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力谱测量

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力谱测量相关的论坛

  • 测量黄铜荧光光谱仪比直读光谱仪好在哪里?

    测量黄铜荧光光谱仪比直读光谱仪好在哪里?有销售告诉我,荧光光谱仪在黄铜方面比CCD直读光谱仪要好,说是黄铜有铜和锌两种常量,直读光谱仪测量锌会测量不准,然后铜的值算出来也就不准了,测量黄铜里面的锌真的不准吗?

  • 测量包裹在玻璃中晶体的拉曼光谱

    测量包裹在玻璃中的晶体是一定要用有暗场的显微共焦拉曼光谱仪吗?我查到的资料是暗场用来观察样品,当测量拉曼光谱是还是要用普通的objectives。因为经费有限,有没有可能只用明场显微镜找到样品?谢谢大家的建议

  • 瑞利-布里渊散射光谱测量中温度和压力的精确控制方法

    瑞利-布里渊散射光谱测量中温度和压力的精确控制方法

    [color=#cc0000]摘要:针对瑞利-布里渊散射(RBS)包络谱实验装置,用户提出要对测量气室实现温度和压力的高精度控制。本文了介绍具体实施方案,其中高精度温度控制采用半导体TEC模组实现。压力控制采用高精度真空压力控制系统,其中包括高精度压力传感器、精密电动针阀和24位采集精度PID控制器。此温度和压力控制方案已得到广泛应用和证明。[/color][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align] [size=18px][color=#cc0000]一、技术要求[/color][/size] 根据客户要求,要对如图1所示的瑞利-布里渊散射(RBS)包络谱实验装置中的温度和压力(图1中红色方框区域内容)进行精确控制,具体要求如下: (1)温度范围300K~318K;控温精度±0.02K。 (2)压力范围30kPa~90kPa(绝压);控压精度±0.1kPa;气氛99.99%氮气。[align=center][color=#cc0000][img=瑞利-布里渊散射光谱测量中温度和压力的精确控制,690,350]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/01/202201171739338695_2143_3384_3.jpg!w690x350.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#cc0000]图1 RBS包络谱测量的实验装置[/color][/align][size=18px][color=#cc0000]二、温度控制方案[/color][/size] 对于室温附近的高精度温度控制,拟采用如图2所示的半导体加热制冷技术予以实现,具体内容包括: (1)加热制冷器:TEC模组。 (2)传感器:铂电阻或热敏电阻温度。 (3)PID控制器:高精度24位温度压力控制器。[align=center][color=#cc0000][img=瑞利-布里渊散射光谱测量中温度和压力的精确控制,690,402]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/01/202201171740041263_5493_3384_3.jpg!w690x402.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#cc0000]图2 高精度温度控制装置[/color][/align][size=18px][color=#cc0000]三、压力控制方案[/color][/size] 实验装置要求工作的绝对压力范围为30kPa~90kPa,并要求在此范围内的压力可以在任意设定点上准确恒定。为此,拟采用如图2所示的真空压力控制系统进行实施,具体内容如下:[align=center][color=#cc0000][img=瑞利-布里渊散射光谱测量中温度和压力的精确控制,690,448]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/01/202201171740188969_3588_3384_3.jpg!w690x448.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#cc0000]图3 高精度真空压力控制系统[/color][/align] (1)采用1000torr程的电容压力计进行压力测量,其精度可达±0.2%。也可采用更高精度±0.05%的真空压力传感器进行测量。 (2)采用24位A/D采集的高精度PID真空压力控制器,以匹配高精度真空压力传感器的测量精度,并保证控制精度。 (3)在气室的进气口和排气口分别安装电动针阀和电动球阀,电动针阀直接安装在进气口处,电动球阀安装在排气口和真空泵之间。如果气室容积很小,可以用电动针阀代替电动球阀。 (4)控制过程中,真空泵开启后抽速保证恒定。先将进气电动针阀进行设定,使得进气口压力和流量恒定,然后进行PID参数自整定,通过自动调节排气口流量实现气室压力精确控制。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align]

  • 超微力测量系统的特点、规格以及应用

    这款[url=http://www.f-lab.cn/micromanipulators/fms-ls.html][b]超微力测量系统[/b][/url]是高精度[b]微力测量测试系统[/b]FMS-LS,它[b]与[/b]显微操作器联合使用,用于[b]测量纳米压痕[/b]和[b]超微力测量,还可用于[/b]测量细胞力学,杨氏模量,微机电系统MEMS的弹簧常数和共振频率的弹性参数。[b]超微力测量系统FMS-LS特点[/b][url=http://www.f-lab.cn/micromanipulators/fms-ls.html][b]超微力测量系统[/b][/url]调节器连接附件,调节器显示力反馈,并且在扬声器上播放材料的谐振频率。由具有集成吸管夹持器的力传感器,具有前置放大器和扬声器的控制模块,PC软件,电源,和操作者的手册组成。[img=超微力测量系统]http://www.f-lab.cn/Upload/FMS-LS-L_.jpg[/img][b]超微力测量系统FMS-LS应用[/b]测量细胞,杨氏模量,微机电系统(MEMS)的弹簧常数和共振频率的弹性参数纳米压痕[b]超微力测量系统[b]FMS-LS[/b]规格[/b]分辨率:亚μN测力范围:最高可达10毫米输出:+/-10 V

