钌红电镜专用

布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，利用SEM的高分辨率，可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化，中间过程无法观察到，载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释，甚至单从曲线分析会导致错误的解释。PI 85L安装于电镜，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试，可以借助电镜的高分辨率，观测并记录整个材料测试过程，观测材料在力下发生的动态变化，如金属蠕变、相变、断裂起始等。PI 85L采用Hysitron专利技术三板电容传感器，具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界领先的精度，重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择，如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。

布鲁克Hysitron PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统，其最大特点是系统设计高度模块化，后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。该系统通过视频接口将材料的力学数据（载荷-位移曲线）与相应SEM视频之间实现时间同步，允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法，只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化，因无法监测中间过程，而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。PI 88安装于SEM，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试；此外，通过升级电学、加热模块，还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。

布鲁克Hysitron PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统，其特点是系统设计高度模块化，后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。该系统通过视频接口将材料的力学数据（载荷-位移曲线）与相应SEM视频之间实现时间同步，允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法，只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化，因无法监测中间过程，而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。PI 88安装于SEM，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试；此外，通过升级电学、加热模块，还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。

Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计。用户可以稳定地在原位制备厚度约为 200nm 或更薄的冷冻薄片，同时避免产生镓 (Ga) 离子注入效应。与目前市场上的其他 cryo-FIB-SEM 系统相比，Arctis Cryo-PFIB 可显著提高样品制备通量。与冷冻透射电镜和断层成像工作流程直接相连通过自动上样系统，Thermo Scientific&trade Arctis&trade Cryo-PFIB 可自动上样、自动处理样品并且可存储多达 12 个冷冻样品。与任何配备自动上样器的冷冻透射电镜（如 Thermo Scientific Krios&trade 或 Glacios&trade ）直接联用，省去了在 FIB-SEM 和透射电镜之间的手动操作载网和转移的步骤。为了满足冷冻聚焦离子束电镜与透射电镜应用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 还采用了全新的高真空样品仓和经过改进的冷却/保护功能。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束电镜的主要特点与光学显微镜术关联以及在透射电镜中重新定位"机载"集成宽场荧光显微镜 (iFLM) 支持使用光束、离子束或电子束对同一样品区域进行观察。 特别设计的 TomoGrids 确保从最初的铣削到高分辨率透射电镜成像过程中，冷冻薄片能与断层扫描倾斜轴始终正确对齐。iFLM 关联系统能够在电子束和离子束的汇聚点处进行荧光成像。无需移动载物台即可在 iFLM 靶向和离子铣削之间进行切换。CompuStage的180° 的倾转功能使得可以对样品的顶部和底部表面进行成像，有利于观察较厚的样品。TomoGrids 是针对冷冻断层扫描工作流程而特别设计的，其上下2面均是平面。这2个面可防止载样到冷冻透射电镜时出现对齐错误，并始终确保薄片轴相对于透射电镜倾斜轴的正确朝向。 利用 TomoGrids，整个可用薄片区域都可用于数据采集。厚度一致的高质量薄片Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜可在多日内保持超洁净的工作环境，确保制备一致的高质量薄片。等离子体离子束源可在氙离子、氧离子和氩离子间进行切换，有利于制备表面质量出色的极薄薄片。等离子体聚焦离子束技术适用于液态金属离子源 (LMIS) 聚焦离子束系统尚未涉及的应用。例如，可利用三种离子束的不同铣削特性制备高质量样品，同时避免镓注入效应。系统外壳的设计考虑到了生物安全，生物安全等级较高的实验室（如生物安全三级实验室）可选用高温消毒解决方案。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜的紧凑型样品室专为冷冻操作而设计。由于缩小了样品室体积，操作环境异常干净，最大限度减少水凝结的发生。通过编织套管冷却样品及专用冻存盒屏蔽样品，进一步提升了设计带来的清洁度，确保了可以进行多日批量样品制备的工作环境。 自动化高通量样品制备和冷冻断层扫描连接性自动上样器可实现多达 12 个网格（TomoGrids 或 AutoGrids）的自动上下样，方便转移到冷冻透射电镜，同时最大限度降低样品损坏和污染风险。通过新的基于网络的用户界面加载的载网将首先被成像和观察。 随后，选择薄片位置并定义铣削参数。铣削工作将自动运行。根据样品情况，等离子体源可实现高铣削速率，以实现对大体积材料的快速去除。自动上样系统为易损的冷冻薄片样品提供了受保护的环境。在很大程度上避免了可能会损坏或污染样品的危险手动操作样品步骤。 自动上样器卡槽被载入到与自动上样器对接的胶囊中，可在 Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜和 Krios 或 Glacios 冷冻透射电镜之间互换。

