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深度分析

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深度分析相关的论坛

  • XPS的深度分析

    对XPS了解的很少，看了文献中XPS的深度分析，可以给出深度和元素含量的关系，前几天我送样测了一个聚合物的，只给出了溅射时间和元素含量，分析测试的老师说，不知道溅射的深度，我一点也不懂，请高手给予赐教。

  • SEM-EDS分析深度相关文献

    各位大神，我想了解一下SEM-EDS分析深度介绍的文章或者书籍，关于二次电子、背散射电子、X射线的分析深度的，请推荐一下资料，最好是英文的，非常感谢！

  • 【资料】X射线分析深度与样品厚度

    【资料】X射线分析深度与样品厚度

    前段时间看到有版友提到X射线分析深度与样品厚度的问题，在此，我查阅了一些资料，现在给大家分享一下。X射线分析深度与样品厚度 X射线在物质中的穿透深度与波长有关。波长越短，穿透深度越大。波长相同时，物质的平均原子序数越小（轻元素含量高），穿透深度越大。换句话说，样品所发射的荧光X射线的波长越短，及样品中的轻元素含量越高，则获得的试样深部的信息就越多。也就意味着，荧光X射线的波长越长，所得到的样品表面附近的信息就越多，或仅包含表面附近的信息。也因此，元素越轻越易受到样品表面的影响。 测定短波长X射线时，或者分析主成分为轻元素的样品时，如果样品的厚度不够，即使测定组成相同的样品，X射线强度也会因样品厚度不同而变化。图10.6是Ni箔样品中Ni的荧光X射线强度与试样厚度的关系曲线。在组成不变的情况下，X射线强度不再随样品厚度增加而变化时的厚度称为无限厚。除了薄膜分析之外，易受样品厚度影响的典型分析实例是树脂中重金属元素的分析。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104201724_290037_1601823_3.jpg 图10.6 样品厚度与X射线强度的关系 在分析树脂中Cd时，X射线强度随样品厚度而变化。将粒状树脂标准样品经热压后制成2 mm厚的圆片，作为Cd分析的校准样品。使用相同的样品，通过改变样品厚度或样品加入量，测定Cd的X射线强度。结果表明，即使是同一样品，因厚度或加入量的不同，测定强度也会发生很大变化。表10.2是以2mm厚的圆片校准，得到的不同厚度样品的定量结果。因此，在某些类型的样品分析中，因样品厚度不同所造成的分析误差是相当大的。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104201732_290041_1601823_3.jpg 由于被测样品或元素（谱线）是否受样品厚度影响对样品制备方法及测定条件的研究确定有很大影响，要进行高精度分析，就应事先对此进行检查。

  • SRM-EDS分析深度相关文献

    请问哪位大神有关于SEM、EDS的分析深度相关描述的文章或者书籍推荐？我想了解二次电子、背散射电子、X射线的分析深度，谢谢啦！

  • 深度学习算法可用于近红外光谱成像分析领域的哪些方面？

    [font=宋体][font=宋体]卷积神经网络、自适应编码器等可用于特征提取、噪声消除等；此外，卷积神经网络、[/font][font=Times New Roman]LSTM[/font][font=宋体]神经网络等可直接用于模式识别或是定量分析。目前，深度学习算法在农产品近红外成像分析领域的应用尚在探索阶段，比如输入的选取、深度神经网络的拓扑结构设计等。尽管深度学习在图像、视频、音频和自然语言处理等领域展现了无可比拟的优势，但是在光谱成像分析领域，深度学习算法是否一定优于传统方法还有待具体问题具体分析。[/font][/font]

