稳态磁场

拓扑绝缘体，顾名思义是绝缘的，有趣的是在它的边界或表面总是存在导电的边缘态，这是拓扑绝缘体的独特性质。近期，理论预测存在的拓扑绝缘体在实验上被证实存在于二维与三维材料中，引起了科研界的大量关注。通常二维电子气体系中存在着量子霍尔效应，实验中观测到了手性边界态存在于材料的边界。在三维体材料的拓扑绝缘体中实验上可观测到反常量子霍尔效应。 K. Yasuda, Y. Tokura等人利用德国attocube公司的低温强磁场磁力显微镜attoMFM在0.5K温度与0.015T磁场环境下，证实了拓扑绝缘体磁畴壁的手性边界态的可调控性能，不同于之前实验上观测到的拓扑绝缘体中自然形成随机分布的磁畴中的手性边界态。Y. Tokura等人基于Cr-掺杂 (Bi1-ySby)2Te3制备了拓扑绝缘体薄膜，基底是InP（如图1C）。图1D为在0.5K极低温下使用MFM测量的材料中的磁畴分布，可以清晰看到自然形成的随机分布的大小与形貌不一的磁畴。通过使用MFM磁性探针的针尖在0.015T的磁场环境下扫描样品区域成功实现了对材料磁畴的调控。图1F为调控后样品的磁畴情况，被探针扫描过的区域，磁畴方向保持一致。[align=center][img=,500,273]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807311331396935_7457_981_3.jpg!w690x378.jpg[/img][/align][align=center]图1： A&B 拓扑绝缘体磁畴调控示意图；C 拓扑绝缘体材料结构；D attoMFM实验观测自然形成多个磁畴； E&F MFM探针调控磁畴[/align][align=center][/align][align=center] 该拓扑绝缘体磁畴反转的性能随磁场大小变化的结果也被仔细研究。通过缓慢改变磁场，不同磁场下拓扑绝缘体样品的磁畴方向可清楚地被证实发生了反转（见图2）。通过观察，随机分布气泡状磁畴（0.06T磁场附近）一般的大小在200纳米左右。[/align][align=center][/align][align=center][img=,500,206]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807311339098931_5066_981_3.jpg!w690x285.jpg[/img][/align][align=center]图2： A 霍尔器件电测量结果；B attoMFM观测不同磁场下拓扑绝缘体的磁畴情况[/align][align=center][/align][align=center] 不仅通过attoMFM直观观测分析磁畴手性边界态调控，电学输运结果也证实手性边界态的调控。图3为在温度0.5K的时候，拓扑绝缘体电学器件以及相应的电学测量数据。数据表明，霍尔电阻可被调控为是正负h/e2的数值，证实了不同磁畴的手性边界态的调控被实现。作者预见，该实验结果对于低消耗功率自旋电子器件的研究提供了一种可能的途径。[/align][align=center][/align][align=center][img=,500,565]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807311333567372_456_981_3.jpg!w690x780.jpg[/img][/align][align=center]图3：拓扑绝缘体制备器件反常量子霍尔效应结果证实磁畴手性边界态调控[/align][align=center][/align][align=center][img=,500,303]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807311334450730_967_981_3.jpg!w690x419.jpg[/img][/align][align=center]图4：拓扑绝缘体磁畴手性边界态调控相关设备—低温强磁场原子力磁力显微镜[/align][align=center][/align][align=center][/align]低温强磁场原子力磁力显微镜attoAFM/MFM主要技术特点：-温度范围：mK...300 K-磁场范围：0...12T (取决于磁体)-样品定位范围：5×5×5 mm3-扫描范围: 50×50 μ㎡@300 K, 30×30μ㎡@4 K-商业化探针-可升级PFM, ct-AFM, SHPM, CFM等功能参考文献：“Quantized chiral edge conduction on domain walls of a magnetic topological insulator” K. Yasuda, Y. Tokura et al, Science 358, 1311-1314 (2017)

