锶晶格钟

产品简介蔡司晶格光切超高分辨率显微镜Lattice SIM 3利用晶格结构光照明的组织穿透力强的优势，针对组织样品对于分辨率、速度和灵敏度的三重需求进行光学设计，适用于细胞团、类器官、组织切片和小型模式动物等样品的超高分辨率成像，快速获取更精细的组织三维结构全貌，兼顾分辨率、成像速度、成像深度和灵敏度。产品特点&bull 低倍物镜下的大视野超高分辨率成像&bull 近各向同性分辨率的高质量光学切片&bull 以宽场成像的快速和低光毒性实现超高分辨率成像应用领域&bull 类器官发育&bull 组织切片&bull 3D细胞培养模型&bull 胚胎发育应用案例细胞球状体样品，利用25x物镜进行Lattice SIM成像，绿色标记线粒体 (MitoTracker Green)，红色标记细胞核(NucRed Live 647)。果蝇胚胎 Fasciclin II (颜色深度编码) 和HRP (青色) 标记神经系统，样品来自英国约克大学Ines Hahn

产品简介蔡司晶格结构光超高分辨率显微镜Lattice SIM 5针对亚细胞结构成像进行优化，实现60nm分辨率高质量活细胞超高分辨率成像。在活细胞超高分辨率成像中不仅实现三维空间分辨率的全面提升，更能快速真实的捕获亚细胞结构的动态变化。产品特点&bull 60 nm的分辨率精确捕获快速动态过程&bull 灵活多样的物镜和成像方式，满足不同样品的需求&bull 高速图像采集模式，提高速度和实验效率应用领域&bull 活细胞快速动态超高分辨率成像&bull 固定样品的超微结构应用案例固定的小鼠睾丸联会复合体，三色荧光标记，蓝色为SYCP3 SeTau647，红色为SYCP1-C Alexa 488，黄色为SYCP1-N Alexa568，两通道间距离60nm，成像物镜：63x/1.4 Oil。样品来自Marie-Christin Spindler, University of Würzburg, Germany.Cos 7活细胞成像，Calreticulin-tdTomato 标记内质网（品红），EMTB-3xGFP标记微管（绿色），右图显示放大区域样品细节分辨率。

[产品简介]蔡司晶格层光显微成像系统Lattice Lightsheet 7采用先进的光束整形技术，产生比标准高斯光片薄得多的晶格状光片，从而以类似光片显微镜的成像速度提供更高的分辨率，能够以亚细胞分辨率进行活细胞成像。该系统允许使用标准样本载具，自动化程度高，简便易用，具有非常低的光毒性，因此您可以通过多维度成像连续数小时、甚至数天观察亚细胞结构和动态变化过程。您可以深入观察活体样本的动态变化 —— 轻松便捷超乎想象！[产品特点]&bull 操作非常便捷直接在标准样本载具上观察活体样本&bull 非常低的光毒性可以连续数小时、甚至数天观察活体样本的亚细胞动态变化&bull 近各向同性分辨率以真实比例显示三维细节&bull 快速多维度成像不错过盖玻片上任何值得关注的变化&bull 自动校准系统让您充分专注于实验[应用领域]&bull 活细胞成像，悬浮细胞及固定细胞多维度成像，高速亚细胞成像&bull 3D细胞培养，细胞团，类器官，囊肿，水凝胶中细胞等活体成像&bull 小型模式动物，斑马鱼，秀丽线虫，果蝇等胚胎细胞和亚细胞快速成像&bull 卵母细胞，3D实时成像&bull 膨胀化样品3D成像等生命科学领域研究人工诱导多能干细胞，其内源性表达mEGFP 标记的核纤层蛋白B1（AICS-0013）。图像来自Allen Institute for Cell Science，使用AICS-0031（LMNB1-mEGFP）成像。LLC-PK1 细胞正在进行有丝分裂。细胞表达为H2B-mCherry（洋红）和α-Tubulin mEGFP（青色）。活小鼠卵母细胞停留在中期II，线粒体（青色）、微管（洋红）和染色体（黄色）染色。样品由德国哥廷根MPI 的C. So 提供。

仪器简介： 基于离子源和碰撞室先进的设计，其专利G2离子光学系统可以输送更多的离子进入检测器。新型的HESI-II离子探针设计更强的去溶剂特性增强了高流速性能（1mL/min）；并且，赛默飞TSQ Vantage专利的HyperQua四级滤质器降低了化学噪音（H-SRM选项）. 当今许多LC-MS/MS串联液质联用系统称其具有高灵敏度，但由于其高的化学噪音水平，都只能承诺灵敏度，而牺牲了精密度、专属性和重现性。TSQ Vantage&trade 与上一代TSQ Quantum&trade 系列仪器相比，信噪比提高了10倍, 并远远超过了该领域其它的三重四极杆仪器。该仪器的卓越性能，来源于它在离子化效率和离子传输方面的主要的技术创新。 赛默飞世尔科技的TSQ Vantage&trade ，具有新型的S型离子光学透镜，这种透镜系统使用新型的静电场技术，去捕获几乎每一个离子，并有效地将其传输进入双曲面四极杆质量分析器。相比高压的、以Skimmer为基础的离子源设计，S型透镜设计具有显著的先进性，它可消除质量歧视，并降低昂贵的分子涡轮泵的气体负荷。这项创新设计，可保持更干净、更长的离子光学传输路径，同时保持了灵敏度。 另一项重要的创新是新型碰撞池的设计，它提高了10倍的SRM（选择反应监测）扫描速度，但没有增加Cross-Talk（记忆效应）。因此，TSQ Vantage&trade 可以在一次实验中，筛选分析多达3,000种化合物，远远超过了其它的串联液质联用系统。 这套新系统使小分子、生物分子及多肽领域的科学家能够检测超痕量的化合物，并具有极佳的精密度和重现性；对于数据完整性直至全部的药物研究，具有最小的风险。"赛默飞世尔科技的TSQ Vantage&trade ，为公司的工作提供了巨大的竞争优势，快速、可靠地通过法规评审，成功地转向下一代化合物，如生物仿真物。&rdquo 技术参数：灵感创新 第二代（G2）离子光学系统输送更多的离子至检测器, 高速度零串扰的G2碰撞室.双曲面四级杆降低化学噪音 加热电喷雾（HESI-II）适应更高流速S-透镜设计消除了质量歧视操作简便主要特点： 赛默飞世尔科技最新的TSQ Vantage&trade LC-MS/MS三重四极杆液质联用仪，比市场上其它同类产品要高出10倍的灵敏度，但不会随之增加噪音。新技术的突破使TSQ Vantage具有无与伦比的信噪比，同时，对于小分子、生物分子和多肽的定量，具有更好的重现性和精密度。 获得更高信号的直接好处是更高的实验精密度和准确度。利用稳定的新型离子源、第二代离子光学系统和双曲面四级杆、Thermo Scientific TSQ Vantage提供了最高的灵敏度和最低的化学噪音。 高速度零串扰的G2碰撞室 传统TSQ碰撞室的长直立设计可有效地实现零串扰。串扰通常在快速扫描时发生，如果产物离子具有相同的质量，则从上一个SRM离子对产生的残留信号会出现在下一个SRM信道中，从而导致假阳性响应。而G2碰撞室的设计在下一个前体离子进入之前，加速除去碰撞室中的产物离子，从而使得TSQ Vantage在完成最高速扫描的同时，保证零串扰。 离子源耐受性的新维度 S-透镜捕捉住富含离子的扩展气羽流，并高效集中离子流，将其送入高真空区域。外来的溶剂气体则在进入第一个射频场的多极杆之前就被从组环之间抽走，从而保证了系统比不采用该技术的系统更加清洁。 S-透镜设计消除了质量歧视，减少气体进入昂贵的涡轮分子泵的高真空区域，这一点比高压锥离子源是一个显著的进步。这一革新使离子光学系统通路更清洁，更长，同时保持了灵敏度。 耐受重现性 TSQ Vantage可以支持GLP要求的验证方法，经受住严格考验。不论您分析小分子或者生物分子，TSQ Vantage都可以为您在超低含量水平下提供一致、特异和重现性良好的结果。 将5日内的五个标准曲线叠加，用以验证高灵敏度生物分析实验的耐受性和重现性。尽管重复暴露在大鼠血浆蛋白沉淀样品中（超过1000个样品），帕罗西汀的分析实验仍然成功的完成，并具有稳定的精密度，优良的线性以及杰出的重现性。 在一个安全的数字化数据领域内工作的好处 完全着眼于世界未来发展最先进的由LCQUAN和Watson LIMS组成的 LC-MS/MS定量系统，Thermo Fisher致力于向您提供您在GLP研究中所需要的质量、安全和高效方面的所有需要。

