西司他丁钠

Zetasizer Pro纳米粒度仪是一款功能强大、用途广泛的常规实验室测量解决方案，可测量颗粒粒度、分子大小、电泳迁移率、Zeta 电位和分子量。 与以往型号相比，其粒度测量速度超过以往的两倍，加快了样品处理速度。由于采用非侵入背散射 (NIBS) 光学设计，该技术将背散射检测技术与可变测量位置和高效光纤技术结合在一起，与传统DLS相比，显著增加了样品浓度范围和粒度的测量范围。 滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，以实现分析灵活性。特点和优点凭借以下优势，即使刚入门的用户也能使用 Zetasizer Pro 纳米粒度电位仪完成高质量的测量：动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 10 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围，即使是处理非常浓缩的样品，也能实现高灵敏度具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率 以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型 “自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，以实现分析灵活性 如果您的需求发生改变，可现场升级到Zetasizer Ultra 可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响一系列可抛弃及可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量主要应用Zetasizer Pro 应用广泛，包括：学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具，广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛，被科学文献引用的次数达上万次，成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中，温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性，造成变性和聚集、功能丧失， 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选，并可协助配方开发， 从而优化流程和产品，消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位，以改善食品、饮料和调味料的外观及味道，并优化分散和乳化稳定性，从而延长产品保存期限，提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质，比如更高的催化活性和溶解度，或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定，以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度分析仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性（例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期）方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量，从而减少配方时间，加快新产品上市。消费品改良多种消费品时，需要了解和控制胶体参数，引导颗粒间的相互作用，并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度， 并测量乳液的液滴大小和稳定性。

即使作为入门级纳米粒度及Zeta电位分析仪，Zetasizer Lab 的功能也不容小觑。 Zetasizer Lab 纳米粒度仪采用经典动态光散射(90°)，包含"自适应相关"算法、M3-PALS 和恒流 Zeta 模式。 Zetasizer Lab 纳米粒度分析仪还随附 ZS Xplorer，这是一款易于使用的分析软件，提供有关数据质量的实时反馈，以及如何改进结果的指导。特点和优点Zetasizer Lab 纳米粒度仪是一款出色的入门级系统，提供各种功能，其中包括：动态光散射 (DLS) ：用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 （使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ；取决于样品和样品制备）电泳光散射 (ELS) ：测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性扩展粒度范围分析功能可针对超过 1 μm 的颗粒粒度提供更高的准确性，并针对超过 10 μm 的颗粒粒度提供指示性结果（使用 ZSU1002 低容量可抛弃粒度测量池）具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率 以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型 “自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射（90°）测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规支持使用低容量可抛弃毛细管样品池对低至 3 μL 的样品进行粒度测量选择 Red Label 型号可用于测定更具挑战性的样品，如蛋白质、表面活性剂溶液和低固含量样品如果您的需求发生改变，可现场升级到Zetasizer Pro 或 Zetasizer Ultra型号主要应用Zetasizer Lab 应用广泛，包括：学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具，广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛，被科学文献引用的次数达上万次，成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中，温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性，造成变性和聚集、功能丧失， 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选，并可协助配方开发， 从而优化流程和产品，消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位，以改善食品、饮料和调味料的外观及味道，并优化分散和乳化稳定性，从而延长产品保存期限，提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质，比如更高的催化活性和溶解度，或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定，以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度分析仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性（例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期）方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量，从而减少配方时间，加快新产品上市。消费品改良多种消费品时，需要了解和控制胶体参数，引导颗粒间的相互作用，并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度， 并测量乳液的液滴大小和稳定性。

Zetasizer Ultra 纳米粒度仪是用于测量颗粒与分子大小、颗粒电荷和颗粒浓度的系统，在结合了 Zetasizer Pro 和 Lab 特性和优点的基础上，增加了多角度动态光散射技术(MADLS)，是 马尔文帕纳科Zetasizer Advance 纳米粒度电位分析仪系列中最智能和灵活的仪器。 这一旗舰型纳米粒度分析仪充分利用了 ZS Xplorer 软件的易用性、高分析速度和数据可靠性等优势，运用多角度动态光散射技术 (MADLS) ，提供与角度无关的高分辨率粒度测量，并且能够测量颗粒浓度*，帮助您更深入地了解样品。*限 Zetasizer Ultra 红标版本 (Red Label)特点和优点Zetasizer Ultra 纳米粒度分析仪融合了功能强大的 DLS 与 ELS 系统，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子大小。 NIBS 的多用性和灵敏度可适用广泛的浓度范围，而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 扩展功能可直接分析颗粒浓度。 颗粒浓度的测量适合于各类材料，只需很少稀释，并且使用快捷，这一切使其成为一种理想的筛选技术。Zetasizer Ultra 甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和类病毒颗粒 (VLP) 等样品。 Zetasizer Ultra 的关键特性和优点包括：用于高分辨率粒度测量且与角度无关的多角动态光散射法 (MADLS) 可以更深入地展现您的样品粒度分布 动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 （使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ；取决于样品和样品制备）电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围，即使是处理非常浓缩的样品，也能实现高灵敏度简单的每峰值浓度/滴度测量（仅限红标Red Label版本）可抛弃型毛细管粒度测量样品池提供了无损、低容量（最低 3 μL）分析，并且粒度上限范围可达到 15 μm具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型“自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射（90°）测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，以实现分析灵活性可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响一系列可抛弃和可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量，其中包括新的低容量可抛弃粒度测量池套件，由于它可以抑制对流，所以既能进行样品量小到 3 μL 的粒度测量，也扩展了DLS 测量的粒度上限范围主要应用Zetasizer Ultra 纳米粒度仪应用广泛，包括：学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具，广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛，被科学文献引用的次数达上万次，成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中，温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性，造成变性和聚集、功能丧失， 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选，并可协助配方开发， 从而优化流程和产品，消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位，以改善食品、饮料和调味料的外观及味道，并优化分散和乳化稳定性，从而延长产品保存期限，提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度分析仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质，比如更高的催化活性和溶解度，或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定，以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性（例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期）方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量，从而减少配方时间，加快新产品上市。消费品改良多种消费品时，需要了解和控制胶体参数，引导颗粒间的相互作用，并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度， 并测量乳液的液滴大小和稳定性。

