莫吉司坦

硝酸纤维素(NC) 膜是蛋白和核酸杂交常用的印迹膜。Sartorius 的NC 膜是致密的100% 硝酸纤维素滤膜，是用Western、Northern 和Southern 杂交的优良滤膜。功能和优点——兼容所有标准免疫印述和核展检测方法。——100%纯度的硝酸纤维素，保证最大的蛋白结合量，200μg/cm2（lgG）——尽可能减少了非特异性的结合，不会产生杂交背 景干扰，无需高严谨度的洗脱步骤。 ——信噪比高，可得到极好的印迹结果。 ——无需甲醇预处理，转移之前，仅需在水中简单润湿， 再放人转移缓冲液中即可。——经济实惠的卷状包装，根据需要剪裁使用。应用——蛋白质从SDS-PAGE凝胶转印到膜，以进行Western杂交 ——核酸转印，以进行Northem或Southem杂交目标蛋白质的免疫检测和核酸的探针杂交——0.2um孔径:适用于低分子量蛋白(20KD)、核酸(300bp)——045um孔径 适用于高分子量蛋白(20KD)、核酸(300 bp) 订购信息产品编号产品名称尺寸11327-----41BLNC 0.22 um30cm x 3m11306-----41BLNC 0.45 um30cm x 3m Sartorius 提供四个等级的印迹用纸。极其光滑的表面、相对较厚的厚度、整个接触面积均匀，使它们在印迹实验中具有很好的吸附性和优越的痕量转移性。极等级BF 2和BF 3是由超过98%α-纤维素含量的棉短绒制成。等级BF 1和BF 4由超过95%α-纤维素含量的精炼纸浆和棉短绒制成。有筒状、片状、和圆盘状多种形式可供选择。欲了解更多内容，请在商铺中给我们留言或登陆赛多利斯官网。

货号：58供应商：广州科适特科学仪器有限公司现货状态：1个月保修期：1年数量：不限规格：1/4“，1/8”或3/16“阶梯碳或石墨棒PELCO easiShaper™ 碳棒成型机?简单，快速，精确和清洁的碳棒成型?支持1/4“，1/8”和3/16“碳棒?塑造单级和双级碳棒?集成式除尘器?符合人体工程学和节省空间的设计?易于切割刀片调整PELCO easiShaper™ 是一种电动机驱动的碳棒磨机，可为碳蒸发器提供简单，快速和清洁的碳棒成型，使用1/4“，1/8”或3/16“阶梯碳或石墨棒。 easiShaper™ 产生比任何手动成型机更加一致，光滑和均匀的碳纤维尖端。它设计用于切割单级和双级碳棒（用于Cressington碳涂布机）。切割尖端包含两个碳化钨切割刀片，顶部导向轴承涡流设计，以保持集尘器中的碳粉。包括一个刀片设定量表，可以一步一步地将切割刀片设置为1mm（0.039“）或两步，1.65mm（0.065”）和3.8mm（0.15） “）。PELCO easiShaper™ 碳棒成型机非常适合繁忙的多用户实验室，高通量微探针实验室，并为手柄成型机提供了一种清洁的替代方案。PELCO easiShaper™ 碳棒成型机包括一个碳棒支架，用于常见的?“碳棒。额外的1/8”和3/16“碳棒支架可供选择。碳棒支架固定碳棒，是插入顶部导向轴承，生产精密切割尖端。集成的碳粉尘收集器易于拆卸，便于清洁和/或调整叶片。设备的垂直设计使操作更加轻松，节省宝贵的空间。通用电源适用于100-240V和50 / 60Hz.UL认证和CE认证。 产品规格碳棒尺寸：1/4“，3/16”和1/8“形步骤：单步或双步切割刀片：转速2350转切刀速度：转速2350转高度：168毫米／6 5 / 8”直径：4.5“114mm／收集器容量：56毫升/2ozfl湿度范围：8 -90%重量：2.07千克/4.6磅电源要求：100 - 240V，47～63Hz额定功率：1.2A@115V或0.6A@230V 产品＃描述58PELCO easiShaper™ 碳棒成型系统，100-240V58-4用于1/4“碳棒的替换碳棒支架58-5单步或双步更换刀片设定规58-8用于1/8“碳棒的附加碳棒固定器58-16用于3/16“碳棒的附加碳棒固定器58-10附加切割组件58-20更换除尘器容器57-12PELCO easiShaper™ 的替换切割刀片 两步，手碳棒成型机用于压制碳涂层的两步碳棒成形/磨削的手动工具。将石墨棒插入工具中并用手旋转两个预先设定的碳化钨切割器以实现正确的步骤。配有黄铜调节工具。产品＃描述57-10两步碳棒锋利，适用于1/4“杆（Cressington 108C和208C）57-12用于两步碳棒成型器的替换刀片，用于1/4“杆 一步，手碳棒成型机简单的手工工具，用于将碳棒磨成1毫米的圆柱形尖端。将杆插入工具中并用手将其旋转到可调节的碳化钨切割器上至所需长度。产品＃描述57手工碳棒成型机，适用于1/8“尺寸（3mm）棒材57-2手动碳棒成型机，适用于1/4“尺寸（6.2mm）杆57-8碳棒成型机的刀具更换可能的碳尖杆形状及其设置。下图是几种常见的形状。碳粉高纯度+/- 2ppm，两种类型4盎司。（113克）包石墨形式的细碳粉。极高纯度，微量元素低于2 ppm。微量元素可以是Si，Al，Fe，Mg，Ca或B.石墨片尺寸为200目（75％至100目）。可用于造粒或与树脂或环氧树脂混合使其导电。售价4盎司。（113克）容器。产品＃描述SP-1天然鳞片状石墨粉，适用于造粒61-302SP-1天然鳞片状石墨粉，200目4盎司pkgSP-2合成石墨混合级61-304SP-2合成石墨粉，200目4盎司pkg 碳纤维和碳蒸发线有3种不同的螺纹直径这些高纯度碳纤维线或编织物用于碳蒸发器或碳涂层附件，用于溅射涂层机，设计用于碳纤维。薄碳层将作为非导电样品上的导电层，以实现无电荷成像和EDS X射线分析。当碳纤维编织物适当地附接到保持柱时，当使用从样品表面到蒸发源的相同距离时，碳纤维编织物将提供可重复的碳涂层厚度。处理碳纤维编织物以在切割成一定长度时抵抗在端部处的散开。特殊热处理还产生光谱纯碳纤维，杂质最高可达5-10ppm，这是EDS系统无法检测到的。节省了塑造碳棒的工作。根据直径，功率要求约为20V / 20A，但根据涂布机的品牌而有所不同。请参考涂布机的说明，确定最适合的碳纤维线。碳线的纯度为99.9％或更高：可能存在少量的钙和硅。碳纤维螺纹有三种螺纹直径 2.5,1.3和0.8mm。直径为2.5mm，密度为1.6g / m的较粗的螺纹广泛用于一般应用中，并且具有中等碳层厚度。这种较粗的螺纹推荐用于Quorum Technologies，SPI，Emitech，Polaron，Fisons和Technics制造的碳涂层机。对于与上述相同的碳涂层，建议使用直径为1.3mm，密度为0.7g / m的中等螺纹，但适用于需要较薄碳涂层的应用。通过使用多个螺纹可以增加碳涂层厚度。对于最薄的碳涂层，建议使用直径为0.8mm，密度为0.4g / m的较细螺纹。较薄的螺纹还表现出与Fullam，Leybold，Denton和Baltec制造的碳涂层更好的相容性。产品＃描述包装91202碳纤维，2.5毫米直径，1.6克/米3米91202-2碳纤维，2.5毫米直径，1.6克/米10米91202-3碳纤维，直径1.3mm，0.7g / m1米91202-4碳纤维，0.8毫米直径，0.4克/米1米

覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.概述：采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键操作简单，中文或英文两种语言界面选择，电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… …

导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。概述：采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键操作简单，中文或英文两种语言界面选择，电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… …

四探针粉末电阻率测试仪FTDZS-I产品名称：粉末电阻率试验仪（四探针法）产品型号：FTDZS-I参考标准：YS T 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6 部分：粉末电阻率的测定.pdfGB/T 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电导率的测定方法中用于仲裁方法的四探针法要求制作产品概述：粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国际和国家标准的要求。仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业，进行检测必备测试设备。 仪器主要技术指标： 一、测量范围：测量半导电电阻率时： 电阻率10-5--105Ω-cm；分辩率10-6Ω-cm测量其他（电线电缆）电阻时： 电阻10-4--2X105Ω，分辨率1uΩ二、 电压测量：1． 量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V2． 测量误差 2mA档±(0.5%读数+8字)；20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)3． 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。三、 恒流源：1． 电流输出：1μA 、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA．2. 电流误差：±(0.5%读数+2字)四、 测量电极：1、测量电极：四探针2、探针间距：1MM 3、电极材质：钨棒4、压片直径：2cm 面积3.142cm^25、粉末试样量：2.501g--2.5099g五、加载装置：1、加载电极1：手动加载2、加载电极2：自动加载3、传感器量程：10KN

四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪光伏测试专用美国ResMap四点探针CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67m&Omega -cm及Implant高电阻2K&Omega /□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且可以Recipe设定更换CDE　ResMap&ndash CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。 主要特点： 测量范围广,精度高,稳定性好,功能齐全强大,软件好用,维修成本低,服务好,配件齐全...美国进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪/太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪（Four point probe(4PP)）设备名称: 四点探针电阻仪 (CDE ResMap)主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap规格:1. Pin material: Tungsten Carbide.2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶圆 (表面须为平整的导电薄膜，半导体材料)设备用途: 导电薄膜的电阻值分布测量，半导体，光伏特点：1）针尖压力一致2）适用于各种基底材料3）友好的用户界面4）快速测量5）数据可存储 应用：1）方块电阻2）薄片电阻3）掺杂浓度4）金属层厚度5）P/N类型6）I/V测试

1：四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪/四探针电阻率测定仪 型号：HARTS-8HARTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。　术　　标 ： 测量范围 电阻率：10-5～105 &Omega .cm(可扩展)； 方块电阻：10-4～106 &Omega /□(可扩展)； 电导率：10-5～105 s/cm； 电阻：10-5～105 &Omega ； 可测晶片直径 140mmX150mm(配S-2A型测试台)； 200mmX200mm(配S-2B型测试台)； 400mmX500mm(配S-2C型测试台)；恒流源 电流量程分为1&mu A、10&mu A、100&mu A、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调数字电压表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　 分辨力：10&mu V； 输入阻抗：1000M&Omega ； 度：± 0.1% ； 显示：四位半红色发光管数字显示；性、量程自动显示；四探针探头基本标 间距：1± 0.01mm； 针间缘电阻：&ge 1000M&Omega ； 机械游移率：&le 0.3%； 探针：碳化钨或速钢Ф0.5mm； 探针压力：5～16 牛顿(总力)；四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证)模拟电阻测量相对误差( 按JJG508-87行) 0.01&Omega 、0.1&Omega 、1&Omega 、10&Omega 、100&Omega 、1000&Omega 、10000&Omega &le 0.3%± 1字整机测量相对误差(用硅标样片：0.01-180&Omega .cm测试)&le ± 5%整机测量标准不确定度 &le 5%计算机通讯接口 并口，速并行采集数据，连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒（在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程档时）。连接电脑使用时带自动测量 能，自动选择适合样品测试电流量程；标准使用环境 温度：23± 2℃； 相对湿度：&le 65%； 无频干扰； 无强光直射；配置 四探针测试仪主机、探针台、四探针探头、 2：多种气体采样器/多种气体取样器/多种气体出样器（100ml） 型号：HAD/CZY-100产品介绍：主要用于检查空气中各种气体的含量。配合气体检测管使用。配套使用检测管的方法及优势：1、用砂片稍用力将检测管两端各划圈割印。2、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端，沿切割印掰断，用同样方法掰断另端。3、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端（防止漏气），插入所要检测标注的气体通道口上（稍用力插紧）。注意方向性，箭头方向代表气体流过方向。4、将所需检测的若干项的检测管，按以上方法均插好之后，接通电源，即可正常使用。5、调节所需检测气体对应的时间控制器，使其符合标（见附表）。6、检测结束，拔出检测管。7、手持检测管箭头朝下，并垂直于地面放在与目光基本不平的位置，观察管上颜色变化所刻度，既为被检测气体的浓度。 （1）双重优点：测量气体的检测管实际是将化学分析方法仪器化，是种定量、定性、定值的检测方式,具有化学分析和仪器分析的双重优点。（2）适应性好：检测管现有Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ三种，从零点到几个PPM（10-6）到百分之几十，适用范围很大，为分析作提供了很大方便。（3）操作简便：为专业检验人员提供了很大的方便，操作人员按照使用说明书操作方法行测试即可。（4）使用安：使用时手动操作，无需要电源、热源，在有易燃易气体存在的场所能安使用。（5）分析速度快：由于操作方便，使得每次分析所需时间大为缩短，般仅需十几分钟即可得知结果，其分析速度是何化学分析和仪器方法不能比拟的。（6）测量度：在检测管含量标度的确定上模拟了现场分析条件，采用不同标准气标定，克服了化学分析中易带入的方法误差。同时减少了人为误差。 温馨提示：以上产品资料与图片顺序相对应。

