粒度吸附

仪器简介：作为最先将光导纤维引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司对光纤技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，从而推出FOQELS（Fiber Optic Quasi Elastic Light Scattering）。与经典的动态光散射粒度分析仪不同的是，FOQELS采用了独特的背向光散射测量技术，使用全光纤光路传输，有效地提高了光散射技术的浓度测量上限，最高可达40%wt。同时，提供了高温测量选件（宇航级隔热材料），极大地拓宽了仪器的应用范围，例如对于高温油的测量。技术参数：1.粒度范围：0.3nm～3&mu m （与折射率，浓度有关）2.典型精度：1％3.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4.样品体积：典型样品池1ml，50&mu L微量样品池（可选）5.悬浮液浓度：0.0001%&mdash 40%（与样品的粒度大小有关）6.温控范围与精度： 6° C ～ 80° C, ± 0.1° C7.检测器：PMT或APD8.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数9.散射角：145° 主要特点：1.高浓度粒度分析，最高可达40%wt；2.适合高温样品体系的测量。

Aode-75声波筛分仪也叫筛分粒度仪是丹东奥德仪器有限公司自主研发生产的一款测试粉末粒度分布的筛分仪器仪器是利用声波产生的振动来进行筛分工作，该仪器完全符合国家标准《细粉末粒度分布的测定-声波筛分法GB/13220》 和美国ASTME323 ASTM161的标准，筛分粒度最小下限可筛分5微米的粉末颗粒。筛分软件仪器配有粒度分布测试软件，软件会将筛分前的质量和筛分后的质量自动上传到windows软件中，由软件自行分析筛上和筛下质量百分比,并且显示出粒度分布曲线及各层筛余量的百分比，整个过程无需人工计算，测试结果可以进行无限量的保存和打印。筛分原理：声波振动筛分仪在进行工作时，动力主要来源于声波发生器。在筛分实验进行前需将标准筛叠加成一个密闭的筛塔组合空间，声波发生器产生的声波会推动空气振动推片，将密闭的筛塔组合空间里的空气做上下提升的运动，此时会形成一个柱状空气以3600次/分钟的振动频率带动空气在筛孔做上下提升运动，迫使筛网表面的粉末也随之一起振动、翻滚、跳跃，小于筛孔的粉末颗粒轻易得到筛分，最hou的一级粉末由收集器收集。这种以声波带动空气的高频率的振动方式是常规筛分仪达不到的振动频率！这样的振动筛分方式能有效解决超细粉末易团聚，易吸附，易产生静电等问题，大大提高了筛分效率和时间。

2021年产品推荐（解决方案）美国MAS多功能超声粒度分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MNS公司纳米粒度及Zeta电位分析仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS多功能超声粒度分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

Aode200s声波筛分仪声波筛分仪简介声波筛分仪Aode-200S是丹东奥德仪器有限公司自主研发生产的一款测试细粉末粒度分布测定的筛分仪器，声波筛分仪在工作时可产生每分钟3000-3600次的空气振动，这是常规筛分仪达不到的振动效果，尤其对真密度低的轻质量的粉末瞬间会被筛分。声波筛分仪最小下限可筛分5微米的粉末颗粒。仪器配有粒度分布测试软件，软件会将筛分前的质量和筛分后的质量自动上传到windows软件中，由软件自行分析筛上和筛下质量百分比并且显示出粒度分布曲线及各层筛余量的百分比，测量结果可以进行无限量的保存和打印。该仪器是由声波发生器，声波频率调节器，标准筛，样品收集仓，隔圈，空气振动推片，计时器，垂直间断击打器，横向间断击打器，防声可视透明窗等配件组成。仪器应用于医药、电子、化工、轻工、粉末治金、食品、建材、电器等行业，是一款应用领域非常广的仪器。声波筛分仪原理：声波振动筛分仪在进行筛分工作时，需将标准筛叠加成一个密闭的筛塔组合空间，声波发生器会推动空气振动推片，将会产生一个柱状空气以3600次/分钟的振动频率振动，这种振动是带着空气在筛孔做上下运动，空气的上下运动使筛网表面的粉体也随之一起振动和翻滚跳跃，小于筛网的粉末颗粒落到下一级筛中，堵住筛孔的颗粒会被空气提升重新定位进行再次筛分，最hou的一级粉末由收集器收集。仪器特点：筛分粒度范围宽，可筛分5微米至0.8毫米的粉末颗粒声波筛分仪的特点是利用空气上下的流动进行筛分，对样品和筛网没有损伤，特别的空气垂直振动筛分方式可以轻松处理各种难以筛分的超细粉末样品不需要负压设备，并可一次进行多层筛分仪器配有纵向击打器，可以有效地解决粉末团聚性和吸附性仪器配有软件，软件可自动计算出粒度分布和质量百分比并生成曲线图。结果可以在windows界面无限打印和保存筛分时间短，效率高，重复性好可任意设定筛分和击打时间及振动频率声波筛分法可轻松达到振动筛湿筛分的效果 仪器参数：尺寸：宽50cm 深38cm 高99cm重量：28kg功率： 220v-60W击打方向 ：垂直击打，纵向击打堆叠层数：可叠加8组直径200标准筛进行同时筛分筛分时间：1分钟-99.99分钟频率范围：2HZ-300HZ工作环境：温度0-40摄氏度、湿度85%筛分范围： 10-100克标准筛尺寸：直径200的标准筛粒径范围：5微米-0.85毫米特殊颗粒可达4.75mm

主要性能指标及技术参数1.1基本性能单组分或多组分等温吸附/解吸温度:室温～100℃操作压力：40MPa系统最大压力：70MPa1.2样品缸、参考缸样品粒度：&le 60目样品质量：200g参考缸体积：150ml参考缸数量：6个，外径70mm,长330mm样品缸体积：150mL样品缸数量：6个，外径430mm材料：不锈钢压力密封：专门的金属环密封压力源：气体增压泵加压装置：空压机1.3恒温装置油浴锅：60L*2个油浴尺寸：500mm(长)*480mm（宽）*240mm(深)温度设定：独立温区油浴循环：内置恒温油：附带1.4压力采集压力传感器：三线制压力传感器压力范围：0-40MPa额定压力：40MPa一体式气压计：精度± 0.1%数量：12个输出：3mv/v1.5温度采集温度检测系统：温度传感器± 0.1℃多通道精度模数转换器：16位1.6气体源：总供给：3气体输入：甲烷，氦气，二氧化碳压力：20MPa稳定性：3%每种气体都配置高压钢瓶1.7电动气体调节器总供给：3压力：40MPa稳定性：1%输入：0-1V增压压力：0.6Mpa1.6计算机控制计算机：主频：3.0GHZ,内存1GB,硬盘160GB自动控制：计算机自动控制系统软件：FINESORB-ISO数据采集软件FINESORB-IAO吸附/解吸数据处理软件多组分气体吸附/解吸数据处理软件提供中文版说明书1.7其他备件（另外）：样品缸：1个手动针阀：3个气动针阀：2个RTD:2个 表头：6个高压气瓶：不同气体配3个不锈钢管：4米稳压电源：1个密封圈：4个

