发射塔

Apero 2-超高分辨场发射扫描电镜【产品描述】Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能场发射扫描电镜搭载独特的实时元素成像功能和先进的自动光学系统，实现灰色区域解析，让您不再忧心显微镜性能，更加专注于研究本身。 Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高质量成像性能，即使是磁性样品或是传统意义上成像非常困难的样品也可以实现极佳成像性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基础之上，进一步优化了超高分辨成像能力，并且增设许多新功能提升其高级功能的易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平台上引入了SmartAlign（智能对中）技术，不再需要用户手动进行调整操作，而且，FLASH（闪调）自动执行精细调节工作，只需移动鼠标几次，就可以完成必要的透镜居中、消像散和聚焦校正。此外，Apreo 2 SEM是唯一在10 mm分析工作距离下具有1 nm分辨率的SEM，长工作距离不再意味着低分辨成像，有了Apreo 2 SEM，任何用户都可以自信地得到很好的成像效果。 【特点与应用】 全面解析全面的纳米和亚纳米分辨率性能，适用于纳米颗粒、粉末、催化剂、纳米器件、大块磁性样品等材料； 极佳的灵活性非常灵活的处理范围，样品类型广泛，包括绝缘体、敏感材料和磁性样品，收集最重要的数据； SmartAlign技术使用SmartAlign（智能对中）技术，实现光学系统自动调整，减少维护时间； 先进的自动化先进的自动化用于自动图像微调、撤销、用户向导、Maps成像拼接的FLASH（闪调）技术； 实时定量EDS元素信息触手可及，利用ColorSEM技术，提供实时元素面分布成像定量分析，结果获取更加快速、简便； 长工作距离唯一在长工作距离（10 mm）具有高分辨率的性能(1 nm)和优秀的图像质量的SEM产品参数发射源：高稳定型肖特基场发射电子枪分辨率： 型号Apero 2 CApero 2 S末级透镜静电复合高真空15kV0.9nm 0.5nm1kV1.0nm0.8nm500V 1.2nm0.8nm加速电压范围：200 V ~ 30 kV 着陆电压范围：200 eV ~ 30 keV探针电流范围：1 pA ~ 50 nA，连续可调（可选配400 nA）最大水平视场宽度：10 mm WD时为3 mm（相当于最低放大倍率29倍）X-Ray工作距离：10 mm，EDS检出角35°样品室：从左至右为 340 mm 宽的大存储空间，样品室可拓展接口数量12个，含能谱仪接口3 个（其中2个处于180° 对角位置）样品台：五轴优中心全自动马达驱动X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15o~90o,R=360o （连续旋转）多用途SEM样品安装载物台，可同时放置 18 个标准样品座（φ12 mm）最大样品尺寸，直径122 mm，可沿X、Y轴完全旋转时最大样品高度，到优中心点间隔为85 mm最大样品承重 5 kg探测器系统：样品室二次电子探测器ETD镜筒内背散射电子探测器T1镜筒内二次电子探测器T2镜筒内二次电子探测器T3（选配）样品室内IR-CCD红外相机（观察样品台高度）图像导航彩色光学相机Nav-Cam+&trade 样品室低真空二次电子探测器（选配）可伸缩透镜下背散射探测器（选配）控制系统： 操作系统：Windows 10图像显示：24寸LCD显示器，最高显示分辨率1920×1200支持用户自定义的GUI，可同时实时显示四幅图像软件支持Undo和Redo功能

日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面，向所有用户提供高画质图像-- 日立高新技术公司（以下简称：日立高新）8月4日开始发售的肖特基式场发射扫描电子显微镜"SU5000"，搭载了全新的用户界面和"EM Wizard"，无论用户的操作技巧是否娴熟都可以拍出好的照片。 扫描电子显微镜在纳米技术领域、材料领域、医学生物等领域均被广泛使用。但随着近年来仪器性能的大幅提升，以及用户群体的不断扩大，使得用户对不需要任何经验和技术就能得到好照片的需求迅速扩增。而且，由于观察对象的样品的不断多样化，对样品的大小和性质的无制约观察变得尤为重要。 这次新开发的"SU5000"对用户没有任何操作技巧上的要求，通过”EM Wizard“只要选择好观察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人为本的设计理念使电镜的操作性大幅上升，对于用户来说，再也不用去讨论该用什么条件进行观察，只要按照观察目的选择”表面细节观察“或是”成分分布“等就可以自动将适合的观察条件设置好。除此之外，使用经验丰富的操作人员也可以像往常一样自由的选择观察条件，按照自己的操作习惯进行设置。”EM Wizard“对于初学者或者使用经验尚浅的客户来说，它独有的操作简易性和各种学习工具可以帮助您迅速成长起来；对使用经验丰富的客户来说，开放了丰富的可设置选项，会令您操作起来更加得心应手。这正是"EM Wizard"的价值所在。 另外"SU5000"的寻找视野功能"3D MultiFinder"更是独一无二的。不但可大幅提高做样速度，更使视野再现性得到大大提高。并且，为了能适应各种分析的需求，最大束流可达到200nA。再加上全新设计的背散射电子探头和低真空二次电子探头等，都使该款电镜无论在是观察样品还是分析都具备了超强的功能与强大的扩展性。 日立高新在8月3日至8月7日在美国康涅狄格州举办的"Microscopy & Microanalysis"，9月3日至9月5日在日本千叶县幕张国际展览中心举办的"JASIS 2014"，9月7日至9月12日在捷克举行的"18th International Microscopy Congress"上都做了实机展出。*：肖特基式场发射电子显微镜：高亮度、大束流、超强稳定性汇聚一身肖特基式场发射电子显微镜。分辨率高和可做各种定量定性分析。 肖特基式场发射电子显微镜"SU5000" "EM Wizard"画面样式【主要参数】 电子枪ZrO/W 肖特基式场发射电子枪加速电压0.5~30kV着陆电压0.1~2kV分辨率2.0nm@1kV（*1）、1.2nm@30kV、3.0nm@15kV 低真空模式（*2）放大倍率底片倍率：10~600000倍、显示倍率：18~1000000倍5轴马达台X：0~100mm、Y：0~50mm、Z：3~65mm、T：-20~90°、R：360° *1：减速模式是选配项 *2：低真空模式是选配项 2014年，日立高新技术公司（以下简称：日立高新） 新型肖特基场发射扫描电镜*"SU5000"作为工业用设备荣获由公益财团法人日本设计振兴会颁发的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度最佳设计奖)。