  • 【资料】请问北京哪里有能测量反射谱的分光光度计

    我的样品是由单分散胶体球形成的有序排列的胶体晶体,呈固态块状,各面在自然光下有反射光泽,但是因为样品较厚不透光,因此不能用透射谱测,所以请教各位,哪里有可以测量不透光材料反射谱的UV-VIS分光光度计,最好是在北京,谢谢大家!

  • 【网络会议】:利用原子力显微镜在力谱测量方法介绍及其在纳米机械性质表征的应用

    【网络会议】:利用原子力显微镜在力谱测量方法介绍及其在纳米机械性质表征的应用

    【网络会议】:利用原子力显微镜在力谱测量方法介绍及其在纳米机械性质表征的应用【讲座时间】:2015年09月11日 10:00【主讲人】:仇登利布鲁克纳米表面仪器部应用科学家。2004年毕业于吉林大学化学学院高分子化学与物理专业,获得理学博士学位。博士期间主要利用原子力显微镜(AFM)研究有机界面聚集体的聚集形态。毕业后,留学加拿大和美国多年,继续利用AFM研究半导体、数据存储和材料表面工程。于2009年加入维易科(VEECO)公司主要从事AFM相关的应用技术支持;具有十多年的AFM技术经验。【会议介绍】 原子力显微镜除了对样品进行形貌的表征以外,还可以利用其力学测量模式用于研究探针与样品之间的相互作用。 这里我们主要介绍利用探针进行力学测量时的主要参数、相关模型以及对样品表面纳米机械性质表征的应用等。 -------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名,通过审核后即可参会。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间:2015年09月11日 09:304、报名参会:http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/14555、报名及参会咨询:QQ群—379196738http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2015042911235201_01_2507958_3.jpg

  • 激光粒度仪的测量下限

    [font=&]激光粒度仪测量粒度的原理是米氏散射理论。米氏散射理论用数学语言精确描述折射率为[/font][font=&]n、吸收率为 m、粒径为 d 的球形颗粒,在波长为 λ 的激光照射下,散射光强度随散射[/font][font=&]角 θ 变化的空间分布函数,此函数也称为散射谱。[/font][font=&]根据米氏散射理论,大颗粒的前向散射光很强而后向散射很弱;小颗粒的前向散射光弱而后[/font][font=&]向散射光很强。如图所示的是固定波长下的大、中、小颗粒的散射谱示意图。激光粒度仪正[/font][font=&]是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列测这些散射谱来确定颗粒粒径的大小。对于特[/font][font=&]定颗粒,这种散射谱在空间具有稳定分布的特征,因此称此种原理的激光粒度仪又称为静态[/font][font=&]激光粒度仪。[/font][font=&]根据米氏散射理论,当颗粒粒径小到一定程度(如小于波长 的 1/10 左右)时,光强分布[/font][font=&]变成了两个相近似对称的圆(图 1(1) dλ),此时称为瑞利散射。产生瑞利散射的最大粒[/font][font=&]径就是激光粒度仪的测试下限。激光粒度仪的测试下限还与激光波长有关,激光波长越长测[/font][font=&]试下限越大,波长越短测试下限小。研究表明,具有同时测量前向和后向散射光技术,同时[/font][font=&]具有差分散射谱识别技术的激光粒度仪,在用红光(波长为 635nm)做为光源时的测量极[/font][font=&]限为 20nm,用绿光(波长为 532nm)时的测量极限为 10 nm。[/font]

