他司鲁泰

ASM25XY-T4四维组合位移台技术指标◆调整维数:X,Y,&theta x,&theta z四维◆调整行程:Tx,Ty:25mm,◆调整角度:&theta x:± 4° &theta z :± 2.5° 组合用产品：ASM25-1A平移台 二个TSMT-4精密俯仰旋转台 一个BP-25转接板 一个

技术指标◆调整维数:Z,&theta x,&theta y,&theta z 四维◆调整行程:Tz:5mm◆调整角度:&theta z:360° &theta x,&theta y :± 10° 组合用产品：TSMV5-1A升降台 一个TSMG10-1W精密角位台 一个TSMG10-2W精密角位台 一个

技术指标◆调整维数:Z,&theta x,&theta y,&theta z 四维◆调整行程:Tz:5mm◆调整角度:&theta x,&theta y :± 5° 组合用产品：TSMT5-1A双轴倾斜台 一个RSM82-1A旋转台 一个TSMV5-1A升降台

2012年起Orion Star A系列电化学测量仪将全面替代Orion 3/4/5-Star系列测量仪。原Orion 4-Star台式（便携式）pH/电导率测量仪可参考以下型号：Orion Star A 台式/便携式 pH/电导率测量仪仪器简介：3-Star 系列pH、电导率、溶解氧单参数测量仪，4-Star 系列pH/ 离子、pH/ 电导率、pH/ 溶解氧双参数测量仪，5-Star pH/ 离子/ 电导率/ 溶解氧多参数测量仪都具有台式或便携式，可满足您的不同需求。搭配技术领先的Orion 电极，可以实现pH、离子、电导率、溶解氧等参数的精确测量。技术参数：pH 测量范围：-2.000 - 19.999分辨率：0.1 / 0.01 / 0.001相对精度：± 0.001校正模式：1 - 5 点；US / NIST，DIN 和用户自定义氧化还原电位（ORP）测量范围：± 1999.9（mV/RmV/EH）分辨率：0.1相对精度：± 0.1 mV 或0.05%（取较大者） 电导率测量范围：0.000 - 3000 mS/cm分辨率：四位有效数字，最低到0.001 &mu S/cm相对精度：0.5%± 1 字或0.01 &mu S/cm（取较大者）电阻率：0.0001 - 100 M&Omega 盐度：0.01 - 80.0 ppt NaClTDS：0 - 19999 mg/L电极常数：0.001 - 199.9 cm-1参比温度：5℃，10℃，15℃，20℃或25℃电极兼容性：两环，四环，平板电极校正：1 - 5 点 温度测量范围：-5 - 105℃分辨率：-5 - 99.9℃为0.1℃，99.9℃以上为1.0℃相对精度：± 0.1℃温度补偿：自动/ 手动显示：大屏幕背光LCD输入/ 输出传感器接口：pH-BNC；温度- miniDIN；搅拌器- Phono-jack（台式表适用）通讯：双向RS232 接口，可选USB 电缆仪表功能数据记录：750 组校正记录：最后10 组校正数据方法存储：10 个密码保护：10组电源：4× AA 电池，通用的电源适配器（台式表适用）质量安全认证：CE，CSA，UL，TÜ V，FCC Class A操作环境适宜操作温度：5 - 45℃相对湿度：5 - 85%（无冷凝）IP 等级：台式IP54，防尘防溅；便携式P67，防尘防水外形尺寸台式： 9.4 cm（高）× 17.0 cm（宽）× 22.4 cm（长）便携式：4.8 cm（高）× 9.7 cm（宽）× 21.3 cm（长）主要特点：· pH 一点到五点自动或手动校正· 自动识别NIST / US 和DIN 缓冲液-- NIST / US：1.68，4.01，7.00，10.01，12.46-- DIN：1.68，4.01，6.86，9.18· ORP（氧化还原电位）一点自动或手动校正，可以测量样品相对于标准氢电极的氧化还原电位 · 电导率量程自动选择，操作方便· 电导率一点到五点手动校正或一点到三点自动校正· 电导率量程手动选择功能，满足用户的特殊需求· 可使用两环、四环和平板电导电极· 内置终点判断（Smart StabilityTM）和终点显示技术（Smart AveragingTM），优化了读数的精度和响应时间· LCD 和键盘均采用了通用的图标，清晰、易懂· 较大的显示字体和背光功能，使得在野外或者光线暗的条件下也能方便的操作· 台式表具有搅拌接口，可连接搅拌器，提供由终点方式控制的自动搅拌功能· 台式表可使用交流电源或是标准AA 电池，电源适配器全球通用· 便携式仪表用于野外操作，四节标准AA 电池可连续工作约2000 小时· 十组密码保护的方法，便于多用户的操作· 可选的软件可以使测量数据的有效性满足21 CFR Part 11 的要求· 台式仪表可与自动换样器联用

产品简介：布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性高达 5&angst 。详情页介绍德国布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以到5&angst 。台阶仪这项性能的到了过去四十年Dektak技术，更加巩固了其行业。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二管的研发以及材料科学领域。产品优势台阶仪DektakXT能实现： 1、使用温度条件：10-30℃；2、无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃3、Single-arch设计提供扫描稳定性4、的“智能电子器件”设立了新低噪音基准5、新硬件配置使数据采集时间缩短6、64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度高了10倍7、频率，操作简易8、直观的Vision64用户界面，操作简易9、针尖自动校准系统 11、单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围建立在40多年的探针轮廓技术的知识和经验薄膜测试仪，在基于微处理器的轮廓仪，和300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的。新的DektakXT是single-arch设计的探针轮廓仪，内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得测量及操作效率的探针轮廓仪 当需要台阶高度、表面粗糙度、测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得表面测量 数据采集和分析速度直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和背景噪声。这一改进大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在行业的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。

布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供无与伦比的重现性，重现性低于4A。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak 技术创新的顶峰，更加巩固了其行业地位。通过整合其行业产品，DektakXT实现了高性能。操作简易，从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代 Dektak 台阶仪能够在微电子，半导体，太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。DektakXT 利用独特的直接驱动扫描样品台，将测量时间加快 40%。Vision64 是布鲁克的 64 位并行处理操作和分析软件，能够更快地加载 3D 形貌文件，并更快地应用筛选器和多区域数据库分析。单拱门结构设计使 DektakXT 更坚固，从而将环境噪音的影响降至低。DektakXT 升级的"智能电子设备"可降低温度变化的影响，并采用现代处理器，大限度地减少噪声水平，使其成为能够测量 10nm 台阶高度的更强大的系统。布鲁克的 Vision64 软件通过提供直观、简化的用户可视化界面，加入到 DektakXT 的创新设计。智能架构和可自定义自动化功能相结合，可实现快速、全面的数据收集和分析。无论您是使用分析脚本对单个扫描结果进行分析，还是应用自定义筛选器设置和计算，DektakXT 的数据分析器都能显示当前分析结果，同时显示其他可能的分析工具。DektakXT 的自对齐探针组件允许用户快速轻松地更换不同探针，同时消除换针中的任何潜在风险。布鲁克提供广泛的探针尺寸和形状，几乎满足任何应用需求。DektakXT 能够快速轻松地设置和运行自动化的多样品测量模式，以无与伦比的可重复性验证整个晶圆表面薄膜的精确厚度。这种有效的监控可以通过提高测试通量来节省宝贵的时间和金钱。

布鲁克公司的新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。Dektak XTL集成气体隔振装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行，是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。它的双摄像头设置使空间感增强，其高水平自动化可生产量。 产品特点一、Bruker公司的双摄像头控制系统1.通过点击实时视频更快锁定到关注点2.通过选择实时视频中的两个点快速定位样品（自动旋转使连线水平）3.通过在实时视频中点击扫描起始和结束位置简化测量设置（教学） 二、自动化设置和操作1.借助300毫米的自动化编码XY工作台以及360度旋转能力，编程控制无限制测量位置。2.利用带图形识别功能的Vision64位产品软件减少使用中的定位偏差 3.将自定义用户提示以及其它元数据编入您的方案中，并存储到数据库内 三、方便的分析和数据采集1.快速分析仪支持大部分常用分析方法，可轻松实现分析程序自动化2.通过台阶检测功能将分析集中于复杂样品上感兴趣的特征3.通过赋予每个测量点名称并自动记录到数据库来简化数据分析4.Dektak在大样品制造业中的传奇性能 四、业界自动分析软件新增软件功能使Dektak XTL成为市面上易使用的探针式轮廓仪。系统使用的Vision64软件,与Bruker公司的光学轮廓仪完全兼容。Vision64软件可以进行样品任何位置测量、3D绘图以及借助数百个内置分析工具实现的高度定制表征方法。也可以使用Vision Microform软件来测量曲率半径等形状。 五、探针式检测技术 图形识别功能可以尽量减少操作员误差并测量位置精度。在同一软件包内，以直观流程进行数据采集和2D、3D分析。每个系统都带有Vision软件许可证，可在装有Windows7操作系统的个人电脑上安装，用户可在电脑桌面上创建数据分析和报告。 Dektak XTL拥有超过40年的探针经验和软件定制生产经验，符合现在和未来的严格的行业发展蓝图。 产品应用一、晶片应用：沉积薄膜（金属、有机物）的台阶高度抗蚀剂（软膜材料）的台阶高度蚀刻速率测定 化学机械抛光（腐蚀，凹陷，弯曲）二、大型基板应用：印刷电路板（凸起、台阶高度）窗口涂层晶片掩模晶片卡盘涂料抛光板三、玻璃基板及显示器应用：AMOLED 液晶屏研发的台阶步级高度测量 触控面板薄膜厚度测量 太阳能涂层薄膜测量四、柔性电子器件薄膜：有机光电探测器印于薄膜和玻璃上的有机薄膜触摸屏铜迹线

