共聚维酮对照品

LSM 880 with Airyscan 快速低光毒性的共聚焦成像新标准您检测分析的样品往往结构非常小、移动速度非常快或极易受光漂白作用的影响。或者，同时兼具上述三个特征。为能从活细胞或其他采用微弱光信号标记的样品中获取无偏差的数据，则要求显微系统拥有更高的灵敏度、更出色的分辨率或更快的速度。样品发出的每一个信号都十分的宝贵。在样品采集方案的选择上， Airyscan 技术将助您一臂之力：同时拥有快速的超高分辨率成像，以及高灵敏度的图像采集。可以使用任意标记的样品进行多色成像，并同时获得优异的图像质量。与传统共聚焦检测器成像质量相比，这种新型检测器设计优良，即使是厚样本也能获得分辨率为120nm（ x， y）和350nm（ z）的一个完美的光学切面，并能将信噪比（ SNR）提升4–8倍。在您进行单光子或多光子实验时，使用这种新颖的探测器设计获得更高的灵敏度，分辨率和速度，27fps（480 x 480像素）。一切都取决于您。共聚焦成像新世界提高所有实验的灵敏度，分辨率和速度。 成像时几乎没有光毒性或漂白现象 - 不改变您的工作流程，样本标记或系统操作。Airyscan独特的快速模式可以将您的成像速度提高四倍。 这相当于共振扫描共聚焦显微镜的速度，却又不牺牲灵敏度或分辨率。Airyscan在横向120nm和轴向350nm的尺度上提供了高灵敏度的完美光学截面和超高分辨率。这超越了去卷积方法，保留了在封闭针孔中通常被屏蔽了的宝贵的发射光信号，并实现了更高的分辨率。提高实验的重复性将Airyscan的快速模式与Z-Stacks及拼图结合起来，可对大样本做高质量成像。一次性收集所有荧光信号。 并行采集可让您在较短的时间内检测多个荧光标记物，并配备更多数量的共聚焦探测器。利用并行光谱采集和高速GPU去卷积的独特组合，提高图像质量。以最大的视野和最高的线速扫描共聚焦 - 蔡司LSM 880 with Airyscan在快速模式下以480x480像素采集速度高达27 fps。选择灵活的共聚焦根据您的研究需求，选择超高分辨率模式，灵敏度模式或新的快速模式。去除自发荧光，并在单次扫描中区分荧光信号高度重叠的部分。 这将减小样品中的光毒性。与单分子技术共聚焦成像获得流动性/浓度/寡聚状态信息（FCS / FCCS / RICS / PCH）。选择Airyscan的快速模式，可以在样品深处多光子成像

RTS系列拉曼光谱仪RTS-II多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统RTS-II 多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统，基于新一代显微共焦技术，具有良好扩展性，可根据需求拓展为以拉曼为主要功能的显微光谱工作站，是您科学研究的最佳选择 ！ 采用未经任何改造的科研级正置Leica显微镜，可保留显微镜一切功能 采用紧凑稳定的拉曼光路，减小光程，提高系统稳定度和重复性 内置532,638,785常用激光器，激光光路固定无需调节，可外置扩展其他激光器 采用最新的四光栅光谱仪，专利的自动聚焦，在轴扫描等多项最新技术 采用深制冷的拉曼专用光谱CCD相机，峰值量子效率QE90%。并可扩展EMCCD，ICCD，SCMOS， InGaAs阵列，PMT等探测器，扩展系统功能RTS-II多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统功能扩展： 显微共振拉曼可在标准RTS-II 系统基础上，通过升级可调谐的CW 激光器（调谐范围275- 1100nm），升级光谱仪为三级联谱仪，可实现真正意义上的可调谐显微共振拉曼 时间分辨光谱系统可扩展与低重频皮秒及纳秒激光器+ICCD 联用，实现微区时间分辨荧光光谱及瞬态拉曼功能利用ICCD 独有的fast kinectic 功能，可以对不可重复的现象进行最快25000 帧/ 秒的采集速度，获得约40us 的时间分辨率 宽场显微光谱由于显微镜可以保留所有原始功能，因此只要在标准的RTS-II 系统上升级即可实现如暗场散射，微区透射反射谱等功能。TCSPC 系统可扩展与可调谐超连续白光激光或高重频皮秒/ 飞秒激光联用，实现微区荧光寿命及FLIM定制类服务开放式显微镜，正置+ 倒置显微镜利用倒置显微镜的无限远光路，可以实现正置和倒置共用同一个光路可以在标准倒置显微镜的基础上升级正置部分，做到双向激发双向收集，适用于光波导传输特性对的研究多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统升级服务开放式的设计可以满足基于客户的显微镜升级为RTS-II 的需求开放式的设计可以满足基于客户的光谱仪升级为RTS-II 的需求RTS-mini 一体式拉曼机顶盒RTS-mini 是我司最新研发的光纤耦合的共聚焦拉曼系统。与RTS-II 共享光谱仪配置， 采用激光器内置，光纤耦合入光谱仪的方式，提高系统的灵活性。并可与样品无法移动的实验环境，如低温探针台，DSC 等能极其便利的耦合起来。小巧的体积可用于手套箱，工业在线监测等应用。另外由于配置了标准的接口，可与任何主流正置显微镜搭配，做共聚焦显微升级，可获得同样的性能。测试实例：硅样品， 减背底的三阶峰拉曼光谱图，计算信噪比：62.9：1 测试实例：硫样品； 测试条件：镜头下激光功率；10mw，积分时间，0.1s

Sanotac致力于天然产物和中药对照品分离纯化、化学药物杂质对照品分离纯化应用的中压制备色谱、制备液相色谱技术的开发，系统软件符合“CFDA GXP和FDA 21CFR Part 11 ”法规要求，可实现多达 4元梯度洗脱和自动馏分收集，同时兼容ge AKTA、isco、biotage，buchi、biorad等中压分离纯化制备色谱的色谱柱和纯化柱,是一款高效、功能强大的模块化快速纯化制备液相色谱，在中药化学对照品分离纯化领域已经得到广泛应用：皂苷类对照品分离纯化 ，黄酮类对照品分离纯化，异黄酮类对照品分离纯化，香豆素类对照品分离纯化，色原酮类对照品分离纯化，生物碱类对照品分离纯化，酚酸类对照品分离纯化，萜类对照品分离纯化，蒽醌类对照品分离纯化，木脂素类对照品分离纯化。快速纯化制备液相色谱系统技术特点: *微处理器控制，高速双驱动和平行的泵头具有高速的腔室压力反馈，补偿再填充和溶剂压缩效果，实现在宽动态范围内获得精确高重现的流速。 *采用轮曲线补偿技术有效控制流量脉动，保证最低的基线噪声。 *多点流量校正曲线，保证在全流量范围内的流量精度。 *浮动柱塞设计，保证高压密封圈的使用寿命。 *10个用户程序，可实现流量和梯度编程。 *双波长检测、波长时间程序和停泵扫描——三种测定方式使得基线噪音和漂移降到最低，获得了最高的灵敏度和最低检测限，以及更宽的线性范围。对应各种测定需求，可以同时对主要成分、副产物和杂质进行可靠的定量。 *可快速便捷的更换灯和流通池，氘灯钨灯实现智能切换，确保正常运行时间的最大化。系统自动收集器特点： ?独创的运动原理，直线和旋转运动结合，可最迅速地到这任意收集位置 ?体积、时间、闺值、斜率组合多种收集模式，满足各种收集需要，可设 立普通模式、顺序收集和循环收集 ?精确的最小管路设计，减少样品在流通池后扩散带来的收集不准确 ?软件延迟体积的设置，使收集更精准，产品更纯净 ?采用高精度切瓶技术，废液通道独立，切换瓶过程无滴漏 ?分于动和自动两种收集方式，操作简单、方便 ?配套软件可以实时采集多路波长信号，收集信号可任意选择 ?实时显示设备状态、连接和收集瓶位置，收集直观，位置清晰 ?兼容多种收集容器，最多可允许收集瓶: 13--15mm 试管 120 支 ?具有收集容器自识别功能，可防止使用不同型号收集容器时安放错位 ?最大程度的空间利用，设备占用空间小，使用方便。 快速纯化制备液相色谱技术参数: 泵头316L不锈钢泵 高精度、低脉冲、耐腐蚀 （peek泵头可选）流速范围0.01-100.00ml/min（梯度）流速精度±0.5%压力范围0-20MPa压力脉动≤0.2MPa梯度类型台阶、线性变化梯度、可在线修改梯度和流速最小梯度调节1%检测器光源氘灯+钨灯（进口）检测波长190-800nm 全波长检测器 双波长同时检测波长精度±1nm吸光度范围0-2AU收集全自动收集器收集管架2×60支试管（Φ15mm*150mm试管） 其他规格可以选配收集模式普通模式（按时间收集、峰收集、阈值收集）、顺序收集、循环收集手动上样阀制备色谱阀（标配10ml定量环）上样方式固体上样或液体上样电源220V±10% 50Hz色谱软件控制通过sanochrom色谱软件控制泵、紫外、自动收集器等组件设置与运行控制界面图形界面，USB接口+RS-232可接口，采用基于Windows7/Windows 8/Windows 10的PC软件工作站，软件符合“CFDA GXP和FDA 21CFR Part 11 ”法规要求