品牌： GATAN 名称型号：GATAN冷冻传输系统Alto2500制造商： GATAN公司经销商：欧波同有限公司 产品综合介绍： 产品功能介绍 扫描电镜工作者都面临着一个不能回避的事实，就是所有生命科学、石油地质学以及许多材料科学的样品都含有液体成分。很多动植物组织含水量达到98%，这是扫描电镜工作者最难对付的样品问题。冷冻传输设备是一种将经过冷冻制样后的样品置入 SEM 样品室内，并维持样品低温状态的一种设备。它综合了制样、维持样品低温真空环境、在不破坏 SEM 真空前提下安全传送样品至SEM。是冷冻扫描电镜不可或缺的利器！品牌介绍美国GATAN公司成立于1964年并于70年代末进入中国市场。GATAN公司以其产品的高性能及技术的先进性在全球电镜界享有极高声誉。 作为世界领先的设计和制造用于增强和拓展电子显微镜功能的附件厂商，其产品涵盖了从样品制备到成像、分析等所有步骤的需求。产品应用范围包括材料科学、生命科学、地球物理学、电子学，能源科学等领域， 客户范围涵盖全球的科研院所，高校，各类检测机构及大型工业企业实验室，并且在国际科学研究领域得到了广泛认同。经销商介绍欧波同有限公司是中国领先的微纳米技术服务供应商，是一家以外资企业作为投资背景的高新技术企业，总部位于香港，分别在北京、上海、辽宁、山东等地设有分公司和办事处。作为蔡司电子显微镜、GATAN扫描电子显微镜制样设备及附属分析设备在中国地区最重要的战略合作伙伴，公司秉承“打造国内最具影响力的仪器销售品牌”的经营理念，与蔡司，GATAN品牌强强联合，正在为数以万计的中国用户提供高品质的产品与国际尖端技术服务。产品主要技术特点： Alto 2500 是一款高分辨率的新一代冷冻传输系统，专为场发射扫描电镜（FE SEM）设计，是冷冻扫描电镜中的性能冠军。Alto 2500系统提供的制样技术包括快速冷冻（为了保持含水状态），真空传输（防止样品污染），冷冻断裂（展示内部微观结构），升华（净化非含水成分）和镀膜（允许高分辨表面成像和X-RAY分析）。Alto 2500冷冻前处理室 Alto 2500配备了专用的直接连在SEM上的前处理室。该高真空前处理室配有一个独立的且在工作中无振动产生的涡轮分子泵。前处理室高程度可视化有利于观察样品，同时室内装有灯管，配合双筒显微观察镜可以在处理样品过程中更好的观察样品。大容量一体式液氮冷肼设计，不仅保证看充足的低温供应和优异的低温环境，而且提供了无污染操作环境。冷肼上部装有一个冷台和防污染板，温度可分别达到-180℃和-190℃。利用样品台加热器可以使其升温，从而达到可控温度升华的目的。珀热电阻温度传感器能够灵敏的显示冷台和防污染板的温度。前处理室还配置了标准双功能冷冻断裂刀具，还可选配可控断裂深度的冷冻旋转断裂刀具。喷镀专为冷冻环境设计的磁控高性能喷镀单元，5nm的分辨率精度是获取高分辨率FEG-SEM图像的保证。该单元可选配互换式多点喷碳装置。真空传递装置 真空传递装置是一个紧凑而轻巧的装置，将经过快速冷冻工作台冷冻后的样品继续保持真空状态，并转移到前处理室和SEM样品室中。大面积玻璃窗保证了良好的可视性，可以让操作者顺利的将样品推送到冷台。 快速冷冻工作台冷冻工作台含有两个可制“液氮泥”的处理罐，不仅可以快速冷冻样品，而且还能装载预冷冻样品。可选配‘撞击式冻装置’。SEM冷台模块低温氮气高效冷却的冷台模块很易于SEM样品台楔合。利用内置可控温加热器和精确的温度感应器能轻易的控制温度在-185℃到+50℃之间。冷台模块冷气管具有一定的弯曲度，即使在通有冷却氮气的情况下冷台也可旋转一定的角度。在FIB+SEM中，可以设置最大倾斜角度。为了保证获得无污染的图像，在SEM样品室内配置了一个独立的根据不同SEM而定制的可显温度的防污染板。系统控制面板键盘控制器显示系统参数，只有手掌大小，操作简单。在使用过程中，控制器可以方便的放在任意方便的位置。安全特性整个系统提供了电子机械互锁，保证了操作者和显微镜的安全性。产品主要技术参数： 样品预处理装置液氮泥快速冷冻（-210℃）；多功能液氮泥工作站，有装载样品座的铰链式装置，可将冷冻预处理后的样品很方便的对接至真空传输装置上。前处理室的冷台由直接嵌入的液氮杜瓦直接冷却，确保最佳制冷效率和最低制冷速度；通过减震装置将分子泵直接耦合到前处理室上，确保最佳的抽气效率和样品室真空；冷源4-2-1 冷冻前处理室采用一体式液氮冷阱制冷，扫描电镜冷台采用过冷氮气气冷，分体式液氮杜瓦只需6 L液氮，可连续提供扫描电镜冷台3 h连续工作时间；高真空冷冻制备腔室，包括：前级机械泵，涡轮分子泵（70 L/S），工作时前处理室真空度优于10-6 mbar量级；多角度样品观察窗，×10倍和 ×20倍双目显微观察镜，气锁阀门控制真空传递装置连接，； 球阀与扫描电镜样品室连接，具有电动开关和电动机械安全锁；一体式液氮冷阱及防污染装置，防污染装置可设温度为 -190℃；样品制备腔室内部液氮冷冻台（-180℃ ～ +100℃）及防污染装置；样品处理包括断裂、升华、喷镀功能。标配冷冻断裂刀；可设定升华时间及温度，自动升华；标配Pt靶材磁控喷镀，可选其他靶材（Au/Pd, W , Ir 和 Cr），自动喷镀，提供高纯氩气供给连接组件；真空传输装置设计紧凑小巧，使用方便，密封效果好。扫描电镜冷台和防污染装置低温氮气气冷扫描电镜冷台（-185℃ ~ + 50℃），温度稳定度为1℃；根据扫描电镜类型定制防污染装置，可设温度为 -190℃或更低；扫描电镜样品室内配置LED照明灯。高集成按键式控制板，体积小，可方便的放置在触手可及的位置。 产品主要应用领域： ● 植物学、动物学和医学（如植物叶、根毛、花粉、冬虫夏草、动物器官组织等） ● 食品原料（如牛奶、酵母等）● 脂类、聚合体、油漆和化妆品（如面霜、雪花膏、牙膏等）● 光束或电子束灵敏的材料(如：照相感光乳剂)● 石油地质学(泥、泥浆、油母岩等)● 液体、半液体和泡沫（啤酒花、冰淇淋、酸奶等）● 热敏半导体材料(如：低K材料)喷镀前 喷镀后 真菌感染后的叶片表面 硅藻绿霉菌 冰淇淋 酸奶