[size=14px][color=#ff0000]摘要：针对气凝胶和超级绝热材料（VIP）等超低导热系数材料的测试，常用的稳态法热导仪往往会在测量精度和灵敏度方面表现出不足。为考核稳态法导热仪的超低导热系数测试能力，本文提出了一种简便可行的考核方法，通过对一系列不同厚度的样品进行导热系数测试，最终根据导热系数随厚度的变化来判断和考核稳态法热导仪的导热系数测试下限，以准确掌握稳态法导热仪的测试能力，为正确使用和改进导热仪提供参考和指导。[/color][/size][size=14px][/size][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][size=18px][color=#ff0000]一、问题的提出[/color][/size][size=16px]在隔热材料的研发和生产过程中，隔热材料的导热系数测试结果经常会受到质疑，特别是隔热材料导热系数小于空气（0.026W/mK）的气凝胶和超级绝热材料（VIP），这些超低导热系数的测试结果往往存在较大误差。隔热材料低导热系数的测试普遍采用稳态法（防护热板法和热流计法），对应于低导热系数测试不准确现象，相应的稳态法导热仪往往会存在以下问题：（1）稳态法导热仪的测量精度和灵敏度不够，无法准确测量低导热和超低导热系数，无法准确测量超低导热系数以及导热系数的微小变化，无法满足材料研发和生产中工艺和配方调整和评价需要。（2）由于缺乏导热系数在0.02W/mK左右（或更低）的标准参考材料，对于已有的稳态法导热仪，如何判断仪器的低导热系数测试能力，由此来大致判断测量结果的准确性。为解决上述问题，本文将提出一种简便可行的考核方法，通过对一系列不同厚度的隔热材料样品进行导热系数测试，根据导热系数随厚度的变化情况来判断和考核稳态法热导仪的导热系数测试下限，以准确掌握稳态法导热仪的测试能力，为正确使用和改进导热仪提供参考和指导。[/size][size=18px][color=#ff0000]二、评估方法和考核试验[/color][/size][size=16px]考核试验的依据是稳态法的导热系数测试结果不应随样品的厚度发生而改变，如果发生改变，则说明导热系数测试产生误差。由此可用来判断导热仪的误差范围和测试极限。气凝胶软毡考作为考核试验样品，单层软毡厚度略大于10mm，通过多层叠加来实现不同厚度。测试采用了热流计法导热仪，样品为300mm边长的正方形，样品厚度分别为10、20、30、40和50mm，样品的平均温度为30℃，冷热面温差为20℃，结果如图1所示。[/size][align=center][size=14px][img=气凝胶超低热导率测试,600,380]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/05/202205251654466502_5355_3384_3.png!w690x437.jpg[/img][/size][/align][size=14px][/size][align=center]图1 不同厚度气凝胶软毡导热系数测试结果[/align][size=16px]从图1测试结果可以看出，在厚度20~40mm范围内，测试结果不会随厚度变化而改变，导热系数平均值为0.02045W/mK。随着厚度降低到10mm，导热系数测试结果有变小的趋势，此时说明样品太薄使得厚度测量和厚度均匀性给样品内部热流场均匀性所带来的误差影响变大。从图1测试结果还可以看出，当厚度增大到50mm时，导热系数测试结果有变大的趋势，这种现象说明随着样品厚度的增大，样品热阻也随之增大，稳态时流经样品厚度方向上的热流量变小，热流传感器对小热流的测量出现误差变大的现象。同时样品厚度增大使得样品内部热流场均匀性所带来的误差影响变大。在图1所示的测试结果中，尽管对薄样品和厚样品的测试结果偏离了平均值，但偏差还是没有超出导热仪的±5%的误差范围，这证明了此热流计法导热仪完全具备准确测试0.02W/mK导热系数的能力。[/size][size=18px][color=#ff0000]三、导热系数测试下限分析[/color][/size][size=16px]根据上述考核试验测试得到相同材料不同厚度下的导热系数，可以依据傅里叶稳态传热定律推算出流经样品的热流密度，如表1所示。