简介： C2共聚焦显微镜系统主要包含了作为实验室核心设备的新一代尼康共聚焦仪器。它超常的稳定性和操作便利性以及卓越的光学性能使其广受称赞。C2以其强大的数据采集功能和种类繁多的图像分析能力而成为完美的新型显微镜工具，或者说成为了尼康成像系统家族中新的一员。C2采用了尼康专利所有的NIS-Elements成像软件，它完美的集成了图像获取和数据分析功能，在业界享有很高的声誉，赢得了用户的信赖。NIS-Elements使得C2具有和A1高级共聚焦显微镜系统相同的操作便利性，有效增强了C2的可用性、功能性，并拥有了更为广泛的分析能力。 主要特点： &bull 图像质量 尼康卓绝的光学系统和经受时间考验的高性能光学设计可在最长的工作距离上提供最明亮且最清晰的图像。 高效扫描头和探测器 C2适合市场上所有采用最小扫描头的尼康显微镜。C2采用高精度镜头和理想的光学圆形针孔，可实现无噪点、高对比度且高质量的共 聚焦成像。通过32通道同时获取C2的光谱探测器可实现高速成像。由于许多精确校正光谱数据方面的创新，在实现真实色彩荧光光谱 成像的同时，保证信号损失被降到最低。 高性能光学系统 CFI复消色差S系统通过在较宽的波长范围（从紫外线至红外线）内的色差校正，这些高NA物镜非常适合共聚焦成像。尼康专用纳 米水晶镀膜技术的使用增强了透射性能。 CFI复消色差TIRF系列这些物镜具有引以为傲的NA 1.49（使用标准盖玻片和液浸油），是最高分辨率的尼康物镜。温度校正环可 在23° C范围内对成像画质进行温度校正。 高清晰透射DIC图像 C2可同时处理3通道荧光或3通道+透射DIC观察。将高质量DIC图像和荧光图像进行叠加可有助于定位荧光标记等图像分析。 &bull 高性能 尼康著名的成像软件NIS-Elements可实现所有尼康软件设备和周边设备的直观操作。具备适合该级别非常多的 分析功能，C2全面支持常规的实验室研究活动。 多模式性能 所有尼康硬件均有与顶级共聚焦系统A1相同的软件控制在一个软件包内完全（同时）控制所有硬件（及软件模块）！您可在一个 软件包中进行全部共聚焦、宽视场、TIRF、光活化获取、处理、分析和显示。 &bull 操作灵活 C2可结合正置、倒置、生理学和宏观成像显微镜，并配备组合多种顶尖实验系统的配件。所以一切均可由 NIS-Elements软件控制。 多模式成像系统TIRF/光活化C2 TIRF激光照明模块和光活化模块经过集成，以实现极高信噪比的单分子成像以及光活化和光转换银光蛋白的荧光特性变化成像。 宏观共聚焦显微镜系统AZ-C2 由于视图的高清晰宽视场（大于1cm，采用前所未有的高信噪比），AZ-C2可在单张照片上实现完整样本（例如胚胎等）的成像。 组合了低倍率和高倍率物镜、光学变焦和共聚焦扫描变焦功能，以实现宏观至微观的连续成像。另外，AZ-C2可供体内完整样 本的深层成像。 规格： 激光* 兼容激光 固定激光：405nm、440(445)nm、488nm561(594)nm、 638(640)nmAr激光(457nm/488nm/514nm)、HeNe水平（543nm） 激光单元 3激光模块（AOM或手动调制），4激光模块（AOTF调制） 探测器 标准探测器 荧光探测器：3通道PMT,透射探测器：1通道PMT 光谱探测器（可选） 通道数：32，波长分辨率：2.5nm/5nm/10nm,与之前模块C1si-Ready兼容 扫描头 扫描参数 采用3通道荧光探测器： 像素尺寸：最大2048x2048像素 扫描速度：1fps（512x512像素，单向），最快23fps(512x32像素，双向，4倍变焦） 采用光谱探测器： 像素尺寸：最大1024x1024像素 扫描速度：0.5fps（512x512像素，单向），最快6fps（64x64像素，单向） 扫描模式 X-Y、XY旋转、变焦、ROL、XYZ时间序列、行、激励、多点、图像拼接（大图）针孔 圆形，6种尺寸 兼容显微镜 ECLIPSE Ti-E/Ti-U倒置显微镜，ECLIPSE 90i/80i正置显微镜， ECLIPSE FN1固定载物台显微镜，AZ100多功能变焦显微镜 软件 NIS-Elements C 主要功能 显示/图像处理/分析 2D/3D/4D分析、时间序列分析、 3D容积显示/正交、空间滤波器、图像拼接、 多点时间序列、光谱解混、 实时解混、虚拟滤波器、去卷积、AVI图像文件输出 应用：FRAP、FLIP、FRET、光活化、共定位 *兼容激光和可用波长因所用激光单元而异

中图仪器VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜以共聚焦技术为原理，具有很强的纵向深度的分辨能力，能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点，能够有效提高工作效率，更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜，能有效提高工作效率，实现更准确的操作。应用领域测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数，对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜基于光学共轭共焦原理，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。在材料生产检测领域中，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能； 不同应用场景下的3D形貌VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；影像测量功能界面3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。自设计之初，VT6000便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。部分技术指标 型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

