当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

原位力学

仪器信息网原位力学专题为您整合原位力学相关的最新文章,在原位力学专题,您不仅可以免费浏览原位力学的资讯, 同时您还可以浏览原位力学的相关资料、解决方案,参与社区原位力学话题讨论。

原位力学相关的仪器

  • 布鲁克Hysitron PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统,其最大特点是系统设计高度模块化,后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。该系统通过视频接口将材料的力学数据(载荷-位移曲线)与相应SEM视频之间实现时间同步,允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法,只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化,因无法监测中间过程,而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。PI 88安装于SEM,可以精确施加载荷,检测位移,在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试;此外,通过升级电学、加热模块,还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。
    留言咨询
  • 布鲁克Hysitron PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统,其特点是系统设计高度模块化,后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。该系统通过视频接口将材料的力学数据(载荷-位移曲线)与相应SEM视频之间实现时间同步,允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法,只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化,因无法监测中间过程,而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。PI 88安装于SEM,可以精确施加载荷,检测位移,在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试;此外,通过升级电学、加热模块,还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。
    留言咨询
  • 布鲁克Hysitron PI 95是TEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统,在TEM上检测时,直接观察检测过程,使用侧面进样支架,不仅可以实现纳米尺度材料的成像观察,还可以同时进行加热和通电测试,并同步得到材料的力学数据,通过视频接口可以将材料的力学数据(载荷位移曲线)与相应TEM视频之间实现时间同步。该系统为方便研究者瞬间得到特定参数,比如化学复合物的种类,或对材料已经造成的影响,除成像外,选择区域衍射可以检测样品的取向,原位力学检测可以实时观测和验证。适用JEOL、FEI、Hitachi、Zeiss(不适用于UHR极靴)的PI 95可在纳米尺度既可以轻松完成材料的电学测试,也可以同时进行拉伸、压缩、弯曲等力学实验。后续可升级模块有高温台、原位力电性能测试、纳米划痕等。
    留言咨询
  • 布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统,利用SEM的高分辨率,可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化,中间过程无法观察到,载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释,甚至单从曲线分析会导致错误的解释。PI 85L安装于电镜,可以精确施加载荷,检测位移,在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试,可以借助电镜的高分辨率,观测并记录整个材料测试过程,观测材料在力下发生的动态变化,如金属蠕变、相变、断裂起始等。PI 85L采用Hysitron专利技术三板电容传感器,具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界领先的精度,重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择,如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。
    留言咨询
  • 产品介绍 Fulitek系列原位力学测试系统由主机架,拉伸夹具,伺服电机,控制器,计算机与测试软件组成。可应用于金属材料,复合材料,薄膜和高分子等多种材料的原位试验。可以进行CT环境下的拉伸以及静态的恒变形、恒负荷控制和各种力学性能试验。Fulitek系列原位测试系统是用途广泛,适应性强,适用于安装在工业CT系统,X射线衍射仪等空间有限的环境下使用。
    留言咨询
