探仪之旅

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南京鸿智教学仪器有限公司推出了一款全新的科技馆科学探究产品——壁挂互动仪器，为青少年活动中心和社区互动中小学实验提供了全新的科学探索方式。本产品具有鸿智:400*600mm的尺寸，采用亚克力材质，为科技馆科普仪器设计而制作。壁挂互动仪器作为一种科学探究工具，能够为带来全新的实验体验。它采用了科学普及技术，使得实验过程更加直观生动。青少年们可以通过观察这个科技馆仪器，了解科学实验背后的原理和规律。此外，它还可以激发学习兴趣，提高他们的科学素养。壁挂互动仪器的价格非常实惠，每件需800元。相比于其他壁挂互动产品。南京鸿智教学仪器有限公司一直致力于为客户提供好的产品和服务，以满足他们的需求。在购买壁挂互动仪器之前，您可能需要了解更多关于它的属性和特点：鸿智:400*600的尺寸：这个尺寸经过精心设计，既不会占据太多空间，又使得实验场景呈现更加清晰。采用双层亚克力，材质：耐磨性和防水性，使仪器的使用寿命长久。科技馆仪器设计：针对地区的实验需求，该壁挂互动仪器进行了特殊设计，适用于各类实验场景。，南京鸿智教学仪器有限公司的壁挂互动仪器是一款科学探究产品，适用于青少年活动中心和社区互动中小学实验。它具有鸿智:400*600mm的尺寸、采用双层亚克力材质，并为地区的科技馆科普设计而制作。通过这个壁挂互动仪器仪器，可以直观地了解科学实验原理和规律，激发他们的学习兴趣。立即购买，开启科学探索之旅！规格：400*600*10mm主要展示器件安装于亚克力前板上；前板为透明5mm亚克力UV打印板，后板为5mm亚克力板，前后板可用6颗工艺螺钉固定于墙体上；采用模块化手摇发电机结构和稳压稳流技术供电，不使用AC220V电源，确保操作的安全性。

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南京鸿智教学仪器有限公司推出了一款全新的科技馆科学探究产品——壁挂互动仪器，为青少年活动中心和社区互动中小学实验提供了全新的科学探索方式。本产品具有鸿智:400*600mm的尺寸，采用亚克力材质，为科技馆科普仪器设计而制作。壁挂互动仪器作为一种科学探究工具，能够为带来全新的实验体验。它采用了科学普及技术，使得实验过程更加直观生动。青少年们可以通过观察这个科技馆仪器，了解科学实验背后的原理和规律。此外，它还可以激发学习兴趣，提高他们的科学素养。壁挂互动仪器的价格非常实惠，每件需800元。相比于其他壁挂互动产品。南京鸿智教学仪器有限公司一直致力于为客户提供好的产品和服务，以满足他们的需求。在购买壁挂互动仪器之前，您可能需要了解更多关于它的属性和特点：鸿智:400*600的尺寸：这个尺寸经过精心设计，既不会占据太多空间，又使得实验场景呈现更加清晰。采用双层亚克力，材质：耐磨性和防水性，使仪器的使用寿命长久。科技馆仪器设计：针对地区的实验需求，该壁挂互动仪器进行了特殊设计，适用于各类实验场景。，南京鸿智教学仪器有限公司的壁挂互动仪器是一款科学探究产品，适用于青少年活动中心和社区互动中小学实验。它具有鸿智:400*600mm的尺寸、采用双层亚克力材质，并为地区的科技馆科普设计而制作。通过这个壁挂互动仪器仪器，可以直观地了解科学实验原理和规律，激发他们的学习兴趣。立即购买，开启科学探索之旅！规格：400*600*10mm主要展示器件安装于亚克力前板上；前板为透明5mm亚克力UV打印板，后板为5mm亚克力板，前后板可用6颗工艺螺钉固定于墙体上；采用模块化手摇发电机结构和稳压稳流技术供电，不使用AC220V电源，确保操作的安全性。