阴极发射体 Kimball Physics设计和制造各种高性能电子发射器，以满足客户的各种需求。这些发射器专为高亮度、长寿命或坚固的可靠性而设计，用于Kimball Physics电子枪以及我们客户的高性能仪器和工具。阴极/发射器既有标准产品，也有定制设计，应用包括电子显微镜、光刻、X射线生成、自由电子激光器、电子加速器等。阴极发射体阴极类型： 阴极发射体基座类型：● 六硼化镧（LaB6）高亮度单晶 ● 带有Kovar或钼引脚的高公差陶瓷 LaB6高亮度单晶——标准和保护环 ● 标准陶瓷AEI底座 LaB6用于电子显微镜-适用于大多数系统 ● Compact Kimball Physics CB-104基座● 圆盘阴极 ● 各种显微镜底座 钽（Ta）标准耐火圆盘 ● 阴极也可以安装在客户提供的底座上 用于低温操作的氧化钡（BaO）涂层圆盘 钇（Y2O3）涂层铱盘，可承受较差的真空度阴极发射体选型参考表* electron microscope Bases Available: Zeiss, VG-AEI replacement, VG, Philips, Perkin Elmer/ ETEC, Leica-AEI, JEOL-K, JEOL-GC (JSM, JEOL-E, ISI 2-pin, Hitachi S, ETEC, Electroscan-AEI, Camscan-AEI, Cameca-AEI, BioRad-AEI, Amray, AEI* Configurations Available: Code (Cone angle – microflat size(microns): 60-06, 90-15, 90-20Note- not all combinations are available (Cone angle, microflat dimension, with/without GR and base style, or Disc dimension and base). However, custom options are often available.** Richardson constant (A/m2K2 ) LaB6 = 29, Other materials for reference CeB6 = 3.6★★★ 更多电镜方面产品信息，比如，磁透镜、真空腔等，可咨询上海昊量光电设备有限公司。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

专利的双模开尔文探头和光发射光谱系统，用于通过空气中的光发射测量材料的绝对功函数。我们独特的系统提供的开尔文探头系统范围和功函数分辨率的准确性是任何其他开尔文探头供应商都无法比拟的。APS型光电子发射光谱仪特点：1， 大气环境下使用2， 功能：光电子发射光谱+开尔文探针3， 测试能级：费米能级，导带底能量，价带顶能量，HOMO-LUMO，禁带宽度，功函数等4， 局域态密度 （Local Density of States, LDOS）5， 3分钟得到：费米能级，功函数，局域态密度6， 非接触无损测试，测试安装简单，操作容易7， 低能量的光子激发8， 提供校准用的标样9， 手动和全自动操作，稳定可靠APS04-N2-RH型光电子发射光谱仪：样品由氮气保护，相对湿度控制箱内测试 此光电子发射光谱仪使用可调波长的深紫外光源，能量输出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下数据：绝对功函数 HOMO ： highest occupied molecular orbital 表面光电压谱(SPS)模块输出 400 - 1000 nm波长，用于测试 Voc 和 禁带宽度, 结合 50 x 50 mm扫描面积得到平面相对功函数测试(费米能级). 氮气保护，相对湿度控制箱内测试绝对功函数 软件测试可得到： 能级扫描范围针尖标样势能, 信号增益 信号整合时间及平均立方根或平方根拟合光电子发射数据 归一化光强基线校正局域态密度LDOS对于光子能量的曲线

日立2011年新推出了SU9000超高分辨冷场发射扫描电镜，达到扫描电镜世界顶级二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统，不仅分辨率性能明显提升，而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作，可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。特点：1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界最高分辨率：二次电子0.4nm（30KV），STEM 0.34nm（30KV）。2. Hitachi专利设计的E×B系统，可以自由控制SE和BSE检测信号。3. 全新真空技术设计使得SU9000冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点。4. 全新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。5. STEM的明场像能够调整信号检测角度，明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。6. 与FIB兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。项目技术指标二次电子分辨率0.4nm （加速电压30kV，放大倍率80万倍）1.2nm （加速电压1kV，放大倍率25万倍）STEM分辨率0.34nm（加速电压30kV，晶格象）观测倍率底片输出显示器输出LM模式80~10,000x220~25,000xHM模式800~3,000,000x2,200~8,000,000x样品台侧插式样品杆样品移动行程X±4.0mmY±2.0mmZ±0.3mmT±40度标准样品台平面样品台：5.0mm×9.5mm×3.5mmH截面样品台：2.0mm×6.0mm×5.0mmH专用样品台截面样品台：2.0mm×12.0mm×6.0mmH双倾截面样品台：0.8mm×8.5mm×3.5mmH信号检测器二次电子探测器TOP 探测器（选配）BF/DF 双STEM探测器（选配）