  • 利用共焦技术分析高分子样品的深度分布

    利用共焦技术分析高分子样品的深度分布

    在renishaw的仪器介绍里看到这个例子，用633纳米激光分析高分子样品的深度分布。样品：2微米厚度的PE膜，厚的PP基底条件：用50倍镜头逐渐从PE表层聚焦到基底PP层取得图谱结果：PE光谱中很微弱的PP的信息；随着聚焦点深入，PP信号逐渐增强，直至完全只出现PP图谱。（结果如下图）我想请问各位老师，一、当聚焦到PP基底时，上层的PE信号就完全没有了吗？激光不是先经过PE，然后在进入PP层，为什么会完全没有PE的信号呢？二、我们其他一些不透明的多层样品，是否也可以通过这个办法逐层测试其中的成分？http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311211140_478567_2806641_3.png

  • 【资料】材料分析图-十几个仪器的分辨率，检测线，测样深度都包括了

    材料分析仪器的分辨率，检测线，测样深度，仪器包括了SEM,TEM,EDS,AES,TOFSIMS,XPS,ROMAN,FTIR,XRD,XRF,GC-MS,[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]等等，绝对值得收藏！[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=141750]材料分析仪器的分辨率，检测线，测样深度[/url]

  • 剖析 - 趋肤深度和趋肤效应

    剖析 - 趋肤深度和趋肤效应

    [img=,520,299]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/05/201905061107301780_6432_3859729_3.jpg!w520x299.jpg[/img]当导体中有交流电或者交变电磁场时，导体内部的电流分布不均匀，电流集中在导体的“皮肤”部分，也就是说电流集中在导体外表的薄层，越靠近导体表面，电流密度越大，导体内部实际上电流较小。结果使导体的电阻增加，使它的损耗功率也增加。这一现象称为趋肤效应(skin effect)趋肤效应，是在任何射频频率下操作导体或半导体，或者说，事实上除直流之外的所有应用中都需要了解的一种重要现象。然而，趋肤效应和趋肤深度的话题却鲜被触及。 本质上，“趋肤效应”一词用于描述电流在导体内的分布方式随频率及材料特性的变化。据观察，信号频率越高，导体内的电荷分布越趋向于导体表面近处。无论是单纯线缆、同轴电缆、微带还是天线导体，所有导体中均存在这一现象。 趋肤效应导致导体的射频电阻性损耗，但仅发生于其内有正在传播的射频能量的电流流动的导体中。在波导、同轴电缆/连接器及天线中，趋肤效应通常发生于传输线内壁的外表面。在某些微带线和带状线结构中，情况较为复杂，这是因为承载电流的导体为与电介质的接触的内表面，而非电镀外表面。一般而言，由于导体表面处的电阻更大，因此趋肤深度越小，射频损耗越大。在数个参数已知的情况下，可以计算出电流在导体内的分布情况。 趋肤深度是指电荷在导体内传播时大多数电荷所在的厚度。由于趋肤深度是频率以及导体电阻率和磁导率相互作用的结果，因此不同导体材料的射频损耗随频率变化的特征不同。例如，铜的电阻率为1.678μΩ/cm，相对磁导率为0.999991；金的电阻率为2.24μΩ/cm，相对磁导率为1；镍的电阻率为6.84μΩ/cm，相对磁导率为600。铜、金、镍在1GHz下的趋肤深度分别为2.06μm、2.38μm及0.170μm。因此，镍的射频损耗最严重，而铜和金的射频损耗要小得多。 从趋肤现象中可得出一些有趣的结论：首先，导体的磁导率可极大地影响材料的射频损耗；其次，在很高的频率下，大多数电荷仅在表面附近的薄层内传播，因此在这些频率下，即使采用非常薄的导体，也不会影响插入损耗性能。 然而，导体的射频损耗并不完全由频率、相对磁导率和电阻率决定，其表面状况对射频损耗也具有非常大的影响。对于在表面附近传播的电流而言，一个极其粗糙和不平整的表面相当于增加了其传播路径的长度，因此此类表面将导致更大的电阻性损耗。这便是薄膜射频和高精度毫米波应用将表面粗糙度视作一个主要考虑因素的原因。与此相反，在所有宽带应用中，随频率的增高，导体或传输线的插入损耗和衰减度反而越来越低。如需了解更多内容请关注嘉兆科技嘉兆公司拥有40年测试测量行业经验，专业的销售、技术、服务团队，在众多领域都非常出色，包括：通用微波/射频测试、无线通信测试、数据采集记录与分析、振动与噪声分析、电磁兼容测试、汽车安全测试、精密可编程测量电源、微波/射频元器件、传感器等，并分别在深圳、北京、上海、武汉、西安、沈阳、珠海、成都设有全资分公司、生产工厂、办事处。

