依泽替米贝

Zetasizer Pro纳米粒度仪是一款功能强大、用途广泛的常规实验室测量解决方案，可测量颗粒粒度、分子大小、电泳迁移率、Zeta 电位和分子量。 与以往型号相比，其粒度测量速度超过以往的两倍，加快了样品处理速度。由于采用非侵入背散射 (NIBS) 光学设计，该技术将背散射检测技术与可变测量位置和高效光纤技术结合在一起，与传统DLS相比，显著增加了样品浓度范围和粒度的测量范围。 滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，以实现分析灵活性。特点和优点凭借以下优势，即使刚入门的用户也能使用 Zetasizer Pro 纳米粒度电位仪完成高质量的测量：动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 10 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围，即使是处理非常浓缩的样品，也能实现高灵敏度具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率 以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型 “自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，以实现分析灵活性 如果您的需求发生改变，可现场升级到Zetasizer Ultra 可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响一系列可抛弃及可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量主要应用Zetasizer Pro 应用广泛，包括：学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具，广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛，被科学文献引用的次数达上万次，成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中，温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性，造成变性和聚集、功能丧失， 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选，并可协助配方开发， 从而优化流程和产品，消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位，以改善食品、饮料和调味料的外观及味道，并优化分散和乳化稳定性，从而延长产品保存期限，提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质，比如更高的催化活性和溶解度，或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定，以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度分析仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性（例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期）方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量，从而减少配方时间，加快新产品上市。消费品改良多种消费品时，需要了解和控制胶体参数，引导颗粒间的相互作用，并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度， 并测量乳液的液滴大小和稳定性。

百特BeNano 180 Zeta Pro纳米及Zeta电位仪是BeNano90 + BeNano180 + BeNano Zeta三合一的顶级光学检测系统。该系统中集成了背向+90°动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径测试原理动态光散射粒径范围0.3nm-15μm★样品量3μL-1mL★检测角度173° & 90° & 12°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cmZeta测试粒度范围2nm-120μm分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★微流变测试频率范围0.2-1.3×107 rad/s★测试能力均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量趋势测量模式时间和温度粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★折光率范围1.3-1.6★系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C冷凝控制干燥的空气或氮气激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最快25 ns采样，最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 颗粒体系的Zeta 电位及其分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 静态光散射● 电泳光散射相关技术 相关应用

即使作为入门级纳米粒度及Zeta电位分析仪，Zetasizer Lab 的功能也不容小觑。 Zetasizer Lab 纳米粒度仪采用经典动态光散射(90°)，包含"自适应相关"算法、M3-PALS 和恒流 Zeta 模式。 Zetasizer Lab 纳米粒度分析仪还随附 ZS Xplorer，这是一款易于使用的分析软件，提供有关数据质量的实时反馈，以及如何改进结果的指导。特点和优点Zetasizer Lab 纳米粒度仪是一款出色的入门级系统，提供各种功能，其中包括：动态光散射 (DLS) ：用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 （使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ；取决于样品和样品制备）电泳光散射 (ELS) ：测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性扩展粒度范围分析功能可针对超过 1 μm 的颗粒粒度提供更高的准确性，并针对超过 10 μm 的颗粒粒度提供指示性结果（使用 ZSU1002 低容量可抛弃粒度测量池）具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率 以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型 “自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射（90°）测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规支持使用低容量可抛弃毛细管样品池对低至 3 μL 的样品进行粒度测量选择 Red Label 型号可用于测定更具挑战性的样品，如蛋白质、表面活性剂溶液和低固含量样品如果您的需求发生改变，可现场升级到Zetasizer Pro 或 Zetasizer Ultra型号主要应用Zetasizer Lab 应用广泛，包括：学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具，广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛，被科学文献引用的次数达上万次，成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中，温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性，造成变性和聚集、功能丧失， 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选，并可协助配方开发， 从而优化流程和产品，消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位，以改善食品、饮料和调味料的外观及味道，并优化分散和乳化稳定性，从而延长产品保存期限，提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质，比如更高的催化活性和溶解度，或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定，以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度分析仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性（例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期）方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量，从而减少配方时间，加快新产品上市。消费品改良多种消费品时，需要了解和控制胶体参数，引导颗粒间的相互作用，并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度， 并测量乳液的液滴大小和稳定性。

百特纳米粒度及Zeta电位仪BeNano 180 Zeta是BeNano 180 + BeNano Zeta的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径测试原理动态光散射粒径范围0.3nm-10μm★样品量40 μL – 1 mL★检测角度173° & 12°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cmZeta测试粒度范围2nm-120μm分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★微流变测试频率范围0.2-1.3×107 rad/s★测试能力均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量趋势测量模式时间和温度粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★折光率范围1.3-1.6★系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C冷凝控制干燥的空气或氮气激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最快25 ns采样，最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件 检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 颗粒体系的Zeta电位及其分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 静态光散射● 电泳光散射相关技术相关应用

Litesizer DLS 系列只需一键触摸即可表征纳米和微米粒子。借助这些动态光散射仪器，您可以在较宽的浓度范围内测定分散体中的颗粒以及溶液中的肽或大分子，从而缩短样品制备时间。关键功能得益于完美的角度选择 - 无论您的样品如何通过多角度粒度测定 (MAPS) 确保实现不同大小群体的高分辨率从三个检测角度（侧向、后向或前向散射）中进行选择，以实现最佳参数设置手动选择最适合的动态光散射仪器角度或使用自动角度选择 得益于多功能后向散射角，这对于浊度样品较理想，其减少了多个散射事件，确保优秀的数据质量。依靠我们的 cmPALS 技术进行 zeta 电位测量通过 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 您可以通过电泳光散射法执行 zeta 电位测量。在低样品浓度（低至 0.1 mg/mL） 下采用我们的 cmPALS 专利技术（欧洲专利 2 735 870） 使用 cmPALS 享受更短的测量时间和极低的样品降解使用我们 zeta 电位样品池独特 Ω 形毛细管完成高度可重复的 zeta 电位测量在颗粒浓度测量中模式保持灵活性使用 Litesizer DLS 700 对一个样品中高达三种不同大小的粒子群进行免校准颗粒浓度测量使用这种基于单角度 DLS 或多角度粒度分析 (MAPS) 的模式可确保适用于较宽浓度范围内的单分散和多分散样品实现样品监测的持续的透光率测量享受样品的即时反馈 — 动态光散射仪器能够连续测量透射率充分利用自动优化测量参数（如测量角度、焦点位置和持续时间） 在一系列测量中获取有关沉积或聚集开始的数据使用同一仪器测定折射率使用 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 在 DLS 或 ELS 测量的精确波长和温度下测量溶剂的折射率（欧洲专利 3 023 770） 确保在所有试验条件下，获得出色的粒径和 zeta 电位值。借助 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 测定 ±0.5% 以内的折射率只需点击几下即可掌控您的测量使用我们简便易用的粒度软件 Kalliope 管理数据通过我们独特的单页工作流程，一目了然地了解您的输入参数、测量信号和结果 得益于预定义标准报告和结构化结果概览，快速查看您的测量结果 通过分析功能、Excel 报告，和自定义报告模板来深入挖掘您的数据符合 21 CFR Part 11 规定