产品简介蔡司晶格结构光超高分辨率显微镜Lattice SIM 5针对亚细胞结构成像进行优化，实现60nm分辨率高质量活细胞超高分辨率成像。在活细胞超高分辨率成像中不仅实现三维空间分辨率的全面提升，更能快速真实的捕获亚细胞结构的动态变化。产品特点&bull 60 nm的分辨率精确捕获快速动态过程&bull 灵活多样的物镜和成像方式，满足不同样品的需求&bull 高速图像采集模式，提高速度和实验效率应用领域&bull 活细胞快速动态超高分辨率成像&bull 固定样品的超微结构应用案例固定的小鼠睾丸联会复合体，三色荧光标记，蓝色为SYCP3 SeTau647，红色为SYCP1-C Alexa 488，黄色为SYCP1-N Alexa568，两通道间距离60nm，成像物镜：63x/1.4 Oil。样品来自Marie-Christin Spindler, University of Würzburg, Germany.Cos 7活细胞成像，Calreticulin-tdTomato 标记内质网（品红），EMTB-3xGFP标记微管（绿色），右图显示放大区域样品细节分辨率。

晶格码独有的红外在线浓度分析系统是利用红外线光谱经傅立叶变换进而能够分析样品浓度的在线光谱分析仪。该产品的光纤探头将FTIR变成了一个真正的原位测量仪器，让您实现之前无法达成的常规FTIR分析。利用我们独特的光缆设计，可以将FTIR用于一个传统的实验室规模的反应容器，或是自动化的实验室反应器中。产品特点? 多种探头可选：标准探头，耐高温/低温探头，耐高压探头? 全功能光谱软件，包括3D绘图、曲线拟合等常用功能，以及许多其他附加功能? 完整的光谱反应数据分析体系：红外光谱、拉曼光谱、紫外-可见光、近红外；简单趋势线；复杂趋势线；PCA/ITTR；三维残差分析v 在线浓度、过饱和度测量v 独特的光缆设计，适用于传统规模的反应容器，以及自动化实验室反应器等系统v 多种探头可选，耐高/低温、耐高压v 可视化形象表征和优化化学反应v 适用于多相液体混合体系，胶体等复杂体系v 自动记录数据，提高工作效率v 无需取样、稀释及备样

ST2722-SZ型四探针法粉体粉末电阻率测试仪产品信息名称：ST2722-SZ型四探针法粉末电阻率测试仪品牌：苏州晶格产品特点 ST2722型半导体粉末电阻率测试仪是四探针法测试粉末电阻率的测量仪器。 四探针法测试台设计符合符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。 四探针法同步压力连续测试粉末“电阻率-压强曲线，” 原厂专利产品，行业粉末电阻率标准测试方式。产品特写图 操作-加料准备 操作-加料完毕 操作-调节料杯容量控制加料量 读取-电阻率值和测试压强条件参数 二、概述 2.1基本功能和依据标准： ST2722型半导体粉末电阻率测试仪是运用四探针法电阻率测试仪与自动化粉末压片机相组合，测试粉末“电阻率-压强”特性曲线的集成化、智能化测量仪器。四探针法符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。2.2仪器成套组成：整套仪器有ST2722电阻率测试仪主机和SZ或SD型粉末压片机两大部分以及配套的电脑软件组成。 主机是整个系统电气控制显示主要部分，主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统单元以及压力、厚度显示单元、与PC机通讯单元等组成。压片机压片机由粉末标准容器、电极、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成。是粉末压片成型装置，用来装夹粉末（含高分子粉末和金属粉末等），进行压力施加（压片）和自动压力检测、高度检测。（以下简称压片机）。2.3优势特征： 1)测试仪设计，符合国标和行业规范，获国家专利。专利号：ZL201220082173.9 ST2722-SZ四探针法设计符合***新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。2)同步式连续多点测试，高效快捷、准确度高、重复性好。一次装料，电阻率、压强、高度同步式连续多点测试，可快速绘制粉末“电阻率-压强”曲线。行业推荐粉末电阻率标准测试方式。可避免传统异步式的先压片脱模后再四探针测试的缺项：误差大，重复性差，直至散块不能成形无法测试的问题。3)带智能化电脑软件.可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。4）USB通讯接口，通用性好、方便快捷。优于RS232或485方式，这些端口一般电脑都难配了！5）8档位超宽量程。同行一般为五到六档位。6）可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体化。操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数码键盘输入。7）可拓展功能：压片机可独立当普通压片机用，电阻率测试仪也可以增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪。2.6适用范围： 本仪器具有操作简便高效、测量精度高、稳定性好、重复性好，一机多用使用方便等特点。也是区别于以往旧款同类测试台新特点！ 本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。三、技术参数3.1.电阻率测量范围、分辨率电 阻 率：10.0×10-6～ k×200.0×103Ω-cm 分辨率1.0×10-6～ 0.1×103Ω-cm,k=1～103.2.电阻率量程划分及误差等级满度显示200.020.002.000200.020.002.000200.020.00量程KΩ-cmΩ-cmmΩ-cm基本误差±2%读数±4字±1.5%读数±4字±0.5%读数±2字±0.5%读数±4字3.3.数字电压表：⑴量程：10mV ～ 100 mV，自动⑵显示: 4位有效数字，显示999.9，小数点、单位自动显示3.4.数控恒流源8档宽量程电流输出：系统自动步进调整，直流电流0.1μA，1.0μA，10μA，100μA，1.0mA,10mA,100mA,1.0A共8档可调。3.5.粉末测试台部分参数：（1）试样成份：成份不限，但不得含有对测试台和电极有腐蚀作用的成份。（2）试样粒度：推荐以40目以下—60目以上（标准筛网），一般其他粒度也可！（3）料杯容积：截面：S=1.0cm2 高度：0～20mm可调,（4）自动高度测试单元，测量误差：±0.02mm。 四位有效显示数00.00～20.00mm，分别率±0.02mm。（5）自动压强测试单元，标准压强：P0=4Mpa±0.05Mpa。 压强量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可调。四位有效显示数00.00～20.00MPa，分别率±0.01 MPa。（6）、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。3.6.配套PC软件1 USB高速通讯接口。2带数据库方式存储数据，便于历史查询和第三方软件拓展共享。3自动生成excel形式的图表结合的测试报告,包含电阻率-压强曲线图形和详细测试数据。4带测试报告预览、编辑、打印功能。3.7.测试仪外形与重量前宽×长×总高=250mm×220 mm×540mm重 量=10Kg3.8.电源：功 耗：10W输入:220V±10% 50Hz3.9.本仪器工作条件为：温 度： 0-40℃相对湿度： ≥60%工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源。

