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可控孔径玻璃

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  • 泊肃叶压差法代高精度孔径测量中的压力控制解决方案

    泊肃叶压差法代高精度孔径测量中的压力控制解决方案

    [b][color=#3366ff]摘要:针对现有压力衰减法孔径测量中存在的基本概念不清和实施方法不明确等问题,本文详细介绍了压力衰减法的孔径测量基本原理,并重点介绍压差法测量中的高精度压力控制方法,为各种微小孔径和等效孔径的准确测量提供切实可行的解决方案。[/color][/b][align=center][img=压力衰减法孔径测量,550,294]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/12/202212230914562217_9430_3221506_3.jpg!w690x370.jpg[/img][/align][b][size=18px][color=#3366ff]1. 问题的提出[/color][/size][/b] 在工业生产和实验室研究中存在着大量管件内部孔径的测量需求,而且还要求具有较高的测量精度,常见的需要精密测量的几类孔径有: (1)毛细管内径。 (2)鲁尔接头或其他连接器母接头孔径。 (3)各种喷灯气孔孔径。 (4)栓环缝通道等效孔径。 (5)药用玻璃瓶或药品包装系统漏孔孔径。 通道孔径主要分为直接测量方法和间接测量方法。直接测量主要是通过精密的尺规等工具进行测量,如游标卡尺、圆锥尺、针规和塞规等,但直接测量方法并不适应于细长管和针栓环缝通道等的孔径或等效通径的测量。 间接测量法主要有光学法和流体标定法。光学法一般是利用像素为基本单位对各种形状的孔进行测量,适用于元件表面孔和裂纹的测量。但对于细长或者弯曲多变的孔径,光学法不适用。流体标定方法是一种基于压力衰减法的有效的等效通径标定方法,流体介质多以气体和液体为主,通过流量计和压力传感器分别测量流体流量和压力差。但在目前的压力衰减法中普遍存在以下几方面的问题: (1)在低于和高于一个标准大气压的负压和正压条件下,都可以采用压力衰减法进行孔径测量,但绝大多数文献和专利报道对此并没有明确的规定,正负压测试条件的使用显着非常随意和混乱。 (2)压力衰减法的核心是在被测孔径管道的两侧形成恒定压力差,并同时测量由此压差引起的流量变化,其中的恒定压力控制是建立试验条件和影响测量精度的最重要因素。对于精确的压力控制在各种文献和专利报道中很少看到,大多报道只是给出一个不完整的压力衰减法测试框图,对精确的压力控制以生成高精度的恒定压差还未见报道。 针对上述现有压力衰减法孔径测量中存在的问题,本文将详细介绍压力衰减法孔径测量的基本原理,重点介绍压差法测量中的高精度压力控制方法,为微小孔径和等效孔径的准确测量提供切实可行的解决方案。[b][size=18px][color=#3366ff]2. 压力衰减法基本原理——泊肃叶定律[/color][/size][/b] 在恒定压差条件下,在粗细均匀的水平刚性圆管中作层流流动的黏性流体,其体积流量满足如图1所示的泊肃叶(Poiseuille)公式。[align=center][img=泊肃叶定律,600,311]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/12/202212230917419388_2550_3221506_3.jpg!w690x358.jpg[/img][/align][align=center][color=#3366ff][b]图1 流体介质的泊肃叶定律[/b][/color][/align] 从泊肃叶公式中可以看出,体积流量与管孔半径的四次方成正比,孔径微小的变化都会对流量产生明显的影响。