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美司钠参考光谱

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美司钠参考光谱相关的仪器

  • Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光谱仪、内置计算机、触摸屏和分析软件。 Epsilon 1 台式X射线荧光光谱仪采用激发和检测技术的新成果,是低成本小型台式XRF仪器。Epsilon 1 台式X射线荧光光谱仪能生成快速、具有成本效益、准确的数据,基本不需要操作员干预和样品制备。 因此,与成本高昂、同时需要技能熟练的操作员操作的湿式化学方法和其他分析技术(如 AAS 和 ICP)相比,总体运行成本会下降很多。 Epsilon 1 台式X射线荧光光谱仪是手持 xrf 分析仪或 xrf 枪的便携式安全替代品。 请阅读选择我们的五大理由,了解为什么您应考虑 Epsilon 1 而不是其他手持设备。可靠且灵活的定量分析Epsilon 1 可以使用与常规样品成分相匹配的参考材料进行校准。 经过专门的校准后,可以提供准确可靠的数据。 Epsilon 1 可针对各种工业设施进行校准。 Epsilon 1 是一款高性能的台式 XRF 仪器,非常适合对周期表中从钠到镅的主量、微量和痕量元素进行分析。增强的数据安全性Epsilon 系统软件的增强的数据安全性选项可帮助您加强审计跟踪,显著降低误差风险,并证明 XRF 仪器能够按预期方式工作。 功能包括高级用户管理、操作记录和数据保护。特点非破坏性分析几乎不需要进行样品制备,即可直接在样品上执行测量。 由于 XRF 是一项无损技术,因此也可根据需要随后采用其他分析技术测量样品。高灵敏度薄窗 Ag 阳极 X 射线光管,由马尔文帕纳科设计和制造,确保高质量和高灵敏度。 50 kV X 射线光管和发生器非常适合激发重元素,可加快分析速度并提高准确性。方便的通信进行 USB 和网络连接,以使用用于扩展使用、应用程序开发和固定的操作员的标准计算机外围设备。空气变化钠、镁、铝、硅、磷和硫的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化,确保在各种气候条件下结果不受影响。溢漏保护为了保护系统核心部分免于溢漏,准备好保护膜。 发生溢漏时,操作员可以方便地更换保护膜。主要应用矿业和矿产 &bull 对岩石、矿石和钻芯进行直接定量分析&bull 使用 FingerPrint 软件快速识别阳性材料&bull 无标分析,无需专门校准即可定量分析多种矿物质 金属 &bull 使用 Stratos(多)层分析解决方案对涂层进行简单检查&bull 阳性材料鉴定套件,快速实现金属分类和提供合格/不合格报告 &bull 矿碴的元素定量分析&bull 快速筛查含铁和非含铁金属 石化产品 &bull Epsilon 1 燃料含硫测量仪遵循 ASTM D4294、ISO 8754、20847、IP 336、496 和 JIS K2541-4 测试方法&bull 即用型润滑油测量仪符合 ASTM D6481 规定性能&bull 一站式光谱仪服务,符合石油和燃料标准的认证 食品 &bull 快速定量分析食品和动物饲料产品中的营养素&bull 缩短食品和动物饲料过程控制的反馈回路&bull 可靠准确的奶粉定量分析 建筑材料 &bull 水泥、熟料和原材料的现场流程和质量控制&bull 使用无标分析筛选多种替代燃料和原材料 (AFR) 学术界 &bull 一台仪器适合各类样品,无需专门校准&bull 安全的设计和较低的公用设施要求,是理想的教育工具&bull 即用型学术界解决方案,通过使用 Omnian 无标分析进行预校准 制药 &bull 对残留物元素直接分析,加速流程开发&bull 利用可用的“增强数据安全性”软件,达到 FDA 21 CFR Part 11 的 要求&bull 高效的原材料检查,可快速识别供应变化&bull 可选“安装和操作鉴定”套件(IQ 和 OQ) 环保 &bull 现场识别受污染的土壤&bull 对采样器所在位置的空气过滤器上的无机化合物进行分析&bull 快速分析废水 塑料和聚合物 &bull RoHS-3 分析依据 ASTM F2617 要求&bull Epsilon 1 具有小微区分析功能,可对非均质样品进行详细直接的分析&bull CRM 解决方案可用于分析聚乙烯中的添加剂、受限元素和有毒元素
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  • SYNAPT所具备的无需妥协的定性与定量性能、精简的工作流程和无与伦比的平台通用性,为复杂混合物和分子的详尽表征开辟了新的途径。极佳的UPLC/MS/MS性能强大的数据独立型和数据依赖型解决方案CID与ETD碎裂功能多种实验类型选择升级至三维的数据分辨率极佳的UPLC/MS/MS性能将StepWave和UPLC分离与定量飞行时间(QuanTof)技术相结合,实现最高的峰容量和数据质量。StepWave是目前最灵敏和最可靠的离子源,具有&ldquo 主动&rdquo 选择离子和&ldquo 被动&rdquo 防止中性污染物的独特功能。与其他所有质谱分析器不同,QuanTof能够提供高质量数高分辨率、精确质量数和准确的同位素比例、宽的动态范围(谱图内和定量)和m/z范围,并且都可以在最快的采集速率实现,即便是对于高基质负荷的样品也是如此。强大的数据独立型和数据依赖型解决方案无与伦比的适用范围和效率,适用于复杂混合物的分析。通用型UPLC/MSE采集技术可以记录每个可检测的分子离子的碎片离子数据,与其它&ldquo 数据独立型分析&rdquo (DIA) 技术相比,具有卓越的占空比;同时我们的信息学技术可以为各种各样的应用提供精简的数据分析流程。要想获得更高效、更有效的靶向MS/MS,请选用最新的&ldquo 非数据独立型&rdquo 工作流程。使用高分辨率MRM工作流程,可获得更低的定量限;而使用FastDDA可实现更高的MS/MS灵敏度,扩大研发实验中的化合物覆盖范围。CID与ETD碎裂功能TriWave的双碰撞室结构可提供碰撞诱导解离(CID)和/或电子转移解离(ETD)碎裂,并且同时得到高分辨率和精确质量数,从而获得更好的MS/MS检测结果。ETD选件性价比高,可以实现最佳性能(碎裂效率)和灵活性,且易于和使用和维护。高解析度四极杆包括4KDa、8KDa或32KDa质量数范围,适用于从小分子到大分子的MS/MS测定。多种实验类型选择沃特世的离子源结构可与各种技术相结合:对于分离,可结合UPLC、nanoUPLC、HDX Automation、APGC和UPC2;对于电离,可结合ESI、APCI、APPI、ASAP、 DESI、DART和LDTD。它们可快速互换,在几分钟内即可使用。对于直接进样分析方法,可升级至HDMS功能和T-Wave 离子淌度技术,后者可提供最佳的电离后选择性与特异性。在与高性能可以与大气压离子源快速切换MALDI选件结合时,这一点具有非常明显的优势。升级至三维的数据分辨率!保留。迁移。质量。某些情况下,色谱和质量数分辨率还不能满足要求。可简单、快速、独特地升级至SYNAPT 高清晰质谱功能和高效T-Wave离子淌度技术,从而可在分子大小和形状的基础上获得另一个分离维度。利用分子碰撞截面特性这一项独特的功能,可以提供最高水平的选择性、特异性、灵敏度和结构分析。其优点还包括同分异构体分离、消除干扰、生成更干净的谱图,以及更准确地识别化合物ID。注意:本页面内容仅供参考,所有资料请以沃特世官方网站()为准。
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  • 首创、独有的纳米红外功能和性能Bruker公司推出的Dimension IconIR是一款集合了纳米级红外光谱(nanoIR)技术和扫描探针显微镜(SPM)技术的系统。它整合了数十年的技术创新和研究成果,可以在单一平台上提供无与伦比的纳米级红外光谱、物理和化学性能表征。该系统具有超高的单分子层灵敏度和化学成像分辨率,在保留DimensionIcon最佳的AFM测量能力的同时,还提供了极大的样品尺寸灵活性。Dimension IconIR利用Bruker独有的PeakForce Tapping纳米级物性表征技术和专利的纳米红外光谱技术,使得它能够在纳米尺度下对样品进行纳米化学、纳米电学和纳米力学的关联性表征。只有Dimension IconIR具备:与FTIR完全吻合的红外光谱,优于10 nm的空间分辨率和单分子层灵敏度的高性能纳米红外光谱化学成像可与Peakforce Tapping纳米力学和纳米电学属性表征相关联高性能的AFM成像功能和极大的样品尺寸灵活性广泛适用的应用配件和AFM功能模式专利技术保证真实的红外吸收光谱AFM-IR通过采集样品的热膨胀信号(PTIR)还原样品的红外吸收光谱。由于检测区域的热膨胀只与样品在该波长下的吸收强度有关,而常规的傅里叶红外光谱(FTIR)检测的也是样品在该波长下的吸收强度,因此AFM-IR获得的红外吸收光谱与传统的红外吸收光谱高度吻合。红外吸收成像除采集指定区域的红外吸收光谱外,Dimension IconIR同时提供了固定红外脉冲波长,检测样品表面某一区域在该波长下吸收强度的功能。在该工作模式下,Dimension IconIR会将红外脉冲激光固定在研究者所选的波长,用AFM探针扫描需要检测的表面,记录探针针尖在每个位置检测到的红外吸收强度,并同时给出AFM形貌和该波长下的红外吸收成像。专利保护的接触共振技术专利保护的共振增强技术将测量灵敏度提高到单分子层级别,达到最高的光谱检测灵敏度。因为基于原子力系统的红外技术是以探针来检测样品表面在红外激光作用下的机械振动,随着厚度的减小,这种位移量变得极其微小,超出了原子力显微镜的噪音极限。我们利用专利保护的可调频激光优化脉冲信号频率,使之与探针和样品的接触共振频率吻合,那么这种单谐振子共振模式就能把微弱信号放大两个数量级。。智能光路优化调整,保证实验效率红外激光和AFM联用系统的最大挑战在于光路的优化,为了得到最佳的信号,在实验过程中光斑中心应该始终跟随探针针尖位置并保持良好的聚焦。但是在调频过程中,激光光束的发射角度会随着波长的变化而改变,进而改变光斑位置,聚焦状态也会变化。布鲁克采用全自动软件控制automatic beam steering和自动聚焦系统来修正光斑位置的偏移和聚焦,大大改善了传统联用系统需要手动调节的不便和低效率。同时全自动动态激光能量调整保证信号的稳定性,避免红外信号受激光不均匀功率的影响。
