生物器件

DSR300系列微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑，实现百微米级探测器的*对光谱祥响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是微纳器件研究的优选。 功能：? 光谱响应度? 外量子效率? 单色光/变功率IV；? 不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）? 不同偏压下的IT曲线? LBIC，Mapping? 线性度测试? 响应速率测试 微纳器件光谱响应度测试系统主要技术参数显微镜头标配：10倍超长工作距离物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：350-800nm选配：1，50倍超长工作距离消色差物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：480-1800nm 2，15倍紫外物镜，工作距离大于8.5mmNA值：0.32光谱范围：250-700nm 3，50倍超长工作距离紫外物镜，工作距离大于12mmNA值：0.42光谱范围：240-500nm 4，40倍反射式长工作距离工作距离大于7.8mmNA值：0.5光谱范围：200nm-20um光斑中心空心光源选配光源1、半导体激光器波长：405nm，532nm，633nm，808nm，980nm可选不稳定性：＜1% 2、皮秒脉冲激光器波长：375nm，405nm，488nm，785nm，976nm可选脉宽：100ps频率：1-20M Hz 3、氙灯光源光谱范围：250nm-1800nm不稳定性：＜1% 4、超连续白光激光光源光谱范围：400-2400nm频率：0.01MHz-200MHz脉宽：100ps光谱仪焦距：300mm；相对孔径：f/3.9；光学结构：C-T；光谱仪分辨率：0.1nm；倒线色散：2.7nm；波长准确度：±0.2nm波长重复性：±0.1nm扫描步距：0.005nm狭缝规格：圆孔抽拉式固定狭缝，孔径：0.2mm,0.5mm,1mm,1.5mm,2mm,2.5mm,3mm；三光栅塔台；光栅配置：1-120-300、1-060-500、1-030-1250，光栅尺寸：68×68mm6档自动滤光片轮，光谱范围200-2000nm；内置电动机械快门，软件控制快门开关；杂散光抑制比：10-5探针台配置4个探针座，配20/10微米针尖探针2米三同轴电缆，漏电流小于1pA。真空吸附样品台。探针座：ＸＹＺ方向12ｍｍ调节行程，0.75uｍ调节分辨率，0-30°调节探针角度。LBIC MaappingXY方向行程50mm，分辨率5um。数釆v 锁相放大器斩波频率：20Hz~1KHz；频率6位显示，2.4英寸屏，320×240液晶显示；电压输入模式：单端输入或差分输入；电压、电流两种输入模式； 满量程灵敏度：1nV至1V；电流输入增益：106或108V/A；动态储备：＞100dB；时间常数范围：10μs至3ks； v keithley2612B量程：100nA/1A最小信号：1nA本地噪音：100pa分辨率：100fa通道数：2 v keithley2636B量程：1nA/1A最小信号：10pA本地噪音：1pa分辨率：10fa通道数：2制冷样品台温度范围：-196℃-600℃，（-196℃需要选择专用冷却系统）全程温度精度/温度性：0.1℃/＜0.01℃光孔直径：2.4mm样品区域面积：直径22mm两个样品探针，1个LEMO接头（可增加至1探针）工作距离：4.5-12.5mm气密样品腔室，可充入保护性气体独立温度控制响应速率测试示波器型号：MDO32模拟带宽100MHz采样率5GS/s记录长度10M时间范围：uS-S，需要配合调制激光器使用时间范围：10nS-S,需要配合皮秒脉冲激光器使用 三维可调高稳定探针台结构，方便样品位置调节。内置三路半导体激光器或者两路光纤激光器，外置一路激光光路。可以引入可调单色光源，进行全光谱范围的光谱响应度测试。测试功能曲线：40um光斑@550nm@50倍物镜200um光纤 70um光斑@550nm@50倍物镜400um光纤5um光斑@375nm皮秒激光器@40倍物镜 紫外增强氙灯和EQ99光源的单色光能量曲线，使用40倍反射式物镜，300mm焦距光谱仪，光谱仪使用1200刻线300nm闪耀光栅，光斑直径大小80um。

该测试方案可适用于多数半导体器件的测试，以五种器件为例：场效应晶体管式传感器、电阻型二极管式传感器、电阻式存储器、生物器件脉冲式和电容测试。其他要求为系统漏电小于10-13（100fA）。测试需求整体可以归纳为微纳传感器件的IV、脉冲IV 和CV测试，漏电需求为100fA。整体系统组成为微纳器件测试探针台和半导体参数分析仪。可测器件器件1：场效应晶体管式传感器器件2：电阻型二极管式传感器器件3：电阻式存储器器件4：脉冲式（输入脉冲电压，测量电流值）器件5：电容测试欢迎与我司联系了解详情，可按需定制系统。

INFORS 台式旗舰型生物反应器INFORS 台式旗舰型生物反应器主要特点l 采用X－DDC微处理系统，彩色触摸屏控制显示方式，操作面板可以随意移动，可以添加发酵单元。可监控搅拌 （30-300rpm），温度 （0-70℃），pH （2-14） ，pO2 （0-99%），质量流量，消泡，补料，气体混合等各项参数。l 更多拓展控制：可增至24个参数，浊度，生物量、出口气体分析，（CO2\O2）、质量（连接天平），压力，葡萄糖，甲醇等。l 罐体规格选择：2.0L/1.0L；3.6L/2.5L；7.5L/5.0L；10L/7L；13L/10L。l 采用加热套控温或玻璃夹套控温，温度范围：玻璃夹套控温：冷却介质温度+5℃－60℃；精度0.1℃；加热套控温：冷却介质温度+5℃－95℃；精度0.1℃ 1.采用一体化离位灭菌方式，轻松拆卸安装，减少染菌概率。2.pO2菜单可与各个参数控制，用户可根据实验条件自定义级联参数与级联优先级，可设定横向级联或者纵向级联准确控制pO23.细胞培养采用机械搅拌，转速30-300rpm，细胞培养专用Marin搅拌桨。4.存储卡快速记录所有设定参数与图形，便于用户下次实验直接调用，保证关键实验数据的安全5.Labfors5 的控制系统可以同时控制6台Labfors 5的主控单元。6.4个高精度自动蠕动泵，也可以手动控制，一体化轻松拆卸、安装，可完成高温高压灭菌，更大节省操作时间，所有的泵都可编程计数，可以设定一个周期的0-99％的时间精密控制。可根据需要增至5个。进样量17.9ml/min。7. 进气方式：转子流量计控制气体流量，可以选择质量流量计准确计量与控制进气量，可以选择单一气体（空气）或者气体混合站（Air+O2+N2+CO2+Headplace Air），进气及出气口过滤器为0.2um膜过滤器。 8.全新无菌采样系统，可高温高压灭菌，并有单向阀特殊设计，摆脱了采样过程易染菌的苦恼。9..4Infors的Iris控制软件实时记录生物反应过程,支持所有参数的在线监测和远程，同时具有实时曲线，除基本过程监控手段外，IRIS软件还可以进行编程控制，可以通过一个参数、报警信息、接种时间等条件的变化，反馈控制另一个参数。更有独特的跟踪发酵功能，该功能可将之前某次发酵的过程完全重复再现，更好的完成重复发酵的目的。可与尾气分析仪联用，通过添加计算参数，实时显示CER\OUR\RQ\KLA等发酵过程参数。10.高集成系统，超小空间利用。标准规格： 占用面积: 422 x 424 mm；包含基本供气系统和相应管路的尺寸参数罐体类型硼硅玻璃罐体及316L 不锈钢罐盖温度玻璃夹套控温：冷却介质温度+5℃ ~70℃；精度0.1℃加热套控温：冷却介质温度+5℃ ~95℃；精度0.1℃搅拌30~300rpm，精度±1rpm，Marine 搅拌桨（细胞培养专用）通气中央流量控制，可选配质量流量计进行准确控制灭菌一体化离位灭菌蠕动泵4 台，每台可达进样量17.9mL/min，可0-99% 控制，可以0.1 秒步进，根据需要增至5 台pH可灭菌pH 电极，pH 控制： 1 ～ 14，精度0.01PO2可灭菌极谱型溶解氧电极，放大器带自动温度补偿，DO 控制:0 ～ 99.9%，精度0.1%消泡智能化消泡电极，自动识别意外泡沫其他全套采样设备，安装启动包，售后服务包等