这就是压力衰减法孔径测量的依据,孔径的微小改变都会引起流量的显著变化,因此压力衰减法在孔径测量中具有很高的灵敏度,但前提是一要准确控制管道两端的压力,二是要准确测量体积流量。[b][size=18px][color=#3366ff]3. 孔径测量解决方案[/color][/size][/b] 依据泊肃叶定律,孔径测量的关键是实现准确的压力控制和流量测量。为此,本文针对高精度孔径测量提出的解决方案如图2所示。[align=center][b][color=#3366ff][img=压力衰减法孔径测量装置结构示意图,600,572]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/12/202212230918265466_3029_3221506_3.jpg!w690x658.jpg[/img][/color][/b][/align][align=center][b][color=#3366ff]图2 压力衰减法孔径测量装置结构示意图[/color][/b][/align] 如图2所示,被测孔径管件安装在两个压力腔室之间,整个装置的目的是精确控制这两个腔室的压力以形成稳定的压力差,在压力差稳定的装置下测量流进和留出两个腔室的气体流量,从而可计算得到被测孔径大小。 此孔径测量装置涉及以下几方面的主要内容: (1)此孔径测量装置采用了正压压力控制方案,这主要是因为正压控制同样可以达到很高的精度,而且,相对于负压真空环境下的测量和控制造价较低。正压控制过程中,采用纯净的高压气瓶和减压阀提供稳定的高压气源,高压气源同时供给两个压力控制阀以实现不同的正压压力控制。 (2)由于要测量进出两个腔室的气体流量,需要在两个腔室的进气口和出气口处分别安装气体质量流量计进行流量测量,因此压力控制阀无法直接对两个腔室的压力直接控制。为此,解决方案采用了串级控制方式,即在两个腔室上分别增加压力传感器,通过双通道PID压力控制器采集压力传感器信号,并两个通道分别设定不同的压力值,由此来驱动压力控制阀进行双回路的压力控制,由此实现两个腔室内的压力准确稳定在设定值上。 (3)压力控制阀是一个自带PID控制板和压力传感器的闭环压力控制装置,通过接收双通道PID压力控制器的控制信号,可以使压力控制阀出口处的压力准确恒定。压力控制阀自带泄压放气孔,由此两个压力控制阀组成的压差控制回路可使气体单向流过被测孔径管件。 (4)此解决方案中的孔径测量装置是一个对称装置,这种对称结构设计的目的是可以对被测孔径管件进行双向测试,这也是一种提高孔径测量精度的途径之一。 (5)压力控制器采用的是双通道高精度PID控制器,AD精度为24位,DA精度为16位,两个通道独立运行,可满足各种孔径精度测量中的压力控制需要。 (6)整个孔径测量装置的测量精度,除了受压力控制器精度影响之外,还会受到压力控制阀、压力传感器和气体质量流量计精度的影响,因此要针对不同的孔径测量精度要求选择合适精度的部件。 (7)由于此孔径测量装置是直接控制两个腔室的压力,所以在室温下运行时腔室温度的波动对压力变化没有影响,腔室压力控制自动会消除掉温度影响而保持腔室气压恒定。 (8)为了实现数据的自动采集和计算孔径测量结果,双通道压力控制器和两个气体质量流量计需要与计算机通讯连接(图2中并未绘出)。由此,通过计算机可设定控制压力,采集压力和流量变化曲线以监控压力和流量是否稳定,当达到稳态状态后可通过压力和流量采集数据并依据泊肃叶公式计算得到孔径测量值。[b][size=18px][color=#3366ff]4. 总结[/color][/size][/b] 综上所述,本文所提出的基于压力衰减法的孔径测量解决方案,具有很高的测量精度和广泛的适用性,整个测量过程自动运行,关键是可以满足多种形式的微小孔径测量,在替代传统塞规的前提下,是一种高精度的无损测量解决方案。特别是采用气体作为流体介质,非常适合微小尺寸(如毛细管等)和漏孔的等效口径测量。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align]