海思科技 吴先生 探针式轮廓仪新标杆-升级到最优性能 德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。薄膜测试—确保高产在半导体制造中严密监测沉积和蚀刻比率均匀性，薄膜应力，能节省大量时间和金钱。薄膜的不均匀或太大的应力会导致地产及成品性能欠佳。DektakXT能方便快捷地设置和运行自动多点测试程序来检验晶片薄膜的精确厚度，达到纳米级别。DektakXT无与伦比的重现性提供给工程师精确的薄膜厚度和应力测试，来精确调节蚀刻和沉积以提供收益表面粗糙度检测—确保性能DektakXT适合很多产业（包括汽车、航空和医疗设备）的精密机器零部件的表面粗糙度常规鉴定。例如，矫形植入物的背面的羟磷灰石涂层粗糙度会影响植入后的粘结力和功效。利用DektakXT进行表面粗糙度的快速分析能力判断晶质生产是否达到预期，植入物能否通过产品要求。使用Vision64数据库的pass/fail标准，质量管理部门能轻松判断植入物是重做或者确保其质量太阳能光栅线分析—降低制造成本在太阳能市场，Dektak是测量单晶硅和多晶硅太阳能面板上导电银栅线临界尺寸的首选。银线的高度、宽度和连续性与太阳能电池的能量引导紧密相关。生产的理想状态是恰如其分地使用银，以具有最好的导电性，而不浪费昂贵的银。Dektak XT 通过软件分析来实现，报告银栅线的临界尺寸，以确定出现导电性所需的精确分量。Vision64的数据分析方法和自动功能有助于该验证过程的自动化。微流体技术—检测设计和性能Dektak XT是唯一能在大垂直范围（高达1mm），测量感光材料达到埃级重现性的探针轮廓仪。MEMS和微流体技术行业的研究者能使用Dektak XT来进行鉴定测试，确保零件符合规格。低作用测量功能NLite+轻触感光材料来测量垂直台阶和粗糙度40多年不断创新建立在40多年的探针轮廓技术创新的知识和经验之上—第一部薄膜测试仪，在第一部基于微处理器的轮廓仪，和第一部300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的“第一”。新的DektakXT是首部single-arch设计的探针轮廓仪，首部内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得最佳测量及操作效率的探针轮廓仪全球有超过一万台设备，品牌Dektak以质量、可靠性及高性价比著称。当需要台阶高度、表面粗糙度的精确、可靠测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得可靠及高效的表面测量提高数据采集和分析速度利用独特的直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和北京噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业领先的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内最有效的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。实现测量的可重现性DektakXT的领先设计使其在测量台阶高度重现性方面具有优异的表现，台阶高度重现性可优于4埃。使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更加稳固，降低了对不利环境条件的敏感性，如声音和震动噪音应用行业：触摸屏、半导体、太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学、高校、研究所、微电子、金属等行业实现纳米级表面形貌测量台阶仪Dektak XT能实现：无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准新硬件配置使数据采集时间缩短40%64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍频率空前，操作简易直观的Vision64用户界面，操作简易针尖自动校准系统，无与伦比的价值布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现最高的性能单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围

布鲁克DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供无与伦比的重现性，重现性低于4A。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak 技术创新的顶峰，更加巩固了其行业地位。通过整合其行业产品，DektakXT实现了高性能。操作简易，从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代 Dektak 台阶仪能够在微电子，半导体，太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。DektakXT 利用独特的直接驱动扫描样品台，将测量时间加快 40%。Vision64 是布鲁克的 64 位并行处理操作和分析软件，能够更快地加载 3D 形貌文件，并更快地应用筛选器和多区域数据库分析。 单拱门结构设计使 DektakXT 更坚固，从而将环境噪音的影响降至低。DektakXT 升级的"智能电子设备"可降低温度变化的影响，并采用现代处理器，大限度地减少噪声水平，使其成为能够测量 10nm 台阶高度的更强大的系统。布鲁克的 Vision64 软件通过提供直观、简化的用户可视化界面，加入到 DektakXT 的创新设计。智能架构和可自定义自动化功能相结合，可实现快速、全面的数据收集和分析。无论您是使用分析脚本对单个扫描结果进行分析，还是应用自定义筛选器设置和计算，DektakXT 的数据分析器都能显示当前分析结果，同时显示其他可能的分析工具。 DektakXT 的自对齐探针组件允许用户快速轻松地更换不同探针，同时消除换针中的任何潜在风险。布鲁克提供广泛的探针尺寸和形状，几乎满足任何应用需求。DektakXT 能够快速轻松地设置和运行自动化的多样品测量模式，以无与伦比的可重复性验证整个晶圆表面薄膜的精确厚度。这种有效的监控可以通过提高测试通量来节省宝贵的时间和金钱。

探针式轮廓仪新标杆-升级到最优性能 德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。薄膜测试—确保高产在半导体制造中严密监测沉积和蚀刻比率均匀性，薄膜应力，能节省大量时间和金钱。薄膜的不均匀或太大的应力会导致地产及成品性能欠佳。DektakXT能方便快捷地设置和运行自动多点测试程序来检验晶片薄膜的精确厚度，达到纳米级别。DektakXT无与伦比的重现性提供给工程师精确的薄膜厚度和应力测试，来精确调节蚀刻和沉积以提供收益表面粗糙度检测—确保性能DektakXT适合很多产业（包括汽车、航空和医疗设备）的精密机器零部件的表面粗糙度常规鉴定。例如，矫形植入物的背面的羟磷灰石涂层粗糙度会影响植入后的粘结力和功效。利用DektakXT进行表面粗糙度的快速分析能力判断晶质生产是否达到预期，植入物能否通过产品要求。使用Vision64数据库的pass/fail标准，质量管理部门能轻松判断植入物是重做或者确保其质量太阳能光栅线分析—降低制造成本在太阳能市场，Dektak是测量单晶硅和多晶硅太阳能面板上导电银栅线临界尺寸的首选。银线的高度、宽度和连续性与太阳能电池的能量引导紧密相关。生产的理想状态是恰如其分地使用银，以具有最好的导电性，而不浪费昂贵的银。Dektak XT 通过软件分析来实现，报告银栅线的临界尺寸，以确定出现导电性所需的精确分量。Vision64的数据分析方法和自动功能有助于该验证过程的自动化。微流体技术—检测设计和性能Dektak XT是唯一能在大垂直范围（高达1mm），测量感光材料达到埃级重现性的探针轮廓仪。MEMS和微流体技术行业的研究者能使用Dektak XT来进行鉴定测试，确保零件符合规格。低作用测量功能NLite+轻触感光材料来测量垂直台阶和粗糙度40多年不断创新建立在40多年的探针轮廓技术创新的知识和经验之上—第一部薄膜测试仪，在第一部基于微处理器的轮廓仪，和第一部300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的“第一”。新的DektakXT是首部single-arch设计的探针轮廓仪，首部内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得最佳测量及操作效率的探针轮廓仪全球有超过一万台设备，品牌Dektak以质量、可靠性及高性价比著称。当需要台阶高度、表面粗糙度的精确、可靠测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得可靠及高效的表面测量提高数据采集和分析速度利用独特的直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和北京噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业领先的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内最有效的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。实现测量的可重现性DektakXT的领先设计使其在测量台阶高度重现性方面具有优异的表现，台阶高度重现性可优于4埃。使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更加稳固，降低了对不利环境条件的敏感性，如声音和震动噪音应用行业：触摸屏、半导体、太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学、高校、研究所、微电子、金属等行业实现纳米级表面形貌测量台阶仪Dektak XT能实现：无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准新硬件配置使数据采集时间缩短40%64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍频率空前，操作简易直观的Vision64用户界面，操作简易针尖自动校准系统，无与伦比的价值布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现最高的性能单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围规格：测量技术：探针轮廓仪DEKTAK XT测量功能：二维表面轮廓测量/可选三维测量样品视景：可选放大倍率，1to4mmFOV探针传感器：低惯量传感器（LIS3）探针压力：使用LIS3传感器：1至15mg探针选项：探针曲率半径可选范围：50nm至25μm；高径比（HAR）针尖：10μm×2μm和200μm×20μm；可按客户要求定制针尖样品X/Y载物台：手动X-Y平移：100mm(4英寸）；机动X-Y平移：150mm（6英寸）样品旋转台：手动，360°旋转；机动，360°旋转计算机系统：64-bit多核并行处理器，Windows7；Optional23英寸平板显示器软件：Vision64操作及分析软件；应力测量软件；缝合软件；三维扫描成像软件减震装置：减震装置可用扫描长度范围：55mm（2英寸）每次扫描数据点：最多可达120000数据点最大样品厚度：50mm(2英寸）最大晶圆尺寸：200mm(8英寸）台阶高度重现性：＜4埃，1sigma在1μm垂直范围下）输入电压：100-240VAC，50-60Hz温度范围，运行范围：20到25℃湿度范围：≤80%，无冷凝系统尺寸及重量：455mmW×550mmD×370mmH（17.9in.W×22.6in.D×14.5in.H)；34公斤（75磅）；附件：550mmL×585mmW×445mmH（21.6in.L×23in.E×17.5in.H)；21.7公斤（48磅