冠测粉末电阻率测试仪（四探针法）FTDZS-I产品概述：粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国际和国家标准的要求。仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业，进行检测必备测试设备。

冠测粉末电阻率测试仪（四探针法）FTDZS-I产品概述：粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国际和国家标准的要求。仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业，进行检测必备测试设备。

FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm 3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

碳滑板上部碳摩擦磨损试验机MCTH500@一、主要适用范围及功能设备用于测试碳滑板上部碳在通电状态下与导线之间摩擦产生的损耗，碳滑板在额定电流、电压下高速运动与静止的导线相对运动，并规定碳滑板与导线的接触力；当达到设定里程数值后，设备自动停止；此时可以观察碳滑板的磨损程度来确定碳滑板的耐磨性能要求。二、使用环境1、海拔高度：≤1000m2、环境温度：-30～40℃；3、环境湿度：≤85％R.H.；4、大气压力：80～120kPa；5、供电电源：220±10%VAC / 5 0±0.5Hz / 20KW6、环境要求：设备四周60cm空间距离，附近没有强电磁辐射源，无可燃性气体、粉尘或混合的环境下使用。7、耐地震能力：地面水平加速度：3m/s2；地面垂直加速度：1.5m/s2；8、接地电阻：＜1Ω9、安装地点:室内10、设备尺寸：长1500毫米宽1000毫米高1700毫米（仅供参考，实际尺寸以实物设计完毕后的尺寸为准）11、设备重量：600千克三、主要技术要求1.碳滑板的固定夹具：碳滑板静止放置，固定支架材质铝合金，固定架通过螺丝碳滑板上下放置。2.碳滑板上下运动：碳滑板的上下运动采用伺服电机旋转运动转换为往复运行，碳滑板的上下运动行程以及上下运动频率可以设定，满足往复行程100毫米（200千米/小时≈3334米/分钟 3334/40≈84）3.碳滑板与导线接触力：碳滑板与导线接触力通过吊装砝码来实现，接触力为30到150N之间。4.导线旋转运动：旋转运动采用10KW伺服电机通过联轴器直接与转盘连接，转盘直径420毫米，转速2600转/分钟5.通入电流：设备通入的电流采用调压器与大电流发生器实现不同电流的测试（交流）大电流发生器参数：输入220V输出5V，500A，容量3KVA6.电流的调节：电流调节采用伺服电机带动，自由设置通入电流数值。7.导线修正：设备配有导线表面修复清理功能，采用气动装置带动镶有砂布的装装置的机构与导线接触来清理并修成导线8.导线径向跳动检测：转盘上带有刻度0-360度，千分表与转盘的导线接触，转盘的旋转的跳动通过千分表来反应出来9.设备控制：设备通过PLC来控制，设备操作与显示通过电脑来实现10.设备操作：电压、电流与转速实时显示有电脑来完成，并通过计算绘制实时曲线，测试完毕后可以导出EXCEL表格，即表格为每个时刻对应的电压、电流与转速。11.吸尘装置：在试验过程中磨损产生的灰尘通过吸尘器将灰尘清理掉四、设备参数1.转盘：1）转盘直径420毫米，转速2600转2.滑板运动：上下运动行程100毫米，频率为90次/分钟3.接触力：砝码加载30N至150N4.通入电源：5V/500A5.径向跳动检测：千分表实时读取6.数据曲线：电流、电压与转速自动绘制曲线并导出Excel表格7.灰尘清除：吸尘器清理，功率3KW

Ossila 四点探针系统是一种易于使用的工具，用于快速测量材料的薄层电阻，电阻率和电导率。Ossila四点探头以高规格的Ossila源测量单元 为核心，可实现广泛的测量范围。探头使用弹簧加载的触点而不是锋利的针头，防止损坏易碎的样品，例如厚度为纳米量级的聚合物薄膜。包括一个四点探头、内置源测量单元、易于使用的 PC 软件和 ITO 镀膜玻璃基板。一．含义四点探针台是测量材料薄层电阻最常用的设备。薄层电阻是材料的电阻率除以其厚度，通过导电/半导体材料的薄方块表示横向电阻。该测量使用排列成一条线的四个探头，每个探头之间的间距相等。电流在外部两个探头之间传递，导致内部两个探头之间的电压降低。通过测量电压的变化，可以计算出薄层电阻。二．主要特点1.宽电流范围：四点探头能够提供 1 μA 至 200 mA 的电流，并且可以测量低至 100 μV 至 10 V 的电压。该系统可以测量 100 mΩ/平方米 至 10 MΩ/平方米 范围内的薄层电阻，从而能够表征各种材料。2.易于使用：只需插入系统，安装软件即可使用。直观的界面和简洁的设计使四点探头易于使用，简化了薄层电阻的测量。可以使用各种形状和尺寸的基板。3.高精度：可以使用PC软件进行正极性和负极性测量。这使您能够计算正电流和负电流之间的平均薄层电阻 - 消除可能发生的任何电压偏移，从而提高测量精度。4.无损检测：四点式探头在设计时考虑了精密样品的测量，采用镀金、温和的弹簧加载触点和圆形尖端。这导致60克的恒定接触力，防止探头刺穿脆弱的薄膜，同时仍然提供良好的电接触。5.节省空间的设计：通过仔细的设计考虑，我们已经能够将四点探头的占地面积保持在最小（总工作台面积为14.5 cm x 24 cm），即使在货架空间有限的繁忙实验室中也可以使用。6.快速材料表征：PC软件（随系统提供）可执行薄层电阻、电阻率和电导率的所有必要测量和计算，使材料表征变得毫不费力。它还会自动执行校正因子计算。配备软接触式探头Ossila 四点探头系统通过三个功能减少了损坏脆弱薄膜的可能性。用于接触的探头具有圆形尖端（与其他探头不同，探针像锋利的针头）。这些圆形尖端的半径为0.24 mm，使探针的接触表面积比针头大，因此分散了施加在样品上的向下力。这些探头镀金并安装在弹簧上，以鼓励电接触而不会用力过大，因为它使它们在与样品接触时能够缩回探头头中，以确保施加 60 克的均匀力。探头的示意图如下图所示。探头可以在这里 单独购买。请注意，此系统不适用于硅或其他自然形成绝缘氧化层的材料。为了测量此类材料，需要通过探头穿透氧化层，而该系统使用的弹簧加载的圆形尖端探头可能无法做到这一点。三．应用薄层电阻是材料的重要特性，通常用于材料表征和薄膜器件的开发，如钙钛矿太阳能电池或有机LED。1.材料表征：电阻率是材料的固有特性，也是重要的电性能。它可以通过测量已知厚度薄膜的薄层电阻来确定，这使得四点探头测量成为材料电气表征的关键技术。2.薄膜太阳能电池和LED：薄膜器件需要横向传输电荷的薄导电电极才能提取，因此需要具有低薄层电阻的材料来减少潜在损耗。当试图扩大这些设备的规模时，这一点变得更加重要，因为电荷必须沿着电极进一步传播才能被提取。四．规格