美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

2021年产品推荐（解决方案）美国MAS超声粒度仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MNS公司纳米粒度及Zeta电位分析仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS超声粒度仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

PSI-4型测定仪使用说明书 一、仪器简介及应用范围PSI-4系列为第四代透过法粒度测定仪，是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单，操作方便，仪器有快速计算板，不需要复杂计算，测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“张瑞福法”，该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准：GB11107-89和国际标准：ISO10070-91，荣获国家发明奖。PSI-4A型带快速计算板，无须复杂计算，可直接读出粒径值，使用操作非常方便。PSI-4B型带有游标卡尺，可精确测量粉末床的厚度及水柱高度，大大提高了测量范围和精度。本仪器由张瑞福先生亲自监制。 二、技术性能PSI-4APSI-4B仪器设计精度0.010.01粒度测量精度0.030.02粒度测量范围Dk0.1~100μm0.02~120μmDv0.02~1μm0.002~0.5μm比表面积测量Sk0.06~60(m2/g)0.05~300(m2/g)Sv6~300(m2/g)12~3000(m2/g)Sw2~150(m2/g)0.2~1.5×103(m2/g)注：Dk为包络比表面粒度，也称粘性流透过粒度；Dv为全比表面粒度；Sw为质量全比表面积 Sk为粉末包络比表面积； Sv为粉末全比表面积，也称粉末吸附全比表面积。工作环境： 干燥，无腐蚀，温度25±12℃，相对湿度＜80%电 源： 220ACV，50Hz，20W外型尺寸： 755×400×260 mm3净 重： 12 kg三、工作原理及结构本仪器是基于稳定空气流动下，气体透过粉末压缩床，气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时，就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。仪器的气流及测压系统如(图一)。 空气由微型气泵(14)加压送入系统，泄气阀(1)和水柱稳压器(13)将过量的空气排入大气，垂直压力计(12)测量供气系统的压力。调节泄气阀开度和水柱稳压器的液面高度将供气压力稳定在500mm水柱。稳压后的少量的空气经干燥器后进入试样管，由U型压力计测得空气出试样管后、进精密阀前的压力。空气*后经精密阀排入大气。在上述系统中，对于一定量的粉末，按国标GB11107-89即可求得粒度值： Dk=aL … … … … … … … … … （1） 又：ΔP=50-2H … … … … … … … … … … … … … … … … … （2） … … … … … … … … … … … … … … … … （3） … … … … … … … … … … … … … … … … … … （4） 可得：Dk=5.34L… … … … … … （5）上列式中：m为粉末的质量（克）；ρe为粉末物质的物性密度或有效密度；εp定义为粉末床的孔隙度；α定义为试样的下料系数，是粉末质量与密度的比值；Δp是空气透过粉末床试样的压力降（厘米水柱）；H为U型压力计单根水柱上升高度值（厘米），U型压力计是精密等径管制成，真实的压力值应为2H厘米水柱；L为试样（粉末床）厚度，单位为（厘米）；a为仪器常数5.34，具有量纲（厘米）1.5，计算所得Dk值单位为（微米）。 A、B两种型号具有完全相同的气流系统。不同之处在于粉末床及水柱高度的测量方法。PSI-4A型如（图二）所示：中间的齿轮齿杆（8）的作用是压缩粉末床和测量压力计中水柱高度。四个腰圆型孔用来观察稳压系统的工作情况：左下孔观察水柱稳压器工作时的气泡冒出情况，以3-8（个/秒）的气泡冒出速率为宜。左上孔观察水柱稳压器的水位。右下孔观察垂直压力计的初始值，右上孔观察开泵后垂直压力计的水柱高度值，二者之差才是供气压力真实值。仪器正面的快速计算板上图形意义如下：横坐标表示的是试样的孔隙度值，纵坐标是公制的长度单位，可度量压力计的水柱高度和粉末床的厚度。中间互不相交的曲线簇是不同孔隙度和不同压力时的等粒度线，图形下部和等粒度线相交的粗黑线是试样（粉末床）厚度线L0，它的横坐标值是α=1时不同厚度粉末床对应的孔隙度值，计算板可左右移动。PSI-4B型外型见（图三）。与A型相比，少了快速计算板，多了游标卡尺。这样能更精确的测量试样（粉末床）的厚度值和压力计水柱高度。 四、仪器的调试与校准 仪器使用前必须进行调试和校准，两种型号基本相同，主要有三项： PSI-4A型：调节升降齿杆的旋钮，使齿杆上的指针与计算板的水平坐标基线平齐，此时U型压力计的基准水平面应与齿杆上的指针座平面平齐如（图四）所示。如不平齐，可先调节水位微调阀（图二-13）；如仍调节不到位，则须对U型压力计进行加水（当U型压力计的基准水平面低于指针座平面时）或放水的操作（当U型压力计的基准水平面高于指针座平面时）。加水操作：全部松开微调阀，将水加入加水小漏斗（图一-5），再松开流量计加水阀（图一-4，图二-11），慢慢放水入U型管，当U型管压力计的基准水平面接近指针座平面时，关闭加水阀。放水操作：松开加水阀（图二-11），用注射器吸出小漏斗内多余的水，直至U型压力计的基准水平面略低于齿杆上的指针座平面平面，关闭加水阀。最后调节微调阀，即可使U型压力计的基准水平面与齿杆上的指针座平面平齐。 1、U型压力计的校准PSI-4B型：U型压力计的基准水平面应与游标卡尺游标左卡脚上水平面平齐如（图五）。具体方法与PSI-4A型相同。 3、精密阀的校准：将标准管代替试样管进行测试，气流稳定后，U型压力计的读数应与标准管上标定的数值一致：若不一致，旋转调节精密阀（图二-10），使U型压力计的读数与标准管上标定的数值一致，稳定三分钟不变即可关泵停止。 2、气源压力的校准与调节：供气压力应始终保持在500±0.5mm水柱。将水柱稳压器加水至规定高度，记下垂直压力计的初始刻度值（图三-15）。将空试样管接入气流系统如（图二-14）、（图三-14）并夹紧。开气泵，垂直压力计水位上升，调节泄气阀（图二-2），使压力计水柱上升500毫米，即达到（500毫米+初始值），并维持此高度至测试结束。测试过程中，如有变动，随时调节泄气阀，保持气源压力的稳定。五、使用与操作步骤PSI-4B型 1、仪器的准备：对于经常使用的仪器，在使用前须做前一节中1、2项，即U型压力计水平基准校准和供气压力校准两项。第3项只作定期的检查（一个星期左右一次，或视使用频度而定）。仪器调试好后，停泵侯用。2、试样的制备：在千分之一的天平上称待测干燥粉末m克，用漏斗将其灌入带有一片快速滤纸和一多孔塞的试管中，试管插入橡皮坐上，漏斗及纸上附着的粉末用毛刷扫入试管中，然后盖一片滤纸和多孔塞。称取粉末的数量时，应考虑下料系数α，以求得较高的测试精度。α取值的原则是：使测量时U型压力计的水柱高度落在满量程的1/3~2/3内，粉末越粗，α值应越大；粉末越细，α值应越小。当Dk=1~20微米范围，α可取值为1~2；当Dk=20~120微米范围，α可取值为2~5，此时滤纸应用针钻孔5~6个消除滤纸阻力；当Dk=0.5~1微米范围，α可取值为0.5~1；当Dk小于0.5微米时，α可取值为0.5~0.03。将装有被测粉末的试管一头套在压缩装置底座的圆柱上，另一头在齿杆下紧压，用游标卡尺测出粉末床的厚度L，由此算出试样的孔隙度。… … … … … … … … （6） 3、测量：将粉末试样管从齿杆下取出接入试样夹头处夹紧（图三-14），开气泵，通气3分钟，稳定后，利用游标测量出U型压力计的水柱上升量H。4、计算：将已知的α、εp、H和L值代入公式（5），即可求得Dk；粉末粘性流比表面积为：（微米）-1，或（米2/厘米3）。 停泵开泵重新读一次，测量数据，两数相对误差小于3%，就是本次测试的最终结果。若大于3%，再重新测样，在此孔隙度下或接近此孔隙度值，测出试样的Dk值，最后，三数据平均值为试样结果。 若试样Dk小于0.4微米，通常应计算β值，和δ值。 … … … … … … … … … … … … … … （7） … … … … … … … … … … （8） 也可从β值查δ-β曲线（图六）得到δ，则Dv，Sv为 Dv=Dk/δ… … … … … … … … … … … … … … … （9） Sv==… … … … … … … … … … … （10）注意：三次测量应给粉末床加不同压力，以得到三种不同孔隙度下测得的粒度值。三值比较起伏应不超过3%。报告结果时，应指明测量时的孔隙度。Dv是纳米级粉末所须粒度。 PSI-4A型 1、仪器的准备：同B型。对于经常使用的仪器，在使用前须做前一节中1、2项。第3项只作定期的检查（视使用频度而定）。仪器调试好后，停泵侯用。 2、试样的制备：下料系数α取1，即m=ρe。在千分之一的天平上称待测干燥粉末m克，用漏斗将其灌入带有一片快速滤纸和一多孔塞的试管中，试管插入橡皮坐上，漏斗及纸上附着的粉末用毛刷扫入试管中，然后盖一片滤纸和多孔塞。将装有被测粉末的试管一头套在压缩装置底座的圆柱上，另一头在齿杆下紧压，移动计算板，找到试样高度线L0上与齿杆上的指针针尖等高的点并对准，该点的横坐标值即为粉末床的孔隙度εp。计算板保持不动。3、 测量：将粉末试样管从齿杆下取出接入试样夹头处夹紧如（图二-14），开气泵，通气三分钟，待U型压力计读数稳定，调节齿杆，使指针座平面与U型压力计水面平齐，此时齿杆指针所指的粒度值即为Dk。4、 α≠1时的测量：当粉末粒度Dk≥20或≤1微米，改变粉末的下料系数（取α≠1）可提高测量的精度。此时，可采用与PSI-4B型相同的计算法测量。α取值的原则亦同。利用升降齿杆测出粉末床的厚度和水柱高度，代入公式（3）、（4）、（5）即可得出Dk。 粉末粘性流比表面积为：（微米）-1，或（米2/厘米3）。六、仪器的维护与保养1、仪器内使用的水必须是蒸馏水。2、经常保持仪器清洁，注意不要让粉末进入系统中。 3、经常检查橡皮管是否有老化、开裂导致的漏气。如有应及时更换。4、精密阀校准后，一般不准再动。如果不小心碰动，应重新校准。5、橡皮和玻璃管道内的水柱中不能夹带气泡。 6、仪器干燥剂的检查与更换：仪器出厂时以装好变色硅胶干燥剂在气路中，正常状态硅胶为兰色，受潮时变为粉红色。硅胶变红后，将其从管道中取出，换上干燥硅胶，管道不得泄漏溢气。原硅胶可在120℃~130℃干燥2~3小时脱去已吸附的水分后，可反复多次使用。 附注：仪器附件箱装有：试样管一只，多孔塞两只，毛刷一把，多孔塞提推杆一条，漏斗一个，橡皮坐一个，快速滤纸一盒，标准管一支，金属勺子一把，注射器一只，软管一根。

