光电学

LED光学热学和电学性能分析系统 Illumia pro LED光学热学和电学性能分析系统方便用户对LED、LED模块及阵列的电特性准确测量并同时测量光学和热学特性。 LED制造商、集成商以及用户非常关注LED的热学和电学特性，因为结温的变化将影响LED的颜色、光通量、寿命、光效及线性特性。Labsphere的 Illumia pro系统积分球尺寸从0.5米到2米可选，每个系统都兼容2&pi 和4&pi 测量方法。基本系统包含光测量积分球、一个高分辨率CCD光谱仪、电控温控片及温度控制器、辅助灯和精密可变电流源以及 Illumia pro 测量软件。特性 完整的热学，光学和电学特性分析系统 自动数据采集和分析 待测物的TEC温度控制及监控 测量温度及操作电流情况下的光学特性 可选择多种尺寸积分球（0.5米、1米、1.65米及2米） 满足IESNA LM-79和LM-80标准的测量结构 可实现环境温度控制（可选） 测量参数电学：I，V，电功率 光学：光辐射功率、光通量、颜色、光效 热学：载体温度与电学及光学参数关系 应用领域 封装的LED LED模组及阵列 显示屏背光模块

Illumia pro2 LED光学、热学、电学性能分析系统同时对LED进行热学、光学、电学性能分析illumiaPro3是一种积分球光谱辐射计，专门设计用于测试和表征高功率LED。测量参数总光谱通量 光通量 辐射通量颜色性能波长性能LIVTillumiaPro3是一款0.5米积分球光谱辐射计，设计用于高功率LED的LIVT和满足LM-85标准测试和表征的研发和生产应用 功能齐全、功能强大0.5米积分球光谱仪，积分球内部喷涂有Labsphere Spectralect漫反射白色涂料，标配2π测量几何结构，并配有热技术控制器、行业领先的光源仪表和Labsphere的杂散光校正光谱仪，用于LIVT、脉冲模式和高功率LED的直流测试。LM-85 测试方法：LM-85 单脉冲模式LM-85 连续脉冲模式LM-85 直流模式自动表征热学、光学和电学性能illumiaPro3系统中附带Integral软件，Integral软件功能强大且提供易于使用的菜单式操作环境，用户可在指定范围内控制LED温度、工作电流和电压。该控制可使软件实现对待测样品在较宽温度范围内进行测量和性能分析。该软件同时收集的电学、光学、热学和总光谱通量数据显示在屏幕上或者输出到表格中做深入分析。主要规格参数illumiaPro3 LED性能测试系统积分球尺寸50cm光谱范围（已校准） 350-1000nm波长精度=/-0.3nm积分时间40μs-5

石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统西班牙Das Nano公司成立于2012年，是一家提供高安全别打印设备，太赫兹无损检测设备以及个人身份安全验证设备的高科技公司。ONYX是其在全球范围内推出的一款针对石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料大面积太赫兹无损表征的测量设备。ONYX采用先进的脉冲太赫兹时域光谱技术，实现了从科研及到工业的大面积石墨烯及二维材料的无损和高分辨，快速的电学性质测量，为石墨烯和二维材料科研和产业化研究提供了强大的支持。与传统四探针测量法相比，ONYX无损测量样品质量空间分布与拉曼，AFM，SEM相比，ONYX能够快速表征超大面积样品背景介绍太赫兹辐射( T射线)通常指的是频率在0. 1～10THz、波长在30μm-3mm之间的电磁波，其波段在微波和红外之间，属于远红外和亚毫米波范畴。该频段是宏观经典理论向微观量子理论的过度区，也是电子学向光子学的过渡区。在20世纪80年代中期以前，由于缺乏有效的产生方法和探测手段，科学家对于该波段电磁辐射性质的了解和研究非常有限，在相当长的一段时期,很少有人问津。电磁波谱中的这一波段(如下图) ，以至于形成远红外和亚毫米波空白区,也就是太赫兹空白区（THz gap）。太赫兹波段显著的特点是能够穿透大多数介电材料（如塑料、陶瓷、药品、缘体、纺织品或木材），这为无损检测（NDT）开辟了一个可能的新。同时，许多材料在太赫兹频率上呈现出可识别的频率指纹特性，使得太赫兹波段能够实现对许多材料的定性和定量研究。太赫兹波的这两个特性结合在一起，使其成为一种全新的材料研究手段。而且其光子能量低，不会引起电离，可以做到真正的无损检测。 ONYX工作原理 ONYX是一套实现石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料全面积无损表征的测量系统，能够满足测试面积从科研（mm2）到晶元（cm2）以及工业（m2）的不同要求。与其他大面积样品的测量方法（如四探针法）相比，ONYX能够直观得到样品导电性能的空间分布。与拉曼、扫描电镜和透射电镜等微观方法相比，微米的空间分辨率能够实现对大面积样品的快速表征。ONYX采用先进的脉冲太赫兹时域光谱THz-TDS技术，产生皮秒量的短脉太赫兹冲辐射。穿透性强的太赫兹辐射穿透进样品达到各个界面，均会产生一个小反射波可以被探测器捕获，获得太赫兹脉冲的电场强度的时域波形。对太赫兹时域波形进行傅里叶变换,就可以得到太赫兹脉冲的频谱。分别测量通过试样前后(或直接从试样激发的)太赫兹脉冲波形,并对其频谱进行分析和处理,就可获得被测样品介电常数，吸收吸收以及载流子浓度等物理信息。再利用步进电机完成其扫描成像，得到其二维的电学测量结果。ONYX主要参数及特点样品大小: 10x10mm-200x200mm 全面的电导率和电阻率分析样品100%全覆盖测量高分辨率：50μm完全非接触无损无需样品制备载流子迁移率, 散射时间, 浓度分析 可定制样品测量面积(m2量)超快测量速度： 12cm2/min软件功能丰富，界面友好全自动操作图1 太赫兹光谱范围及信噪比ONYX主要功能→ 直流电导率（σDC）→ 载流子迁移率, μdrift→ 直流电阻率, RDC→ 载流子浓度, Ns→ 载流子散射时间，τsc→ 表面均匀性ONYX应用方向石墨烯材料：→ 单层/多层石墨烯 → 石墨烯溶液→ 掺杂石墨烯→ 石墨烯粉末→ 氧化石墨烯→ SiC外延石墨烯其他二维材料： → PEDOT→ Carbon Nanotubes→ ITO→ NbC→ IZO→ ALD-ZnO石墨烯光伏薄膜材料半导体薄膜电子器件PEDOT钨纳米线GaN颗粒Ag 纳米线ONYX测试数据1. 10x10mm CVD制备的石墨烯在不同分辨率下的电导率结果 2.10 x10mm CVD制备的石墨烯不同电学参数测量结果 3.利用ONYX测量ALD沉积在硅基底上的TiN电导率测量结果 应用案例■ 全球《石墨烯电学测量方法标准化指导手册》近期，欧洲计量创新与研究计划（EMPIR）的项目 “GRACE-石墨烯电学特性测量的新方法”发布了全球关于石墨烯电学特性测量方法的标准化指导手册。“GRACE-石墨烯电学特性测量新方法”项目是由英国实验室(NPL)主导，与意大利计量研究所、西班牙Das-nano 公司等合作，旨在开发石墨烯电学特性的新型测量方法，以及未来石墨烯电学测量的标准化制定。 图一 石墨烯电学测量方法标准化指导手册(发送邮件至info@qd-china.com获取完整版资料) 石墨烯由于其特优异的电学特性，在未来有望成为大规模应用于电子工业及能源领域的新材料。但是，目前受限于：1）如何制备大面积高质量石墨烯，且具有均匀和可重复的电气和电子性能；2）无论是作为科研用的实验样品还是在生产线中的批量化生产，对其电学性质的准确且可重复的表征方法目前尚不完善，缺乏正确实施此类测量方法的指导手册及测量标准。针对目前面临的问题和挑战，EMPIR 的“石墨烯电学特性测量新方法”项目对现有测量方法进行了总结和规范指导，更重要的是开发了石墨烯电学特性的快速高通量，非接触测量的新方法，并用现有技术对其进行了验证，取得了很好的一致性。 西班牙Das-Nano公司参与了“GRACE-石墨烯电学特性测量新方法”项目中基于THz-TDS的全新非接触测量方法的开发及测量标准的制定。基于该技术，Das-Nano推出了一款可以实现大面积（8英寸wafer）石墨烯和其他二维材料的100%全区域无损非接触快速电学测量系统-ONYX。ONYX采用一体化的反射式太赫兹时域光谱技术（THz-TDS）弥补了传统接触测量方法（如四探针法- Four-probe Method，范德堡法-Van Der Pauw和电阻层析成像法-Electrical Resistance Tomography）及显微方法（原子力显微镜-AFM, 共聚焦拉曼-Raman，扫描电子显微镜-SEM以及透射电子显微镜-TEM）之间的不足和空白。ONYX可以快速测量从0.5 mm2到~m2的石墨烯及其他二维材料的电学特性，为科研和工业化提供了一种颠覆性的检测手段[1,2]。更多详细信息请点击：欧洲计量创新与研究计划（EMPIR）发布全球《石墨烯电学测量方法标准化指导手册》参考文献：[1] Cultrera, A., Serazio, D., Zurutuza, A. et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Sci Rep 9, 10655 (2019).[2] Melios, C., Huang, N., Callegaro, L. et al. Towards standardisation of contact and contactless electrical measurements of CVD graphene at the macro-, micro- and nano-scale. Sci Rep 10, 3223 (2020). ONYX发表文章1. P Bogild et al. Mapping the electrical properties of large-area graphene. 2D Mater. 4 (2017) 042003.2. S Fernández et al. Advanced Graphene-Based Transparent Conductive Electrodes for Photovoltaic Applications. Micromachines 2019, 10, 402.3. David M. A. Mackenzie et al. Quality assessment of terahertz time-domain spectroscopy transmission and reflection modes for graphene conductivity mapping. OPTICS EXPRESS 9220, Vol. 26, No. 7, 2 Apr 2018. 4. A Cultrera et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Scientific Reports , (2019) 9:10655.ONYX用户单位重要客户合作伙伴参与项目