泰思曼TXF1060悬浮高压电源系列高压电源是X光机专用电源，输出电压达到70kV功率300W和600W。TXF1060是整合了宽范围输入、小外形尺寸和多选择数字通讯接口的X射线系统。典型应用：塑料分选；晶格检验；薄膜测厚；矿物分析；X射线发生器；X射线衍射产品规格输入90～264VAC，47~63Hz。输出-20kV、-30kV、-40kV、-50kV、-60kV、-70kV六种最高电压输出可选。电压控制 本地控制电源可配置控制面板，在当地利用电位器调节输出。电压控制 远程控制电源配置有多种数字通讯接口，用户可选择使用所需数字接口，在上位机完成对电源的操作。发射电流控制 电源内部0~10V控制电压对应10%~100%输出电流。发射电流控制 外部遥控0~10V控制电压对应10%~100%输出电流。直流灯丝电源最大输出电流为5A可调，最高输出电压为10V。电压调整率 相对负载0.01%（空载到额定负载）。电压调整率 相对输入±0.01%（输入电压变化为±10%）。电流调整率 相对负载0.01%（空载到额定负载）。电流调整率 相对输入±0.01%（输入电压变化±10%）。纹波电压≤0.5%（20kHz）；≤0.1%（20kHz）。环境温度工作时0到+40℃。储存时-40℃到+80℃。工作温度20%~85%RH。稳定度≤25ppm/hour（预热2小时后）。外形尺寸长304.8mm，宽152.4mm，高120.65mm。高压输出连接器Claymount CA11（Mini75）。输入输出连接器DB9 RS232串口通讯、DB15本地控制面板接口、USB数字通讯接口、以太网数字通讯接口。

SZT-C型快速恒压四探针测试台产品介绍 图1.1 SZT-C型测试台结构示意图 SZT-C型快速恒压四探针测试台，主要有载物台（180mmX180mm净载物面结）、双轨垂直导向单元、测试压力调节单元、探头快速升降扳手(顶部戴红套部分)、探头连接板等单元！二、 使用方法2.1放置样品：将测试台上部操作扳手向上向后、向上升起测试台探头，如图1.1，将样品放在探头下方测试台板上，然后将测试台上部操作扳手向前向下，压下探头。如图1.2！2.2压力调整：在探头压下的状态下，可根据样品厚度及压力要求，调节测试台导轨支架中部螺杆上的螺母（先松开锁紧螺帽），观察探头探针压下程度，调节测试压力！（弹簧压缩量0～20mm,探针缩进量0～4mm,对应探头压力0～2.0K公斤），调好后，锁紧锁紧螺帽。如图 2.1和2.2.图2.1 测试压力调整螺母示意图

对结晶过程的深入了解和产品的优化需要对结晶过程的一些最关键（最基本）参数做在线测量，数据需要集成进行关联分析。本平台集成了结晶过程优化需要测量的基本的参数包括浓度（过饱和度）、粒度分布、形状（晶习）、晶型、浊度、温度和pH等。系统是开放式的，可集成其它PAT仪器。结晶条件可自动控制（温度和过饱和度的精密自动控制）。结晶器可选择不同尺寸。是产品研发和工艺放大的最佳助手。智能结晶实验平台配置编号产品名称产品简介(a1)2D Vision Probe探头式在线粒形粒度仪l 实时在线测量晶体粒形和粒度分布随时间的变化l 实时观察晶体的出现、晶形转换、无定形的形成、on-set、聚团、破碎等重要现象。对于结晶优化，例如决定加晶种的最佳时间等有帮助。l 可实时在线定量计算粒形和粒度分布(a2)NanoSonic探头式超声粒度仪l 实时在线测量颗粒的粒度分布，5纳米到3毫米。基本上可测到成核粒度，每5秒给出一个粒度分布。还没有其他仪器能够实时在线测量到纳米级l 给出的是真实粒度，不是由弦长推演出来的(a3)TurbidityProbe探头式浊度仪l 实时在线测量浊度，对于判断析晶点等有用(a4)JGM-FTIR探头式在线红外光谱仪l 浓度和过饱和度测量l 可视化形象表征和优化化学反应(a5)JGM-RM探头式在线拉曼光谱仪l 对结构相似的水合物、同分异构体、多晶型和转晶等的原位在线快速检定，及化合物组分的定量分析(a6)Crystal MPB软件l 自主开发的结晶过程模拟软件，模拟晶体粒形和粒度分布随时间和操作条件的变化。可用在线数据验证(a7)注结晶器带冷却装置温度计、pH计l 2升结晶器及配套温控、温度计及pH计(a8)SHAPE图像处理软件l 具有丰富的图像处理功能。可和(a2)在线应用，实时计算粒度分布等，也可离线应用。价格已经包含在(a2)中注：结晶器、冷却装置、温度计、pH计，您可直接购买，也可通过我们购买。可 选 配(b1)3D StereovisionNIl 三维成像

