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生物器件
仪器信息网生物器件专题为您整合生物器件相关的最新文章,在生物器件专题,您不仅可以免费浏览生物器件的资讯, 同时您还可以浏览生物器件的相关资料、解决方案,参与社区生物器件话题讨论。
生物器件相关的方案
卓立汉光产品在光通信行业中的应用-光有源器件
光通信器件分为光有源器件和光无源器件,本文就光有源器件的分类、封装类型、结构和电性能做出简要介绍,并对对光有源器件生产过程中,卓立汉光可提供的工装方案、设备改进等方面做说明。 光无源器件的相关文章,请参照:卓立汉光产品在光通信行业中的应用——光无源器件篇。
恒温恒湿试验箱对五金器件的测试方案
恒温恒湿试验箱在恒定的潮湿环境下,对五金器件的影响是显著的。首先,恒定的湿度环境可能会导致五金器件产生氧化反应。这是因为,在潮湿的环境中,五金器件的表面会吸附水分,从而形成一层水膜。这层水膜会与五金器件的表面发生化学反应,导致氧化。氧化反应会导致五金器件的表面出现锈蚀现象,从而影响其质量和性能。其次,恒定的湿度环境还会对五金器件的机械性能产生影响。在潮湿的环境中,五金器件可能会吸收水分,导致其尺寸和形状发生变化。这种变化可能会影响五金器件的机械性能,如硬度、韧性和耐磨性等
氦质谱检漏仪光无源器件检漏
光无源器件是不含光能源的光功能器件的总称. 光无源器件在光路中都要消耗能量, 插入损耗是其主要性能指标. 光无源器件有光纤连接器, 光开关, 光衰减器. 光纤耦合器, 波分复用器, 光调制器, 光滤波器, 光隔离器, 光环行器等. 它们在光路中分别实现连接, 能量衰减, 反向隔离, 分路或合路, 信号调制, 滤波等功能. 本文主要介绍上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪在无源器件中的检漏应用.
inTEST 热流仪功率器件高低温冲击测试
某功率器件制造商为了保证其功率器件能够在不同的温度环境下能正常运行, 采用伯东inTEST 高低温测试机 ATS-545-M 对功率器件进行测试.
inTEST 热流仪半导体元器件高低温测试
半导体器件 semiconductor device, 是导电性介于良导电体与绝缘体之间, 利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件, 可用来产生, 控制, 接收, 变换, 放大信号和进行能量转换.
高低温试验箱对火箭元器件做可靠性检测方案
在所有可靠性测试中,温度和湿度是影响航天火箭元器件和元器件最严重的气候环境,是火箭环境适应性设计和验证的基础和依据。其中,火箭多个系统存在电子元器件,实践表明,火箭电子元器件的质量和可靠性是影响航天运载火箭高可靠性的关键因素之一。实现元器件的高可靠性是航天事业发展的需要。为了适应国防现代化,火箭设备和系统的复杂性不断提高,使用的元器件数量也在增加。根据可靠性理论,构成系统的元器件越多,元器件的可靠性就越低。
电子计步器件的高低温湿热试验方案
计步器件是一种计量工具,用以计算热量或能量消耗,在GBT2423.3-2016标准下,也有对电子计步器件的生活环境测试方法,下面我们就来看看这其中的高低温湿热试验箱的测试标准是怎样的。 电子计步器件的高低温湿热实验,需要使用有关实验设备去完成,高低温湿热试验箱内便是其中一种,该设备能做持续高温、超低温、湿热试验,符合实际电子计步器件的环境试验规定。
电子元器件整机外罩水蒸气透过率测试方法