探针式轮廓仪是一种用于化学、材料科学、电子与通信技术、化学工程领域的分析仪器。分析样品表面大尺寸三维形貌，探测样品厚度。 布鲁克公司的新型DektakXTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。DektakXTL集成气体隔振装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行，是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。它的双摄像头设置使空间感增强，其高水平自动化可生产量。 探针式轮廓仪系统DektakXTL产品特性 一、Bruker公司的双摄像头控制系统 1.通过点击实时视频更快锁定到关注点 2.通过选择实时视频中的两个点快速定位样品（自动旋转使连线水平） 3.通过在实时视频中点击扫描起始和结束位置简化测量设置（教学） 二、自动化设置和操作 1.借助300毫米的自动化编码XY工作台以及360度旋转能力，编程控制无限制测量位置。 2.利用带图形识别功能的Vision64位产品软件减少使用中的定位偏差 3.将自定义用户提示以及其它元数据编入您的方案中，并存储到数据库内 三、方便的分析和数据采集 1.快速分析仪支持大部分常用分析方法，可轻松实现分析程序自动化 2.通过台阶检测功能将分析集中于复杂样品上感兴趣的特征 3.通过赋予每个测量点名称并自动记录到数据库来简化数据分析 4.Dektak在大样品制造业中的传奇性能 四、业界自动分析软件 新增软件功能使DektakXTL成为市面上易使用的探针式轮廓仪。系统使用的Vision64软件,与Bruker公司的光学轮廓仪完全兼容。Vision64软件可以进行样品任何位置测量、3D绘图以及借助数百个内置分析工具实现的高度定制表征方法。也可以使用VisionMicroform软件来测量曲率半径等形状。 五、探针式检测技术 图形识别功能可以尽量减少操作员误差并测量位置精度。在同一软件包内，以直观流程进行数据采集和2D、3D分析。每个系统都带有Vision软件许可证，可在装有Windows7操作系统的个人电脑上安装，用户可在电脑桌面上创建数据分析和报告。 DektakXTL拥有超过40年的探针经验和软件定制生产经验，符合现在和未来的严格的行业发展蓝图。 应用 一、晶片应用： 二、大型基板应用： 沉积薄膜（金属、有机物）的台阶高度 印刷电路板（凸起、台阶高度） 抗蚀剂（软膜材料）的台阶高度 窗口涂层 蚀刻速率测定 晶片掩模 化学机械抛光（腐蚀，凹陷，弯曲） 晶片卡盘涂料 抛光板 三、玻璃基板及显示器应用： 四、柔性电子器件薄膜： AMOLED 有机光电探测器 液晶屏研发的台阶步级高度测量 印于薄膜和玻璃上的有机薄膜 触控面板薄膜厚度测量 触摸屏铜迹线 太阳能涂层薄膜测量

Dektak 150 台阶仪集40多年的探针轮廓技术创新于一身，该系统在行业内的表现遥遥领先，以重现性最佳和标准扫描范围最大而著称。它提供各种各样的配置和附加选项，用于程序化测量、低探针力表征和细节分析台阶仪Dektak 150 表面轮廓仪（探针式）规格：测试技术：探针轮廓技术测试功能：二维表面轮廓测试样品视场：640*480像素，USB；17 inc 平板显示器探针传感器：低惯量传感器（LIS 3）探针压力：使用LIS 3传感器：1至15 mg使用N-lite传感器：0.03至15 mg探针选项：探针曲率半径可选范围：50 nm至25 um 高径比针尖：10 um * 2 um 和200 um*20 um样品载物台：手动X/Y/@：100*100 mm, 360度旋转，可手动校平；可选Y自动移动载物台，100 mm行程，1um重现性，0.5 um分辨率；可选X-Y自动移动载物台，150 mm行程；1um重现率，0.5 um 分辨率计算机系统：主机使用celeron或者semprom处理器软件：Dektak软件台阶检测软件可选应力测量软件可选三维Vision分析软件可选缝合软件减震装置：可选桌式震动隔离装置可选台式震动隔离装置性能扫描长度范围 55mm(2.1英寸)每次扫描数据点最多12万数据点最大样品厚度高达90 mm (4英寸)，取决于配置最大晶圆尺寸 150 mm(6英寸)台阶高度重现性 6埃垂直范围：标准524um(0.02英寸)；可选1mm垂直分辨率：最大1A（6.55um垂直范围下）尺寸：292 mm *508 mm*527 mm重量：34 kg电源要求：输入电压： 100-120VAC/200-240VAC, 50-60 HZ

?Aeolus V 系列Telstar Aeolus系列是一款高端的垂直流超净工作台，用于处理对环境洁净度要求很高的无危害样品。此系列超净工作台提供最高级别的产品保护。经济的设计高品质低噪音经济节能 国际安全标准AEOLUS 系列超净台根据高的国际标准设计，工作区洁净级别符合ISO 14644-1 (Class 5) GMP 附件 1 (Grade A)* 标准。 应用AEOLUS V 系列垂直流超净工作台，可应用于医院、药厂、IVF（试管婴儿、体外受精）中心、食品质量控制、园艺离体培养以及电子、光学、微观力学及塑料行业等垂直流超净工作台，操作区域一直处于正压状态，且有稳定风速的洁净的层流风吹过，使得工作区域的样品处于无菌洁净的操作环境。确保样品不受外界环境的污染，以及避免样品间的交叉污染。 可用尺寸AEOLUS 系列有以下标准尺寸： 90, 120, 150, 180 cm 宽度 (3, 4, 5, 6 英尺).附件&选项丰富的选配件使得设备可以应用于各种不同的应用。 基本原则HEPA过滤垂直层流风（下降）创造一个 ISO 14644-1 (Class 5) / GMP Annex 1 (Grade A)* 洁净度的工作区域，防止环境空气进入操作区域，确保对样品的保护。* 根据美联邦 209E标准HEPA过滤空气污染空气 特点&优点总体特征 高质量组件: 碳钢材质柜体，喷涂瓷釉涂层；抛光AISI-304不锈钢材质工作台面；HEPA 高效过滤器配导流网，确保在操作区域提供均一稳定的层流风；防U.V.覆膜夹层钢化玻璃；安全玻璃滑动前窗。 经济的设计:• 紧凑的外形设计，无突出部件，易于清洁；• LED 灯提供均匀的照明，减少眼部疲劳；• 低噪音；• 用户友好直观的控制面板 • 易于安装和维护: 800 mm 厚度，允许进入所有的标准门。过滤器可由前部更换。遇到复杂的安装条件，安全柜两侧玻璃可拆卸进行安装 • 工作台面全不锈钢材质。 绿色系列:通过以下配置，获得非常低的能耗: - 直流风机； - LED 灯； - 待机模式；所有组件都可以更换，包含金属部件，由此可以大大延长超净台的工作寿命。G3前置过滤器，可以拦截大的尘埃和颗粒，防止其到达HEPA高效过滤器，可将高效过滤器寿命延长3倍以上。大大降低设备使用成本。 灵活性:四个型号，分别有不同的宽度尺寸，适合各种应用要求多种选配件和附件可选 控制面板带报警和参数显示 数字控制面板带LCD显示* 包含:ON/OFF 按键和照明指示；风速模式可选:工作及待机状态；U.V.灯可编程设置灭菌时间；控制面板上的LED灯显示：日光灯、紫外灯和过滤器堵塞状态LED等显示报警信息实时风速显示；风机及紫外灯工作时间计时； *英语、西班牙语、法语、德语四种语言可选技术参数 特征单位Aeolus V 3Aeolus V 4Aeolus V 5Aeolus V6外部尺寸(不带支架)WxDxH (mm)1048x798x12201353x798x12201658x798x12201963x798x1220内部尺寸WxDxH (mm)925x693x6151230x693x6151535x693x6151840x693x615重量Kg140160185210总风量 /风速m3/h – m/s573 – 0.36771 – 0.36969 – 0.361166 – 0.36能耗W112123166188照度Lux≥1200≥1500≥1500≥1700 噪音 (根据ISO 11201标准） dB (A) 55主过滤器 HEPA H14Efficiency过滤效率 99.995%, EN 1822 by MPPS 方法(99,999% D.O.P. test @ 0.3μm 颗粒)前置过滤器EN 779G3风机高效直流风机喷涂聚酯树脂粉末涂层工作台面AISI-304 标准配置不锈钢工作台面 • 2 个电源插座 • LED 灯 • 直流风机• 滑动前窗，手动操作• 风速探头监控风速• 视听双效报警 选项&附件• 支架• 龙头 (抽气,真空, O2, N2, 等)• 紫外灯• 不锈钢挂杆 (4 or 6) 钩子• FAT / SAT / IQ / OQ

Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，为大型晶圆和面板制造带来Dektak 传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计，具有易用的联锁门，是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力，其高自动化水平可大限度地提高测试通量。增强的软件功能使 Dektak XTL 成为功能强大、容易使用的探针式轮廓仪。该系统利用 Vision64 软件，通过数百种内置分析工具实现众多的测量位点、3D成像和高度自定义的特征分析。Vision64软件还能测量形状，如曲率半径。模式识别可大限度地减少操作员误差并提高测量位置精度。集成化的软件包将数据收集和分析与直观的工作流程相结合。Dektak XTL 以 50 多年的探针式轮廓仪的专业知识和生产设施的应用程序定制为基础，以满足当今和未来严格的行业路线图。300 毫米高精度编码 XY样品台为制造商提供了满足严格计量研发要求的可靠工具。Dektak 的双摄像头控制与高清放大双视场相机提供增强的空间感知。实时视频中的点击定位使操作员能够快速将样品移动到正确的位置，以便快速轻松地进行测量设置和自动化编程。该系统的大型联锁门为样品装载/卸载提供了安全、方便的访问。其他硬件功能包括：单拱形架构和集成振动隔离系统快速更换自对齐探针高精度编码 XY 样品台，实现更快的自动数据收集N-Lite 低力，采用软触控技术，具有 1mm 测量范围，可同时用于测量精密和高垂直范围样品

台阶仪dektak 150 表面轮廓仪（探针式）规格： 测试技术：探针轮廓技术测试功能：二维表面轮廓测试样品视场：640*480像素，usb；17 inc 平板显示器探针传感器：低惯量传感器（lis 3）探针压力：使用lis 3传感器：1至15 mg使用n-lite传感器：0.03至15 mg探针选项：探针曲率半径可选范围：50 nm至25 um 高径比针尖：10 um * 2 um 和200 um*20 um样品载物台：手动x/y/@：100*100 mm, 360度旋转，可手动校平；可选y自动移动载物台，100 mm行程，1um重现性，0.5 um分辨率；可选x-y自动移动载物台，150 mm行程；1um重现率，0.5 um 分辨率计算机系统：主机使用celeron或者semprom处理器软件：dektak软件台阶检测软件可选应力测量软件可选三维vision分析软件可选缝合软件减震装置：可选桌式震动隔离装置可选台式震动隔离装置性能扫描长度范围 55mm（2.1英寸）每次扫描数据点zui多12万数据点zui大样品厚度高达90 mm （4英寸），取决于配置zui大晶圆尺寸 150 mm（6英寸）台阶高度重现性 6埃垂直范围：标准524um（0.02英寸）；可选1mm垂直分辨率：zui大1a（6.55um垂直范围下）尺寸：292 mm *508 mm*527 mm重量：34 kg电源要求：输入电压： 100-120vac/200-240vac, 50-60 hz无论是用于科学研究还是工业生产，dektak 150探针式表面轮廓仪都具有业内的表现性能，zui高的测量重复性以及zui大的扫描范围。dektak 150集四十多年的技术积累和创新于一身，为满足用户不同应用方向的需要提供了多种可选配置。坚固的铝质材料铸成的机身框架以及支撑部件显著提高了仪器的重复精度，并降低了地板噪音对测量的干扰。基于windowsxp的软件用户界面，使用户迅速掌握dektak 150。分析功能齐全，界面直观，包括从简便的一键"进针即测量"，到多次扫描结果的自动分析。通过选配三维成像附件套装还可以*地扩充仪器的功能。

台阶仪Dektak 150 表面轮廓仪（探针式）规格： 测试技术：探针轮廓技术测试功能：二维表面轮廓测试样品视场：640*480像素，USB；17 inc 平板显示器探针传感器：低惯量传感器（LIS 3）探针压力：使用LIS 3传感器：1至15 mg使用N-lite传感器：0.03至15 mg探针选项：探针曲率半径可选范围：50 nm至25 um 高径比针尖：10 um * 2 um 和200 um*20 um样品载物台：手动X/Y/@：100*100 mm, 360度旋转，可手动校平；可选Y自动移动载物台，100 mm行程，1um重现性，0.5 um分辨率；可选X-Y自动移动载物台，150 mm行程；1um重现率，0.5 um 分辨率计算机系统：主机使用celeron或者semprom处理器软件：Dektak软件台阶检测软件可选应力测量软件可选三维Vision分析软件可选缝合软件减震装置：可选桌式震动隔离装置可选台式震动隔离装置性能扫描长度范围 55mm(2.1英寸)每次扫描数据点最多12万数据点最大样品厚度高达90 mm (4英寸)，取决于配置最大晶圆尺寸 150 mm(6英寸)台阶高度重现性 6埃垂直范围：标准524um(0.02英寸)；可选1mm垂直分辨率：最大1A（6.55um垂直范围下）尺寸：292 mm *508 mm*527 mm重量：34 kg电源要求：输入电压： 100-120VAC/200-240VAC, 50-60 HZ无论是用于科学研究还是工业生产，Dektak 150探针式表面轮廓仪都具有业内最好的表现性能，最高的测量重复性以及最大的扫描范围。Dektak 150集四十多年的技术积累和创新于一身，为满足用户不同应用方向的需要提供了多种可选配置。坚固的铝质材料铸成的机身框架以及支撑部件显著提高了仪器的重复精度，并降低了地板噪音对测量的干扰。基于WindowsXP的软件用户界面，使用户迅速掌握Dektak 150。分析功能齐全，界面直观，包括从简便的一键"进针即测量"，到多次扫描结果的自动分析。通过选配三维成像附件套装还可以极大地扩充仪器的功能。

主动防震台-主动式防振台-防震台-Table Stable 应用范围： 主动防震台-主动式防振台-防震台-Table Stable系统。为各类透射式电子显微镜(TEM主动防震台)、扫描式电子显微镜(SEM)主动式防振台、发射式电子显微镜主动防震台、探针显微镜主动式防振台、扫描隧道显微镜主动防震台、原子力显微镜（AFM）主动式防振台、横向力显微镜主动防震台。白光干涉仪主动式防振台，光刻机防震台，微纳米结构和加工仪器防震台！产品特点 主动隔振频率 1Hz - 200Hz 被动隔振频率200Hz 5-20ms的响应时间 安装简单，容易使用 稳定性高，能无故障连续使用多年 紧凑、模块化的多功能设计 多种规格尺寸的面板支持各种研究及应用 产品应用 STM Spinstand AFM 干涉测量 摩擦学 轮廓测量 其他高精密仪器 性能优势 系统主动检测输入振动并动态消除 六个空间方向的自由隔振 系统内部反馈回路抑制所有机械共振 低频隔振性能优秀 无低频共振、无空气要求 技术参数 隔振范围 主动:1-200Hz 被动: 200Hz传输率 超过10Hz -35 dB模块尺寸 W 5.1” x D 23.6” x H 4.3” (AVI-200 M)模块重量 20 KG / 44 Lbs静态柔度(每个模块) 垂直方向 约 1.75 μm / 水平方向 约 1.3 μm / N系统噪声 低于50nG/√Hz耗电量 通常情况下为9 W输入电压 90 - 125 VAC / 200 - 250 VAC, 50 - 60 Hz控制器尺寸 48 x 13 x 25 cm / 19 x 5.1 x 9.8”性能监控 通过在示波器上显示的一个多重信号表示各传感部位是否隔振 型号 隔振模块尺寸（每个模块） 载重（每个模块） AVI-200M 长x宽x高：5.1" x 23.6" x 4.3" 150kg/ 330lbs AVI-200M Extra 长x宽x高：5.1" x 23.6" x 4.3" 190kg/ 418lbs AVI-200M Plus 长x宽x高：5.1" x 23.6" x 4.3" 230kg/ 506lbs AVI-200M LT 长x宽x高：5.1" x 23.6" x 4.3" 60kg/ 132lbs AVI-200M S 长x宽x高：5.1" x 14.1" x 4.3" 150kg/ 330lbs AVI-200M LT 长x宽x高：5.1" x 23.6" x 4.3" 190kg/ 418lbs兼容性：AVI-200 work station 主动隔振台可与LFS低频稳定器配套使用来增强低频隔振效果，隔振频率低频段延伸至0.5Hz。 主动隔振，主动减振，主动除振，主动防振系统。为各类透射式电子显微镜(TEM)、扫描式电子显微镜(SEM)、发射式电子显微镜、探针显微镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜（AFM）、横向力显微镜。白光干涉仪，光刻机，微纳米结构和加工仪器！超低频隔震台、防震台、减震台、除震台。 主动防震台-主动式防振台-防震台-Table Stable