  • MTEST系列原位测试仪简介及主要产品介绍:原位测试(微观力学测试+可视化监测):在纳米尺度下对试件材料进行力学性能测试,可兼容集成扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、Raman光谱仪、原子力显微镜(AFM)、图像控制器(CCD)、金相显微镜等成像设备对材料发生的微观变形损伤进行全程动态监测的一种力学测试技术,深入的揭示了各类材料及其制品的微观力学行为、损伤机理及其与载荷作用和材料性能间的相关性规律。原位拉伸测试仪用途:通过成像设备监测下对材料施加复合载荷与多物理场,研究耦合作用下材料的微观变形损伤机制和性能演化规律。 用于各种金属材料、无机非金属材料的拉伸、压缩性能试验,连接电脑可直接显示试验力-时间曲线、试验力、试验力峰值、具有明显屈服特征材料的屈服力,实验数据方便直观;可以独立使用完成材料力学性能测试,也可在光学显微镜、金相显微镜等仪器动态监测下进行原位力学测试。为研究固态材料的变形损伤机制,以及制成品的寿命预测和可靠性评估提供崭新的技术支持。 优点:① 可进行微观变形、损伤机制进行评估;② 高精度测试(可达微米级甚至纳米级);③ 可独立使用测定材料参数,特别是可实现载荷下材料变形损伤的可视化动态测试;④ 可实现拉伸、弯曲、低周疲劳多种载荷作用下的高精度复合载荷原位测试;⑤ 可实现机、电、热、磁多物理场耦合环境下的材料微观力学性能原位测试;⑥ 结构轻巧、功耗低、占地面积小。微型原位测试仪系列产品及功能:原位拉伸/压缩测试仪、原位纳米压痕/刻划测试仪、原位三(四)点弯曲测试仪、原位拉伸/剪切复合载荷测试仪、原位双轴拉伸测试仪、原位拉伸/弯曲复合载荷测试仪、原位拉伸/疲劳测试仪、原位扭转测试仪等。
    留言咨询
  • 产品优势徕科光学推出的IBTC-2000型原位拉伸压力学试验系统性能稳定,应用领域广泛。我司作为多元化服务团队,拥有扎实稳定的科技力量和创新的研发能力,可以根据不同客户的需求定制出高性价比的产品方案;具备内核稳定的售后方案,7*24小时响应,提供安装培训一体化互动,更加直接且高效地为客户做好售前、售中、售后服务保障。经过十余年的研发服务,已积累千万客户,并在多地区投建服务部方便与客户的沟通互动。下图为现场安装、培训实景图:下图为合作伙伴情况:下图为服务站分布图:产品介绍
    留言咨询
  • 产品优势徕科光学推出的IBTC-300S型号微型多尺度原位力学实验系统主要应用于多物理场耦合条件下的材料力学性能测试分析方案中,在该领域运用中能够为用户提供更稳定的性能。我司作为多元化服务团队,拥有扎实稳定的科技力量和创新的研发能力,可以根据不同客户的需求定制出高性价比的产品方案;作为业内唯一的质保期两年的服务保障团队,具备内核稳定的售后方案,7*24小时响应,提供安装培训一体化互动,更加直接且高效地为客户做好售前、售中、售后服务保障。经过十余年的研发服务,已积累千万客户,并在多地区投建服务部方便与客户的沟通互动。下图为IBTC-300S型号微型多尺度原位力学实验系统产品图例:下图为现场安装、培训实景图:下图为合作伙伴情况:下图为服务站分布图:产品介绍微型化设计:适合SEM\AFM\X射线衍射仪等空间有限的环境下使用实现原位作动:由反螺旋丝对称加载,实现样品中心静止,便于原位观测。测试范围广:标配大、小双传感器,可应用于金属、非金属、生物、离分子等多种材料、适用范围更广。产品参数以下为本产品应用在各领域中的情况样图样品拉伸图图例1:图例2:图例3:凝胶样品拉伸图例:1:图例2:图例3:留言或致电我们获取更多方案。
    留言咨询
  • 扫描电镜高温拉伸蠕变力学原位硏究系统(In-situ mechanical testing system at High temperature in SEM)是国家重大科学仪器研制专项的成果转化产品,其特征是将宏观材料力学实验置于具有与纳米分辨的扫描电子显微镜內,实现了宏观力学性能与纳米层次结构分析的一体化。主要功能为在纳米分辨的二次电子成像和背散射成像(EBSD)的观察条件下,实现室温至1200°C高温的拉伸、压缩、三点弯曲等原位力学实验。主要用于硏究各类材料在力、热以及耦合条件下的力学性能测试与微观组织结构演变机制硏究。该仪器也可以兼容匹配各类光学显微镜(OM)、X射线衍射仪(XRD)和原子力显微镜(AFM)等材料微观分析仪器。
    留言咨询
  • 材料微观力学原位疲劳试验机 IPBF-5000一、材料微观力学原位测试仪产品概述p 原位加载,确保试样中心位置不变p 搭配显微观测设备,实现微观组织在线观测p 双轴独立控制,可实现双轴比例加载、双轴非比例加载、单轴独立加载p 进口高精度载荷传感器、位移传感器p 商业化的完全自主知识产权的控制器、驱动器,可扩展性极强 材料微观力学原位测试仪 IPBF-5/100/300 IPBF-2000/5000二、材料微观力学原位测试仪产品特点【IPBF-5000产品特点】1. 可对金属薄板、高分子材料、复合材料、生物骨材料等固体材料板状试样进行面内单/双轴的静态和动态力学测试,包括拉伸、压缩、弯曲、低周循环加载等,精确测试材料在复杂工况下的力学性能;2. 两个作动轴均为对称加载,能够使试样的中心点位置始终保持不变,方便采用光学显微镜等设备进行观测研究,在线观测材料受外载作用时的微观组织变化规律;3. 可选配非接触应变测量系统,特别适合十字型试样的双向应变测量;4. 可选配微型加热系统,实现室温~400℃的高温原位测试;5. 体积小巧,无油、无噪音,无任何液压、气动系统,方便维护。【IPBF-300产品特点】1. 可对柔性电子器件、高分子材料、水凝胶薄膜、生物软组织材料等进行面内单/双轴的静态和动态力学测试,包括拉伸、压缩、弯曲、循环加载等,精确测试材料在复杂工况下的力学性能;2. 两个作动轴均为对称加载,能够使试样的中心点位置始终保持不变,方便采用光学显微镜等设备进行观测研究,在线观测材料受外载作用时的微观组织变化规律;3. 具有耐腐蚀水浴系统,可实现材料在恒温水浴环境下的力学性能检测;4. 可选配非接触应变测量系统,特别适合十字型试样的双向应变测量;5. 体积小巧,无油、无噪音,无任何液压、气动系统,方便维护。 二、材料微观力学原位测试仪核心技术p 商业化的完全自主知识产权的多轴材料力学测试软件p 可实现位移、载荷、应变和应力的闭环控制方式p 满足正弦波、三角波和自定义复杂波形的加载方式p 配置软件参数,实现断口保护,便于材料失效分析p 内置模块化试验流程,适用不同科研领域人员操作p 软件功能持续更新,可根据客户需求定制试验动作三、材料微观力学原位测试仪设备技术参数