适用于平板行业（LCD,OLED),Micro/mini LED,锂电池行业，半导体行业，电子行业......- 电学测试元件- 高精度、稳定测量- 4象限运行性能- DC/AC运行方式- ~1 kHz正弦波交流操作- 保护测试样本的符合性函数- 局域网通信-根据客户需求，可定制规格配置.规格：

Fusion Ax是针对材料科学、纳米电子学和半导体器件原位热学和电学TEM分析的突破性解决方案，能够支持和推动更可靠、更具成本效益和效率的材料开发。 Fusion AX能够让用户自由进行不同条件下原位电学及热学实验，该原位系统由AXON基于机器学习科技实现智能控制，使用各种基于MEMS的电子芯片和配件，以最满足您的研究需求，并且所有这些系统都得到了主要显微镜制造商的全面支持和授权，能够满足该原位系统在安全、兼容性和可靠性方面都严格满足电镜要求标准。独特样品杆Tip设计，兼容原位EDS分析，提供原位成分变化信息无摩擦双倾设计，可以保证转带轴倾转时依旧保证绝佳的电学灵敏度 产品应用 燃料电池研究 左图是利用Fusion Ax原位热学解决方案对碳包覆的纳米Pt颗粒原位退火过程进行结构变化及定量动力学分析，该Pt纳米颗粒主要用于低温燃料电池。数据来源：HODNIK, N. ET AL. (2020) ACS APP. NANO MATER., 3, 9880–9888固态电池 研究 锂基固态电池由于其高能量密度、长循环寿命和高工作电压的特点，而成为最具潜力的下一代储能电池。左图为利用Fusion AX原位电学系统研究不同容量的固态电池锂化和脱锂过程研究。数据来源：HOU, A. ET AL. (2023), ADV. SCIENCE, 10, 2205012二维材料研究原子层级的二维材料由于其独特的半导体、金属和超导体等不同电学特性，目前越来越多的科学家正在开发基于二维材料的多种应用。利用Fusion AX原位热学系统可以研究这种材料原位形成和重组过程中结构变化情况，左图为对石墨烯涂覆的芯片上原位将单层二维MoS2进行加热将其转化为3D纳米晶体结构的原位变化过程。 数据来源：INANI, H. ET AL. (2021), ADV. FUNCT. MATER., 2008395, 1–9基础材料科学研究Fusion AX原位加热系统可用于对各种纳米颗粒合成、合金化、形态变化和其它基础问题研究。左图为原位加热二元金属纳米晶体以观察Au和Ag之间的升华行为。 数据来源：HE, L.-B. ET AL. (2023), NANOSCALE ADV., 5, 685– 692 气体传感器研究Fusion AX原位加热系统可以在环境透射环境中使用，测试用于气体传感应用的材料。并且针对环境透射电镜应用专门开发了原位加热芯片。 数据来源：STEINHAUER, S. ET AL. (2017), NANOSCALE, 9, 7380–7384半导体研究为了开发更好的半导体芯片，所使用的材料需要具有低电阻率和低的形成温度，诸如金属硅化物材料就具备这些性质，因此该材料被广泛研究。左图为利用Fusion Ax原位加热系统对NiSi2材料进行原位退火下的动态行为研究。 数据来源：HOU, A.-Y. ET AL. (2021), APPL. SURF. SCIENCE, 538, 148129太阳能电池研究太阳能电池是有助于清洁能源发电以取代化石燃料的技术方案之一。有机-无机杂化钙钛矿太阳能电池因其高能量转换效率而受到关注。左图为利用Fusion Ax原位电学系统在透射电镜中进行原位连续偏压下研究太阳能电池材料的非晶化过程。 数据来源：KIM, M. ET AL. (2021), ACS ENERGY LETT., 6, 3530–3537

透射电镜原位电学分析系统——纳米尺度原位电学成像分析解决方案透射电镜原位电学分析系统在先进材料科学、纳米技术开发、半导体器件开发及失效分析中发挥着至关重要的作用，能够为研究纳米尺度材料及器件提供电学性能分析支撑。该系统能够适配所有具备外部扫描控制接口的透射电镜，通过深度集成的硬件及软件协同，能够实现对所有电学信号的放大、获取及分析，每个信号均能够实现自动量化，覆盖µ A/nA/pA等电流范围。该系统主要技术优势・ 采集系统兼容所有带有外部扫描接口的透射电镜(与EDS或EELS类似)・ 所有放大和采集设置均由软件控制・ 信号自动量化并以电流值(µ A, nA, pA)显示硬件设备特点・ 快速放大优化成像・ 宽增益范围，以适应所有技术・ 小型化的固定式电子设备・ 自动信号路由为透射电镜原位电学样品杆设计的低噪声前置电流放大器 主要技术优势：・ 最靠近原始信号的初级放大，能大幅降低信号噪音・ 内置电压偏压和电流补偿・ 自动信号路由，避免放电为透射电镜配备的电学分析放大器 主要技术优势：・ 第二级放大以达到最大范围・ 出厂精确校准的增益和偏移・ 可选锁定配置电学分析成像仪(DISS6) 主要技术优势：・ 集成扫描发生器和图像采集・ 像素分辨率高，扫描速度快 ・ 高位深电学分析模数转换・ 同时输入明场, 高角环形暗场和电学分析信号软件设备特点：DISS6 -控制和采集应用程序 主要技术优势：・ 电学分析放大器控制・ 电学分析, 高角环形暗场和明场图像采集・ 自动定量到µ A…fA・ 电流-电压扫描工具・ 实时图像颜色混合工具・ 标准文件格式DIPS6 -数据处理程序 主要技术参数：・ 完整的图像和元数据查看器・ 自动定量到µ A…fA・ 基于梯度的变色效果・ 用于可视化的信号颜色混合・ 导出定量像素值 应用案例图一. STEM-EBIC技术:・ 非弹性损失诱导了片层中的电子-空穴对・ 内部电场将电子-空穴对分开・ 电流被数字化以获得电子束诱生电流(EBIC) STEM图像图二. 揭示内部电场:・ 分析器件中的接点和触点・ 根据设计验证掺杂分布 ・ 与设备模型和参数相关联图三. 研究每一层结构中的电学性能：・ 定位重组活性增加的位点・ 区分有/没有电学活动的缺陷・ 使用高分辨率技术图四. 基本物理参数测定:・ 少数载流子的扩散长度・ 位错的复合强度图五. FIB/SEM薄片制备:・ 应用标准FIB工作流程进行原位偏压・ 利用扫描电镜中的电学分析视场选择目标・ 在扫描电镜中筛选薄片以观察制备过程中的损伤