新一代纳米颗粒跟踪分析仪 NanoSight Pro —— 纳米和生物材料的表征从未如此快速、简单和精确新一代 NanoSight Pro 的推出，马尔文帕纳科为纳米和生物材料的表征提供了简单且快速的 NTA 解决方案。先进的工程设计和众多智能功能的组合确保了 NTA 测量高效、快速。NS Xplorer 软件由机器学习提供支持，实现了自动测量，消除了主观影响，并为光散射和荧光分析提供了高质量的颗粒大小和浓度数据。 可互换的激光器让应用更灵活，Smart Manager 连接确保了仪器稳定，无需担心数据质量问题或宕机问题。 特点与优势：快速安装和分析NanoSight Pro 可供各种规模的实验室中的各类人员使用。智能安装功能支持您快速启动并运行设备。得益于测量前只需要简单的设置、便捷的操作和直观的 NS Xplorer 软件，您可以在数分钟内完成样品测量。智能化和自动化NanoSight Pro 以机器学习和智能功能为后盾，可以自动处理样品测量任务并有效消除人为错误，从而实现精确的颗粒识别和颗粒跟踪，以获得高质量和可重复性高的测量数据。高分辨率全新 NanoSight Pro 可测量 10 nm - 1000 nm 范围内的纳米颗粒，包括低散射和生物颗粒。逐粒分析技术可提供高分辨率的粒度和浓度数据，并可通过视觉途径进行确认。强大的荧光功能除了光散射外，系统还可以从荧光标记的生物样本或合成颗粒中检测荧光信号，从而助您更深入地了解样品。可互换的激光模块可以选择四种激发波长。与对应的长通滤光片配合使用，可以实现流动分析支持的最佳设置，从而更好地对样品（甚至是光漂白样品）进行采样和跟踪。 更高的荧光灵敏度可以实现检测特定亚群，例如表面标记物、内部货物检测或污染物。主要应用：马尔文帕纳科 NanoSight Pro 可用于诸多重要应用领域，包括：细胞外囊泡 (EV)虽然对细胞外囊泡的产生和功能的研究仍在不断发展，但监测和控制其分离和纯化仍然很重要。NanoSight NTA 可以快速、方便地表征水性缓冲液中囊泡的大小和浓度，使人们对下游实验中所用样品的质量充满信心，同时荧光功能有助于清楚识别细胞外囊泡 (EV) 的亚群来源。病毒和疫苗疫苗的生产需要严格控制生产过程，以确保组分剂量适当并被免疫系统识别。NTA可助力稳定疫苗的粒度分布从而帮助优化生产流程。NTA 还能够确定病毒计数和粒度，因此可以作为滴度测定的更快替代方案。药物递送和基因治疗对于药物递送和基因治疗产品，为了确保临床上的有效疾病靶向，所需的颗粒大小为 70-150 nm。从早期药物研究到候选物筛选、制剂开发和临床批次监测，NTA 非常适合用于测量这些环节中的颗粒粒度，同时借助其浓度测量功能，可用于确定最终产品的剂量并用于体外和体内测定。生物治疗药物温度、pH 值变化、搅拌、剪切和时间都会影响生物治疗药物蛋白的稳定性，造成变性和聚集，进而可能导致丧失疗效和潜在的不良免疫反应。NTA 能够提供制剂中亚可见聚集体的高分辨率粒度分布信息，用于安全性和质量确认。纳米材料/胶体/毒理学随着纳米材料融入日常用品中，它们正引起监管机构的注意。因此需要充分表征这些颗粒，分析颗粒的性质以及其对最终产品的影响。NanoSight 可以针对这些纳米材料提供基于数量的浓度信息，并为那些在工业、环境和毒理学领域从事纳米级研究工作的人员提供高分辨率的粒度分布信息。超细气泡近年来，微细气泡在工业清洁和水处理、农业和食品、医疗应用等领域中的应用场景越来越多。鉴于相对较低的浓度和较小的粒度，超细气泡对许多传统的纳米颗粒表征技术提出了严峻的挑战，而 NTA 特别擅长检测和分析这类气泡。概述：技术类型纳米颗粒跟踪分析技术粒度检测范围（直径）110 nm - 1000 nm颗粒浓度2106 至 109 个/毫升最小样品量：250 μL高级浓度算法浓度提升系统：产品合规性一类激光产品 (BS EN 60825-1:2014)EMC 指令 (EN IEC61326-1:2021)低电压指令 (IEC 61010-1:2010IEC 61010-1:2010/AMD 1:2016)摄像头高灵敏度 sCMOS (USB-3)激光信息光束波长（最大功率输出）：405 nm，最大功率 70 mW488 nm，最大功率 55 mW（蓝）532 nm，最大功率 60 mW（绿）642 nm，最大功率 50 mW（红）温度控制范围低于环境温度 5°C 至最高 70°C温度读数自动注射泵1 mL 注射器连续进样尺寸 （宽, 长, 高）：34 x 35 x 25 cm仪器重量11 kg激光模块重量1.6 kg电源要求AC 110 – 240 V，50-60 Hz，4.0A工作环境条件最高 80% 相对湿度（31°C 时），然后线性下降至 50%（40°C 时）其他选项荧光 - 自动选择3适用于最多 5 个滤光片注：1 取决于样品和仪器配置2 取决于样品3 可选功能。不同激光波长的长通滤光片

BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90 + BeNano Zeta二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径测试粒径范围0.3nm-15μm★样品量3μL-1mL★检测角度90° & 12°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cmZeta测试粒度范围2nm-120μm分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★趋势测量模式时间和温度粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★折光率范围1.3-1.6系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C冷凝控制干燥空气或者氮气激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最快25 ns采样，最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 颗粒体系的Zeta电位及其分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 电泳光散射● 相位分析光散射● 静态光散射相关技术相关应用

产品简介：Mini-Tau 是爱丁堡光学一款紧凑型，低成本，滤光片分光的荧光寿命光谱仪。基于时间相关计数（TCSPC）测量技术，Mini-Tau通过T900软件和TC900计算机插卡，实现快速，可信，准确的测量及数据分析。技术特点：寿命测试范围25ps-50us一个带有光源和检测器的样品仓，PC和TCSPC插卡 滤光片分光，标配滤光片转轮标配恒温水浴支架（带有温度探头）标配405nm皮秒脉冲激光光源用于寿命测试亚纳秒脉冲LED或者皮秒激光二极管（需要进行波长选择）超快，蓝敏或者红敏单光子计数检测器

GATTA-SIM160系列纳米标尺 产品特性应用于：SIM超高分辨率系统测试及校准 纳米标尺SIM 160RSIM 160YSIM 160B颜色红黄蓝荧光染料ATTO 647NAlexa Fluor 568Alexa Fluor 488激光源630 - 650 nm540 - 585 nm480 - 505 nm表面染料密度≈ 1/μm2≈ 1/μm2≈ 1/μm2间 距160 nm160 nm160 nm产品 特性 GATTA-SIM 140 和 120 系列 纳米标尺纳米标尺SIM 140YSIM 140BSIM 120B颜色黄蓝蓝荧光染料Alexa Fluor 568Alexa Fluor 488Alexa Fluor 488激光源540 - 585 nm480 - 505 nm480 - 505 nm表面染料密度≈ 1/μm2≈ 1/μm2≈ 1/μm2间 距140 nm140 nm120 nm产品 特性 GATTA-SIM 多色 纳米标尺纳米标尺SIM 160RYRSIM 160RBRSIM 140YBY颜色红 - 黄 - 红红 - 蓝 - 红黄 - 蓝 - 黄荧光染料ATTO 647N - Alexa Fluor 568 - ATTO 647NATTO 647N - Alexa Fluor 488 - ATTO 647NAlexa Fluor 568 - Alexa Fluor 488 - Alexa Fluor 568激光源630 - 650 nm / 540 - 585 nm / 630 - 650 nm630 - 650 nm / 480 - 505 nm / 630 - 650 nm540 - 585 nm / 480 - 505 nm / 540 - 585 nm表面染料密度≈ 1/μm2≈ 1/μm2≈ 1/μm2间 距红 - 红: 160 nm / 红 - 黄: 80nm红 - 红: 160 nm / 红 - 蓝: 80nm黄 - 黄: 140 nm / 黄 - 蓝: 70nm水平初学者初学者先进 荧光团性质 荧光团Our notation激发波长/nm发射波长/nmATTO 647NR647664Alexa Fluor 568Y568603Alexa Fluor 488B488525

即使作为入门级纳米粒度及Zeta电位分析仪，Zetasizer Lab 的功能也不容小觑。 Zetasizer Lab 纳米粒度仪采用经典动态光散射(90°)，包含"自适应相关"算法、M3-PALS 和恒流 Zeta 模式。 Zetasizer Lab 纳米粒度分析仪还随附 ZS Xplorer，这是一款易于使用的分析软件，提供有关数据质量的实时反馈，以及如何改进结果的指导。特点和优点Zetasizer Lab 纳米粒度仪是一款出色的入门级系统，提供各种功能，其中包括：动态光散射 (DLS) ：用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 （使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ；取决于样品和样品制备）电泳光散射 (ELS) ：测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性扩展粒度范围分析功能可针对超过 1 μm 的颗粒粒度提供更高的准确性，并针对超过 10 μm 的颗粒粒度提供指示性结果（使用 ZSU1002 低容量可抛弃粒度测量池）具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率 以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型 “自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射（90°）测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规支持使用低容量可抛弃毛细管样品池对低至 3 μL 的样品进行粒度测量选择 Red Label 型号可用于测定更具挑战性的样品，如蛋白质、表面活性剂溶液和低固含量样品如果您的需求发生改变，可现场升级到Zetasizer Pro 或 Zetasizer Ultra型号主要应用Zetasizer Lab 应用广泛，包括：学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具，广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛，被科学文献引用的次数达上万次，成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中，温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性，造成变性和聚集、功能丧失， 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选，并可协助配方开发， 从而优化流程和产品，消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位，以改善食品、饮料和调味料的外观及味道，并优化分散和乳化稳定性，从而延长产品保存期限，提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质，比如更高的催化活性和溶解度，或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定，以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度分析仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性（例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期）方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量，从而减少配方时间，加快新产品上市。消费品改良多种消费品时，需要了解和控制胶体参数，引导颗粒间的相互作用，并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度， 并测量乳液的液滴大小和稳定性。