    留言咨询
  • 产品简介通过MEMS芯片在原位样品台内构建力、热复合多场自动控制及反馈测量系统,结合EDS、EBSD等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。 我们的优势 力学性能1.高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。2.实现1200℃加热条件下压缩、拉伸、弯曲等微观力学性能测试。3.业界nN级力学测量噪音。4.具备连续的载荷-位移-时间数据实时自动收集功能。5.具备恒定载荷、恒定位移、循环加载控制功能,适用于材料的蠕变特性、应力松弛、疲劳性能研究。优异的热学性能1.高精密红外测温校正,微米级高分辨热场测量及校准,确保温度的准确性。2.超高频控温方式,排除导线和接触电阻的影响,测量温度和电学参数更精确。3.采用高稳定性贵金属加热丝(非陶瓷材料),既是热导材料又是热敏材料,其电阻与温度有良好的线性关系,加热区覆盖整个观测区域,升温降温速度快,热场稳定且均匀,稳定状态下温度波动≤±0.1℃。4.采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式,高频反馈控制消除误差,控温精度±0.01 ℃。5.多级复合加热MEMS芯片设计,控制加热过程热扩散,极大抑制升温过程的热漂移,确保实验的高效观察。智能化软件1.人机分离,软件远程控制纳米探针运动和样品载台倾转,自动测量载荷-位移数据。2.自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等,同时可手动控制目标温度及时间,在程序升温过程中发现需要变温及恒温,可即时调整实验方案,提升实验效率。3.内置绝对温标校准程序,每块芯片每次控温都能根据电阻值变化,重新进行曲线拟合和校正,确保测量温度精确性,保证高温实验的重现性及可靠性。技术参数 类别项目参数基本参数台体材质高强度航空铝合金控制方式高精度压电陶瓷样品载台倾转角360°旋转和±90°倾斜 适用电镜ZEISS、Thermo Fisher等主流电镜EBSD/EDS支持
    留言咨询
  • KLA NanoFlip原位纳米压痕划痕力学测试系统NanoFlip纳米压痕仪可以提供您的材料研究实验室带来无限的便捷。 高性能多功能性是NanoFlip设计的标志,当需要进行成像集成,需要进行频繁的转换和广泛的样本控制时,无论是环境测量还是原位测试,无论有无真空,都能提供同样出色的结果。Fib2Test技术允许用户将样品倾斜90度,以便在双光束SEM内从FIB无缝过渡到压痕测试,而无需移除样品。设计为完全真空兼容,并且具有独特的样品触发功能,NanoFlip非常适用于现场环境,如SEM,FIB和真空室,或者当您的实验带您迁移时,可以在任何情况下工作 可以想象的成像系统,如AFM,光学显微镜和光学Pro测量仪,为您提供几乎无限的成像选项。电磁执行器用于KLA生产的所有系统,包括NanoFlip。 这些执行器是坚固的线性装置,固有地解耦力和位移。 它们的最大力为50 mN,分辨率为3 nN,超低噪声电流小于200 nN。NanoFlip的时间常数为20微秒,是唯一同时符合规格的商用纳米压痕仪,最大压痕行程为50μm,噪声0.1nm,数字分辨率为0.004 nm,漂移率为 0.05nm/s。为了确保业内最广泛,最可靠的数据,NanoFlip能够实现0.1 Hz至1 kHz的动态激励频率。样品台移动,Z轴为25 mm,X为20 mm,Y轴为20 mm,分辨率为nm,可在大面积上精确定位样品。载荷框架刚度 7 e5N/m独特的尖端校准系统集成到软件中,可实现快速,准确和自动的尖端校准。可用的方法包,包含聚合物,薄膜和生物材料的提示,方法和标准可用刮擦选项,最大正常载荷为50 mN,最大刮擦距离为2.5 mm,最大刮擦速度为500μm/ s。可选的NanoBlitz地形和层析成像软件,用于材料的3D和4D映射。
    留言咨询
  • 泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位力学样品杆,基于TEM-STM样品杆技术,集成力测量功能,对样品进行压缩/拉伸过程可实时输出力-位移曲线,支持力-电同时测量。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位力学样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵,同时集成了AFM定量力学传感器,在电学及力学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 原位力学样品杆-技术指标电学测量力学操纵及定量1.包含一个电流电压测试单元;1.扫描探针三维操纵,全软件操控;2.电流测量范围:1nA-30mA;2.AFM悬臂梁弹性范围:1N/m~100N/m;3.电流分辨率:100fA;3.力载荷分辨率:5nN(使用1N/m悬臂梁时);4.电压输出范围:±10V,±150V;4.自动测量力-位移曲线;5.软件自动测量:I-V、I-t5.支持力-电同时测量力-位移曲线(软件自动测量、实时输出、自动保存)原位力学样品杆-产品选型泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI(赛默飞)、JEOL(日本电子)、Hitachi(日立)各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号力学样品杆,同时保证透射电镜原有分辨率。