功能特点：极速扫描：VASTnavigator◆PRISMOnavigator可极速获取最为精确的测量结果。navigator技术是为蔡司所研发的高速高精度扫描技术。智能优化参数设定以确保测量的精确性。得益于切线逼近扫描、螺旋扫描和测针快速动态校准等功能，可进一步缩短测量时间。计算机辅助精度修正（CAA)◆PRISMOnavigator可实现对测量机动态误差的有效补偿，从而确保即便于高速扫描过程中仍可获得理想的测量精度。在线测量◆PRISMO亦适用于贴近于生产区域的在线测量，有效避免往返实验室的周折，得益于蔡司对于关键组件的多年研发经验及完美结合。机械技术◆采用碳纤维和工业陶瓷材质的桥框拥有最为轻质化的结构和良好的抗扭强度◆不受温度影响的玻璃陶瓷光栅尺技术◆所有轴向均采用蔡司四面环抱轴承技术。◆出色的减振系统以及采用全封闭式导轨及光栅尺可用于车间在线测量◆工件最大重量5,000kg起蔡司PRISMOultra◆蔡司PRISMOultra在蔡司PRISMOnavigator基础上进一步提高了测量精度。通过更为精确的量程、优化的气浮轴承设计、气浮减振技术和所有组件更为严格的适配获得优异的测量精度。蔡司PRISMOultra可完美适用于科研、质量控制各类计量标准器等领域的测量任务。多探头平台技术◆蔡司PRISMOnavigator采用蔡司的多探头平台技术（MASS）。借助于该技术可实现一机多用，在同一测量机上满足固定式测头，旋转式测头甚至光学测头的使用，使用方便快捷。选项:RT-AB转台◆转台是三坐标测量机的理想选择——尤其适用于测量轴类，轴承，齿轮等回转型工件。RT-AB转台采用气浮轴承支撑，其理想的径向和轴向跳动值以及直接驱动方式令人印象深刻。RT-AB转台支持嵌入式或外置式使用，可据承载进行较优设定，基于CAA技术有效实现优异的测量精度。RDS-CAA◆RDSCAA旋转式测头座可有效缩短测针校准时间，实现快速校准。技术参数：测量范围空间精度（um)X（mm）700 900 1200 1600自0.5+L/500um起Y（mm）900 1200 1500 1800 2400 3000 4200Z（mm）500 650 1000

T0004四角锥形耐磨测试仪，这款仪器用于测试地毯表面结构的机械性能。测试时，与样品方向一致的四角锥体的圆柱筒转动。经过一定时间的旋转以保证四角锥体能全部接触到样品。测试完毕后，再将样品与产品进行比较，以判断耐磨特性。 应用: 所有厚度不大于20mm的地毯类产品 产品特点:5位计数器四角锥体滚轮：950±20g速度：50±2rpm进行水平方向上的旋转有机玻璃保护罩 参考标准: ISO/TR 6131 选配件: 厚度表 电气连接:220/240 VAC @ 50 HZ or 110 VAC @ 60 HZ(可根据客户需求定制) 外形尺寸: H: 300mm W: 750mm D: 300mm重量: 20kg注:因技术进步更改资料,恕不另行通知,产品以后期实物为准。

ST2722-SZ型四探针法粉体粉末电阻率测试仪产品信息名称：ST2722-SZ型四探针法粉末电阻率测试仪品牌：苏州晶格产品特点 ST2722型半导体粉末电阻率测试仪是四探针法测试粉末电阻率的测量仪器。 四探针法测试台设计符合符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。 四探针法同步压力连续测试粉末“电阻率-压强曲线，” 原厂专利产品，行业粉末电阻率标准测试方式。产品特写图 操作-加料准备 操作-加料完毕 操作-调节料杯容量控制加料量 读取-电阻率值和测试压强条件参数 二、概述 2.1基本功能和依据标准： ST2722型半导体粉末电阻率测试仪是运用四探针法电阻率测试仪与自动化粉末压片机相组合，测试粉末“电阻率-压强”特性曲线的集成化、智能化测量仪器。四探针法符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。2.2仪器成套组成：整套仪器有ST2722电阻率测试仪主机和SZ或SD型粉末压片机两大部分以及配套的电脑软件组成。 主机是整个系统电气控制显示主要部分，主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统单元以及压力、厚度显示单元、与PC机通讯单元等组成。压片机压片机由粉末标准容器、电极、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成。是粉末压片成型装置，用来装夹粉末（含高分子粉末和金属粉末等），进行压力施加（压片）和自动压力检测、高度检测。（以下简称压片机）。2.3优势特征： 1)测试仪设计，符合国标和行业规范，获国家专利。专利号：ZL201220082173.9 ST2722-SZ四探针法设计符合***新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。2)同步式连续多点测试，高效快捷、准确度高、重复性好。一次装料，电阻率、压强、高度同步式连续多点测试，可快速绘制粉末“电阻率-压强”曲线。行业推荐粉末电阻率标准测试方式。可避免传统异步式的先压片脱模后再四探针测试的缺项：误差大，重复性差，直至散块不能成形无法测试的问题。3)带智能化电脑软件.可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。4）USB通讯接口，通用性好、方便快捷。优于RS232或485方式，这些端口一般电脑都难配了！5）8档位超宽量程。同行一般为五到六档位。6）可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体化。操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数码键盘输入。7）可拓展功能：压片机可独立当普通压片机用，电阻率测试仪也可以增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪。2.6适用范围： 本仪器具有操作简便高效、测量精度高、稳定性好、重复性好，一机多用使用方便等特点。也是区别于以往旧款同类测试台新特点！ 本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。三、技术参数3.1.电阻率测量范围、分辨率电 阻 率：10.0×10-6～ k×200.0×103Ω-cm 分辨率1.0×10-6～ 0.1×103Ω-cm,k=1～103.2.电阻率量程划分及误差等级满度显示200.020.002.000200.020.002.000200.020.00量程KΩ-cmΩ-cmmΩ-cm基本误差±2%读数±4字±1.5%读数±4字±0.5%读数±2字±0.5%读数±4字3.3.数字电压表：⑴量程：10mV ～ 100 mV，自动⑵显示: 4位有效数字，显示999.9，小数点、单位自动显示3.4.数控恒流源8档宽量程电流输出：系统自动步进调整，直流电流0.1μA，1.0μA，10μA，100μA，1.0mA,10mA,100mA,1.0A共8档可调。3.5.粉末测试台部分参数：（1）试样成份：成份不限，但不得含有对测试台和电极有腐蚀作用的成份。（2）试样粒度：推荐以40目以下—60目以上（标准筛网），一般其他粒度也可！（3）料杯容积：截面：S=1.0cm2 高度：0～20mm可调,（4）自动高度测试单元，测量误差：±0.02mm。 四位有效显示数00.00～20.00mm，分别率±0.02mm。（5）自动压强测试单元，标准压强：P0=4Mpa±0.05Mpa。 压强量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可调。四位有效显示数00.00～20.00MPa，分别率±0.01 MPa。（6）、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。3.6.配套PC软件1 USB高速通讯接口。2带数据库方式存储数据，便于历史查询和第三方软件拓展共享。3自动生成excel形式的图表结合的测试报告,包含电阻率-压强曲线图形和详细测试数据。4带测试报告预览、编辑、打印功能。3.7.测试仪外形与重量前宽×长×总高=250mm×220 mm×540mm重 量=10Kg3.8.电源：功 耗：10W输入:220V±10% 50Hz3.9.本仪器工作条件为：温 度： 0-40℃相对湿度： ≥60%工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源。