如果假设热流计法导热仪中热流计的灵敏度为10uV/(W/m2)，那么就可以得到相应的热流计电压输出值。这里选择10uV/(W/m2)作为热流计的灵敏度，是因为目前普遍的热流计灵敏度都在这个数值以下。另外，选择此灵敏度主要仅是为了更方便的描述如何进行导热系数测试下限判定，其他灵敏度也能说明问题。[/size][align=center]表1 根据不同厚度样品的热导率测试结果推算出的热流密度和热流计电压输出值[/align][align=center][size=14px][img=气凝胶超低热导率测试,690,202]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/05/202205251655508891_6096_3384_3.png!w690x202.jpg[/img][/size][/align][size=16px]按照傅里叶传热定律，如果假设样品的导热系数保持不变并与样品厚度无关，那么随着样品厚度增加，样品热阻会线性增大，流经样品的热流密度会线性减小，对应的热流计输出信号（电压值）也会线性减小。从表1的推算结果也显示了这种变化过程，但不同的是由于热流计电压输出测试仪表的测量精度有限，在大厚度、高热组和小热流密度时，电压信号测量会带有明显误差。由此可见，在低导热系数测试中，主要测量误差来源是热流计的灵敏度。根据表1，如果假设103uV是电压测量仪表的准确测量下限，对应10uV/(W/m2)灵敏度的热流计，热流计准确测量热流密度的下限为10W/m2，可准确测量的最大热阻为1.95m2K/W。由此，可以根据这个可测热阻值1.95m2K/W，推算出20mm最佳厚度样品的可准确测量的最低导热系数为0.02/1.95=0.0102W/mK。如果设定可接受的误差范围为±5%，那么10uV/(W/m2)灵敏度的热流计法导热仪，其测试下限为0.0102×0.95=0.0097W/mK，约为。由此可见，上述的热流计法导热仪的导热系数测试下限基本为0.01W/mK，且误差在5%的误差范围内。那么对于真空绝热材料（VIP），这类材料的导热系数一般在3~8W/mK之间，那么用此灵敏度的导热仪测试将会带来巨大误差。由此可见，为了保证测量超低导热系数的绝热材料，必须进一步提高热流计的灵敏度。由此也可以得出同样的结论，采用稳态保护热板法导热仪测量超低导热系数，关键之一是必须进一步降低护热板的漏热。[/size][size=18px][color=#ff0000]四、总结[/color][/size][size=16px]对于稳态法热导率测试，通过对一些列不同厚度但材质相同的样品进行测试，可以大致判断出稳态法热导率测试仪器的测试能力，特别是判断导热仪是否具备超低导热系数测试的能力，并用此方法对稳态法导热仪进行考核。[/size][size=14px][/size][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][size=14px][/size][size=14px][/size][size=14px][/size][size=14px][/size][size=14px][/size][size=14px][/size]

记一次脉冲强磁场设备维修原创：大陆2015-11-13一、前言磁场设备是磁学研究中产生磁场的设备，根据可产生最高磁场强弱可以分为亥姆赫兹线圈、永磁场发生器、电磁铁、超导磁体与强脉冲磁场发生器几种，其中使用脉冲磁场发生器原理是短时间通大电流产生强磁场，在相同的散热及供电功率等配套条件下可以产生比稳恒磁体强一个数量级以上的磁场，因而可以在物理、化学与生物研究中需要强场的场合应用。目前脉冲强磁场能产生的最高磁场的世界纪录超过2千特斯拉，不过这些极端磁场的产生过程伴随爆炸冲击波作用，只是一次性的产生，线圈无法再次使用，而且需要防爆实验环境；能够重复使用同一个线圈可控产生的脉冲强磁场最高约1百特斯拉，这需要配套专门的实验室与供电通道；在普通实验室条件下对脉冲磁场发生装置的需求一是不需要专门的电力改造，且整个装置方便移动，不过产生的磁场最高超过10特斯拉，我们实验室(磁学国家重点实验室)就有一套这样的样机设备，是实验室几位老前辈在1990年前后自己做的，设备整体照片如图1，它的主体分为充放电控制模块、线圈负载与电容柜(如图02中肚子里主要装的是1kV，0.1mF的电容阵列，合计98个，总容量9.8毫法拉) 、。