电子元器件对周围水蒸气含量要求严格,因此用于其外壳的整机外罩应具有很高的阻湿性,防止电子元器件出现老化等质量问题。本文利用Labthink兰光自主研发制造的C390H水蒸气透过率测试系统对整机外罩样品进行水蒸气透过率测试,通过详细介绍设备测试方法、测试原理及试验过程,为相关电子器件生产企业严控外壳阻湿性提供有效的监控方案。
上海伯东 inTEST ATS-710E 用于功率器件测试
国内某知名企业应用于MOSFETMOS管、场效应管、TO封装等器件的高低温冲击测试,要求温度范围-50℃~150℃,且要求对单独器件进行高低温测试,经上海伯东推荐采用美国inTEST高低温测试机ATS-710E搭配测试机进行系列测试。
可程式恒温恒湿试验箱可为电子元器件做哪些方面的试验
可程式恒温恒湿试验箱用以电子器件电气元器件等样品纤维材料的物态变化,测验其原材料承担温湿度性能及其在热涨冷缩里的化学反应或物理学损害,能够确定产品品质,从高精密IC到重型机械设备元器件,无疑是各个领域产品检测不可缺少的环境试验箱。 在电子元器件与整个设备安装设备前,应尽可能清除初期无效的元器件,对元器件进行分类。依据世界各国筛分工作经验,根据合理筛分,可让电子器件总设备故障率减少1-2个量级。因而,不论是军用产品或是民用产品,挑选全是确保稳定性的重要途径。可程式恒温恒湿试验箱是电子元件自然环境可靠性测试的不二之选。
电子元器件检测实验室专业测试仪器设备解决方案
在电子电路中,除了接触最多的电子元器件( 例如电阻,电感,电容,二极管,三极管,集成电路等) 以外,还有其他常用电子元器件,如电声器件,开关及接插件等。电子元器件的检测是家电维修的一项基本功,安防行业很多工程维护维修技术也实际是来自于家电的维护维修技术,或是借鉴或同质。如何准确有效地检测元器件的相关参数,判断元器件的是否正常,不是一件千篇一律的事,必须根据不同的元器件采用不同的方法,从而判断元器件的正常与否。Delta德尔塔仪器专业为电子元器件的检测提供整套测试仪器,我们可以各类电子、电器制造厂商提供一下检验测试项目的专业仪器设备:集成电路测试:成品测试、老化筛选、失效分析等;破坏性物理分析:外部目检、X射线检查、粒子噪声(PIND)试验、密封性试验、内部气体成分分析、内部目检、内引线键合强度、扫描电镜、芯片剪切强度;可靠性寿命和老化筛选:老化筛选试验、稳态寿命试验、加速寿命试验、可靠性强化试验;环境试验:正弦振动、随机振动、机械冲击、碰撞(或连续冲击)、恒定加速度、跌落、出点动态监测、温度-振动-湿热三应力试验、高低温低气压、温度循环、热冲击、耐湿、高压蒸煮、盐雾或循环盐雾、霉菌、淋雨、气体腐蚀、沙尘、热真空、强加速稳态湿热(HAST);物理性试验:物理尺寸、耐溶剂性、引出端强度、可焊性、耐焊接热、封盖扭矩、镀层厚度、阻燃性试验。电子元器件测试仪器应用测试产品类型:半导体集成电路、混合集成电路、微波电路及组件、半导体分立器件、真空电子器件、光电子器件、通用元件、机电元件及组件、特种元件、外壳、电子功能材料及专用设备等。诸如安规继电器、电动器热保护器、压缩机用电动机热保护器、压力敏感电自动控制器、定时器和定时开关、电动水阀、温度敏感控制器、热断路器、电动用起动继电器、湿度敏感控制器、安规电容器、陶瓷电容器、贴片电容、交流电动机电容器、微波炉电容器、电磁炉用高压电容器、小型熔断器、电磁发热线圈盘、高压变压器、高压熔断器等元器件进行各项指标合格性测试。
电子元器件高低温循环测试方法
高低温循环测试(又名高低温循环试验、高低温试验等)主要是针对于电工、电子产品,以及其原器件,及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。