  • 法科学家首次直接测量范德华力

    中国科技网讯(记者刘霞)据物理学家组织网7月9日(北京时间)报道,法国国家科学研究中心的研究人员在最新一期《物理评论快报》上撰文指出,他们首次直接对两个原子间的范德华力进行了测量,另外,测量中使用的技术也可用于制造在量子计算机中非常有用的量子逻辑门。 范德华力是中性原子之间通过瞬间静电相互作用产生的弱作用力,以其发现者荷兰物理学家约翰尼斯·迪德里克·范·德·瓦耳斯的名字命名。很多物质的“一举一动”都与这种力有关:正是这种力让大多数气体分子簇拥在一起;也是这种力让壁虎的脚趾头紧紧贴在光滑的墙壁上。但是,只有当原子紧紧“依偎”在一起时,这种弱作用力才明显,所以,科学家们迄今没有直接测量到这种作用力。 现在,法国科学家使用两束激光让一对原子紧紧“依偎”在一起,并用第三束激光测量了它们之间的范德华力。 在最新实验中,科学家们选择里德伯原子——一个价电子被激发到高量子态的高激发原子作为他们实验的一部分。里德伯原子很大,而且,其中的一个电子处于高带电状态;另外,这种原子之间的力比很多其他原子对之间的力都要强,也正因如此,可以在更远的距离内测量这种力,这就使得里德伯原子成为测量范德华力的理想选择。 研究人员首先朝一对里德伯原子发射两束激光,使它们紧贴在一起,随后,朝这两个原子发射第三束激光使其以特定的频率振荡,通过测量这一振荡,他们可以利用数学方法计算出这两个原子间的范德华力。 而且,科学家们通过测量基态和激发态之间的振荡发现:两个原子之间的距离对于测量范德华力非常重要。如果距离太近,其中一个原子的激发态会打垮另一个原子的激发态;如果距离太远,两个原子之间的作用力会变得太弱而无法测量。因此,科学家们使用第三束激光作为光学镊子,将两个原子之间的距离调整至最适合测量的距离。 该研究团队也强调称,用来测量范德华力的技术也能使正在振荡的原子演变到一种完全相干的状态,这意味着这一技术有望被用来制造在量子计算机内非常有用的量子逻辑门。 总编辑圈点 “近之则不逊,远之则有怨”,这句话放在范德华力身上再合适不过。当人们苦苦算计人际交往的亲疏之时,范德华力告诉了大家,原来万物之间都有着这样一个平衡点。其实,除开壁虎,生活中也不难找到范德华力的身影——手机保护膜之所以能和屏幕亲密无间,就正是它的功劳。新技术实现了直接测量,接下来要做的,是更好地理解它的机制,以及利用它存在于分子之间、不受外界环境影响的特性,创造出一些新奇的玩意儿,比如《碟中谍4》里不太靠谱的“爬墙手套”。 《科技日报》(2013-7-10 一版)

  • 【原创】近红外粒径测量应用

    【原创】近红外粒径测量应用

    “粒径测量”应用---------------美国Brimrose公司漫反射测量是[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]的主要测量方式。一个内在的困难通常是基线的漂移和由于样品的粒径不同而产生的内在的不均匀光散射。漫反射光线的物理性质作为研究主题已有一百多年。在课题(1-4)中已刊印了大量文章。对不透明固体分析的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]的很多定量应用,关注的是使样品的粒径均匀并最大限度地再现。这经常导致较大近红外样品的研磨、过筛和磨碎。由不均匀或不同粒径样品引起的“讨厌”的毛病,然而却服从物理定则。如果峰或基线漂移发生,那么它服从的那些现象能用来测量他们的直接原因。换句话,粒径能从我们经常不得不处理的“问题”中确定。分类法一套Luminar 2000 声光可调滤波器[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱仪[/color][/url],配有光纤反射探头,用于粉末测量,[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]由相同化学组成,只有粒径不同的多种物质获得,这些光谱被比较。使用二阶微分变换来提高光谱中的差异。[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]的早期工作显示微分变换能减少粒径问题。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2007/02/200702071023_41724_1638147_3.jpg[/img] 即使忽略水的吸收峰(大约在1440 nm 和1920 nm),在两个样品尺寸中仍有两个峰的尺寸和波长不同,两个样品光谱中的波长不同只能是由颗粒尺寸不同引起的。在先前的著作(5)中这些吸收差异服从一个可预测的模式。这对有机或无机物质是正确的。在最初两个糖的吸收光谱中见到基线漂移通过二阶微分处理只是大部分被消除,解释为所有的光学因素不能被轻易消除。使用标准化功能已做了一些工作,有这种用途的少数商业软件包是可以得到的。几种代表性医药材料被测定大小,它们的平均粒径由参照方法(激光散射)测定。在图2中显示了三个有代表性的筛子孔径的阿司匹林的吸收光谱(摘自美国药典)。40、100、200目的晶粒包括了从颗粒到“微米化的”(所以这么叫因为颗粒大小是微米级的或百万分之一米)的全部。物质的主要特征是一样的,只是吸收值随粒径增长。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2007/02/200702071023_41725_1638147_3.jpg[/img] 在长波区的差异较大的事实在图3中被证实。在这张图中,粒径的倒数作为四个不同波长吸收的函数被绘制成图。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2007/02/200702071023_41726_1638147_3.jpg[/img]对无机盐、有机盐及不确定化合物得到类似的结果。它们甚至不需要有传统的近红外生色团,因为散射是物理现象,而不是化学现象。能够看出[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]可以用于快速测定固体物质的粒径。然而一个公司的每一个产品可能要求专用的校正集,近红外提供一种低廉的、易于操作的能够定量测定粒径的方式。