北京京科瑞达新到货二手瓦里安Vista MPX电感耦合等离子体发射光谱仪，作为世界上首台超过百万个感光点的CCD检测器的真正全谱直读发射光谱仪，可同时分析常量和痕量组分，在具有极高性能的同时，全面节省日常消耗和分析成本。二手瓦里安Vista MPX ICP-OES主要特点：1.高效稳定的射频发生系统2.高分辨率的中阶梯光栅交叉色散光学系统3.专利的冷锥接口技术，完全消除低温尾焰。4.超过百万感光点CCD检测器，灵敏度高且防电子溢流5.功能强大的多任务软件结合全中文在线多媒体帮助二手瓦里安Vista MPX ICP-OES技术参数：1.波长范围：175-785nm波长连续覆盖，完全无断点2.RF发生器频率：40.68MHz3.信号稳定性：≤1%RSD4.杂散光：〈2.0ppm As5.完成EPA 22个元素系列测定时间小于5分钟

24小时*365天连续监测 防水、防尘、防风监测协议开放 具有网络异常自动处理机制监测数据JSON格式传输 支持RMS测量快速集成 三维全向工作状态反馈 各同向性应用范围:手机通信基站、微基站、通信系统、导航、等电磁辐射环境监测广播、航空、航天、雷达、卫星等设备电磁辐射环境监测长波/中波/短波广播发射塔、电视发射台等设施电磁辐射监测

1. 测量原理：定向半球反射（DHR） , 20°±1°入射2. 测量波段:双波段，3-5卩m & 8-12pm3. 重复性：＜ 0.014. 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好5.彩色触摸屏：汉字界面、触摸操作、一目了然，一键测量，操作简便6.数据存储：Micro SD卡，最大2048条记录，分8组，TXT文件格式，方便在PC机上后续数据分析国内商用化产品产品经过工程化考验隐身涂覆材料红外特性硏究飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估RLK650便携式红外发射率测量仪，是采用先进的光电检测技 术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，新型 的光电检测仪器。其基于定向半球反射比（DHR）测量原理，完成双波段 （3-5um和8-12um）发射率的贴近测量。产品针对野外、移动试验条件设 计，集公司多项技术积累，吸收国际先进产品的技术与特点，具有携带方便、 操作简单、等优点，测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估、红外隐身涂 覆材料的研究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司联系方式：029-81870090型号ModelRLK650原理 Principle定向半球反射（DHR）, 20° ±1°入射测量波段 Spectral Response双波段3-5pm & 8-12pm工作模式Work Mode发射率/反射率重复性 repeatabilityW 0.01显示分辨率 Display Resolution0.001显示屏 Screen Type3.5” TFT LCD 触摸屏测量时间Measurement Time1。秒（每次测量进行2次数据采集）预热时间Stanby Time 90秒数据存储Data StoreMicro SD卡（8Gbyte）,最大2048条记录，分8组数据下载Data Download下载操作后，2048条记录，分8个TXT文件格式，保存在MicroSD卡中供电方式Power SupplyLi电池，18V3AH,持续工作时间＞3小时，可更换工作温度Working Temperature0P~+45P,非冷凝储存温度 Store Temperature-30P~+65P,非冷凝外形尺寸Dimension246mm * 290mm * 108mm（测量头）重量Weight2.3Kg（测量头）整体外形尺寸 Total Dimension480mm *410mm* 200mm（包装箱含电池、充电器、标准片等）整体重量Total Weight6.4Kg（包装箱含电池、充电器、标准片等）销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司 联系方式：029-818700902\

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D and S AERD半球发射率测定仪Emissometer可快速测量各种固体表面的发射率。 半球发射率(hemispherical emittance): 热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全幅射体(黑体)的辐射出射度之比值。 原理: 加热探测器内的热电堆，使探测器和试板之间产生温差。该温差与试板的发射率呈线性关系，通过比较高、低发射率标准板与试板表面温差的大小，得出试板的发射率。ASTM C1371-15(2022) Standard Test Method for Determination of Emittance of Materials Near Room Temperature Using Portable Emissometers.(便携式反射率测定仪常温下材料半球发射率的测定)。GB/T 25261-2018 建筑用反射隔热涂料(半球发射率)。GB/T 31389-2015 建筑外墙及屋面用热反射材料技术条件及评价方法(半球发射率的测定-辐射计法)。GJB 2502.3-2015 航天器热控涂层试验方法 第3部分: 发射率测试(辐射计法(方法2031))。HG/T 4341-2012 金属表面用热反射隔热涂料(半球发射率)。JG/T 235-2014 建筑反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。JG/T 375-2012 金属屋面丙烯酸高弹防水涂料(半球发射率的测定)。JC/T 1040-2020 建筑外表面用热反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。便携式半球反射率测定仪 D and S AERD 主要特点：1. 发射率数字显示，从0.01～1.00，重复性±0.01。2. 测量时间短(约15秒)。3. 低价格，且操作容易。便携式半球反射率测定仪 D and S AERD 技术参数： 检测器部份:测定波长: 3～30μm。 重复性: ±0.01发射度単位。 输出: 约2.5mV。 响应时间: 约10秒。 电源: AC100～240V。 主机部份:精度: 显示値±0.3%。 环境温度: -10?40℃。 尺寸: 80(W)x152(D)X51(H)mm。 电源: DC9V。 重量: 约370克。京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557