Zetasizer Ultra 纳米粒度仪是用于测量颗粒与分子大小、颗粒电荷和颗粒浓度的系统，在结合了 Zetasizer Pro 和 Lab 特性和优点的基础上，增加了多角度动态光散射技术(MADLS)，是 马尔文帕纳科Zetasizer Advance 纳米粒度电位分析仪系列中最智能和灵活的仪器。 这一旗舰型纳米粒度分析仪充分利用了 ZS Xplorer 软件的易用性、高分析速度和数据可靠性等优势，运用多角度动态光散射技术 (MADLS) ，提供与角度无关的高分辨率粒度测量，并且能够测量颗粒浓度*，帮助您更深入地了解样品。*限 Zetasizer Ultra 红标版本 (Red Label)特点和优点Zetasizer Ultra 纳米粒度分析仪融合了功能强大的 DLS 与 ELS 系统，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子大小。 NIBS 的多用性和灵敏度可适用广泛的浓度范围，而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 扩展功能可直接分析颗粒浓度。 颗粒浓度的测量适合于各类材料，只需很少稀释，并且使用快捷，这一切使其成为一种理想的筛选技术。Zetasizer Ultra 甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和类病毒颗粒 (VLP) 等样品。 Zetasizer Ultra 的关键特性和优点包括：用于高分辨率粒度测量且与角度无关的多角动态光散射法 (MADLS) 可以更深入地展现您的样品粒度分布 动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 （使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ；取决于样品和样品制备）电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围，即使是处理非常浓缩的样品，也能实现高灵敏度简单的每峰值浓度/滴度测量（仅限红标Red Label版本）可抛弃型毛细管粒度测量样品池提供了无损、低容量（最低 3 μL）分析，并且粒度上限范围可达到 15 μm具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型“自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射（90°）测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，以实现分析灵活性可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响一系列可抛弃和可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量，其中包括新的低容量可抛弃粒度测量池套件，由于它可以抑制对流，所以既能进行样品量小到 3 μL 的粒度测量，也扩展了DLS 测量的粒度上限范围主要应用Zetasizer Ultra 纳米粒度仪应用广泛，包括：学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具，广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛，被科学文献引用的次数达上万次，成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中，温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性，造成变性和聚集、功能丧失， 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选，并可协助配方开发， 从而优化流程和产品，消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位，以改善食品、饮料和调味料的外观及味道，并优化分散和乳化稳定性，从而延长产品保存期限，提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度分析仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质，比如更高的催化活性和溶解度，或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定，以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性（例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期）方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量，从而减少配方时间，加快新产品上市。消费品改良多种消费品时，需要了解和控制胶体参数，引导颗粒间的相互作用，并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度， 并测量乳液的液滴大小和稳定性。

BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90 + BeNano Zeta二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径测试粒径范围0.3nm-15μm★样品量3μL-1mL★检测角度90° & 12°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cmZeta测试粒度范围2nm-120μm分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★趋势测量模式时间和温度粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★折光率范围1.3-1.6系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C冷凝控制干燥空气或者氮气激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最快25 ns采样，最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 颗粒体系的Zeta电位及其分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 电泳光散射● 相位分析光散射● 静态光散射相关技术相关应用

佛雷泽Frazier气体透过试验仪PMI的佛雷泽气体渗透性测试仪能够像降落伞一样计算织物通道的空气流通阻力（织物，针织和非织造纺织材料）。 此机器可快速并准确地测量固体，圆柱和片材样品的透气性。 佛雷泽气体渗透性测试仪为无破坏性测试和快速结果，是给研发和质量控制的理想选择。特点高流速样品的渗透率测量样品加压压缩下的渗透性可设计使用升高的测试温度和各种气体进行测试规格样品尺寸直径5cm2~100cm2，其他需求可另行设计样品夹盖手动式或气动式(180N 压力)，其他需求可另行设计加压气体氮气及空气等之非腐蚀性气体压力计范围0~100 psi流量范围0 ~ 200l/min (其他需求可另行设计)压差控制0.5 ± 0.01 inch watertorr

优点：动态光散射粒度测试范围: 0.3 nm - 15 μm兼容可抛弃微量毛细管样品池，样品量最小达到3 μL扩展粒度范围分析方法，提高了大于1 μm粒度测量的精度，最大粒度大于10 μm(使用可抛弃毛细管微量样品池)，临近微米和亚微米领域，降低了对其他技术的需求具有恒流模式的M3-PALS相位分析技术，可以在高导电介质中测量电泳迁移率和Zeta电位，减少了高离子浓度电极极化的误差采用创新的自适应相关算法，提供瞬态、稳态和未过滤的数据，识别与瞬态伪影相关的数据，极大的提高了数据的重复性，测试速度是以往的两倍以上通过深度学习实现的数据质量系统，帮助用户了解哪些粒度数据质量较差以及较差的原因。此外，该智能神经网络系统还会提供有关改进结果的建议，即使是经验不足的用户，也能得到可靠的数据能够在现场升级为更高端的Zetasizer Ultra型号参数Zetasizer LabZetasizer ProZetasizer Ultra粒度测量技术经典动态光散射(90°)动态光散射(非侵入式背散射-NIBS)动态光散射(173°、13°)动态光散射(非侵入式背散射-NIBS)动态光散射(90°、13°)多角度动态光散射(MADLS)测量角度90°, 13°173°，13°173°，13°，90°粒度范围（直径）0.3 nm - 15 μm0.3 nm - 10 μm0.3 nm - 15 μm最小样品体积3 μL12 μL3 μL最小样品浓度蓝标: 1 mg/mL红标: 0.3 mg/mL蓝标: 0.2 mg/mL红标: 0.1 mg/mL蓝标: 0.2 mg/mL红标: 0.1 mg/mLMADLS: 0.1 mg/mL最大样品浓度40% w/v40% w/v40% w/vZeta电位测量技术混合模式测量，相位分析光散射(M3-PALS)，恒流模式适合测量的粒度范围(直径)3.8 nm – 100 μmZeta电位范围无有效限制迁移率范围 +/- 20 μmcm/VS最小样品体积20μL样品浓度范围蓝标: 10 mg/mL - 40% w/v 红标: 1 mg/mL - 40% w/v最大样品电导率260 mS/cm电导率精度± 10%颗粒浓度测量原理不适用不适用蓝标: 不适用红标: MADLS-颗粒浓颗粒浓度范围不适用不适用1 x 108 - 1 x 1012个颗粒/mL系统产品合规一类产品激光，EN 60825-1:2014 和 CDRH、LVD、EMC、RoHS激光衰减自动，透射率100%至0.0003%激光信息高性能He-Ne气体激光器, 633 nm最大功率输出: 4 mW(蓝标) / 10 mW(红标)检测器雪崩光电二极管（APD）温度控制范围0-120℃尺寸(宽 x 长 x 高)322 mm x 565 mm x 245 mm重量19kg电源要求AC 100-240 V，50-60 Hz, 4.0 A能耗最大值100 W，典型值45 W工作环境条件+10°C至+35°C，35% - 80%相对湿度(无冷凝)计算机接口USB 2.0 或更高版本