  • 【求助】中红外光谱测量系统

    请问有没有同志做中红外光谱的?有的话你们的仪器的探测器和光的收集装置是怎么做的啊?现在实验室买了台做中红外的光谱测量系统 但是一直调试不出来测量范围在1—5.5微米探测器用的是锑化铟探测器——液氮制冷型红外探测器使用范围:1~5.5μmhttp://www.zolix.com.cn/view.asp?id=623光谱仪是卓立汉光的谱王 http://www.zolix.com.cn/view.asp?id=274还有用的Model 300CD型斩波器 和SCITEC公司410/420型锁相放大器http://www.zolix.com.cn/view.asp?id=330http://www.zolix.com.cn/view.asp?id=328但是调试的时候一直调试不出应该有的光谱来。不知道那位兄弟用过相似的装置,这种装置调试的时候要注意那些?

  • 气相色谱测量SF6里面痕量气体H2S

    [color=#444444]色谱条件:检测器为FPD ,检测器温度为120摄氏度[/color][color=#444444]我们要测量SF6气体里面杂质H2S,我们要测量0.5ppm的H2S 。[/color][color=#444444]因为SF6里面也含有硫,并且SF6和H2S出峰重在一起,SF6的峰把H2S的峰覆盖了。请问下这个怎么处理啊。[/color][color=#444444]同时我们实验测试纯的SF6,重复性非常差,每次的峰大小和峰值都有差异,这个是怎么回事,是因为检测器本身不稳定吗,还是有别人的原因。[/color]

  • 何为激光粒度仪的测量下限

    激光粒度仪测量粒度的原理是米氏散射理论。米氏散射理论用数学语言精确描述折射率为n、吸收率为 m、粒径为 d 的球形颗粒,在波长为 λ 的激光照射下,散射光强度随散射角 θ 变化的空间分布函数,此函数也称为散射谱。根据米氏散射理论,大颗粒的前向散射光很强而后向散射很弱;小颗粒的前向散射光弱而后向散射光很强。如图所示的是固定波长下的大、中、小颗粒的散射谱示意图。激光粒度仪正是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列测这些散射谱来确定颗粒粒径的大小。对于特定颗粒,这种散射谱在空间具有稳定分布的特征,因此称此种原理的激光粒度仪又称为静态激光粒度仪。根据米氏散射理论,当颗粒粒径小到一定程度(如小于波长 的 1/10 左右)时,光强分布变成了两个相近似对称的圆(图 1(1) dλ),此时称为瑞利散射。产生瑞利散射的最大粒径就是激光粒度仪的测试下限。激光粒度仪的测试下限还与激光波长有关,激光波长越长测试下限越大,波长越短测试下限小。研究表明,具有同时测量前向和后向散射光技术,同时具有差分散射谱识别技术的激光粒度仪,在用红光(波长为 635nm)做为光源时的测量极限为 20nm,用绿光(波长为 532nm)时的测量极限为 10 nm。

  • 如何测量液体拉曼光谱

    问题一:测量液体的拉曼光谱时,如果被测液体的拉曼信号弱,经常碰到下面问题,哪位高手知道如何解决:1.如果用载玻片,玻璃信号会掩盖样品信号。(甚至有时镜头的玻璃信号也会出来)2.液体量多时,当然可以选择大一点的容器,微量时,什么容器会好点?3.如果放在瓶中,如何避免玻璃信号,换成石英容器吗?石英容器会不会有拉曼信号呢?如果选择别的容器,有什么可推荐的呢?问题二:大家在测量DLC薄膜时,拉曼光谱能够表征的信息有哪些?有没有sp3定量问题,还只是能定性?问题三:测量graphene时,到底如果区分层数?

  • 直读光谱测量镍合金怎么样

    一个朋友要买直读光谱仪测量镍合金帮忙参谋,直读光谱仪测量镍合金效果怎么样?坛子里的大虾们有没有直读光谱测量镍合金的,我只对钢铁和铝合金熟,帮帮忙撒厂商、标准、通道谱线、分析程序的资料共享下咯,这边先谢了