Dektak XTL&trade 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，为大型晶圆和面板制造带来Dektak ® 传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计，具有易用的联锁门，是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力，其高自动化水平可大限度地提高测试通量。 增强的软件功能使 Dektak XTL 成为功能强大、容易使用的探针式轮廓仪。该系统利用 Vision64 软件，通过数百种内置分析工具实现众多的测量位点、3D成像和高度自定义的特征分析。Vision64软件还能测量形状，如曲率半径。模式识别可大限度地减少操作员误差并提高测量位置精度。集成化的软件包将数据收集和分析与直观的工作流程相结合。Dektak XTL 以 50 多年的探针式轮廓仪的专业知识和生产设施的应用程序定制为基础，以满足当今和未来严格的行业路线图。300 毫米高精度编码 XY样品台为制造商提供了满足严格计量研发要求的可靠工具。Dektak 的双摄像头控制与高清放大双视场相机提供增强的空间感知。实时视频中的点击定位使操作员能够快速将样品移动到正确的位置，以便快速轻松地进行测量设置和自动化编程。该系统的大型联锁门为样品装载/卸载提供了安全、方便的访问。 其他硬件功能包括：单拱形架构和集成振动隔离系统快速更换自对齐探针高精度编码 XY 样品台，实现更快的自动数据收集N-Lite 低力，采用软触控技术，具有 1mm 测量范围，可同时用于测量精密和高垂直范围样品

创新的光学技术,展现更高的实力 Metavision-1008i采用D-Scan光学系统,使检测器分辨率提高了一倍,检测极限、精度和准确度也比传统光学设计提高了数倍。 D-Scan光学系统的使用让波长范围更宽,具有完整的光谱覆盖范围以确保45种以上元素的检测分析。Metavision-1008i同样适用于各种纯金属和合金的黑色金属和有色金属应用,钢铁中的碳元素(C)和硫元素(S)的检出限低至15ppm和10ppm,氮元素(N)也可分析至20ppm,使Metavision-1008i成为绝大多数分析要求的理想选择。在有色金属中,Metavision-1008i也提供99%或所有纯金属的分析,其中一些(Cu,Pb等)的纯度也远远超过99.95%。提供好的结果对于任何光谱仪来说,分析的质量和稳定性都与电源的质量及其提供的电流放电的稳定性密切相关。此外,在高精度级别定制输出的能力对于确保针对每个应用程序中的每个元素优化分析至关重要。Metavision-1008i的创新数字等离子体发生器包括一个全电流控制源,每个放电参数都有广泛的输出范围。通过对每个参数的超高精度计算机控制,功率单元确保了高水平的等离子体稳定性,并能够为不同的应用生成理想的光谱。模块化设计Metavision-1008i的设计非常易于维修和维护。该仪器在其构建中模块化,优化子系统的隔离设计,以提供双重优势-无干扰/噪音和易于维护和维修。每个系统都可以轻松独立地访问,工程师可以进行维修,操作员可以进行日常维护任务。该设计还确保在任何操作(包括清洁和更换任何消耗品)中不会产生任何风险。技术特点45+元素的标准检测 包括N、C、S、P、B等,均为低下限双光学系统,提高灵敏度和检测限优越能力--分析钢铁中的C、N、S和P以及铝合金中的P时检出能力≤20 ppm稳定光学系统,确保始终如一的高准确度和高精度可现场灵活添加基体及分析程序全数字脉冲电流控制的电源新一代处理软件,用于低检测限的无噪声清晰光谱,确保分析的准确性。高等级识别,用于快速识别等级和基体,ARQC等无真空光学系统设计可降低使用和维护成本,并可快速稳定仪器本身。可应用于线材分析(直径2.2毫米),薄板析分(厚度0.05毫米),以及更多分析应用分析结果的准确性、质量和可用性才是价值的驱动力。为此,Metavision-1008i配备了满足各行业用户绝大多数需求的功能。这不仅包括元素覆盖率和检测限,还包括光谱仪和分析套件提供的额外输出。在分析能力方面,它是通过每个基体所需的绝大多数元素的检测能力来实现的。从C、S、P和N到V、Sb、Hg和As,Metavision-1008i提供了一个广大的覆盖范围和低检测限。所有分析程序还经过精心设计,可提供标准程序和可选程序。Metavision-1008i的Analyst套件配备了一个强大的、可定制的报告编写引擎,还提供了大量其他功能。 从气体质量检查和主动警报系统到等级和CRM库(包括预装和用户配置),以及添加自定义元素和程序的能力,此程序确保仪器能够使实验室实现光谱仪的价值扩大化。钢铁厂和各种铸造及机械加工厂需要分析广泛的元素,重点是高精度和低检出限,1008i可以分析黑色金属中的29种以上元素,包括低至20ppm的氮,并涵盖除氧以外的所有关键元素,大多数元素的分析水平可低至10-20ppm,有些元素的分析水平甚至更低。这使1008i成为大多数钢铁及有色金属冶炼或加工铸造厂的理想选择。在有色金属应用中,1008i的高分辨率决定了各种元素更宽的分析范围,确保对各种低合金和高合金的分析具有高的分析精度和准确性,可以提供痕量分析。对于纯金属生产商,如铅、锌、铜、钛等,Metavision-1008i可以对包括铅、砷、镉等重金属元素在内的各种元素进行低检测限,使用户能够满足纯度要求,并确保符合监管规范。 在纯金属应用中,元素的检测限能够以高的精度分析纯度高达99.95+%的金属。第三方检测机构为众多行业提供服务,通常每天要分析几百个不同材料和基体的样品。对于这类实验室来说,拥有一台高质量、低运行成本和覆盖元素和检测范围更广泛的光谱仪对于确保满足不同客户的需求至关重要。Metavision-1008i的快速分析时间确保了高质量和低检测限,满足了几乎所有工业用户的分析要求,使其成为大多数第三方实验室的理想解决方案。