塞贝克系数/电阻测量系统ZEM-3 ——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻 塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。 设备特点：◆ 拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；◆ 测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；◆ 欧姆接触自动检测功能（V-I图）；◆ 可以用适配器来测量薄膜；◆ 可定制高阻型。 参数配置：型号ZEM-3M8ZEM-3M10温度范围50-800℃50-1000℃样品大小方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL加热方式红外加热气氛高纯氦气（99.999%） 样品温差 MAX.50℃ 测量方式电脑全自动测量工作原理图： 设备结构： 样品腔部分： 应用方向：对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。可选功能： 薄膜测量选件 2. 低温选件（温度范围-100℃到200℃）3. 高阻选件（高到10MΩ）测试数据烧结P型Si80Ge20塞贝克系数及电阻率测量结果发表文章1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.用户单位清华大学中国科学技术大学上海交通大学复旦大学南方科技大学武汉理工大学中国科学院上海硅酸盐研究所中国科学院大连化学物理研究所......附：热电材料/器件测试设备热电材料测试设备热电转换效率测试设备

采用独特设计的一款光泽仪，无需用手即可做到：象测量平面一样测量曲面任何镜面或亚光的产品象测量大平面一样测量小工件 产品应用：涂料：室内用具，各种笔，玩具等木材：原木，涂过油漆或清漆的材料汽车部件：方向盘，挡泥板等塑料：各种挤压成型的产品，如窗户，框架，瓶子，手机等家具：木质，金属或金属材料漆釉陶瓷：杯子，盥洗用具，瓷砖等柱状产品：管道，瓶子，软包装，易拉罐等电镀：珠宝，门把手，手柄，纽扣等军用伪装：低光泽的军用产品，如望远镜，轻型武器等：硬币密封玻璃瓶：香水瓶，威士忌瓶等 功能：将测试工件放在测试盘中间的测量孔上。仪器上四个可调的旋柱用以保持测量值的稳定性。测量时可以选用脚踏开关方便操作。也可以选用仪器正面的操作按钮测量。使用脚踏开关或长时间按住操作按钮可以转换读值模式。测量数据可以传输到PC机或连接的打印机。WINDOWS软件可以可以做数据分析或存储。 技术数据：测量角度：60度测量面积：4.5*4.5 mm数据存储量：999个统计值：最大值，最小值，平均值，可伐系数数据处理：连接PC机或打印机数据传输RS232接口铝制底座使仪器的测量值准确可靠。产品规格：符合标准：ASTM D523重量：2.5 kg尺寸：260 × 220 × 100 mm电源：110–120 V AC 或220–240 V AC

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

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马尔文 Zetasizer系列 纳米粒度电位仪在全世界被广泛应用于纳米颗粒、胶体及蛋白质尺寸、zeta电位测量及分子表征。Zetasizer 系列仪器使用动态光散射技术测量自纳米级以下至几微米的颗粒与分子粒度，使用电泳光散射技术测量电动电势及电泳迁移率，并使用静态光散射技术测量分子量。 Zetasizer 系统提供了一系列型号，包括全新的 Zetasizer Pro 和 Ultra。 这两种系统拥有前所未有的易用性和灵活性，以及强大的用户指导和新颖的测量技术（例如 MADLS 和颗粒浓度）。马尔文 Zetasizer系列 纳米粒度电位仪在全世界被广泛应用于纳米颗粒、胶体及蛋白质尺寸、zeta电位测量及分子表征。Zetasizer APS精度zui高的自动化蛋白质粒度测量Zetasizer μV可添加至任何SEC（尺寸排阻色谱）系统的模块化粒度及分子量检测器。Zetasizer WT zata 电位的在线测量 - 控制您的混凝程序!Zetasizer AT使用动态光散射在线测量粒度Zetasizer 系列分为高性能级与标准级两类系统，包含粒度分析仪、zeta 电位分析仪、分子量分析仪、蛋白质迁移率及微观流变学测量组合。 对应于您应用及预算要求，从粒度小于一纳米的颗粒/分子到几微米的颗粒。此类系统采用动态光散射法测量粒度及微流变；采用电泳光散射法测量ZETA电位及电泳迁移率；采用静态光散射法测量分子量。 此外，该系统还可在流量配置中使用，与GPC/SEC系统连接，作为色谱粒度检测器使用。Zetasizer APS将20μL的样品从各个孔转移至精密的石英流动池中进行测量。 样品池环境得到了优化，使温度控制与光学清晰度更为精确，从而保证了zui准确的测量结果。 这意味着，可使用任何行业标准型一次性或可重复使用型孔板，而不用担心影响测量结果的孔板透明性或擦痕。Zetasizer μV是一种高灵敏度双功能光散射检测器。 它可作为PALS检测器与任何GPC/SEC系统配合使用（包括Viscotek），得出jue对粒度信息（通过DLS）和jue对分子量信息（通过SLS）。 另外，在试管模式中，它适合检测聚集物和通过DLS监测聚集物的形成。 Zetasizer μV可通过一个8μl 的石英流通样品池和标准色谱管连接至任何GPC/SEC系统和浓度检测器。 这样，就可以测量jue对粒度、jue对分子量、聚集与结合情况（与另一个浓度检测器配合使用时）。在试管模式中，只需从设备上卸下流动池并插入盛有样品的标准试管即可批量测量颗粒和分子尺寸（通过DLS）。Zetasizer WT 将 Malvern Panalytical 行业ling先的电泳光散射技术与二十年内累积的在线测量专业知识相结合，推出一款专用在线 zeta 电位分析仪，zhuan供水处理厂使用。工作不再凭猜测 - 精确而可靠的 [mV] 结果，提供jing准的投药控制范围。在水源水质变化引起过滤问题前即对变化作出响应！尽量减少化学品用量，形成稳定絮凝。 不再需要过量投药！Zetasizer Ultra 综合了全球功能zui强大的 DLS 与 ELS 系统，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和独特的多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子粒度。 NIBS 的多用性和灵敏度可测量广泛的浓度范围，而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。MADLS 的扩展能够直接分析颗粒浓度。 颗粒浓度的测量无需校准，适合于广泛的材料，无需或只需极少稀释，并且使用快捷，这一切都使其成为一种理想的筛选技术。 这是 Zetasizer Ultra 的一项独特功能，甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和 VLP 等样品。Zetasizer Ultra 还利用 M3-PALS 技术提供了灵敏度zui高的电动电势和电泳迁移率测量。 我们具有极高性价比的一次性折叠毛细管样品池允许使用我们的zhuan利扩散障碍法在极低样品量的情况下进行测量，并且不会产生直接样品电极接触。 此类测量提供的信息可以极好地指出样品稳定性以及/或者聚集倾向。增加的恒流模式可在高导电性介质中测量电泳迁移率和电动电势，从而减少由于较高离子浓度下的电极极化而出现的错误。