梓梦科技动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

测试原理：在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相对动态法，无需载气（He），无需液氮杯反复升降；由于待测样品是在固定容积的样品管中，吸附质相对动态色谱法不流动，故叫静态容量法；测试理论：吸附、脱附等温线测定 BET比表面测定(单点/多点法)；朗格缪尔(Langmuir)比表面 统计吸附层厚度法外比表面； BJH法孔容孔径分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布； D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；DFT孔径分析 真密度测试、粒度估算报告。 脱气预处理系统：脱气站数量：2、4、8个预处理站可选；真空脱气，不采用气流吹扫方式；全自动脱气：不采用分体式的手动控制，而是采用与主机一体的全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停，程序升温、定时结束，实现无人值守测试和样品脱气处理；独 立 性：测试系统和脱气系统相互独立，样品的测试过程和脱气处理可同时进行；2组独立控温：可设置2组不同脱气温度、不同脱气时间； 金属加热脱气炉隔热设计，经久耐用，不易损坏脱气模式：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；独立真空系统：不与测试位共用真空泵，脱气系统配备独立的双级机械真空泵；分析测试系统：测试范围：比表面0. 0005m2/g至无上限；孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm 介孔分析: 2nm-50nm 大孔分析: 50nm-500nm)；总孔体积：0.0001cc/g至无上限。测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，最可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。分 析 站：1/2/4或6个分析站可选；独 立P0站：具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。测试系统：根据“国标标准”利用“氦气”测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。另外，也可以通过“氮气”测试得到温区体积(弊端：利用氮气测试温区体积，测试过程中可能导致样品部分孔内被氮填充，影响实验过程中氮的实际吸附量，影响测试精度)。气路系统：贝士德仪器独创的BEST“模块”歧管系统，对基准腔及控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少90%以上，彻底消除漏气点，整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，达到进口高端仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性。管路通径：大通径是高真空的必备条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到效果的体现。控制系统：采用原装进口日本SMC气控阀和电磁阀组合应用，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。真空系统：仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立，真正彻底消除了分析与脱气在同时进行时之间的相互影响，避免由一套真空系统而带来的污染问题。压力测量：原装进口电容薄膜压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-10torr（可选）；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的精度；微孔段分压 P/P0可达到 1×10-8，点数大于 50 个；大孔段具有 P0的实时测试功能，使 P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998。 液 氮 杯：配备了3L大容量小口径玻璃内胆杜瓦瓶，相对敞口不锈钢内胆的保温性能大幅提升，保温时长大于140小时，可连续测试90小时以上无需添加液氮，适应微孔长时间测试需求。真 空 泵：原装进口(阿特拉斯Atlas copco，原英国爱德华)双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，全程软件自动启停控制，实现了全自动化操作。 液位控制：贝士德独创的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；标定气体：配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性。测试气体：高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路独立进气口。样品类型：粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。售后服务：专业且完善的售后服务系统，可提供24小时电话咨询，48小时内上门服务，北京，上海，广州均设有服务机构，全力保障用户仪器正常运行；BSD-PS系列比表面及孔径分析仪---技术特点及优势l 独创的集成式“模块化”歧管系统模块化管路设计，将真空管路减少90%以上，仪器气密性提高10倍，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，减少漏气点，方便故障排查及维修，大幅增强仪器稳定性。 l 控制系统采用原装进口(日本SMC)气控阀和电磁阀组合应用，通过电磁阀控制气控阀的开关，气控阀直接与模块管路连接，气控阀的开关动作不发热，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。l 独立P0测试站及饱和蒸气压螺旋P0管(1) 具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，专利号：ZL201120136959.X)(2) 采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，是的测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。 (饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201620716311.2） l 液氮杯自动加盖功能具有液氮杯自动加盖功能，能有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰，（静态法比表面及孔径分析仪的加盖装置 专利号 ZL 201420148358.4）l 具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪基准腔恒温装置能够使恒温装置内的基准腔及内部气体、阀门、管路、传感器等的温度略高于环境温度并保持温度不变，降低了由于阀门发热导致温度的不均一性；保证了关键部件的温度恒定，减轻了传感器的漂移现象，提高了测试的准确性、稳定性和测试精度。（具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪 专利号 ZL 201420148783.3）l 非阻隔式防飞扬防污染多措施并用：? 措施①：涡旋降尘原理的非阻隔式硬件防污染装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况，如右图所示；? 措施②：贝士德独创的脱气位滤尘袋结合贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，缩短抽真空脱气时间、提高脱气效果；? 措施③：程序控制的分级抽速自动切换，防止瞬间高真空时样品飞扬；? 措施④程序升温，防止样品剧烈升温扬析沸腾；? 措施⑤：脱气完毕程控自动回填氮气；贝士德独创防污染滤尘袋结合涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，抽真空脱气时间缩短、效果提高。贝士德仪器独创的非阻隔式防飞扬防污染装置其他厂家的阻隔式防污染装置 工作过程：如遇到非常轻的样品，在高真空的情况下被抽飞，样品通过惯性首先落到滤尘袋内，极少部分会通过滤尘袋落到防污染瓶内，而不会进入气路系统，相比较阻隔式，既不影响真空度，又能够保护气路系统，彻底避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。非阻隔式防污染装置的优势：相比较阻隔式防污染装置，非阻隔式防污染装置能够彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。专利技术：(1) 具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201320045881.X；(2) 具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪，专利号：ZL201620714986.3。 工作原理：样品在脱气预处理过程中，如遇到较轻样品，在高真空的情况下，样品会发生扬析沸腾现象，常规的防污染都是通过阻隔的方式进行对气路系统的保护，而这种阻隔式防污染装置的弊端：1、若对2um以下的颗粒有效，则需要增加滤芯(滤棉)，而滤芯(滤棉)过多则会严重影响抽气速度，无法获得高真空度；2、如果滤芯(滤棉)过少，对于粒径小于2um的颗粒基本无效，样品便会发生扬析(抽飞)现象，发生扬析(抽飞)的样品便会进入管路系统、污染阀门等气路系统，影响真空度，造成样品的交叉污染，仪器维修率高，影响仪器的使用寿命。l 可选处理模式具有国内外首创的样品预“处理普通模式”和“分子置换模式”两种模式。(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，专利号：ZL201120136943. 9) l 真空泵自动启停管理优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命。l 断电自动保存当前数据超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行。l 人性化操作界面清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作。l 密封性自检先进的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气。l 高智能化工作模式交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容。l 杜绝液氮杯意外下降具有液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险。

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

Aode200s声波筛分仪声波筛分仪简介声波筛分仪Aode-200S是丹东奥德仪器有限公司自主研发生产的一款测试细粉末粒度分布测定的筛分仪器，声波筛分仪在工作时可产生每分钟3000-3600次的空气振动，这是常规筛分仪达不到的振动效果，尤其对真密度低的轻质量的粉末瞬间会被筛分。声波筛分仪最小下限可筛分5微米的粉末颗粒。仪器配有粒度分布测试软件，软件会将筛分前的质量和筛分后的质量自动上传到windows软件中，由软件自行分析筛上和筛下质量百分比并且显示出粒度分布曲线及各层筛余量的百分比，测量结果可以进行无限量的保存和打印。该仪器是由声波发生器，声波频率调节器，标准筛，样品收集仓，隔圈，空气振动推片，计时器，垂直间断击打器，横向间断击打器，防声可视透明窗等配件组成。仪器应用于医药、电子、化工、轻工、粉末治金、食品、建材、电器等行业，是一款应用领域非常广的仪器。声波筛分仪原理：声波振动筛分仪在进行筛分工作时，需将标准筛叠加成一个密闭的筛塔组合空间，声波发生器会推动空气振动推片，将会产生一个柱状空气以3600次/分钟的振动频率振动，这种振动是带着空气在筛孔做上下运动，空气的上下运动使筛网表面的粉体也随之一起振动和翻滚跳跃，小于筛网的粉末颗粒落到下一级筛中，堵住筛孔的颗粒会被空气提升重新定位进行再次筛分，最hou的一级粉末由收集器收集。仪器特点：筛分粒度范围宽，可筛分5微米至0.8毫米的粉末颗粒声波筛分仪的特点是利用空气上下的流动进行筛分，对样品和筛网没有损伤，特别的空气垂直振动筛分方式可以轻松处理各种难以筛分的超细粉末样品不需要负压设备，并可一次进行多层筛分仪器配有纵向击打器，可以有效地解决粉末团聚性和吸附性仪器配有软件，软件可自动计算出粒度分布和质量百分比并生成曲线图。结果可以在windows界面无限打印和保存筛分时间短，效率高，重复性好可任意设定筛分和击打时间及振动频率声波筛分法可轻松达到振动筛湿筛分的效果 仪器参数：尺寸：宽50cm 深38cm 高99cm重量：28kg功率： 220v-60W击打方向 ：垂直击打，纵向击打堆叠层数：可叠加8组直径200标准筛进行同时筛分筛分时间：1分钟-99.99分钟频率范围：2HZ-300HZ工作环境：温度0-40摄氏度、湿度85%筛分范围： 10-100克标准筛尺寸：直径200的标准筛粒径范围：5微米-0.85毫米特殊颗粒可达4.75mm

