中子散射

仪器简介：SAXSpace（Small & Wide Angle X-Ray Scattering System）是奥地利安东帕公司研制开发的一种小角X-射线散射仪。是一款适用于SAXS,WAXS,GI-SAXS,Bio-SAXS等的模块化纳米结构分析仪。其角度范围为0.03-49nm^-1,对应的尺寸范围为0.13-200nm。在不改变仪器设置的情况下，SAXSpace可以同时测量小角和广角X-射线散射，所测的2&theta 角度最大值为74° ，是真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器。SAXSpace可以测试几乎所有固体和液体样品。SAXSpace应用举例：表面活性剂和两亲性二嵌段共聚物的溶液：胶束尺寸，胶束形状，相行为，囊泡壁的内部结构等。生物材料：蛋白质在溶液中的形状和尺寸，内部结构，聚集状态，分子量等。分散体系：分散颗粒的形状和尺寸分布，分散体系的稳定性，颗粒集结成核现象，聚集状态等。纤维：内部结构，结晶度，取向度等。催化剂：比表面积，颗粒尺寸及分布，结晶度等。乳液：液滴的形状和内部结构，液滴的尺寸分布，不同温度时乳液的稳定性，胶囊试剂的传输动力学等。聚合物和纳米复合物：结晶度，周期性纳米结构，取向度等。液晶：周期性结构的尺寸和形状，取向度等。技术参数：测量范围：0.13 ~ 200 nmX-射线光源：标准：密封管（线聚焦和/或点聚焦），其它光源：可选。光束尺寸：线光源为20 × 0.3 mm2，点光源为0.3 × 0.3 mm2。工作电压：40 kV工作电流：50 mA样品量：固体只需几毫克，液体最少只需7微升。样品温度的可调节范围：-150 ~ 300 ° C，灵敏度为± 0.1 ° C。测试时间：1 ~ 60 min。主要特点：真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器：0.13 ~ 200 nm。光路可自动进行调整。原位升降温和溶液测试。专业而且完备的数据处理软件。

一、前言作为物质存在的第四种状态的等离子体通常由电子、离子和处于基态以及各种激发态的原子、分子等中性粒子组成。等离子体中带电离子间库伦相互作用的长程特性，是带电粒子组分的运动状态对等离子体特性的影响起决定性作用，其中的电子是等离子体与电磁波作用过程中最重要的能量与动量传递粒子，因此，等离子体中最重要的基本物理参数是电子密度及其分布以及描述电子能量分布的函数以及相应的电子温度。而对于中高气压环境下产生的非热低温等离子体来说，等离子体中的主要组分是处于各种激发态的中性粒子，此时除了带电粒子外，中性粒子的分布和所处状态对等离子体电离过程和稳定性控制也起着非常重要的作用，尤其是各种长寿命亚稳态离子的激发。为了可以充分描述等离子体的状态，在实验上不仅要对带电粒子的分布和运动状态进行诊断，如电子温度、电子密度、电离温度等参数，还需要对等离子体中的中性粒子进行必要的实验测量，来获得有关物种的产生、能量分布以及各个激发态布居数分布等信息，如气体温度、转动温度、振动温度、激发温度等参数。基于这种要求，结合相关学科的各种技术形成了一个专门针对等离子体开展诊断研究的技术门类，如对等离子体中电子组分的诊断技术有朗缪尔探针法（Langmuir Probe），干涉度量法(Interferometer)，全息法(Holographic Method)，汤姆逊散射法(Thomason Scattering, TS)，发射光谱法(Optical Emmission Spectroscopy, OES)等，对离子组分的光谱诊断技术有光腔衰减震荡(Cavity Ring-Down Spectroscopy, CRDS)和发射光谱法(OES)，而对中性粒子的光谱诊断技术包括了吸收光谱法(Absorption Spectroscopy, AS)，发射光谱法(OES)，单光子或者双光子激光诱导荧光(Laser Induced Fluorescence, LIF)等。二、汤姆逊散射（Thomson Scattering）基于激光技术发展起来的汤姆逊散射诊断原本用于高温聚变等离子体的测量，借助激光技术和光电探测技术的突飞猛进，汤姆逊散射在近年也大量应用于低温等离子体的密度和电子温度的测量。汤姆逊散射具有空间分辨率高（局域测量），测量值稳定可靠等优点。测量的物理量：电子温度：下限0.1e密度：下限1019m-3.图1. 汤姆逊散射分析系统结构示意图2.1、激光束在等离子体中的束斑大小（束径DLP）激光束经过透镜聚焦，等离子体应该位于透镜的焦点，以达到激光束在等离子体中有最小的束径，最高的功率密度。DLP = f´ q其中f是聚焦透镜的焦距，q是激光束发散角，考虑各种综合因素，实际束径是上述公式的2倍左右。假设使用f=1000mm的聚焦透镜和q=0.5mrad的激光束，DLP大约是1mm。2.2、收集光学系统的光纤的像斑（fP）与等离子体中激光束径DLP的匹配为了有效的收集激光束上的散射光子，光纤的像斑fP应该完全覆盖激光的束径。理想情况是光纤的像斑与DLP尺寸完全相同，并且二者完全重合，这样激光的散射光最大，同时背景非散射光最小。但是考虑到实际的准直的难度，这样的理想条件在有限的资金投入下很难实现。建议fP是DLP的两倍，既能有效的收集散射光子，也能比较容易准直。如果DLP =1mm, fP =2mm是比较合适的。2.3、光纤的芯径、布局和光谱仪以及ICCD的选择汤姆逊散射谱线展宽与温度的关系如下：汤姆逊散射角度 Theta=90度；me是电子质量，c是光速，kB是玻尔兹曼常数，公式右边分母下面：是激光的波长 532nm；分子是谱线展宽，不过是1/e展宽因此汤姆逊散射光谱的半高宽△λ1/e（nm）与等离子体温度Te（ev）的关系可以简化为△λ1/e=1.487×Te1/2Te eV0.10.20.30.4124510△λ1/e nm0.470.530.810.941.492.102.973.324.70表1. 电子温度与汤姆逊散射谱半高宽对应值在光谱仪没有入射狭缝或者入射狭缝宽度超过光纤的芯径的情况下，光纤的芯径实际决定了谱仪的实际分辨率（仪器展宽）：△λof = fof ´ LSPfof是光纤的芯径，LSP是谱仪的倒线色散率。针对于此应用，可以考虑选择两款光谱仪，分别是：1、Zolix 北京卓立汉光仪器有限公司的Omni系列 750mm的谱仪，如果使用1200l/mm的光栅，LSP = 1nm/mm。测量电子温度的原则是仪器展宽应该与最低温度的展宽相当，才能有效的测量到最低温度。2、选用207（670mm焦距）光谱仪，在搭配1200l/mm光栅的情况下，LSP=1.24nm/mm，可以满足要求。同时可以考虑搭配1800l/mm光栅，这样的话可以兼容高电子温度和低电子温度的同时测量，以及同时兼顾高分辨和宽光谱。原则上，使用芯径400mm的光纤，△λof=0.4-0.48nm，完全符合0.1eV的测量要求。但是还是建议谱仪安装入射狭缝，靠狭缝来控制分辨率，不仅确保0.1 eV的测量要求，还能实现更低的温度测量。同时在调试阶段，靠狭缝来控制通光量，以免532nm的激光杂散光太强，对ICCD造成破坏。另一方面ICCD的尺寸决定了光纤的排布数量。光纤数量越多，对汤姆逊散射这种微弱光测量是越有利的。在信号很弱的时候，可以把几道合成一道使用，以增加信噪比，提高信号质量。因此在波长覆盖范围（CCD的横向尺寸）满足要求的情况下，ICCD的纵向尺寸应该尽量大一些，以便容纳更多的光纤。选用iStar 334T探测器，这款CCD的尺寸是13.3 ´ 13.3 mm，对焦距目前的光谱仪无论是Omni-750还是207在搭配1200l/mm光栅的情况下，波长覆盖范围是13nm左右，同时纵向13.3mm，容纳的光纤数量也更多，可以做更多的多道光谱。如果已有更大面阵的CCDsCMOS或高速相机，可以考虑使用Zolix 卓立汉光的IIM系列镜头耦合像增强模组与之配合，达到类似ICCD的功能和效果，同时获得更大的相机选取自由度；IIM 内部可以选择25mm 尺寸的增强器，1：1耦合到CCD, 可以获得更大的成像面，双层增强器也可以获得更高的增益；光纤的布局是一字型密集排布，在13mm的长度内，尽量的密布尽可能多的光纤。同时光纤应该严格排列在一条直线上，整排光纤的偏心距小于20mm。2.4、收集透镜的选择等离子体中心到透镜的距离L和光纤的芯径，及像斑决定了收集透镜的焦距。举例如下：如果像斑要求是fP =2mm，光纤芯径400mm, 则物像比是4，如果L=320mm, 则透镜的焦距就是320/4=80mm。同时如果观测的等离子体范围是50mm，那光纤一字排开的范围就是50mm/4=12.5mm。这个宽度和连接谱仪一侧的光纤束的尺寸很接近了，连接收集透镜一侧光纤也应该是密集排布，这样两端容纳的光纤数量就是匹配的。2.5、瑞利散射的滤除与使用瑞利散射信号通常也可以用来测试重粒子的相关信息比如中性原子。但是相比于瑞利散射法来说，作为弹性散射的汤姆逊散射法更多用于自由电子的测试。和离子与原子相比，由于自由电子的速度更快，质量更轻，因此具备更宽的光谱展宽。比较强的杂散光信号与更强的瑞利散射信号则可以通过例如布儒斯特窗、笼式结构或者黑丝挡板的方式滤除掉。图2 滤除瑞利散射的笼式结构示意光路因此在实际的测试过程中，如何合理地使用这些信号为等离子体诊断服务，则是另一个相关的话题。如图3[1]所示，为实际测试过程中得到的瑞利与汤姆逊散射信号如图4[2]所示，为实际测试过程中得到的滤除瑞利散射后的汤姆逊散射信号图3 包含瑞利散射与汤姆逊散射的实测信号图4 滤除瑞利散射后的汤姆逊信号2.6其他附属部件光电倍增管谱仪第二出射口配宽度可调的狭缝三维调整光学支架，用以调节镜头的方位和方向三、整体解决方案汇总推荐根据用户需求，一般推荐的配置如下：光谱仪：Zolix 北京卓立汉光仪器有限公司的Omni-500I 或750i光谱仪搭配1200l/mm和1800l/mm的全息光栅高光通量光谱仪，搭配120*140mm 或110*110mm 的大尺寸，高分辨率的1200l/mm光栅和1800l/mm光栅探测器：ICCD, 18mm 增强器，13*13mm 探测面；Zolix卓立汉光 公司的IIM-A系列 镜头耦合像增强模组，配合更大面阵的CCD或sCMOS相机， 18mm或25mm 的大面积增强器，灵活的CCD 相机选择； DG645数字延迟脉冲发生器：用于系统触发控制标准A光源，用于系统强度校准其他的配件：包括多道光纤，收集光路，可以后续一并考虑，先购买标准部件参考文献[1] Yong WANG, Cong LI, Jielin SHI, et al. Measurement of electron density and electron temperature of a cascaded arc plasma using laser Thomson scattering compared to an optical emission spectroscopic approach[J]. Plasma Sci. Technol. 19 (2017) 115403 (8pp) [2] Ma P, Su M, Cao S, et al. Influence of heating effect in Thomson scattering diagnosis of laser-produced plasmas in air[J]. Plasma Science and Technology, 2020.