原位力学样品杆-国内部分用户 原位力学样品杆-典型案例 1、透射电镜内的原位力学加载及力学定量实验;2、透射电镜内的原位力学-电学耦合实验。安徽泽攸科技有限公司是原位力学样品杆生产厂家,关于原位力学样品杆价格请咨询(微信同号)原文: 安徽泽攸科技有限公司,是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体,向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备,立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。   公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队,我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中,现有两个系列核心产品:     (1)PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统;     (2)ZEM15台式扫描电子显微镜。     PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来,获得了国内外研究者的高度关注,并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果,相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个,遍布五十余所大学/研究机构,包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息,PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技,型号为高温拉伸台,价格为面议,更多相关信息可来电咨询,公司客服电话7*24小时为您服务
    留言咨询
  • PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统,关于价格请咨询(微信同号)同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块,可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。MEMS芯片模块上可以选择加热芯片,也可以选择电学测量芯片。力学测量模块可以选择不同载荷的传感器,满足不同实验需求。 该产品实现了透射电镜中真正意义上的高分辨定量原位高温力学研究。性能指标 透射电镜指标:● 兼容指定电镜型号及极靴;● 部分型号电镜可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25° (同时受限于极靴间距); 力学传感器指标: ● 最大载荷100 mN(可选0.1 mN、1 mN、10 mN、100 mN);● 力测量实测噪声优于5nN(0.1 mN最大载荷时);● 力测量实测分辨率优于5 nN(0.1 mN最大载荷时);● 自动测量力-距离曲线,自动保存。 加热指标:● 温度控制范围:室温至1000 ℃;● 温度准确度:优于5%;● 温度稳定性:优于±0.1 ℃。扫描探针操纵指标:● 粗调范围:X方向 1.5 mm,YZ 方向2 mm;● 细调范围:XY 方向20 um,Z 方向 10 um;● 细调分辨率:XY 方向 0.4 nm,Z 方向 0.2 nm。 产品特色 (1)超大力学测量及温度控制范围;(2)多场下的力学研究。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统的介绍,关于整套系统价格请咨询(微信同号) 原文:安徽泽攸科技有限公司,是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体,向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备,立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。   公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队,我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中,现有两个系列核心产品:     (1)PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统;     (2)ZEM15台式扫描电子显微镜。     PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来,获得了国内外研究者的高度关注,并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果,相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个,遍布五十余所大学/研究机构,包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。
    留言咨询
  • 美国KLA InSEM HT原位高温纳米力学测试系统,纳米压痕仪
    留言咨询