一、产品介绍NanoCoulter D 纳米粒度及电位分析仪具备粒径、电位多维度检测能力二、技术原理：在电解质液体中的芯片孔两侧有正负电极，当加上电压，电流通过小孔时，小孔周边会产生一个“电感应区”，随着每个颗粒通过小孔，颗粒会置换出对等体积的导电液体，瞬间增加了该电感应区的电阻，形成一个电位脉冲。仪器通过对电脉冲的准确测量分析，从而获得纳米颗粒的表征数据。电脉冲的幅度和粒径成正比，颗粒穿过纳米孔的速度(即电阻脉冲信号的宽度)与Zeta电位的大小相关。NanoCoulter可以实现单颗粒粒径、zeta电位同时分析的颗粒表征技术。三、产品优势：1、无需校准傻瓜式操作，无需热机，无需校准。只需扫描检测卡预制的二维码即可完成所有参数设置。2、无需清洗可抛弃型非侵入式检测卡；测样前无需清洗仪器和样本槽，直接上样就可进行测试3、智能软件审计追踪功能，符合21 CFR part 11；存储每个颗粒的完整脉冲信息，方便研发用户进行多角度分析4、NanoCoulter D纳米粒度及电位分析仪一次检测可同时获得粒径、电位信息媲美电镜的粒径测量精度单颗粒Zeta电位检测四、应用案例细胞外囊泡外泌体工程化修饰后电位变化分析Zeta电位的数值与样品分散的稳定性相关，颗粒所带电荷量直接影响样品颗粒的团聚状态，Zeta电位越低颗粒越容易聚集，Zeta电位越高样品就越趋于稳定。通过NanoCoulter检测可精准检测外泌体修饰前后的粒径分布和电位变化。病毒颗粒腺病毒批间差控制腺病毒生产中的培养基成分、温度、pH值、细胞培养方式等都影响着产毒效率。NanoCoulter纳米粒度仪可对腺病毒的径分布、 电位进行实时监测，快速评估不同批次间的差异，优化生产工艺和参数。纳米材料小分子添加剂对于颗粒悬液体系的zeta影响是巨大的，在研究体系zeta电位时，应该特别注意分散剂环境的组成。随着吐温的加入，吐温分子吸附在聚合物的表面，屏蔽了微球表面带电基团和周围分散液，导致了zeta电位绝对值下降。影响zeta电位最重要的因素是pH。当pH改变时，溶液中质子(H+)的浓度也随之改变，颗粒表面吸附的离子种类发生了变化，进而导致颗粒表面电荷和zeta电位的变化。五、技术参数1、粒径粒径检测范围：50-2000nm粒径测量准确度：回收率100±6%粒径测量精确度：CV%3%2、电位电位测量范围：±100mV4、上样量：3-50μL（稀释后200μL）5、软件：Windows系统，中英文操作软件，提供3Q认证具备审计追踪，符合FDA21CFR Part 116、尺寸：27 cm x16.5 cm x19 cmkg7、重量：8 kg

美国MAS 超声法粒度仪及Zeta电位仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS 超声法粒度仪及Zeta电位仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有最大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

美国DT专注于非均相体系表征的科学仪器业务。 DT开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta电位、流变学、固体含量、孔隙率，包括CMP浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。其中生物与制药应用包括：1、色谱用树脂与蛋白质相互作用及其电性能表征2、颗粒大小和胶束的演变3、细胞粒径测定4、蛋白质的电荷（价态）测定5、蛋白质吸附，蛋白质和血细胞的超声波特性6、没有稀释的药物乳液和微乳液表征7、溶解和结晶速度的动力学监测超宽粒径测量范围从5nm至1000μm；单一理论不用稀释，测量原浓样品0.1-50%(体积百分数)频率范围1-100MHzDT-110用于样品量小于5ml的粒度仪测定用于悬浮液和乳液表征；可以是水相，极性和非极性分散相声频发生器与检测器之间的间隙可调通过Access数据库进行数据管理无需校正

ZML-310膏剂粒度粒形分析仪，透皮乳膏粒度晶型分析是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。广泛适用于API原料药，药物晶型分析、生物医药、磨料、电池、非金属矿、粉末冶金、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、食品等域的各种粉体颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。　　工作原理是通过用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用我们的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。　　ZML-310型外用制剂粒度仪的技术参数　　1、准确性：＜3%。　　2、摄像机：1800万像素 3、粒径范围：200nm-3000μm　　4、粒度统计：体积、面积、颗粒。　　5、配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。　　6、可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。　　7、软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。 　　8、粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。　　9、形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。纳米粒度及Zeta电位分析仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的物理性能测试仪器，简单、方便而且准确，主要作用就是测量胶体颗粒表面电位电势。其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。　　仪器原理　　带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。　　动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪优势　　1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。　　2、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。　　3、优化的反演算法：采用拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。　　4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。　　5、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比；采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。　　6、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪测量　　纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定，因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点　　1、利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。　　2、先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。　　3、基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。　　Henry函数的取值：　　当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合，得到优化Henry函数表达式。　　强大易用的控制软件　　ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强，无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。　　注意事项　　1、测量粒径前，需查知样品分散剂的粘度、折光指数（Refractive Index）；　　2、用卷纸轻轻点拭样品池外侧水滴，切勿用力擦拭，以防将样品池划伤，如发现样品池有划纹，需更换；　　3、手尽量避免触摸样品池下端，否则会影响光路； 　　4、一定要去除样品池内的气泡；　　5、实验室提供的样品池为聚苯乙烯材质，不可用于测量有机分散体系；　　6、实验室提供的样品池,测量温度不可高于50摄氏度；　　7、如需测量有机分散体系或高于50摄氏度，请自带石英比色皿；　　8、使用滤纸过滤时，舍去过滤后的d一滴样品，以防滤纸上杂质进入样品池；　　9、测量时需自带：卷纸、多个注射器、多个离心管（用于稀释样品）。

胤煌-超声电声法高浓度纳米粒度仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据胤煌-超声电声法高浓度纳米粒度仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