百特BeNano 180 Zeta Pro纳米及Zeta电位仪是BeNano90 + BeNano180 + BeNano Zeta三合一的顶级光学检测系统。该系统中集成了背向+90°动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径测试原理动态光散射粒径范围0.3nm-15μm★样品量3μL-1mL★检测角度173° & 90° & 12°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cmZeta测试粒度范围2nm-120μm分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★微流变测试频率范围0.2-1.3×107 rad/s★测试能力均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量趋势测量模式时间和温度粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★折光率范围1.3-1.6★系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C冷凝控制干燥的空气或氮气激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最快25 ns采样，最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 颗粒体系的Zeta 电位及其分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 静态光散射● 电泳光散射相关技术 相关应用

关于德国LUM德国LUM公司是一家生产分散体系分析及表征仪器的行业领先者。基于常年在流体力学，流变学及胶体化学领域的知识与经验，Lerche 教授于1994年创立了LUM公司并研发了STEP-Technology® 工艺，为不同产品的分析表征提供了技术平台。我们的测试仪器用于高速，可靠和全面表征分散体系的分离行为以及用于测试复合材料内聚强度和粘结强度。这些革新性的仪器已成为化工，食品，化妆品，涂料及制药等工业领域国际领先公司实验室里的标准配置。最近我们扩大了应用领域，给您一个创新的方法来衡量材料的粘着性和粘结性能。在对研发费用的不断投资下，LUM提供了新方法来提升您的知识和目标的。我们的总部设在德国柏林。我们的美国分公司负责加拿大的北美市场、美国和墨西哥，地址就位于Boulder，科罗拉多。中国分公司[罗姆(常州)仪器有限公司]负责中国市场以及整个亚太地区，位于中国常州市。此外，还有在法国巴黎、法国的分支机构和应用实验室，支持我们的地区客户。请联系我们，看看我们如何能帮助你达到你的宗旨和目标。谢谢您的考虑，我们期待与您的合作。关于LUMiSizerLUMiSizer在不断研发更新，它在 LUMiFuge平台的基础上，又附加了一些重要功能，如：利用消光图谱（空间和时间）同步测量样品的透光率，通过STEP-技术可以观测整个样品变化。由于增强了光学系统，LUMiSizer可以让您分析分层和沉淀现象，还可以进行粒度测量（ISO 13318 - 2），且不需要任何材料数据。同一时间测试12个样品，可以是不同粘度，温度，和实际浓度的样品。LUMiSizer是目前世界上唯一可以获得颗粒的速度分布而无需知道任何材料常数的分析仪。水性、非水性分析，牛顿液和非牛顿液系统–由您选择。您可以测量浓度，形状，和胶体力对颗粒大小分布和稳定性的影响。您可以创建自己的特殊功能或常规的工作方式。无论哪种方式，您都可以准确测量和预测理想和非理想粒子行为。该系统出色的精度可以确保所有颗粒的尺寸分布在很短的时间内被测量出来。通过对整个样本的即时数据收集来获取意想不到的结果，从而确定粒径分布，确定非线性来解决多模态特征。不妨把LUMiSizer与LUMiFuge作比较，LUMiSizer可直接进行稳定性及粒径分析的新产品。它可以做所有LUMiFuge能的事情，而且只会更多。除了直接测量稳定性和保质期，也可以使用最高的行业规范和标准（ISO 13318-2）来区分在絮凝和非凝絮的分散体，测试粒径分布。在粒径大小允许的光谱覆盖范围，支持多波长。配备先进的软件SEPView 软件(点击右侧图标获取更多信息).拥有证书的LUMiSizer，出厂前都经过预校准，然后才会送到客户手中。应用领域磨料磨具饮料炭黑碳纳米管陶瓷色膏精细化学品食品燃料电池石墨烯家庭和个人护理墨水纳米分散体中西药品聚合物污泥泥浆废水以及更多的材料。优势- 在一次运行多达12个样品- 观测和了解从顶端到底部的整个样品- 获取样品特征图谱- 快速、直接测稳定性- 可测高浓度样品的粒径- 测颗粒密度- 计算及预测产品保质期- 辨别不同的不稳定机理- 样品温度可从 4℃ - 60℃- 分析高浓度样品(可达90%)- 优化产品- 操作简便、快速产品规格加速相分离6至2300倍重力粒径分布20 nm 到 100 μm整体测量高浓度分散体观察时间1 秒 到 99小时遵从ISO/TR 13097 ISO 13318-2 CFR 21 Part 11样品数同时可测定12个样品样品管容量0.05 ml 到 2.0 ml样品浓度0.00015 % – 90 %密度高达 22 g/cm3粘度0.8 – 108 mPas粒径10 nm 到 1000 μm光源近红外(870nm)温度控制4 °C 到 40 °C, +/– 1K样品管不同材料和光路尺寸 (WxHxD)37 x 27 x 60 cm重量40 kg电源100 V | 120V | 230 V, 50/60Hz详细信息请电话咨询或到我公司网站了解