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573466_1611921_3.png图01 脉冲强磁场装置照片http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573467_1611921_3.jpeg图02 脉冲强磁场装置中的电容二、故障及诊断维修前段时间有使用者在使用过程中发现设备电容无法充到设定电压，从而无法放电产生磁场。首先通过沟通，获知设备是在用户更换自己的负载线圈之后引起，用户自己的负载线圈电感约10纳亨，而设备标配的负载线圈是280微亨，相差4个数量级；然后结合图03所示的脉冲强磁场的电路分析故障在充电模块；最后打开机柜，通过肉眼观察线路板与元器件，如图04所示，可以看到大功率晶闸管的散热固定木柱有裂纹，从而将故障诊断在晶闸管上。值得一提的是，必须赞一下实验室前辈们：在设备制造过程中保留着晶闸管的铭牌，这样尽管他们退休好多年了，设备出现问题，后人还可以找到配件的线索。将晶闸管拆下来后发现正反向都是导通状态，显然控制端无法控制其单向积累电荷给电容充电，因而根据铭牌上的最大电流500A、耐压1800V、控制电压1.5V指标购买替换晶闸管，幸运的是市场上还能找到同样规格的KP-500A晶闸管，买回来替换上后测试发现仪器可以正常充放电，至此维修工作完成。简单分析其原因是使用者将负载换成特别轻的电感，这样在最高800V充电后，电感几乎不能增加阻抗，此时放电回路电路中的阻抗幅值约0.5欧姆，导致放电回路中的电流瞬间超过1600安培，而晶闸管的最高承受电流只有500安培，所以损坏导致故障。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573468_1611921_3.gif图03 脉冲强磁场装置充放电原理电路图http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573469_1611921_3.png图04 脉冲强磁场装置充放电电路照片http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573470_1611921_3.jpeg图05 更换的晶闸管照片三、测试验证我们知道，设备维修让设备能工作与是否适合科学研究是两码事，为了让使用者更好的在该设备上开展研究，需要在正常工作的基础上对其性能做一次测试验证，测量不同充电电压对应在标准负载线圈中的放电脉冲磁场。测试用到的工具是带轴向(霍尔传感器)磁场探头的特斯拉计(高斯计)，与一台示波器，如图06所示，由于仪器尾部自带有BNC模拟接口，将其连在示波器上，但初步测试发现仪器标配的模拟信号在较高磁场下有饱和截断平台，如图07所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573471_1611921_3.png图06 测试验证需要的仪器http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573472_1611921_3.png图07 直接使用模拟信号观测脉冲场波形经过与特斯拉计的工程师交流，得知其模拟输出的是原始霍尔电压信号放大10倍并做滤波限幅保护等电路处理之后输出的结果，而设备限幅4V，对应典型传感器最高只能测量4T的磁场。我们目前的应用明显要测量超过4T的磁场，那么要想获得高于4T的模拟脉冲信号，怎么办呢？使用原始(未经放大、调理、限幅处理的)霍尔电压信号！于是打开特斯拉计机箱，如图08所示，http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573473_1611921_3.png图08 特斯拉计内部电路结构http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511132130_573474_1611921_3.png图09 改变模拟BNC输入线的接入位置做好以上的准备工作后，开始进行测量系统标定，为了简便，这里使用一块永磁体产生磁场做动态模拟电压-磁场标定，放在探头边上，通过调节距离改变特斯拉计的输入磁场，记录特斯拉计与示波器上直流信号的平均值，绘制成曲线并拟合如图10所示。然后将磁场探头放入负载线圈的中心位置，测量不同放电电压下产生的脉冲磁场波形，并根据指数衰减放电函数拟合出峰值与脉宽，如图11所示。最后将所有的初始放电电压获得的脉冲磁场信号曲线的拟合结果汇总可得脉宽不随放电电压变化，恒定约1毫秒，峰值磁场与初始放电电压关系经拟合满足为B(特斯拉)=20V(千伏)关系，该设备在最高800V电压充电时产生峰值磁场约16T，使用相对简单的原理与低成本[c