  • 薄膜表面穿透孔的孔径检测

    我现在使用的薄膜,可以渗透水蒸气,但是不能透过液态水。所以想找相关得仪器测试测试一下薄膜表面能够穿透薄膜的孔的大小,做过扫面电镜和比表面积及孔径分析仪的检测,扫面电镜只能看到薄膜表面的凹坑,不能确定这个凹坑是否穿透薄膜。孔径分析也是这样,测得都是凹坑的孔径分布。但我现在想做穿透孔的测试,望大神们给予建议,谢谢!

  • 薄膜表面穿透孔的孔径检测

    我现在使用的薄膜,可以渗透水蒸气,但是不能透过液态水。所以想找相关得仪器测试测试一下薄膜表面能够穿透薄膜的孔的大小,做过扫面电镜和比表面积及孔径分析仪的检测,扫面电镜只能看到薄膜表面的凹坑,不能确定这个凹坑是否穿透薄膜。孔径分析也是这样,测得都是凹坑的孔径分布。但我现在想做穿透孔的测试,望大神们给予建议,谢谢!

  • 玻璃原料粒度的控制

    玻璃原料粒度的控制前言玻璃行业对原料的控制水平可以分为三个台阶:一是成份的控制,这包括原料的高品位、成份的稳定及水分的稳定等;二是颗粒度的控制,包括对最大颗粒的限制、对超细粉的控制以及对各种不同颗粒级别的配比的控制;三是配合料控制,即通过控制混合料的氧化-还原势,使熔化、澄清和均化达到更科学、合理的状态。随着行业技术的不断发展进步,人们现在已经越来越深刻地认识到原料质量对玻璃生产的影响,其中对原料成份的控制,已被人们广为接受并得以充分地重视,而对颗粒度的控制也应作为一个重要课题。这是现今玻璃行业必须直面,并要努力跨越的重要技术台阶。玻璃原料粒度对生产的影响玻璃原料按其在玻璃中起的作用主要分为,原料和辅助原料。主要原料是形成玻璃结构的主体原料,它决定着玻璃的主要物理,化学性质。这些原料熔融反应后即生成硅酸盐,构成玻璃液的主体,如硅砂,纯碱等。辅助原料其用量较少,主要用以改善玻璃的熔化,澄清,成形性能或使产品具有某些特殊性能,如加入芒硝作澄清剂,加碳粉作还原剂,加硒钴作着色剂等。原料颗粒度的控制包括三个方面:一是颗粒上限,即允许粉料中最大颗粒的尺寸,超过上限尺寸的称为大颗粒。大颗粒的存在会对熔化质量产生很坏的影响。二是颗粒下限,即允许粉料中最细颗粒的尺寸,小于下限尺寸的往往就称为细粉。三是颗粒级配,指在粉料中,各种不同尺寸级别的颗粒所占的比例。颗粒级合理的配合料将会有助于熔化质量的提高。目前国内一般水平的浮法生产线对原料的颗粒度还不太重视,只有较先进的浮法玻璃生产线,对硅质原料的要求均很严格,大颗粒限制得越来越小,细粉含量限制的越来越少。要想达到节能降耗,提高玻璃产量和质量的目的,首先合理地控制好玻璃原料的粒度。如果大颗粒过多时,会造成玻璃熔化困难,最终会形成夹杂物等缺陷而影响玻璃质量。细粉颗料之间有许多细小的空隙,夹杂着许多气体,占据着一定的空间,这些气体空间会形成隔热层,降低了混合料的热传导性,从而提高了熔化难度,产生大颗粒的效应。同时这些气体空隙的存在还降低了玻璃熔体的润湿性,容易导致产品中的微气泡。其次在水份较大的情况下,粉料容易形成卵状细粉料团,这种料团有时在混合机中也打不开,形成“料蛋”造成混合料不均。即便是水份较低的粉料,也会由于过多细粉的存在而影响混合料的均匀性。此外细粉中含重质难熔矿物成份较多,易带来较多的杂质和熔化缺陷。济南微纳粒度仪应用WINNER2308是一款干湿一体大量程激光粒度仪,采用新一代设计理念,成功解决了干湿一体化的各项技术问题,实现干湿一键切换,使用非常便捷,融合了济南微纳公司的多项专利技术,采用会聚光傅里叶变换专利技术、频谱放大技术,不仅克服了透镜孔径对散射角的限制,在有限的空间内实现量程的大范围扩展,并添加多个辅助集成光电探测器,能有效采集测试量程所对应的各个角度的散射光,实现全量程内的测试准确度和可靠性。采用紊流分散专利技术,利用激波的剪切效果,使颗粒样品达到充分的分散,分散系统关键部位采用耐磨陶瓷,不仅提高了使用寿命,而且还保证测试。是颗粒种类较多且颗粒分布较宽的工业生产质量控制部门及科研机构的首选。产品应用案例河北省沙河玻璃技术研究院是由沙河市人民政府与武汉理工大学共同组建的科研单位。定位是以玻璃应用基础研究与技术转化为主导方向,立足玻璃材料科学前沿,通过自主创新,以推动玻璃产业的技术进步。研究院主要开展浮法玻璃生产关键技术和新品种、新能源玻璃技术、产品缺陷快速诊断与分析等核心技术的研究开发。研究院拥有一批先进的玻璃材料制备、性能测试、质量检测的专业仪器与设备。近年来,河北省沙河玻璃技术研究院采用济南微纳颗粒仪器股份有限公司提供的新型激光粒度仪对玻璃应用技术进行革新与研究。济南微纳提供的测试服务与支持,得到了研究院院士们的一致好评。研究所构筑了玻璃材料及其关键技术研究的支撑体系,将在玻璃材料的研究与开发中发挥重要作用。

  • 【求助】拟购买可控温自动水循环的玻璃钢,找谁?