一、结构特征 M3手持式四探针测试仪主机 配ST2253-F01钨针探头测试硅片 配ST2558B-F01薄膜探头测试ITO膜 二、概述2.1基本功能和依据标准： M3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等国标并参考美国 A.S.T.M 标准。 2.2配套组成：标准配置由M-3型主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台当台式机使用。2.3优势特征：1美观适用：彩色流线型手持式面板、带防滑垫，符合人体工程学设计。适合手持式变动场合操作使用，也可以定制小型旅行手提箱包装，便于野外或旅行使用。2高精度：带完善厚度、形状修正功能，测试准确。同行中手持式多为简易程序，没有完整修正功能，无法修正误差。3宽量程：超宽五个档位，相当于中档台式机的量程，同行中手持式多为两到三个档位，测试范围有限，适应性不广。4操作简便、性能稳定：轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换，简便而且免除模拟定位器的不稳定易受干扰。5手动/自动一体化：6显示方式美观清晰：由高亮绿色数码和ＬＥＤ数字表头显示，不怕环境背景暗或野外强光；7待机和工作时间长（不小于两天），有大容量可充电锂电池电池供电，环保耐用。2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》1配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。3配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。4换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表》四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）测试台。二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。2.6适用范围：手持式使用，仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 。三、基本技术参数1.测量范围、分辨率电 阻： 0.010Ω～ 50.00kΩ, 分辨率0.001Ω～ 10 Ω电 阻 率： 0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm， 分辨率0.001Ω～ 10 Ω-cm方块电阻： 0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001Ω～ 10 Ω/□2.可测材料尺寸手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：直 径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.测量方位: 轴向、径向均可. 3.量程划分及误差等级（括号内为拓展量程）量程（Ω-cm/□）2.000（200.0ｍ）20.00（2.000ｍ）200.0（20.00）2.000k（200.0）20.00k（2.000k）电阻测试范围0.010～2.2002.000～22.0020.00～220.00.200～2.200k2.000～50.00k电阻率/方阻0.010/0.050～2.2002.000～22.0020.00～220.00.200～2.200k2.000～20.00k/100.0k基本误差±1%FSB±2LSB±2%FSB±2LSB4)充电器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电DC3.7V.5)外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm净 重：≤0.3kg

本系统是一种可以集探测器（多种量程可选）、卤素灯、各种类型光纤探头、光谱分析软件于一体的多用途近红外光谱仪，涉及石油化工、新能源、新材料、医学制药、农业、食品工业、环境行业等各个领域。对光谱采集、处理及预测模型建立，研发出一套完整的系统工程的方法，可在研究、诊断和过程控制中应用，PharmaVision NIR Probe是便携式，可取代FT-IR或同类技术。技术指标：v 产品型号：NIR Probe -1.1-1.4多种；v 测量范围：900-1700nm、900-2200nm、1100-2200nm、900-2500nm；v 光源：20W高功率，波长范围360-2500nm，提供稳定色温，寿命高达10000小时，可恒定电流，制冷风扇；v 光纤接口均采用SMA 905，狭缝标准25um，可定制。探测器参数： 型号PharmaVisionNIR-1.1PharmaVisionNIR -1.2PharmaVisionNIR -1.3PharmaVisionNIR-1.4规格尺寸:280 x280 x 270mm、重量:6千克检测器光栅InGaAs线性阵列波长范围900-1700 nm1100-2200 nm900-2200nm900-2500nm光学分辨率3nm5nm5nm 6.3nm积分时间8ms–120s8ms–1s8 ms–1s 8ms–30ms信噪比15000:110000:110000:17500:1A/D转换16bit功耗3A@5VDCUSB接口USB2.0光纤接口SMA905光纤接口产品特点：v 在线便携式，即插即用；v 光纤探头：单/双透射头、ATR衰减全反射多种类型、316不锈钢或哈氏合金等多种材料探管可选，探管尺寸可定制，光程可定制；v 光谱分析系统：模块化操作平台，实时测量与显示结果，GA、SVM等多种智能化学计量学算法，定性、定量分析、模型评价等完整的系统工程的方法；v 高性能光学平台，具有较低的电子噪声和多个光栅的选择；紧凑的平台设计，v 具有工业监控探头插入抽取清洗装置；v 为用户提供了一套完整和连续的过程监控解决方案。

本系统能够实现对颗粒的形貌和尺寸大小做实时的准确测量，进而加深对过程的了解和实现过程的优化控制及放大。除了固体结晶以外，对其他非固体的领域，例如气泡、泡沫、乳状液、液滴、聚合物、流场等刻画也具有极其广泛的应用前景。它适用于生产中对过程的研究，产品开发及其改进。特别适用于监测、优化和控制高颗粒浓度过程及非透明颗粒的生产过程。技术指标：v 测量范围：几微米到几毫米(与镜头放大倍数、相机等相关)v 测量方式：在线测量晶体形态、平均尺寸、颗粒大小分布v 测量浓度：可高达50%固体颗粒浓度(与颗粒形状相关)v 探头尺寸：长度0.2m、0.3m、2m、2.5m等，直径12mm或20mm，尺寸大小可定制，适用于实验研究和生产过程实时监测。v 工作温度：-20oC ~ 120oC产品特点：v 特殊设计的探头（相机/镜头/光源）可广泛适用于许多困难物系（尤其是非透明颗粒物系及高固体浓度）v 独特的光源设计，可有效防止颗粒沉积/粘结于探头上v 根据不同物系及客户要求，可设计不同方案（包括气体清理系统）v 强大的图像处理功能可实现颗粒多尺度分割，计算颗粒形状参数（主元素分析和傅立叶变换），聚类分析和定量产品/过程控制v 探头具有耐腐蚀性，能够对pH值1~12范围内的样品进行测量

该仪器通过重建晶体群的3D形状来产生晶体晶面生长动力学，用于结晶过程建模和优化控制，或利用形态学和多维群体粒数衡算模型放大。本产品适用于医药、化工、蛋白质、农药、材料、食品以及石化等领域，运用冷却、抗溶剂、pH值摆幅以及蒸发等技术进行结晶过程中，可实现精准的在线监测、优化、控制和结晶过程放大。它可以用于研究、产品开发和制造中的持续性生产过程的性能改进。技术数据测量范围2μm ~ 1000μm(与镜头放大倍数、相机等相关)测量浓度可高达50%固体颗粒浓度(与颗粒形状相关)测量方式在线测量晶体形态、平均尺寸、颗粒大小分布工作温度范围无特别限制 产品特点 ● 非浸入式设计，对样品毫无损伤● 自动处理多台摄像机得到的二维图像● 生成三维立体图像● 适用于小型反应釜、烧杯及管路等系统● 适用于固体颗粒、液滴及气泡等复杂体系● 能自由设定视频捕捉时间● 自动记录数据，提高工作效率● 实时在线分析图形并给出颗粒粒径分布● 无需取样、稀释及备样● 可针对客户需求特殊设计：粘稠物系、高/低温物系、高压物系等● 强大的图像处理功能：自主知识产权的图像处理软件，具有实用便捷的功能和高级的算法，对于各种像素低、质量差以及在线采集的图片，具有高效的处理方式，可以满足不同的分析要求

本系统可连接浸入或非浸入式光纤探头，对于低频振动检测优势明显。根据比尔定律，可做到化合物的定量分析，对结构相似的水合物或同分异构体等物质快速检定，在结晶过程中，可以鉴别多晶型，实时观察多晶型间转变、无定型向晶型转变。无需制样、直接原位在线测量。主要应用领域：生物科学、制药工程、法医分析、生化分析、农业与食品安全、环境科学等。