CryoComplete专为交钥匙解决方案而设计，是低温电学测量的一体化解决方案。系统具备先进的低电平直流测量和三个全通道锁相交流功能，集成了低噪声电学测试仪表及测试软件，用户只需要将系统抽真空，填充液氮，即可进行低温下的高精度电学测量实验。 主要特征 √ 温度范围：77 K~500 K √ 电阻测量范围100 µ Ω to 1 GΩ（标准） √ 交钥匙的低温电学测试解决方案 √ 配备高灵敏电学相关测试仪表及软件 √ 只需提供液氮，即可快速进行低温电学测试 标准系统参数 VPF-100低温恒温器+335控温仪+校准温度计 运行温度范围 77 K to 500 K 制冷剂 液氮 样品环境 真空 温度稳定性 ±50 mK 液氮容量 1.2 L 降温时间 15分钟至77 K 工作时间 8 h 光学窗口 4个石英光学窗口 电学测量样品安装 带8个插针的预接线安装板 电阻 / I-V测量（同步源M81-SSM-4+平衡电流源BCS-10+电压测量源VM-10） 测量范围 100 µ Ω to 1 GΩ 源模式 直流、正弦、三角形、方形 源电流范围 1 pA to 100 mA 源频率 100 µ Hz ~ 100 kHz (方波5 kHz) 最大测量电压 10 V 输入阻抗 10 GΩ（差分） 样品漏电流 50 pA @ 10 V（同轴线）或 50 fA @ 10 V （防护三同轴） 电压噪声 5 nV/√Hz @ 83 Hz 样品测试噪声（1/f） 100 nV

产品简介通过纳米探针对样品施加电场控制，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。我们的优势纳米探针操纵系统1．高精度压电陶瓷驱动，纳米级别精度数字化精确定位。2．可对单个纳米结构进行操纵和电学测量。优异的电学性能特殊设计保证电学测量的低噪音和精确性，电流测量精度可达皮安级。智能化软件1．人机分离，软件远程调节电学条件，程序自动化控制倾转角度。2．全程自动记录实验细节数据，便于总结与回顾。技术参数类别项目参数基本参数杆体材质高强度钛合金控制方式高精度压电陶瓷倾转角α≥±20°，β≥±20°（实际范围取决于透射电镜和极靴型号）适用电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi适用极靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP(HR)TEM/STEM支持(HR)EDS/EELS/SAED支持

泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组（20世纪90年代），围绕原位电学测量样品杆，泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展，已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆，产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位电学测量样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。原位电学测量样品杆技术指标 电学测量力学操纵1.包含一个电流电压测试单元；1.探针粗细调方式：全软件操控；2.电流测量范围：1nA-30mA；2.粗调范围：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm；3.电流分辨率：100fA；3.细调范围：XY方向18um，Z方向1.5um；4.电压输出范围：±10V，±150V；4.细调分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm；5.软件自动测量：I-V、I-t 原位电学测量样品杆产品选型 原位电学测量样品杆 具有单倾、双倾两个版本，用户可根据实验需求自行选择。泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号样品杆，同时保证透射电镜原有分辨率。 原位电学测量样品杆国内部分用户典型案例 1、透射电镜内的原位电学实验；2、透射电镜内的原位压缩、拉伸实验。安徽泽攸科技有限公司是原位电学测量样品杆生产厂家，关于原位电学测量样品杆价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

透射电镜原位MEMS低温电学测量系统，关于价格请咨询(微信同号) 透射电镜原位MEMS低温电学测量系统是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块，实现低温电学测量或全温区测量功能。性能指标 透射电子显微镜指标：● 兼容指定型号电镜及极靴； ● 单倾可选高倾角版本；● 可选双倾版本，β角倾转±25°（同时受限于极靴）；● 测量电极数可选。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电压输出最大±200 V，最小±100 nV；● 电流测量最大±1.5 A，最小100 fA；● 恒压或者恒流模式；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 低温指标：● 兼容MEMS加热及电学芯片； ● 全温区测量，温度范围：85 K- 380 K；● 控温稳定性：优于±0.1 K；● 温度连续可控。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

纳控科技深耕精密运动控制技术、超低温冷冻技术，致力于为科学研究、创新研发及高端仪器、设备的制造等提供系统的技术解决方案与集成。XNano原位透射电子显微镜样品杆通过原创性设计，将原位加载观测动态微结构演化与三维重构有机结合，实现了透射电子显微镜应用从二维、三维到四维的突破。系统采用自主研发特殊精密微型压电马达驱动，实现了XYZ轴三维运动与绕样品杆α方向360°旋转，以及β方向±10°倾转五个自由度的完全解耦，大幅提升纳米操纵性能及可控性。系统配备力学、电学等多种扩展平台，配合增强的纳米操纵性能，结合动态原位实验可在线进行三维重构，实现透射电镜样品四维表征（4DTEM）。公司提供以下原位TEM系列产品(单/双倾)以及相关定制化服务：JEOL/FEI 力学样品杆JEOL/FEI 电学样品杆JEOL/FEI 光电样品杆JEOL/FEI 三维重构样品杆参数如下：XNano原位透射电镜纳米操纵系统可广泛应用于材料科学、生物、医学、化学、物理学等多个领域，并可根据您的需求进行定制化生产。无论是产品选型、使用指导还是售后服务，我们都将尽心尽力为您提供最优质的服务。精微所至，洞见未来。纳控科技竭诚为广大科研工作者提供更好的产品和服务，与您一起在科研道路上前行。欢迎广大客户沟通、交流，部分产品支持定制。

纳控科技深耕精密运动控制技术、超低温冷冻技术，致力于为科学研究、创新研发及高端仪器、设备的制造等提供系统的技术解决方案与集成。XNano原位透射电子显微镜样品杆通过原创性设计，将原位加载观测动态微结构演化与三维重构有机结合，实现了透射电子显微镜应用从二维、三维到四维的突破。系统采用自主研发特殊精密微型压电马达驱动，实现了XYZ轴三维运动与绕样品杆α方向360°旋转，以及β方向±10°倾转五个自由度的完全解耦，大幅提升纳米操纵性能及可控性。系统配备力学、电学等多种扩展平台，配合增强的纳米操纵性能，结合动态原位实验可在线进行三维重构，实现透射电镜样品四维表征（4DTEM）。公司提供以下原位TEM系列产品(单/双倾)以及相关定制化服务：JEOL/FEI 力学样品杆JEOL/FEI 电学样品杆JEOL/FEI 光电样品杆JEOL/FEI 三维重构样品杆参数如下：XNano原位透射电镜纳米操纵系统可广泛应用于材料科学、生物、医学、化学、物理学等多个领域，并可根据您的需求进行定制化生产。无论是产品选型、使用指导还是售后服务，我们都将尽心尽力为您提供最优质的服务。精微所至，洞见未来。纳控科技竭诚为广大科研工作者提供更好的产品和服务，与您一起在科研道路上前行。欢迎广大客户沟通、交流，部分产品支持定制。

公司与国内高校，科研院所有多层次的合作关系，建有开放实验室，相关领域的教授、高级工程师、博士参与公司产品的研究和开发。我们秉承公司的发展理念，依靠严谨的技术研发能力，科学合理的生产工艺，精益求精的制造要求，全心全意做好产品质量和服务工作，科探仪器时刻怀着一颗真诚的心期待与您的合作。KT-RHC1Z气体温湿度控制器 主要用于环境气体模拟配比 燃料电池气体加湿 材料表面改性 湿度气敏材料电学信号测试 该气体配比器可以外接两种或多种气体,采用质量流量计控制气体流量,气路管道采用316抛光管制作耐腐蚀性强.气路接头采用全不锈钢双卡套快速接头,方便连接且不易泄漏 系统可耐0.6MPa 设备通过饱和蒸汽和干空气按比例混合气体输出 出气口无冷凝水 可为气体分析仪 燃料电池 气敏测试腔供气气体温湿度控制器参数使用气体种类氮气 氩气 （非腐蚀性气体）气体流量控制范围≤20L/min气体流量控制精度±1％F.S气体湿度控制范围气体湿度---95％RH气体湿度控制精度±1％RH湿度控制方法PID智能算法控制出气口温度室温系统管道规格316材质 φ6mm不锈钢管道进出气口压力≤0.6MPa系统控制7寸触摸屏人机界面供电电源~85-265VAC 50/60Hz设备功率≤300W管道吹扫有流量累计有出气压力有出气温度有气体混合罐有可选进出气口接头形式3mm,6mm,1/8mm,1/4mm双卡套接头