  • 同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块,可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。MEMS芯片模块上可以选择加热芯片,也可以选择电学测量芯片。力学测量模块可以选择不同载荷的传感器,满足不同实验需求。 该产品实现了透射电镜中真正意义上的高分辨定量原位高温力学研究。性能指标 透射电镜指标:● 兼容指定电镜型号及极靴;● 部分型号电镜可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距); 力学传感器指标:● 最大载荷100 mN(可选0.1 mN、1 mN、10 mN、100 mN);● 力测量实测噪声优于5nN(0.1 mN最大载荷时);● 力测量实测分辨率优于5 nN(0.1 mN最大载荷时);● 自动测量力-距离曲线,自动保存。 加热指标:● 温度控制范围:室温至1000 ℃;● 温度准确度:优于5%;● 温度稳定性:优于±0.1 ℃。扫描探针操纵指标:● 粗调范围:X方向 1.5 mm,YZ 方向2 mm;● 细调范围:XY 方向20 um,Z 方向 10 um;● 细调分辨率:XY 方向 0.4 nm,Z 方向 0.2 nm。 产品特色 (1)超大力学测量及温度控制范围;(2)多场下的力学研究。以上就是小编提供的PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统,详细咨询:
    留言咨询
  • 布鲁克Hysitron PI 88是布鲁克公司生产的新一代原位纳米力学测试系统,其特点是系统设计高度模块化,后期可在已有系统上自行配置并拓展其他功能。该系统通过视频接口将材料的力学数据(载荷-位移曲线)与相应SEM视频之间实现时间同步,允许研究者在整个测试过程中极其精确地定位压头并对变形过程成像。解决了传统纳米压痕方法,只能通过光学显微镜或原位扫描成像观察压痕前后的形貌变化,因无法监测中间过程,而最终对载荷-位移曲线上的一些突变无法给出解释甚至错误解释的问题。PI 88安装于SEM,可以精确施加载荷,检测位移,在电镜下进行压痕、压缩、弯曲、划痕、拉伸和疲劳等力学性能测试;此外,通过升级电学、加热模块,还可研究材料在力、电、热等多场耦合条件下结构与性能的关系。
    留言咨询
  • 微型多尺度原位力学疲劳试验机 IBTC-300产品特点:◆ 微型化设计,适合SEM、AFM、X射线衍射仪等空间有限的环境下使用;◆ 由双螺纹螺杆在相反方向对称地驱动夹具,保持样品始终位于视场的中央,即实现原位作动,非常适合在线观察;◆ 可进行拉伸、压缩、弯曲、剪切、蠕变、松弛等测试;◆ 人性化的控制软件允许用户灵活方便的配置多种测试方式,包括应力控制、应变控制及位移控制,加载波形有正弦波、三角波、梯形波等。另外,控制软件具有强大的多步加载功能和模块化的试验流程设计功能,可满足用户的特殊试验要求。产品技术参数:设备名称微型原位力学试验系统设备型号IBTC-300SLIBTC-100S载荷量程双量程设计(小量程模块可拆卸)100N动态载荷峰值300N30N(或5N)100N最大静态载荷300N30N(或5N)100N试验机级别0.5级试验载荷测量范围0.5%~100%FS试验载荷示值相对误差≤0.5%FS试验载荷分辨率显示值的±0.5%或满量程的±0.05%(取优)最大载荷的0.1%加载频率0~1Hz位移测量范围0-150mm0-30mm位移分辨率0.1μm加载速率5μm/s-0.8mm/s净重约3.3kg约1.8kg外形尺寸约330×177×53(mm)约180×121×42(mm)电气要求AC220V 1kW 使用方式卧式/立式使用,可配合光学显微镜、DIC系统使用可光学显微镜、DIC系统使用选配工装拉伸夹具、压缩夹具、剪切夹具、剥离夹具等选配环境附件水浴环境、高温环境、低温环境、腐蚀环境等湿度发生器、高温环境、低温环境适用场合生物材料、水凝胶、高分子薄膜材料的单轴原位力学性能测试
    留言咨询
  • 公司介绍: 浙江祺跃科技有限公司主要从事纳米分辨可视化系列仪器的设计、研发、生产和销售,以及基于扫描电子显微镜的材料结构与性能一体化原位表征解决方案输出、材料检测等服务。 公司为国家级高新技术企业、浙江省”院士工作站”优秀单位、国家科技型中小企业、浙江省级研发中心,承担杭州市领军型创新团队项目等 公司秉承发展先进仪器,服务高端制造的理念,致力于研制具有自主知识产权的可视化仪器,旨在将材料性能的优化建立在显微结构调控的科学基础上,同时引入材料大数据、AI等智能技术,为高端制造赋能,为前沿科技研究提供先进仪器。产品介绍: 面向国内高校材料、力学相关专业的教学实验而设计,克服了目前教学拉伸试验机笨重、学生可参与性/操作性不强、场地受限等缺点。金相力学试验机由力学测试模块和金相光学显微镜组成,可以对材料进行拉伸、压缩、剪切、三点弯等测试,在获得材料力学性能变化的同时,实时观测材料金相组织的变化,让实验者更为直观、 深入地理解材料力学性能与微观组织的关系,理解材料的弹塑性变形特征。 产品特点1.该产品体积小巧,可以根据实验需要随时搬移,为实验教学提供了便利性,同时可以根据需求选择性配置减震台 2.适用金属材料,高分子类材料、混凝土等材料的拉伸、压缩、剪切、三点弯试验(配备可快速拆卸的全套夹具)。可开展的创新型实验1、材料的静载拉伸实验 2、材料的弹性模量实验3、材料的扭转实验 4、材料的弯曲实验5、材料的压缩实验 6、材料的平面应变断裂韧性实验7、单晶材料、多晶材料塑性变形滑移实验 8、多晶材料晶粒尺寸与强度实验9、疲劳裂纹扩展实验 10、材料弹性模量、剪切模量测定扩展应用1:中子衍射/同步辐射光源高温测试 扩展应用2:混凝土改性或硬岩等材料原位拉、压测试 扩展应用3:与DIC应变测量系统配套使用
    留言咨询