中子散射技术是当前研究物质微观结构及其动力学过程最重要的工具之一。凝聚态物理、化学、生物工程、材料科学、纳米科学与技术、核物理、医学等众多学科领域的基础和应用研究中被广泛采用。这套产品适用于中子散射研究领域中的中子散射谱仪系统的实验测量及数据采集的一整套产品；可满足于高通量散裂中子源科研工作的迫切需要产品包含：1）事件记录记录单元： TOF测试 束流监测功能 动态时间效率2）LisToF单元（含：事件记录驱动软件） 单个探测器（可根据客户实际需求）3）LisTDC单元：（含：事件记录驱动软件） 针对3D位置灵敏探测器沿线输出 束流监测功能4)事件记录模块： 完整的数据采集配置5）仪器模块： 完整的光谱仪控制部分 如：运动、温度、磁场

电子学读出和数据采集是中子谱仪的重要组成部分。这套电子学可搭载事件记录的新一代信号处理及数据采集电子学系统。功能及特点：1) FPGA信号处理2）基于事件记录功能的数据采集软件3) 飞行时间数据采集系统处理速度快、精度高 时间戳无论是绝对值还是相对值均为To起， 100 ns / 48 bits ~ 325 days4）设计合理5）工作可靠稳定产品应用：1）开展中子散射实验研究项目2）设计中子散射谱仪3）探测物质微观结构

X-5恒温器专为中子散射及衍射实验设计。真空罩完全用铝制材料做成，为实现中子的最大传输专门设计了一个与样品等高的1mm厚的360°薄铝窗。X-5系列恒温器可配备DE-202、DE-204或DE-210系列冷头，根据客户需要可选择1.7K，4K，10K不同型号，高温最高可达900K。 应用实例• 中子散射实验• 中子衍射实验• 电学测试• 磁性测试 典型特点• 无需消耗制冷剂• 全铝制结构• 360° 散射角• 大薄铝窗• 可根据客户要求进行定制 标准结构• DE-202/DE-204/DE-210冷头• ARS压缩机• 2 根氦气管道• 超薄铝制真空罩便于客户做光电实验(DMX-5)• 铝制防热辐射屏• 2 个高纯度石英窗口• 供温度测试和控制的仪表群：• 10 针密封电学接头• 36 欧姆片状加热器• 为控温而备的精度为± 0.5 K的硅二极管温度计• 精度为±12 mK的校准型硅二极管温度计(带4英尺线缆)供样品的精确测试• 电学测试实验接线:• 10 针电学接头• 4 根铜线• 光电实验用样品座• 温控仪 可选配置及升级选项• 铝,铍或钒圆顶• 4 K 冷头• 5.5 K 冷头• Turbo升级可更快降温• 高温台• 更高温台• 样品置于真空或交换气体中• 可定制温度计结构• 可定制接线结构• 可定制窗口材料• 可定制样品座 典型应用Model CS210S.x5 4K cooler, Sample in vacuum, with aluminium shroud thinned in the beam area.Model: CS210S.x19n Top Loader with sample in vapor. Tail is thinned Aluminium in beam area. Fast sample change

可变角度光散射仪（广角动/静态光散射仪）用于颗粒表征。LS Spectrometer是一种可变多角度光散射仪器（V-MALS）。在LS Spectrometer中，检测器安装在可移动的臂上，可以对几乎任何角度进行精确调整，从而提高测量灵敏度。LS Spectrometer结合专利的调制三维技术（Modulated 3D）（无稀释测量）和CORENN（改进的聚集检测），实现了市场上全面的纳米颗粒表征。- 它能测量什么？&bull 颗粒大小&bull 多分散性&bull 颗粒形状&bull 粘度&bull 分子量&bull 样品结构- 可变多角度光散射（V-MALS）与带有固定角度传感器的多角度光散射（MALS）仪器不同，LS Spectrometer的检测器安装在样品池周围的旋转臂上，因此可以精确可变地调整到10°至150°之间的任何选定散射角。这有助于显著提高颗粒大小、聚集检测、第二维里系数、颗粒形状或分子量等参数测量的灵敏度。 - 无稀释样品测量-调制三维技术（Modulated 3D）DLS和SLS技术都是基于仅检测到单次散射光的假设。然而，随着颗粒浓度的增加，多重散射增加并逐渐主导信号。这在DLS和SLS中都引入了无法检测的系统误差。无论重复测量多长时间或多少次，都无法消除或检测到此错误。为了克服这个问题，LS Instruments开发了可选的调制三维技术，可以有效抑制多重散射。调制三维互相关技术使用两个激光束同时进行两个散射实验，虽然单次散射的贡献是相同的，但在两个实验中多重散射的贡献不同。通过对信号进行互相关，从而抑制了多重散射。三维 LS Spectrometer是一款同时为DLS和SLS提供该技术的仪器。- 算法用于改进复杂样品中的聚集和颗粒检测CORENN算法是一种新的机器学习算法，用于从DLS测量中提取粒度分布（PSD）。CORENN是一种利用先进的信号近似技术和对信号噪声的独特理论估计的DLS反演算法，可以得到极其可靠的结果。这种稳健的方法使最终用户能够从真实的DLS实验中获得真实的粒度分布（PSD）。下图显示了4nm和45nm的颗粒混合物的DLS测量结果，只有CORENN算法能够准确得到这两个分布。- 用去偏振动态光散射（Depolarized DLS）表征各向异性粒子这是一种可以轻松地表征各向异性粒子的技术，并越来越受到科学家的关注：一组两个偏振器可以通过简单的DLS测量来表征样品的旋转动力学和各向异性粒子的纵横比。- 温度控制我们强大的温度循环器使您能够精确控制样品中的温度。与其他循环器相比，它显著减少了加热和冷却时间。它可以通过LsLab软件进行预编程，以实现不同温度下的一系列测量。- 样品转角仪许多适用于光散射的凝胶状样品显示出非遍历（non-ergodic）行为，从而导致测量误差。LS Instruments公司开发了一种样品转角仪，可以用适当的速度旋转非遍历样品，以获得正确的结果。此外，样品转角仪也可用于使样品偏离旋转中心，从而能够使用方形样品池，样品中散射光的光程可以减少到小于200微米，这显著减少了多重散射。

小/广角X射线散射仪技术 （Small and wide angle X-ray scatterin, SWAXS散射仪) 用于纳米颗粒结构的测定 （大小，形态和分布），考虑到铜的辐射，一般我们说，衍射角小于5度，2 theta，样品可以是固体或液体。SAXS散射仪是一种非接触式的精确测量技术，仅仅需要少许的样品的制备，既可以用于科学研究，也可以用于工业质量控制，小角X射线衍射仪广泛用于到应用各种胶体，金属，水泥，粘土，油，聚合物，塑料，蛋白质，制药...为了响应客户的在纹理样品或小角散射测量的需求，我们特意研发了一种小角X射线散射/广角X射线散射（SAXS/WAXS)的仪器，这套小角X射线衍射仪具有强大的可伸缩性：样品与探测的距离可调可变，样品周围的空间足够大，可以安装温度室，旋转台等多种样品架，满足多种测量任务的需求。SWAXS散射仪,小/广角X射线衍射仪组成：X射线源，光学系统，探测器

