透射式

透射样品掉进样品室（整个样品和铜环），请问高手这个需要开镜筒吗？开镜筒是不是很复杂，一般请透射公司来开镜筒的费用是多少？电镜的型号是Philips CM200 。

请教：高分辨成像时，入射电子束穿过薄晶体形成弱衍射束与透射束，衍射束与透射束相位相差π/2，各位如何解释为什么？衍射束相位是滞后透射束π/2还是超前π/2。在欠焦位置，衍射束光程比透射束多1/4倍波长位置，其相位是否又比透射束超前（增加）π/2？在正焦点位置，教材上好像说，衍射束位相比在从样品出发时的增加π，为什么不是增加2π？好像光束从样品经过透镜聚焦到达像平面（正焦位置）相位不变（即2π的整数倍）。高分辨像最佳欠焦位置的暗点可否解释为原子列位置的透射波与邻近原子间隙位置的衍射波的合成波的强度，亮点为原子间隙位置的透射波与邻近原子位置的衍射波的合成波的强度？透射波与衍射波此时相位相同，合成波振幅大小=透射波与衍射波振幅大小之和。因为原子间隙位置的透射波强而衍射波弱，原子列位置的透射波弱而衍射波强，所以对应原子列位置的合成波强度较弱，形成暗点；而对应于原子列间隙位置的合成波强度较强，形成亮点。

如题，X射线衍射仪通常我们都是用反射模式下做的，不知道透射模式的哪些型号可以做呢？另外，我不太理解反射模式和透射模式在本质上有什么区别？透射模式是否可以有一些独特的优势，比如说测什么透射模式能做，而反射模式不能做呢？请高手给解释一下，最好能推荐一些介绍透射模式的参考资料，多谢啦

测试薄膜的透射率是怎么测量的？用分光光度计测试的透射率包含基体的透射率吗？我在不同的实验室做薄膜透射率时，有的老师告诉我可以在参比池放一个空白的基板作参考，这样可以测出透射率为薄膜的透射率，有的老师告诉我不可以这样做，因为对于高反膜这样的后果是薄膜的透射率将高于1。我想问一下大家是怎么测试薄膜的透射率的！

如题分光光度计可以测试薄膜反射率和透射率吗？要光谱反射和透射的，其中透射需要可以测试漫透射材料，求推荐仪器，波长范围为400到1100

哪位大侠知道?物体的反射与透射到底是什么关系呢能不能从透射计算出反射呢

这个可是国内第一家哦，耗时2年，终于下来了 单晶硅红外透射比标准物 GBW(E)130413、 标准值 不确定度单位波长（cm-1）(4000)0.537 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(3500)0.538 0.007 红外透射比值波长（cm-1）(3000)0.540 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(2500)0.541 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(2000)0.542 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(1300)0.519 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(1000)0.500 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(500)0.456 0.008 红外透射比值以前还有红外透射比标准物质 GBW(E)130391、不过那是10%的

需要透射电镜工程师，哪位老师会或者推荐请联系15062357393

厦门大学材料学院电镜实验室因工作需要，招聘透射电子显微镜工程师1人。岗位职责：1. 透射电子显微镜的操作使用、故障诊断与日常维护；2. 用户管理、操作培训和技术服务；3. 承担或协助实验室安排的电镜样品制备和测试分析等工作；4. 完成实验室负责人交办的其它工作。任职条件：1. 熟悉透射电镜的操作与原理，具备透射电镜样品的制备经验；2. 材料科学或凝聚态物理等相关专业背景，硕士以上学历，良好的英语读写和交流能力；3. 有透射电镜操作和维护工作经历，或具备丰富的电镜制样经验者优先考虑；4. 年龄一般不超过35岁。相关待遇： 此为编制内工程师岗位，相关待遇按厦门大学有关规定执行。应聘者请发送个人简历至王老师 mswang@xmu.edu.cn，邮件主题注明“应聘电镜工程师“

厦门大学材料学院电镜实验室因工作需要，招聘透射电子显微镜工程师1人。岗位职责：1. 透射电子显微镜的操作使用、故障诊断与日常维护；2. 用户管理、操作培训和技术服务；3. 承担或协助实验室安排的电镜样品制备和测试分析等工作；4. 完成实验室负责人交办的其它工作。任职条件：1. 熟悉透射电镜的操作与原理，具备透射电镜样品的制备经验；2. 材料科学或凝聚态物理等相关专业背景，硕士以上学历，良好的英语读写和交流能力；3. 有透射电镜操作和维护工作经历，或具备丰富的电镜制样经验者优先考虑；4. 年龄一般不超过35岁。相关待遇： 此为编制内工程师岗位，相关待遇按厦门大学有关规定执行。应聘者请发送个人简历至王老师 mswang@xmu.edu.cn，邮件主题注明“应聘电镜工程师“