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  • 借助 XRF 光谱仪 Epsilon 3 系列的经验打造而成,Epsilon 4 是一款多功能台式 XRF 分析仪,广泛用于从研发到流程控制等各个领域中需要从氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行业细分市场。 Epsilon 4 X射线荧光光谱仪 将激发和检测技术与成熟软件和智能设计相结合,其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光谱仪。Epsilon 4 任意位置由于较低的基础设施要求,可以将 Epsilon 4 放到生产过程中靠近生产线的任意位置。 其高性能使大多数应用能够在环境条件下运行,从而降低氦气或真空维护的成本。超越分析的价值能量色散式 X-射线荧光光谱仪可分析从碳 (C) 到镅 (Am) 的元素,涵盖从百万分之一以下到 100 wt% 的浓度。 将 Omnian 用于无标分析,当需要快速分析鉴定时,则使用 FingerPrint 来进行材料测试,或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。 还可以使用支持与 FDA 21 CFR 第 11 部分等法规合规的增强的数据安全性,或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新润滑油和使用过的润滑油。支持各类样品Epsilon 4 X射线荧光光谱仪可处理多种样本类型,包括固体、压片和疏松粉末、液体和滤膜。 在重量从几毫克到几千克的样品上,对从碳 (C) 氟到镅 (Am) 的元素进行非破坏性的定量分析,涵盖从 100% 到百万分之一以下的浓度范围。Epsilon 4 是稳健、可靠的传统系统替代方案,已在许多行业和应用领域中得到广泛应用,甚至在轻元素分析非常重要的环境中,包括:水泥生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、RoHS 筛选及定量、石油和石化、聚合物及相关行业、玻璃生产、法医学、制药、保健产品、环保、食品和化妆品。特点灵活的配置Epsilon 4 是高度灵活的分析工具,可在 10 瓦版本中用于从研发到过程控制等各个领域的元素分析 (F - Am)。 要实现更高的样品处理量或扩展的轻元素功能,并且处于更加具有挑战性的环境,可以使用 15 瓦版本,甚至可以对碳、氮和氧进行分析。新发展Epsilon 4 仪器将射线探测技术与分析软件结合到了一起。 15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、硅漂移探测器 SDD30 以及紧凑的光路设计相结合,提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统以及台式 WDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源利用效率。迅速、敏感利用可生成更高强度的硅漂移探测器技术实现迅速测量。探测器电路提供的线性计数率可超过 1,500,000 cps(在 50% 的死时间下),和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV,可更好地分离光谱中的分析谱线。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行,因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比,实现了更高的样品通量。降低氦气消耗量Epsilon 4 的高性能使得许多应用可以在空气环境中运行,无需较长的进样时间和费用来维护氦气或真空系统。 在空气中测量时,钠、镁和铝的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化,确保在各种气候条件下结果不受影响。
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  • 产品概述   LGA-C300煤气热值分析系统是聚光科技推出的新型热值分析产品,该产品基于半导体激光吸收光谱等先进气体分析技术,对煤气中的各类可燃气体成分(如CO/CH4等)进行连续、快速、准确地测量,通过将燃气成分转化为有效热值,进而获得煤气热值信息,实现对煤气热值的在线监控和工艺优化指导。产品特点  与传统采用直接燃烧法的热值分析系统不同,LGA-C300煤气热值分析系统是通过对燃气成分进行在线分析,转化获得混合气体的热值信息,因此系统测量结果真实反映了燃气的有效热值信息,同时还具有测量响应速度快、可靠性高等优势。  燃气组分和热值同时检测,工艺参考价值高;  测量实时性、连续性好;  系统可靠性高、运行维护费用低;  系统选配防爆探头,预处理和分析部件无热源,安全系数高。
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  • 光频梳偏频测量模块(f-2f自参考模块)一.载波包络偏移模块(f-2f自参考)/fceo频率产品概述 光学频率梳是当今激光与时间频率学科的前沿技术,载波包络偏移(f-2f自参考)有效地链接了光学频率与微波频率,在过去二十年间推动了精密光谱学、光学测量技术、量子精密操控、光钟等重要技术的发展。其基于飞秒锁模激光器,通过锁定重复频率(frep)和载波包络偏移频率(fceo)使梳齿稳定呈现出固定间隔的特征。 昊量光电新推出光频梳偏频测量模块(COSMO),为测量载波包络偏移频率(fceo)的f-2f自参考锁定过程提供了一种紧凑且方便的解决方案。COSMO运用了非线性波导技术产生超连续谱,将频谱扩展到至少一个倍频区域,通过低频翻倍与高频进行重叠,从而精准测定fceo。同时,COSMO可以用极低的脉冲能量检测目标频率,从而实现更低的功耗或更高的重复频率。二.载波包络偏移模块(f-2f自参考)/fceo频率模块基本参数规格COSMO输入脉冲波长~ 1560 nm输入脉冲能量 200 pJ输入光纤PM 1550 Fiber输入光学信号接口FC/APC输出电信号接口SMA模块尺寸~ 50×35×22 mm输入平均功率400 mW工作温度0 to 40 ℃fceo峰值的信噪比 35 dB三.载波包络偏移模块(f-2f自参考)/fceo频率使用案例激光器载波包络偏频锁定实验装置 Menhir激光器产生波长1550 nm 1 GHz脉冲激光,并将其送入掺铒光纤放大器以增加脉冲能量。放大后的脉冲光通过一小段色散补偿光纤,输入至光频梳偏频测量模块(COSMO),测定fceo。fceo信号在放大、滤波后进入锁相环等反馈模块,为激光器提供反馈信号。射频频谱分析仪可以看到具有相干尖峰的锁定fceo信号。关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商,代理品牌均处于相关领域的发展前沿;产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等,涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等优质服务。
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  • 反射参考板白板 400-860-5168转2255
    反射测量附件漫反射参考标准白板WS-1标准漫反射参考白板WS-1标准漫反射参考白板是用PTFE是一种具有可用作反射实验标准参照物的理想朗伯表面的漫反射塑性白胶。由于PTFE可以被制作的非常精确,并可被加工成无定形结构,参考瓦对400-1500nm的反射率大于98%,对250-2000nm的反射率大于95%。WS-1具有非常好的长期稳定性,即使在紫外区,同时不易被水沾湿,化学性质也不活跃。WS-1是不锈钢外套,其他性能和WS-1一样。另外,它允许\RPH-1支架放在此参考标准上而不直接接触。 WS-1-SL标准Spectralon反射参考白板 WS-1-SL是Labsphere公司生产的标准漫反射白板,采用专利的Spectralon反射材料制作。Spectralon不怕水而且热稳定性可以到350度。稳定的材料保证客户可以获得准确的可重复的数据。不像其他PTFE材料的标准,WS-1-SL如果污染或者有划痕,也可以再次磨平使用。 WS-3-GEM白色参考瓦 WS-3-GEM由漫反射材料PTFE制成,其不锈钢容器内部被做成凹面形,这使得光线照射时,WS-3-GEM成为一个积分球。WS-3-GEM可用于钻石或其他宝石的色度测量。WS-3-GEM对400-1500nm的反射率大于98%,对250-2000nm的反射率大于95%。与WS-1类似,WS-3-GEM的反射材料不易被水沾湿,化学性质不活跃,并且具有非常好的长期稳定性。规格 WS-1WS-1-SLWS-1-SSWS-3-GEM直径直径38-mm(带外壳) 32-mmOD,10mm厚直径38-mm(带外壳) 32-mmOD,10mm厚直径38-mm(带外壳) 32-mmOD,10mm厚直径38-mm(带外壳) 31-mmOD,10mm厚重量30g30g30g30g光谱范围250-2000nm250-2500nm250-2000nm250-2000nm外壳铝聚甲醛树酯固定,保护盖不锈钢不锈钢反射率98%(250-1500nm)95%(250-2200nm)99%(400-1500nm)96%(250-2200nm)98%(400-1500nm)95%(250-2200nm)98%(400-1500nm)95%(250-2200nm)镜面反射参考标准白板高反射率测量 STAN-SSH高镜面反射率标准可以做为测量像感光底层,光涂层,机加金属和半导体材料等。表面具有高镜面反射率值的物质时的参照物。STAN-SSL在200-800nm波长范围内提供~85-90%反射率,在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。有两种款式的STAN-SSH,STAN-SSH型,NIST认可的STAN-SSH-NIST型。NIST型STAN-SSH-NIST是按照一个NIST校准(NIST号为NIST38060S,s/n 99G16)250-2500nm精度大概为0.1%。低反射率测量 STAN-SSL低镜面反射率标准是一个中性滤光片标准。可以做为测量像薄膜层,抗反射层,阻挡滤光片等。表面具有低镜面反射率的物质时的参照。STAN-SSL的涂敷层在200-2500nm范围内提供~4.0%反射率。 白板底座 我们为标准白板提供保护底座,STAN-Holder在测试的时候可以把参考标准放到底座里面,从而保护了标准白板的镀膜。规格 STAN-SSHSTAN-SSH-NISTSTAN-SSL衬底尺寸外径31.75mm,高6.35mm外径31.75mm,高6.35mm外径31.75mm,高6.35mm外壳尺寸外径38mm , 高19mm外径38mm , 高19mm外径38mm , 高19mm重量40g40g40g反射材料熔融硅衬底,表面保护镀铝镜熔融硅衬底,表面保护镀铝镜Schott ND9玻璃反射率~87-93%(200-1000nm)~93-98%(1000-2500nm)~87-93%(200-1000nm) ~93-98%(1000-2500nm)~5%(200-950nm)~4%(950-2500nm)
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  • 反射测量参考白板 400-860-5168转3408