动态光散射仪是基于激光散射的装置，不同于激光小角散射测量，动态光散射主要对时间维度进行记录，已达到动力学研究的目的。1、激光波长：350-800 nm2、功率：1-50 mW3、时间分辨率：sub μs级4、粒度测量范围：1 nm – 10 μm5、探测器类型：点探测器6、可探测散射角度：90°、165°7、时间分辨能力：优于1 μs8、原位温度范围：-196 ~ 300 °C应用领域： 1、溶液动力学2、生物分子动力学3、化学反应动力学

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

散射探测原理就是利用康普顿散射理论，X射线遇到不同物质会发生不同的散射，X射线遇到低原子序数物时，散射较强；遇到高原子序数物质时，散射相对较弱。手持背散射成像仪可用于包裹，汽车夹层、邮件等物品的安全检测，对有机物特别是低原子序数的样品比较敏感，比如dupin和爆炸物成像效果显著。手持背散射可用在海关缉私缉毒、边检缉毒、禁毒局缉毒、边检缉毒和查验走私夹带、反恐等领域。手持背散射成像仪特点1. 便携性：体积小巧可以携带至现场对样品进行检测 2. 对低原子数的样品比较敏感：dupin、爆炸物等 3. 同侧测试：测试方便，可以从不同角度对可疑物品进行检测 4. 辐射剂量小：对测试人员安全性有保障

激光散射属于光散射的重要分支，其特点在于利用激光作为光源。激光的最大优势在于极高的亮度、极小的发散角和优异的相干性，高亮度使激光散射信号远高于其他类型的散射技术；极小的发散角使激光散射非常适合进行小角散射研究，最大化该技术对表面轮廓和形状分布的灵敏度；优异的相干性使激光散射易于应用在动力学研究，即动态光散射。1、激光波长：350-800 nm2、功率：1-50 mW3、粒度测量范围：20 nm – 2 μm4、探测器类型：可选零维点探测器、一维阵列探测器、二维面探测器5、单次测量时间：0.1 s – 60 s6、样品环境：高低温（-196~300 °C）、真空、空气等应用领域：1、金属表面分析2、高分子薄膜3、溶液动力学

仪器组成： 多功能数字多道、放射源模拟器、康普顿散射平台 用户自备电脑一台(Win7以上 64位系统)康普顿散射实验： 学习康普顿散射效应的测量技术； 验证康普顿散射的γ光子能量及微分截面与散射角的关系。康普顿平台： 模拟放射源和铅桶、铅屏蔽体、 散射体与塑料闪烁体探测器、可转动的NaI探测器探测器转动结构参数： 1)数字式闭环步进驱动器 2)精密蜗轮蜗杆分度台 3)行程：0°-130° 4)重复定位精度：0.005° 5)分辨率：0.01° 6)减速比：1:180

FRS 滤波瑞利散射－测量压力、速度和密度场目前，无接触测量平面的压力、温度和密度场的技术手段还是空白。瑞利散射信号和压力、温度和速度场有关，因此瑞利散射技术应用于温度场、压力和速度场物理量测量是国内外很多研究者感兴趣区域方向。不过受制于散射信号强度弱，易于受其它因素影响，以前的很多的应用和文章都在干净的试验模型完成，还是局限于实验室阶段。2013年4月，德国DLR(德国宇航局)和德国ILA公司合作，首次在汉诺威工业展上将商业化的、成熟的FRS(Fliter Reigh Scat滤波瑞利散射)技术和试验仪器展出。该仪器最初是应用于航空发动机测量，很多的专利技术和特制的附件都是为此研发和制作。德国ILA公司作为德国最主要的激光测量技术供应商，和DLR合作，将此技术的应用拓展推广到风洞、各种试验模型。和以前的瑞利散射技术相比，现在的FRS特点是：将壁面散射光、环境噪声、大粒子的散射光影响消除，系统可以应用到“脏”的环境；激光器和相机的性能指标非常高，大大增强了瑞利散射的信号强度图像质量。如下图：FRS系统将壁面和大粒子的激光散射光消除，得到干净的瑞利散射图像。 激光在壁面和大粒子的米散射 相机捕捉到的图像（带有壁面和大粒子散射光） FRS系统得到图像DLR将FRS测量结果和CARS作对比，两者测量结果非常接近，误差在1%。现在的FRS测量系统，其测量范围和精度：温度范围：100－2000 K 不确定度：±1%压力范围：0.1至20 bar 不确定度：±3%速度范围：0-300m/s 不确定度：0.8-1.4m/s测量面积：通常120mmX120mm，取决于现场的信号强度。FRS可应用在燃烧研究，比如发动机测量。DLR已经将其应用在DLR科隆的高压燃烧室试验台，其工作压力可达40 bar。FRS系统特点：无需播撒示踪粒子；温度、压力和速度场同时测量；可升级到DGV系统；在测量过程中需要改变激光器波长，故测得结果为一段时间内的平均速度 应用环境：风洞、航空航天发动机、燃烧室、喷口燃烧分析等，增加光纤可应用在实际发动机上进行测量，无法添加示踪粒子的流场测量场合。 实验现场图片 实验结果

仪器组成： 多功能数字多道、放射源模拟器、卢瑟福散射平台 用户自备电脑一台(Win7以上 64位系统)卢瑟福散射实验： 演示α粒子散射； 验证卢瑟福散射理论与卢瑟福核式模型； 学习应用散射实验研究物质结构的方法。卢瑟福平台: 模拟真空环境内模拟探测器，模拟放射源，模拟金箔放射源转动结构参数： 1)数字式闭环步进驱动器 2)精密蜗轮蜗杆分度台 3)行程：0°-360° 4)重复定位精度：0.005° 5)分辨率：0.02° 6)减速比：1:90

广角散射光测量仪DH软件标配功能：测试方式：可控制机器，在一次测试下完成ISO ASTM GB JIS 四种标准的测试数据显示数据图表：提供测试数据列表，为批量化检测提供数据列表，便于查看批量测试锯数据列表：提供测试列表数据分析列表，更直观的反应测试过程和批量测试样品状况透射比：测试显示内容包括T.T（全部透射比）、P.T（平行光透射比）广角散射及雾度、浊度：DIF(散射光透射比）、Haze(广角散射雾度值）、Trub(10mm比色皿浊度值）原始数据处理：支持数据导入和导出，保存为Txt文本的测试原始数据。标准自动判断：支持excel测试列表导出，同时可按选择的各种标准独立导出。标准报告：支持眼镜耐磨性能PDF报告，雾度值测试PDF报告客户化修正值：提供用户自定义修正数值功能净重：净重20kg使用环境：15°~40℃，低于80% R.H.(无冷凝）功率：25W（VA）,待机功率10W外接控制：可选配脚踏开关或快捷按键电源：88~264V AC|47~63Hz或125~373V DC精度+重复性测试数值可选配0.001%显示；重复性测试连续30次偏差不超过0.03%**重复性受环境温度影响**ρV反射比 d/d方式反射率测试，等同di/8°几何条件。含镜面反射的测试SCI.广角散射均匀度自动每90°旋转测试4方向计算出Haze均匀值。**仅DF-1R 型号**

产品介绍：由狭缝造成的寄生散射是X射线分析中是众所周知的问题，用户和制造商不得不调整实验装置以避免这种现象。更低光子通量造成实验时间增加，更大光束截捕器造成分辨率下降，额外配置防散射针孔造成光束塑形针孔到样品距离增加，以及总体更低信噪比造成数据质量下降。新型SCATEX针孔基本不产生寄生散射，并且克服了上述问题： 因此，防散射针孔可被移除，系统尺寸缩小，分辨率与光子通量提高，数据质量得到改善。 产品特点：无针孔寄生散射分辨率与光子通量增强针孔的调整校准更加简便快速无需放散射针孔可提供特殊的解决方案同步辐射以及家庭实验室SAXS系统成功验证应用介绍：常规实验室系统上的应用常规实验室中的SAXS仪器通常使用三针孔准直系统，其中前两个针孔用于限定光束的大小与发散角， 第三个针孔充当防辐射针孔以用来吸收孔径产生的寄生散射，如下图所示。与此相反，SCATEX针孔在常规实验室SAXS装置应用中具有很高的潜力，因为其提高光子通量同时降低主光速路径长度。下图中体现了SCATEX针孔大幅度抑制寄生散射。Fig.2 Comparison of a conventional Pt/Ir pinhole and a SCATEX-Ge pinhole, both with 300 μm diameter. Measurement time: 100 s.图中的两种类型针孔（即市售Pt/Ir常规针孔和SCATEX锗针孔），其大小相同（均为300μm），其最后的成像效果都是在同样的没有放置防辐射针孔的两针孔SAXS设备条件下进行的。所测试的孔被在一次束并作为光束限定针孔居中地对准。同步辐射上的应用无散射锗针孔以下测试都是C.Gollwitzer在同步辐射（BESSY II）的PTB的具有四晶体单色器光束线站上进行，其输出能量为8kev，光通量大于1010ph/s。所有的测试针孔作为光束限定针孔被放置于主光束中心进行校准，同时没有使用防辐射针孔。下面对不同的针孔进行了比较：1、铜箔的500μm针孔；2、市售的500μmPt/Ir针孔；3、锗制SCATEX针孔。即使在10倍的测量时间下，SCATEX针孔引起的寄生散射少2- 3个数量级。由于SCATEX针孔优异的结构质量，其展示了在更高Q值空间散射的减少和环形的散射图案。Fig.3 Scattering intensity vs. q-plot. Data are corrected for respective exposure times and normalized to the primary beam photon flux and to the solid angle.公司介绍：德国Incoatec公司在基于薄膜技术的X射线光学器件方面拥有20年以上的经验。Incoatec公司的光学器件被用于全世界的X射线衍射测量、光谱测定和同步加速器射束线上。主打产品包括用于各种领域和针对微焦点光源方案的多层X射线光学器件。用新的光学器件和X射线源来升级X射线分析设备。计算机化的光学器件模拟、各类衬底的生产和薄膜表征使INCOATEC的服务更为完善，为重工业，化学，制药，半导体产业，生命科学和纳米技术提供解决方案，是可靠，高效和用户友好型产品，具备德国制造的精髓。