Moxtek公司成立于1986年，分为X射线部门和光学器件部门，是全球知名的高科技企业，为客户提供创新的产品应用方案。Moxtek生产的Si-PIN探测器基于公司超低噪声的JFET电路及优异的铍窗技术研制而成，主要应用于手持式或台式X射线荧光光谱仪中，作为能量分辨的探测器。XPIN-BT探测器主要技术指标有效探测面积：6 mm2 、 13 mm2硅片厚度：450um、625um铍窗厚度：8um、25um准直器材料：W/Co/Ti/Al能量分辨率：6 mm2 170eV FWHM 13 mm2: 230eV FWHM峰背比：6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical) 13mm2: 3000/1 @1keV (typical)型号的选择

Moxtek公司生产的Si-PIN探测器基于公司超低噪声的JFET电路及优异的铍窗技术研制而成，主要应用于手持式或台式X射线荧光光谱仪中，作为能量分辨的探测器。 XPIN-XT探测器主要技术指标有效探测面积：6 mm2 、 13 mm2硅片厚度：450um、625um铍窗厚度：8um、25um准直器材料：W/Co/Ti/Al能量分辨率：6 mm2 170eV FWHM 13 mm2: 230eV FWHM峰背比：6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical) 13mm2: 3000/1 @1keV (typical)型号的选择

YL系列电子压力计是我公司通用的高精度存储式电子压力计，可以适应各种井下高温、高压、高震动、高腐蚀等恶劣环境。广泛用于各种静压、流压、压力检测等井下压力测试工作。 该系列仪器具有测量精度高、 操作简单方便、 易维护的特点， 并且仪器已获得国家实用新型专利证书。存储式压力计由传感器、记录和供电三部分组成。传感器部分包括压力传感器和温度传感器两部分， 分别用来将井下的压力、 温度转成电信号； 单片计和存储器构成记录部分， 对传感器产生的信号进行采样并保存； 供电采用美国进口高温高能电池。产品特点：压力计是采用进口高集成度IC芯片及元器件， 单片机软件上采用了多重安全保护措施和WATCHDOG技术， 大大简化了电路中的分立元器件数量， 所以仪器的长期稳定性和可靠性非常高。压力传感器选用瑞士和美国产的压力传感器， 其优点是：零点蠕变小，温漂重复性好。传器性能一致性好、灵敏度高、迟滞小、测量精度高。所有元器件和压力传感器在生产过程中均通过进行严格的温度冲击测试进行筛选，保证了仪器长期工作的稳定性。连接螺纹采用比较流行的埃克姆梯形螺纹结构， 挂接力强，并且在任何恶劣环境下使用也不会咬扣， 适应油田现场环境使用。西安思坦仪器依托强大的仪器生产制造能力、多品类的仪器库及遍及国内各大油田的销售和技术支持网络，搭建了仪器共享租赁平台。您可以选择“中短期租赁”，也可以选择“先租后买”，方式灵活，您可以租赁您需要的石油仪器，也可以把您闲置的石油仪器在这里展示出租，帮您节约成本，提高资源利用效率。共享租赁的优势：1、减少企业开支2、快速获取所需仪器3、无需承担维修费用4、避免复杂的行政审批5、提高仪器利用率，获取额外收益6、合理节税为什么选择思坦仪器租赁平台：1、测井、试井等油、气田仪器生产商，30余年的仪器研发、制造及销售经验。2、各类仪器已广泛应用于国内外各大油气田，获得油气田客户的深度认可，性能优异。3、公司可提供仪器免费送货服务。4、公司可供优惠的租赁价格。5、国内各大油田均有售后团队，能快速提供现场指导及支持。6、国内各大油田均有销售网络，能快速直达用户。如果您有存储式电子压力计租赁需求，可以私信小编。来源:[西安思坦仪器股份有限公司]() 原文地址：，转载请注明出处。

这款四点探针系统是一款易于使用的工具，用于快速测量材料的薄层电阻，电阻率和电导率。 通过使用我们自己的源测量单元，我们能够创建一个低成本的系统，使测量范围更广泛。 探头采用弹簧加载接触，而不是尖锐的针头，防止损坏精密样品，如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。 四点探针系统为您的研究提供以下益处：? 广泛的薄膜电阻测量范围，从10mΩ/□到10MΩ/□? 弹簧加载的探针保护易损的样品免受损坏? 体积小巧，可用于空间有限的繁忙实验室? 易操作的PC软件，用于薄膜电阻，电阻率和电导率的测量? 使用自动校正因子计算加快材料表征? 使用保存设置可轻松重复测量 特征：广泛的测量范围 - 四点探头能够提供10 nA-100 mA的电流，并且可以测量低至100μV-10 V的电压。广泛的薄层电阻测量范围，从10mΩ/□到10MΩ/□，可表征多种材料。 非破坏性测试 - 设计时考虑到了精密样品的测量，四点探头采用镀金弹簧接触圆头， 60克的恒定接触力，防止探针刺破脆弱的薄膜，同时仍能提供良好的电接触。 节省空间的设计 - 通过垂直堆叠组件，我们能够将四点探头的占地面积降至最低（总台面面积12 cm x 30 cm），甚至可以在缺乏货架空间的实验室中使用。 易于使用 - 只需插入系统，安装软件，即可开始使用！ 直观的界面和清洁的设计，简化了薄膜电阻的测量。 快速材料表征 - PC软件可执行薄膜电阻，电阻率和电导率所有必要的测量和计算，从而使材料表征变得毫不费力。 不要忘记保存您的实验数据 - 用于测量的设置会与数据一起保存，从而轻松查看实验的详细信息。 此外，这些设置文件可以通过相同的软件加载，加快重复测量和材料表征。 用更少的时间重复测量，您的研究成果可以显着增加应用示例：材料特性 - 电阻率是材料的固有特性，也是重要的电学特性。 它可以通过测量已知厚度的薄膜薄层的电阻来确定，这使得四点探针测量成为材料电特性的关键技术。 薄膜太阳能电池和发光二极管 - 薄膜器件（如钙钛矿太阳能电池或有机发光二极管）需要薄的导电电极，横向输送电荷以进行提取。 因此，需要低表面电阻材料来减少这个阶段的潜在损失。 当试图放大这些设备时，这变得更加重要，因为电荷在它们可被提取之前，不得不沿着电极方向行进。测量规格电压范围100μV至10 V当前范围10 nA到100 mA薄层电阻范围10mΩ/□至10MΩ/□测量精度 ±4%测量精度±0.5%