    [em09507]本实验是要经常进行废水或者特征污染物对水生生物的毒性试验,原来多在有机玻璃钢进行,不能控温,需要充氧,比较麻烦,最近希望购置一批带有控温和水循环功能的容器,用于进行毒性试验或者污染物在水生生物体内的富集、释放试验,就是类似于家里养观赏鱼的容器,不知道向哪里买?大概价位多少?以前在哪个实验室见过,好像是中国海大生命学院实验室。

  • 色谱柱孔径和粒径的区别

    色谱柱孔径和粒径的区别,比如粒径是3um,孔径100A,这两个参数分别是什么意思呢,为什么有的柱子不标孔径,有的却标识呢

  • 10月18日直播|《比表面与孔径分析原理及应用》系列讲座之第三讲开播啦!

    [b][color=#ff0000]讲师介绍:[/color][/b]钟家湘 : 北京理工大学材料学院教授,获得国务院颁发的政府特殊津贴;2004至2017年,担任北京精微高博科学技术有限公司学术带头人,曾研发成功多种系列的氮吸附比表面及孔径分析仪,被誉为中国氮吸附仪的开拓者,2015年获我国第二届科学仪器行业“研发特别贡献奖”[color=#ff0000][b]内容简介:[/b][/color]本讲主要详细介绍:超细粉体中孔径分布的氮吸附法的分析原理;孔径分布的表征方法,各种表征参数的正确含义;BJH法进行孔径分布的分析中,值得注意的若干问题。比表面与孔径分析原理及应用专家系列讲座目录第一讲 [color=#ffffff]1.[/color]氮吸附法比表面及孔径分析原理[color=#ffffff][/color]第二讲 连续流动色谱法比表面仪原理及应用第三讲 静态容量法比表面及孔径分析仪原理及应用第四讲 氮吸附法介孔与大孔的测试与分析第五讲 氮吸附法微孔的测试与分析第六讲 密度函数理论在孔径分析中的应用[b][color=#ff0000]免费报名链接:[/color][/b][url]https://www.instrument.com.cn/ykt/course/live/index?sid=115[/url][b][color=#ff0000]直播时间:[/color][/b]2018/10/18 10:00[b][color=#ff0000]温馨提示:[/color][/b]本讲座直播免费哦,点播需购买整个系列讲座,详情见[url]https://www.instrument.com.cn/ykt/course/course/detail?sid=106[/url],还有8个免费名额哦,先到先得![color=#ffffff]2.连续流动色谱法比表面仪原理及应用[/color][color=#ffffff]3.[/color][color=#ffffff]静态容量法比表面及孔径分析仪原理及应用[/color][color=#ffffff]4.氮吸附法介孔与大孔的测试与分析[/color][color=#ffffff]5.氮吸附法微孔的测试与分析[/color][color=#ffffff]6.密度函数理论在孔径分析中的应用[/color][color=#ffffff]1.氮吸附法比表面及孔[/color][color=#ffffff]径分析原理[/color][color=#ffffff]2.连续流动色谱法比表面仪原理及应用[/color][color=#ffffff]3.[/color][color=#ffffff]静态容量法比表面及孔径分析仪原理及应用[/color][color=#ffffff]4.氮吸附法介孔与大孔的测试与分析[/color][color=#ffffff]5.氮吸附法微孔的测试与分析[/color][color=#ffffff]6.密度函数理论在孔径分析中的应用[/color]

  • 孔径(孔隙度)分布测定

    孔径(孔隙度)分布测定气体吸附法孔径(孔隙度)分布测定利用的是毛细凝聚现象和体积等效代换的原理,即以被测孔中充满的液氮量等效为孔的体积。吸附理论假设孔的形状为圆柱形管状,从而建立毛细凝聚模型。由毛细凝聚理论可知,在不同的P/P0下,能够发生毛细凝聚的孔径范围是不一样的,随着P/P0值增大,能够发生凝聚的孔半径也随之增大。对应于一定的P/P0值,存在一临界孔半径Rk,半径小于Rk的所有孔皆发生毛细凝聚,液氮在其中填充,大于Rk的孔皆不会发生毛细凝聚,液氮不会在其中填充。临界半径可由凯尔文方程给出了:http://www.app-one.com.cn/images/ps/11.jpgRk称为凯尔文半径,它完全取决于相对压力P/P0。凯尔文公式也可以理解为对于已发生凝聚的孔,当压力低于一定的P/P0时,半径大于Rk的孔中凝聚液将气化并脱附出来。理论和实践表明,当P/P0大于0.4时,毛细凝聚现象才会发生,通过测定出样品在不同P/P0下凝聚氮气量,可绘制出其等温吸脱附曲线,通过不同的理论方法可得出其孔容积和孔径分布曲线。最常用的计算方法是利用BJH理论,通常称之为BJH孔容积和孔径分布。