实现常规荧光共聚焦成像和快速光谱成像的完美结合 随着科研人员需求的不断增加，探测到更多的信号甚至是光谱信息变得越来越必要，尤其在区分颜色比较接近的荧光的时候。创新的A1si激光共聚焦显微镜带给用户的灵活性，高速度以及光谱功能，远远超出常规共聚焦显微镜。配备的常规荧光探测器和光谱探测器，可以满足多种科研领域的应用需求。 单次扫描即可获得320nm带宽的光谱图像 波长分辨率可以是2.5, 5,和 10 nm. 选用10 nm分辨率时, 单次扫描可获得的波长范围高达320 nm，远远超出其他类似系统。 1） 简单，灵活的显微镜控制 只需单击一个图标，即可实现目镜观察和共聚焦拍摄之间的光路切换。通过A1si的系统软件，用户可以轻松控制显微镜的各个部件，将更多的时间用于拍摄图像。 2） 透射光拍摄 在拍摄光谱图像和标准共聚焦图像的同时，A1si还可以拍摄包括DIC，明视场，相差在内的透射光图像，以便在组织和细胞中更好的进行荧光标记的定位。 3） FRAP观察 通过macro程序，可以进行FRAP (Fluorescence Recovery After Photobleaching光漂白后的荧光恢复) 实验. 激光精确定位到用户指定的任意区域（圆形，矩形，任意多边形，点，线，甚至环形）进行光漂白。其他FRAP技术，包括iFRAP (interval FRAP) 和FLIP (Fluorescence loss in Photobleaching)同样得到支持。 4） 对光谱图像进行时间动态记录 由于单次拍摄即可得到全光谱图像，所以A1si可以对光谱图像进行动态拍摄。拍摄时间序列的模式有：最快模式/固定时间间隔模式/用户自定义拍摄时间表模式） 5） 对荧光信号进行光谱拆分，消除串色 A1si 软件可以将不同荧光探针的信号清楚地拆分开，包括光谱接近，大范围重叠的荧光信号（比如CFP, RFP, YFP,和 Alexa488）. 在观察多重荧光染色来定位蛋白分子， FRET 实验时，这个功能非常有用.通过光谱拆分，还可以清除掉自发荧光信号。 6） 高效率的荧光透过技术 荧光光纤和探测器表面都使用了高效防反射涂层，将荧光信号的损失降到最低，实现光路的高透过率。 7） 高波长分辨率 通过使用精密设计的衍射光栅，可以实现高达2.5nm的光谱分辨率.此外还有5nm 和 10nm分辨率可选。不同的分辨率可以分别用来拆分光谱重叠的探针或同时对4个或更多的探针进行拍摄。 8） 采用偏光控制技术的光谱探测器 Nikon的DEES (Diffraction Efficiency Enhancement System衍射效率增强系统) 专利技术可以对偏振光进行控制，从而实现亮度的最大化。通过调整偏振光方向，衍射光栅的效率得到最优化，从而在从蓝到红的整个可见光范围内提高广谱数据的亮度和线性。 9） 拍摄到真实的荧光颜色 由于采用了新的精确矫正技术，而且光谱分辨率和针孔大小无关，A1si可以精确探测到光谱信号，得到真实颜色。同其他的伪彩色系统相比，A1si可以实时观察到真彩色的样本。 10） 把对活细胞和组织的影响降到最低 通过单次激发就可以得到全光谱图像，因此激光强度和PMT增益的调节变得简单而快速。同时把荧光信号的衰减以及激光对标本的损伤降到最低。对于活细胞和组织，A1si是一套&ldquo 温柔&rdquo 的系统。 11） 同时拍摄32通道的光谱图像A1si 采用了32 通道PMT，并革新了多重高速数字转换电路和LVDS(Low Voltage Differential Signal低压差分信号)高速串行传输技术,创造性地实现了单词扫描得到32通道光谱信息，大大减少了拍摄时间，并实现了实时观察。 12） 双积分信号处理 新开发的DISP (Dual Integration Signal Processing双积分信号处理) 技术提高了电子效率，避免了模/数转换过程中荧光信号的损失。整个曝光期间，荧光信号得到全程记录，有效提高了信噪比。

概述 站在共聚焦成像与双光子显微术的最高水平上 尼康的A1R MP 是一款拥有独到技术的双光子显微成像系统，不仅具备高分辨率检流计式扫描器（galvanometer scanner），而且还配备了高速共振式扫描器（resonant scanner）。扫描速率在512 X 512像素水平下高达到30帧/秒；在带状扫描模式下最高可达420帧/秒。新型四通道NDD探测器（non-descanned detectors）具有更高的探测效率、更低的暗电流以及更宽的响应光谱，可以对谱线相近的荧光探针进行实时光谱拆分与识别，并大大提高荧光图像的对比度。此功能对于双光子显微镜非常重要，因为在双光子成像时一般只能使用单一的激发波长，往往不可避免地造成自发荧光以及发射光谱的重叠。 关键技术 高达420帧/秒成像速率的共振扫描镜 尼康所特有的共振扫描技术，较之于非共振的普通扫描器，大幅提高了宽视场扫描速率，达到了点扫描成像的世界最快速率-420帧/秒。利用多光子显微术专用的NDD探测器，可以对非常厚的标本进行深部快速成像。尼康的光学同步（optical pixel clock）技术充分保证了超高速图像的均匀性和稳定性。 *1 NDD（Non-Descanned Detector）,与共聚焦技术不同，A1R MP不需要使用小孔滤波（descan）。使得NDD探测器可以安装在最靠近物镜出光口的位置，从而可以接收到更多的被厚标本散射的信号光，大幅提高灵敏度。 高灵敏度NDD深部成像 尼康新开发的多光子四通道NDD探测器能够有效地进行标本深部的显微成像。较普通探测器而言，NDD的感光元件面积更大，灵敏度更高，并安装于距离物镜后出光口（back aperture）最近的地方. 该配置有效地提高了对散射荧光的探测效率，具有更高的信噪比（S/N），对诸如活体组织等较厚的标本的拍摄，具有比普通共聚焦显微镜更为清晰稳定的图像质量。 *对于标本深部成像来说，非常重要的一点就是要尽可能多地探测到散射荧光。而实际探测深度主要取决于探测器的灵敏度、受光面积以及安装位置。 新款高NA物镜成像更清晰，更明亮 新款水浸物镜在较宽的波长范围内做了色差校正，并利用尼康专利&mdash &mdash 纳米水晶镀膜*技术&mdash &mdash 保证了在近紫外到近红外波段内都有很高的透过率。其中尼康的CFI Plan Apo IR 60x WI是目前世界上数值孔径（NA）最大的60x水浸物镜，用它拍摄的高对比度显微图像具有非常出色的亮度和分辨率。 *一种原来为尼康半导体光刻机开发的超低折射率薄膜。由纳米颗粒组成海绵状&ldquo 粗糙&rdquo 结构，从而在很宽的光谱区间上大幅提升了光线透过率。 快速精准的光谱拆分 A1R MP不仅可以通过光谱探测器进行32通道的光谱拆分，而且实现了利用四通道NDD探测器的光谱拆分功能。此功能同样适用于高速共振扫描器。因此，A1R MP可以实现厚标本的深部高速高对比度成像。 多光子激光光束的一键准直 当多光子激光的波长或群速色散（GVD）预补偿发生改变时，激光的位置会发生偏移，导致荧光图像亮度不均匀，以及单光子图像与双光子图像之间的错位。 由于人眼无法看见多光子激光，特别是800 nm以上波长。因此多光子激光束的准直工作对普通用户来说是十分困难也是十分危险的。尼康的A1R MP新开发的自动光束准直功能可以让用户轻点鼠标，瞬间完成多光子激光的光束准直。