EHP-200A长中短波选频电磁辐射分析仪产品介绍： EHP-200A长中短波选频电磁辐射分析仪的设计用于对3kHz到30MHz频带内的电场和磁场值进行精确的全向测量，同时最da程度减少扰动场的影响。测量传感器和电子测量电路封装在一个坚固的探头外罩中，外形尺寸为92x92x109mm。EHP-200A长中短波选频电磁辐射分析仪内置频谱分析功能，分辨率带宽最小1kHz，动态范围80dB，能够对每一个频率的电磁场进行精确地测量。内置的可充电锂电池最高可支持12小时的连续测量。通过光纤连接，实时显示所有测量结果。利用辅助输入端口可外部信号进行频谱测量。产品特点：支持选频测量和宽带测量三轴各向同性测量EHP-200A频率范围 9kHz-30MHz EHP-200AC频率范围 3kHz-30MHz电场测量范围 0.02-1000V/m磁场测量范围 EHP-200A 0.6mA/m-300A/m EHP-200AC 6mA/m-1000A/m内置频谱分析功能内置可充电锂电池光纤连接远控测量 ，避免影响测量结果应用场所：1.职业安全防护根据相关的安全规定，工人们不能暴露在超过规定限制的场所下进行工作。 众多工业设备运行时都可能对操作人员存在潜在的电磁辐射风险。在上述设备的近场区，电场及磁场应同时被测量，以证实该设备的电磁辐射是否在规定限值之内EHP-200 内部同时具有电场和磁场传感器，是针对 3kHz-30MHz 频率范围内精确测量及频谱分析的理想仪器。2.广播监管EHP-200 尤其适用于测量长、中、短波广播发射塔的辐射场强，以确保天线发射塔附近的辐射安全、控制发射方向的输出功率、测试发射天线的功能并用来对远场区及近场区的边界进行测定。3.波阻抗电脑软件可以通过划分总值中的电场和磁场来计算场的波阻抗。这种方法尤其适合评估大型广播电视天线的非线性、分散的近场区域。4.射频识别 （RFID ） 和金属探测器所产生的场强以射频为工作原理，探测各种类型金属的金属探测器，以及确认物品身份，防盗系统等设备，均可以产生场强，而通过 EHP200A 可以轻松准确的检测出来。

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产品介绍：　　日立全新一代热场发射扫描电镜SU5000继承了日立半导体行业扫描电镜CD-SEM高稳定性和易操作的特点，不仅具有强大的观察分析能力，同时具有全新的操作体验。SU5000既满足了专业电镜操作者对高分辨观察和分析的需求，也满足了电镜初学者对高质量图片的需求，是一台操作简便且功能强大的扫描电镜。主要特点：1.高稳定性热场发射电子枪2.全新的EM Wizard软件，无需设置参数即可获得高质量图片3.高分辨率和强大的分析能力4.样品适用性强：不导电样品直接观察（低真空功能，10-300Pa）5.全新的multi-finder功能，方便快捷的寻找样品6.附件功能强大：拉伸台，冷热台，电子束曝光，红外CCD，离子束清洁系统等。

RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪，采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，实现对材料红外波段（2-22um）发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计，具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪，可广泛应用于各种工业材料发射率的测量，是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；&bull 测量波段：2-22um；&bull 重复性：±0.02；&bull 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；&bull OELD单色屏：一目了然，一键测量，操作简便；&bull 数据记录：最近32条测量记录，方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”，OLED点阵屏，单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录，EEPROM存储，关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃，非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃，非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm（包装箱含电源适配器，标定片等）整体重量 2.5Kg产品外形 注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。