定制聚合物光学器件-CNC加工 GS塑料光学在提供由专业聚合物制成的定制 CNC 加工光学元件或窗口方面有着悠久的历史。我们的团队将使用我们的 CNC 加工定制型材以满足您的特定需求。对于某些类型的平面窗口和平视镜，使用低内应力铸造材料并将其加工成适当的边缘几何形状是良好的解决方案。我们的团队为您提供定制 CNC 加工光学器件方面的专业知识，以及金刚石车削和成型镜片、反射镜和窗口。 部分定制光学市场医用光学 腹腔镜和关节镜等医疗器械可以使用聚合物单透镜和双联透镜制造，有时与传统的玻璃元件结合使用以校正光学像差。聚合物光学器件可用于医疗设备的非成像应用。机器视觉 客运或车队、自动化仓储、自动化生产设施、机器人或条形码阅读器都使用“机器视觉”。这可能采用实际的相机成像系统、“飞行时间”系统(如激光雷达)或基于激光雷达的同步定位和测绘(SLAM)或类似技术的形式。防御 夜视设备中的成像系统是国防应用光学元件的一个很好的例子。由于模制光学器件的复杂性，可以设计和制造包含尽可能少光学元件的轻量可穿戴夜视设备。成像 聚合物光学器件的广泛应用广泛，例如数码相机、PC 外围设备、视频会议摄像头和移动成像。生物识别安全系统、烟雾探测器光学系统、自动冲洗阀系统和实验室设备都受益于精密聚合物光学器件。 定制光学器件材料光学塑料材料的选择有几个因素驱动，光学性能只是其中之一。设计人员还应该了解不同光学聚合物的机械性能，以及各种环境条件如何影响系统性能。成本和可制造性问题是其重要因素。塑料光学需要仔细考虑热塑性树脂的所有性能及其与目标应用和系统性能要求的相容性。 下表列出了通常用于光学器件的热塑性塑料： PMMA（丙烯酸） 常用的光学塑料之一。丙烯酸聚合物非常坚硬，具有很好的机械稳定性。丙烯酸也因其在光谱的可见部分具有非常好的清晰度和优异的透射特性而闻名。然而，它的工作温度很低。 聚苯乙烯 通常比丙烯酸便宜这种材料也倾向于吸收深蓝色光谱中的一些物质。聚苯乙烯的抗紫外线能力低于丙烯酸，并且比丙烯酸更容易被刮伤。聚苯乙烯透镜与适当的丙烯酸透镜配合使用，可以提供有效的消色差 解决方案。高污染是模制聚苯乙烯光学元件的潜在问题。聚碳酸酯 以其高的抗冲击性和在广泛温度范围（-137°C 至 124°C）下工作的能力而闻名。由于其高延展性，聚碳酸酯光学元件不容易加工。树脂比丙烯酸更贵。环烯烃聚合物（COP） 一类具有低自然应力双折射特性和相对较高热变形温度的塑料树脂。Zeonex 日本 Zeon 公司开发的一种树脂，吸水率低，不到 0.01%（相比之下，聚碳酸酯为 0.2%，聚甲基丙烯酸甲酯为 0.3%）。 聚酯（OKP） 一种用于光学的特殊聚酯，具有高折射率、低的双折射率和高流动性。它比用于光学成型的其他热塑性塑料要昂贵得多。更多关于材料的机械性能以及光学性能，请下载附件文档查看。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

标准与定制聚合物光学器件-注塑成型镜片成型和模制光学器件我们的工程师与您密切合作，了解应用，评估公差，确定需要制定的质量指标，并构建一个能够始终如一地将光学元件交付给印刷的模具。聚合物与玻璃相比的优势注塑聚合体光学与玻璃光学器件相比，具有许多优势，如下所述：低成本的热塑性塑料，如PMMA（丙烯酸）、环烯烃聚合物“COP”（如Zeonex）、聚碳酸酯、聚酯（如OKP-4）和聚苯乙烯。注塑流程提供大规模的经济效益。具有成本效益的能力，可生产复杂形状（非球面和自由曲面光学元件）。直接在光学元件上安装功能。虽然塑料光学无法在每种应用中使用，设计人员都将通过在非常适合其使用的应用中，使用精心设计的塑料光学器件来获得竞争优势。降低材料成本一般来说，用于定制注塑成型的热塑性塑料比玻璃便宜。 热塑性材料的体积非常大，其颗粒形式是直接注入成型机的形式。与玻璃光学器件不同，热塑性塑料在注塑成型的成型光学器件之前，不会预先成型。规模效益这种树脂不仅比玻璃便宜，而且注塑聚合物光学元件所需的循环时间比使用研磨和抛光技术生产光学元件所需的循环时间要短得多。此外，通常可以制造多腔模具，以在每个成型周期中生产多个镜片。 需要大量零件并具有商业公差的项目是多腔模具的良好候选者。复杂形状可以将非球面添加到光学系统中，以校正某些几何像差，例如球面像差。 此外，根据其与系统孔径光阑或瞳孔的距离，非球面表面会影响彗差、球面像差、散光和畸变。 在光学模具嵌件上可以创建复杂的形状，并在注塑过程中以出色的精度多次复制。此外，自由曲面光学器件的使用正变得越来越流行，特别是在AR/VR和HUD应用中。如果可以优化设计以允许使用注塑成型塑料，则可以大大降低生产自由曲面光学器件的成本。当涉及到光学元件的定制注塑成型时，无论表面类型如何，都使用科学的模具加工技术来开发稳健且可重复的成型周期。 当需要测量零件时，差异就出现了，因为球面很容易用干涉仪测量，但非球面表面需要全息零校正器的额外费用。 非球面和自由曲面光学器件通常使用接触式轮廓仪或坐标测量机 （CMM） 进行测量。 由于这些专业仪器，选择具有适当设备的光学成型商至关重要，并且需要计量专业知识。结合光学和机械特性聚合物光学器件可以很容易地将光学表面与机械安装基准相结合。 在这样做的过程中，光学设计人员正在利用制造业定制注塑成型的方法。 通过添加法兰、凸耳或其他结构等安装特征，设计人员可以减少装配中的组件数量并简化装配过程，并减少 BOM 上的零件数量。聚合物与玻璃的缺点光谱透射：大多数聚合物仅适用于可见光或近红外范围恒定使用温度水平：低于玻璃，一般低于120°C高折射率温度依赖性 （dn/dt）：大约是玻璃的 20 倍高热膨胀系数 （dl/dt）：几乎是玻璃的 10 倍折射率范围窄，可用材料的阿贝数更多关于材料的机械性能以及光学性能，请下载附件文档查看。注塑成型的塑料光学透镜库存标准产品目录，请点击数据单下载，选择标准品。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