百特纳米粒度及Zeta电位仪BeNano 180 Zeta是BeNano 180 + BeNano Zeta的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径测试原理动态光散射粒径范围0.3nm-10μm★样品量40 μL – 1 mL★检测角度173° & 12°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cmZeta测试粒度范围2nm-120μm分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★微流变测试频率范围0.2-1.3×107 rad/s★测试能力均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量趋势测量模式时间和温度粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★折光率范围1.3-1.6★系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C冷凝控制干燥的空气或氮气激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最快25 ns采样，最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件 检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 颗粒体系的Zeta电位及其分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 静态光散射● 电泳光散射相关技术相关应用

关于德国LUM德国LUM公司是一家生产分散体系分析及表征仪器的行业领先者。基于常年在流体力学，流变学及胶体化学领域的知识与经验，Lerche 教授于1994年创立了LUM公司并研发了STEP-Technology® 工艺，为不同产品的分析表征提供了技术平台。我们的测试仪器用于高速，可靠和全面表征分散体系的分离行为以及用于测试复合材料内聚强度和粘结强度。这些革新性的仪器已成为化工，食品，化妆品，涂料及制药等工业领域国际领先公司实验室里的标准配置。最近我们扩大了应用领域，给您一个创新的方法来衡量材料的粘着性和粘结性能。在对研发费用的不断投资下，LUM提供了新方法来提升您的知识和目标的。我们的总部设在德国柏林。我们的美国分公司负责加拿大的北美市场、美国和墨西哥，地址就位于Boulder，科罗拉多。中国分公司[罗姆(常州)仪器有限公司]负责中国市场以及整个亚太地区，位于中国常州市。此外，还有在法国巴黎、法国的分支机构和应用实验室，支持我们的地区客户。请联系我们，看看我们如何能帮助你达到你的宗旨和目标。谢谢您的考虑，我们期待与您的合作。关于LUMiSizerLUMiSizer在不断研发更新，它在 LUMiFuge平台的基础上，又附加了一些重要功能，如：利用消光图谱（空间和时间）同步测量样品的透光率，通过STEP-技术可以观测整个样品变化。由于增强了光学系统，LUMiSizer可以让您分析分层和沉淀现象，还可以进行粒度测量（ISO 13318 - 2），且不需要任何材料数据。同一时间测试12个样品，可以是不同粘度，温度，和实际浓度的样品。LUMiSizer是目前世界上唯一可以获得颗粒的速度分布而无需知道任何材料常数的分析仪。水性、非水性分析，牛顿液和非牛顿液系统–由您选择。您可以测量浓度，形状，和胶体力对颗粒大小分布和稳定性的影响。您可以创建自己的特殊功能或常规的工作方式。无论哪种方式，您都可以准确测量和预测理想和非理想粒子行为。该系统出色的精度可以确保所有颗粒的尺寸分布在很短的时间内被测量出来。通过对整个样本的即时数据收集来获取意想不到的结果，从而确定粒径分布，确定非线性来解决多模态特征。不妨把LUMiSizer与LUMiFuge作比较，LUMiSizer可直接进行稳定性及粒径分析的新产品。它可以做所有LUMiFuge能的事情，而且只会更多。除了直接测量稳定性和保质期，也可以使用最高的行业规范和标准（ISO 13318-2）来区分在絮凝和非凝絮的分散体，测试粒径分布。在粒径大小允许的光谱覆盖范围，支持多波长。配备先进的软件SEPView 软件(点击右侧图标获取更多信息).拥有证书的LUMiSizer，出厂前都经过预校准，然后才会送到客户手中。应用领域磨料磨具饮料炭黑碳纳米管陶瓷色膏精细化学品食品燃料电池石墨烯家庭和个人护理墨水纳米分散体中西药品聚合物污泥泥浆废水以及更多的材料。优势- 在一次运行多达12个样品- 观测和了解从顶端到底部的整个样品- 获取样品特征图谱- 快速、直接测稳定性- 可测高浓度样品的粒径- 测颗粒密度- 计算及预测产品保质期- 辨别不同的不稳定机理- 样品温度可从 4℃ - 60℃- 分析高浓度样品(可达90%)- 优化产品- 操作简便、快速产品规格加速相分离6至2300倍重力粒径分布20 nm 到 100 μm整体测量高浓度分散体观察时间1 秒 到 99小时遵从ISO/TR 13097 ISO 13318-2 CFR 21 Part 11样品数同时可测定12个样品样品管容量0.05 ml 到 2.0 ml样品浓度0.00015 % – 90 %密度高达 22 g/cm3粘度0.8 – 108 mPas粒径10 nm 到 1000 μm光源双光源(865nm + 470nm)温度控制4 °C 到 40 °C, +/– 1K样品管不同材料和光路尺寸 (WxHxD)37 x 27 x 60 cm重量40 kg电源100 V | 120V | 230 V, 50/60Hz详细信息请电话咨询或到我公司网站了解