703型Waterloo地下水修复发射器1.8英寸, 3.8英寸和5.8英寸Waterloo地下水修复发射器 Waterloo地下水修复发射器是一种简单低成本的设备, 它设计用来受控并且统一的释放氧气或者其他生物提高调整剂, 从而促进和维持原位污染地下水生物降解所需的微生物的生长。 使用专利的技术*使得可以通过加压的硅有机树脂或者LDPE（低密度聚乙烯）管来稳定而又直接的将氧气扩散到一个地下蓄水层中. 氧气持续而稳定的释放到管中, 这就创建了一个非常理想的浓度梯度, 驱动着这个被动系统, 不会因为形成气泡而溢出过剩氧量。 发射器非常适合于需氧的BTEX和MTBE生物降解. 扩散过程为增强需氧生物降解提供了即时的分子氧生物利用率, 因此不会发生损失调整气体的情况. Waterloo地下水修复发射器还能促进需要的无机反应（pH调整, 水解等）。 简单的多功能系统 Solinst 地下水修复发射器 703 可以适配2英寸, 4英寸和6英寸（50毫米, 100毫米和150毫米）的井. 它们可以安装在开放井中, 或者使用沙袋永久性的安装在钻井或者沟渠中. 51英寸（130厘米）长的Waterloo地下水修复发射器可以单独的或者以叠加到另一个发射器顶端的方式来安装, 以便确保完全覆盖污染羽状物. 它们还可以在水平应用中使用. 因为无需最小液压压头, 发射器在水下任何深度都有效. 当连接在封隔器和/或循环泵时, 作用半径也会增加. Solinst 地下水修复发射器 703 独特的扩散技术允许使用任何化学物当作调整剂来治理受到污染的地下水. PVC框架容纳了监测或者采样设备以便在补救过程中观察地下水状况. 工作原理 Solinst 地下水修复发射器 703 由盘绕在一个PVC骨架上的硅有机树脂或者聚乙烯管组成. 当液体被引入管中时, 一个浓度梯度便在管和地下水之间建立. 发射器工作原理是菲克扩散定律, 扩散会一直发生, 直至管内外的化学物浓度有了平衡. 使用发射器技术, 氧气（或其他调整剂）被持续地补充, 因为地下水持续地流经发射器, 所以平衡永远不会发生. 这便导致从发射器到地下水有持续的扩散. 当气体被应用于发射器时, 施加压力的增量和扩散到地下水的气体增量之间有一个正相关, 然而扩散是调整剂被添加到地下水的唯一的机制. 安装如果一种增强气体被用于补救, 可以使用小型或中型尺寸的高压气筒. 根据需要的增强气体的量来选择发射器管并设置气压. 单个高压气筒可以为多个串联的发射器提供气源.发射器管内的气体补充可以通过定期的清洗来实现（1-2周一次） 或者在系统的末端使用针形放泄阀来缓慢而恒定的补给. 1、确定目标 用驱动点剖面器来为使用发射器绘制/描绘的污染羽状物的加强生物降解, 确定最有效的区域, 2、确定数量 - 使用多级系统来精确的描绘污染物的面积和运动 - 使用离散监测系统更精确的聚焦补救策略 - 监测修复效果3、解决问题 使用Waterloo地下水修复发射器为受污染的地下水受控的释放氧气（或其他调整剂） – 不起泡。示意图显示了使用Waterloo地下水修复发射器的分段羽状物补救, 使用放在斜坡下面的CMT地下水连续监测系统或Waterloo多水位地下水监测系统的横切来监测. 应用： 为BTEX和MTBE的需氧生物降解释放氧气 为溶剂的厌氧还原去氯释放氢气 为当作示踪物而引入溶解的SF6, 氩等 为调整pH值而释放二氧化碳 释放轻质烷烃以促进MTBE的新陈代谢生物降解 羽状物迁移屏障, 首要补救设备或者抛光优点： 低成本 为恒定的微生物活性稳定的释放补救剂 易于安装和卸载 最少的维护和操作 没有因为起泡而造成调整剂损耗 没有引入或造成有害物质 无泥浆混入, 处理或注入 无需电子设备

半球发射率是指热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体（黑体）的辐射出射度的比值，体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。PM-E2半球发射率测定仪测量半球放射率，适合太阳能电池组件，建筑隔热涂料，热控涂层等材料开发，工厂热能有效利用和节能设计。PM-E2半球发射率测定仪测量原理PM-E2半球发射率测量举例PM-E2半球发射率测定仪技术规格系统组成仪器包含积分球测量单元，光源，数据显示的操作单元。校正低辐射参考样板使用镀金玻璃镜面 (εL=0.05@293K/Edmund),高辐射标准样板使用黑体 (εH=0.85@293K/Sheldahl).测定方法 半球发射率εH半球发射率测定范围 0.05～0.95检测器波长范围 0.6～42μm（300K理论黑体总放射能量的95%）测定的不确定性 半球发射率值±0.03测定时间 1～3分基准样品 低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)高半球发射率εH=0.85@293K（Sheldahl制）电源 DC12V1A尺寸规格 操作部分：W145×D82×H32 (mm)测定部分：W125×D60×高74 (mm)重量 操作部分：约200g测定部分：约700g储存环境 温度：10～45℃湿度：50%RH附件 使用手册CD（驱动程序）USB数据线 (Type A－Type B)电源线

FAI 微光发射显微镜（EMMI）FAI Photo Emmission MicroscopeFAI 微光发射显微镜用于检测半导体内部缺陷引起的微光发射或微热发射来准确定位半导体器件的失效位置。通过使用不同类型的探测器，或者配置双激光扫描系统（SIFT），以及配合相应的检测软件来实现对半导体元器件或芯片电路的微光、微热、光激励诱导失效测试等各种分析手段。FAI的Crystal Vision微光发射显微镜系统对所配置探测器的数量没有限制，可选择配置从一个到我们提供的所有型号的探测器和SIFT激光扫描头。主要功能CCD探测器：波长探测范围 365nm 至 1190nm；带电子半导体制冷器（TEC）的CCD探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂；CCD解析度为1280x1024；像素暗电流0.002 电子/秒；读噪声7 个电子；连续收集信号时间从32毫秒至2小时。InGaAs探测器：波长探测范围 900nm – 1750nm；带电子半导体制冷器（TEC）的InGaAs探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂； InGaAs探测器分辨率为320x240，像素点尺寸为30 x 30um，更大的像素点面积可以收集更少的光子，探测灵敏度是普通640x480 InGaAs探测器的4倍；连续收集信号时间从1微秒到60分钟；有效波段范围内量子效率（QE）为 80-85%；灵敏度 NEI 1x1010 ph/cm2/sec；量子效率70 QE 在950-1700nm范围内。 VisGaAs 探测器：波长探测范围 500nm – 1800nm，代表了新技术的VisGaAs 探测器覆盖了可见光-红外光波长检测范围，一个探头就可替代传统的CCD和InGaAs 两个探测器；半导体制冷器（TEC） ，可冷却稳定在 -40℃以下。SIFT(Stimulus Induced Fault Testing)双波长激光扫描头：双激光源654nm和1428nm；通过激光扫描芯片电路，导致失效位置电阻发生变化，通过检测反馈信号的变化，从而检测到失效位置；SIFT扫描不受物镜视野限制，可以一次扫描完整整个检测区域，无需图像拼接，避免图像扭曲；FAI的恒定电流附加反馈回路的技术，不但提高了检测灵敏度，而且避免了检测时电压过高的风险；恒定焦距的定镜扫描，可以将激光点停留在任意指定位置，用于确认失效点。FMI荧光热成像技术：FAI的微热分析技术，热分辨率是千分之一K(1/1000K)，可以室温操作，无需使用危险的液晶溶液。LC液晶热成像技术：FAI的SLC（稳定液晶）液晶热成像技术的热分辨率为百分之一K (1/100 K)。Moire云纹成像：从硅片背面采用“云纹图像成像”的方式来检测失效位置的微热变化。