[align=center][font=黑体]稳态[/font][font='Times New Roman',serif]/[/font][font=黑体]瞬态荧光光谱仪的维护与管理[/font][/align][font=宋体]摘要：稳态[/font][font='Times New Roman',serif]/[/font][font=宋体]瞬态荧光光谱仪（型号：[/font][font='Times New Roman',serif]FLS1000[/font][font=宋体]）是一款功能模块化的测试光致发光的光谱仪，专注于稳态及时间分辨光谱测试，主要应用于光物理、化学、材料科学和生命科学等方面，已成为各学科领域不可或缺的重要技术表征手段。本文系统介绍稳态[/font][font='Times New Roman',serif]/[/font][font=宋体]瞬态荧光光谱仪相关附件的维护以及光谱仪的管理，为光谱仪的开发、应用及使用管理提供借鉴。[/font][font=宋体]关键词：光谱仪[/font][font=宋体]维护[/font][font=宋体]管理[/font][font='Times New Roman',serif] [/font][font='Times New Roman',serif]一、 [/font][font=宋体]稳态[/font][font='Times New Roman',serif]/[/font][font=宋体]瞬态荧光光谱仪相关附件的维护[/font][font=宋体]光源简介及维护：稳态[/font][font='Times New Roman',serif]/[/font][font=宋体]瞬态荧光光谱仪主要由激发源（光源）、样品仓和检测器组成。其中，光源分为稳态光源和瞬态光源。稳态光源一般是光谱及能量连续输出的氙灯，主要用于稳态谱、量子产率的测试。瞬态光源为频率可调、具有特定脉宽的脉冲输出光源，主要有微秒灯、纳秒灯和皮秒脉冲激光器等，主要用于荧光寿命的测试。以本院购买的[/font][font='Times New Roman',serif]FLS1000[/font][font=宋体]光谱仪系列为例，配备三种标准光源：连续氙灯（稳态光源）、[/font][font='Times New Roman',serif]μF2[/font][font=宋体]微秒脉冲氙灯、[/font][font='Times New Roman',serif]nF920[/font][font=宋体]纳秒灯以及皮秒级脉冲激光器[/font][font='Times New Roman',serif](EPLs)[/font][font=宋体]。[/font][font=宋体]稳态光源氙灯在启亮以后会发热，长时间使用后，一定要关灯进行散热，散热结束方可关闭氙灯电源。氙灯使用寿命一般在[/font][font='Times New Roman',serif]1000[/font][font=宋体]小时，在使用寿命达到以后，要及时更换氙灯。相对而言，瞬态光源中的微秒灯和脉冲激光器维护较简单，禁止频繁开、关灯源。同时，在频率由最大切换至最小（或由最小切换至最大）过程中，建议缓慢切换。纳秒灯俗称氢灯，在使用过程中，首先观察氢压是否在[/font][font='Times New Roman',serif]0.39-0.43bar[/font][font=宋体]范围内，如果氢压过高，需要进行泄压操作。如果氢压过低，需要重新灌注氢气进行升压。方法如下：将阀门缓慢打开与大[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]通，即可进行泄压。灌注氢气加压过程需阀门一端接通油泵进行抽真空操作，一端与氢气源接通进行灌注，反复两端拧动阀门，进行抽气、充气，待氢气灌注以后，调节压力至[/font][font='Times New Roman',serif]0.39-0.43bar[/font][font=宋体]。纳秒灯长久使用以后，纳秒灯电极很容易氧化，体现出来的是，及时氢压符合要求，纳秒灯也无法启亮。此时，设备管理员需取出电极打磨，然后重新安装。