PSI-4型测定仪使用说明书 一、仪器简介及应用范围PSI-4系列为第四代透过法粒度测定仪，是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单，操作方便，仪器有快速计算板，不需要复杂计算，测定一次只需3~5分钟。本仪器运用的测定方法为“张瑞福法”，该方法是测定金属及其化合物粉末比表面积和粒度的国家标准：GB11107-89和国际标准：ISO10070-91，荣获国家发明奖。PSI-4A型带快速计算板，无须复杂计算，可直接读出粒径值，使用操作非常方便。PSI-4B型带有游标卡尺，可精确测量粉末床的厚度及水柱高度，大大提高了测量范围和精度。本仪器由张瑞福先生亲自监制。 二、技术性能PSI-4APSI-4B仪器设计精度0.010.01粒度测量精度0.030.02粒度测量范围Dk0.1~100μm0.02~120μmDv0.02~1μm0.002~0.5μm比表面积测量Sk0.06~60(m2/g)0.05~300(m2/g)Sv6~300(m2/g)12~3000(m2/g)Sw2~150(m2/g)0.2~1.5×103(m2/g)注：Dk为包络比表面粒度，也称粘性流透过粒度；Dv为全比表面粒度；Sw为质量全比表面积 Sk为粉末包络比表面积； Sv为粉末全比表面积，也称粉末吸附全比表面积。工作环境： 干燥，无腐蚀，温度25±12℃，相对湿度＜80%电 源： 220ACV，50Hz，20W外型尺寸： 755×400×260 mm3净 重： 12 kg三、工作原理及结构本仪器是基于稳定空气流动下，气体透过粉末压缩床，气体的透过率受粉末的粒度、形状和床的有效孔隙度的影响。当已知粉末形状、孔隙度并测出其透过率时，就可以计算出粉末的粒度和各种比表面积。仪器由空气泵、干燥器、水柱稳压器、垂直压力计、泄气阀、试样管、粉末压缩装置、试样管夹紧装置、U型压力计、精密阀、游标卡尺和仪器计算面板等组成。仪器的气流及测压系统如(图一)。 空气由微型气泵(14)加压送入系统，泄气阀(1)和水柱稳压器(13)将过量的空气排入大气，垂直压力计(12)测量供气系统的压力。调节泄气阀开度和水柱稳压器的液面高度将供气压力稳定在500mm水柱。稳压后的少量的空气经干燥器后进入试样管，由U型压力计测得空气出试样管后、进精密阀前的压力。空气*后经精密阀排入大气。在上述系统中，对于一定量的粉末，按国标GB11107-89即可求得粒度值： Dk=aL … … … … … … … … … （1） 又：ΔP=50-2H … … … … … … … … … … … … … … … … … （2） … … … … … … … … … … … … … … … … （3） … … … … … … … … … … … … … … … … … … （4） 可得：Dk=5.34L… … … … … … （5）上列式中：m为粉末的质量（克）；ρe为粉末物质的物性密度或有效密度；εp定义为粉末床的孔隙度；α定义为试样的下料系数，是粉末质量与密度的比值；Δp是空气透过粉末床试样的压力降（厘米水柱）；H为U型压力计单根水柱上升高度值（厘米），U型压力计是精密等径管制成，真实的压力值应为2H厘米水柱；L为试样（粉末床）厚度，单位为（厘米）；a为仪器常数5.34，具有量纲（厘米）1.5，计算所得Dk值单位为（微米）。 A、B两种型号具有完全相同的气流系统。不同之处在于粉末床及水柱高度的测量方法。PSI-4A型如（图二）所示：中间的齿轮齿杆（8）的作用是压缩粉末床和测量压力计中水柱高度。四个腰圆型孔用来观察稳压系统的工作情况：左下孔观察水柱稳压器工作时的气泡冒出情况，以3-8（个/秒）的气泡冒出速率为宜。左上孔观察水柱稳压器的水位。右下孔观察垂直压力计的初始值，右上孔观察开泵后垂直压力计的水柱高度值，二者之差才是供气压力真实值。仪器正面的快速计算板上图形意义如下：横坐标表示的是试样的孔隙度值，纵坐标是公制的长度单位，可度量压力计的水柱高度和粉末床的厚度。中间互不相交的曲线簇是不同孔隙度和不同压力时的等粒度线，图形下部和等粒度线相交的粗黑线是试样（粉末床）厚度线L0，它的横坐标值是α=1时不同厚度粉末床对应的孔隙度值，计算板可左右移动。PSI-4B型外型见（图三）。与A型相比，少了快速计算板，多了游标卡尺。这样能更精确的测量试样（粉末床）的厚度值和压力计水柱高度。 四、仪器的调试与校准 仪器使用前必须进行调试和校准，两种型号基本相同，主要有三项： PSI-4A型：调节升降齿杆的旋钮，使齿杆上的指针与计算板的水平坐标基线平齐，此时U型压力计的基准水平面应与齿杆上的指针座平面平齐如（图四）所示。如不平齐，可先调节水位微调阀（图二-13）；如仍调节不到位，则须对U型压力计进行加水（当U型压力计的基准水平面低于指针座平面时）或放水的操作（当U型压力计的基准水平面高于指针座平面时）。加水操作：全部松开微调阀，将水加入加水小漏斗（图一-5），再松开流量计加水阀（图一-4，图二-11），慢慢放水入U型管，当U型管压力计的基准水平面接近指针座平面时，关闭加水阀。放水操作：松开加水阀（图二-11），用注射器吸出小漏斗内多余的水，直至U型压力计的基准水平面略低于齿杆上的指针座平面平面，关闭加水阀。