FAI 微光发射显微镜（EMMI）FAI Photo Emmission Microscope咨询请点击导航栏 联系方式，直接联系我们。FAI 微光发射显微镜用于检测半导体内部缺陷引起的微光发射或微热发射来准确定位半导体器件的失效位置。通过使用不同类型的探测器，或者配置双激光扫描系统（SIFT），以及配合相应的检测软件来实现对半导体元器件或芯片电路的微光、微热、光激励诱导失效测试等各种分析手段。FAI的Crystal Vision微光发射显微镜系统对所配置探测器的数量没有限制，可选择配置从一个到我们提供的所有型号的探测器和SIFT激光扫描头。主要功能CCD探测器：波长探测范围 365nm 至 1190nm；带电子半导体制冷器（TEC）的CCD探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂；CCD解析度为1280x1024；像素暗电流0.002 电子/秒；读噪声7 个电子；连续收集信号时间从32毫秒至2小时。InGaAs探测器：波长探测范围 900nm – 1750nm；带电子半导体制冷器（TEC）的InGaAs探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂； InGaAs探测器分辨率为320x240，像素点尺寸为30 x 30um，更大的像素点面积可以收集更少的光子，探测灵敏度是普通640x480 InGaAs探测器的4倍；连续收集信号时间从1微秒到60分钟；有效波段范围内量子效率（QE）为 80-85%；灵敏度 NEI 1x1010 ph/cm2/sec；量子效率70 QE 在950-1700nm范围内。 VisGaAs 探测器：波长探测范围 500nm – 1800nm，代表了新技术的VisGaAs 探测器覆盖了可见光-红外光波长检测范围，一个探头就可替代传统的CCD和InGaAs 两个探测器；半导体制冷器（TEC） ，可冷却稳定在 -40℃以下。SIFT(Stimulus Induced Fault Testing)双波长激光扫描头：双激光源654nm和1428nm；通过激光扫描芯片电路，导致失效位置电阻发生变化，通过检测反馈信号的变化，从而检测到失效位置；SIFT扫描不受物镜视野限制，可以一次扫描完整整个检测区域，无需图像拼接，避免图像扭曲；FAI的恒定电流附加反馈回路的技术，不但提高了检测灵敏度，而且避免了检测时电压过高的风险；恒定焦距的定镜扫描，可以将激光点停留在任意指定位置，用于确认失效点。FMI荧光热成像技术：FAI的微热分析技术，热分辨率是千分之一K(1/1000K)，可以室温操作，无需使用危险的液晶溶液。LC液晶热成像技术：FAI的SLC（稳定液晶）液晶热成像技术的热分辨率为百分之一K (1/100 K)。Moire云纹成像：从硅片背面采用“云纹图像成像”的方式来检测失效位置的微热变化。

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域n 航空工业n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制主要特点n 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数n NIST标准 n 快速、便携n 电池操作非常方便n 测量标准和60°入射角的定向热发射比n 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比 输出参数总发射比波段6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射 样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

产品简介：名称：SAMOS声发射系统品牌/产地：美国型号：应用：SAMOS系统是第三代全数字化系统，其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板，在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。 详细介绍：SAMOS系统是PAC公司第三代全数字化系统，其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板，在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。是PAC公司目前集成化更高、价格更低的系统，更适用压力容器检测等工程应用。 SAMOS(PCI-8)系统的主要特性：l 每一PCI-8卡具有8个声发射通道；l PCI总线提供声发射数据与PC机的传输速度可达132MB/S；l 每通道4个高通，4个低通模拟滤波器，可通过软件进行控制来组成13个率波段；l 输入电压范围：±10伏；l 每通道自动带有平方器以获取真实能量及RMS信号；l 16位A/D精度，3MHz采样率；l 每个PCI-8卡的2个外参数的输入更新速度可达10000个数据/S；l 并行的FPGA处理器和ASIC IC新片可提供非常高的性能和更低的成本；l 硬件实现的AE特征采集提供高速传输下的高速特征采集及实时分析；l 实时/同步声发射特征抽取及波形采集/分析；l 方便使用的SMB连接头；l 1KHz-400KHz的带宽；l 内置的波形处理功能、DMA技术及PCI总线结构可较大限度的实时采集/处理及传输所有通道的AE参数及波形数据以满足高水平声发射应用的要求；l 数字信号处理器可达到高精度和可信度的要求；l 可提供Labview/C++驱动开发程序。 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。