第一、仪器名称及型号：Alpha300R共聚焦拉曼显微镜第二、品牌：德国WITEC公司第三、产品简介： 德国Witec公司是世界上最高端的共聚焦拉曼显微镜制造商，生产的Alpha300 R型共聚焦显微拉曼显微镜因其优异的“共聚焦”性能，仪器的成像分辨率，稳定性及成像速度远远优于世界其他竞争对手，并且该仪器可实现低波数，扫描光电流，高阶谐波，低温磁场mapping等多种高端应用，也可与AFM，扫描电镜联用实现真正意义上的原位拉曼mapping，并可升级到近场光学显微镜。该仪器是二维材料，材料科学，生命科学，腐蚀学，岩石学，半导体，高分子，化学等领域的最理想的工具之一。客户遍及世界各国名校，知名研究所与企业。第四、 产品主要特性（更多先进功能请来电咨询）：? 超高的光谱空间分辨率（空气中）：横向300nm，纵向800nm? 超快的扫描速度：单谱采集时间760μs，40000个光谱只需42s!!!? 超高的稳定性：区别于传统的振镜耦合光路，WITEC采用光纤耦合的方式，即使在恶劣的环境下也可保持稳定的“共聚焦”，仪器稳定性极好，适合工业客户应用；? 极高的灵敏度：由于采用光纤耦合的方式，没有自由光路中的反射镜吸收，所以拉曼光谱损坏较小，众所周知，拉曼信号属于弱型号，灵敏度对检测及其重要；? 真正意义上的“共聚焦”：共聚焦好带来最大优势是可避免杂散光对拉曼信号的干扰，如生物样品，WITEC的仪器可有效避免荧光信号扰动，即使使用532nm激光器也可得到高分辨的拉曼mapping！！第五、主要技术参数: ?采集速度：单个空间点的拉曼采谱时间降到ms级别。 ?光学分辨率高（空气）：300nm(横向)，800nm(垂直方向) ?光谱分辨率高：0.02cm-1 ?激光器：355nm,442nm, 488nm,514nm,532nm,633nm,785nm 等可选，功率10-150mW（根据不同激光器） ?光谱仪：300mm焦距，f/4；通光量 70％；300g/mm，600g/mm和1800g/mm光栅可选 ?EMCCD可选: 1600x200背感光深度制冷电子倍增型光谱CCD ?PZT扫描台，扫描范围200x200x2um 扫描准确度4x4x0.5nm 线性度好于0.02% ?标准测试模式：拉曼光谱，光谱vs时间，拉曼光谱影像XY, YZ 3D成像第六、拓展功能： ?可实现与原子力显微镜AFM，扫描电镜，近场光学显微镜联用实现真正意义原位测量； ? 非线性光学应用：二次谐波SHG，三次谐波THG，双光子荧光TPPL ?TCSPC（FLIM）荧光寿命成像 ? 扫描光电流 ? 低温磁场拉曼mapping ?三维形貌成像 ?微区反射吸收 ?全偏振拉曼光谱及成像 ? 原位电化学拉曼光谱及成像。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。第七、产品应用：该仪器广泛用于材料科学、 薄膜与聚合物研究、生命科学、半导体研究、 晶体研究、制药科学，化学，地质学，物理学。

武汉东隆科技为德国PicoQuant的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！单分子时间分辨共聚焦荧光显微系统MicroTime 200在许多尖端科学领域，单分子研究具有重要意义。例如分子运动的量化研究和分子交互性的研究。这些研究领域对设备仪器的灵活性和多样性提出了更高的要求。德国PicoQuant公司的Micro Time 200系统的多功能性恰好可以胜任这些工作。作为当前世界顶尖的时间分辨共聚焦荧光显微成像系统，Micro Time 200具备了针对单分子级别相关实验和分析的能力。 Micro Time 200可选配多种波长的皮秒二极管激光光源，还拥有皮秒级别的时间分辨率，支持最多4个完全独立的探测通道，可以全面支持当今生物和物理方面的单分子研究课题，如FLIM，FRET，FCS（包含自相关和互相关）以及各向异性的研究，以及同时进行AFM/FLIM或者深紫外探测。同时配备了稳定， 精确的扫描系统， 完美满足单分子应用需求。MicroTime200家族又新增了空间分辨率高达50nm的MicroTime 200受激发射减损超分辨时间分辨共聚焦荧光显微系统（STED）。该系统配套的SymPhoTime 64能够提供强大、全面的数据采集和处理功能，而且针对以上提到的实验，提供了一键式运行模块，最大程度降低了操作的复杂程度，进一步提高了实验效率，是荧光相关领域研究的绝佳选择。特点：集成激发光源, 倒置显微镜和多通道探测模块的一体化系统375nm-900nm多波段皮秒脉冲激光器最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元针对FCS和FLIM快速动力学研究，有时间相关单光子计数（TCSPC）和TTTR两种模式适用于2D和3D寿命成像和精确点定位的压电平移台两个额外光路输出口用于拓展应用匹配有进阶易用型数据采集、分析和可视化软件SPT64双聚焦FCS、AFM/FLIM联用和深紫外激发的独特升级可提供STED附件，用于超分辨率成像FLIMbee 振镜扫描附件，具有出色的扫描速度灵活性和优秀的空间精度可以通过使用FLIMbee振镜在X轴上进行线扫描来实现scanning FCS测量基于后口激发的“二维载流子扩散成像”套件功能：荧光寿命成像（FLIM）及深层组织FLIM荧光共振能量转换FRET 及脉冲交错激发FRET（PIE-FRET）荧光强度相关光谱（FCS）及互相关光谱（FCCS）荧光寿命相关光谱（FLCS）及互相关光谱（FLCCS）双聚焦FCS各向异性检测深紫外探测串序脉冲荧光分析（Burst Analysis）参数：激发系统光纤整合型皮秒脉冲半导体激光器（功率/重复频率可调, 最大80MHz）支持外部激光器（如钛蓝宝石激光器）375~900nm波长范围支持Solea超连续白光光源支持单通道或者多通道驱动支持266nm紫光激发显微镜OlympusIX73或IX83倒置显微镜预留左侧和背面接口，可做拓展应用（如TIRF）包含透射照明部件独特的25x25mm手动样品固定台标准样品架（用于20x20mm载玻片）可选落射荧光照明可选低温恒温器用于低温型实验可选与原子力显微镜整合物镜规格标准20x和40x物镜可选多种高端特殊物镜（水/油镜, 红外/紫外强化, 超长工作距离型等）扫描台80 μm x 80 μm规格2D压电扫描台（1nm定位精度）PIFOC 3D立体成像（行程80 μm，定位精度1nm）80 μm x 80 μm物镜扫描（1nm定位精度）可选厘米级别大范围扫描台主要光学部件最多可支持4通道的共聚焦探测模块多种规格的分光部件额外的输出接口易于更换型二向色镜支架模块用于光斑分析的CCD相机和光电二极管所有光学元件都可替换和调整探测器单光子雪崩二极管（SPAD）混合型光电倍增管（Hybrid-PMT）光电倍增管（PMT）数据采集方式基于时间相关单光子计数TCSPC 的TTTR测量模式独立4通道同步采集分析软件SymPhoTime 64

中图仪器VT6000材料性能表征共聚焦测量显微镜基于光学共轭共焦原理，以转盘共聚焦光学系统为基础，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。自设计之初，VT6000材料性能表征共聚焦测量显微镜便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。VT6000材料性能表征共聚焦测量显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。不同应用场景下的3D形貌主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。3D形貌图片：影像测量功能界面部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