马尔文 Zetasizer系列 纳米粒度电位仪在全世界被广泛应用于纳米颗粒、胶体及蛋白质尺寸、zeta电位测量及分子表征。Zetasizer 系列仪器使用动态光散射技术测量自纳米级以下至几微米的颗粒与分子粒度，使用电泳光散射技术测量电动电势及电泳迁移率，并使用静态光散射技术测量分子量。 Zetasizer 系统提供了一系列型号，包括全新的 Zetasizer Pro 和 Ultra。 这两种系统拥有前所未有的易用性和灵活性，以及强大的用户指导和新颖的测量技术（例如 MADLS 和颗粒浓度）。马尔文 Zetasizer系列 纳米粒度电位仪在全世界被广泛应用于纳米颗粒、胶体及蛋白质尺寸、zeta电位测量及分子表征。Zetasizer APS精度zui高的自动化蛋白质粒度测量Zetasizer μV可添加至任何SEC（尺寸排阻色谱）系统的模块化粒度及分子量检测器。Zetasizer WT zata 电位的在线测量 - 控制您的混凝程序!Zetasizer AT使用动态光散射在线测量粒度Zetasizer 系列分为高性能级与标准级两类系统，包含粒度分析仪、zeta 电位分析仪、分子量分析仪、蛋白质迁移率及微观流变学测量组合。 对应于您应用及预算要求，从粒度小于一纳米的颗粒/分子到几微米的颗粒。此类系统采用动态光散射法测量粒度及微流变；采用电泳光散射法测量ZETA电位及电泳迁移率；采用静态光散射法测量分子量。 此外，该系统还可在流量配置中使用，与GPC/SEC系统连接，作为色谱粒度检测器使用。Zetasizer APS将20μL的样品从各个孔转移至精密的石英流动池中进行测量。 样品池环境得到了优化，使温度控制与光学清晰度更为精确，从而保证了zui准确的测量结果。 这意味着，可使用任何行业标准型一次性或可重复使用型孔板，而不用担心影响测量结果的孔板透明性或擦痕。Zetasizer μV是一种高灵敏度双功能光散射检测器。 它可作为PALS检测器与任何GPC/SEC系统配合使用（包括Viscotek），得出jue对粒度信息（通过DLS）和jue对分子量信息（通过SLS）。 另外，在试管模式中，它适合检测聚集物和通过DLS监测聚集物的形成。 Zetasizer μV可通过一个8μl 的石英流通样品池和标准色谱管连接至任何GPC/SEC系统和浓度检测器。 这样，就可以测量jue对粒度、jue对分子量、聚集与结合情况（与另一个浓度检测器配合使用时）。在试管模式中，只需从设备上卸下流动池并插入盛有样品的标准试管即可批量测量颗粒和分子尺寸（通过DLS）。Zetasizer WT 将 Malvern Panalytical 行业ling先的电泳光散射技术与二十年内累积的在线测量专业知识相结合，推出一款专用在线 zeta 电位分析仪，zhuan供水处理厂使用。工作不再凭猜测 - 精确而可靠的 [mV] 结果，提供jing准的投药控制范围。在水源水质变化引起过滤问题前即对变化作出响应！尽量减少化学品用量，形成稳定絮凝。 不再需要过量投药！Zetasizer Ultra 综合了全球功能zui强大的 DLS 与 ELS 系统，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和独特的多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子粒度。 NIBS 的多用性和灵敏度可测量广泛的浓度范围，而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。MADLS 的扩展能够直接分析颗粒浓度。 颗粒浓度的测量无需校准，适合于广泛的材料，无需或只需极少稀释，并且使用快捷，这一切都使其成为一种理想的筛选技术。 这是 Zetasizer Ultra 的一项独特功能，甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和 VLP 等样品。Zetasizer Ultra 还利用 M3-PALS 技术提供了灵敏度zui高的电动电势和电泳迁移率测量。 我们具有极高性价比的一次性折叠毛细管样品池允许使用我们的zhuan利扩散障碍法在极低样品量的情况下进行测量，并且不会产生直接样品电极接触。 此类测量提供的信息可以极好地指出样品稳定性以及/或者聚集倾向。增加的恒流模式可在高导电性介质中测量电泳迁移率和电动电势，从而减少由于较高离子浓度下的电极极化而出现的错误。

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/mZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

Qioptiq 开发了一系列使用熔融石英材质的 F-ThetaRonar 透镜, 本产品特别适合使用于高功率及/或超短脉寛的激光材料加工应用. 熔融石英材质能将焦点偏移降至最低, 当使用在高能量密度的激光之下更能体现其好处. 考虑到激光加工流程中, 背反射的严重性, 本产品在光学设计上经过优化, 能降低因背反射导致振镜镜片损坏的风险. F-Theta-Ronar 透镜的镜片组, 使用精良的寛带镀膜, 镀膜本身已在大扫描角度上进行优化. 固本产品在各领域的激光加工应用上, 拥有良好表现。产品特征/功能 • 可供选购的波长为 355 nm, 450 nm, 532 nm,1064 nm 或 1940 nm• 焦距可选择范围, 从 70 mm 至 440 mm• 寛带波长镀膜为 340-360 nm, 440-460 nm,515-540 nm, 1030-1080 nm 或 1900-2000 nm• 使用先进的生产工艺, 确保在不同的环镜之下, 长时间使用中, 光学稳定性都能维持高质数 技术参数• 先进设计, 确保只会有有限度的衍射效应• 镜片材料完全使用熔融石英制成• 通光率 T(340-360) ≥ 96 %, T (440-460) ≥ 96 %,T (515-540) ≥ 96 %, T (1030-1080) ≥ 96 % and T (1940) ≥ 95 %• 部分塲镜使用低吸收率镀膜, ≤ 30 ppm at 532 nm及 ≤ 20 ppm at 1064 nm• 损伤阀值 (最高) :LIDT up to 40 J/cm2 at 1064 nm, 12 nsLIDT up to 0.9 J/cm2 at 1030 nm, 291 fsLIDT up to 20 J/cm2 at 532 nm, 8 nsLIDT up to 0.6 J/cm2 at 515 nm, 204 fsLIDT up to 4 J/cm2 at 355 nm, 6 ns• 包含可换的熔融石英材质保护镜片• 符合 IP6X 标准无尘外观包括保护玻璃 LINOS F-Theta-Ronar 透镜 -使用熔融石英材质 波长(nm)焦距(mm)输入光斑直径 (mm),參照 1/e2范围(mm2)光斑大小(μm)产品编号340 - 360160798 x 98154401-399-000-21340 - 36025510170 x 170174401-481-000-21440 - 4602623061 x 6184401-611-000-26*515 - 5401601483 x 83124401-587-000-26*515 - 54025510183 x 183254401-496-000-26*515 - 54026520133 x 133134401-605-000-26*515 - 54042014251 x 251294401-590-000-26*1030 - 10801631485 x 85234401-589-000-26*1030 - 108025510187 x 187504401-499-000-26*1030 - 108027020136 x 136274401-604-000-26*1030 - 108034020176 x 176334401-546-000-26*1030 - 108042020254 x 254424401-508-000-26*1900 - 200026514155 x 155684401-588-000-211900 - 200035414214 x 214904401-569-000-211900 - 200043714292 x 2921004401-568-000-21 LINOS F-Theta-Ronar 透镜 - 使用熔融石英材质 及 远心设计 波長(nm)焦距(mm)远心误差(°)输入光斑直径 (mm),參照 1/e2范围(mm2)光斑大小(μm)产品编号340 - 360700.81028 x 2854401-576-000-21340 - 3601000.51046 x 4674401-509-000-21340 - 3601670.21065 x 65134401-511-000-21515 - 540751.41424 x 2454401-599-000-26*515 - 5401001.71443 x 4394401-547-000-26*515 - 5401141.21065 x 65114401-608-000-26*515 - 5401673.41486 x 86124401-517-000-26*515 - 5402500.41469 x 69174401-616-000-26*1030 - 1080701.81426 x 26104401-551-000-26*1030 - 10801002.11444 x 44154401-561-000-26*1030 - 10801181.61450 x 50174401-607-000-26*1030 - 10801673.72084 x 84164401-513-000-26*1030 - 10802510.62063 x 63254401-631-000-26*• 使用非预设的光斑直径输入的话, 会令到扫描范围及光斑大小有所改变.

ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000umZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

Zetasizer Ultra 纳米粒度仪是用于测量颗粒与分子大小、颗粒电荷和颗粒浓度的系统，在结合了 Zetasizer Pro 和 Lab 特性和优点的基础上，增加了多角度动态光散射技术(MADLS)，是 马尔文帕纳科Zetasizer Advance 纳米粒度电位分析仪系列中最智能和灵活的仪器。 这一旗舰型纳米粒度分析仪充分利用了 ZS Xplorer 软件的易用性、高分析速度和数据可靠性等优势，运用多角度动态光散射技术 (MADLS) ，提供与角度无关的高分辨率粒度测量，并且能够测量颗粒浓度*，帮助您更深入地了解样品。*限 Zetasizer Ultra 红标版本 (Red Label)特点和优点Zetasizer Ultra 纳米粒度分析仪融合了功能强大的 DLS 与 ELS 系统，它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子大小。 NIBS 的多用性和灵敏度可适用广泛的浓度范围，而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 扩展功能可直接分析颗粒浓度。 颗粒浓度的测量适合于各类材料，只需很少稀释，并且使用快捷，这一切使其成为一种理想的筛选技术。Zetasizer Ultra 甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和类病毒颗粒 (VLP) 等样品。 Zetasizer Ultra 的关键特性和优点包括：用于高分辨率粒度测量且与角度无关的多角动态光散射法 (MADLS) 可以更深入地展现您的样品粒度分布 动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 （使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ；取决于样品和样品制备）电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围，即使是处理非常浓缩的样品，也能实现高灵敏度简单的每峰值浓度/滴度测量（仅限红标Red Label版本）可抛弃型毛细管粒度测量样品池提供了无损、低容量（最低 3 μL）分析，并且粒度上限范围可达到 15 μm具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型“自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射（90°）测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，以实现分析灵活性可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响一系列可抛弃和可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量，其中包括新的低容量可抛弃粒度测量池套件，由于它可以抑制对流，所以既能进行样品量小到 3 μL 的粒度测量，也扩展了DLS 测量的粒度上限范围主要应用Zetasizer Ultra 纳米粒度仪应用广泛，包括：学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具，广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛，被科学文献引用的次数达上万次，成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中，温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性，造成变性和聚集、功能丧失， 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选，并可协助配方开发， 从而优化流程和产品，消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位，以改善食品、饮料和调味料的外观及味道，并优化分散和乳化稳定性，从而延长产品保存期限，提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度分析仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质，比如更高的催化活性和溶解度，或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定，以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性（例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期）方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量，从而减少配方时间，加快新产品上市。消费品改良多种消费品时，需要了解和控制胶体参数，引导颗粒间的相互作用，并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度， 并测量乳液的液滴大小和稳定性。