仪器简介：SAXSpace（Small & Wide Angle X-Ray Scattering System）是奥地利安东帕公司研制开发的一种小角X-射线散射仪。是一款适用于SAXS,WAXS,GI-SAXS,Bio-SAXS等的模块化纳米结构分析仪。其角度范围为0.03-49nm^-1,对应的尺寸范围为0.13-200nm。在不改变仪器设置的情况下，SAXSpace可以同时测量小角和广角X-射线散射，所测的2θ 角度最大值为74°，是真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器。SAXSpace可以测试几乎所有固体和液体样品。SAXSpace应用举例：表面活性剂和两亲性二嵌段共聚物的溶液：胶束尺寸，胶束形状，相行为，囊泡壁的内部结构等。生物材料：蛋白质在溶液中的形状和尺寸，内部结构，聚集状态，分子量等。分散体系：分散颗粒的形状和尺寸分布，分散体系的稳定性，颗粒集结成核现象，聚集状态等。纤维：内部结构，结晶度，取向度等。催化剂：比表面积，颗粒尺寸及分布，结晶度等。乳液：液滴的形状和内部结构，液滴的尺寸分布，不同温度时乳液的稳定性，胶囊试剂的传输动力学等。聚合物和纳米复合物：结晶度，周期性纳米结构，取向度等。液晶：周期性结构的尺寸和形状，取向度等。技术参数：测量范围：0.13 ~ 200 nmX-射线光源：标准：密封管（线聚焦和/或点聚焦），其它光源：可选。光束尺寸：线光源为20 × 0.3 mm2，点光源为0.3 × 0.3 mm2。工作电压：40 kV工作电流：50 mA样品量：固体只需几毫克，液体最少只需7微升。样品温度的可调节范围：-150 ~ 300 °C，灵敏度为± 0.1 °C。测试时间：1 ~ 60 min。主要特点：真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器：0.13 ~ 200 nm。光路可自动进行调整。原位升降温和溶液测试。专业而且完备的数据处理软件。

在以静态光散射（SLS）和动态光散射（DLS）原理为基础的动静态光散射仪器中，瑞士LS出品的三维光散射仪3D LS是一款新型仪器。它是一款采用互相关技术的三维激光光散射仪，利用两束激光对同一散射矢量和同一散射体积进行两个平行的散射实验来抑制多重散射的所带来的困扰。因此三维光散射技术突破了传统光散射技术对样品浓度和浊度的限制，3D LS不仅适用于标准的透明的稀溶液的动静态光散射实验研究，同时它也将动静态光散射的应用范围拓宽至高浓度和浑浊体系。使用三维光散射技术，用户无需对高浓度样品进行稀释，可以直接研究自然无扰状态下的体系，从而满足了广大高分子，胶体化学，软物质，材料科学，生命科学等领域研究人员在溶液表征上的要求。在三维互相关技术的基础上，瑞士光散射仪器公司又推出全新的3D调制技术（EP 2365313 A1），可进一步提高互相关技术的信噪比，测试更高浓度或浊度的样品。需要注意的是，与经典光散射不同，三维光散射相干截距理想值趋近于0.2，调制三维光散射相干截距理想值趋近于0.8。该仪器特点如下：动态/静态测量角范围8°-155°，测量角精度优于0.01°，关机自动定位至140°。提供多种尺寸的样品瓶支架，圆柱形样品瓶直径10mm或5mm，使用5mm 样品瓶时，样品量只需200mL。选配温控装置，温控范围10-70℃，温度低于10℃时，需使用干燥空气或氮气吹扫以避免水汽凝结。采用APD（雪崩型光电二极管检测器），具有高灵敏度（在632.8nm波长下量子效率65%），能测量弱光散射体系。单模光纤准直光学与集成检测系统。标配氦氖激光器：632.8nm，21mW，偏振度500:1，TEM00。双通道多tau相关器，最小延迟时间12.5ns，最大延迟时间50min，2×608互相关通道，1088自相关通道。检测器前2.5cm的支架可放置不同标准的滤光片。提供自动衰减功能和手动衰减功能，0-100%光强连续衰减。激光衰减系统结合在线入射光强的测量，软件能够记录光强，并用于静态光散射数据的归一化。通过软件反控仪器操作和数据处理；使用累计量法和约束正则CONTIN算法，自动测定粒径。

单次测量 – 微升体积 – 多种产品关键质量属性DynaPro® NanoStar®和DYNAMICS® Touch™软件--板载应用程序，可直接操作，对低至2µL的样品进行重要分析。 NanoStar是唯一一款基于比色杯的动态光散射（DLS）/静态光散射（SLS）仪器，可提供准确的温控比浊法测量浊度，同时确定流体动力学尺寸（Rh）和分子量（Mw），聚合和稳定性指标（Tonset，Tm，Tagg，kD，A2）。

技术参数 1、X射线发生器包括MM007HF，FR-X 2、光路单元，Pinhole、2Pinhole、3Pinhole系统可选3、样品台包括，GI-SAXA附件、变温附件（-150度～400度）、多功能样品台、真空、拉升4、半导体阵列2维探测器HyPix3000/6000 主要特点 最高水平的小角度分辨率（Qmin至0.02 nm-1）；NANOPIX高亮度、高功率X射线光源；NANOPIX完全自动化并由智能软件控制，专业而简便；NANOPIX支持多种条件下的复杂原位测试； 仪器介绍 Rigaku NANOPIX SAXS / WAXS测量系统是一种为纳米结构分析设计的新型X射线散射仪器。NANOPIX可以用于小角散射（SAXS）和广角散射（WAXS）测量，这使得可以实现从亚纳米到纳米级（0.1nm到100nm）的多尺度结构测量。使得实验室SAXS仪器实现了最高水平的小角度分辨率（Qmin至0.02 nm-1）。SAXS / WAXS具有广泛的实验范围，NANOPIX可在各种温度或湿度条件下进行测量，同时进行DSC（差示扫描量热法）测量，以及与特殊附件或其他外部设备组合进行测量。测量环境的控制对于功能材料的结构-性能关系的研究是必不可少的。 *价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请向销售工程师咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

TURBISCAN TOWER是最新款的稳定性分析仪，拥有更高的精确度，同时测量六个样品。该系列产品有TURBISCAN TOWER和TURBISCAN TOWER BASIC两种型号。TURBISCAN TOWER具有更宽的温度范围，4℃的模拟冷藏温度，特别适用用于研究食品的货架期。稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER应用多重光散射的原理, 检测器所得到透射光和背散射光强度是直接由分散相的浓度(体积百分数)和平均直径( 或是粒子/微滴/气泡的平均直径)决定的。通过测量透射光和背散射强度的变化，就可以知道样品在某一截面浓度或颗粒粒径的变化。该仪器对所分析的样品可以有一个宽的范围，粒子尺寸范围从0.01微米-1毫米，其样品的浓度最高可以达到体积百分比95%。 稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER的测量探头是由一个脉冲式的近红外光源 (波长880 nm )和两个同步的检测器组成: 透射光检测器是用于研究透明清澈的产品，背散射光检测器是用于研究高浓度的产品。仪器的工作原理为：测量探头收集透射光和背散射光的数据, 在55mm长度上每20 微米扫描一次。得到的图形在浓度上和粒子直径上表征了样品的均匀性，编辑其测量次数, 然后沿着样品不断重复扫描, 从而得到一张表征产品稳定性或不稳定特征的指纹图谱 。 稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER数据收集方式为扫描方式:沿着55 mm的扫描高度每 20 μm收集一次数据,在环境温度下每20秒钟做1次扫描并收集数据, 每30秒温度控制一次。可设置多达 250个扫描程序。样品中的粒子由于聚结、絮凝或团聚现象造成的粒子粒径的变化及位置的变化可以被实时监测。从而可以计算样品中粒子平均直径的变化，粒子的迁移的速度及由于颗粒的迁移造成的浓度变化即分层厚度的随时间变化。 稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER最大的特点是测量且无须对浓缩分散相进行稀释。从而确保产品在粒子尺寸和/或它的浓度方面符合所要求的技术规格。 稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER仪器装有温度调节装置, 可控制温度范围在4°C至80°C 之间，温度控制精度为 ± 0.1°C。 稳定性分析仪 (多重光散射仪) TURBISCAN TOWER软件可以得出下面的几种分析结果:1、背散射光强度BS和透射光强度T相对时间的变化曲线。2、分层厚度随时间的变化曲线。3、粒子迁移速度和粒子的流体动力(水力)平均直径。4、物理不稳定性定量动态分析: 粒子平均直径相对时间变化的曲线或者样品浓度相对时间变化的曲线。5、光子的平均自由光程或者传送的平均自由光程 , d (平均直径), phi (浓度-体积百分数),TSI稳定性指数。6、分散度。（分散度是固体粉末分散性的评价指标，其数值越小，分散性越差）。二、主要技术指标1、粒子尺寸的测量范围: 0.01-1000um。2、粒子浓度: 最高体积百分比浓度可达95%。3、测量技术: 多重光散射。4、一次可以检测6个样品。三、测量部件1、发射源: 近红外光源(880 nm)。2、检测器: 透射光和背散射光两个光敏二极管。3、温度范围：4°C到80°C,温度控制精度为± 0.1°C。4、样品池: 平底的玻璃池( 外径: 27.5mm – 高度: 70mm)随同带有螺纹黑顶盖及丁基/聚四氟乙烯密封圈。

