的必要不充分条件。　　(2)波长校正　　波长校正是为使实际波长同检测器检出波长相一致。大致可分为两分部：首先通调整仪器来对光谱仪进行校正，然后是通过漂移补偿的办法减少因环境的变换导致谱线产生位移。光谱校正是仪器实际测得的波长与理论波长之间出现的偏差别进行的校正，一般是通过测试一系列元素的波长来进行校正，校正后所得数据即为对光谱彼进行校正的校正数据。漂移补尝是因为光普仪光谱线位移与波长、温度、湿度、压力变化之间有非线性函数关系，这种函数关系具有普遍适用性。其中零级光谱线随波长、温度变化产生的位移最大。漂移补偿是一种常规监视过程，其原理是在进样间歇期间，监测多条氢线波长，将实际值与理论值相比较，并对误差进行补偿。

校正的定义：校正错别字，校正时间，校正仪器。改正稿件或物体中不正确的内容和性能质量。包括对稿件的事实、观点、语法、修辞、 逻辑等各方面的差错的校正，目的是要消灭一切错误信息，使稿件事实准确、观点正确、文字通顺，客观公正、真实生动地反映现实的变动。仪器校正从校准形式地点可分为仪器内校与仪器外校 仪器外校：指在将仪器外送给检测校准中心进行仪器的检测与校正。 仪器内校：指在请检测校准中心安排专业的计量检测校准人员进行仪器外的检测与校正。