  • 近红外光谱的测量方式

    [font=宋体][url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]是一种吸收光谱,测量方式表现为光与物体的接触方式,其总是为了获得更强、更均匀的吸收光谱。对于不同物理状态的样品,不同的光接触方式会产生较大的影响。建立[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]的多元定量和定性校正模型,对光谱数据的灵敏度、稳定性要求很高,因此[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]的测量方式非常重要。从光路原理来讲,光谱信息的获得可以采用漫反射、透射、散射、掠射等,不同的光路测量原理,会得到载量不同的物质光谱信息,反映在光谱曲线方面,就是动态范围的不同。下面主要介绍几种不同光路原理的光谱测量方式。[/font][b][b][font=宋体]一、漫反射测量[/font][/b][/b][font=宋体][font=宋体]漫反射是一种典型的光和物质的作用方式,对于固体来说,密度大,分子之间结合紧密,漫反射往往体现为多种颗粒的表面反射;对于液体来说,密度小,分子之间结合松散,漫反射体现为整个液面的表面反射,以及液体内部微小颗粒的散射;而气体的分子之间距离最远,由于近红外光的波长远大于分子直径,因此一般无法使用漫反射,对于气溶胶式的颗粒才有微弱的漫反射现象。漫反射测量往往采用[/font][font=Times New Roman]4[/font][/font][font='Times New Roman']5[/font][font=宋体][font=宋体]°角的方式来设计光源和探测器的相对位置,如图[/font][font=Times New Roman]3-[/font][/font][font='Times New Roman']1[/font][font=宋体]所示,可采用双探测器,单光源的设计,也可采用双光源,单探测器的设计。[/font][align=center][img=,253,184]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/06/202406251741287689_6544_6418678_3.png!w571x348.jpg[/img][font=宋体] [/font][img=,253,179]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/06/202406251741353899_6624_6418678_3.png!w673x328.jpg[/img][/align][font=宋体]图[/font][font='Times New Roman']3-1 (a)[/font][font=宋体][font=宋体]双探测器、单光源漫反射示意图[/font] [font=宋体]图[/font][/font][font='Times New Roman']3-1 (b)[/font][font=宋体]双光源,单探测器漫反射示意图[/font][b][b][font=宋体]二、透射测量[/font][/b][/b][img=,290,222,left]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/06/202406251742040487_1473_6418678_3.png!w290x222.jpg[/img][font=宋体]透射是常见的一种光波穿透方式,主要用于气体和液体测量,也可以用于具备一定透射特性的固体。对气体和液体,仅靠漫反射方式获得的光谱信息量少,通常需要将样品全部穿透来实现光谱信息的获取。而对于一些固体样本,如小麦、大豆等农产品,也可采用短波透射方式获得光谱信息。常见的透射测量方式,如图[/font][font='Times New Roman']3-2[/font][font=宋体]所示。依据不同的光谱谱段,可以选用不同光程的样品池,针对性地采集液体样品光谱。[/font][b][img=,289,218,left]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/06/202406251744183315_5661_6418678_3.png!w289x218.jpg[/img][b][font=宋体]三、透反射测量[/font][/b][/b][font=宋体][font=宋体]为了实现光源和探测器的整体化设计,实现直接对液体或者固体测量,同时也可以增加液体样品光谱吸收的光程,往往采用透反射测量,相对于一般的透射测量方式,样品的光谱吸收光程增加了一倍,实现透反射测量还需要增加一个镜面反射元件,具体方式,如图[/font][font=Times New Roman]3-[/font][/font][font='Times New Roman']3[/font][font=宋体]所示。[/font]

  • 电子测量仪器顺势发展 市场潜力大

    目前,测试测量产品的应用行业正在不断被拓宽,工程师对一个产品集成多种功能的需求也越来越明显,因此产品的集成化已经成为测试测量的发展趋势之一。一个产品在集成示波器、函数发生器、任意波形发生器、数字万用表、频谱分析仪、数字记录器和协议分析仪等一系列测试测量仪器的功能的同时,还将集成内置诸如配套培训、软件工具支持等功能。 随着用户对测试自动化、网络化、高效率、高可靠性、界面友善等测试应用的不断追求,电子测试技术与通信技术、计算机技术互相融合的趋势越来越明显,电子测量技术不断向更高精度、更高智能化方向发展。随着电子技术的不断成熟,电子仪器的研发越加多样化,电子测量仪器是其中重要的一部分。近几年我国电子测量仪器市场飞速发展,市场竞争日趋激烈。除了产品自身性能的竞争优势外,现在已经由过去的"卖方市场"改为"买方市场"。各仪器生产厂商的奋斗目标就是生产更便宜、更易使用、更快、更好等能够满足客户需要的仪器。 相关人士认为,教育市场是未来电子测量仪器主要的消费市场之一。近些年国家不断加大教育方面的投入,无论是中小学规模,还是大学规模,都呈现了扩容之势。学校数量的激增使教学仪器仪表的需求急剧上升,其中电子测量仪表所占份额最大,如示波器、万用表等。其中,示波器是高校实验室必备的测量工具,也是配置量最大的仪器,可分为用于教学实验室的中低端示波器和用于科研的中高端示波器。 随着3G越来越普及和"物联网"概念的兴起,作为重要测试工具的电子测试仪器在性能和应用上提出了一些新的功能和要求,其中数字化电子测量仪器的普及率将会逐步提升。数字化关系着一个国家在科技领域核心竞争力的高低,电子测量仪器必须加强重视,一旦失去技术上的领先地位,市场将随之失去。电子测试仪器今后的发展方向就是综合各种高新技术,全面服务于国民经济各个产业市场。 据尚普咨询发布的《2011年中国高精度电子测量仪器市场调研报告》显示,自2003年开始,我国测试仪器市场呈逐年上升态势,一直保持着两位数的增长。许多国内外仪器生产厂商都认为我国是一个潜力很大的市场,我国政府对测试仪器市场的重视更是加强了这一信心。我国家用电器等电子类产品的大规模生产,加大了对电子测量仪器的需求。电子测量仪器市场潜力巨大,发展前景十分看好。