某人误将参比溶液的透射比调至98%,而不是100%, 在此条件下测得有色溶液的透射比为36%,则该有色溶液的正确透射比应为？

某同学进行吸光光度分析时，误将参比溶液调至90%而不是100%，在此条件下，测得有色溶液的透射比为35%，该有色溶液的正确透射比是多少？A 36.0% B. 34.5% C.38.9% D. 32.1%答案是C，请问这是怎么算出来的？

随着电镜附件的增加，边缘分析技术越来越多，好像令人眼花缭乱，但是透射电镜本身的一些基本功能还是没有多少人能做好，那么透射电镜的基本操作模式都有哪些？不同的样品能得到什么样的信息呢？比如我前面讲到SAED的几种花样，信息很丰富，而且我讲了那么多，还是没有完全讲完，大家多多补充！！[em05]

大家好。单位考虑买一台场发射的透射电镜。要带stem和eels，最好还带能量过滤。请朋友们推荐。基本在jeol和fei之间选。由于没有用过场发射的透射。请大家提供参考意见。还有就是要买哪些附件。比如等离子清洗。低温双倾台。特别请用过的朋友发表高见。因为看厂家的广告不太好判别。如果可能的话，我们可能会到贵单位调研一下。谢谢大家了！

最近发现用TU-1800SPC在800-1100nm做近红外透射分析很好用。只要对样品室稍加改动，就可以测定固体样品的近红外透射光谱。这类仪器价格非常低，且又有紫外-可见光谱的功能。希望有这方面经验和兴趣的朋友一起交流交流，提高仪器使用的效率。

单位有台HRTEM，JEM2100的，六硼化镧灯丝现在准备买一台JEM2100F，就是场发射超高分辨透射电镜，大家都说这个好，发文章也是更倾向于用这个，可是究竟好在哪里呢，目前我只是很浅显的知道，2100F，是把灯丝换成了场发射，分辨率会提高，除此之外还有什么优点呢，更深层次的优势大家都进来说说。还有配上STEM配件，又有哪些特殊用途呢？