ND1000宽屏电磁辐射检测仪是一款技术专业高精密便携式综合性电磁波辐射磁场强度检测仪，能对自然环境中的电磁波辐射完成迅速精确精确测量。摄像头遮盖了从低頻到高频率的全部頻率，根据配置不一样种类的精确测量摄像头可完成场强、磁感应强度、磁感应强度、输出功率密度的测量，广泛运用于环境保护、三大运营商、电力工程科学院、供电公司、第三方检测企业、紧急管理中心、高等院校、研究室、试验室等各行各业。2G/3G/3G/5G基站及各种各样微基站的宽屏精确测量。配电站、高压电线等变电工程机械设备的电磁波辐射环保监测。通讯系统、广播节目、航空公司、航空航天、导航栏、雷达探测等机器设备的电磁波辐射环保监测。长波/中波/中短波广播节目发射塔、电视机发射塔等设备的电磁波辐射环保监测。医理工科电磁波辐射环保监测。疾控、职业安全卫生及第三方检测企业电磁波辐射检测。ND1000是一款高低频合一的宽屏电磁波辐射检测仪，遵照电磁波辐射检测有关设计标准，显示信息結果精确、简要、迅速，摄像头即插即用，自动检索，便捷带上。五颜六色防眩光显示信息显示屏；适用1Hz-300GHz超高頻率范畴；迅速转换数据信息方式和图型方式；具备滑动平均、算术平均等数据信息均值方法；具备规范精确测量方式和室内空间均值精确测量方式；多功能键设计方案，便捷精确测量主要参数设置；选用易拆换式大空间锂电池控制模块；内嵌手机蓝牙复印精确测量模版，连打印机一键复印；内嵌遵照HJ972-2018及HJ681-2013规范的精确测量模版，自动测控系统并显示信息精确测量值；仪器设备选用包塑设计方案，抗震等级、防摔，技术专业室外应用设计方案；即时值、极高值、极小值、均值、三轴（X、Y、Z）值、统计分析磁场强度(E5、E50、E80、E95）；企业:V/m、kV/m、dB(μV/m)、μW/cm2、mW/cm2、W/m2、A/m、nT、μT、mT、T、标准计权重值%；依据精确测量結果尺寸全自动转换V/m/kV/m及nT/μT；专用型手机截图功能键，完成一键截屏并全自动储存；全自动储存精确测量页面最终屏幕截屏，一键查询精确测量曲线图；具备Hold作用，一键维持当今精确测量显示屏；测量单位一键转换，适用对当今精确测量值单位转换；适用精确测量数据信息曲线图放缩查询；适用一百个场地的室内空间均值精确测量，储存每一个测点值和总价值；室内空间均值精确测量值根据五颜六色柱形图展现；内嵌溫度、环境湿度等自然环境感应器；内嵌高精密GPS及罗盘，有利于明确当场部位及方位；内嵌光纤线、Micro-USB等插口，便捷传输数据及机器设备升級；具备大容量存储器插槽设计方案，可储存三百万之上的精确测量数据信息及截屏信息内容；超出值响声报警作用，可自定报警限制值。

产品简介：名称：声发射系统主机品牌/产地：美国型号：应用：通用性的PCI插槽式系统，提供较大的整机性能，方便的一机多系统，增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡，用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统；用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 详细介绍： 通用性的PCI插槽式系统，提供较大的整机性能，方便的一机多系统，增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡，用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统；用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 天候在线监测系统SH-II（SHM） 4通道无线系统1284 USB总线专用声发射仪 单机较大通道（112通道）机箱SAMOS-112 核电专用机柜LPMS 两通道掌上系统 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。

技术介绍：系统采用双传感器设计，可在石墨盘旋转同时进行整个石墨盘的漫反射率、镜面反射率及发射率二维分布Mapping 测量；原理用途：物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度、面形以及表面氧化层、涂层、缺陷、残留物、表面杂质等)有关。所以，通过对石墨盘各个点发射率的测量可以直接反映出石墨盘表面肉眼难以观测到的表面细节，同时基于黑体辐射原理进一步评估石墨盘表面温度的分布情况。这对有效控制器件的质量，以及优化生长工艺有帮助。技术指标及特点：1. 扫描尺寸：700mm；2. 适配石墨盘：大部分商用石墨盘；3. 扫描分辨率：径向分辨率0.05mm，角度分辨率0.1°，用户可自定义；4. 扫描时间：10 分钟（465mm 尺寸的石墨盘，以径向1mm，角度0.1°测量）；5. 测量光点尺寸：2mm6. 光源波长：940nm 或660nm（可选）；7. 镜漫反射率分辨率：±0.005；镜漫反射率准确度：±0.01；发射率分辨率：±0.01；发射率准确度：±0.02；8. 系统为离线测量设备，便于石墨盘的装卸。软件操作简单，专为操作员及工程师设计；