  • 【求助】玻璃滤器规格

    玻璃滤器,国家在"GB 9738-88化学试剂水不溶物测定通用方法"中提出,使用在此标准中用5-15μm的孔径代替16-40μm的孔径的玻璃滤器。此类的产品供应商有吗?价格大概是多少?

  • 【求助】要求滤纸孔径为10微米!可是这在哪里买啊

    脂肪测定中有关滤纸的孔径问题GB淀粉中脂肪测定中要求滤纸孔径为10微米!可是这在哪里买啊我上网查过,快速,中速和慢速都不符合啊快速:孔径为80~120微米中速:孔径为30~50微米慢速:孔径为1~3微米第二个问题是用定量滤纸还是定性滤纸测定脂肪含量?

  • 表面电位测试,粒度测试,氮气吸附法测孔径分布、比表面积和孔容、压汞法测孔径分布、孔隙率,孔容

    表面电位测试、粒度测试、比表面积测试、氮气吸附法测孔径分布、氮气吸附法测孔容、压汞法测孔径分布、压汞法测孔隙率(或气孔率)、压汞法测孔容。表面电位/激光粒度测试仪器 型号:zeta plus(made in USA);粒度测试范围:3nm~3um。比表面仪(氮气吸附法)型号:ASPA2010(made in USA) 孔径测试范围:1.7nm~300nm。压汞仪 型号:poresizer9320(made in USA) 孔径测试范围10nm~360um。流变仪 型号:SR5上海硅酸盐研究所国家重点实验室电话:52412224

  • 筛分机目数和孔径的关系???

    看了一些有关筛分机孔径和目数关系的帖子,好像有两种标准,一个是目数为1平方厘米的面积内所含的孔数,一个是1英寸长度内所含的孔数,不知道一般国内用的是哪种?好像孔径与目数的关系还和所用钢丝的直径有关,那国标对于产品颗粒的大小是怎样规定的呢?是规定的孔径还是目数?如果规定的是目数那钢丝直径的标准是多少?如能给出明确答案,不胜感激。

  • 【求助】筛分机目数与孔径的关系???

    看了一些有关筛分机孔径和目数关系的帖子,好像有两种标准,一个是目数为1平方厘米的面积内所含的孔数,一个是1英寸长度内所含的孔数,不知道一般国内用的是哪种?好像孔径与目数的关系还和所用钢丝的直径有关,那国标对于产品颗粒的大小是怎样规定的呢?是规定的孔径还是目数?如果规定的是目数那钢丝直径的标准是多少?如能给出明确答案,不胜感激。

  • 平均孔径的计算方法

    一、平均孔径的概念 平均孔径有三种不同的表示方法 : ①吸附平均孔径:由吸附总孔体积与BET比表面积计算得到的平均孔径包含了所有的孔,只有孔径上限的界定。 ②BJH吸附平均孔径:由BJH吸附累积总孔体积与BJH吸附累积总孔内表面积计算得到的平均孔径,有孔径的上下限。 ③BJH脱附平均孔径:由BJH脱附累积总孔体积与BJH脱附累积总孔内表面积计算得到的平均孔径,有孔径的上下限。二、平均孔径的计算 平均孔径等于对应的孔体积和对应的比表面相除的结果。 公式为:平均孔径=k×总孔体积/比表面积,k和选的孔的模型有关,如果是圆柱形孔,那么k=4,如果是平面板模型,那么k=2. 三、应用案例 最可几孔径大概在8nm左右,而计算出的平均孔径则高达35nm,这说明什么问题?又是什么原因造成的呢? 平均孔径是4倍的孔体积除以比表面积,是从简单的柱状孔求得,对非均一窄分布孔误差极大。平均孔径没有多大的意义。平均孔径是对所有孔大小取平均,而最可几孔径是指分布最多的孔,当较小的孔数量多但也有较大的孔时就会出现你这种情况

  • 怎么校准孔径仪器

    我们单位有一台美国PMI公司的气液置换法的孔径测量仪,主要用于检测过滤材料的孔径,现在想对其进行校准,怎么校准,去哪里校准?