美国Denton金/碳镀膜机 丹顿真空公司位于美国费城，是世界著名真空镀膜设备制造商。从1964年成立至丹顿已为全球客户制造了数千台多种规格的蒸发设备、溅射和PECVD镀膜系统，用于大工业生产、科研开发和小规模制造。丹顿用于科研开发和小规模制造的中小型镀膜设备据美国市场占有率之首。Desk V HP 专用电子显微镜样品制备 – SEM TEM FE-SEM 金/碳镀膜机特点● 内置泵系统● 极短的沉积时间● 一致的沉积参数● 图形界面彩色触摸板● 薄膜厚度控制● 样品清洁的蚀刻模式● 多样靶材材料选择● 更多可选功能

ST2742B型 四探针法电动粉末电阻率测试仪产品信息名称：ST2742B型四探针法[四端子法]电动粉末电阻率测试仪品牌：苏州晶格产品特点ST2742B型 电动粉末电阻率测试仪 是运用四端子法 或四探针法 测试粉末“ 电阻率-压强 ” 性能曲线的测量分析仪器。四端子法符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有关国标和行 业标准。采用国际通用的电流、电压四端子测量法（仪器电流源和电压表两个单元分别从独立回路连至电极同时和样品接触），可以消除电极与连接导线导通电阻产生的误差，克服了传统的二端法测量粉末电阻率仪器的弊病，可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性也好。 四探针法测试台设计符合 符合 ***新GBT 30835 -2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551 - 2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A. S . T .M 标准。 四探针法同步压力连续测试粉末“ 电阻率-压强曲线， ” 行业粉末电阻率标准测试方式。产品软件界面二、概述 2.1基本功能和依据标准： ST2742B型 电动粉末电阻率测试仪 是运用四端子法 或四探针法 测试粉末“ 电阻率-压强 ” 性能曲线的测量分析仪 仪器组成：整套仪器有四探针（四端子）主机和电动粉末测试台两大部分组成。 主机：是整个系统电气控制显示核心部分，主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统单元以及压力检测、厚度检测、彩色液晶显示窗口等单元组成。 粉末测试台：是连接测试主机，用来装夹半导体粉末（含高分子粉末和金属粉末等），进行电动自动压力施加（压片），并同步进行电阻率测试的装置（以下简称测试台）。 测试台为粉末标准容器、电极、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成。 2.2优势特征：1)测试台设计，符合国标和行业规范。有如下两款： 四端子法符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有关国标和行业标准。采用国际通用的电流、电压四端子测量法（仪器电流源和电压表两个单元分别从独立回路连至电极同时和样品接触），可以消除电极与连接导线导通电阻产生的误差，克服了传统的二端法测量粉末电阻率仪器的弊病，可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性也好。 四探针法测试台设计符合 符合 ***新GBT 30835 -2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551 - 2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A. S . T .M 标准。 四探针法同步压力连续测试粉末“ 电阻率-压强曲线， ” 行业粉末电阻率标准测试方式。 2）仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由彩色液晶屏直接显示。 3）压力机构采用电动执行，压力（压强）平稳可调、可保持。电子传感器自动同步检测、显示压力（压强）值和样本高度值。故本测试台可一边加压一边同步测试电阻率，可方便测绘粉末样品 “电阻率-压强”的性能曲线；也可以单独作为粉末压制成片的工具使用。 4）本测试仪配有成套PC软件，故不但可以单独（脱机）操作，还可以连接PC软件，自动保存当前测 试数据、查询并统计分析历史数据、打印测试报告等！ 2.3适用范围：本仪器具有测量精度高，操作简便、稳定性好，重复性好，一机多用使用方便等特点。也是区别于以往旧款同类测试台新特点！本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。 三、技术参数3.1.电阻率测量范围、分辨率电阻率:15.0×10- 6 ～200 . 0×10 3 Ω-cm 分辨率1 . 5×10-6 ～0. 1×103 Ω- cm （1 .0×10-6 ～200. 0×101 Ω- cm 分辨率0 . 1×10-6 ～0 .1×101 Ω- cm） 3.2.电阻率量程划分及误差等级满度显示200.020.002.000200.020.002.000200.020.00量程KΩ-cmΩ-cmmΩ-cm基本误差±2%读数±4字±1.5%读数±4字±0.5%读数±2字±0.5%读数±4字 3.3.数字电压表：⑴量程：10mV ～ 100 mV，自动⑵显示: 4位有效数字，显示999.9，小数点、单位自动显示3.4.数控恒流源电流输出：直流电流0. 1mA～1000mA可调，系统自动步进调整。3.5.粉末测试台部分参数：（1）试样成份：成份不限，但不得含有对测试台和电极有腐蚀作用的成份。 （2）试样粒度：推荐以40目以下～60目以上（标准筛网），一般其他粒度也可！ （3）试样容器：内径：φ11 .28mm（S=1. 0cm 2） 高度：0～20mm可调,带高度传感器监测，测量误差： ±0. 02mm。 （4）测试压强 压强量程：30Mpa, P=0～30 Mpa可调。 （5）压力机构采用电动操作、压力平稳可调。压强可以阶梯式、多点预设，一次性自动完成。 四位有效显示数00 . 00～30 .00MPa，分别率 ±0 . 01 MPa。 3.6.测试仪外形与重量前宽×长×总高=300mm×310 mm×470mm重 量=15Kg3.8.电源：功 耗：50W输入:220V±10% 50Hz3.9.本仪器工作条件为：温 度： 0-40℃相对湿度： ≥60%工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源。