关于德国LUM德国LUM公司是一家生产分散体系分析及表征仪器的行业领先者。基于常年在流体力学，流变学及胶体化学领域的知识与经验，Lerche 教授于1994年创立了LUM公司并研发了STEP-Technology® 工艺，为不同产品的分析表征提供了技术平台。我们的测试仪器用于高速，可靠和全面表征分散体系的分离行为以及用于测试复合材料内聚强度和粘结强度。这些革新性的仪器已成为化工，食品，化妆品，涂料及制药等工业领域国际领先公司实验室里的标准配置。最近我们扩大了应用领域，给您一个创新的方法来衡量材料的粘着性和粘结性能。在对研发费用的不断投资下，LUM提供了新方法来提升您的知识和目标的。我们的总部设在德国柏林。我们的美国分公司负责加拿大的北美市场、美国和墨西哥，地址就位于Boulder，科罗拉多。中国分公司[罗姆(常州)仪器有限公司]负责中国市场以及整个亚太地区，位于中国常州市。此外，还有在法国巴黎、法国的分支机构和应用实验室，支持我们的地区客户。请联系我们，看看我们如何能帮助你达到你的宗旨和目标。谢谢您的考虑，我们期待与您的合作。关于LUMiSizerLUMiSizer在不断研发更新，它在 LUMiFuge平台的基础上，又附加了一些重要功能，如：利用消光图谱（空间和时间）同步测量样品的透光率，通过STEP-技术可以观测整个样品变化。由于增强了光学系统，LUMiSizer可以让您分析分层和沉淀现象，还可以进行粒度测量（ISO 13318 - 2），且不需要任何材料数据。同一时间测试12个样品，可以是不同粘度，温度，和实际浓度的样品。LUMiSizer是目前世界上唯一可以获得颗粒的速度分布而无需知道任何材料常数的分析仪。水性、非水性分析，牛顿液和非牛顿液系统–由您选择。您可以测量浓度，形状，和胶体力对颗粒大小分布和稳定性的影响。您可以创建自己的特殊功能或常规的工作方式。无论哪种方式，您都可以准确测量和预测理想和非理想粒子行为。该系统出色的精度可以确保所有颗粒的尺寸分布在很短的时间内被测量出来。通过对整个样本的即时数据收集来获取意想不到的结果，从而确定粒径分布，确定非线性来解决多模态特征。不妨把LUMiSizer与LUMiFuge作比较，LUMiSizer可直接进行稳定性及粒径分析的新产品。它可以做所有LUMiFuge能的事情，而且只会更多。除了直接测量稳定性和保质期，也可以使用最高的行业规范和标准（ISO 13318-2）来区分在絮凝和非凝絮的分散体，测试粒径分布。在粒径大小允许的光谱覆盖范围，支持多波长。配备先进的软件SEPView 软件(点击右侧图标获取更多信息).拥有证书的LUMiSizer，出厂前都经过预校准，然后才会送到客户手中。应用领域磨料磨具饮料炭黑碳纳米管陶瓷色膏精细化学品食品燃料电池石墨烯家庭和个人护理墨水纳米分散体中西药品聚合物污泥泥浆废水以及更多的材料。优势- 在一次运行多达12个样品- 观测和了解从顶端到底部的整个样品- 获取样品特征图谱- 快速、直接测稳定性- 可测高浓度样品的粒径- 测颗粒密度- 计算及预测产品保质期- 辨别不同的不稳定机理- 样品温度可从 4℃ - 60℃- 分析高浓度样品(可达90%)- 优化产品- 操作简便、快速产品规格加速相分离6至2300倍重力粒径分布20 nm 到 100 μm整体测量高浓度分散体观察时间1 秒 到 99小时遵从ISO/TR 13097 ISO 13318-2 CFR 21 Part 11样品数同时可测定12个样品样品管容量0.05 ml 到 2.0 ml样品浓度0.00015 % – 90 %密度高达 22 g/cm3粘度0.8 – 108 mPas粒径10 nm 到 1000 μm光源双光源(865nm + 470nm)温度控制4 °C 到 60 °C, +/– 1K样品管不同材料和光路尺寸 (WxHxD)37 x 27 x 60 cm重量40 kg电源100 V | 120V | 230 V, 50/60Hz详细信息请电话咨询或到我公司网站了解

ZetaAcoustic ZA500 电位分析仪 美国MAS公司成立至今有30余年历史，专注于超声电声法原理颗粒度检测、 Zeta电位分析仪的研发生产。超声法原理测试样品的颗粒分布，是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波在样品中传播，由于不同大小粒径对声波的吸收、散射作用不同，导致声波衰减程度不同。根据颗粒大小和声波衰减之间的函数关系，得到颗粒的粒度ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪特点：样品无需稀释，测试快速、简易，需样极少且无需事前样品准备！坚固耐用，用途广泛。电声量测分析：水性… 非水性… 不透明… 粘性… 纳米颗粒… … 自动滴定很简单的IEP测量自主已混合、已抽打过气样品均匀性… 无颗粒沉降… … 非常适合实验室和工厂… 研发、质量控制和在线等地使用ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪介绍:ZA500，ZetaAcoustic，结合Zeta电位分析仪、声波、电声测量三合一很强，高的分辨率，免稀释 Zeta电位分析。MAS应用科学公司发明电动声波振幅（ESA）技术用于高百分比之固体 Zeta 表面测量。MAS将其独特的专业知识应用在 Zeta 电位和粒度分析仪器的设计，使其成为 MAS很强而有力的发明Zeta电位量测仪。ZetaAcoustic ZA500 高浓度Zeta电位分析仪使用ZA500的好处：※ 藉由结合电动和声学，二合一的测量中，进行高分辨率/准确度 Zeta 测量。※ 自动粒度校正（通过声学测量）精确的 Zeta 测量（1纳米到30微米）。※ 自动/无人值守的电位滴定和容量滴定，用于简单和很快的 Iso-Electric Point（IEP）测定、表面活性剂吸附效应和其他动态测量。※ 在测量过程中，适用于自主已混合和/或已抽打气样品，无需等待颗粒沉降无不良影响。※ Zeta倾角传感器允许在样品池或独立容器中进行测量。※ 坚固耐用，适用于大多数样品，包括纳米颗粒、水性、非水性、高粘性、低至高百分比固体（0.1至60%体积）和 0-14 ph 等。※ 同时测量酸碱度、电导率和温度。※ 免费终身咨询 Matec 的任何材料胶体专家… 无论是有关 ZetaZcoustic… 或任何其他胶体科学主题。下图显示了氧化铝（左）和二氧化钛样品的自动、无人值守电位滴定示例。它们的IEP位置很容易由 ZetaAcoustic 仪器确定。电声法原理测试样品的Zeta电位，在针对高浓度，高粘度的样品，如电池浆料、混悬剂、电子印刷材料、乳剂、油墨等样品，电声超声法粒度电位分析仪可直接进行原样检测，无须进行样品稀释，即可得到更精确真实的结果，避免了因稀释带来的误差和影响。对研发，生产起到关键的指导意义。