创新光学驱动Metavision-M1008i3 采用高分辨率双光学系统,采用新一代CMOS探测器和定制开发的光学系统,具有其他同类产品不具备的分辨率,具有更低的检出限、更高的稳定性和更广的元素覆盖范围。此外,整个光学系统密封,热稳定温度低,降低了热噪声,进一步提高了性能。Metavision-M1008i3 波长范围为118- 671nm,可扩展至800nm,覆盖了大多数元素线。在标准配置中可分析各基体中5种元素,并具有进一步扩展的能力。Metavision-M1008i3 倒数线性色散(RLD)为0.8 nm/mm,其定制开发的组件和应用程序,确保其是同类产品中能够以高的精度提供Fe, Cu和Ti基(低至10ppm)的O分析的仪器 仪器还提供微量元素和合金元素的低水平分析,包括C、S、P、B、Ni、Cr、Li、Na等。此外,随着新的升级,Metavision-M1008i3 现在还提供钛中的氢(H)分析。提供分析结果对于任何光谱仪来说,分析的质量和稳定性都与电源的质量及其提供的电流放电的稳定性密切相关。此外,在细粒度级别定制输出的能力对于确保针对每个应用程序中的每个元素优化分析至关重要。Metavision-M1008i3 的创新数字等离子体发生器包括一个全电流控制源,每个放电参数都有广泛的输出范围。通过对每个参数的超细粒度计算机控制,功率单元确保了等离子体稳定性,并能够为不同的应用生成理想的光谱。模块化设计Metavision-M1008i3 的设计非常易于维修和维护。该仪器在其构建中模块化,优化子系统的隔离设计,以提供双重优势-无干扰/噪音和易于维护和维修。每个系统都可以轻松独立地访问,工程师可以进行维修,操作员可以进行日常维护任务。该设计还确保在任何操作(包括清洁和更换任何消耗品)中不会产生任何风险。经济性Metavision-M1008i3 提供快速分析,并采用双光学设计,不需要真空泵。通过消除持续净化将氩气消耗降至低水平。该仪器还可以在现场随时升级,以根据需要添加元件和校准,并且需要日常维护的部件的设计,软件界面和应用程序套件都被设计为即使是外初学者也可以使用。确保在产品使用周期的每个阶段都具有最少的使用成本。技术特点波长覆盖范围为118-671 nm(可选扩展至800nm) 冷却、低温、密封的光学系统,具有高稳定性和低检测限标准配置55种以上元素 包括Ti中低C、S、P和H、N、O元素自动识别材质和基体Al, Ti, B和Ca的可溶-不溶性分析用于光学元件的内部氩气再净化装置仪器和用户安全防护功能采用新一代处理软件,可获得无噪声的清晰光谱,实现了低检测限检测时高精度和高准确性综合判断系统,包括错误检测、报告和日志记录无真空光学器件可降低维护成本,仪器快速稳定细丝(0.1mm)、薄片(0.02mm)等的特殊应用光学系统使用新一代高分辨率探测器的多光学系统波长范围 118-671nm(可扩展至800nm)低温冷却、热稳定和密封光学元件,确保高精度和高稳定性激发光源全数字等离子体激发光源90-270 VAC 50/60 Hz

TMC 主动隔振平台STACISIII是一种灵活的高级主动隔振系统。STACIS 采用先进的惯性振动传感器、复杂的控制算法和先 进的压电执行器，通过连续测量地板活动，然后扩展和收缩压电执行器以滤除地板运动，实时消除振动。STACIS 最初设计用于隔离先进半导体工厂中的精密微光刻、计量和检测设备，现在是嘈杂环境中最敏感仪器的行业标准解决方案，包括但不限于半导体工厂、故障分析实验室、纳米技术研究、纳米制造设施, 和材料研究。STACIS III 包括一个新的和改进的数字控制器 DC-2020。凭借新的双核处理器和以太网以及前后面板上的 USB 串行端口，这种新的高级控制系统为用户提供了现代且易于使用的图形用户界面 (GUI)。STACIS 在全球有数百个成功安装案例，是对振动最敏感的仪器的理想隔振系统。 特点&优点STACIS 的刚度是空气隔振器的数百倍，不受空气隔振系统的任何限制。没有“软”悬挂，与主动空气系统不同，STACIS 可以放置在带有内部主动空气隔离系统的工具下方，两个系统都经过充分优化。独特的串行设计和专有的高压压电技术 产生了从 0.6 Hz 到 150 Hz 的宽主动带宽和无与伦比的真正主动隔振，从 2 Hz 开始减振 90%。性能：4500 lbs (2045 kg) 有效载荷在 VC-C（500 μin./s，12.5 μm/s RMS）下通过模拟振动测试性能规格活动自由度6活动带宽0.6 赫兹 - 150 赫兹无源固有频率18 Hz 垂直和水平有效有源谐振频率0.5赫兹1 Hz 时的隔离40% - 70%≥2 Hz 时的隔离≥90%10 lb (4.5 kg) 阶跃输入后的稳定时间（10:1 减少）0.3 秒内部噪音0.1 纳米 RMS每个隔离器的工作负载范围低容量：400-1100 磅（182-500 千克） 中容量：900-2100 磅（410-955 千克）高容量：1900-4500 磅（864-2045 千克）刚度（1000 磅/454 千克质量，中等容量隔离器）40,000 磅/英寸。(73 x 10 5牛/米)从隔离器最 大 4 英寸（102 毫米）处发射的磁场0.02 μG 宽带 RMS隔离器设计、尺寸以及环境和公用设施要求环境与安全符合 CE 和 RoHS主动隔离元件最小容量为 3300 lb. (1500 kg) 的压电执行器接收来自高压放大器的信号，输出电压高达 800 VDC。垂直致动器支持隔离的有效载荷。无源隔离元件单一刚性各向同性弹性体（无需压缩空气供应）振动传感器元件向下的地震检波器型惯性传感器测量隔离器下方的地面振动并提供与振动运动速度成正比的电压主动反馈控制回路在支撑隔离表面的弹簧下方测量、处理和衰减地板振动隔离器尺寸 (WxDxH)11.75 x 12.5 x 10.8 英寸300 x 320 x 275 毫米隔离器重量75 磅（34 公斤）工作温度50° - 90° F10° - 32° C储存温度-40° - 130° F-40° - 55° C湿度80% 最 大值在 68 华氏度（20 摄氏度），最 大露点：18 摄氏度系统电源要求100、120、230、240 伏交流电50/60 赫兹交流电；600 W符合 CE 标准地板位移480 微英寸。(12 μm) 低于 10 Hz每个系统的隔离器数量最少 3 个选项层压不锈钢平台、框架、立管、调平装置、抗震装置、升降机罩DC-2020 控制器规格尺寸（宽x深x高）19 x 8.5 x 1.75 英寸483 x 216 x 45 毫米重量6.3 磅（2.9 公斤）处理器150/75 MHz 双核采样率10 赫兹模拟输出16通道模拟输入16通道状态灯单灯前面板端口1x 串行 USB 2.01x 串行 Micro-USB1x 以太网 RJ-452x BNC后面板端口1x 串行 USB 2.01x 以太网 RJ-451x RS-232 DB-9 传统串行用于传统 STACIS 2100 隔离器用户界面前面板 LCD 显示超级终端扩展 GUI上的字符菜单Microsoft WindowsEmbedded Ethernet GUI应用照片：注意：具体价格请咨询销售经理，网上标价不作为实际出售价格。如果想了解更多产品信息以及价格货期，青岛森泉光电有限公司欢迎您的咨询。我司提供优质可靠的产品和完善的售后服务，为您提供光电帮助。

现货供应AKTA Explorer 100 Air, AKTA Explorer 100, AKTA Explorer 10, AKTA Purifier 100, AKTA Purifier 10, AKTA FPLC, AKTA Prime, AKTA Prime Plus, GE AKTA全系列蛋白纯化仪。AKTAprime plus 是一个精巧的一步式纯化系统，可运行大多数的预充填柱。 为取得可靠性和便利性，我们推荐使用 HiTrap、HiPrep 或 HiLoad 柱，这些柱可方便地咬合到装置的一侧。 系统针对典型应用有预编程的方法，例如亲和标记蛋白质的纯化，MAbs 以及样本清洗。 这一灵活的系统可还用于更多的常规纯化任务，例如缓冲液交换、凝胶过滤、离子交换、HIC，以及亲和层析。 此装置是紧凑型装置，包括一个系统泵、分液收集器、UV、导电率和 pH 值（可选）监测仪。 另外，缓冲液选择阀、样本喷射、梯度模式、分流功能也集成到了系统中。 此系统不是电脑控制型，但使用 PrimeView 软件时，可提供持续的实时数据以及结果评价。&bull 简单易用、预编程的模板，涵盖所有常用技术 &bull 针对标记蛋白质纯化的特异、快速、按钮式方法 &bull 使用 HiTrap、HiPrep 和 HiLoad 预填充柱可取得最佳效果。泰渡生物自研ACHROM蛋白纯化设备AKTA维修二手AKTA年保验证服务

AKTAprime&trade plus 是一台紧凑的液相色谱系统，设计用于一步纯化蛋白。只需按一键即可实现很多蛋白的纯化过程。该系统操作非常简便，按键并浏览面板上的液晶显示器，即可控制所有操作。采用AKTAprime&trade plus，可靠的、方便的实验室规模蛋白纯化将不再是想象。 针对典型应用，有为特定层析柱优化的预编方法，所有参数已预设好——您需要做的只是输入样品体积，按开始键。所以您可以把常规纯化步骤变成简单的按键。AKTAprime&trade plus上的应用模板建议的层析柱是HiTrap&trade 和HiPrep&trade 预装柱。 对于常规纯化技术如离子交换、疏水相互作用、亲和或脱盐/缓冲液更换，AKTAprime&trade plus也有一些预编的方法模板适合采用常规纯化技术的普通方法。在AKTAprime&trade plus系统上您还可以灵活地逐行编程，得到完全自编的方法，最多存储40种。更多详情请来电咨询。点击查看更多AKTA&trade 系列产品：