NanoSonic超声粒度分布仪，拥有专利技术，是国内先进的粒度分布的测量系统。其软硬件都经过专家独特设计，可以测量在不同悬浮液中颗粒的粒径分布及分散相的体积分数。它适用于在线无损测量，无需对样品进行取样或稀释处理。针对不同的应用，有多种独特设计的探头来满足客户的需求。其主要特点是快速准确、测量范围广。可应用于5nm至3000mm的颗粒粒度的测量。它对于颗粒无特殊要求，透明和不透明的都可以测量。它对溶液也没有特殊要求：水，油和其他有机溶剂都可以测量（对于腐蚀性溶剂，超声探头需特殊设计）。另外，NanoSonic还具有抗噪性好的特点，适用于生产车间等特殊环境。技术指标：v 测量范围：5 nm ~ 3000 mmv 测量方式：在线/离线测量悬浮液颗粒v 测量浓度：≤50% vol/volv 重复性误差：≤±0.5%（标准粒子D50偏差）v 准确性误差：≤±0.5%（标准粒子D50偏差）v 超声频率：35 MHz 和50 MHz 两种产品v 反射式探头：小巧、结构简单v 透射式探头：信号识别强v 流动样品槽设计，仅增加8cm不到的流程v 探管长度在5~70cm，直径15mm或22mm，可根据客户需求个性定制v 探头具有耐腐蚀性，能够对pH值1~12范围内的样品进行测量

在线便携式设备，可连接ATR衰减全反射探头，直接插入高浓度含固体颗粒的浑浊液，结合化学计量学模型，实现有机化合物的在线浓度、过饱和度测量和分子结构测定。可实现常规紫外分光光度计无法到达的效果。主要应用领域：生物科学、制药工程、生化分析、农业与食品安全、环境科学等。技术数据光谱范围200nm ~ 400nm探头工作温度-20℃ ~ 300oC工作压力范围≤69MPa探头材质316不锈钢（也可选用哈氏合金、钛、蒙乃尔合金）探头长度标准长度：305mm各种长度均可定制，适用于实验室和生产探头直径12mm（可定制）产品特点 ● 深度紫外光，可用于吸光度测量● 原位在线浓度和过饱和度测量● 快速、无损，连接ATR光纤探头，无需稀释实现即插即用，原位在线测量● 采用高信噪比光谱仪，准确反应吸收峰的位置和吸收强度● 高性能光学平台，具有较低的电子噪声，紧凑的平台设计，灵敏度高，高性能薄型背照式面阵CCD● 拥有先进的化学计量学建模软件可组合不同预处理及变量选择，形成可定性、定量分析的完整的系统工程的方法

技术特点▼l 能够测量小至1mm的晶体到或更大的样品l 各种样品架及输送夹具，用于线锯、抛光等l 侧晶方向标记选项l 无水冷却l 精度可达0.01°(视晶体质量而定)l 确定单晶的完全晶格取向l 使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量l 气冷式X射线管，无需水冷l 适合于研究和生产质量控制l 手动操作(没有自动化选项)晶体的方向是由反射位置决定的可测量材料的例子▼? 立方/任意未知方向：Si, Ge, GaAs, GaP, InP ? 立方/特殊取向：Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3 ? 正方：MgF2, TiO2, SrLaAlO4 ? 六方/三角：SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2(石英)，Al2O3(蓝宝石)，GaPO4, La3Ga5SiO14 ? 斜方晶系：Mg2SiO4 NdGaO3 ? 可根据客户的要求进一步选料 适合多种材料SDCOM的应用▼平面方向的标记和测量在晶圆片的注入和光刻过程中，需要平面或凹槽作为定位标记。切割过程中，晶片必须正确地对准晶圆片上易于切割的晶格面。因此，检查平面或缺口的位置至关重要。为了确定平面或缺口的位置，就需要测量平面内的部件。由于Omega扫描法可以在一次测量中确定完整的晶体方位，基于此，便可以直接识别在平面方向或检查方向的单位或缺口。DDCOM通过旋转转盘，可以将任何平面方向转换成用户指定的特定位置。在必须定义平面方向的情况下，这可以大大简化将标记应用到特定平面方向的过程。

产品名称：SrLaGaO4晶体基片产品简介：具有良好的钙钛矿结构超导体晶格匹配，钛酸锶稳定的结构使其适合低介电常数微波或高频应用技术参数：晶体名称 SrLaGaO4晶体基片成长方法 CZ介电常数 16-20M.P.oC 1600密度g/cm3 4.88粗糙度 5 A晶格失配 YBCO 5.7%结构晶格常数(A)tetragonal a=3.843,c=12.680产品规格：100 001 公差：+/-0.5度 单抛 双抛 10x10x0.5mm 5x5x0.5mm 可按客户要求定制方向和尺寸。标准包装：1000级超净室，100级超净袋 相关产品：A-Z系列晶体列表清洗机 基片包装盒系列划片机旋转涂层机

ST2643型超高阻微电流测试仪简介（绝缘材料、导静电材料体电阻率表面电阻率测试仪） 一、 结构特征 二、概述 2.1基本功能和依据标准：ST2643型超高阻微电流测试仪（高阻型体电阻率表面电阻率测试仪）是运用环形三电极法原理测量固体片状、薄膜状导静电材料、绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的多用途综合测量装置，也可作为超高阻计或微电流测试仪使用。该仪器设计符合国家标准GB/T 1410－2006/IEC 60093:1980：《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》。 2.2 仪器成套组成：由ST2643高阻仪主机、标配的环形三电极、连接线缆等部分组成。主机主要由高压电源、微电流检测计、嵌入式单片机系统组成。 2.3优势特征： 操作方式数字化，所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，操作简便、性能稳定、寿命长，克服传统机械开关功能单一、故障率高、体积大等缺点。 测试过程自动化，电压、电流量程转换，全部数字化电子开关，可手动/自动任选，避免传统机械开关操作繁琐，特别是不能自动化、人工数据后期处理的缺点。 结果显示数字化、多样化，由数字表头直接显示，避免传统模拟表头读数误差。既可以显示体积电阻率、表面电阻测试结果，也可显示测试电压、测试电流测试条件，内容全面。 测试安全保护，测试高压独立操作开关，测试电流过流保护，有效保护仪器和操作者误操作的安全。 便于功能拓展，选配薄膜测试探头，可以测试高阻薄膜，选配夹具可以当高阻计和微电流表使用。也可测试高阻液态电阻率。 2.4电极或夹具选配：仪器配备标准环形三电极，适用于一般片状、薄膜状样品，客户也可自备或定制电极以扩大应用场合，如从圆柱形外表、筒状内壁测试电阻率和表面电阻，测试高阻元器件，测试微电流。 仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。 2.5适用范围：仪器适用于工矿企业、科研院所对于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。也可用于微弱电流测量如光电效应和器件暗电流测量。 三、基本技术参数（以标准环形三电极为准） 1. 常规测量范围、分辨率（量程可向上或下扩展1～2个数量级） 电 阻： 1.0×103～ 2.0×1011 Ω, 分辨率0.01×103～ 0.01×1011 Ω 电 阻 率： Kv×( 1.0×103～ 2.0×1011) Ω-cm, 分辨率0.01×103～ 0.01×1011 Ω-m， K=1～1000，修正系数 方块电阻： K□× (1.0×104～ 2.0×1011) Ω/□, 分辨率0.01×103～ 0.01×1011 Ω/□， K□=34.5，修正系数 2. 量程划分及误差等级 量程(电阻)102~103103~106106~109109~10101010~1011---单位电阻Ω，电阻率Ω-cm，方阻Ω/□基本误差±8%±5%±5%±15%±25%-- 3 工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤20W 4 外形尺寸：W×H×L=280mm×90mm×275mm 净 重：≤3.0kg 5 环形三电极和可测样品尺寸 电极是由三个独立的单元组成: 5.1中心为圆柱体,直径为50mm,高度是40mm。 5.2圆柱体外为一圆环,圆环内径为60mm,外径为80mm, 高是40mm。 5.3底为一平板, 直径为100mm的圆板，厚度一般为10mm。 可测样品尺寸大于直径90mm，厚度小于10mm。