方法如下：先泻氢压，拔下光纤，打开纳秒灯仓门，分别取下尖头电极和平头电极，用砂布打磨电极至光亮，然后依次安装电极（两电极相隔[/font][font='Times New Roman',serif]1 mm[/font][font=宋体]），通过观察仓可以观察到四个像（两个实像、两个虚像），安装成功的成像效果如图所示（可以通过手机拍照显示）：[/font][align=center][font='Times New Roman',serif][img=,169,]file:///C:/Users/Lenovo/AppData/Local/Temp/msohtmlclip1/01/clip_image002.png[/img][/font][/align][font=宋体]检测器简介及维护：[/font][font='Times New Roman',serif]FLS1000[/font][font=宋体]内含高增益光电倍增管[/font][font='Times New Roman',serif](PMT)[/font][font=宋体]检测器，适用于稳态谱和时间分辨过程中的光子计数收集。最常用到的是紫外[/font][font='Times New Roman',serif]-[/font][font=宋体]可见检测器，其对应光谱检测范围[/font][font='Times New Roman',serif]200-980nm[/font][font=宋体]。检测器使用前通常都需要降温，以减少黑暗计数率，提升信噪比，紫外[/font][font='Times New Roman',serif]-[/font][font=宋体]可见检测器有自带半导体制冷片，可提供[/font][font='Times New Roman',serif]-20 ℃[/font][font=宋体]的工作温度。需要注意的是检测过程中，样品实际信号不能超过检测器的最大阈值。另外，[/font][font='Times New Roman',serif]FLS1000[/font][font=宋体]还配备有近红外检测器，因近红外检测器的噪音较高，需要外加液氮制冷达到[/font][font='Times New Roman',serif]77 k[/font][font=宋体]的工作温度降低噪音信号，对应光谱检测范围[/font][font='Times New Roman',serif]300-1700nm[/font][font=宋体]。近红外检测器使用前，需要使用液氮降温[/font][font='Times New Roman',serif]2-3[/font][font=宋体]小时。[/font][font=宋体]样品仓内配备有固体支架、液体支架，根据实际实验需要，更换不同的支架来进行测试。定期清理样品仓，保证样品仓的干净、整洁。[/font][font=宋体]二、稳态[/font][font='Times New Roman',serif]/[/font][font=宋体]瞬态荧光光谱仪的管理[/font][font=宋体]由于[/font][font='Times New Roman',serif]FLS1000[/font][font=宋体]的功能较多，并且，随着科研的发展，科研需求呈现多样化，因此，如何在满足多样化需求的前提下提高仪器的使用效率，并减少设备故障，是需要思考的重要问题。[/font][font='Times New Roman',serif]FLS1000[/font][font=宋体]主要采取以下培训管理模式：[/font][font=宋体]（[/font][font='Times New Roman',serif]1[/font][font=宋体]）集中培训，自行测试[/font][font=宋体]集中组织学生实地参观，进行实物观摩培训学习，面对实物，分模块详细介绍光谱仪的基本构造（激发源、样品仓、检测器）、工作原理、功能、附件的操作特点等，详细讲解样品制备并进行操作流程演示，根据样品的形状（粉末、液体、薄膜）介绍三种制样和上样方法，两种样品支架的安装方法和注意事项。重点介绍如何根据测试不同项目选择不同的激发源和检测器。[/font][font=宋体]根据不同的测试项目，首先讲解荧光光谱（激发和发射光谱）的测试采集，实物演示激发源的选择和开启、上样，详细讲解参数设置、信号调节以及条件优化等。然后，讲述荧光寿命的测试，从荧光寿命的定义出发，引导学生思考寿命衰减测试与光谱测试的不同，从而更深入的理解如何设置和调节参数，如何优化测试条件。此两项测试属于基础测试，操作简单，参数优化较容易。在此基础上，针对有测试需求的学生，进一步讲解磷光光谱和长寿命测试方法，着重讲解门控法测试磷光光谱的原理。