扫描电镜专用原位AFM探测系统 AFSEM™ —使AFM和SEM合二为一奥地利GETec公司发布的扫描电镜专用原位AFM探测系统——AFSEM是一款紧凑型，适用于真空环境的AFM产品，能够轻松地结合两种强大的分析技术—AFM和SEM为一体，扩展SEM样品成像和分析能力。AFSEM技术与SEM技术的结合，使得人们对微观和纳米新探索新发现成为可能。SEM结合AFM解决方案：* 扫描电子显微镜中进行AFM原位分析* 使用SCL的自感悬臂技术的纳米探针* 无需激光和探测器，适用于任何样品表面* 与大多数SEM兼容而不妨碍正常的操作* AFM和SEM协同并行分析扫描电子显微镜中进行原位AFM分析扫描电镜专用原位AFM探测系统实现了AFM和SEM的功能性互补，让SEM可以同时实现样品的高分辨率成像，真实的三维形貌，的高度，距离测量，甚至是材料的导电性能。做到这一点只需要将AFSEM悬臂探针的位置移动到SEM下需要观察的样品位置进行探测。优化的AFSEM工作流程(几乎没有减少SEM的扫描时间)确保了高效率。提供的强大控制软件则允许进行优化和直观的测量、系统处理和数据分析。将AFSEM集成到一个Zeiss Leo 982扫描电子显微镜中(左)，对样品表面进行扫描成像(右)，对样品表面进行扫描。当在AFM和SEM成像之间交替时，不需要转移样品或打破真空。使用AFSEM，一切都可以进行内联！SEM-AFM协同分析对于产品或材料分析，通常需要用多种技术分析一个样品或者同一个器件，并寻找参数之间的相关性。如果样品需要使用SEM和AFM这两种的成像技术，就意味着我们需要找到感兴趣的区域并定位它，再拿到另一个设备中寻找这个感兴趣的区域，才能实现对同样的区域进行分析。有什么能比直接把AFM放在SEM里面来的简单呢？对无支撑石墨烯和石墨烯相关材料进行扫描电镜和AFM原位分析。在低电压扫描电子显微镜下，我们可以对一个悬空的石墨烯薄片的样品进行成像，以确定层数和厚度(a)。然后，利用AFM(b+c)实现更高的分辨率和更好的对比度。扫描电镜图像(A)、放大的图像(B)和相关的AFM成像(C)，测量结果来自FEI Quanta 600 FEG ESEM。AFSEM可与大多数SEM兼容AFSEM适用于大多数SEM或双光束(SEM/FIB)系统。可以直接安装在系统腔室的仓门上，同时样品台保持不变。此外，AFSEM采用一种自感应悬臂探针，无需激光与传感器。AFSEM在电镜中，夹持探针的悬臂梁只需要靴与样品之间4.5毫米的空间。因此，AFSEM可以与各种标准的SEM兼容，GETec公司能够处理任何兼容SEM系统真空腔内的安装。也正是这种优雅小巧的设计使得扫描电子显微镜能够配合AFM技术实现的亚纳米的形貌探测。成功的AFSEM集成的例子(可参见集成SEM列表)AFSEM与SEM分析技术紧密配合由于AFSEM小巧的设计维护了SEM功能的完整性，可以实现与其他标准的扫描电镜分析技术相结合同时使用，如常规FIB、FEBID和EDX，以及SEM中可搭配的拉伸机，应力测试，机械手等等AFSEM应用案例举例AFSEM与Deben 200N拉伸试验台可以同时集成在Philips XL40 SEM实现试样拉伸形变过程的原位观察和形貌探测。这是一个创新的实验解决方案，用来研究拉力作用下金属试样的拉伸形变和颈缩过程中，样品表面形貌和粗糙度的变化。此外AFSEM™ 和Hysitron PI85硬度测试台结合，一同安装在蔡司Leo 982 SEM中，电镜下我们可以实时观察金属表面在硬度计压头的压力下，表面形变，滑移过程。其形变，滑移的形貌变化可以由AFM完成。从AFM的角度来看，自感应悬臂探针可以实现多种探测模式，包括静态成像、动态成像、相对比、力谱、力调制和导电模式AFM。例如，在飞利浦XL40仪器中，利用扫描电镜成像、EDX的化学分析、AFM的3D形貌和电导分析。AFSEM采用的自感应探针（self-sensing cantilevers）奥地利SCL-Sensor.Tech公司主要生产硅基压阻式自感应探针，避免了常规AFM需要光路进行探测的模式，拓宽AFM在纳米探测、力测量和其他场合的应用。自检测悬臂配备全压阻电桥直接测量悬臂信号电，从而消除常规原子力显微镜光学信号探测对仪器空间的要求。两个可变电阻分别位于微悬臂和芯片上。整个结构连接到一个小的PCB板上，可实现快速和高重复性的探针交换。感应到的信号通过一个前置放大电路读出和放大。这使得与各种仪器，如SEM，TEM和许多其他测量系统，可以轻松无缝地集成。自感应探针具有各种谐振频率和弹簧常数。我们可为您提供PRS（压阻传感）悬臂探针和PRSA（压阻传感与主动）悬臂探针。Self-Sensing Cantilevers with Silicon TipSelf-Sensing Cantilever without Tip (Tipless)Self-Sensing Cantilevers with SCD TipSilicon tip radius: 15nmCantilever length: 70-300 μm Frequencies: 30-1300 kHz Stiffness: 1-400 N/m Applications: AFM,nanoprobing,force measurement, ...Tip: tipless Cantilever length : 100-450 μm Frequency: 14-550 kHz Stiffness: 0.5-170 N/m Applications: torque magnetometry (e.g. in a PPMS), gas/media properties, force measurement, experimental tip mounting,...SCD-tip radius: 10 nm Cantilever length: 100-450 μm Frequency: 14-550 kHz Stiffness: 0.5-170 N/m Applications: AFM, nanoindentation, ...

Diener电镜专用等离子清洗机用途： 主要用于除去透射电镜样品及样品杆上的污染，防止碳沉积以降低图像分辨率及对样品微区分析造成误判。还可以利用该仪器清洗各类光阑等电子显微镜配件。特别适用于场发射扫描电镜和场发射透射电镜。用这种低能高频等离子体清洗样品表面，不会改变样品元素成份和表面结构特征。主要技术参数：1. 可对多孔碳膜进行高效且无破坏的清洗，提高样品在低电压下的成像能力，在化学微量分析时提高其精度2. 无油真空系统：泵体部分由多级隔膜泵和超净音分子泵组成，在保证真空度的同时，可在两分钟之内达到抽真空和放气过程，整个清洗过程在4分钟内可以完成3. 可清洗标准透射电镜样品杆4. 可清洗多孔碳膜5. 清洗时间：普通污染样品小于2分钟，重度污染样品小于10分钟 6. 重现性：可以自动记录下同类产品清洗的条件，下次清同类产品时可以样条件进行技术规格：控制方式手动控制发生器40KHz,0~100W腔体材质高硼硅玻璃腔体尺寸Dia.90*L280mm气路单路???清清时间旋钮式计时器0~99hour压力控制范围0~2mbar外型尺寸W345*D420*H211mm???电源电压单相AC230V，16A真空泵排气速度4m3/hour,极限真空度0.5Pa选配????发生器2.45GHz和13.56MHz腔体材质石英玻璃气路双路计时器数字式计时器减压阀配专用气路接口钢瓶10L

布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，利用SEM的高分辨率，可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化，中间过程无法观察到，载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释，甚至单从曲线分析会导致错误的解释。PI 85L安装于电镜，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试，可以借助电镜的高分辨率，观测并记录整个材料测试过程，观测材料在力下发生的动态变化，如金属蠕变、相变、断裂起始等。PI 85L采用Hysitron专利技术三板电容传感器，具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界领先的精度，重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择，如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，利用SEM的高分辨率，可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化，中间过程无法观察到，载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释，甚至单从曲线分析会导致错误的解释。PI 85L安装于电镜，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试，可以借助电镜的高分辨率，观测并记录整个材料测试过程，观测材料在力下发生的动态变化，如金属蠕变、相变、断裂起始等。PI 85L采用Hysitron专利技术三板电容传感器，具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界领先的精度，重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择，如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。布鲁克Hysitron PI 95是TEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，在TEM上检测时，直接观察检测过程，使用侧面进样支架，不仅可以实现纳米尺度材料的成像观察，还可以同时进行加热和通电测试，并同步得到材料的力学数据，通过视频接口可以将材料的力学数据（载荷位移曲线）与相应TEM视频之间实现时间同步。该系统为方便研究者瞬间得到特定参数，比如化学复合物的种类，或对材料已经造成的影响，除成像外，选择区域衍射可以检测样品的取向，原位力学检测可以实时观测和验证。适用JEOL、FEI、Hitachi、Zeiss（不适用于UHR极靴）的PI 95可在纳米尺度既可以轻松完成材料的电学测试，也可以同时进行拉伸、压缩、弯曲等力学实验。后续可升级模块有高温台、原位力电性能测试、纳米划痕等。