ST-11A型导电类型鉴定仪简介 一、结构特征二、概述 ST-11型PN类别鉴定仪是运用整流法原理鉴定半导体导电类型的仪器，同时兼备测试重掺的功能。 本仪器由主机和探头等部件组成。导电类型P或N由数码管显示，是否重掺由发光管和蜂鸣器提示，探头由四种形式，可根据需要选用。探针采用即插式，方便更换。 本仪器关键器件采用专用集成电路，并采用优质贴片工艺，仪器具有鉴定范围宽、灵敏度高、稳定性好、使用方便等特点。适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校等对半导体材料的PN类型鉴定及重掺判别的场合。三、技术参数1. PN鉴定范围：ρ=0.01～1000Ω-cm重掺判别界限:ρ=0.01～0.2Ω-cm 可调 (初始设定为0.1Ω-cm)2.可测半导体材料尺寸：PN鉴定 ：可接触面 Smin= 3mm*5mm重掺判别：可接触面 Smin= 3mm*5mm (三针探头或夹子)Smin= 3mm*3mm (二针探头或夹子)Smin= 2mm*2mm (单针探头)3.探头参数：⑴探针间距： 1.8mm⑵探头类型： 三针式、二针式、单针式、夹子式5)工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W6)外形尺寸：W×H×L=28cm×13cm×23cm净 重：≤1kg

ST2241接地电阻、土壤电阻率测试仪 一、结构特征 二、概述 2.1基本功能和依据标准：ST2241接地电阻.土壤电阻率测试仪是现场测量接地电阻、土壤电阻率、接地电压、交流电压的接地系统勘察、验收综合测试仪器。符合国标GB/T 17949.1-2000《接地系统的土壤电阻率、接地阻抗和地面电位测量导则1部分：常规测量》。 2.2 仪器成套组成：ST2241接地电阻.土壤电阻率测试仪，由主机、电脑监控软件、土壤分层分析软件、测试线、辅助接地棒、通讯线等组成。 2.3优势特征：1) 测试仪设计，符合国标和行业规范，符合国标GB/T 17949.1-2000《接地系统的土壤电阻率、接地阻抗和地面电位测量导则1部分：常规测量》2) 带智能化电脑软件，可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。3）USB通讯接口，通用性好、方便快捷。优于RS232或485方式！4）可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体化。操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数码键盘输入。避免传统机械开关式性能不稳、寿命有限等缺陷。7）可拓展功能：测试仪除了当土壤电阻率测试仪用，电阻率测试仪也可以增配四探针测试台、探头拓展为交流四探针测试仪。 2.4适用范围：其广泛应用于电力、电信、气象、油田、建筑、防雷及工业电气设备等的接地电阻、土壤电阻率、接地电压、交流电压测量。三、技术参数3.1．基准条件和工作条件影响量基准条件工作条件备注辅助接地电阻值＜100Ω＜100kΩrC、rP测R时电极间距a＞5da＞5d----测ρ时电极间距a＞20ha＞20h----环境温度23℃±1℃-10℃～40℃----环境湿渡40%～60%＜80%----3.2．一般规格参数功 能二三四线测量接地电阻、土壤电阻率；接地电压、交流电压测量 电 源DC 8.4V (2节充电锂电池)量 程接地电阻：0.00Ω～100.0kΩ土壤电阻率：0.00Ωm～1kΩm（再乘以系数2πa）测量方式精密4线、3线法测量、简易2线测量接地电阻短路测试电流AC ±20mA max开路测试电压AC ±20V max测试电压波形方波（1KHz）电极间距范围可设定1m～10m标准测试线4条： 20m长2条，10m长2条简易测试线2条：黄色1.0m，绿色1.0m各1条辅助接地棒4根：φ10mm×150mm线路电压AC 600V以下测量USB接口具有USB接口，软件实时监控，存储数据可以上传电脑，保存打印 ，土壤分层分析等功能通 讯 线USB线1条，长1.5m辅助接地测试具有辅助接地电阻值测试功能，但要满足 R+rC R+rPR是测量的接地电阻工作温湿度-10℃～40℃； 存放温湿度-20℃～60℃； 3.3．基准条件下基本误差及性能指标测量功能测量范围精度分辨力接地电阻(R)0.200Ω～2.000Ω±5%rdg±5dgt0.001Ω02.00Ω～20.00Ω±2%rdg±3dgt0.01Ω020.0Ω～200.0Ω±2%rdg±3dgt0.1Ω0200Ω～2000Ω±2%rdg±3dgt1Ω02.00kΩ～20.00kΩ±5%rdg±5dgt10Ω土壤电阻率(ρ)根据R的测量范围而定(ρ=2πa(R÷100) a:1 m～100m；π=3.14)(ρmin= 1.256Ωm ,ρmax= 125.6KΩm )接地电压AC 0.0～600V±2%rdg±3dgt0.1V注：1. rC或rP较大时的附加误差≤±3%rdg±5dgt。(rC max＜50kΩ；rP max＜50kΩ)3.4.外形尺寸：仪器主机：长×宽×总高=250mm×130mm×50mm旅行箱：长×宽×总高=400mm×300 mm×150mm重 量=10Kg3.5.充电器电源：功耗：输入:220V±10% 50Hz查看《ST2241接地电阻、电阻率测试仪技术使用说明书》

技术特点▼确定单晶的完全晶格取向 使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量 立方晶体任意未知取向的测定 特别设计用于点阵方向的方位设置和标记 气冷式x射线管，无需水冷 适合于研究和生产质量控制 所有想要的晶体方向参数在5秒内一次旋转中被捕获可测量材料的例子▼立方/任意未知方向：Si, Ge, GaAs, GaP, InP 立方/特殊取向：Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3 正方：MgF2, TiO2, SrLaAlO4 六方/三角：SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2(石英)，Al2O3(蓝宝石)，GaPO4, La3Ga5SiO14 斜方晶系：Mg2SiO4 NdGaO3 可根据客户的要求进一步选料DDCOM的应用▼平面方向的标记和测量在晶圆片的注入和光刻过程中，需要平面或凹槽作为定位标记。切割过程中，晶片必须正确地对准晶圆片上易于切割的晶格面。因此，检查平面或缺口的位置至关重要。为了确定平面或缺口的位置，就需要测量平面内的部件。由于Omega扫描法可以在一次测量中确定完整的晶体方位，基于此，便可以直接识别在平面方向或检查方向的单位或缺口。DDCOM通过旋转转盘，可以将任何平面方向转换成用户指定的特定位置。在必须定义平面方向的情况下，这可以大大简化将标记应用到特定平面方向的过程。