  • LIBS元素分析测量系统介绍

    LIBS元素分析测量系统介绍

    LIBS元素分析测量系统http://www.gzbiaoqi.com/UploadFiles/877265200815566_1.gif概要LIBS2000+宽带光谱仪是一套探测系统,用于实时分析固态、液态和气态物质中的元素组成,这个高分辨率的系统提供从200-980nm的全光谱分析,分辨率为~0.1 nm(FWHM),特别适用于元素鉴定、材料分析、环境监测和军事。http://www.gzbiaoqi.com/UploadFiles/877265200815566_2.gifLIBS2000+光谱仪LIBS2000+光谱仪是一套定性和定量测量固体及液体、气体中的元素的实时探测系统。这套宽带、高分辨率系统可提供波长200-980nm的光谱分析,分辨率为0.1nm(FWHM),灵敏度可为十亿分之几和皮克等级。LIBS2000+系统基本配置低于3万美元。LIBS2000+采用7个HR2000高分辨率光谱仪,每个光谱仪都配有2048象素的CCD探测器阵列,这个多通道光谱仪系统通过一个USB口和PC相连。所有7个光谱仪同时进行数据采集,软件同时显示结果。标配的激光器是一台Big Sky公司提供的50mJ的激光器,配有一个电源适配器。信号通过600 μm芯径的UV-VIS光纤束收集,每根光纤的末端都安装了准直透镜。样品室配有一个远程激光安全锁。工作原理一束高亮度脉冲Nd:YAG激光聚焦在测试样品上,并距样品几个厘米至一米远。一个10纳秒脉宽的激光脉冲即可激活测试样品。激光发射后,激光束的高温会产生等离子体。在等离子体冷却湮灭的过程中,等离子体束中被激活的原子会发射出与元素有关的特性光谱。所有元素的发射光谱都在200-980nm的波长范围内。LIBS2000+的优点传统的激光诱导分解光谱仪(LIBS)的测量光谱范围都很小,LIBS2000+是世界上第一个可提供宽带光谱分析(200-980nm)的系统。您可在恶劣的环境中进行实时测量--几乎不用或完全不需要样品准备--LIBS2000+可广泛应用于材料分析、环境检测、刑事侦破和医学研究、艺术品修补后的分析、军事及安全应用等。应用LIBS技术可广泛应用于多种不同领域 • 环境检测 (土壤污染、粉尘等) • 材料分析 (金属材料、塑料等) • 医学与生物研究 (牙齿、骨骼等成分分析) • 军事及安全应用 (炸药成分、生化武器成分分析 等) • 艺术保存品成分分析 (色料、远古金属等)其它特点LIBS2000+外壳为标准3U机柜,使用方便。LIBS2000+通过USB接口直接与计算机相连,使用非常方便。其它配件LIBS2000+由七通道光谱仪系统和所有必要的线缆组成。您可用任何一个能量大于等于30mJ的Q开关脉冲激光器来激光测试样品。厂家推荐产品为Big Sky Laser公司的超短脉冲Nd:YAG激光器。另外,我们可提供样品腔和OOILIBS运行软件(用于运行LIBS2000+及开启激光)。测量OOILIBS软件允许用户进行一些参数设置,例如激光Q开关延时(介于激光发射和开始数据采集之间的时间)和对激光脉冲信号的平均。配置1. LIBS2000+ 激光诱导击穿光谱仪2. LIBS-FIBER-BUN 3. LIBS-LASER Nd:YAG 50 mJ激光器(由Big Sky激光公司提供)4. LIBS-SC 样品室5. OOILIBS 软件LIBS2000+[font=

  • 高分子可否溶在溶剂里测量

    单位有一台光栅型近红外可见,想测高分子粉末里面的羟基,原仪器没有测固体粉末的积分球,需要购买附件积分球,花费蛮高(约10万),为了减少费用,可否将高分子定量溶于溶剂中或者高温制成透明片,测透射谱来测量,谢谢!