特点：为多种光谱学和电学技术而优化；为未来实验定义的模块化设计；优异的光学性能：可更换的光学窗口；采用完全无液氦设计，使用便捷； OptistatTMDry可以在完全无需液氦的条件下将样品温度降至3K。其样品腔的设计也为更换样品及电学测量提供了很大便捷。模块化设计更使得仪器具备可升级条件，满足未来的多种实验需求。具有很宽的低温温区：从3K到300K；振动距离小于10um；先进的减震支架选项，同时减小样品的振动与带给光学平台的振动；模块化设计，与新模块升级完全兼容，可满足多种实验的需求；侧面窗口换样设计使更换样品简单快捷，可以极大地减少换样操作的时间；小角度样品架旋转技术，可以有效消除光谱衍射条纹干扰；电学样品托架选项非常适合电学测量应用；优秀的光通路设计，数值孔径达到f/1，多种窗片材料可供选择；尾部可以小幅旋转，减小光学窗口的反射；独有的活性炭吸附技术，使得该系统可以用无油机械真空泵进行真空抽气。

泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位加热/电学样品杆，基于MEMS原位芯片技术，通过更换多种类型的加热芯片或电学芯片，在透射电镜中实现对样品加热或加电的原位功能。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位加热/电学样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的加热芯片和电学测量芯片。加热芯片可对样品进行可控温度的加热，电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。原位加热/电学样品杆技术指标 电学测量加热控温1.包含一个电流电压测试单元；1.温度范围：室温至1200℃；2.电压输出：Max ±200V， Min ±5 uV；2.加热功率：Max 30W；3.电流测量：Max ±1.5 A， Min ±100fA；3.控温稳定性：优于±0.1℃；4.恒压或恒流模式4.PID/Pulse/Manual三种控温方式；5.软件控制，数据自动保存。5.软件控制，数据自动保存。 原位加热/电学样品杆产品选型 原位加热/电学样品杆 具有单倾、双倾两个版本，电极数可选；同时可拓展真空转移芯片杆、低温芯片杆，用户可根据实验需求自行选择。泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号芯片式样品杆，支持定制。 原位电学测量样品杆国内部分用户 原位加热/电学样品杆典型案例1、透射电镜内的原位加热实验；2、透射电镜内的原位加电实验（可选针对敏感样品的真空转移方案）； 3、透射电镜内的原位热电耦合实验；4、透射电镜内的低温电学实验；安徽泽攸科技有限公司是原位加热/电学样品杆生产厂家，关于原位加热/电学样品杆价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息，PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技，型号为高温拉伸台，价格为面议，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

? PicoFemto透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 低温参数指标：● 兼容指定型号透射电镜及极靴；● 全温区结构分辨率优于0.2 nm；● 变温范围为85 K-380 K，温度稳定性优于±0.1 K。 产品特色 （1）温度连续可控，稳定性高；（2）低温下可实现对样品施加应力及电学研究。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统，详细咨询：

透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。性能指标透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。以上就是PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统，详细咨询：

PicoFemto透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统，关于价格请咨询(微信同号)透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位加热/电学测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的微加热芯片和电学测量芯片。微加热芯片可对样品进行可控温度的加热，电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 本系统硬件包括两部分，分别是加热/电学测量控制器、原位MEMS芯片样品杆。软件包括自动控温软件和自动电学测量软件。性能指标透射电子显微镜指标：● 兼容指定型号电镜及极靴；● 单倾可选高倾角版本；● 可选双倾版本，β角倾转±25°（同时受限于极靴）； ● 测量电极数可选。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电压输出Z大±200 V，Z小±100 nV；● 电流测量Z大±1.5 A，Z小100 fA； ● 恒压或者恒流模式；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 加热与温控指标：● 温度控制范围：室温到1200 ℃；● 加热功率：Z大30 W；● 控温稳定性：优于±0.1 ℃；● Z大升温速率：1000 ℃/ms。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统的介绍，关于整套系统价格价格请咨询(微信同号) 原文 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

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PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统，价格请咨询(微信同号)透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。性能指标透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标： ● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统的介绍，关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文： 安徽泽攸科技有限公司，是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体，向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备，立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。 　　 公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队，我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中，现有两个系列核心产品： 　　　 （1）PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统； 　　　 （2）ZEM15台式扫描电子显微镜。 　　　 PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来，获得了国内外研究者的高度关注，并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果，相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个，遍布五十余所大学/研究机构，包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。

霍尔效应实验，YMP-6106B 简介置于磁场中的载流体，如果电流方向与磁场垂直，则在垂直于电流和磁场的方向会产生一附加的横向电场，这个现象被称为霍尔效应。YMP-6106B型霍尔效应实验采用一个长方体状半导体样品放置于均匀电磁场中，在这个矩形样品中横向通以电流，那么因为霍尔效应而在这个样品的垂直于电流和磁场的方向上产生一个一定大小的电势差，即为霍尔电压。特点基于光学轨道结构，霍尔探头在磁场中的位置二维可调换向开关改变霍尔电流和磁场方向，用“对称测量法”消除附加不等位电势的影响可升级为数字化实验实验内容了解霍尔效应实验原理以及有关霍尔器件对材料要求的知识学习用“对称测量法”消除副效应的影响，测量试样的UH - IS和UH - IM曲线确定试样的导电类型、载流子浓度以及迁移率能量在电磁场中传输特性实验，YGP-6201 简介YGP-6201型实验装置采用磁耦合谐振式原理，传输效率优于感应式磁场耦合传输，并且电能传输不受空间非磁性障碍物的影响。本实验装置设计有一对谐振线圈，通过高频交流电源给一个线圈通电作为发射线圈，产生磁场能量。另外一个线圈作为接收线圈，接收后转化为电能输出，最后驱动风扇或者LED灯。本实验可以改变两个线圈距离，线圈相对角度，负载电阻和传输介质等，来研究影响传输效率的因素。特点丰富的测试模块，可基于光学轨道灵活安装功能强大的一体化实验电源，涵盖实验所需的全部输入输出信号轻便美观的谐振线圈，可90o左右旋转风扇与LED双重演示，能量传输效果直观明显可升级为数字化实验实验内容两线圈互感系数及耦合系数的实验近似测定输出功率、传输效率与负载电阻关系测定输出功率、传输效率与线圈距离关系测定输出功率、传输效率与线圈相对角度关系测定输出功率、传输效率与不同介质中电源频率关系测定演示不同负载下的传输效率电学综合实验，YGP-6204简介电学综合实验是供高校物理实验室进行电学元件伏安特性测量、光电元件特性测量，电桥原理及应用、RLC 电路原理及应用、集成放大器原理及其应用等实验而设计的开放式教学实验仪器。该仪器配套有工作电源、数字电压传感器、数字电流传感器、数字微电流传感器、光传感器、温度传感器、各种待测元件、各种控制电路元件等。以上系列设计性、综合性、开放性实验的开设，不仅可以让学生深入了解经典的电学现象和原理，还可以了解目前主流的电子信息技术和产品，深入理解其工作原理和产品特性，使学生可以接触到电子信息技术领域的前沿的科技，并对其未来的发展空间产生想象和兴趣。特点独立模块设计，积木式拼搭组合，充分调动学生的动手能力模块底部采用可视化透明材料，方便观察元器件模块采用可拆卸结构，方便更换元器件配置无线电压传感器、无线电流传感器、无线微电流传感器和数据分析软件传感器采样频率最高可达1KHz，每组数据的采集量可达到100000组以上；采样精度达到0.5%，数字化采集实验数据并实时分析，使得物理定律显而易见实验内容1、电学元件伏安特性的测量；2、光敏元件的应用；3、热敏元件的应用；4、电表的改装与校准；5、单臂电桥原理及应用；6、双臂电桥原理及应用；7、非平衡电桥原理及应用；8、RLC 电路的暂态过程研究；9、RLC电路的谐振特性研究；10、整流、滤波及稳压电路；11、集成放大器及其应用；12、应用电路实验。RLC电路实验，YGP-6207简介YGP-6207 RLC电路实验包括RLC电路的暂态过程研究、RLC谐振电路特性研究等内容。学习的知识点有RL、RC、RLC电路中电流、电压的暂态过程特征，指数衰减时间常数定义和测量方法，衰减振荡周期和时间常数定义和测量方法，RC微分电路的用法和参数选择，RC积分电路的用法和参数选择以及RLC电路稳态、谐振、幅频特性、相频特性、高通电路、低通电路、上限频率、下限频率、截止频率、通频带宽度、谐振频率、电感性、电容性、品质因数、选频、共地、电压谐振、电流谐振、相位差的测量等。本实验装置可实现RLC电路实验的分层次教学，完成其中的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容。特点独立模块设计，积木式拼搭组合，充分调动学生的动手能力模块底部采用可视化透明材料，方便观察元器件模块采用可拆卸结构，方便更换元器件使用电压传感器测量时间常数非常容易二极管伏安特性曲线使用软件的曲线拟合功能很容易验证曲线是否呈指数实验内容观测RC、RL、RLC串联电路的幅频/相频特性以及品质因数Q观察RC、RL串联电路的暂态过程，测量其指数衰减时间常数观测不同Q值下RLC串联电路的幅频特性测试；RLC并联电路的幅频/相频特性测试；设计RC低通滤波电路和高通滤波电路观察RLC串联电路的暂态过程及其阻尼振荡规律设计二阶RC滤波电路研究RLC并联电路的暂态行为、设计积分或微分电路等设计整流滤波电路、LC三阶低通滤波电路、无阻尼振荡电路等对电路暂态过程进行计算机显示等直流电桥实验，YGP-6209简介YGP-6209直流电桥实验学习的知识点有直流电桥测电阻，交换（换臂）法，倍率选取、电桥灵敏度测量，电阻率测量等。该实验装置可完成直流电桥实验的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容，实现分层次教学。特点独立模块设计，积木式拼搭组合，充分调动学生的动手能力模块底部采用可视化透明材料，方便观察元器件模块采用可拆卸结构，方便更换元器件采用微电流传感器替代传统检流计，实现分层次教学实验内容自组电桥，选择合适的倍率、测量不同未知(中值）电阻的阻值，测出电桥的灵敏度考虑电桥比率臂阻值、检流计灵敏度对整个电桥灵敏度及测量精度的影响，计算未知电阻的不确定度，写出结果表达式搭建双臂直流电桥，依据双臂电桥原理及测量方法，测量金属棒的阻值；测量其长度、直径，计算金属棒的电阻率结合工程技术，研究直流电桥的应用，如：温控、光控电路等结合现代科学技术，利用传感器、数据采集、虚拟技术等，将电桥电压采集到计算机中，在软件方面设计应用更多精彩，请关注下方！