仪器简介：供电测试和电子分析 Solartron FRA产品的成功可以归功于下列应用的开发：电子放大器设计，电压控制振荡器，集成电路设计，相闭合回路 和开关式电源，这些已经用于电信和卫星系统。Solartron FRA还用于开发高密度磁盘激光控制特征和机器人模拟技术 (主要是在日本)。电信 传递函数包括电对电－类似于电源测试，即在我们的FRA频 率范围如模拟开关中的开关单元。新的听筒技术的开发即音 频输出到电子输出－分析麦克风电路和可替代的电子输出到 音频输出。决定产品有效性的常规标准被用于电信工业来确 定产品用于传递函数分析的可行性。工业上使用的电源也要 进行测试。新用途 目前我们的市场包括火箭推进器控制系统、卫星系统设计、 新桥梁设计制造研究、伺服系统的参数和性能分析如用于迪 斯尼乐园&ldquo 星球之旅&rdquo 的模拟从而确保大小和相位裕度能够 保持在合适的范围之内；至于建筑结构研究，只是Solartron FRA单元用途的一小部分。最近的关于FRA的应用涉及边缘 科学研究的如下文所述：强调制光电流光谱(IMPS) IMPS的目的是测定出现在半导体/电解质结合处的光电流的 响应。当半导体被照射，激发内部电子通过禁能隙，使电子 跃迁到导带和价带空穴 。使用外电路，通过记录这一反应过程中的光电流竞争过程即可以测出这些光激发载体信号，包 括电荷转移与重组，二者均为一级反应。这就导致了光激发 与响应之间的特性滞后(即相移)。IMPS的主要任务是测定光 电流的频率响应，以便推导出动力学信息。半导体中的激发 态可以通过使用强调制光源如声光调幅器＋激光，或具有特 定发射波长的发光二极管(LED)来照射材料而获得。电压调制微波反射(PMMR) PMMR技术是当电位被调制时，用来监测半导体电极的微波 反射。材料的微波反射与其电导率成正比。因电导率依赖于 载荷子密度，该技术可以直接监测界面孔与电子密度的变 化。半导体系统中，当得到关于电荷的形成和衰变的基本信 息后，就可以获得关于反应动力学的直接信息。光电化学阻抗光谱(PEIS) 该技术非常类似于IMPS，只是不是调制光，而是电压变化 之后测试阻抗。技术参数：发生器波形：正弦波，方波，三角波频率：10uHz-65kHz幅度：10mV-10.23V分辨率：1/1023主要特点：1250 系列频率响应分析仪 1250系列频响分析仪FRA为增益及相位的测量提供了 一些精确的解决方法。待测设备由正弦波来激励并在系统中分析一、二点或 更多点处的响应。然后将这些响应与激励正弦波相关去确定相对于发生器的幅度及相位。由测得的两信号 的比值就可用于求得系统的传递函数。该过程抑制所有谐波并且通过增加积分时间将即使那 些被淹没在噪声中的信号也能被精确地测量出来。1250系列中300V的量程对燃料电池堆及各种机动车 和住宅电源用的高压电池组的测量特别有用。1250系列频响分析仪的主要特性包括 ● 交流幅度范围-10mV 到10V 用于电源测试● 分析量程- 300V 也即用于自动测试系统ATS 电站 振动测试● 噪声抑制能力● 同步器选项可使发生器及载波器的信号按照频率及 相位加以锁定● 有能力分析非线性系统● 多通道分析● 1254频响分析仪有4个平行通道● 面板或软件(Visual Basic)控制操作● 调制/解调卡与交流载波系统互联控制系统 频响分析仪的标准应用是产生一个信号并将该信号接 到转换器，去激发待测系统，然后将系统响应经传感器反馈到分析仪进行测试分析。用于空气动力学测试 这些转换器安置于待测系统上，并将响应信号经过传感器再反馈到频响分析仪使体系得以表征。其典型应 用包括：● 自动化测试系统● 电源测试