Luminosa 是一款将超高数据质量与超简日常操作相结合的单光子计数共聚焦显微镜。 它可以轻松集成到任何研究人员的“工具箱”中，成为开始探索使用时间分辨荧光方法科学家以及想要突破极限专家的省时、可靠的“伙伴”。 它是一个真正的显微镜系统，每个人都可以依赖。. 您可以完全信赖的质量和精度. 节省时间、只需专注于您的样品. 灵活性高. 2022年9月正式推出. 线上产品展示：2022年10月6号至7号产品特点：全软件控制共聚焦系统，基于倒置显微镜激光波长从375到1064 nm可选VarPSF：观察量高精度调节，用于FCS和单分子FRET实验电动平移台，可在传动和FLIM模式下进行“图像拼接”扫描选项：FLIMbee 振镜扫描和压电物镜扫描最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元700 ps通道的死区时间和 5 ps时间分辨率一键式自动对齐，从而获得一致的最佳性能借助GPU加速算法和基于上下文工作流程的FCS、FLIM 和单分子检测，以最少的用户交互快速获得结果产品应用：单分子水平的动态结构生物学单分子水平的动态结构生物学相分离驱动的细胞机制环境传感细胞膜动力学和结构的映射核心方法：荧光寿命成像 (FLIM)FLIM-FRET – 基于寿命的 Förster 共振能量转移smFRET – 单分子 Förster 共振能量转移荧光相关光谱 (FCS)荧光寿命相关光谱 (FLCS)荧光互相关光谱 (FCCS)各向异性成像参数：敬请期待！

VT6000三维共聚焦白光显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。VT6000三维共聚焦白光显微镜在半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；应用领域VT6000三维共聚焦白光显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000共聚焦超分辨显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。VT6000共聚焦超分辨显微镜广泛应用于半导体制造及封装工艺检测，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能； 性能特色1、高精度、高重复性1）以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，保证仪器的高测量精度；2）隔震设计能够消减底面振动噪声，仪器在嘈杂的环境中稳定可靠，具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。应用领域VT6000共聚焦超分辨显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：在相同物镜放大的条件下，共焦显微镜所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高。因而擅长微纳级粗糙轮廓的检测，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

多功能 3D 光学共聚焦显微镜（ OPTELICS HYBRID+，三维表面轮廓仪/三维表面形貌仪 ），高度方向测量精度达0.05nm；系统整合了白光共聚焦+激光共聚焦技术；以双共聚焦光学系统为基础，集6项测试功能于一体，包括白光共聚焦、激光共聚焦、微分干涉测量、垂直白光干涉测量、相差干涉测量、反射分光膜厚测量等功能；通常多台设备才能完成的测量，仅需一台设备即可实现，解决了需要使用多种工具的麻烦，满足在各种测量场景中的测试需求。提供6个测试功能模块，应对多样测量需求满足行业测试规格要求，High精度提供多种测量和分析自动化测量技术，高效测量适用于满足多样场景测试需求 三维光学共聚焦显微镜（三维表面轮廓仪/三维表面形貌仪） 一个平台提供6种测试功能: 1. 白光共聚焦宽视野+High精度测量高清彩色观察 2. 激光共聚焦高倍High 分辨率观察搭载波长405nm的紫色半导体激光，无需前处理，以可媲美电子显微镜的High分辨率，鲜明捕捉纳米级细微构造。3. 微分干涉测量纳米级凹凸观察共聚焦与微分干涉（DIC）相结合，实现细微凹凸形状的可视化。由于焦点深度极低，对于透明样品可以排除其背面的影响仅对表面进行观察。4. 垂直白光干涉测量数毫米宽广视野内的纳米级形状测量白光通过双光束干涉镜产生的干涉波形，通过垂直方向扫描找到干涉光强度高点，得到样品的高度分布数据。原理上，高度分辨率不受物镜放大倍数影响，因此可使用低倍镜快速完成宽视野范围测量。5. 反射分光膜厚测量纳米级透明膜厚测量利用波长切换功能对6个波长的绝对反射率进行测量，光学建模计算得到膜厚。数nm～1μm的单层/多层膜厚可测量。测量区域在共聚焦观察图像上指定，亚微米区域～全视野的数mm区域的平均膜厚均可测量。而且因各个像素(pixel)的膜厚能够计测，所以可以测量膜厚分布。6. 相差干涉测量埃米级形状测量白光通过双光束干涉镜产生的干涉条纹，与从样品反射回的反射光的光程差直接相关。在垂直方向细微移动得到4组干涉图像，通过解析实现高分辨率的高度分布测量。多种波长切换 测量速度快3D 形貌测量共聚焦显微镜（HYBRID）实现了业界快速帧率(15Hz~120Hz)扫描，实现图像拼接、自动测量、自动缺陷检测和快速测量。High精度测量三维形貌测量共聚焦显微镜（HYBRID）高度方向测量精度达0.05nm。提供各种测量，分析和支持功能，具有可用性LM eye是HYBRID的测量和分析软件，提供多种功能，帮助您顺利操作测量和分析功能可以测量和分析参数，包括轮廓，粗糙度和薄膜厚度 测量支持功能HYBRID提供各种测量、分析自动化操作，效率更高LIBRA LIBRA 是一个软件程序，它使用指定的平台执行自动测量。LM 检测 LM Inspect 是一个软件程序，可以自动检测基材上的小颗粒和缺陷。并且支持使用缺陷审查和深度学习进行高精度缺陷分类。其他型号：

中图仪器VT6000微米级工件共聚焦3d测量显微镜基于光学共轭共焦原理，以转盘共聚焦光学系统为基础，能在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。自设计之初，VT6000微米级工件共聚焦3d测量显微镜便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量； (3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000微米级工件共聚焦3d测量显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。应用领域对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。在材料生产检测领域中，共聚焦显微镜在陶瓷、金属、半导体、芯片等材料科学及生产检测领域中也具有广泛的应用。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。VT6000可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000国产转盘共聚焦显微镜测量系统以共聚焦技术为原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。它所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高，擅长微纳级粗糙轮廓的检测，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。VT6000国产转盘共聚焦显微镜测量系统广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。自设计之初，VT6000国产转盘共聚焦显微镜测量系统便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。 应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理尼普科夫转盘共聚焦光学系统显微物镜10×，50×（APO），（5×，20×，100×（APO）可选）视场范围2.4×2.4 mm~120×120 μm高度测量重复性(1σ)≤12nm显示分辨率0.1nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000材料共聚焦3D测量显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他VT6000材料共聚焦3D测量显微镜横向分辨率高，所展示的图像形态细节更清晰更微细，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。不同应用场景下的3D形貌VT6000材料共聚焦3D测量显微镜主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。3D形貌图片：影像测量功能界面VT6000共聚焦显微镜自设计之初，便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果； 4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