LI公司拥有复杂测量领域的深厚专业知识，其成员来自澳大利亚国立大学、马克斯-普朗克研究所、洛克希德马丁公司、加州理工学院和美国宇航局喷气推进实验室。多功能电学综合实验仪基于Xilinx FPGA芯片开发，通过App软件可对硬件上集成的多种不同功能进行切换、设置。Go系列是一套面向本科教育的完整且便携的实验室解决方案；Lab系列是汇集12种仪器的研究平台；Pro系列扩展了一系列软件定义型解决方案。12种专业测量仪器功能允许您在时域或频域内对输入信号做任意的测量和分析，测量数据可保存成CSV或.MAT格式。 目前，Moku:Lab多功能测量仪在1个硬件盒子上集成了12种不同测量仪器的功能电仪器主要参数Go系列Lab系列Pro系列价格USD549起3500-9900 12000-20000 锁相放大器&bull 同时测量相对于内部或外部参考的XY或Rθ&bull 使用探测点（probe points）可观察在信号过程链的不同阶段的信号波形&bull 解调信号频率高达200 MHz&bull 显示噪声覆盖的信号，动态储备超过80dB&bull 从任意探测点（probe point）记录数据，数据速率高达1 MSa/s解调信号频率1 mHz to 600 MHz数据速率高达10MSa/s任意波形发生器&bull 更新率 125MSa/S&bull 输出带宽 20MHz&bull DAC位数 12 bits &bull 更新率 1GSa/S&bull 输出带宽 300MHz&bull DAC位数 16 bits&bull 选择预设值波形，从已有的文件中加载自定义波形，或者使用内建方程编辑器用数学的方式来描述波形。&bull 配置脉冲任意波形&bull 同步两个输出通道的相位&bull 产生最多65,536个点的任意波形&bull 更新率 1.25GSa/S&bull 输出带宽 500MHz&bull DAC位数 16 bits PID控制器2.5 MSa/s12 bit&bull 输出采样率10 MSa/s&bull DAC分辨率 16 bit&bull 使用交互式波特图来快速配置PID控制器的频率响应&bull 使用探测点（probe points）观察信号处理链中不同阶段的信号&bull 同时控制多达两个数据通道，并能够使用控制矩阵混合输入信号&bull 在基本或高级编辑模式下配置控制器参数&bull 使用饱和积分和差分控制器实现超前-滞后补偿器10 MSa/s16 bit波特分析仪(Sweeper扫频仪)10 mHz - 20 MHz&bull 测量系统的频率响应，频率范围从10 mHz - 120 MHz&bull 在linear或log扫描比例之间进行选择&bull 同时探测两个系统或一个系统上的两个点&bull 使用专用数学通道获取加、减、乘、除响应函数&bull 使用光标和标记准确测量振幅和相位的特征&bull 精确调节稳定时间(settling time)和平均时间(averaging time)，以适应被测设备。&bull 校准您的测量值以比较系统或补偿延迟10 mHz - 300 MHz激光稳频/锁频&bull 生成高达200 MHz的解调信号 &bull 使用内部和外部本机振荡器解调信号 &bull 扫描高达1 MHz锯齿波或三角波波形共振 &bull 使用内置示波器观测在信号处理过程中不同位置的信号 &bull 使用“点击-锁定”功能快速锁定到误差信号的任一零交叉点 &bull 低通滤波器即高达四阶无限冲激响应滤波器解调信号 &bull 可单独配置的高带宽、低带宽PID控制器用于高频、低频反馈相位表（用于测量信号频率、相位、幅度）&bull 频率范围1KHz-200MHz&bull 在超过6500万周期内测量相位，相位精度优于1μ周期&bull 同时测量输入信号的相位、频率和振幅&bull 采集数据速率高达125 kSa/s频率范围1KHz-300MHz示波器2通道30 MHz模拟带宽，最高采样率为125 MSa/s&bull 分析2个电压通道的信号波形，200 MHz模拟带宽，最高采样率为500 MSa/s&bull 在精确模式下测量数据，通过抑制噪声来提高测量分辨率&bull 合成正弦、方波、三角波、脉冲波和直流波形&bull XY模式下分析信号&bull 快速测量波形特征、趋势和统计数据4通道600 MHz模拟带宽，最高采样率为5G Sa/s频谱分析仪DC - 30 MHz100Hz - 30 MHz&bull 频率范围为DC - 250 MHz&bull 频率宽度为100Hz - 250 MHz&bull 通过使用iPad多点触控界面将测量光标拖动到感兴趣的特征上，可快速测量重要指标。&bull 查看以伏特或dBm为单位的功率或功率谱密度的光谱数据DC - 300 MHz100Hz - 300 MHz数字滤波器&bull 使用交互式波特图设计IIR滤波器&bull 使用探测点（probe points）观察数字信号处理链中不同阶段的信号&bull 以振幅和相位的模式查看滤波器的频率响应&bull 同时过滤两个数据通道，并能够使用控制矩阵混合输入信号&bull 通过上传自己的系数来实现自定义滤波器波形发生器1 mHz - 20 MHz&bull 产生从1 mHz - 250 MHz的正弦波形&bull 产生从1 mHz - 100 MHz的方波和斜波波形&bull 产生最小脉宽为10 ns，频率高达100 MHz的脉冲波形&bull 使用内部和外部源调制波形振幅、频率和相位，频率高达62.5 MHz1 mHz - 500 MHz数据记录器1 MSa/s（8G）&bull 记录两个通道的数据，传输到SD卡上的数据速率高达100 kSa/s，传输到内部存储器上的数据速率高达1 MSa/s（8G）&bull 轻松容易的将记录的数据上传到云端进行分析10 MSa/s（120G） FIR滤波器生成器&bull 使用常见的脉冲响应和窗口函数在时域或频域中设计滤波器&bull 上传您自己的滤波器系数，或使用公式编辑器以数学方式定义您自己的自定义脉冲响应&bull 查看滤波器的传递函数，脉冲和阶跃响应，或者群和相位延迟&bull 只需要按一下按钮，即可将测量数据保存到SD卡或者云端逻辑电平分析/样式产生器16位双向I/O信号采样率最大62.5 MSa/s逻辑电平3.3V（最大5V）软件App-MacOS\WindowsAPI support for Python and MATLABAPP-iOS\WindowsAPI support for Python, MATLAB, and LabVIEWApp-iOSAPI support for Python and MATLAB