仪器简介：供电测试和电子分析 Solartron FRA产品的成功可以归功于下列应用的开发：电子放大器设计，电压控制振荡器，集成电路设计，相闭合回路 和开关式电源，这些已经用于电信和卫星系统。Solartron FRA还用于开发高密度磁盘激光控制特征和机器人模拟技术 (主要是在日本)。电信 传递函数包括电对电－类似于电源测试，即在我们的FRA频 率范围如模拟开关中的开关单元。新的听筒技术的开发即音 频输出到电子输出－分析麦克风电路和可替代的电子输出到 音频输出。决定产品有效性的常规标准被用于电信工业来确 定产品用于传递函数分析的可行性。工业上使用的电源也要 进行测试。新用途 目前我们的市场包括火箭推进器控制系统、卫星系统设计、 新桥梁设计制造研究、伺服系统的参数和性能分析如用于迪 斯尼乐园&ldquo 星球之旅&rdquo 的模拟从而确保大小和相位裕度能够 保持在合适的范围之内；至于建筑结构研究，只是Solartron FRA单元用途的一小部分。最近的关于FRA的应用涉及边缘 科学研究的如下文所述：强调制光电流光谱(IMPS) IMPS的目的是测定出现在半导体/电解质结合处的光电流的 响应。当半导体被照射，激发内部电子通过禁能隙，使电子 跃迁到导带和价带空穴 。使用外电路，通过记录这一反应过程中的光电流竞争过程即可以测出这些光激发载体信号，包 括电荷转移与重组，二者均为一级反应。这就导致了光激发 与响应之间的特性滞后(即相移)。IMPS的主要任务是测定光 电流的频率响应，以便推导出动力学信息。半导体中的激发 态可以通过使用强调制光源如声光调幅器＋激光，或具有特 定发射波长的发光二极管(LED)来照射材料而获得。电压调制微波反射(PMMR) PMMR技术是当电位被调制时，用来监测半导体电极的微波 反射。材料的微波反射与其电导率成正比。因电导率依赖于 载荷子密度，该技术可以直接监测界面孔与电子密度的变 化。半导体系统中，当得到关于电荷的形成和衰变的基本信 息后，就可以获得关于反应动力学的直接信息。光电化学阻抗光谱(PEIS) 该技术非常类似于IMPS，只是不是调制光，而是电压变化 之后测试阻抗。技术参数：发生器波形：正弦波，方波，三角波 频率：10uHz-65kHz 幅度：10mV-10.23V 分辨率：1/1023主要特点：1250 系列频率响应分析仪 1250系列频响分析仪FRA为增益及相位的测量提供了 一些精确的解决方法。待测设备由正弦波来激励并在系统中分析一、二点或 更多点处的响应。然后将这些响应与激励正弦波相关去确定相对于发生器的幅度及相位。由测得的两信号 的比值就可用于求得系统的传递函数。该过程抑制所有谐波并且通过增加积分时间将即使那 些被淹没在噪声中的信号也能被精确地测量出来。1250系列中300V的量程对燃料电池堆及各种机动车 和住宅电源用的高压电池组的测量特别有用。1250系列频响分析仪的主要特性包括 ● 交流幅度范围-10mV 到10V 用于电源测试● 分析量程- 300V 也即用于自动测试系统ATS 电站 振动测试● 噪声抑制能力● 同步器选项可使发生器及载波器的信号按照频率及 相位加以锁定● 有能力分析非线性系统● 多通道分析● 1254频响分析仪有4个平行通道● 面板或软件(Visual Basic)控制操作● 调制/解调卡与交流载波系统互联控制系统 频响分析仪的标准应用是产生一个信号并将该信号接 到转换器，去激发待测系统，然后将系统响应经传感器反馈到分析仪进行测试分析。用于空气动力学测试 这些转换器安置于待测系统上，并将响应信号经过传感器再反馈到频响分析仪使体系得以表征。其典型应 用包括：● 自动化测试系统● 电源测试

南京鸿智教学仪器有限公司推出了一款全新的科技馆科学探究产品——落地式科技馆仪器，为青少年活动中心和社区互动中小学实验提供了全新的科学探索方式。本产品具有鸿智:75*75的尺寸，采用耐用的钣金与大理石材质，为南京地区的科技馆科普仪器设计而制作。科技馆落地式仪器作为一种科学探究工具，能够为带来全新的实验体验。它采用了科学普及技术，使得实验过程更加直观生动。青少年们可以通过观察这个科技馆仪器，了解科学实验背后的原理和规律。此外，它还可以激发学习兴趣，提高他们的科学素养。科技馆科普仪器的价格非常实惠，每件需4500元。相比于其他科学探究产品。南京鸿智教学仪器有限公司一直致力于为客户提供好的产品和服务，以满足他们的需求。在购买科技馆科普仪器之前，您可能需要了解更多关于它的属性和特点：鸿智:75*75的尺寸：这个尺寸经过精心设计，既不会占据太多空间，又使得实验场景呈现更加清晰。采用钣金底座与大理石台面，材质：钣金材质具有耐磨性和耐用性，使仪器的使用寿命长久。南京科技馆仪器设计：针对南京地区的实验需求，该科技馆仪器进行了特殊设计，适用于各类实验场景。，南京鸿智教学仪器有限公司的科技馆科普仪器是一款高的科学探究产品，适用于青少年活动中心和社区互动中小学实验。它具有鸿智:75*75的尺寸、内部采用耐用的钣金材质，并为南京地区的科技馆科普设计而制作。通过这个科技馆仪器，可以直观地了解科学实验原理和规律，激发他们的学习兴趣。立即购买，开启科学探索之旅！尺寸：≥750*750*1200柜体：彩色展品柜整体钣金表面喷塑，板厚≥1.2mm，配有2个弹簧扣手，展品柜背面有散热孔）。主要配置：①开关电源：AC220V/10A 三眼插头保护：防漏电保护开关220V,输出DC24V,功率35W②漏电开关：正泰DZ47LB-32 C16 极数：2P+N；脱扣器电流：16A；灭弧介质：漏电断路器；分断能力:6KA④按钮：红波按钮 GQ19-11E 安装孔尺寸 Φ19；工作电压 250V；工作电流：5A；额定发热电流：10A；机械寿命：100万次；头部保护等级：IP65 ；防护方式：防水式。

