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齐拉西酮羟基化杂质
仪器信息网齐拉西酮羟基化杂质专题为您提供2024年最新齐拉西酮羟基化杂质价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括齐拉西酮羟基化杂质参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的齐拉西酮羟基化杂质您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合齐拉西酮羟基化杂质相关的耗材配件、试剂标物,还有齐拉西酮羟基化杂质相关的最新资讯、资料,以及齐拉西酮羟基化杂质相关的解决方案。
齐拉西酮羟基化杂质相关的方案
GCMS法测定奥拉西坦原料药中的酰卤类遗传毒性杂质
本文利用气相色谱质谱联用仪,建立了奥拉西坦原料药中两种酰卤类遗传毒性杂质氯乙酸甲酯与4-氯-3-羟基丁酸乙酯的检测方法。在20~1000 ng/mL浓度范围内,氯乙酸甲酯与4-氯-3-羟基丁酸乙酯线性关系良好,相关系数均在0.9997以上。取浓度为20 ng/mL的标准溶液连续进样7针,两种化合物峰面积重复性均在4%以下。加标实验中,以80 ng/g与160 ng/g为加标浓度,两种化合物平均回收率在91.4%~104.4 %之间。该方法灵敏度高、重复性好,可以为监控奥拉西坦原料药中的这两种酰卤类遗传毒性杂质提供可靠的检测方法。
Online-SPE法测定血清中抗精神病药物齐拉西酮的含量
本文采用自动化样品前处理的Online-SPE 方法,借助HPLCFLD分析,开发了监测血清中抗精神疾病类药物齐拉西酮的方法。该方法具有灵敏度高、重现性好和耗时短等特点。结果显示,此方法测定齐拉西酮的线性范围宽,在20.31-650.00ng/ml范围内保持线性良好,保留时间 RSD<0.10%,峰面积 RSD<1.00%,结果表明该方法重复性好,准确度高,且回收率在102.0%-105.6%,可用于定量分析血清中的齐拉西酮,系统地为临床个性化、更准确、更合理、更安全地用药提供可靠依据。
Online-SPE法测定血清中抗精神病药物齐拉西酮的含量
本文采用自动化样品前处理的Online-SPE 方法,借助HPLCFLD分析,开发了监测血清中抗精神疾病类药物齐拉西酮的方法。该方法具有灵敏度高、重现性好和耗时短等特点。结果显示,此方法测定齐拉西酮的线性范围宽,在20.31-650.00ng/ml范围内保持线性良好,保留时间 RSD<0.10%,峰面积 RSD<1.00%,结果表明该方法重复性好,准确度高,且回收率在102.0%-105.6%,可用于定量分析血清中的齐拉西酮,系统地为临床个性化、更准确、更合理、更安全地用药提供可靠依据。
植入物羟基磷灰石的杂质相含量测定
等离子喷涂制作羟基磷灰石(HAP)的涂层中,沉积的涂层并非单一的HAP结晶相,往往会形成晶态HAP、非晶HAP、磷酸三钙(α-TCP、β-TCP)、磷酸四钙(TTCP)、氧化钙(CaO)。在植入体内后,不同的钙磷化合物有不同的溶解速度,从而导致相组成不同的涂层具有不同的力学性能和溶解行为。本文参照ISO13779-2018和GB23101-2010,使用纯相HAP、α-TCP、β-TCP、TTCP和CaO配置了不同含量的标准品,在岛津X射线衍射仪上制作了HAP中不同杂质相的定量曲线,可供医疗植入物生产企业和研发机构参考。
Online-SPE法测定血清中抗精神病药物 齐拉西酮的含量