  • 布鲁克Hysitron PI 95是TEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统,在TEM上检测时,直接观察检测过程,使用侧面进样支架,不仅可以实现纳米尺度材料的成像观察,还可以同时进行加热和通电测试,并同步得到材料的力学数据,通过视频接口可以将材料的力学数据(载荷位移曲线)与相应TEM视频之间实现时间同步。该系统为方便研究者瞬间得到特定参数,比如化学复合物的种类,或对材料已经造成的影响,除成像外,选择区域衍射可以检测样品的取向,原位力学检测可以实时观测和验证。适用JEOL、FEI、Hitachi、Zeiss(不适用于UHR极靴)的PI 95可在纳米尺度既可以轻松完成材料的电学测试,也可以同时进行拉伸、压缩、弯曲等力学实验。后续可升级模块有高温台、原位力电性能测试、纳米划痕等。
    留言咨询
  • 布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统,利用SEM的高分辨率,可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化,中间过程无法观察到,载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释,甚至单从曲线分析会导致错误的解释。PI 85L安装于电镜,可以精确施加载荷,检测位移,在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试,可以借助电镜的高分辨率,观测并记录整个材料测试过程,观测材料在力下发生的动态变化,如金属蠕变、相变、断裂起始等。PI 85L采用Hysitron专利技术三板电容传感器,具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界领先的精度,重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择,如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。
    留言咨询
  • 产品简介通过MEMS芯片在原位样品台内构建力、热复合多场自动控制及反馈测量系统,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。 我们的优势力学性能1.高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。2.实现1000℃加热条件下压缩、拉伸、弯曲等微观力学性能测试。3.nN级力学测量噪音。4.具备连续的载荷-位移-时间数据实时自动收集功能。5.具备恒定载荷、恒定位移、循环加载控制功能,适用于材料的蠕变特性、应力松弛、疲劳性能研究。优异的热学性能1.高精密红外测温校正,微米级高分辨热场测量及校准,确保温度的准确性。2.超高频控温方式,排除导线和接触电阻的影响,测量温度和电学参数更精确。3.采用高稳定性贵金属加热丝(非陶瓷材料),既是热导材料又是热敏材料,其电阻与温度有良好的线性关系,加热区覆盖整个观测区域,升温降温速度快,热场稳定且均匀,稳定状态下温度波动≤±0.1℃。4.采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式,高频反馈控制消除误差,控温精度±0.01 ℃。5.多级复合加热MEMS芯片设计,控制加热过程热扩散,极大抑制升温过程的热漂移,确保实验的高效观察。智能化软件1.人机分离,软件远程控制纳米探针运动,自动测量载荷-位移数据。2.自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等,同时可手动控制目标温度及时间,在程序升温过程中发现需要变温及恒温,可即时调整实验方案,提升实验效率。3.内置绝对温标校准程序,每块芯片每次控温都能根据电阻值变化,重新进行曲线拟合和校正,确保测量温度精确性,保证高温实验的重现性及可靠性。技术参数类别项目参数基本参数杆体材质高强度钛合金控制方式 高精度压电陶瓷倾转角α≥±20°,倾转分辨率<0.1°(实际范围取决于透射电镜和极靴型号)适用电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi适用极靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP(HR)TEM/STEM支持(HR)EDS/EELS/SAED支持应用案例 600°C高温下铜纳米柱力学压缩实验以形状尺寸微小或操作尺度极小为特征的微机电系统 (MEMS)越来越受到人们的高度重视 , 对于尺度在 100μm 量级以下的样品 , 会给常规的拉伸和压缩试验带来一系列的困难。纳米压缩实验 , 由于在材料表面局部体积内只产生很小的压力 , 正逐渐成为微 / 纳米尺度力学特性测量的主要工作方式。因此 , 开展微纳米尺度下材料变形行为的实验研究十分必要。为了研究单晶面心立方材料的微纳米尺度下变形行为 , 以纳米压缩实验为主要手段 , 分析了铜纳米柱初始塑性变形行为和晶体缺陷对单晶铜初始塑性变形的影响。结果表明铜柱在纳米压缩过程中表现出更大程度的弹性变形。同时对压缩周围材料发生凸起的原因和产生的影响进行了分析 , 认为铜纳米柱压缩时周围材料的凸起将导致纳米硬度和测量的弹性模量值偏大。为了研究表面形貌的不均匀性对铜纳米柱初始塑性变形行为的影响 , 通过加热的方法 , 在铜纳米柱表面制备得到纳米级的表面缺陷 , 并对表面缺陷的纳米压缩实验数据进行对比分析 , 结果表明表面缺陷的存在会极大影响铜纳米柱初始塑性变形。通过透射电子显微镜 ,铜纳米柱压缩点周围的位错形态进行了观察 , 除了观察到纳米压缩周围生成的位错 , 还发现有层错、不全位错及位错环的共存。表明铜纳米柱的初始塑性变形与位错的发生有密切的联系。
    留言咨询