尼康将共聚焦成像提高到前所未有的水平 尼康新的强大的全自动共聚焦成像系统，能够高速高灵敏度地获得细胞和分子事件的高质量共聚焦图像。前所未有的新光学电子技术创新设计使得A1拥有空前的系统质量和灵活性，是适用于广大用户的理想工具。 | 概述 尼康A1共聚焦激光显微镜系统通过新的创造使得共聚焦成像达到一个新的质量水准并具有多种功能。全自动的A1和高规格的A1R共2个型号可供选择。A1使用传统的成对检流计来获得高至4096x4096解析度的图像， A1R引入一个独特的混合扫描器系统提供贞速达30fps的512x512像素成像。可以便利的在超高速成像时得到卓绝的图像质量。此外，混合扫描器使得同步光活化和成像成为可能，这些对于揭示细胞动力学和相互作用都是至关重要的。 | 独特的混合扫描技术 ? 420fps的超高速成像 A1R加入了一个共振频率为7.8kHz的共振扫描器来达到420 fps (512 x 32像素) 的高速成像。在512X512分辨率下可达到30fps。并且，共振扫描器视野区域和检流计扫描器视野区域完全重合，常规检流计扫描器也可达到10fps（512X512）的速度。尼康独创的光学时钟产生方法在最高速度时也能实现高的图像质量。其光纤通讯数据传输系统最高传输速度可达4 Gbit/s。极高的速度可实时观察血流中细胞的移动（红色：血管；绿色：细胞核，120pfs） ? 光活化同步高速成像 高速光活化成像由于非共振扫描器和共振扫描器集成在一个单元里，不需要另配独立的用来做光活化的激光器，光活化和荧光成像就可以同时进行。拥有可以高速成像的共振扫描器使得光活化后快速变化信号的获取成为可能。光活化释放组胺而引起细胞内的钙离子浓度发生变化，上图显示Yellow Cameleon 3.60 CFP、YFP两基团发生FRET现象的过程（使用457nm激光成像，拍摄速度光活化同步成像速度30pfs）。 何为混合式扫描头 尼康独有的混合式扫描头同时配备检流计与共振式扫描装置，并允许通过超高速选择器灵活转换使用或者同时使用两组扫描装置。 ? 常规检流计扫描器获得高分辨率图像 检流计扫描器单次扫描可获得高达4096X4096分辨率。同时借助新开发的驱动与采样系统，及图像校正科技，可以10pfs（512X512）的速度高速获取图像。四色标记斑马鱼图像（蓝：胞核、绿：瞳孔、黄：神经、红：肌肉） | 增强的萤光探测效率 扫描头中的二向色镜采用平均98%透射率的低角度二向色镜，荧光强度得到30%的增强。 同时采用尼康独有的六边形针孔相对于传统的方形针孔荧光采集量可提高30%。 尼康独特的光学设计使成像更明亮。这样可以使激光曝光强度最小化，减少了细胞损伤。 | 磷砷化镓（GaAsP）高灵敏度探测器 尼康研发的磷砷化镓多通道荧光探测器配备两通道GaAsP高灵敏度检测器与两通道普通PMT检测器。检测波长范围达到400-750nm。 GaAs PMT的量子效率可提高一倍。远优于普通PMT。 GaAsP PMT的灵敏度远高于普通PMT，即使是过去所很难拍摄的弱荧光样品也可获得具有极低背景噪声的高亮度图像。 | 获取明亮清晰图像的VAAS针孔元件 尼康开发了一项称为虚拟可调孔径系统（VAAS）的创新技术，能在保持图像亮度的情况下去除模糊。针对通过针孔的光和非通过针孔的光进行去卷积，得到更明亮的图像，从而提高信噪比。 | 易用的强大功能 使用NIS-Elements C控制软件将共聚焦成像系统、显微镜及周边设备合为一体，并具备简单直观的操作界面。同时提供可靠全面的后期分析功能。基础设置光路设置 以Ti-E倒置显微镜为基础可将共聚焦系统与N-SIM/N-STORM 超分辨率系统、TIRF系统、光谱检测与完美对焦系统整合提供多模式的成像方案。同时所有的系统都可在同一NIS-Elements平台下完美工作。

用于质量控制与表面检测领域的快速转盘共聚焦显微镜专业的设计、向导式的工作流程、值得信赖的输出通用型的蔡司Smartproof 5快速转盘共聚焦显微镜，是一个进行表面研究分析的综合系统：快速、准确、重复性好。此显微镜在工业领域有很广泛的应用，例如粗糙度测量，表面形貌表征等。您的质检部门、生产线和研发实验室，每天都需要用到这台显微镜。这台高效、用途广泛的共聚焦系统，由蔡司简单易用的ZEN软件控制。该软件界面友好，使用方面，能大幅提高工作效率。更简单、更智能、更高度集成集成且坚固的设计Smartproof5拥有全集成的系统设计：光学、电路和相机都用最少的线缆集成在显微镜内，以避免杂乱。整个系统坚固稳定的设计，可以有效抵消震动,无需昂贵的减震设备。向导式的工作流程归功于操作系统的便利性，以及软件里的工作流程，Smartproof 5很适合生产和过程监控。易于教授的检查工作，工作流式的操作界面，引导你完成重复的工作，并保证数据不受人为因素的影响，保证数据的精确和可重复性。值得信赖的输出有赖于其专利的转盘（Spining Disc）和孔径相关（Aperature Correlation）技术，Smartproof 5将测试时间缩到最短，实现了高分辨率和高速度的完美平衡。专业的蔡司光学和久经考验的部件，让你可以在广泛的应用领域高效地工作。Smartproof 5可和ConfoMap软件（蔡司版本的MountainsMap软件）打包使用。该软件是三维表征领域最好的软件之一。您可以在软件中根据国际标准分析数据，并方便地生成报告。这也是Smartproof 5更适合日常表面形貌表征和粗糙度测量的原因。了解产品背后的科技一体化稳固的设计实现最高性能稳固的设计使得Smartproof 5能够在各种不同的工作环境下安装运行–不仅可以在实验室，甚至也可以在没有防震设备的车间。300mm ×240mm带螺纹孔的样品台能够方便的安装各种夹具或者待测零件的固定装置。150mm ×150mm的行程范围使得分析大零件的不同区域或者多个小零件变得得心应手。Smartproof 5 能够监测自身机械组件的状态以确保最佳的性能，以及预防检测保护组件，防止发生故障。蔡司新的C Epiplan-Apochromat物镜是专门为共聚焦系统量身定制的一款镜头。这些高数值孔径的物镜是专门针对405nm的紫光（用于宽场共聚焦成像的波长）进行过优化处理，同时对于可见光也同样表现出色。所有的宽场共焦成像最终生成表面形貌。通过再叠加明场成像的纹理信息，能够获得更真实的表面重构。向导式的工作流程实现精准导航Smartproof5 的简单易用得益于一体化的图形用户界面，它基于蔡司高效导航软件ZEN，并支持从宏观到微观的无缝切换。在4mm × 4mm的概览图中，可以轻松定义测量位置，还可以建立一个坐标系以便将来进行样品的重复测量。采集的数据自动转到Confomap软件进行后续的数据处理和样品三维特性的分析。工作流程也可以保存下来便于再次执行相同的显微三维分析。提供可靠的结果，始终如一凭借全电动的Smartproof5部件设计，软件可监控各个部件的状态。因此可以轻松设置重复拍摄的工作流程。此外，通过强大的ConfoMap软件，可对样品进行几何测量，或对2D（线）和3D（面）图像进行粗糙度分析，后者是基于ISO标准。然后利用内置的报告工具快速生成报告。