SiC碳化硅功率器件动态特性测试系统 我们专业致力于功率元器件的测试仪器设备，主要致力于碳化硅器件的测试仪器设备。 我们的优势在于能够深入的进行理论运用到实践中。技术能力和实践能力的结合，才能在市场上推出使用方便，测试结果准确的高技术产品 我们的工程师具有超过20年的大功率半导体专业设计及测试评估的经验 如有任何需求，欢迎与我们联系各种电子测试的需求。 全面的测试方案：双脉冲测试 用于碳化硅二极管 和FETs检测 高压器件 1.2 kV - 1.7 kV - 3.3 kV - 4.5 kV 及更高 功率器件（包括模块） 电压可调至：50 A ( 500 A )清晰的开关波形 非常低且非常容易判断寄生现象精确 包含分析和补偿程序为模具，紧凑型包装，模块组件而设计 裸芯片, TO220, TO247, TO254, 任何碳化硅模块模块化和前瞻性 新包装和模块化的可调谐开关插头高温测试 DUT 集成化加热器- 可调谐到 250°C快速 快速部署，测试周期 短标准和具体应用 集成化或定制栅极驱动器；寄生现象可调谐高性能系统 工业等级设计及制造安全 IEC61010安全标准设计 技术规格动态特性主要针对于是碳化硅技术中的功率器件的特性，也同样应用于碳化硅技术的的各种仪器设备的特性。基于碳化硅技术的半导体功率器件动态性能测试是我们的核心技术。随着碳化硅测试设备的快速发展需要对带宽和寄生原件的测试需求。如：负载感应器和直流电等寄生元器件将会成为碳化硅功率器件的使用方案。功能：描述SiC离散变量的动力学行为配置：在相位腿配置的二极管mosfet(或IGBTs)设备等级：优化的额定电压600V到4500V 优化额定电流10A到50A包装：可与TO220,TO247,TO254包接口的装置系统接受其他包的fixture输入电压：230Vac, 50Hz，单相接地保护输入电流：8A保险丝额定值：10A，T，250V直流电压范围：100V to 4500V开关电流范围：10A to 50ADUT温度:热板温度可调至200℃

一、产品概述：光波器件分析仪是一种高精度的测试设备，用于评估和分析光波器件的性能特性。该仪器能够测量光波的强度、波长、相位和调制特性，广泛应用于光通信、激光技术和光电子器件的研发。二、设备用途/原理：设备用途光波器件分析仪主要用于测试光波器件，如光调制器、光放大器和光接收器的性能。工程师可以利用该仪器分析器件的光学特性、信号质量和响应速度，以确保光波器件在实际应用中的可靠性和效率。工作原理光波器件分析仪通过将光信号输入到其探测系统，实时捕获和分析光波特性。仪器使用高灵敏度的探测器和信号处理技术，将光信号转换为电信号，并进行频谱和时域分析。用户可以根据需求设置不同的测试参数，观察光波器件的工作特性，并生成详细的测试报告，以支持后续的设计优化和性能评估。三、主要技术指标：1. 这款 LCA 是测试高达 67 GHz 的电光元器件的理想解决方案。它同样适用于测试 40G/100GbE、400Gbit/s 和 1 Tbit/s 相干传输系统、光纤无线电（RoF）以及航空航天与国防（A&D）电光测试应用中的电光元器件2. 绝对频率响应准确度：3. 在 50 GHz 时为 0.9 dBe（典型值）4. 在 67 GHz 时为 1.3 dBe（典型值）5. 相对频率响应准确度：6. 在 50 GHz 时为 0.5 dBe（典型值）7. 在 67 GHz 时为 1.3 dBe（典型值）8. 本底噪声： 在 67 GHz 时为 - 59 dB（W/A）（电光测量） 在 67 GHz 时为 - 55 dB（A/W）（光电测量）具有任意波形发生器，支持多电平脉冲波形，可编程分辨率10 ns

1.产品概述：以 B1506A 功率器件分析仪为例，它是完整的功率电路设计解决方案 125。可在不同工作条件下评测功率器件的众多参数，如高达 3kV/1500A 的运行范围，能进行 IV 参数（击穿电压和导通电阻）测量，具备在高压偏置下的三端电容（如 Ciss、Coss、Crss 等）、栅极电荷（Qg）和功率损耗的测量功能，还支持 -50°C 至 +250°C 的全自动快速热测试等。2.设备应用：研发领域：帮助工程师在功率半导体器件的设计阶段，精确测量和分析器件的各种特性参数，如导通电阻、击穿电压、电容特性、栅极电荷等，为优化设计提供数据支持，加速研发进程。生产环节：用于对功率器件进行大规模的质量检测和筛选，确保产品的性能和质量符合标准，提高生产效率和产品良率。失效分析：当功率器件在使用过程中出现故障时，可通过该分析仪对器件进行详细的测试和分析，找出失效的原因和部位，为改进和修复提供依据 5。例如在新能源汽车的 “三电系统” 中，对功率半导体的测试就非常关键。 3.设备特点在各种工作条件下都能执行准确的测量一体化解决方案可以表征高达 1500 A 和 10 kV 的功率器件可在高压偏置下进行中档电流测量（例如 1200 V 时为 500 mA）μΩ 导通电阻测量能力在高压偏置下进行准确的皮安以下电流测量-50 ℃ 至 +250 ℃ 全自动热测试广泛的器件评测功能在高达 3000 V 直流偏置下进行全自动电容（Ciss、Coss、Crss 等）测量短 10 μs 的大功率脉冲测量封装器件和晶圆上 IGBT/FET 栅电荷测量用于表征 GaN 电流崩塌效应的高压/大电流快速开关选件多达五个高压（3 kV）源表通道，大地提高灵活性通过配有互锁装置的测试夹具进行安全的温度相关测试测量效率更高无需重新连接线缆即可在高压测量和大电流测量之间切换自动形成测试电路，用于测试封装器件和晶圆上器件的晶体管结电容（Ciss、Coss、Crss、Cgs、Cgd、Cds 等）标配配有互锁装置的测试夹具，用于安全地测试封装功率器件有支持和安全保障的晶圆上大功率测试，电流超过 200 A，电压高达 10 kV示波器视图使您可以验证所输入的电压和电流波形在 MS Windows 环境中运行的 EasyEXPERT 软件有助于改善数据管理和分析可升和可扩展的硬件体系结构多种测量模块可供选择支持多达 6 个引脚的大功率器件

定制化光电测试系统待测器件：DFB、VCSEL、PD、硅光等待测器件：光栅、分光器、偏振旋转器、光衰减器、光调制器、光探测器等测试项：损耗、光学带宽、偏振消光比、电阻、暗电流、光电带宽、电光带宽等，按需定制。

氦质谱检漏仪光无源器件检漏上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪 ASM 182 TD+ 成功应用于光无源器件检漏光无源器件是不含光能源的光功能器件的总称。光无源器件在光路中都要消耗能量，插入损耗是其主要性能指标。光无源器件有光纤连接器、光开关、光衰减器、光 纤耦合器、波分复用器、光调制器、光滤波器、光隔离器、光环行器等。它们在光路中分别实现连接、能量衰减、反向隔离、分路或合路、信号调制、滤波等功能。 本文主要介绍上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪在无源器件中的检漏应用。无源器件检漏原因：光无源器件是光纤通信设备的重要组成部分，也是其它光纤应用领域不可缺少的元器件。具有高回波损耗、低插入损耗、高可靠性等特点。光无源器件对密封性的要求极高，如果存在泄漏会影响其使用性能和精度，光通信行业的漏率标准是小于 5×10-8 mbar.l/s，因此需要进行泄漏检测。氦质谱检漏法利用氦气作为示踪气体可精确定位，定量漏点，替代传统泡沫检漏和压差检漏，目前已广泛应用于光无源器件的检漏。无源器件检漏客户案例：深圳某知名光通信上市公司，为提高效率，需求大抽速高效的检漏仪，经过上海伯东技术工程师的选型，最终采购氦质谱检漏仪 ASM 182TD+ 用于光无源器件的检漏。光无源器件检漏方法：由于无源器件体积小，且无法抽真空或直接充入氦气，我们采用“背压法”检漏，具体做法如下。1.将被检无源器件放入真空保压罐，压力和时间根据漏率大小设定2.取出无源器件，使用空气或氮气吹扫表面氦气3.将无源器件放入真空测试罐，测试罐连接氦质谱检漏仪4.启动氦质谱检漏仪，开始检漏