BK15系列光泽度仪是参照国际标准ISO2813和中国国家标准GB/T9754设计制造的光泽度测量仪器，具有自动检查校正标准板的功能，配有高端品质管理软件，满足JJG696一级工作光泽度要求。产品特点1、美学曲面设计与人体工程学紧密结合 2、具有自动检查校正标准板的功能 3、.满足JJG696一级工作光泽度仪要求 4、大容量存储空间, 可存储35000条测量数据 5、具有自动关机功能, 30~120秒可自由选择 6、符合标准ISO2813,ASTMD523,GB/T9754 7、配有品质管理软件,可打印质检报告,实现更多功能扩展 8、多种工作模式,多种功能设置,可以满足客户不同的需求 应用行业可用于油漆油墨、涂料、纸张印刷、塑胶电子、家具、陶瓷、电镀、五金、大理石等行业的光泽度测量和质量检验。技术参数产品型号BK1560 60°光泽度计BK1560H 60°高精度光泽度计BK1568S 三角度高精度光泽度计测量角度60°60°20°/60°/85°测量光斑(mm)60°:9X1560°:9X1520°:9X10 60°:9X15 85°:5X38测量量程60°:0~200GU60°:0~1000GU20°: 0~2000GU 60°: 0~1000GU85°: 0~160GU分度值1GU0.1GU0.1GU特性 可用于油漆油墨、涂料、纸张印刷、塑胶电子、家具、陶瓷、电镀、五金、大理石等行业的光泽度测量和质量检验。 可用于油漆油墨、涂料、纸张印刷、塑胶电子、家具、陶瓷、电镀、五金、大理石等行业的光泽度测量和光泽度数据传递。 可用于油漆油墨、涂料、纸张印刷、塑胶电子、家具、陶瓷、电镀、五金、大理石等行业的光泽度测量和光泽度数据传递。测量模式基本模式基本模式，统计模式，连续模式，质管模式基本模式，统计模式，连续模式，质管模式测量时间0.5秒0.5秒0.5秒/每一角度重复精度0~100GU:±0.5GU 100~200GU:±0.5%GU0~100GU:±0.2GU 100~1000GU:±0.2%GU0~100GU:±0.2GU 100~2000GU:±0.2%GU准确性满足JJG 696二级工作光泽度仪要求满足JJG 696一级工作光泽度仪要求满足JJG 696一级工作光泽度仪要求自动关机时间30秒30~120秒可选30~120秒可选长时间校标无具有自动检查校标标准板的功能具有自动检查校标标准板的功能语言简体中文、英语、繁体中文简体中文、英语、繁体中文简体中文、英语、繁体中文存储数据无35000条（基本模式和连续模式15000条，质管模式10000条，统计模式10000条）35000条（基本模式和连续模式15000条，质管模式10000条，统计模式10000条）显示屏2.3 inch 黑白显示屏2.3 inch 黑白显示屏2.3 inch 黑白显示屏尺寸160X52X84mm160X52X84mm160X52X84mm重量约300g(含校正盒与电池)约300g(含校正盒与电池)约300g(含校正盒与电池)电源1节5号电池(碱性电池或镍氢充电电池),可测10000次以上1节5号电池(碱性电池或镍氢充电电池),可测10000次以上 或使用USB端口1节5号电池(碱性电池或镍氢充电电池),可测10000次以上 或使用USB端口接口无USBUSB,蓝牙2.1PC软件无GQC6品质管理软件，质检报告打印，更多功能扩展GQC6品质管理软件，质检报告打印，更多功能扩展操作温度范围0~40℃（32~104°F）0~40℃（32~104°F）0~40℃（32~104°F）存储温度范围 -20~50℃（-4~122°F）-20~50℃（-4~122°F）-20~50℃（-4~122°F）湿度小于85%RH，无凝露小于85%RH，无凝露小于85%RH，无凝露标准附件简易说明书、校正标准板USB数据线、说明书、GQC品质管理软件(官网下载或售后提供)、校正标准板USB数据线、说明书、GQC品质管理软件(官网下载或售后提供)、校正标准板可选附件微型打印机微型打印机微型打印机注技术参数仅为参考，以实际销售产品为准技术参数仅为参考，以实际销售产品为准技术参数仅为参考，以实际销售产品为准

产品名称：Particle Metrix纳米粒子跟踪分析仪ZetaView产品型号：ZetaView产品介绍Particle Metrix在其久经验证的平台PMX-x30上提供了ZetaView纳米粒子跟踪分析的多功能性，使仪器可以从一个激光器升级到四个激光器。405488520或640nm激光之间以及散射和荧光模式之间的变化是自动的。在标准NTA或Z-NTA表面电荷电泳模式中记录发射散射光或荧光的颗粒的运动和图案。PMX-x30系列的新设计带有固定单元组件，将增强的性能和可靠、无误差的测量与简单、快速、轻松的仪器清洁相结合。性能特点l 扫描NTA-通过样品池在11个位置进行自动测量，提供稳健的性能，而不需要额外的附件。l 固定单元组件设计-大大提高了性能，减少了出错的可能性。l 自动对准和自动对焦-光学设置由软件自动优化，节省了用户准备仪器使用的时间，并消除了用户主观输入的偏见。l 快速测量-在60秒内分析2000多个颗粒。l 快速简单的清洁-样品之间的清洁只需要快速冲洗。新的固定单元设计允许使用卡口锁快速访问测量单元。l 直观的软件-红绿灯系统可以即时指示样品是否处于适合测量的浓度，并指示样品的稀释系数。l 紧凑的一体化设计-使用一台仪器测量尺寸、浓度、电位和荧光。兼容实验室环境小占地面积和数据文件。l 荧光分析-荧光NTA测量允许询问样品中的亚群体。一个灵敏的CMOS相机，多达11个选择性滤波器，低漂白性能产生高荧光灵敏度。l 没有高成本耗材，只有注射器和散射和荧光测量的参考标准（如果适用）。l 无需校准-尺寸测量不需要校准。技术参数产地：德国扫描：电动扫描速度：不到1分钟的时间内采集和分析2000个粒子测量：极性液体（如水、醇）中的纳米粒子，用于尺寸、浓度、荧光和zeta电位研究浓度范围：105-109粒/毫升粒度：10nm-2000nm（取决于样品和激光）精度：+5nm（适用于100nm聚苯乙烯胶乳）再现性：t2nm（适用于100nm聚苯乙烯胶乳）可用激光波长：405nm、488nm、520nm、640nm、660nm典型激光功率：30mW相机类型：CMOS滤波器：11个