优点：动态光散射粒度测试范围: 0.3 nm - 15 μm兼容可抛弃微量毛细管样品池，样品量最小达到3 μL扩展粒度范围分析方法，提高了大于1 μm粒度测量的精度，最大粒度大于10 μm(使用可抛弃毛细管微量样品池)，临近微米和亚微米领域，降低了对其他技术的需求具有恒流模式的M3-PALS相位分析技术，可以在高导电介质中测量电泳迁移率和Zeta电位，减少了高离子浓度电极极化的误差采用创新的自适应相关算法，提供瞬态、稳态和未过滤的数据，识别与瞬态伪影相关的数据，极大的提高了数据的重复性，测试速度是以往的两倍以上通过深度学习实现的数据质量系统，帮助用户了解哪些粒度数据质量较差以及较差的原因。此外，该智能神经网络系统还会提供有关改进结果的建议，即使是经验不足的用户，也能得到可靠的数据能够在现场升级为更高端的Zetasizer Ultra型号参数Zetasizer LabZetasizer ProZetasizer Ultra粒度测量技术经典动态光散射(90°)动态光散射(非侵入式背散射-NIBS)动态光散射(173°、13°)动态光散射(非侵入式背散射-NIBS)动态光散射(90°、13°)多角度动态光散射(MADLS)测量角度90°, 13°173°，13°173°，13°，90°粒度范围（直径）0.3 nm - 15 μm0.3 nm - 10 μm0.3 nm - 15 μm最小样品体积3 μL12 μL3 μL最小样品浓度蓝标: 1 mg/mL红标: 0.3 mg/mL蓝标: 0.2 mg/mL红标: 0.1 mg/mL蓝标: 0.2 mg/mL红标: 0.1 mg/mLMADLS: 0.1 mg/mL最大样品浓度40% w/v40% w/v40% w/vZeta电位测量技术混合模式测量，相位分析光散射(M3-PALS)，恒流模式适合测量的粒度范围(直径)3.8 nm – 100 μmZeta电位范围无有效限制迁移率范围 +/- 20 μmcm/VS最小样品体积20μL样品浓度范围蓝标: 10 mg/mL - 40% w/v 红标: 1 mg/mL - 40% w/v最大样品电导率260 mS/cm电导率精度± 10%颗粒浓度测量原理不适用不适用蓝标: 不适用红标: MADLS-颗粒浓颗粒浓度范围不适用不适用1 x 108 - 1 x 1012个颗粒/mL系统产品合规一类产品激光，EN 60825-1:2014 和 CDRH、LVD、EMC、RoHS激光衰减自动，透射率100%至0.0003%激光信息高性能He-Ne气体激光器, 633 nm最大功率输出: 4 mW(蓝标) / 10 mW(红标)检测器雪崩光电二极管（APD）温度控制范围0-120℃尺寸(宽 x 长 x 高)322 mm x 565 mm x 245 mm重量19kg电源要求AC 100-240 V，50-60 Hz, 4.0 A能耗最大值100 W，典型值45 W工作环境条件+10°C至+35°C，35% - 80%相对湿度(无冷凝)计算机接口USB 2.0 或更高版本

热解析管1.使用前清闲活化，建意活化温度300~320摄氏度；2.正确的活化方式是：活化前先通氮气在加热，活化完毕等吸附管完全冷却后在关闭氮气，然后取下吸附管，立即盖上硅胶帽收好备用。 热解析仪上配件上海俊齐仪器设备 热解析管加标设备用热解析/脱附法时，做规范曲线需求考虑吸附剂对样品吸附/脱附的影响，因此需求将标曲需求几个点的标样顺次注入该进样设备，在惰性气体的吹扫下将样品彻底气化，吹入吸附管中，在上热解析/脱附仪将标样解析，进行标曲的绘制。此外，该设备还可调查某种吸附剂对特定样品的吸附效率。用于热解析和溶解解析；适配1/4英寸不锈钢，玻璃管或带鲁尔接头小柱管；气路部分为百分百不锈钢，调节阀/接头为Swagelok品牌部件.仪器特色和主要功能1.能够主动运转最多20个样品，无需人员值守；2.开机自检，故障报警和提示，采用自主**技术主动定位、校准样品盘；3.微机程序控制，主要功能有： ⑴方法参数设置、实时动画显现作业状况、运转时刻； ⑵解吸区、进样阀、样品传输管和二次解吸区，四路均单独加热控温； ⑶设定好剖析程序，按下运转键主动完成悉数样品剖析； ⑷能够依据用户需求增加常温二次解吸部件或低温二次解吸部件； ⑸可同步启动GC、色谱数据处理作业站，也可用外来程序启动本设备；热解析管热解析管 (TDU)提供多种吸附剂，用于吸附宽范围的VOC，包括Tenax和碳吸附剂使用玻璃管，对活性样品惰性zui好选择不锈钢管用作主动或被动采样，无需泵，通过扩散帽被动采样每管上刻有性序列号便于区分管内样品无需处理或预先处理就可以采样，管子可以重复使用。Restek热解析管具有极好的热解析性能，吸附剂适用于在环境空气、室内空气、工业卫生测试地点采集ppt-ppm级浓度的VOC样品。可以提供不锈钢或玻璃（适合对热不稳定的VOC）两种材质，适用于ULTRA-UNITY, PE或岛津等品牌的热解析仪。随管提供内装吸附剂的总质量、活化管的空白色谱图。

水活度：Aw值表示化学意义上的游离水分。测量是以平衡湿度为基础的。在一个封闭的空间内，内置一定比例的空气及固体，固体中所含的水分决定了空气的相对湿度。水活性（aw值）实际即是封闭空间内的平衡湿度。食品中的水分含量与食品的易腐性存在一定的关系，水活度aw与微生物的生长和许多降解反应的速度具有很好的相关性,它比水分含量能更可靠的预示食品稳定性、安全和其他性质，成为一个能指示产品稳定性和微生物安全的参数。Novasina/瑞士 便携式水分活度测定仪 LabStart-aw瑞士NOVASINA公司几十年来，致力于水分活度和湿度检测技术的研究，其产品在空气、气体、原材料、食品和药品等的水分活度和相对湿度的测定和应用领域，广泛应用于食品工业的开发生产和储存、烟草、空调系统、暖房栽培、印刷和造纸、航空航天、医药、精细化工等行业的生产和质量控制。NOVASINA发明并享有测定方法“电阻电解液法”, 经广泛使用和验证 , 是准确、有效、直接的测量水分活度的方法美国NIST，FDA,欧盟各国、日本的进出口食品检验检疫机构的实验室在水分活度项目上均推荐NOVASINA 仪器。Novasina/瑞士 便携式水分活度测定仪 LabStart-aw主要特点：1.测定快速、准确；2.最快2分钟内可得到水活度结果3.可靠度高，长时间稳定；无需维护4.小巧方便，简明易用55.大LCD 显示，可显示水活度aw、温度及湿度%6.标准品无需消耗，使用寿命长达数年测定范围0.03-1.00aw精度0.01aw温度范围15-30℃温度精度0.1℃配置包括主机， 标准品， 20个可重复使用的样品杯，操作手册其它型号参考瑞士Novasina LabStart-aw/LabSwift-aw/LabTouch-aw/LabMaster-aw/LabPartner-aw水活度仪技术参数：图片 型号LabStart-awLabSwift-awLabTouch-awLabMaster-awLabPartner-aw配置类别StandardStandardBasic和StandardBasic、Standard、和AdvancedLabMaster-aw多通道系统测定范围0.20-0.80aw0.11-0.90aw0.06-0.97aw0.03-1.00aw0.03-1.00aw分辨率0.01aw0.01aw0.01aw0.001aw0.002aw精确度± 0.03aw± 0.01aw± 0.005aw± 0.003aw± 0.003aw传感器CM-4CM-2CM-2CM-2CM-2样品温度控制不不可升温；不降温可升降温可升降温温度范围15-30℃5-45℃5-45℃0-50℃0-50℃温度精度±0.3K±0.15K±0.15K±0.2K±0.2K数据存储无测试数据和方法可存测试数据和方法可存测试数据和方法可存测试数据和方法可存通讯接口无SD卡SD,RS-232,USBSD,RS-232,USBSD,RS-232,USB尺寸HxL85x140x225mm85x140x225mm105 x 200 x 300mm260×440×220mm268 x 392 x 170 (300) mm主机重量1.2 kg1.2 kg2.8kg9.8kg10kg电源90-264 VAC / 50-60Hz