最后调节微调阀，即可使U型压力计的基准水平面与齿杆上的指针座平面平齐。 1、U型压力计的校准PSI-4B型：U型压力计的基准水平面应与游标卡尺游标左卡脚上水平面平齐如（图五）。具体方法与PSI-4A型相同。 3、精密阀的校准：将标准管代替试样管进行测试，气流稳定后，U型压力计的读数应与标准管上标定的数值一致：若不一致，旋转调节精密阀（图二-10），使U型压力计的读数与标准管上标定的数值一致，稳定三分钟不变即可关泵停止。 2、气源压力的校准与调节：供气压力应始终保持在500±0.5mm水柱。将水柱稳压器加水至规定高度，记下垂直压力计的初始刻度值（图三-15）。将空试样管接入气流系统如（图二-14）、（图三-14）并夹紧。开气泵，垂直压力计水位上升，调节泄气阀（图二-2），使压力计水柱上升500毫米，即达到（500毫米+初始值），并维持此高度至测试结束。测试过程中，如有变动，随时调节泄气阀，保持气源压力的稳定。五、使用与操作步骤PSI-4B型 1、仪器的准备：对于经常使用的仪器，在使用前须做前一节中1、2项，即U型压力计水平基准校准和供气压力校准两项。第3项只作定期的检查（一个星期左右一次，或视使用频度而定）。仪器调试好后，停泵侯用。2、试样的制备：在千分之一的天平上称待测干燥粉末m克，用漏斗将其灌入带有一片快速滤纸和一多孔塞的试管中，试管插入橡皮坐上，漏斗及纸上附着的粉末用毛刷扫入试管中，然后盖一片滤纸和多孔塞。称取粉末的数量时，应考虑下料系数α，以求得较高的测试精度。α取值的原则是：使测量时U型压力计的水柱高度落在满量程的1/3~2/3内，粉末越粗，α值应越大；粉末越细，α值应越小。当Dk=1~20微米范围，α可取值为1~2；当Dk=20~120微米范围，α可取值为2~5，此时滤纸应用针钻孔5~6个消除滤纸阻力；当Dk=0.5~1微米范围，α可取值为0.5~1；当Dk小于0.5微米时，α可取值为0.5~0.03。将装有被测粉末的试管一头套在压缩装置底座的圆柱上，另一头在齿杆下紧压，用游标卡尺测出粉末床的厚度L，由此算出试样的孔隙度。… … … … … … … … （6） 3、测量：将粉末试样管从齿杆下取出接入试样夹头处夹紧（图三-14），开气泵，通气3分钟，稳定后，利用游标测量出U型压力计的水柱上升量H。4、计算：将已知的α、εp、H和L值代入公式（5），即可求得Dk；粉末粘性流比表面积为：（微米）-1，或（米2/厘米3）。 停泵开泵重新读一次，测量数据，两数相对误差小于3%，就是本次测试的最终结果。若大于3%，再重新测样，在此孔隙度下或接近此孔隙度值，测出试样的Dk值，最后，三数据平均值为试样结果。 若试样Dk小于0.4微米，通常应计算β值，和δ值。 … … … … … … … … … … … … … … （7） … … … … … … … … … … （8） 也可从β值查δ-β曲线（图六）得到δ，则Dv，Sv为 Dv=Dk/δ… … … … … … … … … … … … … … … （9） Sv==… … … … … … … … … … … （10）注意：三次测量应给粉末床加不同压力，以得到三种不同孔隙度下测得的粒度值。三值比较起伏应不超过3%。报告结果时，应指明测量时的孔隙度。Dv是纳米级粉末所须粒度。 PSI-4A型 1、仪器的准备：同B型。对于经常使用的仪器，在使用前须做前一节中1、2项。第3项只作定期的检查（视使用频度而定）。仪器调试好后，停泵侯用。 2、试样的制备：下料系数α取1，即m=ρe。在千分之一的天平上称待测干燥粉末m克，用漏斗将其灌入带有一片快速滤纸和一多孔塞的试管中，试管插入橡皮坐上，漏斗及纸上附着的粉末用毛刷扫入试管中，然后盖一片滤纸和多孔塞。将装有被测粉末的试管一头套在压缩装置底座的圆柱上，另一头在齿杆下紧压，移动计算板，找到试样高度线L0上与齿杆上的指针针尖等高的点并对准，该点的横坐标值即为粉末床的孔隙度εp。计算板保持不动。3、 测量：将粉末试样管从齿杆下取出接入试样夹头处夹紧如（图二-14），开气泵，通气三分钟，待U型压力计读数稳定，调节齿杆，使指针座平面与U型压力计水面平齐，此时齿杆指针所指的粒度值即为Dk。4、 α≠1时的测量：当粉末粒度Dk≥20或≤1微米，改变粉末的下料系数（取α≠1）可提高测量的精度。此时，可采用与PSI-4B型相同的计算法测量。α取值的原则亦同。利用升降齿杆测出粉末床的厚度和水柱高度，代入公式（3）、（4）、（5）即可得出Dk。 粉末粘性流比表面积为：（微米）-1，或（米2/厘米3）。六、仪器的维护与保养1、仪器内使用的水必须是蒸馏水。2、经常保持仪器清洁，注意不要让粉末进入系统中。 3、经常检查橡皮管是否有老化、开裂导致的漏气。如有应及时更换。4、精密阀校准后，一般不准再动。如果不小心碰动，应重新校准。5、橡皮和玻璃管道内的水柱中不能夹带气泡。 6、仪器干燥剂的检查与更换：仪器出厂时以装好变色硅胶干燥剂在气路中，正常状态硅胶为兰色，受潮时变为粉红色。硅胶变红后，将其从管道中取出，换上干燥硅胶，管道不得泄漏溢气。原硅胶可在120℃~130℃干燥2~3小时脱去已吸附的水分后，可反复多次使用。 附注：仪器附件箱装有：试样管一只，多孔塞两只，毛刷一把，多孔塞提推杆一条，漏斗一个，橡皮坐一个，快速滤纸一盒，标准管一支，金属勺子一把，注射器一只，软管一根。