热场发射电子源大束国产电子源型号921 5736可替代进口FEI电子源4035 272 7572 NG场发射灯丝（Helios专用） 921 5736 RBLD,NGSEM HOTSWAP MOD大束科技自主研发的场发射灯丝适用于Helios400，Helios400S，Helios600，Helios600i等机型。电子显微镜通过发射电子与样品相互作用成像，用来“照射”样品的可靠电子源是电镜最重要的部分之一。电子显微镜对电子束的要求非常高。目前只有两种电子源满足要求：热电子发射源和场发射电子源。目前商用的，热电子发射源用的是钨灯丝（较少见）或六硼化镧（ ）晶体（较常见）；场发射电子源用的是很细的针状钨丝（具体分为肖特基发射源和冷场发射源）。大束科技成立于2018年，是一家以自主技术驱动的电子显微镜核心配件研发制造商及配套服务商。 目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场，此外，还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务，以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源（电子显微镜灯丝）、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。大束科技致力于成为电子显微镜行业上游配件的研发制造供应商；未来将在满足本土市场的同时，进军国际高端电子显微镜市场。

Diener电镜专用等离子清洗机用途： 主要用于除去透射电镜样品及样品杆上的污染，防止碳沉积以降低图像分辨率及对样品微区分析造成误判。还可以利用该仪器清洗各类光阑等电子显微镜配件。特别适用于场发射扫描电镜和场发射透射电镜。用这种低能高频等离子体清洗样品表面，不会改变样品元素成份和表面结构特征。主要技术参数：1. 可对多孔碳膜进行高效且无破坏的清洗，提高样品在低电压下的成像能力，在化学微量分析时提高其精度2. 无油真空系统：泵体部分由多级隔膜泵和超净音分子泵组成，在保证真空度的同时，可在两分钟之内达到抽真空和放气过程，整个清洗过程在4分钟内可以完成3. 可清洗标准透射电镜样品杆4. 可清洗多孔碳膜5. 清洗时间：普通污染样品小于2分钟，重度污染样品小于10分钟 6. 重现性：可以自动记录下同类产品清洗的条件，下次清同类产品时可以样条件进行技术规格：控制方式手动控制发生器40KHz,0~100W腔体材质高硼硅玻璃腔体尺寸Dia.90*L280mm气路单路清清时间旋钮式计时器0~99hour压力控制范围0~2mbar外型尺寸W345*D420*H211mm电源电压单相AC230V，16A真空泵排气速度4m3/hour,极限真空度0.5Pa选配发生器2.45GHz和13.56MHz腔体材质石英玻璃气路双路计时器数字式计时器减压阀配专用气路接口钢瓶10L

高真空的扫描电镜，聚焦离子束FIB系统，由于样品，操作，油污，FIB的气体注入系统带来的碳氢污染物会累积在样品室表面，以及探测器包括EDX窗口，进而影响系统分辨率，清晰度，真空度以及稳定性。Evactron等离子清洗机适用于任何扫描电镜以及XPS等其他任何真空腔体，她可以很好的解决这些困扰电镜使用者的污染问题.

布鲁克Hysitron PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统，其最大特点是系统设计高度模块化，后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。该系统通过视频接口将材料的力学数据（载荷-位移曲线）与相应SEM视频之间实现时间同步，允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法，只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化，因无法监测中间过程，而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。PI 88安装于SEM，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试；此外，通过升级电学、加热模块，还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。

设备简介：AZtecFeature是一种自动颗粒物分析系统，专门针对适用性和高速输出进行了优化。它结合了Ultim Max硅漂移探测器的高效性、灵敏性和Aztec优异的分析性能和简便操作，创造了先进的全自动颗粒物分析平台。快速且强大准确操作简单设备概述：快速且强大发挥新一代大面积Ultim Max SDD的潜力 - 在计数率低时实现高灵敏度，在计数率高时提供实现高效率选择满足预算和测试需求的探测器最多可装配4个探测器，以提供尽可能高的效率和灵敏度，并消除粗糙样品上的颗粒阴影AZtec具有64位处理器，真正具有多任务处理能力一个样品上至多可表征200,000个颗粒实时检测，形貌和元素分析在线或离线采集颗粒元素和相分析采集数据同时进行分析和输出报告准确AZtecFeature采用Tru-Q技术，无需用户干预即可提供自动的元素识别和定量分析，使其成为理想的自动数据采集系统改善的和峰修正可确保即使在高计数率下也能进行准确的定量分析操作简单即使对于新样品，也可以在几秒钟内获得结果——无需费力的设置程序自动获得形貌和成分信息，并且易于匹配到颗粒分类中完整的系统设置可以存储于用户账户中，并在以后调用AZtecFeature在不同的专业领域有不同的应用：1． 刑侦领域：AZtecGSR枪击残留物分析AZtecGSR能在SEM中快速而准确地进行枪击残留物分析：它为 ASTM E1588 - 10e1 提供了可重复的枪击残留物分析结果。AZtecGSR结合了通过引导流程实现的易用性和使用Ultim Max探测器和 Tru-Q 算法实现的高精度。2．钢铁产业：AZtecSteel钢铁夹杂物分析AZtecSteel是一种自动化的钢铁夹杂物分析软件包，利用扫描电子显微镜(SEM)中的能谱分析(EDS)，专用于钢铁夹杂物的分析和分类，使SEM中的钢铁夹杂物分析变得更有效、更准确。它检测、测量并分析夹杂物，将数据结果按照公布的标准方法进行处理，并包含绘制复杂三元相图的功能。3．矿物分析：AZtecMineral矿物分析软件AZtecMineral是功能强大的自动化矿物解离分析解决方案。它利用多功能的扫描电镜进行矿物表征，并且为金属回收以及矿物产率的表征提供重要数据。同时，它是进行岩石表征的重要工具，可以代替耗时的光学显微镜分析。AZtecMineral可配备单个或多至四个牛津仪器大面积SDD能谱仪(Ultim Max)，效率更高，在快速采集的同时进行准确矿物分类，以及其他多种功能分析。4．增材制造：AZtecAM增材制造分析AZtecAM是一个功能强大、自动化程度高的检测系统，专门用于分析增材制造（3D打印）中使用的金属原材料粉末。它在AZtecFeature平台的基础上优化了颗粒分析流程，以实现金属粉末的快速准确表征。AZtecAM自动检测和识别原材料粉末中杂质颗粒、记录粉末颗粒形貌特征，也可深入研究单个颗粒，提供从形貌到成分、单个到统计的所有信息，是确保完善的增材制造工艺和高品质产品的理想工具。5．制造业清洁度分析：AZtecClean清洁度分析AZtecClean是一个功能强大的自动化清洁度分析系统，专门用于制造业的清洁度控制。它利用AZtecFeature平台，自动实现对颗粒物的分析统计，快速表征制造工艺过程的杂质颗粒，控制清洁度。在汽车制造及供应链品质控制，航空制造业，发动机制造，锂电池原材料纯净度控制等领域有很强的应用，帮助提高制造工艺和品质。