产品简介：广角激光光散射仪采用TurboCorr数字相关器，通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况，通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线、分子量、均方根回旋半径及第二维里系数。经国内外众多顶级实验室使用，证明BI-200SM是研究聚合物、胶束、微乳液以及复杂溶液等体系最理想的测试仪器。详细说明：主要功能1.动态光散射（DLS）功能 动态光散射又被称为光子相关谱法（PCS）或者准弹性光散射法，该方法使用自相关方程，自相关方程中包含了悬浮颗粒或者溶液中高分子的扩散系数的平均值及其分布等信息。从扩散系数的分布中可以得到：1）粒度大小及其分布2）其它动力学参数2.静态光散射（SLS）功能 对于悬浮于液体中的颗粒，利用Mie散射形成光强与角度的函数关系，从而得到颗粒粒度大小与形状的信息。对于高分子溶液，光强与角度、浓度形成的依赖关系（即浓度依赖性与角度依赖性），利用Zimm图（或其他类似的方法）可以得到以下参数：1）Mw绝对重均分子量2）Rg均方根回旋半径或均方末端矩3）A2第二维里系数典型应用1.囊泡及脂质体 微胶囊技术在现代科技与日常生活中有重要作用，如药物、染料、纳米微粒和活细胞等都可以被包埋形成多种不同功能的微胶囊。利用动静态光散射表征技术，可以对微胶囊的几何形状、粒径大小和分子量大小进行表征，进而人为对微胶囊的囊壁组成和结构进行精确的控制与调控，从而调控微胶囊的各种性能。2.胶束的研究 胶束的大小、结构、温敏性、pH值敏感度等决定着胶束的性能及应用前景。而胶束体系DLS测量时具有明显的角度和浓度依赖性，将不同角度和不同浓度的DLS数据外推才能得到准确的扩散系数D0。3.聚电解质共聚物的研究 聚电解质具有高分子溶液的特性，例如粘度、渗透压和光散射等。由于它带有电荷，并且这三方面的性质又不同于一般的高分子。在光散射测量方面，通常把聚电解质溶解在一定浓度的盐溶液中，再在不同角度下测量样品光强，从来评价样品是否已被屏蔽掉库伦力影响。4.体系聚集与生长 由于体系的变化可以通过粒度、光强、扩散系数、相关曲线等的变化加以表征，所以通常我们可以用光散射的方法来表征，从而得到体系的聚集、解离以及生长等信息。如在蛋白质晶体生长过程中，连续采集其光散射信号，通过对其光强、粒度、扩散系数及相关曲线等变化数据进行对比与分析，了解蛋白质晶体生长的情况及其性能变化的情况。如外加温控设备可以进一步研究体系的相变温度等溶液行为。5.超高分子量聚合物的表征 超高分子量聚合物（如PAM、烯烃等）因其具有极高的粘度性，采用传统的测量方法（如GPC与光散射联用技术，粘度法等）难以保证准确性，而采用特殊匹配液池设计的广角光散射仪完全避免了管路堵塞、杂散光影响等问题，成为此类样品测量最适合的仪器。6.自组装 影响组装体系稳定性的因素有：分子识别、组分、溶剂、温度及热力学平衡状况。而通过测定组装体系的扩散系数、粒径、分子量、均方根回旋半径，第二维利系数等变化，可以方便地表征自组装体系的这些性能。7.DLS和SLS技术还可以用来进行以下表征：1）微乳液2）液晶3）本体聚合物及晶体转变4）复杂聚合物与胶体体系蛋5）白质和DNA技术参数1.粒度范围：1nm-6um2.分子量范围：500～109Dalton3.分子大小范围：10～1000nm4.角度范围：8-162°,±0.01°5.温控范围：-20 ～ 80℃（选件-20 ～ 150℃），± 0.1℃6.滤光片轮：632.8nm, 532nm, 514.5nm，488nm7.孔径轮：100 um,200 um,400um,1 mm,2 mm,3mm

天星智联AVS05散射能见度仪产品介绍 TS AVS 能见度仪是我公司基于气溶胶前散射原理而研发设计的一款能见度智能监测设备。该产品由光发射器、光接收器及微处理控制器等主要部件组成，测量范围具备多种选择，可选10m-10km，30km，50km三种量程，可增加测雨、雪天气现象模块。设备采用RS485输出，具备Modbus和ASCII码两种通信协议。TS AVS 能见度仪能为用户提供准确实时的能见度数据，可有效避免因团雾、雾、雾霾等引起能见度下降情况下带来的行车、行船安全隐患。可广泛用于气象台站、机场、高速公路、航道、大型舰船等交通运输部门。天星智联AVS05散射能见度仪产品特点天星智联AVS05散射能见度仪产品参数测量参数 测量范围 10m～10km 10m～30km 10m～50km（可定制大量程） 测量精度 ≤2km ，误差±2% 2Km～10km，误差±5% ＞10km，误差±10%仪器一致性 ≤±4%数据更新间隔 15秒、600秒可选光学参数散射角覆盖 39°～51° 前散射峰值波长 870nm带宽 100nm供电参数输入电源 9-30V功耗 非加热时(常态)2W 加热时4.5W机械参数尺寸（L*W*H） 610mm x 230mm x 300mm重量 3.35Kg 材料 阳极化处理硬质铝，外表面加喷漆保护.环境参数工作环境温度 -40℃ ～+ 60℃工作相对湿度 0～99%天星智联AVS05散射能见度仪在线监测原理天星智联AVS05散射能见度仪出厂配置传感器 一台合格证/保修卡 一份装箱清单 一份天星智联AVS05散射能见度仪应用场景

低能离子散射谱 Qtac-100催化反应一般只发生在材料的最表层。低能离子散射谱（Low-Energy In Scattering ,LEIS)利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面，与样品表面的原子进行弹性碰撞。根据弹性散射理论，散射离子的能量分布与表面原子的原子量相关。通过对散射离子能量进行分析，就可以得到表面元素组分及表面结构的信息。低能离子散射谱所获得的信息来自样品的最表层，因而是研究表面成分、表面结构以及表面过程的强有力的手段。ION-TOF公司的Qtac-100型低能离子散射谱仪采用新型离子收集器。相比传统LEIS系统，灵敏度提高3000倍!主要特点如下：1、新型的全方位角离子收集器，可以收集样品表面特定区域的几乎全部反射离子。2、超高的表面灵敏度，信息深度一般在3个原子层之内。3、良好的定量特性。4、离子源可以工作在高束流模式和分析模式之间切换，可以对样品进行清洁和溅射。5、自动化的真空系统、完善的互锁装置，使操作更简单。6、最表层原子定量分析。低能离子散射谱(LEIS)的一个显著特点就是其超高的表面灵敏度和良好的定量性。相对于其他常见的表面分析手段，例如XPS 、 AES ，它最大的特点是可以把信息深度缩小到单原子层厚度。配合上深度剖析， 则可以实现从表面单原子层成分分布成像，到样品深度方向成分变化等多种测量。应用：1、可以与多种生长设备和其他分析设备集成；2、可用于单原子层沉积过程和生长动力学研究；3、可用于分析粗糙表面和绝缘材料分析；4、可用于于材料催化性能研究；5、可用于生物材料、半导体材料等性能研究。Q-tac 应用实例Qtac 系统实物