  • NMI iMicro 桌面式微米压痕原位力学测试系统 Nanomechanics 当材料测试要求需要灵活性,数据准确性和易于使用就显得至关重要,IMicro 纳米压痕仪在这方面始终如一。 这家iNano公司的老大哥具有开创性,他测试了可靠性,用户友好型软件和仪器功能,然后通过高负载纳米压痕提升性能,这是全球质量控制和研发实验室不可分割的特性更高的负载和更广泛的应用使IMicro成为世界上研究实验室的唯一选择;允许进行广泛的测试,包括但不限于特定频率的实验、存储和损失模量、模量和硬度(Oliver和Pharr)和恒定应变率。多功能执行机构可用于测试任何材料,从超软凝胶到硬涂层。 可用的划痕选项,最大负载为50mN,最大划痕偏差为2.5mm,最大划痕速度为500um/s。 电磁制动器适用于包括IMicro在内的纳米力学公司生产的所有系统,这些执行器是一种坚固的线性装置,具有固定的解耦力和位移。最大的力为1N,分辨率为6nN,最低噪音200nN。 IMicro的时间常数为20us,是唯一一种能满足规格要求,最大压痕为80um噪声小于0.1nm,数字分辨率为0.04nm,漂移率0.05nm/s IMicro包括InView软件,它提供了一个非常强大和直观的实验脚本平台,可以用于设计新颖的实验。有经验的用户可以使用IMicro进行几乎所有小规模的机械测试。 样品台移动Z轴为25 mm,X为100 mm,Y轴为150 mm,可测试各种样品高度和大样品区。 载荷刚度3,500,000N/m 独特的TiP-calibration系统集成到软件中,可以快速、准确、自动的对尖端进行校准。可选择NanoBlitz地形和断层扫描软件来执行3D
    留言咨询
  • INSTEMS系列为用户提供了7种原位TEM实验平台。其中包含三种单外场施加平台,三种双外场耦合平台和一种三外场耦合平台。三种单外场产品为INSTEMS-M(力学加载)、INSTEMS-E(电学加载)和INSTEMS-T(热场加载);三种双外场耦合产品为INSTEMS-ME(力电耦合)、INSTEMS-TE(热电耦合)和INSTEMS-MT(力热耦合);一种三外场耦合产品为INSTEMS-MET(力热电耦合)。产品介绍:BST-INSTEMS-M使用的MEMS集合精密的芯片结构与压电驱动器,力学加载方向与双倾台平面平行。高精度力学驱动(0.1nm等级驱动)与双倾系统互不干扰,能在力学加载的同时稳定的观察高质量原子尺寸的像。另外,可根据客户需求配置不同结构的芯片,满足不同尺寸形状不同加载模式力学实验要求。突出优势:1、多种力学加载模式:拉伸/压缩/压痕/弯曲/冲击/蠕变/疲劳 自动/手动/循环加载 牛顿级驱动器( 100 mN) pm级驱动控制 2、双轴倾转:α 轴倾转最高至±20° β 轴倾转最高至±10°3、稳定的原子尺度成像:极限样品漂移<50 pm/s空间分辨率≤0.1 nm技术指标最大驱动力 100 mN最大驱动范围4 μm驱动精度 500 pm空间分辨率≤0.1 nm 应用领域 高强钢纳米线 高强铝合金 钛合金纳米薄膜… …
    留言咨询
  • 纳控科技深耕精密运动控制技术、超低温冷冻技术,致力于为科学研究、创新研发及高端仪器、设备的制造等提供系统的技术解决方案与集成。XNano原位透射电子显微镜样品杆通过原创性设计,将原位加载观测动态微结构演化与三维重构有机结合,实现了透射电子显微镜应用从二维、三维到四维的突破。系统采用自主研发特殊精密微型压电马达驱动,实现了XYZ轴三维运动与绕样品杆α方向360°旋转,以及β方向±10°倾转五个自由度的完全解耦,大幅提升纳米操纵性能及可控性。系统配备力学、电学等多种扩展平台,配合增强的纳米操纵性能,结合动态原位实验可在线进行三维重构,实现透射电镜样品四维表征(4DTEM)。公司提供以下原位TEM系列产品(单/双倾)以及相关定制化服务:JEOL/FEI 力学样品杆JEOL/FEI 电学样品杆JEOL/FEI 光电样品杆JEOL/FEI 三维重构样品杆参数如下:XNano原位透射电镜纳米操纵系统可广泛应用于材料科学、生物、医学、化学、物理学等多个领域,并可根据您的需求进行定制化生产。无论是产品选型、使用指导还是售后服务,我们都将尽心尽力为您提供最优质的服务。精微所至,洞见未来。纳控科技竭诚为广大科研工作者提供更好的产品和服务,与您一起在科研道路上前行。欢迎广大客户沟通、交流,部分产品支持定制。
    留言咨询
  • 纳控科技深耕精密运动控制技术、超低温冷冻技术,致力于为科学研究、创新研发及高端仪器、设备的制造等提供系统的技术解决方案与集成。XNano原位透射电子显微镜样品杆通过原创性设计,将原位加载观测动态微结构演化与三维重构有机结合,实现了透射电子显微镜应用从二维、三维到四维的突破。系统采用自主研发特殊精密微型压电马达驱动,实现了XYZ轴三维运动与绕样品杆α方向360°旋转,以及β方向±10°倾转五个自由度的完全解耦,大幅提升纳米操纵性能及可控性。系统配备力学、电学等多种扩展平台,配合增强的纳米操纵性能,结合动态原位实验可在线进行三维重构,实现透射电镜样品四维表征(4DTEM)。公司提供以下原位TEM系列产品(单/双倾)以及相关定制化服务:JEOL/FEI 力学样品杆JEOL/FEI 电学样品杆JEOL/FEI 光电样品杆JEOL/FEI 三维重构样品杆参数如下:XNano原位透射电镜纳米操纵系统可广泛应用于材料科学、生物、医学、化学、物理学等多个领域,并可根据您的需求进行定制化生产。无论是产品选型、使用指导还是售后服务,我们都将尽心尽力为您提供最优质的服务。精微所至,洞见未来。纳控科技竭诚为广大科研工作者提供更好的产品和服务,与您一起在科研道路上前行。欢迎广大客户沟通、交流,部分产品支持定制。
    留言咨询