产品描述功率器件动态参数测试系统专业测试SiC及Si基IGBT、MOSFET动态时间参数特性，测试范围可达3500V 4000A l 3500V 4000A超宽测试范围l 适用于全种类的功率器件l 模块化设计，适应不同需求l 可满足定制化需求l 卓越的测试性能l 中文系统，用户友好性l 高可靠性动态测试项目l 开通测试：Tdon、Tr、Ton、Eonl 关断测试：Tdoff、Tf、Toff、 Eoffl 栅极特性：Qgl 反向恢复测试：Trr、Qrr、Irm、Erecl SC：Idmax、Vdsmax适用产品l 兼容各种封装方式的：Si基，SiC基的各种功率器件单管及模块项目内容平台设计值备注工作环境设备输入电压220V±10%设备输入频率50HZ±5%设备输入电流45A/驱动电压VgeVgon=0~+30V可调Vgoff=0~-30V可调（5V≤Vgon-Vgoff≤30V）通过计算机设定；精度±3%脉冲宽度单、双脉冲时间可调4us（总时间）通过计算机设定母线电压波动范围±3%/功率回路寄生电感寄生电感15nH/开关特性 开通特性Td(on): 5-400nsTr: 5-400nsTon: 5-1000nsEon：1-500mJ1. Rgon/Rgoff=客户焊接电阻2. 开通测试发双脉冲，脉冲时间在计算机输入，4us（总时间）3. 关断测试发单脉冲，脉冲时间在计算机输入，4us（总时间）4. 分辨率：0.1ns5. 测试精度±5%关断特性Td(off)：5-400nsTf: 5-400nsToff: 5-1000nsEoff: 1-500mJ二极管反向恢复特性反向恢复Trr: 5-400nsQrr:1nC~100uCIrm:0~400AErec:1~500mJ1. 发双脉冲，脉冲时间在计算机输入，4us（总时间）2. 分辨率：0.1ns3. 测试精度±5%SC关断电流Idmax关断峰值电压VdsmaxIdmax:0~6000AVdsmax:0V~1500V1. 发单脉冲，脉冲时间4us，脉冲时间在计算机输入2. 分辨率：0.1ns3. 测试精度±5%栅极特性栅电荷Qg: 1nC~100uC1. 漏极电压50V~1500V2. 分辨率：0.1ns3. 测试精度±5% 软件配置l 采用labview上位机软件作为人机交互界面l 画面显示内容包括：测试时间、被测器件条码、测试条件、测试结果、测试波形、测试数据记录等 硬件方案i. 示波器采用力科HDO3104。ii. 电压探头采用HVD3220。iii. 电流探头采用SDN414同轴电阻。 测试数据示例 服务与支持免费测样/软件更新/定期校准/完善培训

热电材料器件转化效率测试系统 CEA 热电器件转化效率测试系统用于评估在不同的温度递度条件下热电器件的热能—电能转化效率。测量不同热面温度条件下热电器件发电功率与热面输入热流的比值；不同热面温度条件下的发电功率和发电电流；热电器件最大发电效率。得到P-I-T曲线组，Q-I-T曲线组，以及η- I-T曲线组。设备特点： 可以测试不同尺寸器件 热端温度快速调控 多组PID、AI人工智能调节APID控温，具有自整定、自学习功能，防热辐射屏实时智能 跟进温度递度，实现了流过模块的线性热流 热面最高温度可达800℃ 器件与样品架接触应力可精确调节 系统自动判断热流稳定程度，智能测试 技术参数测量值热电转换效率、发电功率、发电电流、最大发电效率的温度点测量原理一维稳态热流法样品尺寸20～30mm（长宽）×1～20mm（高）热面最高温度800℃接触面压力100- 2000N最大温差600℃气氛真空、惰性 应用实例放射性同位素热电发生器（RTG）1、RTG中使用的是二氧钚(钚-238）安装RTG到探测器2、探测器（新地平线号、好奇号）

半导体分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，如数字表、电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间。而且使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作，有更大的不确定度及更慢的总线传输速度等缺点。 实施特性参数分析的最佳工具之一是数字源表（SMU）。普赛斯历时多年打造了高精度、大动态范围、率先国产化的源表系列产品，集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。普赛斯“五合一”高精度数字源表（SMU）可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具。不论使用者对源表、电桥、曲线跟踪仪、半导体参数分析仪或示波器是否熟悉，都能简单而迅速地得到精确的结果。 普赛斯“五合一”高精度数字源表 普赛斯源表轻松实现二极管特性参数分析 二极管是一种使用半导体材料制作而成的单向导 电性元器件，产品结构一般为单个PN结结构，只允许电流从单一方向流过。发展至今，已陆续发展出整流二 极管、肖特基二极管、快恢复二极管、PIN二极管、光电 二极管等，具有安全可靠等特性，广泛应用于整流、稳压、保护等电路中，是电子工程上用途最广泛的电子元器件之一。IV特性是表征半导体二极管PN结制备性能的主要参数之一，二极管IV特性主要指正向特性和反向特性等； 普赛斯S系列、P系列源表简化场效应MOS管I-V特性分析 MOSFET(金属—氧化物半导体场效应晶体管)是 一种利用电场效应来控制其电流大小的常见半导体器件，可以广泛应用在模拟电路和数字电路当中，MOSFET可以由硅制作，也可以由石墨烯，碳纳米管 等材料制作，是材料及器件研究的热点。主要参数有输入/输出特性曲线、阈值电压 VGS(th)、漏电流IGSS、 IDSS，击穿电压VDSS、低频互导gm、输出电阻RDS等。 普赛斯数字源表快速、准确进行三极管BJT特性分析 三极管是半导体基本元器件之一，具有电流放大作用，是电子电路的核心元件。三极管是在一块半导体 基片上制作两个相距很近的PN结，两个PN结把整块 半导体分成三部分，中间部分是基区，两侧部分是发射 区和集电区。设计电路中常常会关注的参数有电流放大系数β、极间反向电流ICBO、ICEO、集电极最大允许电流ICM、反向击穿电压VEBO、VCBO、VCEO以及三极管的输入输出特性曲线等参数。 普赛斯五合一高精度数字源表（SMU）在半导体IV特性测试方面拥有丰富的行业经验，为半导体分立器件电性能参数测试提供全面的解决方案，包括二极管、MOS管、BJT、IGBT、二极管电阻器及晶闸管等。此外，普赛斯仪表还提供适当的电缆辅件和测试夹具，实现安全、精确和可靠的测试。欲了解更多半导体分立器件测试系统的信息，欢迎随时来电咨询普赛斯仪表！

半导体制冷器件的优点是没有滑动部件，可靠性要求高，无制冷剂污染的场合。利用半导体材料的Peltier效应，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端即可分别吸收热量和放出热量，可以实现制冷的目的。它是一种产生负热阻的制冷技术，其特点是无运动部件，可靠性比较高。为了达到更高的制冷效果，我公司这款半导体制冷器件均采用大功率手焊器件，尺寸为170*75*21mm三级制冷，降温速度快，稳定控制精度高，主要应用在生产，科研，大专院校、工厂企业等部门低温实验的应用，是理想的低温试验器件．并可为您定做特殊需要的异型产品。希望我们的产品能满足您的需要。欢迎新老客户来电咨询洽谈！