光散射法可见异物伞棚灯产品特点：YH-OFM-0301型光散射法可见异物分析仪是由胤煌科技公司自主设计研发生产，主要用于注射液（安瓿瓶、西林瓶）中的可见异物（玻璃屑、金属屑、纤维、毛发、白点、白块等）的自动检测，并出具相应的检测报告。采用手动单只进样方式，通过高速旋转样品，并进行动态图像采集和分析，从而检测样品中的可见异物，完全满足《中国药典》2020版通则收载的光散射法检测要求。仪器可通过可见异物标准粒子进行标定，从而确保检测精度的准确性。软件具备权限管理和审计追踪功能，并可导出和备份数据和报告。光散射法可见异物伞棚灯性能特点：• 完全满足《中国药典》2020版通则收载的光散射法检测要求；• 可检测西药、中成药和其他生物制品；• 采用双光源系统照射检测，有效保证了样品中杂质的显现；• 采用高分辨率远心镜头，采样图像清晰，采样和图像处理速度高达125f/s。• 可将待检测样品建立成独立的数据库并可备份保存，有效的进行数据存储和后期调用；• 可采用标准粒子进行仪器校正，保证仪器使用的长久性；• 历史检测结果可保存成独立报告，方便打印；• 检测过程图像全程显示，并可保存检测视频，方便用户后期进行报告追溯；• 全中文操作页面，操作简单方便，检测过程可实时观察；• 检测样品规格可覆盖安瓿瓶和大部分的西林瓶；• 待测样品可进行手动进样检测方式，采用机电一体化设计，有效保证样品放置稳定性；• 具备三级权限管理与工作日志功能，符合国家数据完整性要求，并可对工作日志进行导出为PDF文档，方便用户进行审核；• 可选配不同的安装固定座以满足不同规格样品的检测；技术参数：• 检测光源：双光源检测系统• 分辨率：1920×1280• 检测瓶规格：1ml～20ml安培水针剂；1ml～30ml西林瓶（特种规格需咨询定制）• 检测速度：1～2只/分钟 • 检测分辨率：10um以上标准微粒• 环境温度:室温-50.0℃• 相对湿度：不大于65%• 标准粒子大小：10ml规格40μm和60μm• 电源功率：220V±10% AC 50Hz 80W

一、前言作为物质存在的第四种状态的等离子体通常由电子、离子和处于基态以及各种激发态的原子、分子等中性粒子组成。等离子体中带电离子间库伦相互作用的长程特性，是带电粒子组分的运动状态对等离子体特性的影响起决定性作用，其中的电子是等离子体与电磁波作用过程中最重要的能量与动量传递粒子，因此，等离子体中最重要的基本物理参数是电子密度及其分布以及描述电子能量分布的函数以及相应的电子温度。而对于中高气压环境下产生的非热低温等离子体来说，等离子体中的主要组分是处于各种激发态的中性粒子，此时除了带电粒子外，中性粒子的分布和所处状态对等离子体电离过程和稳定性控制也起着非常重要的作用，尤其是各种长寿命亚稳态离子的激发。为了可以充分描述等离子体的状态，在实验上不仅要对带电粒子的分布和运动状态进行诊断，如电子温度、电子密度、电离温度等参数，还需要对等离子体中的中性粒子进行必要的实验测量，来获得有关物种的产生、能量分布以及各个激发态布居数分布等信息，如气体温度、转动温度、振动温度、激发温度等参数。基于这种要求，结合相关学科的各种技术形成了一个专门针对等离子体开展诊断研究的技术门类，如对等离子体中电子组分的诊断技术有朗缪尔探针法（Langmuir Probe），干涉度量法(Interferometer)，全息法(Holographic Method)，汤姆逊散射法(Thomason Scattering, TS)，发射光谱法(Optical Emmission Spectroscopy, OES)等，对离子组分的光谱诊断技术有光腔衰减震荡(Cavity Ring-Down Spectroscopy, CRDS)和发射光谱法(OES)，而对中性粒子的光谱诊断技术包括了吸收光谱法(Absorption Spectroscopy, AS)，发射光谱法(OES)，单光子或者双光子激光诱导荧光(Laser Induced Fluorescence, LIF)等。二、汤姆逊散射（Thomson Scattering）基于激光技术发展起来的汤姆逊散射诊断原本用于高温聚变等离子体的测量，借助激光技术和光电探测技术的突飞猛进，汤姆逊散射在近年也大量应用于低温等离子体的密度和电子温度的测量。汤姆逊散射具有空间分辨率高（局域测量），测量值稳定可靠等优点。测量的物理量：电子温度：下限0.1e密度：下限1019m-3.图1. 汤姆逊散射分析系统结构示意图2.1、激光束在等离子体中的束斑大小（束径DLP）激光束经过透镜聚焦，等离子体应该位于透镜的焦点，以达到激光束在等离子体中有最小的束径，最高的功率密度。DLP = f´ q其中f是聚焦透镜的焦距，q是激光束发散角，考虑各种综合因素，实际束径是上述公式的2倍左右。假设使用f=1000mm的聚焦透镜和q=0.5mrad的激光束，DLP大约是1mm。2.2、收集光学系统的光纤的像斑（fP）与等离子体中激光束径DLP的匹配为了有效的收集激光束上的散射光子，光纤的像斑fP应该完全覆盖激光的束径。理想情况是光纤的像斑与DLP尺寸完全相同，并且二者完全重合，这样激光的散射光最大，同时背景非散射光最小。但是考虑到实际的准直的难度，这样的理想条件在有限的资金投入下很难实现。建议fP是DLP的两倍，既能有效的收集散射光子，也能比较容易准直。如果DLP =1mm, fP =2mm是比较合适的。2.3、光纤的芯径、布局和光谱仪以及ICCD的选择汤姆逊散射谱线展宽与温度的关系如下：汤姆逊散射角度 Theta=90度；me是电子质量，c是光速，kB是玻尔兹曼常数，公式右边分母下面：是激光的波长 532nm；分子是谱线展宽，不过是1/e展宽因此汤姆逊散射光谱的半高宽△λ1/e（nm）与等离子体温度Te（ev）的关系可以简化为△λ1/e=1.487×Te1/2Te eV0.10.20.30.4124510△λ1/e nm0.470.530.810.941.492.102.973.324.70表1. 电子温度与汤姆逊散射谱半高宽对应值在光谱仪没有入射狭缝或者入射狭缝宽度超过光纤的芯径的情况下，光纤的芯径实际决定了谱仪的实际分辨率（仪器展宽）：△λof = fof ´ LSPfof是光纤的芯径，LSP是谱仪的倒线色散率。针对于此应用，可以考虑选择两款光谱仪，分别是：1、Zolix 北京卓立汉光仪器有限公司的Omni系列 750mm的谱仪，如果使用1200l/mm的光栅，LSP = 1nm/mm。测量电子温度的原则是仪器展宽应该与最低温度的展宽相当，才能有效的测量到最低温度。2、选用207（670mm焦距）光谱仪，在搭配1200l/mm光栅的情况下，LSP=1.24nm/mm，可以满足要求。同时可以考虑搭配1800l/mm光栅，这样的话可以兼容高电子温度和低电子温度的同时测量，以及同时兼顾高分辨和宽光谱。原则上，使用芯径400mm的光纤，△λof=0.4-0.48nm，完全符合0.1eV的测量要求。但是还是建议谱仪安装入射狭缝，靠狭缝来控制分辨率，不仅确保0.1 eV的测量要求，还能实现更低的温度测量。同时在调试阶段，靠狭缝来控制通光量，以免532nm的激光杂散光太强，对ICCD造成破坏。另一方面ICCD的尺寸决定了光纤的排布数量。光纤数量越多，对汤姆逊散射这种微弱光测量是越有利的。在信号很弱的时候，可以把几道合成一道使用，以增加信噪比，提高信号质量。因此在波长覆盖范围（CCD的横向尺寸）满足要求的情况下，ICCD的纵向尺寸应该尽量大一些，以便容纳更多的光纤。选用iStar 334T探测器，这款CCD的尺寸是13.3 ´ 13.3 mm，对焦距目前的光谱仪无论是Omni-750还是207在搭配1200l/mm光栅的情况下，波长覆盖范围是13nm左右，同时纵向13.3mm，容纳的光纤数量也更多，可以做更多的多道光谱。如果已有更大面阵的CCDsCMOS或高速相机，可以考虑使用Zolix 卓立汉光的IIM系列镜头耦合像增强模组与之配合，达到类似ICCD的功能和效果，同时获得更大的相机选取自由度；IIM 内部可以选择25mm 尺寸的增强器，1：1耦合到CCD, 可以获得更大的成像面，双层增强器也可以获得更高的增益；光纤的布局是一字型密集排布，在13mm的长度内，尽量的密布尽可能多的光纤。同时光纤应该严格排列在一条直线上，整排光纤的偏心距小于20mm。2.4、收集透镜的选择等离子体中心到透镜的距离L和光纤的芯径，及像斑决定了收集透镜的焦距。举例如下：如果像斑要求是fP =2mm，光纤芯径400mm, 则物像比是4，如果L=320mm, 则透镜的焦距就是320/4=80mm。同时如果观测的等离子体范围是50mm，那光纤一字排开的范围就是50mm/4=12.5mm。这个宽度和连接谱仪一侧的光纤束的尺寸很接近了，连接收集透镜一侧光纤也应该是密集排布，这样两端容纳的光纤数量就是匹配的。2.5、瑞利散射的滤除与使用瑞利散射信号通常也可以用来测试重粒子的相关信息比如中性原子。但是相比于瑞利散射法来说，作为弹性散射的汤姆逊散射法更多用于自由电子的测试。和离子与原子相比，由于自由电子的速度更快，质量更轻，因此具备更宽的光谱展宽。比较强的杂散光信号与更强的瑞利散射信号则可以通过例如布儒斯特窗、笼式结构或者黑丝挡板的方式滤除掉。图2 滤除瑞利散射的笼式结构示意光路因此在实际的测试过程中，如何合理地使用这些信号为等离子体诊断服务，则是另一个相关的话题。如图3[1]所示，为实际测试过程中得到的瑞利与汤姆逊散射信号如图4[2]所示，为实际测试过程中得到的滤除瑞利散射后的汤姆逊散射信号图3 包含瑞利散射与汤姆逊散射的实测信号图4 滤除瑞利散射后的汤姆逊信号2.6其他附属部件光电倍增管谱仪第二出射口配宽度可调的狭缝三维调整光学支架，用以调节镜头的方位和方向三、整体解决方案汇总推荐根据用户需求，一般推荐的配置如下：光谱仪：Zolix 北京卓立汉光仪器有限公司的Omni-500I 或750i光谱仪搭配1200l/mm和1800l/mm的全息光栅高光通量光谱仪，搭配120*140mm 或110*110mm 的大尺寸，高分辨率的1200l/mm光栅和1800l/mm光栅探测器：ICCD, 18mm 增强器，13*13mm 探测面；Zolix卓立汉光 公司的IIM-A系列 镜头耦合像增强模组，配合更大面阵的CCD或sCMOS相机， 18mm或25mm 的大面积增强器，灵活的CCD 相机选择； DG645数字延迟脉冲发生器：用于系统触发控制标准A光源，用于系统强度校准其他的配件：包括多道光纤，收集光路，可以后续一并考虑，先购买标准部件参考文献[1] Yong WANG, Cong LI, Jielin SHI, et al. Measurement of electron density and electron temperature of a cascaded arc plasma using laser Thomson scattering compared to an optical emission spectroscopic approach[J]. Plasma Sci. Technol. 19 (2017) 115403 (8pp) [2] Ma P, Su M, Cao S, et al. Influence of heating effect in Thomson scattering diagnosis of laser-produced plasmas in air[J]. Plasma Science and Technology, 2020.