  • 纳控科技深耕精密运动控制技术、超低温冷冻技术,致力于为科学研究、创新研发及高端仪器、设备的制造等提供系统的技术解决方案与集成。XNano原位透射电子显微镜样品杆通过原创性设计,将原位加载观测动态微结构演化与三维重构有机结合,实现了透射电子显微镜应用从二维、三维到四维的突破。系统采用自主研发特殊精密微型压电马达驱动,实现了XYZ轴三维运动与绕样品杆α方向360°旋转,以及β方向±10°倾转五个自由度的完全解耦,大幅提升纳米操纵性能及可控性。系统配备力学、电学等多种扩展平台,配合增强的纳米操纵性能,结合动态原位实验可在线进行三维重构,实现透射电镜样品四维表征(4DTEM)。公司提供以下原位TEM系列产品(单/双倾)以及相关定制化服务:JEOL/FEI 力学样品杆JEOL/FEI 电学样品杆JEOL/FEI 光电样品杆JEOL/FEI 三维重构样品杆参数如下:XNano原位透射电镜纳米操纵系统可广泛应用于材料科学、生物、医学、化学、物理学等多个领域,并可根据您的需求进行定制化生产。无论是产品选型、使用指导还是售后服务,我们都将尽心尽力为您提供最优质的服务。精微所至,洞见未来。纳控科技竭诚为广大科研工作者提供更好的产品和服务,与您一起在科研道路上前行。欢迎广大客户沟通、交流,部分产品支持定制。
    留言咨询
  • 纳控科技深耕精密运动控制技术、超低温冷冻技术,致力于为科学研究、创新研发及高端仪器、设备的制造等提供系统的技术解决方案与集成。XNano原位透射电子显微镜样品杆通过原创性设计,将原位加载观测动态微结构演化与三维重构有机结合,实现了透射电子显微镜应用从二维、三维到四维的突破。系统采用自主研发特殊精密微型压电马达驱动,实现了XYZ轴三维运动与绕样品杆α方向360°旋转,以及β方向±10°倾转五个自由度的完全解耦,大幅提升纳米操纵性能及可控性。系统配备力学、电学等多种扩展平台,配合增强的纳米操纵性能,结合动态原位实验可在线进行三维重构,实现透射电镜样品四维表征(4DTEM)。公司提供以下原位TEM系列产品(单/双倾)以及相关定制化服务:JEOL/FEI 力学样品杆JEOL/FEI 电学样品杆JEOL/FEI 光电样品杆JEOL/FEI 三维重构样品杆参数如下:XNano原位透射电镜纳米操纵系统可广泛应用于材料科学、生物、医学、化学、物理学等多个领域,并可根据您的需求进行定制化生产。无论是产品选型、使用指导还是售后服务,我们都将尽心尽力为您提供最优质的服务。精微所至,洞见未来。纳控科技竭诚为广大科研工作者提供更好的产品和服务,与您一起在科研道路上前行。欢迎广大客户沟通、交流,部分产品支持定制。
    留言咨询
  • 产品简介:布鲁克的海思创TI 980 TriboIndenter同时具有最高的性能、灵活性、可信度、实用性和速度。基于海思创几十年的技术创新,它为纳米力学表征带来了更高水平的性能、功能和易用性。TI 980达到了一台优异纳米力学测试仪器所需的所有要求,实现了控制上突出的先进性和高效性,试验上的灵活度与可实现性,测量稳定性,以及系统设计的模块化。产品参数:TI 980xSol环境控制腔与载台环境控制腔实现了定量纳米力学性能和纳米摩擦学特征随着温度、气氛和湿度的变化。nanoECR纳米压痕测试的原位导电特性可以和纳米力学性能,材料形变行为和接触电阻等同步研究。xProbe基于MEMS传感器的探针可以实现原子力显微镜级别的超低力和位移噪音水平。iTE专利的原位薄膜力学性能分析包提供了排除基底效应影响的薄膜和多层膜结构的定量力学性能。3D OmniProbe和多量程NanoProbe通过扩展力和位移测量量程实现微米尺度的力学和摩擦学特性表征。同步拉曼光谱原位研究力学性能和摩擦学特性与材料结构和化学成分的相关性。模量成像动态扫描纳米压痕模式提供材料表面的定量、高分辨模量分布。荧光显微镜联用集成荧光显微镜可实现荧光共定位纳米力学测试等。电化学模块实现氧化和还原环境下的原位定量纳米力学和纳米摩擦学行为研究。自动探针更换模块按钮操作的自动探针更换模块。样品台多尺度的磁性、机械和真空固定方式可以固定几乎所有待测样品,包括300mm晶圆。TriboAE TM声音传感器能通过针尖原位监测纳米压痕过程中的断裂和形变产生的声音信号。Tribolmage TM纳米尺度划痕/磨损的实时表征。产品特点:简洁、高速的自动控制针尖面积函数自动校正 传感器自动校正 压针和光学系统校正自动测试程序快速、多样品自动测试功能实现高通量表征 智能化自动程序确保用户选择正确的针尖 高分辨多尺度成像结合全尺寸样品的光学搜索,极大简化测试流程实现真正纳米尺度表征从微米到几个纳米的多尺度测量 纳牛级别的力噪音水平和小于90%原子直径的位移测量能力,实现几乎任何材料的定量表征 系统可实现超过6个数量级的力测量和10个数量级的位移测量 力和位移噪音水平保证在客户现场安装时实现精准控制测试过程实现最大精度、可信度和重复性的真正定量纳米力学和纳米摩擦学表征 特殊的力和位移反馈控制方法用于海思创的传感器-专门针对海思创传感器物理特性开发的力与位移反馈控制算法 每隔0.013毫秒实现一次完整反馈控制,使得系统能测量快速瞬态过程,并对其作出反馈,真正实现用户的测试意图-每隔0.013毫秒实现一次完整的感知-分析-控制的循环,使得系统能对瞬态过程进行测量与反馈,以此重现用户定义的测试方式强大的测试模块配置
    留言咨询
  • 美国K-T公司是全球微纳米力学测试设备技术的开创者,全球第一台纳米力学测试系统于上世纪80年代初在公司前身诞生,多种测量方法和物理模型来自该公司。经过近40年不断努力和改进,该公司微纳米力学测试不仅实现了静态到动态的测试,同时实现了与光学、电学等设备连用的原位材料力学、微结构学甚至成份学的多手段原位测试功能。当前国标已经引入该公司专利的CSM连续刚度技术,在该领域具有很高的权威性。K-T在连续刚度(CSM)、高分辨、扫描成像、快速测试方面拥有独特技术。K-T是该领域著名跨国公司,中国设有地区总部,拥有最专业的技术支持和售后服务人员。更多信息,请联系我们以探讨您的需求。
    留言咨询
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制