仪器简介：GSL-101BII激光颗粒分布测量仪 测量范围： 0.1-450 微米采样通道： 主阵列70+侧向阵列24道 电源电压: 220V 50Hz 仪器灵敏度：12位（A/D CONVERT）激光器类型：半导体 激光器波长：760nm激光器功率：5mW 激光器寿命：大于20000小时测试时间：单次测试时间小于：60 秒测试程序：中文Windows95/98/2000/NT/XP操作系统下运行，功能强大，操作简单，直观。测试程序可给出常规项目如粒度分布表、分布曲线、各种粒径、用户任意分级数据等结果，并可根据用户选择打印英文或彩色测试报告 测试对象 1.各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。2.各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。3.其它粉体：如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液等。 仪器特点：● 重复性好本仪器采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。而且区别于沉降法,由于不需要沉降过程，因此在一次测试中可以多次采样(5-20次任意设定)，有效的滤除了由于电噪声，样品分布不均等因素造成的影响，使仪器的测试重复性变好。● 测试范围宽由于采用了大尺寸光电探测阵列（70个通道）、侧向辅助光电探测阵列（12个通道）及其它相应技术，使 单透镜 测试范围达到0.1---450微米；并且由于本仪器使用过程中无须更换镜头及调整光学系统，提高了系统的稳定性，简化了操作过程。● 采用半导体激光发生器具有光参数稳定、效率高、寿命长、不怕振动等一系列优点，克服了传统气体激光器由于自然漏气，需定期更换的缺点。● 自动化程度高操作简单GSL-101BI型激光颗粒测量仪采用微机进行实时控制，自动完成数据采集、分析处理、结果保存、打印等功能,操作简单,自动化程度高。● 测试迅速由于无须沉降过程，使测试速度大幅度提高，在通常情况下，1分钟内即可完成一次样品测试。(注:不包括样品制备时间)。● 软件本仪器测试程序采用MSVC/C++6.0编制,在中文Windows95/98/ME/2000/NT/XP人机接口界面，操作直观简便,通俗易懂。数据输出内容丰富,并且可以输出英文测试报告,对于彩色打印机还可以输出彩色测试报告。● 采用了独特的机械搅拌装置具有搅拌力矩大、速度快、搅拌均匀等一系列优点。技术参数：液体中激光粒度测量分析仪 PCSLE20WN 整个系统采用稳定的激光发射和接受系统，粒径测量系统是以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定的，附有功能强大的软件，粒径测量范围在2~125微米之间。 仪器可以对样品100%测量，流率是70ml/min，溶液中的粒子在不失去粒径统计意义的情况下，可以有间隔的采样分析，但都提供最高精度的粒径分析。 特点 性能改进 实时定量检测和分析粒子的浓度和大小，对于污染立即反映出来 功能强大的软件使得工艺过程的控制非常的容易，通过报警设置，过程分析，采样器设置，在线帮助来实现 对于严格的的工艺过程控制来说，通过以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定可以提供更高的精度多功能性 测量的量程范围宽，用途广 可在线检测，也可和浓缩采样器连用 PCSLE20P可以和样品注射器连用 和各种各样的管路标准兼容连接 在线或批处理能力 RS-485数据传输接口使用简单 体积小，可连接于过程中的任何地方 软件灵活，提供多个可视窗口选项，显示实时数据和调用存储的数据 用户可以自己选择粒径的通道 技术特点 粒径灵敏度在2~~125微米15个用户可调整选择的粒径通道样品100%检测，无漏检在线采样检测，结构紧凑 应用 化工产品的质量控制 工艺过程浴液的监测 去离子水的检测 化工产品的输送 部件清洗液的检测技术参数 PCSLE20WN粒径范围 2~~125μm粒径通道 15个样品流率 70ml/min样品体积 70ml/min，100%检测单通道最大浓度 10000个/ml样品温度 10~50℃ 零记数过滤器 ＜50个/升最大压力 100Psi （0.675Mpa ， 约6个大气压）测试光源 激光二极管防潮表面材料 Teflon, 玻璃，不锈钢，BUNA-N规格 320mm（L）×110mm（W）×110mm（H）重量 3kg电源 85~250V，50~60Hz通讯 RS-485校准 所用材料来源于美国NIST使用环境 10~35℃ 无冷凝如有什么不清楚或不了解的地方，请致电 010-8241 3547 党先生主要特点：2002/2006/2008型激光粒度分析仪工作原理：本系列激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据激光照射在颗粒上产生的散射光能量反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布规律。技术特点： 分析仪工作原理先进，硬件设计合理，产品设计符合国际技术标准ISO-13320，吸取了英、美、德等国家的粒度测试先进经验，产品一切指标均达到国内领先、国际先进水平, 已获得国家专利，专利号：ZL02269439.0。光源：采用He-Ne激光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，激光电源及激光管的寿命大于15000小时。光电探测器：光电探测系统设计独特，主检测器一个，辅助检测器34个，呈非均匀性交叉三维扇形距阵排列，最大检测角达到1350。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，误差降到了最小。循环系统：循环泵速触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，可根据需要设置循环泵速，循环泵速0~5000转/分钟连续可调。超声分散内置：内置大功率超声器与主机一体，良好的屏蔽处理使超声分散和样品测试可同时进行，即使具有超强团聚性的颗粒也能够充分分散以获得真实的粒度分布数据。超声强度：采用100W大功率超声器，能够充分分散易团聚的颗粒。超声时间：超声时间触摸式按键连续调节，设置时间数字显示，超声时间0~10分钟连续可调, 可根据需要设置超声时间。搅拌系统：搅拌速度触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，搅拌转速0~3000转/分钟连续可调，可根据需要（如颗粒大小和分散介质等）连续调节，既保证被测样品充分混合，又可避免因搅拌速度过快产生气泡造成的测试误差。样品池：样品池与主机一体，不锈钢材质，设计独特，呈圆形， 循环排液方便，不留尘垢，便于清洗。测试时间：循环、超声、搅拌和排液等操作键都在智能化触摸式操作面板上， 标准、量化的操作，有效的缩短了测试时间，测试数据过程制在1分钟内完成。数据处理：粒度分析仪颗粒粒度测量分析系统功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自由分级和按目分级等多种格式。在0.02~1000微米内默认分级120级，在量程范围内从1~120级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，还有四个自定义参数，可根据需要输入。 重量比表面积与体积比表面积可以互换。支持中、英文格式测试报告打印，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。页眉和页脚可根据需要进行修改。测试界面：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察测试状况，了解仪器内部运行情况，分析所测数据的真实性、可靠性。根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。 硬件简介仪器外壳钢板加工，内外表面喷塑处理；光学支架合金铸造，不易变形；光学元器件国外定做，灵敏度高；探测器英国进口，超声换能器美国进口，电磁阀意大利进口，性能稳定；控制面版自行设计，操作方便。激光粒度分析仪易损配件硬件设计先进，性能稳定可靠，按照Q/01RZ01-2004标准生产，无易损配件, 仪器使用寿命在10年以上。技术参数：2002型激光粒度分析仪 RMB56000.002006型激光粒度分析仪 RMB128000.002008型激光粒度分析仪 RMB183000.00测量原理全量程米氏散射理论测量范围0.1~600μm0.05~800μm0.02~1200μm准确性误差＜3%重复性误差＜3%循环泵转速（0~5000rpm）, 连续可调超声分散时间0~10min， 连续可调搅拌器转速（0~3000rpm）, 连续可调探测器高精密硅探测器分散池圆形不锈钢材质，容积400ml软件颗粒粒度测量分析系统（for Windows）粒度分级微分分布，累计分布，R-R分布，标准分级，自定义分级和按目分级等电源要求220VAC， 50Hz 200W生产标准Q/01RZ01-2004外形规格1000mm×330mm×320mm重量38kg激光粒度分析仪标准配置：序号名称数量序号名称数量1激光粒度分析仪主机1台6标准颗粒 1瓶2使用说明书1 本7标定专用管1根3测试软件1张8样品匙1只4联机电缆1根9专用扳手1只5电源线1根