产品介绍：Xeuss 3.0：实验室新一代全自动（掠入射）小角／广角超小角X射线散射线站，可以在透射或掠入射(GI-)模式下进行小角／广角X射线散射(SAXS/WAXS)测试以及超小角(USAXS)测试，获取各类样品全面的结构信息。主要特点：- SAXS/WAXS联用原位测试- 三轴全自动探测器- GISAXS/GIWAXS表征及数据处理- 无Beamstop数据采集- 二维散射图样和一维积分曲线实时动态显示- Virtual Detector模式得到更大的WAXS探测范围可获得的信息：- 粒子 / 孔洞形状- 尺寸 / 分布- 粒子 / 孔洞取向- 粒子相互作用- 粒子 / 基质界面- 分形 / 多级尺度- 自组装 / 长周期- 比表面积可研究的领域：- 纳米颗粒及胶体聚合物- 药物研发及配方- 化妆品及护理产品- 石油及天然气- 食品科学- 可再生能源- 无机材料

Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号：PSS Nicomp N3000 Plus工作原理：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）检测范围： 0.3nm-10.0μm Nicomp N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。技术优势1、APD（LDC）超高灵敏度检测器； 2、多角度检测（multi angle）模块；3、可搭配不同功率光源；4、精确度高，接近样品真实值；5、快速检测，可以追溯历史数据；6、结果数据以多种形式和格式呈现；7、符合USP,CP等个多药典要求；8、无需校准；9、复合型算法：（1）高斯（Gaussion）单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换10、模块化设计便于维护和升级；（1）可自动稀释模块；（2）搭配多角度检测器；（3）自动进样系统（选配）；Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 3000系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。图一：Nicomp多分分布数据呈现 如图一：此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由图中可以看出，其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。 图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二：此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案。产品优势模块化设计 Nicomp 3000纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 3000的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块 自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。3000/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 3000纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD-LDC)超高灵敏度检测器 Nicomp 3000纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军品级别的雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果）。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。3000/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。工作原理目录结构： 1.前言 2.动态光散射原理 3.动态光散射理论：光的干涉 小知识：光电倍增管（PMT) 小知识：光电二极管（APD) 5.粒子的扩散效应 6.Stoke-Einstein方程式 7.自相关函数原理 前言 近十几年来，动态光散射技术（Dynamic Light scattering, DLS），也被称为准弹性光散射（quasi-elastic light scattering, QELS）或光子相关光谱法（photon correlation spectroscopy， PCS）,已经被证明是表征液体中分散体系的粒径分布（PSD）的极有用的分析工具。DLS技术的有效检测粒径范围——从5am（0.005微米）到10几个微米。DLS技术的优势相当明显，尤其是当检测到300nm以下亚微米的粒径范围时，在此区间，其他的技术手段大部分都已经失效或者无法得到准确的结果。因此，基于DLS理论的设备仪器被广泛采用用以表征特定体系的粒度分布，包括合成的高分子聚合物(如乳胶，PVCs等)，水包油和油包水的乳剂，囊泡，胶团，微粒，生物大分子，颜料，燃料，硅土，金属晶体，陶瓷和其他的胶体类混悬剂和分散体系。动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定，每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积（在特定浓度下）成比例关系，再带入其他影响参数比如折射率，这就是经典光散射（Classic light scattering)的理论基础。 图1：DLS系统示意图动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，不再关注于光散射的光强值，而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说，我们在一定角度（一般使用90°角）检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散，光强值不断波动，理论上存在有非常理想化的波动时间周期，此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ，我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式，我们最终可以计算得出颗粒的半径（假定其是一个圆球形状）。 动态光散射理论：光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动，我们必须先理解相干叠加（coherent addition）或线性叠加（superposition）的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光，这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的最终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系，这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起，或者叫干涉在一起，最终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值，在DLS系统中，绝大部分都使用90度角。 小知识——光电倍增管（PMT) 光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。光电倍增管示意图小知识——光电二极管（APD) 光电倍增管是由玻璃封装的真空装置，其内包含光电阴极 (photocathode)，几个二次发射极 (dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极，产生光电效应，产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管，电子被加速到二次发射极产生多个二次电子，通常每个二次发射极的电位差在 100 到 200 伏特。二次电子流像瀑布一般，经过一连串的二次发射极使得电子倍增，最后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的，而电子倍增管的二次发射极是连续式的。 应用 光电倍增管集高增益，低干扰，对高频信号有高灵敏度的优点，因此被广泛应用于高能物理、天文等领域的研究工作，与及流体流速计算、医学影像和连续镜头的剪辑。雪崩光电二极管（Avalanche photodiodes，简称APDs）为光电倍增管的替代品。然而，后者仍在大部份的应用情况下被采用。 动态光散射理论： 粒子的扩散效应 悬浮的粒子并不是静止不动的，相反，他们以布朗运动（Brownian motion)的方式无规则的运动，布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此，到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动，这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起，在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化，进而产生有实际意义的波动，最终这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念，我们现在假定粒子是均一大小的，具有相同的扩散系数（diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快，将会导致光强波动信号变化很快；而相反地，大粒子扩散地毕竟慢，导致了光强值的变化比较慢。 图示4使用相同的时间周期来观测不同大小（小，中，大）的粒子产生的散射光强变化,请注意，横坐标是时间t。 我们需要再次强调，光强的波动并不是因为检测区域内粒子的增减引起的 而是大量的粒子的位置变动（位移）而引起的。 Stokes Einstein Equation DLS技术的目标是从原始数据（raw data)中确定粒子的扩散系数“D”。原始数据主要是指光强信号的波动，比如上述图4中所示。通过扩散系数D我们可以很容易的计算出粒子的半径，这时候就是广为人知的Stokes-Einstein方程式：D=kT/6πηR （2）这里k 指的是玻尔兹曼常数1.38 x 10-16 erg K-1；T是绝对温度；η是分散溶剂的额剪切粘度，比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊； 从上述公式2中我们可以看到，通常情况下，粒子的扩散系数D会随着温度T的上升而增加。温度进而也会影响溶剂粘度η。例如，纯水的粘度在25℃下会落到0.890×10-2泊，和20℃下相比会有10%的改变。毫无疑问，溶剂的粘度越小，粒子的无规则扩散速度会越大，从而导致光强的波动也越快。因此，温度T的变化和粒径的变化是完全分不开的，因为他们都影响到了扩散系数D。正因为这个原因，样本的温度必须保持恒定，而且必须非常精确，这样才能获得有实际意义的扩散系数D。 从图4的“噪声”信号中无法直接提取出扩散系数。但是可以清楚地看到，信号b比信号c波动地快，但是比信号a波动地慢，因为，信号b地粒径一定在a和c之间，这只是很直观地得到一个结论而已。然而，量化此种散射信号是一个很专业地课题。幸而，我们有数学方法来解决这个问题，这就是自相关函数（auto-correlation)。自相关函数原理 现在让我们设定散射光强的自相关函数为IS(t)，在上述图4中可以看到其随时间而波动。我们用C(t’)来标识自相关函数。C(t’)可以通过如下方程式3来表达：C(t’)= Is(t)*Is(t-t’) (3)括号 表示有很多个t和对应的Is值。也就是说，一次计算就是运行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和，所有都具有相同的间隔时间段t’。 图5是典型的Is(t)的波形图，通过这张图，我们可以认为C(t’)和Is(t)之间有简单的比例关系，这张图的意义在于通过C(t’)函数可以通过散射光强Is(t)的波动变化“萃取”出非常有用的信息。 自相关函数C(t’)其实是表征的不同大小的粒子随时间而衰变的规律。 点击下载工作原理仪器参数粒径检测范围0.3 nm - 10μm分析方法动态光散射，Gaussian单峰算法和 Nicomp多峰算法pH值范围1-14温度范围0℃-90 ℃（±0.1℃控温精度，无冷凝）浓度40%w/v激光光源至少35mW激光光源检测角度多角度（10°- 175°，包含90°，步进0.7°）检测器APD-LDC(雪崩二极光电倍增管，可7-10倍增益放大)可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，微量进样10μL）分析软件必配科研级软件符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220 – 240 VAC，50Hz 或100 – 120 VAC，60Hz计算机配置要求Windows 7及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，1G内存，光驱，USB接口，串口（COM口）外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm辅助增益模块自动稀释模块自动进样器（选配）重量约26kg（与配置有关） 配件大功率激光光源PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射，以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW, 35mW, 50mW, 100mW — 波长为635nm 的红色二极管。20 mW 50 mW 和 100 mW 波长为 514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器（APD Detector）提供比普通光电倍增管(PMT)高7-10倍的灵敏度。自动稀释系统模块将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度，可稀释初始固含量为50%的原始样品，本模块可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差，此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。多角度检测系统模块提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整，可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品（≤40%）以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测自动滴定模块（选配）样品的浓度及PH值是Zeta电位的重要参数，搭配瑞士万通的滴定仪进行检测，真正实现了自动滴定，自动调节PH值，自动检测Zeta电位值。免除外界的干扰和数据上的误差，精确分析出样品Zeta电位的趋势。样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，最小进样量10μL）。自动进样器（选配）批量自动进样器能实现60个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具，能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。应用领域 纳米载药纳米药物研究近些年主要着重在药物的传递方向并发展迅猛，纳米粒的大小可以有效减少毒性和副作用。所以，控制这些纳米粒的粒径大小是非常必要的。 磨料磨料既有天然的也有合成的，用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。化学机械抛光液(CMP SLURRY)化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计，对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。 陶瓷陶瓷在工业中的应用非常广泛，从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制产品的性能和质量。 粘土粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似，但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。 涂料涂料种类繁多，用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。污染物监测粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用，产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范，必须严格遵守和执行，以保证产品满足质量要求。化妆品无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂，它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收，而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。 乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系，通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型，一种是水分散在油中，另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶（水包油型）和黄油（油包水型），加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。 乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系，通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型，一种是水分散在油中，另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶（水包油型）和黄油（油包水型），加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。 食品食品的原料（粉末及液体）通常来源于不同的加工厂，不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制（QA/QC）的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。液体工作介质/油液体工作介质（如：油）越来越昂贵，延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中（如：油浴润滑介质或液力传递介质），因此需要一种方法来确定介质（油）的更换周期。通过监测工作介质（油）中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。墨水随着打印机技术的不断发展，打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下，且分布均匀，大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的，可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程，以保证墨水的颗粒粒度分布均匀，避免产生聚集的大颗粒。 胶束胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后，其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒，这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO2纳米管(TNAs)等