透射电镜原位拉伸样品杆，可在室温条件下对材料施加拉力，结合透射电镜原位观察材料结构的变化。 本套系统包括：单倾拉伸样品杆、拉伸控制器、专用拉伸样品载片。 应用方向：研究金属材料、纳米材料、薄膜等的力学变化机制。性能指标：● 适用于Thermofisher（FEI）、JEOL、Hitachi、Zeiss品牌透射电镜● 兼容指定类型极靴● 保证透射电镜原有分辨率● zui大拉伸位移：2 mm● 拉伸速率：0.2 um-50 um/s● 拉伸步长：小于100nm以上就是小编提供的PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆，详细咨询：

SymmetryS2是搭载于扫描电镜（SEM）/聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM）的电子背散射衍射仪(EBSD探测器)，基于始创的CMOS技术。它是一款拥有出色的性能、易用性以及一系列创新设计的特点的EBSD。可用于金属、合金、陶瓷、地质、半导体、电池样品的结构、物相、晶粒、取向等分析。 Symmetry S2采用专门定制的CMOS传感器，拥有独特而强大速度、灵敏度和衍射花样细节等特点。Symmetry S2与AZtec软件相结合，为各种材料和测量提供出色的性能。Symmetry S2的分析速度超过4500pps，是市场上任何基于CCD的EBSD探测器的两倍以上，而这是在没有高束流或过多像素合并的条件下实现的。这意味着，即使在具有挑战性的实际样品上，如多相轻金属合金或变形钢，也能实现高速分析。 仅用12 nA束流就能保证标定速度超过4500 pps 在高速下具有156x88像素图像分辨率–比快速CCD探测器的像素高出16倍以上 全分辨率（1244x1024）模式——高分辨率(HR)-EBSD应变分析的理想选择 低失真光学元件, 确保角度精度优于0.05° 优化荧光屏的高灵敏度, 确保低剂量和低电子束能量下的高质量花样——实现更大的空间分辨率 即使在高速下也能实现无缝集成EDS 软件控制倾斜接口并自动校准——无论样品尺寸大小，都能实现准确的定位和标定 波纹管SEM接口，保持显微镜真空完整性 接近传感器——在可能发生的碰撞发生前提前感知,并自动将探测器移动到安全位置 简单直观的探测器设置，确保每次都能获得良好的效果五个集成的前散射探测器（FSD）, 提供彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像

一、产品概述：扫描电镜等离子清洗机是一款专为扫描电子显微镜（SEM）样品准备而设计的高效清洗设备。该机利用等离子体技术，通过活性气体的激发，去除样品表面的有机污染物和微尘，确保样品在显微观察中的清洁和高质量成像。扫描电镜等离子清洗机具有快速、均匀的清洗效果，并能够处理各种材料，包括金属、陶瓷和聚合物等。其自动化控制系统使得操作简单便捷，广泛应用于材料科学、纳米技术和生物医学等领域，为研究人员提供可靠的样品处理解决方案。CIF 扫描电镜（SEM）等离子清洗机采用远程等离子清洗源设计，清洗快速、高效、低轰击损伤，主要用于SEM或FIB等电镜腔体内碳氢化合物的清洗。二、设备用途/原理：设备用途扫描电镜等离子清洗机主要用于准备扫描电子显微镜（SEM）样品，去除样品表面的有机污染物、微尘和其他杂质。它广泛应用于材料科学、纳米技术和生物医学等研究领域，以确保样品在显微观察中的清洁和高质量成像。工作原理 该设备通过等离子体技术进行清洗。首先，等离子清洗机将特定的气体（如氧气或氩气）引入反应室，并通过高频电源激发气体形成等离子体。等离子体中的活性粒子与样品表面的污染物反应，分解并去除这些杂质。该过程能够快速且均匀地清洗各种材料，确保样品表面达到所需的清洁度，从而提高扫描电子显微镜的成像质量和分析准确性。三、主要技术指标：产品型号CIF-SEM法兰接口KF40（CF40）工作气压0.3-3Pa等离子电源13.56MHz射频电源，射频功率5-150W可调，远程等离子源，自动匹配器气体控制标配单路质量流量计（MFC）可选双路。50毫升/分，自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制皮拉尼真空计，测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源/功率220V，50/60Hz，300W可选配件可选氧气、氮气、氢气发生器， 氢气纯度﹥99.999％，输出流量0-300ml/min质量保证二年质保，终身维护四、产品特点1.远程等离子清洗源 2.清洗快速、高效 3.低轰击损伤

SEM电镜兼容原子力显微镜EM-AFM EM-AFM 纳米操作系统提供了在SEM电镜中原子力显微镜成像和定量测量纳米力 的能力。它使得SEM和AFM这两种技术的结合，提供了高速高分辨率的3D形貌 成像，以及微纳米和亚纳米尺度纳牛力相互作用的实时观测。 产品特性 同步AFM 和 SEM 成像 完全兼容市面上的主流SEM电镜 超高分辨率形貌扫描 通过纳米压痕定量测量纳米力 真空载锁兼容 操作稳定性高，不受SEM电子束干扰规格参数应用案例SEM-AFM图像融合SEM成像具有高横向分辨率和扫描速率的优势，结合AFM成像提供的三维形貌信息，可获取新的而又全面的信息亚纳米成像分辨率全闭环编码系统确保在没有图像失真的情况下获得超高形貌成像分辨率，同时获取亚纳米成像分辨率。纳米压痕和拉伸测试样品的纳米力学性能可以在该仪器中通过纳米压痕和纳米拉伸测试试验技术进行测量。在SEM电镜成像下，可实时观测压痕和拉伸过程。专用软件提供了内置的计算工具，用于分析和显示获取的观测数据。高真空环境/SEM兼容结构紧凑的AFM兼容市面上大部分的SEM和FIB，并能够在数秒内完成安装和拆卸。系统允许很小的工作范围（5mm），同时兼容标准的SEM分析技术（如EDS、EBSD、WSD）。

PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆，关于样品杆价格请咨询(微信同号)透射电镜原位拉伸样品杆，可在室温条件下对材料施加拉力，结合透射电镜原位观察材料结构的变化。 本套系统包括：单倾拉伸样品杆、拉伸控制器、专用拉伸样品载片。 应用方向：研究金属材料、纳米材料、薄膜等的力学变化机制。性能指标：● 适用于Thermofisher（FEI）、JEOL、Hitachi、Zeiss品牌透射电镜● 兼容指定类型极靴● 保证透射电镜原有分辨率● 最大拉伸位移：2 mm● 拉伸速率：0.2 um-50 um/s● 拉伸步长：小于100nm 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆的介绍，关于透射电镜原位拉伸样品杆价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