    WS-1标准漫反射参考白板WS-1标准漫反射参考白板是用PTFE制成的。PTFE是一种具有可用作反射实验标准参照物的理想朗伯表面的漫反射塑性白胶。PTFE可以被地加工成需要的形状,做成无定形结构,参考板对400-1500 nm的反射率大于98%,对250-2000 nm的反射率大于95%。 WS-1具有非常好的长期使用稳定性,包括用紫外线照射的条件下。同时,它不易被水沾湿,化学性质也很稳定。 WS-1-SL标准Spectralon反射参考白板 WS-1-SL是Labsphere公司生产的标准漫反射白板,采用Spectralon反射材料制作。Spectralon不怕水浸而且热稳定性良好,可以在高达350度的条件下使用。稳定的材料保证客户可以获得准确的可重复的数据。相对于PTFE材料的白板,WS-1-SL的表面如果被污染或者有划痕,您可以将它打磨后继续使用。 WS-3-GEM白色参考板WS-3-GEM由漫反射材料PTFE制成,其不锈钢容器内部被做成凹面形,这使得光线照射时,WS-3-GEM成为一个积分球。WS-3-GEM可用于钻石或其他宝石的色度测量。WS-3-GEM对400-1500 nm的反射率大于98%,对250-2000 nm的反射率大于95%。与WS-1类似,WS-3-GEM的反射材料不易被水沾湿,化学性质也非常的稳定。 漫反射参考白板WS-1WS-1-SLWS-1-SSWS-3-GEM尺寸:38 mm 直径(外壳) 32 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)38 mm 直径(外壳)32 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)38 mm 直径(外壳)32 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)38 mm 直径(外壳)31 mm OD, 10 mm 厚度 (白板)重量:30 g30 g30 g70 g光谱范围:250-2000 nm250-2500 nm250-2000 nm250-2000 nm外壳:铝塑料, 保护盖不锈钢不锈钢反射率:98% (250-1500 nm)95% (250-2200 nm)99% (400-1500 nm)96% (250-2000 nm)98% (250-1500 nm)95% (250-2200 nm)98% (250-1500 nm)95% (250-2200 nm) 镜面反射参考白板 通用且耐用的参考我们提供三种镜面反射白板,用作测量表明反射率的参考。每个白板由31.7mm的外径的光学反射材料组成,外面是铝制的外壳和带螺纹的盖子。表层的镀膜非常优异,性能稳定,可以承受高温和机械压力。 高反射率测量STAN-SSH高镜面反射率标准可以做为测量像感光底层,光涂层,机加金属和半导体材料等。 表面具有高镜面反射率值的物质时的参照。STAN-SSL 在200-800 nm波长范围内提供~85-90%反射率,在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。 有两种款式的STAN-SSH,STAN-SSH 型,NIST认可的STAN-SSH-NIST型 。 NIST型STAN-SSH-NIST是按照一个NIST校准(NIST号为NIST38060S, s/n 99G16)250-2500 nm精度大概为 0.1% 。与STAN-SSH-NIST一起交货给用户的还有一个校准说明书,一个做为波长函数的反射率值数据表,和一张光盘,其中数据可以上传到光谱仪操作软件上。 建议用户定期标定STAN-SSH-NIST 。 低反射率测量STAN-SSL 低镜面反射率标准是一个中性滤光片标准。可以做为测量像薄膜层,抗反射层,阻挡滤光片等。 表面具有低镜面反射率的物质时的参照。STAN-SSL的涂敷层 在200-2500 nm波长范围内提供~4.0% 反射率。STAN-SSHSTAN-SSH-NISTSTAN-SSL基底尺寸:31.75 mm 外直径 x 6.35 mm 高度31.75 mm 外直径 x 6.35 mm 高度31.75 mm 外直径 x 6.35 mm 高度外壳尺寸:38 mm 外直径 x 19 mm 高度38 mm 外直径 x 19 mm 高度38 mm 外直径 x 19 mm 高度重量:40 g40 g40 g反射率材料:Front-surface protected aluminum mirror on fused silica substrateFront-surface protected aluminum mirror on fused silica substrateSchott ND9 glass反射率:~87-93% (200-1000 nm)~93-98% (1000-2500 nm)~87-93% (200-1000 nm)~93-98% (1000-2500 nm)~5% (200-950 nm)~4% (950-2500 nm) 韵翔光电也可以为您提供配套的支架和测量仪器(光谱仪和照明光源), 帮助您实现各种样品的反射测量。
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  • HFRR柴油润滑性参考油 滑性柴油润滑性评价法(高频往复式试验机法)Diesel fuel- Assessment of lubricity using the high-frequency reciprocating rig(HFRR)符合标准:ISO12156-1本标油规定了采用高频往复式试验机(HFRR)评价柴油(包括哪些含有润滑添加剂的柴油)润滑性的实验设备的校准和验证,目前美国国家标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)及美国实验材料协会(ASTM)的柴油润滑性参考油有两种:高频往复式试验机 (HFRR)评价、校准和验证用两种参考油来检验实验设备的性能,这两种参考油必须严格符合ASTM D6079和ISO12156-1标准,同时这两种标准油在用标准验证时,其润滑性应有显著差异,还应有经测定合格的HFRR数值和相应的湿度校正系数(HCF),用微米标识参考油的HFRR数值(WS1.4)和它们的扩展不确定度,用μm/kPa表达湿度校正系数。这两种参考油在用标准检测时,HFRR数值的最小差值应为200μm。英国PULUODY公司销售美国国家标准与技术研究院(NIST)及美国实验材料协会(ASTM)的ASTM D6079柴油低润滑性HFRR校准标油、ISO12156-1柴油低润滑性HFRR校准标油、SH/T0765柴油低润滑性HFRR校准标油,该标油是由美国EXXON化学公司制造,并被CEC作为参考油RF-74-T-95使用,该油适合作为柴油低润滑性参考油。英国PULUODY公司销售美国国家标准与技术研究院(NIST)及美国实验材料协会(ASTM)的ASTM D6079柴油高润滑性HFRR校准标油、ISO12156-1柴油高润滑性HFRR校准标油、SH/T0765柴油高润滑性HFRR校准标油,可以用于Caterpillar 1H或1G单缸试验的燃油,符合ISO4112道路车辆柴油喷油器的标定油的燃油或CEC参考油RF-90-A-92,都适合用于高润滑性参考油。典型数值:PLD-L-HFRR 602μm 500ml/Ps 1年有效期限 PLD-H-HFRR 430μm 500ml/Ps 1年有效期限柴油高润滑性参考油、柴油高润滑性标准油、柴油高润滑性参比样品、柴油高润滑性标油、柴油低润滑性参考油、柴油低润滑性标准油、柴油低润滑性参比样品、柴油低润标油、
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  • Thorlabs 光学参考系统 ORS1500 其它通用分析 带外腔激光二极管特性超高细度光学腔,线宽( 1 Hz),稳定性( 2 x 10-15 Hz)外形紧凑(600 mm x 600 mm)对比另一种光学参考系统,由Menlo系统充分表征带有CW光纤激光器(ORS1500)或MOGLabs Cateye外腔激光二极管(ORS-DL)保偏光纤耦合输出可根据 要求定制系统可选用的配件稳定的光功率输出Doppler-Cancelled光纤链路有源剩余调幅减少方案Menlo Systems的光学参考系统(ORS)提供了具有超窄线宽和出色短期稳定性的光学输出。ORS1500包含CW激光器,而ORS-DL包含MOGLabs外腔激光二极管。在这两种型号中,激光器都锁定到由超低膨胀玻璃制成的稳定高细度腔。ORS使用具有温度稳定性、隔振和隔声功能的高度真空腔室,以实现当前zui 先jin的激光器线宽和稳定性。它的设计紧凑,能够集成到19英寸机柜中,便于实验室使用。此外,系统的设计包括机械锁定功能,它允许对系统进行运输,而无需在机构脱开之后将光束重新调整成耦合到腔。应用光学时钟的局部振荡器超高精度光谱应用低噪声微波生成通过光纤网络实现超稳定频率传输频率计量应用基础物理测试
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  • 参考级剂量仪SuperMax 400-860-5168转4226
    参考级剂量仪SuperMax优势双独立测量通道• 独立控制量程、偏压和系统因子应用• 双通道均配置超宽范围测量功能(0.001pA~500.0nA,0.001pC~999.9μC),以针对不同应用场合,包括比率测量内置探头数据库• 无需计算机即可应用系统因子和温度、气压修正• 支持存储100组以上探头和校准信息• 支持单个因子应用至单个通道或者两个测量通道易于使用的人性化交互模式• 大尺寸彩色显示屏幕,触控操作• 屏幕键盘和下拉菜单设计使您可以轻松访问设置和探头数据库参考级剂量仪SuperMax采集数据存储• 存储所有采集数据测量• 支持设置自动重复测量支持Extradin W1闪烁体探头• 两种专用模式支持使用Extradin W1闪烁体探头进行无缝计算功能重新定义下一代静电计SuperMax在MAX 4000型静电计高度精确和参考级测量的基础上,结合创新的触摸屏交互系统和一系列高级测量功能,对静电计进行崭新诠释。双独立测量通道• 独立控制量程、偏压和系统因子应用• 双通道均配置超宽范围测量功能(0.001pA~500.0nA,0.001pC~999.9μC),以针对不同应用场合,包括比率测量内置探头数据库• 无需计算机即可应用系统因子和温度、气压修正• 支持存储100组以上探头和校准信息• 支持单个因子应用至单个通道或者两个测量通道易于使用的人性化交互模式• 大尺寸彩色显示屏幕,触控操作• 屏幕键盘和下拉菜单设计使您可以轻松访问设置和探头数据库
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  • Force参考电极ERE 20 400-860-5168转4727
    ERE20参考电极用于钢筋混凝土的电位测量。 ERE20是一款真正的长寿命、高品质的参考电极。可浇筑于混凝土表层中,用来监测阴极保护系统的运行和钢筋的锈蚀状态。可以安装在新浇筑的或既有的混凝土结构中。 基于成熟的电池技术,ERE20是一种稳定的半电池结构。它采用氧化锰电极,置于碱度非常高(pH13.5)的电解液中,整个放置于不锈钢外壳中,并有水泥砂浆离子膜以保证和混凝土有良好的类同性。 ERE20可以很容易地连接到数据记录仪上以测量数据,也可通过调制解调器实现远程监控。用高输入阻抗(100 M ?)的手持式电压计,就可以进行操作。从CP系统得到的极化曲线ERE 20参考电极截面图 优势:• 无论新老结构,都易于安装• 可置于氯离子和碳化环境中• 在碱性环境中,有非常稳定的电势,与PH值成线性关系 • 适于监测阴极保护系统(EN 12696)如果您想了解更多关于ERE 20 参考电极产品的更多信息,欢迎来电咨询,感谢关注!