紫外可见分光光度计作为化学物质定量分析的常用仪器，广泛应用于科研、生产、国防等各个领域。为了保证仪器测量数值的准确可靠，必须依据JJG178-2007《紫外、可见、近红外分光光度计》检定规程进行检定。然而在使用和检定过程中，常遇到仪器透射比示值发生偏差或检定结果有所不同，对此，笔者从以下三个方面对产生偏差的原因进行分析。一、从仪器和样品在光路上分析分光光度计的基本原理是，溶液中的物质在光的照射激发下，具有选择性吸收现象，可对物质进行定性和定量的分析。它符合朗伯-比耳定律:式中:T——透射比；I——透射光强度；I0——入射光强度；A——吸光度；K——吸收系数；C——溶液的浓度；L——溶液的光径长度。而朗伯-比耳定律应用的条件是:一是必须使用单色辐射光；二是吸收发生在均匀的介质；三是吸收过程中，吸收物质互相不发生作用。在实际工作中，吸光度与浓度之间的线性关系常常发生偏离，其主要因素有以下几点:1.仪器的非单色光影响在紫外可见分光光度计中，使用连续光源和单色器分光，得到的不可能是真正的“单色光”。为了保证足够的光强，分光光度计的狭缝必须保持一定的宽度。因此，由出射狭缝照射到被测物质上的光，并不是理论上要求的单色光，而是一个有限宽度的谱带，称为光谱带宽。来自出射狭缝的光，其光谱带宽大于吸收光谱谱带时，照射在样品上的光中就有非吸收光。随着光谱带宽的增大，吸收光谱的分辨力下降，而偏离朗伯-比耳定律。非吸收光愈强，对测定灵敏度的影响就愈严重，并且随着被测样品浓度的增加，非吸收光的影响增大。当吸收很小时，非吸收光的影响可以忽略不计。2.仪器的非平行光影响当入射光与吸收池的光学面不垂直时，使通过样品的实际光程大于吸收池的厚度。但这种情况对测量影响很小，一般可忽略不计。而此时未通过样品的光在比色架上或样品室内发生反射、散射现象，也会导致偏离朗伯-比耳定律。3.样品的散射影响由于样品的不均匀也会引起对朗伯-比耳定律的偏离。当被测样品中含有悬浮物或胶粒等散射质点时，入射光通过样品就会有一部分光因散射而损失掉，使透射光强度减小，实测吸收光度增大，导致偏离朗伯-比耳定律。4.样品的荧光影响某些物质吸收光以后，会辐射出波长与入射光波长不同的荧光，荧光的存在将导致朗伯-比耳定律失效。5.样品的化学因素在被测样品溶液中，被测组分发生离解、缔合、光化等作用，或与溶剂相互作用，就会使被测组分的吸收曲线明显改变(如吸收峰的形状、位置、强度以及精细结构都会发生变化)，导致偏离朗伯-比耳定律。6.仪器的机械因素仪器生产时比色皿架的安装有微小偏差(不影响正常使用)。仪器比色皿架与比色架底板安装有微小偏移，使光束不能完全透过比色皿射入检测器，而射在比色皿以外部位，造成有效光能的损失，使入射的单色光强度发生变化，从而显示的透射比值偏离了标准值。还有的是仪器光门闭合不良导致漏光，而使透射比值发生偏离。二、从检定所用的标准器上分析检定分光光度计透射比值所用的标准物质，有用于检定可见光区的中性滤光片，以及用于检定紫外光区的标准中性滤光片或标准溶液。1.标准中性滤光片用于检定可见光区的中性滤光片。每片滤光片的证书都给出了可见光区3个波长(通常为440nm、546nm、635nm)及相应光谱带宽下的透射比，其相对不确定度为0.5%，其透射比名义值为10%、20%、30%等。用于检定紫外光区的标准中性滤光片，每片滤光片的证书都给出了紫外光区4个波长(通常为235nm、257nm、313nm、350nm)及相应光谱带宽下的透射比，其相对不确定度为0.5%。滤光片本身的结构原因:以上光谱中性滤光片都是经过长期稳定性考核可作为标准物质使用的，这里要提的是这种标准滤光片其本身结构杂散光、波长误差、样品不均匀等所带来的影响在检定时是不予考虑的，但在引起透射比示值偏差的不确定度分析中是要考虑的因素。另外，标准滤光在加工质量上，因其边缘是由金属外壳包装固定，当外壳出现细微变形(不影响正常检定)，这种情况下的透射比示值就可能脱离实际测量值。同时，当标准滤光片的表面有灰尘或其他脏物时，也直接影响示值准确性，因此在实际工作中对光谱中性滤光片应注意保持清洁。滤光片的方向性问题:有些滤光片是有方向性的，所以检定时应按标准滤光片上所指示的方向放置于比色架中，否则也可能引起偏差。2.标准溶液紫外分光光度标准溶液包括一个空白及一个吸光度(透射比)的标准溶液，GBW(E)130066为K2Cr2O7的溶液。当用液体标准物质作为标准器进行检定时，必须使用标准石英吸收池，其两透光面的垂直距离为(10.00+0.002)mm，且两透光面的平面性和平行性均需严格控制。使用时可用同一吸收池作空白与标准的测量，以便得到溶液的净透射比。如果使用不同的吸收池作空白与标准的测量时，应严格控制吸收池的配套。最好对配套误差进行修正。标准溶液的温度也会影响透射比示值，标准溶液的证书也给出了不同温度下标准溶液的透射比值。而检测室内环境的温度与标准溶液的温度并不完全一致，这一偏差也影响了透射比示值的测量准确性。三、从仪器的样品室及人员操作上分析透射比准确度是指仪器透射比示值与透射比约定真值间的一致程度。透射比重复性是指对仪器透射比示值进行多次测量所得结果之间的一致性。在对透射比示值检定时，除了要按JJG178-2008的要求进行检定外，还应注意:1.有的仪器未达到一定预热时间，会造成光电系统不稳定，透射比值会发生漂移，所以要按说明书的要求，对仪器进行必要的预热。2.有些国产设备中上限位器的作用是由底架的弹珠决定的，即使上面的位置对好了，还要注意弹珠的定位手感，这一点十分重要。尤其是在30%挡，最容易拉过一点点，透射比的偏差是很大的，检测时要给予充分考虑。3.有的仪器由于长时间使用后会使光门组件损坏，使光门的闭合不良，用手轻压盖板，仪器示值会发生明显变化，这会造成透射比值的重复性偏差，此时需对光门组件进行调整方可使用或检定。4.对于有方向性的标准滤光片，检定应按方向把标准滤光片放置于样品室比色架上。四、结束语通过上述对影响分光光度计透射比值偏差的各类原因分析，我们知道透射比示值是分光光度计的一项重要技术指标。我们在检定、检修或使用分光光度计的过程中，当透射比示值发生偏差或超标时，应考虑上述因素的影响，以免作出误判或错误的检测结论。而在对分光光度计透射比偏差的不确定度来源分析中也应视情况考虑上述因素的影响。(选自网络)