主要参数：用途：场发射环境扫描电镜，配备能谱仪和冷台。扫描电镜和能谱仪，可用于测试各种材料，如金属材料、高分子材料、无机材料（矿物、岩土、甚至含水分材料）等的样品表面二次电子形貌信息，背散射电子组分区分，能谱元素成分分析。结合冷台，可通过控制样品室内温度和湿度，模拟环境测试样品在动态环境中的形貌和组分变化，并记录这些变化的过程。 三 工作环境：1电压：100-240V（-6%，+10%）2工作温度：20±3 ℃3 相对湿度： 80%4 震动和磁场需由厂家装机前测试并给出报告 四 主要技术性能指标：1 电子光学：1.1 发射源：高分辨肖特基场发射电子枪。1.2 加速电压：200V – 30kV。1.3 放大倍数：6× - 2,500,000×。1.4 电镜内设计有压差真空系统，保护低真空/环境真空下电子枪，延长寿命。1.5 大的电子束束流：1pA -200nA 连续可调，保证能谱高效工作。 2 真空系统2.1 1个250 l/s分子涡轮泵+1个机械泵+2个离子泵2.2 集成的离子泵备用电池（用于意外断电保护）2.2 高真空模式：＜6×10-4 Pa （测试导电样品或喷金处理样品）2.3 低真空模式：10 – 200 Pa （直接测试不导电样品）2.4 环境真空模式：10 – 4000 Pa （测试含水分样品）2.5 高真空模式下的换样时间：≤3.5min2.6 环境真空模式下的换样时间：≤4.5min 3 分辨率独立的高真空专用探测器，分辨率指标3.1 高真空分辨率30 kV下1.0 nm (二次电子)3.2 高真空分辨率30 kV下2.5 nm (背散射电子)3.3 高真空分辨率1 kV下3.0 nm (二次电子)独立的低真空专用探测器3.4 低真空分辨率30 kV下1.3 nm (二次电子)3.5 低真空分辨率30 kV下2.5 nm (背散射电子)3.6 低真空分辨率3 kV下3.0 nm (背散射电子)独立环境真空专用探测器3.7环境真空分辨率30 kV下1.3 nm (二次电子) 4 样品室4.1 样品室内宽：340mm4.2 分析工作距离：10 mm4.3 样品室红外CCD相机：1个4.4 最多可升级12个探测器或附件接口 5 样品台5.1 样品台类型：五轴全自动U中心对中样品台，同时保留五轴手动功能5.2 行程：X：110 mm，Y：110 mm ，Z：65 mm，5.4 旋转R=n×360o，倾斜T=-15o/+90o5.3 多功能样品台，存放标准样品台 (?12 mm)平面18个，斜面3个，同时提供2个断面夹具5.4 样品最大安全高度≥85mm6 图象处理及系统控制……7 循环冷却系统……更多详细的技术参数，请与深圳市天禧仪器有限公司销售人员联系。

一、产品概述：透射电镜样品杆清洗机是一款专为透射电子显微镜（TEM）样品准备而设计的高效清洗设备。该机采用先进的清洗技术，通过超声波和化学溶剂的结合，能够有效去除样品杆表面的有机污染物、灰尘和其他杂质，确保样品在显微观察中的清洁和高质量成像。透射电镜样品杆清洗机具有自动化控制系统，操作简单便捷，并且可根据不同样品材料和清洗需求进行参数调节。广泛应用于材料科学、纳米技术和生物医学等领域，为研究人员提供可靠的样品处理解决方案，提高实验结果的准确性和重现性。CIF透射电镜（TEM）样品杆清洗机采用远程离子清洗源设计，清洗快速高效，低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗。主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清洗和真空检漏。 二、设备用途/原理：设备用途透射电镜样品杆清洗机主要用于清洗透射电子显微镜（TEM）样品杆，以去除其表面的有机污染物、灰尘和其他杂质，确保样品在显微观察中的清洁与高质量成像。该设备广泛应用于材料科学、纳米技术和生物医学等研究领域，提升实验结果的准确性和重现性。工作原理该设备通常采用超声波清洗和化学溶剂相结合的方式进行清洗。首先，样品杆被放置在清洗槽中，清洗液通过超声波振动产生细小气泡，这些气泡在破裂时能够有效去除样品表面的污染物。同时，清洗液中的化学成分进一步分解和溶解杂质。清洗过程能够均匀、彻底地处理样品杆，确保其表面达到所需的清洁度，以提高透射电子显微镜的成像质量和分析准确性。三、主要技术指标：产品型号CIF-TEM等离子电源13.56MHz射频电源，射频功率5-120W可调，远程等离子源，自动匹配器清洗室清洗室尺寸Ø 180xH100mm清洗数量可同时清洗3支TEM样品杆适配品牌THERMO FISHER（FEI）、日立HITACHI、捷欧路JEOL气体控制标配单路质量流量计（MFC）可选双路。50毫升/分，自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制质量流量计（MFC），皮拉尼真空计，测量范围1E-5Torr操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面真空泵前级泵抽气速率2 L/s分子泵极限真空:CF:5x10-6Pa，ISO-K: 3x10-5Pa分子泵抽速 80L/s （N2）入口法兰：DN100CF/DN100 ISO-K 质量保证二年质保，终身维护电 源220V，50/60Hz，300W四、产品特点1. 远程离子清洗源2. 一机多用3. 清洗快速高效，低轰击损伤

详细介绍 HITACHI 日立 扫描电镜灯丝 51E-0240 51E-0250Agar钨灯丝在采用高延展性的钨材料，在精确的工艺下制作，使用寿命长。此钨灯丝为Hitachi 日立钨灯丝扫描电镜预对中灯丝，使用方便，无需再进行预对中操作即可直接安装使用，一盒10个灯丝。 是否要再次使用用完的碳粉盒灯丝？（更换灯丝）是环保的再利用服务。废弃物的量减少，而且与新产品相比可以控制价格。适用机型HITACHI 日立 扫描电镜灯丝 51E-0240SU3900、SU3800、SU3500、FlexSEM1000、S-3000シリーズ、SU1510、SU-1500、TM-1000/ TM3000シリーズ/TM4000シリーズ/AeroSurf 1500订购前使用后的长丝请不要扔掉，放回专用泡沫塑料中。10个齐了的话请吩咐。最多可以播放5次。在墨盒上刻印，以便知道播放次数。注意事项HITACHI 日立 扫描电镜灯丝 51E-0240不补充专用泡沫塑料。再生委托品中含有因变形等不能再生的墨盒时，请另行咨询。基本上灯丝不再生就返还。另外，即使在这种情况下，价格也是10个的价格，请事先谅解。关于灯丝的更换，请按照使用说明书的记载进行更换。