  • 颗粒的测量

    颗粒的测量颗粒测定需要采用稀释系统。对于颗粒的测量,美国环境保护总局(EPA)规定用全流式稀释风道,欧洲则允许使用分流式系统。全流式稀释风道占用面积大、设备投资大,只适用于固定实验室。在实际测量过程中,美国铁路也有使用分流式系统进行测试的(如:GM-EMD)。

  • 用eds能谱测量氧化膜厚度

    铝表面自然生长的氧化膜通常小于10nm,如果经过退火处理,氧化膜会随温度升高而增厚,曾经有人用SEM-EDS 测量铝样品表面区的氧的相对含量(面积比),并利用ESCA 化学分析电子光谱测量氧化膜的厚度,最后得出氧化膜厚度和氧相对含量的关系式,这样就可以通过电镜能谱得到氧化膜的厚度。但以上方法对于电镜的试验条件变化比较敏感。又听说利用辉光光谱GDS或GDOES可以测量类似的氧化膜厚度,即通过测量氧的浓度分布来反映膜的厚度,我相信这是可行的,各位谁知道上海哪里有这样的仪器?又听说可以用XPS来测量膜厚,谁知道这方面的信息?

  • 质谱测量数据中的T和M标志的问题

    在测量元素时,很多情况下质谱数据在给出时有T、M或TM的标志,我问了工程师,知道了T代表被测样已经进入模拟信号时给出的结果,这个结果是不准的,M看的不太明白,我给出英文,大家一起看看,讨论下。M-result over max is that the result (or one of replicates) is above the top standard by the % set in the calibration validation in the cal method pages of the experiment ( l.e.110% )

  • 【分享】微型光纤光谱仪---荧光测量系统

    当前,微型光纤光谱仪非常流行,受到了众多应用领域的青睐。与大型光谱仪相比较,微型光纤光谱仪价格便宜(仅是大型光谱仪的零头);携带方便(只有手掌大小);测量速度快(毫秒级的数据采集,实现在线实时分析);操作方便,性能稳定可靠(无需专人维护)等长处。因此,在满足使用要求的前提下,微型光纤光谱仪是一种最佳的选择。 我司微型光纤光谱仪的主要功能有:吸光度测量;反射率测量;透射率测量;颜色测量;相对辐射和绝对辐射测量。具体应用包括吸光度测量系统(包括气体、液体、固体的吸光度测量);颜色测量系统(纸张、油漆、颜料、布料、动物皮肤、植物、光源等等);膜厚测量系统(感光保护膜、半导体薄膜、金属膜、等离子体镀膜、光学镀膜等);SLM系列光源测量系统(白炽灯、荧光灯、ARC、HRC、以及发光二级管等光源的各种参数测量);SMS光照度/辐照度测量系统(光通量、光强、光照度或光亮度测量);LCS系列LED测量系统(测量LED光源、大型光源的光学、光谱、颜色、纯度等特征信息);氧含量测量系统(连续测量氧饱和度、总含量、含氧和去氧血色素的浓度);[color=#00008B][color=#00FFFF][color=#DC143C][size=4]荧光测量系统(测量皮克级的含有荧光团的物质);[/size][/color][/color][/color]近红外测量系统(糖、酒精、湿度、脂肪等成分的分析);拉曼测量系统(药物、爆炸物、水质、现场材料的分析,制药监控,石化工业过程控制等);LIBS2500光纤光谱仪系统(无损地对气体、液体、固体进行定性和半定量的实时元素分析);PlasCalc等离子监控器系统(监测等离子蚀刻,检查表面清洁处理,分析等离子反应腔控制情况,检测异常污染和排放现象,等离子开发过程的检测和控制,等等);防晒指数测量系统(化妆品、防晒用品、防紫外服、感光乳剂等的SPF值测量);量子效应测量系统(量子效率的测量等)。另外,我司还有闪光光解光谱仪(演示化学动力学原理);各种光源(钨光源、氘光源、氘-钨光源、氙光源、LED系列光源、校准光源等)及各种光纤(普通光纤、中红外光纤、红外光纤、高功率传输光纤、图像传输光纤、医疗光纤等)。 谢谢您的关注!详情请见我司的网站(http://www.psci.cn)或与我联系(电话:0571-88225151-8020,13738178070,Email:zqchen@psci.cn 陈振泉)。