最高温度 1650°c测量范围 0.1mΩ-100MΩ温度精度 ±0.25°c最快测量 6.4ms更多功能 高温四探针、退火高温I-V特性测试高温真空测量高温气氛测量高温烧结/退火高温四探针测量 消除电网谐波对采集精度的影响高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，参考美国 A.S.T.M 标准设计。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的精确度，同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 搭配Labview系统开发的Huacepro软件，具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合功能材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。 源测量仪器的精密耦合特点相对分立仪器具有许多优点。例如，它具有更短的测试时间，通过减少GPIB的流量并简化了远程编程接口。它还保护被测设备在偶尔过载、热失控等情况下不被损坏。电流源和电压源都可设置回读使器件测量完整性最大化。如果回读达到可编程容限的极限，那么该源就被钳位在此极限，从而提供错误保护。 华测系列阻抗分析仪是华测仪器电子事业部采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的最新高度。也彻底超越了国外同类仪器，在测量10Hz-50MHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。得益于先进的自动平衡电桥技术，在10Hz-50MHz的频率范围可以保证0.05%的基本精度。 快达5ms的测试速度及高达50M的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规端配置的仪器向下扩展了十倍。 消除不规则输入的自动平均值功能 更强数据处理及内部屏蔽华测近红外高温炉配合吉时利数字源表进行四探针电阻测量，让测试更加稳定可靠，吉时利数字源表系列专用于要求紧密结合源和测量 的测试应用。全部数字源表型号都提供精密电压源和电 流源以及测量功能。每款数字源表既是高度稳定的直流 电源也是真仪器级的6位半万用表。此电源的特性包括 低噪声、精密和回读。此万用表的功能包括可重复性高和低噪声。最终形成了紧凑、单通道、直流参数测试仪。 在工作时，这些仪器能用作电压源、电流源、电压表、电流表和欧姆表。源和阱（4象限）工作，0.012%基础测量精度（6位半分辨率）。 2线、4线电压源和测量感测1700读数/秒（4位半分辨率），通过GPIB通过/失效比较器用于快速提供高速感测线接触检查功能，在半导体、功能材料行业吉时利数字源表是适于特性析和生产测试等广泛应用的重要源表。目前国内高温加热大都为管式炉或马弗炉，主要原理为加热丝或硅碳棒对炉体加热，加热与降温过程速度慢，效率低下。也无法实现温度的高精度测量，加热区域也存在不均匀的现象，华测仪器通过多年研究开发了一种可实现高精度，高反射率的抛物面与高质量的加热源相配置，在高速加热及高速冷却时，具有良好的温度分布。 可实现宽域均热区，高速加热、高速冷却 ，用石英管保护加热试样，无气氛污染。可在高真空，高纯度气体中加热 。设备可组成均热高速加热炉，温度斜率炉，阶段加热炉。 它提高了加热试验能力。 同电阻炉和其他炉相比，红外线反射炉节省了升温时间和保持时间及自然冷却到室温所需时间，再试验中也可改写设定温度值。从各方面讲，都节省试验时间并提高实验速度。 同高频炉相比，不需特殊的安装条件及对加热试样的要求。同电阻炉一样安装简单，有冷却系统安全可靠。以提高试验人员的工作效率，实现全新的温度控制操作！高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。 1、高速加热与冷却方式高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。2、温度高精度控制近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用，可以精确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外，冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。3、不同环境下的加热与冷却加热/冷却可用真空、气氛环境、低温（高纯度惰性气体 静态或流动），操作简单，使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。 更强的扩展能力，实现一机多用█ 多功能真空加热 炉，可实现高温、真空、气氛环境下电学测试 █ 采用铂金材料作为测量导线、以减少信号衰减、提高测试精度 █ 设备配置水冷装置，降温速度更快、效率更高█ 可实现高温下四探针电阻谱等测量功能█ 进口温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更精准█ 近红外加热，样品受热更均匀，不存在感应电流，达到精准测量█ 10寸进口触摸屏设计，一体化设计机械结构，更加稳定、可靠 █ 采用进口高频测试线，抗干扰能力更强，采集精度更高█ 99氧化铝陶瓷绝缘，配和铂金电极夹具█ huace pro 强大的控制分析软件与功能测试平台系统相互兼容温度范围： RT-800 (最高1650)°C 控温精度：±0.25°C 升温斜率：10°C/min（可设定） 测试范围 : 0.1mΩ-100MΩ 加热方式：近红外加热 冷却方式：水冷 输入电压：110~220V 样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm 电极材料：碳化钨针 夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷 测量方式：直接四探针 测试功能：I-V、R-T等 数据传输：4个USB接口 设备尺寸：600x500x350mm动态测量范围：电流：10pA to 10A 电压：1µ V to 200V四象限工作 0.012%的精确度，5&half 的分辨率 可程控电流驱动和电压测量钳位的 6位线电阻测量 在4&half 数位时通过GPIB达1700读数/秒 可选式接触检查功能

冠测粉末电阻率测试仪（四探针法）FTDZS-I产品概述：粉末电阻率试验仪主要用于测量粉末材料电阻率试验的专用仪器.由于粉末材料的密实度不同,在松装和振实密度条件下,所测试得到的数据是不同的,所以测试粉末电阻,要求在规定的压力条件下进行测试.便于进行有效数据的测试及对比.仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量试验设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布局合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，完全符合国际和国家标准的要求。仪器适用于导体粉末、半导体粉末、炭素材料等行业，进行检测必备测试设备。

德国ZOZ公司多年来专注于机械化合金,反应研磨和高能量研磨设备的开发。其独立研发生产的 ZOZ Simoloyer 系列球磨机具有高能量输入、极短的操作时间和极低杂质引入等独到优势，是科研工作者的好帮手。德国 KIT 、美国橡树岭国家实验室、京都大学、首尔大学、哈工大等国内外多家研究机构都在使用该系列高能球磨设备。截至目前，ZOZ公司已经给中国数十家研究机构和企业提供了 Simoloyer 系列高能球磨机，广泛用于氧化物弥散强化合金 (ODS), 储氢材料，金属基复合材料，纳米晶体材料，非晶体材料，片状粉末，磁性材料，轻量化合金，电池、电力材料等的研发和制备。简要特性研磨介质的相对速度高干法(主要)和湿法加工，可扩大规模(简单；从实验室规模到工业规模)碰撞原理 (不仅为剪力和摩擦力)可替换的研磨单元可适配不同的传感器系统在可控的/紧密的环境 (如在氩气、氢气、空气) 和真空下加工在可控的环境 (和真空)下完整地处理粉末材料自动批量和连续加工在可控的环境 (封闭系统)下进行加工流程优势速度加快高达 50/100/1000 倍100%粉末产量(也是一直以来的目标)循环操作 (非连续的加工)加工过程稳定性 / 几乎可无粉尘地处理也可湿法研磨降低人力消耗(自动批量 / 连续加工)产品优势产物品质高，如 C、N、O(甚至 S)元素含量低(加工过程中) 污染程度低，同质性高(其他设备无法生产/加工的) 新材料加工数据记录 (Maltoz ), 品质监控与传统球磨机相比:Simoloyer：研磨舱 (研磨单元) 可清空，紧密 / 封闭的系统缩短 (很多) 的加工时长污染程度低简易的粉末处理 + 惰性气体/真空环境下在惰性气体/真空/空气下可轻易的装/卸载在惰性气体/真空/空气下可轻易的取样传统球磨机：可良好的用以精细研磨、湿法加工，但需要考虑:加工时间长、(由于剪力和摩擦力) 污染程度高、巴西果效应(即体积大的颗粒上升到表 层，体积小的颗粒沉底)、无法在惰性/真空环境下完全处理、通常出料有困难。处理示例: 使用合适的 Simoloyer 设备即可在惰性气体下加工获得粉末 无需将整个研磨舱转移到手套箱中。与行星式球磨机相比:Simoloyer：不仅限用于实验室!不仅限用于精细研磨!不仅限用于硬/脆性材料!真空密封、可扩展、可冷却、高能量转移等行星式球磨机：可良好的用以实验室用途、分析、基础研究,不可扩展规模、中等动能、比较难在可控环境下加工。应用用于机械化合金、高能研磨、反应研磨和纳米结构或纳米晶体材料、片状成型、精细研磨等的高动能加工。H2Tank2Go 氢气储气罐Zentallium 纳米结构&粒度可控高性能锌粉箔涂料：ZN-CP301 - 盐雾试验后的抗腐蚀性ZN-CP301市场上获得的产品