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  • SVLab218 参考声源SVLab 218 是一款参考声源,符合《GBT 12060.1-2017 声 系统设备第 1 部分 : 概述》的要求,主要应用于职业卫生噪 声检测实验室间对比和测量审核、期间核查、盲样考核等声 级计能力验证,判断实验室从事噪声检测活动的能力以及检 查实验室能力的持续状况。也可应用于声信号对声级计在自 由声场中的频率计权特性进行核查。 采用了紧凑的结构设计,体积小巧,重量轻便,并且性能强大, 内置功率放大器,兼顾了现场使用的便携性和实际应用中对 稳定可靠声源的需求。典型应用▶ 可作为声学标准器使用 声级计、噪声剂量计等声学测量设备的校准或者检测中需 要使用到声学标准器,SVLab218 的各项性能指标均符合声 学标准器的要求,可以应用于实验室校准。▶ 场景噪声还原功能 用户可以使用声源来播放预先录制好的各类场景噪声音频 数据,实现各类工作场所场景噪声的模拟或还原。功能特点稳定性宽频噪声信号 声源具备多种数据输入方式,包括音频输入、USB 和 TF 卡输入,不管是实时的模拟音频信号,还是 数字音频文件,都可以直接使用声源进行播放。 实验室应用中会涉及到不同的声场环境,SVLab218 参考声源即可用于自由场,也可用于混响声场, 都有着优越的性能表现。 可以输出测试和计量中常用的声学测试信号,如粉红噪声、白噪声和正弦信号,也可输出用户自定义 的音频信号,确保符合声学测试人员的多样需求。 稳定输出的声级和频谱对于测试数据的可靠性至关重要,声源的频率范围高达 20KHz,频率稳定性和 声压稳定性都非常优越,达到了计量级别,符合现场和实验室的需求。LED 显示屏 高亮的 LED 显示屏,即使在各类复杂的环境下也可清晰地观察屏幕的内容,仪器配备 TF 卡接口和 USB 接口,可以方便地读取并播放外部存储的音频数据文件,集成了音频输入 接口,因此也可直接播放外部的模拟音频信号输入,如 PC 或手机的输入音频,带有红外 接收口,可对声源进行遥控。可输出粉噪、白噪、正弦信号、自定义音频信号可以输出测试和计量中常用的声学测试信号,如粉红噪声、白噪声和正弦信号,也可输出用户自定义 的音频信号,确保符合声学测试人员的多样需求。适用于自由声场、混响声场实验室应用中会涉及到不同的声场环境,SVLab218 参考声源即可用于自由场,也可用于混响声场, 都有着优越的性能表现。具有音频输入、USB 和 TF 卡输入声源具备多种数据输入方式,包括音频输入、USB 和 TF 卡输入,不管是实时的模拟音频信号,还是 数字音频文件,都可以直接使用声源进行播放。主要指标适用标准GB/T 12060.1-2007(IEC 60268-1:1985,MOD)频率范围50 Hz ~ 20 kHz灵敏度> 80 dB(@1m)电信号频率响应± 3 dB信噪比 > 75 dB显示屏 LED接口USB,TF 卡,音频输入供电方式内置电池,电压 12 V,容量 5 AH失真度声信号 < 5 %(200 Hz ~ 20 KHz) 电信号< 1 %(20 Hz ~ 20 KHz)输出信号粉红噪声、白噪声、正弦信号、自定义功率75 W工作温度-10 ℃ ~ 50 ℃尺寸260 × 260 × 260 mm
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  • ALL-CKMD400型晶棒参考面X射线定向仪ALL-CKMD 400 MODEL X-RAY CRYSTAL ORIENTATION INSTRUMENT BY THE REFERENCE PLANE 产品特点⑴ 测量晶棒夹具的结构与功能介绍:基准平台:此件固定在主机的台面板上,测量时做水平基准面,基准平台的右侧为定位面,左侧为夹紧装置,左侧的夹紧装置上有夹紧螺钉,设备配套的夹具在测量时放于基准平台上。⑵ 测量〈A〉面:晶体主参考面面定向:可测量晶棒直径为2、4、6英寸,面的θ角:18.917°(18°55′00″)(或按客户需要做C向、R向)。①仪器的校准:用标准晶棒校准仪器。晶向〈A〉的θ角:18.917° (18°55′00″)②将装有晶棒的夹具,清理洁净后放到仪器的基准平台上,调整前后位置,使X光能够照射到晶棒的外圆柱面上,旋转基准平台左侧的夹紧螺钉,把紧。打开X射线光闸,使待测量晶棒在夹具内慢慢转动,寻测峰值。当μA表针为最佳状态时(即为最大值时),保证晶棒不动,夹紧晶棒。③将夹具从定向仪下移出,转到磨床上磨削平面。④自动升降测试。 Features⑴ Construction and function of crystal clipBenchmark platforms: it is fixed on the host machine panel, used for the horizontal platform when testing the sample.The right side of the base platform for locating surface, left platform for clamping .The clip has the screw clamping device.Please put the clip on the horizontal platform when begin to have a testing .⑵Measuring the A direction : crystal main reference A flat orientation: it can measure crystal rods for 2, 4, 6 inch in diameter, direction θ angle:18.917°(18 ° 55 ' 00 ") (or according to customers requirement ,use the C or R direction).①The calibration of instruments: use a standard crystal rod calibration instrument. Crystal (A) θ Angle :18.917 ° (18 ° 55 ′00 ")②After cleaning up the clip ,and put it on the horizontal platform for adjusting its position ,in order to enable the x-ray exposure on the outside skin of the cylinder crystal ,and fix the screw on the left of rotated horizontal.Open the X-ray shutter ,and let the crystalrotating slow to find the peak .When the μA meter find the best status (i.e the max.value) ,make sure the crystal being static,and fix it tightly.③Unload the clip from the instrument ,and put it on the grinding plane of the grinding machine.④Auto lifting test. 技术指标●输入电源:单相交流220V,50Hz,0.25kW。 ●X射线管:铜靶,风扇冷却,阳极接地。 ●最大管电压电流:30kV,5mA连续可调,使用2.0mA以上, 有可能损坏X光管并加大辐射危害。 ●探测器:计数器。工作电压最高为DC1000V;或闪烁探测器, 工作电压最高为DC1200V。●时间常数:1(快)、2(慢)两档。●测角角度:θ=18.917°(18°55′00″)●主光闸:自动。●显示板:射线强度表。●外型尺寸:1132(长)×642(宽)×1460(高)mm●重量:200kg Technical Parameters●Input power: Single phase with AC 220V,50Hz,0.25kW●X-ray tube : Cu target ,cooled by fan ,and anode earthMax.tube voltage and current :30kV ,5mA ,being continued adjustment .If using the current is more than 2.0mA ,which may be damaged the X-ray tube insert and enlarge the radiative harm●Detector: counter . The max. working voltage is DC1000V Or scintillation counter,the max.working voltage is DC1200V●Time parameter:1(fast)/2(low)●Testing angel :θ=18.917°(18°55′00″)●Main shutter:auto●Displaying board: radiative rose chart●Size:1132(L)×642(W)×1460(H)mm●Weight:200kg
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  • TS-FRXO100是一款超稳定、高性能、紧凑型多输出参考频率源,使用其高稳定性烘箱控制的10MHz振荡器,提供四个10MHz输出和两个锁相100MHZ超低相位噪声输出。TS-FRXO100结构紧凑,使用简单,由标准USB-C供电,可通过主机PC控制。TS-FRXO100规格:10MHz 参考类型:烤箱稳定振荡器10MHz 频率稳定性:±5PPB10MHz MCX 输出端口: 410MHz 相噪声 = 10KHz 偏移: -150dBc100MHz 参考类型:超低相噪声VCXO100MHz 参考相噪声: -162dBc = 10KHz 偏移输出端口阻抗: 50 欧姆输出端口信号类型:LVCMOS输出水平典型: +14dBm (+3.2VPP)老化:每日:±1PPB老化:每年:±50PPB相位抖动: (10Hz 至 5MHz) : 1.0ps rms热身时间: +5分钟温度范围: 0C ° 60CTS-FRXO100应用:一般微波实验室应用仪器同步无线电接收器开发通信应用程序卫星上行链路/下行链路雷达系统防御/电子战DDS 时钟频率发生器参考更多型号可选:型号10MHZ参考类型10MHZ频率稳定性10MHZ相位噪声@ 10KHZ偏移100MHZ参考类型100MHZ参考相位噪声输出端口信号类型典型输出电平USB控制FRXO100恒温振荡器±5PPB-150dBc超低相位噪声VCXO-162dBcLVCMOS+ 14dBm(?3.2VPP)标配
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  • 8305(双端安装)和8305-001(单端安装)采用PZ 100石英晶体压电元件,其内部结构为倒置的、中心安装的压缩式设计,敏感元件受基座应变和横向振动的影响极低。8305及8305-001具有极高的长期稳定性,是世界公认的标准参考加速度计。在比较法校准时,被检加速度计可以直接通过10-32 UNF螺栓背靠背安装于8305之上。每只标准参考加速度计出厂时均提供采用ISO 16063标准的激光干涉法校准的参考灵敏度等数据。产品货源Bruel & Kjaer的所有产品均为丹麦原产产品报价本商铺不提供网上报价,如需产品报价,请直接联系Bruel & Kjaer中国