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南京鸿智教学仪器有限公司推出了一款全新的科技馆科学探究产品——落地式科技馆仪器，为青少年活动中心和社区互动中小学实验提供了全新的科学探索方式。本产品具有鸿智:75*75的尺寸，采用耐用的钣金与大理石材质，为南京地区的科技馆科普仪器设计而制作。科技馆落地式仪器作为一种科学探究工具，能够为带来全新的实验体验。它采用了科学普及技术，使得实验过程更加直观生动。青少年们可以通过观察这个科技馆仪器，了解科学实验背后的原理和规律。此外，它还可以激发学习兴趣，提高他们的科学素养。科技馆科普仪器的价格非常实惠，每件需4500元。相比于其他科学探究产品。南京鸿智教学仪器有限公司一直致力于为客户提供好的产品和服务，以满足他们的需求。在购买科技馆科普仪器之前，您可能需要了解更多关于它的属性和特点：鸿智:75*75的尺寸：这个尺寸经过精心设计，既不会占据太多空间，又使得实验场景呈现更加清晰。采用钣金底座与大理石台面，材质：钣金材质具有耐磨性和耐用性，使仪器的使用寿命长久。南京科技馆仪器设计：针对南京地区的实验需求，该科技馆仪器进行了特殊设计，适用于各类实验场景。，南京鸿智教学仪器有限公司的科技馆科普仪器是一款高的科学探究产品，适用于青少年活动中心和社区互动中小学实验。它具有鸿智:75*75的尺寸、内部采用耐用的钣金材质，并为南京地区的科技馆科普设计而制作。通过这个科技馆仪器，可以直观地了解科学实验原理和规律，激发他们的学习兴趣。立即购买，开启科学探索之旅！尺寸：≥750*750*1200柜体：彩色展品柜整体钣金表面喷塑，板厚≥1.2mm，配有2个弹簧扣手，展品柜背面有散热孔）。主要配置：①开关电源：AC220V/10A 三眼插头保护：防漏电保护开关220V,输出DC24V,功率35W②漏电开关：正泰DZ47LB-32 C16 极数：2P+N；脱扣器电流：16A；灭弧介质：漏电断路器；分断能力:6KA④按钮：红波按钮 GQ19-11E 安装孔尺寸 Φ19；工作电压 250V；工作电流：5A；额定发热电流：10A；机械寿命：100万次；头部保护等级：IP65 ；防护方式：防水式。