精神分裂症是人类最常见的精神疾病之一,是一种慢性且具有高度遗传性的精神疾病。齐拉西酮 (Ziprasidone) 作为苯异噻唑哌嗪类衍生物,是第五个被美国食品药品管理局批准抗精神病药,对多巴胺、5-羟色胺等受体有高亲和性的拮抗作用,能对精神分裂症的阳性症状及阴性症状和认知缺陷起到改善作用。同时相较于其他精神类药物,齐拉西酮是唯一未见有帕金森不良反应报道的药物,且较少引起体重增加,在精神分裂症的治疗中已被广泛采用。
气相色谱法测定工业用丙酮中杂质含量
本文利用岛津气相色谱仪Nexis GC-2030,参考相关标准,采用内标法,建立了测定工业用丙酮中杂质含量的方法。标准溶液连续6次进样,各杂质组分的峰面积RSD值均小于1.6%,完全满足日常检测的要求。
使用配有ACQUITY QDa质谱检测器的ACQUITY UPLC H-Class系统进行杂质分析的方法开发
在本研究中,我们通过使用一系列不同pH值的流动相,利用ACQUITY QDa检测器所获得的定性质谱数据追踪盐酸齐拉西酮及其USP指定的相关化合物。证明在方法开发中,使用配有ACQUITY QDa质谱检测器的ACQUITY UPLC H-Class系统获得的定性质谱数据,可以对盐酸齐拉西酮和相关化合物进行确证。使用结合Auto?Blend Plus技术的ACQUITY UPLC H-Class系统对pH值进行控制,并有助于方法的开发。
抑制型电导-离子色谱法测定左乙拉西坦中的四丁基铵
左乙拉西坦的化学名称为(S)-α -乙基-2-氧代-1-吡咯烷乙酰胺,是一种新型吡咯烷酮衍生物型抗癫痫药物。左乙拉西坦是20世纪90年代经美国食品药品管理局(FDA)批准应用于临床的一种新型抗癫痫药物(antiepilepticdrugs,AEDs),其结构和作用机制均与已上市的其他抗癫痫药物不同,具有较强的抗癫痫作用。四丁基溴化铵是在左乙拉西坦的合成过程中作为相转移催化剂使用;原料药的合成工艺准则要求必须要严格控制其残留量。
ICPMS-2030测定铜箔中的杂质元素
本文参考国标《铜及铜合金化学分析方法 第28部分:铬、铁、锰、钴、镍、锌、砷、硒、银、镉、锡、锑、碲、铅和铋含量的测定 电感耦合等离子体质谱法》(GB/T 5121.28-2021),使用岛津ICPMS-2030系列建立测定铜箔中的杂质元素的方法。结果表明,方法线性良好,检出限低,准确度和精确度高,满足铜箔中杂质元素的测定要求。
气相色谱(PDHID检测器)测定高纯氢气中杂质含量
本文利用搭载高灵敏度、通用型脉冲放电氦离子化检测器(PDHID)的岛津Nexis GC-2030气相色谱仪,建立了高纯氢气中杂质的测定方法。该方法采用夹套吹扫型气体十通阀进样,利用多阀组合切割技术,放空大量氢气对检测的干扰,一次进样即可实现高纯氢中微量或痕量氧、氮、一氧化碳、甲烷、二氧化碳、乙烯、乙烷和乙炔等杂质的准确测定;方法稳定灵敏,除氧气外的其他杂质计算检出限<10ppb;重复性良好,峰面积RSD%均<3.5%。方法简便易操作,分析时间短,可广泛应用于化工企业、加氢站的高纯氢气质量检测。
GCMS法测定电子雾化液中2,3-丁二酮,2,3-戊二酮和3-羟基乙酮含量
本文参考中国电子商会团体标准《电子雾化液安全技术规范》(征求意见稿),使用岛津GCMS-QP2020 NX气质联用仪,建立了电子雾化液中2,3-丁二酮、2,3-戊二酮和3-羟基乙酮的测定方法。该方法前处理简单,灵敏度、准确度高,重复性好,能有效地监控电子雾化液中2,3-丁二酮、2,3-戊二酮和3-羟基乙酮的含量
润滑油机械杂质度检测方案