  • 关于低浓度颗粒物滤膜孔径的选择

    关于低浓度颗粒物滤膜孔径的选择

    [img=,690,114]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/08/201908271455589143_2608_3869903_3.png!w690x114.jpg[/img]根据HJ836的要求,低浓度滤膜应达到这个捕集效率。此时我们该如何确定我们所选用的滤膜能够达到这个效率?目前有两种常见的孔径滤膜,0.22um和0.45um孔径的滤膜。是否应该选择0.22孔径的?但是经过试验0.22um的滤膜采样负压较高。请问各位大佬是否可以用0.45um孔径的滤膜?如何确定捕集效率?

  • 玻璃生产窑内压力高精度控制解决方案

    玻璃生产窑内压力高精度控制解决方案

    [align=center][img=玻璃窑炉精密压力控制解决方案,600,293]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310131721313475_1541_3221506_3.jpg!w690x338.jpg[/img][/align][size=16px][b][color=#333399]摘要:在玻璃生产中对玻璃窑炉中窑压的要求极高,通常需要控制微正压[/color][color=#333399]4.7Pa(表压),偏差控制在±0.3Pa,而窑炉压力还会受到众多因素的影响,所以实现高稳定性的熔窑压力控制具有很大难度,为此本文提出了新的解决方案对现有玻璃窑炉压力控制系统进行改进。解决方案采用不同口径双蝶阀并联结构进行排气,并通过使用高速蝶阀、高精度压力传感器和超高精度分程式压力控制器,可大幅度提高窑炉压力的控制精度和稳定性。[/color][/b][/size][align=center][size=16px][color=#333399][b]=====================[/b][/color][/size][/align][size=18px][color=#333399][b]1. 问题的提出[/b][/color][/size][size=16px] 窑炉是玻璃生产制造过程使用的重要设备之一,担负着熔化原材料、调节玻璃液气泡等缺陷。在玻璃生产中对玻璃窑炉中窑压的要求极高,通常需要控制微正压4.7Pa(表压),偏差控制在±0.3Pa,因此需要极其精确的窑压检测和灵敏准确的窑压控制。在玻璃生产中,影响窑炉压力主要有以下几方面的因素:[/size][size=16px] (1)窑炉温度需控制在上千摄氏度的高温环境才能使原材料熔制成均匀、无气泡的玻璃液,如此高温环境往往使部分原材料在窑炉熔化时易产生大量气体,导致窑炉内的玻璃液位波动大,使得窑炉内的压力不稳定,进而干扰生产工艺,影响玻璃液的品质。[/size][size=16px] (2)玻璃熔窑由于采用的热源不同,结构形式有较大差别,如火焰熔窑、电熔窑和火焰?电熔窑具有不同的结构,而且玻璃液与生产窑内部顶侧壁之间留有气体空间,受玻璃液进液量的影响,也会引起玻璃窑内气体空间的压力时常变化。[/size][size=16px] (3)在实际生产中,受外界天气变化、窑炉外部环境变化以及窑炉内部温度变化等多种的影响,导致窑炉内外的压力差产生波动,导致玻璃液位波动进而影响窑炉压力变化。[/size][size=16px] (4)此外,从玻璃窑炉中排出的烟气带有较高的热量,且国家对玻璃窑废气的环保标准越来越高,为了充分利用此部分热量和减少环境污染,达到节能减排的目的,现有的玻璃窑炉一般都连接有余热回收装置和除尘装置,这些装置对于玻璃窑炉中的压力稳定也会产生影响。[/size][size=16px] 目前,国内常用玻璃窑炉压力控制系统的典型结构如图1所示,其工作原理是通过控制器采集压力传感器与压力设定值进行比较后输出控制信号,控制信号分别驱动引风机改变功率和调节闸板开度来实现熔窑内的压力稳定。