南京鸿智教学仪器有限公司推出了一款全新的科技馆科学探究产品——壁挂互动仪器，为青少年活动中心和社区互动中小学实验提供了全新的科学探索方式。本产品具有鸿智:400*600mm的尺寸，采用亚克力材质，为科技馆科普仪器设计而制作。壁挂互动仪器作为一种科学探究工具，能够为带来全新的实验体验。它采用了科学普及技术，使得实验过程更加直观生动。青少年们可以通过观察这个科技馆仪器，了解科学实验背后的原理和规律。此外，它还可以激发学习兴趣，提高他们的科学素养。壁挂互动仪器的价格非常实惠，每件需800元。相比于其他壁挂互动产品。南京鸿智教学仪器有限公司一直致力于为客户提供好的产品和服务，以满足他们的需求。在购买壁挂互动仪器之前，您可能需要了解更多关于它的属性和特点：鸿智:400*600的尺寸：这个尺寸经过精心设计，既不会占据太多空间，又使得实验场景呈现更加清晰。采用双层亚克力，材质：耐磨性和防水性，使仪器的使用寿命长久。科技馆仪器设计：针对地区的实验需求，该壁挂互动仪器进行了特殊设计，适用于各类实验场景。，南京鸿智教学仪器有限公司的壁挂互动仪器是一款科学探究产品，适用于青少年活动中心和社区互动中小学实验。它具有鸿智:400*600mm的尺寸、采用双层亚克力材质，并为地区的科技馆科普设计而制作。通过这个壁挂互动仪器仪器，可以直观地了解科学实验原理和规律，激发他们的学习兴趣。立即购买，开启科学探索之旅！规格：400*600*10mm主要展示器件安装于亚克力前板上；前板为透明5mm亚克力UV打印板，后板为5mm亚克力板，前后板可用6颗工艺螺钉固定于墙体上；采用模块化手摇发电机结构和稳压稳流技术供电，不使用AC220V电源，确保操作的安全性。

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STREAM – 抑制的绿色之旅STREAM (抑制器的分析废液冲洗技术)是采用检测器流出废液进行抑制器再生液冲洗的技术。在这样的配置下，抑制器再生完毕后的冲洗过程将不再需要额外的清洗液。同时，抑制器再生液的流速也将尽可能地减小。这套体系需要消耗的试剂更少，产生的废液也更少。STREAM能保证系统不间断工作两周以上——如果您依靠英蓝系统配制再生液，则可以维持更长时间。940谱峰思维TM离子色谱系统兼容不同的梯度模式，这取决于您的分析要求：高压梯度，低压梯度，和 Dose-in梯度。采用梯度来加快您的分析是一个行之有效的方法。自动样品处理器–更高的通量，更好的结果

1:便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由宽的恒流源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。对1～100&Omega &bull cm标准样片的测量瓿差不过± 3%，在此范围内达到家标准机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9&Omega &bull cm。可测方块电阻：0.1～1999&Omega /口当被测材料电阻率&ge 200&Omega &bull cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA 连续可调10mA量程：1mA ～10mA连续可调恒流度：各档均优于± 0.1%适合测量各种厚度的硅片（3） 直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100&mu v准确度：0.2%（± 2个字）（4） 供电电源：AC：220V ± 10% 50/60HZ 率8W（5） 使用环境：相对湿度&le 80%（6） 重量、体积重量：2.2 公斤体积：宽210× 100× 深240（mm）（7）KD探针头压痕直径：30/50&mu m间距：1.00mm探针合力：8± 1N针材：TC2:· 数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-100C为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。 该设备是按照家标准GB/T1553&ldquo 硅单晶少数载流子寿命测定的频光电导衰减法&rdquo 。频光电导衰减法在我半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。 KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：1、 可测量太阳能多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管硅单晶的少子寿命。2、 可测量太阳能单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。4、配置两种波长的红外光源：a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深&ge 500&mu m，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅&asymp 30&mu m，但光强较强，有利于测量低阻太阳能硅晶体。5、测量范围宽广测试仪可直接测量：a、研磨或切割面：电阻率&ge 0.3&Omega &bull ㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。b、抛光面：电阻率在0.3～0.01&Omega &bull ㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。寿命可测范围 0.25&mu S&mdash 10ms 温馨提示：以上产品资料与图片相对应。