孢子和微生物，例如 Hormoconis Resinae 真菌是所有燃料所固有的。水分和游离水的存在，加上适当的环境条件，会形成由酵母、细菌和真菌组成的微生物污泥，并引起腐蚀、堵塞、脆化等问题。此外在航空技术领域，随着飞机燃油系统及所用油料的要求越来越高，燃油系统中的微生物污染物也不容忽视。微生物以燃油中的碳氢化合物为食，使燃料油降解。定期监测燃料系统的污染情况是很重要的，特别是对H.res真菌的监测，因为它是一种可以附着在水箱表面的指示性污染物。并且它还具有很强的腐蚀性。微生物污染对油箱和飞机结构造成的物理损伤要比其他污染更大。同时还会带来其它问题包括过滤器堵塞、元件故障和计量误差。早期为了响应运营商和维修机构对飞机油箱微生物污染总量进行实时检测的需求， Conidia Bioscience有限公司开发了FUELSTAT resinae PLUS 测试套件.。目前FUELSTAT resinae PLUS 快速测试套件已应用于全球130多个国家，400多条航线，10多个大型油品公司。FUELSTAT 测试套件-对柴油、生物柴油和航空燃料中的微生物污染提供快速、准确的现场检测。 产品特点： l 符合ASTM D8070标准l 收录在IATA（国际航空运输协会）的指南手册，列为JIG Online公司认可产品，被列入AMMs（飞机维护手册）中，预计将被EI1545收录l 相关标准：ASTM D975, EN590，CGSB 3.517 ,CGSB 3.520 B1-B5，ASTM D7467 Diesel B6-B20，CGSB 3.522，ASTM D396，EN 16734 B10，EN 16709 B20,B30, ISO 8217l 快速简单，可以在10分钟内得到结果，15分钟内获得检测报告。l 可以检测不同污染物的数量：H.res、细菌和真菌以及样品中活跃生长的酵母菌。l 无需专业设备，手机APP即可获得结果，并存储数据。l 以样品中物质的重量为报告，比旧的菌落形成单位(CFU)计数更准确。l 拥有完整的使用说明，不需要无菌的实验室条件，可以在现场使用l 使用安全塑料，无特殊试剂，测试后方便回收，无需特殊处理。 只需3步完成微生物测试1, 将4滴油样倒入FUELSTAT测试套件中2使用FUELSTAT应用软件扫描套件获得即时结果3获得实时测试结果更新无论您在全球哪个角落

Table stable主动减振台品牌：Table stable型号：TS-140+40/LP描述：Table stable主动减振台是一款紧凑型动态隔振系统，可用于抵消工作环境对高灵敏度精密设备产生的不必要振动，以提高精密设备的工作性能，使用简便，具有优异的隔振性能及通用性。Table stable主动减振台工作原理 TS 系列主动隔振台采用先进的隔振技术，可以隔离6个空间方向的振动（包括水平方向和垂直方向），TS 系列主动隔振台利用控制器内的压电加速传感器将外界振动的压力信号转换为电信号发送至隔离模块中的压电换能器中，随后压电换能器将产生一个与传入压力大小相等，方向相反的压力信号来消除传入振动。隔振系统利用一个反馈回路消除隔振系统的机械共振。Table stable主动减振台产品亮点： l 六个自由度全方位隔振 l 研究级压电传感技术 l 即插即用系统 l LCD实时显示（振动水平，重量分布等） l 主动隔振性能突出 l 集成简便 l 专注科研，无需安装和维护 Table stable主动减振台应用范围： l 原子力显微镜 l 扫描探针显微镜 l 干涉测量 l 荧光显微镜 l 摩擦学和纳米压痕测试 l 高精度测量 l 高分辨率显微镜 l 轮廓测量 l 试管受精 升级选项： l 工作台集成 （包括架子，监控器支架，键盘托盘等） l 隔音箱集成 (如静噪器，AEK-2002及定制隔音设备) l 定制面板尺寸及材料 （通常为阻尼铝板，面板可定制不锈钢，铁磁钢，可打孔） l 振动器集成（激励源） l 远程显示 （重量分布，内部电机调平，X/Y/Z轴振动水平，启动/关闭组件，开关隔振台） l 远程电源 （免受电磁噪音或热量干扰）Table stable主动减振台技术参数：型号：TS-140+40/LP 系统配置：完全整合主动隔振范围：频率大致为 0.7 ～ 300 Hz (超过300 Hz为被动隔振)幅度: 20 um (垂直和水平)高度调节：自动搬运或运输期间锁定：自动锁定功能隔振条件：可在前显示屏上观察到。可通过将示波器连接到后面板上的BNC 插座观察8 轴振动状态。安装板尺寸：500 (W) x 600 (D) mm整体尺寸 (大约)：500 (W) x 600 (D)x 84 (H) mm负载能力(同等 /低重心）：180 kg（考虑到负载上的偏心重量，请在最大负载能力80% 范围内使用）系统重量 (大约)：29 kg输入电压：90 ～ 120 ＶAC, 200 ～ 240 VAC, 43-60 Hz功耗：隔振期间最大 10 W，负载调整期间最大 20 W温度范围：5 ℃ ～ 40 ℃相对湿度：10 ～ 90 %（5 ～ 30 ℃）,10 ～ 60 %（30 ～ 40 ℃）服务场所：仅用于室内 工作高度：高达2,000 m选项1 TP25 安装板: 铁磁拉丝不锈钢410 表面, 无漆,M6-25 mm XY 矩阵钻孔和螺孔，有效攻丝深度: 6 mm选项 2 遥控盒选项 3 内置减振功能的高刚性框架Table stable主动减振台隔振效果： 适用于各类透射式电子显微镜(TEM)、扫描式电子显微镜(SEM)、发射式电子显微镜、探针显微镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜（AFM）、横向力显微镜、白光干涉仪，光刻机，微纳米结构和加工仪器！超低频隔震台、防震台、减震台、除震台,隔振台，主动隔振台，主动减振台，主动防震台，主动防振系统。

ATAGO（爱拓）RX-5000α-Plus 全自动台式折光仪（超高分辨率） RX-5000α-Plus 是以 RX-5000α 作为标准并提高其精度的进阶型号（Brix显示3位小数，折射率显示5位小数）高精度（测量精度：折射率（nD）±0.00002，Brix ±0.010%）测量多种液体的折射率（nD）、白利度（Brix）及浓度内置帕尔贴温控功能，无需恒温水浴。标配 FDA 21 CFR Part 11 数据记录软件，自动保存测量记录。用户自定义标度 60 组具备手动校准功能。适用于各类实验室、检测分析部门使用。 【五种测量模式】MODE-1 精确测量模式样品到达设定温度后自动开始测量。 MODE-2 快速测量模式 测量固定间隔的折射率和温度，并在设定温度下显示最后测量值。 MODE-3 非温控测量模式可关闭帕尔贴温控功能实现更快速测量，4秒可显示测量结果。 MODE-S 非稳定性样品测量模式样品达到一定程度的稳定性自动显示测量值。MODE-T 低浓度液体样品测量模式（RX-5000i-Plus专属）适用于获取高重复性的结果（Brix 0.001%） 【技术参数】测量精度折射率（nD)：±0.00002（*重复性±0.00001）Brix：0.000～100.000%（ATC） 产品型号RX-5000α-Plus测量范围折射率（nD)：1.32700～1.58000 Brix：±0.010%（*重复性±0.010% ） 温度：±0.05℃分辨率折射率（nD)：0.00001自动温度控制范围5.00～60.00℃Brix：0.005% 温度：0.01℃材质样品槽：SUS316 数据输出数字打印机（选配件）棱镜：人工蓝宝石计算机（RS-232C）用户自定义标度60组电源AC 100～240V 50-60Hz尺寸与重量37×26×14cm，6.4kg（仅主机）功率65VA 【ATAGO（爱拓）全自动台式折光仪----RX-α系列】RX-9000α （高精度，宽量程，高温型） RX-7000α（宽量程，高温型）RX-5000α-Plus?（Brix显示3位小数，折射率显示5位小数）RX-5000α-Bev?（平滑型样品槽，饮料品控专用）RX-007α （高精度，低浓度，Brix5%以下的水溶液专用）RX-DD7α -Tea（低糖茶、饮料专用）