一、产品概述：器件电流波形分析仪是一种专门用于测量和分析电子元件电流波形的测试设备。它能够捕获瞬态电流信号并提供详细的波形显示，广泛应用于电力电子、半导体和材料科学等领域的研发与测试。二、设备用途/原理：设备用途器件电流波形分析仪主要用于分析电流波形特性，支持电力器件、传感器和其他电子组件的性能评估。工程师可以利用该仪器进行故障排查、性能优化和设计验证，确保设备在实际应用中的可靠性。工作原理器件电流波形分析仪通过将电流信号输入到其探头，利用高采样率的模数转换器（ADC）将模拟信号转换为数字数据。仪器实时捕获信号波形，并通过内部处理生成波形图。用户可以通过调整采样率和触发设置，观察不同条件下的电流响应，提取关键信息，如峰值、上升时间和波形失真，帮助分析和优化器件性能。三、主要技术指标：1. CX3324A 是一款具有 14 位或 16 位分辨率的 4 通道主机。 其存储器深度和带宽可以分别升至 256 MSa/s 和 200 MHz。支持数字通道2. 主机功能特性：3. 为电流和差分传感器以及无源探头接口适配器提供 4 个模拟通道4. 带宽选件：50 MHz、100 MHz、200 MHz5. 存储器深度选件：4 Mpts/通道、16 Mpts/通道、64 Mpts/通道、256 Mpts/通道6. WXGA 14.1 英寸电容式多点触控屏7. 测量功能： 14 位或 16 位动态范围 经过优化，能够采集低噪声电流传感器的输出 1 GSa/s 采样率和 200 MHz 大带宽提供常见的触发类型和数学函数

产品介绍 产品为桌面放置的台式机结构，由测试主机和程控电脑两大部分组成。各类夹具和适配器，还能 够通过 Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin）连接分选机和机械手建立工作站，实现快速批量化测 试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动分类存放。能够极好的应对“来料检验”“失效分 析”“选型配对”“量产测试”等不同场景。 产品的可靠性和测试数据的重复性以及测试效率都有着非常优秀的表现。创新的“点控式夹具”让操 作人员在夹具上实现一点即测。操作更简单效率更高。测试数据可保存为 EXCEL 文本。 应用场景Ø 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试） Ø 失效分析（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提 出改善方案） Ø 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对） Ø 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率） Ø 量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试） 产品特点(1) 可测试 7 大类 26 分类的各类电子元器件； (2) PC 机为系统的主控机； (3) 基于 Lab VIEW 平台开发的填充式菜单软件界面； (4) 自动识别器件极性 NPN/PNP (5) 16 位 ADC，100K/S 采样速率； (6) 程控高压源 10~1400V，提供 2KV 选配； (7) 程控高流源 1uA~40A，提供 100A,300A,500A 选配； (8) 驱动电压 10mV~40V； (9) 控制极电流 10uA~10mA； (10) 四线开尔文连接保证加载测量的准确；(11) 通过 RS232 接口连接校准数字表，对系统进行校验； (12) Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin） (13) 可为用户提供丰富的测试适配器(14) 连接分选机最高测试量为每小时 1 万个 (15) 可以测试结电容，诸如 Cka，Ciss，Crss，Coss； (16) 脉冲电流自动加热功能，方便高温测试，无需升温装置； 测试参数 (1) 二极管类：二极管 Diode Kelvin，Vrrm，Irrm，Vf，△Vf，△Vrrm，Cka，Tr（选配）；(2) 二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode）Kelvin，Vz，lr，Vf，△Vf，△Vz，Roz，lzm，Cka； (3) 二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode）Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka；(4) 二极管类：三端肖特基二极管 SBD（SchottkyBarrierDiode）Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr（选配）；(5) 二极管类：瞬态二极管 TVSKelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ； (6) 二极管类：整流桥堆 Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka；(7) 二极管类：三相整流桥堆Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka；(8) 三极管类：三极管Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、 Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr （选配）、Ts （选配）、Value_process； (9) 三极管类：双向可控硅 Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、 Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm；(10)三极管类：单向可控硅Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、 Vtm； (11)三极管类：MOSFETKelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、 Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ； (12)三极管类：双 MOSFET Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、 Coss、Crss；(13)三极管类：JFET Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、 Ciss、Crss、Coss； (14)三极管类：IGBTKelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss；(15)三极管类：三端开关功率驱动器Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt； (16)三极管类：七端半桥驱动器 Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt； (17)三极管类：高边功率开关Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt； (18)保护类：压敏电阻Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr (19)保护类：单组电压保护器 Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr； (20)保护类：双组电压保护器Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr； (21)稳压集成类：三端稳压器 Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、 ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk； (22)稳压集成类：基准 IC（TL431）Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka； (23)稳压集成类：四端稳压Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、 Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk； (24)稳压集成类：开关稳压集成器 选配； (25)继电器类：4 脚单刀单组、5 脚单刀双组、8 脚双组双刀、8 脚双组四刀、固态继电器 Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton（选配）、Toff（选配）； (26)光耦类：4 脚光耦、6 脚光耦、8 脚光耦、16 脚光耦 Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf；(27)传感监测类： 电流传感器（ACS712XX 系列、CSNR_15XX 系列）（选配）； 霍尔器件（MT44XX 系列、A12XX 系列）（选配）； 电压监控器（选配）； 电压复位 IC（选配）；

Zygo光学元件轻量级光学器件现代国防、航空航天和新太空客户需要高性能的光学系统，它们要能够最大限度地提高光学性能，同时最大限度地减小尺寸、重量和功率（SWaP）。用于满足这种苛刻的SWaP要求的一种行之有效的方法是使用轻量级光学器件。轻量化是指在保持光学性能的前提下，通过机械加工或其他方法从光学元件上去除材料的过程。这通常是用低膨胀陶瓷和玻璃来实现的，在这个过程中，必须注意轻量化处理后的结构，保证光学性能和刚性。ZYGO专家可以协助我们的合作伙伴设计这些组件并确保它们的可制造性。

品牌： 华科智源 名称： IGBT测试仪 型号： HUSTEC-1600A-MT 用途： 广泛应用于器件设计，封装测试，轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机等行华科智源HUSTEC-1600A-MT电参数测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试，还可以测量大功率二极管 、IGBT模块，大功率 IGBT、大功率双极型晶体管，MOS管等器件的 V-I 特性测试，测试1200A（可扩展至2000A），5000V以下的各种功率器件，广泛应用于轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机行业的IGBT来料选型和失效分析，设备还可以用于变频器，风电，轨道交通，电焊机等行业的在线检修，无需从电路板上取下来进行单独测试，可实现在线IGBT检测，测试方便，测试过程简单，既可以在测试主机里设置参数直接测试，又可以通过软件控制主机编程后进行自动测试，通过电脑操作完成 IGBT 的静态参数测试；测试参数：ICES 集电极-发射极漏电流IGESF 正向栅极漏电流IGESR 反向栅极漏电流BVCES 集电极-发射极击穿电压VGETH 栅极-发射极阈值电压VCESAT 集电极-发射极饱和电压ICON 通态电极电流VGEON 通态栅极电压VF 二极管正向导通压降整个测试过程自动完成，电脑软件携带数据库管理查询功能，可生成测试曲线，方便操作使用1) 物理规格 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm； 质量：30kg2) 环境要求 海拔高度：海拔不超过 1000m；储存环境：-20℃～50℃； 工作环境：15℃～40℃。相对湿度：20%RH ~ 85%RH ；大气压力：86Kpa～ 106Kpa。 防护：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等空气污染的损害；3) 水电气 用电要求：AC220V，±10%； 电网频率：50Hz±1Hz