在使用指定的灯箱 LV-LH50PC 时，通过操作位于显微镜左侧的落射／透射选择开关可在落射照明与透射照明之间选择照明光路。每次您推动该开关，照明即切换，同时所选照明的指示器开启。金相显微镜光控制 在将指定的灯箱 LV-LH50PC 用作光源时，用落射／透射选择开关选择的照明光可通过旋转亮度控制手轮进行控制。* 在使用外部光源时，亮度通过外部光源或显微镜上的 ND 滤光片进行控制。金相显微镜开启／关闭灯具 照明可通过亮度控制手轮来开启／关闭。在使用指定灯箱 LV-LH50PC 的情况下，将亮度控制手轮旋转到远侧（逆时针方向）并设置在 OFF 位置时，用落射／透射选择开关选择的卤素灯将关闭。金相显微镜电源指示器 电源指示器的颜色随卤素灯的状态而变化。当卤素灯亮起时，它为绿色。当亮度控制手轮设置在 OFF 位置时，它则为橙色。

请问一下各位行家，场发射透射电镜和普通源透射电镜有什么区别？含有生物样品一般用什么电镜比较合适，要求能够比较清楚地分辨清楚细胞器。

1、透光率(%T)转化为吸光度：吸光度=2-log(%T)2、常用吸光度(A)表示物质对光的吸收程度，其定义为: A=lg(1/T)=lg(I0/It) 则A值越大，表明物质对光吸收越强。T及A都是表示物质对光吸收程度的一种量度，透射比常以百分率表示，称为百分透射比，T％；吸光度A为一个无因次的量，两者可通过上式互相换算。 标准滤光片的透光率转化为吸光度的计算方法如1，但是在以前化学分析的课本中学到的吸光度与透射比的转化方式如2，我想问的是透光率与透射比不是同一个概念吗？怎么计算方法会不一样，已经被弄晕了，希望大家能够多多指教。

各位大虾，请问扫描电镜的透射模式（TSEM）不是STEM，是怎么回事，国内哪个单位的扫描电镜能做这个模式，谢谢

小弟刚刚接触到透射电镜，在论坛里面也看了很多前辈的经验，同时也下载了很多非常有用的资料。但是自己看了还是有很多不清楚的地方，向各位前辈请教下:(1) 如果XRD相当于X射线对样品绕一点在旋转，TEM是不是电子束入射方向没动，样品不动时衍射花样的结果是同一晶带轴的不同晶面，也就是衍射花样的不同点对应的不同晶面；(2) 形貌观察时踩晶带轴是什么意思，就是观察到的结果是在同一晶向下的结果；(3)试样已知，还需不需要拍摄要三张衍射花样，对应的衍射花样标定的意义是什么；(4) 以后想做些位错的观察，滑移方向如何标定。刚刚接触，看了很多资料还是没弄清楚，也不知道把问题描述清楚没有，感觉到透射电镜博大精深，有很多东西需要学也很想学到些东西，还望各位前辈结合自己的经验提些意见加以指导。谢谢！

借宝地招聘透射电镜工程师单位：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司职责：1. 负责半导体失效分析中透射电镜分析需求，TEM,STEM,EDS,EELS,Diffraction等。2. 球差及场发射电镜日常维护，操作员培训。3. 新透射电镜技术开发及导入。要求：1. 有电镜相关操作经验。2. 理工科相关专业，材料，物理专业为佳。3. 有无工作经验均可。薪资面议，公司提供宿舍，餐补。有意请发简历至gary_zhao@smics.com，谢谢！

当一束光通过一透明体时其透射比的定义为（　　）用符号（　　）表示。

最近要去做一个透射电镜，但我是第一次做，什么也不懂，看书也看得糊里糊涂的，希望有人帮我分析一下应该注意一些什么，谢谢了下面我介绍一下我的样品情况。 样品是粉末，有两相，其中含有铁相，通过XRD计算两相晶粒大小为5nm左右，我做透射电镜就是为了观察晶粒的形貌。我把粉末压成薄片然后进行了离子减薄。 我这里想问的是：1、5nm左右透射电镜能看清楚形貌吗？2、含铁的薄片透射会不会不好做3、透射电镜中可以做能谱分析来确定相的成分吗？急，在线等。