新一代纳米颗粒跟踪分析仪 NanoSight Pro —— 纳米和生物材料的表征从未如此快速、简单和精确新一代 NanoSight Pro 的推出，马尔文帕纳科为纳米和生物材料的表征提供了简单且快速的 NTA 解决方案。先进的工程设计和众多智能功能的组合确保了 NTA 测量高效、快速。NS Xplorer 软件由机器学习提供支持，实现了自动测量，消除了主观影响，并为光散射和荧光分析提供了高质量的颗粒大小和浓度数据。 可互换的激光器让应用更灵活，Smart Manager 连接确保了仪器稳定，无需担心数据质量问题或宕机问题。 特点与优势：快速安装和分析NanoSight Pro 可供各种规模的实验室中的各类人员使用。智能安装功能支持您快速启动并运行设备。得益于测量前只需要简单的设置、便捷的操作和直观的 NS Xplorer 软件，您可以在数分钟内完成样品测量。智能化和自动化NanoSight Pro 以机器学习和智能功能为后盾，可以自动处理样品测量任务并有效消除人为错误，从而实现精确的颗粒识别和颗粒跟踪，以获得高质量和可重复性高的测量数据。高分辨率全新 NanoSight Pro 可测量 10 nm - 1000 nm 范围内的纳米颗粒，包括低散射和生物颗粒。逐粒分析技术可提供高分辨率的粒度和浓度数据，并可通过视觉途径进行确认。强大的荧光功能除了光散射外，系统还可以从荧光标记的生物样本或合成颗粒中检测荧光信号，从而助您更深入地了解样品。可互换的激光模块可以选择四种激发波长。与对应的长通滤光片配合使用，可以实现流动分析支持的最佳设置，从而更好地对样品（甚至是光漂白样品）进行采样和跟踪。 更高的荧光灵敏度可以实现检测特定亚群，例如表面标记物、内部货物检测或污染物。主要应用：马尔文帕纳科 NanoSight Pro 可用于诸多重要应用领域，包括：细胞外囊泡 (EV)虽然对细胞外囊泡的产生和功能的研究仍在不断发展，但监测和控制其分离和纯化仍然很重要。NanoSight NTA 可以快速、方便地表征水性缓冲液中囊泡的大小和浓度，使人们对下游实验中所用样品的质量充满信心，同时荧光功能有助于清楚识别细胞外囊泡 (EV) 的亚群来源。病毒和疫苗疫苗的生产需要严格控制生产过程，以确保组分剂量适当并被免疫系统识别。NTA可助力稳定疫苗的粒度分布从而帮助优化生产流程。NTA 还能够确定病毒计数和粒度，因此可以作为滴度测定的更快替代方案。药物递送和基因治疗对于药物递送和基因治疗产品，为了确保临床上的有效疾病靶向，所需的颗粒大小为 70-150 nm。从早期药物研究到候选物筛选、制剂开发和临床批次监测，NTA 非常适合用于测量这些环节中的颗粒粒度，同时借助其浓度测量功能，可用于确定最终产品的剂量并用于体外和体内测定。生物治疗药物温度、pH 值变化、搅拌、剪切和时间都会影响生物治疗药物蛋白的稳定性，造成变性和聚集，进而可能导致丧失疗效和潜在的不良免疫反应。NTA 能够提供制剂中亚可见聚集体的高分辨率粒度分布信息，用于安全性和质量确认。纳米材料/胶体/毒理学随着纳米材料融入日常用品中，它们正引起监管机构的注意。因此需要充分表征这些颗粒，分析颗粒的性质以及其对最终产品的影响。NanoSight 可以针对这些纳米材料提供基于数量的浓度信息，并为那些在工业、环境和毒理学领域从事纳米级研究工作的人员提供高分辨率的粒度分布信息。超细气泡近年来，微细气泡在工业清洁和水处理、农业和食品、医疗应用等领域中的应用场景越来越多。鉴于相对较低的浓度和较小的粒度，超细气泡对许多传统的纳米颗粒表征技术提出了严峻的挑战，而 NTA 特别擅长检测和分析这类气泡。概述：技术类型纳米颗粒跟踪分析技术粒度检测范围（直径）110 nm - 1000 nm颗粒浓度2106 至 109 个/毫升最小样品量：250 μL高级浓度算法浓度提升系统：产品合规性一类激光产品 (BS EN 60825-1:2014)EMC 指令 (EN IEC61326-1:2021)低电压指令 (IEC 61010-1:2010IEC 61010-1:2010/AMD 1:2016)摄像头高灵敏度 sCMOS (USB-3)激光信息光束波长（最大功率输出）：405 nm，最大功率 70 mW488 nm，最大功率 55 mW（蓝）532 nm，最大功率 60 mW（绿）642 nm，最大功率 50 mW（红）温度控制范围低于环境温度 5°C 至最高 70°C温度读数自动注射泵1 mL 注射器连续进样尺寸 （宽, 长, 高）：34 x 35 x 25 cm仪器重量11 kg激光模块重量1.6 kg电源要求AC 110 – 240 V，50-60 Hz，4.0A工作环境条件最高 80% 相对湿度（31°C 时），然后线性下降至 50%（40°C 时）其他选项荧光 - 自动选择3适用于最多 5 个滤光片注：1 取决于样品和仪器配置2 取决于样品3 可选功能。不同激光波长的长通滤光片

Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号：PSS Nicomp N3000 Plus工作原理：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）检测范围： 0.3nm-10.0μm Nicomp N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。技术优势1、APD（LDC）超高灵敏度检测器； 2、多角度检测（multi angle）模块；3、可搭配不同功率光源；4、精确度高，接近样品真实值；5、快速检测，可以追溯历史数据；6、结果数据以多种形式和格式呈现；7、符合USP,CP等个多药典要求；8、无需校准；9、复合型算法：（1）高斯（Gaussion）单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换10、模块化设计便于维护和升级；（1）可自动稀释模块；（2）搭配多角度检测器；（3）自动进样系统（选配）；Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 3000系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。图一：Nicomp多分分布数据呈现 如图一：此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由图中可以看出，其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。 图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二：此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案。产品优势模块化设计 Nicomp 3000纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 3000的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块 自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。3000/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 3000纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD-LDC)超高灵敏度检测器 Nicomp 3000纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军品级别的雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果）。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。3000/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。工作原理目录结构： 1.前言 2.动态光散射原理 3.动态光散射理论：光的干涉 小知识：光电倍增管（PMT) 小知识：光电二极管（APD) 5.粒子的扩散效应 6.Stoke-Einstein方程式 7.自相关函数原理 前言 近十几年来，动态光散射技术（Dynamic Light scattering, DLS），也被称为准弹性光散射（quasi-elastic light scattering, QELS）或光子相关光谱法（photon correlation spectroscopy， PCS）,已经被证明是表征液体中分散体系的粒径分布（PSD）的极有用的分析工具。DLS技术的有效检测粒径范围——从5am（0.005微米）到10几个微米。DLS技术的优势相当明显，尤其是当检测到300nm以下亚微米的粒径范围时，在此区间，其他的技术手段大部分都已经失效或者无法得到准确的结果。因此，基于DLS理论的设备仪器被广泛采用用以表征特定体系的粒度分布，包括合成的高分子聚合物(如乳胶，PVCs等)，水包油和油包水的乳剂，囊泡，胶团，微粒，生物大分子，颜料，燃料，硅土，金属晶体，陶瓷和其他的胶体类混悬剂和分散体系。动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定，每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积（在特定浓度下）成比例关系，再带入其他影响参数比如折射率，这就是经典光散射（Classic light scattering)的理论基础。 图1：DLS系统示意图动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，不再关注于光散射的光强值，而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说，我们在一定角度（一般使用90°角）检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散，光强值不断波动，理论上存在有非常理想化的波动时间周期，此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ，我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式，我们最终可以计算得出颗粒的半径（假定其是一个圆球形状）。 动态光散射理论：光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动，我们必须先理解相干叠加（coherent addition）或线性叠加（superposition）的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光，这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的最终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系，这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起，或者叫干涉在一起，最终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值，在DLS系统中，绝大部分都使用90度角。 小知识——光电倍增管（PMT) 光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。光电倍增管示意图小知识——光电二极管（APD) 光电倍增管是由玻璃封装的真空装置，其内包含光电阴极 (photocathode)，几个二次发射极 (dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极，产生光电效应，产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管，电子被加速到二次发射极产生多个二次电子，通常每个二次发射极的电位差在 100 到 200 伏特。二次电子流像瀑布一般，经过一连串的二次发射极使得电子倍增，最后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的，而电子倍增管的二次发射极是连续式的。 应用 光电倍增管集高增益，低干扰，对高频信号有高灵敏度的优点，因此被广泛应用于高能物理、天文等领域的研究工作，与及流体流速计算、医学影像和连续镜头的剪辑。雪崩光电二极管（Avalanche photodiodes，简称APDs）为光电倍增管的替代品。然而，后者仍在大部份的应用情况下被采用。 动态光散射理论： 粒子的扩散效应 悬浮的粒子并不是静止不动的，相反，他们以布朗运动（Brownian motion)的方式无规则的运动，布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此，到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动，这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起，在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化，进而产生有实际意义的波动，最终这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念，我们现在假定粒子是均一大小的，具有相同的扩散系数（diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快，将会导致光强波动信号变化很快；而相反地，大粒子扩散地毕竟慢，导致了光强值的变化比较慢。 图示4使用相同的时间周期来观测不同大小（小，中，大）的粒子产生的散射光强变化,请注意，横坐标是时间t。 我们需要再次强调，光强的波动并不是因为检测区域内粒子的增减引起的 而是大量的粒子的位置变动（位移）而引起的。 Stokes Einstein Equation DLS技术的目标是从原始数据（raw data)中确定粒子的扩散系数“D”。原始数据主要是指光强信号的波动，比如上述图4中所示。通过扩散系数D我们可以很容易的计算出粒子的半径，这时候就是广为人知的Stokes-Einstein方程式：D=kT/6πηR （2）这里k 指的是玻尔兹曼常数1.38 x 10-16 erg K-1；T是绝对温度；η是分散溶剂的额剪切粘度，比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊； 从上述公式2中我们可以看到，通常情况下，粒子的扩散系数D会随着温度T的上升而增加。温度进而也会影响溶剂粘度η。例如，纯水的粘度在25℃下会落到0.890×10-2泊，和20℃下相比会有10%的改变。毫无疑问，溶剂的粘度越小，粒子的无规则扩散速度会越大，从而导致光强的波动也越快。因此，温度T的变化和粒径的变化是完全分不开的，因为他们都影响到了扩散系数D。正因为这个原因，样本的温度必须保持恒定，而且必须非常精确，这样才能获得有实际意义的扩散系数D。 从图4的“噪声”信号中无法直接提取出扩散系数。但是可以清楚地看到，信号b比信号c波动地快，但是比信号a波动地慢，因为，信号b地粒径一定在a和c之间，这只是很直观地得到一个结论而已。然而，量化此种散射信号是一个很专业地课题。幸而，我们有数学方法来解决这个问题，这就是自相关函数（auto-correlation)。自相关函数原理 现在让我们设定散射光强的自相关函数为IS(t)，在上述图4中可以看到其随时间而波动。我们用C(t’)来标识自相关函数。C(t’)可以通过如下方程式3来表达：C(t’)= Is(t)*Is(t-t’) (3)括号 表示有很多个t和对应的Is值。也就是说，一次计算就是运行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和，所有都具有相同的间隔时间段t’。 图5是典型的Is(t)的波形图，通过这张图，我们可以认为C(t’)和Is(t)之间有简单的比例关系，这张图的意义在于通过C(t’)函数可以通过散射光强Is(t)的波动变化“萃取”出非常有用的信息。 自相关函数C(t’)其实是表征的不同大小的粒子随时间而衰变的规律。 点击下载工作原理仪器参数粒径检测范围0.3 nm - 10μm分析方法动态光散射，Gaussian单峰算法和 Nicomp多峰算法pH值范围1-14温度范围0℃-90 ℃（±0.1℃控温精度，无冷凝）浓度40%w/v激光光源至少35mW激光光源检测角度多角度（10°- 175°，包含90°，步进0.7°）检测器APD-LDC(雪崩二极光电倍增管，可7-10倍增益放大)可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，微量进样10μL）分析软件必配科研级软件符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220 – 240 VAC，50Hz 或100 – 120 VAC，60Hz计算机配置要求Windows 7及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，1G内存，光驱，USB接口，串口（COM口）外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm辅助增益模块自动稀释模块自动进样器（选配）重量约26kg（与配置有关） 配件大功率激光光源PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射，以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW, 35mW, 50mW, 100mW — 波长为635nm 的红色二极管。20 mW 50 mW 和 100 mW 波长为 514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器（APD Detector）提供比普通光电倍增管(PMT)高7-10倍的灵敏度。自动稀释系统模块将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度，可稀释初始固含量为50%的原始样品，本模块可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差，此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。多角度检测系统模块提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整，可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品（≤40%）以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测自动滴定模块（选配）样品的浓度及PH值是Zeta电位的重要参数，搭配瑞士万通的滴定仪进行检测，真正实现了自动滴定，自动调节PH值，自动检测Zeta电位值。免除外界的干扰和数据上的误差，精确分析出样品Zeta电位的趋势。样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，最小进样量10μL）。自动进样器（选配）批量自动进样器能实现60个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具，能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。应用领域 纳米载药纳米药物研究近些年主要着重在药物的传递方向并发展迅猛，纳米粒的大小可以有效减少毒性和副作用。所以，控制这些纳米粒的粒径大小是非常必要的。 磨料磨料既有天然的也有合成的，用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。化学机械抛光液(CMP SLURRY)化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计，对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。 陶瓷陶瓷在工业中的应用非常广泛，从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制产品的性能和质量。 粘土粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似，但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。 涂料涂料种类繁多，用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。污染物监测粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用，产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范，必须严格遵守和执行，以保证产品满足质量要求。化妆品无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂，它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收，而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。 乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系，通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型，一种是水分散在油中，另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶（水包油型）和黄油（油包水型），加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。 乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系，通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型，一种是水分散在油中，另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶（水包油型）和黄油（油包水型），加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。 食品食品的原料（粉末及液体）通常来源于不同的加工厂，不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制（QA/QC）的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。液体工作介质/油液体工作介质（如：油）越来越昂贵，延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中（如：油浴润滑介质或液力传递介质），因此需要一种方法来确定介质（油）的更换周期。通过监测工作介质（油）中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。墨水随着打印机技术的不断发展，打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下，且分布均匀，大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的，可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程，以保证墨水的颗粒粒度分布均匀，避免产生聚集的大颗粒。 胶束胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后，其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒，这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO2纳米管(TNAs)等

产品介绍 BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta 电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径检测 原理原理 动态光散射技术 粒径范围 0.3 nm – 15 μm 样品量 3 μL – 1 mL 检测角度 90 ° + 12° 分析算法 Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试 原理原理 相位分析光散射技术 检测角度 12° Zeta范围 无实际限制 电泳迁移率范围 ＞±20 μ.cm/V.s 电导率范围 0 - 260 mS/cm Zeta测试粒径范围 2 nm – 110 μm 分子量测试 分子量范围 342 Da – 2 x 107 Da 微 流变测试 match 测试能力 均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量折光率和粘度测试 粘度范围 0.01 cp – 100 cp 折光率范围 1.3-1.6趋势测试 时间和温度 系统参数 温控范围 -15°C - 110°C ，精度±0.1°C 冷凝控制 干燥空气或者氮气 标准激光光源 50 mW 高性能固体激光器， 671 nm 相关器 最快25 ns采样，最多 4000通道，1011动态线性范围 检测器 APD （高性能雪崩光电二极管） 光强控制 0.0001% - 100%，手动或者自动 软件 中文和英文 符合21CFR Part 11检测参数●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布 ●颗粒体系的 Zeta 电位及其分布●分子量●分布系数 PD.I●扩散系数 D●流体力学直径 DH●颗粒间相互作用力因子 kD●溶液粘度检测技术●动态光散射 ●电泳光散射●相位分析光散射●静态光散射