多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原 FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-4～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原

硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。

导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

一、设备概述：电热毯发热丝曲挠试验机是依据GB4706.8-2008《家用和类似用途电器的安全 电热毯、电热垫及类似柔性发热器具的特殊要求》、QB/T2994-2008《电热毯、电热垫和电热褥垫》相关技术要求，完全满足新版的《电热毯生产许可证实施细则》2016版。适用于电热毯电热丝生产和科研单位对电热毯发热元件做弯曲试验的仪器。二、电热毯发热丝曲挠试验机主要技术参数：1、驱动行程：1000±20mm；2、小车运行速度：0.33±0.05m/s；3、试样电流：0－50mA/0.2-2A/0.2-1A,可调；4、重锤：0.25kg，砝码精度在±2%以内；5、滑轮直径：φ60；6、运行次数：0—99999次（可自行设置）；7、负载为纯阻；8、数显：电压、电流；9、设备尺寸:约1500×580×800mm；10、重量：100Kg。Delta德尔塔仪器是一家专注于新能源、电子、电器、电力、电梯领域实验室设备/智能装备设计研发、生产制造、计量校准、检测认证、实验室辅导/规划为一体的智能科技型企业。公司成立之初便以“专业、精准、可靠、服务、创新、智造”六要素为核心理念，以“创新求发展，服务求信誉，聚焦做精品”为公司宗旨。专业为客户提供实验室整体解决方案：从实验室的前期规划与方案设计→实验室整体配套系统的施工、安装、调试→实验室分析/测试仪器的选型、安装调试、培训→实验室的维护、维修、零配件供应的整体解决方案。Delta德尔塔仪器积极引进国际先进技术，坚持自主研发和创新，产品严格遵循IEC/EN/UL/GB/ISO等国际国内标准，致力于为客户提供具有竞争力的非标自动化试验检测设备及智能系统工程。

1:便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由宽的恒流源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。对1～100&Omega &bull cm标准样片的测量瓿差不过± 3%，在此范围内达到家标准机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9&Omega &bull cm。可测方块电阻：0.1～1999&Omega /口当被测材料电阻率&ge 200&Omega &bull cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA 连续可调10mA量程：1mA ～10mA连续可调恒流度：各档均优于± 0.1%适合测量各种厚度的硅片（3） 直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100&mu v准确度：0.2%（± 2个字）（4） 供电电源：AC：220V ± 10% 50/60HZ 率8W（5） 使用环境：相对湿度&le 80%（6） 重量、体积重量：2.2 公斤体积：宽210× 100× 深240（mm）（7）KD探针头压痕直径：30/50&mu m间距：1.00mm探针合力：8± 1N针材：TC2:· 数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-100C为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。 该设备是按照家标准GB/T1553&ldquo 硅单晶少数载流子寿命测定的频光电导衰减法&rdquo 。频光电导衰减法在我半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。 KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：1、 可测量太阳能多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管硅单晶的少子寿命。2、 可测量太阳能单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。4、配置两种波长的红外光源：a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深&ge 500&mu m，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅&asymp 30&mu m，但光强较强，有利于测量低阻太阳能硅晶体。5、测量范围宽广测试仪可直接测量：a、研磨或切割面：电阻率&ge 0.3&Omega &bull ㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。b、抛光面：电阻率在0.3～0.01&Omega &bull ㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。寿命可测范围 0.25&mu S&mdash 10ms 温馨提示：以上产品资料与图片相对应。

500kN/5kN碳和石墨强度试验机Carbon and Graphite Strength Tester→500kN碳和石墨抗压强度试验机Tester for Compressive Strength of Carbon and Graphite；→5kN碳和石墨制品抗弯强度试验机Tester for Flexural Strength of Carbon and Graphite；重要参数：→碳和石墨制品抗压强度荷载500kN；→碳和石墨制品抗弯强度荷载5kN；→碳和石墨荷载试验速率3000psi；→ASTM C695-2015抗压强度测定附具；→ASTM D7972-2014三点抗弯强度测定附具；→碳和石墨制品抗压强度测试、抗弯强度测试一体化试验机；→高刚性、高稳定性、无振动冲击、流线型荷载机架，安全防护；→HRJ-Test英文版碳和石墨制品强度荷载软件；→电源电压～480V±10% 60Hz；引用标准、文献文件：ASTM C695-2015；ASTM D7972-2014；ASTM C1106-00(2012)；ASTM C904-2001(2012)；ASTM E4-2016；ASTM E74-2013a；ASTM C565-2015；ASTM C749-2015；ASTM C651-2015；ASTM C1025-2015；ASTM D7779-2015；ASTM D4018-2011；ASTM C709；ASTM D7846-2016；ASTM C662-2016；CNS 2780；5000N石墨炭素材料试验机；300kN石墨管抗压强度试验机；10kN石墨管抗折强度试验机；1000kN碳砖试验机；500kN碳和石墨抗压荷载试验机；5kN碳和石墨制品抗折荷载试验机；碳和石墨拉伸应力应变试验方法；四点负荷法测定炭及石墨制品挠曲强度；石墨电极芯挠曲断裂模数标准试验方法；石墨管件检验标准；GB/T1431碳素材料耐压强度测定；GB/T3074.1石墨电极抗折强度测定；GB/T3074.2石墨电极弹性模量测定；GB/T8721炭素材料抗拉强度测定；GB/T1427-2016炭素材料取样方法