滨松光源器件欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！氙灯/汞氙灯 氙灯能发射出具有高亮度和高色温的连续谱，覆盖了紫外到可见再到红外的波段。因此氙灯能理想地应用在众多类型的光度学设备中，包括光谱仪等。本公司所有的氙灯都采用了高性能阴极，避免了常规氙灯的诸多问题。它们被广泛使用在高精度测量灯管不可或缺的应…闪烁氙灯 相比于连续发光灯管，闪烁氙灯具有更紧凑的结构和更少散热的构造。它们也能提供从紫外到可见再到红外的高强度连续谱。由于比常规灯管高出5倍的弧长稳定度和高出10倍的寿命等出色性能，以及改进型的电极结构和材料，滨松公司的闪烁氙灯尤其适用于精密光度…氘灯 这些是全新的下一代氘灯，为分光光度法提供了所需的高稳定度，高输出和长寿命。空心阴极灯 空心阴极灯是专门为原子吸收光谱法而开发的金属蒸汽放电灯。可供选择的空心阴极灯有66种类型的含有Ag、Al和As等的单元素灯和7种类型的含有Na-K和Ca-Mg等的多元素灯。LED 发光二极管(LED)是将电能转化为光能的光电半导体。相比于激光二极管(LD), LEDs具有低成本和长寿命等优点。滨松公司提供了理想地应用于光开关、编码器、测量和光通信等的高输出功率LED。连续激光二极管 用连续波（CW）驱动的连续激光二极管（CWLD）输出功率从mW量级到几个W。封装形式有多种，例如，C接口(C-mount)，紧凑密封型和高热负载型等。脉冲激光二极管 这些激光二极管在脉冲作用下有高峰值功率。峰值输出功率范围为10W到90W。发光区域面积从70 um到350 um。可用于激光雷达中的距离测量，安全性应用中的灾害监控等领域。高亮度二极管（SLD） 这种高亮度激光二极管（SLD）既具备LD的高亮度 又具备了LED的低相干度；弥补了LD的相干噪声的缺陷。它们广泛应用于光学测量和医学成像。量子级联激光器 量子级联激光器(QCL)是一种峰值发射波长在中红外波段 (4 um 到10 um) 的半导体激光器。由于它为分子气体分析等中红外应用提供了新型光源而日益被关注。高功率激光二极管线阵模块 排列成线阵的发光区域使激光二极管阵列模块能输出高可靠性、高功率和高性能的激光；这个过程需有制冷器件的参与。当叠加使用时其输出功率可以高达几千瓦。现有三种基本的制冷方式：紧凑而简易的Peltier型开放散热器（OHS）、更高效的水冷型和滨松独创的F…DDL DDL是一种发出从高功率LD直接照射到目标物上的聚焦激光束的光源。它适用于多种用途，包括焊接、淬火、钎焊和退火等。相比于传统的固体激光器或CO2激光器，这种激光器的优点有小尺寸和低功耗等。高功率光纤耦合激光二极管 光纤耦合输出型激光二极管（Fiber out laser diode，FOLD）不仅具备直接输出型激光二极管（direct diode laser ，DDL）的特性，它的外观紧凑而轻巧；使之非常适用于三维

半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 产品介绍：载流子表征的最佳工具本系统针对光电器件 (探测器或光伏器件) 进行光电转换过程的响应行为测量与分析。利用一单色 (单波长) 的光源，对其进行连续脉冲或是周期性的光强调制后，照射到光电器件产生光生电流或是光生电压讯号，并对此进行频域或时域的测量与分析，得到光电器件光电转换过程的重要参数。包含频率响应、爬升/下降时间、LDR线型动态范围、瞬态光电压 (TPV) 、瞬态光电流 (TPC) 等光电转换能力评价参数。用以了解光电器件内部结构与载流子动力学、内部材料组成、器件结构与载流子动力学之关系。作为光电器件特性评价与性能改进的参考。半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 特色：光强线性度测量与分析频率响应测量 0~40MHz可选雷射模块系统波长雷射光调变控制频率响应测量与分析截止频率 (Cut Frequency) 计算分析Rise/ Fall time 测量与分析TPC/TPV 测量与分析高动态光强变化光学调变模块，可自动调变强度 6 个数量级半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 规格TPC/TPV 量测功能雷射波长：半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 应用：有机光传感器 (OPD, Organic Photodiode)钙钛矿光传感器 (PPD, Perovskite Photodiode)量子点光传感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)新型材料光传感器实证Cs2Pb(SCN)2Br2 单晶光电器件性能表征2021 年 Advanced Materials 期刊报导了第一种无机阳离子拟卤化物二维相钙钛矿单晶 Cs2Pb(SCN)2Br2。作者使用 PD-RS 系统对单晶光电器件进行多种的光电转换响应行为进行测量与分析。其中包含：变光强 IV 曲线测试。变光强光电流与响应度变化测试。定电压下光电转换爬升与下降时间测试。恒定光强脉冲光的时间相关光电流响应测试。TPC/TPV 瞬态光电流/光电压测试。 恒定光强脉冲光的光电流时间响应PD-RS 系统具备高速调制能力的激光器 (爬升/下降时间 5ns)，在恒定光强脉冲光条件下，可以对器件进行光电流时间响应测试，并且分析光电器件的爬升/下降时间的分析。以了解光电器件最快的时间响应极限特征。变光强光电流与响应度变化测试 (LDR) PD-RS 具备 120 dB 光强动态范围测试能力。在软件自动化的测试光电流的变化，绘制出待测器件的线性动态范围响应图 (LDR, Linearity Dynamic Range)。LDR 试评估光电器件特性的一项重要指标。由光电流与光强的测试可以得到响应度 (mA/W) 变化，是常用于表征光电器件优劣的参数。

氦质谱检漏仪光无源器件检漏上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪 ASM 182 TD+ 成功应用于光无源器件检漏 光无源器件是不含光能源的光功能器件的总称。光无源器件在光路中都要消耗能量，插入损耗是其主要性能指标。光无源器件有光纤连接器、光开关、光衰减器、光纤耦合器、波分复用器、光调制器、光滤波器、光隔离器、光环行器等。它们在光路中分别实现连接、能量衰减、反向隔离、分路或合路、信号调制、滤波等功能。本文主要介绍上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪在无源器件中的检漏应用。无源器件检漏原因：光无源器件是光纤通信设备的重要组成部分，也是其它光纤应用领域不可缺少的元器件。具有高回波损耗、低插入损耗、高可靠性等特点。光无源器件对密封性的要求极高，如果存在泄漏会影响其使用性能和精度，光通信行业的漏率标准是小于 5×10-8 mbar.l/s，因此需要进行泄漏检测。氦质谱检漏法利用氦气作为示踪气体可精确定位，定量漏点，替代传统泡沫检漏和压差检漏，目前已广泛应用于光无源器件的检漏。无源器件检漏客户案例：深圳某知名光通信上市公司，为提高效率，需求大抽速高效的检漏仪，经过上海伯东技术工程师的选型，最终采购氦质谱检漏仪 ASM 182TD+ 用于光无源器件的检漏。光无源器件检漏方法：由于无源器件体积小，且无法抽真空或直接充入氦气，我们采用“背压法”检漏，具体做法如下。1.将被检无源器件放入真空保压罐，压力和时间根据漏率大小设定2.取出无源器件，使用空气或氮气吹扫表面氦气3.将无源器件放入真空测试罐，测试罐连接氦质谱检漏仪4.启动氦质谱检漏仪，开始检漏* 鉴于信息保密，更详细的无源器件检漏方法欢迎致电 021-5046-3511