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专业生产煤炭氟氯测定仪,煤炭氟氯测定仪价格【鹤壁创新仪器】供应的CX-FL3000 全自动氟氯测定仪 煤炭氟氯测定仪主要用于煤炭、电力、煤化及相关教学、科研、质量监督等单位，对煤的氟、氯等元素进行检测分析。煤中氟离子氯离子分析仪全自动氟氯测定仪的功能特点：采用PID控制炉流，低温漂元器件，控温精度高，有效延长硅碳管使用寿命。蒸发量采用固态继电器控制，电压0-220V连续可调。配置进口数字式离子计，精密自动滴定仪，电脑程序自动采集各种数据和曲线。测量结果自动计算。可以自动滴定，自行设定滴定速度和滴定量。（可选配）可以自动送样。（可选配）同时我公司还可为不同使用要求的用户编制各种滴定程序，以实现滴定电脑化操作，提高化验精度。 全自动氟氯测定仪参数：控温精度：1100±2℃升温时间：30分钟内升温到1100±2℃供电电源：AC220V±10%，50HZ高温水解时间：氟30min 氯30min；滴定时间（不含水解时间）：氟：3min（前期样品处理后，不含样品处理时间,样品处理时间30min） 氯：3min（含样品处理时间）测量精度：氟：≤150ug/g±15；＞150ug/g±10%； 氯：±0.01测量范围：氟：10ug/g-2000ug/g 氯：10ug/g-2000ug/g测试方法：高温燃烧水解法。整机功率：≦3.5KW。搅拌速度连续可调，数字显示。电脑自动采集测量数据，自动计算。尊敬的用户： 感谢您选用鹤壁市创新仪器有限公司的产品，我公司将为您提供完善、优质的技术支持与售后服务，为此，我们特做出以下承诺： 1、安装调试及现场培训： 根据用户要求的时间和地点为用户免费安装调试仪器。公司及公司授权技术人员在为用户安装调试仪器及日常维护时，对用户操作人员提供免费现场培训服务，使用户能熟练掌握仪器性能、操作使用及一般维护保养。 2、保修规定：按国家标准供货，整机保修一年（易损件除外）产品终身维护。 3、维修规定： 在正常使用情况下，仪器若出现故障，维修站保证在接到通知后24小时内响应，如需进行现场维修的，我们承诺尽快派人到达现场并在短时间内排除故障。更换配件费及维修工时费按公司规定的统一价格收取。 4、其它承诺： 我们承诺保证各型号仪器的配件供应充足，并提供产品优惠价格。鹤壁创新仪器专业生产热仪,定硫仪,测硫仪,煤质分析仪器,煤炭化验设备,煤炭检测设备,煤质仪器,焦化厂,砖厂化验仪器化验仪器设备,煤炭化验设备,煤炭检测设备,煤质分析仪器,定硫仪,量热仪,马弗炉,灰熔点测定仪,深受国内外客户信赖,欢迎咨询洽谈. 氟氯测定仪 煤炭氟氯元素测定仪 化验室氟氯测定仪 煤氟氯测定仪 煤中氟氯测定仪 新款氟氯测定仪 便携式煤炭测定仪 氟氯快速测定仪 氟氯离子测定仪 煤炭氟离子测定仪 煤炭氟氯测定仪 煤炭氟离子测定仪 煤炭氯离子测定仪 煤炭自动氟氯测定仪 全自动氟氯测定仪煤质分析仪器（专业生产煤炭氟氯测定仪,煤炭氟氯测定仪价格） 请认准鹤壁创新仪器 国内知名品牌 五星级服务 让您用的放心 联系人：常经理 电话： 手机： 网址：www.chuangxinyiqi. com

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该魔尺测量仪采用与加速度计、陀螺仪和磁力计相同的原理,绘制其在3D空间中的位置,测量重力和旋转,并考虑重力随高度和纬度的变化当您移动时, 每秒进行500多次传感器测量。当从一个点降落到另一个点时, 会绘制每个位置并同时计算所有相关测量值。因此,如果从一侧到另一侧进行直线测量, 将计算A到B的测量值,但它也能够计算两点之间的高度、水平或角度的差异。可以处理它收集的所有数据。触摸对角线，将同时生成长度和宽度测量值并计算房间的2D面积。它可以简单地计算任何物体的3D测量值和体积。魔尺测量仪是一款用于花园、景观、建筑、室内外多功能测量工具，来自英国并支持中文的移动测量工具，为您提供了一种可以测量任何距离、高度、宽度、水平、角度的测量工具。工程，景观，花园测量工具，前期出图，算量，报价，后期核量。魔尺测量仪可以让设计师签更多案子，让施工提高更多效率。N多种玩法。放进你的口袋，随时开启测量之旅。比传统测量方式快10倍的测量工具测量花园、测量地面铺贴面积、测量绿化面积、测量泳池面积、测量厂房面积、测量建筑面积、异型场、地测量,特别是哪些不规则的，常规测量很麻烦，很费时间，使用魔尺测量仪，几百平米的场地，几分钟就搞定了。特别形状面积用魔尺测量黑科技！它淘汰了人工拉皮尺，RTK测量仪或全站仪测绘这些繁琐工作方式，会走路就会用魔尺测量仪！