机械杂质是指存在于润滑油中不溶于汽油、乙醇和苯等溶剂的沉淀物或胶状悬浮物。这些杂质大部分是砂石和铁屑之类,以及由添加剂带来的一些难溶于溶剂的有机金属盐。
FLASH色谱纯化案例小讲堂--杂质提纯的应用案例
在药物研发过程中,对药物中的杂质含量控制是药物质量控制的关键,而对杂质控制的核心是对药物中每一个杂质的活性逐一制定质量控制限度,这就要求对该药物中所有杂质进行分离纯化、结构确证并进行相关测试。
高效液相色谱法测定电子雾化液中杂质羰基化合物
电子烟出口检测过程中,电子雾化液中杂质含量需严格按照团体标准T/CECC 002-2021《电子雾化液安全技术规范》执行检测。电子雾化液中杂质组分羰基化合物需符合标准中杂质限量要求才能合规出口。福立仪器采用LC5090高效液相色谱仪对8种羰基类化和物进行了测定,严控电子烟出口品质关。
奥拉西坦在ChromCore NH2上的分离
奥拉西坦(Oxiracetam),又名4-羟基-2-氧代吡咯烷-N-乙酰胺、2-(4-羟基-2-氧代-1-吡咯烷基)乙酰胺,分子式为C6H10N2O3,临床上用于脑损伤及引起的神经功能缺失、记忆与智能障碍的治疗。
iCAP TQ ICPMS测定高纯稀土氧化铈中 镨、和钆杂质元素
高纯稀土通常是指纯度高于99.99%的稀土金属或其氧化物,具有特殊的物理化学性质, 在高科技领域和军工领域有着广泛的应用。高纯稀土材料中存在的其它稀土杂质元素常会对最终产品的功能产生影响,因此,必须严格控制高纯稀土的杂质。本实验采用iCAPTQ ICPMS测定纯度为99.99999%(6N,行业上通指稀土杂质元素含量)高纯氧化铈中的镨和钆元素杂质。
气相色谱(BID检测器)测定高纯氢气中杂质
本文利用岛津GC-2010 Pro气相色谱仪,结合高灵敏度、通用型BID检测器建立了分析高纯氢气中杂质的方法。该方法采用带隔垫吹扫的六通阀进样,分析高纯氢气中微量O2、N2、CH4、CO、CO2,具有灵敏度高、稳定性强的特点。使用BID检测器方法检出限<0.5ppm;重复性好,RSD%≤ 1.0%;使用在线开关阀,连接好标气或者催化反应气,设定方法后,可实现无人值守,快速分析。
气相色谱(BID检测器)测定高纯氦气中杂质
本文利用岛津GC-2010 Pro气相色谱仪,结合高灵敏度、通用型BID检测器建立了分析高纯氦气中杂质的方法。该方法采用带隔垫吹扫的六通阀进样,分析高纯氦气中微量H2、O2、N2、CH4、CO、CO2、C2H4、C2H6、C2H2,具有灵敏度高、稳定性强的特点。使用BID检测器方法检出限H2<1.0ppm,其他组分<0.5ppm;重复性好,RSD%≤ 2.0%;使用在线开关阀,连接好标气或者催化反应气,设定方法后,可实现无人值守,快速分析。
iCAP TQ ICPMS测定高纯稀土氧化铕中铥杂质元素
iCAP TQ 三重四极杆ICPMS利用 Q1的iMS智能化质量筛选功能可有效地将高纯稀土基体离子进行剔除,然后通过Q2碰撞反应池中加入特定的反应气体,如氧气或者氨气,将待测稀土杂质离子或者基体氧化物离子的质量数进行迁移,解决了质量数重叠干扰。方法可以在不同测定模式之间切换,采用标准溶液外标法并结合内标元素校正,避免了复杂的基体匹配及潜在污染的问题,可以满足5N及以上的高纯稀土氧化物中稀土杂质的测定要求。Reaction Finder 软件工具能够自动为分析任务确定较优测量模式,帮助用户方便地建立方法,节省了日常方法建立所消耗的时间。实验数据表明,赛默飞世尔的iCAPTQ ICPMS能够完全满足此类样品的分析测试要求。
PerkinElmer:结合电化学硫化物检测器检测饮料级 CO2 中的痕量杂质