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  • 用于实验室振动传感器精确校准的参考加速度计,8305(双端安装)和8305-001(单端安装)采用PZ 100石英晶体压电元件,其内部结构为倒置的、中心安装的压缩式设计,敏感元件受基座应变和横向振动的影响极低。8305及8305-001具有极高的长期稳定性,是世界公认的标准参考加速度计。在比较法校准时,被检加速度计可以直接通过10-32UNF螺栓背靠背安装于8305之上。每只标准参考加速度计出厂时均提供采用ISO 16063标准的激光干涉法校准的参考灵敏度等数据。产品参数型号83058305-001重量克 4026电荷灵敏度(@159.2Hz) pC/ms-20.125 pC/g 1.23频率范围(±10%) Hz 0.2-11500 0.2-10300横向灵敏度 %2高度 mm 2922.3inch1.15 0.88扳手尺寸mm16 inch 0.63最大冲击g1000顶部螺纹10-32UNF None底部螺纹10-32UNF包含的校准DPLA*在160Hz频率下的一级(标准)激光校准不确定度±0.5%频率响应曲线*DPLA是丹麦声学基准实验室 产品报价本商铺不提供网上报价,如需产品报价,请直接联系Bruel & Kjaer中国
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  • 无论在何处都可以为您提供准确、一致的测量结果无论是为了达到法规要求、生产产品、节约能源,还是为了获得一致的测量结果,您都需要确保准确度。1523/24 采用了高端仪器中使用的电流反向技术,消除了热电动势的影响,可进行精密的温度测量。在环境温度 -10 oC 到 60 oC 之间均可保证其技术指标。专用的精密电阻器和高度稳定的参考电压源使得 1523/24 的精确度几乎不受环境温度影响。与所有福禄克手持式工具一样,1523/24 参考测温仪可经受极端温度和严苛振动环境下的严格测试,因此您可以携带它们前往任意地点。悬挂选件可让您将测温仪悬挂起来,方便查看结果的同时还可以将双手解放出来,以便您从事其他工作。INFO-CON 智能PRT连接插头可确保正确的温度转换在 INFO-CON智能插头内部,存储芯片可保存连接的PRT探头的校准信息。只需插入探头,校准信息即可上传到显示屏幕,确保正确的温度转换,以进行准确、轻松的测量。探头可用密码对特定通道和参数进行锁定,以保证安全性或确保系统校准的溯源性。在可选的通用热电偶适配器中插入任何一个带有迷你热电偶插口的热电偶,即可方便地进行测量。每个热电偶适配器或标准接头通过其内部的精密热敏电阻支持参比端温度补偿 (RJC)。在实验室或现场监测温度变化趋势1523/24 测温仪的带背光 LCD 显示屏上可以轻松方便地查看趋势图形。您可以通过按钮来更改图形的分辨率。现在可以轻松查看温度何时稳定,而无需进行数据统计或长时间等待,也无需随时监测过程以确定操作正确。可根据需要记录25 个读数和相关的统计信息,方便检索。您可以在显示屏上查看数据,也可以使用 RS-232 连接和 9940 软件(免费随附)将数据上传到 PC。要监测和记录更长时间内的更多数据,请使用 PC 和可选的 LogWare II 软件。希望使用 USB 连接的用户可以选择 RS-232 到 USB 适配器。三节 AA 电池可持续使用超过20 小时,也可以使用直流电源适配器以进行更长时间的测量。可以启用或禁用节电功能,以延长电池寿命或更方便地使用设备。两种型号可让您根据具体应用需求进行选择1523 参考测温仪是通用的单通道测温仪,集测量、绘图和记录三种功能于一身。支持 PRT/RTD、热电偶和热敏电阻,可以根据工作需要灵活选择合适的探头。新的 1524 参考测温仪可让您事半功倍。两个通道、三种传感器和高速的测量可帮助您提高工作效率,让 1524 型号成为您的首选参考测温仪吧!它具备 1523 的所有功能,而且还可以记录温度。实时时钟和可记录 15,000 个带时间日期戳的测量数据的内存,意味着您只需使用这一工具即可满足所有需求。每秒记录三次或每小时记录一次,或介于两者之间的其他设置。将数据下载到 PC,以便您在需要时进行分析。应用1523/24 测温仪可用于完成校准、循环检查、生产线启动、故障排除、维护和维修等各种任务。可以方便地将它用在浴室、干式校准仪、热电偶套管、无尘室、引擎、热交换器、熔炉、冰库或其他必须进行校准、检查或维护的位置,用于参考温度测量。技术指标输入通道 1523:1 1524:2记录 1523:25 个读数,带统计信息 1524:15,000 个时间和日期戳记;25 个读数,带统计信息采样间隔(标准) 1 秒采样间隔(快速模式) 0.3 秒(请参见技术手册了解详细信息)传感器类型 PRT、RTD、热敏电阻和热电偶热电偶类型 C、E、J、K、L、M、N、T、U、B、R、S工作温度 -10 oC 到 60 oC(13 oC 到 33 oC 时准确度最佳)电源要求 3 AA 碱性电池尺寸 96 x 200 x 47 mm (3.75 x 7.9 x 1.86 in)重量 0.65 kg (1.4 lb)最佳准确度的环境条件 13 °C 至 33 °C毫伏量程及准确度 –10 mV 到 75 mV ± (0.005 % + 5 μV)电阻量程及准确度 0 Ω 到 400 Ω ± (0.004 % + 0.002 Ω) 200 Ω 到 50 kΩ± (0.01 % + 0.5 Ω) 50 kΩ 到 500 kΩ± (0.03 %)温度系数,电压 ( –10 °C 到 13 °C,+33 °C 到 60 °C) ± (0.001 %/°C + 1 μV/°C)温度系数,电阻 ( –10 °C 到 13 °C,+33 °C 到 60 °C) 0.0008 %/°C + 0.0004 Ω(0 Ω 到 400 Ω) 0.002 %/°C + 0.1 Ω(0 Ω 到 50 kΩ) 0.06 %/°C + 0.1 Ω(50 kΩ 到 500 kΩ)激励电流,电阻 1 mA(0 Ω 到 400Ω) 10 μA(0 Ω 到 50 kΩ) 2 μA(50 kΩ 到 500 kΩ) 热电偶等效温度准确度(仅限读数)类型 B 600 oC 到 800 oC 为 ± 0.85 oC 800 oC 到 1000 oC 为 ± 0.68 oC 1000 oC 到 1800 oC 为 ± 0.57 oC类型 C 100oC 到 550 oC 为 ± 0.32 oC 550 oC 到 2300 oC 为 ± 0.71 oC类型 E -200 oC 到 0 oC 为 ± 0.52 oC 0 oC 到 950 oC 为 ± 0.22 oC类型 J -200 oC 到 0 oC 为 ± 0.52 oC 0 oC 到 1200 oC 为 ± 0.23 oC类型 K -200 oC 到 0 oC 为 ± 0.61 oC 0 oC 到 1370 oC 为 ± 0.24 oC类型 L -200 oC 到 0 oC 为 ± 0.36 oC 0 oC 到 1370 oC 为 ± 0.23 oC类型 M -20 oC 到 0 oC 为 ± 0.26 oC 0 oC 到 400 oC 为 ± 0.25 oC 400 oC 到 1400 oC 为 ± 0.22 oC 类型 N -200 oC 到 0 oC 为 ± 0.72 oC 0 oC 到 1300 oC 为 ± 0.28 oC类型 R -20 oC 到 0 oC 为 ± 1.09 oC 0 oC 到 500 oC 为 ± 0.97 oC 500 oC 到 1750 oC 为 ± 0.49 oC类型 S -20 oC 到 0 oC 为 ± 1.05 oC 0 oC 到 500 oC 为 ± 0.95 oC 500 oC 到 1750 oC 为 ± 0.56 oC类型 T -200 oC 到 0 oC 为 ± 0.60 oC 0 oC 到 400 oC 为 ± 0.25 oC类型 U -200 oC 到 0 oC 为 ± 0.54 oC 0 oC 到 400 oC 为 ± 0.24 oC注 1: 以上是使用内部参比端温度补偿时的准确度。有关使用外部参比端温度补偿时的准确度,请参见技术手册。 使用选定探头时的 1523/24 准确度 (±°C)-200 °C 5616-12:0.014 5615-6:0.025 5627A-12:0.027 5610-9:无0 °C 5616-12:0.021 5615-6:0.021 5627A-12:0.049 5610-9:0.009100℃ 5616-12:0.027 5615-6:0.028 5627A-12:0.065 5610-9:0.009300℃ 5616-12:0.040 5615-6:0.043 5627A-12:0.103 5610-9:无420 °C 5616-12:0.050 5615-6:无 5627A-12:0.130 5610-9:无注 2: 包括读数准确度、探头校准和探头漂移量PRT 等效温度准确度(仅限读数)- 100 °C ± 0.0110 °C ± 0.015100℃ ± 0.019200 °C ± 0.023400 °C ± 0.031600 °C ± 0.039 热敏电阻等效温度准确度(仅限读数)0 °C ± 0.00225 °C ± 0.00350 °C ± 0.00675 °C ± 0.014100℃ ± 0.030
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  • 一、产品介绍:零度恒温器(热电偶参考端专用)是为热电偶冷端提供稳定而精确的零摄氏度设备。恒温器关键部件以热管制作,由半导体致冷器配置精密控制电路,使热管工作在零摄氏度,具有工作温度稳定,精度高、使用方便等特点。为取代冰水混合物取得零摄氏度方法的更新产品,是校验各类热电偶时必备的试验设备。广泛适合于科研、计量、工矿企业等各单位使用。二、技术参数:1、 稳定度: ±0.05℃/30min(更高精度可定制) ;2、 温控仪分辨率:0.001℃ ;3、 测孔数及孔径:6-φ9 ;4、 测孔深度:220 mm ;5、 测孔均匀度:±0.005℃ ;6、 径向温场:±0.01℃;7、 轴向温场:从阱底向上≥40mm处有±0.01℃ 的温场;8、 电源:单向交流220V , 最大功率50W ;9、 工作环境条件:环境温度0℃-32℃ 湿度 10%-80% ;10、 重量:12KG ;11、 外形尺寸:(长×宽×高)390×230×400mm 。三、符合标准:符合JJG 75-1995 标准热电偶检定规程符合JJG 141-2013 工作用贵金属热电偶检定规程符合JJG 351-1996 工作用廉金属热电偶检定规程四、工作原理零度恒温器(热电偶参考端专用)的工作原理图如图所示五、使用方法:1.接上电源,电源为单相交流220V。2.按下电源开关,恒温指示灯亮表面半导体制冷器的电源已经接通,半导体制冷器已经工作了,恒温器的工作区的温度开始下降。这时,智能温控仪上显示恒温器的温度,其上部有风排出,风冷表明风扇正常。3.当零度恒温器(热电偶参考端专用)的工作区温度下降到0度时,恒温指示灯即开始时亮时灭这时,零度恒温器已经进入恒温状态,进入恒温状态15分钟左右,零度恒温器即可作为热电偶的参考端温度使用。4.使用完毕,切断电源。六、使用注意事项:1.零度恒温器出厂时都做过运行试验,智能温控仪的各项参数都进行了优化设置。2.半导体制冷器为陶瓷器件,请勿扰强烈震动和冲击。3.当环境温度低于0℃,订货时请特别说明。