如题，大家的透射室的地面，都用的什么材料承重好些，谢谢？

本课程基于虚拟仿真软件讲解透射电镜的操作过程，以虚代实，连贯的展现了透射电镜从开机到进样观察的全过程，可以作为透射电镜上机实际操作前的预习课程，有助于提前熟悉透射电镜的操作过程，减少上机操作时的陌生感

请问红外光谱仪，吸收光谱很容易理解透射， 反射 呢？他们各自的原理是什么？谢谢

今天遇到一位同行，说是Hitachi的冷场扫描，电镜上有透射功能，问问我们如何制样。我想知道这个功能分辨率多少？另外，透射模式下也有明场暗场，操作是不是和透射里直接移光阑的那个方法类似呢？多谢！

透射电子显微镜 TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE 利用电子，一般是利用电子透镜聚焦的电子束，形成放大倍数很高的物体图像的设备。 　 电子显微镜（以下简称电镜）属电子光学仪器。由于电子的德布罗意波波长比光波短几个量级，所以电镜具有高分辨成像的能力。首先发明的是透射电镜，由M.诺尔和E.鲁斯卡于1932年发明并突破了光学显微镜分辨极限。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2?m、光学显微镜下无法看清的结构，又称"亚显微结构"。透射电镜 (TEM)　样品必须制成电子能穿透的，厚度为100～2000埃的薄膜。成像方式与光学生物显微镜相似，只是以电子透镜代替玻璃透镜。放大后的电子像在荧光屏上显示出来. 透射电子显微镜的成像原理可分为三种情况： 吸收像：当电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。 衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各部分不同的衍射能力，当出现晶体缺陷时，缺陷部分的衍射能力与完整区域不同，从而使衍射钵的振幅分布不均匀，反映出晶体缺陷的分布。 相位像：当样品薄至100?以下时，电子可以传过样品，波的振幅变化可以忽略，成像来自于相位的变化。 组件 电子枪：发射电子，由阴极、栅极、阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速、加压的作用。 聚光镜：将电子束聚集，可用已控制照明强度和孔径角。 样品室：放置待观察的样品，并装有倾转台，用以改变试样的角度，还有装配加热﹑冷却等设备。 物镜：为放大率很高的短距透镜，作用是放大电子像。物镜是决定透射电子显微镜分辨能力和成像质量的关键。 中间镜：为可变倍的弱透镜，作用是对电子像进行二次放大。通过调节中间镜的电流﹐可选择物体的像或电子衍射图来进行放大。 透射镜：为高倍的强透镜，用来放大中间像后在荧光屏上成像。 此外还有二级真空泵来对样品室抽真空、照相装置用以记录影像。 透射电镜衬度（反差）的来源　 　　TEM衬度的形成,物镜后焦面是起重要作用的部位。电子经样品散射后，相对光轴以同一角度进入物镜的电子在物镜后焦面上聚焦在一个点上。散射角越大，聚焦点离轴越远,如果样品是一个晶体,在后焦面上出现的是一幅衍射图样。与短晶面间距（或者说"高空间频率"）对应的衍射束被聚焦在离轴远处。在后焦面上设有一个光阑。它截取那一部分电子不但对衬度，而且对分辨本领有直接的影响。如果光阑太小，把需要的高空间频率部分截去，那么和细微结构对应的高分辨信息就丢失了（见阿贝成像原理）。 　样品上厚的部分或重元素多的部分对电子散射的几率大。透过这些部分的电子在后焦面上分布在轴外的多。用光阑截去部分散射电子会使"质量厚度"大的部位在像中显得暗。这种衬度可以人为地造成，如生物样品中用重元素染色，在材料表面的复形膜上从一个方向喷镀一层金属，造成阴阳面等。散射吸收(指被光阑挡住)衬度是最早被人们所认识和利用的衬度机制。就表面复型技术而言，它的分辨本领可达几十埃。至于晶体样品的衍衬像和高分辨的点阵像的衬度来源，见点阵像和电子衍衬像。 应用 透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量，必须制备更薄的超薄切片，通常为50～100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品，通常是挂预处理过的铜网上进行观察。