珀金埃尔默与 Arnel 联手开发了新型分析仪系列,用于测量饮料级二氧化碳 (CO2) 中的痕量硫和其它杂质。此系列分析仪将独特的电化学硫化物检测器* (ASD) 融入其中。每一种担保式交钥匙解决方案都有一个不同的功能组,分别用来满足 CO2 制造商、配送商以及饮料生产商或用户的需求。表 1 所示为每种分析仪在测量各种化合物时所能达到的最小检出限 (MDL)。共有 16 种不同的型号,其中 8 种型号具有手动气动控制功能,而另外 8种型号具有电子流量控制气路功能 (PPC)。许多型号都包括了多检测器配置以满足检测硫以外的杂质的需要。这些分析仪支持国际饮料技术专家协会(ISBT) 所提出的“纯度分析”规范。该规范要求在亚 ppm 级测量烃、含氧化合物和芳烃(如苯)。
NexION 300S ICP-MS测定硅晶片中的杂质
控制硅基半导体器件中的杂质含量是至关重要的,因为即使是超痕量的杂质都可能会导致器件发生缺陷。出于质量控制的目的,常规分析的硅主要有两种类型:体硅和硅晶片表面。由于许多重要的待测元素在使用电感耦合等离子体质谱仪分析时会受到等离子产生的分子和同质异位素的干扰,因此对许多重要的待测元素的分析都很困难,这进一步增加了分析硅杂质的难度和复杂性。通过向通用池中通入适当的低流量反应气和使用独特的动态带通调谐(DBT)的功能,就能够在离子束进入四级杆质谱前用化学方法将干扰去除,而这两个功能都是NexION 300 ICP-MS所兼具的。本应用报告证明了NexION 300SICP-MS使用低流量雾化器对小体积体硅样品中的杂质元素进行测定的能力。
GC-MS法测定电子雾化液中杂质苯系物含量
电子烟在出口检测中,主要参考团体标准T/CECC 002-2021《电子雾化液安全技术规范》,电子雾化液需要严格监测6种苯系物杂质含量,必须限量要求才合规合格。福立仪器采用S900GC-MSD,选取多款电子烟,对电子雾化液中苯系物精准分析,助力电子烟出口检测。
ICP-5000测定活性炭中5种杂质元素含量
活性炭由于其比表面大、强度高、吸附性能好等优点,它作为一种优质的吸附剂和催化剂载体, 被广泛应用于食品卫生、医药、环境保护、饮用水处理、溶剂回收及气体的分离、净化等诸多领域。活性炭中杂质元素的含量直接影响到催化剂的催化性能,因此在催化剂制备过程中,活性炭中各杂质元素含量的测定显得十分重要。电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)具有多元素同时测定、线性范围较宽、灵敏度高、干扰少、分析效率高等优点被广泛用于活性炭杂质元素检测。本文按照《GJB 6239.12-2008 军用浸渍活性炭试验方法》,采用ICP-5000测定活性炭中银、铬、铜、钼、锌元素含量。
药物杂质分析的离子阱质谱解决方案——阿德福韦酯中的杂质C12H25N1O2
赛默飞的离子阱技术有效解决了药物杂质研究难题,其高灵敏度和宽广的动态范围能够采集到药物中微量杂质的有效质谱信息;离子阱的多级质谱能力可以获得杂质的“指纹图谱”-- 离子树,结合强大的结构解析软件可以对工艺杂质或降解产物的结构进行深入有效的剖析;结合高效的色谱分离、深入的多级质谱分析和智能化的解析软件,赛默飞建立了基于离子阱质谱技术的药物杂质分析解决方案。
iCAP TQ三重四级杆ICPMS测定高纯氧 化镝中的15种稀土杂质
本文运用赛默飞iCAP TQ三重四级杆ICPMS 建立了一种直接测试高纯氧化镝中15种稀土杂质的方法。该方法简单快速,无需复杂的基体分离过程,利用iCAP TQ有效去除氧化镝基体多原子离子对165Ho和175Lu的干扰,适用于纯度为99.99%~99.9999%的高纯氧化镝中稀土杂质纯度分析。