TESCAN AMBER X 是完美结合了分析型等离子 FIB 和超高分辨（UHR）扫描电镜的综合分析平台，能够很好的应对传统的 Ga 离子 FIB-SEM 难以完成的困难挑战。TESCAN AMBER X 配置了氙（Xe）等离子 FIB 镜筒和 BrightBeam™ 电子镜筒，能够同时提供高效率、大面积样品刻蚀，以及无漏磁超高分辨成像，适用于各类传统或新型材料的二维成像以及大尺度的 3D 结构表征。拥有 AMBER X 不仅能够满足您现阶段对材料探索的需求，也为您将来的研究工作做好充分的准备。AMBER X 等离子 FIB 不但能轻松应对常规的样品研磨和抛光工作，而且能快速制备出宽度可达1 毫米的截面。氙等离子束对样品的损伤最小，且不会导致注入引起的污染和非晶化。氙是一种惰性元素，所以可以实现对铝等材料进行无污染的样品制备和加工，不用担心传统镓离子 FIB 加工时由于镓离子污染或注入可能导致的微观结构和/或机械性能改变。镜筒内 SE 和 BSE 探测器经过优化，可以在 FIB-SEM 重合点位置获得高质量的图像。TESCAN AMBER X 更有利于安装各类附件的几何设计为样品的综合分析提供了前所未有的潜力，而且还能够进行多模态的 FIB-SEM 层析成像。TESCAN Essence™ 是一款支持用户可根据需求自定义界面的模块化软件。因此，TESCAN AMBER X 可以轻松的从一个多用户、多用途的工作平台转变为用于高效率、大面积 FIB 样品加工的专用工具。主要特点：● 高效率、大面积样品刻蚀，最大宽度可达1毫米的截面。 ● 无镓离子污染的样品加工。 ● 无漏磁的场发射扫描电镜，实现超高分辨成像和显微分析。● 镜筒内二次电子和镜筒内背散射电子探测器。 ● 束斑优化，可确保高效率、多模态 FIB-SEM 断层扫描的效果。● 超大的视野范围，便于样品导航。 ● 可轻松操作的模块化电镜控制软件 Essence™ 。

布鲁克透射电镜测试系统Hysitron PI 95是TEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，布鲁克透射电镜测试系统Hysitron PI 95在TEM上检测时，直接观察检测过程，使用侧面进样支架，不仅可以实现纳米尺度材料的成像观察，还可以同时进行加热和通电测试，并同步得到材料的力学数据，通过视频接口可以将材料的力学数据（载荷位移曲线）与相应TEM视频之间实现时间同步。布鲁克透射电镜测试系统Hysitron PI 95为方便研究者瞬间得到特定参数，比如化学复合物的种类，或对材料已经造成的影响，除成像外，选择区域衍射可以检测样品的取向，原位力学检测可以实时观测和验证。布鲁克透射电镜测试系统Hysitron PI 95适用JEOL、FEI、Hitachi、Zeiss（不适用于UHR极靴）的PI 95可在纳米尺度既可以轻松完成材料的电学测试，也可以同时进行拉伸、压缩、弯曲等力学实验。布鲁克Hysitron PI 95透视电镜测试系统后续可升级模块有高温台、原位力电性能测试、纳米划痕等。布鲁克透射电镜测试系统Hysitron PI 95是首台能够直接在透射电子显微镜 （TEM） 内观察的深度感应纳米压痕设备。有了这种测试仪器，不仅能够对纳米级材料的力学响应进行成像，还可以同时获取载荷-位移数据。此外，集成视频接口允许在载荷-位移曲线和对应的 TEM 视频之间进行同步。布鲁克透射电镜测试系统Hysitron PI 95经过精心设计，可与 JEOL、FEI、日立和蔡司显微镜兼容。有了这种仪器，不仅能够对纳米尺度材料的力学反应进行成像，而且可以同时获取定量机械数据。集成的视频接口允许载荷-位移曲线和相应的 TEM 视频同步。

SEM兼容原子力显微镜产品简介EM-AFM 纳米操作系统提供了在SEM电镜中原子力显微镜成像和定量测量纳米力的能力。它可将SEM和AFM这两种显微技术进行联用，提供高速高分辨率的3D形貌成像，以及微纳米和亚纳米尺度纳牛力相互作用的实时观测。产品特性 同步AFM 和 SEM 成像 兼容市面上的主流SEM电镜 超高分辨率形貌扫描 通过纳米压痕定量测量纳米力 真空载锁兼容 操作稳定性高，不受SEM电子束干扰 规格参数系统概况系统尺寸100x100x35SEM载锁兼容根据客户需求提供方案可用环境SEM真空环境兼容系统重量400g+SEM/FIB适配器样品运动台运动范围15x15x5mm集成编码器可选闭环运动分辨率1nm运动速度45mm/s小范围扫描器扫描范围35x35x5μm集成编码器有闭环分辨率优于0.2nm扫描速度8μm/s漂移率2nm/minAFM传感探头传感原理压阻式扫描模式接触式力感应分辨率优于5nN成像分辨率优于1nm力传感范围+/200μN应用案例SEM-AFM图像融合SEM成像具有高横向分辨率和扫描速率的优势，结合AFM成像提供的三维形貌信息，可获取新的而又全面的信息 亚纳米成像分辨率全闭环编码系统确保在没有图像失真的情况下获得超高形貌成像分辨率，同时获取亚纳米成像分辨率。纳米压痕和拉伸测试样品的纳米力学性能可以在该仪器中通过纳米压痕和纳米拉伸测试试验技术进行测量。在SEM电镜成像下，可实时观测压痕和拉伸过程。专用软件提供了内置的计算工具，用于分析和显示获取的观测数据。高真空环境/SEM兼容结构紧凑的AFM兼容市面上大部分的SEM和FIB，并能够在数秒内完成安装和拆卸。系统允许很小的工作范围（5mm），同时兼容标准的SEM分析技术（如EDS、EBSD、WSD）。

CIF扫描电镜等离子清洗机CIF 扫描电镜（SEM）等离子清洗机采用远程、原位双等离子清洗源设计，并可自动切换，一机多用。远程等离子体清洗快速高效低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗。主要用于SEM或FIB等电镜腔体内碳氢化合物的清洗。产品特点u 双等离子清洗源u 一机多用u 高效低损伤技术参数产品型号CIF-SEM法兰接口KF40工作气压0.3-3Pa等离子电源13.56MHz射频电源，射频功率5-100W可调，自动匹配器气体控制标配双路50毫升/分气体质量流量控制器（MFC），精确测量自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制美国MKS公司925-12010皮拉尼真空计， 测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源/功率220V，50/60Hz，300W可选配件可选氧气、氮气、氢气发生器， 氢气纯度﹥99.999％，输出流量0-300ml/min 质量保证二年质保，终身维护