该种cell被广泛用于高压科学研究，能够满足高压电学/磁学实验需求，可以与QD的PPMS设备配合进行磁学、电学和其他原位高压实验。DAC压腔材质高硬铍铜（也可选用无磁钢）DAC压腔硬度HRC41金刚石支撑座垫/seat铍铜、无磁WC、无磁钢或者客户要求加压机制左右旋加压螺丝或匹配原位加压建议使用温度范围低温-300K顶部开角30°底部开角34°侧面孔位数量及入射角度4个Φ6mm侧孔配件规格M3×40m左右旋内六角螺栓DAC 整体直径26mmDAC 整体高度43.5mm最小工作距离8.3mm精度标准平行度优于±0.005，未标注公差±0.02，同轴度0.005，垂直度0.005，光洁度---底座面0.4，端面0.8 包装独立真空包装

该种cell被广泛用于高压科学研究，能够满足高压电学/磁学实验需求，可以与QD的PPMS设备配合进行磁学、电学和其他原位高压实验。DAC压腔材质高硬铍铜（也可选用无磁钢）DAC压腔硬度HRC41金刚石支撑座垫/seat铍铜、无磁WC、无磁钢或者客户要求加压机制左右旋加压螺丝或匹配原位加压建议使用温度范围低温-300K顶部开角30°底部开角30°侧面孔位数量及入射角度4个4.6×6.2mm侧孔配件规格M3×40m左右旋内六角螺栓DAC 整体直径22.5mm（相对平行面20.5mm）DAC 整体高度31mm（不含puck）最小工作距离12mm精度标准平行度优于±0.005，未标注公差±0.02，同轴度0.005，垂直度0.005，光洁度---底座面0.4，端面0.8 包装独立真空包装

新一代多通道高精度低噪声综合电学测量仪 M81-SSM一款专用于从DC到100kHz的低电平测量的创新架构 Lake Shore MeasureReady&trade 新一代多通道高精度低噪声综合电学测量仪 M81-SSM 为先进测量应用提供了一种简单而直接的方法。M81-SSM消除了多种特定功能仪器安装的复杂性，将直流和交流源的便利性与测量相结合，包括了锁相的灵敏度和测量性能。这种噪声极低的同步信号源和测量系统可确保很小的仪表空间内（每台半机架）具有 1~3 个信号源通道和 1~3 个测量通道的固有同步测量功能，因此可高度适应各种材料和器件研究应用。M81-SSM应用领域直流输运：I-V曲线，4线法（主要模块：VS模块+CM模块）理想应用：二维材料、纳米线、有机半导体M81的优势：低电压源噪声、低电流测量噪声交流输运：交流电阻、方块电阻和交流电流霍尔（BCS模块+VM模块）理想应用：金属-绝缘体转变、二维材料、超导材料M81的优势：交流电流霍尔：同步测量电阻和霍尔电压；在一个低温恒温器中同时测量多达三个不同频率的器件光电二极管和光电晶体管（CM 模块 + 偶尔使用 VS 模块）理想应用：红外敏感材料、日盲材料、二维材料M81的优势：可程控偏置电压源自旋输运（DC/AC: BCS 模块 + VM 模块）理想应用：自旋轨道扭矩（SOT）、非局域电阻、自旋阀M81的优势： SOT：同步测量电阻、霍尔电压和谐波霍尔电压微分电导（VS模块+CM模块）理想应用：MIS 结、约瑟夫森结、晶体管中的缺陷表征M81的优势：双 DAC 交流和直流源（在适当量程内）热输运（AC，BCS 模块 + VM 模块）理想应用：热电材料、一维材料M81的优势：相位相关电流源，同步谐波检测M81-SSM主要特征☛ 特有的实时采样架构实现同步源和测量☛ 所有通道可进行振幅、时间及频率同步☛ 专为科研级低电平测量应用设计☛ 为所有测量提供高度可配置的锁相测量☛ 在独立的信号链上同时输出直流和交流（最高 100 kHz）信号☛ 在半机架空间内集成 1~3 个通道的直流和交流电源及1~3个通道的直流和交流测量特有的实时采样架构，可实现同步源和测量 ☛ MeasureSync&trade 技术可在同一时间对所有通道进行采样，确保在相同条件下对被测器件或样品进行测试，获得一致性的数据☛ 用户可在所有测量通道上选择直流/交流振幅和相位检测☛ 共用 DAC/ADC 采样时钟可确保3个信号源和3个测量模块之间高度精确和一致的信号源/测量值时序同步专为科研级低电平测量应用设计 ☛ 线性模块电源架构可确保尽可能低的源/测量噪声☛ 数据转换器、模块和被测器件 (DUT) 之间为全模拟信号路径☛ 远程模块可实现到被测器件（DUT）的尽可能短的信号路径，从而隔离敏感模拟电路与数字电路和传统单外壳仪器设计中典型的不必要干扰源直流仪器的绝对精度+交流仪器的检测灵敏度☛ 所有源和测量通道都支持直流和交流至 100 kHz 的信号☛ 优化了基波、谐波和相位交流加直流偏置测量☛ 模块化设计允许用户灵活配置模块，以满足特定应用的需要 特有、灵活的仪器/分布式模块架构 ☛ 可远程安装的放大器模块可在不同仪器之间互换☛ 系统重新配置时可动态识别模块☛ 使用简洁的用户界面（UI）和通用的应用编程程序接口（API），可快速设置并缩短学习曲线 M81-SSM组成部分 ☛ M81主机最多可连接三个源模块和三个测量模块☛ 对每项不同的测量交换模块并调整配置☛ 所有模块支持测量直流和交流至100 kHz☛ 所有模块均经过优化，可通过共用振幅和频率实现超高精度测量灵活的测量能力 M81-SSM提供直流和交流激励及测量功能，用于表征材料和器件在低温、室温和高温环境中的性能。在低电阻测量应用中，选择差分电流源和电压测量模块组合，需要精确的激励电流和平衡（浮动）采样连接的降噪优势；或者与额外的电压源和电流测量模块混合匹配，用于复杂的高阻抗或栅极偏置应用，这些应用需要精确的电压控制和扫描测试机制。 与窄带宽直流系统不同，M81-SSM模块的工作频率可从极低到100kHz。用户可以选择测量带宽以避免1/f噪声和测试环境噪声高的其他频带。 MeasureSync&trade 技术可在同一时间对所有信号源和测量通道进行采样，确保在相同条件下对被测器件或样品进行测试，从而获得一致的数据。 Lake Shore MeasureLINK&trade 软件可提供可配置的测量脚本和回路，以支持各种应用。同时可以非常方便的与Lake Shore低温探针台、低温恒温器、超导磁体以及第三方系统集成。 这些综合能力使 M81-SSM 成为表征多种结构（包括纳米结构、单层和多层原子结构、MEMS、量子结构、有机半导体和超导材料）的卓越解决方案。MeasureSync&trade 架构说明MeasureReady M81-SSM采用特有的 MeasureSync&trade 信号同步技术，可在每个通道上进行连续数据采样，其噪声和灵敏度水平与其他高端的科研级信号源和测量仪器相当。M81-SSM减少了所需仪器和软件的数量和类型，简化了复杂材料表征操作的设置和运行。它通过单一界面统一了所有配置和实验功能，并使用功能强大的 MeasureLINK&trade 软件进行进行测量。 传统仪器搭建多器件测试的传统仪器搭建 ☛ 典型的材料和器件表征应用需要直流和交流仪器的组合☛ 传统实验装置通常涉及物理尺寸较大的采样仪器设备，需要在样品和仪器之间使用较长的信号电缆☛ 许多应用需要多个源通道和多个测量通道，而同步所有通道是一项极大的挑战☛ 模块化的 "机架和堆叠 "方法需要操作人员具备高水平的技能才能取得可靠的结果☛ 随着信号源和测量通道数量的增加，对冗余、独立仪器的需求也随之增加，但可能会增加总体实施成本 M81同步源测试M81-SSM优势： ☛ 减少独立仪器的数量，使安装和操作更加简便，并将直流皮安表、电压表和交流锁相放大器的功能结合在一起☛ 减少信号源、测量和样品之间的信号电缆数量和长度，最大限度地减少寄生现象（漏电、噪声、电阻和电抗）☛ 增加通道数量实现同步或并行的样品/器件测试☛ 通过简单地为各种应用测试交换模块配置，即可轻松实现重新配置☛ 成本远低于传统的多仪器配置 特有的信号技术模块M81-SSM系统提供直流至 100 kHz 的精密电子信号源和测量功能，具有 375 kHz (2.67 μs) 信号源/测量数字化率，最多可连接 3 个信号源和 3 个测量前端模块。 所有模块均采用线性电路设计，由高度隔离的线性电源供电，确保尽可能低的电压/电流噪声，可与先进的锁相放大器和科研级源和测量仪器相媲美。 这些具有嵌入式校准数据的可快速更换模块能够在实验设置期间和实验设置之间进行快速测量重新配置。模块结构紧凑、屏蔽良好，可根据应用要求和用户偏好进行远程、机架或台式安装。为实现与主仪器的互连，模块标配 2 米电缆，但用户也可以订购 8 米延长电缆，以实现长达 10 米的连接。 M81-SSM内置功能：■ 双交流和直流量程信号源，只需一个模块（VS-10电压源模块）和样品/器件连接，即可实现对直流、交流或直流叠加交流幅值信号的精确、全面控制■ 无缝量程变化测量，在需要多次量程变化的信号扫描应用中，可显著减少或消除典型的量程变化引起的测量偏移/不连续（VM-10 模块） 将交流和直流集成到单一信号源和测量模块中：☛ 简化与被测设备的连接☛ 简化接地回路连接方案☛ 无需更改硬件或连接，通过设置程序即可实现直流和交流信号的源激励和测量，简化了测试编程☛ 可使用直流偏置进行交流调制，并提供高度灵活的信号和测量分辨率选项 源模块和测量模块概览BCS-10平衡电流源模块该模块提供 1 pA 至 100 mA 的可程控电流，最大顺从电压±10 V，从直流至100 kHz正弦输出。VS-10电压源模块该模块可提供±1 nV 至 ±10 V 的可程控电压，最大顺从电流 100 mA ，从直流至100 kHz 正弦输出。CM-10电流测量模块该模块可在直流至 100 kHz 范围内，以接近零的输入偏置电压测量 fA 至 100 mA 的电流，包括幅值、相位和谐波检测功能。VM-10电压测量模块该模块可在直流至 100 kHz范围内，提供从nV到 10 V 电压测量，包括振幅、相位和谐波检测功能。M81-SSM主要参数 源通道源通道功能直流、正弦波、三角波（最高 5 kHz）、方波（最高 5 kHz）源同步功能同步另一个通道或外部参考信号频率范围100 µ Hz 至 100 kHz（或模块带宽，以较小者为准）频率分辨率大于 100 µ Hz，6位数字显示频率精度0.06%相位噪声100 ms 时间常数，12 dB/oct：内部参考：0.0001° RMS @ 10 kHz外部参考：0.002° RMS @ 10 kHz动态储备120 dB （典型）测量通道测量通道功能直流、交流（RMS、峰值）和锁相（X 和 Y、R 和 Θ）锁相参考任何信号源通道或外部参考输入参考输入BNC: 正弦波 ≥ 1 VPP ≥ 200 Hz；方波 ≥ 1 VPP ≥ 10 mHz参考输出BNC: 3.3 V方波监视输出BNC: M1 监视器，M2监视器，M3监视器，手动输出数字输入6 针 3.5 毫米可拆卸接线板：2 个 TTL 兼容输入：Vhigh 标称电压 3.3 V；Vlow电压： 0 V数字输出6 针 3.5 毫米可拆卸接线板：2 个 TTL 兼容输入：3.3 Vhigh 标称电压 @ 1 mA总谐波失真0.1%，从DC到100 kHz，典型值采样率375 kSa/s预热时间60 分钟达到指定精度隔离测量公共端与机箱接地隔离前面板显示5英寸电容触摸屏，彩色TFT-LCD WVGA（800×480），带LED背光 系统速度USBGPIB以太网数据传输最大读取速率（记录/秒）500050005000数据传输最大数据吞吐量（kB/s）204080典型 SCPI 查询响应时间 (ms)152060