我公司为美国DNAstar公司的国内指定代理。DNASTAR 致力于为当今生命科学家提供创新且易于使用的桌面软件工具。我们的Lasergene软件提供基因组学、结构生物学和进化生物学研究需要的所有工具，您既可购买完整软件包，也可以根据您的具体需求购买单独软件套件。软件套件包括：Lasergene Genomics Suite-新一代序列组装和分析软件Lasergene Genomics Suite在一个单独的集成软件包里囊括了新一代序列组装和分析所需的所有工具。我们支持所有主要的新一代测序技术、简化了您对各类项目的数据处理工作，其中包括de novo或参考指导基因组组装、目标区域重测序、宏基因组和群体组装、大规模多样本SNP分析、RNA-Seq、ChiP-Seq和miRNA比对和分析等。Lasergene Structural Biology Suite-大分子结构分析软件Lasergene Structural Biology Suite为结构生物学家提供了一套用于蛋白序列分析、大分子可视化和结构预测的强大工具。Lasergene Structural Biology Suite 是基于Protean 3D和NovaFold设计的软件套件。前者是一种用于探索大分子结构、运动和功能的应用程序，后者可预测蛋白序列的三维结构。Lasergene Evolution Suite-序列比对、分析和编辑软件Lasergene Evolution Suite使进化生物学家易于执行多序列和成对序列的比对、确认基因、组装Sanger序列重叠片段、创建虚拟克隆和设计引物，充分利用多种综合性分析工具。Lasergene Evolution Suite 以用于DNA和蛋白序列比对和分析的MegAlign，以及其配套应用程序MegAlign Pro 为基础进行设计，还包括另外几种强大的序列分析工具和应用程序。Lasergene Cloning Suite-克隆、引物设计和序列编辑软件Lasergene Cloning Suite为其他Lasergene软件包奠定了坚实基础。使用Lasergene Cloning Suite，您可以编辑和注解序列、创建详细的环状图或线性图、利用各种克隆方法（包括Gatewany Multisite、TA、TOPO和限制克隆）实现自动虚拟克隆。此套件还包括为PCR、测序和杂交实验设计最适合引物对所需的所有工具。有需要的公司或单位可致电我们申请试用序列号。

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

ViewSizer™ 3000 实现了纳米颗粒追踪分析技术的突破，包括特有的照射和检测方法，使得各种尺寸纳米颗粒的可视化、粒径和数量浓度测量成为可能。颗粒和颗粒动态过程的可视化 准确测量宽分布样品的粒径和数量浓度 量化颗粒动力学过程： 例如颗粒结晶，团聚，自组装，溶胀，溶解和收缩 等过程与传统的NTA一样，该仪器可对悬浮液中单个纳米颗粒的散射光进行可视化，然后利用这些数据来确定颗粒的运动并利用Stokes Einstein方程推断颗粒尺寸，在此基础上利用已知的照射和成像的样品体积确定颗粒数量浓度。一次测量可得到两个关键信息：颗粒粒径分布和颗粒浓度。 先进的多光源光学系统由于仪器采用了三种波长的可见光源(蓝、绿、红)，因而能够为样品测试选择较好的条件，克服NTA技术分析多分散样品时存在的局限性，能够对更大尺寸范围的颗粒进行可视化。此外， ViewSizer 3000样品池易于使用和清洁，并具有间歇搅拌功能，从而提供重现性更高的结果。由于样品是在垂直方向上观察的，它非常适合于观察蛋白质聚集或晶体溶解等过程。因此，无论您是使用NTA分析外泌体或其他微泡，还是复杂的纳米颗粒动力学过程，ViewSizer 3000都是一项突破性的技术，为您的实验室分析提供更好的方案。 荧光颗粒分析ViewSizerTM3000特有多波长光源和检测技术使其在荧光颗粒分析方面具有独特优势，可以区分样品中相同粒径分布的不同成分。左图所示的重叠粒径分布图，清晰表明了混合样品中不同组分的浓度及其在混合物中的百分比。 颗粒动力学分析ViewSizer TM 3000具有对从纳米级到微米级宽粒径范围的颗粒进行可视化、粒径测量和计数的独特功能，从而能够表征颗粒的动力学过程，包括：活性药物成分的溶解、聚合物的自组装、食品和药品的结晶、蛋白质的聚集和颗粒团聚等等。此外，借助于监控温度和浓度等工艺参数，颗粒动力学研究有助于确定理想的工艺条件和配方参数。 计数与浓度根据样品体积和成像的颗粒数量轻松确定颗粒浓度，这对过程控制中的投入产出比等应用都至关重要。 友好的软件系统ViewSizerTM3000软件开发以用户需求为导向。点击鼠标即可完成所有颗粒的可视化的分析、数据采集、多种数据格式输出。 概述 高分辨率的粒度分布和可视化 适合测量颗粒大小分布范围广的样品 配备多波长光源 适合监测纳米颗粒的动力学过程

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

SinAPC15A系统介绍1、系统由多种高端自动控制部分构成Automatic Analysis System西恩士立体研究级显微镜确保获得颗粒准确的光学图像；支持多种高精度2轴电动台，扫描位置更加精准；智能化的全自动清洁度分析软件自动拍照、自动控制扫描、自动识别分析确保颗不被漏判和误判,检测效率高；英国PRIOR高精度电动台： 全自动的检验分析过程：自动扫描整个试样（通常是滤纸）、自动拍照，颗粒自动识别、统计、分析，自动检查清洁度、自动生成专业分析报告：2、自动扫描样品 Auto Scan，Support Multiple Scanning Area 满足各种应用需要；同时可测量零件清洁度、油液清洁度等。提供专业夹具，使样品更平整。3、多种检测标准：Multi Testing Standard 支持多种国标及国际标准：包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等；可以输入标准进行清洁度、颗粒度的全自动检测；可以对纤维进行统计；系统定期更新最新标准。4、自动识别反光颗粒、不反光颗粒、纤维 Auto Analysis系统自动识别颗粒，可以同时检查出不反光颗粒和反光颗粒（一般为金属颗粒）、纤维。自动对三种颗粒进行检查分类。 支持设置各种颗粒的合格区间。支持自定义三种颗粒的区分设置。5、统计与分析：Analysis and Statistics系统自动识别颗粒、自动分析颗粒类别、自动统计颗粒参数。同时支持修改颗粒。提供多种统计分析工具。6、专业清洁度报告：Professional Cleanliness Report支持模板化报告生成模式，包含统计数据、评级、滤片全貌图、最大颗粒照片等信息；可选择多种报告模式。

产品参数测量原理电位计/ ISE特点锅炉给水、蒸汽、冷凝水和离子交换器中钠离子分析仪尺寸850 x 450 x 250 mm33.5 x 17.7 x 9.8 inch设计不锈钢盘1.4301过程温度10...45°C50...113°F环境温度5...40°C41...104°F过程压力1...5 bar（绝压）14.5...72.5 psi探头处的流速10...15 l/h2.64...3.96 gal/h应用锅炉给水、废水循环系统、冷凝水和离子交换器中在线钠离子监测电源100 ...240 V AC，50/60 Hz输出0/4 ...20 mA测量范围0.1...2000 μg/l (ppb) Na耗材CA76NA钠离子电极，CA76NA pH组合电极CA76NA标液5100 ppb Na应用领域使用CA76NA钠离子分析仪保护您的水汽循环回路和离子交换器！如果高纯水给水或锅炉给水中的钠离子浓度上升，说明已有有害杂质溶解在水中。这种情况会引起严重的设备损坏，产生昂贵的维修费用。CA76NA能够高精度进行水质监测，快速检测关键事件。钠离子分析仪能够帮助您制定预维护策略，保障电厂正常运行。在电力行业和公用工程中，CA76NA钠离子分析仪监测低钠离子浓度：指示锅炉和涡轮机中的水和蒸汽纯度。实现冷凝器泄露或离子交换器故障的早期预警。控制采用淡水为水源的电厂的进水水质。优势保护在电力行业中使用的昂贵工厂设备：CA76NA钠离子分析仪监测水汽循环回路中的低钠离子浓度，检测电厂中的残留物和杂质。在线测量真空泵下游管道中的钠离子浓度，实现冷凝器泄露的早期预警。DIPA试剂和标准液的使用剂量低，降低了运营成本。精准测量：独立pH参比电极进行高精度温度补偿，优化调节pH值。优化投资成本：一台分析仪最多带六个取样通道。完美适应过程条件：选择专用取样通道，自由调节测量间隔时间。成功案例直接从波罗的海中提取循环冷却水KNG电厂选择了CUS52D浊度传感器，即使在环境严苛的海水中也能够稳定输出可靠的测量结果，降低了维护成本。汽轮机连续运转Zwickau南部火力发电公司建造了一座新生物发电厂，为Zwickau城市供电。工厂采用最先进的汽水取样系统SWAS。