一、产品概述：动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪是一款专为评估和测试功率电子器件动态性能而设计的高精度设备。该仪器能够通过施加双脉冲信号，实时监测功率器件在开关过程中的电流、电压和功率损耗，提供全面的性能分析。广泛应用于功率半导体、IGBT、MOSFET 等器件的研发与测试，动态功率器件分析仪具有高时间分辨率和准确的数据采集能力，帮助工程师评估器件在实际工况下的表现和可靠性。其用户友好的界面和灵活的测试配置，使得设备在功率电子领域的研究和开发中成为不可或缺的重要工具。二、设备用途/原理：设备用途动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪主要用于评估和测试功率电子器件（如IGBT、MOSFET等）的动态性能。广泛应用于功率半导体的研发、质量控制和性能分析，能够提供关于器件在开关过程中的电流、电压和功率损耗等关键数据，帮助工程师优化器件设计和提高可靠性。工作原理该仪器通过施加双脉冲信号来测试功率器件的动态响应。在测试过程中，仪器首先施加一个脉冲信号使器件导通，然后迅速切换到另一个脉冲信号以关闭器件。通过实时监测电流和电压的变化，仪器能够捕捉到开关过程中的瞬态特性和功率损耗。数据采集系统会记录这些参数，并生成详细的性能分析报告。该测试方法具有高时间分辨率，能够准确反映器件在实际应用中的表现，为功率电子领域的研究和开发提供重要支持。三、主要技术指标：1. 作为现成的测量解决方案，PD1500A 可以对宽带隙半导体进行可靠且可重复的测量。 该平台不仅可以确保用户的安全性，还能够保护系统的测量硬件。 2.能够可靠、可重复测量宽带隙（SiC、GaN）功率半导体的动态特征3.测量的特征包括开启、关闭、开关切换、反向恢复、栅极电荷以及其他许多特征4.同时满足被测器件和用户对测试环境的要求5.模块化平台可扩展、可升级，能够对所有功率器件进行测试换

华科智源HUSTEC-1600A-MT静态参数测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试，还可以测量大功率二极管 、IGBT模块，大功率 IGBT、大功率双极型晶体管，MOS管等器件的 V-I 特性测试，测试1200A（可扩展至2000A），5000V以下的各种功率器件，广泛应用于轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机行业的IGBT来料选型和失效分析，设备还可以用于变频器，风电，轨道交通，电焊机等行业的在线检修，无需从电路板上取下来进行单独测试，可实现在线IGBT检测，测试方便，测试过程简单，既可以在测试主机里设置参数直接测试，又可以通过软件控制主机编程后进行自动测试，通过电脑操作完成 IGBT 的静态参数测试；测试参数：ICES 集电极-发射极漏电流IGESF 正向栅极漏电流IGESR 反向栅极漏电流BVCES 集电极-发射极击穿电压VGETH 栅极-发射极阈值电压VCESAT 集电极-发射极饱和电压ICON 通态电极电流VGEON 通态栅极电压VF 二极管正向导通压降整个测试过程自动完成，电脑软件携带数据库管理查询功能，可生成测试曲线，方便操作使用1) 物理规格 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm； 质量：30kg2) 环境要求 海拔高度：海拔不超过 1000m；储存环境：-20℃～50℃； 工作环境：15℃～40℃。相对湿度：20%RH ~ 85%RH ；大气压力：86Kpa～ 106Kpa。 防护：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等空气污染的损害；3) 水电气 用电要求：AC220V，±10%； 电网频率：50Hz±1Hz

价格货期电议inTEST 热流仪搭配 Keysight 进行功率器件自动化高低温测试上海伯东美国 inTEST 热测产品搭配 Keysight 机台, 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -50℃ - 250℃ 自动化热测试解决方案. Keysight 机台完美兼容 inTEST 软件, 操作简单.功率器件高低温测试案例一:上海伯东美国 inTEST Thermal Plate HP289-PM 搭配 Keysight B1505A 或 B1506A, 完成室温至 250℃ 温度测试. 通用软件, 操作简单, 只需将待测器件放置在 Thermal Plate 上即可. 通过使用 inTEST 可能的减少长线缆导致的测试问题, 兼容接头将 Keysight 分析仪与 inTEST 热板连接在一起.上海伯东美国 inTEST HP289-PM 是一个温控平台, 可以与 Keysight B1505A 和 B1506A 功率器件分析仪联用. 该平台允许自动控制板温度, 从外壳环境温度到 250°C, 用于表征功率器件, 例如 IGBT 和 MOSFET.主要特点1. 自动温度循环2. 实时数据记录3. 动态 DUT 温度控制4. 本地和远程操作功率器件高低温测试案例二:inTEST ThermalStream 高低温冲击测试机搭配 B150XA 系统, 提供 -50℃~250℃ 的温度测试环境.测试时, 只需将待测功率器件放置在高低温测试机测试罩内即可. 如果未连接测试腔, 则测试器件可能会因热空气或冷凝水而损坏. 连接到测试设备和 Thermostream 的热防护罩解决了这个问题, 可进行准确. 可靠和可重复的温度特性测试.上海伯东美国 inTEST ThermalStream 热流仪搭配 Keysight B150XA 系统评估 -50°C 至+ 250°C 温度范围内的功率器件特性, 是半导体器件制造商中比较通用的测试手段, ThermoStream 具有快速的热循环和精确的温度控制,是高功率器件可靠性测试和表征的理想选择.主要特点1. 自动温度循环2. 实时数据记录3. 动态 (DUT) 温度控制4. 本地和远程操作5. 无霜测试环境6. 节能模式功率器件高低温测试案例三:某企业通过上海伯东推荐, 购入美国 ThermoStream ATS-710 高低温冲击测试机, 为 MOSFET \ MOS 管, 场效应管, TO 封装等器件提供 -50 至 +150 °C 快速的外部温度环境, 满足测试器件性能的要求.inTEST Thermal Plate 热台 (环境温度至 +250°C) 和 ThermoStream (-50 至 +250°C) 可满足高温和极低温测试的需求. 两种温度测试都具有温度自动循环, 数据记录和远程通信功能.若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络上海伯东叶女士,分机107现部分品牌诚招合作代理商, 有意向者欢迎联络上海伯东 叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

柔性材料与器件测试系统--薄膜扭转一、产品简介 柔性电子的出现为经典电子学的发展提供了新的方向，触发了新形态电子设备的产生。然而，电子材料与器件由刚向柔转变过程中，传统的刚性测试方法变得无法完全适应，而相匹配的柔性测试体系对推进柔性电子行业的发展变得必不可少。 在柔性电子材料与器件的测试过程中，尤其是在柔性电子材料与器件开发验证的初期阶段，发展一种高自由度的模块化柔性材料与器件测试系统，对于提升开发验证效率和降低测试成本具有重要意义。 二、产品特性 高可靠性（百万次）样品自适应性 （过程中受拉力相同，无弯折）可扩展性（光学、电学性能测试辅助系统） 三、适用范围 薄膜、涂层、柔性显示屏、有机发光器件、平面可穿戴产品、柔性印刷电路、扁平电缆等柔性材料与器件的扭转测试。 四、运行方式 五、产品参数项目参数样品厚度(mm)0-1样品大小(mm2)Max(210* 300)弯曲角度（° )0-90°弯曲力(N)5.0弯曲速度( ° /s)0-1080重复次数（次）10000000重量（Kg)16 六、产品尺寸