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

简单介绍： ZetaPlus是简单、方便而且准确的电泳迁移率测量仪器，其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。它的革新之处是从根本上消除了传统Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而方便。详细说明：NanoBrook产品系列项目90Plus90Plus ZetaZetaPlus功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度测量范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位测量范围○－500mV～500mV电导率范围○0-20S/m电泳迁移率范围○10-10～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”工作原理ZetaPlus采用的是电泳光散射原理：带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移（多普勒频移）,采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。典型应用1.脂质体、生物胶体、医药2.陶瓷、胶乳、乳剂（食品、化妆品）3.颜料、油墨、炭黑技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5ml3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-20 S/m5）电泳迁移率范围：10-10～10-7m2 /V.s6）温度控制：-5～110℃, ±0.1℃7）电场强度：0～3.2 kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：1×103～2×1076）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

产品介绍 JL-3000A型喷雾激光粒度仪（连体式），是专为小体积雾滴粒径测量而设计的一款高性能粒度仪。全量程米氏散射理论，采用精新公司（无约束）自由分布模式计算粒度分布，确保每一级的粒度都达到最高分辨率。充分检测出每一粒级细节的细微，机箱外壳全密封设计，防尘防水，使仪器具有良好的电磁屏蔽抗干扰性能。 测试动态范围宽，操作简便。主机与辅机间距400mm，非常适合医药喷雾、小型喷嘴、加湿器等雾滴粒径的测试，整个测试过程在电脑控制下自动开启/关闭，对所测水雾、油雾、烟雾等快速分析其粒径分布数据，独特的精密机械结构，使得测试速度快，重复性好、稳定性好。通过对雾滴测量的粒度分布数据，可优化喷嘴设计，优化喷雾条件，评价喷雾效果，达到研发和控制产品质量的目的。应用领域 广泛适用于小型喷嘴、医药喷雾、加湿器、雾化器、水雾、烟雾、粉雾、气雾剂生产、科研院校研究等。参数指标项目指标项目指标测量原理全量程米氏散射理论测量范围0.1μm～3000μm测试时间1秒/次,可以单次或多次自动测试进样方式开放式进样重复性误差≤3％（标准物质D50偏差）光路系统平行光路光束，富氏透镜准确性误差≤3％（标准物质D50偏差）主、辅机间距400mm信号光源进口半导体激光器，波长650nm探测器128级仪器体积长1130*高340*宽200（mm）仪器重量约：50kg工作电源AC220V ±22V；50Hz ±0.5Hz；环境要求温度：5℃～35℃；湿度：85%；仪器优点1.根据所测物件（使用方提供）安装于主机与辅机之间，主机与辅机间距400mm固定不需调整光源，非常适合小范围喷雾粒径测量。只需安装好喷头，点击软件菜单，控制器自动开启和断开所测液体或气体，自动完成测试。2.仪器采用傅里叶光学系统，大直径平行光源测试截面大，数据代表性强。大口径镜头，采集信号角度宽，可以充分收集到喷雾的散射信号 。3.128级多元探测器。粒径分档多，级差小，散射信号检测精细分辨率高。探测器背景光每一级独立补偿，能达到最高的增益，高速采集信号放大，动态响应灵敏快速。探测器后方具有完整的光斑图像探测系统。4.进口半导体激光器，光源波长650nm，30mw，寿命＞70000h。5.高钢性的光学结构，光路稳定可靠，在使用过程中不需做任何调整。6.由于喷雾粒度大小和喷雾直径差别非常大，激光的功率可以在全范围内调整，以保证仪器的最高分辨率和准确性。7.采用RS232和USB数据传输方式，传输距离可达100米。8.测试数据有：累积分布、频度分布、累积10%、50%、90%、97%、平均粒径和比表面积等数据，全面表征样品的粒度特征。测试一次的时间数秒钟，可单次、多次连续测试。9.软件操作界面可选择中文或者英文，输出结果可以直接打印，或转换为PDF和格式保存。10.为适应不同用户的需要，配有程序触发，TTL电平和开关触发高速测试，每秒50次完整测试，作为动态喷雾等研究提供更好的分析数据。11.分析软件兼容Windows XP/Win7/Win10系统。