Lei Leica DCM8采用了创新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择，精密软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的分析操作。 可通过各种规格的徕卡物镜、电动载物台和镜筒来对系统进行配置，以便完全适用于您的样本。为满足客户的文档创建需求，徕卡DCM8包括1个高清CCD摄像头和4个LED光源（RGB和白色）能够提供鲜明的真彩成像效果。 具有更高的精确度和可重复性您所查看的产品表面是否具有比较陡峭的坡度还是具有复杂的形貌？使用高清共聚焦显微镜能够实现2纳米的垂直分辨率。您所查看的产品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑？可从以下三种干涉测量模式中选择：垂直扫描干涉测量（VSI）；相移干涉测量（PSI）或者适用于分辨率高达0.1纳米的扩展相移干涉测量（ePSI）。如果您需要快速绚丽的高清二维图像，则Leica DCM8可提供明视场模式和暗视场模式。 ca DCM8采用了创新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择，精密软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的分析操作。 可通过各种规格的徕卡物镜、电动载物台和镜筒来对系统进行配置，以便完全适用于您的样本。为满足客户的文档创建需求，徕卡DCM8包括1个高清CCD摄像头和4个LED光源（RGB和白色）能够提供鲜明的真彩成像效果。 具有更高的精确度和可重复性您所查看的产品表面是否具有比较陡峭的坡度还是具有复杂的形貌？使用高清共聚焦显微镜能够实现2纳米的垂直分辨率。您所查看的产品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑？可从以下三种干涉测量模式中选择：垂直扫描干涉测量（VSI）；相移干涉测量（PSI）或者适用于分辨率高达0.1纳米的扩展相移干涉测量（ePSI）。如果您需要快速绚丽的高清二维图像，则Leica DCM8可提供明视场模式和暗视场模式。快速捕捉表面数据Leica DCM8采用创新性高清微显示扫描技术。由于传感器头部未使用运动部件，因此设备能够实现快速和可重现的捕捉数据。集成式高清CCD摄像头具有较大的视场，能够观察较大的样本面积。对于具有较大面积区域的样本来说，为获得无缝和精确的模型，只需要选择超快XY地形拼接模式即可。能够有效地对结构进行分析我们的用户友好型LeicaSCAN软件能够控制Leica DCM8设备。配方方案，多样本和统计分析能够优化工作流程。您是否还需要执行更为复杂的三维测量任务？那就选择我们的徕卡Map软件，以及全套高级分析工具。当然，如果您只需要二维图像，则徕卡应用程序套件(LAS)将会进一步扩展系统的测量功能。 很容易匹配您的样本能够对Leica DCM8进行配置以便适用于您的样本，从反光性表面，到透明层下的表面，再到需要较大工作距离的样本-我们都能够提供满足您需求的高品质物镜。对于大尺寸样本来说，从我们的可调整镜筒和电动载物台系列中进行选择。除此之外系统还采用了四种不同颜色的LED灯，能够使您选择适用于具体材料观察的波长。 获取高质量的图像通过将卓越性能的光学元件与高清CCD摄像头、红色、绿色、蓝色和白色LED光源相结合，Leica DCM8能够提供具有逼真的高清彩色图像。再加上LED的连续性，能够确保每个像素都能够记录真彩信息。分辨率和对比度提高的结果就是能够为您的样本提供水晶版清晰透彻的图像。目前和将来都够获取非常可靠的结果高清微显示扫描技术未配置任何运动部件，CCD摄像头和4个LED灯均布置在兼顾紧凑的传感器头中。这种创新性设计能够实现快速、可复制且无噪声的图像结果。值得一提的是，设备还具有较高的耐久性，实际上在较长的使用寿命期限内设备几乎不需要任何维护操作。不管您是用于生产用途还是研究用途，Leica DCM8均能够提供您所需要的精确、且可重复的测量分析结果，以便实现材料性能的优化。

中图仪器VT6000材料检测3D成像共聚焦显微镜基于光学共轭共焦原理，用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量，可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。VT6000材料检测3D成像共聚焦显微镜所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。不同应用场景下的3D形貌主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。3D形貌图片：影像测量功能界面 自设计之初，VT6000材料检测3D成像共聚焦显微镜便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。

中图仪器VT6000共聚焦工件表面微观形貌检测显微镜一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。它在材料生产检测领域中，测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。VT6000共聚焦工件表面微观形貌检测显微镜具有很强的纵向深度的分辨能力。在相同物镜放大的条件下，共焦显微镜所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他自设计之初，VT6000共聚焦工件表面微观形貌检测显微镜便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。 部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

Leica DCM8采用了创新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦显微镜和干涉测量技术优点的多功能双核系统。一键模式选择，精密软件、无移动部件的高分辨率共聚焦扫描技术确保用户实现超快速的分析操作。 可通过各种规格的徕卡物镜、电动载物台和镜筒来对系统进行配置，以便完全适用于您的样本。为满足客户的文档创建需求，徕卡DCM8包括1个高清CCD摄像头和4个LED光源（RGB和白色）能够提供鲜明的真彩成像效果。 具有更高的精确度和可重复性您所查看的产品表面是否具有比较陡峭的坡度还是具有复杂的形貌？使用高清共聚焦显微镜能够实现2纳米的垂直分辨率。您所查看的产品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑？可从以下三种干涉测量模式中选择：垂直扫描干涉测量（VSI）；相移干涉测量（PSI）或者适用于分辨率高达0.1纳米的扩展相移干涉测量（ePSI）。如果您需要快速绚丽的高清二维图像，则Leica DCM8可提供明视场模式和暗视场模式。快速捕捉表面数据Leica DCM8采用创新性高清微显示扫描技术。由于传感器头部未使用运动部件，因此设备能够实现快速和可重现的捕捉数据。集成式高清CCD摄像头具有较大的视场，能够观察较大的样本面积。对于具有较大面积区域的样本来说，为获得无缝和精确的模型，只需要选择超快XY地形拼接模式即可。能够有效地对结构进行分析我们的用户友好型LeicaSCAN软件能够控制Leica DCM8设备。配方方案，多样本和统计分析能够优化工作流程。您是否还需要执行更为复杂的三维测量任务？那就选择我们的徕卡Map软件，以及全套高级分析工具。当然，如果您只需要二维图像，则徕卡应用程序套件(LAS)将会进一步扩展系统的测量功能。 很容易匹配您的样本能够对Leica DCM8进行配置以便适用于您的样本，从反光性表面，到透明层下的表面，再到需要较大工作距离的样本-我们都能够提供满足您需求的高品质物镜。对于大尺寸样本来说，从我们的可调整镜筒和电动载物台系列中进行选择。除此之外系统还采用了四种不同颜色的LED灯，能够使您选择适用于具体材料观察的波长。 获取高质量的图像通过将卓越性能的光学元件与高清CCD摄像头、红色、绿色、蓝色和白色LED光源相结合，Leica DCM8能够提供具有逼真的高清彩色图像。再加上LED的连续性，能够确保每个像素都能够记录真彩信息。分辨率和对比度提高的结果就是能够为您的样本提供水晶版清晰透彻的图像。目前和将来都够获取非常可靠的结果高清微显示扫描技术未配置任何运动部件，CCD摄像头和4个LED灯均布置在兼顾紧凑的传感器头中。这种创新性设计能够实现快速、可复制且无噪声的图像结果。值得一提的是，设备还具有较高的耐久性，实际上在较长的使用寿命期限内设备几乎不需要任何维护操作。不管您是用于生产用途还是研究用途，Leica DCM8均能够提供您所需要的精确、且可重复的测量分析结果，以便实现材料性能的优化。

Abberior Instruments 以其灵活的 STED 显微镜平台的出色定制能力而闻名。我们开发了紧凑型 STED 和共聚焦显微镜，称为 STEDYCON。STEDYCON 是一款全新显纳镜（亚纳米级别超高分辨显微镜）在传统荧光显微镜基础上实现四通道共聚焦（405nm , 488nm , 561nm , 640nm) 和 STED (775nm) 超高分辨率系统! 同时，占用空间小，方便任何使用者快速实现高达 30nm 分辨率图像的采集!可安装在任何现有显微镜上 - 可立即升级现有的荧光显微镜镜成为多色共聚焦和 STED。STEDYCON 拥有可变针孔和多达四个检测器（专利的 DynamicPLUS 图像检测）。超稳定 - 我们全新的 STEADYFOCUS模块确保您的图像在几天内仍保持完美聚焦。最高质量 STED 效果 - STEDYCON 使你显微图像分辨率达到 30nm 水平。节省空间 - 难以置信的紧凑型 STEDY CON检测器占用空间只相当于显微相机大小。即插即用 - TSTEDYCON 几分钟即可安装完毕. 它只需要连接显微镜的C口，并且不需要进行光学校准。免售后维护 - STEDYCON 光束预先已完美对准（专利保护的 ' easySTED' 光学校准模式）。图片STEADYFOCUS 模块我们全新的按键式 STEADYFOCUS 全自动聚焦模块是用于 STEDYCON 的基于激光的连续型锁焦模块。它保证共聚焦和 STED 图像在几天实验中无焦点漂移。在显微镜上面，由于它的专用设计，在成像光束里不需要额外的光学部件所以没有任何荧光损失和图像畸变。STEADYFOCUS 全自动锁焦模块支持大量浸液物镜 (水、油、硅油、甘油...)和封片介质(水、Mowiol...) 以及主流正倒置显微镜镜体。同一张图像实现超灵敏和全动态范围我们在 STED 和传统共聚焦应用上使用全新的 DynamicPLUS 功能实现好的效果. 利用 DynamicPLUS , 您能采集到从最细节的点到最亮的点。内含雪崩光电探测器（APDs）有极高的量子效率（高达 69% @ 650nm) 在红色荧光范围. 这意味着当信号水平低的时候, 我们的 APDs 仍能采集大量的光子去形成有意义的图像。典型的应用在更接近生理条件下的低荧光标记密度时的超分辨率STED图像和实验。同时, DynamicPLUS的死时间补偿能采集到高信号标本的锐利图像, 例如明亮的共聚焦图像.当然这样生成的原始图像可进行定量分析和逆卷积运算。适合任何厂家显微镜基于浏览器的跨平台软件STEDYCON 通过 Abberior Instruments 公司的浏览器式软件界面智能控制. STEDYCON 智能控制软件从一开始设计的时候就实现简单安装，交互使用和免维护操作的概念应用。 初学者能在几分钟内采集到超分辨图像。STEDYCON 智能控制软件 Smart control 可支持 Windows，Linux，Apple 系统的电脑甚至平板电脑。