新一代多通道高精度低噪声综合电学测量仪 M81-SSM一款专用于从DC到100kHz的低电平测量的创新架构 Lake Shore MeasureReady&trade 新一代多通道高精度低噪声综合电学测量仪 M81-SSM 为先进测量应用提供了一种简单而直接的方法。M81-SSM消除了多种特定功能仪器安装的复杂性，将直流和交流源的便利性与测量相结合，包括了锁相的灵敏度和测量性能。这种噪声极低的同步信号源和测量系统可确保很小的仪表空间内（每台半机架）具有 1~3 个信号源通道和 1~3 个测量通道的固有同步测量功能，因此可高度适应各种材料和器件研究应用。M81-SSM应用领域 直流输运：I-V曲线，4线法（主要模块：VS模块+CM模块）理想应用：二维材料、纳米线、有机半导体M81的优势：低电压源噪声、低电流测量噪声交流输运：交流电阻、方块电阻和交流电流霍尔（BCS模块+VM模块）理想应用：金属-绝缘体转变、二维材料、超导材料M81的优势：交流电流霍尔：同步测量电阻和霍尔电压；在一个低温恒温器中同时测量多达三个不同频率的器件光电二极管和光电晶体管（CM 模块 + 偶尔使用 VS 模块）理想应用：红外敏感材料、日盲材料、二维材料M81的优势：可程控偏置电压源自旋输运（DC/AC: BCS 模块 + VM 模块）理想应用：自旋轨道扭矩（SOT）、非局域电阻、自旋阀M81的优势： SOT：同步测量电阻、霍尔电压和谐波霍尔电压微分电导（VS模块+CM模块）理想应用：MIS 结、约瑟夫森结、晶体管中的缺陷表征M81的优势：双 DAC 交流和直流源（在适当量程内）热输运（AC，BCS 模块 + VM 模块）理想应用：热电材料、一维材料M81的优势：相位相关电流源，同步谐波检测 M81-SSM主要特征☛ 特有的实时采样架构实现同步源和测量☛ 所有通道可进行振幅、时间及频率同步☛ 专为科研级低电平测量应用设计☛ 为所有测量提供高度可配置的锁相测量☛ 在独立的信号链上同时输出直流和交流（最高 100 kHz）信号☛ 在半机架空间内集成 1~3 个通道的直流和交流电源及1~3个通道的直流和交流测量特有的实时采样架构，可实现同步源和测量 ☛ MeasureSync&trade 技术可在同一时间对所有通道进行采样，确保在相同条件下对被测器件或样品进行测试，获得一致性的数据 ☛ 用户可在所有测量通道上选择直流/交流振幅和相位检测☛ 共用 DAC/ADC 采样时钟可确保3个信号源和3个测量模块之间高度精确和一致的信号源/测量值时序同步专为科研级低电平测量应用设计 ☛ 线性模块电源架构可确保尽可能低的源/测量噪声☛ 数据转换器、模块和被测器件 (DUT) 之间为全模拟信号路径☛ 远程模块可实现到被测器件（DUT）的尽可能短的信号路径，从而隔离敏感模拟电路与数字电路和传统单外壳仪器设计中典型的不必要干扰源直流仪器的绝对精度+交流仪器的检测灵敏度☛ 所有源和测量通道都支持直流和交流至 100 kHz 的信号☛ 优化了基波、谐波和相位交流加直流偏置测量☛ 模块化设计允许用户灵活配置模块，以满足特定应用的需要 特有、灵活的仪器/分布式模块架构 ☛ 可远程安装的放大器模块可在不同仪器之间互换☛ 系统重新配置时可动态识别模块☛ 使用简洁的用户界面（UI）和通用的应用编程程序接口（API），可快速设置并缩短学习曲线 M81-SSM组成部分 ☛ M81主机最多可连接三个源模块和三个测量模块☛ 对每项不同的测量交换模块并调整配置☛ 所有模块支持测量直流和交流至100 kHz☛ 所有模块均经过优化，可通过共用振幅和频率实现超高精度测量灵活的测量能力 M81-SSM提供直流和交流激励及测量功能，用于表征材料和器件在低温、室温和高温环境中的性能。在低电阻测量应用中，选择差分电流源和电压测量模块组合，需要精确的激励电流和平衡（浮动）采样连接的降噪优势；或者与额外的电压源和电流测量模块混合匹配，用于复杂的高阻抗或栅极偏置应用，这些应用需要精确的电压控制和扫描测试机制。 与窄带宽直流系统不同，M81-SSM模块的工作频率可从极低到100kHz。用户可以选择测量带宽以避免1/f噪声和测试环境噪声高的其他频带。 MeasureSync&trade 技术可在同一时间对所有信号源和测量通道进行采样，确保在相同条件下对被测器件或样品进行测试，从而获得一致的数据。 Lake Shore MeasureLINK&trade 软件可提供可配置的测量脚本和回路，以支持各种应用。同时可以非常方便的与Lake Shore低温探针台、低温恒温器、超导磁体以及第三方系统集成。 这些综合能力使 M81-SSM 成为表征多种结构（包括纳米结构、单层和多层原子结构、MEMS、量子结构、有机半导体和超导材料）的卓越解决方案。MeasureSync&trade 架构说明MeasureReady M81-SSM采用特有的 MeasureSync&trade 信号同步技术，可在每个通道上进行连续数据采样，其噪声和灵敏度水平与其他高端的科研级信号源和测量仪器相当。M81-SSM减少了所需仪器和软件的数量和类型，简化了复杂材料表征操作的设置和运行。它通过单一界面统一了所有配置和实验功能，并使用功能强大的 MeasureLINK&trade 软件进行进行测量。 传统仪器搭建多器件测试的传统仪器搭建 ☛ 典型的材料和器件表征应用需要直流和交流仪器的组合☛ 传统实验装置通常涉及物理尺寸较大的采样仪器设备，需要在样品和仪器之间使用较长的信号电缆☛ 许多应用需要多个源通道和多个测量通道，而同步所有通道是一项极大的挑战☛ 模块化的 "机架和堆叠 "方法需要操作人员具备高水平的技能才能取得可靠的结果☛ 随着信号源和测量通道数量的增加，对冗余、独立仪器的需求也随之增加，但可能会增加总体实施成本 M81同步源测试M81-SSM优势： ☛ 减少独立仪器的数量，使安装和操作更加简便，并将直流皮安表、电压表和交流锁相放大器的功能结合在一起☛ 减少信号源、测量和样品之间的信号电缆数量和长度，最大限度地减少寄生现象（漏电、噪声、电阻和电抗）☛ 增加通道数量实现同步或并行的样品/器件测试☛ 通过简单地为各种应用测试交换模块配置，即可轻松实现重新配置☛ 成本远低于传统的多仪器配置 特有的信号技术模块M81-SSM系统提供直流至 100 kHz 的精密电子信号源和测量功能，具有 375 kHz (2.67 μs) 信号源/测量数字化率，最多可连接 3 个信号源和 3 个测量前端模块。 所有模块均采用线性电路设计，由高度隔离的线性电源供电，确保尽可能低的电压/电流噪声，可与先进的锁相放大器和科研级源和测量仪器相媲美。 这些具有嵌入式校准数据的可快速更换模块能够在实验设置期间和实验设置之间进行快速测量重新配置。模块结构紧凑、屏蔽良好，可根据应用要求和用户偏好进行远程、机架或台式安装。为实现与主仪器的互连，模块标配 2 米电缆，但用户也可以订购 8 米延长电缆，以实现长达 10 米的连接。 M81-SSM内置功能：■ 双交流和直流量程信号源，只需一个模块（VS-10电压源模块）和样品/器件连接，即可实现对直流、交流或直流叠加交流幅值信号的精确、全面控制■ 无缝量程变化测量，在需要多次量程变化的信号扫描应用中，可显著减少或消除典型的量程变化引起的测量偏移/不连续（VM-10 模块） 将交流和直流集成到单一信号源和测量模块中：☛ 简化与被测设备的连接☛ 简化接地回路连接方案☛ 无需更改硬件或连接，通过设置程序即可实现直流和交流信号的源激励和测量，简化了测试编程☛ 可使用直流偏置进行交流调制，并提供高度灵活的信号和测量分辨率选项 源模块和测量模块概览BCS-10平衡电流源模块该模块提供 1 pA 至 100 mA 的可程控电流，最大顺从电压±10 V，从直流至100 kHz正弦输出。VS-10电压源模块该模块可提供±1 nV 至 ±10 V 的可程控电压，最大顺从电流 100 mA ，从直流至100 kHz 正弦输出。CM-10电流测量模块该模块可在直流至 100 kHz 范围内，以接近零的输入偏置电压测量 fA 至 100 mA 的电流，包括幅值、相位和谐波检测功能。VM-10电压测量模块该模块可在直流至 100 kHz范围内，提供从nV到 10 V 电压测量，包括振幅、相位和谐波检测功能。M81-SSM主要参数 源通道源通道功能直流、正弦波、三角波（最高 5 kHz）、方波（最高 5 kHz）源同步功能同步另一个通道或外部参考信号频率范围100 µ Hz 至 100 kHz（或模块带宽，以较小者为准）频率分辨率大于 100 µ Hz，6位数字显示频率精度0.06%相位噪声100 ms 时间常数，12 dB/oct：内部参考：0.0001° RMS @ 10 kHz外部参考：0.002° RMS @ 10 kHz动态储备120 dB （典型） 测量通道测量通道功能直流、交流（RMS、峰值）和锁相（X 和 Y、R 和 Θ）锁相参考任何信号源通道或外部参考输入参考输入BNC: 正弦波 ≥ 1 VPP ≥ 200 Hz；方波 ≥ 1 VPP ≥ 10 mHz参考输出BNC: 3.3 V方波监视输出BNC: M1 监视器，M2监视器，M3监视器，手动输出 数字输入6 针 3.5 毫米可拆卸接线板：2 个 TTL 兼容输入：Vhigh 标称电压 3.3 V；Vlow电压： 0 V数字输出6 针 3.5 毫米可拆卸接线板：2 个 TTL 兼容输入：3.3 Vhigh 标称电压 @ 1 mA总谐波失真0.1%，从DC到100 kHz，典型值采样率375 kSa/s预热时间60 分钟达到指定精度隔离测量公共端与机箱接地隔离前面板显示5英寸电容触摸屏，彩色TFT-LCD WVGA（800×480），带LED背光 系统速度USBGPIB以太网数据传输最大读取速率（记录/秒）500050005000数据传输最大数据吞吐量（kB/s）204080典型 SCPI 查询响应时间 (ms)152060