柔性材料与器件测试系统--大曲率卷绕一、产品简介 柔性电子的出现为经典电子学的发展提供了新的方向，触发了新形态电子设备的产生。然而，电子材料与器件由刚向柔转变过程中，传统的刚性测试方法变得无法完全适应，而相匹配的柔性测试体系对推进柔性电子行业的发展变得必不可少。 在柔性电子材料与器件的测试过程中，尤其是在柔性电子材料与器件开发验证的初期阶段，发展一种高自由度的模块化柔性材料与器件测试系统，对于提升开发验证效率和降低测试成本具有重要意义。二、产品特性测试零应力无表面摩擦大曲率、大面积样品（样品尺寸和曲率可调）高稳定性 三、适用范围 薄膜、涂层、柔性显示屏、有机发光器件、RFID、可穿戴电子、FPC、柔性印刷电路等柔性材料与器件的弯曲测试。四、运行方式 五、产品参数 项目参数样品厚度(mm)0-3样品宽度(mm)200样品长度(mm)270扭转速度(mm/s)0-60扭转力(N.m)5.0卷曲半径 (mm)2.5-50重复次数（次）10000000重量(Kg)20 六、产品尺寸

多通道发光器件寿命测试仪1 设备主机，包括： （1） 主控电脑 （2） 主机机箱 （3） 数据采集模块 （4） 测试控制模块（可拓展至 128 通道） （5） 测试机柜 （6） 配置 UPS，满足续航供电 （7） 搭配显示器、鼠标键盘等配件 2 高精密程控电源 （1） 电流范围： 10uA-10mA；电压范围： 0-20V（2） 可同时支持 8多个通道的发光器件的独立测试，每个通道可独立控制电流的输出，满足发光器件恒流下的寿命测试。 3 测试模块，包括： （1） 根据用户发光器件尺寸设计夹具，配置多套测试夹具， 可以放置于手套箱内测试； （2） 采用硅光电二极管实现对发光器件亮度的监测，亮度监测范围可选； （3） 支持底发光、倒装/正装器件测试。

一、设备简述：天士立科技ST-CVX半导体功率器件CV特性结电容分析测试仪是陕西天士立科技有限公司根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。仪器采用了一体化集成设计，二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试，无需频繁切换接线及设置参数，单管功率器件及模组功率器件均可一键快速测试，适用于生产线快速测试、自动化集成。CV曲线扫描分析能力亦能满足实验室对半导体材料及功率器件的研发及分析。仪器设计频率为1kHz-2MHz，VGS电压可达±40V，VDS电压可达±200V/±1500V/±3000V，足以满足大多数功率器件测试。 二、应用领域： 半导体功率器件：二极管、三极管、MOSFET、IGBT、晶闸管、集成电路、光电子芯片等寄生电容测试、C-V特性分析 半导体材料：晶圆切割、C-V特性分析 液晶材料 弹性常数分析 电容元件：电容器C-V特性测试及分析，电容式传感器测试分析 三、性能特点： 一体化设计：LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件 单管器件、模组器件、曲线扫描)三种测试方式一体 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg) 同屏一键测量及显示 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描 四、功能指标： Vds：0~1200V Vgs：±25V Rg ：0~10KΩ 信号电压：1mV~1000mV 测试精度：0.01pf 测试频率：0.01KHZ~1MHZ 主要功能：IGBT，二极管，氮化镓、碳化硅 MOSFET等功率器件Rg\Ciss\Coss\Crss参数和CV特性测试分析 五、软件操作上位机使用Labview界面开发，该程序体现为人机交互界面，作为测试平台的交互系统，通过与LCR表、主控板等设备通讯，实现对设备的自动操作并进行数据采集、在界面上显示LCR表的测试波形、并对测试波形进行分析、计算，最终得到结果进行显示和存储。➢ 进入主界面，主界面分为参数录入区、波形显示区和参数显示区，如下图所示：六、系统主要部件：七、验收流程1. 在需方工作现场完成设备安装；2. 安装完成后, 双方依据技术协议对设备进行验收进行验收。3. 验收完成后, 双方签署《验收报告》，作为合同执行依据。 八、技术培训供方在需方工作现场免费为需方进行测试技术培训。培训内容包括：1. 系统介绍；2. 软件使用方法；3. 硬件使用方法；4. 器件测试技术；5. 测试实际操作；6. 系统使用注意事项；7. 日常维护与保养 九、售后服务1、全部供货范围内的设备、材料、零配件和工器具等，除合同特别约定外，其质保期均自终验收签字生效之日起 12 个月。2、若买方需卖方派工程师来现场解决设备问题，我方应在 3 小时内响应，2 个工作日内派人员抵达买方现场，因我方造成的设备停工时间应在质量保证期中予以相应延长。3、质保期之内，系统及设备发生任何非人为原因造成的故障和损坏，均由我方负责免费维修和服务，失效零件予以免费更换，所更换的部件三包期从更换之日起重新计算。4、质保期终止之日起一年内重复出现的质保期之内出现的故障，仍在质保范围而且免费维修。5、对于备件及易损件的报价，三年内不得提升，确保设备验收后五年内所需的配件国内能够实现现货供应。6、对于质量保证期后可能涉及的大修改造情况，我司承诺以不高于国内其他用户的供货价格为原则，根据新增功能的难易程度和全新设备的整体价格来综合报价。7、我方派往买方使用现场的人员，具有 5 年以上的专用素质；现场解决问题时，不得无故拖延或推迟，应为买方提供最佳的服务。8、产品终生免费技术支持，包括硬件维修，软件升级等。硬件维修只收取 相应的器件 成本费用，软件实行终生免费升级。9、六个月定期产品巡检，对产品硬件及软件升级等。10、不定期对使用设备人员走访或者电话培训服务。

柔性材料与器件测试系统--固定曲率弯曲一、产品简介 柔性电子的出现为经典电子学的发展提供了新的方向，触发了新形态电子设备的产生。然而，电子材料与器件由刚向柔转变过程中，传统的刚性测试方法变得无法完全适应，而相匹配的柔性测试体系对推进柔性电子行业的发展变得必不可少。 在柔性电子材料与器件的测试过程中，尤其是在柔性电子材料与器件开发验证的初期阶段，发展一种高自由度的模块化柔性材料与器件测试系统，对于提升开发验证效率和降低测试成本具有重要意义。二、产品特性测试自适应高稳定性（百万次）弯曲半径可选择(2.5-40mm) 三、适用范围 薄膜、涂层、柔性显示屏、有机发光器件、柔性太阳能电池、RFID 、传感器、可穿戴电子、FPC、柔性印 刷电路等柔性材料与器件的弯折测试。 四、运行方式 五、产品参数项目参数样品厚度(mm)0-16样品宽度(mm)0-30弯曲角度（°)士180弯曲力(N)5.0弯曲半径(mm)2.5-40弯曲速度(。/s)0-360重复次数（次）10000000重量(Kg)10六、产品尺寸

柔性材料与器件测试系统--薄膜卷绕一、产品简介 柔性电子的出现为经典电子学的发展提供了新的方向，触发了新形态电子设备的产生。然而，电子材料与器件由刚向柔转变过程中，传统的刚性测试方法变得无法完全适应，而相匹配的柔性测试体系对推进柔性电子行业的发展变得必不可少。 在柔性电子材料与器件的测试过程中，尤其是在柔性电子材料与器件开发验证的初期阶段，发展一种高自由度的模块化柔性材料与器件测试系统，对于提升开发验证效率和降低测试成本具有重要意义。二、产品特性 大曲率、大面积样品 高稳定性 卷轴可选择(5-100mm) 可扩展性（光学、电学性能测试辅助系统） 三、适用范围 可穿戴电子、柔性电子、可拉伸材料材料与器件的拉伸测试。 四、运行方式 五、产品参数 项目参数样品厚度(mm)0-3样品宽度(mm)0-200缠绕数量（圈）3扭转速度（°）0-1080扭转力(N.m)5.0辊直径(mm)5-100重量(Kg)20 六、产品尺寸