产品介绍： BK1560G光泽度仪是一款便携式的精密光泽度仪器，适用于各行业的对不同平面的光泽度的管控。BK1560G体积小巧，便于携带，适用于快速的管控光泽度测量。适合0~2000gu. 使用方法：先测量标准试样，然后再测量试样，或者直接测量试样，获取光泽度值。一键操作，液晶显示屏上即会显现光泽度值。 特点：1）人性化的外观设计金属外观美观！体积小，携带方便，一键操作非常简单，人体工学设计带给你舒适的用户感受2）出色的稳定性 重复精度为0.2，远低于比其他国产光泽度仪！精准的工业结构设计和核心技术，保证了仪器测试的稳定性，这是用户口碑评价！目前为国内光泽度仪中稳定性最高！3）核心技术更精准核心技术使获得数据更精准，卧式设计，让你精准定位，免去人工操作的不稳定因素，测量数据更精准！4）多种测量模式内置两个感应器，四种测量模式以及较差设置，以及手动定标，定容等，你可进行个性化设置，适用于0~2000gu5）高性能锂电池低功耗设计，高性能锂电池，充满电可测试5000次，更便于长时间测量！减少成本5）PC软件扩展功能强大的电脑颜色管理软件，可对测量数据进行精准分析，给您提供更多专业参考数据外接微型打印机进行数据即时打印和分析储存，让你对数据管理更得心应手7）各项专利设计开机自动校准专利，手动校准，手动设置容差等功能，都是大部分国产色差仪技术上做不到的，但是我们的产品做到了！核心技术专利和外观申请专利等免去你复杂的开机校准程序，让你测色更简单更快更准！BK1560G光泽度仪的详细参数如下：量程0-2000Gu测量范围适用于涂料、油墨、烤漆、涂料、木制品、大理石、花岗岩、玻化抛光砖、陶瓷砖、塑料、纸张等等金属材料的表面镜向光泽度测量。尺寸122x34x60mm

LUMiSizer是基于LUMiFuge平台的进化开发，具有一些重要的附加功能，可使用STEP技术即时测量整个样品长度的透射光的消光（空间和时间分辨）。由于增强了光学系统，LUMiSizer可让您分析颗粒和液滴速度分布，以获得乳化和沉淀现象，而无需任何材料数据并执行颗粒尺寸测量（ISO 13318-2）。运行12个样本在广泛的粘度，温度和真实浓度范围内的时间。优势： 1、可同时测试12个样品 2、观测和了解从顶端到底部的整个样品 3、样品的温度可从4℃到60℃ 4、可测试高浓度样品的粒径，辨别不同的不稳定机理 5、有效的获取样品的特征图谱 6、能够有效分析高浓度样品（可达到90%） 7、能够快速、有效、直接测试产品的稳定性 8、高速有效测试样品颗粒密度 9、计算及预测产品的保存期 10、全方面优化产品 11、操作更简单、便捷更快速 型号 LS610LS611 LS650 LS651 货号93161001931611019316500193165101 designSTEP® Tech Tech. centrifuge 200RPM-4000RPM 6g-2300g Temp. Control 4℃-40℃4℃-60℃4℃-40℃4℃-60℃Measure Time 10 sec-42 Hours/profilesOption to 1s Option to 99 Hours Test number 12个 Sourse865mm(+/-5nm)865mm(+/-5nm) 470nm Detector 2048 CCD Sensor PSD funtion 〇Model Size 37*27*60cm 40Kg Power Supply 110V-240V(50-60Hz)

纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术Zeta电位测量：Microtrac以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分析技术相比，NANOTRAC WAVE II采用先进的“Y”型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速，无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，完全消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好。测量原理：粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理Zeta电位测量：膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率分子量测量：水力直径或德拜曲线光学系统：3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路软件系统：先进的FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据，Microsoft Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和指定授权等。外部环境：电源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz环境要求：温度，10-35°C国际标准：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008主要特点：&bull 采用先进的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法&bull “Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位， 避免样品交叉污染与浓度变化。&bull 异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。&bull 可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。&bull 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。&bull 快速傅利叶变换算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。&bull 膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。&bull 无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果&bull 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。产品参数粒度分析范围0.3nm-10μm重现性误差≤1%浓度范围100ppb-40%w/v检测角度180°分析时间30-120秒准确性全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子测量精度无需预选，依据实际测量结果，自动生成单峰/多峰分布结果理论设计温度0-90℃，可以进行程序升温或降温兼容性水相和有机相

Litesizer DLS 系列只需一键触摸即可表征纳米和微米粒子。借助这些动态光散射仪器，您可以在较宽的浓度范围内测定分散体中的颗粒以及溶液中的肽或大分子，从而缩短样品制备时间。关键功能得益于完美的角度选择 - 无论您的样品如何通过多角度粒度测定 (MAPS) 确保实现不同大小群体的高分辨率从三个检测角度（侧向、后向或前向散射）中进行选择，以实现最佳参数设置手动选择最适合的动态光散射仪器角度或使用自动角度选择 得益于多功能后向散射角，这对于浊度样品较理想，其减少了多个散射事件，确保优秀的数据质量。依靠我们的 cmPALS 技术进行 zeta 电位测量通过 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 您可以通过电泳光散射法执行 zeta 电位测量。在低样品浓度（低至 0.1 mg/mL） 下采用我们的 cmPALS 专利技术（欧洲专利 2 735 870） 使用 cmPALS 享受更短的测量时间和极低的样品降解使用我们 zeta 电位样品池独特 Ω 形毛细管完成高度可重复的 zeta 电位测量在颗粒浓度测量中模式保持灵活性使用 Litesizer DLS 700 对一个样品中高达三种不同大小的粒子群进行免校准颗粒浓度测量使用这种基于单角度 DLS 或多角度粒度分析 (MAPS) 的模式可确保适用于较宽浓度范围内的单分散和多分散样品实现样品监测的持续的透光率测量享受样品的即时反馈 — 动态光散射仪器能够连续测量透射率充分利用自动优化测量参数（如测量角度、焦点位置和持续时间） 在一系列测量中获取有关沉积或聚集开始的数据使用同一仪器测定折射率使用 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 在 DLS 或 ELS 测量的精确波长和温度下测量溶剂的折射率（欧洲专利 3 023 770） 确保在所有试验条件下，获得出色的粒径和 zeta 电位值。借助 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 测定 ±0.5% 以内的折射率只需点击几下即可掌控您的测量使用我们简便易用的粒度软件 Kalliope 管理数据通过我们独特的单页工作流程，一目了然地了解您的输入参数、测量信号和结果 得益于预定义标准报告和结构化结果概览，快速查看您的测量结果 通过分析功能、Excel 报告，和自定义报告模板来深入挖掘您的数据符合 21 CFR Part 11 规定

ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/mZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000umZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m