产品简介LVHT系列恒温加热探针台是我司根据高校科研及产业研发需要，而特定设计的一款高精密控温探针台，系统兼顾位移调节精度及控温精度，实现测量芯片在不同温度下的电学性能变化，广泛应用于光电半导体等相关领域。产品优势模块化设计，可以搭配不同构件完成不同测试最大可用于12英寸以内样品测试探针台整体位移精度高达3μm，样品台精密四维调节兼容多种光学显微镜，可外引光路实现光电mapping测试PID控温，可加热至300℃，精度±0.1℃，均匀性±5℃ 满足1μm以上电极/PAD使用漏电精度可达10pA/100fA（屏蔽箱内）探针座采用进口交叉滚珠导轨，线性移动，无回程差设计加宽探针放置架，可放置6个DC探针座/4个RF探针座显微镜可二维精密调节，且可选配多种行程及驱动方式模块介绍通用参数常规选型相关配件多种精度，多种夹具类型探针座 同轴线缆，三同轴线缆各种类型探针真空泵电学测试夹具电磁屏蔽箱应用领域半导体材料光电检测，功率器件测试，MEMS测试，PCB测试，液晶面板测试，测量表面电阻率测试，精密仪器生产检测，航空航天实验等。谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，已达到更好的测试效果及性价比，具体信息可联系详询。

产品简介LVHT系列恒温加热探针台是我司根据高校科研及产业研发需要，而特定设计的一款高精密控温探针台，系统兼顾位移调节精度及控温精度，实现测量芯片在不同温度下的电学性能变化，广泛应用于光电半导体等相关领域。产品优势模块化设计，可以搭配不同构件完成不同测试最大可用于12英寸以内样品测试探针台整体位移精度高达3μm，样品台精密四维调节兼容多种光学显微镜，可外引光路实现光电mapping测试PID控温，可加热至300℃，精度±0.1℃，均匀性±5℃ 满足1μm以上电极/PAD使用漏电精度可达10pA/100fA（屏蔽箱内）探针座采用进口交叉滚珠导轨，线性移动，无回程差设计加宽探针放置架，可放置6个DC探针座/4个RF探针座显微镜可二维精密调节，且可选配多种行程及驱动方式模块介绍通用参数常规选型相关配件多种精度，多种夹具类型探针座 同轴线缆，三同轴线缆各种类型探针真空泵电学测试夹具电磁屏蔽箱应用领域半导体材料光电检测，功率器件测试，MEMS测试，PCB测试，液晶面板测试，测量表面电阻率测试，精密仪器生产检测，航空航天实验等。谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，已达到更好的测试效果及性价比，具体信息可联系详询。