NTA纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView仪器简介：NTA纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView所具备的单一颗粒跟踪技术，结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能，让用户眼见为实，更加直观人性化。通过子体积的扫描，来自于数以千计的颗粒的zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此外，颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。 NTA纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView的特点 - 全自动和无源稳定性自动校准程序会持续工作，即便是样品池被取出后。防震动设计提高了视频图像的稳定性。通过扫描多个子体积并进行平均，就可以得到可靠的统计结果。有3种测量模式可供选择：粒径，zeta电位和浓度。样品池通道集成在一个插入式的盒子中，盒子可提供温度控制以及同管理单元的耦合。自动扫描，可达100个子体积；自动聚焦；小巧，便于携带；防震动；光源从紫外线到红光；插入式样品池； 理论平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率，可以得到zeta电位。 纳米粒子跟踪分析（NTA）和动态光散射（DLS）所有的光散射仪器，包括粒子跟踪技术，都存在一个问题：当颗粒大小低于100nm时，灵敏度会迅速的降低。动态光散射技术的MIN检测限是0.5nm，对于纳米颗粒跟踪分析，其MIN检测限是10nm。通常，DLS和NTA的主要区别就在于浓度范围。对于DLS，当样品浓度太低时，普迈精医NTA纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView可以非常圆满的完成检测任务。相反，对于高浓度的样品，DLS方法会非常的适合。 测量范围测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品，颗粒跟踪技术的检测下限为10nm；相应的，如果样品的散射能力较弱，则检测下限会变得更大。假如样品稳定，不会沉淀或漂浮，zeta电位测量的粒径上限为50微米，对于粒径测量为3微米。 源于视频分析的颗粒计数颗粒浓度可通过视频分析得到，并归一化处理，散射体积对粒径。可检测的MIN浓度为105粒子/cm3，MAX为109粒子/cm3。对于200nm的颗粒，MAX体积浓度为1000ppm。 准确度和精度Zeta电位：准确度5mv，精度4mv，重现性5mv；粒度测试（对于100纳米的标准乳胶颗粒）：准确度6nm，精度4nm，重现性4nm；浓度测试（100纳米的颗粒，浓度10Mio粒子/ml）：准确度0.8 Mio/ml，精度0.5Mio/ml，重现性1Mio/ml；只要相机设置正确，样品处理适当，则以上所有的数据均有效。 方法NTA纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView激光散射显微镜对于低于1微米衍射极限100倍的纳米粒子是非常敏感的。 技术参数测量原理zeta电位（微电泳），粒径（布朗运动），颗粒浓度（视频评价）光学设计具有单个粒子跟踪功能的激光散射视频显微镜自动校准，自动聚焦测量池石英玻璃通道，插入式盒子，配有2个接口，用于流动冲洗和小体积传输施加电压Zeta电位：-24V，+24V粒径：0V光学系统显微镜物镜10倍变焦，数字相机，640×480px，30和60帧每秒激光类型依赖于应用Zeta电位测试范围-500~500mv可测的粒径范围Zeta电位：0.01-100微米粒径：0.01-3微米下限和上限依赖于样品和激光PH范围1-13温度范围温度控制5-45℃（环境温度）RT-5℃，MAX45℃电导率范围0-15ms/cm内部控制-输出温度，电导率，电场，漂移准确度Zeta电位：±4mv；粒径：±6nm（100nm的乳胶粒子标准品）重现性Zeta电位：±4mv；粒径：±5nm（100nm的乳胶粒子标准品）

纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000介绍 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用先进的设计理念优化结构设计，充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术，即可以多角度（步长0.9μm ）检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围：粒度测试范围：0.3 nm – 10 μm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量，是表征胶体分散系稳定性的重要指标，Zeta电位（正或负）越高，体系越稳定。Zeta电位表征的是粒子之间的排斥力。由于大部分的水相胶体体系是通过粒子之间的静电排斥力来保持稳定的，粒子之间的排斥力越大，粒子越不容易发生聚集，胶体也会越稳定。NICOMP 380 Z3000结合了动态光散射技术（DLS）和电泳光散射法（ELS），实现了同机测试纳米粒子分布和Zeta电势电位。 应用行业：磨料、化学机械抛光液、陶瓷、粘土、涂料、污染监测、化妆品、乳剂、食品、液体工作介质/油、墨水、 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等 自动滴定仪NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪在增加自动滴定模块后，可以一次性使用同一样品在不同PH值或不同离子浓度的条件下进行一系列测试，实现了在等电点测试的技术难题。 相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。NICOMP 380 Z3000 纳米粒径与电位分析仪特点同机测试悬浮液体的粒径分布以及ZETA电势电位Zeta电位运用了多普勒电泳迁移原理以及zui新的相位分析散射法可以测试水相和有机相的样品检测范围宽广，亚微米颗粒均可以被检测样品测试量小高辨析率结果重现性好，误差小于1%100 % 样品可回收li用可搭载自动滴定仪, 自动稀释器和自动进样器无须校准一次性进样，避免交叉污染样品可选配大功率激光发生器以及jun品级APD雪崩二极管检测器来检测粒径小于1nm的颗粒 技术参数：粒径检测范围粒度分析：0.3 nm - 10 μmZeta电位检测范围粒度0.3 nm-100 μm分析方法粒径：动态光散射，Gaussian 单峰算法和 Nicomp 无约束自由拟合多峰算法；电位：电泳光散射(ELS)技术和相位分析光散射法pH值范围2 - 12温度范围0℃ - 90 ℃激光光源（可选）5 mW氦氖光源；15 mW, 35 mW,50 mW激光光源；100 mW激光光源（红）；20 mW，50 mW，100 mW激光光源（蓝/绿）检测角度（可选）90°或 多角度（10°- 175°，可选配）检测器（可选）PMT（光电倍增管），CMP（4倍增益放大）APD雪崩二极管（7倍增益放大）高浓度样品背散射175°背散射可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，zui小进样量10μL）选配模块高浓度背散射；自动稀释模块，自动进样器，多角度检测器，高能激光发生器，高增益检测器，21CFR PART11规范软件，在线模块。分析软件Windows 兼容软件；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220 - 240 VAC，50Hz 或100 - 120 VAC，60Hz计算机配置要求Windows XP及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，1G内存，光驱，USB接口，串口（COM口）外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg（与配置有关）电泳光散射法（ELS）与粒子的动电（Zeta）电位： ELS 是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射。它的光散射理论基础是 准弹性碰撞理论，只是在实验时在式样槽中多加一个外电场，带电粒子即以固定 速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动，与之相应的动力光散射光谱产生多普勒漂移，这一漂移正比于带电粒子的移动速度，因此实验测得谱线的漂移，就 可以求得带电粒子的电泳速度，从而求得ζ-电位。相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。动态光散射原理 Nicomp 380纳米粒径分析仪采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理来获得范围在0.3 nm到10 μm的胶体体系的粒度分布。DLS是通过一定波长的聚焦激光束照射在悬浮于样品溶液的粒子上面，从而产生很多的散射光波。这些光波会互相干涉从而影响散射强度，散射强度随时间不断波动，二者之间形成一定的函数关系。粒子的扩散现象（或布朗运动）导致光强不断波动。光强的变化可以通过探测器检测得到。使用自相关器分析随时间而变的光强波动就可以得到粒度分布系数（Particle size distribution, PSD）。单一粒径分布的自相关函数是一个指数衰减函数，由此可以很容易通过衰减时间计算得到粒子扩散率。zui终，粒子的半径可以很容易地通过斯托克斯（Stokes-Einstein）方程式计算得到。如下是Nicomp 380纳米粒径分析仪的检测原理简图： 大部分样品一般都不均匀，往往会呈现多分散体系状态，即测出来的粒径正态分布范围会比较大，直观的呈现是粒径分布峰比较宽。自相关函数是由多组指数衰减函数综合组成，每一个指数衰减函数都会因指数衰减时间不同而存在差异，此时计算自相关函数就变得不再简单。Nicomp 380纳米粒径分析仪巧妙运用了去卷积算法来转化原始数据，从而得出zui接近真实值的粒度分布。Nicomp 尤其适合测试粒度分布复杂的样品体系，li用一组独特的去卷积算法将简单的高斯正态分布模拟成高分辨率的多峰分布模式，这种去卷积分析方法，即得到PSS粒度仪公司独有的粒径分布表达方法—Nicomp分布（Nicomp Distribution）。有些仪器的高斯分析模式可以使用基线调整参数的功能，以此来补偿测试环境太脏而超出仪器灵敏度的问题。高斯分析模式也可以允许使用者指定“固体重量模式”或者“囊泡重量模式”来分析带有小囊泡的胶体体系，比如脂质体。Nicomp分析方法是一种专li的高分辨率的去卷积算法，它首次在1990年提出并应用于分析和统计粒径分布。在历史上已经证明Nicomp分析方法能够精确分析非常复杂的双峰样品分散体系（比如 2：1比例），甚至是三峰样品分散体系。在科学研究中，找到粒子聚集分布的杂峰是非常有用的。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪广泛适用于检测悬浮在水相和有机相的颗粒物。