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  • 纳米空间分辨超快光谱和成像系统 “空间和时间的结合”— 纳米分辨和飞秒别的光谱超快光谱技术拥有诸多特色,例如高的时间分辨率,丰富的光与物质的非性相互作用,可以用光子相干地调控物质的量子态,其衍生和嫁接技术带来许多凝聚态物理实验技术的变革等等。然而,受制于激发波长的限制(可见-近红外),超快光谱在空间分辨上受到了一定的制约,在对一些微纳尺寸结构的材料研究中,诸如一维半导体纳米线,二维拓扑材料、纳米相变材料等,无法地进行有效的超快光谱分析。 德国Neaspec公司利用十数年在近场及纳米红外领域的技术积累,开发出了全新的纳米空间分辨超快光谱和成像系统,其pump激发光可兼容可见到近红外的多组激光器,probe探测光可选红外(650-2200 cm-1)或太赫兹(0.5-2 T)波段,实现了在超高空间分辨(20 nm)和超高时间分辨(50 fs)上对被测物质的同时表征。技术原理:设备特点和参数:→ 超高空间分辨和时间分辨同时实现;→ 20-50 nm空间分辨率;→ 根据pump光源时间分辨可达50 fs;→ probe光谱可选红外(650-2200 cm-1)或太赫兹(0.5-2 T)应用领域:→ 二维材料→ 半导体→ 纳米线/纳米颗粒→ 等离激元→ 高分子/生物材料→ 矿物质......应用案例:■ 纳米红外超快光谱分辨率为10nm的InAs纳米线红外成像,并结合时间分辨超快光谱分析载流子衰减层的形成过程参考:M. Eisele et al., Ultrafast multi-terahertz nano-spectroscopy with sub-cycle temporal resolution, Nature Phot. (2014) 8, 841.稳态开关灵敏性:容易发生相变的区域,光诱导散射响应较大参考:M. A. Huber et al., Ultrafast mid-infrared nanoscopy of strained vanadium dioxide nanobeams, Nano Lett. 2016, 16, 1421.参考:G. X. Ni et al., Ultrafast optical switching of infrared plasmon polaritons in high-mobility graphene, Nature Phot. (2016) 10, 244.参考:Mrejen et al., Ultrafast nonlocal collective dynamics of Kane plasmon-polaritons in a narrow- gap semiconductor, Sci. Adv. (2019), 5, 9618.■ 范德华材料 WSe2 中的超快研究参考:Mrejen et al., Transient exciton-polariton dynamics in WSe2 by ultrafast near-field imaging, Sci. Adv. (2019), 5, 9618.■ 黑磷中的近红外超快激发黑磷的high-contrast interband性质使其具有半导体性质,在光诱导重组过程中表面激发的电子空隙对(electron-hole pairs)~50fs并在5ps内消失参考:M. A. Huber et al.,Femtosecond photo-switching of interface polaritons in black phosphorus heterostructures, Nat. Nanotechnology. (2016), 5, 9618.■ 多层石墨烯中等离子效应衰减效应参考:M. Wagner et al., Ultrafast and Nanoscale Plasmonic Phenomena in Exfoliated Graphene Revealed by Infrared Pump?Probe Nanoscopy, Nano Lett. 2014, 14, 894.发表文章:neaspec中国用户发表文章超80篇,其中36篇影响因子10。部分文章列表:● M. B. Lundeberg et al., Science 2017 AOP.● F. J. Alfaro-Mozaz et al., Nat. Commun. 2017, 8, 15624.● P. Alonso-Gonzales et al., Nat. Nanotechnol. 2017, 12, 31.● M. A. Huber et al., Nat. Nanotechnol. 2017, 12, 207.● P. Li et al., Nano Lett. 2017, 17, 228.● T. Low et al., Nat. Mater. 2017, 16, 182.● D. Basov et al., Nat. Nanotechnol. 2017, 12, 187.● M. B. Lundberg et al., Nat. Mater. 2017, 16, 204.● D. Basov et al., Science 2016, 354, 1992.● Z. Fei et al., Nano Lett. 2016, 16, 7842.● A. Y. Nikitin et al., Nat. Photonics 2016, 10, 239.● G. X. Ni et al., Nat. Photonics 2016, 10, 244.● A. Woessner et al., Nat. Commun. 2016, 7, 10783.● Z. Fei et al., Nano Lett. 2015, 15, 8271.● G. X. Ni et al., Nat. Mater. 2015, 14, 1217.● E. Yoxall et al., Nat. Photonics 2015, 9, 674.● Z. Fei et al., Nano Lett. 2015, 15, 4973.● M. D. Goldflam et al., Nano Lett. 2015, 15, 4859.● P. Li et al., Nat. Commun. 2015, 5, 7507.● S. Dai et al., Nat. Nanotechnol. 2015, 10, 682.● S. Dai et al., Nat. Commun. 2015, 6, 6963.● A. Woessner et al., Nat. Mater. 2014, 14, 421.● P. Alonso-González et al.,Science 2014, 344, 1369.● S. Dai et al., Science 2014, 343, 1125.● P. Li et al., Nano Lett. 2014, 14, 4400.● A. Y. Nikitin et al., Nano Lett. 2014, 14, 2896.● M. Wagner et al., Nano Lett. 2014, 14, 894.● M. Schnell et al., Nat. Commun. 2013, 5, 3499.● J. Chen et al., Nano Lett. 2013, 13, 6210.● Z. Fei et al., Nat. Nanotechnol. 2012, 8, 821.● J. Chen et al., Nature 2012, 487, 77.● Z. Fei et al., Nature 2012, 487, 82.
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  • 美国斯派超科技公司(SPECTRO SCIENTIFIC),曾用名SPECTRO INC(美国斯派超公司及美国超谱公司),ISO9001:2008质量管理体系认证企业,创建于上个世纪80年代初,三十多年来,斯派超公司一直致力于油液监测设备及技术的研制与开发工作。SpectrOil系列产品采用经久耐用、可靠性高的旋转盘电极技术(RDE),对溶解或悬浮在油液中的细小颗粒进行定量分析,操作简单易用、测试可靠性高、经久耐用,可以快速检测出润滑油中的金属磨粒、污染物和添加剂元素含量,适用于商业和军用油液监测实验室。斯派超科技不断研发新产品并加强现有的产品性能,以满足客户对产品性能、检测速度及应用的需求。新型SpectrOil 100设计完全考虑了用户、应用和在用油分析实验室的需求。产品特性SpectrOil 100系列继承了SpectrOil M系列光谱仪的技术和设计理念,采用新的CCD光学系统进行设计和性能优化。 SpectrOil 100 系列油料光谱仪的检测方法及检测精度满足ASTM D6595方法标准(用旋转盘电极原子发射光谱法测定在用润滑油或液压液中磨损金属和污染物的标准方法)。提供对异常磨损进行早期预警功能润滑油检测方法及检测精度满足ASTM D6595(NB/SH/T 0865)标准燃油检测方法及检测精度满足ASTM D6728标准可直接测试油液样品,无需样品预处理单个样品分析时间只需30秒台式设计,根据需要可灵活移动仪器位置同时测量所有元素含量具有待机功能,可随时进行分析测试样品操作简单,无需特殊培训和专业背景提供标准耗材无需辅助设备或气体,只需提供交流电源即可开始工作主要功能SpectrOil 120C油料光谱仪,标准检测配置可测试24种元素如下:金属磨粒:铝-Al、镉-Cd 、铬-Cr、铜-Cu、铁-Fe、铅-Pb、镁-Mg、锰-Mn、钼-Mo、镍-Ni、银-Ag、 锡-Sn、钛-Ti、钒-V、锌-Zn、锑- Sb;污染物:硼-B、钙-Ca、钾-K、硅-Si、钠-Na;添加剂:钡-Ba、硼-B、钙-Ca、铬-Cr、铜-Cu、镁-Mg、钼-Mo、磷-P、硅-Si、锌-Zn,锂-Li附加选配的10种元素(锶-Sr、铋-Bi、砷-As、铟-In、钴-Co、锆-Zr、钨-W、铈-Ce、铌-Nb、铑-Rh)可以随时添加到检测程序中进行测试,无需硬件升级。SpectrOil 100 系列专为工业客户设计开发,满足各类实验室分析要求。可扩展防冻液及燃油检测程序,无需进行硬件升级。新的SpectrOil 100采用CCD双层像感结构,比光电倍增管系统有更好的检出限。共有15个CCD传感器放置在罗兰圆上,可检测波长范围从200nm到800nm之间的元素。相比光电倍增管(PMT)系统,全新的CCD光学系统拥有下列优势:通道数量32512参考通道4128交叉通道16128干扰元素修正16256 产品尺寸66cm(长)x40cm(宽)x74cm(高)重量75kg
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  • 载波包络偏频锁定模块(f-2f自参考)昊量光电蕞新推出封装的非线性光波导技术的载波包络偏频锁定模块(f-2f自参考),是下一代光学频率梳的重要组成模块。载波包络偏频锁定模块(COSMO)为激光频率梳的f-2f自参考提供了一种紧凑而方便的解决方案。此外,COSMO可以用极低的脉冲能量检测载波包络偏移(CEO)频率,从而实现更低的功耗或更高的重复频率。载波包络偏频稳定模块COSMO规格:输入波长:~1560 nm输入脉冲能量:200 pJ输入:PM1550光纤输出:SMA连接器尺寸:~40x25x15 毫米CEO 信噪比:35 dB载波包络偏移频率锁定模块COSMO通过光纤连接器连接激光器,并提供可连接到光梳锁相环的电输出。脉冲必须在进入载波包络偏移频率锁定模块COSMO前压缩,所以必须使用适当长度的光纤或色散补偿光纤。此外,对输入脉冲能量的控制可以优化fCEO信号的信噪比。载波包络偏频锁定模块COSMO产品参数:关于昊量光电昊量光电 您的光电超市!上海昊量光电设备有限公司引 进国外创 新性光电技术与产品!与来自美国、欧洲、日本等众多光电产品制造大商建立了紧 密的合作关系。代理品牌产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精 密光学元件等,领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国 防及前沿的细分市场比如为量 子光学、生物显微、物联传感、精 密加工、激光制造等。我们可以为国内前 沿科研与工业领域提 供完 整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务,助力中国智 造与中国创 造!