CIF扫描电镜等离子清洗机CIF 扫描电镜（SEM）等离子清洗机采用远程、原位双等离子清洗源设计，并可自动切换，一机多用。远程等离子体清洗快速高效低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗。主要用于SEM或FIB等电镜腔体内碳氢化合物的清洗。产品特点u 双等离子清洗源u 一机多用u 高效低损伤技术参数产品型号CIF-SEM法兰接口KF40工作气压0.3-3Pa等离子电源13.56MHz射频电源，射频功率5-100W可调，自动匹配器气体控制标配双路50毫升/分气体质量流量控制器（MFC），精确测量自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制美国MKS公司925-12010皮拉尼真空计， 测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源/功率220V，50/60Hz，300W可选配件可选氧气、氮气、氢气发生器， 氢气纯度﹥99.999％，输出流量0-300ml/min 质量保证二年质保，终身维护

CIF扫描电镜等离子清洗机CIF 扫描电镜（SEM）等离子清洗机采用远程、原位双等离子清洗源设计，并可自动切换，一机多用。远程等离子体清洗快速高效低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗。主要用于SEM或FIB等电镜腔体内碳氢化合物的清洗。产品特点u 双等离子清洗源u 一机多用u 高效低损伤技术参数产品型号CIF-SEM法兰接口KF40工作气压0.3-3Pa等离子电源13.56MHz射频电源，射频功率5-100W可调，自动匹配器气体控制标配双路50毫升/分气体质量流量控制器（MFC），精确测量自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制美国MKS公司925-12010皮拉尼真空计， 测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源/功率220V，50/60Hz，300W可选配件可选氧气、氮气、氢气发生器， 氢气纯度﹥99.999％，输出流量0-300ml/min 质量保证二年质保，终身维护

CIF扫描电镜等离子清洗机CIF 扫描电镜（SEM）等离子清洗机采用远程、原位双等离子清洗源设计，并可自动切换，一机多用。远程等离子体清洗快速高效低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗。主要用于SEM或FIB等电镜腔体内碳氢化合物的清洗。产品特点u 双等离子清洗源u 一机多用u 高效低损伤技术参数产品型号CIF-SEM法兰接口KF40工作气压0.3-3Pa等离子电源13.56MHz射频电源，射频功率5-100W可调，自动匹配器气体控制标配双路50毫升/分气体质量流量控制器（MFC），精确测量自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制美国MKS公司925-12010皮拉尼真空计， 测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源/功率220V，50/60Hz，300W可选配件可选氧气、氮气、氢气发生器， 氢气纯度﹥99.999％，输出流量0-300ml/min 质量保证二年质保，终身维护

CIF扫描电镜等离子清洗机CIF 扫描电镜（SEM）等离子清洗机采用远程、原位双等离子清洗源设计，并可自动切换清洗源，一机多用。远程等离子体清洗快速高效低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗功能。主要用于SEM或FIB等电镜腔体内碳氢化合物的清洗。产品特点u 双等离子清洗源u 一机多用u 高效低损伤技术参数产品型号CIF-SEM法兰接口KF40（CF40)工作气压0.3-3Pa等离子电源13.56MHz射频电源，射频功率5-150W可调，远程等离子源，自动匹配器气体控制标配单路质量流量计（MFC)可选双路。50毫分/分，自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制皮拉尼真空计，测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源/功率220V，50/60Hz，300W可选配件可选氧气、氮气、氢气发生器， 氢气纯度﹥99.999％，输出流量0-300ml/min 质量保证二年质保，终身维护

Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计。用户可以稳定地在原位制备厚度约为 200nm 或更薄的冷冻薄片，同时避免产生镓 (Ga) 离子注入效应。与目前市场上的其他 cryo-FIB-SEM 系统相比，Arctis Cryo-PFIB 可显著提高样品制备通量。与冷冻透射电镜和断层成像工作流程直接相连通过自动上样系统，Thermo Scientific&trade Arctis&trade Cryo-PFIB 可自动上样、自动处理样品并且可存储多达 12 个冷冻样品。与任何配备自动上样器的冷冻透射电镜（如 Thermo Scientific Krios&trade 或 Glacios&trade ）直接联用，省去了在 FIB-SEM 和透射电镜之间的手动操作载网和转移的步骤。为了满足冷冻聚焦离子束电镜与透射电镜应用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 还采用了全新的高真空样品仓和经过改进的冷却/保护功能。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束电镜的主要特点与光学显微镜术关联以及在透射电镜中重新定位"机载"集成宽场荧光显微镜 (iFLM) 支持使用光束、离子束或电子束对同一样品区域进行观察。 特别设计的 TomoGrids 确保从最初的铣削到高分辨率透射电镜成像过程中，冷冻薄片能与断层扫描倾斜轴始终正确对齐。iFLM 关联系统能够在电子束和离子束的汇聚点处进行荧光成像。无需移动载物台即可在 iFLM 靶向和离子铣削之间进行切换。CompuStage的180° 的倾转功能使得可以对样品的顶部和底部表面进行成像，有利于观察较厚的样品。TomoGrids 是针对冷冻断层扫描工作流程而特别设计的，其上下2面均是平面。这2个面可防止载样到冷冻透射电镜时出现对齐错误，并始终确保薄片轴相对于透射电镜倾斜轴的正确朝向。 利用 TomoGrids，整个可用薄片区域都可用于数据采集。厚度一致的高质量薄片Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜可在多日内保持超洁净的工作环境，确保制备一致的高质量薄片。等离子体离子束源可在氙离子、氧离子和氩离子间进行切换，有利于制备表面质量出色的极薄薄片。等离子体聚焦离子束技术适用于液态金属离子源 (LMIS) 聚焦离子束系统尚未涉及的应用。例如，可利用三种离子束的不同铣削特性制备高质量样品，同时避免镓注入效应。系统外壳的设计考虑到了生物安全，生物安全等级较高的实验室（如生物安全三级实验室）可选用高温消毒解决方案。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜的紧凑型样品室专为冷冻操作而设计。由于缩小了样品室体积，操作环境异常干净，最大限度减少水凝结的发生。通过编织套管冷却样品及专用冻存盒屏蔽样品，进一步提升了设计带来的清洁度，确保了可以进行多日批量样品制备的工作环境。 自动化高通量样品制备和冷冻断层扫描连接性自动上样器可实现多达 12 个网格（TomoGrids 或 AutoGrids）的自动上下样，方便转移到冷冻透射电镜，同时最大限度降低样品损坏和污染风险。通过新的基于网络的用户界面加载的载网将首先被成像和观察。 随后，选择薄片位置并定义铣削参数。铣削工作将自动运行。根据样品情况，等离子体源可实现高铣削速率，以实现对大体积材料的快速去除。自动上样系统为易损的冷冻薄片样品提供了受保护的环境。在很大程度上避免了可能会损坏或污染样品的危险手动操作样品步骤。 自动上样器卡槽被载入到与自动上样器对接的胶囊中，可在 Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜和 Krios 或 Glacios 冷冻透射电镜之间互换。