贮藏期间干豆腐微生物指标和感官品质的变化
利用脉冲强光杀菌技术对干豆腐进行灭菌处理,试验结果表面其贮藏时间比未灭菌空白组干豆腐多3 d.经过电子鼻测试表明,未灭菌干豆腐在贮藏第5天起气味发生明显变化,而经过脉冲强光灭菌的干豆腐在贮藏7 d内气味并没有发生明显变化,说明脉冲强光杀菌技术可以有效杀灭干豆腐表面的微生物,延长其货架期并且不影响其感官品质。
GaN MOS-HEMT器件异质结界面的无损深度分析
GaN因其宽禁带(3.4~6.2 eV)、高电子迁移率(2.8×107 cm/s)、高临界击穿场强(≥5 MV/CM)和高热导率(1.3 W/(cm∙K))等物理特性而在微波射频、高功率电子器件等领域应用广泛,其中GaN 基HEMT器件更是成为了半导体器件领域的研究热点。
TOF-SIMS在光电器件研究中的应用系列之四
宽带隙钙钛矿(1.68 eV)是两端钙钛矿/硅叠层太阳电池的重要前电池吸光材料。然而,这类宽带隙钙钛矿太阳电池中存在大量缺陷诱导的非辐射电荷复合,导致器件开路电压(VOC)远低于理论值,严重限制了器件效率的进一步提升。深能级受体缺陷是影响VOC的主要因素,缺陷钝化是提供器件效率的有效策略。
元器件电工电子产品的模拟短持续时间的脉冲作用
本标准规定了元器件、设备和其他电工电子产品的正弦拍频振动试验方法,因为这些元器件、设备和其他电工电子产品在使用中会经受到诸如地震、爆炸现象或机器振动所引起的短持续时间的脉冲和振荡力的作用。
标乐先进的制样技术 功率器件IGBT的金相制备
随着节能环保等理念的推进,功率器件在市场上越来越多见;IGBT 是能源变换与传输的核心器件,俗称电力电子装置的“CPU”,作为国家战略性新兴产业,在轨道交通、智能电网、航空航天、电动汽车与新能源装备等领域应用极广。IGBT 模块具有节能、安装维修方便、散热稳定等特点;当前市场上销售的多为此类模块化产品,一般所说的 IGBT也指IGBT模块。
卓立汉光机产品在光通信行业中的应用-光无源器件篇
文光无源器件的分类、封装类型、结构和电性能做出简要介绍,并对对光无源器件生产过程中,卓立汉光可提供的工装方案、设备改进等方面做说明。
氦质谱检漏仪半导体特殊器件检漏
半导体器件 semiconductor device 通常利用不同的半导体材料, 采用不同的工艺和几何结构, 已研制出种类繁多, 功能用途各异的多种晶体二极管, 晶体二极管的频率覆盖范围可从低频, 高频, 微波, 毫米波, 红外直至光波. 三端器件一般是有源器件, 典型代表是各种晶体管 ( 又称晶体三极管 ). 晶体管又可以分为双极型晶体管和场效应晶体管两类.
飞纳电镜和离子研磨仪在元器件封装失效分析的案例分享
器件焊线连接芯片和引脚,连接芯片一端,一般为第一焊点(DB 代称),另一端连接金属框架引脚(WB 代称),这两处的焊接性能是封装失效分析重点关注的部分,下面就以此案例,分享一些器件封装失效分析的小知识,小编抛砖引玉,大家相互交流学习。
inTEST 热流仪搭配 Keysight 进行功率器件高低温测试
inTEST 热流仪搭配 Keysight 进行功率器件自动化高低温测试上海伯东美国 inTEST 热测产品搭配 Keysight 机台, 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -100℃ - 350℃ 自动化热测试解决方案. Keysight 机台完美兼容 inTEST 软件, 操作简单.