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  • 参考电极 400-860-5168转1674
    These electrodes relay on a unique and revolutionary technology developed exclusively by Innovative Instruments, Inc. This technology enabled us to build micro-pH sensors with unmatched performance in terms of sensitivity and stability. Virtually, we can turn anything into a pH sensor. Tip diameters starting at 0.400 mm, including the reference electrode, are available. Custom sizes are also available upon request. FeaturesAll plastic construction, unbreakable and tough. No glass.Utilize our exclusive Leak-Free non-porous reference junction eliminating the problems of clogged junction and adsorption of proteins and surfactants.Very fast response time, under 3 sec even for 9 pH units change.Superior chemical resistance, it can be used in hydrofluoric acid solution!Flexible version is available for the use in restricted areas such as a microscope stage.Maintenance free. Dry or wet storage. No filling solutions needed.Long Working life.As small as 250 nanoliter sample volume can be used.Can be used with any pH meter (BNC connector).Comparison GuideFeaturepH Sensor ModelAMANI-650AMANI-1000AMANI-1000-LTip Diameter (mm) 0.65 1.0 1.0 Tip Length (mm) 20 20 75 Depth of Immersion (Micrometer) less than 100 less than 100 less than 100 Minimum Sample Volume (Nano-Liter) 250 500 500 Slope Nernstian Nernstian Nernstian Construction Material All plastic All plastic All plastic Connector BNC BNC BNC
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  • 心齐2019小型超声波清洗机参考设备产品特点:1、超声波工作时间1-50分钟任意可调,适合不同场合使用2、清洗温度在20-110范围内任意可调3、清洗篮采用不锈钢网筛氩焊成形,提高清洗效果4、清洗器外壳采用优质不锈钢板制作,美观大方5、清洗槽采用优质不锈钢一次冲压成形,无焊接处,防水性能更好6、采用优质进口部件,超声波功率转换效率高、功率强劲、清洗效果好深圳市心齐超声波设备有限公司公司主营产品:超声波清洗机丨工业纯水机丨工业冷水机
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  • TL2-A精密台式实验室参考温度计 – 双通道和 USB 数据记录器描述TL2-A 是一款多功能 2 通道精密台式温度计,提供方便的 USB 接口,用于数据记录和传感器配置。 TL2-A 是一台仪器中的两个温度计,具有两个通道,允许在不同位置同时测量温度。 TL2-A 非常适合在需要高精度的设备中建立温度可追溯性。 TL2-A 也非常适合计量应用和作为校准参考温度计。订购 TL2-A 时可以附带传感器,或者用户也可以提供自己的传感器。 传感器系数可以从 PC 输入,从而可以轻松地从日常使用的 RTD 更改为 SPRT,包括用户可选择的 ITS-90 或 Callandar-Van Dusen 方程。 装置配有 20 至 425 欧姆的 5 点电阻校准。 通过可用的 PRT,ThermoProbe 可以提供温度参考系统。 标准传感器是 100Ω 绕线铂 RTD,采用 13 英寸长的 1/4 英寸不锈钢护套。 传感器配有标准 5 英尺电缆和 DIN 插头。 可根据要求提供定制配置和温度范围。直观的用户界面可以轻松配置温度单位、显示分辨率和继电器输出。 最低、最高和平均温度会自动存储到内存中以供以后参考。 该界面允许查看最高、最低和平均读数、传感器漂移的零偏移调整以及 C、F、K 和欧姆读数。 多功能数据记录功能可用于将数据发送到 PC 或存储到 USB 闪存驱动器。TL2-A 由坚固的粉末涂层钢和铝制成。 大型背光显示屏易于从远处读取。 借助所提供的交流电源,TL2-A 非常适合台式或实验室应用。 包括一年保修、校准报告、USB 电缆、闪存驱动器、接口软件和特定国家/地区的电源适配器。 应用领域实验室、温度、USB、探头、校准、参考、计量、NIST、可追溯、认证、API、ASTM、热电偶套管、温度浴、干块、干井、蒸馏、熔点测试、闪点测试、数据记录器、倾点 测试、醒酒器、制药、食品、乳制品、数字、温度校准器、精密 展示带背光的大型 0.5 英寸(1.3 厘米)字符 LCD可切换单位 °C、°F、°K 或 Ω欧姆分辨率 0.01、0.001 或 0.0001 用户功能可切换单位 °C、°F、°K 或 Ω欧姆分辨率 0.01、0.001 或 0.0001零偏移调整温度触发 SPDT 继电器输出(通道 1)存储并显示平均、最低和最高读数。箭头表示温度升高/降低。 PC 和数据记录功能数据采集至 USB 闪存驱动器并以 CSV 格式保存(逗号分隔)通过超级终端将数据采集至 PC可选择的记录间隔和轮询模式2通道传感器系数输入 建造坚固的粉末涂层钢制外壳,带有硅胶按钮和耐用的聚酯图形窗口。标称机身尺寸:7.25 x 5.25 x 2.25 英寸(18.4 x 13.3 x 5.7 厘米)标称重量:1 磅。 10盎司(0.74公斤) 反抗标准 5 点校准:电阻精度20Ω+/-0.002°C100Ω+/-0.007°C190Ω+/-0.015°C265Ω+/-0.021°C425Ω+/-0.032°C 温度分辨率:0.001度范围:-328°F 至 1764°F(-200°C 至 962°C)- 取决于传感器的选择ITS-90 或 Callandar-Van Dusen 线性化方程TL2-A 和 PRT 系统的工厂校准可用于-40°F 至 572°F(-40°C 至 300°C)范围标准校准精度:-30 至 320°F 范围内为 ±0.06°F-36 至 160°C 范围内为 ±0.03°C提供定制校准点和范围NIST 可追踪测试报告 传感器/探头接受 100Ω 和 200Ω RTD、PRT 或 SPRT4 线带屏蔽,5 针公 DIN 连接器 标准传感器:– 100Ω 绕线铂 RTD– 不锈钢 1/4” 护套,长 13”。– 提供标准 5 英尺电缆和 DIN 插头。– 可根据要求提供定制配置。– 建议的最小浸入深度:4.7 英寸(12 厘米) 力量90 ~ 264 VAC 外接电源适配器– 可根据要求提供特定国家/地区的适配器 校准NIST 可追踪电阻和温度 笔记规格可能会发生变化,请参阅数据表了解最新信息。可根据要求提供定制范围和配置。
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  • 4204型标准声功率源,具有非常好的稳定性。它坚固、紧凑,适用于实验室或现场使用。它可作为按照ISO 3741、ISO 3747标准比较法测量声功率时的参考声功率源,也可用于按照ISO 3744标准测量声功率时测量环境修正系数K2 ,还可用于测量房间的吸声量和隔声量。 产品货源Bruel & Kjaer的所有产品均为丹麦原产产品报价本商铺不提供网上报价,如需产品报价,请直接联系Bruel & Kjaer中国
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  • 了解更多产品信息及价格请联系我们 联系方式: 毕先生 程女士雷尼绍光栅尺配件 原装 参考零点RGM22S/A-9531-0250 端压片 RGC-F/A-9523-4015 限位开关RGP22S A-9531-0251
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  • 科迈斯K-9000手持XRF光谱仪秉承科迈斯多年的手持式X荧光光谱仪研发经验,科迈斯K-9000手持式分析仪引入数字多道技术,使检出限更低、稳定性更高、适用面更广,性能媲美台式机;土壤重金属、合金、矿石三个模式自由切换,小巧便携的体积在合金领域、矿石领域、以及地质勘察领域充分发挥作用。K-9000性能优势1、X射线管光源、多光束过滤技术、以及惠普个人数位助理技术(惠普掌上型电脑),从而使其采测范围、检测速度、检测精度都非常出色,并具有极好的升级潜力。2、使用了先进的和多用途的x射线资料模式采用康普顿常态化校正方法,可以利用“内部标准”来进行定量分析,而不需要进行专门的校正。3、基本参数分析:采用半定量分析方式,适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。4、实验校正法:利用“校正曲线”进行校正,允许使用用户产生的校正曲线。5、配备了光谱高点识别软体,可在显示幕查看光谱6、对比光谱,参考内置标准完成比较分析。
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  • neaSCOPE纳米光谱与成像系统neaSCOPE是德国neaspec公司推出的全新一代散射式近场光学显微镜(简称s-SNOM),加载了全新技术,拓展了产品功能,以满足客户多样的实验需求。基于化的散射式核心设计技术,neaSCOPE大地提高了光学分辨率,并且不依赖于入射激光的波长,能够在可见、红外和太赫兹光谱范围内,提供优于10 nm空间分辨率的光谱和近场光学图像。neaSCOPE同时支持s-SNOM功能与纳米红外(FTIR)、针增强拉曼(TERS)、超快光谱(Ultrafast)和太赫兹光谱(THz)进行联用,实现高分辨光谱和成像。由于其高度的可靠性和可重复性,neaSCOPE已成为纳米光学领域热点研究方向的选科研设备,在等离子激元、二维材料声子化、半导体载流子浓度分布、生物材料红外表征、电子激发及衰减过程等众多研究方向得到了许多重要科研成果。设备特点:行业的针增强技术,高质量的纳米分析实验数据。功能多样、可靠性高,已得到大量发表文章的印证,在纳米光学领域有很深的影响力,是国内外实验室的头号选择。软件使用方便,提供交互式用户引导功能,新用户也能快速上手。流程化的软件界面,逐步引导用户轻松完成实验操作。采用模块化设计,针对用户的实验需求量身定制配置,同时兼顾未来的升需求,无需重复购置主机。s-SNOM基本原理:一个被照明的颗粒会在其周围形成增强的光场,而这个近场会被其附近的样品改变,这种近场互相作用会导致在远场接受到的散射光带有样品局部的光学性质。当一束激光(可见,红外、太赫兹)聚焦到一个标准金属涂层AFM针上时,会在针点形成一个比激发波长小几千倍,尺寸只由针曲率半径决定的纳米焦点。这个纳米焦点别用来局部探测样品,通过记录探针扫描样品过程中的散射光可以获得近场光学成像。设备型号:所有产品都包含支持红外、太赫兹和可见光波长范围的纳米尺度成像和光谱的化订制AFMIR-neaSCOPE基于AFM 针的激光诱导光热膨胀(PTE+)的纳米红外成像和光谱。VIS-neaSCOPE+s局部电磁场偏振分辨的近场成像(振幅和相位)。IR-neaSCOPE+s探测商用AFM针的弹性散射光,实现纳米红外成像和光谱。cryo-neaSCOPE+xs低温环境下的纳米尺度光学成像和光谱THz-neaSCOPE+xs纳米尺度太赫兹(THz)近场成像和光谱平台IR-neaSCOPE+fs10fs 时间分辨率和 10nm 空间分辨率的超快泵浦光谱。IR-neaSCOPE+TERsnano-FTIR与nano-PL和TERS相结合,突破性的纳米尺度光谱探测技术。Comparison Table参考不同型号功能,选择适合您研究需求的neaSCOPE。标准原子力显微镜功能光热膨胀功能轻敲式原子力红外吸收光谱散射式近场光学成像与光谱近场透射模式纳米傅里叶红外光谱与成像近场泵浦-探测高速全息成像纳米太赫兹时域光谱针增强拉曼/纳米光致发光开尔文探针力、导电力、压电力、探针力显微功能Available for all room-T systems共聚焦显微功能Upgrade Available