产品名称：铝酸锶镧(LaSrAlO4)晶体基片产品简介：铝酸锶镧晶体从熔点温度直至低温下均无孪晶及相变，与高温超导体YBCO具有相同的结构，001面与其它衬底相比与YBCO001具有适中的晶格失配（2.5~3.5%），同时该晶体的热膨胀系数比其它钙钛矿结构的晶体低，可以在较低的温度下沉积薄膜从而改善晶格失配及减少应力。技术参数： 晶体结构 四方 晶胞参数? a=3.756 c=12.636 熔点℃ 1650 密度g/cm3 5.92 介电常数 16.8 生长方法 提拉法产品规格：常规晶向：001, 100 公差：+/-0.5度常规尺寸:10x10x0.5mm, 10x5x0.5mm抛光情况：单抛或双抛，Ra5A可按客户要求定制方向和尺寸。标准包装：1000级超净室100级超净袋包装 相关产品： Other SrLaAlO4 LaAlO3MgO LSAT基片包装盒系列 NdCaAlO4 NdGaO3 SrTiO3YSZ旋转涂层机

技术特点▼u 全自动的垂直三轴衍射仪，使用Omega扫描和Theta扫描方法以及摇摆曲线测定各种晶体的方向。配备可容纳长达450毫米和30公斤的样品及样品架；u 自动化测量，并通过定制软件进行访问。利用Omega扫描，可在晶体旋转(5秒)中确定完整的晶格方向。Theta扫描更加灵活，但每次扫描只产生一个方向分量；u 精确地确定倾斜角度，Theta扫描精度达到0.001°；u 模块化系统，并配备了多功能需求扩展。 行业应用▼具有多种几何形状和大小的样品 根据材料和产量的不同，晶体样品可以表现出多种尺寸和几何形状。Omega/Theta X射线衍射仪可以处理大块钢锭或钢球和实验合成的微小晶体。非线性光学材料(NLO)：晶体质量和定向 与典型的无机金属、半导体和绝缘体相比，NLO材料具有更复杂的晶体结构和更低的对称性。这些晶体通常被切割成尺寸在毫米范围内的小棒，而对这种小晶体的表面质量测定常常可以揭示晶体内部的结构缺陷和裂纹。通过对Omega/Theta的设计进行的一些特殊的修改，我们的定向仪能够确定许多NLO材料，如LBO, BBO和TeO2的的晶向。平面方向的标记和测量 Omega扫描能够在一次测量中确定完整的晶体方位。因此，平面方向可以直接识别。这是一个有用的功能，以标记在平面方向或检查方向的单位或缺口。 摇摆曲线：晶体表面评价 摇摆曲线测量对晶格内的缺陷和应变场很敏感。将这种技术与映射阶段相结合，可以扫描晶体表面并确定缺陷区域。通过装备一个具有映射阶段和双晶体的Omega/Theta衍射仪，可以直接测量晶体表面某一反射的摇摆曲线映射。如下图显示的结果，这种映射的碳化硅晶圆片的内部呈现出两到三倍于摇摆曲线的FWHM。这可能与表面划痕或生长缺陷有关。

产品型号： SrTiO3钛酸锶单晶基片产品简介：SrTiO3 单晶与多种钙钛矿结构材料晶格匹配好，它是高温超导薄膜和多种氧化物薄膜优质的衬底材料，同时还广泛应用于特殊光学窗口及高质量的溅射靶材。科晶公司拥有独立全套生产线，从高质量SrTiO3粉末，SrTiO3单晶到多种尺寸外延抛光基片，可为全球提供高质量低价位的SrTiO3单晶及基片。技术参数：晶体结构立方 晶格常数a=3.905?生长方法火焰法熔点2080℃密度5.175g/cm3莫氏硬度 6 Mohs热膨胀系数9.4×10-6/℃介电常数~ 300 损耗正切~5x10-4 @ 300K , ~3 x10-4 @77K颜色及外观透明（根据退火状态有时有轻微的棕色）无孪晶化学稳定性不溶于水产品规格：100, 110, 111公差：+/-0.5度dia30x0.5mm, 10x10x0.5mm, 10x5x0.5mm，5x5x0.5mm单抛或双抛，Ra5A；可按客户要求定制方向和尺寸。标准包装：等离子清洗器专业清洗（详情请点击），1000级超净室，100级超净袋封装, 相关产品： SrTiO3LSATLaAlO3MgO旋转涂层机 SrLaAlO4NdCaAlO4SrTiO3YSZ基片包装盒系列

产品名称： 硅酸铋(Bi12SiO20)晶体基片产品简介：硅酸铋(Bi12SiO20)晶体基片简称(BSO)是声表面波器件、体声波器件、全息记忆以及电光器件的极好材料. 技术参数：晶向：100,110晶体结构：立方晶格常数：a=10.146?生长方法：提拉法熔点：930℃密度：9.2g/cm3莫氏硬度：4.5 Mohs介电常数：εS11/ε0 42.7、εT11/ε0 47.5弹性劲度系数( x1011N/m2)：CE11 1.33、CE44 0.25压电应变常数 (C/m2 )：e14 1.01透过范围 (nm)：470~7500电光系数 (x10-12m/V )： r41 5折射率： 2.45 @ 632.8nm折射率梯度 (x10-5/cm )： ≤5 @ 632.8nm旋光性 (mm-1 )： 左边20° @632.8nm透光性 (%)： 69 @632.8nm 产品规格：常规晶向：001、100晶向公差：±0.5°常规尺寸：10x10x0.5mm；25x25x0.5mm； 30x30x0.5mm 50x50x0.5mm；抛光情况：细磨、双抛 注：可以根据客户要求提供特殊的尺寸及方向。 标准包装：1000级超净室，100级超净袋或单片盒封装

产品名称：钛酸锶(SrTiO3)双晶基片产品简介：公司为中国唯一可以批量制作双晶产品的单位。可提供SrTiO3, LaAlO3, LSAT双晶基片，用于超导SQUID器件，广泛用于心磁，共振等领域。技术参数： 晶体结构立方 晶格常数a=3.905?生长方法火焰法熔点2080℃密度5.175g/cm3莫氏硬度 6 Mohs热膨胀系数9.4×10-6/℃介电常数~ 300 损耗正切~5x10-4 @ 300K , ~3 x10-4 @77K颜色及外观透明（根据退火状态有时有轻微的棕色）无孪晶化学稳定性不溶于水产品规格：角度：10度，24度，36度等尺寸： 10x10x0.5mm， 10x5x0.5mm， 5x5x0.5mm单抛，Ra5A注：可根据客户需求定制相应的尺寸和方向标准包装：1000级超净室，100级超净袋或单片盒封装 相关产品：Thin Films A-ZCrystal wafer A-Z等离子清洗机基片包装盒系列切割机薄膜制备设备