  • 求助:深度剖析的步骤

    工程师培训的时候没有讲深度剖析的步骤.但是现在我导师要看他的催化剂上Cr的分布,我告诉他我不会.他让我在不损坏仪器的基础上自己摸索,[em06] [em06] [em06] .谁能告诉我怎么做剖析啊!

  • 【求助】请教xps的深度剖析

    [size=4]小弟用粉末状吸附材料对金属离子进行了吸附，现在想研究看吸附以后，金属离子有没有扩散进入吸附剂内部，就想用xps的深度剖析，但是咨询一位老师，被告知xps的深度剖析一般用来测试块状的样品，不适合测试粉末状的，请问各位前辈有没有什么好的办法~~[/size]

  • 【讨论】关于“采样深度对目标信号的影响”

    在一篇文献中看到有一段话——“在常规等离子分析条件下，采样深度代表的是工作线圈到采样锥的距离，一定范围的采样深度能够使得样品完全离子化，同时保证减少其他离子（氧化物及二价离子）的形成和影响”。 请问各位，其中的“一定范围的采样深度能够使得样品完全离子化”这句话是否正确？ 个人觉得元素在等离子火焰中离子化程度跟本身的电离能和工作线圈上加的功率有关，和采样深度貌似没有什么关系吧？

  • 采样深度的选择

    采样深度的选择

    timstoicpms版友写的：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/11/201211240658_406725_2166779_3.jpg最近从书中看到的：冷等离子体分析条件（Rf功率600~900w）下，采样深度要大一些（约13mm），这是因为此时炬管能量较小，样品需要在等离子体内驻留更长的时间，以实现完全离子化。而且多本书中也写到冷等离子体的工作参数：Rf 600~900w，采样深度10~20mm。timstoicpms写到采样深度减小（即炬管口更靠近样品锥），灵敏度增高，二价离子的产率也增大。如果与书上写的对应起来，样品在等离子体内驻留的时间应该更短，离子化更不完全，怎么会灵敏度更高呢？可是http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/11/201211240713_406726_2166779_3.jpg与安捷伦推荐的Rf功率1550w，Smpl Depth 5.0 mm对应起来是有这样的关系：Rf大，采样深度也大；另我也有做过增大采样深度，CeO/Ce氧化物产率的确会减小，也即离子化更完全了。timstoicpms写的与书中写的怎么我都对应不起来啊，感觉有点矛盾了？到底有如何理解这个采样深度与灵敏度，氧化物产率，二价离子的产率的关系啊，谢谢

  • 振动光谱与深度学习

    深度学习是一种先进的机器学习方法，具有很好的学习复杂关系的能力，可以直接从大规模原始数据集构建预测模型。随着人工智能的快速发展，以卷积神经网络（CNN）为代表的深度学习在皮肤癌的分类，变异发现和基因分型，人类血细胞计数等方面取得了巨大的成功。对于振动光谱数据，Acquarelli等人使用CNN来识别重要的光谱区域。Chen等应用CNN建立近红外（NIR）光谱定量分析模型。Lu等人开发了基于CNN的模型来识别混合物拉曼光谱的成分。

  • 【求助】放大倍数和检测深度的关系

    各位高人，请问利用扫描电子显微镜做EPMA分析时，放大倍数和检测深度有什么关系。当放大倍数为10X时，检测深度为10mm，10000X时，检测深度为1微米，那么放大倍数为250X时，检测深度是不是250微米？