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  • 傅里叶变换光谱分析仪(FT-OSA) 特性基于迈克尔逊干涉仪的OSA波长范围:1000 - 2500纳米分辨率:在1550纳米光波下为60皮米附带预装软件的台式计算机Thorlabs公司的光谱分析仪(OSA)是测量光源光功率与波长函数关系的通用仪器。该仪器功能丰富,应用广泛,可用来分析宽带光谱信号、增益芯片的F-P腔模数或长相干长度的单模外腔式激光器。一般的OSA基本上都是基于光栅的单色仪。而Thorlabs公司的OSA是一种傅里叶变换光谱分析仪(FT-OSA),它在一个推/拉结构中采用了一个扫描迈克尔逊干涉仪,如下图所示。该方法使这种全功能OSA还可以作为一个高精度的波长计。Thorlabs公司的FT-OSA的光路图,详细说明了双逆向反射镜设计原理。点击放大设计原理OSA203具有一个FC/PC型光纤输入端口,可以使用最大直径为Ø 50微米的单模和阶跃折射率光纤。如有需要,我们也可以提供带其它接口的特殊设计OSA。该仪器设计可以测量连续波光源,但也可以用于一些采用脉冲光源的应用之中。在输入信号被准直后,信号光被一个分束器分为两路分立的信号。这两路光的光程差介于0到± 40毫米之间。然后这两路准直的光信号在到达分束器后发生干涉。右图所示的探测器部件记录干涉图样,通常称之为干涉图。该干涉图是输入光光谱的自相关波形。通过对该波形进行傅里叶变换,就可以恢复出光信号的光谱信息。最后得到的光谱信息具有高分辨率和很款到波长覆盖范围,并且光谱分辨率与光延迟范围相关。光谱的波长范围由探测器和光学镀膜的带宽所限制。此外,我们系统的精度通过附带的稳频HeNe参考激光器保证,该激光器可以精确地测量光路长度的细微变化,使系统可以连续地进行自主标定。该过程为精确的光学分析提供了保证,这是基于光栅的OSA所不能实现的。Item #OSA203NotesWavelength Rangea1000 - 2500 nmDetector LimitedSpectral Resolution60 pm @ 1550 nm / 0.25 cm-1Broadband ModeWavelength Meter Resolution0.2 pmWavelength Meter Mode Linewidth 小于10 GHzDisplay Resolutionb9 DecimalsWavelength Meter ModeSpectral Accuracyc± 4 pmBroadband ModeWavelength Meter Accuracyc± 2 pmWavelength Meter ModeSpectral Precisiond± 1 pmBroadband ModeWavelength Meter Precisione0.2 pmWavelength Meter ModeInput Power (Max)10 mWCW SourcePower Level Accuracyc,f,g± 1 dBSignal-to-Noise Ratio40 dBLevel Sensitivityg,h-70 dBmRecommended Input Fiber SpecificationsAll Singe Mode FibersStep-Index Multimode Fibers with小于Ø 50 mm Core and NA小于0.22Dimensions320 mm x 149 mm x 475 mm (12.6" x 5.9" x 18.7")Input Voltage100 - 240 VAC, 47 - 63 Hz, 250 W (Max)Operating Temperature10 ° C to 40 ° CRelative Humidity小于80%, Non CondensingStorage Temperature-10 ° C to 60 ° COptical Power (Max)20 mW/13 dBma 我们也提供其它探测器。b 可以在0-9之间进行设置,并带有自动选项可以估算相关的小数位。c需要经过30分钟的预热。带有FC/PC接头的单模光纤。d 光谱精度是指重复性,通过重复性可以用峰值搜索工具测量光谱特性。e 采用相同的输入单模光纤进行所有测量。f在绝对功率模式中的位准确精度,填零= 2, 变迹= Hann。g 对于1000 - 2000纳米光波下的OSA 203。h 在用最高分辨率、最高灵敏度和填零=0时的可探测能量/光谱数据点。干涉图数据采集参考激光的干涉图用来记录一个16位模拟-数字转换器(ADC)的时间,从而采样能以一个固定、等距离的光程长度间隔进行。HeNe参考条纹周期经过数字化处理,它的频率经过位锁回路(PLL)进行倍增,极大地提高了采样分辨率。多重PLL滤波器使平率倍增可以设置为16、32、64或128.在128倍倍增设置时,数据点的采集间隔约为5纳米。多重PLL滤波器使用户可以针对系统测量选择优化参数,如提高速度、减小灵敏度、减小分辨率,或降低速度、提高灵敏度、提高分辨率等。高速USB连接可以将器件的干涉图通过乒乓传输方案以6MB/s的速度进行传输,实现非常大的数据流传输。一旦获取数据后,经过优化能够充分利用现代多核处理器的OSA软件就可以进行一系列计算来分析和调节输入波形,从而在快速傅里叶变换(FFT)的输出端获得最高的分辨率和信噪比(SNR)。分析仪中的探测器放大器噪声和失真非常低,并带有自动增益控制,可以提供大动态范围,使ADC以最佳工作状态工作,并保证在高达10毫瓦的输入功率时能够具备出色的SNR。对于低功率信号,该系统可以探测窄带光源发出的低于100皮瓦的信号。其平衡探测构架通过使Thorlabs FT-OSA可以应用所有通过干涉仪的光,改善系统的SNR,并同时防止共模噪声。典型干涉图点击放大干涉图数据处理仪器产生的干涉图从50万到1600万个数据点不等,这取决于所采用的分辨率和灵敏度模式设置。FT-OSA软件可以分析输入数据和从内部数据库智能选择优化FFT算法。通过采用异步多线程的方法,经过多个用来产生光谱信息的处理阶段来采集和处理干涉图数据,可以实现额外的软件性能。软件的多线程构架可以通过灵活适应计算机性能来平行管理多个操作任务,这样就保证了处理器最大的带宽使用。我们的每个FT-OSA仪器都附带一台台式计算机,该计算机经过进行挑选,能够保证最优的数据处理和用户界面操作。波长计模式W当分析窄带光信号时,FT-OSA会自动计算输入信号的中心波长,并显示在当前整体光谱的主显示区下方的窗口中。中心波长&lambda 是通过计算从输入和参考激光得到的干涉条纹数来计算得到的,具体如下式:其中,m0 为HeNe参考激光的条纹数,m为位置输入信号的条纹数,n0 为参考激光波长下的空气折射率,n&lambda 为波长&lambda 下的空气折射率,而&lambda 0 则为HeNe参考激光的真空波长。FT-OSA作为波长计时的分辨率基本上比系统作为宽带分光仪时要高,这是因为该系统可以根据锁相回路倍增器设定的极限来分辨条纹的边缘。在实际应用中,系统的分辨率由未知输入信号的带宽和结构、探测器的噪声、参考激光器的漂移、干涉仪准直和其它系统错误所限制。经过测试该系统在近红外波段可以实现低于± 0.2皮米的测量精度(请参考规格标签了解详细规格)。其软件可以评估未知输入光的光谱,从而确定合适的显示分辨率。如果数据不可信,如多峰值光谱,该软件会关闭波长计模式,从而防止错误结果的产生波长校准和精度这些FT-OSA仪器结合了真空波长为632.9913纳米的稳定HeNe参考激光器。采用稳定HeNe激光器保证了长期波长精度,这是因为稳定HeNe激光器的动态是已知的并可以对其有效地进行控制。这些仪器在出厂前经过对准,从而使参考光束和未知输入光束在干涉仪进行扫描时经历相同的光程长度变化。任何残余对准误差对波长测量的影响都小于0.5皮米;输入光束的瞄准精度是由高精度陶瓷插座和鲁棒干涉腔设计保证。该干涉仪中没有采用任何光纤。参考激光器在空气中的波长针对每种测量都通过配合仪器内部传感器进行温度和压力的数据采集,用Eldé n公式进行了仔细计算。对于用户在可见光波段光谱的操作,相对湿度(RH)对空气折射率的影响会改变测量的精度。为了补偿这种效应,其软件可以手动设置相对湿度。在红外波段,湿度的影响效应可以忽略。动态范围OSA的动态范围被定义为本底噪声,即测量窄带激光光源时峰值为500GHz。下表提供了1500纳米下OSA203动态范围的的一些实验值。 From PeakDynamic Range0.2 nm (25 GHz)28 dB0.4 nm (50 GHz)30 dB0.8 nm (100 GHz)30 dB4 nm (500 GHz)40 dB8 nm (1000 GHz)45 dB绝对功率和功率密度光谱的纵轴可以显示为绝对功率或功率密度,它们都可以用线性或对数刻度进行标示。在绝对功率模式下,总功率是基于仪器对某特定波长的实际分辨率进行显示的;我们推荐只在测量窄带光谱输入光时采用该设置。对于宽带器件,我们推荐使用功率密度模式。在功率密度模式下,纵轴是以每单位波长的功率值进行显示的,而单位波长则基于固定波长带并且与仪器的分辨率设置无关。分辨率和灵敏度OSA等仪器的分辨率取决于干涉仪中两路光路的光程差(OPD)。用波数(单位为厘米的倒数)来解释该参数比用波长或频率更易于理解。假设您有两个光源(激光),它们的中心波长非常相近:分别为6500 cm-1 和6501 cm-1。为了在干涉仪中区分它们的信号光,其中一路光需要从零光程差(ZPD)点移动1厘米。我们的OSA系统可以进行± 4厘米的光程差变化,使其能够分辨最小为0.25 cm-1的光谱差异。该仪器的分辨率可以由下式进行计算其中&Delta &lambda 为分辨率(该仪器最大分辨率为0.25 cm-1),单位为皮米,光程差&Delta k的单位cm-1,波长&lambda 的单位为微米。用OSA软件可以调高或降低仪器分辨率。高分辨率对应反射器的± 1厘米(对应光程差变化为± 4厘米)的最大反射器位移,而低分辨率则对应应反射器的± 0.25厘米(对应光程差变化为± 1厘米)的反射器位移。通过OSA软件,光谱计算中使用的干涉图长度可以被分割,从而将分辨率降低到用户的期望值。仪器的灵敏度取决于传感器电路中采用的电子增益。由于提高增益会使探测器的带宽降低,因此在更高增益设置下一起将降低运行的速度。OSA在运行速度更低时还可以采样更多的数据点/OPD。数据采样通过内部稳定HeNe激光器的参考信号进行触发。其中一个位相锁定回路可以对HeNe的周期倍增到128倍,从而实现最高的灵敏度模式。该模式对于被测光为宽带光和强度较弱时是非常实用的。这样一来,在ZPD点的干涉图中,很短的间隔就包含了所有光谱信息。这通常被称为零点饱和。基本设置Thorlabs的OSA光谱分析仪可以通过一对折叠镜和RC08FC-P01反射式准直器来分析自由空间光源。在本例中,我们将1532纳米氦氖激光器发射光束耦合进OSA202光谱分析仪。 点击放大 耦合设备 点击放大
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