前向散射能见度传感器TH-N50是光在大气中传播过程中，通过测量经过采样面积的散射光强，计算散射光强与入射光强的比值，反演出大气消光系数，根据大气消光系数计算能见度。【能见度定义】：大气能见度定义为具有正常视力的人在当时的天气条件下还能够看清楚目标轮廓的最大地面水平距离。【功能介绍】：前向散射能见度传感器大气能见度测量仪发射端通过红外led光源发射红外光，红外光源透过一定体积的空气，由空气中的气体分子，气溶胶粒子、雾滴等引起红外光源散射，能见度测量仪接收端通过接收红外光源散射光的强度来确定能见距离，同时仪器可对能见度连续测量输出。【检测原理】：35°前向散射原理，测量更准确。【整体外观】：整体环抱式一体化设计使内部电缆的布局更趋合理。【测量元件】：光学部件镜头，红外led光源。【硬件防护设计】：①、采用了光学部件镜头朝下并带有防护罩，有效防止降水、飞沫或尘埃进入镜头，减少探头表面的污染，这种设计提供了精确的测量结果并减少了维护的需要。②、探头的防护罩为铝合金材料，表面涂有防腐蚀的玻璃纤维涂层。③、能见度仪的过电压和电磁保护装置能保证传感器的长时间安全运行。④、红外LED光源，增加滤光设计、抗光源干扰。⑤、低功耗，内部电路抗干扰设计。⑥、仪器的直流供电电路具有防反接和自恢复保险双重设计。【设备清单】：大气能见度测量仪1台+2个抱箍。【安装注意事项】：①、将能见度传感器安装到距离地面大约2米的地方。②、保证能见度下方不要有别的物体，干扰测试。③、理想安装场地应距大型建筑物或其它会产生热量及妨碍降雨的设施至少100米，而且也要避免树荫的影响。④、场地应无干扰光学测量的障碍物、反射面和明显的污染源。⑤、选择合适地点安装设备，设备提供安装抱箍，利用抱箍将设备安装到75mm立杆上，为避免光源干扰，发射端务必在南侧。【供电方式】：10-30vdc宽压供电。【测量范围】：默认5-50km。【测量误差】：≤1KM±2%；±10%1KM。【分辨率】：1m【更新间隔】：20s【平均无.故障时间】：（MTBF）大于18000小时【工作环境温度】：-40~60℃【工作相对湿度】：不大于95%（30℃）【重量】：小于10kg【功耗】：0.5w【红外光波长】：870nm【信号输出方式】：RS485，标准modbus-rtu协议【可测能见度数据种类】：①、实时能见度数值②、能见度10min平均值③、能见度1min平均值【光学镜头洁净等级】：可实时读取红外光发射端、接收端的镜头洁净度，清洁度等级1-5，5代表清洁度最高，当清洁度小于3时需要现场清理光学镜头。【能见度常识】：1.能见度20-30公里能见度极.好视野清晰2.能见度15-25公里能见度好视野较清晰3.能见度10-20公里能见度一般4.能见度5-15公里能见度较差视野不清晰5.能见度1-10公里轻雾能见度差视野不清晰6.能见度0.3-1公里大雾能见度很差7.能见度小于0.3公里重雾能见度极差8.能见度小于0.1公里浓雾能见度极差

概述GSDT-20激光后散射烟尘监测仪由光学部分、电路及调理部分、标定校准器、气幕保护部分组成，采用激光后向散射原理，将一经过调制的激光束投射入烟道/烟囱，被光束照射的颗粒物对光散射，向某一方向散射的光被聚焦后经检测器检测，在一定范围内检测信号与颗粒物浓度成比例。通过测量散射光的强弱，可以得到烟尘中烟尘颗粒物的浓度。主要应用领域?发电厂?钢铁厂?炼油厂?石化工业?水泥工业?燃烧效率检测?除尘设备效率检测?烟(粉)尘排放检测生产车间?厂房的粉尘监控?工业制作工程中粉尘浓度的测量技术指标?测量范围：0~20000mg/mm3(量程可选) ?零点漂移： ±2%F.S./24h?跨度漂移： ±2%F.S./24h?灵敏度：5mg/m3?数字信号：RS232/RS485?模输出信号：(4-20)mADC或0~5VDC?状态信号：4路光电隔离输出，系统OK指示/超限报警指示/高温报警指示/维修指示?采样区长度：300mm~5000mm可调?环境温度：-40℃+60℃?烟气温度： 350℃(高温可定制)?电源要求：直流24V/0.3A?外形尺寸：478mmx265mmx210mm产品特点?采用非对称光路结构，发射轴与接收轴之间有一小的夹角，使入 射光照射到烟囱（烟道）对面的光斑不在接收望远镜的视场内，无需”光陷"即可达到排除反射干扰的目的。?双光路结构，一路探测烟尘散射信号，一路光源强度监测信号，自动修正光源强度变化，保证测量结果的准确性。当光源衰减到最小阀值时，提供报警信号。?仪器整体无运动部件，电子器件集成度高，可靠性高，可长期稳定工作。?单端安装，无需现场对中较直。安装方便、维护工作量小，避免了烟道振动及温度不均而引起的误差。?采用自动增益，灵敏度高，动态测量范围大，既可用于低浓度烟尘测量，也可用于高浓度烟尘测量。?采用光源调制技术，测量不受背景杂散光干扰。?在控制端通过软件修改系统参数设置，不必对仪器硬件进行操作，维护大为方便。?配有零标、跨标、满刻度校正装置，校准简便，保证数据可靠。?具有反吹系统，配用独特的反吹单元及清洁系统，能有效的保护监测仪的发射和接收端镜面免受污染。