全新转盘式共聚焦超分辨显微镜IXplore SpinSR适合所有活细胞样本的共聚焦超高分辨&bull 超高分辨率，分辨率可达 120nm XY&bull 因光毒性和光漂白降低，共聚焦延时成像期间的细胞存活时间变长&bull 在 IXplore SpinSR 系统中，只需一步即可在宽场、共聚焦和超高分辨率观察之间自由切换&bull 通过奥林巴斯硅油浸入式物镜可以实现准确的 3D 重建 超高分辨率通过共聚焦技术和奥林巴斯的超高分辨率（OSR），可以120nm XY的分辨率解析清晰图像。Confocal Super Resolution图像：Hela 细胞的应力纤维：对抗体进行了染色，肌动蛋白：Phalloidin-Alexa488（绿色）；肌球蛋白重链：Alexa568（红色）。图片提供方：Keiju Kamijo博士，东北药科大学医学院解剖和细胞生物学系快速成像通过转盘共聚焦快速成像和快速超高分辨率处理可实现样本的实时显示。因为3D中的光毒性和光漂白降低，共聚焦延时成像期间的细胞存活时间变长。 图像：Hela细胞中延伸微管顶部的GFP-EB3图像提供方：Kaoru Katoh博士，日本国立产业技术综合研究所生物医学研究所多模用户可在3个模式（宽场、共聚焦和超高分辨率）之间轻松切换。 宽场共聚焦超高分辨率图像：基体上半部分纤毛的Odf2染色（Alexa Fluor 488）。图像提供方：Hatsuho Kanoh、Elisa Herawati、Sachiko Tsukita博士。大阪大学前沿生物科学研究生院和医学研究生院。为三维结构成像在延时成像过程中，获得精细的三维超分辨率图像数据。 神经元的三维延时图像：小鼠原代神经元与星形胶质细胞共同培养了2周后，由EGFP标记的延时图像。可以轻松地辨别未成熟脊柱（黄色箭头）和成熟脊柱（蓝色箭头）之间的差异，并发现随着时间的推移而发生的形态变化。3D图像的采集使用了每帧500ms的曝光时间，Z轴上的步进距离为0.15um，共41层图。每两分钟采集一次图像，采集持续1小时。由FV31S-DT显示的3D图像。图像数据由Yuji lkegaya博士提供，化学药理学实验室，药物学研究生院，东京大学。清晰的图像通过奥林巴斯的反卷积算法可以获得清晰的图像。 ConfocalSuper ResolutionSuper Resolution with TruSight简单易用在不适用特异性染料的情况下获得多色成像 中期细胞的有丝分裂纺锤体对人类宫颈癌HeLa细胞进行了固定并分别用α-微管蛋白（微管，红色）和Hec1（动粒，绿色）进行了染色。使用DAPI（染色体，蓝色）对DNA进行了染色。与微管产生交互的染色体会通过染色体着丝粒上组成的动粒产生有丝分裂纺锤体。图像提供方：Masanori lkeda 和Kozo Tanaka，加龄医学研究所分子肿瘤学部门。 Hela细胞的核孔复合物Nuo153（Alexa488：绿色），Nup62（Alexa555：红色）图像提供方：Hidetaka Kosako，德岛大学藤井纪念医学科学中心

在材料生产检测领域中，VT6000系列中图仪器共聚焦显微镜在陶瓷、金属、半导体、芯片等材料科学及生产检测领域中也具有广泛的应用。它以共聚焦技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。VT6000系列中图仪器共聚焦显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。技术指标产品功能1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；应用领域VT6000系列中图仪器共聚焦显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

快速获取更优数据蔡司 Airyscan 2 的全新 Multiplex 模式可以在较短的时间内获取更多的信息。智能化照明和检测方案能够突破衍射极限，以高帧频实现具有挑战性的三维样本成像，而且仍可以温和处理敏感样品。如今，通过融合逐点扫描共聚焦的全面灵活性以及 Airyscan 高灵敏面检测器的速度和低光毒性，凭借超高分辨率，可以更快的成像速度解决您的科学问题。提高科研效率复杂的活细胞共聚焦成像实验从未如此容易。全新版的 ZEN 成像软件令搭载 Airyscan 2技术的全新 LSM 980 锦上添花，软件中丰富的功能任您使用。工作较以往更为便捷，可以在尽可能短的时间内实现可重复的成果。智能设置（Smart Setup）和全新样品导航器（Sample Navigator）可帮助您快速找到感兴趣区域并对其进行成像，使您有更多的时间来采集数据。同步数据处理（Direct Processing）功能允许同时进行图像采集和数据处理。无论是在成像期间还是在后期分享整个实验的过程时，ZEN Connect 都可让您随时掌控全局，轻松叠加和排列任何来源的图像。图像灵敏度更强LSM 980 ZEISS激光共聚焦显微镜可使具有挑战性的样本成像，实现“鱼和熊掌”兼得。LSM 9 系列的照明高效光路，最多具有 34 个通道同步采样，具有全光谱灵活性。而且可以实现高灵敏度的微弱信号成像。另外，如果搭配Airyscan 2，则这一历史性的面检测器可以在较短时间内从您的样本中提取更多信息。您不必为了获得超高分辨率而缩小针孔，这样甚至会使三维成像的光效率更高。您会从不同的样本中都获得优异的数据质量。 LSM 980Airyscan SRMultiplex SR-4YMultiplex SR-8YMultiplex CO-8Y并行扫描（行）1488分辨率120/120140/140120/160共聚焦或更佳最大拍摄速度4.72547.534.4抗体标记，细微结构++++++++++++++抗体标记，拼图+++++++++++++活细胞成像++++++++++++++

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中图仪器VT6000白光共聚焦陡峭角度测量显微镜以共聚焦技术为原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。白光共聚焦陡峭角度测量显微镜具有很强的纵向深度的分辨能力，而且由于探测器前有针孔掩模，大大减小了不想要的闪烁和散射光所形成的噪声，能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能； 功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用领域VT6000白光共聚焦陡峭角度测量显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000系列3D微观形貌检测共聚焦显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，3D 建模算法等，对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。VT6000系列3D微观形貌检测共聚焦显微镜能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点，能够有效提高工作效率，更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜，能有效提高工作效率，实现更准确的操作。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能； (6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000系列3D微观形貌检测共聚焦显微镜自设计之初，便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。应用领域对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例： 应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。