  • 【转帖】红外光谱法测量石英玻璃中羟基含量检验标准

    石英玻璃中羟基含量检验方法[url]http://www.king-ber.com/Product_Show.asp?ID=755[/url] (红外分光光度计检测)GB/T 12442-901主题内容与适用范围 本标准规定了检验石英玻璃中羟基含量时试样的制备、试验用仪器、试验步骤 及结果处理。 本标准适用于透明石英玻璃中羟基含量的测定。 2引用标准 GB9657 半导体用透明石英玻璃管 GB9658 光源及真空仪表用透明石英玻璃管 JC426-91 无臭的氧石英玻璃管 3术语 3.1透过率或透射比:透过物体的光强度与入射光强度的比值,符号为T。 3.2光谱透过曲线:透过率或透射比随波长的分布曲线。 3.3光密度:衡量玻璃阻止光线透过的能力,符号为D,数值等于透过率倒数的常用对数。 3.4基线:光谱透过曲线上吸收峰两肩边的连线。 3.5零线:光谱透过曲线上透射比为零的线。 3.6摩尔吸收系数:浓度为1mol/L的单位光程长的吸光度,符号为ε。 4试验原理 根据石英玻璃中羟基含量与波长2.73μm处光吸收的线性关系进行定量测定。 5试验仪器 5.1可测波长范围为2.00 ̄3.30μm,测量精度为±1%T的红外分光光度计(TJ270-30A)。 5.2稳定精度为±0.5%的电了交流稳压器。 5.3精度为±0.01mm的千分尺,量度为0.02mm的游标卡尺。 5.4宽度为0.6 ̄1.0mm的长方形固定光栏一组(2个)。 6试样制备 6.1从外观质量符合GB9657、GB9658、JC126或相应标准规定的石英玻璃产品中选取待测样品。 6.2待测样品为块状时,将待测石英玻璃切割、研磨、抛光成镜面,制成25mm×12mm两面平行 厚度差小于或等于0.05mm)的透明试样两个,厚度为0.1 ̄10.0mm,其中人造石英玻璃厚度为0.1 ̄0.7mm,气炼玻璃厚度为0.8 ̄3.0mm,电熔石英玻璃厚度为1.6 ̄10.0mm。使试样在2.73 μm处的透过率在10% ̄80%(吸光度在1.0 ̄0.1)的范围内。 待测样品为管状时,将待测石英玻璃管切取长35 ̄40mm的管段二段,再分别沿管长方向切 取弦长为8 ̄15mm的弧形试样各一个。 6.3用千分尺或卡尺测量试样的厚度。 6.4将试样在器皿中用无水乙醇洗涤干净、晾干、待测。 7试验步骤 7.1开启并预热试验用仪器。当检测管状试样时,在样品光路和参考光路中分别装入长方形 固定光栏。 7.2用遮蔽物遮盖样品光路,盖上样品室的盖,检查并调整仪器零点。 7.3拿去遮蔽物,记录并调整仪器在2.00 ̄3.30μm范围内的100%基准线。 7.4将块状待测试样置于样品光路中,当检测管状样品时,将其试样固定在样品光路的固定 光栏架上,使其中心对准光栏。 7.5按动扫描进行扫描,记录试样在2.00 ̄3.30μm范围的光谱透过曲线。 7.6将试样上下位置对换,再记录一次光谱透过曲线。 8试验结果 8.1在记录的光谱曲线上,划出基线,分别测量出2.73μm处基线到零线和吸收峰到零线的距离。 8.2石英玻璃的羟基含量用下式计算: 1I0 C=96.5──lg──dI 式中:C──试样的羟基含量,ppm; d──试样厚度,cm; I0──2.73μm处基线到零线的距离,mm; I──2.73μm处吸收峰到零线的距离,mm。 本公式由中国建筑材料科学研究院石英玻璃所实测国产石英玻璃中羟基在2.73μm处的克分了 吸收系数ε=80.1L• moL[-1]• cm[-1],根据朗伯-比耳定律导出的。 8.3每个试样用两次计算结果的算术平均值作为该试样的羟基含量值。取两个试样的算术平均值 作为待测石英玻璃的羟基含量值。 8.4参考附录A(参考件)记录和报告试验结果。 附录A 试验记录和试验报告 (参考件) 试验中使用的试验条件应记录在光谱透过曲线的记录纸上,按下述格式和内容填写试验 记录和报告。 石英玻璃羟基含量试验记录 送样单位_____送样日期_____试样名称_____试样数量_____ 试验日期_____试验人员_____ 检验结果 试样编号试样名称试样厚度I0I羟基含量,ppm cmmm检测值平均值石英玻璃羟基含量试验报告 送样单位_____试样名称_____ 试验人员_____报告日期_____ 检验结果 试样编号称试样名称羟基含量,ppm附加说明: 本标准由国家建筑材料工业局提出。 本标准中国建筑材料科学研究院技术归口。 本标准由中国建筑材料科学研究院石英玻璃研究所负责起草并解释。 本标准起草人王明龙。

  • 紫外可见光谱仪测量反射率

    请问下 用紫外可见光谱仪测试的时候,为什么加个积分球就可以用来测反射率?测量固体或胶体样品的时候,样品池里面是不是自带的那个就是积分球?可以给我说一下测量反射率的原理吗? 非常感谢

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