石油产品中的机械杂质含量测定方法简介
油品中的机械杂质是指存在与油品中所有不溶于溶剂(汽油,苯)的沉淀状或悬浮状物质。这些杂质多由砂子,粘土,铁屑粒子等组成。但现行方法测出的杂质也包括了一些不溶于熔剂的有机成分,如沥青质和碳化物。
PlasmaMS 300型电感耦合等离子体质谱仪测定高纯铜中14种杂质元素
钢研纳克采用PlasmaMS 300型电感耦合等离子体质谱仪,建立了纯铜杂质元素检测方案。该方案选用基体匹配和内标校正法克服纯铜基体效应,通过碰撞池来消除多原子离子干扰,建立起对纯铜中Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Zn、As、Se、Ag、Cd、Sn、Sb、Pb、Bi等14种元素的检测分析方法。
使用配备 ISET 的 Agilent 1290 Infinity II LC 分析扑热息痛和杂质
仪器间方法转换对多种行业的许多实验室来说都是充满挑战性的问题。难点在于不仅 要在考虑各仪器性能的同时维持保留时间不变,而且还要在仪器间方法转换时不损失分 离度。安捷伦智能系统模拟技术 (ISET) 能够实现从延迟体积较高且混合行为不同的液 相色谱系统向 Agilent 1290 Infinity 和 Agilent 1290 Infinity II 液相色谱系统的无缝方法 转换。 本应用简报介绍液相色谱方法从 Waters Alliance 2695 液相色谱系统向启用/未启用 ISET 的 Agilent 1290 Infinity II 液相色谱系统的轻松转换,同时通过 Waters Empower 软件进行控制。采用上述两种系统对扑热息痛及其杂质进行分析,并分别将保留时间与 分离度进行对比。
PerkinElmer:NexION 300S ICP-MS测定硅晶片中的杂质Be
控制硅基半导体器件中的杂质含量是至关重要的,因为即使是超痕量的杂质都可能会导致器件发生缺陷。出于质量控制的目的,常规分析的硅主要有两种类型:体硅和硅晶片表面。由于许多重要的待测元素在使用电感耦合等离子体质谱仪分析时会受到等离子产生的分子和同质异位素的干扰,因此对许多重要的待测元素的分析都很困难,这进一步增加了分析硅杂质的难度和复杂性。通过向通用池中通入适当的低流量反应气和使用独特的动态带通调谐(DBT)的功能,就能够在离子束进入四级杆质谱前用化学方法将干扰去除,而这两个功能都是NexION 300 ICP-MS所兼具的。本应用报告证明了NexION 300SICP-MS使用低流量雾化器对小体积体硅样品中的杂质元素进行测定的能力。
PerkinElmer:NexION 300S ICP-MS测定硅晶片中的杂质Na
控制硅基半导体器件中的杂质含量是至关重要的,因为即使是超痕量的杂质都可能会导致器件发生缺陷。出于质量控制的目的,常规分析的硅主要有两种类型:体硅和硅晶片表面。由于许多重要的待测元素在使用电感耦合等离子体质谱仪分析时会受到等离子产生的分子和同质异位素的干扰,因此对许多重要的待测元素的分析都很困难,这进一步增加了分析硅杂质的难度和复杂性。通过向通用池中通入适当的低流量反应气和使用独特的动态带通调谐(DBT)的功能,就能够在离子束进入四级杆质谱前用化学方法将干扰去除,而这两个功能都是NexION 300 ICP-MS所兼具的。本应用报告证明了NexION 300SICP-MS使用低流量雾化器对小体积体硅样品中的杂质元素进行测定的能力。
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