弗莱贝格DDCOM（台式X射线晶体定向仪）采用Omega扫描方法，可以进行超高速的晶体定向测量，用于确定各种晶体的取向。技术特点▼l 方便快捷的晶圆检测l 用于科研 & 研发，小型实验工厂l 适用多种可测量材料l 重量轻、成本低l 手动处理样品工作原理▼ 从样品台底部测量- 用于晶锭、晶圆、芯片的检测- 控制切割、研磨、抛光等过程超高速Omega扫描方法▼l 比Theta扫描方法快200倍l 自动评估三维完整的晶格方向l 在5秒内测定整个晶体的方位紧凑，用户友好和成本效益▼l 易于移动和轻量级的桌面设计l 样品处理方便，操作方便l 空气冷却x射线管能耗低，运行成本低(无需水冷)有效的质量控制流程▼l 用于标准研究和工业工作流程l 晶体方位设定及标示l 预编程立方晶体参数l 先进方便的软件l 精度高，例如高至(1/100)°控制切割、研磨和抛光▼ l 单晶的完全晶格取向l 适用于各种尺寸和重量范围大的独特材料，如：2-12英寸的晶圆片和20公斤以下的晶锭 技术参数▼X-ray 源30 W气冷式x射线管，铜阳极 检测器两个闪烁计数器 样品架精密转台，设定精度0.01°，工具定义样品定位和标记尺寸600 mm × 600 mm × 850 mm重量80 kg电源100-230 V, 100 W，单相室温要求≤ 30° C

品牌：卡尔蔡司型号：Axio Imager M2m制造商：德国卡尔蔡司公司经销商：北京普瑞赛司仪器有限公司产地：德国 ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天，ZEISS仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品及其解决方案。通过我们不断改进的显微分析技术，我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观分析世界的道路。 总体描述蔡司最新推出的裂变径迹显微分析系统，实现智能自动化操作，对两个样本对应区域进行自动镜像精准定位、对比统计；能自动完成矿物颗粒分析、径迹数目统计、测量径迹与C轴角度、测量Dpar、Dper值，依据自发径迹密度和诱发径迹密度计算裂变径迹表观年龄。系统还可为客户提供岩矿分析等其他研究工作。 产品特点 ◆最佳优化的操作理念 ◆拥有更高衬度和更高分辨率的新型光学系统◆全自动Z轴自动聚焦模块 ◆保证最大稳定性和免振动工作的创新设计 ◆统计辐照单矿物的裂变径迹数，分析计算矿物表观年龄，并模拟地质体热演化历史 技术参数硬件光学系统：ICCS光学系统1、 专业分析物镜：5X、10X、20X、50X、100X2、 自动扫描台：行程130X85mm，步距为 0.1μm，重复精度小于1.0μm3、 变倍转换器：1.25X,1.6X4、 图像采集：彩色数码冷CCD:500万像素，信实时采集，同步捕捉图像，传输速度快，同时显示。5、 分析系统：自动识别待测对象，自动定位及查找功能，自动完成颗粒数目统计、测量径迹与C轴角度、能测量Dpar、Dper值等。所有的测试及结果（图片、表格、报告）均自动保存至数据库，可随时调用并返回当时的测量参数，保证可追溯测定结果；用途矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹，测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度，可以确定矿物的年龄。此法用样量少，可用样品种类多，测年范围可由数年到几十亿年，特别是在5万～100MA年期间内，测年效果较其他方法为好，是第四纪地质年代测定的重要方法之一。 组成蔡司全自动科研级显微镜蔡司Axio vision强大分析软件 自动扫描平台 Relocation功能自动物镜转换器 ManualMeasure功能自动模块盒 AutoMeasure功能自动光强控制管理 应用矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹，测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度，可以确定矿物的年龄。此法用样量少，可用样品种类多，测年范围可由数年到几十亿年，特别是在5万～100MA年期间内，测年效果较其他方法为好，是第四纪地质年代测定的重要方法之一。其中，统计受热中子照射的磷灰石、锆石等单矿物的裂变径迹数，可计算地质体的退火年龄；测量自发裂变径迹长度，统计裂变径迹长度分布，可计算地质体热演化历史；并用于观察透明或不透明矿物、岩石、包裹体的结构等岩相学特征。 原理1.理论依据根据矿物中 U、Th放射性同位素自发裂变碎片的径迹而计时的一种方法。径迹数目与矿物年龄成正比。矿物中能产生裂变径迹的重核有 238U、235U和232Th。它们的自发裂变半衰期分别是 1.01×1016年、3.5×1017年和大于1021年。所以天然样品中238U的裂径迹约占99.97%以上，而235U和232Th的裂变径迹在年龄测定中可忽略不计。 若假定自发裂变径迹在矿物中的分布是均匀的，则单位体积内的裂变径迹数目(C)与U含量、矿物存在时间及U的自发裂变常数成如下关系裂变径迹法式中238U为每立方厘米样品中238U的原子数,λf为238U的自发裂变常数（6.85×10-17/年），λ为U的总衰变常数,t为矿物年龄。 自然状态的裂变径迹非常细小。通过选择适当的化学试剂在一定条件下对矿物磨光面进行腐蚀处理(蚀刻)，蚀刻后的径迹,在显微镜下可放大到200～1000倍。若自发裂变径迹和诱发裂变径迹（即通过热中子照射产生的径迹）的蚀刻条件完全相同，则裂变径迹法计算年龄的公式为裂变径迹法式中ρs为在蚀刻表面观察到的径迹密度,ρi为蚀刻后看到的诱发裂变径迹密度,σ 为235U的热中子诱发裂变截面(582×10-24平方厘米),Φ为热中子剂量，I=238U/235U=137.88。 应用此公式计算年龄时须满足下列要求：①自发裂变的半衰期是恒定的；②238U/235U比值是一个常数 ③所有的自发裂变径迹是238U产生的,而所有的诱发裂变径迹都是235U经热中子照射诱发产生的 ④自发裂变径迹和诱发裂变径迹的蚀刻条件相同；⑤样品形成以后保持封闭体系。 裂变径迹法测定年龄的样品适应性广，只要样品中产生的自发裂变径迹密度大于1～10／平方厘米,均可选用。如磷灰石、榍石、锆石、白云母等。 2. 解决方案（1）ZEISS显微镜所配的AxioVision软件具有强大的图像拍摄和处理功能，可完成裂变径迹显微镜镜下图片拍摄。（2）AxioVision软件模块中的FissionTrack模块，专为裂变径迹应用开发，可满足裂变径迹测量的各种需求。该模块包含三大功能：针对互为镜像样品定位和查找问题，Relocation功能可以实现自动化的样品镜像定位。针对裂变径迹长度、角度等数据的测量问题，ManualMeasure功能实现简单高效的在线测量功能，并自动将测量数据按照指定格式，导出为EXCEL表格。针对裂变径迹颗粒数量、面积等数据的统计问题，AutoMeasure功能实现自动化的统计，包含数十项可选的颗粒数据描述。