MissionBio单细胞多组学 Tapestri 平台用途：Tapestri 单细胞 DNA 测序组合可令您专注于与您的疾病研究最相关的突变和感兴趣区。从专为一系列癌症研究范围安排的预先设计的测序组合中仔细选择，从而设计实验，并以最少的时间和精力运行实验。或是创建完全定制的测序组合，以实现最大的灵活性。 利用寡糖苷酸标记的蛋白质抗体可融入您的 Tapestri 实验标记细胞表面，从而同时实现蛋白质测量以及在相同细胞中发现基因型和表现型。 其应用范围包括恶性血液肿瘤、实体瘤、基因组编辑、生物标记物发现，以及细胞和基因治疗。恶性血液肿瘤实体瘤基因编辑生物标记物发现细胞和基因治疗预先设计的 DNA 测序组合：• 急性髓性白血病• 髓细胞• 慢性淋巴细胞白血病• 急性淋巴细胞白血病• T 细胞淋巴瘤• 套细胞淋巴瘤• 骨髓增生异常综合征• 多发性骨髓瘤• 骨髓增生性肿瘤• 慢性髓细胞白血病• 滤泡性淋巴瘤• 典型霍奇金淋巴瘤• 弥漫性大 B 细胞淋巴瘤预先设计的 DNA 测序组合：• 肿瘤热点区域• 浸润性乳腺癌• 皮肤黑色素瘤• 多形性成胶质细胞瘤• 卵巢浆液性囊腺癌• 肺鳞状细胞癌• 结肠癌• 胰腺癌• 前列腺癌• 肺腺癌• 肝细胞癌• 肾透明细胞癌与 Mission Bio 合作进行单细胞突变剖析和基因组 编辑，同时在 Tapestri 平台上构建单细胞 DNA 测序组合。联络当地销售代表，以了解更多信息。预先设计的蛋白质测序组合：TotalSeq-D Heme OncologyCocktail定制 DNA 测序组合：20 至 1,000 个扩增子可涵盖 DNA 感 兴趣区定制蛋白质测序组合：45 个接合寡糖甘酸的抗体，可涵盖表面蛋白质表达端对端解决方案可无缝接入您的 NGS 工作流程在您的 NGS 系统前使用 Tapestri 仪器、试剂和耗材，然后利用 Tapestri Pipeline 和 Taprestri Insights 软件实现数据分析和可视化。TAPESTRI 工作流程将复杂的多分析物数据变为可操作的真实见解 Tapestri Pipeline 和 Tapestri Insights 软件解决方案可提供已针对单细胞 DNA 和蛋白质分析优化的、简化的生物信息工作流程。我们的全包式分析解决方案可通过用户友好型体验提供从序列输入、数据分析到可视化等全部内容，确保您获得有意义的见解，从而推进自己的研究。利用真正的单细胞多组学解开癌症之谜Tapestri 平台是能够通过相同细胞提供基因型和表现型数据的全球SG、也是唯一的单细胞解决方案。Tapestri 平台基于创新的两步微流控液滴工作流程，可在单个细胞中获取DNA和蛋白质，从而为您提供真实的多组学结果。凭借其wylb的速度和规模，您现获取有价值的病人信息，从而查明真相并解开错综复杂的癌症之谜。在单细胞层面了解癌症的重要性癌症是一种异质性疾病。为解决异质性并改进患者分层、疗法选择和疾病监控，您需要一种工具来帮助您在整体上了解细胞，并跨越多个维度整合数据。与批量测序不同，单细胞多组学可令您：发现罕见的细胞群体识别共同发生的突变测量接合性解决克隆异质性具有单细胞精准性的克隆解决方案单细胞多组学的力量将来自单细胞的基因型和表现型数据结合在一起可提供一种解决方案，找到独特的疾病特征，以进行个性化治疗。 Tapestri 平台亮点：在单个细胞中同时分析 DNA 和蛋白质表达，以获得真正的多组学见解具备核心组件的完善解决方案可将您从单个细胞引向已做好测序准备的资料库和分析工具，从而将您的多分析物数据转换成可操作的见解有针对性的定制内容适用于关键肿瘤学应用

特点“即插即增”BIOSTAT? Aplus 是一款适合科研、教学和工业应用的袖珍型高压灭菌实验室发酵罐/生物反应器系统。提供适合微生物培养和细胞培养的各种易于操作的预配置版本。适用于：微生物培养 - 细菌、酵母和真菌的生长。细胞培养 - 动物、昆虫和植物细胞的生长从振荡器或组织培养瓶过渡小规模蛋白质表达用于操作和数据存储的包含式笔记本电脑工作容积为 1 L、2 L 或 5 L 的可互换式培养容器操作每台 BIOSTAT? Aplus 都包含基于个人电脑的强大操作。图形操作屏幕简单明了，易于操作。主要特点：通过一台个人电脑最多可同时操作四个 BIOSTAT? Aplus 设备。用户可选个人设备标识包括针对每台 BIOSTAT? Aplus 设备的“主操作”和“仅限查看”格式，支持本地操作和办公室过程监控同时进行 BIOSTAT? Aplus 操作和数据采集的多任务操作 监控过程控制软件BioPAT? MFCS SCADA 系统是监控生物过程控制的全球标准，属于 BIOSTAT? Aplus 套装的一部分。在 DA 版本中，它提供各种功能，包括：批量化数据收集和存储用于扩展过程分析的联机和脱机数据存储与评估最多绘制和显示 10 个联机、脱机或计算值的过程变量已完成或活动批次的数据导出可通过第三方软件（例如 Excel）作进一步处理用于 OUR、CER、RQ 或其他高级控制策略联机计算的基本编程可视界面

德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率，测量重复性可以达到5&angst 。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新，更加巩固了其行业地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。台阶仪Dektak XT能实现： 台阶高度重现性低于4埃 Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性 先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准 新硬件配置使数据采集时间缩短40% 64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍 频率，操作简易 直观的Vision64用户界面，操作简易 针尖自动校准系统 布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现高的性能 单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围 40多年不断创新 建立在40多年的探针轮廓技术创新的知识和经验之上薄膜测试仪，在基于微处理器的轮廓仪，和300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的。新的DektakXT是single-arch设计的探针轮廓仪，内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得测量及操作效率的探针轮廓仪 有超过一万台设备，品牌Dektak以质量、可靠性及高性价比著称。当需要台阶高度、表面粗糙度、可靠测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得可靠及表面测量 提高数据采集和分析速度 利用直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和背景噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内有效的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。 参数： 测试技术探针式表面轮廓测量技术（接触模式）测量范围二维表面轮廓测量可选择三维测量以及数据分析样品观测可选择放大倍数，视场（FOV）范围：1~4mm探针传感器低惯性量传感器 （LIS 3）探针作用力LIS 3 传感器中 1~15mg低作用力模式N-Lite+ 低作用力 0.03~15mg探针选项探针曲率半径 50nm~25um高径比针尖（HAR）10um×2um 和200um×20um ；也可以采用客户定制针尖样品 X/Y 载物台手动 X/Y（4英寸）：100mm*100mm，可手动校平自动 X/Y（6英寸）：150mm*150mm，可手动校平样品载物台手动，360度连续旋转自动，360度连续旋转计算机系统64位多核并行处理器，Windows 7 系统；可选配23英寸平板显示器软件Version 64 操作分析软件，应力测量软件，悬臂偏转测试软件；选配：缝合软件；3D应力分析软件；3D测量软件隔振系统多种隔振方案可供选择。扫描长度范围55mm 2英寸）单次扫描数据采集点120，000样品厚度50mm (2英寸)晶片尺寸200mm (8英寸)台阶高度重复性5&angst , 1sigma on 0.1μm step垂直方向扫描范围1mm (0.039英寸.)垂直方向分辨率分辨率可达1&angst (在6.55um测量范围内 输入功率100 – 240 VAC, 50 – 60Hz温度范围可以操作温度为20~ 25°C (68~77°F)湿度范围≦80%，无凝结系统尺寸和重量455mm W x 550mm D x 370mm H (17.9in. W x 22.6in. D x 14.5in. H) 34kg (75lbs.) 隔离罩：550mm L x 585mm W x 445mm H (21.6in. L x 23in.W x 17.5in. H) 5.0kg (11lbs.)

STAHL CraneSystems的ASR7钢丝绳葫芦是在AS7钢丝绳葫芦的基础上经过重新设计与简化的。它的安全工作载荷范围从20,000 kg至32,000kg,很好地填补了SH和AS7钢丝绳葫芦之间的空隙。由经过测试的AS7系列标准部件组成，配有细线电缆的ASR7钢丝绳葫芦为您提供诸如高性价比等数不胜数的优势。得益于降低的安全工作载荷，可以使用更小的电机和小直径、长使用寿命的钢丝绳，同时又不会损失 STAHL CraneSystems一贯的高品质。相较于卷筒长度相同的标准产品，ASR7的起升高度也增加了。吊钩和滑轮适用于直径为20mm的钢丝绳。ASR7钢丝绳葫芦拥有三种不同的FEM级别，按安全工作载荷和应用方式分类。