微纳德 射频电磁辐射测量仪套装 PRO2产品介绍：公司针对现代社会日益复杂的电磁辐射环境安全问题而设计的一款能满足射频电磁辐射测量的手持式、便携式设备，可满足现实生活中各种复杂电磁环境下的精确检测要求。其测量范围为100kHz – 6.5GHz，配备三维电场测量探头，覆盖了ISM设备（如高频感应加热设备、核磁共振设备）、无线电发射系统（如广播电台、电视塔台、通信基站、雷达）等各类电磁设施的电磁辐射的综合测量。微纳德 射频电磁辐射测量仪套装 PRO2操作简单，只需开机即可进行电磁辐射的测量，因此，即使在困难的操作条件下，仍能确保操作人员可以快速、准确地检测射频电磁辐射综合场强。虽然微纳德PRO-2主机操作简单，但功能却非常强大，可针对不同环境的射频电磁辐射场强进行精确地测量，即使是在复杂的电磁辐射环境中，用户也可以轻松实现对ISM设备（如高频感应加热设备、核磁共振设备）、无线电发射系统（如广播电台、电视塔台、通信基站、雷达）等各类电磁设施的电磁辐射的综合测量。典型应用:工业炉、焊接系统、射频加热、回火和干燥设备；透热设备和医疗设备(NMR)，射频发射装置；敏感区域（医院、学校）；无线电通讯系统；移动通信基站；广播电台 电视发射塔PRO 2装箱信息 NHT-310主机 探头PROBE 01E光纤电缆（10m） 光口 / USB转换器AC / DC 电源适配器 原厂校准证书黑色重型包装箱技术参数：频率范围 100 KHz – 6.5G Hz频率响应类型 平坦测量范围 0.2 – 350 V/m (cw)动态范围 65 dB传感器类型 二极管偶极子方向性 各向同性频率响应的平坦度 ±1.5 dB (1 MHz – 3 GHz) ±2.5 dB (3 GHz – 6.5 GHz)线性度 0.5 dB (2 – 200 V/m)各项同性的响应 ±0.5 dB( @100 MHz )频率校准 0.1-0.5-1-5-10-27.12-50-100-200-300-400-500-600-700-800-900-1000-2000-2500-3500-4000-4500-5000-5500-6000-6500 (MHz)建议校准周期 24个月工作温度 0°C - 50°C尺寸 327 x 60 (mm)重量 120g

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

20240701 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪规格书一份V1.0-立鼎光电.pdfRLK650 pro 是便携式红外发射率测量仪 RLK650 的升级产品，采 用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术， 以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反 射比（DHR）测量原理，完成双波段（3-5um 和 8-14um）发射 率的贴近测量，产品针对野外、移动试验条件设计，集公司多 项技术积累，吸收国际先进产品技术与特点，具有携带方便、 操作简单等优点，测量结果保存在 SD 卡中。可广泛应用于飞机、 舰船、车辆的红外隐身性能现场评估，红外隐身涂覆材料的研 究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。详见附件。

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500-°K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 n 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数n 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectancen 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能n 液晶触摸屏PDA图文操作界面n 可同时提供十种设备运行信息n NIST标准 n 快速、便携n 电池操作非常方便应 用n 为红外相机提供发射率参数 n 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数 定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段：3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面：任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境： -25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

ET10 便携式红外光谱发射计 Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers ET10 科研级仪器可测量任何不透明材料的发射率 特点： 可同时测量3～5、8～12 微米2个波段的发射率 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 应用： 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度ET10： 用于测量红外测温成像技术的重要参数—红外发射率 利用两个探测器同时测量3～5、8～12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息性能： 当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据推算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。　　进行测量时，将仪器对准测量面，按下扳机即可记录数据。测量一次的时间只需要7秒钟。 技术参数： 测量参数： 定向半球反射比 (DHR) 方法： 一个波段的积分总反射比 测量值：发射率 波段：3～5、8～12 微米2个波段 精度：±1% 可重复性：±0.0002 入射角：20° 法线入射 样品表面： 任何表面，6” 半径曲面，12” 半径曲面 测量时间： 10秒/测量，用户可设(2 波段) 预热时间：90秒 运行时间： 电池工作2小时，可更换电池后接续测量 电源： 可充电镍氢电池 充电时间: 1小时 重量：4.7 lbs.带电池 IR源： 铬铝钴合金灯丝，使用温度：1,000°C 尺寸： 手持式，H 11.54”, L 9.04”, W 3.72” 模块部件： 模块化设计，测量头可更换 操作界面： LCD 图形界面，触摸屏，软件按钮 测量： 测量数据直接在屏幕上显示并存储 数据存储：265MB CF卡 数据格式： Excel或Text格式打开 环境： 储存： -25~ 70°C 操作环境 0~40°C, 非冷凝

2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为： 1）精炼的全新设计：在提高机械和电气稳定性的同时，凭借对透射电镜的丰富经验，对电镜整体进行了精炼全新设计，力求为用户提供全新感受； 2) 四级聚光镜设计：为了最大程度发挥出STEM功能，JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计，亮度和汇聚角可以分别控制； 3）高端扫描系统：在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能（选购件）可以获得大范围的STEM-EELS； 4）皮米样品台控制：标配的压电陶瓷控制样品台，可以在原子尺度上获得精准的移动； 5）全自动装样测角台（SPECPORTER）：样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现，彰显其便利性及安全性； 6）成熟的冷场发射技术：将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上，可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析； 7）双超级能谱设计：可安装双超级能谱，将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度； 8）节能减排：启用省电模式耗电量降低80%。

产品概述：DPR500是世界上第一台单双通道可选的计算机控制超声脉冲发射接收器，具有两个独立的通道，用户可以选择单通道也可以选择双通道，可以选择两个通道不同的带宽进行组合。DPR500采用远程脉冲前置放大结构，可大大减少探头和发射器之间因电缆长度而产生的损耗。广泛应用于超声显微镜、超声探伤、超声测厚、探头特性测量、材料特性测量等诸多领域。技术特点：◇ 两个独立的通道，可任意可选购单通道或双通道；◇ 50MHz、300MHz、500MHz带宽可选，各通道任意组合；◇ 远程脉冲发射器，前置结构，降低噪声；◇ 72/80dB增益低噪音接收器；◇ 脉冲回波模式（Pulse-Echo）、穿透模式(Through Transmission)；◇ 可通过计算机自行开发相关应用。