应用分享 | TOF-SIMS在光电器件研究中的应用二
宽带隙钙钛矿(1.68 eV)是两端钙钛矿/硅叠层太阳电池的重要前电池吸光材料。然而,这类宽带隙钙钛矿太阳电池中存在大量缺陷诱导的非辐射电荷复合,导致器件开路电压(VOC)远低于理论值,严重限制了器件效率的进一步提升。
Nexsa G2小束斑+特色SnapMap快照成像功能分析SnO?成分半导体器件
近几年来,随着国内科技产业的不断升级,对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展,比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等,对高性能微电子器件的需求更是呈指数级增长,这使得微电子器件自然而然就成为人们研究的热点材料。在微电子器件的研究中,通常需要对微电子器件表面进行各种加工、改性处理,来使其具有不同的性能。由于X射线光电子能谱仪(XPS)是一种表面分析技术,随着商业化XPS设备的普及,其在微电子器件研究中的应用越来越广泛,逐渐成为微电子器件研究中不可或缺的分析手段。本方案通过赛默飞最新一代XPS表面分析平台Nexsa G2,对半导体器件表面形成的窄条形SnOx成分进行小束斑+特色SnapMap快照成像测试,展示如何通过设备小束斑+成像功能,快速全面分析这类特殊小尺寸半导体器件表面成分及其在面内分布情况,来辅助评估表面处理效果及器件质量。
异形器件的失效分析测试方案之原位XPS+AES
失效分析(Failure Analysis)是探究元器件失效根源的重要手段。PHI XPS以其卓越的微区XPS分析能力为基础,再结合SAM功能配件,在应对微小特征和结构复杂异形器件的失效分析上,可实现对微区特征的精准定位和可靠的分析。
拉曼光谱+二维铁电材料+器件化
近期二维铁电材料所具有的面内或面外铁电性已在实验中得到了证实,为开发原子尺度的功能电子器件提供了机遇。然而要实现二维铁电材料的器件化应用,关键步骤在于如何有效地进行铁电极化及铁电畴结构的大规模均匀调控。但现阶段在二维材料极限厚度下利用外电场进行铁电畴工程的方法,不可避免地导致大的漏电流甚至材料击穿等问题。
小束斑+特色SnapMap快照成像功能分析SnOx成分半导体器件
近几年来,随着国内科技产业的不断升级,对微电子器件的需求日益增加。特别是高科技产品的快速发展,比如智能手机、电脑、无人机、新能源汽车、智能机器人等,对高性能微电子器件的需求更是呈指数级增长,这使得微电子器件自然而然就成为人们研究的热点材料。在微电子器件的研究中,通常需要对微电子器件表面进行各种加工、改性处理,来使其具有不同的性能。由于X射线光电子能谱仪(XPS)是一种表面分析技术,随着商业化XPS设备的普及,其在微电子器件研究中的应用越来越广泛,逐渐成为微电子器件研究中不可或缺的分析手段。
基于RIN测试的激光器抗反射测试平台器件方案
基于RIN测试的激光器抗反射测试平台器件方案
引脚元器件共面性测试仪
本仪器采用强大的测量软件,能高效率的检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状,1、元器件共面性测试、引脚移位检测、引脚高度错误检测、引脚面积测量、直径、角度、不规则面积测量、手轮可调节光栅、非刺眼型光源、高精度XZ轴测距、SPC过程统计
【微光谱应用】探究不同测试方法在电致发光器件表征中的不同
电致发光材料(Electroluminescent Materials)被广泛应用于各种显示、照明等领域。在电致发光材料性能表征的过程中,我们通常将待测样品加上恒定的电压,来测试器件的电流、亮度等参数。这些参数很多都受器件电阻的影响,因此准确的获得器件电阻就非常的重要。
生物瓣膜假体的流体动力学性能
用400毫焦的PIV激光器作光源,用LaVision的ImagerHS型高速相机做成像器件,用LaVision的DaVis软件平台分析处理图像采集数据。对生物瓣膜假体的流体动力学性能进行了测试,分析。
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