但这种引风机和闸板在排气烟道内的串联结构很难实现高稳定性的压力控制,为此本文提出了改进的解决方案,以更好实现玻璃熔窑内压力的长时间的稳定控制,并快速降低各种影响因素对压力稳定的影响。[/size][align=center][size=16px][color=#333399][b][img=现有玻璃窑炉的典型压力控制系统结构,600,333]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310131722577919_8122_3221506_3.jpg!w690x383.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#333399][b]图1 现有玻璃窑炉的典型压力控制系统结构[/b][/color][/size][/align][size=18px][color=#333399][b]2. 解决方案[/b][/color][/size][size=16px] 改进后的解决方案将采用以下几方面的技术措施来实现窑炉压力的稳定控制:[/size][size=16px] (1)图1所示的风机和调节闸板的串联结构使得烟道内的排气速率完全受到风机和闸板两者之一的最小流量限制,很难实现既要保持正压、又要控制压力微小波动。为此,解决方案将采用如图2所示的并联结构,即在主烟道上并联一个小口径的旁路烟道,这样既能保证以较大抽速使高温下的窑炉压力快速回归至微正压附近,同时又能采用旁路的较小抽速进行精细调节使压力稳定。[/size][align=center][color=#333399][b][img=改进后的玻璃窑炉高精度压力控制系统结构,600,350]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310131724197314_7449_3221506_3.jpg!w690x403.jpg[/img][/b][/color][/align][b][/b][align=center][b][color=#333399]图2 改进后的玻璃窑炉高精度压力控制系统结构[/color][/b][/align][size=16px] (2)使风机处于全速工作状态,而在主烟道和旁路烟道上分别增加不同口径、且具有较快响应速度(1秒以内)的电动通风蝶阀。这样,通过不同口径高速蝶阀的快速开度变化,可以对窑炉压力进行快速调节并达到稳定。[/size][size=16px] (3)压力传感器的测量精度是决定玻璃窑炉内部压力稳定控制的关键要素之一,因此本解决方案采用了0.1%的高精度压力传感器,压力测量范围尽可能的小,如0~100Pa(表压)。[/size][size=16px] (4)决定窑炉压力稳定控制的另一个关键因素是压力控制器的测量精度、控制精度和控制模式,为此本解决方案选择了VPC2021系列超高精度压力控制器,其具有24位AD、16位DA和最小输出百分比为0.01%,这是目前工业用PLC根本无法实现的测控精度。另外,VPC2021系列压力控制器具有分程控制功能,可同时对两个不同口径通风蝶阀进行快速控制,且控制器同时还具有PID参数自整定功能、标准的MODBUS通讯协议和相应的计算机测控软件。[/size][size=18px][color=#333399][b]3. 总结[/b][/color][/size][size=16px] 综上所述,解决方案通过采用不同口径双蝶阀并联结构,可在排气方式上既能实现大流量排气,又能进行微小排气流量的调节,从结构上保证了窑炉压力的稳定性控制。另外,通过采用高速蝶阀、高精度压力传感器和超高精度分程式压力控制,从自动控制方面更进一步的保证了压力控制精度,比传统的PLC控制具有更好的控制精度和稳定性。[/size][size=16px][/size][align=center][size=16px][color=#333399][b]~~~~~~~~~~~~~~~[/b][/color][/size][/align]

