塞贝克系数/电阻测量系统ZEM-3 ——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻 塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。 设备特点:◆ 拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;◆ 测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;◆ 欧姆接触自动检测功能(V-I图);◆ 可以用适配器来测量薄膜;◆ 可定制高阻型。 参数配置:型号ZEM-3M8ZEM-3M10温度范围50-800℃50-1000℃样品大小方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL加热方式红外加热气氛高纯氦气(99.999%) 样品温差 MAX.50℃ 测量方式电脑全自动测量工作原理图: 设备结构: 样品腔部分: 应用方向:对于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的热电性能分析。可选功能: 薄膜测量选件 2. 低温选件(温度范围-100℃到200℃)3. 高阻选件(高到10MΩ)测试数据烧结P型Si80Ge20塞贝克系数及电阻率测量结果发表文章1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.用户单位清华大学中国科学技术大学上海交通大学复旦大学南方科技大学武汉理工大学中国科学院上海硅酸盐研究所中国科学院大连化学物理研究所......附:热电材料/器件测试设备热电材料测试设备热电转换效率测试设备
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