有关磷光的测试，测试效果很大程度上依赖于磷光的强弱和寿命长短，信号调节、参数设置和优化相对而言较为困难。[/font][font=宋体]关于低温、变温光谱与寿命测试，着重讲解演示如何将常温系统进行升级拓展，变装成低温、变温系统，并引导学生进行对比，透彻理解低、变温测试与常温测试的异同点。[/font][font=宋体]（[/font][font='Times New Roman',serif]2[/font][font=宋体]）重点培训，专人专时测样[/font][font=宋体]量子产率测试是一项极为精确的测试，所用到的附件[/font][font='Times New Roman',serif]-[/font][font=宋体]积分球是影响测试结果的关键性因素，而在测试过程中，由于静电作用或经验不足，粉尘或者样品粉末极容易附着于积分球内，造成积分球污染，一方面影响测试结果，另一方面，给仪器维护带来不便。通过前期的试运行一年，发现量子产率测试的总时长短，测试时间分散，测试人员较多。基于此，对于使用积分球测试量子产率，提出了重点培训，专人、专时测样的培训管理制度。每课题组或单位指派两名学生，重点培训量子产率测试方法，从原理、测试方法、注意事项、数据分析等方面全面培训并考核。例如：每月月初和月中分别固定两天，不做任何其他测试，专门用于测试量子产率。该课题组内所有需要测试量子产率的样品，由重点培训人带领送样人在固定的时间共同完成。重点培训，专人、专时测样的管理模式，按需求重点培训一批专业度高、熟练度高的专业人员，并将测试时间集中，减少积分球短时间多频次暴露，很大程度上减少了积分球污染的可能。同时，重点培训人带领送样人共同测试有效解决了因沟通不及时导致测试效率低等问题。[/font][font=宋体]（[/font][font='Times New Roman',serif]3[/font][font=宋体]）上机考核[/font][font=宋体]根据科研实际情况，模块化选择考核项目，从开机、原理、参数调节、注意事项等方面考察用户知识掌握情况和实践水平，针对关键性步骤反复强调和指导，并根据实际测试过程学生碰到的疑难问题，将实践中总结的经验传授给学生。最后经专业技术教师考核，认定学生已掌握理论知识和实践操作流程，实践操作符合规范，能规范完成各项测试并完成数据分析的学生可以获得独立上机操作的权限。作为专业技术教师，[/font][font='Times New Roman',serif]“[/font][font=宋体]授之鱼不如授之以渔[/font][font='Times New Roman',serif]”[/font][font=宋体]，在培训和考核过程中，教师的作用，一方面让学生成功获得规范测试的能力，更重要的是，要让学生学会分析问题和解决问题的能力。每位学生的科研方向和需求不同，碰到的问题各异，实验测试是解决问题的一种手段，要让学生知其然更知其所以然，从根源上分析问题并解决问题。通过考核获得独立上机权限的同学帮带新同学，帮助新同学完成培训。这种[/font][font='Times New Roman',serif]“[/font][font=宋体]老带新[/font][font='Times New Roman',serif]”[/font][font=宋体]的培训模式发挥了学生的主观能动性，增强了学生的责任意识和团结合作的意识，同时，也减轻了专业技术教师的压力，更有利于仪器新功能开发和拓展工作的开展。培训完成以后，经过教师考核合格的学生可以获得独立上机操作的权限。通过这种[/font][font='Times New Roman',serif]“[/font][font=宋体]传[/font][font='Times New Roman',serif]-[/font][font=宋体]帮[/font][font='Times New Roman',serif]-[/font][font=宋体]带[/font][font='Times New Roman',serif]”[/font][font=宋体]的培训考核模式，不断培训更多的学生，让更多学生成为测试小能手。[/font][font='Times New Roman',serif]三、 [/font][font=宋体]结语[/font][font=宋体]本文介绍了稳态[/font][font='Times New Roman',serif]/[/font][font=宋体]瞬态荧光光谱仪的附件结构及维护方法，并结合研究院实际介绍了管理模式，提高仪器使用效率的同时，降低了仪器故障率，为光谱仪的开发、应用及使用管理提供借鉴。[/font]