电阻率测试仪,四探针方阻电阻率测试仪, 适用范围Widely used：1.覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等， 功能描述Description：四探针单电测量方法液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出.选配：PC软件进行数据管理和处理.提供中文或英文两种语言操作界面选择 满足标准：1.硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）.2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》. FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 FT-345双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪,四探针测量仪,探针测试仪,导体电阻,体积电阻测试仪,四探针法测电阻,方块电阻测试仪,薄膜或涂层方块电阻测试仪

四探针低电阻率测试仪技术参数：1.电阻率：10-5～2×106Ω-cm2.电 阻：10-5～2×106Ω3.电导率：5×10-6～105ms/cm4.分辨率： 小0.1μΩ测量误差±（0.05%读数±5字）5.测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）6.分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV7.电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。量程：1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA, 误差：±0.2%读数±2字8.显示方式：液晶显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算9.传感器压力：200kg (其他规格可以定制)10.粉末测量装置 模具：内径10mm；高：25mm；加压方式：手动液压加压/自动加压方式（选购）11.电源：220±10% 50HZ/60HZ12.主机外形尺寸：330mm*350mm*120mm13.净重量：约6kg14.标配外选购：1）.标四探针低电阻率测试仪本标准修改采用SEMIMF84-1105《硅片电阻率测定四探针法》和SEMIMF397-1106《硅棒电阻率测定两探针法》。本标准与SEMIMF84-1105和SEMI MF 397-1106相比,主要变化如下:--中厚度修正系数F(W/S)表格范围增加 一按中文格式分直排四探针法、直流两探针法进行编排。本标准代替GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》和GB/T 1552-1995《硅、锗单品电阻率测定直排四探针法》。本标准与GB/T 1551-1995和GB/T 1552-1995相比，主要有如下变化:一一删除了锗单晶测定的相关内容 一用文字描述代替了原标准GB/T 1551-1995和GB/T1552-1995中的若干记录测试数据的表格 --修改了直排四探针法中计算公式 --补充了干扰因素。本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出。本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会归口。本标准起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所。本标准主要起草人:李静、何秀坤、张继荣、段曙光。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:--GB1552-1979、GB1551--1979、GB5251--1985、GB5253-1985、GB 6615-1986 GB/T 1551-1995、GB/T1552--1995。四探针低电阻率测试仪1范围本方法规定了用直排四探针法测量硅单晶电阻率的方法.本方法适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍的硅单晶体电阻率以及测量直径大于探针间距10倍、厚度小于探针间距4倍的硅单晶圆片的电阻率。本方法可测定的硅单晶电阻率范围为1X10-Ω・ cm~3X10' Ω.cm.2环境要求环境温度为23℃±1℃,相对湿度不大于65%。3干扰因素3.1光照可能严重影响观察电阻率,特别是近似本征材料。因此,所有测试应在暗室进行,除非是待测样品对周围的光不敏感。3.2当仪器放置在高频于扰源附近时,测试回路中会引入虚假电流，因此仪器要有电磁屏蔽。3.3试样中电场强度不能过大,以避免少数载流子注入。如果使用的电流适当,则用该电流的两倍或一半时,引起电阻率的变化应小于0.5%。3.4由于电阻率受温度影响,一般测试适用温度为23℃±1 ℃.3.5对于厚度对测试的影响,仲裁测量要求厚度按本方法的6.3规定测量,一般测量用户可以根据实际需要确定厚度的要求偏差。3.6由于探针压力对测量结果有影响,测量时应选择合适的探针压力。3.7仲裁测量时选择探针间距为1.59mm,非仲裁测量可选择其他探针间距。4方法提要排列成一直线的四根探针垂直地压在距离边缘6mm以上的平坦试样表面上,将直流电流I在两外探针间通入试样,测量内侧两探针间所产生的电势差V,根据测得的电流和电势差值,按式(1)计算电阻率。对圆片试样还应根据几何修正因子进行计算。测量示意图见图1.p=2xs￥..