  • 【求助】AES和SIMS做深度谱各有哪些优缺点？

    我想做氮化碳薄膜的深度谱分析，厚度400nm左右，基底为Si3N4，请问用那种方法做深度谱比较合适，AES还是SIMS？它们各有什么优缺点？另外，XPS好些也可以做深度谱了，它与AES和SIMS有什么不同？希望得到各位老师指点，小弟先谢谢了。

  • 关于XRF的检测深度问题

    XRF经常被用来分析材料中各元素的半定量分析。但是我有一个疑问：有些样品是核壳结构，而且内核和外壳的组成是不一样的。那么，XRF的探测深度有多少呢？如何保证检测结果是整个核壳结构的元素分布，而不是只是壳的元素分布呢？

  • 【求助】请教拉曼的分析深度问题

    【求助】请教拉曼的分析深度问题

    做了一个纳米四氧化三铁的样品，颗粒大小约100多个纳米，XRD分析显示为Fe3O4，但拉曼分析总是显示是α－Fe2O3，几乎没有Fe3O4的峰，我想这可能是表面氧化的原因，但是XRD上没有α－Fe2O3的峰说明其含量相当少，但拉曼显示其是主要物相，难道拉曼光谱只是表面分析手段吗？还是激光聚焦过程产生的高温让样品在空气中氧化了？希望高手解答。用的拉曼光谱仪是JY的HR800，激光是514的。

  • 近红外漫反射对于谷粒的探测深度（probe depth）

    各位做食品，饲料，农业的兄弟，谁能够说说一个大概的近红外漫反射（非透射）对谷粒的探测深度啊？看到过很多用漫反射的方法做谷物全粒分析的，比如置顶的玉米分析的文章，但是具体近红外的探测深度在什么数量级，cm？mm？还是um？似乎没有人提到过啊。多谢！还有，近红外对谷物的漫反射光谱的吸收强度是不是比透射光谱要低一个数量级以上？谁有实际经验的也说说看？

  • 12月24日 用于XPS深度剖析的MAGCIS复合型离子源（赛默飞）

    http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif用于XPS深度剖析的MAGCIS复合型离子源讲座时间：2014年12月24日 14:00主讲人：葛青亲葛青亲博士，2013年毕业于复旦大学物理系凝聚态物理专业。博士期间从事复杂量子材料的光电子能谱研究。使用基于同步辐射与激光的电子能谱系统，研究对象涵盖高温超导，铁基超导，Mott绝缘体等关联体系，及人工异质界面和有机功能分子材料等低维体系的电子结构研究。拥有丰富的电子能谱系统操作、搭建和光电子能谱数据处理经验，博士期间多次赴美国、日本、德国、意大利等同步辐射中心进行交流合作，在Nature Physics、Physical Review X等国际一流杂志发表论文10余篇。现为赛默飞应用专家。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif【简介】XPS是极其表面敏感的技术手段，而我们所要研究的很多“表面”问题并不都是在样品表面10nm以内。如触摸屏表面涂层、低辐射玻璃表面镀膜以及太阳能电池、OLED等层状器件材料的研究，我们不仅仅要了解材料表面微米尺度的元素分布信息，还要关心层结构之间的界面性质。这时我们就需要结合离子束溅射剖析手段，将XPS测试手段从表面分析拓展到体内微米尺度。材料科学的发展要求我们在XPS深度剖析时使用一个性能优越的溅射离子源，以实现无机材料的高效剖析以及有机材料的无损溅射。在本次报告中，我们将和大家一起交流和分享赛默飞世尔科技有限公司的MAGCIS复合离子源的基本工作原理和实际应用案例。主要包括：高效XPS深度剖析在有机半导体器件、共混聚合物材料等领域的应用。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间：2014年12月24日 13:304、报名参会：http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/12745、报名及参会咨询：QQ群—231246773

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