  • 显微镜、数值孔径、浅显易懂!

    显微镜、数值孔径、浅显易懂!

    先来看看数值孔径的概念。 下面是平行光向上,经过物镜。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/03/201403050858_491892_2535415_3.jpg从以下公式看,数值孔径NA和两个因素有关,一个是介质折射率,一个是图中的锥角a(也称孔径角),且都是成正比的关系。NA=介质折射率Xsin1/2 的开口角先来说说孔径角:通俗点来说数值孔径的大小代表了一个物镜收集物体散射出来的光的能力的大小。上图中的物镜只能够收集锥角a之内的光线。我们知道,一个物体的细节越小(或者说他的空间频率越高),它散射的光的角度范围就越大。一个理想的物镜,应该能够收集所有角度的光线然后再在像面上还原出物体的像。但实际因为物理尺寸的限制,这个角度a总是有限并且小于90度的。也就是说那些包含在大于锥角a的散射光中的物体的高频细节信息损失掉了。那么能不能再改进一些呢?看下图: http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/03/201403050858_491893_2535415_3.jpg如果照明光不像第一图中那样是平行光,而是一个由聚光镜4产生的光锥,那么有可能收集到大于角度a的等效散射光线,这时同样的物镜可以还原更多的物体细节。所以物镜的分辨率应该是:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/03/201403050858_491894_2535415_3.jpg 分辨率同时受到物镜和聚光镜数值孔径的限制,物镜的数值孔径越大分辨率越高。那么聚光镜的数值孔径是不是也越大越好呢?也不是,当聚光镜的NA和物镜的NA相同时,分辨率最高。为什么?因为当聚光镜的NA大于物镜时,超出的那部分大角度的光在物体上的零级散射(就是透射光)是不能被物镜收集的,只有大于零级的散射光能被收集,而这些光是不能有效的成像的(至少对明场成像是如此)。所以聚光镜的NA超过物镜时就没有实际意义了。我们从上面的图上还可以知道,最好物面1处每一点的照明都是这样的一个光锥,并且这个光锥的角度最好是可以根据不同物镜可调的。而这些正是科勒照明所能够满足的条件。 从上面的讨论可以知道,聚光镜在显微镜成像系统中也是一个限制因素,为了获得最佳的成像效果和发挥高NA物镜的能力,我们的显微镜上最好有一个高质量的聚光镜,并且要调整照明光路满足科勒照明条件。 在说说介质折射率: 而在显微镜系统中,对于给定的物镜,孔径角已经固定,若想增大其NA值,唯一的办法是增大介质折射率n值。因为空气的折射率永远都是小于1的,所以介质的折射率n值要大于1,就需要引入其他的介质比如油和水,NA值就可能大于1。数值孔径最大值为1.4(油),这个数值在理论上和技术上都达到了极限。目前,有用折射率高的溴萘作介质,溴萘的折射率为1.66,所以NA值可大于1.4。不过NA大于1.4的,我暂时还没见过和用过。 再讲讲物镜的分辨率极限。通常的物镜口径总是有限的,不可能把物体散射的所有光都收集到。那么如果工程师能够造出一个接近理想的物镜,能收集到所有的远场散射光,是不是分辨率就可以无限小呢?也不是,还有一个物理原理上的限制,叫“衍射极限”。这个衍射极限是怎么回事呢?这个东西和物体对光的衍射能力(或散射能力)有关。前面已经说过了,物体的细节越小,衍射光的角度越大。还是以第一个图中例,如果物体1的细节处的空间频率和波长一样大,那么衍射光的角度a就是90度了。如果细节处的尺寸更小,会发生什么?这部分空间频率的成分失去了对光的衍射能力!入射光除了吸收和透射,不会有其它角度的散射。换句话说,就是如果物体的细节比波长小,那么这个物体其实是不散射光的,是透明的,也就是说光波“看”不到比它波长更小的物体的细节。如果考虑图二中有角度的入射光,这个极限大概是波长的一半。这就是衍射极限的来源。物镜的口径造得再大,也无法超越这个极限。

  • 【讨论】关于硅胶的孔径

    大家好,我是新手,有个问题请教大家。一般C18柱硅胶孔径有60A,120A等等,那这个“60A,120A”是怎么说明这根柱子的所有或者大部分硅胶孔径就是这么大的?比例是怎么衡量的?谢谢。

  • 怎么样选择滤膜的孔径呢,要考虑哪些因素,孔径对这些因素的影响有多大?

    怎么样选择滤膜的孔径呢,要考虑哪些因素,孔径对这些因素的影响有多大?

    孔径是滤膜选择的重要参数,关系到两方面问题:1、有没有除净会造成堵塞的颗粒物;2、滤掉了颗粒物,时间上能不能更快。从这两方面出发,怎样选择呢?1、估算、判断色谱柱对滤膜孔径的要求:以下是经典的膜片孔径计算方法:假设色谱柱的硅胶填料是均一的球形颗粒,粒径是3µm,紧密排列。可能会造成堵塞的是填料颗粒之间的空隙,也是流动相通过的路径。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/02/201202291946_351671_2456076_3.jpg假设流动相里面的颗粒物也是球形,那就可以通过平面几何的手段计算出多大的颗粒会堵塞色谱柱。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/02/201202291946_351673_2456076_3.jpg最外边等边三角形的边长就是3µm,颗粒物的临界直径就是中间黑色等边三角形的内切圆的直径。黑色等边三角形的边长是0.75µm,计算出颗粒物的临界直径是0.43 µm。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/02/201202291947_351674_2456076_3.jpg也就是说对于粒径是3µm的色谱柱来说,孔径是0.45µm的膜片已经不能满足要求了,而需要用0.22µm的膜片。

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