…………--…(1)式中:一电阻率,单位为欧姆厘米(Ωcm) V-测得的电势差,单位为毫伏(mV) I一通入的电流,单位为毫安(mA) S一探针间距,单位为厘米(cm).四探针低电阻率测试仪直排四探针测量示意图5测量仪器5.1探针装置由以下几部分组成。5.1.1探针用钨,碳化钨或高速钢等金属制成,针尖呈圆锥型,夹角为45°~150*,尖端初始标称半径为25 μm~50 μm。5.1.2探针压力,每根探针压力为1.75 N士0.25 N或4.0N±0.5N,分别用于硅单晶棒的电阻率测量,也可选择其他合适的探针压力。5.1.3绝缘性,一探针(包括连接弹簧和外部引线)与任何其他探针或装置任一部分之间绝缘电阻大于10’Ω.5.1.4探针排列和间距,四根探针的尖端应成等间距直线排列。仲裁测量时,探针间距(相邻探针之间的距离)标称值应为1.59mm。其他标称间距如1.00mm和0.6mm用于非仲裁测量,探针间距按7.2测定。5.1.5探针架,能在针尖几乎无横向移动的情况下使探针下降到试样表面.5.2电学测量装置由下列几部分组成。5.2.1任何满足7.1.6要求的电路均可用来进行电学测量。推荐电路(见图2)包括下述几部分。电位选择开关恒流源标准电阻数字电压表0.001mA一100mA电流选择开关探针装置圈2推荐电路图5.2.2恒流源,电流范围为10-'A~10-*A,纹波系数不大于士0.1%,稳定度优于士0.05%。5.2.3电流换向开关。5.2.4标准电阻,0.01 0~100000Ω.0.05级.5.2.5双刀双掷电位选择开关,图2推荐电路需要这一开关来选择测量标准电阻或试样上电势差。5.2.6数字电压表,可用来测量以毫伏为单位的电势差或者连同电流源一起校准到能直接读出电压-电流比值。测量满量程为0.2mV~50mV,分辨率为±0.05%(3&half 位有效数字),输入阻抗大于10°倍试样电阻率。如试样电阻率仅限定在某一数值范围内,一个较小满量程范围就足够了。5.3样品架/台,用于固定试样的合适夹具。5.4散热器,用一直径至少为100 mm,厚为38 mm的铜块来支撑圆片试样和起散热器作用(图3)。它应包括一个容纳温度计的小孔,使温度计能放置在离试样10mm范围内的散热器中心区。散热器上放一片10 μm~25μm厚的云母片,使试样和散热器电绝缘。在云母片和铜块间、温度计孔中填充矿物油活动有机硅散热以减少热阻。散热器安放应能使探针尖端阵列中心在试样中心的1mm以内。散热四探针低电阻率测试仪GB/T 1551-2009器应与电学测量装置的接地端相连接。为了迅速对准试样中心,可在散热器表面加工一个与铜块同心的浅圆环。一样品云母片38mm温度计100mm图3带有样品、云母片和温度计的散热器5.5 研磨或喷砂设备,用以提供平坦的试样表面。研磨设备应能将圆片试样研磨到厚度变化不大于试样中心处厚度值的±1.0%，5.6机械或电子厚度测量仪,能测量试样不同位置的厚度,精度优于±1.0%。5.7千分尺或游标卡尺,分辨率优于士0.05 mm。5.8微移动机构,能以0.05 mm~0.10mm增量使探针装置或硅表面以垂直于探针尖端连线方向并平行于硅表面移动。5.9 工具显微镜,分辨率为1μm。5.10显微镜至少放大400倍。5.11温度计或其他测温仪器0℃~40℃,分度值为0.1℃。5.12欧姆计,能指示大于10°Ω绝缘电阻。5.13超声波清洗器,具有适当频率(18 kHz~45 kHz)和功率。5.14化学实验室器具(如塑料烧杯、量筒、处理和清洗酸及其蒸气所需的设备等)。6试样制备6.1 试样用W14#(粒径为10μm)金刚砂研磨上下表面,保证无机械损伤、无沾污物。6.2在不包括参考面或参考缺口的圆周上测量直径3次,计算试样的平均直径D。试样直径应大于10倍平均探针间距S,直径变化不大于D的D/5S%,记下D值。6.3在试样上测量9个点的厚度(见图4)。要求各测量点厚度与试样中心点厚度的偏差不大于士1.0%,记下试样的中心厚度W.

四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪四探针电阻率/方阻测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。四探针电阻率/方阻测试仪 规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻范围10-5～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.电阻率范围10-6～2×106Ω-cm10-5～2×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流范围0.1μA,μA,0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA,μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W 9.整机不确定性误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪

四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪 FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪广泛用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求. 本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm 3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针